JP2007278971A - サンプル測定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】容器13の昇降経路上に2つのシャッタ機構20,22が設けられる。容器13の昇降運動に伴い、各シャッタ機構20,22が閉動作又は開動作する。少なくとも一方のシャッタ機構が常に閉状態となるように制御される。
【選択図】図1
Description
、容器13の側面が不必要に受光面に接触して受光面を傷つけてしまうことを未然に防止することができる。このことは結果として受光面を容器13により近接することが可能であるということを意味する。
Claims (6)
- ラックから送り込まれたサンプル容器を収容する測定室を有し、当該サンプル容器内のサンプルに含有された放射線物質を測定する測定ユニットと、
前記ラックと前記測定ユニットとの間に設けられ、遮光構造を有する中間ユニットと、
前記ラックと前記測定室との間で前記サンプル容器を搬送する容器搬送機構と、
前記中間ユニットの下部開口から前記測定室の受入開口までの昇降通路における第1位置に設けられ、当該昇降通路を開閉する第1シャッタ機構と、
前記昇降通路において前記第1位置よりも高い第2位置に設けられ、当該昇降通路を開閉する第2シャッタ機構と、
を含むことを特徴とするサンプル測定装置。 - 請求項1記載の装置において、
前記第1シャッタ機構及び前記第2シャッタ機構は前記サンプル容器の昇降に連動して動作し、
前記第1シャッタ機構及び前記第2シャッタ機構は常に少なくとも一方のシャッタ機構が閉状態となって前記測定室への外部光の進入を阻止する、
ことを特徴とするサンプル測定装置。 - 請求項1記載の装置において、
前記サンプル容器の上昇過程では、
前記第1シャッタ機構が開状態且つ前記第2シャッタ機構が閉状態で、前記サンプル容器が前記第1シャッタ機構と前記第2シャッタ機構との間の中間位置まで上昇し、その後、前記第1シャッタ機構が閉状態となってから前記第2シャッタ機構が開状態となり、その状態で前記サンプル容器が前記測定室へ収容される、
ことを特徴とするサンプル測定装置。 - 請求項1記載の装置において、
前記サンプル容器の下降過程では、
前記第2シャッタ機構が開状態且つ前記第1シャッタ機構が閉状態で、前記サンプル容器が前記第2シャッタ機構と前記第1シャッタ機構との間の中間位置まで下降し、その後、前記第2シャッタ機構が閉状態となってから前記第1シャッタ機構が開状態となり、その状態で前記サンプル容器が前記ラックへ戻される、
ことを特徴とするサンプル測定装置。 - 請求項1記載の装置において、
前記第1シャッタ機構は前記容器搬送機構における容器突き上げ棒の貫通を許容しつつ前記容器突き上げ棒の周囲を遮断する開閉可能な複数のブレードを有する、
ことを特徴とするサンプル測定装置。 - 請求項1記載の装置において、
前記第1シャッタ機構は前記中間ユニットの下部に設けられ、
前記第2シャッタ機構は前記測定室と前記中間ユニットの上部との間に設けられた、
ことを特徴とするサンプル測定装置。
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Cited By (1)
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JP7437031B2 (ja) | 2020-07-20 | 2024-02-22 | アロカ株式会社 | 放射線測定装置 |
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-
2006
- 2006-04-11 JP JP2006108574A patent/JP4970828B2/ja active Active
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JP4970828B2 (ja) | 2012-07-11 |
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