JP2007066281A - 技術問題の主原因推定方法、及び技術問題の解決コンセプト創出方法 - Google Patents

Abstract

【課題】機能の特定が難しい技術システム、あるいは経験の浅い技術者であっても技術問題の主原因を推定することができる技術問題の主原因推定方法と、技術問題の解決コンセプト創出方法とを提供する。
【解決手段】技術システム全体の機能をインプットからアウトプットへと変換する１つの変換プロセスとして仮定し、この変換プロセスを状態変換の視点で観察して複数のサブプロセスに分割する。各サブプロセスの現象を分析し、機能と、技術問題の存しているサブプロセスとを推定する。次いで、様々な種類の技術問題を分類し、その主原因を体系的にまとめた技術問題分類体系表を参照し、その技術問題の主原因を推定する。技術問題の解決コンセプトは、技術システムの理想状態が技術問題が無い状態であると想定し、技術問題分類体系表から選択された項目の数値がゼロになる手段を検討することで創出する。
【選択図】図２

Description

本発明は、技術問題の主原因を推定する方法、及び技術問題を解決するコンセプトを創出する方法に関し、更に詳しくは、統合的構造化発明思考法（ＵＳＩＴ）の問題定義に利用することができる技術問題の主原因推定方法と、これによって推定された技術問題の解決コンセプトの創出方法とに関するものである。

技術問題を解決するための方法論として、１９４６年にロシアで考案されたＴＲＩＺと呼ばれる発明的問題解決理論が知られている（非特許文献１参照）。ＴＲＩＺとは、Ｔｈｅｏｒｙ ｏｆ Ｉｎｖｅｎｔｉｖｅ Ｐｒｏｂｌｅｍ Ｓｏｌｖｉｎｇのロシア語略であり、Ａ：問題とその原因を特定し、適用する思考ツールを選択する問題解決アルゴリズムと、Ｂ：複数の視点で分類された技術データベースにより構成され、今日まで発展を続けて各国で利用されている。このＴＲＩＺの思想は、あまりにも厖大であり、全体を理解して活用するには多大な労力を要する。そのため、１９９０年頃までのＴＲＩＺの活用は旧ソビエト連邦内に限定され、特殊な教育を受けたＴＲＩＺコンサルタントの支援によるのが前提であった。

ＴＲＩＺの各国への普及は、ソビエト連邦の崩壊によって１９９０年代にＴＲＩＺコンサルタントが各国に流出することにより進んでいった。また、このＴＲＩＺの普及とともに、ＴＲＩＺをより活用しやすくするための近代化が進められた。例えば、ＴＲＩＺ近代化の一つの方向は、パーソナルコンピュータを利用してＴＲＩＺを活用できるようにするソフトウェア化であり、米国のＩｎｖｅｎｔｉｏｎ Ｍａｃｈｉｎｅ社、Ｉｄｅａｔｉｏｎ Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ社等によって、ＴＲＩＺを利用したソフトウェアが販売されている。両社のソフトウェアは、ＴＲＩＺの技術データベースを参照しながら技術者が「類比発想」を行なうことを特徴とするが、データベースにアクセスするための基本的な考え方が異なっている。

Ｉｎｖｅｎｔｉｏｎ Ｍａｃｈｉｎｅ社のソフトウェアは、Ｖａｌｕｅ Ｅｎｇｉｎｅｅｒｉｎｇベースの考え（構成要素同士の機能的関係）に基づいて、対象とする技術システムの技術問題を抽出し、価値指数Ｖ（Ｖ＝機能Ｆ／コストＣ）の低い構成要素を削除することにより技術問題を簡素化し、適合する技術データベースの検索ツールを選択する（例えば、特許文献１〜３参照）。また、Ｉｄｅａｔｉｏｎ Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ社のソフトウェアは、対象とする技術システムの構成要素同士の機能的関係を図解整理する部分は上記Ｉｎｖｅｎｔｉｏｎ Ｍａｃｈｉｎｅ社のソフトウェアと類似しているが、価値指数よりも定性的な分析を重視し、「ある機能が別の機能に及ぼす関係を、有益／有害の視点で整理する」ことにより技術問題を絞り込んでいる。そして、ソフトウェアが呈示する分岐構造を対話形式によってたどることにより、問題解決の方向性を示唆し、適切なデータベース内の事例を表示する（例えば、特許文献４参照）。

ＴＲＩＺ近代化の別の方向は、厖大かつ複雑なＴＲＩＺの思考体系を簡素化する試みである。これは、イスラエルで開発された体系的発明思考法（ＳＩＴ：Ｓｙｓｔｅｍａｔｉｃ Ｉｎｖｅｎｔｉｖｅ Ｔｈｉｎｋｉｎｇ）に始まり、アメリカで構築された統合的構造化発明思考法（ＵＳＩＴ：Ｕｎｉｆｉｅｄ Ｓｔｒｕｃｔｕｒｅｄ Ｉｎｖｅｎｔｉｖｅ Ｔｈｉｎｋｉｎｇ）として活用されている。

上記ＵＳＩＴは、ＴＲＩＺの問題解決アルゴリズムに重点を置いており、図１８に示すように、対象システムの技術問題をＯ−Ａ−Ｆ（Ｏｂｊｅｃｔ：構成要素、Ａｔｔｒｉｂｕｔｅ：属性、Ｆｕｎｃｔｉｏｎ：機能）という視点に基づいてモデル化して捉えることにより簡素化し、このモデルを分析することにより特定された技術問題の根本原因の解決コンセプトを生成する（例えば、非特許文献１参照）。

ＵＳＩＴでは、技術問題の解決コンセプトを創出する際に、構成要素の数を増やしたり、構成要素を分割するオブジェクト複数化法、活用していない属性に着目したり、属性と機能との関係を強調・抑制する属性次元法、機能に着目して再配置を行う機能配置法等を用いて多数のアイデアを発想し、これらのアイデアを一般化したり、組み合わせる等して解決コンセプトを創出している。
米国特許第６２０２０４３号明細書 米国特許第６０５６４２８号明細書 特表２００１−５０４９６６号公報 米国特許第５５８１６６３号明細書 中川 徹，ＴＲＩＺホームページ，［ｏｎｌｉｎｅ］，平成１７年４月５日，大阪学院大学，［平成１７年５月１０日検索］，インターネット＜ＵＲＬ；http://www.osaka-gu.ac.jp/php/nakagawa/TRIZ/index.html＞

従来のＴＲＩＺ，ＵＳＩＴ関連の問題解決法では、「機能分析」、「構成要素同士の機能的関係」に基づいて技術問題の原因追求を行なっている。それぞれの「機能」の処理方法は異なるものの、最初に構成要素の「機能」を明確にしていることは共通している。ところで、対象とする技術システムが機械的なものであれば、その技術システム中の機能関係が目に見えるため、各構成要素の「機能」、及び「構成要素同士の機能的関係」を特定することが容易な場合が多い。しかし、極端にミクロな技術システム、あるいは化学に関する技術システムの場合には、設計者といえども必ずしも全体の機能関係が明確でないことが多く、技術問題の特定が難しくなる。同様に、「機能」を特定するスキルを持たない経験の浅い技術者の場合も、技術問題の特定が難しい。

