JP2007245645A - Two-layered film, its manufacturing method, manufacturing method of printed circuit board and two-layered film manufacturing apparatus - Google Patents
Two-layered film, its manufacturing method, manufacturing method of printed circuit board and two-layered film manufacturing apparatus Download PDFInfo
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Abstract
Description
本発明は、2層フィルム、2層フィルムの製造方法、プリント基板の製造方法および2層フィルムの製造装置に関し、特に、金属層と高分子層との密着強度の高い2層フィルムとその製造方法に関する。 The present invention relates to a two-layer film, a method for producing a two-layer film, a method for producing a printed circuit board, and a device for producing a two-layer film, and in particular, a two-layer film having high adhesion strength between a metal layer and a polymer layer and a method for producing the same. About.
近年、電気・電子製品の小型化に伴い、プリント配線基板の導体幅および導体間の狭小化、多層化、高密度化が進んでいる。これらの基板としては、従来、紙/フェノール樹脂含浸系、紙/エポキシ樹脂含浸系、ガラス布/エポキシ樹脂含浸系あるいはセラミックス材料などの絶縁材料が多く使用されてきた。これらの材料は可撓性に乏しく、使用の多様性に対応しにくいという問題があった。そのため、プラスチックフィルム上に銅薄膜を形成したフレキシブルプリント配線用基板が使用されている。プラスチックフィルムは可撓性に富み、絶縁性も高く、また、ポリエチレンテレフタレートフィルム、ポリイミドフィルムなどの熱的に安定なプラスチックフィルムを用いれば熱的にも強く、その用途が広がっている。しかし、プラスチックフィルム上に形成した銅薄膜が、製造工程や使用時に剥離し易いという欠点もあった。そこで、銅薄膜の接着強度を増すために、窒素雰囲気下でのスパッタリングにより銅薄膜を形成するという提案などがなされている(特許文献1参照)。 In recent years, with the miniaturization of electrical and electronic products, the conductor width of printed wiring boards and the narrowing, multi-layer, and high density of conductors are progressing. As these substrates, conventionally, insulating materials such as paper / phenol resin impregnation system, paper / epoxy resin impregnation system, glass cloth / epoxy resin impregnation system, and ceramic materials have been often used. These materials have a problem that they are poor in flexibility and are difficult to cope with various uses. For this reason, a flexible printed wiring board in which a copper thin film is formed on a plastic film is used. The plastic film is rich in flexibility and has high insulation properties, and if a thermally stable plastic film such as a polyethylene terephthalate film or a polyimide film is used, the plastic film is thermally strong, and its application is widened. However, the copper thin film formed on the plastic film has a drawback that it is easily peeled off during the manufacturing process and use. Then, in order to increase the adhesive strength of a copper thin film, the proposal etc. which form a copper thin film by sputtering in nitrogen atmosphere are made | formed (refer patent document 1).
しかし、上記の方法で形成された銅薄膜も、高密度プリント配線に用いるには、密着強度が充分であるとはいえないものであった。そこで、本発明は、高密度プリント配線に用いられても、金属層が充分な密着強度を有する高分子−金属の2層フィルム、2層フィルムの製造方法、プリント基板の製造方法および2層フィルムの製造装置を提供することを目的とする。 However, the copper thin film formed by the above method has not been able to be said to have sufficient adhesion strength for use in high-density printed wiring. Accordingly, the present invention provides a polymer-metal two-layer film, a two-layer film manufacturing method, a printed circuit board manufacturing method, and a two-layer film in which the metal layer has sufficient adhesion strength even when used for high-density printed wiring. An object of the present invention is to provide a manufacturing apparatus.
上記目的を達成するため、請求項1に記載の発明に係る2層フィルムは、例えば図1に示すように、高分子フィルム10と;高分子フィルム10上に、不活性ガスと窒素ガスとの混合ガス雰囲気下で、真空蒸着法またはイオンプレーティング法またはスパッタリング法により形成した、ニッケルを60重量%以上100重量%以下含む第1の金属膜12と;第1の金属膜12上に形成された、銅を主成分とする第2の金属膜14とを備える。
In order to achieve the above object, the two-layer film according to the first aspect of the present invention includes, for example, as shown in FIG. 1, a
このように構成すると、不活性ガスと窒素ガスとの混合ガス雰囲気下で、真空蒸着法またはイオンプレーティング法またはスパッタリング法により形成した、ニッケルを60重量%以上100重量%以下含む第1の金属膜が接着層として作用し、銅を主成分とする金属膜と高分子フィルムとの密着強度の高い2層フィルムとなる。なお、不活性ガスとは、ヘリウム、ネオン、アルゴン、クリプトン、キセノン、ラドンの稀ガスを指し、窒素や二酸化炭素は含まない。 When comprised in this way, the 1st metal containing 60 to 100 weight% of nickel formed by the vacuum evaporation method, the ion plating method, or the sputtering method in the mixed gas atmosphere of inert gas and nitrogen gas The film acts as an adhesive layer, and becomes a two-layer film having high adhesion strength between a metal film mainly composed of copper and a polymer film. The inert gas refers to rare gases such as helium, neon, argon, krypton, xenon, and radon, and does not include nitrogen or carbon dioxide.
また、前記目的を達成するため、請求項2に記載の発明に係る2層フィルムは、例えば図1に示すように、高分子フィルム10と;高分子フィルム10上に、不活性ガスと窒素ガスとの混合ガス雰囲気下で、真空蒸着法またはイオンプレーティング法またはスパッタリング法により形成した、ニッケル原子を50原子%以上99原子%以下、窒素原子を1原子%以上50原子%以下含む第1の金属膜12と;第1の金属膜12上に形成された、銅を主成分とする第2の金属膜14とを備える。
Moreover, in order to achieve the said objective, the two-layer film which concerns on invention of
このように構成すると、不活性ガスと窒素ガスとの混合ガス雰囲気下で、真空蒸着法またはイオンプレーティング法またはスパッタリング法により形成した、ニッケル原子を50原子%以上99原子%以下、窒素原子を1原子%以上50原子%以下含む第1の金属膜が接着層として作用し、銅を主成分とする金属膜と高分子フィルムとの密着強度の高い2層フィルムとなる。 With this configuration, nickel atoms are formed in a mixed gas atmosphere of an inert gas and a nitrogen gas by a vacuum deposition method, an ion plating method, or a sputtering method. The 1st metal film containing 1 atomic% or more and 50 atomic% or less acts as an adhesive layer, and becomes a two-layer film having high adhesion strength between a metal film mainly composed of copper and a polymer film.
また、請求項3に記載の発明に係る2層フィルムは、請求項1または請求項2に記載の2層フィルムにおいて、高分子フィルム10と第1の金属膜12との密着強度が、初期250N/m以上である。
In addition, the two-layer film according to the invention described in
このように構成すると、例えば、高密度プリント配線板に用いるとしても、適切な密着強度を有する2層フィルムとなる。 If comprised in this way, even if it uses for a high-density printed wiring board, for example, it will become a two-layer film which has suitable adhesive strength.
また、請求項4に記載の発明に係る2層フィルムは、請求項1ないし請求項3のいずれか1項に記載の2層フィルムにおいて、高分子フィルム10が、窒素原子を含む高分子で形成されている。
The two-layer film according to the invention described in
このように構成すると、高分子フィルムが窒素原子を含むので、高分子フィルムのニッケルに対する密着性が上がり、2層フィルムの加工過程において、加工しやすい2層フィルムとなる。例えば、2層フィルムからプリント基板を製造するのに、製造し易くなる。 If comprised in this way, since a polymer film contains a nitrogen atom, the adhesiveness with respect to the nickel of a polymer film will go up, and it will become a two-layer film which is easy to process in the process of a two-layer film. For example, it is easy to manufacture a printed circuit board from a two-layer film.
また、請求項5に記載の発明に係る2層フィルムは、請求項4に記載の2層フィルムにおいて、窒素原子を含む高分子が、ポリイミド、ポリエーテルイミド、ポリアミドイミドおよびアラミドからなる群のうちのいずれか1つを含む。
Moreover, the two-layer film according to the invention described in
このように構成すると、ポリイミド、ポリエーテルイミド、ポリアミドイミドおよびアラミドは、いずれも高温に強いので、例えばプリント基板に加工するときにハンダ付けで高温に曝されても損傷を受けにくい2層フィルムとなる。 When configured in this way, polyimide, polyetherimide, polyamideimide, and aramid are all resistant to high temperatures. For example, when processed into a printed circuit board, a two-layer film that is not easily damaged even when exposed to high temperatures by soldering. Become.
また、請求項6に記載の発明に係る2層フィルムは、請求項1ないし請求項5のいずれか1項に記載の2層フィルムにおいて、第1の金属膜12の厚さが、3nm以上100nm以下であり、第2の金属膜14の厚さが、20nm以上5000nm以下である。
Further, the two-layer film according to the invention described in claim 6 is the two-layer film according to any one of
このように構成すると、第1の金属膜の厚さが、高い密着強度が得られる厚さとなり、また、第2の金属膜の厚さが、例えば、後段のめっき加工の生産性が上がり、かつ、エッチング加工が行い易い範囲の厚さとなるので、適切な厚さの2層フィルムとなる。 With this configuration, the thickness of the first metal film becomes a thickness that provides high adhesion strength, and the thickness of the second metal film increases, for example, the productivity of the subsequent plating process, And since it becomes the thickness of the range which can perform an etching process easily, it becomes a 2 layer film of appropriate thickness.
また、請求項7に記載の発明に係る2層フィルムは、例えば、図1に示すように、請求項1ないし請求項6のいずれか1項に記載の2層フィルムにおいて、第2の金属膜14の上に、銅を主成分とする第3の金属膜16を電着法または無電解めっき法により形成している。
In addition, the two-layer film according to the invention described in claim 7 is the second metal film in the two-layer film according to any one of
このように構成すると、高分子フィルムとの密着強度の高い、銅膜の厚い2層フィルムとなる。 If comprised in this way, it will become a 2 layer film with a high copper film | membrane with high adhesive strength with a polymer film.
