JP2007280498A - Laser power control method - Google Patents

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久司 千賀
Toyoji Gushima
豊治 具島
Masaru Yamaoka
勝 山岡
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a laser power controller which can control the peaks with sufficient precision regardless of the duty ratio set in the multi-pulse section. <P>SOLUTION: In the test light emitting period right before the data recording area, this laser power controller generates multi-pulses for test with the predetermined duty ratio in the same cycle as the multi-pulse train of the optical recording pulses irrespective of its duty ratio, finds the difference between the detected optical signals converted into electric signals by receiving the test multi-pulses and the reference value corresponding to the target power of the optical recording pulses, and feedback controls to suppress the difference to obtain the current flowing in the semiconductor laser for the optical recording pulses having the target power. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は光ディスク上にデータ信号に応じたマーク領域を記録するために発光する半導体レーザの記録光パワーの制御方法及び光パワーの制御装置に関する。   The present invention relates to a recording light power control method and a light power control apparatus for a semiconductor laser that emits light to record a mark area corresponding to a data signal on an optical disk.

光ディスクに高密度に情報を記録する際には、歪みのない記録マークを形成するために、記録膜へ照射させるレーザ光をピークパワーとボトムパワーで強度変調された光パルスとすることにより、加熱と冷却を繰り返してマークを形成する方法が一般に行われている。   When recording information on an optical disk at a high density, in order to form a distortion-free recording mark, the laser beam applied to the recording film is converted into an optical pulse whose intensity is modulated by peak power and bottom power, thereby heating the recording film. A method of forming a mark by repeating cooling is generally performed.

多数回上書き記録したディスクの再生信号品質を維持するためには、光パルスのピークパワーを正しいパワーに制御する必要がある。一方、光パルスの各パワー値の制御については、光パルスの変調周波数が例えばDVDの4倍速で100MHz以上であるのに対し、各パワー値をモニタする受光素子の帯域は一般には50MHz程度となるため、ピークパワーを直接検出することができない。   In order to maintain the reproduction signal quality of a disc that has been overwritten many times, it is necessary to control the peak power of the optical pulse to the correct power. On the other hand, regarding the control of each power value of the optical pulse, the modulation frequency of the optical pulse is 100 MHz or more at a quadruple speed of DVD, for example, while the band of the light receiving element for monitoring each power value is generally about 50 MHz. Therefore, the peak power cannot be detected directly.

この課題に対し、従来の光ディスクのレーザ制御装置では、光パルスのマルチパルス部の平均パワー値を検出し、この平均パワー値からピークパワーを推定し、推定されたピークパワーと目標値が等しくなるように制御する方法があった(例えば、特許文献1参照)。   To solve this problem, the conventional optical disk laser control device detects the average power value of the multi-pulse part of the optical pulse, estimates the peak power from this average power value, and the estimated peak power is equal to the target value. There has been a method of controlling (see, for example, Patent Document 1).

従来の方法によれば、データ記録領域手前のテスト発光区間において、ボトムパワーの一定値発光と、通常のデータ記録時と同じデューティー比(d)かつボトムパワーとピークパワーで強度変調されたマルチパルス発光を含む光パルスを生成する。この光パルスを受光素子で受光し電流に変換し、電流−電圧変換回路で電圧に変換し、受光波形を得る。この受光波形から、ボトムDC値(Bdc)と、マルチパルス部の平均値(M)を取得する。演算プロセッサにより、取得したボトムDC値(Bdc)と、マルチパルス部の平均値(M)と、さらにマルチパルス部のデューティ比(d)を用い、未知数であるマルチパルス部のピーク値(P)を次式から求める。   According to the conventional method, in a test light emission section before the data recording area, light emission with a constant bottom power and a multi-pulse whose intensity is modulated with the same duty ratio (d) and bottom power and peak power as in normal data recording. A light pulse including light emission is generated. This light pulse is received by the light receiving element and converted into a current, and converted into a voltage by a current-voltage conversion circuit to obtain a received light waveform. From this received light waveform, the bottom DC value (Bdc) and the average value (M) of the multi-pulse part are obtained. Using the obtained bottom DC value (Bdc), the average value (M) of the multi-pulse part, and the duty ratio (d) of the multi-pulse part by the arithmetic processor, the peak value (P) of the multi-pulse part which is an unknown number Is obtained from the following equation.

M=P×d+Bdc×(1−d)
より、
P={M−Bdc×(1−d)}/d (数式1)
このような方法により、ピークパワー値を推定し、目標値との誤差を抑圧するように半導体レーザへの駆動電流を制御することにより光パルスのピークパワーを所望値に制御することが可能である。
M = P * d + Bdc * (1-d)
Than,
P = {M−Bdc × (1−d)} / d (Formula 1)
By such a method, it is possible to control the peak power of the optical pulse to a desired value by estimating the peak power value and controlling the drive current to the semiconductor laser so as to suppress the error from the target value. .

また、光パルスのデューティ比(d)については、光ディスクの種類(メーカ、記録倍速を含む)毎に最適な記録特性が得られるようにパルス幅の値が異なっている。これに対応するために、記録パルスの生成については、複数の遅延素子が多段接続された回路に基準クロックを入力し、選択的に出力することにより、50%のデューティ比を基準として前後に幅を変更する方法があった(例えば、特許文献2参照)。
特開2002−203320号公報 特開2000−276736号公報
Further, the duty ratio (d) of the optical pulse has a different pulse width value so that optimum recording characteristics can be obtained for each type of optical disk (including manufacturer and recording double speed). In order to cope with this, a recording pulse is generated by inputting and outputting a reference clock to a circuit in which a plurality of delay elements are connected in multiple stages, and by selectively outputting it, the width is changed back and forth with a 50% duty ratio as a reference. There has been a method of changing (see, for example, Patent Document 2).
JP 2002-203320 A JP 2000-276736 A

しかしながら、前記従来の構成には問題点がある。青色レーザを光源に用いた高密度記録の場合や、多層ディスクに場合にはピークパワーより高い精度が要求される。一方、記録パルス生成においては遅延素子の設定に対する誤差や温度変動によるずれがあり、パルス幅の誤差を有しているが、高倍速化によりマルチパルス部のパルス幅が細くなるほどパルス幅の誤差の影響が大きくなり、マルチパルス部においてデューティ比の設定に対する誤差が増大する。光パルスのデューティ比が設定デューティ比dに対しずれている一方で、演算プロセッサは設定デューティ比dのままピークパワーを演算するため、検出したピークパワーに誤差が生ずるという課題が発生する。例えば、チャネルクロックが132MHzの場合、マルチパルスの周期Twは7.58nsとなる。デューティ比40%のパルス幅は3.03nsとなる。このデューティ比を生成するために遅延素子を使用した場合、遅延素子の設定に対するずれや温度変動でトータル0.3ns程度のずれが発生する場合が発明者の実験であった。この場合、設定に対するデューティー比の誤差は約10%となる。ピークパワーの検出において、上述の数式1に基づき平均値(M)をデューティ比(d)で除算するため、デューティ比の誤差がそのままピークパワーの誤差となり、例えば2層ディスクなど記録パワーの許容度(パワーマージン)が小さい場合には記録後の再生信号品質の劣化を招く。   However, the conventional configuration has a problem. In the case of high-density recording using a blue laser as a light source or in the case of a multi-layer disc, higher accuracy than peak power is required. On the other hand, in the generation of the recording pulse, there is an error with respect to the setting of the delay element and a deviation due to temperature fluctuation, and there is an error of the pulse width. The influence becomes large, and an error for setting the duty ratio increases in the multi-pulse part. While the duty ratio of the optical pulse is deviated from the set duty ratio d, the arithmetic processor calculates the peak power while maintaining the set duty ratio d, which causes a problem that an error occurs in the detected peak power. For example, when the channel clock is 132 MHz, the multipulse period Tw is 7.58 ns. The pulse width with a duty ratio of 40% is 3.03 ns. When the delay element is used to generate this duty ratio, the inventors have conducted experiments in which a deviation of about 0.3 ns in total occurs due to a deviation from the setting of the delay element or a temperature variation. In this case, the error of the duty ratio with respect to the setting is about 10%. In the detection of peak power, the average value (M) is divided by the duty ratio (d) based on the above-described equation 1, so that the error in the duty ratio becomes the peak power error as it is, for example, the tolerance of the recording power such as a two-layer disc. When the (power margin) is small, the quality of the reproduced signal after recording is deteriorated.

本発明は、前記課題を解決するもので、遅延素子の影響を受けないようにすることでピークパワーを精度よく制御できるレーザパワー制御方法を提供することを目的とする。   The present invention solves the above-described problems, and an object of the present invention is to provide a laser power control method capable of accurately controlling peak power by avoiding the influence of a delay element.

上述の課題を解決するために、本発明においてはデータ記録領域手前のテスト発光区間において生成するマルチパルスのデューティ比を通常のデータ記録時とは個別に設定可能なハードウェアを追加し、遅延素子の影響を受けないデューティ比で光パルスを生成出来るようにして、この光パルスを受光素子で受光しマルチパルス部の平均値を取得し、ピークパワーを推定するようにしている。このようにすることでピークパワーの検出精度を向上させることにより制御精度を向上させている。   In order to solve the above-described problem, in the present invention, hardware that can set the duty ratio of the multi-pulse generated in the test light emission section before the data recording area separately from that at the time of normal data recording is added. The optical pulse can be generated with a duty ratio that is not affected by this, and the optical pulse is received by the light receiving element, the average value of the multi-pulse part is obtained, and the peak power is estimated. In this way, the control accuracy is improved by improving the detection accuracy of the peak power.