上記「機能」の特定が難しい技術システムの場合には、最初から「機能」を求めるのではなく、「現象」を明確にすることにより、その「現象」が成立させている「機能」を想定することができると考えられる。しかし、問題となる技術システム中では、いくつもの「現象」が複雑に絡み合っている場合が多いので、「機能」や「技術問題」との関連の強い「現象」を抽出することが重要である。

ＴＲＩＺでは、技術問題の解決コンセプトを得るために、厖大なデータベースにあたって類似する事例を検索し、その検索された事例の解決コンセプトを自身の技術問題に当てはめる作業が必要となる。そのため、習得が難しく時間がかかるという問題があった。また、ＵＳＩＴによる解決コンセプトの創出は、オブジェクト、属性、機能のそれぞれに対する広い知識が必要となるため、経験の浅い技術者には使用するのが難しい。

本発明は、上記課題を解決するためになされたもので、「機能」の特定が難しい技術システム、あるいは経験の浅い技術者であっても技術問題の主原因を推定することができる技術問題の主原因推定方法を提供する。また、経験の浅い技術者であっても技術問題の解決コンセプトを創出することのできる技術問題の解決コンセプト創出方法とを提供する。

上記課題を解決するために、本発明の技術問題の主原因推定方法は、技術問題の主原因を推定しようとする技術システム全体の機能を、インプットからアウトプットへと変化させる１つの変換プロセスとして整理するステップと、該変換プロセスを状態変化の視点で観察し、各状態変化ごとに複数のサブプロセスに分解するステップと、複数のサブプロセスのそれぞれで起きている現象を分析し、かつ変換プロセス全体の機能を参考にして各サブプロセスの機能を推定するステップと、技術問題が発生しているサブプロセスを推定するステップと、様々な技術問題の種類とその主原因とを分類して体系化した技術問題分類体系表を参照し、前記技術問題に当てはまる主原因を推定するステップとを用いたものである。

また、現象とは、ある場（エネルギー・力）のもとで１つの構成要素の属性が別の構成要素の属性に影響を及ぼすことであり、この影響により生じる作用のうち、コントロール可能で有益な効果を得られるものを機能として推定し、コントロール不可能で有害な影響を及ぼす弊害項目を技術問題として推定する。これにより、経験の浅い技術者であっても、技術問題の推定が容易になる。

また、技術問題が発生しているサブプロセスを推定するステップは、各サブプロセスの機能の目標レベルと現状レベルとを分析し、この目標レベルと現状レベルとの間のギャップを技術問題として推定する。これにより、経験の浅い技術者であっても、技術問題の推定が容易になる。

また、現象の分析には、該現象に相互に関連する複数の質問項目からなる現象分析フローが用いられ、各質問項目に順次回答することによりサブプロセスの機能と技術問題とが推定される。これにより、経験の浅い技術者であっても、サブプロセスの機能と技術問題との推定が容易になる。なお、現象の分析には、推定される現象を文章で説明する現象の文章化と、推定される現象を図解で説明する現象の図解化とが行われる。これによれば、現象の整理が容易になる。

また、技術問題分類体系表は、少なくとも、サブプロセスの機能の達成レベル、安定度、弊害項目に基づいて分類されており、各分類は、その機能の時間的・空間的視点に基づく主原因を表す複数の項目に分類されている。

本発明の技術問題の解決コンセプト創出方法は、上記の技術問題の主原因推定方法を用いて、技術問題が発生しているサブプロセスと、その技術問題の主原因とを推定するステップと、技術問題が存在しない理想状態を想定し、この理想状態を得るためのエネルギーや物の動きを検討するステップと、理想状態に関連する素材や部材の属性を列挙するステップと、検討されたエネルギーや物の動きと、列挙された属性とを組み合わせ、理想状態を実現する手段を検討するステップとを用いたものである。

理想状態とは、技術問題の主原因として推定された技術問題分類体系表の項目の数値がゼロになる状態である。また、理想状態を検討するステップは、推定される理想状態の現象を文章で説明する理想状態の文章化と、推定される理想状態の現象を図解で説明する理想状態の図解化とが行われる。

また、本発明の技術問題の主原因推定プログラムは、技術システム全体の機能をインプットからアウトプットへと変化させる１つの変換プロセスとしたときに、その初期状態と終了状態とを入力させる手順と、変換プロセスが状態変化ごとに分解されてなるサブプロセスを入力させる手順と、サブプロセスのそれぞれで起きている現象の説明を入力させる手順と、サブプロセスの推定される機能を入力させる手順と、様々な技術問題の種類とその主原因とを分類して体系化した技術問題分類体系表を表示し、技術問題が発生していると推定されるサブプロセスの技術問題に該当する主原因を該技術問題分類体系表の中から選択させ、選択された技術問題の主原因を入力させる手順と、各ステップで入力された内容に基づいて、現象−属性分析表を作成する手順とをコンピュータに実現させるようにしたものである。これによれば、技術問題の主原因の推定に有用な現象−属性分析表を簡単に作成することができる。

また、技術問題の主原因を入力させる手順の後に、技術問題が存在しない状態を理想状態としたときに、この理想状態の現象の説明を入力させる手順と、理想状態に関連する素材や部材の属性を入力させる手順と、これら２つのステップにより入力された内容から創出される理想状態を実現するための手段を入力させる手順とを設けてもよい。これによれば、解決コンセプトの創出も容易になる。

また、理想状態の現象の説明を入力させる手順には、該当するサブプロセスの現象の説明を比較できるように表示する手順を含ませることが好ましい。これによれば、理想状態の想定が容易となる。

また、サブプロセスの機能の達成度を評価する機能達成度評価項目と、この機能達成度評価項目の目標値及び現在値とを入力させる手順と、この目標値と現在値との差を求め、この差の大きさによって機能達成度評価項目の順位付けを行う手順とを設けるようにしたものである。更に、理想状態の現象の説明を入力させる手順には、順位付けされた機能達成度評価項目のうち上位の少なくとも１項目を表示させる手順を含ませるようにしたものである。これらによれば、理想状態の想定が容易となる。

また、技術問題分類体系表には、各技術問題の主原因を図解した技術問題分類記号を含ませることが好ましい。これによれば、技術問題の内容が理解しやすくなる。

また、各入力手順には、入力すべき内容を表す入力項目と、この入力項目を補足する入力サポート項目とを表示する手順を含ませることが好ましい。これによれば、経験の浅いユーザであっても入力項目の内容を理解して適切な内容を入力することができる。

更に、各入力手順には、呼び出し操作に応じて技術問題分類体系表や、作成途中の現象−属性分析表を表示させる手順を含ませることが好ましい。これによれば、必要な内容を参照しながら入力を行うことができる。

本発明の技術問題の主原因推定方法によれば、現象から機能を推察することができるので、機能が判然としない技術システムであったり、経験の浅い技術者であっても技術問題を適切に推定することができる。また、現象を推定するにあたり、技術システム全体を一つの変換プロセスとし、この変換プロセスを状態変化という視点で複数のサブプロセスに分解して現象を分析するようにしたので、複雑な技術システムであっても、適切な現象分析と機能推定、及び技術問題の推定を行なうことができる。更に、技術問題分類体系表を用いて技術問題の主原因を推定することができるので、経験の浅い技術者であっても適切な問題解決を行なうことができる。

