JP2007039777A - Mask for film deposition, method for producing spontaneous light emitting panel, and spontaneous light emitting panel - Google Patents

Mask for film deposition, method for producing spontaneous light emitting panel, and spontaneous light emitting panel Download PDF

Info

Publication number
JP2007039777A
JP2007039777A JP2005228105A JP2005228105A JP2007039777A JP 2007039777 A JP2007039777 A JP 2007039777A JP 2005228105 A JP2005228105 A JP 2005228105A JP 2005228105 A JP2005228105 A JP 2005228105A JP 2007039777 A JP2007039777 A JP 2007039777A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
film
mask
film formation
forming
opening
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2005228105A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Isamu Oshita
勇 大下
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tohoku Pioneer Corp
Original Assignee
Tohoku Pioneer Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tohoku Pioneer Corp filed Critical Tohoku Pioneer Corp
Priority to JP2005228105A priority Critical patent/JP2007039777A/en
Publication of JP2007039777A publication Critical patent/JP2007039777A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Electroluminescent Light Sources (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a mask for film deposition whose deformation can be easily prevented, to provide a method for producing a spontaneous light emitting panel capable of forming a film deposition pattern at high precision, and to provide a spontaneous light emitting panel in which film deposition panels of high precision are formed. <P>SOLUTION: The mask 1 for film deposition comprises opening patterns 2 formed corresponding to the film deposition regions in an object to be film-deposited, and each opening pattern 2 comprises a reinforcing part 5 for preventing the deformation of the mask for film deposition. Concretely, by providing each opening part 3 with a projecting part 5b as the reinforcing part 5 toward the inside of the opening part, the rigidity (strength) of the mask increases, the deformation of the mask upon film deposition can be reduced, and the film deposition pattern can be formed at high precision. Further, the spontaneous light emitting panel having high display performance can be provided. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、成膜用マスク、自発光パネルの製造方法、および自発光パネルに関するものである。   The present invention relates to a film forming mask, a method for manufacturing a self-luminous panel, and a self-luminous panel.

自発光素子は、LED(Light Emitting Diode)、EL(Electroluminescence )、FED(Field Emission Display)等、各種のものがあり、表示、照明等の多方面の用途に用いられているが、有機EL素子は、薄膜の積層構造を基本構成とすることで、極薄膜のディスプレイ、更には可塑性を有するペーパーディスプレイ等を実現可能な自発光素子として注目されている。   There are various self-luminous elements such as LED (Light Emitting Diode), EL (Electroluminescence), FED (Field Emission Display), etc., and they are used for various purposes such as display and illumination. Has attracted attention as a self-luminous element capable of realizing an ultra-thin display, a plastic paper display, and the like by using a thin film laminated structure as a basic structure.

このような自発光素子は、基板上に直接又は他の層を介して、第1の導電層を形成し、第1の導電層の上に発光層を含む成膜層を積層し、成膜層の上に第2の導電層を形成する構造を有しており、第1の導電層と第2の導電層との間に電圧を印加することによって、第1及び第2の導電層の一方に形成される陰極側から電子が注入され、第1及び第2の導電層の他方に形成される陽極側から正孔が注入されて、それらが発光層等で再結合することで発光が得られるものである。   Such a self-luminous element is formed by forming a first conductive layer on a substrate directly or via another layer, and laminating a film-forming layer including a light-emitting layer on the first conductive layer. A second conductive layer is formed on the first layer; and by applying a voltage between the first conductive layer and the second conductive layer, the first conductive layer and the second conductive layer are formed. Electrons are injected from the cathode side formed on one side, holes are injected from the anode side formed on the other of the first and second conductive layers, and light is emitted by recombination in the light emitting layer or the like. It is obtained.

この成膜層を形成する場合に、例えば第1の導電層が形成された基板上に、所定の開口パターンが形成されたシート状(薄板状)の成膜用マスクを用いて、成膜層を蒸着する方法が一般的に行われている。
例えば特許文献1には、マスクの片面に補強線を設けて、成膜時にマスクが自重や内部応力など原因により撓み開口部が変形することを防止したシャドーマスクが開示されている。
When forming this film formation layer, for example, the film formation layer is formed by using a sheet-like (thin plate-like) film formation mask in which a predetermined opening pattern is formed on the substrate on which the first conductive layer is formed. The method of vapor-depositing is generally performed.
For example, Patent Document 1 discloses a shadow mask in which a reinforcing wire is provided on one side of a mask so that the mask is prevented from being deformed due to its own weight or internal stress during film formation.

特開平10−330910号公報JP-A-10-330910

ところで、近年の自発光パネルの高精細化に伴い、成膜用マスクは開口パターンが高精細となり、成膜用マスクの全開口部の面積が増大し、開口部間の幅が狭くなり、マスクの剛性(強度)が低下して、マスクの開口部が変形することがより大きな問題となってきている。例えば有機EL(エレクトロルミネッセンス)パネルでは、発光性能の向上や発光色の多色化に対応するために、複数種類の成膜用マスクを用いて、発光領域に対応した成膜領域を複数層積層させたり、成膜用マスクを用いて色毎の成膜領域それぞれに成膜を行っている。この際、成膜用マスクの開口部が変形した状態では、成膜領域がずれて高精度に複数層積層させることができなくなることから有機ELパネルの表示特性が低下するという問題がある。しかし、上述した特許文献1に記載のマスクでは、マスクの変形を防止するために別途補強線を設けるという工程が必要であり、より簡単な方法が望まれている。   By the way, with the recent high-definition of the self-luminous panel, the film-forming mask has a high-definition opening pattern, the area of all the openings of the film-forming mask is increased, and the width between the openings is reduced. The rigidity (strength) of the mask has been lowered, and the opening of the mask has been deformed. For example, in an organic EL (electroluminescence) panel, multiple layers of film formation regions corresponding to the light emission region are stacked using multiple types of film formation masks in order to improve the light emission performance and increase the number of light emission colors. The film is formed in each film formation region for each color using a film formation mask. At this time, when the opening of the film formation mask is deformed, there is a problem that the display characteristics of the organic EL panel are deteriorated because a plurality of layers cannot be laminated with high accuracy because the film formation region is shifted. However, the mask described in Patent Document 1 described above requires a step of providing a separate reinforcing wire in order to prevent deformation of the mask, and a simpler method is desired.

本発明は、このような問題に対処することを課題の一例とするものである。すなわち、より簡単に成膜用マスクの変形を防止することができる成膜用マスクを提供すること、高精度に成膜パターンを形成することができる自発光パネルの製造方法を提供すること、高精度な成膜パターンが形成された自発光パネルを提供すること、等が本発明の目的である。   This invention makes it an example of a subject to cope with such a problem. That is, it is possible to provide a deposition mask that can more easily prevent deformation of the deposition mask, to provide a method for manufacturing a self-luminous panel that can form a deposition pattern with high accuracy, It is an object of the present invention to provide a self-luminous panel on which an accurate film formation pattern is formed.

このような目的を達成するために、本発明は、以下の各独立請求項に係る構成を少なくとも具備するものである。
請求項1に係る発明の成膜用マスクは、開口パターンを有する成膜用マスクであって、前記開口パターンが当該成膜用マスクの変形を防止する補強部を有することを特徴とする。
In order to achieve such an object, the present invention comprises at least the configurations according to the following independent claims.
The film-forming mask of the invention according to claim 1 is a film-forming mask having an opening pattern, wherein the opening pattern has a reinforcing portion for preventing deformation of the film-forming mask.

請求項7に係る発明の自発光パネルの製造方法は、被成膜対象の成膜領域に対応して形成された開口パターンを備え、当該開口パターンが当該成膜用マスクの変形を防止する補強部を有する成膜用マスクを、成膜源と自発光素子基板との間に配備する第1の工程と、前記第1の工程後、前記成膜用マスクを介して前記成膜源から前記自発光素子基板上に成膜層を形成する第2の工程とを有することを特徴とする。   According to a seventh aspect of the present invention, there is provided a self-luminous panel manufacturing method comprising an opening pattern formed corresponding to a film formation region to be formed, wherein the opening pattern prevents deformation of the film formation mask. A first step of disposing a film-forming mask having a portion between the film-forming source and the self-light-emitting element substrate; and after the first step, from the film-forming source through the film-forming mask And a second step of forming a film formation layer on the self-luminous element substrate.

請求項8に係る発明の自発光パネルは、基板上に直接又は他の層を介して形成された第1の導電層と、該第1の導電層の上に積層された、発光層を含む成膜層と、該成膜層の上に形成された第2の導電層とを有する自発光素子を一つまたは複数備える自発光パネルであって、前記成膜層は、被成膜対象の成膜領域に対応して形成された開口パターンを備え、前記開口パターンが当該成膜用マスクの変形を防止する補強部を備えた成膜用マスクを介して前記成膜層が形成されていることを特徴とする。   The self-luminous panel of the invention according to claim 8 includes a first conductive layer formed directly on the substrate or via another layer, and a light-emitting layer laminated on the first conductive layer. A self-light-emitting panel including one or a plurality of self-light-emitting elements each having a film-forming layer and a second conductive layer formed on the film-forming layer, wherein the film-forming layer is a film formation target The film formation layer is formed through a film formation mask provided with an opening pattern formed corresponding to the film formation region, and the opening pattern having a reinforcing portion that prevents deformation of the film formation mask. It is characterized by that.

