JP2007173365A - System and method for processing application drying - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は,基板に塗布液を塗布し,その基板を乾燥する塗布乾燥処理システムと,塗布乾燥処理方法に関する。 The present invention relates to a coating / drying processing system for coating a substrate with a coating liquid and drying the substrate, and a coating / drying processing method.
例えば,液晶ディスプレイの製造プロセスのフォトリソグラフィ工程では,ガラス基板上にレジスト液を塗布するレジスト塗布処理と,そのレジスト液が塗布されたガラス基板を乾燥させる乾燥処理が順に行われている。 For example, in a photolithography process of a liquid crystal display manufacturing process, a resist coating process for coating a resist solution on a glass substrate and a drying process for drying the glass substrate coated with the resist solution are sequentially performed.
上述のレジスト塗布処理と乾燥処理は,例えばレジスト塗布処理装置と減圧乾燥処理装置を隣接して備えた基板搬送ラインにおいて,連続的に行われている(特許文献1参照)。 The resist coating process and the drying process described above are continuously performed, for example, in a substrate transfer line provided with a resist coating processing apparatus and a vacuum drying processing apparatus adjacent to each other (see Patent Document 1).
しかしながら,この場合,レジスト塗布処理よりも時間の長い乾燥処理に律束され,基板搬送ラインおける処理タクトが短縮できず,スループットを十分に上げることができなかった。この問題を解決するために,例えば塗布処理ユニットの周囲に隣接するように複数の乾燥処理ユニットを配置し,専用の垂直搬送ユニットによって塗布処理ユニットの基板を各乾燥処理ユニットに搬送することが提案されている(特許文献2参照)。 However, in this case, the drying process has a longer time than the resist coating process, the processing tact in the substrate transfer line cannot be shortened, and the throughput cannot be sufficiently increased. In order to solve this problem, for example, it is proposed to arrange a plurality of drying processing units adjacent to the periphery of the coating processing unit and transport the substrate of the coating processing unit to each drying processing unit by a dedicated vertical transport unit. (See Patent Document 2).
しかしながら,上述の場合,塗布処理ユニットと乾燥処理ユニットの間に大型の専用の垂直搬送ユニットが必要になり,フットプリントが増大する。また,垂直搬送ユニットに対して,基板の搬送先の切り替えなどの厳格な搬送制御を行う必要があるため,その搬送制御のためのコストがかかる。 However, in the above case, a large dedicated vertical transfer unit is required between the coating processing unit and the drying processing unit, and the footprint increases. Further, since it is necessary to perform strict transfer control such as switching of the transfer destination of the substrate with respect to the vertical transfer unit, the cost for the transfer control is required.
本発明は,かかる点に鑑みてなされたものであり,ガラス基板などの基板にレジスト液などの塗布液を塗布し,その基板を乾燥する場合において,上述のような垂直搬送ユニットを用いずに,スループットを向上することをその目的とする。 The present invention has been made in view of such points, and when a coating solution such as a resist solution is applied to a substrate such as a glass substrate and the substrate is dried, the vertical transfer unit as described above is not used. The purpose is to improve the throughput.
上記目的を達成するための本発明は,基板に塗布液を塗布し,その基板を乾燥する塗布乾燥処理システムであって,基板を水平方向に搬送する基板搬送路を備え,前記基板搬送路上には,基板に塗布液を塗布する塗布処理部と,基板を乾燥させる複数の乾燥処理部が上流側から下流側に向けて直列的に設けられ,前記各乾燥処理部は,基板の乾燥処理を行わずに基板を基板搬送路の下流側に通過させる機能と,基板を停止させ基板の乾燥処理を行う機能を有することを特徴とする。 In order to achieve the above object, the present invention provides a coating / drying processing system for applying a coating solution to a substrate and drying the substrate, comprising a substrate transport path for transporting the substrate in a horizontal direction, and on the substrate transport path. Is provided with a coating processing unit for applying a coating solution to a substrate and a plurality of drying processing units for drying the substrate in series from the upstream side to the downstream side, and each of the drying processing units performs drying processing of the substrate. It has a function of passing the substrate to the downstream side of the substrate transport path without performing the process and a function of stopping the substrate and performing a drying process of the substrate.
