JP2007243914A - Transmission apparatus including line test function - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、回線試験機能を有する伝送装置に関し、特に、信号終端機能を備えなくとも、回線試験を行うことが可能な伝送装置に関する。 The present invention relates to a transmission apparatus having a line test function, and more particularly to a transmission apparatus capable of performing a line test without a signal termination function.
従来、回線試験機能を有する伝送装置は、信号を送信する際に管理情報やメンテナンス用の情報(以降、「オーバヘッド情報」という)を付加し、この中に回線試験の開始又は終了を指示するための制御コードを挿入して対向する伝送装置に通知を行うため、対向装置から信号を受信した際にオーバヘッド情報を終端して必要な情報の抽出を行う必要があった。 Conventionally, a transmission apparatus having a line test function adds management information and maintenance information (hereinafter referred to as “overhead information”) when transmitting a signal, and instructs the start or end of a line test therein. Therefore, when a signal is received from the opposite device, it is necessary to terminate the overhead information and extract necessary information.
例えば、特許文献1に記載のフレーム伝送装置は、試験対象のフレーム伝達区間の折返し接続を要求するコードをMACフレームの特定の領域に割当てたループ制御要求フレームを対向伝送装置に送信し、対向伝送装置でループを形成し、ループ制御応答フレームを返送し、フレーム伝送装置は、ループ制御応答フレームを受信した後、試験フレームをフレーム伝達区間に送出し、返送された試験フレームをチェックして回線の品質を試験する。
For example, the frame transmission apparatus described in
また、特許文献2に記載のディジタル信号伝送装置は、試験開始検出部と、試験終了検出部と、試験開始パターン生成部と、試験終了パターン生成部と、試験信号生成部と、試験開始パターン検出部と、試験終了パターン検出部と、試験信号検出等を備え、回線試験を実行するときに、自局装置より試験信号を回線に挿入する場合、対向局装置に対して“分岐実施命令”を外部より入力することなく実行し、さらに、対向局装置での分岐実行の際に、不要な警報が発出しないようにしている。
しかし、上記従来の伝送装置においては、試験動作を確立するにあたり、伝送する信号に含まれるオーバヘッド情報に試験開始又は終了を識別するための制御コードを挿入するため、信号の受信後にオーバヘッド情報を終端し、この制御コードの抽出を行う処理が必要となり、試験動作を確立するための手段が複雑であるという問題があった。 However, in the conventional transmission apparatus, when establishing a test operation, a control code for identifying the start or end of the test is inserted into the overhead information included in the transmitted signal, so that the overhead information is terminated after the signal is received. However, there is a problem that a process for extracting the control code is required, and the means for establishing the test operation is complicated.
そこで、本発明は、上記従来の伝送装置等における問題点に鑑みてなされたものであって、受信する信号に含まれるオーバヘッド情報を終端することなく回線試験を確立し、回線状態をチェックすることのできる伝送装置を提供することを目的とする。 Accordingly, the present invention has been made in view of the problems in the conventional transmission apparatus and the like, and establishes a line test without terminating overhead information included in a received signal and checks the line state. It is an object of the present invention to provide a transmission device that can perform transmission.
上記目的を達成するため、本発明は、回線試験機能を有する伝送装置であって、試験パタン信号を生成する試験パタン信号生成手段と、該試験パタン信号生成手段が生成した試験パタン信号を検出する試験パタン信号検出手段と、前記試験パタン信号の受信を認識して装置内部の回線試験設定を行う回線試験設定手段とを備えることを特徴とする。 In order to achieve the above object, the present invention is a transmission apparatus having a line test function, which detects a test pattern signal generating means for generating a test pattern signal, and a test pattern signal generated by the test pattern signal generating means. Test pattern signal detecting means and line test setting means for recognizing reception of the test pattern signal and setting a line test in the apparatus.
そして、本発明によれば、伝送装置間における回線試験を行うにあたり、試験パタン信号生成手段により得られた信号を対向する伝送装置へ送信し、この試験パタン信号を受けた伝送装置では、試験パタン信号検出手段を用い、受信した信号が試験パタン信号であることを検出することにより、装置間における回線試験の実施を認識し、回線試験設定手段で伝送装置内部における回線試験に必要な設定を自動的に行うことができる。これによって、オーバヘッド情報を終端することなく回線試験を確立し、回線状態をチェックすることが可能となり、回線試験における装置内部の処理を軽減することができる。 According to the present invention, when performing a line test between transmission apparatuses, the signal obtained by the test pattern signal generating means is transmitted to the opposite transmission apparatus, and the transmission apparatus receiving the test pattern signal receives the test pattern signal. By detecting that the received signal is a test pattern signal using the signal detection means, it recognizes the execution of the line test between the devices, and the line test setting means automatically sets the settings required for the line test inside the transmission device. Can be done automatically. As a result, it is possible to establish a line test without terminating the overhead information and to check the line state, thereby reducing processing inside the apparatus in the line test.
また、本発明によれば、信号速度やインタフェースのタイプによらず、試験パタン信号を一意に決めて組み込めばよいため、通常扱う信号のタイプによらず同一試験回路構成を用いることができ、同一ポートにおいて、必要に応じてデータタイプの異なる信号を取り扱うことができる。 Further, according to the present invention, the test pattern signal only needs to be uniquely determined and incorporated regardless of the signal speed and interface type, so the same test circuit configuration can be used regardless of the type of signal normally handled. The port can handle signals of different data types as needed.
