JP2007133929A - Suspension substrate with circuit - Google Patents

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circuit
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Yasuto Funada
靖人 船田
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Nitto Denko Corp
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Nitto Denko Corp
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a suspension substrate with circuits with which a floating attitude (angle) of a slider with respect to a magnetic disk can be precisely adjusted in spite of the small-sized slider by reducing rigidity of outrigger parts. <P>SOLUTION: A gimbals part 6 of the suspension substrate with circuits 1 is formed of a tongue part 10 on which a magnetic head is mounted, and the outrigger parts 11 arranged on both sides of the tongue part 10, and in the outrigger parts 11, both sides of a conductive layer 4 are covered with cover insulating layers 5 and also all the upper faces of the conductive layers 4 are exposed from the cover insulating layers 5. As a result, the floating attitude (angle) of the slider with respect to the magnetic disk can be precisely adjusted even when the small-sized slider is mounted thereon. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、回路付サスペンション基板、詳しくは、ハードディスクドライブに用いられる回路付サスペンション基板に関する。   The present invention relates to a suspension board with circuit, and more particularly to a suspension board with circuit used for a hard disk drive.

ハードディスクドライブに用いられる回路付サスペンション基板は、磁気ヘッドを支持するサスペンション基板に、その磁気ヘッドとリード・ライト基板とを接続するための配線回路パターンが一体的に形成されている配線回路基板であり、磁気ヘッドと磁気ディスクとが相対的に走行するときの空気流に抗して、磁気ディスクとの間に微小な間隔を保持して、磁気ヘッドの良好な浮上姿勢を得ることができるので、近年、広く普及しつつある。   The suspension board with circuit used in the hard disk drive is a wiring circuit board in which a wiring circuit pattern for connecting the magnetic head and the read / write board is integrally formed on the suspension board that supports the magnetic head. Since the magnetic head and the magnetic disk can move relative to each other and keep a small distance between the magnetic disk and the air flow, a good flying posture of the magnetic head can be obtained. In recent years, it has become widespread.

このような回路付サスペンション基板には、通常、その先端部において、磁気ヘッドを搭載するスライダーを搭載するためのタング部と、そのタング部の幅方向両側に配置され、配線回路パターンが形成されるアウトリガー部とを備えるジンバル部が形成されている。そして、磁気ディスクに対するスライダーの浮上姿勢(角度)を精密に調整するには、このアウトリガー部の剛性が重要な要因となっている。   Such a suspension board with a circuit is usually provided at its front end with a tongue portion for mounting a slider for mounting a magnetic head, and on both sides in the width direction of the tongue portion, and a wiring circuit pattern is formed. A gimbal portion including an outrigger portion is formed. The rigidity of the outrigger portion is an important factor for precisely adjusting the flying posture (angle) of the slider with respect to the magnetic disk.

一方、回路付サスペンション基板は、例えば、ステンレス箔基材の上にポリイミド樹脂からなる絶縁層を有し、その上に銅導体層からなる所定のパターン回路が薄膜として形成され、更に、その上に端子が形成され、端子を除く全表面が、被覆層によって被覆保護されるように、形成されている(例えば、特許文献1参照。)。
特開平10−265572号公報
On the other hand, the suspension board with circuit has, for example, an insulating layer made of polyimide resin on a stainless steel foil base material, and a predetermined pattern circuit made of a copper conductor layer is formed thereon as a thin film. A terminal is formed, and the entire surface except the terminal is formed so as to be covered and protected by a coating layer (see, for example, Patent Document 1).
Japanese Patent Laid-Open No. 10-265572

しかるに、近年、スライダーの小型化に伴なって、磁気ディスクに対するスライダーの浮上姿勢(角度)を、より精密に調整することが求められている。
一方、回路付サスペンション基板のアウトリガー部は、とりわけ、小型のスライダーに用いられるものは、剛性が大きく、浮上姿勢(角度)を精密に調整することが困難である。
However, in recent years, with the miniaturization of the slider, it is required to adjust the flying posture (angle) of the slider with respect to the magnetic disk more precisely.
On the other hand, the outrigger portion of the suspension board with circuit is particularly rigid when used for a small slider, and it is difficult to precisely adjust the flying posture (angle).

本発明の目的は、アウトリガー部の剛性を小さくして、小型のスライダーであっても、磁気ディスクに対するスライダーの浮上姿勢(角度)を、精密に調整することのできる、回路付サスペンション基板を提供することにある。   An object of the present invention is to provide a suspension board with circuit capable of precisely adjusting the flying posture (angle) of a slider with respect to a magnetic disk even with a small slider by reducing the rigidity of an outrigger portion. There is.

上記の目的を達成するため、本発明の回路付サスペンション基板は、金属支持層と、前記金属支持層の上に形成されたベース絶縁層と、前記ベース絶縁層の上に形成された導体層と、前記導体層を被覆するように、前記ベース絶縁層の上に形成されたカバー絶縁層とを備える回路付サスペンション基板において、磁気ヘッドが搭載されるタング部と、前記タング部の両側に設けられたアウトリガ−部とを備え、前記アウトリガー部では、前記導体層の両側面が、前記カバー絶縁層によって被覆されるとともに、前記導体層の上面のすべてが、前記カバー絶縁層から露出していることを特徴としている。   In order to achieve the above object, a suspension board with circuit of the present invention includes a metal support layer, a base insulating layer formed on the metal support layer, and a conductor layer formed on the base insulating layer. A suspension board with a circuit comprising a cover insulating layer formed on the base insulating layer so as to cover the conductor layer; a tongue portion on which a magnetic head is mounted; and provided on both sides of the tongue portion. An outrigger portion, wherein both side surfaces of the conductor layer are covered with the insulating cover layer, and all of the upper surface of the conductive layer is exposed from the insulating cover layer. It is characterized by.

アウトリガー部の剛性を小さくするには、アウトリガー部のカバー絶縁層がない方がよいが、とりわけ微細な配線回路パターンとして形成される導体層では、カバー絶縁層をなくしてしまうと、導体層がベース絶縁層から剥離するおそれがある。
しかるに、本発明の回路付サスペンション基板によると、アウトリガー部において、導体層の上面のすべてがカバー絶縁層から露出しているので、その露出部分のカバー絶縁層がない分、剛性を小さくすることができる。一方、導体層の両側面は、カバー絶縁層によって被覆されているので、導体層のベース絶縁層からの剥離を有効に防止することができる。その結果、アウトリガー部の剛性を小さくすることができながら、導体層のベース絶縁層からの剥離を有効に防止することができる。そのため、小型のスライダーを搭載する場合であっても、磁気ディスクに対するスライダーの浮上姿勢(角度)を、精密に調整することができる。
In order to reduce the rigidity of the outrigger, it is better not to have the cover insulation layer of the outrigger. However, in the case of a conductor layer formed as a fine wiring circuit pattern, if the cover insulation layer is eliminated, the conductor layer becomes the base. There is a risk of peeling from the insulating layer.
However, according to the suspension board with circuit of the present invention, since all of the upper surface of the conductor layer is exposed from the insulating cover layer in the outrigger portion, the rigidity can be reduced by the absence of the exposed insulating cover layer. it can. On the other hand, since both side surfaces of the conductor layer are covered with the insulating cover layer, peeling of the conductive layer from the insulating base layer can be effectively prevented. As a result, it is possible to effectively prevent peeling of the conductor layer from the base insulating layer while reducing the rigidity of the outrigger portion. Therefore, even when a small slider is mounted, the flying posture (angle) of the slider with respect to the magnetic disk can be precisely adjusted.

また、本発明の回路付サスペンション基板において、前記アウトリガー部では、前記導体層の上面と、その導体層の両側に配置されるカバー絶縁層の上面とが、略面一であることが好適である。
導体層の上面がカバー絶縁層の上面よりも高い場合には、導体層の上面に金属めっきするときに、金属めっきがカバー絶縁層の上面にも流出し、互いに隣接する導体層間において、それらの間に配置されるカバー絶縁層の上面に流出した金属めっきにより、短絡するおそれがある。
In the suspension board with circuit of the present invention, it is preferable that, in the outrigger portion, the upper surface of the conductor layer and the upper surfaces of the insulating cover layers disposed on both sides of the conductor layer are substantially flush. .
When the upper surface of the conductor layer is higher than the upper surface of the cover insulating layer, when metal plating is performed on the upper surface of the conductor layer, the metal plating also flows out to the upper surface of the cover insulating layer. There is a risk of short-circuiting due to metal plating that has flowed out to the upper surface of the insulating cover layer disposed therebetween.

