JP2007212187A - ステレオ写真計測装置、ステレオ写真計測方法、及びステレオ写真計測プログラム - Google Patents
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Abstract
【課題】2枚の画像データ間で計測対象のエッジを簡単かつ正確に対応付けすることができるステレオ写真計測装置を得る。
【解決手段】本発明のステレオ写真計測装置は、特に、2枚の画像データからマーカを画像処理により認識し、デジタルカメラとマーカとの相対位置関係を求めるカメラ位置認識手段と、設計情報から計測対象の設計上の3次元座標を求め、この設計上の3次元座標及びデジタルカメラとマーカとの相対位置関係から、2枚の画像データ上に計測対象が写る設計上の位置を求め、この位置近傍のエッジ候補を2枚の画像データごとに求めてエッジ候補ペアとする自動対応付け手段と、エッジ候補ペアから三角測量の原理に基づいて計測対象の3次元座標を計算する3次元座標計算手段と、3次元座標計算手段により求めた2つの計測対象の3次元座標を基に、2つの計測対象間の寸法を計算する寸法計算手段とを有する。
【選択図】図2
【解決手段】本発明のステレオ写真計測装置は、特に、2枚の画像データからマーカを画像処理により認識し、デジタルカメラとマーカとの相対位置関係を求めるカメラ位置認識手段と、設計情報から計測対象の設計上の3次元座標を求め、この設計上の3次元座標及びデジタルカメラとマーカとの相対位置関係から、2枚の画像データ上に計測対象が写る設計上の位置を求め、この位置近傍のエッジ候補を2枚の画像データごとに求めてエッジ候補ペアとする自動対応付け手段と、エッジ候補ペアから三角測量の原理に基づいて計測対象の3次元座標を計算する3次元座標計算手段と、3次元座標計算手段により求めた2つの計測対象の3次元座標を基に、2つの計測対象間の寸法を計算する寸法計算手段とを有する。
【選択図】図2
Description
本発明は、互いに離れた2ヶ所からデジタルカメラを用いて撮影された2枚の画像データ間でエッジ候補ペアを求め、このエッジ候補ペアから三角測量の原理に基づいて計測対象の3次元座標を計算し、この3次元座標を基に2つの計測対象間の寸法を求めるステレオ写真計測装置、ステレオ写真計測方法、及びステレオ写真計測プログラムに関するものである。
ステレオ立体視の原理に基づいて写真計測を行う場合に問題になるのが、2枚の画像データ間で計測対象の対応付けを正確に行う作業である。この対応付けは一般には点を単位として行なわれ、高精度に寸法計測を行うには、複数の計測点の数だけ対応付けの手間が必要となる。そこで、この対応付け作業を自動化する方法が幾つか提案されている。例えば、計測対象に光学的に識別可能なターゲットマーカを貼り付け、画像データを計算機で処理することによって計測点を検出し識別情報に従って対応付けを行う方法が提案されている(例えば、特許文献1参照)。
また、視差のある複数の2D画像を用い、三角測量の原理に基づいて計測対象の形状を3D復元する方法がある。この方法では、視差のある複数の2D画像において、対応する特徴点をユーザが指示することが必要である(例えば特許文献2参照)。さらに特徴点でなく、対応するエッジを指示して3Dの線分を復元する方法もある。
しかし、特許文献1に記載の方法では、ターゲットマーカを計測対象に直接貼る必要があるが、計測対象によっては危険な場所や離れた場所にあるために計測対象に近づけず、計測対象にターゲットマーカを直接貼ることが困難な場合があった。
また、視差のある複数の2D画像の対応する特徴点又はエッジを指示して3D復元する方法では、ユーザが目視で画像を対比して対応する特徴点を指示していたため、ユーザの負担が大きかった。さらに、エッジ単位の対応付けによってステレオ写真計測を行う場合は、エッジの端点の一方又は両方が手前の物体に隠されるなどして2枚の画像データ間でエッジが見える部分が異なることがあるために計測対象のエッジを正確に対応付けすることは困難であった。