前記目的を達成するため、請求項8に記載の発明に係る2層フィルムの製造方法は、例えば図1および図2に示すように、不活性ガスと窒素ガスとの混合比をセットする工程と;高分子フィルム10上に、前記混合比の混合ガス雰囲気下での、真空蒸着法またはイオンプレーティング法またはスパッタリング法によりニッケルを60重量%以上100重量%以下含む第1の金属膜14を形成する工程と;第1の金属膜12上に、銅を主成分とする第2の金属膜14を形成する工程とを備える。
In order to achieve the object, a method for producing a two-layer film according to the invention described in
このように構成すると、不活性ガスと窒素ガスとの混合ガス雰囲気下での、真空蒸着法またはイオンプレーティング法またはスパッタリング法によりニッケルを60重量%以上100重量%以下含む第1の金属膜を形成するので、窒素を含むニッケルの第1の金属膜が均質に形成され、密着強度が高く安定した2層フィルムの製造方法となる。さらに、真空蒸着法、イオンプレーティング法またはスパッタリング法により第1の金属膜が形成されるので、工業的な生産に適した2層フィルムの製造方法となる。 With this configuration, the first metal film containing nickel in an amount of 60 wt% to 100 wt% by vacuum deposition, ion plating, or sputtering in a mixed gas atmosphere of an inert gas and nitrogen gas. Since it forms, the 1st metal film | membrane of nickel containing nitrogen is formed uniformly, and it becomes a manufacturing method of the two-layer film with high adhesive strength and stable. Furthermore, since the first metal film is formed by a vacuum deposition method, an ion plating method, or a sputtering method, it is a method for producing a two-layer film suitable for industrial production.
前記目的を達成するため、請求項9に記載の発明に係る2層フィルムの製造方法は、例えば図1および図2に示すように、不活性ガスと窒素ガスとの混合比をセットする工程と;高分子フィルム10上に、不活性ガスと窒素ガスとの混合ガス雰囲気下での、真空蒸着法またはイオンプレーティング法またはスパッタリング法によりニッケル原子を50原子%以上99原子%以下、窒素原子を1原子%以上50原子%以下含む第1の金属膜12を形成する工程と;第1の金属膜12上に、銅を主成分とする第2の金属膜14を形成する工程とを備える。
In order to achieve the object, a method for producing a two-layer film according to the invention described in claim 9 includes a step of setting a mixing ratio of an inert gas and a nitrogen gas, as shown in FIGS. 1 and 2, for example. A 50 atom% or more and 99 atom% or less nitrogen atom is formed on the
このように構成すると、不活性ガスと窒素ガスとの混合ガス雰囲気下での、真空蒸着法またはイオンプレーティング法またはスパッタリング法によりニッケル原子を50原子%以上99原子%以下、窒素原子を1原子%以上50原子%以下含む第1の金属膜を形成するので、第1の金属膜が均質に形成され、密着強度が高く安定した2層フィルムの製造方法となる。さらに、真空蒸着法、イオンプレーティング法またはスパッタリング法により第1の金属膜が形成されるので、工業的な生産に適した2層フィルムの製造方法となる。 If comprised in this way, 50 to 99 atomic% of nickel atoms and 1 atom of nitrogen atoms will be carried out by the vacuum evaporation method or the ion plating method or sputtering method in the mixed gas atmosphere of inert gas and nitrogen gas. Since the first metal film containing not less than 50% and not more than 50 atomic% is formed, the first metal film is uniformly formed, and the manufacturing method of a stable two-layer film with high adhesion strength is obtained. Furthermore, since the first metal film is formed by a vacuum deposition method, an ion plating method, or a sputtering method, it is a method for producing a two-layer film suitable for industrial production.
また、請求項10に記載の発明に係る2層フィルムの製造方法は、例えば図1および図2に示すように、請求項8または請求項9に記載の2層フィルムの製造方法において、混合ガスが、窒素ガスを20体積%以上100体積%未満含んでいる。
Moreover, the method for producing a two-layer film according to the invention described in
このように構成すると、混合ガスが窒素ガスを20体積%以上100体積%未満含んでいるので、成形される第1の金属膜に窒素が含まれ、第1の金属膜が接着層として作用し、銅を主成分とする金属膜と高分子フィルムとの密着強度の高い2層フィルムとなる。 If comprised in this way, since mixed gas contains 20 volume% or more and less than 100 volume% of nitrogen gas, nitrogen will be contained in the 1st metal film shape | molded and the 1st metal film will act as an adhesion layer. It becomes a two-layer film having high adhesion strength between a metal film mainly composed of copper and a polymer film.
前記目的を達成するため、請求項11に記載の発明に係るプリント基板の製造方法は、例えば図3に示すように、請求項8ないし請求項10のいずれか1項に記載の2層フィルムの製造方法により2層フィルムを製造する工程(ステップSt11〜St13)と;2層フィルムの製造方法により製造された2層フィルムにプリントパターンを形成する工程(ステップSt21〜St25)と;プリントパターンが形成された2層フィルムに素子を配置する工程(ステップSt41)とを備える。 In order to achieve the above object, a method for manufacturing a printed circuit board according to an eleventh aspect of the present invention is a method for producing a two-layer film according to any one of the eighth to tenth aspects, as shown in FIG. A step of producing a two-layer film by the production method (steps St11 to St13); a step of forming a print pattern on the two-layer film produced by the method of producing a two-layer film (steps St21 to St25); and a print pattern being formed And a step (step St41) of arranging elements on the two-layer film.
このように構成すると、高分子フィルムと高い密着強度を有する金属膜を形成した2層フィルムを用いて、配線し、その上に素子を配置するので、配線の強度の高いプリント基板の製造方法となる。 When configured in this way, wiring is performed using a two-layer film in which a polymer film and a metal film having high adhesion strength are formed, and an element is disposed thereon, so that a method for manufacturing a printed circuit board with high wiring strength and Become.
前記目的を達成するため、請求項12に記載の発明に係る2層フィルム製造装置は、例えば図2に示すように、高分子フィルム10に金属膜を形成する2層フィルム製造装置であって:高分子フィルム10を走行させるフィルム走行装置32・32’と;金属を加熱しあるいは金属に電極を印加する金属イオン化装置38と;フィルム走行装置32・32’と金属イオン化装置38とを収容する真空槽33と;真空槽33内を真空にする真空装置34・35と;真空槽33に窒素ガスを供給する窒素ガス供給装置43・44・45と;真空槽33に不活性ガスを供給する不活性ガス供給装置44・46・47とを備える。
In order to achieve the above object, a two-layer film manufacturing apparatus according to the invention described in
このように構成すると、2層フィルム製造装置が、真空槽と、真空装置と、真空槽に窒素ガスを供給する窒素ガス供給装置と、真空槽に不活性ガスを供給する不活性ガス供給装置とを備えるので、真空下で窒素ガスと不活性ガスとの混合ガスを供給しながら高分子フィルム上に金属膜を形成するのに適した2層フィルム製造装置となる。 When constituted in this way, the two-layer film manufacturing apparatus includes a vacuum chamber, a vacuum device, a nitrogen gas supply device that supplies nitrogen gas to the vacuum chamber, and an inert gas supply device that supplies inert gas to the vacuum chamber. Therefore, it is a two-layer film manufacturing apparatus suitable for forming a metal film on a polymer film while supplying a mixed gas of nitrogen gas and inert gas under vacuum.
本発明に係る2層フィルムでは、高分子フィルムと、高分子フィルム上に不活性ガスと窒素ガスとの混合ガス雰囲気下で真空蒸着法またはイオンプレーティング法またはスパッタリング法により形成したニッケルを60重量%以上100重量%以下含む第1の金属膜と、第1の金属膜上に形成された銅を主成分とする第2の金属膜とを備えるので、第1の金属膜が接着層として作用し、金属層と高分子層との密着強度が高い2層フィルムとなる。また、本発明に係る2層フィルムでは、高分子フィルムと、高分子フィルム上に不活性ガスと窒素ガスとの混合ガス雰囲気下で真空蒸着法またはイオンプレーティング法またはスパッタリング法により形成したニッケル原子を50原子%以上99原子%以下窒素原子を1原子%以上50原子%以下含む第1の金属膜と、第1の金属膜上に形成された銅を主成分とする第2の金属膜とを備えるので、第1の金属膜が接着層として作用し、高密度プリント配線に用いられても、金属層と高分子層との密着強度が高い2層フィルムとなる。 In the two-layer film according to the present invention, 60 wt.% Of nickel formed by a vacuum deposition method, an ion plating method or a sputtering method in a mixed gas atmosphere of an inert gas and a nitrogen gas on the polymer film. Since the first metal film including the first metal film containing 100% by weight or more and 100% by weight or less and the second metal film mainly composed of copper formed on the first metal film are provided, the first metal film acts as an adhesive layer. Thus, a two-layer film having high adhesion strength between the metal layer and the polymer layer is obtained. In the two-layer film according to the present invention, the polymer film and nickel atoms formed on the polymer film by a vacuum deposition method, an ion plating method, or a sputtering method in a mixed gas atmosphere of an inert gas and a nitrogen gas. A first metal film containing 1 atom% or more and 50 atom% or less of nitrogen atoms, and a second metal film mainly composed of copper formed on the first metal film, Therefore, even if the first metal film acts as an adhesive layer and is used for high-density printed wiring, it becomes a two-layer film having high adhesion strength between the metal layer and the polymer layer.