また、カバー絶縁層の上面が導体層の上面よりも高い場合には、カバー絶縁層の厚みが厚くなり、アウトリガー部の剛性を小さくすることが困難となる。
しかるに、アウトリガー部において、導体層の上面と、その導体層の両側に配置されるカバー絶縁層の上面とが、略面一であると、導体層の上面に金属めっきするときに、金属めっきがカバー絶縁層の上面に流出しにくくなり、互いに隣接する導体層間における短絡を防止することができる。また、カバー絶縁層の厚みが、必要以上に厚くなることもなく、アウトリガー部の剛性を小さくすることができる。
In addition, when the upper surface of the insulating cover layer is higher than the upper surface of the conductor layer, the insulating cover layer becomes thick and it is difficult to reduce the rigidity of the outrigger portion.
However, in the outrigger portion, when the upper surface of the conductor layer and the upper surface of the cover insulating layer disposed on both sides of the conductor layer are substantially flush, when the metal plating is performed on the upper surface of the conductor layer, the metal plating is performed. It becomes difficult to flow out to the upper surface of the insulating cover layer, and a short circuit between adjacent conductor layers can be prevented. Moreover, the thickness of the insulating cover layer does not become unnecessarily thick, and the rigidity of the outrigger portion can be reduced.

また、本発明の回路付サスペンション基板において、前記アウトリガー部では、前記金属支持層は、前記ベース絶縁層、前記導体層および前記カバー絶縁層と重ならないように、設けられていることが好適である。
アウトリガー部において、金属支持層を、ベース絶縁層、導体層およびカバー絶縁層と重ならないように設けることにより、アウトリガー部の剛性をより一層低下させることができる。
In the suspension board with circuit of the present invention, it is preferable that the metal support layer is provided in the outrigger portion so as not to overlap the base insulating layer, the conductor layer, and the cover insulating layer. .
In the outrigger portion, the rigidity of the outrigger portion can be further reduced by providing the metal support layer so as not to overlap the base insulating layer, the conductor layer, and the cover insulating layer.

本発明の回路付サスペンション基板によれば、アウトリガー部の剛性を小さくすることができながら、導体層のベース絶縁層からの剥離を有効に防止することができる。そのため、小型のスライダーを搭載する場合であっても、磁気ディスクに対するスライダーの浮上姿勢(角度)を、精密に調整することができる。   According to the suspension board with circuit of the present invention, it is possible to effectively prevent the conductor layer from peeling from the base insulating layer while reducing the rigidity of the outrigger portion. Therefore, even when a small slider is mounted, the flying posture (angle) of the slider with respect to the magnetic disk can be precisely adjusted.

図1は、本発明の回路付サスペンション基板の一実施形態を示す平面図、図2は、図1に示す回路付サスペンション基板におけるジンバル部の要部平面図、図3は、(a)では、図2のA−A線断面図を示し、(b)では、図2のB−B線断面図を示す。なお、図3では、後述する種膜16や金属皮膜18は、省略されている。
図1において、この回路付サスペンション基板1は、ハードディスクドライブの磁気ヘッド(図示せず)を実装して、その磁気ヘッドを、磁気ヘッドと磁気ディスクとが相対的に走行するときの空気流に抗して、磁気ディスクとの間に微小な間隔を保持しながら支持するものであり、磁気ヘッドとリード・ライト基板とを接続するための配線回路パターン4a、4b、4cおよび4dが、一体的に形成されている。
FIG. 1 is a plan view showing an embodiment of a suspension board with circuit of the present invention, FIG. 2 is a plan view of a main part of a gimbal portion in the suspension board with circuit shown in FIG. 1, and FIG. 2 is a cross-sectional view taken along line AA in FIG. 2, and FIG. 2B is a cross-sectional view taken along line BB in FIG. In FIG. 3, a seed film 16 and a metal film 18 to be described later are omitted.
In FIG. 1, this suspension board with circuit 1 mounts a magnetic head (not shown) of a hard disk drive, and resists the air flow when the magnetic head and the magnetic disk travel relatively. The wiring circuit patterns 4a, 4b, 4c, and 4d for connecting the magnetic head and the read / write substrate are integrated with each other while maintaining a minute gap between the magnetic disk and the magnetic disk. Is formed.

この回路付サスペンション基板1は、図3に示すように、長手方向に延びる金属支持層としての支持基板2と、その支持基板2の上に形成されたベース絶縁層3と、そのベース絶縁層3の上に配線回路パターンとして形成された導体層4と、その導体層4を被覆するように、ベース絶縁層3の上に形成されたカバー絶縁層5とを備えている。
支持基板2は、図1に示すように、長手方向に沿って略クランク形状に形成され、その先端部(長手方向一端部)には、ジンバル部6が形成され、その後端部(長手方向他端部)には、リード・ライト基板と接続される外部端子部7が形成されている。
As shown in FIG. 3, the suspension board with circuit 1 includes a support substrate 2 as a metal support layer extending in the longitudinal direction, a base insulating layer 3 formed on the support substrate 2, and the base insulating layer 3. A conductive layer 4 formed as a wiring circuit pattern on the upper surface of the insulating layer 3 and an insulating cover layer 5 formed on the insulating base layer 3 so as to cover the conductive layer 4 are provided.
As shown in FIG. 1, the support substrate 2 is formed in a substantially crank shape along the longitudinal direction, and a gimbal portion 6 is formed at a front end portion (one end portion in the longitudinal direction), and a rear end portion (the other in the longitudinal direction). The external terminal portion 7 connected to the read / write substrate is formed at the end).

ベース絶縁層3は、支持基板2の上に連続して形成されており、先端部においては、図2に示すように、後述する磁気ヘッド端子部8に形成され、また、後端部においては、図示しないが、外部端子部7に形成され、それら先端部および後端部の間においては、図2に一部示すように、支持基板2の幅方向(長手方向に直交する方向)両側に互いに所定間隔を隔てて形成されている。   The insulating base layer 3 is continuously formed on the support substrate 2, and at the front end portion, as shown in FIG. 2, is formed on a magnetic head terminal portion 8 to be described later, and at the rear end portion. Although not shown, it is formed in the external terminal portion 7, and between the front end portion and the rear end portion, as shown in part in FIG. 2, on both sides in the width direction (direction perpendicular to the longitudinal direction) of the support substrate 2. They are formed at a predetermined interval from each other.

導体層4は、先端部および後端部の間においては、互いに所定間隔を隔てて形成されているベース絶縁層3の上に、並列配置される複数(各2つ)の配線4a、4b、4cおよび4dからなる配線回路パターンとして形成されている。すなわち、各配線4a、4b、4cおよび4dは、長手方向に沿って設けられ、1対の配線4aおよび4b、4cおよび4dが、幅方向において互いに所定間隔を隔てて、ベース絶縁層3の上に並列配置されている。また、各配線4a、4b、4cおよび4dは、図1に示すように、先端部において、磁気ヘッド端子部8の各端子8a、8b、8cおよび8dに接続され、後端部において、外部端子部7の各端子7a、7b、7cおよび7dに接続されている。   The conductor layer 4 includes a plurality of (two each) wires 4a, 4b arranged in parallel on the base insulating layer 3 formed at a predetermined interval between the front end portion and the rear end portion. It is formed as a wiring circuit pattern composed of 4c and 4d. That is, each of the wirings 4a, 4b, 4c, and 4d is provided along the longitudinal direction, and the pair of wirings 4a, 4b, 4c, and 4d are separated from each other on the base insulating layer 3 by a predetermined distance in the width direction. Are arranged in parallel. Further, as shown in FIG. 1, the wires 4a, 4b, 4c and 4d are connected to the terminals 8a, 8b, 8c and 8d of the magnetic head terminal portion 8 at the front end portion, and are connected to external terminals at the rear end portion. The terminal 7 is connected to the terminals 7a, 7b, 7c and 7d.