本発明は、上述のような課題を解決するためになされたもので、その目的は、2枚の画像データ間で計測対象のエッジを簡単かつ正確に対応付けすることができるステレオ写真計測方法を得るものである。
本発明に係るステレオ写真計測方法は、互いに離れた2ヶ所から、デジタルカメラを用いて、基準位置を示すマーカと計測対象とが撮影された2枚の画像データを保持する画像データ保持手段と、計測対象の設計上の位置、計測対象に対するマーカの位置及び方向を含む設計情報を保持する設計情報保持手段と、2枚の画像データからマーカを画像処理により認識し、デジタルカメラとマーカとの相対位置関係を求めるカメラ位置認識手段と、設計情報から計測対象の設計上の3次元座標を求め、この設計上の3次元座標及びデジタルカメラとマーカとの相対位置関係から、2枚の画像データ上に計測対象が写る設計上の位置を求め、この位置近傍のエッジ候補を2枚の画像データごとに求めてエッジ候補ペアとする自動対応付け手段と、エッジ候補ペアから三角測量の原理に基づいて計測対象の3次元座標を計算する3次元座標計算手段と、3次元座標計算手段により求めた2つの計測対象の3次元座標を基に、2つの計測対象間の寸法を計算する寸法計算手段とを有する。本発明のその他の特徴は以下に明らかにする。
本発明により、簡単に2枚の画像データ間で計測対象のエッジを簡単かつ正確に対応付けすることができる。そして、計測対象とともにカメラに写る位置にマーカを1箇所に設置すれば良いため、計測対象にターゲットマーカを直接貼ることができない又は直接貼るのが困難な場合にも、簡単に計測対象間の寸法を計測することができる。また、ユーザが目視で2枚の画像データを対比して対応する特徴点を指示する必要が無いため、ユーザの作業が軽減される。
実施の形態1.
図1は、本発明の実施の形態1に係るステレオ写真計測装置を示すブロック図である。このステレオ写真計測装置は、演算処理装置1と、演算処理装置1で処理する対象データを一時的に保存する一時記憶装置2と、画像データ、カメラ内部パラメータ、設計情報及びプログラムを保持する記憶装置3と、画像データ、設計情報及びオペレータからの情報を入力する入力装置4と、演算処理装置1の指令により画像データ、設計情報及び処理結果を表示する表示装置5とを有する。
図1は、本発明の実施の形態1に係るステレオ写真計測装置を示すブロック図である。このステレオ写真計測装置は、演算処理装置1と、演算処理装置1で処理する対象データを一時的に保存する一時記憶装置2と、画像データ、カメラ内部パラメータ、設計情報及びプログラムを保持する記憶装置3と、画像データ、設計情報及びオペレータからの情報を入力する入力装置4と、演算処理装置1の指令により画像データ、設計情報及び処理結果を表示する表示装置5とを有する。
このステレオ写真計測装置は、直交する面、柱で構成される建屋などの人工物についてその投影図(例えば平面図)に表されている断面構造の寸法を計測するために用いられる。ここでは、工事現場を計測する場合について説明する。
図2は、図1のステレオ写真計測装置に含まれる演算処理装置を示すブロック図である。演算処理装置1は、互いに離れた2ヶ所から、デジタルカメラ6を用いて撮影された工事現場7の2枚の画像データを読み込んで処理する。ここで、工事現場7には、基準位置を示すカメラ外部キャリブレーション用のマーカ8が設置され、画像データは、マーカ8と計測対象とが写り込むように撮影されている。
また、演算処理装置1は、設計情報入力手段9と、レンズ歪み補正手段10と、カメラ位置認識手段11と、自動対応付け手段12と、3次元座標計算手段13と、誤対応検出手段14と、寸法計算手段15と、寸法表示手段16とを有する。
以下、本実施の形態に係るステレオ写真計測方法について、図3に示すフローチャートを参照しながら説明する。
