JP2007081356A - Adjusting/positing apparatus and method for tape reel standard - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は一種のテープリール規格の調整/定位装置及び方法に関し、特に一種のスピーディーなテープリール規格の調整/定位装置及び方法に係る。 The present invention relates to a kind of tape reel standard adjustment / positioning apparatus and method, and more particularly to a kind of speedy tape reel standard adjustment / positioning apparatus and method.
ICは製造、封入、テストを経た後、テストを通過したICは通常、運搬と使用の利便性を図るため、テープリールの形式により包装される。しかし、業界で使用されるテープリールの規格は様々であり、テープリール規格を設定し定位を行うため、テープリール包装を行う前には必ずプレ作業を必要とする。そして定位完成後に初めて後続のオートメーション作業を行うことができるのである。
図1に示す公知のテープリール規格調整/定位装置のテープリール12上方は画像検査測定器11(CCD画像検査測定器など)で、主に設置されたICにピンの欠陥がないかどうか、或いは反対に設置されていないかどうかを検査するものである。該テープリール12の反対端には中孔検査測定器14及びチェイン孔検査測定器15を具える。
After the IC is manufactured, encapsulated, and tested, the IC that passes the test is usually packaged in the form of a tape reel for convenience of transportation and use. However, there are various tape reel standards used in the industry, and since the tape reel standards are set and localized, pre-work is always required before tape reel packaging. Only after the localization is complete can subsequent automation work be performed.
Above the
図2はテープリール中の2個の空ケースを示す。該各1個の空ケース中には中孔13を具え、隣り合った中孔の距離Aはテープリールのピッチ規格である。業界で最も広く使用されているピッチ規格は8、12、16、20mm規格である。隣り合ったチェイン孔16間の距離Bは通常は4mmに固定されており、該中孔13と最も近いチェイン孔16との間の水平距離Cは2mmである。
FIG. 2 shows two empty cases in the tape reel. Each one empty case has a
図1に示すように、公知のテープリール包装設備においては、テープリール包装を行う前の調整定位作業は通常、2段階により完成される。
先ず、該中孔13を該画像検査測定器11に合わせ、該中孔検査測定器14は別の中孔13を探知する。
次に、該テープリール12を微調整し、該チェイン孔検査測定器15に該チェイン孔16を探知させる。こうしてテープリールの規格調整と定位作業を完成することができる。
しかしこの種の公知の2段階定位調整は非常に多くの時間と人力を必要とし、生産拡大を阻む要因となっている。しかも、公知のテープリール包装設備は非常に多くの検査測定器を使用するため、いたずらに設備とメンテナンスコストを増大させている。
As shown in FIG. 1, in a known tape reel packaging facility, the adjustment and positioning operation before tape reel packaging is usually completed in two stages.
First, the
Next, the
However, this kind of known two-stage localization adjustment requires a great deal of time and manpower, and is a factor that hinders production expansion. In addition, since the known tape reel packaging equipment uses a large number of inspection and measuring instruments, the equipment and maintenance costs are unnecessarily increased.
本発明は上記構造の問題点を解決し、作業速度を高速化し、コストを低廉化し、生産能力を拡大する全く新しくかつスピーディーなテープリール規格の調整/定位装置及び方法を提供するものである。 The present invention provides a completely new and speedy tape reel standard adjustment / positioning apparatus and method that solves the problems of the above structure, increases the working speed, reduces the cost, and expands the production capacity.
本発明は下記のテープリール規格の調整/定位装置及び方法を提供する。
それは主に画像検査測定器、検査測定器を含み、
該画像検査測定器はテープリールの上方に位置し、該検査測定器はテープリールの中孔を検査測定し、該画像検査測定器と該中孔検査測定器間には固定距離を具え、該固定距離と各種テープリール規格間には倍数関係があり、例えば該固定距離は各テープリール規格の公倍数。
The present invention provides the following tape reel standard adjustment / positioning apparatus and method.
It mainly includes image inspection measuring instrument, inspection measuring instrument,
The image inspection / measuring instrument is positioned above the tape reel, the inspection / measuring instrument inspects and measures a hole in the tape reel, and a fixed distance is provided between the image inspection / measuring instrument and the inner hole inspection / measuring instrument. There is a multiple relationship between the fixed distance and various tape reel standards. For example, the fixed distance is a common multiple of each tape reel standard.