また、本発明に係る2層フィルムの製造方法は、不活性ガスと窒素ガスとの混合比をセットする工程と、高分子フィルム上に混合比の混合ガス雰囲気下での真空蒸着法またはイオンプレーティング法またはスパッタリング法によりニッケルを60重量%以上100重量%以下含む第1の金属膜を形成する工程と、第1の金属膜上に銅を主成分とする第2の金属膜を形成する工程とを備えるので、第1の金属膜が接着層として作用し、金属層と高分子層とが剥離しにくい2層フィルムの製造方法となる。また、本発明に係る2層フィルムの製造方法は、不活性ガスと窒素ガスとの混合比をセットする工程と、高分子フィルム上に不活性ガスと窒素ガスとの混合ガス雰囲気下での真空蒸着法またはイオンプレーティング法またはスパッタリング法によりニッケル原子を50原子%以上99原子%以下窒素原子を1原子%以上50原子%以下含む第1の金属膜を形成する工程と、第1の金属膜上に銅を主成分とする第2の金属膜を形成する工程とを備えるので、第1の金属膜が接着層として作用し、金属層と高分子層とが剥離しにくい2層フィルムの製造方法となる。さらに、上記の製造方法で製造した2層フィルムを用いてプリント基板を製造することにより、金属層と高分子層の剥離しにくいプリント基板の製造方法となる。 The method for producing a two-layer film according to the present invention includes a step of setting a mixing ratio of an inert gas and a nitrogen gas, a vacuum deposition method or an ion plate in a mixed gas atmosphere of a mixing ratio on a polymer film. A step of forming a first metal film containing 60 wt% or more and 100 wt% or less of nickel by a plating method or a sputtering method, and a step of forming a second metal film containing copper as a main component on the first metal film Therefore, the first metal film acts as an adhesive layer, and the method for producing a two-layer film in which the metal layer and the polymer layer are difficult to peel off is obtained. The method for producing a two-layer film according to the present invention includes a step of setting a mixing ratio of an inert gas and a nitrogen gas, and a vacuum in a mixed gas atmosphere of an inert gas and a nitrogen gas on the polymer film. Forming a first metal film containing nickel atoms by 50 atom% or more and 99 atom% or less and nitrogen atoms by 1 atom% or more and 50 atom% or less by vapor deposition, ion plating or sputtering; and first metal film Forming a second metal film containing copper as a main component on the first layer, so that the first metal film acts as an adhesive layer, and the metal layer and the polymer layer are difficult to peel off. Become a method. Furthermore, by manufacturing a printed circuit board using the two-layer film manufactured by the above manufacturing method, a printed circuit board manufacturing method in which the metal layer and the polymer layer are difficult to peel off is obtained.
また、本発明に係る2層フィルムの製造装置は、高分子フィルムに金属膜を形成する2層フィルム製造装置であって、高分子フィルムを走行させるフィルム走行装置と、金属を加熱しあるいは金属に電極を印加する金属イオン化装置と、フィルム走行装置と金属イオン化装置とを収容する真空槽と、真空槽内を真空にする真空装置と、真空槽に窒素ガスを供給する窒素ガス供給装置と、真空槽に不活性ガスを供給する不活性ガス供給装置とを備えるので、真空下で窒素ガスと不活性ガスとの混合ガスを供給しながら高分子フィルム上に金属膜を形成するのに適した2層フィルム製造装置となる。
The apparatus for producing a two-layer film according to the present invention is a two-layer film production apparatus for forming a metal film on a polymer film, the film running apparatus for running the polymer film, and the metal heating or the metal A metal ionizer for applying an electrode; a vacuum chamber for housing the film traveling device and the metal ionizer; a vacuum device for evacuating the vacuum chamber; a nitrogen gas supply device for supplying nitrogen gas to the vacuum chamber; and a
以下、図面を参照して、本発明の実施の形態について説明する。なお、各図において、互いに同一又は相当する装置には同一符号を付し、重複した説明は省略する。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. In each figure, the same or equivalent devices are denoted by the same reference numerals, and redundant description is omitted.
図1(a)に、本発明の第1の実施の形態である、2層フィルム1〜3の断面図を示す。2層フィルム1〜3は、主にプリント基板を製造するためのプリント配線板用フィルムとして用いられる。図1(a)に示す2層フィルム1は、高分子フィルム10と、高分子フィルム10上に形成された第1の金属膜12と、第1の金属膜12上に形成された第2の金属膜14とを備える。ここで、2層フィルム1は、高分子フィルム10、第1の金属膜12および第2の金属膜14を備えるが、1層の高分子フィルム10と、1層の金属膜(第1の金属膜12と第2の金属膜14)とを有するので、2層フィルムと呼ぶ。
FIG. 1 (a) shows a cross-sectional view of the two-
高分子フィルム10としては、その上に金属膜を形成する際に高温に曝される場合、あるいは、2層フィルム上に素子および導線をハンダ付けし、その際に高温に曝される場合などは、耐熱性を有する高分子製のフィルムが好適に用いられる。また、基板に加工する際のエッチング等の処理に対し耐食性を有している高分子であることが好ましい。窒素原子を含む高分子は、一般的に密着性に優れているので、適している。更に、耐熱性に優れているものも多く、窒素原子を含む高分子フィルムが好適に用いられることが多い。特に、ポリイミド、ポリエーテルイミド、ポリアミドイミド、アラミドなどは高い耐熱性を有するので好適に用いられる。なお、窒素原子は、高分子フィルムの主原料の分子構造に含まれておらず、添加剤に含まれていてもよい。また、高分子フィルムの厚さは、1μm以上、500μm以下とし、好ましくは3μm以上であり、更に好ましくは10μm以上であり、また、好ましくは300μm以下であり、更に好ましくは150μm以下である。高分子フィルムの厚さが薄すぎると、回路基板用として取り扱いが困難になり、めっきも行いにくくなる。高分子フィルムの厚さが厚すぎると、剛直になり、柔軟性のない2層フィルムとなってしまう。
When the
第1の金属膜12は、高分子フィルム10上に形成された膜であり、窒素原子を含有するニッケルを60重量%以上100重量%以下含んでいる。ここで、ニッケルは60重量%以上100重量%以下としており、残りは銅、チタンなどであるのが一般的であるが、これらには限られない。また、第1の金属膜12を、例えば、高分解能ラザフォード・バックスキャッタリング・スペクトロメトリ法(High Resolution Rutherford Backscattering Spectrometry)により検出すると、窒素濃度が1原子%以上50原子%以下含まれており、好ましくは1原子%以上30原子%以下、さらに好ましくは1原子%以上20原子%以下の窒素原子が含まれている。なお、この程度の窒素原子を含有しても、ニッケルの重量%への影響は無視できる程度に小さい。
The
第1の金属膜12は、真空蒸着法、スパッタリング法、イオンプレーティング法などの真空下における製膜法(以下、真空製膜法という。)により形成されることが、均質な膜が得られるので好ましい。これらの真空製膜法によると、真空中でイオン化された金属イオンが高分子フィルム上に析出して膜が形成されるので、金属イオンの元になる膜材料あるいはターゲットに窒素が不純物として含まれていても、イオン化されたときに取り除かれるので、一般的に、形成した金属膜には含有されない。しかし、不活性ガスと窒素ガスとの混合ガス雰囲気下での真空製膜法により金属膜を形成することにより、これらのガスに含まれる窒素原子が形成した金属膜に含有され、窒素原子を含有した金属膜が形成される。ここで明らかなように、本書でいうスパッタリングとは、アルゴンなどの不活性ガスのイオンが金属等のターゲットに衝突し、それによりターゲットからはじき出された金属原子が被着体(スパッタリングにより膜を付着されるもの)の表面に付着するような現象を指すだけではなく、次のような現象をも含む広義のスパッタリングを指す。すなわち、不活性ガスの代わりに反応性ガスとしての不活性ガスと窒素ガスとの混合ガスを使用することにより、金属等のターゲットから金属原子をはじき出すとともに、金属原子と混合ガスとの間で反応を生じさせ、被着体の表面に付着し薄膜を形成する。このような現象は、反応性スパッタリングと呼ばれている。また、このとき、窒素イオンが被着体表面に当たり、表面が窒素イオンで処理された状態になる。このような処理はイオンボンバードと呼ばれており、これらの現象を合わせて、プラズマ処理と呼ぶこともある。スパッタリングによれば、イオンの衝突ではじき出された金属原子や反応性ガスを伴った粒子が被着体に衝突するので、密着力が高くなり易い。なお、第1の金属膜12は、真空製膜法以外の方法で製膜してもよい。
The