まず、工事現場7の床面の計測対象に対する所定の相対位置に、カメラ外部キャリブレーション用のマーカ8を設置する(ステップS1)。このマーカ8として、例えば、平面形状のものや立体形状のものを用いる。ただし、マーカ8として、可搬品であり、寸法が既知であり、かつ少なくとも直交する2方向の識別が容易なものを用いるのが好ましい。そして、このマーカ8をデジタルカメラ6で撮影することにより、デジタルカメラ6とマーカ8との相対位置関係を正確に求めることができる。ただし、後のステップS6で鉛直エッジを計算するときに、鉛直方向の基準としてこのマーカ8を用いることができるように、ここではマーカ8として直交3軸の識別が容易なものを用いる。
また、マーカ8は、後のステップS6で鉛直エッジの自動対応付けをする場合の拘束条件を生成するために、図面上で特定できる場所、例えば壁の角に沿わせるような場所に設置する。なお、上記の例では、マーカ8として、工事現場7において認識しやすい場所に設置することができる可搬品を用いる場合について説明したが、このような可搬品には限定されず、マーカ8として、工事現場7に埋め込まれたタイルのように、工事現場7における位置関係が明確な場所に固定され、認識が容易なものを用いてもよい。
例えば、エレベータ昇降路の施工調査の場合、図4に示すような平面で白黒の市松模様が描かれているマーカ8を用いる。そして、このマーカ8をエレベータ昇降路の開口部の左端に沿わせて設置する。これにより、画像処理を行うことによって、デジタルカメラ6とマーカ8との相対位置関係及びマーカにより定められる直交3軸を計算することができ、また、昇降路に対するマーカ位置を特定することができる(Intel 0pen CVライブラリ参照)。
図5(a)は、エレベータ昇降路を示す斜視図であり、図5(b)はその平面図である。カメラ外部キャリブレーション用のマーカ8をエレベータ昇降路の開口部の左端(A地点)に沿わせて設置する。マーカ8により定められる直交3軸は、平面図での用紙左右方向をX方向、用紙上下方向(3次元空間での奥行き方向)をY方向、用紙垂直方向(同じく高さ方向)をZ方向とする。施工調査時に計測が必要な寸法は昇降路の幅および奥行き、開口部の左右の壁のせり出し幅、開口部の間口幅であり、撮影位置から見通せる位置にある図中のB、C、E、Fを計測対象とし、BC間をX方向に、BE間をY方向に、BE間をX方向に、FC間をX方向に、EF間をX方向に計測する。
次に、互いに離れた2ヶ所から、デジタルカメラ6を用いて、マーカ8と計測対象とが写り込むように2枚の画像データを撮影する(ステップS2)。この2枚の画像データは、入力装置4から入力され、記憶装置3に格納され、一時記憶装置2上に読み出された上で各種演算がなされる。なお、画像データの1画素に相当するデータ(RGBなどのデータ)は一時記憶装置2の所定の記憶領域に記憶され、演算結果も一時記憶装置2の所定の記憶領域に記憶される。
ここで、計測対象のエッジは鉛直であるとする。建屋などの人工物についてその平面図などに表されている断面構造の寸法を計測する場合、そのキーとなる地点は壁や柱などにより鉛直なエッジで構成されている。昇降路の場合でも、キーとなる計測対象は昇降路の角の地点や乗り場開口部の両端の柱の位置である。ただし、本発明に係る装置、方法およびプログラムでは、エッジの方向は鉛直に限定されず、方向が直接的または間接的に既知である任意のエッジについて適用できる。
図5に示す昇降路の場合は、計測対象であるB、C、E、Fの地点とマーカ8が写るように角度を変えて2ヶ所から撮影する。この撮影した2枚の画像データを図6に示す。
次に、記憶装置3から2枚の画像データとあらかじめ高精度に求めたデジタルカメラ6の内部パラメータを一時記憶装置2に読み出し、レンズ歪み補正手段10により、デジタルカメラ6の内部パラメータを用いて、一時記憶装置2上の画像データについて魚眼レンズによる固有のレンズ歪みを補正する(ステップS3)。補正後の画像データは一時記憶装置2に格納される。なお、デジタルカメラ6の内部パラメータは、コンピュータビジョンの分野で広く用いられているTsaiの手法やZhangの手法などを用いて精度良く求めることができる(Intel 0pen CVライブラリ参照)。