本発明によれば,塗布処理部のある基板搬送路上に複数の乾燥処理部が設けられ,各乾燥処理部は,基板を通過させることができるので,塗布処理部で連続的に塗布された基板を順次別個の乾燥処理部に搬送して乾燥することができる。このため,基板搬送路における処理タクトを短縮して,スループットを向上できる。また,従来のように垂直搬送ユニットを用いないので,フットプリントを増大することがなく,また,垂直搬送ユニットのための搬送制御のコストも必要ない。 According to the present invention, a plurality of drying processing units are provided on the substrate transport path having the coating processing unit, and each drying processing unit can pass the substrate, so that the substrate coated continuously by the coating processing unit. Can be sequentially transferred to separate drying processing units for drying. For this reason, it is possible to shorten the processing tact in the substrate transport path and improve the throughput. Further, since the vertical transfer unit is not used as in the prior art, the footprint is not increased, and the transfer control cost for the vertical transfer unit is not required.
前記基板搬送路上の塗布処理部には,通過する基板に塗布液を吐出するノズルが設けられていてもよい。 The coating processing unit on the substrate transport path may be provided with a nozzle that discharges the coating liquid onto the substrate passing therethrough.
前記塗布処理部では,前記乾燥処理部の数以下の複数の基板を連続的に搬送し,前記ノズルによる吐出により前記複数の基板に連続的に塗布液を塗布できてもよい。 In the coating processing unit, a plurality of substrates equal to or less than the number of the drying processing units may be continuously conveyed, and the coating solution may be continuously applied to the plurality of substrates by ejection using the nozzles.
前記塗布乾燥処理システムにおいて,前記連続的に塗布液が塗布される複数の基板が,塗布の終了した基板から順に,空の乾燥処理部のうちの最も下流側にある乾燥処理部に搬送されるようにしてもよい。 In the coating / drying processing system, the plurality of substrates to which the coating solution is continuously applied are transported to the drying processing unit located on the most downstream side of the empty drying processing units in order from the substrate on which the coating has been completed. You may do it.
前記塗布処理部において基板に塗布液が塗布されてから前記乾燥処理部において基板の乾燥が開始されるまでの時間が,基板相互間において一定に制御されていてもよい。 The time from when the coating liquid is applied to the substrate in the coating processing unit until the drying of the substrate is started in the drying processing unit may be controlled to be constant between the substrates.
別の観点による本発明は,基板に塗布液を塗布し,その後基板を乾燥する塗布乾燥処理方法であって,基板を水平方向に搬送する基板搬送路上に,基板に塗布液を塗布する塗布処理部と,基板を乾燥させる複数の乾燥処理部が上流側から下流側に向けて直列的に設けられ,前記各乾燥処理部では,基板の乾燥処理を行わずに基板を基板搬送路の下流側に通過させたり,基板を停止させて基板の乾燥処理を行うことを特徴とする。 Another aspect of the present invention is a coating / drying method for applying a coating liquid to a substrate and then drying the substrate, wherein the coating liquid is applied to a substrate on a substrate conveyance path for conveying the substrate in a horizontal direction. And a plurality of drying processing units for drying the substrate are provided in series from the upstream side to the downstream side, and in each of the drying processing units, the substrate is disposed on the downstream side of the substrate transport path without performing the substrate drying process. Or the substrate is stopped and the substrate is dried.
前記塗布処理部において,通過する基板にノズルから塗布液を吐出することによって,基板に塗布液を塗布するようにしてもよい。 In the coating processing unit, the coating liquid may be applied to the substrate by discharging the coating liquid from a nozzle onto the substrate passing therethrough.
前記塗布処理部において,前記乾燥処理部の数以下の複数の基板を連続的に搬送し,前記ノズルによる吐出により前記複数の基板に連続的に塗布液を塗布し,その連続的に塗布液が塗布される複数の基板を,塗布の終了した基板から順に,空の乾燥処理部のうちの最も下流側にある乾燥処理部に搬送し,前記複数の基板をそれぞれ別の乾燥処理部において乾燥するようにしてもよい。 In the coating processing unit, a plurality of substrates equal to or less than the number of the drying processing units are continuously transported, and the coating liquid is continuously applied to the plurality of substrates by ejection by the nozzles. A plurality of substrates to be coated are transported to the drying processing unit located on the most downstream side of the empty drying processing units in order from the substrate on which coating has been completed, and the plurality of substrates are dried in separate drying processing units, respectively. You may do it.