本発明の一実施形態に係る成膜用マスクは、被成膜対象の成膜領域に対応して形成された開口パターンを有し、この開口パターンが、成膜用マスクの変形を防止する補強部を有する。つまり、開口パターンが、成膜用マスクの変形を防止するような形状に形成されているので、成膜用マスクの剛性が高くなり、成膜時の成膜用マスクの変形を防止して、変形の度合いを低減することができる。詳細には、例えば開口パターン中の開口部に、開口部の内側に向けた凸形状からなる補強部を形成することにより、剛性が高くなり、成膜用マスクの変形を防止することができる。また、例えば変形防止のために補強線を別途設けることなく、例えばエッチング工程や打ち抜き工程等により、上記形状の開口パターンを形成することで、簡単に成膜用マスクの変形を防止することができ、成膜用マスクの変形を低減することができる。   A film formation mask according to an embodiment of the present invention has an opening pattern formed corresponding to a film formation region to be formed, and the opening pattern is a reinforcement that prevents deformation of the film formation mask. Part. That is, since the opening pattern is formed in a shape that prevents deformation of the film formation mask, the rigidity of the film formation mask is increased, and deformation of the film formation mask during film formation is prevented, The degree of deformation can be reduced. Specifically, for example, by forming a reinforcing portion having a convex shape toward the inside of the opening in the opening in the opening pattern, the rigidity is increased and deformation of the film-forming mask can be prevented. In addition, for example, by forming an opening pattern having the above-described shape by, for example, an etching process or a punching process without separately providing a reinforcing wire to prevent deformation, deformation of the deposition mask can be easily prevented. Further, deformation of the film formation mask can be reduced.

また、自発光パネルの製造方法は、上記構成の成膜用マスクを、成膜源と自発光素子基板との間に配備する第1の工程と、第1の工程後、成膜用マスクを介して成膜源から自発光素子基板上に成膜層を形成する第2の工程とを有するので、つまり変形の度合いが小さい成膜用マスクを用いて成膜することで、高精度に成膜パターンを形成することができる。
また、上記製造方法により、例えば基板上に直接又は他の層を介して形成された第1の導電層と、該第1の導電層の上に積層された、発光層を含む成膜層と、該成膜層の上に形成された第2の導電層とを有する自発光素子を一つまたは複数備える自発光パネルであって、被成膜対象の成膜領域に対応して形成された開口パターンを備え、前記開口パターンがマスクの変形を防止する補強部を備えた成膜用マスクを介して成膜層が形成されている自発光パネルを得ることができる。つまり、変形の度合いが小さい成膜用マスクを用いて成膜層が形成されているので、高精度な成膜パターンを有する自発光パネルを得ることができる。また、高い表示性能を有する自発光パネルを得ることができる。
The method for manufacturing a self-luminous panel includes a first step of disposing a film-forming mask having the above-described configuration between a film-forming source and a self-light-emitting element substrate, and a film-forming mask after the first step. Through a second step of forming a film-forming layer on the self-light-emitting element substrate from the film-forming source, that is, by forming a film using a film-forming mask with a small degree of deformation. A film pattern can be formed.
In addition, by the above manufacturing method, for example, a first conductive layer formed directly on the substrate or via another layer, and a film-forming layer including a light-emitting layer laminated on the first conductive layer, A self-luminous panel including one or a plurality of self-luminous elements each having a second conductive layer formed on the film-forming layer, and formed corresponding to a film-forming region to be film-formed A self-luminous panel can be obtained in which a film formation layer is formed through a film formation mask that includes an opening pattern and the opening pattern includes a reinforcing portion that prevents deformation of the mask. That is, since the film formation layer is formed using the film formation mask with a small degree of deformation, a self-luminous panel having a highly accurate film formation pattern can be obtained. In addition, a self-luminous panel having high display performance can be obtained.

以下、本発明の実施形態を図面を参照して説明する。
本発明に係る成膜用マスクを、例えばカラー塗り分け用の成膜用マスクに採用した場合を説明する。成膜用マスクとしては、例えばスリット方式とスロット方式の2種類がある。まずスロット方式(マトリクス形状)の成膜用マスクを説明する。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
The case where the film-forming mask according to the present invention is employed as a film-forming mask for color coating will be described. There are two types of film formation masks, for example, a slit method and a slot method. First, a slot type (matrix shape) deposition mask will be described.

[第1実施形態]
図1は、本発明の第1実施形態に係る成膜用マスクを説明するための図である。図1(a)に示すように、本実施形態に係る成膜用マスク1は、被成膜対象の成膜領域に対応して形成された開口パターン2を有する。成膜用マスク1は、例えば金属材料、無機材料、有機材料等により構成され、薄板状やシート状に形成される。
[First Embodiment]
FIG. 1 is a view for explaining a film formation mask according to the first embodiment of the present invention. As shown in FIG. 1A, a film formation mask 1 according to this embodiment has an opening pattern 2 formed corresponding to a film formation region to be formed. The film formation mask 1 is made of, for example, a metal material, an inorganic material, an organic material, or the like, and is formed in a thin plate shape or a sheet shape.

スロット方式の成膜用マスク1は、例えば図1(a)に示すように、被成膜対象の成膜領域に対応して画素領域毎に、複数の開口部3がマトリクス状(格子状)にパターン形成されている。ここでは説明の簡単化のため、9行×6列のマトリクス状にパターン形成された複数の開口部3を示す。また、成膜用マスク1は、図1(a)に示すように、開口部3を区画する梁部4を備えている。また、成膜用マスク1に形成される開口パターン2は、成膜用マスク1の変形を防止する補強部5を有する。
例えば一般的な成膜用マスクの開口部3Jは図1(c)に示すように略矩形状に形成されている。一方、本実施形態に係る開口部3は、例えば図1(b)に示すように開口部3に補強部5が形成されている。
As shown in FIG. 1A, for example, the slot type film formation mask 1 has a plurality of openings 3 in a matrix (lattice) for each pixel region corresponding to a film formation region to be formed. The pattern is formed. Here, for simplification of description, a plurality of openings 3 that are patterned in a matrix of 9 rows × 6 columns are shown. Further, the film formation mask 1 includes a beam portion 4 that partitions the opening 3 as shown in FIG. The opening pattern 2 formed in the film formation mask 1 has a reinforcing portion 5 that prevents deformation of the film formation mask 1.
For example, the opening 3J of a general film forming mask is formed in a substantially rectangular shape as shown in FIG. On the other hand, in the opening 3 according to the present embodiment, for example, as shown in FIG.

補強部5は、成膜用マスク1の変形を防止するような形状であればよい。例えば補強部5は、図1(a)に示すように各開口部3に隣接させて形成してもよく、複数の開口部3のうち少なくとも1個の開口部3に隣接させて形成してもよく、また所定の間隔に配置された開口部3に隣接させて形成してもよい。本実施形態に係る補強部5は、図1(b)に示すように、開口部3の内側に向けた凸部形状からなる。より詳細には補強部5は、開口部3の角部に形成されて開口部3の内側に向けて形成された凸部5aを備える。開口部3に隣接して補強部5が形成されているので、例えば高精細化により梁部4の幅が比較的狭く、全開口部3の面積が比較的大きな場合であっても、補強部5に対応する部分の幅が広いので、成膜用マスク1が高剛性となり、成膜時のマスクの変形が低減する。   The reinforcing portion 5 may have any shape that prevents deformation of the film-forming mask 1. For example, the reinforcing portion 5 may be formed adjacent to each opening 3 as shown in FIG. 1A, or may be formed adjacent to at least one opening 3 among the plurality of openings 3. Alternatively, it may be formed adjacent to the openings 3 arranged at a predetermined interval. The reinforcement part 5 which concerns on this embodiment consists of a convex part shape toward the inner side of the opening part 3, as shown in FIG.1 (b). More specifically, the reinforcing portion 5 includes a convex portion 5 a formed at the corner portion of the opening 3 and formed toward the inside of the opening 3. Since the reinforcing portion 5 is formed adjacent to the opening 3, for example, even if the width of the beam portion 4 is relatively narrow due to high definition and the area of the entire opening 3 is relatively large, the reinforcing portion Since the width of the portion corresponding to 5 is wide, the film formation mask 1 becomes highly rigid, and the deformation of the mask during film formation is reduced.