次に、カメラ位置認識手段11により、一時記憶装置2に格納された補正後の2枚の画像データからマーカ8を画像処理により認識して、デジタルカメラ6とマーカ8との相対位置関係を求める(ステップS4)。具体的には、マーカ8により規定される座標系におけるデジタルカメラ6の投影中心の座標と、その視線方向および画素座標軸の方向を求める。例えば、図4に示すマーカを用いた場合、Intel 0pen CVライブラリを用いて相対位置関係を求めることができる。なお、これらの情報に基づく透視投影変換により、マーカ座標系の任意の座標点(X、Y、Z)がカメラ画像中のどの位置に写るかを計算することができる。
次に、入力装置4を用いて設計情報を記憶装置3に格納する。そして、設計情報入力手段9により、記憶装置3から設計情報を入力する(ステップS5)。この設計情報は、計測対象の設計上の位置、計測対象に対するマーカ8の位置および方向、寸法を計測したい計測対象の組合せと計測方向等を含む。計測対象の設計上の位置や計測方向は、工事現場7の3次元空間やその投影図である平面図の図面空間を規定する基準座標系における座標値や方向として、または、マーカ8の位置および方向に基づく座標変換によってマーカ座標系における座標値や方向として表現されていてもよい。例えば、昇降路の場合は、設計情報は、マーカ座標系が図5の平面図での用紙左右方向がX方向、用紙上下方向がY方向、用紙垂直方向がZ方向、Aの地点がマーカ座標系の原点となるようにマーカ8を設置したとして、B、C、E、Fの地点の座標値、マーカ座標系の原点となるAの地点の座標値と前記の設置方法によるマーカ座標軸の方向、BC間のX方向寸法、BE間のY方向寸法、BE間のX方向寸法、EF間のX方向寸法、FC間のX方向寸法を定義する情報を含む。また、以下の説明では、これらの情報はマーカ座標系における座標値や方向として表現されているものとする。
次に、自動対応付け手段12により、一時記憶装置2に格納している設計情報から計測対象の設計上の3次元座標を求め、この設計上の3次元座標及びデジタルカメラ6とマーカ8との相対位置関係から、2枚の画像データ上に計測対象が写る設計上の位置を求め、この位置近傍のエッジ候補を2枚の画像データごとに求めてエッジ候補ペアとする(ステップS6)。ただし、工事現場7は設計情報と大きく乖離しない形状、例えば計測エリアの1%以内の誤差(許容誤差)で施工されていることを前提とする。
ここで、エッジ候補ペアを求める方法について詳細に説明する。まず、それぞれの画像データ上の鉛直エッジの向きを求めるために、デジタルカメラ6とマーカ8との相対位置関係からマーカ8のZ軸に平行な線群の消失点をそれぞれの画像データで求める。ここで、実世界で平行な直線群は画像上では一点で交わる直線群になり、その点のことを消失点と呼ぶ。そして、画像上のある点を通る鉛直エッジの方向は、その点と消失点を結んだ方向になる。
次に、ステップS5で入力した設計情報からマーカ座標系における各計測対象の設計上の3次元座標を求める。そして、この設計上の3次元座標と、ステップS4で求めたデジタルカメラ6とマーカ8との相対位置関係とから、2枚の画像データ上に各計測対象が写る設計上の位置Poを求める。施工図面を平面図とすると、各計測対象の座標値は、XY平面に平行な平面上の3次元の点と考えることができる。ここでは、計測対象の座標値をZ=0の面(マーカが設置されている面)上で説明するが、Z値が任意の面上で説明することもできる。ここで、計測対象(図5の場合、B、C、D、E、F、G)ごと、及び2枚の画像データ上ごとに位置Poを計算するが、以下の説明では1つの計測対象の位置Poについて説明する。
そして、自動対応付け手段12は、図7に示すように、各計測対象が実際にそれぞれの画像のどの部分に写っているかを、Poの周辺の画素値を用いて求める。位置Poと消失点Pbを結び鉛直エッジ方向を求め、その方向に沿ってPoから前後に所定の画素数分、例えば500万画素のデジタルカメラ6を使用した場合は前後50画素だけ延ばした線分のエッジらしさを数値化する。そして、Poを鉛直エッジ方向に垂直な方向へ所定の画素数、例えば500万画素のデジタルカメラ6を使用した場合は左右10画素の幅で細かく移動させて同様にエッジらしさを求める。ここで、画像データ上に計測対象が写る設計上の位置Poの近傍を通る複数の線分について、各線分上における画素の色情報、濃淡情報の濃度変化勾配の合計をエッジらしさと定義する。なお、Poからの距離に応じてガウス分布形状の係数をかけることによって、エッジらしさに重み付けすることもできる。このエッジらしさの高いものから順に並べて、例えば図8に示すようにエッジ候補リストを作成する。そして、最もエッジらしさの高いものをエッジ候補とする。さらに、このエッジ候補を2枚の画像データごとに求めてエッジ候補ペアとする。