該画像検査測定器の中心は該テープリールの中心に対応し、該画像検査測定器と該中孔検査測定器をある固定距離に固定し、かつ該固定距離と該各テープリール規格間には倍数関係を具え、該中孔検査測定器は別の中孔を検査測定し、テープリール包装のプレ包装定位作業を完成することを特徴とするテープリール規格の調整/定位装置及び方法である。 The center of the image inspection / measuring instrument corresponds to the center of the tape reel, the image inspection / measuring instrument and the bore inspection / measuring instrument are fixed at a fixed distance, and between the fixed distance and each tape reel standard A tape reel standard adjustment / positioning apparatus and method characterized by having a multiple relationship, and the medium hole inspection / measuring instrument inspects and measures another medium hole and completes a pre-packaging localization operation for tape reel packaging.
請求項1の発明は、テープリール規格の調整/定位装置であり、画像検査測定器及び検査測定器を包含し、該テープリールには並列の空ケースを具え、該各空ケースの底部には中孔を具え、該テープリール規格とは相互に隣り合った中孔間のピッチを指し、かつ該ピッチは各種規格が可能で、画像検査測定器は該テープリールの上方に位置し、該画像検査測定器の中心は該テープリールの各中孔の延長線上に対応し、検査測定器は発射器とセンサーを具え、それぞれ該テープリールの上、下方に位置し、該中孔を検査測定し、該画像検査測定器と該中孔検査測定器間には固定距離を具え、該固定距離は各種テープリール規格のピッチの公倍数であることを特徴とする、テープリール規格の調整/定位装置及び方法としている。
請求項2の発明は、請求項1記載のテープリール規格の調整/定位装置及び方法において、更に切換えユニットを具え、該検査測定器の位置を移動切替え、これにより該画像検査測定器と該中孔検査測定器間の距離は移動されることを特徴とする、テープリール規格の調整/定位装置及び方法としている。
請求項3の発明は、請求項2記載のテープリール規格の調整/定位装置及び方法において、前記切替えユニットはプラットフォーム、定位ボール、バネを包含し、
該プラットフォーム上には2個の凹槽を具え、該2個の凹槽間の距離は該画像検査測定器と該中孔検査測定器間の距離値から該テープリール規格の倍数値を引いたもので、該定位ボールは該凹槽の内の1個に位置し、該バネの一端は該定位ボールに接続し、反対端は該検査測定器に接続することを特徴とする、テープリール規格の調整/定位装置及び方法としている。
請求項4の発明は、テープリール規格の調整/定位装置であり、該テープリールには並列した空ケースを具え、該各空ケースの底部には中孔を具え、画像検査測定器の中心は該中孔に対応し、該画像検査測定器と検査測定器をある固定距離に固定し、かつ該固定距離は各種テープリール規格の孔距離の公倍数で、該検査測定器が別の中孔を探知するまで検査測定することを特徴とする、テープリール規格の調整/定位装置及び方法としている。
請求項5の発明は、請求項4記載のテープリール規格の調整/定位装置及び方法において、前記検査測定器は発射器とセンサーを包含し、それぞれ該テープリールの上、下方に位置することを特徴とする、テープリール規格の調整/定位装置及び方法としている。
請求項6の発明は、請求項4記載のテープリール規格の調整/定位装置及び方法において、前記検査測定器の位置を移動、切り替えることにより、前記画像検査測定器と前記検査測定器間の距離を変更可能であることを特徴とする、テープリール規格の調整/定位装置及び方法としている。
The invention of claim 1 is a tape reel standard adjustment / positioning device, including an image inspection measuring device and an inspection measuring device, wherein the tape reel is provided with parallel empty cases, and at the bottom of each empty case. The tape reel standard refers to the pitch between adjacent hole holes, and the pitch can be various standards, and the image inspection measuring instrument is located above the tape reel, The center of the inspection measuring device corresponds to the extension line of each hole of the tape reel, and the inspection measuring device includes a launcher and a sensor, which are located above and below the tape reel, respectively, for inspecting and measuring the inner hole. A tape reel standard adjusting / localizing device, characterized in that a fixed distance is provided between the image inspection measuring instrument and the bore inspection measuring instrument, and the fixed distance is a common multiple of pitches of various tape reel standards; It's a way.