また、カバー絶縁層5は、図2に一部示すように、各配線4a、4b、4cおよび4dを被覆するように、ベース絶縁層3の上に、ベース絶縁層3に沿って形成されている。
そして、ジンバル部6は、図2に示すように、回路付サスペンション基板1の先端部であって、その外形形状が、支持基板2が回路付サスペンション基板1の幅方向両外側に膨出するように形成されており、その膨出部分を含む先端部とされている。なお、支持基板2の膨出部分の幅方向長さは、例えば、0.03〜3mm、好ましくは、1〜2.5mmである。
Further, as shown in part of FIG. 2, the insulating cover layer 5 is formed on the insulating base layer 3 along the insulating base layer 3 so as to cover the wirings 4a, 4b, 4c and 4d. Yes.
As shown in FIG. 2, the gimbal portion 6 is the tip of the suspension board with circuit 1, and the outer shape of the gimbal part 6 is such that the support board 2 bulges outward in the width direction of the suspension board with circuit 1. It is made into the front-end | tip part containing the bulging part. In addition, the width direction length of the bulging part of the support substrate 2 is 0.03-3 mm, for example, Preferably, it is 1-2.5 mm.

ジンバル部6において、支持基板2には、平面視略U字状の切欠部9が形成されており、その切欠部9に挟まれる支持基板2の残部が、磁気ヘッドが搭載されるスライダーを実装するための平面視略矩形状のタング部10とされている。
また、タング部10の幅方向両側と、タング部10と長手方向において対向する切欠部9の幅方向両側とが、アウトリガー部11とされている。
In the gimbal portion 6, a substantially U-shaped cutout portion 9 is formed in the support substrate 2 in plan view, and the remaining portion of the support substrate 2 sandwiched between the cutout portions 9 mounts a slider on which a magnetic head is mounted. The tongue portion 10 has a substantially rectangular shape in plan view.
Further, the both sides in the width direction of the tongue portion 10 and the both sides in the width direction of the notch portion 9 facing the tongue portion 10 in the longitudinal direction are the outrigger portions 11.

また、切欠部9およびタング部10よりも先側が、磁気ヘッドと接続するための磁気ヘッド端子部8とされている。
アウトリガー部11において、ベース絶縁層3、各配線4a、4b、4c、4dおよびカバー絶縁層5は、タング部10の幅方向両外側における切欠部9を、長手方向に沿って通過するように2本で形成されており、つまり、アウトリガー部11において、支持基板2と重ならないように配置されている。このように配置することにより、アウトリガー部11の剛性を低下させることができる。
Further, the front side of the notch portion 9 and the tongue portion 10 is a magnetic head terminal portion 8 for connection to the magnetic head.
In the outrigger portion 11, the base insulating layer 3, the wires 4 a, 4 b, 4 c, 4 d and the cover insulating layer 5 are arranged so as to pass through the notches 9 on both outer sides in the width direction of the tongue portion 10 along the longitudinal direction. In other words, the outrigger portion 11 is arranged so as not to overlap the support substrate 2. By arrange | positioning in this way, the rigidity of the outrigger part 11 can be reduced.

アウトリガー部11において、1本のベース絶縁層3の幅方向長さは、0.03〜5mm、好ましくは、1〜3mmである。
また、1本のベース絶縁層3の上に配置される1対の配線4aおよび4b、4cおよび4dの幅は、例えば、10〜150μm、好ましくは、20〜100μm、1対の配線4aおよび4b、4cおよび4dの間の間隔は、例えば、10〜200μm、好ましくは、20〜150μmである。
In the outrigger portion 11, the length in the width direction of one base insulating layer 3 is 0.03 to 5 mm, preferably 1 to 3 mm.
The width of the pair of wirings 4a and 4b, 4c and 4d arranged on one base insulating layer 3 is, for example, 10 to 150 μm, preferably 20 to 100 μm, and the pair of wirings 4a and 4b. The space | interval between 4c and 4d is 10-200 micrometers, for example, Preferably, it is 20-150 micrometers.

そして、このアウトリガー部11において、カバー絶縁層5は、各配線4a、4b、4cおよび4dの両側面を被覆し、かつ、各配線4a、4b、4cおよび4dの上面をすべて露出させるように設けられている。
より具体的には、カバー絶縁層5は、切欠部9を通過する各ベース絶縁層3の上において、各配線4a、4b、4cおよび4dの上方を被覆することなく、各配線4a、4b、4cおよび4dの両側方を被覆するように、1対の配線4aおよび4b、4cおよび4dの両側(5aおよび5cで示される。)と、各配線4a、4b、4cおよび4dの間(5bで示される。)とに形成されている。
In the outrigger portion 11, the insulating cover layer 5 is provided so as to cover both side surfaces of the wirings 4a, 4b, 4c and 4d and to expose all the upper surfaces of the wirings 4a, 4b, 4c and 4d. It has been.
More specifically, the insulating cover layer 5 is formed on the insulating base layer 3 that passes through the notch 9 without covering the wirings 4a, 4b, 4c, and 4d. A pair of wirings 4a and 4b, 4c and 4d (indicated by 5a and 5c) and between each wiring 4a, 4b, 4c and 4d (at 5b) so as to cover both sides of 4c and 4d Is formed).

磁気ヘッド端子部8において、ベース絶縁層3、カバー絶縁層5およびそれらの間に介在される各配線4a、4b、4cおよび4dは、支持基板2の上に形成されている。
磁気ヘッド端子部8において、各配線4a、4b、4cおよび4dの遊端部が、磁気ヘッドと接続するための複数の平面視略矩形状の端子8a、8b、8cおよび8dとされている。各端子8a、8b、8cおよび8dは、タング部10と長手方向において対向する位置に、幅方向に沿って互いに所定間隔を隔てて並列配置されている。
In the magnetic head terminal portion 8, the base insulating layer 3, the cover insulating layer 5, and the wires 4 a, 4 b, 4 c, and 4 d interposed therebetween are formed on the support substrate 2.
In the magnetic head terminal portion 8, the free end portions of the wires 4a, 4b, 4c and 4d are a plurality of terminals 8a, 8b, 8c and 8d having a substantially rectangular shape in plan view for connecting to the magnetic head. Each of the terminals 8a, 8b, 8c and 8d is arranged in parallel at a position facing the tongue 10 in the longitudinal direction at a predetermined interval along the width direction.

また、カバー絶縁層5における各端子8a、8b、8cおよび8dに対応する位置を含む部分は、開口されており、各端子8a、8b、8cおよび8dは、カバー絶縁層5から露出されている。
また、外部端子部7は、図1に示すように、回路付サスペンション基板1の後端部とされている。外部端子部7において、ベース絶縁層3、カバー絶縁層5およびそれらの間に介在される各配線4a、4b、4cおよび4dは、支持基板2の上に形成されている。
Further, portions including positions corresponding to the respective terminals 8a, 8b, 8c and 8d in the insulating cover layer 5 are opened, and the respective terminals 8a, 8b, 8c and 8d are exposed from the insulating cover layer 5. .
Further, the external terminal portion 7 is a rear end portion of the suspension board with circuit 1 as shown in FIG. In the external terminal portion 7, the base insulating layer 3, the cover insulating layer 5, and the wirings 4 a, 4 b, 4 c and 4 d interposed therebetween are formed on the support substrate 2.

外部端子部7において、各配線4a、4b、4cおよび4dの遊端部が、リード・ライト基板と接続するための複数の平面視略矩形状の端子7a、7b、7cおよび7dとされている。各端子7a、7b、7cおよび7dは、幅方向に沿って互いに所定間隔を隔てて並列配置されている。
また、カバー絶縁層5における各端子7a、7b、7cおよび7dに対応する位置を含む部分は、開口されており、各端子7a、7b、7cおよび7dは、カバー絶縁層5から露出されている。
In the external terminal portion 7, the free end portions of the wires 4a, 4b, 4c, and 4d are a plurality of terminals 7a, 7b, 7c, and 7d having a substantially rectangular shape in plan view for connecting to the read / write substrate. . The terminals 7a, 7b, 7c and 7d are arranged in parallel at predetermined intervals along the width direction.
Further, portions including positions corresponding to the terminals 7a, 7b, 7c and 7d in the insulating cover layer 5 are opened, and the terminals 7a, 7b, 7c and 7d are exposed from the insulating cover layer 5. .