請求項1記載の発明は、レーザパワー光ディスクのデータ記録領域に記録マークを形成するための少なくともマルチパルスを含む第1の光パルスの各パワー値を制御する方法であって、前記データ記録領域の直前に設けられたテスト発光区間においては、前記第1の光パルスのマルチパルスと同一の周期であってかつデューティ比の異なるマルチパルスを含む第2の光パルスを生成し、前記第2の光パルスを受光して電気信号に変換した光検出信号と、前記第1の光パルスの目標パワー値に相当する基準値との誤差を求め、誤差を抑圧するように半導体レーザに流れる電流値を制御することを特徴とするレーザパワー制御方法である。   The invention according to claim 1 is a method for controlling each power value of the first optical pulse including at least a multi-pulse for forming a recording mark in a data recording area of a laser power optical disc, In the test light emission section provided immediately before, a second optical pulse including a multi-pulse having the same period and a different duty ratio as the multi-pulse of the first optical pulse is generated, and the second light is generated. An error is detected between the light detection signal obtained by receiving the pulse and converted into an electric signal and a reference value corresponding to the target power value of the first optical pulse, and the current value flowing through the semiconductor laser is controlled so as to suppress the error. This is a laser power control method.

請求項3記載の発明は、光ディスクのデータ記録領域に記録マークを形成するための少なくともマルチパルスを含む第1の光パルスの各パワー値を制御する装置であって、前記データ記録領域の直前に設けられたテスト発光区間においては、前記第1の光パルスのマルチパルスと同一の周期であってかつデューティ比の異なるマルチパルスを含む第2の光パルスを生成する手段と、前記第2の光パルスを受光して電気信号に変換した光検出信号を生成する手段と、前記光検出信号と前記第1の光パルスの目標パワー値に相当する基準値との誤差を求め、誤差を抑圧するように半導体レーザに流れる電流値を制御する手段と、を備えたことを特徴とするレーザパワー制御装置である。   According to a third aspect of the present invention, there is provided an apparatus for controlling each power value of a first optical pulse including at least a multi-pulse for forming a recording mark in a data recording area of an optical disc, immediately before the data recording area. Means for generating a second light pulse including a multi-pulse having the same period and a different duty ratio as the multi-pulse of the first light pulse in the provided test light emission section; Means for generating a light detection signal that receives a pulse and converts it into an electrical signal, and obtaining an error between the light detection signal and a reference value corresponding to a target power value of the first light pulse so as to suppress the error. And a means for controlling the value of the current flowing in the semiconductor laser.

本発明のレーザパワー制御方法によれば、マルチパルス部の設定デューティ比に関わらず、データ記録領域手前のテスト発光区間において生成するマルチパルスのデューティ比を遅延素子の影響を受けない光パルスを生成出来るようにして、この光パルスを受光素子で受光しマルチパルス部の平均値を取得し、ピークパワーを推定するようにしているので、ピークパワーの検出精度を向上させることにより制御精度を向上させることができる。   According to the laser power control method of the present invention, regardless of the set duty ratio of the multi-pulse section, the multi-pulse duty ratio generated in the test light emission section before the data recording area is generated without being affected by the delay element. Since this optical pulse is received by the light receiving element so as to obtain the average value of the multi-pulse part and the peak power is estimated, the control accuracy is improved by improving the detection accuracy of the peak power. be able to.

以下、本発明に係るレーザパワー制御方法の実施形態を添付の図面を参照して詳細に説明する。
<1.光ディスク装置の構成>
図1は本発明に係る光ディスク装置の構成を示すブロック図である。図1において、ディスクモータ102は、光ディスク101を所定の回転数で回転させる。光ヘッド103は、図示していないが半導体レーザ、光学系、光検出器等を内蔵しており、半導体レーザより発光されたレーザ光が光学系により集光されて光ディスク101の記録面に光スポットを照射することにより、データの記録再生を行う。また記録面からの反射光は、光ヘッド103内の光学系により集光された後、光検出器で電流に変換され、さらに増幅器104で電圧変換及び増幅され、再生信号として出力される。
Embodiments of a laser power control method according to the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings.
<1. Configuration of optical disc device>
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an optical disc apparatus according to the present invention. In FIG. 1, a disk motor 102 rotates an optical disk 101 at a predetermined rotational speed. Although not shown, the optical head 103 incorporates a semiconductor laser, an optical system, a photodetector, and the like. Is recorded and reproduced. Reflected light from the recording surface is collected by an optical system in the optical head 103, converted to a current by a photodetector, further converted and amplified by an amplifier 104, and output as a reproduction signal.

サーボ制御部105は、ディスクモータ102の回転制御、光ヘッド103を光ディスク101の半径方向に移動させる移送制御、記録面に光スポットの焦点を合わせるためのフォーカス制御、トラックの中心に光スポットをトラッキングさせるためのトラッキング制御を行う。なお、フォーカス制御及びトラッキング制御には、増幅器104の出力である再生信号のうち、フォーカス誤差信号(光ディスク101の記録面と略垂直な方向における記録面からの光スポットのずれを示す電気信号)及びトラッキング誤差信号(光ディスク101の記録面上での所定トラックからの光スポットのずれを示す電気信号)を用いる。   The servo control unit 105 controls the rotation of the disk motor 102, the transfer control for moving the optical head 103 in the radial direction of the optical disk 101, the focus control for focusing the light spot on the recording surface, and tracks the light spot at the center of the track. Tracking control to make it happen. For focus control and tracking control, a focus error signal (electric signal indicating a deviation of a light spot from the recording surface in a direction substantially perpendicular to the recording surface of the optical disc 101) among the reproduction signal output from the amplifier 104 and A tracking error signal (an electric signal indicating a deviation of a light spot from a predetermined track on the recording surface of the optical disc 101) is used.

再生信号処理部106は、増幅器104の出力である再生信号から、光ディスク101に記録されたデータに相当する信号成分を取り出し、取り出した信号を2値化し、2値化データと基準クロックから、内蔵のPLL(Phase Locked Loopの略:位相同期ループ)によりリードクロックとリードクロックに同期したリードデータを生成する。   The reproduction signal processing unit 106 extracts a signal component corresponding to the data recorded on the optical disc 101 from the reproduction signal that is the output of the amplifier 104, binarizes the extracted signal, and incorporates it from the binarized data and the reference clock. The read clock and the read data synchronized with the read clock are generated by a PLL (abbreviation of Phase Locked Loop).

レーザ制御部108は、アドレス及びデータの再生時には再生用のパワーで、記録時には記録用のパワーで、光ヘッド103に内蔵される半導体レーザが発光するようにレーザ駆動信号を発生する。   The laser control unit 108 generates a laser drive signal so that the semiconductor laser built in the optical head 103 emits light with a reproducing power when reproducing addresses and data and with a recording power when recording.

フォーマットエンコーダ/デコーダ107は、再生信号処理部106から出力されたリードクロックとリードデータより、光ディスク101に記録されたアドレス情報を再生し、再生されたアドレス位置を基準として光ディスク101のセクタに同期したタイミングで記録再生に必要となる各タイミング信号を発生供給する役割を有する。たとえば、再生信号処理部106へアドレスまたはデータの2値化・PLL処理に必要なリードゲート等のタイミング信号を出力したり、レーザ駆動部108へは記録時に、記録用のパワーの発光を許可するライトゲート等のタイミング信号を出力することにより、正しいタイミングでデータの記録再生を行うことが可能となる。   The format encoder / decoder 107 reproduces the address information recorded on the optical disc 101 from the read clock and read data output from the reproduction signal processing unit 106, and synchronizes with the sector of the optical disc 101 based on the reproduced address position. It has a role of generating and supplying each timing signal necessary for recording and reproduction at the timing. For example, a timing signal such as a read gate necessary for binarization / PLL processing of an address or data is output to the reproduction signal processing unit 106, or light emission of recording power is permitted to the laser driving unit 108 during recording. By outputting a timing signal such as a write gate, data can be recorded and reproduced at the correct timing.

また、フォーマットエンコーダ/デコーダ107は、記録時には、ホストインタフェース109を通じて装置外部から供給されるユーザデータに誤り訂正符号等の冗長データを付加し、所定のフォーマットに従い変調したビット系列を、さらに内蔵の記録パルス生成部111で所定の記録パルス信号に加工し、レーザ制御部108へ出力する。また再生時には、再生信号処理部106より出力されたリードクロックとリードデータより、光ディスク101に記録されたアドレス情報及びデータの復調・誤り訂正処理を行い、訂正後のデータをホストインタフェース109を通じて装置外部へ送信する。   Also, the format encoder / decoder 107 adds redundant data such as an error correction code to user data supplied from the outside of the apparatus through the host interface 109, and further records a bit sequence modulated according to a predetermined format. The pulse generator 111 processes the signal into a predetermined recording pulse signal and outputs it to the laser controller 108. At the time of reproduction, the address information and data recorded on the optical disc 101 are demodulated and error-corrected from the read clock and read data output from the reproduction signal processing unit 106, and the corrected data is transmitted to the outside of the apparatus through the host interface 109. Send to.

またフォーマットエンコーダ/デコーダ107には、記録パルス位置補正部112及び遅延量測定部113が内蔵されている。記録パルス位置補正部112は、記録パルス生成部111により生成される記録パルス信号の位置に関する設定を行い、記録パルス信号の特定のエッジ位置を可変にする。遅延量測定部113は、記録パルス生成部111によるパルスの遅延量を測定する役割を持っている。   The format encoder / decoder 107 includes a recording pulse position correction unit 112 and a delay amount measurement unit 113. The recording pulse position correction unit 112 performs setting related to the position of the recording pulse signal generated by the recording pulse generation unit 111 and makes a specific edge position of the recording pulse signal variable. The delay amount measuring unit 113 has a role of measuring the pulse delay amount by the recording pulse generating unit 111.