詳細には開口部3は、図1(b)に示すように、規定方向(例えばx軸方向)に沿って幅Lx1に形成された略矩形状の第1の開口部3aと、規定方向に沿って幅Lx2に形成された略矩形状の第2の開口部(幅狭部)3bを有する。補強部5は、第2の開口部3bに隣接して形成され、規定方向に沿って幅Lx3の凸部5aを有する。この幅Lx2と幅Lx3とを合わせた長さは、幅Lx1の長さに相当する。
また、第1の開口部3aは、例えば図1(b)に示すように、上記規定方向と直交する方向(例えばy軸方向)に沿って幅Ly1に形成され、第2の開口部(幅狭部)3bは、規定方向に直交する方向に沿って幅Ly2に形成されている。この際、補強部5の凸部5aは、規定方向と直交する方向に沿って幅Ly3に形成されている。幅Ly1と幅Ly2とを合わせた長さは、開口部3の規定方向と直交する方向に沿った最長部の長さLy3に相当する。
また、隣接する開口部3間の規定方向に沿った距離Lx4は、図1(a)に示すように、梁部4の規定方向に沿った幅のうち最短の幅Lx4に相当する。隣接する開口部3間の規定方向と直交する方向に沿った距離Ly4は、図1(a)に示すように、梁部4の規定方向と直交する方向に沿った幅のうち最短の長さLy4に相当する。
Specifically, as shown in FIG. 1B, the opening 3 includes a substantially rectangular first opening 3a formed in a width Lx1 along a prescribed direction (for example, the x-axis direction) and a prescribed direction. A second opening (narrow portion) 3b having a substantially rectangular shape is formed along the width Lx2. The reinforcing portion 5 is formed adjacent to the second opening 3b, and has a convex portion 5a having a width Lx3 along the specified direction. The total length of the width Lx2 and the width Lx3 corresponds to the length of the width Lx1.
Further, as shown in FIG. 1B, for example, the first opening 3a is formed with a width Ly1 along a direction (for example, the y-axis direction) orthogonal to the prescribed direction, and the second opening (width) The narrow portion 3b is formed with a width Ly2 along a direction orthogonal to the prescribed direction. At this time, the convex portion 5a of the reinforcing portion 5 is formed with a width Ly3 along a direction orthogonal to the prescribed direction. The total length of the width Ly <b> 1 and the width Ly <b> 2 corresponds to the length Ly <b> 3 of the longest portion along the direction orthogonal to the defined direction of the opening 3.
Further, the distance Lx4 along the prescribed direction between the adjacent openings 3 corresponds to the shortest width Lx4 among the widths along the prescribed direction of the beam part 4 as shown in FIG. The distance Ly4 along the direction perpendicular to the prescribed direction between the adjacent openings 3 is the shortest length of the widths along the direction perpendicular to the prescribed direction of the beam 4 as shown in FIG. Corresponds to Ly4.

上述したように本実施形態に係る成膜用マスク1には補強部5が形成されており、梁部4の規定方向に沿った最大の幅Lx5は、幅Lx4と補強部5の幅Lx3とを合わせた長さに相当し、梁部4の規定方向と直交する方向に沿った最大の幅Ly5は、幅Ly4と補強部5の幅Ly2とを合わせた長さに相当する。上述したように補強部5および梁部4により幅広部が形成されるので、成膜用マスク1全体の剛性が高くなり、マスクの変形が低減することができる。   As described above, the reinforcing portion 5 is formed in the film formation mask 1 according to the present embodiment, and the maximum width Lx5 along the prescribed direction of the beam portion 4 is the width Lx4 and the width Lx3 of the reinforcing portion 5. The maximum width Ly5 along the direction orthogonal to the prescribed direction of the beam portion 4 corresponds to the total length of the width Ly4 and the width Ly2 of the reinforcing portion 5. Since the wide portion is formed by the reinforcing portion 5 and the beam portion 4 as described above, the rigidity of the entire film-forming mask 1 is increased, and deformation of the mask can be reduced.

また、これら成膜用マスク1の開口パターン2は、エッチング工程や打ち抜き工程等の所定の工程により形成する。つまり開口部3および補強部5も同様な工程により形成する。上述したように例えば変形防止のために補強線等を別途設けることなく、補強部5を実現するパターン形状を有する開口部3を、簡単に形成することができる。   Further, the opening pattern 2 of the film formation mask 1 is formed by a predetermined process such as an etching process or a punching process. That is, the opening 3 and the reinforcing part 5 are formed by the same process. As described above, for example, the opening 3 having a pattern shape for realizing the reinforcing portion 5 can be easily formed without separately providing a reinforcing wire or the like for preventing deformation.

また、本発明に係る成膜用マスク1を、アクティブ駆動型自発光パネルを製造する際の成膜用マスクに採用した場合に、補強部5は、TFT形成領域に対応した位置に凸部5aを備えることが好ましい。詳細な説明は後述する。   Further, when the film-forming mask 1 according to the present invention is used as a film-forming mask when manufacturing an active drive type self-luminous panel, the reinforcing part 5 has a convex part 5a at a position corresponding to the TFT formation region. It is preferable to provide. Detailed description will be given later.

図2は、図1に示した成膜用マスクとマスクホルダを説明するための図である。図2に示すように、支持部材(マスクホルダ)6は平坦部6aを有し、平坦部6aに例えば図1(a)に示した成膜用マスク1が備えらえる。この際、成膜用マスク1に引張力が印加され、たわみのない状態(平坦化状態)でマスクホルダ6の平坦部6aに接着剤等により貼り付けられる。また、成膜用マスク1には、例えば図2に示すように、位置調整用開口部7が形成されている。位置調整用開口部7は、例えば成膜時に、被成膜対象の基板と成膜用マスク1との位置調整を行う際の指標として用いられる。   FIG. 2 is a view for explaining the film forming mask and the mask holder shown in FIG. As shown in FIG. 2, the support member (mask holder) 6 has a flat portion 6a, and the film forming mask 1 shown in FIG. At this time, a tensile force is applied to the film-forming mask 1, and the film is attached to the flat portion 6a of the mask holder 6 with an adhesive or the like in a state where there is no deflection (a flattened state). Further, as shown in FIG. 2, for example, a position adjusting opening 7 is formed in the film forming mask 1. The position adjustment opening 7 is used as an index for adjusting the position of the film formation target substrate and the film formation mask 1 at the time of film formation, for example.

図3は、図1,2に示した成膜用マスクを用いた自発光パネルの製造方法を説明するための図である。本発明の一実施形態に係る自発光パネルは、基板上に直接又は他の層を介して第1の導電層を形成し、該第1の導電層の上に発光層を含む成膜層を成膜し、該成膜層の上に第2の導電層を成膜して一つまたは複数の自発光素子を形成してなる。成膜層の成膜工程を行う製造装置は、例えば図3に示すように、自発光素子基板9の成膜領域9Aに対応した開口パターンが形成された成膜用マスク1を、成膜源8と自発光素子基板9との間に配備する。ここで、成膜用マスク1と自発光素子基板9とを密着させても分離させた位置に配備してもよい。また、図示しないが、マスクホルダ6と成膜用マスク1とを逆に配置させて、成膜源8側から成膜用マスク1,マスクホルダ6,自発光素子基板9の順に配置してもよい。   FIG. 3 is a diagram for explaining a method of manufacturing a self-luminous panel using the film formation mask shown in FIGS. In a self-luminous panel according to an embodiment of the present invention, a first conductive layer is formed on a substrate directly or via another layer, and a film-forming layer including a light-emitting layer is formed on the first conductive layer. A film is formed, and a second conductive layer is formed on the film formation layer to form one or a plurality of self-luminous elements. For example, as shown in FIG. 3, a manufacturing apparatus that performs a film formation process of a film formation layer uses a film formation mask 1 in which an opening pattern corresponding to a film formation region 9A of a self-luminous element substrate 9 is formed. 8 and the self-luminous element substrate 9. Here, the film-forming mask 1 and the self-light-emitting element substrate 9 may be disposed in close contact or separated positions. Although not shown, the mask holder 6 and the film-forming mask 1 may be arranged in reverse, and the film-forming mask 1, the mask holder 6, and the self-light-emitting element substrate 9 may be arranged in this order from the film-forming source 8 side. Good.