次に、この回路付サスペンション基板1の製造方法を、図4〜図6を参照して簡単に説明する。なお、図4〜図6においては、各工程ごとにおいて、その上側に、回路付サスペンション基板1におけるアウトリガー部11が形成される部分を、その回路付サスペンション基板1の長手方向に沿う断面(図2におけるA−A線断面)として示し、その下側に、回路付サスペンション基板1におけるアウトリガー部11が形成される部分を、その回路付サスペンション基板1の幅方向に沿う断面(図2におけるB−B線断面)として示している。   Next, a method for manufacturing the suspension board with circuit 1 will be briefly described with reference to FIGS. 4 to 6, in each step, a portion of the suspension board with circuit 1 where the outrigger portion 11 is formed is a cross section along the longitudinal direction of the suspension board with circuit 1 (FIG. 2). A section of the suspension board with circuit 1 where the outrigger portion 11 is formed is a section along the width direction of the suspension board with circuit 1 (BB in FIG. 2). (Line cross section).

この方法では、まず、図4(a)に示すように、支持基板2を用意する。支持基板2としては、金属箔または金属薄板を用いることが好ましく、例えば、ステンレス、42アロイがなどが好ましく用いられる。また、その厚さが、10〜25μm、さらには、15〜25μm、その幅が、50〜500mm、さらには、125〜300mmのものが好ましく用いられる。   In this method, first, a support substrate 2 is prepared as shown in FIG. As the support substrate 2, it is preferable to use a metal foil or a metal thin plate, for example, stainless steel, 42 alloy, or the like is preferably used. Moreover, the thing whose thickness is 10-25 micrometers, Furthermore, 15-25 micrometers, The width | variety is 50-500 mm, Furthermore, 125-300 mm is used preferably.

次に、この方法では、図4(b)〜図4(d)に示すように、ベース絶縁層3を、上記した所定パターンで形成する。ベース絶縁層3を形成するための絶縁体としては、例えば、ポリイミド樹脂、アクリル樹脂、ポリエーテルニトリル樹脂、ポリエーテルスルホン樹脂、ポリエチレンテレフタレート樹脂、ポリエチレンナフタレート樹脂、ポリ塩化ビニル樹脂などの合成樹脂が挙げられる。これらのうち、上記した所定パターンでベース絶縁層3を形成するためには、感光性の合成樹脂が好ましく用いられ、感光性ポリイミド樹脂がさらに好ましく用いられる。   Next, in this method, as shown in FIGS. 4B to 4D, the base insulating layer 3 is formed in the above-described predetermined pattern. Examples of the insulator for forming the base insulating layer 3 include synthetic resins such as polyimide resin, acrylic resin, polyether nitrile resin, polyether sulfone resin, polyethylene terephthalate resin, polyethylene naphthalate resin, and polyvinyl chloride resin. Can be mentioned. Among these, in order to form the base insulating layer 3 with the predetermined pattern described above, a photosensitive synthetic resin is preferably used, and a photosensitive polyimide resin is more preferably used.

そして、例えば、感光性ポリイミド樹脂を用いて、支持基板2の上に、上記した所定パターンでベース絶縁層3を形成する場合には、まず、図4(b)に示すように、感光性ポリイミド樹脂の前駆体(ポリアミック酸樹脂)の溶液を、その支持基板2の全面に塗工した後、例えば、60〜150℃、好ましくは、80〜120℃で加熱することにより、感光性ポリイミド樹脂の前駆体の皮膜3aを形成する。   For example, in the case where the base insulating layer 3 is formed on the support substrate 2 with the predetermined pattern using the photosensitive polyimide resin, first, as shown in FIG. 4B, the photosensitive polyimide is used. After the resin precursor (polyamic acid resin) solution is applied to the entire surface of the support substrate 2, it is heated at, for example, 60 to 150 ° C, preferably 80 to 120 ° C. A precursor film 3a is formed.

次に、図4(c)に示すように、その皮膜3aを、フォトマスク15を介して露光させ、必要により所定温度に加熱した後、現像することにより、皮膜3aを、上記した所定パターンに形成する。
また、照射された皮膜3aの露光部分は、例えば、130℃以上150℃未満で加熱することにより、次の現像処理において可溶化(ポジ型)し、また、例えば、150℃以上180℃以下で加熱することにより、次の現像処理において不溶化(ネガ型)する。また、現像は、例えば、アルカリ現像液などの公知の現像液を用いる、浸漬法やスプレー法などの公知の方法が用いられる。なお、この方法においては、ネガ型でパターンを得ることが好ましく、図4では、ネガ型でパターンニングする態様として示されている。
Next, as shown in FIG. 4 (c), the coating 3a is exposed through a photomask 15, heated to a predetermined temperature if necessary, and then developed to form the coating 3a into the predetermined pattern described above. Form.
Further, the exposed portion of the irradiated film 3a is solubilized (positive type) in the next development processing by heating at, for example, 130 ° C. or more and less than 150 ° C., and for example, at 150 ° C. or more and 180 ° C. or less. By heating, it is insolubilized (negative type) in the next development process. For the development, for example, a known method such as an immersion method or a spray method using a known developer such as an alkali developer is used. In this method, it is preferable to obtain a negative pattern, and FIG. 4 shows a negative pattern.

そして、図4(d)に示すように、このようにしてパターン化されたポリイミド樹脂の前駆体の皮膜3aを、例えば、最終的に250℃以上に加熱することによって、硬化(イミド化)させ、これによって、ポリイミド樹脂からなるベース絶縁層3を、上記した所定パターンで形成する。
なお、感光性の合成樹脂を用いない場合には、例えば、合成樹脂を、上記した所定パターンのドライフィルムとして予め成形しておき、それを、支持基板2の上に貼着すればよい。
Then, as shown in FIG. 4D, the polyimide resin precursor film 3a thus patterned is cured (imidized) by, for example, finally heating to 250 ° C. or higher. Thereby, the base insulating layer 3 made of polyimide resin is formed in the above-described predetermined pattern.
In the case where the photosensitive synthetic resin is not used, for example, the synthetic resin may be formed in advance as a dry film having the above-described predetermined pattern, and may be attached to the support substrate 2.

また、このようにして形成されるベース絶縁層3の厚みは、例えば、5〜30μm、好ましくは、7〜15μmである。
次いで、この方法では、ベース絶縁層3の上に、上記した配線回路パターンで導体層4を形成する。配線回路パターンとして形成する導体層4は、導体からなり、そのような導体としては、例えば、銅、ニッケル、金、はんだ、またはこれらの合金などが用いられ、好ましくは、銅が用いられる。また、導体層4を形成するには、ベース絶縁層3の表面に、導体層4を、例えば、サブトラクティブ法、アディティブ法などの公知のパターニング法によって、配線回路パターンとして形成すればよい。
Moreover, the thickness of the insulating base layer 3 formed in this way is 5-30 micrometers, for example, Preferably, it is 7-15 micrometers.
Next, in this method, the conductor layer 4 is formed on the insulating base layer 3 with the wiring circuit pattern described above. The conductor layer 4 formed as the wiring circuit pattern is made of a conductor. As such a conductor, for example, copper, nickel, gold, solder, or an alloy thereof is used, and copper is preferably used. In order to form the conductor layer 4, the conductor layer 4 may be formed on the surface of the base insulating layer 3 as a wiring circuit pattern by a known patterning method such as a subtractive method or an additive method.

サブトラクティブ法では、まず、ベース絶縁層3の表面の全面に、必要により接着剤層を介して導体層4を積層し、次いで、この導体層4の上に、配線回路パターンと同一パターンのエッチングレジストを形成し、このエッチングレジストをレジストとして、導体層4をエッチングして、その後に、エッチングレジストを除去するようにする。
また、アディティブ法では、まず、ベース絶縁層3の上に、導体の薄膜からなる種膜を形成し、次いで、この種膜の上に、配線回路パターンと反転パターンでめっきレジストを形成した後、種膜におけるめっきレジストが形成されていない表面に、めっきにより、配線回路パターンとして導体層4を形成し、その後に、めっきレジストおよびそのめっきレジストが積層されていた部分の種膜を除去するようにする。
In the subtractive method, first, the conductor layer 4 is laminated on the entire surface of the base insulating layer 3 through an adhesive layer as necessary, and then the same pattern as the wiring circuit pattern is etched on the conductor layer 4. A resist is formed, the etching resist is used as a resist, the conductor layer 4 is etched, and then the etching resist is removed.
In the additive method, first, a seed film made of a conductive thin film is formed on the base insulating layer 3, and then a plating resist is formed on the seed film with a wiring circuit pattern and a reverse pattern. The conductor layer 4 is formed as a wiring circuit pattern by plating on the surface of the seed film where the plating resist is not formed, and then the plating resist and the seed film where the plating resist is laminated are removed. To do.