システム制御部110は、本装置全体、すなわち、ホストインタフェース109を通じて装置外部から供給されるコマンド(命令)を解釈して、光ディスク101の所定のセクタに対して、データの記録・再生がなされるように、サーボ制御部105、再生信号処理部106、フォーマットエンコーダ/デコーダ107、レーザ駆動部108、及びホストインタフェース109等の装置各部の動作を制御する。
<2.レーザパワー制御装置の構成>
図2は半導体レーザ制御部の構成を説明する図である。
The system control unit 110 interprets commands (commands) supplied from the outside of the entire apparatus, that is, the host interface 109, so that data is recorded / reproduced with respect to a predetermined sector of the optical disc 101. In addition, the operation of each unit such as the servo control unit 105, the reproduction signal processing unit 106, the format encoder / decoder 107, the laser driving unit 108, and the host interface 109 is controlled.
<2. Configuration of Laser Power Control Device>
FIG. 2 is a diagram illustrating the configuration of the semiconductor laser control unit.

レーザ駆動部40はパルス電流源41〜44から構成され、半導体レーザ1に多値レベルのパルス電流を供給することにより、光パルスを生成する。パルス電流源44は、入力される電流値Ipと記録パルス206cの論理に応じてピーク電流値(Ip)を出力する。同様に、パルス電流源43は、入力される電流値Ieと記録パルス206bの論理に応じてバイアス電流値(Ie)を出力する。パルス電流源42は、入力される電流値Icと記録パルス206aの論理に応じてクーリング電流値(Ic)を出力する。パルス電流源41は、入力される電流値Ibと記録ゲート206dの論理に応じてボトム電流値(Ib)を出力する。ここで、記録ゲート206dの論理は記録中には常時Hレベルであるため、記録中は常時ボトム電流Ibが出力されることになる。   The laser drive unit 40 includes pulse current sources 41 to 44, and generates optical pulses by supplying a multilevel pulse current to the semiconductor laser 1. The pulse current source 44 outputs a peak current value (Ip) according to the input current value Ip and the logic of the recording pulse 206c. Similarly, the pulse current source 43 outputs a bias current value (Ie) according to the input current value Ie and the logic of the recording pulse 206b. The pulse current source 42 outputs a cooling current value (Ic) according to the input current value Ic and the logic of the recording pulse 206a. The pulse current source 41 outputs a bottom current value (Ib) according to the input current value Ib and the logic of the recording gate 206d. Here, since the logic of the recording gate 206d is always H level during recording, the bottom current Ib is always output during recording.

ここでレーザ駆動部40の動作について図3を用いてより詳細に述べる。   Here, the operation of the laser driving unit 40 will be described in more detail with reference to FIG.

図3は、記録パルス生成部111による記録パルス206a、206b、206cの発生タイミング例、並びに半導体レーザ1の発光波形例、それに伴い光ディスク上に形成される記録マークについて、模式的に説明する図である。   FIG. 3 is a diagram schematically illustrating an example of generation timing of the recording pulses 206a, 206b, and 206c by the recording pulse generation unit 111, an example of a light emission waveform of the semiconductor laser 1, and a recording mark that is formed on the optical disc in association therewith. is there.

図3において、時間は左から右の方向に流れるとし、変調データ208は記録パルス生成部111への入力であり、図では6Tマークに相当する波形を示している。パルス基準クロック301は、その周期が1チャネルビットの時間長となるクロックであり、記録パルス生成部111における記録パルス生成処理の基準として用いられる。各記録パルス206a、206b、206cは、変調データ208とパルス基準クロック301のタイミングに応じて、図3に示すようなタイミングで生成される。半導体レーザ1の発光波形は、各記録パルス206a、206b、206cのタイミングに応じて、図に示すような形状となる。   In FIG. 3, time flows from the left to the right, and the modulation data 208 is an input to the recording pulse generator 111. In the figure, a waveform corresponding to a 6T mark is shown. The pulse reference clock 301 is a clock whose period is a time length of one channel bit, and is used as a reference for recording pulse generation processing in the recording pulse generation unit 111. Each recording pulse 206a, 206b, 206c is generated at the timing shown in FIG. 3 according to the timing of the modulation data 208 and the pulse reference clock 301. The light emission waveform of the semiconductor laser 1 has a shape as shown in the figure according to the timing of each recording pulse 206a, 206b, 206c.

1つのマーク(本例の場合6Tマーク)を記録するための発光波形は、複数のパルス部に分割されており、時間的に早い方から順に、ファーストパルス部、マルチパルス部、ラストパルス部、クーリングパルス部と呼ぶ。相変化型光ディスクなど熱により記録膜に変化を与えるような記録方式においては、本例のように時系列的に複数のパルス部により1つの記録マークを形成する方法が有効であることが知られている。例えば、マルチパルス部は高いパワーと低いパワーを断続的に与えることで、従来技術で述べたように比較的長いマークを記録する場合にマークの形状が涙滴型になるのを防ぐ。また、クーリングパルス部は、次のマークを記録する際の熱の影響を遮断する役割を果たしている。   The light emission waveform for recording one mark (6T mark in this example) is divided into a plurality of pulse parts, and the first pulse part, multi-pulse part, last pulse part, It is called a cooling pulse part. In a recording system that changes the recording film by heat, such as a phase change optical disk, it is known that a method of forming one recording mark by a plurality of pulse portions in time series as in this example is effective. ing. For example, the multi-pulse unit intermittently applies high power and low power to prevent the mark shape from becoming a teardrop shape when a relatively long mark is recorded as described in the prior art. The cooling pulse portion plays a role of blocking the influence of heat when recording the next mark.

一方、図3において発光波形の縦方向、即ち振幅は、レーザの発光パワーを示しており、そのパワー値は低い順に、ボトムパワー、クーリングパワー、バイアスパワー、ピークパワーの4種類に分けられる。相変化記録の場合、バイアスパワーに相当するパワーを照射することにより記録膜の相を結晶化し、ピークパワーに相当するパワーを照射することにより記録膜の相をアモルファス化する。基本的にピークパワーの照射によりアモルファス化した部分を記録マークと呼んでいる。また、ボトムパワーやクーリングパワーは記録膜に与える熱を一時的に小さくする。   On the other hand, the vertical direction, that is, the amplitude of the light emission waveform in FIG. 3 indicates the light emission power of the laser, and the power value is classified into four types of bottom power, cooling power, bias power, and peak power in ascending order. In the case of phase change recording, the phase of the recording film is crystallized by irradiating the power corresponding to the bias power, and the phase of the recording film is amorphized by irradiating the power corresponding to the peak power. Basically, the portion made amorphous by peak power irradiation is called a recording mark. Also, the bottom power and cooling power temporarily reduce the heat applied to the recording film.

次に、この4種類のパワーと、図2にて説明したレーザ駆動部40の動作との関係について説明する。まず、ボトムパワーは、記録パルス206a、206b、206cの論理を全てLoレベルにすることで実現される。このとき、電流源41の出力電流Ibのみが半導体レーザ201に供給され、ボトムパワー(Pb)で半導体レーザ1が発光する。   Next, the relationship between these four types of power and the operation of the laser driving unit 40 described with reference to FIG. 2 will be described. First, the bottom power is realized by setting all the logics of the recording pulses 206a, 206b, and 206c to the Lo level. At this time, only the output current Ib of the current source 41 is supplied to the semiconductor laser 201, and the semiconductor laser 1 emits light with bottom power (Pb).

クーリングパワーは、記録パルス206aをH(High)レベル、記録パルス206b、206cをLレベルにすることで実現できる。このとき、電流源42の出力電流と、電流源41の出力電流との合計(Ic+Ib)が半導体レーザ201へ供給され、クーリングパワー(Pc)で半導体レーザ1が発光する。   The cooling power can be realized by setting the recording pulse 206a to H (High) level and the recording pulses 206b and 206c to L level. At this time, the sum (Ic + Ib) of the output current of the current source 42 and the output current of the current source 41 is supplied to the semiconductor laser 201, and the semiconductor laser 1 emits light with the cooling power (Pc).

バイアスパワーは、記録パルス206a、206bをHレベル、記録パルス206cをLレベルにすることで実現できる。このとき、電流源43、42、41の出力電流の合計(Ie+Ic+Ib)が半導体レーザ1へ供給され、バイアスパワー(Pe)で半導体レーザ1が発光する。   The bias power can be realized by setting the recording pulses 206a and 206b to the H level and the recording pulse 206c to the L level. At this time, the sum (Ie + Ic + Ib) of the output currents of the current sources 43, 42, 41 is supplied to the semiconductor laser 1, and the semiconductor laser 1 emits light with bias power (Pe).

ピークパワーは、記録パルス206a、206b、206cを全てHレベルにすることで実現できる。このとき、4つの電流源44、43、42、41の全ての出力電流の合計が半導体レーザ1へ供給され、ピークパワー(Pp)で発光する。   The peak power can be realized by setting all the recording pulses 206a, 206b, and 206c to the H level. At this time, the sum of all output currents of the four current sources 44, 43, 42, 41 is supplied to the semiconductor laser 1 and emits light with peak power (Pp).

また、ファーストパルス立ち上がり位置(以下「SFP」という。)、ファーストパルス立ち下がり位置(以下「EFP」という。)、マルチパルス幅(以下「MPW」という。)、ラストパルス立ち上がり位置(以下「SLP」という。)、ラストパルス立ち下がり位置(以下「ELP」という。)、及びクーリングパルス立ち上がり位置(以下「ECP」という。)は、後述する記録パルス206a、206b、206cのタイミングによりそれぞれ独立に変更することができる。   The first pulse rising position (hereinafter referred to as “SFP”), the first pulse falling position (hereinafter referred to as “EFP”), the multi-pulse width (hereinafter referred to as “MPW”), and the last pulse rising position (hereinafter referred to as “SLP”). The last pulse falling position (hereinafter referred to as “ELP”) and the cooling pulse rising position (hereinafter referred to as “ECP”) are independently changed according to the timing of recording pulses 206a, 206b, and 206c described later. be able to.