According to a second aspect of the present invention, there is provided a tape reel standard adjusting / localizing apparatus and method according to the first aspect, further comprising a switching unit for moving and switching the position of the inspection / measuring instrument. The tape reel standard adjustment / positioning apparatus and method are characterized in that the distance between the hole inspection measuring instruments is moved.
According to a third aspect of the present invention, in the tape reel standard adjusting / localizing apparatus and method according to the second aspect, the switching unit includes a platform, a localization ball, and a spring.
Two concave tanks are provided on the platform, and the distance between the two concave tanks is obtained by subtracting a multiple of the tape reel standard from the distance between the image inspection measuring instrument and the bore inspection measuring instrument. The stereotactic ball is located in one of the concave tanks, one end of the spring is connected to the stereotaxic ball, and the other end is connected to the test measuring instrument. Adjustment / localization apparatus and method.
The invention of claim 4 is a tape reel standard adjustment / positioning device, wherein the tape reel has parallel empty cases, each empty case has a bottom hole, and the center of the image inspection measuring instrument is Corresponding to the inner hole, the image inspection measuring instrument and the inspection measuring instrument are fixed to a fixed distance, and the fixed distance is a common multiple of the hole distances of various tape reel standards. The tape reel standard adjustment / positioning apparatus and method are characterized by performing inspection and measurement until detection.
According to a fifth aspect of the present invention, in the tape reel standard adjustment / positioning apparatus and method according to the fourth aspect, the test and measurement device includes a launcher and a sensor, and is located above and below the tape reel, respectively. It is characterized as a tape reel standard adjustment / positioning device and method.
According to a sixth aspect of the present invention, in the tape reel standard adjustment / positioning apparatus and method according to the fourth aspect, the distance between the image inspection measuring instrument and the inspection measuring instrument can be changed by moving and switching the position of the inspection measuring instrument. The tape reel standard adjustment / positioning apparatus and method are characterized by being capable of being changed.
本発明はテープリール規格の調整/定位を迅速化することにより、生産を拡大し、設備コストを低減することができる。 The present invention can increase production and reduce equipment costs by speeding up the adjustment / positioning of the tape reel standard.
図3に示すように、本発明実施例において画像検査測定器31はテープリール32の出料端の上方に設置し、かつその中心は該テープリール32の各中孔33の延長線上に対応する。該画像検査測定器31はCCD画像検査測定器で、またCMOS画像検査測定器など他の画像検査測定器を使用することができる。本発明実施例においては、該画像検査測定器31は定位に用いる他、設置されたICのピンに欠陥がないかどうか、或いは反対に置かれている状況がないかどうかを検知する。
As shown in FIG. 3, in the embodiment of the present invention, the image inspection /
該テープリール32の反対端には該画像検査測定器31とは一定の固定された距離を隔て中孔検査測定器34を設置する。該中孔検査測定器34もまた該テープリール32の上方にあり、かつSの中心は該テープリール32の各中孔33の延長線上に対応する。該中孔検査測定器34は通常は発射器(赤外線発射器など)及びセンサーにより構成される。発射される光線は赤外線に限定されず、センサーは各種形式のセンサーとすることができる。該中孔検査測定器34は該テープリール32の真上及び真下に設置され、これにより発射器が発射する(可視或いは非可視)光線はちょうど該中孔33を通過し、該センサーに感知される。