本発明の技術問題の解決コンセプト創出方法は、技術問題の主原因が無くなる状態を理想状態とし、この理想状態を実現するためのエネルギーや物の動き等を検討するようにしたので、解決コンセプトの方向性が明確になる。また、技術問題の主原因及び理想状態に関連する属性を列挙し、この列挙された項目と、前述のエネルギーや物の動き等を組み合わせて検討することにより、最適な解決コンセプトを得ることができる。

また、本発明の技術問題の主原因推定プログラムによれば、コンピュータの指示にしたがって入力を行うことで技術問題の主原因を推定することができるので、経験の浅い、または若い技術者であっても抵抗感なく取り組むことができる。更に、入力進度に応じた記載内容を画面で確認しながら入力作業を行うことができるので、対象とする技術問題の全体像を把握する思考作業がコンピュータによって支援される。また、入力内容に基づいて現象−属性分析表が作成されるので、この表から対象システムの全体像を容易に把握することができ、この表をもとに更なる検討が可能となる。また、技術問題分類体系表をプログラム中に内蔵し、必要に応じて呼び出して参照することができるので、各サブプロセス内の技術問題がどのような時間的・空間的視点に基づいた基本的技術問題から生じているかが、経験の浅い技術者にも推定できる。更に、理想状態を想定する際に、技術問題の項目の数値がゼロになる状態を想定するが、その具体的なイメージは技術問題分類記号を参照することによって得ることができるので、経験の浅い技術者でも理想状態の想定を容易に行うことができる。

図１は、本発明において現象から機能を理解するための基本的考え方を表す概念図である。本発明では、例えば、構成要素Ｏ１と構成要素Ｏ２とからなる単位現象を表す単位技術システム２において、ある場：エネルギー・力３のもとで構成要素Ｏ１の属性Ａ１が構成要素Ｏ２の属性Ａ２に及ぼす影響を作用４と定義し、これらをまとめて現象５と定義している。また、この作用４のうち、コントロール可能で有益なものを機能６とし、コントロールできない有害なものを弊害項目７として定義している。更に、機能６には、達成したい機能である目標レベル８と、この目標レベル８に到達しない現状レベル９とがあり、これらのレベルの間のギャップ１０が問題となる。そのため、このギャップ１０と弊害項目７とを技術問題１１として定義している。

技術問題は、個々の単位技術システムによって異なっているが、その技術問題を発生させる主要な原因は、異なる技術問題間でも共通していることが多く、機能を達成するレベルの過不足や不安定等で一般化することが可能である。そこで、本発明では、技術問題１１の主要な原因を主原因１３と定義している。また、この技術問題１１を解決する手段を解決コンセプト１４と定義する。また、単位技術システムにおける理想状態とは、技術問題が無い状態、すなわち、技術問題の主原因が無い状態が理想状態であると想定される。そこで、本発明では、上記解決コンセプト１４を創出する際に、主原因を表す数値がゼロになる手段を検討する。

通常の技術システムは、上述した基本概念の説明に用いた単位技術システム２のように、２つの構成要素からなるような単純なものではなく、複数の構成要素と属性とが絡まりあった複雑な構成となっている。そのため、このような複雑な技術システムにおいて、個々の現象を抽出し、その現象から機能を推定するのは困難をともなう。そこで、本発明は、図２のフローチャートに示すように、技術システム全体の機能をインプットからアウトプットへと変化させる１つの変換プロセスと仮定するステップＳ１と、この変換プロセスを状態変化の視点で観察して、各状態変化ごとに複数のサブプロセスに細分化するステップＳ２と、各サブプロセスを図１の概念図に当てはめて現象を分析することにより機能を推定するステップＳ３と、技術問題の発生しているサブプロセスを推定するステップＳ４と、技術問題の主原因を推定するステップＳ５とによって、技術問題の主原因を推定する。

図３は、ある技術システム２０の全体の機能に着目して、一つの変換プロセスとして定義した状態を表す概念図である。変換プロセス２１は、ドライビングフォース（エネルギー・力）２２及びプロセス条件２３に基づいてインプット２４を変換し、所定のアウトプット２５を出力する。技術システムは、機械系、電気・電子系、化学系等、その種類が異なっていても、同じ概念図の変換プロセスで表すことができる。

次に、図４に示すように、上記技術システム２０の変換プロセス２１を複数のサブプロセスに分解する。この分解時の視点として、本発明では状態変化を用いている。状態変化としては、実際に目に見えるものや実験などで観察されたものの他に、ある状態から次の状態へと移る途中には必ずこの状態となる、というロジックによって推察した状態変化も用いることができる。また、このサブプロセスへの分解時には、変換プロセス２１全体の流れを文章化したり、各サブプロセスを図解することにより、その分解精度を向上させることができる。

上述したように分解したサブプロセス、例えば第２サブプロセスには、場合に応じて途中で何らかのインプットが行われるサブインプット２９や、中間生成物などの排出が行われる中間排出アウトプット３０等が設定される。これらのサブプロセスは、最小の構成要素とドライビングフォース２２等からなるため、図１の概念図と同様に、現象の分析を行なうことができる。

上記第２サブプロセスの現象及び属性の分析には、例えば、図５に表の形態で示す「現象−属性分析」と、図６に示す「現象分析フロー」等を用いるとよい。現象−属性分析は、サブプロセスの現象及び属性を分析するための様々な事項が記載される複数のフレームＡ〜Ｇからなる。これらのフレームは、例えば、現象の分析に用いられる「Ａ：サブプロセス」，「Ｂ：機能（作用）」，「Ｃ：推定現象」，「Ｄ：疑問点ｏｒ機能の過不足やばらつきによる懸念事項等」，「Ｅ：評価達成度評価項目」と、分析結果に関連する事項の整理に使用される「Ｆ：関連属性」，「Ｇ：（技術）課題」等からなる。また、「Ｃ：推定現象」は、「Ｃ１：現象の説明」，「Ｃ２：現象の図解」，「Ｃ３：ドライビングフォース」，「Ｃ４：推定根拠（実験事実、文献等）」から構成されている。

「Ａ：サブプロセス」には、サブプロセスの内容を表すサブプロセス名が記載される。「Ｂ：機能（作用）」には、サブプロセスが構成層や構成素材に及ぼす影響が記載される。「Ｃ１：現象の説明」には、サブプロセス中で起きていると推定される変化やその原因になる現象の説明が記載される。「Ｃ２：現象の図解」には、フレームＣ１で説明した現象が図解される。「Ｃ３：ドライビングフォース」には、サブプロセス内の現象を引き起こすもとになっているエネルギーや力が記載される。「Ｃ４：推定根拠」には、サブプロセス中の変化や現象を推定する根拠となった実験事実や文献等の情報が記載される。「Ｄ：疑問点ｏｒ機能の過不足やばらつきによる懸念事項等」には、推定したサブプロセスの変化や現象について不明確な部分や品質上の懸念点等が記載される。「Ｅ：評価達成度評価項目」には、機能の達成度を評価する際の項目が記載される。

「Ｆ：関連属性」には、以上で整理された変化に基づいて必要とする製品機能を得るために設計上考慮すべきパラメータが記載される。「Ｇ：（技術）課題」には、設計上考慮すべきパラメータや懸念事項などを明確にするために実施すべきアクションが記載される。