また、自発光素子基板9には、例えば図3に示すように、位置調整用のマーク9mが形成されており、このマーク9mと位置調整用開口部7の位置を基準として、成膜用マスク1と自発光素子基板9との位置調整を行う。例えばマーク9m及び/又は位置調整用開口部7に光を照射し、マーク9mや調整用開口部7からの光を受光部79にて受光した結果に基づいて、成膜用マスク1と自発光素子基板9の位置調整を行う。上記配備後、成膜用マスク1を介して成膜源8から自発光素子基板9上に成膜層8aを形成する。
成膜用マスク1が、本発明に係る開口部3と位置調整用開口部7を有し、成膜時に位置調整用開口部7により高精度に位置調整を行うので、高精度に成膜パターンを形成することができる。また、発光色毎の塗り分け等のために開口パターンの異なる成膜用マスク1を交換する必要がある場合でも、交換を短時間に行うことができ、製造時間の短縮化を実現することができる。また、成膜用マスク1と自発光素子基板9とを相対的に所定間隔で平行移動しながら成膜する場合であっても、短時間に位置調整を行うことができ、製造時間の短縮化を実現することができる。また、色毎の成膜領域に対して色毎に成膜を行う場合であっても、変形の度合いが低い成膜用マスク1を用いて、高精度に位置調整を行いながら成膜を行うことがきるので、色ずれなどがない高い表示性能の自発光パネルを得ることができる。
Further, for example, as shown in FIG. 3, a mark 9 m for position adjustment is formed on the self-light emitting element substrate 9, and a film forming mask is used with reference to the position of the mark 9 m and the position adjustment opening 7. 1 and the self-luminous element substrate 9 are adjusted in position. For example, the mark 9 m and / or the position adjusting opening 7 is irradiated with light, and the light from the mark 9 m and the adjusting opening 7 is received by the light receiving unit 79. The position of the element substrate 9 is adjusted. After the deployment, a film formation layer 8 a is formed on the self-luminous element substrate 9 from the film formation source 8 through the film formation mask 1.
Since the film formation mask 1 has the opening 3 and the position adjustment opening 7 according to the present invention, and the position adjustment opening 7 performs the position adjustment with high accuracy at the time of film formation, the film formation pattern with high accuracy. Can be formed. Further, even when it is necessary to replace the film-forming mask 1 having a different opening pattern for different colors for each emission color, the replacement can be performed in a short time, and the manufacturing time can be shortened. it can. Further, even when the film formation mask 1 and the self-light emitting element substrate 9 are formed while relatively moving in parallel with each other at a predetermined interval, the position adjustment can be performed in a short time, and the manufacturing time can be shortened. Can be realized. Further, even in the case where film formation is performed for each color in the film formation region for each color, film formation is performed while highly accurate position adjustment is performed using the film formation mask 1 having a low degree of deformation. Therefore, it is possible to obtain a self-luminous panel with high display performance without color misregistration.

図4は、本発明に係る自発光パネルの一実施形態を説明するための図である。図4(a)は図2に示した成膜用マスクを用いて成膜された自発光パネルを説明するための図である。図4(b)は図4(a)に示した一画素を説明するための拡大図である。自発光素子基板9上には、例えば図4(a),(b)に示すように、被成膜対象の成膜領域(画素領域)毎に、成膜層8bが形成される。この成膜層8bは、上述したように成膜用マスク1を介して成膜される。
例えばアクティブ駆動型自発光パネル10を形成する場合、予め自発光素子基板9上に、画素単位でTFT(Thin Film Transistor)を形成しておき、上記構成の成膜用マスク1を用いて成膜を行うと、補強部5の凸部5aによりTFT形成領域11がマスクされ、TFT形成領域11に成膜層が形成されない。このため無駄に成膜層を形成することを低減することができる。
つまり、成膜用マスク1は、被成膜対象の画素領域に対応してマトリクス状に複数の開口部3が形成され、当該開口部3の角部に形成され開口部3の内側に向けて補強部5として凸部5aが形成されており、成膜層8bは、成膜用マスク1に対応した成膜パターン8cが形成され、当該成膜パターン8c中の成膜部8dの角部に、凸部5aに対応した凹部8eが形成される。
FIG. 4 is a view for explaining an embodiment of the self-luminous panel according to the present invention. FIG. 4A is a diagram for explaining a self-luminous panel formed using the film-forming mask shown in FIG. FIG. 4B is an enlarged view for explaining one pixel shown in FIG. On the self-light emitting element substrate 9, for example, as shown in FIGS. 4A and 4B, a film formation layer 8b is formed for each film formation region (pixel region) to be formed. The film formation layer 8b is formed through the film formation mask 1 as described above.
For example, when forming the active drive type self-luminous panel 10, TFTs (Thin Film Transistors) are formed in advance on the self-luminous element substrate 9 in units of pixels, and film formation is performed using the film formation mask 1 having the above-described configuration. As a result, the TFT formation region 11 is masked by the convex portion 5 a of the reinforcing portion 5, and no film formation layer is formed in the TFT formation region 11. For this reason, it can reduce forming a film-forming layer uselessly.
That is, the film formation mask 1 has a plurality of openings 3 formed in a matrix corresponding to the pixel region to be formed, and formed at the corners of the openings 3 toward the inside of the openings 3. A convex portion 5a is formed as the reinforcing portion 5, and a film formation pattern 8c corresponding to the film formation mask 1 is formed on the film formation layer 8b, and is formed at the corner of the film formation portion 8d in the film formation pattern 8c. A concave portion 8e corresponding to the convex portion 5a is formed.

以上説明したように、被成膜対象の成膜領域に対応して形成された開口パターンを備え、当該開口パターンが該マスクの変形を防止する補強部を有する成膜用マスク1を、成膜源と自発光素子基板との間に配備する第1の工程と、第1の工程後、成膜用マスク1を介して成膜源8から自発光素子基板9上に成膜層を形成する第2の工程とを行うので、簡単な工程により高精度な成膜パターンを得ることができ、高精度な表示性能を持つ自発光パネルを得ることができる。また、成膜用マスク1を用いて色毎の成膜領域に色毎に成膜を行うことで、色ずれのない高い表示性能の自発光パネルを得ることができる。   As described above, the film formation mask 1 having the opening pattern corresponding to the film formation region to be formed and having the reinforcing portion that prevents the mask from being deformed is formed. A film forming layer is formed on the light emitting element substrate 9 from the film forming source 8 through the film forming mask 1 after the first process disposed between the light source and the light emitting element substrate and the first process. Since the second step is performed, a highly accurate film forming pattern can be obtained by a simple step, and a self-luminous panel having a highly accurate display performance can be obtained. Further, by forming a film for each color in a film formation region for each color using the film formation mask 1, a self-luminous panel having high display performance without color misregistration can be obtained.

[第2実施形態]
図5は、本発明の第2実施形態に係る成膜用マスクを説明するための図である。第1実施形態と第2実施形態との共通する部分については、一部説明を省略する。本実施形態に係る成膜用マスク1aは、例えば図5に示すように、複数の開口部3がマトリクス状に形成されており、開口部3に形成される補強部5の位置が行毎に異なる。詳細には、図5に示すように、奇数行目の開口部3は、図に向かって左下角部に補強部5が形成され、偶数行目の開口部3は、図に向かって右下角部に補強部5が形成されている。補強部5の位置は、上述した形態に限られるものではない。例えば補強部5の位置は、偶数行目と奇数行目が逆であってもよいし、列毎に異なっていてもよいし、例えば4つの角部のいずれかに形成されていてもよいし、開口部3に隣接してランダムな位置に形成されていてもよい。
[Second Embodiment]
FIG. 5 is a view for explaining a film formation mask according to the second embodiment of the present invention. Description of parts common to the first embodiment and the second embodiment is omitted. In the film formation mask 1a according to the present embodiment, as shown in FIG. 5, for example, a plurality of openings 3 are formed in a matrix, and the positions of the reinforcing portions 5 formed in the openings 3 are line by line. Different. Specifically, as shown in FIG. 5, the openings 3 in the odd-numbered rows are formed with the reinforcing portions 5 in the lower left corners as viewed in the figure, and the openings 3 in the even-numbered rows are formed in the lower right corners as viewed in the drawings. The reinforcement part 5 is formed in the part. The position of the reinforcement part 5 is not restricted to the form mentioned above. For example, the position of the reinforcing portion 5 may be reversed between the even-numbered row and the odd-numbered row, may be different for each column, or may be formed at any one of the four corner portions, for example. Further, it may be formed at a random position adjacent to the opening 3.