前記塗布処理部において基板に塗布液が塗布されてから前記乾燥処理部において基板の乾燥が開始されるまでの時間を,基板相互間において一定にするようにしてもよい。 The time from when the coating solution is applied to the substrate in the coating processing unit until the drying of the substrate is started in the drying processing unit may be constant between the substrates.
本発明によれば,従来のように垂直搬送ユニットを用いる必要がないので,フットプリントを増大することなく,また搬送制御のためのコストをかけずに,基板処理のスループットを向上できる。 According to the present invention, since it is not necessary to use a vertical transfer unit as in the prior art, the throughput of substrate processing can be improved without increasing the footprint and without cost for transfer control.
以下,本発明の好ましい実施の形態について説明する。図1は,本実施の形態にかかる塗布乾燥処理システムが搭載された塗布現像処理装置1の構成の概略を示す平面図である。 Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described. FIG. 1 is a plan view showing an outline of the configuration of a coating and developing treatment apparatus 1 equipped with a coating and drying treatment system according to the present embodiment.
塗布現像処理装置1は,図1に示すように例えば複数のガラス基板Gをカセット単位で外部に対して搬入出するためのカセットステーション2と,フォトリソグラフィ工程の中で枚葉式に所定の処理を施す各種処理ユニットが配置された処理ステーション3と,処理ステーションに3に隣接して設けられ,処理ステーション3と露光装置4との間でガラス基板Gの受け渡しを行うインターフェイスステーション5とを一体に接続した構成を有している。
As shown in FIG. 1, the coating and developing treatment apparatus 1 includes, for example, a
カセットステーション2には,カセット載置台10が設けられ,当該カセット載置台10は,複数のカセットCをX方向(図1中の上下方向)に一列に載置自在になっている。カセットステーション2には,搬送路11上をX方向に向かって移動可能な基板搬送体12が設けられている。基板搬送体12は,カセットCに収容されたガラス基板Gの配列方向(Z方向;鉛直方向)にも移動自在であり,X方向に配列された各カセットC内のガラス基板Gに対して選択的にアクセスできる。
The
基板搬送体12は,Z軸周りのθ方向に回転可能であり,後述する処理ステーション3側のエキシマUV照射ユニット20や冷却処理ユニット33に対してもアクセスできる。
The
処理ステーション3は,例えばY方向(図1の左右方向)に延びる2列の搬送ラインA,Bを備えている。この搬送ラインA,Bは,コロ搬送やアームによる搬送などにより,ガラス基板Gを水平方向に直線的に搬送できる。処理ステーション3の正面側(X方向負方向側(図1の下側))にある基板搬送路としての搬送ラインAには,カセットステーション2側からインターフェイスステーション5側に向けて順に,例えばガラス基板G上の有機物を除去するエキシマUV照射ユニット20,ガラス基板Gを洗浄するスクラバ洗浄ユニット21,ガラス基板Gを加熱処理する加熱処理ユニット22,ガラス基板Gを冷却処理する冷却処理ユニット23,ガラス基板Gにレジスト液を塗布する塗布処理部としてのレジスト塗布処理ユニット24,ガラス基板Gを減圧乾燥する乾燥処理部としての減圧乾燥ユニット25,26,加熱処理ユニット27,冷却処理ユニット28及び,基板Gを一時的に待機させるアウトステージ29が直線的に一列に配置されている。
The
処理ステーション3の背面側(X方向正方向側(図1の上方側))の搬送ラインBには,インターフェイスステーション5側からカセットステーション2側に向けて順に,例えばガラス基板Gを現像処理する現像処理ユニット30,ガラス基板Gの脱色処理を行うi線UV照射ユニット31,加熱処理ユニット32及び冷却処理ユニット33が直線状に一列に配置されている。
In the transfer line B on the back side of the processing station 3 (positive side in the X direction (upper side in FIG. 1)), for example, development for developing the glass substrate G in order from the interface station 5 side to the