現象分析フローは、例えば、１〜１０までの項目を有する設問形式であり、１〜７の設問に答えることによってサブプロセスの現象を分析してその機能を推定することができ、これらの設問への答えを踏まえて８〜１０の設問に答えることにより、技術問題の内容や、技術問題の発生しているサブプロセス、その技術問題の主原因を推定することができる。なお、現象−属性分析と現象分析フローとの各項目で内容的に同じものがいくつかあるが、共通の項目からそれぞれ別の項目への発想を得ることができるように同内容の項目をそれぞれに設けている。また、現象−属性分析及び現象分析フローの項目は、以上で説明したものに限定されるものではなく、その技術内容等に応じて適宜変更することが可能である。

上記分析フローの設問９では、本発明を構成する技術問題分類体系表を使用して技術問題の主原因の推定（一般化）を行なっている。この技術問題分類体系表とは、図７の表に示すように、技術問題を「Ａ：機能達成レベル 過剰」、「Ｂ：機能達成レベル 不安定」、「Ｃ：機能達成レベル 不足」、「Ｄ：望ましくない効果（弊害項目）の発現」の４項目に分類し、かつ各分類の主原因を時間的・空間的視野に基づいて規定したものであり、サブプロセスの技術問題の主原因をそのレベルや安定度等から判定し、一般化できるようになっている。

図８に示すように、上記技術問題分類体系表の各項目は、その内容を端的に表す形態で記号化し、技術問題分類記号として利用することができる。サブプロセスの技術問題の主原因を判定する際に、図７の技術問題分類体系表の文章だけでは、そのイメージがうまくつかめない場合が考えられるが、技術問題分類記号の持つイメージに当てはめることにより、容易に判定を行うことができるようになる。また、この技術問題分類記号は、サブプロセスの現象を図解する際の参考図にもなる。そのため、現象の図解の段階から技術問題記号を参考にすれば、技術問題の判定がより容易になる。なお、技術問題分類記号は、上記現象−属性分析の「Ｄ：疑問点ｏｒ機能の過不足やばらつきによる懸念事項等」等に記載することにより、サブプロセスの現象の解明に資することができる。

上記技術問題分類体系表では、「Ａ：機能達成レベル 過剰」、「Ｃ：機能達成レベル 不足」において、「方向のズレ」、「拡散」、「集中」を別項目とした。拡散や集中は「方向のズレ」が集合した結果と捉えることもできるが、感覚的に受け止められるイメージが異なるためである。なお、「方向のズレ」で拡散と集中を代表させることも可能である。

このように、技術システムを変換プロセスとして整理し、変換プロセスを複数のサブプロセスに分解し、各サブプロセスの現象を分析して機能を推定することにより、目に見えないミクロな技術システムや、化学の技術システムであっても、現象から機能を推定し、かつ技術問題の主原因も推定することができる。同様に、経験の浅い技術者であっても現象から機能を推定し、技術問題の主原因を推定することができる。

次に、具体的な事例を本発明に適用した例について説明する。図９（Ａ）は、本発明を適用するＣＴＰ刷版４０の断面図である。ＣＴＰ（Ｃｏｍｐｕｔｅｒ Ｔｏ Ｐｌａｔｅ）刷版４０とは、コンピュータからデジタル信号を印刷画像として版表面に直接描写することが可能な版であり、例えば、アルミ基板４１と、このアルミ基板４１の上に層設された樹脂層４２とから構成されている。樹脂層４２は、感光性樹脂層からなり、ＩＲ染料が含有されている。このＣＴＰ刷版４０の樹脂層にレーザー光を照射すると、ＩＲ染料がレーザー光を熱変換して発熱し、感光性樹脂を変性させてアルカリ可溶性を付与する。その後、アルカリ現像処理を施すことにより、感光性樹脂のアルカリ可溶性を付与された部分が除去され、同図（Ｂ）に示すように、凹版が形成される。

図９（Ｃ）に示すように、従来のＣＴＰ刷版４０においては、感光性樹脂層の途中までしか可溶性を付与することができなかった。これによれば、レーザー光４３を照射した部分に、符号４５で示す感光性樹脂層が残って版を浅くするため、画質が低下するという問題が発生する。この技術問題を解決するために、ＩＲ染料の濃度や種類を変更して実験を行なったが、アルミ基板４１の表面まで可溶性を付与することはできなかった。

この事例に本発明を適用するにあたり、本事例の技術システムを一つの変換プロセスとして仮定した。その際に、インプットとして「ＣＴＰ刷版」を、アウトプットとして「可溶性が付与されたＣＴＰ刷版」を定義し、エネルギーとして「光」を、プロセス条件として「感光性樹脂」，「ＩＲ染料」を定義した。

また、この技術システムを複数のサブプロセスに分解するにあたり、技術システム全体の機能及び作用を例えば、次のように文章化する。この文章化は、実際に目に見えるものや実験などで観察されたものの他に、この状態から次の状態へと移る途中には必ずこの状態となる、というロジックによって推察した状態変化も記載するとよい。
・レーザー光が感光性樹脂層の表面に達する
・レーザー光が感光性樹脂層を透過する
・レーザー光がＩＲ染料に吸収される
・ＩＲ染料が発熱する
・ＩＲ染料の熱が感光性樹脂層に伝わる
・感光性樹脂層が可溶化される

以上のような文章化等を用いて生成されたサブプロセスを図１０に示す。本技術システムの技術問題は、アルミ基板４１近傍の樹脂層４２が発熱しない、または熱が伝達されないことが原因と考えられることから、「サブプロセスii：光透過・吸収」、「iii：発熱」、「iv：伝熱」に技術問題があるものと推定することができる。そこで、これらのサブプロセスii〜ivについて、現象−属性分析と現象分析フローとを使用して現象分析を行なった。図１１〜１３に、一例として、「サブプロセスii：光透過・吸収」の現象を表す概念図と、現象−属性分析及び現象分析フローとを示す。

現象−属性分析及び現象分析フローから分かるように、アルミ基板４１近傍の樹脂層が可溶化されないのは、レーザー光４３がＩＲ染料に吸収され、アルミ基板４１近傍の光強度が０になっていたこと、一部の光がＩＲ染料と樹脂との界面で拡散されることが原因であることが推定された。また、これらの技術問題を図７及び図８の技術問題分類体系表に当てはめると、「Ｃ：機能達成レベル 不足」に相当し、その中でも「３，エネルギーの他の作用への消費」と、「２，エネルギーの利用効率」の「（２）空間的ズレ」の［ｃ：拡散」が主原因であることが分かる。

更に、発光エネルギーや感光層厚み等の制約条件を勘案すると「最下層温度を高める」ために「ＩＲ染料の濃度を上げる」ことは意味がなく、「ＩＲ染料の光熱変換効率を上げる」あるいは「ＩＲ染料の分布を最適化する（ＩＲ染料をより基板近傍に配置する）」、「ＩＲ染料の配光を制御する」等の解決策を検討することが必要であることもこの分析より明確になる。