次に、自動対応付け手段12により求めて一時記憶装置2に格納しているエッジ候補ペアから、3次元座標計算手段13により、三角測量の原理に基づいて各計測対象の3次元座標を計算する(ステップS7)。具体的には、まず、それぞれの画像データについてデジタルカメラ6とマーカ8との相対位置関係が求まっているので、2枚の画像データを撮影したデジタルカメラ6間の位置関係を導き出す。次に、ステレオ立体視の原理に基づきエッジの両端点のエピポーラ線をそれぞれ求め、エピポーラ線と対応するエッジの交点をエッジ端点に対応する点とすることにより、三角測量の原理に基づいて各計測対象の3次元座標が求まる。
次に、誤対応検出手段14により、3次元座標計算手段13によって求めて一時記憶装置2に格納している各計測対象の3次元座標と、各計測対象の設計上の3次元座標との差が所定の閾値(ステップS6で設定した許容誤差と同じ値)以上である場合に、自動対応付け手段12での対応付けが誤対応と判断する(ステップS8)。
誤対応検出手段14が誤対応と判断した場合は、ステップS6へ戻り、自動対応付け手段12は、エッジ候補ペアの何れか一方のエッジ候補を、次にエッジらしさの高いものに代える。そして、順にステップS7、ステップS8の判定を行う。こうして、計測寸法と施工図面寸法の誤差が閾値より小さくなるまでステップS6〜S8を繰り返す。
一方、誤対応でないと判断した場合は、3次元座標計算手段13によって求めて一時記憶装置2に格納している2つの計測対象の3次元座標を基に、寸法計算手段15により、この2つの計測対象間の寸法を計算する。そして、寸法表示手段16は、各部の寸法線、寸法値をモニター画面等の表示装置5に表示し、オペレータに提示する(ステップS9)。
本実施の形態によれば、簡単に2枚の画像データ間で計測対象のエッジを簡単かつ正確に対応付けすることができる。そして、計測対象とともにカメラに写る位置にマーカを設置すれば良いため、計測対象にターゲットマーカを直接貼ることができない又は直接貼るのが困難な場合にも、簡単に計測対象間の寸法を計測することができる。また、ユーザが目視で2枚の画像データを対比して対応する特徴点を指示する必要が無いため、ユーザの作業が軽減される。
実施の形態2.
本実施の形態は、実施の形態1に比べて自動対応付け手段の機能が異なる。以下、本実施の形態に係るステレオ写真計測方法について、図9に示すフローチャートを参照しながら説明する。ただし、ここでは、図10に示す平面図で与えられた施工図面中で各コーナー点B、C、E、Fが計測対象であり、このうちB、C間の寸法を求める方法について説明する。また、これら計測対象は鉛直のエッジとする。ただし、本発明に係る装置、方法およびプログラムでは、エッジの方向は鉛直に限定されず、方向が直接的または間接的に既知である任意のエッジについて適用できる。
本実施の形態は、実施の形態1に比べて自動対応付け手段の機能が異なる。以下、本実施の形態に係るステレオ写真計測方法について、図9に示すフローチャートを参照しながら説明する。ただし、ここでは、図10に示す平面図で与えられた施工図面中で各コーナー点B、C、E、Fが計測対象であり、このうちB、C間の寸法を求める方法について説明する。また、これら計測対象は鉛直のエッジとする。ただし、本発明に係る装置、方法およびプログラムでは、エッジの方向は鉛直に限定されず、方向が直接的または間接的に既知である任意のエッジについて適用できる。