第1の金属膜12は、高分子フィルム10と第2の金属膜14との接着層としての作用を有する。第1の金属膜12の厚さは、3nm以上100nm以下とするのがよい。好ましくは10nm以上であり、また、好ましくは30nm以下である。このような厚さにすることにより、高分子フィルム10と第1の金属膜12および第2の金属膜14との密着強度が高くなる。詳細には、日本プリント回路工業会JPCA規格「フレキシブルプリント配線板用銅張積層板(接着剤及び無接着タイプ)」JPCA−BM03−2003に準拠した密着強度が、初期で250N/m以上であることが好ましい。この密着強度を有することにより、2層フィルム1は、金属膜が剥離せず、高密度プリント配線に好適に用いられる2層フィルムとなる。
The
第2の金属膜14は、銅を主成分として形成される。ここで、「銅を主成分とする」とは、銅を主体として形成されることをいい、成分中、銅が最も多く含まれていることをいう。好ましくは、銅の含有率は70重量%以上であり、更に好ましくは90重量%以上である。第2の金属膜も、真空製膜法により形成することが、膜が均質で緻密に形成されるので、好ましい。第2の金属膜14は、プリント配線に加工されるもので、厚さは、20nm以上5000nm以下とするのがよい。好ましくは、50nm以上であり、また好ましくは3000nm以下である。第2の金属膜14は厚く形成すると、後述の第3の金属膜16を形成し易くなり、あるいは、配線としての電気伝導度がよくなり安定するという効果があるが、厚くし過ぎると、製膜に時間がかかり、コストも余計にかかるので、好ましくない。さらに、製膜する際の熱により、そりやカール等の変形を生じたり、配線に加工する際のエッチングがしにくくなるというデメリットもある。そこで、上記の範囲の厚さとするのがよい。第2の金属膜14は、上記の厚さにするためには、真空製膜法の中でも、特に真空蒸着法により形成することが好ましい。真空蒸着法では、金属の蒸発速度が大きいため高速で製膜でき、厚い製膜をし易い。また、スパッタリングに比べ、蒸発金属粒子の持っているエネルギが小さいため被着体に与えるダメージが小さい。
The
図1(b)の断面図に示すように、2層フィルム2は、第1の金属膜12および第2の金属膜14を、高分子フィルム10の両面に有していてもよい。両面に第1の金属膜12および第2の金属膜14を有する2層フィルム2を用いることにより、両面にプリント配線を加工できるので、基板の小型化が可能となる。なお、この場合にも、1層の高分子フィルムと、金属膜とを有しているので、2層フィルムという。
As shown in the cross-sectional view of FIG. 1B, the two-
また、図1(c)の断面図に示すように、2層フィルム3は、第2の金属膜14の上に、第3の金属膜16を形成してもよい。第3の金属膜16は、銅を主成分とする膜であり、第2の金属膜14と材料的に類似しており、密着強度は高い。第3の金属膜16は、厚く形成するので、電着(電気めっきあるいは電鋳)法あるいは無電解めっき(化学めっき)法により形成するのが好適である。第3の金属膜16の厚さは、1μm以上100μm以下とするのが好ましい。第3の金属膜16も、配線板の配線として加工される。
In addition, as shown in the cross-sectional view of FIG. 1C, the two-
続いて、図2を参照して、本発明の第1の実施の形態である、2層フィルム1の製造方法について説明する。なお、適宜図1をも参照するものとする。図2は、真空槽33の中で高分子フィルム10に第1の金属膜12をスパッタリングにより形成し、第2の金属膜14を蒸着により形成する、2層フィルム1の製造装置の模式断面図である。他の真空製膜法を組み合わせて2層フィルム1を形成する場合にも、同様の方法で製造することができる。また、ここで説明する方法を用いて、高分子フィルム10の両面に第1の金属膜12および第2の金属膜14を形成することにより、2層フィルム2を製造することができる。また、ここで説明する方法を用いて製造した2層フィルムを用いて、電着によりあるいは無電極めっきにより、第3の金属膜16を形成すれば、2層フィルム3が製造される。
Then, with reference to FIG. 2, the manufacturing method of the two-
真空槽33は、内部を真空に保つための気密性の高い容器であり、例えば、縦3m×横5m×高さ3mの円筒形の容器である。真空槽33には吸気管34が接続され、その他端は真空ポンプ35に接続している。吸気管34と真空ポンプ35とが、真空装置を構成する。真空槽33内に、高分子フィルム10がロール状に巻かれた原反41が設置される。高分子フィルム10は、原反41からガイドローラ32に導かれ、ローラ31の下部に至る。ローラ31は、円筒形をしており、高分子フィルム10の送られる方向(図2中の矢印)と同一方向に、同一の速さで回転する。ローラ31には、冷媒配管36、37が接続している。冷媒配管36、37は、真空槽33の外部の冷媒冷却装置(不図示)に接続し、そこから、冷媒rをローラ31内に供給し、また、戻している。ローラ31は、冷媒rにより冷却され、低温に保たれている。ローラ31の下部の表面に沿って接した高分子フィルム10は、その先で、ガイドローラ32’に導かれ、製品ローラ42で巻き取られる。すなわち。ガイドローラ32とローラ31とガイドローラ32’とが、高分子フィルム10を走行させるフィルム走行装置を構成する。
The
ローラ31の下には、蒸着材24が溜められている容器23が設置されている。容器23は、電気により加熱されるように構成されている(不図示)。電気による加熱は、電気抵抗加熱でも、誘電加熱でも、高周波誘導加熱でも、他の加熱方法であっても、蒸着材24の融点より充分に高い温度まで加熱し、温度を維持できる方法であればよい。蒸着材24としては、銅が好適に用いられる。ローラ31の下部と容器23の上面との間隙は、銅材料の種類、温度条件等により変化し、1〜数100mmの範囲内とするが、上記の範囲内には限られない。
Under the
原反41とローラ31との間の高分子フィルム10の走行路にスパッタリングのターゲットとしてのニッケル合金あるいはニッケル(以下、ターゲットという)22が配置される。ターゲット22には、陰極が接続され、ターゲット22に対向する高分子フィルム10には陽極が接続され、これらの電極間に電圧が掛けられる。この両電極に電圧を印加する装置が金属イオン化装置38を構成する。ターゲット22と高分子フィルム10との間の近くには、窒素ガスと不活性ガスとの混合ガスを吐出する吐出口44が設けられる。窒素ガスは、窒素ガスボンベ(不図示)から窒素ガス管43を通って、窒素ガスバルブ45にて流量を調整され、吐出口44に至る。また、不活性ガスは、不活性ガスボンベ(例えば、アルゴンガスボンベ、不図示)から不活性ガス管46を通って、不活性ガスバルブ47で流量を調整され、吐出口44に至る。ここで、窒素ガスボンベから吐出口44までが窒素ガス供給装置を構成し、不活性ガスボンベから吐出口44までが不活性ガス供給装置を構成する。混合ガスにおける窒素ガスの割合は、20体積%以上100体積%未満であることが好ましく、このような割合とすることにより、製膜される第1の金属膜12中に、適切な割合の窒素が含有されることになり、第1の金属膜12の接着層としての機能が保たれる。なお、窒素ガスと不活性ガスとは、予め別の場所で所定の割合で混合され、混合ガスとして一つの混合ガス供給装置から供給されてもよい。この場合には、一つの混合ガス供給装置が、窒素ガス供給装置と不活性ガス供給装置とを兼ねることになる。
A nickel alloy or nickel (hereinafter referred to as a target) 22 as a sputtering target is disposed on the traveling path of the
上述の装置を用いて、2層フィルム1を製造するには、先ず、原反41を真空槽31内に設置し、上記の通りに高分子フィルム10を製品ローラ42まで導く。続いて、真空槽33内を気密にした上で、真空槽31内に残留するガスを、真空ポンプ35により、例えば0.667〜0.00133Paの真空度になるまで減圧する。
In order to manufacture the two-
真空下で、ターゲット22と高分子フィルム10間の電極に、金属イオン化装置38を用いて電圧を印加することにより、真空槽33内のガスが電離し、電離したイオンがターゲット22に衝突することにより、ターゲットからニッケルおよび合金原子が飛び出す。飛び出したニッケルおよび合金原子は、雰囲気のガス中の窒素を伴って、高分子フィルムに付着する。これがスパッタリングである。反応ガス管43から供給される混合ガスには、窒素ガスが20体積%以上100体積%未満含まれており、このように窒素を含むガス雰囲気においてスパッタリングを行うことにより、高分子フィルム10上に形成される、ニッケルあるいはニッケル合金の膜に窒素が含有される。ニッケルあるいはニッケル合金が窒素を含有することにより、高分子フィルム10との密着性が高まる。
When a voltage is applied to the electrode between the
また、蒸着材としての銅24を溜めている容器23を加熱し、銅24をその融点(純銅で1083℃)より、200〜1200℃高い温度まで加熱して温度を維持する。なお、銅24は、純銅でなく、他の金属成分が含まれていてもよい。真空中で、銅24を融点より200〜1200℃高い温度にすることにより、銅24の蒸気が発生する。
Further, the
発生した蒸気は、容器23の上方の高分子フィルム10に付着する。これが、蒸着である。蒸気は高分子フィルム10に付着するときにも高温であるので、高分子フィルム10は熱による損傷を受ける可能性がある。そこで、ローラ31を冷媒rにより冷却しておく。ローラ31に沿って接している高分子フィルム10は、ローラ31との接触面から冷やされ、蒸着材の蒸気が付着しても高温にはならず、熱による損傷を防ぐことができる。
The generated vapor adheres to the
かかる状態で、高分子フィルム10を原反41から、製品ローラ42に向けて走行させる。走行中、窒素ガスを含む混合ガス雰囲気下でのスパッタリングによりターゲット22より第1の金属膜12としてニッケルあるいはニッケル合金の膜が形成される。その後、ローラ31の下部において、高分子フィルム10に、蒸着により第2の金属膜14として銅24が付着する。高分子フィルム10上に第1の金属膜12と第2の金属膜14が形成された2層フィルム1は、製品ローラ42に巻き取られる。高分子フィルム10を走行させる速さは、1〜100m/分程度とするのが好適であるが、上記の範囲には限られない。
In this state, the
上記の方法で2層フィルム1を製造することができるので、大量の2層フィルム1を工業的に製造することができる。特にスパッタリングによる第1の金属膜12の形成と、蒸着による第2の金属膜14の形成を同時に行うので、製造効率が高くなる。なお、上記の説明では、スパッタリングによる第1の金属膜12の形成と、蒸着による第2の金属膜14の形成を同時に行うものとして説明したが、第1の金属膜12の形成と第2の金属膜14の形成を、別々に行ってもよい。この場合には、第1回目の高分子フィルム10の走行で、第1の金属膜12だけを形成し、製品ローラ42に巻き取られた高分子フィルム10を原反41として、再度走行させ、第2の金属膜14だけを形成する。このように構成すると、第1の金属膜12の厚さと第2の金属膜14の厚さとをそれぞれ任意に調整できる。また、第1の金属膜12の形成は、スパッタリングに限られず、他の真空製膜法であってもよく、第2の金属膜14の形成は、蒸着に限られず、他の真空製膜法あるいはその他の製膜法であってもよい。
Since the two-
次に、図1を再び参照して、本発明の第2の実施の形態である、2層フィルム1〜3について説明する。ここで、第2の実施の形態である2層フィルム1では、第1の金属膜12だけが第1の実施の形態として説明した2層フィルムと異なり、他の構成は同じであるので、第1の金属膜12についてのみ説明し、他の説明は省略する。