上記実施形態では、現状の機能と目標とする機能とのギャップを技術問題として捉える事例について説明したが、サブプロセスの理想状態を想定し、この理想状態と現状とのギャップを技術問題として捉えることもできる。このように、技術問題を捉えることにより、理想状態と技術問題との関係から技術問題の解決コンセプトを創出することができる。なお、技術システムにおける理想状態とは、技術問題がないことである。すなわち、技術問題の主原因として推定された技術問題分類体系表の該当する項目の数値が、ゼロになる状態が理想状態であると想定される。

図１４は、本発明による解決コンセプトの創出手順を示している。この創出手順は、技術問題の内容を確認するステップＳｃ１と、この技術問題が技術問題分類体系表のどの項目に属するかを確認するステップＳｃ２と、該当する技術問題分類体系表の項目の数値がゼロ（理想状態）になるためのエネルギーや物の動きを記述する（図解と説明文）ステップＳｃ３と、技術問題分類体系表と理想状態とに関係すると思われる素材や部材の属性（形状や物性）を列挙するステップＳｃ４と、この列挙された属性を利用して理想状態を実現するための手段を検討するステップＳ５とからなる。

解決コンセプトの創出には、例えば、図１５に示す現象−属性分析が使用される。この現象−属性分析のフレームＡ〜Ｇは、図５において説明した現象−属性分析と同じであり、「Ｈ：理想状態の想定」が新たに追加されている。この「Ｈ：理想状態の想定」は、理想とする現象の説明が記載される「Ｈ１：現象の説明」と、フレームＨ１が図解される「Ｈ２：現象の図解」とからなる。

以下、図１０に示す「サブプロセスiv：伝熱」を例に、技術問題の主原因の解決コンセプトの創出手順について説明する。このサブプロセスにおいて必要な機能は、樹脂層４２中で熱をアルミ基板４１との界面まで伝えることである。しかし、上述したように、現状ではアルミ基板４１まで熱が伝わっておらず、可溶性が付与されない樹脂層４５が残ってしまう。

図１６及び１７は、サブプロセスivの現象−属性分析である。この現象−属性分析の「Ｂ：現象の説明」に記載されているように、アルミ基板４１との界面まで熱が伝わらないのは、（１）樹脂層表面の発熱と同時に熱放射が起き、大部分の熱が空気中に放出されること、（２）樹脂層表面近傍の発熱は、三次元的に樹脂層中のあらゆる方向に広がること、（３）水平方向に広がった熱は、樹脂に吸収されて自然減衰すること、（４）垂直方向に広がった熱は、途中まで樹脂に吸収されるが、アルミ界面近傍に達するとアルミ基板に向かって熱が流れるため急激に温度が下がることが原因ではないかと推定することができる。これらの推定は、現象−属性分析の「Ｃ２：現象の図解」に記載した、樹脂層の厚みと温度との関係を表すグラフ、及び樹脂層中の熱の伝達時間を表すグラフや、「Ｃ４：推定根拠」に記載したＩＲ染料濃度と、樹脂層中の熱伝達深さとの関係を表すシミュレーション結果のグラフから導き出されている。

上記のように推定された現象（１）〜（４）を図７及び８の技術問題分類体系表に当てはめて主原因を推定すると、「Ｄ：疑問点ｏｒ機能の過不足やばらつきによる懸念事項等」に記載されているように、現象（１）は熱の空間的拡散、現象（２）、（３）は伝熱方向のズレ、現象（４）はエネルギーの他の作用への消費等が主原因であると推定することができる。

現象−属性分析の「Ｈ１：理想状態の説明」には、技術問題の主原因の項目の数値がゼロになる理想状態が記載される。熱エネルギーは、樹脂層４２の厚み方向に拡散してもよいが、横方向への拡散は無駄になることが分かっている。そのため、熱エネルギーの横方向への拡散をゼロにすることが理想状態１となる。また、熱エネルギーの伝達は、樹脂層４２の厚み方向にのみ行われるべきであるため、熱エネルギーの伝達方向のズレをゼロにすることが、理想状態２となる。更に、熱エネルギーは、アルミ基板４１に吸収されずに樹脂層４２を加熱するべきであるため、アルミ基板４１による熱エネルギーの吸収をゼロにすることが理想状態３となる。

理想状態１を実現するためのエネルギーや物の動きとしては、発熱面の横で熱を遮断することが考えられる。また、理想状態２を実現するためのエネルギーや物の動きとしては、熱を下方だけに伝達するために熱媒体を移動させることや、光透過との組み合わせで発熱面を下方に移動させることが考えられる。更に、理想状態３を実現するためのエネルギーや物の動きとしては、アルミに吸収されないエネルギーを活用すること、例えば、水素結合を切断する熱以外のエネルギーを利用すること等が考えられる。なお、「Ｈ２：理想状態の図解」には、一例として、発熱面を下方に移動させるという理想状態が図解されている。この図解は、樹脂層の厚みと温度との関係を表すグラフ、及び樹脂層中の熱の伝達時間を表すグラフと、樹脂層４２中での発熱面の移動状態を示す概念図とからなる。

現象−属性分析の「Ｆ：関連属性」には、技術問題の主原因と理想状態とに関係すると思われる素材や部材の属性が記載される。例えば、樹脂層４２に関連して「樹脂熱伝導率」や「樹脂熱収縮率」、「樹脂Ｔｇ」、「水素結合切断特性」等が列挙され、アルミ基板４１に関連して「アルミ熱伝導率」や「アルミ基板表面粗さ」等が記載される。また、ＩＲ染料に関連して、「ＩＲ染料消色特性」や「ＩＲ染料濃度」等が列挙される。

最後のステップでは、「Ｈ１：理想状態の説明」に記載された理想状態を実現するためのエネルギーや物の動きと、「Ｆ：関連属性」に列挙された属性と組み合わせて理想状態を実現するための手段が検討される。この検討結果は、現象−属性分析の「Ｇ：技術課題」に記載される。

例えば、理想状態１を実現する手段１としては、樹脂層４２に熱収縮性樹脂を使用して、画像部周囲に空気層のバリアを形成することにより、横方向への熱の拡散を防止することが考えられる。また、理想状態２を実現する手段２としては、低Ｔｇ樹脂を用いることにより、樹脂の溶融−凝縮を用いて伝熱を行うことが考えられる。また、理想状態３を実現する手段３としては、発熱後に色が消える消色性ＩＲ染料を用いることにより、発熱面を下方に移動させることが考えられる。更に、理想状態４を実現する手段４では、光によって酸を放出する酸放出性素材を導入することが考えられる。なお、「Ｇ：技術課題」には、理想状態に対応した手段以外の手段も記載され、より多面的に技術問題の解決を検討できるようになっている。

以上説明したように、技術問題の主原因が無くなる状態を理想状態とし、この理想状態を実現するためのエネルギーや物の動き等を検討するようにしたので、解決コンセプトの方向性が明確になる。また、技術問題の主原因及び理想状態に関連する属性を列挙し、この列挙された項目と、前述のエネルギーや物の動き等を組み合わせて検討することにより、最適な解決コンセプトを得ることができる。

本発明によれば、機能がはっきりと分かっていない技術システムであっても、状態変化から分解したサブプロセスの現象を分析することによって、機能を明確にすることができ、技術問題の主原因も特定することができるので、技術問題の解決に有用である。また、これを用いて将来を見越した技術開発ロードマップを検討することも可能である。更に、理想状態と技術問題との関係から解決コンセプトを創出するようにしたので、最適な解決コンセプトを導き出すことができる。