まず、ステップS1〜S5までは実施の形態1と同様に行う。この後、本実施の形態では、設計情報と2枚の画像データとから、以下のようにエッジ候補ペアを求め、各計測対象の3次元位置を求める。
ここで、マーカの基準座標系20を基準として、施工後の実際の現場を計測して得られる各計測対象の位置と、設計上の各計測対象の位置とを比較した時、現れうる最大誤差Derrを導入する。そして、計測対象の設計上の位置を中心とし、最大誤差Derrを半径とする円筒状(平面図上は円)の領域21〜26を求める。なお、基準座標系20は、設置したマーカから読み取った座標系である。
図11(a)は入力された2つの画像データの一方、図11(b)は他方を示す図である。図11(a)に示すように、デジタルカメラとマーカとの相対位置情報を基に、認識したマーカから求めた基準座標系20と、図10の平面図の基準座標系20とを一致させるように座標変換を行い、計測対象B、Cの円筒状の領域21、22を画像データ上に投影する。ただし、この図では、円筒状の領域21、22をマーカ座標系のZ=0の平面上の円として楕円で表している。図示のように、円筒状の領域21、22の中心線31、32及び外形線33、34、35、36は、鉛直線と平行であるため、消失点を通る。
この外形線33及び34に囲まれる領域と、外形線35及び36に囲まれる領域が、それぞれ円筒状の領域21、22が画像データ上に投影された領域であり、図12(a)の斜線を付した2次元領域51、52である。他方の画像データについても、図11(b)に示すように、円筒状の領域21、22を画像データ上に投影し、その外形線43、44、45、46を求める。そして、図12(b)に示すように、これらの外形線に囲まれる2次元領域61、62を求める(ステップS11)。
次に、各画像データ中で、色情報、濃淡情報から濃度変化勾配が大きな点をつなげたエッジを画像処理により抽出する。さらにこの中から、図13に示すように、所定の閾値以上の直線長さを持つ直線エッジ71〜77、81〜87を求める(ステップS12)。そして、直線エッジにその長さを対応付けて一時記憶装置2に記憶する。
次に、抽出した直線エッジの中で、2次元領域51、52、61、62中に存在する直線エッジを抽出する(ステップS13)。図13の例では、エッジ72〜77、82〜87が抽出される。
次に、計測対象のエッジの向きは鉛直線の方向であることから、ステップS13で抽出した直線エッジの中から鉛直線と平行な方向に近いものを抽出する(ステップS14)。具体的には、鉛直線が消失点を通ることを利用し、図14に示すように、直線エッジの端点と消失点とを結んだ直線91〜94、101〜103が、直線エッジの線分となす角度を求め、この角度が予め定めた角度以下となる直線エッジを鉛直線に平行に近い直線エッジとして抽出する。ここでは、2次元領域51では直線エッジ72と74が抽出され、2次元領域52では直線エッジ75と77が抽出され、2次元領域61では直線エッジ83と84が抽出され、2次元領域62では直線エッジ87が抽出される。
次に、各画像データの計測対象毎に抽出された直線エッジについて、各エッジの長さと、各エッジの向きと鉛直線の向きとの平行度とからエッジらしさを求める。例えば、直線長が長く、鉛直線に対して平行に近いものほどエッジらしさが高いとする。そして、エッジらしさの高いものから順に並べてエッジ候補リストを作成し、一時記憶装置2に記憶する(ステップS15)。
次に、各計測対象について、各画像データの最もエッジらしさの高いエッジをエッジ候補として、これらを組み合わせたエッジ候補ペアを求める(ステップS16)。ここでは、同じ計測対象Bの2次元領域51、61のエッジ候補リストの上位から1つのエッジを選択し、1つのエッジ候補ペアとする。具体的には、2次元領域51中の直線エッジ74と、2次元領域61中の直線エッジ83を選択し、エッジ候補ペアとする。また同様に、計測対象Cの2次元領域52、62の直線エッジ候補リストから、それぞれ直線エッジ77と87を選択し、エッジ候補ペアとする。