前記回線試験機能を有する伝送装置において、前記試験パタン信号生成手段が、任意のランダムパタン信号を生成し、前記ランダムパタン信号を前記試験パタン信号として出力し、前記試験パタン検出手段が、前記ランダムパタン信号を検出することにより、前記試験パタン信号を検出するように構成することができる。 In the transmission apparatus having the line test function, the test pattern signal generation unit generates an arbitrary random pattern signal, outputs the random pattern signal as the test pattern signal, and the test pattern detection unit includes the random pattern signal. By detecting the signal, the test pattern signal can be detected.
前記回線試験機能を有する伝送装置において、前記試験パタン信号生成手段が、所定の固定パタン信号を生成する固定パタン生成手段と、任意のランダムパタン信号を生成するランダムパタン生成手段とを備え、前記固定パタン信号と前記ランダムパタン信号を組み合わせて前記試験パタン信号を生成し、前記試験パタン信号検出手段が、前記固定パタン信号を検出する固定パタン検出手段と、前記ランダムパタン信号を検出するランダムパタン検出手段とを備え、前記固定パタン信号及び前記ランダムパタン信号を検出することにより、前記試験パタン信号を検出するように構成することができる。 In the transmission apparatus having the line test function, the test pattern signal generation unit includes a fixed pattern generation unit that generates a predetermined fixed pattern signal and a random pattern generation unit that generates an arbitrary random pattern signal. The test pattern signal is generated by combining the pattern signal and the random pattern signal, and the test pattern signal detection means detects the fixed pattern signal, and the random pattern detection means detects the random pattern signal. The test pattern signal can be detected by detecting the fixed pattern signal and the random pattern signal.
前記回線試験機能を有する伝送装置において、前記試験パタン信号検出手段を、入力信号と、期待する生成式で生成される試験パタン信号とを、排他的論理和をとることで比較し、入力信号をビット単位に一致、又は不一致を表すパルス信号を出力する試験信号検出回路と、該試験信号検出回路から出力されたパルス信号のパルス数をカウントするカウンタと、該カウンタから出力されたエラーカウント値に基づき、内部で任意の閾値を設けて試験信号検出フラグの発出又は解除を行う保護回路とを備えるように構成することができる。 In the transmission apparatus having the line test function, the test pattern signal detecting means compares the input signal with a test pattern signal generated by an expected generation formula by taking an exclusive OR, and A test signal detection circuit that outputs a pulse signal indicating a match or mismatch in bit units, a counter that counts the number of pulses of the pulse signal output from the test signal detection circuit, and an error count value output from the counter Based on this, it is possible to provide a protection circuit that provides an arbitrary threshold value inside and issues or releases the test signal detection flag.
また、前記回線試験機能を有する伝送装置において、前記回線試験設定手段を、2つの出力端子を有するセレクタを備えるように構成することができる。 In the transmission apparatus having the line test function, the line test setting means can be configured to include a selector having two output terminals.
以上のように、本発明によれば、受信する信号に含まれるオーバヘッド情報を終端することなく回線試験を確立し、回線状態をチェックすることのできる伝送装置を提供することができる。 As described above, according to the present invention, it is possible to provide a transmission apparatus capable of establishing a line test and checking a line state without terminating overhead information included in a received signal.
次に、本発明の実施の形態について図面を参照しながら詳細に説明する。 Next, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
図1は、本発明にかかる回線試験機能を有する伝送装置(以下、「伝送装置」と略称する)の一実施の形態を示し、スイッチ1〜3は、2つの入力端子と、2つの出力端子を有し、どちらの出力端子からも2つの入力端子から入力された信号のいずれかを選択して出力することができる。
FIG. 1 shows an embodiment of a transmission apparatus (hereinafter abbreviated as “transmission apparatus”) having a line test function according to the present invention, and
スイッチ1は、入力信号7と、スイッチ3の一方の出力信号とを、スイッチ制御回路6の出力論理により、2つの出力端子の各々において個別に選択して出力する。スイッチ2は、入力信号9と、スイッチ1の一方の出力信号とを、スイッチ制御回路6の出力論理により、2つの出力端子の各々において個別に選択して出力する。スイッチ3は、スイッチ2の一方の出力信号と、擬似ランダム信号発生器4の出力とを、スイッチ制御回路6の出力論理により、2つの出力端子の各々において個別に選択して出力する。
The
擬似ランダム信号発生器(試験パタン信号生成手段)4は、任意の擬似ランダムパタンを常に生成して出力する。試験パタン信号として使用する擬似ランダム信号の速度は、通常運用中に扱う伝送信号と区別可能なように、異なる速度にて生成する。 The pseudo random signal generator (test pattern signal generating means) 4 always generates and outputs an arbitrary pseudo random pattern. The speed of the pseudo-random signal used as the test pattern signal is generated at a different speed so that it can be distinguished from the transmission signal handled during normal operation.