搬送ラインAのアウトステージ29と搬送ラインBの現像処理ユニット32との間には,この間のガラス基板Gの搬送を行う搬送体40が設けられている。この搬送体40は,後述するインターフェイスステーション5のエクステンション・クーリングユニット60に対してもガラス基板Gを搬送できる。
Between the
インターフェイスステーション5には,例えば冷却機能を有しガラス基板Gの受け渡しを行うエクステンション・クーリングユニット60と,ガラス基板Gを一時的に収容するバッファカセット61と,外部装置ブロック62が設けられている。外部装置ブロック62には,ガラス基板Gに生産管理用のコードを露光するタイトラーと,ガラス基板Gの周辺部を露光する周辺露光装置が設けられている。インターフェイスステーション5には,上記エクステンション・クーリングユニット60,バッファカセット61,外部装置ブロック62及び露光装置4に対して,ガラス基板Gを搬送可能な基板搬送体63が設けられている。
The interface station 5 is provided with, for example, an extension /
次に,本実施の形態にかかる塗布乾燥処理システムを構成するレジスト塗布処理ユニット24と減圧乾燥ユニット25,26の構成について説明する。
Next, the configuration of the resist
例えばレジスト塗布処理ユニット24には,例えば図2及び図3に示すように搬送ラインAに沿ったY方向に長いステージ70が設けられている。ステージ70の上面には,図3に示すように多数のガス噴出口71が形成されている。ステージ70の幅方向(X方向)の両側には,Y方向に延びる一対の第1のガイドレール72が形成されている。第1のガイドレール72には,ガラス基板Gの幅方向の両端部を保持して第1のガイドレール72上を移動する2つの保持アーム73,74がそれぞれ設けられている。ガス噴出口71からガスを噴出することにより,ガラス基板Gを浮上させ,その浮上したガラス基板Gを保持アーム73又は74により保持して,ガラス基板Gを搬送ラインAに沿って移動させることができる。2つの保持アーム73,74により,ステージ70上で2枚のガラス基板Gを同時に搬送できる。
For example, the
レジスト塗布処理ユニット24のステージ70上には,ガラス基板Gにレジスト液を吐出するノズル80が設けられている。ノズル80は,例えば図3及び図4に示すようにX方向に向けて長い略直方体形状に形成されている。ノズル80は,例えばガラス基板GのX方向の幅よりも長く形成されている。ノズル80の下端部には,図4に示すようにスリット状の吐出口80aが形成されている。ノズル80の上部には,レジスト液供給源81に通じるレジスト液供給管82が接続されている。
On the
図3に示すようにノズル80の両側には,Y方向に延びる第2のガイドレール83が形成されている。ノズル80は,第2のガイドレール83上を移動するノズルアーム84によって保持されている。ノズル80は,ノズルアーム84の駆動機構により,第2のガイドレール83に沿ってY方向に移動できる。また,例えばノズルアーム84には,昇降機構が設けられており,ノズル80は,所定の高さに昇降できる。かかる構成により,ノズル80は,ガラス基板Gにレジスト液を吐出する吐出位置Eと,それよりY方向負方向側にある後述する回転ロール90及び待機部91との間を移動できる。
As shown in FIG. 3,
図2及び図3に示すようにノズル80の吐出位置Eよりも上流側,つまりノズル80の吐出位置EのY方向負方向側には,ノズル80の試し出しが行われる回転ロール90が設けられている。回転ロール90は,回転軸をX方向に向けて,例えばノズル80よりも長く形成されている。回転ロール90は,例えばこの回転ロール90を洗浄するための洗浄タンク91内に収容されている。回転ロール90の最上部にノズル80の吐出口80aを近接させ,回転ロール90を回転させながら,吐出口80aから回転ロール90にレジスト液を吐出することにより,ノズル80の吐出口80aにおけるレジスト液の付着状態を整えて,レジスト液の吐出状態を安定させることができる。
As shown in FIG. 2 and FIG. 3, a
回転ロール90のさらに上流側には,ノズル80の待機部92が設けられている。この待機部92には,例えばノズル80を洗浄する機能やノズル80の乾燥を防止する機能が設けられている。
A
以上のように構成されたレジスト塗布処理ユニット24より下流側の搬送ラインA,つまりレジスト塗布処理ユニット24からアウトステージ29までの搬送ラインAには,複数のロールRが直線的に並べられており,ガラス基板Gをコロ搬送できる。
A plurality of rolls R are linearly arranged on the transport line A downstream from the resist