これらのパターンニング法のなかでは、微細な配線回路パターンを形成すべく、図4(e)〜図5(i)に示すように、アディティブ法が好ましく用いられる。
すなわち、アディティブ法では、まず、図4(e)に示すように、支持基板2およびベース絶縁層3の全面に、導体の薄膜からなる種膜16を形成する。種膜16の形成は、真空蒸着法、とりわけ、スパッタ蒸着法が好ましく用いられる。また、種膜16となる導体は、クロムや銅などが好ましく用いられる。より具体的には、例えば、支持基板2およびベース絶縁層3の全面に、クロム薄膜と銅薄膜とをスパッタ蒸着法によって、順次形成することが好ましい。なお、クロム薄膜の厚みが、100〜600Å、銅薄膜の厚みが、500〜2000Åであることが好ましい。
Among these patterning methods, the additive method is preferably used as shown in FIGS. 4E to 5I in order to form a fine wiring circuit pattern.
That is, in the additive method, first, as shown in FIG. 4E, a seed film 16 made of a conductive thin film is formed on the entire surface of the support substrate 2 and the base insulating layer 3. For the formation of the seed film 16, a vacuum vapor deposition method, in particular, a sputter vapor deposition method is preferably used. Further, chromium, copper, or the like is preferably used as the conductor that becomes the seed film 16. More specifically, for example, it is preferable to sequentially form a chromium thin film and a copper thin film on the entire surface of the support substrate 2 and the base insulating layer 3 by a sputtering deposition method. In addition, it is preferable that the thickness of the chromium thin film is 100 to 600 mm and the thickness of the copper thin film is 500 to 2000 mm.

次いで、図5(f)に示すように、その種膜16の上に、配線回路パターンと反転パターンのめっきレジスト17を形成する。めっきレジスト17は、例えば、ドライフィルムレジストなどを用いて公知の方法により、上記したレジストパターンとして形成すればよい。次いで、図5(g)に示すように、種膜16におけるめっきレジスト17が形成されていない部分に、めっきにより、配線回路パターンの導体層4を形成する。めっきは、電解めっき、無電解めっきのいずれでもよいが、電解めっきが好ましく用いられ、とりわけ、電解銅めっきが好ましく用いられる。   Next, as shown in FIG. 5F, a plating resist 17 having a wiring circuit pattern and a reverse pattern is formed on the seed film 16. The plating resist 17 may be formed as the above resist pattern by a known method using, for example, a dry film resist. Next, as shown in FIG. 5G, the conductor layer 4 of the wiring circuit pattern is formed by plating on the portion of the seed film 16 where the plating resist 17 is not formed. The plating may be either electrolytic plating or electroless plating, but electrolytic plating is preferably used, and electrolytic copper plating is particularly preferably used.

導体層4の厚みは、例えば、3〜20μm、好ましくは、5〜15μmである。
そして、図5(h)に示すように、めっきレジスト17を、例えば、化学エッチング(ウェットエッチング)などの公知のエッチング法または剥離によって除去した後、図5(i)に示すように、めっきレジスト17が形成されていた部分の種膜16を、同じく、化学エッチング(ウェットエッチング)など公知のエッチング法により除去する。
The thickness of the conductor layer 4 is 3-20 micrometers, for example, Preferably, it is 5-15 micrometers.
Then, as shown in FIG. 5 (h), after removing the plating resist 17 by a known etching method such as chemical etching (wet etching) or peeling, as shown in FIG. 5 (i), the plating resist 17 is removed. Similarly, the seed film 16 in the portion where 17 is formed is removed by a known etching method such as chemical etching (wet etching).

これによって、ベース絶縁層3の上に、導体層4が上記した配線回路パターン(磁気ヘッド端子部8の端子8a、8b、8cおよび8d、および、外部端子部7の端子7a、7b、7cおよび7dを含む。)として形成される。
次いで、図5(j)に示すように、導体層4の表面に、金属皮膜18を形成する。この金属皮膜18は、無電解ニッケルめっきによって、硬質のニッケル薄膜として形成することが好ましく、その厚みは、導体層4の表面が露出しない程度であればよく、例えば、0.05〜0.1μmである。なお、この金属皮膜18は、支持基板2の表面にも形成される。
Thereby, the conductor layer 4 is formed on the insulating base layer 3 on the wiring circuit pattern described above (terminals 8a, 8b, 8c and 8d of the magnetic head terminal portion 8 and terminals 7a, 7b, 7c of the external terminal portion 7 and 7d).
Next, as shown in FIG. 5 (j), a metal film 18 is formed on the surface of the conductor layer 4. The metal film 18 is preferably formed as a hard nickel thin film by electroless nickel plating, and the thickness may be such that the surface of the conductor layer 4 is not exposed. For example, 0.05 to 0.1 μm It is. The metal film 18 is also formed on the surface of the support substrate 2.

次いで、図6(k)〜図6(m)に示すように、導体層4を被覆するためのカバー絶縁層5を、ベース絶縁層3の上に形成する。カバー絶縁層5を形成するための絶縁体としては、ベース絶縁層3と同様の絶縁体が用いられ、好ましくは、感光性ポリイミド樹脂が用いられる。
そして、例えば、感光性ポリイミド樹脂を用いて、カバー絶縁層5を形成する場合には、図6(k)に示すように、ベース絶縁層3および金属皮膜18の上に、感光性ポリイミド樹脂の前駆体(ポリアミック酸樹脂)の溶液を、その全面に塗工した後、例えば、60〜150℃、好ましくは、80〜120℃で加熱することにより、感光性ポリイミド樹脂の前駆体の皮膜5aを形成し、次に、図6(l)に示すように、その皮膜5aを、フォトマスク19を介して露光させ、必要により露光部分を所定の温度に加熱した後、現像することにより、皮膜5aによって、導体層4が被覆される所定パターンとして形成する。
Next, as shown in FIGS. 6 (k) to 6 (m), a cover insulating layer 5 for covering the conductor layer 4 is formed on the base insulating layer 3. As an insulator for forming the insulating cover layer 5, the same insulator as the insulating base layer 3 is used, and preferably a photosensitive polyimide resin is used.
For example, when the insulating cover layer 5 is formed using a photosensitive polyimide resin, the photosensitive polyimide resin is formed on the insulating base layer 3 and the metal film 18 as shown in FIG. After coating the solution of the precursor (polyamic acid resin) on the entire surface, for example, by heating at 60 to 150 ° C., preferably 80 to 120 ° C., the precursor polyimide 5a film is formed. Then, as shown in FIG. 6 (l), the film 5a is exposed through a photomask 19, and the exposed portion is heated to a predetermined temperature as necessary, and then developed, whereby the film 5a is developed. Thus, a predetermined pattern for covering the conductor layer 4 is formed.

また、このカバー絶縁層5のパターン形成においては、上記したように、アウトリガー部11においては、カバー絶縁層5によって、各配線4a、4b、4cおよび4dの両側面を被覆し、かつ、各配線4a、4b、4cおよび4dの上面をすべて露出させるように形成する。
なお、この露光および現像の条件は、ベース絶縁層3を露光および現像する条件と同様の条件でよく、また、ネガ型でパターンを得ることが好ましく、図6においては、ネガ型でパターンニングする態様として示されている。
Further, in the pattern formation of the cover insulating layer 5, as described above, in the outrigger portion 11, the cover insulating layer 5 covers both side surfaces of the wirings 4a, 4b, 4c and 4d, and each wiring It forms so that all the upper surfaces of 4a, 4b, 4c, and 4d may be exposed.
The exposure and development conditions may be the same as the conditions for exposing and developing the base insulating layer 3, and it is preferable to obtain a negative pattern. In FIG. 6, the negative pattern is used for patterning. It is shown as an embodiment.

そして、このようにしてパターン化されたポリイミド樹脂の前駆体の皮膜5aを、図6(m)に示すように、例えば、最終的に250℃以上に加熱することによって、硬化(イミド化)させ、これによって、ポリイミド樹脂からなるカバー絶縁層5を、導体層4を被覆するように、ベース絶縁層3の上に形成する。なお、カバー絶縁層5の厚みは、例えば、2〜25μm、好ましくは、3〜7μmである。   Then, the polyimide resin precursor film 5a thus patterned is cured (imidized), for example, by finally heating to 250 ° C. or higher, as shown in FIG. 6 (m). Thereby, the insulating cover layer 5 made of polyimide resin is formed on the insulating base layer 3 so as to cover the conductor layer 4. The insulating cover layer 5 has a thickness of, for example, 2 to 25 μm, or preferably 3 to 7 μm.