上記実施形態では、机上での検討によって技術問題の主原因を推定し、解決コンセプトを創出する説明を行なったが、これらの方法をコンピュータプログラム化して、コンピュータ上で実施することも可能である。以下、本発明を実施した技術問題の主原因推定プログラム（以下、推定プログラムと略称する）について説明する。この推定プログラムは、ディスプレイ上に順次表示される入力項目にしたがって、技術システムに関する事項を入力していくことにより、技術問題の主原因の推定、及び解決コンセプトの創出に有用な現象−属性分析表が自動的に作成されることに特徴を有する。

図１９，２０は、推定プログラムによって作成される現象−属性分析表６０の一例を示す。この現象−属性分析表６０は、前記実施形態において例示したＣＴＰ刷版の樹脂層の可溶化に関するもので、上部に現象−属性分析表の内容を表す標題部６１が、その右側方に技術システムを一つの変換プロセスとしたときの入力状態と終了状態とが記載される「Ｋ：変換プロセス」欄が、更にその下方には、変換プロセスを状態変化の観点から分割したサブプロセスと、各サブプロセスの分析内容とが記載される複数のサブプロセス分析欄が設けられている。なお、本実施形態では、現象−属性分析表を読みやすくするために、２図に分けて提示しているが、推定プログラムで印刷する際には、１枚の用紙に全項目を印刷してもよいし、複数枚に分割して印刷してもよい。

上記現象−属性分析表６０の標題部６１には、例えば、「ＣＴＰ刷版の樹脂層の可溶化に関する現象−属性分析」という標題が記載され、表の内容がすぐに判別できるようになっている。この標題は、推定プログラムによって作成した表をデータとして保存する際に付けられるファイル名が用いられる。なお、推定プログラムにおいて標題を入力してもよい。「Ｋ：変換プロセス」欄には、ＣＴＰ刷版の露光という技術システムを１つの変換システムとして捉えたときの入力状態と、終了状態とが記載される。

サブプロセス分析欄の左端には、「Ａ：サブプロセス名」という欄が設けられており、その下方には変換システムを分割したサブプロセス名が記載される。本実施形態の表では、例えば、図１０に示すｉ〜ｖのサブプロセス名が記載されている。また、横方向の欄には、各サブプロセスの現象及び属性に関する分析結果が記載される分析欄Ｂ〜Ｊが設けられている。分析欄Ｂ〜Ｅ、及び分析欄Ｈは、前記実施形態にて説明した図１５の現象−属性分析と同内容であるため、詳しい説明は省略する。

分析欄「Ｆ：関連属性」，「Ｇ：技術課題」には、分析欄Ｂ〜Ｅによって推定された機能達成度評価項目を達成するために設計上考慮すべきパラメータや、実施すべきアクション等が記載される。また、分析欄「Ｉ：関連属性」，「Ｊ：技術課題」には、分析欄Ｈによって推定される技術問題の無い理想状態を得るために設計上考慮すべきパラメータや、実施すべきアクション等が記載される。

図２１は、本発明の技術問題の主原因推定プログラムを動作させるコンピュータシステムの構成を示すブロック図である。このコンピュータシステム７０は、各種演算処理を行うＣＰＵ７１と、オペレーティングシステム（ＯＳ）と推定プログラムとが記憶されたＨＤＤ７２と、コンピュータシステム７０の起動時、または推定プログラムの起動時にＨＤＤ７２からＯＳまたは推定プログラムを読み出してＣＰＵ７１による演算処理に供するＲＡＭ７３と、ＯＳ画面及び推定プログラム画面を表示するモニタ７４と、ＯＳ及び推定プログラムの操作に用いられるキーボード７５及びマウス７６と、推定プログラムにより得られた推定結果等を印刷するプリンタ７７とから構成されている。

図２２は、推定プログラムが起動されたときにＣＰＵ７１が備える機能の構成を表す機能ブロック図である。制御部８０は、推定プログラムによって予め決められている処理手順にしたがって、機能ブロックの各部を統括的に制御する。表示制御部８１は、モニタ７４に推定プログラム画面を表示させる機能を有する。この推定プログラム画面の一部を構成する入力項目及び入力サポート項目は、入力項目記憶部８２に記憶されている。また、体系表記憶部８３には、技術問題分類体系表と技術問題分類記号とが記憶されており、技術問題に関する入力を行う際に読み出して参照できるようになっている。入力受付け部８４は、キーボード７５やマウス７６によって入力された内容を受け付ける機能を有し、受け付けられた入力内容は、入力内容記憶部８５によって記憶される。表作成部８６は、入力内容記憶部８５から読み出した入力内容に基づいて、現象−属性分析表を作成する。この現象−属性分析表は、表示制御部８１によってモニタ７４上に表示され、また、プリント制御部８７によってプリントデータに変換されてプリンタ７７に出力される。

図２３及び２４は、推定プログラムの操作手順と、ＣＰＵ７１の処理手順とを示すフローチャートである。操作手順は、技術問題の主原因を推定するために各種情報を入力する手順１〜８と、技術問題の解決コンセプトを創出するために各種情報を入力する手順９〜１１と、に分けることができる。各手順で入力された入力内容は、現象−属性分析表の該当する欄にそれぞれ記載される。

図２５は、推定プログラムを起動したときにモニタ７４に表示される初期状態の操作画面９０を示している。この操作画面９０の最上部には、プログラム名が表示される標題部９１が設けられている。この標題部９１には、作成済みの現象−属性分析表を開いたときに、そのファイル名の名称や、データパス等も表示される。標題部９１の下方には、推定プログラムの操作に用いられる各種メニューが表示されるメニュー部９２と、使用頻度の高いメニューがボタンとして設けられたボタン部９３とが配置されている。更にその下方には、各欄が空欄とされた現象−属性分析表のフォーマット９４が表示される。フォーマット９４の各欄は、操作画面９０上に全てが表示されていないが、操作画面９０の下部及び側部に設けられたスクロールバー９５，９６を操作することによって表示させることができる。

新しい現象−属性分析表の作成は、ボタン部９３の「新規作成」ボタン９９をマウス７６で操作することによって開始される。図２４のフローチャートに示すように、「新規作成」ボタン９３が操作されると、操作画面９０が図２６に示す入力画面１０２に切り換わる。また、制御部８０が備えるカウンタのカウント値Ｎに「１」がセットされ、ボタン部９３の下方左側には、手順１において入力すべき内容を表す入力項目１０３と、この入力項目１０３を補足する入力サポート項目１０４とが表示される。

本発明の技術問題推定方法や、推定プログラムに習熟していない技術者の場合、入力項目だけでは実際に何を入力するべきかがわからない場合が多い。そこで、入力項目１０３を補足し、かつ具体的に入力すべき項目を質問形式とした入力サポート項目１０４を一緒に表示することにより、これを解決することができる。入力項目１０３の右側には、実際に入力が行われる入力欄１０５が表示される。この入力欄１０５は、スクロールバー１０６，１０７によってスクロールすることにより、表示される以上の分量を入力することができる。