減圧乾燥ユニット25,26は,図5に示すようにそのコロ搬送の搬送ラインA上に上流側から下流側に向けて直列的に並べて設けられている。減圧乾燥ユニット25は,ロールR上のガラス基板Gを収容する減圧チャンバ100を備えている。減圧チャンバ100の搬送ラインAの上流側(Y方向負方向側)の側壁には,搬入口101が形成されている。搬入口101には,ゲートバルブ102が設けられている。減圧チャンバ100の下流側(Y方向正方向側)の側壁には,搬出口103が形成されており,その搬出口103には,ゲートバルブ104が設けられている。減圧チャンバ100の上壁には,真空ポンプなどの負圧発生装置105に連通する排気管106が接続されている。ゲートバルブ102,104を閉じて,排気管106から排気することにより,減圧チャンバ100内を減圧して,減圧チャンバ100内のガラス基板Gを乾燥させることができる。また,ゲートバルブ102,104を開放することによって,搬入口101から入って減圧チャンバ100内を通り搬出口103から出る搬送通路を形成できる。
As shown in FIG. 5, the
減圧乾燥ユニット26は,減圧乾燥ユニット25と同様の構成を有している。減圧乾燥ユニット26は,減圧チャンバ110を備え,その減圧チャンバ110の上流側の側壁に,搬入口111とゲートバルブ112を備え,下流側の側壁に搬出口113とゲートバルブ114を備えている。減圧チャンバ110の上壁には,負圧発生装置115に通じる排気管116が接続されている。
The
以上のように減圧乾燥ユニット25,26は,搬送ラインAのロールRに沿って設けられているので,ガラス基板Gを搬入し停止させて乾燥処理を行うことができ,また,ガラス基板Gを乾燥処理せずに下流側に通過させることもできる。
As described above, since the reduced-
なお,搬送アーム73,74の駆動などのレジスト塗布処理ユニット24の動作,減圧乾燥ユニット25,26のゲートバルブや負圧発生装置などの動作及びロールRの動作などは,例えば図1に示す制御部120により制御されている。制御部120は,これらのレジスト塗布ユニット24や減圧乾燥ユニット25,26,ロールRなどの動作を制御して,ガラス基板Gに所定の塗布乾燥処理を施すことができる。
The operation of the resist
次に,以上のように構成された塗布乾燥処理システムにおける塗布乾燥処理のプロセスを,塗布現像処理装置1で行われるフォトリソグラフィー工程のプロセスと共に説明する。 Next, the process of the coating / drying process in the coating / drying processing system configured as described above will be described together with the process of the photolithography process performed in the coating and developing treatment apparatus 1.
先ず,カセットステーション2のカセットC内の複数のガラス基板Gが,基板搬送体12によって,順に処理ステーション3のエキシマUV照射ユニット20に搬送される。ガラス基板Gは,搬送ラインAに沿って,エキシマUV照射ユニット20,スクラバ洗浄ユニット21,加熱処理ユニット22,冷却処理ユニット23,レジスト塗布処理ユニット24及び減圧乾燥ユニット25又は26,加熱処理ユニット27及び冷却処理ユニット28に順に搬送され,各処理ユニットにおいて所定の処理が施される。冷却処理の終了したガラス基板Gは,アウトステージ29に搬送される。その後,ガラス基板Gは,搬送体40によって,インターフェイスステーション5に搬送され,基板搬送体63によって露光装置4に搬送される。
First, a plurality of glass substrates G in the cassette C of the
露光装置4において露光処理の終了したガラス基板Gは,基板搬送体63によってインターフェイスステーション5に戻され,搬送体40によって処理ステーション3の現像処理ユニット30に搬送される。ガラス基板Gは,搬送ラインBに沿って,現像処理ユニット30,i線UV照射ユニット31,加熱処理ユニット32及び冷却処理ユニット33に順に搬送され,各処理ユニットにおいて所定の処理が施される。冷却処理ユニット33において冷却処理の終了したガラス基板Gは,基板搬送体12によってカセットステーション2のカセットCに戻されて,一連のフォトリソグラフィー工程が終了する。
The glass substrate G that has been subjected to the exposure processing in the exposure apparatus 4 is returned to the interface station 5 by the
次に,塗布乾燥処理のプロセスについて説明する。図6〜図9は,かかる塗布乾燥処理の各段階における塗布乾燥処理システムの状態を示す説明図である。 Next, the process of coating and drying will be described. 6-9 is explanatory drawing which shows the state of the coating-drying processing system in each step of this coating-drying process.