また、カバー絶縁層5は、その厚みが、少なくともアウトリガー部11において、導体層4の厚みと、略同一となるように形成する。
アウトリガー部11において、カバー絶縁層5の厚みが、導体層4の厚みと略同一となるように形成するには、上記したカバー絶縁層5の形成において、乾燥および硬化後の厚みを考慮して、感光性ポリイミド樹脂の前駆体(ポリアミック酸樹脂)の溶液の塗工の厚みを調整すればよい。
The insulating cover layer 5 is formed so that its thickness is substantially the same as the thickness of the conductor layer 4 at least in the outrigger portion 11.
In order to form the cover insulating layer 5 so that the thickness of the insulating cover layer 5 is substantially the same as the thickness of the conductor layer 4 in the outrigger portion 11, in the formation of the insulating cover layer 5 described above, the thickness after drying and curing is taken into consideration. The thickness of the coating of the solution of the precursor of the photosensitive polyimide resin (polyamic acid resin) may be adjusted.

これによって、アウトリガー部11では、導体層4の各配線4a、4b、4cおよび4dの上面と、各配線4a、4b、4cおよび4dの両側に配置されるカバー絶縁層5の上面とが、上下方向においてほぼ同じ位置に配置される。
次いで、図6(n)に示すように、支持基板2を、化学エッチングによって、上記した略U字状の切欠部9が形成されるような所定形状に切り抜いた後、図6(o)に示すように、アウトリガー部11における導体層4の各配線4a、4b、4cおよび4dの上面に形成されている金属皮膜18と、磁気ヘッド端子部8における開口部および外部端子部7における開口部から露出する金属皮膜18とを、化学エッチング(ウェットエッチング)など公知のエッチング法により除去する。なお、このときに、支持基板2の表面に形成されている金属皮膜18も除去される。
Thereby, in the outrigger portion 11, the upper surfaces of the wires 4a, 4b, 4c and 4d of the conductor layer 4 and the upper surfaces of the cover insulating layers 5 arranged on both sides of the wires 4a, 4b, 4c and 4d Arranged at approximately the same position in the direction.
Next, as shown in FIG. 6 (n), the support substrate 2 is cut into a predetermined shape so that the above-described substantially U-shaped notch 9 is formed by chemical etching. As shown, from the metal film 18 formed on the upper surface of each wiring 4a, 4b, 4c and 4d of the conductor layer 4 in the outrigger portion 11, the opening in the magnetic head terminal portion 8 and the opening in the external terminal portion 7 The exposed metal film 18 is removed by a known etching method such as chemical etching (wet etching). At this time, the metal film 18 formed on the surface of the support substrate 2 is also removed.

その後、図示しないが、アウトリガー部11の導体層4、磁気ヘッド端子部8における開口部および外部端子部7における開口部から露出する導体層4に、ニッケルめっき層や金めっき層を、電解ニッケルめっきや電解金めっきにより順次形成することにより、回路付サスペンション基板1を得る。
このような回路付サスペンション基板1では、アウトリガー部11において、導体層4の各配線4a、4b、4cおよび4dの上面のすべてが、カバー絶縁層5から露出しているので、その露出部分のカバー絶縁層5がない分、剛性を小さくすることができる。一方、導体層4の各配線4a、4b、4cおよび4dの両側面は、カバー絶縁層5によって被覆されているので、導体層4の各配線4a、4b、4cおよび4dのベース絶縁層3からの剥離を有効に防止することができる。その結果、アウトリガー部11の剛性を小さくすることができながら、導体層4の各配線4a、4b、4cおよび4dのベース絶縁層3からの剥離を有効に防止することができる。そのため、小型のスライダーを搭載する場合であっても、磁気ディスクに対するスライダーの浮上姿勢(角度)を、精密に調整することができる。
Thereafter, although not shown, a nickel plating layer or a gold plating layer is applied to the conductor layer 4 of the outrigger portion 11, the opening in the magnetic head terminal portion 8 and the conductor layer 4 exposed from the opening in the external terminal portion 7, by electrolytic nickel plating. The suspension board with circuit 1 is obtained by sequentially forming the layers by electrolytic gold plating.
In such a suspension board with circuit 1, all the upper surfaces of the wires 4 a, 4 b, 4 c, and 4 d of the conductor layer 4 are exposed from the insulating cover layer 5 in the outrigger portion 11. Since the insulating layer 5 is not provided, the rigidity can be reduced. On the other hand, since both side surfaces of the wirings 4a, 4b, 4c and 4d of the conductor layer 4 are covered with the cover insulating layer 5, from the base insulating layer 3 of the wirings 4a, 4b, 4c and 4d of the conductor layer 4 Can be effectively prevented. As a result, it is possible to effectively prevent the wiring 4a, 4b, 4c and 4d of the conductor layer 4 from being peeled from the base insulating layer 3 while reducing the rigidity of the outrigger portion 11. Therefore, even when a small slider is mounted, the flying posture (angle) of the slider with respect to the magnetic disk can be precisely adjusted.

また、導体層4の各配線4a、4b、4cおよび4dの上面が、各配線4a、4b、4cおよび4dの両側に配置されるカバー絶縁層5の上面よりも高い場合には、導体層4の各配線4a、4b、4cおよび4dの上面に、ニッケルめっき層や金めっき層を形成するときに、ニッケルや金がカバー絶縁層5の上面にも流出し、互いに隣接する各配線4a、4b、4cおよび4d間において、それらの間に配置されるカバー絶縁層5の上面に流出したニッケルや金により、短絡するおそれがある。   When the upper surface of each wiring 4a, 4b, 4c and 4d of the conductor layer 4 is higher than the upper surface of the cover insulating layer 5 disposed on both sides of each wiring 4a, 4b, 4c and 4d, the conductor layer 4 When a nickel plating layer or a gold plating layer is formed on the upper surface of each of the wirings 4a, 4b, 4c and 4d, nickel and gold also flow out to the upper surface of the cover insulating layer 5, and the wirings 4a, 4b adjacent to each other. There is a risk of short circuit between 4c and 4d due to nickel or gold flowing out on the upper surface of the insulating cover layer 5 disposed between them.

また、カバー絶縁層5の上面が、導体層4の各配線4a、4b、4cおよび4dの上面よりも高い場合には、カバー絶縁層5の厚みが厚くなり、アウトリガー部11の剛性を小さくすることが困難となる。
しかるに、この回路付サスペンション基板1において、アウトリガー部11では、導体層4の各配線4a、4b、4cおよび4dの上面と、各配線4a、4b、4cおよび4dの両側に配置されるカバー絶縁層5の上面とが、略面一に形成されている。そのため、導体層4の各配線4a、4b、4cおよび4dの上面に、ニッケルめっき層や金めっき層を形成するときに、ニッケルや金がカバー絶縁層5の上面に流出しにくくなり、互いに隣接する各配線4a、4b、4cおよび4d間における短絡を防止することができる。また、カバー絶縁層5の厚みが、必要以上に厚くなることもなく、アウトリガー部11の剛性を小さくすることができる。
When the upper surface of the insulating cover layer 5 is higher than the upper surfaces of the wirings 4a, 4b, 4c, and 4d of the conductor layer 4, the insulating cover layer 5 is thicker and the rigidity of the outrigger portion 11 is reduced. It becomes difficult.
However, in the suspension board with circuit 1, in the outrigger portion 11, the upper surface of each wiring 4 a, 4 b, 4 c and 4 d of the conductor layer 4 and the insulating cover layer disposed on both sides of each wiring 4 a, 4 b, 4 c and 4 d The upper surface of 5 is formed substantially flush. Therefore, when a nickel plating layer or a gold plating layer is formed on the upper surface of each wiring 4a, 4b, 4c and 4d of the conductor layer 4, it becomes difficult for nickel or gold to flow out to the upper surface of the cover insulating layer 5, and adjacent to each other. It is possible to prevent a short circuit between the wirings 4a, 4b, 4c and 4d. Moreover, the thickness of the insulating cover layer 5 does not become unnecessarily thick, and the rigidity of the outrigger portion 11 can be reduced.

