JP2007251876A - Variable phase shifter - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、高い時間精度が要求される高ビット誤り率測定器のクロック位相可変部等に用いられる、位相量を可変することができる可変位相器に関し、特に時間に換算した位相量を設定できる可変位相器に関するものである。 The present invention relates to a variable phase shifter capable of varying a phase amount used for a clock phase variable unit of a high bit error rate measuring instrument requiring high time accuracy, and in particular, a phase amount converted to time can be set. The present invention relates to a variable phase shifter.
位相を制御することができる可変位相器は、大きく分けて半導体可変位相器と機械式可変位相器がある。機械式可変位相器はトロンボーン形状の同軸エアラインを伸縮することによって遅延量を変化させるものであり、主として同軸エアラインの精度および駆動装置の位置決め精度によって時間精度および直線性が決定される。 The variable phase shifter capable of controlling the phase is roughly classified into a semiconductor variable phase shifter and a mechanical variable phase shifter. The mechanical variable phase shifter changes a delay amount by expanding and contracting a trombone-shaped coaxial airline, and time accuracy and linearity are mainly determined by the accuracy of the coaxial airline and the positioning accuracy of the driving device.
市販されている10GHz以上の高周波半導体可変位相器はクロックの反射や合成を利用したものが多い。そのため、クロック信号の周波数範囲は限定されるが、機械式に比べて小型で、かつ電圧で無段階に位相を制御することができるという特徴を有し、可搬型の誤り率測定器やSDHアナライザ等のクロック位相可変部に用いられる。半導体可変位相器は周波数に対しては度(Degree)で変化し、時間で制御することはできない。さらに、周波数によって特性が変化するために、時間精度は高くない。 Many commercially available high-frequency semiconductor variable phase shifters of 10 GHz or more utilize clock reflection and synthesis. Therefore, although the frequency range of the clock signal is limited, it has a feature that it is smaller than the mechanical type and can control the phase steplessly with voltage, and is a portable error rate measuring instrument or SDH analyzer. And so on. The semiconductor variable phase shifter changes in degrees with respect to frequency and cannot be controlled by time. Further, since the characteristics change depending on the frequency, the time accuracy is not high.
図7に、時間に換算して位相量を制御することができる可変位相器を示す。図7において、10は制御電圧VCで位相量(遅延量)を制御することができる可変遅延器であり、クロックINが入力され、クロックOUTが出力される。このクロックOUTの周波数は、周波数カウンタ11で測定される。12は温度センサであり、周囲温度を測定する。
FIG. 7 shows a variable phase shifter capable of controlling the phase amount in terms of time. In FIG. 7,
この可変位相器を使用する前に、オシロスコープ等を用いて、可変遅延器10の周波数をパラメータとした制御電圧VCと位相量との関係を測定しておく。この関係の一例を図8に示す。図8において、横軸は制御電圧VCの大きさ、縦軸は度単位の位相量である。位相量は周波数によって変化するので、使用する周波数毎に測定する。周波数カウンタ11で信号の周波数を測定し、図8のグラフから度単位の位相量を求め、信号の周波数を用いて時間単位の位相量に変換する。可変遅延器10の位相量が温度によって変化するときは、温度センサ12で周囲温度を測定して補正する。このようにすることによって、制御電圧VCと位相量の関係に非直線性があるとき、周波数や周囲温度によって位相量が変化するときでも、任意の時間単位の位相量を設定することができる。
Before using this variable phase shifter, the relationship between the control voltage VC using the frequency of the
特許文献1には、可変遅延器の校正方法の発明が記載されている。図9を用いて、この発明の概要を説明する。周期カウンタ21は基準クロック発生器20の出力である基準クロックを所定の分周比で分周し、粗遅延カウンタ22、23のイネーブル端子CEに出力する。粗遅延カウンタ22、23は基準クロックをカウントする。この粗遅延カウンタ22、23には、それぞれ粗遅延レジスタ22a、23aからプリセット値が設定される。
可変遅延器24、25には、それぞれ粗遅延カウンタ22、23の出力が入力される。これら可変遅延器24、25の遅延量は、それぞれ精遅延レジスタ24a、25aに値を設定することにより、可変できる。位相比較器26には可変遅延器24、25の出力が入力され、これらの出力の位相差を測定する。
The outputs of the