入力サポート項目１０４の下部には、手順１での入力を終えたときに操作される「次の項目」ボタン１１０が設けられている。このボタン１１０が操作されると、図２７に示すように操作画面が切り換わり、手順２の入力項目１０３及び入力サポート項目１０４が表示される。手順１において入力欄１０５に入力された内容は、入力内容記憶部８５に記憶され、表作成部８６によって現象−属性分析表が作成・更新される。

なお、手順２以降では、「次の項目」ボタン１１０とともに「前の項目」ボタン１１２が表示され、前の手順に戻って入力内容を修正することができる。以上のように、モニタ７４上に表示される手順１〜１１にしたがって入力操作を行うことにより、現象−属性分析表を作成することができるので、経験の少ない技術者であっても容易に技術問題の主原因を推定し、解決コンセプトを創出することができる。各手順で表示される入力項目１０３、及び入力サポート項目１０４を表にして図２８に示す。

各手順において、技術問題分類体系表や技術問題分類記号を参照したい場合がある。この場合には、ボタン部９３の「技術問題分類体系表」ボタン１１７、または「技術問題分類記号」ボタン１１８を操作する。これらのボタンの操作を検出した制御部８０は、体系表記憶部８３から各表を読み出し、図２９，３０に示すように、入力画面１０２の上に技術問題分類体系表１１９、または技術問題分類記号表１２０を表示させる。これにより、任意のタイミングで各表を参照することができるので、技術問題の主原因の推定、及び解決コンセプトの創出を適切に行うことができる。

また、図３１に示すように、ボタン部９３の「表示切替」ボタン１２３を操作すると、モニタ７４上の表示は、入力画面１０２から表参照画面１２４に切り換わり、作成途中の現象−属性分析表１２５が表示される。これにより、変換プロセスの全体像を確認しながら入力作業を行うことができるので、より適切に技術問題の主原因の推定、及び解決コンセプトの創出を行うことができる。

本発明の推定プログラムの手順６では、上記実施形態と同様に、サブプロセスの機能の達成度を評価する項目、「機能達成度評価項目」と、この項目の目標値及び現状値を入力するようになっている。図２４のフローチャートに示すように、この手順６での入力内容を受けて制御部８０は、目標値と現状値との差、すなわちギャップを算出し、このギャップの大きさによって機能達成度評価項目の順位付けを行う。これにより、ギャップの大きな項目、すなわち技術問題の大きな項目を定量的に求めることができる。

図３２に示すように、手順６で求められたギャップの上位数項目は、手順９で理想状態を入力する際に、入力サポート項目１０４の下方にギャップ項目１２８として表示される。これにより、理想状態として、ギャップが無い状態を容易に想定できるようになるため、解決コンセプトの創出に資することができる。なお、手順９で表示されるギャップ項目数としては、例えば、全ての項目を表示してもよいし、上位の数項目（例えば３項目）だけを表示してもよい。更に、ギャップが所定の割合以上の項目だけを表示してもよい。これらの表示は、適宜設定できるようにすることが好ましい。また、入力している技術者の注意を引けるように、ハイライト表示してもよい。

また、図３３に示すように、手順９では、「表示切替」ボタン１２３を操作することによって、手順９の入力項目１３０及び入力欄１３１と並べて、手順３の入力項目１３３及び入力欄１３４を表示することができる。これにより、サブプロセスの推定現象を参考にしながら理想状態を入力することができるので、入力効率が向上する。また、手順９までの入力内容を参考にして、手順３での入力内容を修正することもできるので、より完成度の高い現象−属性分析表を作成することができる。

以上のような操作手順によって完成した現象−属性分析表は、ボタン部９３の「プリント」ボタン１３７を操作することによって、プリンタ７７で印刷することができる。この印刷時に、プリント設定で印刷する項目を選択できるようにしてもよい。

また、「技術問題分類体系表」の項目に該当する基本的技術問題を理想からの乖離レベルに応じて評価値を決めておくことにより、理想状態が実現したときの改善度合いを技術問題の主原因ごとに見積もるようにしてもよい。この機能は、推定プログラムに標準的に組み込んでもよいし、オプションとしてもよい。更に、本発明の分野において新規な知見が得られた場合には、その知見をプログラムに盛り込んでバージョンアップすることも可能である。

また、上記実施形態では、手順１〜１１までを行うように説明したが、技術問題の推定だけを行う場合には手順１〜８だけ、解決コンセプトの創出まで行う場合には、１〜１１までを行う、というように目的に応じて操作手順を選択するようにしてもよい。手順１〜８までしか行わなかった場合には、分析欄Ｈ〜Ｊの省略された現象−属性分析表が作成される。更に、推定プログラムから指示される手順にしたがって入力操作を行うようにしたが、技術者の好きな手順で入力を行えるようにしてもよい。また、汎用のコンピュータに推定プログラムをインストールして使用する場合を例に説明したが、推定プログラムが組み込まれた技術問題の主原因推定装置として構成してもよい。

上記各実施形態では、ＣＴＰ刷版を例に説明したが、本発明は様々な技術システムに適用することができる。

単位技術システムの現象と機能との関係を表す概念図である。 本発明の主原因推定方法の手順を示すフローチャートである。 技術システムを変換プロセスと仮定した場合の構成を示す概念図である。 変換プロセスを複数のサブプロセスに分解した状態を示す概念図である。 サブプロセス内の現象−属性分析に用いる項目を表す表である。 現象分析フローを示す説明図である。 技術問題分類体系表である。 技術問題分類記号を示す表である。 ＣＴＰ刷版の断面図である。 露光〜画像形成プロセスのサブプロセスである。 サブプロセスiiの概念図である。 サブプロセスiiの現象−属性分析である。 サブプロセスiiの分析事例を示す説明図である。 理想状態から技術問題の解決コンセプトを創出する手順を示すフローチャートである。 理想状態とのギャップを技術問題として捉える際に使用される現象−属性分析のフォーマットである。 サブプロセスｉｖの現象−属性分析Ｎｏ．１である。 サブプロセスｉｖの現象−属性分析Ｎｏ．２である。 統合的構造化発明思考法におけるＯ：構成要素−Ａ：属性−Ｆ：機能の関係を示す説明図である。 技術問題の主原因推定プログラムによって作成される現象−属性分析表の１部の項目を示す説明図である。 現象−属性分析表の別の１部の項目を示す説明図である。 推定プログラムが用いられるコンピュータシステムの構成を示すブロック図である。 推定プログラムが起動された際のＣＰＵの機能を示す機能ブロック図である。 推定プログラムの操作手順を示すフローチャートである。 推定プログラムの処理手順を示すフローチャートである。 推定プログラムの初期画面を示す説明図である。 推定プログラムの手順１の入力画面を示す説明図である。 推定プログラムの手順２の入力画面を示す説明図である。 各手順の入力項目及び入力サポート項目を示す表である。 技術問題分類体系表が表示された入力画面を示す説明図である。 技術問題分類記号表が表示された入力画面を示す説明図である。 作成途中の現象−属性分析表が表示される表参照画面を示す説明図である。 推定プログラムの手順９の入力画面を示す説明図である。 手順９と手順３との入力内容が並べて表示される状態を示す説明図である。