Next, with reference to FIG. 1 again, the two-layer films 1-3 which are the 2nd Embodiment of this invention are demonstrated. Here, in the two-
第1の金属膜12は、高分子フィルム10上に形成された膜であり、ニッケルを60原子%以上99原子%以下、窒素原子を1原子%以上50原子%以下含んでいる。ここで、ニッケル原子および窒素原子以外の残りは銅、チタンなどであるのが一般的であるが、これらには限られない。ニッケルや窒素の含有率(原子%)は、例えば、第1の金属膜12を形成したサンプルを用い、第1の金属膜12側を例えば1分間ガス粒子等をスパッタリングすることによりエッチングして、第1の金属膜12の表面を剥離した後に、X線光電子分光装置で成分分析を行うことにより、測定することが可能である。第1の金属膜12がニッケル原子を50原子%以上、窒素原子を1原子%以上含むことにより、高分子フィルム10と第2の金属膜14との接着力が強くなる。ただし、窒素原子を50原子%を超えるほどに大量に含むと接着力が低下する。好ましくは第1の金属膜12は、窒素原子を1原子%以上30原子%以下、さらに好ましくは1原子%以上20原子%以下含む。
The
第1の金属膜12は、例えば真空蒸着法、スパッタリング法、イオンプレーティング法などの真空製膜法により形成されることが、均質で緻密な膜が得られるので好ましい。これらの真空製膜法によると、真空中でイオン化された金属イオンが高分子フィルム上に析出して膜が形成されるので、金属イオンの元になる膜材料に窒素が不純物として含まれていても、イオン化されたときに取り除かれるので、一般的に、形成した金属膜には含有されない。しかし、窒素ガスを含む混合ガス雰囲気下での真空製膜法により金属膜を形成することにより、窒素原子を含有した金属膜が形成される。なお、第1の金属膜12は、真空製膜法以外の方法で製膜してもよい。なお、膜材料とは、真空蒸着法では蒸着される膜の材料である蒸着材、スパッタリング法では、膜の材料となるターゲットなど、各製膜法において、膜を形成する基となる材料をいう。
The
第1の金属膜12は、高分子フィルム10と第2の金属膜14との接着層としての作用を有する。第1の金属膜12の厚さは、3nm以上100nm以下とするのがよい。好ましくは5nm以上、さらに好ましくは10nm以上であり、また、好ましくは30nm以下である。このような厚さにすることにより、高分子フィルム10と第1の金属膜12および第2の金属膜14との密着強度が高くなる。詳細には、日本プリント回路工業会JPCA規格「フレキシブルプリント配線板用銅張積層板(接着剤及び無接着タイプ)」JPCA−BM03−2003に準拠した密着強度が、初期で250N/m以上であることが好ましい。この密着強度を有することにより、2層フィルム1は、金属膜が剥離せず、高密度プリント配線に用いられるために充分に大きな密着強度を有する2層フィルムとなる。なお、「初期で」とは、2層フィルムを製造したままで、という意味であり、その後、常温を超える高温に晒されたり、日光に晒されたりしていない状態をいう。
The
次に、図1および図2を参照して、第2の実施の形態である2層フィルムの製造方法について説明する。第2の実施の形態である2層フィルムの製造方法は、先に説明した第1の実施の形態である2層フィルムの製造方法と基本的に同じでよいが、第1の金属膜12を形成するための膜材料の条件が異なる。図2において、原反41とローラ31との間の高分子フィルム10の走行路に配置されるスパッタリングのターゲットとしてのニッケル(以下、ターゲットという)22は、ニッケルを75重量%以上含んでいる純度の高いニッケル材料である。好ましくは、ニッケルを99重量%以上含むと、製膜されたときの膜に含まれるニッケル含有率が高くなり、高分子フィルム10と第2の金属膜14とを接着する力が強くなる。さらに、例えばニッケルを99.9重量%以上含む、実質的なニッケル単体であると、製膜されたときの膜に含まれるニッケル含有率がさらに高くなり接着する力がより強くなるので、好適である。ターゲット22には、陰極が接続され、ターゲット22に対向する高分子フィルム10には陽極が接続され、これらの電極間に金属イオン化装置38を用いて電圧が印加される。ターゲット22と高分子フィルム10との間の近くには、窒素ガスを含む混合ガスを供給する吐出口44が設けられる。吐出口44から供給される混合ガスは、窒素ガスと不活性ガスとの混合であり不活性ガスはニッケル原子と反応しないので、製膜される第1の金属膜に含まれるニッケルおよび窒素原子以外の原子の含有率が減少して好ましい。窒素ガスを含む混合ガス雰囲気においてスパッタリングを行うことにより、高分子フィルム10上に形成されるニッケルの膜に窒素が含有される。ニッケルが窒素を含有することにより、高分子フィルム10との密着性が高まると共に、高温での接着力の低下を防止することが可能となる。第2の実施の形態である2層フィルムの製造方法における他の工程は、第1の実施の形態である2層フィルムの製造方法で説明したことと同様であるので、重複する説明は省略する。
Next, with reference to FIG. 1 and FIG. 2, the manufacturing method of the 2 layer film which is 2nd Embodiment is demonstrated. The method for producing the two-layer film according to the second embodiment may be basically the same as the method for producing the two-layer film according to the first embodiment described above. The conditions of the film material for forming are different. In FIG. 2, nickel (hereinafter referred to as a target) 22 as a sputtering target disposed in the traveling path of the
続いて、図3のフローチャートを参照して、第1の実施の形態である2層フィルムを用いた、プリント基板の製造方法例について、説明する。図3中、破線で示した経路(St16、St27〜28およびSt29)は、必ずしも通らなくても(実施されなくても)よい経路であり、St16とSt27〜28との両方を通ることはない。 Then, with reference to the flowchart of FIG. 3, the example of the manufacturing method of a printed circuit board using the 2 layer film which is 1st Embodiment is demonstrated. In FIG. 3, the routes (St16, St27 to 28, and St29) indicated by broken lines are routes that do not necessarily have to be passed (do not be implemented), and do not pass both St16 and St27 to 28. .
まず、真空にされた真空槽内に窒素ガスと不活性ガスとの混合ガスを供給し(St11)、混合ガスを供給しながらスパッタリングによりニッケル膜を形成する(St12)。更に、真空槽内で、ニッケル膜に重ねて銅の膜を形成し、2層フィルムとする(St13)。これまで説明したように、混合ガスを供給しながらニッケル膜を形成することにより、窒素原子を有するニッケルの膜が形成され、ニッケル膜に重ねて銅の膜を形成することにより、高分子フィルムとの密着強度の高い2層フィルムが形成される。また、2層フィルムの製造方法は、これまで説明したような他の方法であってもよい。 First, a mixed gas of nitrogen gas and inert gas is supplied into a vacuumed vacuum chamber (St11), and a nickel film is formed by sputtering while supplying the mixed gas (St12). Further, a copper film is formed on the nickel film in a vacuum chamber to form a two-layer film (St13). As described so far, by forming a nickel film while supplying a mixed gas, a nickel film having nitrogen atoms is formed, and by forming a copper film on the nickel film, a polymer film and A two-layer film having a high adhesion strength is formed. The method for producing the two-layer film may be other methods as described above.
例えば、ネガ型の場合、2層フィルムの銅膜の上に、後段の現像工程で溶出されない性質を有する物質を塗付してレジストを形成する(St21)。レジスト上にマスクパターンを露光する(St22)。レジストは露光されることにより硬化し、後段の現像工程でも、溶解されなくなる。そこで、現像することにより、硬化しなかったレジストを溶出し、マスクパターンに従ったレジストを銅膜の上に残す(St23)。現像されたならば、エッチングを施す(ST24)。エッチングにより、レジストが溶出した部分の下の銅膜を溶出する。すなわち、露光した部分にだけ、銅膜とレジストが残る。レジストを剥離することにより、残った銅膜が導電路となり、プリントパターンが形成された基板が製造される(St25)。 For example, in the case of the negative type, a resist is formed by applying a material having a property that is not eluted in the subsequent development process on the copper film of the two-layer film (St21). A mask pattern is exposed on the resist (St22). The resist is cured by being exposed to light and is not dissolved even in a subsequent development step. Therefore, by developing, the uncured resist is eluted, and the resist according to the mask pattern is left on the copper film (St23). If developed, etching is performed (ST24). By etching, the copper film under the portion from which the resist is eluted is eluted. That is, the copper film and the resist remain only in the exposed part. By stripping the resist, the remaining copper film becomes a conductive path, and a substrate on which a printed pattern is formed is manufactured (St25).