発射された光線が該中孔33を通過すると、センサー内の回路をオンにし、他の状況ではセンサーはオフである。本発明実施例の発射器及びセンサーはそれぞれ該テープリール32の上、下方(或いは下、上方)にあるが、他の実施例では発射器及びセンサーは同一面に設置することができ、該中孔33に出会うと発射された光線は該中孔33を通過するため、センサーは光線をキャッチできない。他の時には、発射された光線は反射され戻って来て、センサーにキャッチされる。
At the opposite end of the
When the emitted light beam passes through the
業界で使用されているテープリールには様々な規格があるが、中孔と中孔間のピッチによって区分するなら、最も広く使用されているピッチ規格は8、12、16、20mm規格である。本発明では特別に該画像検査測定器31と該中孔検査測定器34間の距離を固定値とする。本発明実施例中では、規格が8、12、20mmの3種のテープリールに対して公倍数を求める。
また一般の作業空間を考慮し、求めた公倍数360mmを該画像検査測定器31と該中孔検査測定器34の距離とする。他の特定の作業空間に対応する必要がある場合には、該画像検査測定器31と該中孔検査測定器34の距離は他の公倍数とすることができる。さらに、将来のテープリール規格が8、12、20mmの3種でなくなれば、同様の原理で別に公倍数を求めることができる。
There are various standards for tape reels used in the industry, but the most widely used pitch standards are the 8, 12, 16, and 20 mm standards when classified by the pitch between the medium holes. In the present invention, the distance between the image inspection / measuring
In consideration of a general work space, the calculated common multiple of 360 mm is set as a distance between the image
該画像検査測定器31と該中孔検査測定器34間の距離を固定し、かつ該距離は8、12、20mmの3種のテープリール規格の公倍数であるため、該画像検査測定器31と該中孔検査測定器34は共に迅速に該中孔33に対して定位を行うことができるようになる。
こうして、公知の2段階定位調整に比較し高速化を達成し、チェイン孔の定位を行う必要が完全になくなる。さらには公知のチェイン孔検査測定器を省くことができるようになり、作業空間を節減可能であるばかりか、テープリール包装設備コストを低減化可能である。
本発明の該画像検査測定器31と該中孔検査測定器34の特殊設置により、あらゆるテープリール規格において簡単にテープリール規格の調整が可能となる。
例えば、テープリールを伝動するコントローラー(通常は伝動モーター及び他の制御ベルト/ソフトにより構成される)を現在のテープリール規格に設定し、該画像検査測定器31の中心を該中孔33に合わせ、かつ該中孔検査測定器34も別の該中孔33を検知すれば即、テープリール規格の調整が完成し、テープリール包装のプレ作業を完成することができる。
Since the distance between the image inspection / measuring
In this way, it is possible to achieve higher speed than the known two-stage localization adjustment, and completely eliminate the need to perform chain hole localization. Furthermore, a known chain hole inspection / measuring instrument can be omitted, and not only the work space can be saved, but also the cost of the tape reel packaging equipment can be reduced.
The special installation of the image inspection / measuring
For example, a controller for transmitting a tape reel (usually composed of a transmission motor and other control belt / software) is set to the current tape reel standard, and the center of the image
上記実施例において、該画像検査測定器31と該中孔検査測定器34間の固定距離は8、12、20mmの3種のテープリール規格の公倍数を採用するが、さらにもう1種の16mmのテープリール規格に対しては、本発明実施例では触れていない。360mmは16mmの公倍数ではないが、簡単な微調整ユニット(切替え装置とも言う)を増設することにより16mm規格のテープリールに対応することができる。
すなわち図4に示すように、本発明実施例の微調整(切替え)ユニット40は2個の凹槽41を具え、該凹槽41間の距離は8mmに設定される。この距離の設定は360mmと16mmの最も近い倍数は352mm(16×22=352)で、両者の差が8mm(360−352=8)であるためである。
該中孔検査測定器34と該微調整(切替え)ユニット40のプラットフォーム間にはバネ42と定位ボール43がしようされる。該テープリール規格が16mmである時、該中孔検査測定器34を別の凹槽41の方向に切替ええ、該定位ボール43は別の凹槽41に入る。この時、該画像検査測定器31と該中孔検査測定器34間の距離は352mm(360−8=352)に変化する。
続いて、該テープリール32を伝動するコントローラーを16mmのテープリール規格に設定すると、該画像検査測定器31の中心は該中孔33に対応し、かつ該中孔検査測定器34も別の中孔33を検知する時、即テープリール規格の調整は達成され、テープリール包装のプレ作業は完成される。
In the above embodiment, the fixed distance between the image inspection / measuring
That is, as shown in FIG. 4, the fine adjustment (switching)
A
Subsequently, when the controller for transmitting the
本発明実施例では凹槽41、バネ42、定位ボール43を使用する微調整(切替え)ユニット40を使用するが、他の構造の切替えユニットを使用することもできる。2個の切替え位置間に上記の固定位置を具えれば、本発明のテープリール規格調整/定位に適用することができる。
別に本発明実施例は該中孔検査測定器34の位置を移動切替ええるが、他の実施例中では該中孔検査測定器34を固定し該画像検査測定器31の位置を移動切り替えることができる。
In the embodiment of the present invention, the fine adjustment (switching)