このような構成において、粗遅延レジスタ22a、23aの設定値をそれぞれN、N−1とし、精遅延レジスタ24aの設定値を一定にして、位相比較器26の出力を見ながら、位相差が0になるように精遅延レジスタ25aの設定値を調整する。次に、基準クロックの周期を変化させて、同様の操作を繰り返す。これら一連の操作により、可変遅延器24を校正することができる。
In such a configuration, the set values of the
特許文献2には、校正機能付きのジッタ発生装置の発明が記載されている。この発明を図10を用いて説明する。図10において、基準クロック信号発生器30の出力は同相・逆相クロック出力部31に入力される。同相・逆相クロック出力部31は、入力信号の同相および逆相の信号を出力する。この同相、逆相出力および電圧制御発振器36の出力は、校正手段38によって制御される切替部32で選択される。同相。逆相クロック出力部31の同相出力および切替部32の出力は位相比較器33に入力され、これら信号の位相差が検出される。この位相差信号はキャリアフィルタ34で高周波成分が除去され、ジッタ印可部35に入力されてジッタ信号と加算される。この加算信号は電圧制御発振器36に入力される。キャリアフィルタ34の出力はレベル検出器37に入力される。
このような構成において、最初に校正を行う。すなわち、切替部32は同相・逆相クロック出力部31の同相出力を選択し、このときのレベル検出器37の出力を校正手段38に記憶する。次に、逆相出力を選択し、このときのレベル検出器37の出力を校正手段38に記憶する。
In such a configuration, calibration is performed first. That is, the switching unit 32 selects the in-phase output of the in-phase / anti-phase
校正が終了すると、校正手段38は切替部32を制御して電圧制御発振器36の出力を選択し、ジッタ信号を印可する。レベル検出器37はジッタ量を測定し、校正手段38に記憶された基準値で校正して、レベル検出器37内の表示部に表示する。
When the calibration is completed, the calibration means 38 controls the switching unit 32 to select the output of the voltage controlled
図11に位相比較器の特性を示す。(A)は位相周波数比較器の特性である。この位相比較器は位相量に応じたHigh、Lowのパルス幅として検出し、平均化して使用する。±360°までの位相検出が可能であり、それ以外の上下限外では固定になるので、範囲外でも正負の判定ができるという特徴がある。複数のロジック回路で実現されているので、比較的低速である。また、図からわかるように、正負の位相検出が切り替わる領域に不感帯があり、その領域では直線性が劣化する。 FIG. 11 shows the characteristics of the phase comparator. (A) is a characteristic of a phase frequency comparator. This phase comparator detects and averages the high and low pulse widths corresponding to the phase amount. The phase can be detected up to ± 360 °, and since it is fixed outside the upper and lower limits other than that, there is a feature that positive / negative determination can be made even outside the range. Since it is implemented by a plurality of logic circuits, it is relatively slow. Further, as can be seen from the figure, there is a dead zone in the region where the positive / negative phase detection is switched, and the linearity deteriorates in that region.
図8(B)はミキサやロジックを用いた位相比較器の特性である。ミキサやXOR、AND等のロジックを用いて2入力クロックの位相差をHigh、Lowパルス幅として検出し、平均化して使用する。ミキサを用いたものは高速、低雑音であるが、図の実線の範囲に限定され、直線性の範囲が狭い。また、ロジックを用いたものは、直線性は優れているがミキサを用いたものに比較すると低速であり、また雑音が多い。
しかし、このような可変位相器や校正方法には次のような課題があった。図7の可変位相器を用いるためには、図8に示すような制御電圧と位相量との関係を予め測定しておかなければならない。しかし、全ての制御電圧および周波数についてデータを測定しておくことはできず、かつ実際に使用する位相量や周波数はそのときでないとわからない。そのため、測定値がないデータは補間を用いて算出しなければならず、誤差が発生するという課題があった。また、この誤差を小さくするためには、大量の測定データが必要になるという課題もあった。 However, such a variable phase shifter and calibration method have the following problems. In order to use the variable phase shifter of FIG. 7, the relationship between the control voltage and the phase amount as shown in FIG. 8 must be measured in advance. However, data cannot be measured for all control voltages and frequencies, and the phase amount and frequency actually used are only known at that time. Therefore, there is a problem that data having no measured value must be calculated using interpolation, and an error occurs. In addition, there is a problem that a large amount of measurement data is required to reduce this error.