プリントパターンが形成された基板に導線をハンダ付けし(St31)、所定の素子を装着することによりプリント基板が製造される(St41)。このプリント基板の製造方法によれば、金属層と高分子層との密着強度が高く、配線が剥離しにくいので、導体幅および導体間を狭小にすることができ、プリント基板の小型化が実現できる。なお、プリントパターンが形成された基板に、さらに電解法または無電解めっき法により、銅を主成分とするめっき膜を形成してもよい(St29)。銅を主成分とするめっき層は、銅膜により形成された導電路上には形成されるが、高分子の膜が露出した部分には形成されない、すなわち、プリントパターンが形成された基板にめっき膜を形成することにより、導電路を厚くすることができる。導電路が厚くなると、電導性が高くなり、好適である。 A conductive wire is soldered to the substrate on which the printed pattern is formed (St31), and a predetermined element is mounted to manufacture the printed substrate (St41). According to this printed circuit board manufacturing method, the adhesion strength between the metal layer and the polymer layer is high and the wiring is difficult to peel off, so the conductor width and the space between the conductors can be reduced, and the printed circuit board can be downsized. it can. In addition, you may form the plating film which has copper as a main component by the electrolytic method or the electroless-plating method further on the board | substrate with which the printed pattern was formed (St29). The plating layer mainly composed of copper is formed on the conductive path formed of the copper film, but is not formed on the exposed portion of the polymer film. That is, the plating film is formed on the substrate on which the printed pattern is formed. By forming the conductive path, the conductive path can be thickened. When the conductive path is thick, the conductivity is high, which is preferable.
2層フィルムが形成された(St13)後、更に、めっきあるいは他の方法により銅膜を重ねて形成してもよい(St16)。銅膜を重ねて形成することにより、銅膜の厚さが厚くなり、すなわち、プリントされる導電路が太くなり、電気抵抗が減少する。このようにすると、プリントされる平面上での太さを変えることなく、導電路を太くすることができ、プリント基板の大きさを大きくすることがないので、好適である。 After the two-layer film is formed (St13), a copper film may be further stacked by plating or other methods (St16). By forming the copper film in an overlapping manner, the thickness of the copper film becomes thick, that is, the printed conductive path becomes thick and the electric resistance decreases. This is preferable because the conductive path can be thickened without changing the thickness on the printed plane, and the size of the printed board is not increased.
あるいは、2層フィルムにマスクパターンが露光され、現像された(St23)後、次のようにプリントパターンが形成された基板を製造してもよい。先ず、現像することにより、マスクパターンに従ったレジストだけを残した後に、銅をめっきする(St27)。すると、レジスト上にはめっきされないので、現像により銅膜が露出した部分にだけ、銅がめっきされる。そこで、レジストとその下の銅膜とを取り除くことにより、プリントパターンが形成された基板が製造される(St28)。この方法は、セミアディティブ法と呼ばれ、露光する部分は、導電路がプリントされる部分であり、これまで説明した方法とは逆になり、ポジ型と呼ばれる露光となる。なお、露光されなかった部分が導電路である露光が、ネガ型と呼ばれる。このセミアディティブ法を用いることにより、導電路の太さ(銅膜の厚さ)を容易に厚くすることができ、しかも、現像する前に銅膜をめっきする方法に比べ、溶出される銅の量を少なくすることができ、すなわち銅の消費量を減らすことができる。 Alternatively, after the mask pattern is exposed and developed on the two-layer film (St23), a substrate on which a print pattern is formed as follows may be manufactured. First, development is performed to leave only the resist according to the mask pattern, and then copper is plated (St27). Then, since the resist is not plated, copper is plated only on the portion where the copper film is exposed by development. Therefore, the substrate on which the printed pattern is formed is manufactured by removing the resist and the underlying copper film (St28). This method is called a semi-additive method, and a portion to be exposed is a portion on which a conductive path is printed. This is opposite to the method described so far, and is a positive type exposure. Note that exposure in which the unexposed portion is a conductive path is called a negative type. By using this semi-additive method, the thickness of the conductive path (thickness of the copper film) can be easily increased, and moreover, compared to the method of plating the copper film before development, the eluted copper The amount can be reduced, i.e. the consumption of copper can be reduced.
プリント基板の製造方法は、上記に限られず、種々の方法をとることができるが、高分子フィルム上に、混合ガス雰囲気下での真空製膜法によりニッケルを60重量%以上含む第1の金属膜を形成し、その上に、銅を主成分とする第2の金属膜を形成した2層フィルムを用いて、プリントパターンが形成された基板を作り、素子を配置してプリント基板を製造することにより、金属層と高分子層との密着強度が高く、配線が剥離しにくいプリント基板が製造される。 The method for producing a printed circuit board is not limited to the above, and various methods can be used. The first metal containing 60% by weight or more of nickel on a polymer film by a vacuum film-forming method in a mixed gas atmosphere. A substrate on which a printed pattern is formed is formed using a two-layer film on which a second metal film containing copper as a main component is formed, and a printed circuit board is manufactured by arranging elements. As a result, a printed circuit board having a high adhesion strength between the metal layer and the polymer layer and preventing the wiring from peeling off is manufactured.
第2の実施の形態である2層フィルムを用いて、プリント基板を製造するには、上述のプリント基板の製造方法において、純度の高いニッケルを膜材料に用いるなどして、第1の金属膜がニッケル原子を50原子%以上、窒素原子を1原子%以上含むように形成すればよい。このようにプリント基板を製造することより、金属層と高分子層との密着強度がより高く、配線がより剥離しにくいプリント基板が製造される。 In order to manufacture a printed circuit board using the two-layer film according to the second embodiment, in the above-described printed circuit board manufacturing method, high purity nickel is used as a film material, etc. May be formed so as to contain 50 atom% or more of nickel atoms and 1 atom% or more of nitrogen atoms. By manufacturing the printed circuit board in this way, a printed circuit board with higher adhesion strength between the metal layer and the polymer layer and less peeling of the wiring is manufactured.
以下、実施例と比較例により、本願発明に係る2層フィルムの効果を確認する。先ず、第1の実施の形態である2層フィルムの実施例1〜7について説明する。 Hereinafter, the effect of the two-layer film according to the present invention is confirmed by Examples and Comparative Examples. First, Examples 1 to 7 of the two-layer film according to the first embodiment will be described.
厚み38μm、幅500mm、長さ200mのポリイミドフィルム(登録商標:カプトンEN、東レ・デュポン社製)を真空槽内にセットする。0.04Paの真空度にする。その後、ニッケルNiをターゲットとし、窒素ガスを100体積%でガス流量200ml/分を真空槽内に供給しながら、スパッタリングを行ない第1の金属膜を製膜した。第1の金属膜には、高分解能ラザフォード・バックスキャッタリング・スペクトロメトリ法による検出によれば、17原子%の窒素原子が含まれていた。また、その厚みは、20nmであった。第1の金属膜の表面に銅の膜を真空蒸着法で製膜し、厚み200nmの第2の金属膜を形成した。作成したフィルムを、バッチ式電解めっき槽に取り付け、厚み10μmの銅めっき膜(第3の金属膜)を形成し、2層フィルムを製造した。 A polyimide film (registered trademark: Kapton EN, manufactured by Toray DuPont) having a thickness of 38 μm, a width of 500 mm, and a length of 200 m is set in a vacuum chamber. The degree of vacuum is 0.04 Pa. Thereafter, sputtering was performed while nickel nickel was used as a target, nitrogen gas was supplied at 100% by volume and a gas flow rate of 200 ml / min was supplied into the vacuum chamber, thereby forming a first metal film. The first metal film contained 17 atomic% of nitrogen atoms as detected by the high resolution Rutherford backscattering spectrometry method. Moreover, the thickness was 20 nm. A copper film was formed on the surface of the first metal film by a vacuum deposition method to form a second metal film having a thickness of 200 nm. The prepared film was attached to a batch-type electrolytic plating tank to form a copper plating film (third metal film) having a thickness of 10 μm to produce a two-layer film.
実施例1と同様に、ただし、窒素ガスを80体積%、アルゴンガスを20体積%とした混合ガスを用い、2層フィルムを製造した。第1の金属膜には、高分解能ラザフォード・バックスキャッタリング・スペクトロメトリ法による検出によれば、11原子%の窒素原子が含まれていた。 As in Example 1, a two-layer film was produced using a mixed gas containing 80% by volume of nitrogen gas and 20% by volume of argon gas. The first metal film contained 11 atomic% of nitrogen atoms as detected by the high resolution Rutherford backscattering spectrometry method.
実施例1と同様に、ただし、窒素ガスを60体積%、アルゴンガスを40体積%とした混合ガスを用い、2層フィルムを製造した。第1の金属膜には、高分解能ラザフォード・バックスキャッタリング・スペクトロメトリ法による検出によれば、8原子%の窒素原子が含まれていた。 As in Example 1, a two-layer film was manufactured using a mixed gas containing 60% by volume of nitrogen gas and 40% by volume of argon gas. The first metal film contained 8 atomic% of nitrogen atoms as detected by the high resolution Rutherford backscattering spectrometry method.
実施例1と同様に、ただし、窒素ガスを40体積%、アルゴンガスを60体積%とした混合ガスを用い、2層フィルムを製造した。第1の金属膜には、高分解能ラザフォード・バックスキャッタリング・スペクトロメトリ法による検出によれば、4原子%の窒素原子が含まれていた。 As in Example 1, except that a mixed gas containing 40% by volume of nitrogen gas and 60% by volume of argon gas was used, a two-layer film was produced. The first metal film contained 4 atomic% of nitrogen atoms according to detection by the high resolution Rutherford backscattering spectrometry method.
実施例1と同様に、ただし、窒素ガスを20体積%、アルゴンガスを40体積%とした混合ガスを用い、2層フィルムを製造した。第1の金属膜には、高分解能ラザフォード・バックスキャッタリング・スペクトロメトリ法による検出によれば、2原子%の窒素原子が含まれていた。 As in Example 1, a two-layer film was produced using a mixed gas containing 20% by volume of nitrogen gas and 40% by volume of argon gas. The first metal film contained 2 atomic% of nitrogen atoms according to detection by the high resolution Rutherford backscattering spectrometry method.