[第3実施形態]
図6は、本発明の第3実施形態に係る成膜用マスクを説明するための図である。図6(a)はスリット型マスクを説明するための図である。図6(b)は図6(a)に示したスリットの一部分を拡大した図である。本実施形態に係るスリット方式の成膜用マスク1bは、図6(a)に示すように、複数の開口部3bがスリット形状に形成された開口パターン2bを有する。また、成膜用マスク1bは、図6(a),(b)に示すように、開口部3bの長手方向に沿って一つまたは複数形成されて開口部3bの内側に向けた凸部形状からなる補強部5bを有する。詳細には、成膜用マスク1bは、開口部3bに隣接して一端部側に規定間隔Ly21に補強部5bが形成されている。例えば補強部5bは、図6(a)に示すように被成膜対象の画素領域毎に凸部を備えることが好ましい。
より具体的には、図6(a)に示すように、成膜用マスク1bは、規定方向(例えばx軸方向)に沿って複数個の開口部2bが配列されている。補強部5bは、図6(a)に示すように、規定方向に直交する方向(例えばy軸方向)に沿って、規定個数の補強部5bが形成されている。補強部5bの規定方向に沿った幅Lx11は、開口部2bの規定方向に沿った幅Lx12より短く設定されている。
また、隣接する開口部3間の規定方向に沿った距離Lx21は、図6(a)に示すように、梁部4の規定方向に沿った幅のうち最短の幅Lx21に相当する。また、梁部4の規定方向に沿った最大の幅Lx22は、幅Lx21と補強部5bの幅Lx11とを合わせた長さに相当する。上述したように補強部5および梁部4により幅広部が形成されているので、成膜用マスク1b全体の剛性が高くなり、成膜用マスクの変形を低減することができる。
[Third Embodiment]
FIG. 6 is a view for explaining a film formation mask according to the third embodiment of the present invention. FIG. 6A is a view for explaining a slit-type mask. FIG. 6B is an enlarged view of a part of the slit shown in FIG. As shown in FIG. 6A, the slit type film formation mask 1b according to the present embodiment has an opening pattern 2b in which a plurality of openings 3b are formed in a slit shape. Further, as shown in FIGS. 6A and 6B, one or a plurality of film formation masks 1b are formed along the longitudinal direction of the opening 3b, and the convex shape is directed toward the inside of the opening 3b. It has the reinforcement part 5b which consists of. Specifically, the film-forming mask 1b is formed with a reinforcing portion 5b adjacent to the opening 3b at one end and at a specified interval Ly21. For example, the reinforcing portion 5b preferably includes a convex portion for each pixel region to be deposited as shown in FIG.
More specifically, as shown in FIG. 6A, the film formation mask 1b has a plurality of openings 2b arranged along a prescribed direction (for example, the x-axis direction). As shown in FIG. 6A, the reinforcing portion 5b is formed with a specified number of reinforcing portions 5b along a direction orthogonal to the specified direction (for example, the y-axis direction). The width Lx11 along the prescribed direction of the reinforcing portion 5b is set shorter than the width Lx12 along the prescribed direction of the opening 2b.
Further, the distance Lx21 along the prescribed direction between the adjacent openings 3 corresponds to the shortest width Lx21 among the widths along the prescribed direction of the beam part 4 as shown in FIG. In addition, the maximum width Lx22 along the prescribed direction of the beam portion 4 corresponds to the total length of the width Lx21 and the width Lx11 of the reinforcing portion 5b. Since the wide portion is formed by the reinforcing portion 5 and the beam portion 4 as described above, the rigidity of the entire film formation mask 1b is increased, and deformation of the film formation mask can be reduced.

図7は本発明に係る自発光パネルの一実施形態を説明するための図である。図7(a)は図6に示した成膜用マスクを用いて成膜された自発光パネルを説明するための図である。図7(b)は図7(a)に示した画素を説明するための拡大図である。例えばパッシブ駆動型自発光パネルを製造する際に、上記成膜用マスク1bを用いて成膜を行った場合、自発光素子基板9b上には図7(a),(b)に示すように被成膜対象の成膜領域毎に成膜層8bが形成される。詳細には自発光素子基板9上には第1の導電層や隔壁部11が形成されており、成膜用マスク1bを介して成膜することにより、図7(a),(b)に示すように、隔壁部11以外の成膜領域(画素領域)毎に成膜層8bが形成される。また、図7(a)に示すように、成膜層8bの下端部には補助配線81が形成される。   FIG. 7 is a view for explaining an embodiment of the self-luminous panel according to the present invention. FIG. 7A is a diagram for explaining a self-luminous panel formed using the film formation mask shown in FIG. FIG. 7B is an enlarged view for explaining the pixel shown in FIG. For example, when a film is formed using the film-forming mask 1b when manufacturing a passive drive type self-luminous panel, the self-luminous element substrate 9b is formed on the self-luminous element substrate 9b as shown in FIGS. A film formation layer 8b is formed for each film formation region to be formed. More specifically, the first conductive layer and the partition wall 11 are formed on the self-light-emitting element substrate 9, and the film is formed through the film-forming mask 1b, so that the structure shown in FIGS. As shown, a film formation layer 8 b is formed for each film formation region (pixel region) other than the partition wall 11. Further, as shown in FIG. 7A, an auxiliary wiring 81 is formed at the lower end of the film formation layer 8b.

また、上述したように、成膜用マスク1bは、開口部3の長手方向に沿って複数形成されて開口部3の内側に向けて凸部形状からな補強部5を有する。詳細には、成膜用マスク1bは、被成膜対象の画素領域に対応してスリット状に複数の開口部3が形成され、開口部3bに隣接して規定間隔Ly21で補強部5bが形成されており、成膜層8bは、成膜用マスク1bおよび隔壁部11に対応して成膜パターン8cが形成され、当該成膜パターン8c中の成膜部8dの角部に、補強部5bに対応した凹部8eが形成されている。   Further, as described above, the film-forming mask 1 b has a plurality of reinforcing portions 5 that are formed along the longitudinal direction of the opening 3 and have a convex shape toward the inside of the opening 3. Specifically, in the film formation mask 1b, a plurality of openings 3 are formed in a slit shape corresponding to the pixel region to be formed, and the reinforcing portions 5b are formed adjacent to the openings 3b at a specified interval Ly21. In the film formation layer 8b, a film formation pattern 8c is formed corresponding to the film formation mask 1b and the partition wall 11, and the reinforcing portion 5b is formed at the corner of the film formation portion 8d in the film formation pattern 8c. A recess 8e corresponding to is formed.

以上説明したように、本実施形態に係る成膜用マスク1bの開口パターン2は、複数の開口部3bがスリット形状に形成され、補強部5bとして、開口部3bにおいて規定間隔Ly21、詳細には被成膜対象の画素領域毎に凸部が形成されているので、補強部5bが形成されていない成膜用マスクと比べて、剛性が高く、成膜時の変形を低減することができる。また、上述したようにパッシブ駆動型自発光パネルを製造する場合にも本発明に係る成膜用マスク1bを用いて製造することで、高精度な成膜パターンを有する成膜層を形成することができる。   As described above, the opening pattern 2 of the film formation mask 1b according to the present embodiment has a plurality of openings 3b formed in a slit shape, and serves as a reinforcing portion 5b. Since the convex portion is formed for each pixel region to be deposited, the rigidity is higher than that of the deposition mask without the reinforcing portion 5b, and deformation during deposition can be reduced. In addition, as described above, even when a passively driven self-luminous panel is manufactured, a film formation layer having a highly accurate film formation pattern is formed by using the film formation mask 1b according to the present invention. Can do.

[第4実施形態]
図8は、本発明の第4実施形態に係る成膜用マスクを説明するための図である。第3および第4の実施形態で共通する部分については、一部説明を省略する。本実施形態に係る成膜用マスク1cは、例えば図8に示すように、複数の開口部3cがスリット形状に形成された開口パターン2cを有する。また、成膜用マスク1cは、図8に示すように、開口部3cに隣接して両端部に交互に規定間隔Ly22で補強部5cを備える。このように、補強部5cを開口部3の両端部に交互に形成することにより、一端部側にのみ補強部を形成した場合と比べて高い剛性を得ることができ、成膜時のマスクの変形をより低減することができる。
[Fourth Embodiment]
FIG. 8 is a view for explaining a film formation mask according to the fourth embodiment of the present invention. Description of parts common to the third and fourth embodiments is omitted. As shown in FIG. 8, for example, the film formation mask 1c according to this embodiment has an opening pattern 2c in which a plurality of openings 3c are formed in a slit shape. Further, as shown in FIG. 8, the film formation mask 1 c includes reinforcing portions 5 c that are alternately adjacent to the opening 3 c at both end portions at a specified interval Ly <b> 22. Thus, by alternately forming the reinforcing portions 5c at both ends of the opening 3, it is possible to obtain higher rigidity than when the reinforcing portions are formed only at one end side, and the mask at the time of film formation can be obtained. Deformation can be further reduced.

[第5実施形態]
図9は、本発明の第5実施形態に係る成膜用マスクと発光領域との位置関係を説明するための図である。例えば図9に示すように、成膜工程時に、成膜用マスク1の開口部開口部3を介して、成膜源から自発光素子基板9上に成膜層を形成する。この際、カラー塗り分けのために色毎に、開口パターンが異なるマスクを配置してもよいし、成膜用マスク1と自発光素子基板9とを規定方向に規定距離だけ相対移動させながら塗り分けを行ってもよい。こうすることにより、色毎に高精度に成膜パターンを得ることができ、色ずれ等がない高い表示性能の自発光パネルを得ることができる。
[Fifth Embodiment]
FIG. 9 is a view for explaining the positional relationship between the film forming mask and the light emitting region according to the fifth embodiment of the present invention. For example, as shown in FIG. 9, during the film formation process, a film formation layer is formed on the self-luminous element substrate 9 from the film formation source through the opening 3 of the film formation mask 1. At this time, a mask having a different opening pattern may be arranged for each color for color coating, or coating is performed while relatively moving the film-forming mask 1 and the self-light-emitting element substrate 9 by a specified distance in a specified direction. Dividing may be performed. By doing so, it is possible to obtain a film-forming pattern with high accuracy for each color, and to obtain a self-luminous panel with high display performance without color misregistration.