符号の説明

Ｏ１，Ｏ２ 構成要素
Ａ１，Ａ２ 属性
２ 単位技術システム
３ エネルギー・力
４ 作用
５ 現象
６ 機能
７ 弊害項目
１１ 技術問題
１３ 主原因
１４ 解決コンセプト
２０ 技術システム
２１ 変換プロセス
６０ 現象−属性分析表
７０ コンピュータシステム
７１ ＣＰＵ
８０ 制御部
８２ 入力項目記憶部
８３ 体系表記憶部
８４ 入力受付部
８５ 入力内容記憶部
８６ 表作成部
９０ 操作画面
９３ ボタン部
９４ フォーマット
１０２ 入力画面
１０３ 入力項目
１０４ 入力サポート項目
１０５ 入力欄
１１９ 技術問題分類体系表
１２０ 技術問題分類記号表
１２４ 表参照画面
１２８ ギャップ項目

Claims (18)

1. 技術問題の主原因を推定しようとする技術システム全体の機能を、インプットからアウトプットへと変化させる１つの変換プロセスとして整理するステップと、
   前記変換プロセスを状態変化の視点で観察し、各状態変化ごとに複数のサブプロセスに分解するステップと、
   前記複数のサブプロセスのそれぞれで起きている現象を分析し、かつ変換プロセス全体の機能を参考にして各サブプロセスの機能を推定するステップと、
   前記技術問題が発生しているサブプロセスを推定するステップと、
   様々な技術問題の種類とその主原因とを分類して体系化した技術問題分類体系表を参照し、前記技術問題に当てはまる主原因を推定するステップとを含むことを特徴とする技術問題の主原因推定方法。
2. 前記現象とは、ある場（エネルギー・力）のもとで１つの構成要素の属性が別の構成要素の属性に影響を及ぼすことであり、この影響により生じる作用のうち、コントロール可能で有益な効果を得られるものを機能として推定し、コントロール不可能で有害な影響を及ぼす弊害項目を技術問題として推定することを特徴とする請求項１記載の技術問題の主原因推定方法。
3. 前記技術問題が発生しているサブプロセスを推定するステップは、各サブプロセスの機能の目標レベルと現状レベルとを分析し、この目標レベルと現状レベルとの間のギャップを技術問題として推定することを特徴とする請求項１または２記載の技術問題の主原因推定方法。
4. 前記現象の分析には、該現象に相互に関連する複数の質問項目からなる現象分析フローが用いられ、各質問項目に順次回答することによりサブプロセスの機能と技術問題とが推定されることを特徴とする請求項１ないし３いずれか記載の技術問題の主原因推定方法。
5. 前記現象の分析には、推定される現象を文章で説明する現象の文章化と、推定される現象を図解で説明する現象の図解化とが行われることを特徴とする請求項１ないし４いずれか記載の技術問題の主原因推定方法。
6. 前記技術問題分類体系表は、少なくとも、サブプロセスの機能の達成レベル、安定度、弊害項目に基づいて分類されており、各分類は、その機能の時間的・空間的視点に基づく主原因を表す複数の項目に分類されていることを特徴とする請求項１ないし５いずれか記載の技術問題の主原因推定方法。
7. 技術システムに発生する技術問題を解決するための解決コンセプトを創出する方法であって、
   請求項１ないし６いずれか記載の技術問題の主原因推定方法を用いて、技術問題が発生しているサブプロセスと、その技術問題の主原因とを推定するステップと、
   技術問題が存在しない理想状態を想定し、この理想状態を得るためのエネルギーや物の動きを検討するステップと、
   理想状態に関連する素材や部材の属性を列挙するステップと、
   検討されたエネルギーや物の動きと、列挙された属性とを組み合わせ、理想状態を実現する手段を検討するステップとを含むことを特徴とする技術問題の解決コンセプト創出方法。
8. 前記理想状態とは、技術問題の主原因として推定された技術問題分類体系表の項目の数値がゼロになる状態であることを特徴とする請求項７記載の技術問題の解決コンセプト創出方法。
9. 前記技術問題が存在しない理想状態を検討するステップは、推定される理想状態の現象を文章で説明する理想状態の文章化と、推定される理想状態の現象を図解で説明する理想状態の図解化とが行われることを特徴とする請求項７または８記載の技術問題の解決コンセプト創出方法。
10. 技術システムに生じる技術問題の主原因を推定する方法をコンピュータに実行させるプログラムであって、
    前記技術システム全体の機能をインプットからアウトプットへと変化させる１つの変換プロセスとしたときに、その初期状態と終了状態とを入力させる手順と、
    前記変換プロセスが状態変化ごとに分解されてなるサブプロセスを入力させる手順と、
    前記サブプロセスのそれぞれで起きている現象の説明を入力させる手順と、
    前記サブプロセスの推定される機能を入力させる手順と、
    様々な技術問題の種類とその主原因とを分類して体系化した技術問題分類体系表を表示し、前記技術問題が発生していると推定されるサブプロセスの技術問題に該当する主原因を該技術問題分類体系表の中から選択させ、選択された技術問題の主原因を入力させる手順と、
    前記各ステップで入力された内容に基づいて、現象−属性分析表を作成する手順とをコンピュータに実現させることを特徴とする技術問題の主原因推定プログラム。
11. 前記技術問題の主原因を入力させる手順の後に、
    前記技術問題が存在しない状態を理想状態としたときに、この理想状態の現象の説明を入力させる手順と、
    前記理想状態に関連する素材や部材の属性を入力させる手順と、
    前記２つのステップにより入力された内容から創出される理想状態を実現するための手段を入力させる手順とを設けたことを特徴とする請求項１０記載の技術問題の主原因推定プログラム。
12. 前記理想状態の現象の説明を入力させる手順は、該当するサブプロセスの現象の説明を比較できるように表示する手順を含むことを特徴とする請求項１１記載の技術問題の主原因推定プログラム。
13. 前記サブプロセスの機能の達成度を評価する機能達成度評価項目と、この機能達成度評価項目の目標値及び現在値とを入力させる手順と、この目標値と現在値との差を求め、この差の大きさによって機能達成度評価項目の順位付けを行う手順とを設けたことを特徴とする請求項１１または１２記載の技術問題の主原因推定プログラム。
14. 前記理想状態の現象の説明を入力させる手順は、前記順位付けされた機能達成度評価項目のうち上位の少なくとも１項目を表示させる手順を含むことを特徴とする請求項１３記載の技術問題の主原因推定プログラム。
15. 前記技術問題分類体系表は、各技術問題の主原因を図解した技術問題分類記号を含むことを特徴とする請求項１０ないし１４いずれか記載の技術問題の主原因推定プログラム。
16. 前記各入力手順は、入力すべき内容を表す入力項目と、この入力項目を補足する入力サポート項目とを表示する手順を含むことを特徴とする請求項１０ないし１５いずれか記載の技術問題の主原因推定プログラム。
17. 前記各入力手順は、呼び出し操作に応じて技術問題分類体系表を表示させる手順を含むことを特徴とする請求項１０ないし１６いずれか記載の技術問題の主原因推定プログラム。
18. 前記各入力手順は、呼び出し操作に応じて作成途中の現象−属性分析表を表示させる手順を含むことを特徴とする請求項１０ないし１７いずれか記載の技術問題の主原因推定プログラム。
    
    

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