図9の可変遅延器の校正方法は、高精度で可変遅延器を校正できるという利点はあるが、装置が複雑になるという課題があった。また、図10の校正機能付きジッタ発生装置は簡単な構成ではあるが、2点でしか校正できないために誤差が大きくなるという課題があった。 The variable delay device calibration method of FIG. 9 has an advantage that the variable delay device can be calibrated with high accuracy, but has a problem that the apparatus becomes complicated. Further, although the jitter generation apparatus with a calibration function in FIG. 10 has a simple configuration, there is a problem that an error increases because calibration can be performed only at two points.
従って本発明の目的は、小型かつ高精度で時間に換算した位相量を設定する事ができる可変位相器を提供することにある。 Accordingly, an object of the present invention is to provide a variable phase shifter capable of setting a phase amount converted into time with a small size and high accuracy.
このような課題を達成するために、本発明のうち請求項1記載の発明は、
信号が入力され、所定の遅延量を有する第1の固定遅延器と、
前記信号が入力され、ゼロを含む所定の遅延量を有する第2の固定遅延器と、
前記第1および第2の固定遅延器の出力が入力され、これらの出力を選択する選択器と、
2つの入力端子を有し、これらの入力端子に印可される信号の位相差に関連する信号を出力すると共に、前記選択器の出力が前記入力端子の一方に入力される位相比較器と、
前記信号が入力され、その出力が前記位相比較器の他方の入力端子に印可されて、前記第1および第2の固定遅延器を用いて求めた時間を基準にした遅延量と前記位相比較器の出力との関係を用いて、遅延量が設定される可変遅延器と、
を具備したものである。時間基準の位相量を設定できる。
In order to achieve such a problem, the invention according to
A first fixed delay unit to which a signal is input and having a predetermined delay amount;
A second fixed delay having the predetermined delay amount including zero, to which the signal is input;
A selector that receives the outputs of the first and second fixed delay units and selects these outputs;
A phase comparator that has two input terminals and outputs a signal related to a phase difference between signals applied to these input terminals, and an output of the selector is input to one of the input terminals;
When the signal is input and the output is applied to the other input terminal of the phase comparator, a delay amount based on the time obtained by using the first and second fixed delay devices and the phase comparator A variable delay device in which the delay amount is set using the relationship with the output of
Is provided. Time-based phase amount can be set.
請求項2記載の発明は、
信号が入力され、所定の遅延量を有する第1の固定遅延器と、
前記信号が入力され、ゼロを含む所定の遅延量を有する第2の固定遅延器と、
前記信号が入力され、遅延量を変化させることができる第2の可変遅延器と、
前記第2の可変遅延器の出力、および前記第1および第2の固定遅延器の出力が入力され、これらの出力を選択する選択器と、
2つの入力端子を有し、これらの入力端子に印可される信号の位相差に関連する信号を出力すると共に、前記選択器の出力が前記入力端子の一方に入力される位相比較器と、
前記信号が入力され、その出力が前記位相比較器の他方の入力端子に印可されて、前記第2の可変遅延器および前記第1および第2の固定遅延器を用いて求めた時間を基準にした遅延量と前記位相比較器の出力との関係を用いて、遅延量が設定される第1の可変遅延器と、
を具備したものである。時間基準の位相量を設定できる。
The invention according to
A first fixed delay unit to which a signal is input and having a predetermined delay amount;
A second fixed delay having the predetermined delay amount including zero, to which the signal is input;
A second variable delay device that receives the signal and can change a delay amount;
A selector that receives the output of the second variable delay device and the outputs of the first and second fixed delay devices and selects these outputs;
A phase comparator that has two input terminals and outputs a signal related to a phase difference between signals applied to these input terminals, and an output of the selector is input to one of the input terminals;
The signal is input, the output is applied to the other input terminal of the phase comparator, and the time obtained using the second variable delay device and the first and second fixed delay devices is used as a reference. A first variable delay device in which a delay amount is set using a relationship between the delay amount and the output of the phase comparator;
Is provided. Time-based phase amount can be set.