擬似ランダム信号検出器(試験パタン信号検出手段)5は、スイッチ3の一方の出力信号をモニタし、擬似ランダム信号発生器4で生成している擬似ランダム信号と同等の信号を受信した際に、検出フラグ信号を出力するとともに、受信信号が期待するパタンではない場合にエラー情報を出力し、それに基づいてエラービット数としてカウントする。
When the pseudo-random signal detector (test pattern signal detecting means) 5 monitors one output signal of the
スイッチ制御回路(回線試験設定手段)6は、外部からの回線試験制御信号11、又は擬似ランダム信号検出器5から出力される検出フラグ信号のどちらかを回線試験制御信号として選択し、装置内部のスイッチ1〜3に対してスイッチ制御信号を出力する。
The switch control circuit (line test setting means) 6 selects either the line
次に、スイッチ1〜3の詳細な構成について、図2を参照しながら説明する。これらのスイッチ1〜3は、例えば2つの入力端子を有するセレクタ20、21を2組配置することで実現可能である。
Next, a detailed configuration of the
同図において、セレクタ20は、選択制御信号22の論理により、入力信号A又は入力信号Bのどちらかを選択して出力する。セレクタ21は、選択制御信号23の論理により、入力信号A又は入力信号Bのどちらかを選択して出力する。これより、入力された2つの信号を2つの出力端子より自由に出力することが可能となる。
In the figure, the
次に、スイッチ制御回路6の詳細な構成について、図3を参照しながら説明する。このスイッチ制御回路6は、例えば2つの入力端子を有するセレクタ30を用いることで実現可能である。
Next, a detailed configuration of the
同図において、セレクタ30は、選択信号の論理により、スイッチ信号制御A又はスイッチ制御信号Bのどちらかを選択して出力することで、優先順位の高い制御信号を選択することができる。また、このセレクタ30をORゲートに置き換えれば、優先順位を持たせずに、いずれかの制御信号がアクティブ(この場合には’1’論理)となった場合に、出力となるスイッチ制御信号Cをアクティブ状態とすることもできる。
In the figure, the
次に、擬似ランダム信号検出器5の詳細な構成について、図4を参照しながら説明する。この擬似ランダム信号検出器5は、例えば、クロック抽出回路40と、試験信号検出回路41と、カウンタ42と、保護回路43とで構成することができる。
Next, a detailed configuration of the pseudo
同図において、クロック抽出回路40は、入力信号からクロック成分の抽出を行い、後段のデータ処理に使用するクロック信号を生成するものであり、ここでは試験パタン信号の速度と同等のクロック周波数成分のみを抽出できるものを使用する。これにより、通常運用中において、クロック抽出回路40では、伝送信号速度が試験パタン信号速度と異なり、クロック信号の生成ができないため、後段の試験信号検出回路41にて試験パタン信号が検出されることがなくなることから、試験パタン信号の誤検出を防ぐことができる。
In the figure, a
試験信号検出回路41は、例えば、PN符号検出器のように、入力信号と期待する生成式で生成される試験パタン信号とを排他的論理和をとることで比較するものであり、入力信号をビット単位に一致、又は不一致を表すパルス信号を出力する。
The test
カウンタ42は、上記パルス信号のパルス数をカウントすることでエラービット数の積算を行う。保護回路43は、カウンタ42の出力するエラーカウント値に基づき、内部で任意の閾値を設けて試験信号検出フラグの発出又は解除を行う。
The
以上、スイッチ1〜3等の構成について詳細に説明したが、図1の擬似ランダム信号発生器4の構成及び作用は、当業者にとってよく知られているため、詳細説明を省略する。
The configuration of the
次に、上記構成を有する図1の伝送装置を使用した装置間回線試験の実施及び解除動作について、図5及び図6を参照しながら説明する。 Next, the inter-device line test implementation and cancellation operation using the transmission device of FIG. 1 having the above configuration will be described with reference to FIGS.
図5及び図6は、図1に示す伝送装置を対向させて接続した場合の運用状態における構成である。尚、図中の実線は信号の有効な伝達を示し、破線は無効として扱う信号を示している。また、スイッチ1〜3内の矢印は、2つの入力信号のうち、どちらの信号を選択して出力しているかを表している。
5 and 6 are configurations in an operating state when the transmission apparatuses shown in FIG. 1 are connected to face each other. In the figure, the solid line indicates the effective transmission of the signal, and the broken line indicates the signal treated as invalid. The arrows in the
初めに、ここでいう回線試験について簡単に説明する。回線試験とは、接続される伝送装置間において、一方の伝送装置から任意の試験パタン信号を送信し、対向するもう一方の伝送装置において、受信した試験パタン信号を装置内部で折り返し、対向する伝送装置に対してそのまま返送するものである。このとき、各伝送装置では、受信した試験パタン信号の受信状態、及びエラービット数のカウントを行うなどして接続回線に使用される伝送路の性能を回線毎に確認する。 First, the line test here will be briefly described. A line test is a transmission test in which an arbitrary test pattern signal is transmitted from one transmission device between connected transmission devices, and the received test pattern signal is folded inside the device in the opposite transmission device. It is returned to the device as it is. At this time, each transmission apparatus confirms the performance of the transmission path used for the connection line for each line by counting the reception state of the received test pattern signal and counting the number of error bits.