厚み25μm、幅500mm、長さ200mのポリイミドフィルム(登録商標:カプトンEN、東レ・デュポン社製)を真空槽内にセットする。0.04Paの真空度にする。その後、ニッケルNiとクロムCrの合金(Ni:Cr=80:20重量%)をターゲットとし、窒素ガスを60体積%、アルゴンガスを40体積%とした混合ガスを用い、ガス流量140ml/分を真空槽内に供給しながら、スパッタリングを行ない第1の金属膜を製膜した。第1の金属膜には、高分解能ラザフォード・バックスキャッタリング・スペクトロメトリ法による検出によれば、10原子%の窒素原子が含まれていた。また、その厚みは、10nmであった。第1の金属膜の表面に銅の膜を真空蒸着法で製膜し、厚み200nmの第2の金属膜を形成した。作成したフィルムを、バッチ式電解めっき槽に取り付け、厚み10μmの銅めっき膜を形成し、2層フィルムを製造した。 A polyimide film (registered trademark: Kapton EN, manufactured by Toray DuPont) having a thickness of 25 μm, a width of 500 mm, and a length of 200 m is set in the vacuum chamber. The degree of vacuum is 0.04 Pa. Then, using a mixed gas in which an alloy of nickel Ni and chromium Cr (Ni: Cr = 80: 20 wt%) is used, nitrogen gas is 60 vol%, and argon gas is 40 vol%, the gas flow rate is 140 ml / min. While supplying into the vacuum chamber, sputtering was performed to form a first metal film. The first metal film contained 10 atomic% of nitrogen atoms as detected by the high resolution Rutherford backscattering spectrometry method. Moreover, the thickness was 10 nm. A copper film was formed on the surface of the first metal film by a vacuum deposition method to form a second metal film having a thickness of 200 nm. The created film was attached to a batch-type electrolytic plating tank to form a copper plating film having a thickness of 10 μm to produce a two-layer film.
実施例6と同様に、ただし、窒素ガスを20体積%、アルゴンガスを80体積%とした混合ガスを用い、2層フィルムを製造した。第1の金属膜には、高分解能ラザフォード・バックスキャッタリング・スペクトロメトリ法による検出によれば、5原子%の窒素原子が含まれていた。また、銅めっき膜の厚みを18μmとした。 As in Example 6, a two-layer film was manufactured using a mixed gas containing 20% by volume of nitrogen gas and 80% by volume of argon gas. The first metal film contained 5 atomic% of nitrogen atoms as detected by the high resolution Rutherford backscattering spectrometry method. Moreover, the thickness of the copper plating film was 18 μm.
実施例1〜7と比較するため、供給するガスを変えた下記の比較例1〜8により、2層フィルムを製造した。比較例1〜8では、実施例1〜7で用いた混合ガス中の窒素を酸素に置き換えて、2層フィルムを製造した。
[比較例1]
厚み25μm、幅500mm、長さ200mのポリイミドフィルム(登録商標:カプトンEN、東レ・デュポン社製)を真空槽内にセットする。0.04Paの真空度にする。その後、ニッケルNiをターゲットとし、酸素ガスを100体積%でガス流量200ml/分を真空槽内に供給しながら、スパッタリングを行ない第1の金属膜を製膜した。第1の金属膜には、高分解能ラザフォード・バックスキャッタリング・スペクトロメトリ法による検出によれば、窒素原子は含まれていなかった。また、その厚みは、20nmであった。第1の金属膜の表面に銅の膜を真空蒸着法で製膜し、厚み200nmの第2の金属膜を形成した。作成したフィルムを、バッチ式電解めっき槽に取り付け、厚み18μmの銅めっき膜を形成し、2層フィルムを製造した。
[比較例2]
比較例1と同様に、ただし、酸素ガスを80体積%、アルゴンガスを20体積%とした混合ガスを用い、2層フィルムを製造した。第1の金属膜には、高分解能ラザフォード・バックスキャッタリング・スペクトロメトリ法による検出によれば、窒素原子は含まれていなかった。
[比較例3]
比較例1と同様に、ただし、酸素ガスを60体積%、アルゴンガスを40体積%とした混合ガスを用い、2層フィルムを製造した。第1の金属膜には、高分解能ラザフォード・バックスキャッタリング・スペクトロメトリ法による検出によれば、窒素原子は含まれていなかった。
[比較例4]
比較例1と同様に、ただし、酸素ガスを40体積%、アルゴンガスを60体積%とした混合ガスを用い、2層フィルムを製造した。第1の金属膜には、高分解能ラザフォード・バックスキャッタリング・スペクトロメトリ法による検出によれば、窒素原子は含まれていなかった。
[比較例5]
比較例1と同様に、ただし、酸素ガスを20体積%、アルゴンガスを80体積%とした混合ガスを用い、2層フィルムを製造した。第1の金属膜には、高分解能ラザフォード・バックスキャッタリング・スペクトロメトリ法による検出によれば、窒素原子は含まれていなかった。
[比較例6]
厚み25μm、幅500mm、長さ200mのポリイミドフィルム(登録商標:カプトンEN、東レ・デュポン社製)を真空槽内にセットする。0.04Paの真空度にする。その後、ニッケルNiとクロムCrの合金(Ni:Cr=80:20重量%)をターゲットとし、酸素ガスを60体積%、アルゴンガスを40体積%とした混合ガスを用い、ガス流量140ml/分を真空槽内に供給しながら、スパッタリングを行ない第1の金属膜を製膜した。第1の金属膜には、高分解能ラザフォード・バックスキャッタリング・スペクトロメトリ法による検出によれば、窒素原子は含まれていなかった。また、その厚みは、10nmであった。第1の金属膜の表面に銅の膜を真空蒸着法で製膜し、厚み200nmの第2の金属膜を形成した。作成したフィルムを、バッチ式電解めっき槽に取り付け、厚み10μmの銅めっき膜を形成し、2層フィルムを製造した。
[比較例7]
比較例6と同様に、ただし、酸素ガスを20体積%、アルゴンガスを80体積%とした混合ガスを用い、2層フィルムを製造した。第1の金属膜には、高分解能ラザフォード・バックスキャッタリング・スペクトロメトリ法による検出によれば、窒素原子は含まれていなかった。また、銅めっき膜の厚みを18μmとした。
[比較例8]
比較例1と同様に、ただし、窒素ガスを50体積%、酸素ガスを50体積%とした混合ガスを用い、2層フィルムを製造した。第1の金属膜には、高分解能ラザフォード・バックスキャッタリング・スペクトロメトリ法による検出によれば、窒素原子は含まれていなかった。
In order to compare with Examples 1-7, the bilayer film was manufactured by the following Comparative Examples 1-8 which changed the gas to supply. In Comparative Examples 1-8, nitrogen in the mixed gas used in Examples 1-7 was replaced with oxygen to produce a two-layer film.
[Comparative Example 1]
A polyimide film (registered trademark: Kapton EN, manufactured by Toray DuPont) having a thickness of 25 μm, a width of 500 mm, and a length of 200 m is set in the vacuum chamber. The degree of vacuum is 0.04 Pa. Thereafter, sputtering was performed while nickel nickel was used as a target and oxygen gas was supplied at 100% by volume and a gas flow rate of 200 ml / min was supplied into the vacuum chamber to form a first metal film. The first metal film did not contain nitrogen atoms, as detected by high resolution Rutherford backscattering spectrometry. Moreover, the thickness was 20 nm. A copper film was formed on the surface of the first metal film by a vacuum deposition method to form a second metal film having a thickness of 200 nm. The created film was attached to a batch-type electrolytic plating tank to form a 18 μm thick copper plating film, and a two-layer film was produced.
[Comparative Example 2]
As in Comparative Example 1, a two-layer film was produced using a mixed gas containing 80% by volume of oxygen gas and 20% by volume of argon gas. The first metal film did not contain nitrogen atoms, as detected by high resolution Rutherford backscattering spectrometry.
[Comparative Example 3]
As in Comparative Example 1, a two-layer film was produced using a mixed gas containing 60% by volume of oxygen gas and 40% by volume of argon gas. The first metal film did not contain nitrogen atoms, as detected by high resolution Rutherford backscattering spectrometry.
[Comparative Example 4]
Similar to Comparative Example 1, except that a mixed gas containing 40% by volume of oxygen gas and 60% by volume of argon gas was used to produce a two-layer film. The first metal film did not contain nitrogen atoms, as detected by high resolution Rutherford backscattering spectrometry.
[Comparative Example 5]
As in Comparative Example 1, a two-layer film was manufactured using a mixed gas containing 20% by volume of oxygen gas and 80% by volume of argon gas. The first metal film did not contain nitrogen atoms, as detected by high resolution Rutherford backscattering spectrometry.
[Comparative Example 6]
A polyimide film (registered trademark: Kapton EN, manufactured by Toray DuPont) having a thickness of 25 μm, a width of 500 mm, and a length of 200 m is set in the vacuum chamber. The degree of vacuum is 0.04 Pa. Then, using a mixed gas in which an alloy of nickel Ni and chromium Cr (Ni: Cr = 80: 20 wt%) is used, oxygen gas is 60 volume%, and argon gas is 40 volume%, the gas flow rate is 140 ml / min. While supplying into the vacuum chamber, sputtering was performed to form a first metal film. The first metal film did not contain nitrogen atoms, as detected by high resolution Rutherford backscattering spectrometry. Moreover, the thickness was 10 nm. A copper film was formed on the surface of the first metal film by a vacuum deposition method to form a second metal film having a thickness of 200 nm. The created film was attached to a batch-type electrolytic plating tank to form a copper plating film having a thickness of 10 μm to produce a two-layer film.
[Comparative Example 7]
As in Comparative Example 6, a two-layer film was produced using a mixed gas containing 20% by volume of oxygen gas and 80% by volume of argon gas. The first metal film did not contain nitrogen atoms, as detected by high resolution Rutherford backscattering spectrometry. Moreover, the thickness of the copper plating film was 18 μm.