請求項3記載の発明は、請求項1若しくは請求項2記載の発明において、
前記第2の固定遅延器として、配線を用いたものである。構成が簡単になる。
The invention according to claim 3 is the invention according to
A wiring is used as the second fixed delay device. Configuration is simplified.
請求項4記載の発明は、請求項2記載の発明において、
前記第2の可変遅延器に、前記第1の固定遅延器の遅延量を設定するようにしたものである。設定範囲を拡大できる。
The invention according to
The delay amount of the first fixed delay device is set in the second variable delay device. The setting range can be expanded.
請求項5記載の発明は、請求項2記載の発明において、
前記第2の可変遅延器に、前記位相比較器が検出できる最大の位相差に相当する遅延量を設定するようにしたものである。設定範囲を拡大できる。
The invention according to claim 5 is the invention according to
In the second variable delay device, a delay amount corresponding to the maximum phase difference that can be detected by the phase comparator is set. The setting range can be expanded.
以上説明したことから明らかなように、本発明によれば次のような効果がある。
請求項1,2、3、4および5の発明によれば、2つの固定遅延器を用いて時間を基準とした位相量と位相比較器の出力との関係を求め、この関係を用いて任意の位相量を第1の可変遅延器に設定するようにした。また、第2の可変遅延器に基準位相に相当する遅延量を設定して、この第1、第2の可変遅延器出力の位相差を用いて第1の可変遅延器位相量を設定した。
As is apparent from the above description, the present invention has the following effects.
According to the first, second, third, fourth, and fifth inventions, the relationship between the phase amount based on time and the output of the phase comparator is obtained using two fixed delay devices, and an arbitrary value can be obtained using this relationship. Is set in the first variable delay device. Further, a delay amount corresponding to the reference phase is set in the second variable delay device, and the first variable delay device phase amount is set using the phase difference between the first and second variable delay device outputs.
固定遅延器の遅延量を基準としているので、時間を基準とする位相量を設定することができるという効果がある。また、位相比較器の出力を用いて位相量を設定するので、可変遅延器の遅延量が周波数や周囲温度の影響で変動しても位相比較器の測定精度で位相量を設定することが出来るという効果もある。さらに、何らかの影響で精度が低下しても、再度固定遅延器を用いて再校正することにより、設定精度を維持することができるという効果もある。 Since the delay amount of the fixed delay device is used as a reference, there is an effect that the phase amount based on time can be set. Moreover, since the phase amount is set using the output of the phase comparator, the phase amount can be set with the measurement accuracy of the phase comparator even if the delay amount of the variable delay device fluctuates due to the influence of the frequency or the ambient temperature. There is also an effect. Furthermore, even if the accuracy is lowered due to some influence, there is an effect that the setting accuracy can be maintained by recalibration using the fixed delay device again.
以下本発明を図面を用いて詳細に説明する。図1は本発明に係る可変位相器の一実施例を示す構成図である。図1において、40、41は可変遅延器であり、信号INが入力される。この可変遅延器40、41は制御電圧を変化させることにより、遅延量を変化させることができる遅延器である。また、可変遅延器40の出力が、この可変位相器の出力OUTになる。
Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a variable phase shifter according to the present invention. In FIG. 1,
42、43は固定遅延器であり、信号INが入力される。この固定遅延器42、43は入力信号を一定時間遅延して出力する。この遅延時間は固定であり、かつ入力信号の周波数には依存しない。なお、固定遅延器43は遅延器を用いず、配線のみの場合もある。この場合遅延量は0になる。
44は選択部であり、3つの入力端子A〜Cと1つの出力端子Dを有し、入力端子A〜Cに印可された信号を選択して出力端子Dに出力する。入力端子A〜Cにはそれぞれ可変遅延器41、固定遅延器42,43の出力が入力される。
A
45は位相比較器であり、入力端子PIN1、PIN2に印可された信号の位相差に関連する信号を出力端子POUTに出力する。入力端子PIN1には可変遅延器40の出力が、PIN2には選択器44で選択された信号が入力される。46は制御部であり、位相比較器45の出力が入力される。また、可変遅延器40に制御電圧VC2を、可変遅延器41に制御電圧VC1を出力し、選択器44を制御する。なお、固定遅延器42、43は、その特性上遅延量は周波数によらず、固定された一定時間になる。また、位相比較器45の出力範囲は−Vo〜+Voであり、入力端子PIN1、PIN2に入力される信号の位相差が0のときに0Vを出力するものとする。
次に、この実施例の動作を図2フローチャートに基づいて説明する。なお、固定遅延器43の遅延量は0、すなわち配線のみであるとする。図2において、制御部46は工程(S2−1)で、選択器44を操作して固定遅延器43を位相比較器45の入力端子PIN2に接続する。そして、制御電圧VC2を0Vにして、位相比較器45の出力が0V(位相差0)であることを確認する(工程(S2−2))。このときの位相を基準位相とする。
Next, the operation of this embodiment will be described with reference to the flowchart of FIG. It is assumed that the delay amount of the fixed
前述したように、固定遅延器43は配線のみなので、その遅延量は0である。また、可変遅延器40に入力される制御電圧VC2を0Vにすると、その遅延量も0になる。従って、位相比較器45が検出する位相差は0になり、その出力も0Vになる。
As described above, since the fixed
次に、制御部46は工程(S2−3)で選択器44を操作して、固定遅延器42を位相比較器45の入力端子PIN2に接続する。そして、工程(S2−4)でこのときの位相比較器45の出力電圧と固定遅延器42の遅延量(時間)から、時間を単位とした遅延量と位相比較器45出力との関係を求める。
Next, the
次に、工程(S2−5)で再び固定遅延器43を位相比較器45の入力端子PIN2に接続して、工程(S2−6)で遅延量と位相比較器45出力との関係を用い、制御電圧VC2を調整して可変遅延器40の遅延量(時間単位の位相量)を設定する。なお、この実施例では、可変遅延器41は使用しない。これにより、可変遅延器40の遅延量を時間単位で設定することができる。また、位相比較器45の出力を用いて可変遅延器40の遅延量を設定するので、可変遅延器40の精度や非直線性には影響を受けず、位相比較器45の精度、直線性で設定することができる。
Next, the fixed
このことを、図3を用いて説明する。図3の横軸は時間単位の遅延量、縦軸は位相比較器45の出力電圧である。位相比較器45の出力電圧範囲を−Vo〜+Voとすると、設定範囲は縦線の矩形範囲53になる。白丸50は工程(S2−2)で確認した点であり、遅延量が0のときに位相比較器45の出力が0になっている。白丸51は工程(S2−3)における点であり、DL2は固定遅延器42の時間単位の遅延量、Vdl2はそのときの位相比較器45の出力電圧である。
This will be described with reference to FIG. The horizontal axis in FIG. 3 represents the delay amount in time units, and the vertical axis represents the output voltage of the
この白丸50と51を結んだ直線52は、時間単位の遅延量と位相比較器45出力との関係を表した直線である。この直線52を用いて設定したい遅延量に対応する位相比較器45の出力電圧値を求め、この電圧値になるように制御電圧VC2を調整することにより、任意の遅延量(時間単位の位相量)が得られる。例えば、遅延量DLxを得るには、直線52上のDLxに対応する電圧Vdlxを求め、位相比較器45の出力電圧がこのVdlxになるように制御電圧VC2を調整すればよい。
A
なお、直線52の傾きはVdl2/DL2なので、遅延量の設定可能範囲は0〜Vo・DL2/Vdl2になる。また、工程(S2−2)で位相比較器45の出力が0Vにならないときは、点50を縦軸に沿って移動させればよい。また、配線である固定遅延器43の遅延量が無視できない場合、あるいは固定遅延器43として遅延量が0でない固定遅延器を用いたときは、点50を遅延量だけ横軸に沿って移動させればよい。
Since the slope of the
図4は他の実施例の動作を示すフローチャートである。なお、工程(S4−1)から(S4−4)は、図2フローチャートの工程(S2−1)〜(S2−4)と同じなので、説明を省略する。 FIG. 4 is a flowchart showing the operation of another embodiment. Steps (S4-1) to (S4-4) are the same as steps (S2-1) to (S2-4) in the flowchart of FIG.