また、マルチパルス部の各パルス(以下「マルチパルス」という。)のデューティ比については、マルチパルスの立ち上がりタイミングをパルス基準クロック301の立ち上がりのタイミングに同期させ、マルチパルスの立ち下がり位置をマルチパルス幅設定値MPWにより可変にすることができる。例えば、マルチパルス幅設定値MPW=0のときにマルチパルスのデューティ比が50%、即ち、図3のレーザ発光波形で、ピークパワーの発光時間とボトムパワーの発光時間が1対1になるように設定値を決めると、0を中心とする所定の整数範囲でMPWの設定を行うことにより、50%のデューティ比に対して前後に幅を変更することができる。   As for the duty ratio of each pulse of the multi-pulse section (hereinafter referred to as “multi-pulse”), the rising timing of the multi-pulse is synchronized with the rising timing of the pulse reference clock 301, and the falling position of the multi-pulse is set to the multi-pulse. It can be made variable by the width setting value MPW. For example, when the multi-pulse width setting value MPW = 0, the multi-pulse duty ratio is 50%, that is, the peak power emission time and the bottom power emission time are 1: 1 in the laser emission waveform of FIG. When the set value is determined, the MPW is set within a predetermined integer range centered on 0, whereby the width can be changed back and forth with respect to the duty ratio of 50%.

このように、記録パルスの位置またはデューティ比を変化させることを一般に「記録補償」と呼び、記録パルスの位置またはデューティ比の変化量を「記録補償量」と呼ぶ。この記録補償により記録マーク間の熱干渉等の影響を低減し記録密度を高めようという試みは、既に行われている。
<3.光パルスの各パワー値の制御方法>
次に、光パルスの各パワー(ボトムパワー、クーリングパワー、バイアスパワー、ピークパワー)を所望のパワー値に制御する方法について、図2のレーザ制御装置の構成図と図4の波形を用いながら述べる。ここでは、記録トラック上の各セクターの先頭に設けられたALPC(Automatic Laser Power Control)領域をテスト発光区間として利用した例について示す。
In this way, changing the position or duty ratio of the recording pulse is generally called “recording compensation”, and the amount of change in the position or duty ratio of the recording pulse is called “recording compensation amount”. Attempts have already been made to increase the recording density by reducing the influence of thermal interference between the recording marks by this recording compensation.
<3. Control method of each power value of optical pulse>
Next, a method for controlling each power (bottom power, cooling power, bias power, peak power) of the optical pulse to a desired power value will be described using the configuration diagram of the laser control device in FIG. 2 and the waveform in FIG. . Here, an example is shown in which an ALPC (Automatic Laser Power Control) area provided at the head of each sector on the recording track is used as a test light emission section.

図4に示すように、ALPC領域において、ボトムパワーの一定値発光と、クーリングパワーの一定値発光とバイアスパワーの一定値発光と、マルチパルス発光で構成されるテスト発光パターンが生成される。テスト発光パターンにおける各パルス電流源41から44の電流値(Ib、Ic、Ie、Ip)は、演算プロセッサ25において光パルスの各パワーが所望値となるような予想値が下記のように設定される。制御目標値であるピークパワー設定値(Pref)、バイアスパワー設定値(Eref)、クーリング設定値(Cref)ボトムパワー設定値(Bref)は演算プロセッサ(DSP)25に予め記録されている。電流変換係数をK、レーザのしきい値電流をIthとすると、Ib、Ic、Ie、Ipの初期値Ib_0、Ic_0、Ie_0、Ip_0は各パワー値の差分に相当する電流値であるため、下記のように設定される。   As shown in FIG. 4, in the ALPC region, a test light emission pattern including a constant bottom light emission, a constant cooling light emission, a constant bias power emission, and a multi-pulse light emission is generated. The current values (Ib, Ic, Ie, Ip) of the pulse current sources 41 to 44 in the test light emission pattern are set as follows in the arithmetic processor 25 so that each power of the optical pulse becomes a desired value. The The peak power setting value (Pref), bias power setting value (Eref), cooling setting value (Cref) bottom power setting value (Bref), which are control target values, are recorded in advance in the arithmetic processor (DSP) 25. Assuming that the current conversion coefficient is K and the threshold current of the laser is Ith, the initial values Ib_0, Ic_0, Ie_0, and Ip_0 of Ib, Ic, Ie, and Ip are current values corresponding to the difference between the power values. It is set like this.

Ib = Ib_0 = Ith+K(Bref)
Ic = Ic_0 = K(Cref−Bref)
Ie = Ie_0 = K(Eref−Bref)
Ip = Ip_0 = K(Pref−Eref)
さらに記録パルス生成手段により記録ゲート206d、記録パルス206a、記録パルス206b、記録パルス206cが各々図3(g)、(h)、(i)、(j)に示すような波形で入力されることにより実現される。ここでは、実際の記録領域でのマルチパルス部のデューティ比が25%と細い場合にも、テスト発光区間のマルチパルス発光部ではデューティ比が50%となるように記録パルス206a、記録パルス206b、記録パルス206cが入力される。
Ib = Ib_0 = Ith + K (Bref)
Ic = Ic_0 = K (Cref−Bref)
Ie = Ie_0 = K (Eref-Bref)
Ip = Ip_0 = K (Pref−Eref)
Further, the recording gate 206d, the recording pulse 206a, the recording pulse 206b, and the recording pulse 206c are input by the recording pulse generating means with waveforms as shown in FIGS. 3 (g), (h), (i), and (j), respectively. It is realized by. Here, even when the duty ratio of the multi-pulse part in the actual recording area is as thin as 25%, the recording pulse 206a, the recording pulse 206b, A recording pulse 206c is input.

上記のような方法で生成された光パルスのテスト発光パターンを、発光レベルをモニタする光検出器2で受光し光電流に変換し、電流−電圧変換器3で電圧波形に変換する。   The test light emission pattern of the light pulse generated by the method as described above is received by the photodetector 2 that monitors the light emission level, converted into a photocurrent, and converted into a voltage waveform by the current-voltage converter 3.

次に、電圧変換された受光波形をサンプルホールド回路(SH1、SH2、SH3)に入力する。サンプルホールド回路11(SH1)は、図4に示すように発光波形に応じて決定されたサンプリングパルスS1のタイミングで、テスト発光区間のボトムDC値(Pb)をサンプルホールドする。サンプルホールド回路12(SH2)は、サンプリングパルスS2のタイミングで、テスト発光区間のクーリングDC値(Pc)をサンプルホールドする。サンプルホールド回路13(SH3)は、サンプリングパルスS3のタイミングで、テスト発光区間のバイアス値(Pe)をサンプルホールドする。   Next, the voltage-converted received light waveform is input to the sample hold circuit (SH1, SH2, SH3). The sample hold circuit 11 (SH1) samples and holds the bottom DC value (Pb) of the test light emission section at the timing of the sampling pulse S1 determined according to the light emission waveform as shown in FIG. The sample hold circuit 12 (SH2) samples and holds the cooling DC value (Pc) in the test light emission period at the timing of the sampling pulse S2. The sample hold circuit 13 (SH3) samples and holds the bias value (Pe) of the test light emission period at the timing of the sampling pulse S3.

また、電圧変換された受光波形をローパスフイルター(LPF)15に入力する。ローパスフイルター15は、ピークパワーとボトムパワーとの間でパルス発光されたマルチパルス部分の平均値を検出するために平滑化可能な遮断周波数特性に設定する。   In addition, the voltage-converted received light waveform is input to a low-pass filter (LPF) 15. The low-pass filter 15 is set to a cut-off frequency characteristic that can be smoothed in order to detect the average value of the multi-pulse part pulsed between the peak power and the bottom power.

次に、ローパスフイルター(LPF)15の出力をサンプルホールド回路14(SH4)に入力する。サンプルホールド回路SH4では、発光波形に応じて決定されたサンプリングパルスS4のタイミングで、テスト発光区間のマルチパルス平均値(Pa)をサンプルホールドする。   Next, the output of the low-pass filter (LPF) 15 is input to the sample hold circuit 14 (SH4). The sample hold circuit SH4 samples and holds the multi-pulse average value (Pa) in the test light emission section at the timing of the sampling pulse S4 determined according to the light emission waveform.

次に、サンプルホールド回路SH1、SH2、SH3、SH4の各々の出力をADコンバータAD1、AD2、AD3、AD4に入力し、デジタルデータに変換する。そして変換されたデジタルデータを、演算プロセッサ(DSP)25に、各々ボトムDC値データ(Pb)、クーリングDC値データ(Pc)、バイアス値DC値データ(Pe)、マルチパルス平均値データ(Pa)として入力する
次に、演算プロセッサ(DSP)25の動作について説明する。テスト発光区間では、検出した4種のパワー値と、光パルスの目標パワー値に相当する基準値と比較して、半導体レーザ1に流すピーク電流値Ip、バイアス電流値Ie、クーリング電流値Ic、ボトム電流値Ibが目標パワー値になるように比較演算を行う。
Next, the outputs of the sample hold circuits SH1, SH2, SH3, and SH4 are input to the AD converters AD1, AD2, AD3, and AD4, and converted into digital data. The converted digital data is sent to an arithmetic processor (DSP) 25 for bottom DC value data (Pb), cooling DC value data (Pc), bias value DC value data (Pe), and multipulse average value data (Pa). Next, the operation of the arithmetic processor (DSP) 25 will be described. In the test light emission period, the detected four power values are compared with the reference value corresponding to the target power value of the optical pulse, and the peak current value Ip, the bias current value Ie, the cooling current value Ic, The comparison calculation is performed so that the bottom current value Ib becomes the target power value.