なお、上記の説明では、アウトリガー部11において、ベース絶縁層3および導体層4の各配線4a、4b、4cおよび4dが、支持基板2と重ならないように、切欠部9を形成したが、ベース絶縁層3および導体層4の各配線4a、4b、4cおよび4dが、支持基板2と重なるように、切欠部9を形成してもよい。   In the above description, the cutout portion 9 is formed in the outrigger portion 11 so that the wirings 4a, 4b, 4c and 4d of the base insulating layer 3 and the conductor layer 4 do not overlap the support substrate 2. The notch 9 may be formed so that the wirings 4 a, 4 b, 4 c and 4 d of the insulating layer 3 and the conductor layer 4 overlap with the support substrate 2.

以下に実施例および比較例を示し、本発明をさらに具体的に説明するが、本発明は、何ら実施例および比較例に限定されることはない。
実施例1
下記の各工程を、ロールツーロール法を用いて実施することにより、回路付サスペンション基板を得た。
Hereinafter, the present invention will be described more specifically with reference to examples and comparative examples. However, the present invention is not limited to the examples and comparative examples.
Example 1
The following steps were performed using a roll-to-roll method to obtain a suspension board with circuit.

幅300mm、厚み20μm、長さ120mのステンレス箔からなる支持基板を用意し(図4(a)参照)、ポリアミック酸樹脂の溶液を、その支持基板の全面に塗工した後、100℃で加熱することにより、厚み25μmのポリアミック酸樹脂の皮膜を形成した(図4(b)参照)。その皮膜を、フォトマスクを介して、720mJ/cmで露光させ、180℃で加熱した後、アルカリ現像液を用いて現像した(図4(c)参照)。その後、最高温度420℃で硬化させることにより、ポリイミド樹脂からなるベース絶縁層を、先端部においては、磁気ヘッド端子部に形成され、また、後端部においては、外部端子部に形成され、それら先端部および後端部の間においては、支持基板の幅方向両側に互いに所定間隔を隔てて形成されるパターンとして、形成した(図4(d)参照)。このベース絶縁層の厚みは、10μmであった。 A support substrate made of a stainless steel foil having a width of 300 mm, a thickness of 20 μm, and a length of 120 m is prepared (see FIG. 4A), and a polyamic acid resin solution is applied to the entire surface of the support substrate and then heated at 100 ° C. As a result, a film of 25 μm thick polyamic acid resin was formed (see FIG. 4B). The film was exposed at 720 mJ / cm 2 through a photomask, heated at 180 ° C., and then developed using an alkali developer (see FIG. 4C). Thereafter, by curing at a maximum temperature of 420 ° C., a base insulating layer made of polyimide resin is formed on the magnetic head terminal portion at the front end portion and formed on the external terminal portion at the rear end portion. Between the front end portion and the rear end portion, it was formed as a pattern formed on both sides in the width direction of the support substrate at a predetermined interval (see FIG. 4D). The insulating base layer had a thickness of 10 μm.

次いで、支持基板およびベース絶縁層の全面に、厚み400Åのクロム薄膜と厚み700Åの銅薄膜とを、スパッタ蒸着法によって順次形成することにより種膜を形成した(図4(e)参照)。その後、種膜の上に、感光性ドライフィルムレジストを積層した後、フォトマスクを介して235mJ/cmで露光させ、アルカリ現像液を用いて未露光部を除去するように現像することにより、配線回路パターンと逆パターンのめっきレジストを形成した(図5(f)参照)。 Next, a seed film was formed by sequentially forming a chromium thin film having a thickness of 400 mm and a copper thin film having a thickness of 700 mm on the entire surface of the support substrate and the base insulating layer by a sputter deposition method (see FIG. 4E). Then, after laminating a photosensitive dry film resist on the seed film, it is exposed at 235 mJ / cm 2 through a photomask and developed to remove the unexposed area using an alkali developer, A plating resist having a pattern opposite to the wiring circuit pattern was formed (see FIG. 5F).

そして、ベース絶縁層におけるめっきレジストが形成されていない部分に、電解銅めっきにより、導体層を配線回路パターンとして形成した(図5(g)参照)。
この配線回路パターンは、先端部および後端部の間においては、互いに所定間隔を隔てて形成されているベース絶縁層の上に、並列配置される各2つの配線からなり、先端部においては、磁気ヘッド端子部の各端子として形成され、後端部においては、外部端子部の各端子として形成した。導体層の厚みは12μmであった。
Then, a conductor layer was formed as a wiring circuit pattern by electrolytic copper plating on a portion of the base insulating layer where the plating resist was not formed (see FIG. 5G).
This wiring circuit pattern is composed of two wirings arranged in parallel on the base insulating layer formed at a predetermined interval between the front end portion and the rear end portion, and at the front end portion, It was formed as each terminal of the magnetic head terminal part, and at the rear end part, it was formed as each terminal of the external terminal part. The thickness of the conductor layer was 12 μm.

その後、めっきレジストを剥離した後(図5(h)参照)、めっきレジストが形成されていた部分の種膜を化学エッチングにより除去した(図5(i)参照)。次いで、導体層の表面に、無電解ニッケルめっきによって、厚み0.1μmの硬質のニッケル薄膜からなる金属皮膜を形成した(図5(j)参照)。なお、金属皮膜は、支持基板の表面にも形成された。   Then, after peeling a plating resist (refer FIG.5 (h)), the seed film of the part in which the plating resist was formed was removed by chemical etching (refer FIG.5 (i)). Next, a metal film made of a hard nickel thin film having a thickness of 0.1 μm was formed on the surface of the conductor layer by electroless nickel plating (see FIG. 5 (j)). The metal film was also formed on the surface of the support substrate.

次いで、ベース絶縁層および金属皮膜の上に、ポリアミック酸樹脂の溶液を、その全面に塗工した後、100℃で加熱することにより、厚み30μmのポリアミック酸樹脂の皮膜を形成し(図6(k)参照)、その皮膜を、フォトマスクを介して、720mJ/cmで露光させ、180℃で加熱した後、アルカリ現像液を用いて現像することにより、皮膜によって導体層が被覆されるようにパターン化した(図6(l)参照)。なお、このパターン化においては、皮膜が、ベース絶縁層の上に形成され、かつ、アウトリガー部においては導体層の各配線の上面がすべて露出され、磁気ヘッド端子部における開口部および外部端子部における開口部が形成されるようにした。その後、最高温度420℃で硬化させることにより、ポリイミド樹脂からなるカバー絶縁層を、所定のパターンで形成した(図6(m)参照)。このカバー絶縁層の厚みは、12μmであり、アウトリガー部では、導体層の各配線の上面と、各配線の両側に配置されるカバー絶縁層の上面とが、略面一に形成された。 Next, a polyamic acid resin solution was applied over the entire surface of the base insulating layer and the metal film, and then heated at 100 ° C. to form a 30 μm thick polyamic acid resin film (FIG. 6 ( k)), the film is exposed to 720 mJ / cm 2 through a photomask, heated at 180 ° C., and then developed with an alkali developer so that the conductor layer is covered with the film. (See FIG. 6 (l)). In this patterning, a film is formed on the base insulating layer, and in the outrigger portion, the upper surface of each wiring of the conductor layer is exposed, and the opening in the magnetic head terminal portion and the external terminal portion are exposed. An opening was formed. Thereafter, a cover insulating layer made of polyimide resin was formed in a predetermined pattern by curing at a maximum temperature of 420 ° C. (see FIG. 6 (m)). The insulating cover layer had a thickness of 12 μm, and in the outrigger portion, the upper surface of each wiring of the conductor layer and the upper surface of the insulating cover layer disposed on both sides of each wiring were formed substantially flush.

次いで、感光性ドライフィルムレジストを、切欠部を形成する部分を除いて、支持基板を被覆するように積層した後、105mJ/cmで露光させ、アルカリ現像液を用いて現像することによりエッチングレジストを形成した後、そのエッチングレジストをレジストとして、塩化第二鉄溶液を用いてエッチングすることにより、切欠部を形成した(図6(n)参照)。 Next, the photosensitive dry film resist is laminated so as to cover the support substrate except for the portion where the notch is to be formed, and then exposed to 105 mJ / cm 2 and developed using an alkali developer to form an etching resist. Then, the etching resist was used as a resist and etching was performed using a ferric chloride solution to form a notch (see FIG. 6 (n)).