[Comparative Example 8]
As in Comparative Example 1, a two-layer film was produced using a mixed gas containing 50% by volume of nitrogen gas and 50% by volume of oxygen gas. The first metal film did not contain nitrogen atoms, as detected by high resolution Rutherford backscattering spectrometry.
上記の実施例1〜7および比較例1〜8の方法で製造した2層フィルムについて、製造したまま(初期)の密着強度を測定した。密着強度は、日本プリント回路工業会JPCA規格「フレキシブルプリント配線板用銅張積層板(接着剤及び無接着タイプ)」JPCA−BM03−2003に準拠して測定した。 About the two-layer film manufactured by the method of said Examples 1-7 and Comparative Examples 1-8, the adhesive strength of the initial stage was measured. The adhesion strength was measured in accordance with the Japan Printed Circuits Industry Association, JPCA standard “copper-clad laminate for flexible printed wiring boards (adhesive and non-adhesive type)” JPCA-BM03-2003.
図4に、実施例1〜7および比較例1〜8の2層フィルムの密着強度の測定結果をまとめて示す。図4でも明らかなとおり、実施例1〜7の2層フィルムにおいては、何れのケースとも、250N/m以上と高い初期密着強度が示された。一方、比較例においては、250N/m未満と低くなる。密着強度が250N/m未満であると、電解めっきの際に銅薄膜がはく離してしまうことが多く、実用に供するには問題がある。したがって、ニッケル含有率の高い金属を用いた、不活性ガスと窒素ガスとの混合ガス雰囲気下での真空製膜法により形成した第1の金属膜を備える2層フィルムが、実用的に高い密着強度を有することが示された。なお、これらの第1の金属膜においては、高分解能ラザフォード・バックスキャッタリング・スペクトロメトリ法による測定で窒素原子を2〜17原子%含んでいた。 In FIG. 4, the measurement result of the adhesive strength of the bilayer film of Examples 1-7 and Comparative Examples 1-8 is shown collectively. As is clear from FIG. 4, in the two-layer films of Examples 1 to 7, a high initial adhesion strength of 250 N / m or higher was shown in any case. On the other hand, in the comparative example, it is as low as less than 250 N / m. If the adhesion strength is less than 250 N / m, the copper thin film often peels off during electroplating, which is problematic for practical use. Therefore, a two-layer film including a first metal film formed by a vacuum film-forming method using a metal having a high nickel content in a mixed gas atmosphere of an inert gas and a nitrogen gas has practically high adhesion. It was shown to have strength. These first metal films contained 2 to 17 atomic% of nitrogen atoms as measured by the high resolution Rutherford backscattering spectrometry method.
1〜3 2層フィルム
10 高分子フィルム
12 第1の金属膜
14 第2の金属膜
16 第3の金属膜
22 ターゲット
23 (蒸着材の)容器
24 蒸着材
31 ローラ
32、32 ガイドローラ(フィルム走行装置)
33 真空槽
34 吸気管(真空装置)
35 真空ポンプ(真空装置)
36、37 冷媒配管
38 スパッタリング系統(金属イオン化装置)
41 原反
42 製品ロール
43 窒素ガス管(窒素ガス供給装置)
44 吐出口(窒素ガス供給装置、不活性ガス供給装置)
45 窒素ガスバルブ(窒素ガス供給装置)
46 不活性ガス管(不活性ガス供給装置)
47 不活性ガスバルブ(不活性ガス供給装置)
r 冷媒
1-3
33
35 Vacuum pump (vacuum equipment)
36, 37 Refrigerant piping 38 Sputtering system (metal ionizer)
41
44 Discharge port (nitrogen gas supply device, inert gas supply device)
45 Nitrogen gas valve (nitrogen gas supply device)
46 Inert gas pipe (inert gas supply device)
47 Inert gas valve (inert gas supply device)
r Refrigerant
Claims (12)
前記高分子フィルム上に、不活性ガスと窒素ガスとの混合ガス雰囲気下で、真空蒸着法またはイオンプレーティング法またはスパッタリング法により形成した、ニッケルを60重量%以上100重量%以下含む第1の金属膜と;
前記第1の金属膜上に形成された、銅を主成分とする第2の金属膜とを備える;
2層フィルム。 A polymer film;
A first film containing 60 wt% or more and 100 wt% or less of nickel formed on the polymer film by a vacuum deposition method, an ion plating method or a sputtering method in a mixed gas atmosphere of an inert gas and a nitrogen gas. With a metal film;
A second metal film mainly composed of copper formed on the first metal film;
Two-layer film.
前記高分子フィルム上に、不活性ガスと窒素ガスとの混合ガス雰囲気下で、真空蒸着法またはイオンプレーティング法またはスパッタリング法により形成した、ニッケル原子を50原子%以上99原子%以下、窒素原子を1原子%以上50原子%以下含む第1の金属膜と;
前記第1の金属膜上に形成された、銅を主成分とする第2の金属膜とを備える;
2層フィルム。 A polymer film;
On the polymer film, nickel atoms are formed in a mixed gas atmosphere of an inert gas and a nitrogen gas by a vacuum deposition method, an ion plating method, or a sputtering method. A first metal film containing 1 atom% or more and 50 atom% or less;
A second metal film mainly composed of copper formed on the first metal film;
Two-layer film.
請求項1または請求項2に記載の2層フィルム。 The adhesion strength between the polymer film and the first metal film is an initial 250 N / m or more;
The two-layer film according to claim 1 or 2.
請求項1ないし請求項3のいずれか1項に記載の2層フィルム。 The polymer film is formed of a polymer containing nitrogen atoms;
The two-layer film according to any one of claims 1 to 3.
請求項4に記載の2層フィルム。 The polymer containing nitrogen atoms includes any one of the group consisting of polyimide, polyetherimide, polyamideimide and aramid;
The two-layer film according to claim 4.
前記第2の金属膜の厚さが、20nm以上5000nm以下である;
請求項1ないし請求項5のいずれか1項に記載の2層フィルム。 The thickness of the first metal film is 3 nm or more and 100 nm or less;
The thickness of the second metal film is 20 nm or more and 5000 nm or less;
The two-layer film according to any one of claims 1 to 5.
請求項1ないし請求項6のいずれか1項に記載の2層フィルム。 On the second metal film, a third metal film mainly composed of copper was formed by an electrodeposition method or an electroless plating method;
The two-layer film according to any one of claims 1 to 6.
高分子フィルム上に、前記混合比の混合ガス雰囲気下での、真空蒸着法またはイオンプレーティング法またはスパッタリング法によりニッケルを60重量%以上100重量%以下含む第1の金属膜を形成する工程と;
前記第1の金属膜上に、銅を主成分とする第2の金属膜を形成する工程とを備える;
2層フィルムの製造方法。 Setting the mixing ratio of inert gas and nitrogen gas;
Forming a first metal film containing 60 wt% or more and 100 wt% or less of nickel on a polymer film by a vacuum deposition method, an ion plating method, or a sputtering method in a mixed gas atmosphere of the above mixing ratio; ;
Forming a second metal film mainly composed of copper on the first metal film;
A method for producing a two-layer film.
高分子フィルム上に、不活性ガスと窒素ガスとの混合ガス雰囲気下での、真空蒸着法またはイオンプレーティング法またはスパッタリング法によりニッケル原子を50原子%以上99原子%以下、窒素原子を1原子%以上50原子%以下含む第1の金属膜を形成する工程と;
前記第1の金属膜上に、銅を主成分とする第2の金属膜を形成する工程とを備える;
2層フィルムの製造方法。 Setting the mixing ratio of inert gas and nitrogen gas;
On a polymer film, nickel atom is contained in an amount of 50 atom% or more and 99 atom% or less and nitrogen atom is 1 atom by vacuum deposition, ion plating or sputtering in a mixed gas atmosphere of inert gas and nitrogen gas. Forming a first metal film containing no less than 50% and no more than 50 atomic percent;
Forming a second metal film mainly composed of copper on the first metal film;
A method for producing a two-layer film.
請求項8または請求項9に記載の2層フィルムの製造方法。 The mixed gas contains 20% by volume or more and less than 100% by volume of nitrogen gas;
The manufacturing method of the two-layer film of Claim 8 or Claim 9.
前記2層フィルムの製造方法により製造された2層フィルムにプリントパターンを形成する工程と;
前記プリントパターンが形成された2層フィルムに素子を配置する工程とを備える;
プリント基板の製造方法。 A step of producing a two-layer film by the method for producing a two-layer film according to any one of claims 8 to 10;
Forming a print pattern on the two-layer film produced by the two-layer film production method;
Arranging a device on the two-layer film on which the print pattern is formed;
A method for manufacturing a printed circuit board.
高分子フィルムを走行させるフィルム走行装置と;
金属を加熱しあるいは金属に電極を印加する金属イオン化装置と;
前記フィルム走行装置と前記金属イオン化装置とを収容する真空槽と;
前記真空槽内を真空にする真空装置と;
前記真空槽に窒素ガスを供給する窒素ガス供給装置と;
前記真空槽に不活性ガスを供給する不活性ガス供給装置とを備える;
2層フィルム製造装置。
A two-layer film production apparatus for forming a metal film on a polymer film, comprising:
A film running device for running a polymer film;
A metal ionizer for heating the metal or applying an electrode to the metal;
A vacuum chamber containing the film traveling device and the metal ionization device;
A vacuum device for evacuating the vacuum chamber;
A nitrogen gas supply device for supplying nitrogen gas to the vacuum chamber;
An inert gas supply device for supplying an inert gas to the vacuum chamber;
Two-layer film manufacturing equipment.
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KR20220163345A (en) | 2020-04-06 | 2022-12-09 | 도레이 케이피 필름 가부시키가이샤 | Metallized film and manufacturing method thereof |
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