ピーク値を得るには、取得したマルチパルスの平均値(Pa)から変換する必要がある。ピーク値(Pp)を未知数とすると、以下の式を演算することにより、未知数Ppが求まる。   In order to obtain the peak value, it is necessary to convert from the average value (Pa) of the acquired multipulses. When the peak value (Pp) is an unknown number, the unknown number Pp is obtained by calculating the following equation.

Pa=Pp×d+Pb×(1−d)より、
Pp={Pa−Pb・(1−d)}/d・・・・・・(数式2)
そして求めたピーク値(Pp)、バイアス値(Pe)、クーリング値(Pc)、ボトム値(Pb)を各パワー目標値(Pref)、(Eref)、(Cref)、(Bref)と比較し、その差分値ΔP、ΔE、ΔC、ΔBを各々演算する。
From Pa = Pp × d + Pb × (1-d),
Pp = {Pa−Pb · (1−d)} / d ···· (Expression 2)
Then, the obtained peak value (Pp), bias value (Pe), cooling value (Pc), and bottom value (Pb) are compared with each power target value (Pref), (Eref), (Cref), (Bref), The difference values ΔP, ΔE, ΔC, ΔB are calculated.

ΔB=B−Bref
ΔC=Pc−Cref
ΔE=Pe−Eref
ΔP=Pp−Pref
上述の演算によって求まった差分値ΔP、ΔE、ΔC、ΔBと、電流変換係数Kと、各パルス電流源の初期値(Ip_0、Ie_0、Ic_0、Ib_0、)を用いて、以下のような演算をすると、差分値ΔP、ΔE、ΔC、ΔBが、所定値、例えばゼロに収束するように制御できる。
ΔB = B-Bref
ΔC = Pc-Cref
ΔE = Pe-Eref
ΔP = Pp-Pref
Using the difference values ΔP, ΔE, ΔC, ΔB obtained by the above calculation, the current conversion coefficient K, and the initial values (Ip_0, Ie_0, Ic_0, Ib_0) of each pulse current source, the following calculation is performed. Then, the difference values ΔP, ΔE, ΔC, ΔB can be controlled to converge to a predetermined value, for example, zero.

Ib= K×ΔB+Ib_0
Ic= K×ΔC+Ic_0
Ie= K×ΔE+Ie_0
Ip= K×ΔP+Ip_0
演算プロセッサ(DSP)25より出力されたボトム電流値(Ib)、バイアス電流値(Ie)、クーリング電流値(Ic)、ピーク電流値(Ip)の演算データは、各々DAコンバータ(DA1、DA2、DA3、DA4)に入力され、アナログの電流値に変換される。そして、パルス電流源41、42、43、44に入力され、記録ゲート206dと記録パルス206a、記録パルス206b、206cに応じて、半導体レーザ1をパルス駆動する。
Ib = K × ΔB + Ib — 0
Ic = K × ΔC + Ic — 0
Ie = K × ΔE + Ie — 0
Ip = K × ΔP + Ip — 0
The calculation data of the bottom current value (Ib), the bias current value (Ie), the cooling current value (Ic), and the peak current value (Ip) output from the arithmetic processor (DSP) 25 are respectively DA converters (DA1, DA2, DA3, DA4) and converted to an analog current value. Then, it is inputted to the pulse current sources 41, 42, 43 and 44, and the semiconductor laser 1 is pulse-driven according to the recording gate 206d, the recording pulse 206a, and the recording pulses 206b and 206c.

従来よりパルスのデューティ比については、光ディスクの種類(メーカ、記録倍速を含む)毎に最適な記録特性が得られるようにパルス幅MPWの値が異なっている。これに対応するために、マルチパルスの生成において複数の遅延素子が多段接続された回路に基準クロックを入力し、選択的に出力することにより、50%のデューティ比を基準として前後に幅を変更している(詳細は後述する。)。このような構成のため、デューティ比が50%から離れるパルス幅のときほど、遅延素子の設定に対する精度や温度変動の影響が大きくなり、マルチパルス部のデューティ比が設定デューティ比dに対してずれる影響が大きくなる。光パルスのデューティ比が設定デューティ比dに対しずれている一方で、演算プロセッサは設定デューティ比dのままピーク値を演算するため、ピーク値に誤差が生ずるという課題が発生する。例えば、チャネルクロックが132MHzの場合、マルチパルスの周期Twは7.58nsとなる。デューティ比40%のパルス幅は3.03nsとなる。このデューティ比を生成するために遅延素子を使用した場合、遅延素子の設定に対するずれや温度変動でトータル0.3ns程度のずれが発生する場合が発明者の実験であった。この場合、設定に対するパルス幅のずれは約10%となる。ピークパワーの検出において、上述の数式2に基づき平均値(Pa)をデューティ比(d)で除算するため、パルス幅のずれがそのままピークパワーのずれとなり、ひいてはディスクへの記録特性の劣化を招く。   Conventionally, with respect to the duty ratio of the pulse, the value of the pulse width MPW is different so that optimum recording characteristics can be obtained for each type of optical disk (including manufacturer and recording double speed). To cope with this, the reference clock is input to a circuit in which a plurality of delay elements are connected in multiple stages in multi-pulse generation, and is selectively output to change the width before and after the 50% duty ratio as a reference. (Details will be described later). Due to such a configuration, the influence of the accuracy and temperature fluctuation on the setting of the delay element increases as the pulse width deviates from 50%, and the duty ratio of the multi-pulse part deviates from the set duty ratio d. The impact will increase. While the duty ratio of the optical pulse is deviated from the set duty ratio d, the arithmetic processor calculates the peak value while maintaining the set duty ratio d, which causes a problem that an error occurs in the peak value. For example, when the channel clock is 132 MHz, the multipulse period Tw is 7.58 ns. The pulse width with a duty ratio of 40% is 3.03 ns. When the delay element is used to generate this duty ratio, the inventors have conducted experiments in which a deviation of about 0.3 ns in total occurs due to a deviation from the setting of the delay element or a temperature variation. In this case, the deviation of the pulse width with respect to the setting is about 10%. In the detection of peak power, the average value (Pa) is divided by the duty ratio (d) based on the above equation 2, so that the deviation in pulse width becomes the deviation in peak power as it is, which leads to deterioration of recording characteristics on the disc. .

本発明の特徴は、実際のユーザデータ記録領域でのマルチパルス部のデューティ比にかかわらず、テスト発光区間のマルチパルス発光部ではデューティ比が50%となるテスト発光パターンでレーザパワーを制御するところにある。   A feature of the present invention is that the laser power is controlled by a test light emission pattern in which the duty ratio is 50% in the multi-pulse light emission part in the test light emission period, regardless of the duty ratio of the multi-pulse part in the actual user data recording area. It is in.

本発明のレーザ制御方法においては、実際のユーザデータ記録領域でのマルチパルス部のデューティ比にかかわらず、テスト発光区間のマルチパルス発光部ではデューティ比が50%となるテスト発光パターンを生成するため、記録パルス生成部の遅延素子の影響を受けない、基準クロックと等しいデューティ比が50%の光パルスが生成される。したがって光パルスのデューティ比と演算プロセッサの設定デューティ比dが等しいので、ピーク値の演算に誤差が生じず、ピークパワーの制御精度を向上させることができる。
<4.記録パルス生成部の構成>
図5は、記録パルス生成部111の内部構成例を示すブロック図である。また、図7は、図5に示す内部構成を持つ記録パルス生成部111を用いて、変調データ208から記録パルス206a,206b,206cを生成するまでの具体的動作例を説明するための信号タイミング図である。なお、図7ではランレングスが2から10の範囲で制限された変調規則を用いてPWM記録を行う場合で、6Tマークを記録する際の波形例を示している。
In the laser control method of the present invention, a test light emission pattern with a duty ratio of 50% is generated in the multipulse light emitting section in the test light emission section, regardless of the duty ratio of the multipulse section in the actual user data recording area. Thus, an optical pulse having a duty ratio equal to the reference clock and 50%, which is not affected by the delay element of the recording pulse generator, is generated. Therefore, since the duty ratio of the optical pulse is equal to the set duty ratio d of the arithmetic processor, no error occurs in the calculation of the peak value, and the control accuracy of the peak power can be improved.
<4. Configuration of recording pulse generator>
FIG. 5 is a block diagram showing an example of the internal configuration of the recording pulse generator 111. FIG. 7 is a signal timing for explaining a specific operation example from generation of recording pulses 206a, 206b, and 206c from modulation data 208 using the recording pulse generator 111 having the internal configuration shown in FIG. FIG. FIG. 7 shows an example of a waveform when a 6T mark is recorded in a case where PWM recording is performed using a modulation rule in which the run length is limited in the range of 2 to 10.

図5において、パルスタイミング生成部501は、別ブロックより供給される変調データ208を受けて、ファーストパルス始端基準タイミング511a、ファーストパルス終端基準タイミング512a、マルチパルス基準タイミング513a、ラストパルス始端基準タイミング514a、ラストパルス終端/クーリングパルス始端基準タイミング515a、クーリングパルス終端基準タイミング516aを生成し、出力する。また、テスト発光区間のみHレベルとなるテストモード信号600aを生成し、出力する。   In FIG. 5, the pulse timing generator 501 receives the modulation data 208 supplied from another block, and receives a first pulse start reference timing 511a, a first pulse end reference timing 512a, a multi-pulse reference timing 513a, and a last pulse start reference timing 514a. The last pulse end / cooling pulse start reference timing 515a and the cooling pulse end reference timing 516a are generated and output. In addition, a test mode signal 600a that is H level only in the test light emission period is generated and output.