工程(S4−5)で、制御部46は位相比較器45の出力電圧が0Vになるように、制御電圧VC2を調整する。そして、工程(S4−6)で選択器44を操作して可変位相器41を位相比較器45の入力端子PIN2に接続し、工程(S4−7)で位相比較器45の出力電圧が0Vになるように、制御電圧VC1を調整する。これによって、固定遅延器42の遅延量が可変遅延器41に設定される。そして、工程(S4−8)で、制御部46は工程(S4−4)で求めた関係を用いて、可変遅延器40に所望の時間単位の遅延量を設定する。遅延量の設定方法は図3で説明した方法と同じなので、説明を省略する。
In step (S4-5), the
この実施例では、遅延量DL2の可変遅延器41が位相比較器45の入力端子PIN2に接続されているので、可変遅延器40の遅延量がDL2のときに位相比較器45出力は0、遅延量が0のときは−Vdl2になる。すなわち、図3に比べて基準位相がDL2だけ移動している。この関係を図5に示す。なお、図3と同じ要素には同一符号を付し、説明を省略する。
In this embodiment, since the
図5において、54は可変遅延器40の遅延量と位相比較器45の出力電圧との関係を表す直線である。前述したように、この実施例では可変遅延器40の遅延量がDL2のときに位相比較器45の出力電圧が0になるので、直線54は直線52を下方にVdl2だけ平行移動した直線になる。位相比較器45の出力範囲は−Vo〜+Voなので、可変遅延器40の遅延量の設定範囲は縦線範囲55になる。すなわち、可変遅延器40の遅延量の設定範囲は0〜Vo・DL2/Vdl2+DL2になり、図3に比べて可変遅延器41に設定された遅延量(DL2)だけ拡大する。
In FIG. 5, 54 is a straight line representing the relationship between the delay amount of the
可変遅延器41の遅延量は制御電圧VC1によって可変することができる。これを利用して、可変遅延器40の遅延量の設定範囲を更に拡大することができる。このことを図6を用いて説明する。なお、図3と同じ要素には同一符号を付し、説明を省略する。
The delay amount of the
56は可変遅延器41の遅延量をVo・DL2/Vdl2(図3の設定範囲53の右端)に設定したときの、可変遅延器40の遅延量と位相比較器45の出力電圧の関係を表した直線である。図5の場合と同じ理由で、可変遅延器40の遅延量がVo・DL2/Vdl2のときに、位相比較器45の出力電圧は0になる。また、同様に遅延量が0のときの出力電圧は−Vo、2・Vo・DL2/Vdl2のときの出力電圧は+Voになる。可変遅延器40の遅延量の設定範囲は縦線範囲57であり、図3実施例に比べて設定範囲を2倍に拡大することができる。
56 represents the relationship between the delay amount of the
可変遅延器41に遅延量Vo・DL2/Vdl2を設定するためには、図5の直線54を用いてこの遅延量に対応する位相比較器45の出力電圧を求め、出力電圧がこの値になるように制御電圧VC2を設定する。これによって、可変遅延器40に遅延量Vo・DL2/Vdl2を設定することができる。次に、位相比較器45の出力電圧が0Vになるように、制御電圧VC1を調整する。このようにすることにより、可変遅延器41に遅延量Vo・DL2/Vdl2を設定することができる。
In order to set the delay amount Vo · DL2 / Vdl2 in the
可変遅延器41の遅延量をVo・DL2/Vdl2より大きく設定することも出来る。この場合は遅延量0付近の設定ができず、かつ設定可能範囲は変わらないが、最大設定可能遅延量を拡大することができる。すなわち、位相比較器45の位相差検出範囲に拘束されず、可変遅延器40、41の可変範囲を最大限利用することができる。
The delay amount of the
なお、図2実施例の場合で、工程(S2−5)を省略する、すなわち固定遅延器42を位相比較器45の入力端子PIN2に接続したままにしておくと、図5で示した同じ理由で、可変遅延器40の遅延量設定範囲をDL2だけ拡大することができる。
In the case of FIG. 2 embodiment, if the step (S2-5) is omitted, that is, if the fixed
また、これらの実施例は、位相比較器45として、位相差が0のときに出力が0になり、位相差検出範囲の中央が位相差0になる理想位相比較器を用いることを前提として説明したが、図11(B)のように位相差が90°で出力が0になるような位相比較器を用いることも出来る。
In addition, these embodiments are described on the assumption that an ideal phase comparator is used as the
40、41 可変遅延器
42、43 固定遅延器
44 選択器
45 位相比較器
46 制御部
50、51 測定点
52、54、56 直線
55、57 設定範囲
VC1、VC2 制御電圧
40, 41
Claims (5)
前記信号が入力され、ゼロを含む所定の遅延量を有する第2の固定遅延器と、
前記第1および第2の固定遅延器の出力が入力され、これらの出力を選択する選択器と、
2つの入力端子を有し、これらの入力端子に印可される信号の位相差に関連する信号を出力すると共に、前記選択器の出力が前記入力端子の一方に入力される位相比較器と、
前記信号が入力され、その出力が前記位相比較器の他方の入力端子に印可されて、前記第1および第2の固定遅延器を用いて求めた時間を基準にした遅延量と前記位相比較器の出力との関係を用いて、遅延量が設定される可変遅延器と、
を具備したことを特徴とする可変位相器。 A first fixed delay unit to which a signal is input and having a predetermined delay amount;
A second fixed delay having the predetermined delay amount including zero, to which the signal is input;
A selector that receives the outputs of the first and second fixed delay units and selects these outputs;
A phase comparator that has two input terminals and outputs a signal related to a phase difference between signals applied to these input terminals, and an output of the selector is input to one of the input terminals;