その後、アウトリガー部における導体層の各配線の上面に形成されている金属皮膜と、磁気ヘッド端子部における開口部および外部端子部における開口部から露出する金属皮膜とを、化学エッチングにより除去した(図6(o)参照)。なお、このときに、支持基板の表面に形成されている金属皮膜も除去した。
その後、アウトリガー部の導体層、磁気ヘッド端子部における開口部および外部端子部における開口部から露出する導体層に、ニッケルめっき層および金めっき層を、電解ニッケルめっきおよび電解金めっきにより順次形成することにより、回路付サスペンション基板を得た。
Thereafter, the metal film formed on the upper surface of each wiring of the conductor layer in the outrigger part and the metal film exposed from the opening part in the magnetic head terminal part and the opening part in the external terminal part were removed by chemical etching (FIG. 6 (o)). At this time, the metal film formed on the surface of the support substrate was also removed.
Thereafter, a nickel plating layer and a gold plating layer are successively formed by electrolytic nickel plating and electrolytic gold plating on the conductor layer of the outrigger portion, the opening in the magnetic head terminal portion, and the conductor layer exposed from the opening in the external terminal portion. Thus, a suspension board with circuit was obtained.

このようにして得られた回路付サスペンション基板において、アウトリガー部においては、導体層の両側面が、カバー絶縁層によって被覆されるとともに、導体層の上面のすべてが、カバー絶縁層から露出するように形成された。   In the suspension board with circuit thus obtained, in the outrigger portion, both side surfaces of the conductor layer are covered with the insulating cover layer, and all the upper surface of the conductive layer is exposed from the insulating cover layer. Been formed.

本発明の回路付サスペンション基板の一実施形態を示す平面図である。It is a top view which shows one Embodiment of a suspension board with a circuit of this invention. 図1に示す回路付サスペンション基板におけるジンバル部の要部平面図である。It is a principal part top view of the gimbal part in the suspension board with a circuit shown in FIG. 図2に示す回路付サスペンション基板のジンバル部において、(a)は、図2のA−A線断面図を示し、(b)は、図2のB−B線断面図を示す。In the gimbal portion of the suspension board with circuit shown in FIG. 2, (a) shows a cross-sectional view taken along line AA in FIG. 2, and (b) shows a cross-sectional view taken along line BB in FIG. 図1に示す回路付サスペンション基板の製造方法を示す製造工程図であって、(a)は、支持基板を用意する工程、(b)は、感光性ポリイミド樹脂の前駆体の溶液を、支持基板の全面に塗工した後、加熱することにより、感光性ポリイミド樹脂の前駆体の皮膜を形成する工程、(c)は、皮膜を、フォトマスクを介して露光させ、現像することにより、所定のパターンに形成する工程、(d)は、皮膜を硬化させ、ポリイミド樹脂からなるベース絶縁層を所定のパターンで形成する工程、(e)は、支持基板およびベース絶縁層の全面に、導体の薄膜からなる種膜を形成する工程を示す。It is a manufacturing process figure which shows the manufacturing method of the suspension board | substrate with a circuit shown in FIG. 1, Comprising: (a) is a process which prepares a support substrate, (b) is a solution of the precursor of a photosensitive polyimide resin, a support substrate. (C) is a step of forming a film of a precursor of a photosensitive polyimide resin by heating after coating on the entire surface, and exposing the film through a photomask and developing the film. A step of forming a pattern, (d) a step of curing the film and forming a base insulating layer made of polyimide resin in a predetermined pattern, and (e) a conductive thin film on the entire surface of the support substrate and the base insulating layer. The process of forming the seed film | membrane which consists of is shown. 図4に続いて、図1に示す回路付サスペンション基板の製造方法を示す製造工程図であって、(f)は、種膜の上に配線回路パターンと反転パターンのめっきレジストを形成する工程、(g)は、ベース絶縁層におけるめっきレジストが形成されていない部分に、めっきにより、配線回路パターンの導体層を形成する工程、(h)は、めっきレジストを除去する工程、(i)は、めっきレジストが形成されていた部分の種膜を除去する工程、(j)は、導体層の表面および支持基板の表面に、金属皮膜を形成する工程を示す。FIG. 4 is a manufacturing process diagram illustrating a manufacturing method of the suspension board with circuit shown in FIG. 1 following FIG. 4, wherein (f) is a step of forming a plating resist having a wiring circuit pattern and a reverse pattern on the seed film; (G) is a step of forming a conductive layer of the wiring circuit pattern by plating on a portion of the base insulating layer where the plating resist is not formed, (h) is a step of removing the plating resist, and (i) (J) shows the process of forming a metal film on the surface of a conductor layer and the surface of a support substrate, The process of removing the seed film of the part in which the plating resist was formed. 図5に続いて、図1に示す回路付サスペンション基板の製造方法を示す製造工程図であって、(k)は、ベース絶縁層および金属皮膜の上に、感光性ポリイミド樹脂の前駆体の溶液を、その全面に塗工した後、加熱することにより、感光性ポリイミド樹脂の前駆体の皮膜を形成する工程、(l)は、皮膜を、フォトマスクを介して露光させ、現像することにより、皮膜によって、導体層が被覆されるようにパターン化する工程、(m)は、皮膜を硬化させ、ポリイミド樹脂からなるカバー絶縁層を、導体層を被覆するようにベース絶縁層の上に形成する工程、(n)は、支持基板を、切欠部が形成されるように切り抜く工程、(o)は、金属皮膜を除去する工程を示す。FIG. 6 is a manufacturing process diagram illustrating a manufacturing method of the suspension board with circuit shown in FIG. 1 following FIG. 5, wherein (k) is a solution of a precursor of a photosensitive polyimide resin on the base insulating layer and the metal film. Is applied to the entire surface and then heated to form a film of a precursor of the photosensitive polyimide resin, (l) is to expose the film through a photomask and develop it, The step of patterning the conductor layer so as to cover the conductor layer by coating (m) is to cure the coat and form a cover insulating layer made of polyimide resin on the base insulating layer so as to cover the conductor layer. Step (n) is a step of cutting out the support substrate so that a notch is formed, and (o) is a step of removing the metal film.

符号の説明Explanation of symbols

1 回路付サスペンション基板
2 支持基板
3 ベース絶縁層
4 導体層
5 カバー絶縁層
10 タング部
11 アウトリガ−部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Suspension board with a circuit 2 Support board 3 Base insulating layer 4 Conductor layer 5 Cover insulating layer 10 Tongue part 11 Outrigger part

Claims (3)

金属支持層と、前記金属支持層の上に形成されたベース絶縁層と、前記ベース絶縁層の上に形成された導体層と、前記導体層を被覆するように、前記ベース絶縁層の上に形成されたカバー絶縁層とを備える回路付サスペンション基板において、
磁気ヘッドが搭載されるタング部と、前記タング部の両側に設けられたアウトリガ−部とを備え、
前記アウトリガー部では、前記導体層の両側面が、前記カバー絶縁層によって被覆されるとともに、前記導体層の上面のすべてが、前記カバー絶縁層から露出していることを特徴とする、回路付サスペンション基板。
A metal support layer, a base insulating layer formed on the metal support layer, a conductor layer formed on the base insulating layer, and on the base insulating layer so as to cover the conductor layer In the suspension board with circuit comprising the insulating cover layer formed,
A tongue portion on which a magnetic head is mounted; and an outrigger portion provided on both sides of the tongue portion;
In the outrigger portion, both sides of the conductor layer are covered with the insulating cover layer, and all of the upper surface of the conductive layer is exposed from the insulating cover layer. substrate.
前記アウトリガー部では、前記導体層の上面と、その導体層の両側に配置されるカバー絶縁層の上面とが、略面一であることを特徴とする、請求項1に記載の回路付サスペンション基板。   2. The suspension board with circuit according to claim 1, wherein in the outrigger portion, an upper surface of the conductor layer and an upper surface of a cover insulating layer disposed on both sides of the conductor layer are substantially flush with each other. . 前記アウトリガー部では、前記金属支持層は、前記ベース絶縁層、前記導体層および前記カバー絶縁層と重ならないように、設けられていることを特徴とする、請求項1または2に記載の回路付サスペンション基板。   3. The circuit-attached circuit according to claim 1, wherein in the outrigger portion, the metal support layer is provided so as not to overlap the base insulating layer, the conductor layer, and the cover insulating layer. Suspension board.
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