先ず,図6(a)に示すように例えば2枚のガラス基板G1,G2が前後に繋がった状態でレジスト塗布処理ユニット24のステージ70上で待機する。このとき,ガラス基板G1,G2は,それぞれ保持アーム73,74によって保持されている。この待機中に,ノズル80は,図2に示すように待機部92から回転ロール90上に移動する。回転ロール90が回転した状態で,ノズル80から回転ロール90にレジスト液が吐出されて,レジスト液の試し出しが行われる。その後,ノズル80が,所定の吐出位置Eに移動する。そして,図6(b)に示すように前のガラス基板G0が減圧乾燥ユニット25から搬出された後に,ステージ70上の2枚のガラス基板G1,G2が,保持アーム73,74によって同時に一体となってY方向正方向側に搬送される。このとき,ノズル80からレジスト液が吐出され,ノズル80の下方を連続して通過するガラス基板G1,G2にレジスト液が連続して塗布される。
First, as shown in FIG. 6A, for example, the apparatus waits on the
前方のガラス基板G1がノズル80の下方を通過し,レジスト液の塗布が終了した時点で,図7(a)に示すようにガラス基板G1は,搬送ラインA上をロールRによって下流側に搬送され,減圧乾燥ユニット25を通過し減圧乾燥ユニット26に搬送される。ガラス基板G1は,図7(b)に示すように減圧チャンバ110の中央のロールR上で停止され,出入口のゲートバルブ112,114が閉じられる。その後,排気管116から減圧チャンバ110内の雰囲気が真空引きされ,減圧チャンバ110内が減圧されて,ガラス基板G1上のレジスト液の乾燥が開始される。
When the front glass substrate G1 passes under the
後方のガラス基板G2は,ガラス基板G1に続いてノズル80の下方を通過する。ノズル80は,レジスト液の吐出を停止することなく,ガラス基板G2にレジスト液を塗布する。ノズル80の下方を通過してレジスト液が塗布されたガラス基板G2は,図8(a)に示すように搬送ラインA上をロールRによって減圧乾燥ユニット25に搬送される。ガラス基板G2の塗布後,ノズル80の吐出は停止され,ノズル80は,一旦待機部92に戻される。
The rear glass substrate G2 passes below the
減圧乾燥ユニット25に搬送されたガラス基板G2は,図8(b)に示すように減圧チャンバ100の中央で停止され,出入口のゲートバルブ102,104が閉じられる。その後,排気管106から減圧チャンバ100内の雰囲気が真空引きされ,減圧チャンバ100内が減圧されて,ガラス基板G2上のレジスト液の乾燥が開始される。なお,ガラス基板G2が減圧乾燥ユニット25に搬送されると,保持アーム73によって次のガラス基板G3がステージ70上に搬入される。
The glass substrate G2 conveyed to the
減圧乾燥ユニット26における所定時間の乾燥処理が終了すると,図9(a)に示すようにゲートバルブ112,114が開放され,ガラス基板G1が搬送ラインA上のロールRにより下流側の加熱処理ユニット27に搬送される。例えばこの時までに,次の2枚のガラス基板G3,G4が上述のガラス基板G1,G2と同様に前後に繋がった状態でステージ70上に待機する。また,ノズル80は,待機部92から回転ロール90上に移動し,試し出しを終えて,吐出位置に戻される。
When the drying process for a predetermined time in the reduced
その後,減圧乾燥ユニット25において乾燥処理が終了すると,図9(b)に示すようにゲートバルブ102,104が開放され,ガラス基板G2が搬送ラインA上のロールRによって,減圧乾燥ユニット26を通過し,加熱処理ユニット27に搬送される。ガラス基板G2が減圧乾燥ユニット25から搬出されると,上述のガラス基板G1,G2と同様に次のガラス基板G3,G4がY方向正方向側に移動し,レジスト液が塗布される。このように,2枚のガラス基板Gの塗布乾燥処理が連続的に繰り返され,所定枚数のガラス基板Gが処理される。なお,この一連の塗布乾燥処理は,制御部120の制御により実現されている。
Thereafter, when the drying process is completed in the