When the signal is input and the output is applied to the other input terminal of the phase comparator, a delay amount based on the time obtained by using the first and second fixed delay devices and the phase comparator A variable delay device in which the delay amount is set using the relationship with the output of
A variable phase shifter comprising:
前記信号が入力され、ゼロを含む所定の遅延量を有する第2の固定遅延器と、
前記信号が入力され、遅延量を変化させることができる第2の可変遅延器と、
前記第2の可変遅延器の出力、および前記第1および第2の固定遅延器の出力が入力され、これらの出力を選択する選択器と、
2つの入力端子を有し、これらの入力端子に印可される信号の位相差に関連する信号を出力すると共に、前記選択器の出力が前記入力端子の一方に入力される位相比較器と、
前記信号が入力され、その出力が前記位相比較器の他方の入力端子に印可されて、前記第2の可変遅延器および前記第1および第2の固定遅延器を用いて求めた時間を基準にした遅延量と前記位相比較器の出力との関係を用いて、遅延量が設定される第1の可変遅延器と、
を具備したことを特徴とする可変位相器。 A first fixed delay unit to which a signal is input and having a predetermined delay amount;
A second fixed delay having the predetermined delay amount including zero, to which the signal is input;
A second variable delay device that receives the signal and can change a delay amount;
A selector that receives the output of the second variable delay device and the outputs of the first and second fixed delay devices and selects these outputs;
A phase comparator that has two input terminals and outputs a signal related to a phase difference between signals applied to these input terminals, and an output of the selector is input to one of the input terminals;
The signal is input, the output is applied to the other input terminal of the phase comparator, and the time obtained using the second variable delay device and the first and second fixed delay devices is used as a reference. A first variable delay device in which a delay amount is set using a relationship between the delay amount and the output of the phase comparator;
A variable phase shifter comprising:
The variable phase shifter according to claim 2, wherein a delay amount corresponding to a maximum phase difference that can be detected by the phase comparator is set in the second variable delay block.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006075970A JP2007251876A (en) | 2006-03-20 | 2006-03-20 | Variable phase shifter |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2006075970A JP2007251876A (en) | 2006-03-20 | 2006-03-20 | Variable phase shifter |
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JP2007251876A true JP2007251876A (en) | 2007-09-27 |
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ID=38595655
Family Applications (1)
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JP (1) | JP2007251876A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012238988A (en) * | 2011-05-11 | 2012-12-06 | Seiko Epson Corp | Delay adjustment circuit, delay adjustment method and electronic apparatus |
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2006
- 2006-03-20 JP JP2006075970A patent/JP2007251876A/en active Pending
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JP2012238988A (en) * | 2011-05-11 | 2012-12-06 | Seiko Epson Corp | Delay adjustment circuit, delay adjustment method and electronic apparatus |
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