クロック遅延部502は、変調データ208に同期したクロック510(1周期が1チャネルビット)を入力とし、記録パルス位置補正部112より設定されるSFP、EFP、第1のMPW、第2のMPW、SLP、ELP、ECPに基づいて8種類の遅延クロック、即ち、ファーストパルス始端位置基準クロック511b、ファーストパルス終端位置基準クロック512b、マルチパルス始端基準クロック513b、第1のマルチパルス終端基準クロック513c、第2のマルチパルス終端基準クロック600c、ラストパルス始端位置基準クロック514b、ラストパルス終端位置/クーリングパルス始端位置基準クロック515b、クーリングパルス終端位置基準クロック516bを出力する。   The clock delay unit 502 receives a clock 510 (one cycle is one channel bit) synchronized with the modulation data 208, and the SFP, EFP, first MPW, second MPW set by the recording pulse position correction unit 112, Based on SLP, ELP, and ECP, eight types of delay clocks, that is, a first pulse start position reference clock 511b, a first pulse end position reference clock 512b, a multipulse start reference clock 513b, a first multipulse end reference clock 513c, 2 multi-pulse end reference clock 600c, last pulse start position reference clock 514b, last pulse end position / cooling pulse start position reference clock 515b, and cooling pulse end position reference clock 516b.

なお、ここでマルチパルス始端基準クロック513bは、マルチパルス部の立ち上がりエッジ位置を規定すると同時に全てのパルスエッジの基準となるクロック信号であり、SFP、EFP、MPW、SLP、ELP、ECPの各設定値はマルチパルス始端基準クロック513bとの時間関係に基づいて規定される。   Here, the multi-pulse start reference clock 513b is a clock signal that defines the rising edge position of the multi-pulse part and at the same time serves as a reference for all pulse edges. Each setting of SFP, EFP, MPW, SLP, ELP, and ECP The value is defined based on the time relationship with the multi-pulse start reference clock 513b.

また、図7に示しているように、ファーストパルス始端基準タイミング511aは変調データ208の立ち上がりエッジから第1波目のマルチパルス始端基準クロック513bの立ち上がりエッジより一周期分のHレベルを有するパルス信号である。   Also, as shown in FIG. 7, the first pulse start end reference timing 511a is a pulse signal having an H level for one cycle from the rising edge of the modulation data 208 from the rising edge of the first multi-pulse start end reference clock 513b. It is.

ファーストパルス終端基準タイミング512aは、図7に示すように、変調データ208の立ち上がりエッジから第2波目のマルチパルス始端基準クロック513bの立ち上がりエッジより1周期分のHレベルを有するパルス信号である。   As shown in FIG. 7, the first pulse end reference timing 512a is a pulse signal having an H level for one cycle from the rising edge of the modulation data 208 to the rising edge of the second pulse multi-pulse starting reference clock 513b.

マルチパルス基準タイミング513aは、図7に示すように、変調データ208の立ち上がりエッジから第3波目のマルチパルス始端基準クロック513bの立ち上がりエッジより第5波目のマルチパルス始端基準クロック513bの立ち上がりエッジまでの期間Hレベルとなるゲート信号である。但し、上記は6Tマークに対応した場合であり、より一般的に説明すると、MTマーク(Mは3から11までの整数)に対するマルチパルス基準タイミング513aは、変調データ208の立ち上がりエッジから第3波目のマルチパルス始端基準クロック513bの立ち上がりエッジより、(M−4)チャネルビット周期の期間Hレベルとなる。但し、M=3、4の場合、即ち3Tマークもしくは4Tマークの場合のマルチパルス基準タイミング512aはLレベルのままである。   As shown in FIG. 7, the multipulse reference timing 513a is a rising edge of the fifth multipulse start reference clock 513b from a rising edge of the third multipulse start reference clock 513b from the rising edge of the modulation data 208. This is a gate signal that is at the H level during the period up to. However, the above is a case corresponding to the 6T mark. More generally, the multi-pulse reference timing 513a for the MT mark (M is an integer from 3 to 11) is the third wave from the rising edge of the modulation data 208. From the rising edge of the second multi-pulse start reference clock 513b, it becomes H level for a period of (M-4) channel bit period. However, in the case of M = 3, 4, that is, in the case of 3T mark or 4T mark, the multi-pulse reference timing 512a remains at the L level.

また、ラストパルス始端基準タイミング514a、ラストパルス終端/クーリングパルス始端基準タイミング515a、及びクーリングパルス終端基準タイミング516aは、図7に示すように、変調データ208の立ち上がりエッジから、マルチパルス始端基準クロック513bのそれぞれ、第4波目立ち下がりエッジ、第5波目立ち上がりエッジ、第6波目立ち下がりエッジ、より1周期分のHレベルを有するパルス信号である。但し、上記は6Tマークに対応した場合であり、より一般的に説明すると、MTマーク(Mは3から11までの整数)に対するラストパルス始端基準タイミング514a、ラストパルス終端/クーリングパルス始端基準タイミング515a、クーリングパルス終端基準タイミング516aは、変調データ208の立ち上がりエッジから、マルチパルス始端基準クロック513bのそれぞれ、第(M−2)波目の立ち下がりエッジ、第(M−1)波目の立ち上がりエッジ、第M波目の立ち下がりエッジ、より1周期分のHレベルを有するパルス信号である。   Further, the last pulse start reference timing 514a, the last pulse end / cooling pulse start reference timing 515a, and the cooling pulse end reference timing 516a are, as shown in FIG. 7, from the rising edge of the modulation data 208, the multi-pulse start reference clock 513b. These are pulse signals having the H level for one cycle from the fourth wave falling edge, the fifth wave rising edge, and the sixth wave falling edge. However, the above is a case corresponding to the 6T mark. More generally, the last pulse start reference timing 514a, the last pulse end / cooling pulse start reference timing 515a for the MT mark (M is an integer from 3 to 11). The cooling pulse end reference timing 516a is the rising edge of the (M-2) th wave and the rising edge of the (M-1) th wave of the multi-pulse starting reference clock 513b from the rising edge of the modulation data 208, respectively. , A pulse signal having an H level corresponding to one period from the falling edge of the Mth wave.

ファーストパルス始端基準タイミング511aとファーストパルス始端位置基準クロック511bはそれぞれDフリップフロップ503aのD入力及びクロック入力に接続され、Dフリップフロップ503aのQ出力はファーストパルス始端位置信号511cとなる。   The first pulse start end reference timing 511a and the first pulse start end position reference clock 511b are respectively connected to the D input and clock input of the D flip-flop 503a, and the Q output of the D flip-flop 503a becomes the first pulse start end position signal 511c.

ファーストパルス終端基準タイミング512aとファーストパルス終端位置基準クロック512bはそれぞれDフリップフロップ503bのD入力及びクロック入力に接続され、Dフリップフロップ503bのQ反転出力はファーストパルス終端位置信号512cとなる。   The first pulse end reference timing 512a and the first pulse end position reference clock 512b are connected to the D input and clock input of the D flip-flop 503b, respectively, and the Q inverted output of the D flip-flop 503b becomes the first pulse end position signal 512c.

ラストパルス始端基準タイミング514aとラストパルス始端位置基準クロック514bはそれぞれDフリップフロップ503cのD入力及びクロック入力に接続され、Dフリップフロップ503cのQ出力はラストパルス始端位置信号514cとなる
ラストパルス終端/クーリングパルス始端基準タイミング515aとラストパルス終端位置/クーリングパルス始端基準クロック515bはそれぞれDフリップフロップ503dのD入力及びクロック入力に接続され、Dフリップフロップ503dのQ反転出力はラストパルス終端位置信号515cとなり、Q出力はクーリングパルス始端位置信号515dとなる。
The last pulse start end reference timing 514a and the last pulse start end position reference clock 514b are connected to the D input and clock input of the D flip-flop 503c, respectively, and the Q output of the D flip-flop 503c becomes the last pulse start end position signal 514c. The cooling pulse start end reference timing 515a and the last pulse end position / cooling pulse start end reference clock 515b are connected to the D input and clock input of the D flip-flop 503d, respectively, and the Q inverted output of the D flip-flop 503d becomes the last pulse end position signal 515c. , Q output is a cooling pulse start position signal 515d.

クーリングパルス終端基準タイミング516aとクーリングパルス終端位置基準クロック516bはそれぞれDフリップフロップ503eのD入力及びクロック入力に接続され、Dフリップフロップ503eのQ反転出力はクーリングパルス終端位置信号516cとなる。   The cooling pulse end reference timing 516a and the cooling pulse end position reference clock 516b are connected to the D input and clock input of the D flip-flop 503e, respectively, and the Q inverted output of the D flip-flop 503e becomes the cooling pulse end position signal 516c.

ファーストパルス始端位置信号511cとファーストパルス終端位置信号512cはそれぞれDフリップフロップ505aのクロック入力及びリセット入力に接続される。またDフリップフロップ505aのD入力はHレベルに固定されている。これにより、Dフリップフロップ505aのQ出力であるファーストパルス信号517は、図7に示すように、ファーストパルス終端位置信号512cがHレベルのときのファーストパルス始端位置信号511cの立ち上がりエッジでHレベルに立ち上がり、ファーストパルス終端位置信号512cの立ち下がりエッジでLレベルに立ち下がる。   First pulse start position signal 511c and first pulse end position signal 512c are connected to the clock input and reset input of D flip-flop 505a, respectively. The D input of the D flip-flop 505a is fixed at the H level. As a result, the first pulse signal 517, which is the Q output of the D flip-flop 505a, becomes H level at the rising edge of the first pulse start position signal 511c when the first pulse end position signal 512c is at H level, as shown in FIG. It rises and falls to the L level at the falling edge of the first pulse end position signal 512c.