以下、上述した自発光パネルを有機ELパネルとした場合の製造方法の一具体例を説明する。製造装置としては、上述したものを用い、これによって有機ELパネルの製造工程の中で成膜層の形成を行う成膜工程を行う。   Hereinafter, a specific example of a manufacturing method in the case where the above-described self-luminous panel is an organic EL panel will be described. As the manufacturing apparatus, the above-described apparatus is used, and thereby a film forming process for forming a film forming layer is performed in the manufacturing process of the organic EL panel.

先ず、本発明に係る成膜用マスク1を、アセトンおよび純水で満たされた槽内に浸漬させ、超音波洗浄を行った後、室内温度約100°Cの恒温槽内に保持して乾燥させる。洗浄済みの成膜用マスクを成膜用マスクホルダに撓みがない状態で固定して、成膜用マスクが蒸着用装置内で使用できるように準備し、成膜用マスクを真空槽(仕込み室)に搬送する。ガラス製の基板上に約110nmのITO(下部電極)をスパッタ法により成膜する。次に、フォトレジストを用いてフォトリソ法により格子状にITO電極をパターン形成し、ITO電極を形成した基盤に絶縁膜を形成する。
次に、基板上に電気絶縁機能が高いポジ型レジスト材料を塗布し、例えばスピンコート法にて成膜する。成膜後に、基板を約100°Cにて約80秒加熱し、溶媒を揮発させた後に露光装置でフォトマスクを介して約50mJ/cm2の照射条件で露光した後、アルカリ水溶液にて現像を行い、温度約300°Cの恒温恒湿槽にて熱処理を行い、絶縁膜をパターニングする。次に絶縁膜を形成した基板に、約10分間UV/オゾン照射を施した後、温度約300°Cのホットプレートにより約10分間加熱した後に、真空槽(仕込み槽)に搬送する。真空槽に配置した成膜用マスクを蒸着室に搬送する。基板を真空槽から蒸着室に搬送する。成膜用マスクの開口部と、基板上の表示領域を高精度に位置調整し、位置調整後に基板と成膜用マスクとの間隔の調整を行う。
次に、成膜領域に有機EL素子を形成する。例えばホール注入層の材料、例えばCuPCを約25nm、ホール輸送層の材料例えばα−NPDを約45nm、発光層の材料として例えばAlq3を約60nm、電子注入層の材料として例えばLiF を約0.5 nmの厚さに抵抗加熱法にて真空槽内で成膜を行う。
真空槽内で、陰極用のシャドウマスクを施し、ITOのストライプと直交するストライプ状のアルミニウム(上部電極)を、毎秒1nmの速度で100nmの厚さに抵抗加熱法にて真空槽内で成膜を行う。次に有機EL素子が形成された基板を、スパッタ成膜用チャンバに移送する。移送後、スパッタ法によりSiONからなる膜厚約100nmの封止膜を形成して、本発明に係る自発光パネルを製造する。また、この自発光パネルに駆動ドライバや電源回路、制御回路等を設けて自発光表示装置を製造する。
First, the film-forming mask 1 according to the present invention is immersed in a tank filled with acetone and pure water, subjected to ultrasonic cleaning, and then held in a constant temperature bath having a room temperature of about 100 ° C. and dried. Let Fix the cleaned film formation mask to the film formation mask holder without bending, and prepare the film formation mask so that it can be used in the evaporation apparatus. ). An ITO (lower electrode) of about 110 nm is formed on a glass substrate by sputtering. Next, an ITO electrode is patterned in a lattice shape using a photoresist by a photolithography method, and an insulating film is formed on the substrate on which the ITO electrode is formed.
Next, a positive resist material having a high electrical insulation function is applied on the substrate, and a film is formed, for example, by spin coating. After film formation, the substrate is heated at about 100 ° C. for about 80 seconds to volatilize the solvent, and then exposed with an exposure apparatus through a photomask under irradiation conditions of about 50 mJ / cm 2 and then developed with an alkaline aqueous solution. Then, heat treatment is performed in a constant temperature and humidity chamber at a temperature of about 300 ° C. to pattern the insulating film. Next, the substrate on which the insulating film is formed is irradiated with UV / ozone for about 10 minutes, and then heated for about 10 minutes with a hot plate having a temperature of about 300 ° C., and then transferred to a vacuum chamber (preparation tank). The deposition mask placed in the vacuum chamber is transferred to the vapor deposition chamber. The substrate is transferred from the vacuum chamber to the deposition chamber. The position of the opening of the film formation mask and the display area on the substrate are adjusted with high accuracy, and the distance between the substrate and the film formation mask is adjusted after the position adjustment.
Next, an organic EL element is formed in the film formation region. For example, the hole injection layer material, for example, CuPC is about 25 nm, the hole transport layer material, for example, α-NPD is about 45 nm, the light emitting layer material, for example, Alq 3 is about 60 nm, and the electron injection layer material, for example, LiF is about 0.5 nm. Film formation is performed in a vacuum chamber by resistance heating to a thickness.
In the vacuum chamber, a shadow mask for the cathode is applied, and striped aluminum (upper electrode) perpendicular to the ITO stripe is deposited in the vacuum chamber to a thickness of 100 nm at a rate of 1 nm per second by resistance heating. I do. Next, the substrate on which the organic EL element is formed is transferred to a sputtering film forming chamber. After the transfer, a sealing film having a thickness of about 100 nm made of SiON is formed by sputtering, and the self-luminous panel according to the present invention is manufactured. In addition, a drive driver, a power supply circuit, a control circuit, and the like are provided on the self light emitting panel to manufacture a self light emitting display device.

なお、本発明は上述した実施形態に限られるものではない。上述した実施形態それぞれを組み合わせてもよい。
以下、図10を参照しながら、上述した自発光パネルの一具体例として有機ELパネルを例に挙げて、具体構成を説明する。
有機ELパネル100の基本構成は、第1電極(第1の導電層)131と第2電極(第2の導電層)132との間に成膜層133を挟持して支持基板110上に複数の有機EL素子130を形成したものである。図示の例では、支持基板110上にSiO被覆層120aを形成しており、その上に形成される第1電極131をITO等の透明電極からなる陽極に設定し、第2電極132をAl等の金属材料からなる陰極に設定して、支持基板110側から光を取り出すボトムエミッション方式を構成している。また、成膜層133としては、正孔輸送層133A,発光層133B,電子輸送層133Cの3層構造の例を示している。そして、支持基板110と封止部材111とを接着層112を介して窒素などの不活性ガス雰囲気中で貼り合わせることによって封止領域Sを形成し、この封止領域S内に有機EL素子130からなる自発光素子部を形成している。
The present invention is not limited to the embodiment described above. You may combine each embodiment mentioned above.
Hereinafter, with reference to FIG. 10, a specific configuration will be described by taking an organic EL panel as an example of the above-described self-luminous panel.
The basic configuration of the organic EL panel 100 is that a plurality of film formation layers 133 are sandwiched between a first electrode (first conductive layer) 131 and a second electrode (second conductive layer) 132 on the support substrate 110. The organic EL element 130 is formed. In the illustrated example, the SiO 2 coating layer 120a is formed on the support substrate 110, the first electrode 131 formed thereon is set as an anode made of a transparent electrode such as ITO, and the second electrode 132 is made of Al. A bottom emission method is adopted in which light is extracted from the support substrate 110 side by setting a cathode made of a metal material such as the above. In addition, as the film formation layer 133, an example of a three-layer structure of a hole transport layer 133A, a light emitting layer 133B, and an electron transport layer 133C is shown. Then, the sealing region S is formed by bonding the support substrate 110 and the sealing member 111 in an inert gas atmosphere such as nitrogen through the adhesive layer 112, and the organic EL element 130 is formed in the sealing region S. The self-luminous element part which consists of is formed.

有機EL素子130からなる自発光素子部は、図示の例では、第1電極131を絶縁層134で区画しており、区画された第1電極131の下に各有機EL素子130による単位表示領域(130R,130G,130B)を形成している。また、封止領域Sを形成する封止部材111の内面には乾燥手段140が取り付けられて、湿気による有機EL素子130の劣化を防止している。   In the illustrated example, the self-light emitting element unit composed of the organic EL element 130 has a first electrode 131 partitioned by an insulating layer 134, and a unit display area by each organic EL element 130 below the partitioned first electrode 131. (130R, 130G, 130B) are formed. In addition, a drying unit 140 is attached to the inner surface of the sealing member 111 that forms the sealing region S to prevent the organic EL element 130 from being deteriorated due to moisture.

また、支持基板110の端部に形成される引出領域110A上には、第1電極131と同材料,同工程で形成される第1の電極層121Aが、第1電極131とは絶縁層134で絶縁された状態でパターン形成されている。第1の電極層121Aの引出配線部分には、銀合金等を含む低抵抗配線部分を形成する第2の電極層121Bが形成されており、更にその上に、必要に応じてIZO等の保護被膜121Cが形成されて、第1の電極層121A,第2の電極層121B,保護被膜121Cからなる引出配線部121が形成されている。そして、封止領域S内端部で第2電極132の端部132aが引出配線121に接続されている。   In addition, a first electrode layer 121A formed by the same material and in the same process as the first electrode 131 is formed on the extraction region 110A formed at the end of the support substrate 110, and the insulating layer 134 is separated from the first electrode 131. The pattern is formed in an insulated state. A second electrode layer 121B for forming a low resistance wiring portion containing a silver alloy or the like is formed on the lead wiring portion of the first electrode layer 121A. Further, if necessary, protection such as IZO or the like is provided. A coating 121C is formed to form a lead-out wiring portion 121 including the first electrode layer 121A, the second electrode layer 121B, and the protective coating 121C. The end 132 a of the second electrode 132 is connected to the lead-out wiring 121 at the inner end of the sealing region S.