まず、本実施の形態にかかる回線試験方式を説明するにあたり、図5を用いて、図1の伝送装置での通常運用時の動作を簡単に説明する。 First, in describing the line test method according to the present embodiment, the operation during normal operation of the transmission apparatus in FIG. 1 will be briefly described with reference to FIG.
伝送装置50においては、伝送装置50に入力される入力信号7と等価の信号を伝送装置51に対して出力し、伝送装置51から受信した信号の等価信号を出力信号10として出力するように、スイッチ1〜3が設定される。一方、伝送装置51においては、入力される入力信号9の等価信号を伝送装置50に対して出力し、伝送装置50から受信した信号の等価信号を出力信号8として出力するように、スイッチ1〜3が設定される。スイッチ2、3は、伝送装置50及び51の何れにおいても、対向する伝送装置から入力される信号を分岐し、擬似ランダム信号検出器5に出力する設定とされ、伝送装置50及び51は、任意に設定された擬似ランダム信号の受信の有無をモニタする状態となる。ここで、擬似ランダム信号とは、通常運用中に伝送装置間で扱う信号とは異なる信号をいう。
In the
次に、図6を参照しながら、本実施の形態にかかる回線試験方式について説明する。 Next, the line test method according to the present embodiment will be described with reference to FIG.
図5に示す通常運用状態から、オペレータが装置制御端末52を介して回線試験実施制御を行うと、伝送装置50のスイッチ制御回路6に対して回線試験の開始が通知され、伝送装置50内のスイッチ1〜3に対して回線試験用の設定が行われる。このとき、伝送装置50における各スイッチ1〜3の状態は以下のようになる。
When the operator performs line test execution control via the
スイッチ3は、試験パタン信号となる擬似ランダム信号を伝送装置51に対して出力できるように、擬似ランダム信号発生器4の出力をスイッチ1へ出力するとともに、もう一方の出力へ、伝送装置51から受信する信号を擬似ランダム信号検出器5にてモニタできるように設定の変更を行う。ここで、擬似ランダム信号とは、例えば、PN符号のような生成式により得られる信号であり、受信した際に同じ生成式を用いることで検出することができる信号である。
The
スイッチ1は、伝送装置51に対して入力信号7を出力する設定から、スイッチ3から受信する擬似ランダム信号を出力する設定へ変更する。これにより、試験パタン信号が、対向する伝送装置51へ送信される。このとき、スイッチ2については、特に変更設定を行わなくとも、伝送装置51から受信する信号を擬似ランダム信号検出器5においてモニタすることができる。
The
試験パタン信号を受信した伝送装置51は、伝送装置50より受信する信号が試験パタン信号であることから、擬似ランダム信号検出器5より検出フラグをスイッチ制御回路6に対して出力する。スイッチ制御回路6は、擬似ランダム信号検出器5より検出フラグを受信することで回線試験の実施を認識し、自律的にスイッチ1〜3へ、受信した試験パタン信号を装置内で折り返して伝送装置50へ返送するような設定を行う。
The
スイッチ2及びスイッチ3については、設定の変更はなく、受信する信号を常に擬似ランダム信号検出器5にてモニタできる接続となっている。スイッチ1については、入力信号9を伝送装置50に出力する設定から、スイッチ3から受信する信号を伝送装置50へ出力する設定へ変更する。これにより、伝送装置50より受信する信号を伝送装置51内で折り返して伝送装置50へ返送するスイッチ設定となり、伝送装置50及び伝送装置51間の回線試験を実施する試験系の構築が完了する。
The
各々の伝送装置50、51においては、対向する伝送装置より受信する試験パタン信号を各々の擬似ランダム信号検出器5にてモニタし、伝送路の性能が劣化して受信状態が悪くなると、エラービット数をカウントすることができる。
In each
回線試験の終了については、装置制御端末52より回線試験終了、すなわち通常運用状態へ戻す(図4の状態に戻す)設定がなされることで、伝送装置51へ入力信号7が伝送されることになる。この信号を受信した伝送装置51の擬似ランダム信号検出器5では、試験信号の受信を確認できなくなることで回線試験の終了と認識し、自律的に通常運用状態へ装置内部のスイッチ1〜3の設定を戻すようにスイッチ制御回路6より制御し、回線試験状態から通常運用状態への遷移を行う。
As for the end of the line test, the
尚、本発明においては、試験パタン信号を検出することで回線試験の実施の認識を行っており、伝送路が劣化するなどして受信する信号にエラーが生じている状態から回線試験を開始しようとしても、試験パタン信号を検出できずに回線試験へ遷移しないことも考えられる。これは、擬似ランダム信号検出器5に保護回路43を設けていることで回避できる。
In the present invention, the execution of the line test is recognized by detecting the test pattern signal, and the line test should be started from a state in which an error occurs in the received signal due to the deterioration of the transmission path. However, it is conceivable that the test pattern signal cannot be detected and the circuit does not transit to the line test. This can be avoided by providing the
擬似ランダム信号は、一般的には生成式を用いて生成するもので、その生成式に応じたビット幅単位に処理されて生成されている。伝送路の劣化による信号のエラーは、断続的に発生することが多く、正常に見える時間もあることから、受信信号において、擬似ランダム信号生成式による処理単位となるビット幅と同数の連続したビット列でエラーを1ビットでも検出しなかった場合には、即時に試験信号の検出フラグにより試験信号の受信の通知を行うようにすることで回線試験への遷移を行い、試験解除にあたっては、任意の単位時間中に含まれるエラービット数に任意の閾値を設け、これを満たした場合にのみ解除するような保護を設けることにより、回線試験中に見られる伝送路上のエラービット数をカウントすることもできる。この試験解除閾値以上のビットエラーが見られて試験状態が解除されたとしても、伝送路不良(例えば断線等)と判断できるような閾値としておけば、伝送路劣化、又は伝送路不良の判別も行うことができ、回線試験としての支障はない。 The pseudo-random signal is generally generated using a generation formula, and is generated by being processed in units of a bit width corresponding to the generation formula. Signal errors due to transmission path degradation often occur intermittently, and there are times when it looks normal, so in the received signal, the same number of continuous bit strings as the bit width that is the processing unit by the pseudo-random signal generation formula If no error is detected in 1 bit, the test signal reception flag is immediately notified by the test signal detection flag to make a transition to the line test. By setting an arbitrary threshold for the number of error bits included in a unit time and providing protection that is released only when the threshold is satisfied, the number of error bits on the transmission line that can be found during a line test can also be counted. it can. Even if a bit error exceeding this test cancellation threshold is seen and the test state is canceled, if the threshold is set so that it can be determined that the transmission path is defective (for example, disconnection or the like), transmission path deterioration or transmission path failure can be determined. This can be done and there is no hindrance as a circuit test.