マルチパルス基準タイミング513aと、マルチパルス始端基準クロック513bと、第1のマルチパルス終端基準クロック513cは論理素子504aに入力される。論理素子504aは、第1のMPWが正の数のときには、マルチパルス始端基準クロック513bと第1のマルチパルス終端基準クロック513cの論理和をとった信号とマルチパルス基準タイミング513aとの論理積をとり、第1のマルチパルス信号518aとして出力する。また論理素子504aは、第1のMPWが負の数のときには、マルチパルス始端基準クロック513bと第1のマルチパルス終端基準クロック513cの論理積をとった信号とマルチパルス基準タイミング513aとの論理積をとり第1のマルチパルス信号518aとして出力する。   The multipulse reference timing 513a, the multipulse start reference clock 513b, and the first multipulse end reference clock 513c are input to the logic element 504a. When the first MPW is a positive number, the logic element 504a calculates a logical product of a signal obtained by ORing the multipulse start reference clock 513b and the first multipulse end reference clock 513c and the multipulse reference timing 513a. And output as the first multi-pulse signal 518a. When the first MPW is a negative number, the logic element 504a performs a logical product of a signal obtained by ANDing the multipulse start reference clock 513b and the first multipulse end reference clock 513c and the multipulse reference timing 513a. And output as a first multi-pulse signal 518a.

さらにマルチパルス基準タイミング513aと、マルチパルス始端基準クロック513bと、第2のマルチパルス終端基準クロック600cは論理素子504bに入力される。図8に示すように、論理素子504bは、第2のMPWが正の数のときには、マルチパルス始端基準クロック513bと第2のマルチパルス終端基準クロック600cの論理和をとった信号とマルチパルス基準タイミング513aとの論理積をとり、第2のマルチパルス信号518bとして出力する。また論理素子504bは、第2のMPWが負の数のときには、マルチパルス始端基準クロック600cと第2のマルチパルス終端基準クロック513cの論理積をとった信号とマルチパルス基準タイミング513aとの論理積をとり第2のマルチパルス信号518bとして出力する。   Further, the multi-pulse reference timing 513a, the multi-pulse start reference clock 513b, and the second multi-pulse end reference clock 600c are input to the logic element 504b. As shown in FIG. 8, when the second MPW is a positive number, the logic element 504b has a multi-pulse reference and a signal obtained by ORing a multi-pulse start reference clock 513b and a second multi-pulse end reference clock 600c. A logical product with the timing 513a is calculated and output as a second multi-pulse signal 518b. When the second MPW is a negative number, the logic element 504b performs a logical product of a signal obtained by ANDing the multipulse start reference clock 600c and the second multipulse end reference clock 513c and the multipulse reference timing 513a. And output as a second multi-pulse signal 518b.

第1のマルチパルス信号518aと第2のマルチパルス信号518bと、テストモード信号600aは選択部504cに入力される。テストモード信号600aは、上述の図4で説明したテスト発光区間においてはHレベルとなり、その他の領域(ユーザデータ記録領域など)ではLレベルとなる信号である。選択部504cは、テストモード信号600aがLレベルの時は第1のマルチパルス信号518aを選択し、テストモード信号600aがHレベルの時は第2のマルチパルス信号518bを選択して、マルチパルス信号518として出力する。   The first multi-pulse signal 518a, the second multi-pulse signal 518b, and the test mode signal 600a are input to the selection unit 504c. The test mode signal 600a is a signal that is at the H level in the test light emission section described with reference to FIG. The selection unit 504c selects the first multi-pulse signal 518a when the test mode signal 600a is at the L level, and selects the second multi-pulse signal 518b when the test mode signal 600a is at the H level. Output as signal 518.

ラストパルス始端位置信号514cとラストパルス終端位置信号515cはそれぞれDフリップフロップ505bのクロック入力及びリセット入力に接続される。またDフリップフロップ505bのD入力は、Hレベルに固定されている。これにより、Dフリップフロップ505bのQ出力であるラストパルス信号519は、図7に示すように、ラストパルス終端位置信号515cがHレベルのときのラストパルス始端位置信号514cの立ち上がりエッジでHレベルに立ち上がり、ラストパルス終端位置信号515cの立ち下がりエッジでLレベルに立ち下がる。   The last pulse start position signal 514c and the last pulse end position signal 515c are connected to the clock input and reset input of the D flip-flop 505b, respectively. The D input of the D flip-flop 505b is fixed at the H level. As a result, the last pulse signal 519, which is the Q output of the D flip-flop 505b, becomes H level at the rising edge of the last pulse start position signal 514c when the last pulse end position signal 515c is at H level, as shown in FIG. It rises and falls to the L level at the falling edge of the last pulse end position signal 515c.

クーリングパルス始端位置信号515dとクーリングパルス終端位置信号516cはそれぞれDフリップフロップ505cのクロック入力及びリセット入力に接続される。またDフリップフロップ505cのD入力は、Hレベルに固定されている。これにより、Dフリップフロップ505cのQ出力であるクーリングパルス信号520は、図7に示すように、クーリングパルス終端位置信号516cがHレベルのときのクーリングパルス始端位置信号515dの立ち上がりエッジでHレベルに立ち上がり、クーリングパルス終端位置信号516cの立ち下がりエッジでLレベルに立ち下がる。   The cooling pulse start position signal 515d and the cooling pulse end position signal 516c are connected to the clock input and reset input of the D flip-flop 505c, respectively. The D input of the D flip-flop 505c is fixed at the H level. As a result, the cooling pulse signal 520, which is the Q output of the D flip-flop 505c, becomes H level at the rising edge of the cooling pulse start position signal 515d when the cooling pulse end position signal 516c is at H level, as shown in FIG. It rises and falls to the L level at the falling edge of the cooling pulse end position signal 516c.

上述したようにして生成されたファーストパルス信号517、マルチパルス信号518、ラストパルス信号519、クーリングパルス信号520は、パルス合成部506に入力される。パルス合成部506は上述の4種類の信号から3本の記録パルス206a、206b、206cを合成し出力する。合成された記録パルス206a,206b,206cの波形例を図7に示す。   The first pulse signal 517, the multi-pulse signal 518, the last pulse signal 519, and the cooling pulse signal 520 generated as described above are input to the pulse synthesis unit 506. A pulse synthesizing unit 506 synthesizes and outputs three recording pulses 206a, 206b, and 206c from the above four types of signals. FIG. 7 shows a waveform example of the synthesized recording pulses 206a, 206b, and 206c.

クロック遅延部502は、図4に示した記録パルス生成部111に使用されている各パルス遅延部と同様に、インバータ素子もしくはバッファ素子の多段接続、電圧制御型遅延素子を用いることで構成できる。
<5.クロック遅延部の構成>
図6はインバータ素子を用いて構成したクロック遅延部502の内部構成例を示すブロック図である。図6において、インバータ素子601が複数段直列に接続されており、その初段のインバータ素子601に外部入力であるクロック510が接続されている。インバータ素子601の段数は、記録パルス206a、206b、206cの各エッジ位置の可変範囲を満足する遅延量が少なくとも得られる段数とする。例えば、記録パルス206a、206b、206cの各エッジ位置の可変範囲が±10ナノ秒であり、インバータ素子601の2段分の遅延量が0.5ナノ秒であるとすると、20÷0.5=40となり、インバータ素子601は少なくとも80段必要となる。
The clock delay unit 502 can be configured by using a multistage connection of inverter elements or buffer elements, and a voltage control type delay element, similarly to each pulse delay unit used in the recording pulse generation unit 111 shown in FIG.
<5. Configuration of clock delay unit>
FIG. 6 is a block diagram illustrating an internal configuration example of the clock delay unit 502 configured using inverter elements. In FIG. 6, a plurality of inverter elements 601 are connected in series, and a clock 510 as an external input is connected to the first-stage inverter element 601. The number of stages of the inverter element 601 is the number of stages at which at least a delay amount that satisfies the variable range of each edge position of the recording pulses 206a, 206b, and 206c is obtained. For example, assuming that the variable range of each edge position of the recording pulses 206a, 206b, and 206c is ± 10 nanoseconds, and the delay amount of two stages of the inverter element 601 is 0.5 nanoseconds, 20 ÷ 0.5. = 40, and at least 80 inverter elements 601 are required.

選択部602は各インバータ素子601の出力の一部もしくは全てに接続されており、選択信号519に従い前記各インバータ素子601の出力のうちいずれか1つを選択して出力する。選択部602は遅延量の異なるクロックの種類分必要であり、図5に示した記録パルス生成部111に内蔵される場合、8種類の遅延量の異なるクロック(ファーストパルス始端位置基準クロック511b、ファーストパルス終端位置基準クロック512b、マルチパルス始端基準クロック513b、第1のマルチパルス終端基準クロック513c、第2のマルチパルス終端基準クロック600c、ラストパルス始端位置基準クロック514b、ラストパルス終端/クーリングパルス始端位置基準クロック515b、クーリングパルス終端位置基準クロック516b)が必要なため、選択部602は8個設けられている。   The selection unit 602 is connected to some or all of the outputs of the inverter elements 601, and selects and outputs any one of the outputs of the inverter elements 601 according to the selection signal 519. The selection unit 602 requires clock types having different delay amounts, and when incorporated in the recording pulse generation unit 111 shown in FIG. 5, eight types of clocks having different delay amounts (first pulse start end position reference clock 511b, first clock) Pulse end position reference clock 512b, multipulse start end reference clock 513b, first multipulse end reference clock 513c, second multipulse end reference clock 600c, last pulse start position reference clock 514b, last pulse end / cooling pulse start end position Since the reference clock 515b and the cooling pulse end position reference clock 516b) are necessary, eight selection units 602 are provided.