第1電極131の引出配線は、図示省略しているが、第1電極131を延出して封止領域S外に引き出すことによって形成することができる。この引出配線においても、前述した第2電極132の場合と同様に、Ag合金等を含む低抵抗配線部分を形成する電極層を形成することもできる。
そして、封止部材111の引出配線部121に臨む端縁111E0は支持基板110と封止部材111の貼り合わせ前に加工された孔加工縁によって形成されている。
Although the drawing wiring of the first electrode 131 is not shown, it can be formed by extending the first electrode 131 and pulling it out of the sealing region S. In this lead wiring, as in the case of the second electrode 132 described above, an electrode layer for forming a low resistance wiring portion containing an Ag alloy or the like can also be formed.
An end edge 111E0 of the sealing member 111 facing the lead-out wiring part 121 is formed by a hole processing edge processed before the support substrate 110 and the sealing member 111 are bonded together.

以下、有機ELパネル100の細部について、更に具体的に説明する。
a.電極;
第1電極131,第2電極132は、一方が陰極側、他方が陽極側に設定される。陽極側は陰極側より仕事関数の高い材料で構成され、クロム(Cr)、モリブデン(Mo)、ニッケル(Ni)、白金(Pt)等の金属膜やITO、IZO等の透明導電膜が用いられる。逆に陰極側は陽極側より仕事関数の低い材料で構成され、アルカリ金属(Li,Na,K,Rb,Cs)、アルカリ土類金属(Be,Mg,Ca,Sr,Ba)、希土類金属等、仕事関数の低い金属、その化合物、又はそれらを含む合金、ドープされたポリアニリンやドープされたポリフェニレンビニレン等の非晶質半導体、Cr2O3、NiO、Mn2O5等の酸化物を使用できる。また、第1電極131,第2電極132ともに透明な材料により構成した場合には、光の放出側と反対の電極側に反射膜を設けた構成にすることもできる。
Hereinafter, details of the organic EL panel 100 will be described more specifically.
a. electrode;
One of the first electrode 131 and the second electrode 132 is set on the cathode side, and the other is set on the anode side. The anode side is made of a material having a higher work function than the cathode side, and a metal film such as chromium (Cr), molybdenum (Mo), nickel (Ni), platinum (Pt), or a transparent conductive film such as ITO or IZO is used. . Conversely, the cathode side is made of a material having a lower work function than the anode side, such as alkali metals (Li, Na, K, Rb, Cs), alkaline earth metals (Be, Mg, Ca, Sr, Ba), rare earth metals, etc. Further, a metal having a low work function, a compound thereof, an alloy containing them, an amorphous semiconductor such as doped polyaniline or doped polyphenylene vinylene, or an oxide such as Cr2O3, NiO, or Mn2O5 can be used. In the case where both the first electrode 131 and the second electrode 132 are made of a transparent material, a configuration in which a reflective film is provided on the electrode side opposite to the light emission side can also be adopted.

引出配線部(図示の引出配線部121及び第1電極131の引出配線)には、有機ELパネル100を駆動する駆動回路部品やフレキシブル配線基板が接続されるが、可能な限り低抵抗に形成することが好ましく、前述したように、Ag合金或いはAPC,Cr,Al等の低抵抗金属電極層を積層するか、或いはこれらの低抵抗金属電極単独で形成することができる。   A drive circuit component and a flexible wiring board for driving the organic EL panel 100 are connected to the lead wiring part (the lead wiring part 121 and the lead wiring of the first electrode 131 shown in the figure). Preferably, as described above, a low-resistance metal electrode layer such as an Ag alloy or APC, Cr, or Al can be laminated, or these low-resistance metal electrodes can be formed alone.

b.成膜層;
成膜層133は、少なくとも発光層を含む単層又は多層の成膜層からなるが、層構成はどのように形成されていても良い。一般には、図10に示すように、陽極側から陰極側に向けて、正孔輸送層133A、発光層133B、電子輸送層133Cを積層させたものを用いることができるが、発光層133B、正孔輸送層133A、電子輸送層133Cはそれぞれ1層だけでなく複数層積層して設けても良く、正孔輸送層133A、電子輸送層133Cについてはどちらかの層を省略しても、両方の層を省略しても構わない。また、正孔注入層、電子注入層等の有機材料層を用途に応じて挿入することも可能である。正孔輸送層133A、発光層133B、電子輸送層133Cは従来の使用されている材料(高分子材料、低分子材料を問わない)を適宜選択して採用できる。
また、発光層133Bを形成する発光材料においては、1重項励起状態から基底状態に戻る際の発光(蛍光)と3重項励起状態から基底状態に戻る際の発光(りん光)のどちらを採用しても良い。
b. Deposition layer;
The film formation layer 133 is composed of a single layer or a multilayer film including at least a light emitting layer, but the layer structure may be formed in any manner. In general, as shown in FIG. 10, a layer in which a hole transport layer 133A, a light emitting layer 133B, and an electron transport layer 133C are stacked from the anode side to the cathode side can be used. The hole transport layer 133A and the electron transport layer 133C may be provided not only by one layer but also by stacking a plurality of layers. For the hole transport layer 133A and the electron transport layer 133C, either layer may be omitted, The layer may be omitted. It is also possible to insert an organic material layer such as a hole injection layer or an electron injection layer depending on the application. For the hole transport layer 133A, the light emitting layer 133B, and the electron transport layer 133C, a conventionally used material (regardless of a polymer material or a low molecular material) can be appropriately selected and employed.
In the light-emitting material forming the light-emitting layer 133B, either emission (fluorescence) when returning from the singlet excited state to the ground state or emission (phosphorescence) when returning from the triplet excited state to the ground state is performed. It may be adopted.

c.封止部材;
有機ELパネル100において、有機EL素子130を気密に封止するための封止部材111としては、ガラス製,プラスチック製、金属製等による板状部材を用いることができる。ガラス製の封止基板にプレス成形,エッチング,ブラスト処理等の加工によって封止用凹部(一段掘り込み、二段掘り込みを問わない)を形成したものを用いることもできるし、或いは平板ガラスを使用してガラス(プラスチックでも良い)製のスペーサにより支持基板110との間に封止領域Sを形成することもできる。また、上記のような封止部材により封止領域Sを形成する気密封止法を利用しても良く、封止領域S内に例えば樹脂やシリコーンオイル等の充填剤を封入したもの、例えば樹脂フィルムと金属箔で封止した固体封止法、バリア膜等で有機EL素子130を封止する膜封止法でも良い。
c. Sealing member;
In the organic EL panel 100, as the sealing member 111 for hermetically sealing the organic EL element 130, a plate-like member made of glass, plastic, metal, or the like can be used. It is possible to use a glass sealing substrate in which a concave portion for sealing (regardless of one-stage digging or two-stage digging) is formed by processing such as press molding, etching, blasting, or flat glass. The sealing region S can be formed between the supporting substrate 110 and a spacer made of glass (or plastic). Moreover, you may utilize the airtight sealing method which forms the sealing area | region S with the above sealing members, for example, what filled up fillers, such as resin and silicone oil, etc. in the sealing area S, for example, resin A solid sealing method in which a film and a metal foil are sealed, or a film sealing method in which the organic EL element 130 is sealed with a barrier film or the like may be used.

d.接着剤;
接着層112を形成する接着剤は、熱硬化型,化学硬化型(2液混合),光(紫外線)硬化型等を使用することができ、材料としてアクリル樹脂,エポキシ樹脂,ポリエステル,ポリオレフィン等を用いることができる。特には、加熱処理を要さず即硬化性の高い紫外線硬化型のエポキシ樹脂製接着剤の使用が好ましい。
d. adhesive;
As the adhesive forming the adhesive layer 112, a thermosetting type, a chemical curing type (two-component mixing), a light (ultraviolet) curing type, or the like can be used, and an acrylic resin, epoxy resin, polyester, polyolefin, or the like is used as a material. Can be used. In particular, it is preferable to use an ultraviolet curable epoxy resin adhesive that does not require heat treatment and has high immediate curing properties.