上記実施の形態では、回線試験の実施を試験パタン信号の検出の有無で判断し、これまでの伝送装置のように伝送する信号のオーバヘッド情報を使用していないので、受信する信号を終端する必要がなく、伝装置内における回線試験設定処理を簡略化し、かつ自動化することができる。 In the above embodiment, it is necessary to terminate the received signal because the line test is determined based on whether or not the test pattern signal is detected and the overhead information of the signal to be transmitted is not used as in the conventional transmission apparatus. Therefore, the line test setting process in the transmission apparatus can be simplified and automated.
また、上記実施の形態では、信号速度やインタフェースのタイプによらず、試験パタン信号を一意に決めて組み込めばよいため、通常扱う信号のタイプによらず同一試験回路構成を用いることができ、同一ポートにおいて、必要に応じてデータタイプの異なる信号を取り扱うことができる。 In the above embodiment, the test pattern signal only needs to be uniquely determined and incorporated regardless of the signal speed and interface type. Therefore, the same test circuit configuration can be used regardless of the type of signal normally handled. The port can handle signals of different data types as needed.
次に、本発明にかかる伝送装置の第2の実施形態について図面を参照して詳細に説明する。 Next, a second embodiment of the transmission apparatus according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
図7は、本発明にかかる伝送装置の第2の実施の形態を示すブロック図であり、同図において、図1に示す伝送装置と同一の構成要素については、同一符号を付す。 FIG. 7 is a block diagram showing a second embodiment of the transmission apparatus according to the present invention. In FIG. 7, the same components as those of the transmission apparatus shown in FIG.
同図において、スイッチ1は、入力信号7と、スイッチ3の一方の出力信号とを、スイッチ制御回路6から出力されるスイッチ制御信号により、2つの出力端子の各々において個別に選択して出力を行う。スイッチ2は、入力信号9と、スイッチ1の一方の出力信号とを、スイッチ制御回路6から出力されるスイッチ制御信号により、2つの出力端子の各々において個別に選択して出力を行う。スイッチ3は、スイッチ2の一方の出力信号と、試験信号発生器60の出力とを、スイッチ制御回路6から出力されるスイッチ制御信号により、2つの出力端子の各々において個別に選択して出力を行う。
In the figure, the
試験信号発生器60は、任意の擬似ランダム信号に、試験信号であることを認識させるための試験認識パタン信号を、一定周期で挿入し、試験パタン信号として出力する。
The
試験信号検出器61は、スイッチ3の一方の出力信号をモニタして、その出力信号中に試験信号発生器60で生成された試験認識パタン信号が含まれているか否かを判定し、試験認識パタン信号を検出したときに、スイッチ3の出力信号が試験パタン信号であることを擬似ランダム信号検出器62に通知する。
The
擬似ランダム信号検出器62は、試験信号検出器61から試験パタン信号を検出した旨の通知を受けたときに、試験パタン信号中の擬似ランダム信号のモニタを開始し、擬似ランダム信号を検出するのに応答して、検出フラグ信号を出力する。一方、試験信号中の擬似ランダム信号が期待するパタンでない場合は、エラー情報を出力するとともに、エラー情報に基づいてエラービット数をカウントする。
When the
スイッチ制御回路6は、外部からの回線試験制御信号11、又は擬似ランダム信号検出器62から出力される検出フラグ信号の何れかを回線試験制御信号として選択し、スイッチ1〜3に対してスイッチ制御信号を出力する。
The
次に、試験信号発生器60の詳細な構成について図8を参照しながら説明する。この試験信号発生器60は、例えば、カウンタ70と、擬似ランダムパタン生成器71と、試験認識パタン生成器72と、セレクタ73とで構成することができる。
Next, a detailed configuration of the
同図において、カウンタ70は、任意の数をカウント可能なフリーランカウンタである。このカウンタ70のカウント値は、擬似ランダムパタン生成器71、試験認識パタン生成器72及びセレクタ73に、各々出力される。
In the figure, a
擬似ランダムパタン生成器71は、PN符号のような擬似ランダム信号を生成して出力する。この擬似ランダムパタン生成器71は、カウンタ70のカウント値により出力を停止する機能を有する。
The pseudo
試験認識パタン生成器72は、所定の固定パタン信号を生成し、試験認識パタン信号として出力する。この試験認識パタン生成器72も、擬似ランダムパタン生成器71と同様に、カウンタ70のカウント値により出力を停止する機能を有する。
The test