次に、各計測対象のエッジ候補ペアと、デジタルカメラ6とマーカ8の相対位置関係に基づき、三角測量の原理により実施の形態1と同様に、各計測対象の3次元座標を求める(ステップS17)。ここでは、直線エッジ74と83とから計測対象Bの3次元座標が、直線エッジ77と87とから計測対象Cの3次元座標が求まる。
図15は、求めた計測対象の3次元座標を図10上にプロットした平面図である。ここでは、直線エッジ74と83とから求まる計測対象Bの3次元座標が点111としてプロットされ、また直線エッジ77と87とから求まる計測対象Cの3次元座標が点112としてプロットされている。
次に、誤対応検出手段14により、3次元座標計算手段13によって求めて一時記憶装置2に格納している各計測対象の3次元座標と、各計測対象の設計上の3次元座標との差が所定の閾値(ステップS6で設定した許容誤差と同じ値)以上である場合に、自動対応付け手段12での対応付けが誤対応と判断する(ステップS18)。そして、誤対応でないと判断した場合は次のステップ(図3のS9)へ進み、誤対応と判断した場合は、次のエッジ候補ペアを設定する(ステップS19)。このとき同じエッジ候補ペアを2度チェックしないようにエッジ候補ペアを管理する。ここでは、点111が円筒状の領域21の外部であるので、計測対象Bについては、次のエッジ候補ペアを設定する。
そして、エッジ候補リストが残存する場合は、ステップS16に戻る(ステップS20)。ここでは、次にエッジが長い直線エッジ84を選択し、直線エッジ74と84とをエッジ候補ペアとして、3次元座標を求める。そして、この3次元座標をプロットしたところ、図15に示すように点113にプロットされ、円筒状の領域21内となることから、この3次元座標を計測対象Bの位置とする。
一方、ステップS20において、エッジ候補リストが残存しない場合は、エッジ抽出の判断基準を下げてステップS12に戻る(ステップS21)。そして、再び直線エッジを抽出する。ただし、この場合、前回抽出したエッジと同じエッジは、出力しないものとする。
以上のステップにより全ての計測対象の位置を求めた上で、計測寸法を計測する(図3のステップS9)。
本実施の形態により、2枚の画像データ中の同一直線上、かつ異なる部分のエッジについてもエッジの対応付けができる。このため、2枚の画像データ間で、計測対象が写る部分が異なる場合にも、3次元直線が求まり計測対象の位置を特定することができる。
実施の形態3.
本実施の形態は、誤対応検出手段14の機能が実施の形態1、2とは異なる。即ち、本実施の形態に係る誤対応検出手段14は、寸法計算手段によって求めた寸法と、2つの計測対象間の設計上の寸法との差が所定の閾値以上である場合に、誤対応と判断する。その他の構成は実施の形態1、2と同様である。これにより、実施の形態1、2と同様の効果を奏する。
本実施の形態は、誤対応検出手段14の機能が実施の形態1、2とは異なる。即ち、本実施の形態に係る誤対応検出手段14は、寸法計算手段によって求めた寸法と、2つの計測対象間の設計上の寸法との差が所定の閾値以上である場合に、誤対応と判断する。その他の構成は実施の形態1、2と同様である。これにより、実施の形態1、2と同様の効果を奏する。
6 デジタルカメラ
8 マーカ
11 カメラ位置認識手段
12 自動対応付け手段
13 3次元座標計算手段
14 誤対応検出手段
15 寸法計算手段
8 マーカ
11 カメラ位置認識手段
12 自動対応付け手段
13 3次元座標計算手段
14 誤対応検出手段
15 寸法計算手段
Claims (8)
- 互いに離れた2ヶ所から、デジタルカメラを用いて、基準位置を示すマーカと計測対象とが撮影された2枚の画像データを保持する画像データ保持手段と、
前記計測対象の設計上の位置、前記計測対象に対する前記マーカの位置及び方向を含む設計情報を保持する設計情報保持手段と、
前記2枚の画像データから前記マーカを画像処理により認識し、前記デジタルカメラと前記マーカとの相対位置関係を求めるカメラ位置認識手段と、
前記設計情報から前記計測対象の設計上の3次元座標を求め、この設計上の3次元座標及び前記デジタルカメラと前記マーカとの相対位置関係から、前記2枚の画像データ上に前記計測対象が写る設計上の位置を求め、この位置近傍のエッジ候補を前記2枚の画像データごとに求めてエッジ候補ペアとする自動対応付け手段と、