以上の実施の形態によれば,2つの減圧乾燥ユニット25,26を搬送ラインA上に直列的に設けて,時にはガラス基板Gを乾燥処理せずに通過させ,時にはガラス基板Gを乾燥処理できるようにしたので,連続的に塗布処理された2枚のガラス基板G1,G2を,直列配置された各減圧乾燥ユニット26,25に搬送して同時期に乾燥させることができる。このため,乾燥処理時間が塗布処理時間よりも長くても,基板を短いタクトで処理でき,スループットを向上できる。また,従来のように垂直搬送ユニットを用いる必要がないので,装置のフットプリントが増大することがなく,また垂直搬送ユニットの搬送制御のためのコストもかからない。
According to the above embodiment, the two
減圧乾燥ユニットと同じ数の2枚のガラス基板Gを,レジスト塗布処理ユニット24において連続して塗布処理したので,塗布処理終了後直ちに各ガラス基板Gをそれぞれの減圧乾燥ユニットに搬送できる。これにより,塗布処理から乾燥処理までの時間が短縮され,その間の例えば外乱の影響によりレジスト液の塗布状態が変動することが抑制される。
Since the two glass substrates G having the same number as the vacuum drying unit are continuously coated in the resist
また,連続塗布されたガラス基板G1,G2を,空いている下流側の減圧乾燥ユニットから順に入れるようにしたので,総てのガラス基板を減圧乾燥ユニットに収容できる。 In addition, since the continuously applied glass substrates G1 and G2 are put in order from the vacant downstream vacuum drying unit, all the glass substrates can be accommodated in the vacuum drying unit.
以上の実施の形態では,塗布処理の終了したガラス基板G1,G2が順に減圧乾燥ユニット26,25に搬送され,各ガラス基板G1,G2は,減圧乾燥ユニットに搬入されると直ちに乾燥処理が開始されている。このような場合,ガラス基板G1の方がガラス基板G2よりも,減圧乾燥ユニットが遠くにある分,レジスト液が塗布されてから乾燥処理が開始されるまでに時間を要する。このようにレジスト液が塗布されてから乾燥処理が開始されるまでの時間が異なると,例えば乾燥するまでのレジスト液の流動状態や熱履歴が異なるため,最終的に形成されるレジスト膜の膜厚などが基板相互間でばらつくことが考えられる。そこで,このレジスト液が塗布されてから乾燥処理が開始されるまでの所要時間Tが基板相互間で一定になるように制御してもよい。この場合,例えばガラス基板G2が減圧乾燥ユニット25に搬入された後,所定時間待ってから減圧が開始される。例えばガラス基板G1の前記所要時間Tがガラス基板G2より5秒長い場合には,5秒間待ってからガラス基板G2の乾燥処理が開始される。こうすることによって,レジスト液が塗布されてから乾燥処理が開始されるまでの時間が一定になり,各ガラス基板Gに同様のレジスト膜が形成される。
In the above embodiment, the glass substrates G1 and G2 that have been subjected to the coating process are sequentially transferred to the
以上,添付図面を参照しながら本発明の好適な実施の形態について説明したが,本発明はかかる例に限定されない。当業者であれば,特許請求の範囲に記載された思想の範疇内において,各種の変更例または修正例に相到し得ることは明らかであり,それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。 The preferred embodiment of the present invention has been described above with reference to the accompanying drawings, but the present invention is not limited to such an example. It will be apparent to those skilled in the art that various changes and modifications can be made within the scope of the spirit described in the claims, and these are naturally within the technical scope of the present invention. It is understood that it belongs.