セレクタ73は、カウンタ70から出力されるカウント値により、擬似ランダムパタン生成器71で生成される擬似ランダム信号と、試験認識パタン生成器72で生成される試験認識パタン信号とを選択的に出力し、試験パタン信号として出力する。例えば、図9に示すように、カウンタ70のカウント値が0〜10までの間は、試験認識パタン生成器72より出力される試験認識パタン信号を選択して出力し、カウンタ70のカウント値が11〜99の間は、擬似ランダムパタン生成器71より出力される擬似ランダム信号を選択して出力する。これより、試験認識パタン信号と擬似ランダム信号を含む試験パタン信号を生成することが可能となる。
The
次に、試験信号検出器61の詳細な構成について図10を参照しながら説明する。この試験信号検出器61は、例えば、比較回路80と、保護回路81とで構成することができる。
Next, a detailed configuration of the
同図において、比較回路80は、入力信号であるスイッチ3の出力信号を、試験認識パタン信号として設定した固定パタン信号と同一パタンを有する信号と、固定パタン信号のビット長で比較し、期待する固定パタン信号と同一パタンを検出したときに、検出フラグを出力する。
In the figure, the
保護回路81は、試験信号中に試験認識パタン信号が挿入される周期よりも長めの任意の時間に亘って、検出フラグの状態を保持して、試験信号受信通知を出力し、スイッチ3の出力端子から試験パタン信号が出力されている旨を擬似ランダム信号検出器62に通知する。一方、保持時間よりも更に長い時間が経過しても、検出フラグが入力されない場合には、試験信号受信通知の状態を変更し、スイッチ3の出力端子から試験パタン信号が出力されていない旨を通知する。これにより、試験パタン信号が継続的に入力されている場合に、試験パタン信号の受信を示す試験信号受信通知を出力し、試験パタン信号の入力が終了した場合に、試験パタン信号を受信しないことを示す試験信号受信通知を出力することが可能になる。
The
次に、擬似ランダム信号検出器62の詳細な構成について図11を参照しながら説明する。擬似ランダム信号検出器62は、例えば、擬似ランダム信号検出回路90と、カウンタ91と、保護回路92とで構成することができる。
Next, a detailed configuration of the pseudo
擬似ランダム信号検出回路90は、例えば、PN符号検出器のように、入力信号と期待する生成式で生成される擬似ランダム信号とを排他的論理和をとることで比較するものであり、入力信号をビット単位に一致、又は不一致を表すパルス信号を出力する。この擬似ランダム信号検出回路90は、検出イネーブル信号に応じて動作し、検出イネーブル信号をアクティブにすることによって、擬似ランダム信号の検出動作を停止することができる。
The pseudo-random
カウンタ91は、擬似ランダム信号検出回路90から出力されるパルス信号のパルス数をカウントすることでエラービット数の積算を行う。保護回路92は、カウンタ91の出力するエラーカウント値に基づき、内部で任意の閾値を設けて試験信号検出フラグの発出又は解除を行う。
The
次に、上記構成を有する図7の伝送装置を使用した装置間回線試験の実施及び解除動作について、図12及び図13を参照して説明する。 Next, the implementation and cancellation operation of the inter-device line test using the transmission apparatus of FIG. 7 having the above configuration will be described with reference to FIGS.
図12及び図13は、図7に示す伝送装置を対向させて接続した場合の運用状態における構成である。尚、図5及び図6と同様に、図中の実線は信号の有効な伝達を示し、破線は無効として扱う信号を示している。また、スイッチ1〜3内の矢印は、2つの入力信号のうち、どちらの信号を選択して出力しているかを表している。
12 and 13 show a configuration in an operating state when the transmission apparatuses shown in FIG. 7 are connected to face each other. As in FIGS. 5 and 6, the solid lines in the drawings indicate effective transmission of signals, and the broken lines indicate signals treated as invalid. The arrows in the
まず、本実施の形態にかかる回線試験方式を説明するにあたり、図12を用いて、図7に示す伝送装置での通常運用時の動作を簡単に説明する。 First, in describing the line test method according to the present embodiment, the operation during normal operation of the transmission apparatus shown in FIG. 7 will be briefly described with reference to FIG.
通常運用時においては、図5と同様に、対向する伝送装置から送信された信号を出力信号として出力するように、伝送装置100及び101のスイッチ1〜3が設定される。スイッチ2及び3は、伝送装置100及び101の何れにおいても、対向する伝送装置から入力される信号を分岐して、試験信号検出器61及び擬似ランダム信号検出器62に出力する設定とされ、伝送装置100及び101は、試験信号の受信の有無をモニタする状態となる。
During normal operation, the
次に、図13を参照しながら、本実施の形態にかかる回線試験方式について説明する。 Next, the line test method according to the present embodiment will be described with reference to FIG.