選択信号519は、複数種類の設定信号からなり、その内訳は、ファーストパルス始端位置設定SFPに相当する選択信号519a、ファーストパルス終端位置設定EFPに相当する選択信号519b、マルチパルス始端位置さらには記録パルスの各エッジ可変範囲の基準位置を決定する選択信号519c、第1のマルチパルス幅設定MPWに相当する選択信号519d、第2のマルチパルス幅設定MPWに相当する選択信号519h、ラストパルス始端位置設定SLPに相当する選択信号519e、ラストパルス終端位置設定ELPに相当する選択信号519f、クーリングパルス終端位置設定ECPに相当する選択信号519gとからなる。   The selection signal 519 is composed of a plurality of types of setting signals, including a selection signal 519a corresponding to the first pulse start position setting SFP, a selection signal 519b corresponding to the first pulse end position setting EFP, a multi-pulse start position, and further recording. A selection signal 519c for determining a reference position of each edge variable range of the pulse, a selection signal 519d corresponding to the first multi-pulse width setting MPW, a selection signal 519h corresponding to the second multi-pulse width setting MPW, and a last pulse start end position A selection signal 519e corresponding to the setting SLP, a selection signal 519f corresponding to the last pulse end position setting ELP, and a selection signal 519g corresponding to the cooling pulse end position setting ECP.

上述のように、クロック遅延部502は、入力クロックを順々に遅延させていくためのインバータ素子601と、各インバータ素子の出力を選択する選択部602とを組み合わせることで容易に構成できる。また、記録補償量の分解能である、記録パルスの最小調整ステップは、およそインバータ素子2個分を通過する遅延時間に相当する。   As described above, the clock delay unit 502 can be easily configured by combining the inverter element 601 for sequentially delaying the input clock and the selection unit 602 for selecting the output of each inverter element. The minimum adjustment step of the recording pulse, which is the resolution of the recording compensation amount, corresponds to a delay time that passes approximately two inverter elements.

本発明の記録パルス生成部の特徴は、マルチパルス部のデューティ比をユーザデータ記録領域とテスト発光区間で個別に生成可能なハードウェア(図5の論理素子504bと選択部504c)を追加したところにある。ユーザデータ記録領域では光ディスクの記録に使用される第1のデューティ比を設定し、テスト発光区間では第2のデューティ比を設定している。そして実際の運用としては、第2のMPWを0に設定することにより、第2のマルチパルス終端基準クロック600cは遅延素子を通過しない信号が選択される。その結果論理素子504bから出力される第2のマルチパルス信号は遅延素子の影響を受けない基準クロックのままのデューティ比を有する信号となる。したがって、テスト発光区間のデューティ比は設定に対するずれは温度変動がない正確な50%のデューティ比となる。これによってテスト発光区間の光パルスのデューティ比と演算プロセッサの設定デューティ比d(数式2における設定デューティ比d)が等しいので、ピーク値の演算に誤差が生じず、ピークパワーの制御精度を向上させることができる。   The recording pulse generator of the present invention is characterized by the addition of hardware (the logic element 504b and the selector 504c in FIG. 5) that can individually generate the duty ratio of the multi-pulse part in the user data recording area and the test light emission period. It is in. A first duty ratio used for recording on the optical disc is set in the user data recording area, and a second duty ratio is set in the test light emission section. In actual operation, by setting the second MPW to 0, a signal that does not pass through the delay element is selected as the second multi-pulse termination reference clock 600c. As a result, the second multi-pulse signal output from the logic element 504b is a signal having a duty ratio of the reference clock that is not affected by the delay element. Therefore, the duty ratio of the test light emission section is an accurate 50% duty ratio with no temperature fluctuation. As a result, since the duty ratio of the light pulse in the test light emission section is equal to the set duty ratio d of the arithmetic processor (the set duty ratio d in Equation 2), no error occurs in the calculation of the peak value, and the peak power control accuracy is improved. be able to.

本発明にかかるレーザパワー制御装置は、マルチパルス部の設定デューティ比に関わらず、ピーク値を精度よく制御できるため、DVDの記録再生装置等として有用である。   The laser power control apparatus according to the present invention is useful as a DVD recording / reproducing apparatus or the like because the peak value can be accurately controlled regardless of the set duty ratio of the multi-pulse section.

本発明に関わる光ディスク装置の主要構成図Main configuration diagram of optical disc apparatus according to the present invention 本発明におけるレーザパワー制御部の主要構成図Main configuration diagram of laser power control unit in the present invention 本発明に関わる記録パルスの形状、半導体レーザの発光波形、および形成される記録マークに一例を説明するための模式図The schematic diagram for demonstrating an example to the shape of the recording pulse concerning this invention, the light emission waveform of a semiconductor laser, and the recording mark formed 本発明におけるレーザ制御部の主要部の信号波形図Signal waveform diagram of main part of laser control unit in the present invention 本発明における記録パルス生成部の主要構成図Main configuration diagram of recording pulse generator in the present invention 本発明におけるクロック遅延部の主要構成図Main configuration diagram of clock delay unit in the present invention 本発明における記録パルス生成部の主要部の、ユーザデータ記録領域での信号波形図Signal waveform diagram in the user data recording area of the main part of the recording pulse generator in the present invention 本発明における記録パルス生成部の主要部の、テスト発光区間の信号波形図Signal waveform diagram of test light emission section of main part of recording pulse generator in the present invention

符号の説明Explanation of symbols

1 レーザ
2 受光素子
3 電流―電圧変換回路
11 サンプルホールド回路SH0
12 サンプルホールド回路SH1
13 サンプルホールド回路SH2
14 サンプルホールド回路SH3
15 ローパスフィルタ
21 AD変換回路AD1
22 AD変換回路AD2
23 AD変換回路AD3
24 AD変換回路AD4
25 演算プロセッサ(デジタルシグナルプロセッサ)
111 記録パルス生成部
31 DA変換回路DA1
32 DA変換回路DA2
33 DA変換回路DA3
34 DA変換回路DA4
40 レーザ駆動回路
41 ボトム電流源
42 クーリング電流源
43 バイアス電流源
44 ピーク電流源
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Laser 2 Light receiving element 3 Current-voltage conversion circuit 11 Sample hold circuit SH0
12 Sample hold circuit SH1
13 Sample hold circuit SH2
14 Sample hold circuit SH3
15 Low-pass filter 21 AD conversion circuit AD1
22 AD conversion circuit AD2
23 AD conversion circuit AD3
24 AD conversion circuit AD4
25 Arithmetic processor (digital signal processor)
111 Recording Pulse Generation Unit 31 DA Conversion Circuit DA1
32 DA converter circuit DA2
33 DA converter circuit DA3
34 DA conversion circuit DA4
40 Laser Drive Circuit 41 Bottom Current Source 42 Cooling Current Source 43 Bias Current Source 44 Peak Current Source

Claims (3)

光ディスクのデータ記録領域に記録マークを形成するための少なくともマルチパルスを含む第1の光パルスの各パワー値を制御する方法であって、
前記データ記録領域の直前に設けられたテスト発光区間においては、前記第1の光パルスのマルチパルスと同一の周期であってかつデューティ比の異なるマルチパルスを含む第2の光パルスを生成し、
前記第2の光パルスを受光して電気信号に変換した光検出信号と、前記第1の光パルスの目標パワー値に相当する基準値との誤差を求め、誤差を抑圧するように半導体レーザに流れる電流値を制御することを特徴とするレーザパワー制御方法。
A method for controlling each power value of a first optical pulse including at least a multi-pulse for forming a recording mark in a data recording area of an optical disc,
In the test light emission section provided immediately before the data recording area, a second optical pulse including a multi-pulse having the same period and a different duty ratio as the multi-pulse of the first optical pulse is generated,
An error is detected between the light detection signal obtained by receiving the second optical pulse and converted into an electrical signal, and a reference value corresponding to the target power value of the first optical pulse, and the semiconductor laser is controlled so as to suppress the error. A laser power control method characterized by controlling a value of a flowing current.
前記第2の光パルスのマルチパルスのデューティ比は、ほぼ50%であることを特徴とする請求項1に記載のレーザパワー制御方法。 2. The laser power control method according to claim 1, wherein a duty ratio of a multi-pulse of the second optical pulse is approximately 50%. 光ディスクのデータ記録領域に記録マークを形成するための少なくともマルチパルスを含む第1の光パルスの各パワー値を制御する装置であって、
前記データ記録領域の直前に設けられたテスト発光区間においては、前記第1の光パルスのマルチパルスと同一の周期であってかつデューティ比の異なるマルチパルスを含む第2の光パルスを生成する手段と、
前記第2の光パルスを受光して電気信号に変換した光検出信号を生成する手段と、
前記光検出信号と前記第1の光パルスの目標パワー値に相当する基準値との誤差を求め、誤差を抑圧するように半導体レーザに流れる電流値を制御する手段と、
を備えたことを特徴とするレーザパワー制御装置。
An apparatus for controlling each power value of a first optical pulse including at least a multi-pulse for forming a recording mark in a data recording area of an optical disc,
Means for generating a second optical pulse including a multi-pulse having the same period and a different duty ratio as the multi-pulse of the first optical pulse in a test light emission section provided immediately before the data recording area When,
Means for receiving the second light pulse and generating a light detection signal converted into an electrical signal;
Means for determining an error between the photodetection signal and a reference value corresponding to a target power value of the first optical pulse, and controlling a value of a current flowing through the semiconductor laser so as to suppress the error;
A laser power control device comprising:
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