例えば以上の実施の形態では,搬送ラインAに2つの減圧乾燥ユニット25,26を直列的に配置していたが,3つ以上の減圧乾燥ユニットを直列的に配置してもよい。この場合,減圧乾燥ユニットの数に応じて,ノズル80による吐出により連続的に塗布されるガラス基板Gの数を設定してもよい。このガラス基板Gの数は,減圧乾燥ユニットの数と同じかそれより少なく設定される。
For example, in the above embodiment, the two
また,レジスト塗布処理ユニット24において,ガラス基板Gは,保持アーム73,74により搬送されていたが,コロ搬送であってもよい。また,減圧乾燥ユニット25,26において,ガラス基板Gは,コロ搬送されていたが,搬送ラインAに沿って移動する搬送アームによって搬送されてもよい。また,ガラス基板Gがノズル80の下方を通過することによってガラス基板Gにレジスト液が塗布されていたが,ノズル80がガラス基板G上を移動することによってガラス基板Gにレジスト液が塗布されてもよい。
In the resist
以上の実施の形態では,減圧乾燥ユニットにおいて,減圧によりガラス基板Gを乾燥させていたが,加熱により乾燥させてもよい。上記実施の形態では,レジスト液の塗布乾燥処理であったが,他の塗布液の塗布乾燥処理にも本発明は適用できる。また,本発明は,ガラス基板G以外の他のFPD(フラットパネルディスプレイ)やフォトマスク用のマスクレチクル,半導体ウェハなどの他の基板に塗布液を塗布し乾燥する場合にも適用できる。 In the above embodiment, the glass substrate G is dried by reduced pressure in the reduced pressure drying unit, but may be dried by heating. In the embodiment described above, the resist solution is applied and dried. However, the present invention can also be applied to other application solutions. The present invention can also be applied to the case where the coating liquid is applied to and dried on other substrates such as an FPD (flat panel display) other than the glass substrate G, a mask reticle for a photomask, and a semiconductor wafer.
本発明は,基板に塗布液を塗布し乾燥させる処理のスループットを向上する際に有用である。 The present invention is useful for improving the throughput of a process of applying a coating liquid to a substrate and drying it.
1 塗布現像処理装置
24 レジスト塗布処理ユニット
25,26 減圧乾燥ユニット
80 ノズル
A 搬送ライン
R ロール
G,G1,G2 ガラス基板
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Coating /
Claims (9)
基板を水平方向に搬送する基板搬送路を備え,
前記基板搬送路上には,基板に塗布液を塗布する塗布処理部と,基板を乾燥させる複数の乾燥処理部が上流側から下流側に向けて直列的に設けられ,
前記各乾燥処理部は,基板の乾燥処理を行わずに基板を基板搬送路の下流側に通過させる機能と,基板を停止させ基板の乾燥処理を行う機能を有することを特徴とする,塗布現像処理システム。 A coating / drying processing system for applying a coating solution to a substrate and drying the substrate,
A board transfer path is provided to transfer the board in the horizontal direction.
On the substrate transport path, a coating processing unit that applies the coating liquid to the substrate and a plurality of drying processing units that dry the substrate are provided in series from the upstream side to the downstream side,
Each of the drying processing units has a function of passing the substrate downstream of the substrate transport path without performing the drying process of the substrate, and a function of stopping the substrate and performing the drying process of the substrate. Processing system.
基板を水平方向に搬送する基板搬送路上に,基板に塗布液を塗布する塗布処理部と,基板を乾燥させる複数の乾燥処理部が上流側から下流側に向けて直列的に設けられ,
前記各乾燥処理部では,基板の乾燥処理を行わずに基板を基板搬送路の下流側に通過させたり,基板を停止させて基板の乾燥処理を行うことを特徴とする,塗布乾燥処理方法。 A coating / drying method of applying a coating solution to a substrate and then drying the substrate,
On the substrate transport path for transporting the substrate in the horizontal direction, a coating processing unit that applies the coating liquid to the substrate and a plurality of drying processing units that dry the substrate are provided in series from the upstream side to the downstream side.
In each of the drying processing sections, the substrate drying process is performed without passing the substrate drying process, or the substrate drying process is performed by stopping the substrate.
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