図12に示す通常運用状態から、オペレータが装置制御端末52を介して回線試験実施制御を行うと、伝送装置100のスイッチ制御回路6に対して回線試験の開始が通知され、伝送装置100内のスイッチ1〜3に対して回線試験用の設定が行われる。このとき伝送装置100における各スイッチの状態は以下のようになる。
When the operator performs line test execution control via the
スイッチ3は、試験パタン信号を伝送装置101に対して出力できるよう、試験信号発生器60の出力をスイッチ1へ出力するとともに、もう一方の出力へ、伝送装置101から受信する信号を試験信号検出器61及び擬似ランダム信号検出器62にてモニタできるように設定を変更する。
The
スイッチ1は、伝送装置101に対して入力信号7を出力する設定から、スイッチ3から受信する試験パタン信号を出力する設定へ変更する。これにより、試験パタン信号が、対向する伝送装置101へ送信される。このとき、スイッチ2については、特に変更設定は行わなくとも、伝送装置101から受信する信号を試験信号検出器61及び擬似ランダム信号検出器62に出力する設定となっているため、通常運用時の設定が維持される。
The
試験パタン信号を受信した伝送装置101は、試験信号検出器61により試験パタン信号に含まれる試験認識パタン信号を検出する。それによって、試験パタン信号の受信を認識し、擬似ランダム信号検出器62に試験パタン信号の受信を通知する。擬似ランダム信号検出器62は、この通知を受けて、擬似ランダム信号のモニタを開始し、試験パタン信号の信号パタン中から期待する擬似ランダム信号を検出すると、試験信号検出フラグをスイッチ制御回路6に対して出力する。
The
スイッチ制御回路6は、擬似ランダム信号検出器5より試験信号検出フラグを受信することで回線試験の実施を認識し、自律的にスイッチ1〜3へ、受信した試験信号を装置内で折り返して、伝送装置100へ返送するような設定を行う。
The
スイッチ2及びスイッチ3については設定の変更はなく、受信する信号を常に試験信号検出器61及び擬似ランダム信号検出器62にてモニタできる接続となっている。スイッチ1については、入力信号9を伝送装置100に出力する設定から、スイッチ3から受信する信号を伝送装置100へ出力する設定へ変更する。これにより、伝送装置100より受信する信号を伝送装置101内で折り返して伝送装置100へ返送するスイッチ設定となり、伝送装置100及び伝送装置101間の回線試験を実施する試験系の構築が完了する。
The
試験系の構築が完了した後は、図1〜図6に示した実施の形態と同様に、対向する伝送装置より受信する試験パタン信号が、各々の試験信号検出器61及び擬似ランダム信号検出器62でモニタされ、伝送路の性能が劣化して受信状態が悪くなると、エラービットの数がカウントされる。
After the construction of the test system is completed, the test pattern signals received from the opposing transmission devices are transmitted to the respective
上記実施の形態でも、図1〜図6に示した実施の形態と同様に、回線試験の実施を試験パタン信号の検出の有無で判断し、これまでの伝送装置のように伝送する信号のオーバヘッド情報を使用していないので、受信する信号を終端する必要がなく、伝送装置における回線試験設定処理を簡略化し、かつ、自動化することができる。 Also in the above embodiment, as in the embodiment shown in FIGS. 1 to 6, it is determined whether or not the line test is performed based on whether or not the test pattern signal is detected, and the overhead of the signal to be transmitted as in the conventional transmission apparatus Since no information is used, it is not necessary to terminate the received signal, and the line test setting process in the transmission apparatus can be simplified and automated.
また、上記実施の形態では、試験信号検出器61及び擬似ランダム信号検出器62の二重の試験信号確認手段で試験信号の受信を確認した後に、回線試験状態へ遷移するため、通常運用時の信号が試験パタン信号と同一速度であったり、ランダム性の高い信号が入力されるなどの試験信号を認識し難い状況であっても、試験信号の誤検出を防止し、意図しない回線状態に遷移するのを回避することができる。
In the above embodiment, the
次に、本発明にかかる伝送装置の第3の実施形態について図面を参照して詳細に説明する。 Next, a third embodiment of the transmission apparatus according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
その基本的構成は、上記の図1の通りであるが、本実施の形態においては、図14に示すように、図1の構成に対して、受信した信号データからクロックを抽出するクロック抽出回路120を追加している。この場合、クロック抽出回路120にてクロック成分を抽出し、伝送装置内部にてクロック信号として利用するが、抽出可能なクロック周波数範囲が広いものをクロック抽出回路120に用いることで、同じ入力ポートを利用して様々な速度の信号を扱うことが可能となる。
The basic configuration is as shown in FIG. 1, but in this embodiment, as shown in FIG. 14, a clock extraction circuit that extracts a clock from received signal data as shown in FIG. 120 is added. In this case, a clock component is extracted by the
この場合、回線試験を行う際に使用する試験パタン信号と通常運用時に扱う信号との速度差が生じることもあるが、試験パタン信号を生成する擬似ランダム信号発生器4と、その試験パタン信号を検出する擬似ランダム信号検出器5において、扱う試験パタンの信号のタイプを一意に決めておくことで、試験パタン信号速度や符号方式の変更を行わずに、伝送装置の同一受信ポートで対応できるデータ速度の多様化が可能となる。
In this case, there may be a speed difference between the test pattern signal used in the line test and the signal handled during normal operation. However, the pseudo
また、図15に示すように、図7の構成に対して、受信した信号データからクロックを抽出するクロック抽出回路120を追加することもできる。この場合も、試験信号発生器60、試験信号検出器61及び擬似ランダム信号検出器62において、扱う試験パタンの信号のタイプを一意に決めておくことで、試験パタン信号速度や符号方式の変更を行わずに、伝送装置の同一受信ポートで対応できるデータ速度の多様化が可能となる。
As shown in FIG. 15, a
また、図14及び図15の構成において、図16及び図17に示すように、伝送装置の入出力インタフェースに、入力信号を光−電気変換の後、装置内部へ出力し、また、装置内の電気信号を電気−光変換の後、光信号として装置外部へ出力する光モジュール160を備える構成としてもよい。