Separately, the embodiment of the present invention can move and switch the position of the hole
A 隣り合った中孔の距離
B 隣り合ったチェイン孔の距離
C 中孔と最も近いチェイン孔間の水平距離
11 画像検査測定器
12 テープリール
13 中孔
14 中孔検査測定器
15 チェイン孔検査測定器
16 チェイン孔
31 画像検査測定器
32 テープリール
33 中孔
34 中孔検査測定器
40 微調整(切替え)ユニット
41 凹槽
42 バネ
43 定位ボール
A Distance between adjacent bores
B Distance between adjacent chain holes
C Horizontal distance between middle hole and
Claims (6)
該プラットフォーム上には2個の凹槽を具え、該2個の凹槽間の距離は該画像検査測定器と該中孔検査測定器間の距離値から該テープリール規格の倍数値を引いたもので、
該定位ボールは該凹槽の内の1個に位置し、
該バネの一端は該定位ボールに接続し、反対端は該検査測定器に接続することを特徴とする、テープリール規格の調整/定位装置及び方法。 3. The tape reel standard adjustment / positioning apparatus and method according to claim 2, wherein the switching unit includes a platform, a positioning ball, and a spring.
Two concave tanks are provided on the platform, and the distance between the two concave tanks is obtained by subtracting a multiple of the tape reel standard from the distance between the image inspection measuring instrument and the bore inspection measuring instrument. With
The stereotaxic ball is located in one of the recessed tanks;
One end of the spring is connected to the stereotaxic ball, and the other end is connected to the test and measurement device.
該検査測定器が別の中孔を探知するまで検査測定することを特徴とする、テープリール規格の調整/定位装置及び方法。 It is a tape reel standard adjustment / positioning device, the tape reel has parallel empty cases, the bottom of each empty case has a medium hole, the center of the image inspection measuring instrument corresponds to the medium hole, The image inspection measuring instrument and the inspection measuring instrument are fixed at a fixed distance, and the fixed distance is a common multiple of the hole distances of various tape reel standards.
A tape reel standard adjustment / positioning apparatus and method, characterized in that the inspection / measurement device inspects and measures until another hole is detected.
5. The tape reel standard adjustment / positioning apparatus and method according to claim 4, wherein the distance between the image inspection measuring instrument and the inspection measuring instrument can be changed by moving and switching the position of the inspection measuring instrument. A tape reel standard adjustment / positioning apparatus and method characterized by the above.
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Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0752909A (en) * | 1993-08-13 | 1995-02-28 | Nitto Kogyo Co Ltd | Tip loading device for chip tape |
JPH11157504A (en) * | 1997-11-28 | 1999-06-15 | Shin Etsu Polymer Co Ltd | Inspection method for carrier tape |
JPH11334705A (en) * | 1998-05-25 | 1999-12-07 | Rohm Co Ltd | Tape length measuring structure in electronic parts packing tape feeding device |
JP2005035569A (en) * | 2003-07-16 | 2005-02-10 | Ricoh Co Ltd | Taping apparatus for small component |
-
2005
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0752909A (en) * | 1993-08-13 | 1995-02-28 | Nitto Kogyo Co Ltd | Tip loading device for chip tape |
JPH11157504A (en) * | 1997-11-28 | 1999-06-15 | Shin Etsu Polymer Co Ltd | Inspection method for carrier tape |
JPH11334705A (en) * | 1998-05-25 | 1999-12-07 | Rohm Co Ltd | Tape length measuring structure in electronic parts packing tape feeding device |
JP2005035569A (en) * | 2003-07-16 | 2005-02-10 | Ricoh Co Ltd | Taping apparatus for small component |
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