前記エッジ候補ペアから三角測量の原理に基づいて前記計測対象の3次元座標を計算する3次元座標計算手段と、
前記3次元座標計算手段により求めた2つの前記計測対象の3次元座標を基に、前記2つの計測対象間の寸法を計算する寸法計算手段とを有することを特徴とするステレオ写真計測装置。 - 前記自動対応付け手段は、前記2枚の画像データ上に前記計測対象が写る設計上の位置の近傍を通り前記計測対象の方向と平行な複数の線分について、各線分上における画素の濃度変化勾配の合計をエッジらしさとして求め、このエッジらしさの高いものから順に並べてエッジ候補リストを作成し、最もエッジらしさの高いものを前記エッジ候補ペアとすることを特徴とする請求項1に記載のステレオ写真計測装置。
- 前記自動対応付け手段は、前記計測対象の設計上の位置を中心とした所定半径の円筒状の領域が前記2枚の画像データ上に投影された2次元領域内に含まれるエッジを画像処理によって求め、各エッジの長さと、各エッジの向きと前記計測対象の方向との平行度とからエッジらしさを求め、このエッジらしさの高いものから順に並べてエッジ候補リストを作成し、最もエッジらしさの高いものを前記エッジ候補ペアとすることを特徴とする請求項1に記載のステレオ写真計測装置。
- 前記3次元座標計算手段によって求めた前記計測対象の3次元座標と、前記計測対象の設計上の3次元座標との差が所定の閾値以上である場合に、誤対応と判断する誤対応検出手段を更に有し、
前記誤対応検出手段が誤対応と判断した場合に、前記自動対応付け手段は、エッジ候補ペアの何れか一方のエッジ候補を、次にエッジらしさの高いものに代えることを特徴とする請求項2又は3に記載のステレオ写真計測装置。 - 前記寸法計算手段によって求めた寸法と、前記2つの計測対象間の設計上の寸法との差が所定の閾値以上である場合に、誤対応と判断する誤対応検出手段を更に有し、
前記誤対応検出手段が誤対応と判断した場合に、前記自動対応付け手段は、エッジ候補ペアの何れか一方のエッジ候補を、次にエッジらしさの高いものに代えることを特徴とする請求項2又は3に記載のステレオ写真計測装置。 - 前記計測対象に対する所定の相対位置に前記マーカを設置するステップと、
互いに離れた2ヶ所から、前記デジタルカメラを用いて、前記マーカと前記計測対象とが写り込むように前記2枚の画像データを撮影するステップと、
請求項1に記載のステレオ写真計測装置を用いて前記2つの計測対象間の寸法を求めることを特徴とするステレオ写真計測方法。 - 前記マーカとして、可搬品であり、寸法が既知であり、かつ少なくとも直交する2方向の識別が容易なものを用いることを特徴とする請求項6に記載のステレオ写真計測方法。
- 計算機を、
互いに離れた2ヶ所から、デジタルカメラを用いて、基準位置を示すマーカと計測対象とが撮影された2枚の画像データを保持する画像データ保持手段と、
前記計測対象の設計上の位置、前記計測対象に対する前記マーカの位置及び方向を含む設計情報を保持する設計情報保持手段と、
前記2枚の画像データから前記マーカを画像処理により認識し、前記デジタルカメラと前記マーカとの相対位置関係を求めるカメラ位置認識手段と、
前記設計情報から前記計測対象の設計上の3次元座標を求め、この設計上の3次元座標及び前記デジタルカメラと前記マーカとの相対位置関係から、前記2枚の画像データ上に前記計測対象が写る設計上の位置を求め、この位置近傍のエッジ候補を前記2枚の画像データごとに求めてエッジ候補ペアとする自動対応付け手段と、
前記エッジ候補ペアから三角測量の原理に基づいて前記計測対象の3次元座標を計算する3次元座標計算手段と、
前記3次元座標計算手段により求めた2つの前記計測対象の3次元座標を基に、前記2つの計測対象間の寸法を計算する寸法計算手段として機能させることを特徴とするステレオ写真計測用プログラム。
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