14 and 15, as shown in FIGS. 16 and 17, an input signal is output to the input / output interface of the transmission apparatus after photoelectric conversion to the inside of the apparatus. It is good also as a structure provided with the
1〜3 スイッチ
4 擬似ランダム信号発生器
5 擬似ランダム信号検出器
6 スイッチ制御回路
7 入力信号
8 出力信号
9 入力信号
10 出力信号
11 回線試験制御信号
20 セレクタ
21 セレクタ
22 選択制御信号
23 選択制御信号
30 セレクタ
40 クロック抽出回路
41 試験信号検出回路
42 カウンタ
43 保護回路
50 伝送装置
51 伝送装置
52 装置制御端末
60 試験信号発生器
61 試験信号検出器
62 擬似ランダム信号検出器
70 カウンタ
71 擬似ランダムパタン生成器
72 試験認識パタン生成器
73 セレクタ
80 比較回路
81 保護回路
90 擬似ランダム信号検出回路
91 カウンタ
92 保護回路
100 伝送装置
101 伝送装置
110 伝送装置
111 伝送装置
120 クロック抽出回路
130 伝送装置
131 伝送装置
140 伝送装置
141 伝送装置
150 伝送装置
151 伝送装置
160 光モジュール
1 to 3
Claims (5)
該試験パタン信号生成手段が生成した試験パタン信号を検出する試験パタン信号検出手段と、
前記試験パタン信号の受信を認識して装置内部の回線試験設定を行う回線試験設定手段とを備えることを特徴とする回線試験機能を有する伝送装置。 A test pattern signal generating means for generating a test pattern signal;
Test pattern signal detecting means for detecting the test pattern signal generated by the test pattern signal generating means;
A transmission apparatus having a line test function, comprising: line test setting means for recognizing reception of the test pattern signal and performing line test setting inside the apparatus.
前記試験パタン検出手段は、前記ランダムパタン信号を検出することにより、前記試験パタン信号を検出することを特徴とする請求項1に記載の回線試験機能を有する伝送装置。 The test pattern signal generation means generates an arbitrary random pattern signal, outputs the random pattern signal as the test pattern signal,
2. The transmission apparatus having a line test function according to claim 1, wherein the test pattern detection means detects the test pattern signal by detecting the random pattern signal.
前記試験パタン信号検出手段は、前記固定パタン信号を検出する固定パタン検出手段と、前記ランダムパタン信号を検出するランダムパタン検出手段とを備え、前記固定パタン信号及び前記ランダムパタン信号を検出することにより、前記試験パタン信号を検出することを特徴とする請求項1に記載の回線試験機能を有する伝送装置。 The test pattern signal generating means includes a fixed pattern generating means for generating a predetermined fixed pattern signal and a random pattern generating means for generating an arbitrary random pattern signal, and combining the fixed pattern signal and the random pattern signal. Generating the test pattern signal;
The test pattern signal detection means includes a fixed pattern detection means for detecting the fixed pattern signal and a random pattern detection means for detecting the random pattern signal, and detects the fixed pattern signal and the random pattern signal. 2. The transmission apparatus having a line test function according to claim 1, wherein the test pattern signal is detected.
入力信号と前記試験パタン信号を、排他的論理和をとることで比較し、入力信号をビット単位に一致、又は不一致を表すパルス信号を出力する試験信号検出回路と、
該試験信号検出回路から出力されたパルス信号のパルス数をカウントするカウンタと、
該カウンタから出力されたエラーカウント値に基づき、内部で任意の閾値を設けて試験信号検出フラグの発出又は解除を行う保護回路とを備えることを特徴とする請求項1、2又は3に記載の回線試験機能を有する伝送装置。 The test pattern signal detection means includes:
A test signal detection circuit that compares an input signal with the test pattern signal by taking an exclusive OR, and outputs a pulse signal indicating that the input signal matches or does not match in bit units;
A counter for counting the number of pulses of the pulse signal output from the test signal detection circuit;
A protection circuit that issues or cancels a test signal detection flag by providing an arbitrary threshold value based on an error count value output from the counter. Transmission equipment with line test function.
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WO2011027453A1 (en) * | 2009-09-03 | 2011-03-10 | 富士通株式会社 | Control unit, propagation device, and switch control method |
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