e.乾燥手段;
乾燥手段140は、ゼオライト,シリカゲル,カーボン,カーボンナノチューブ等の物理的乾燥剤、アルカリ金属酸化物,金属ハロゲン化物,過酸化塩素等の化学的乾燥剤、有機金属錯体をトルエン,キシレン,脂肪族有機溶剤等の石油系溶媒に溶解した乾燥剤、乾燥剤粒子を透明性を有するポリエチレン,ポリイソプレン,ポリビニルシンナエート等のバインダに分散させた乾燥剤により形成することができる。
e. Drying means;
The drying means 140 includes a physical desiccant such as zeolite, silica gel, carbon and carbon nanotube, a chemical desiccant such as alkali metal oxide, metal halide and chlorine peroxide, and an organometallic complex in toluene, xylene and aliphatic organic. It can be formed with a desiccant dissolved in a petroleum solvent such as a solvent, a desiccant in which desiccant particles are dispersed in a binder such as polyethylene, polyisoprene, and polyvinyl cinnaate having transparency.

f.有機ELパネルの各種方式等;
本発明の実施例である有機ELパネル100としては、本発明の要旨を逸脱しない範囲で各種の設計変更が可能である。例えば、有機EL素子130の発光形態は、前述したように支持基板110側から光を取り出すボトムエミッション方式でも、封止部材111側から光を取り出すトップエミッション方式でも構わなく(この場合封止部材111を透明材料にする必要がある)、マルチフォトン構造を採用しても構わない。また、有機ELパネル100は単色表示であっても複数色表示であっても良く、複数色表示を実現するためには、塗り分け方式を含むことは勿論のこと、白色や青色等の単色の発光を有する有機EL素子を単数または複数備える有機ELパネルにカラーフィルタや蛍光材料による色変換層を組み合わせた方式(CF方式、CCM方式)、2色以上の単位表示領域を縦に積層し一つの単位表示領域を形成した方式(SOLED(transparent Stacked OLED)方式)、異なる発光色の低分子有機材料を予め異なるフィルム上に成膜してレーザによる熱転写で一つの基板上に転写するレーザ転写方式、等を採用することができる。また、図示の例ではパッシブ駆動方式を示しているが、支持基板110としてTFT基板を採用し、その上に平坦化層を形成した上に第1電極131を形成するようにして、アクディブ駆動方式を採用したものであってもよい。
f. Various types of organic EL panels;
As the organic EL panel 100 which is an embodiment of the present invention, various design changes can be made without departing from the gist of the present invention. For example, the light emission form of the organic EL element 130 may be a bottom emission method in which light is extracted from the support substrate 110 side as described above, or a top emission method in which light is extracted from the sealing member 111 side (in this case, the sealing member 111). A multi-photon structure may be adopted. Further, the organic EL panel 100 may be a single color display or a multi-color display. In order to realize the multi-color display, the organic EL panel 100 includes a single color display method as well as a single color display such as white or blue. A method in which a color conversion layer made of a color filter or a fluorescent material is combined with an organic EL panel having one or more organic EL elements having light emission (CF method, CCM method), and unit display areas of two or more colors are stacked vertically. A method that forms unit display areas (SOLED (transparent stacked OLED) method), a laser transfer method that deposits low molecular organic materials of different emission colors on different films in advance and transfers them onto a single substrate by laser thermal transfer, Etc. can be adopted. In the illustrated example, a passive drive method is shown. However, an active drive method is adopted in which a TFT substrate is adopted as the support substrate 110, a planarization layer is formed thereon, and the first electrode 131 is formed thereon. May be adopted.

以上説明したように、本発明に係る成膜用マスク1は、被成膜対象の成膜領域に対応して形成された開口パターン2を有し、この開口パターン2が、成膜用マスク1の変形を防止する補強部5を有する。つまり、開口パターン2が、マスクの変形を防止するような形状に形成されているので、マスクの剛性が高くなり、成膜時のマスクの変形を防止し、マスクの変形を低減することができる。
詳細には、例えば開口パターン2中の開口部3に、開口部3の内側に向かって補強部5として凸部5bを設けることにより、剛性が高くなり、マスクの変形を防止することができる。また、例えば変形防止のために補強線を別途設けることなく、例えばエッチング工程や打ち抜き工程等により、開口パターンがマスクの変形を防止する補強部を形成することで、簡単にマスクの変形を防止することができ、マスクの変形を低減することができる。さらに、TFT搭載の基板を使用した場合では従来からTFTの位置に対応するように開口部があったが、該開口部を補強部にすることで発光領域を狭めることなく成膜用マスクの剛性を高め、パネルの表示性能、寿命などの電気特性を向上させることが可能になった。
上記実施例中では開口部に隣接した補強部を記載しているが、特にこれに限定されない。
As described above, the film formation mask 1 according to the present invention has the opening pattern 2 formed corresponding to the film formation region to be formed, and this opening pattern 2 is the film formation mask 1. It has the reinforcement part 5 which prevents deformation | transformation. That is, since the opening pattern 2 is formed in a shape that prevents the deformation of the mask, the rigidity of the mask is increased, the deformation of the mask during film formation can be prevented, and the deformation of the mask can be reduced. .
Specifically, for example, by providing the convex portion 5b as the reinforcing portion 5 in the opening portion 3 in the opening pattern 2 toward the inside of the opening portion 3, the rigidity becomes high and the mask can be prevented from being deformed. Further, for example, without providing a reinforcing wire separately for preventing deformation, the opening pattern forms a reinforcing portion that prevents the deformation of the mask by, for example, an etching process or a punching process, thereby easily preventing the deformation of the mask. And deformation of the mask can be reduced. In addition, when using a TFT-mounted substrate, there has been an opening so as to correspond to the position of the TFT, but by using the opening as a reinforcing part, the rigidity of the film-forming mask can be reduced without narrowing the light emitting area. It has become possible to improve the electrical characteristics such as display performance and life of the panel.
Although the reinforcing part adjacent to the opening is described in the above embodiment, it is not particularly limited to this.

また、自発光パネルの製造方法は、上記構成の成膜用マスク1を、成膜源8と自発光素子基板9との間に配備する第1の工程と、第1の工程後、成膜用マスク1を介して成膜源8から自発光素子基板9上に成膜層を形成する第2の工程とを有するので、つまりマスクの変形の度合いが小さい成膜用マスクを用いて成膜することで、高精度に成膜パターンを形成することができる。また、色毎に高精度に成膜パターンを成膜することができるので、色ずれ等のない高い表示性能の自発光パネルを得ることができる。また、本発明に係る成膜用マスク1を用いて多層構造を有する成膜層を形成することで、高性能な表示性能の自発光パネルを得ることができる。さらに剛性が高まることで、成膜層や導電層を形成している最中に、成膜用マスクが基板に接触するなどにより、電極間の短絡などの電気特性を損なわせることを抑制することが可能になる。
また、上記製造方法により、例えば基板上に直接又は他の層を介して形成された第1の導電層と、該第1の導電層の上に積層された、発光層を含む成膜層と、該成膜層の上に形成された第2の導電層とを有する自発光パネルであって、成膜層が被成膜対象の成膜領域に対応して形成された開口パターンを備え、開口パターン2がマスクの変形を防止する補強部を備えた成膜用マスクを介して成膜されている自発光パネルを得ることができる。つまり、変形の度合いの少ない成膜用マスクを用いて、成膜層が形成されているので、高精度な成膜パターンを有する自発光パネルを得ることができる。
In addition, in the method for manufacturing the self-luminous panel, the film-forming mask 1 having the above-described configuration is disposed between the film-forming source 8 and the self-light-emitting element substrate 9, and the film is formed after the first step. A second step of forming a film-forming layer on the self-light-emitting element substrate 9 from the film-forming source 8 through the mask for mask 1, that is, using the film-forming mask with a small degree of deformation of the mask. By doing so, a film formation pattern can be formed with high accuracy. In addition, since a film formation pattern can be formed with high accuracy for each color, a self-luminous panel with high display performance without color misregistration can be obtained. Further, by forming a film-forming layer having a multilayer structure using the film-forming mask 1 according to the present invention, a self-luminous panel with high-performance display performance can be obtained. Further increase in rigidity suppresses damage to electrical characteristics such as a short circuit between electrodes due to the film formation mask coming into contact with the substrate while the film formation layer or conductive layer is being formed. Is possible.
In addition, by the above manufacturing method, for example, a first conductive layer formed directly on the substrate or via another layer, and a film-forming layer including a light-emitting layer laminated on the first conductive layer, A self-luminous panel having a second conductive layer formed on the film-forming layer, the film-forming layer having an opening pattern formed corresponding to the film-forming region to be formed; It is possible to obtain a self-luminous panel in which the opening pattern 2 is formed through a film forming mask provided with a reinforcing portion that prevents deformation of the mask. That is, since the film formation layer is formed using the film formation mask with a small degree of deformation, a self-luminous panel having a highly accurate film formation pattern can be obtained.

また、一般的にスロット方式の成膜用マスクではマスクの剛性(強度)が大きいが位置調整が難しく、スリット方式の成膜用マスクは開口部が大きく位置調整が容易であるがマスクの剛性(強度)が小さい。一方、本発明に係る成膜用マスク1は、マスクの剛性(強度)が大きく位置調整も容易であるという、一般的なスロット方式とスリット方式の成膜用マスクの利点を併せ持つことができる。   In general, a slot-type film formation mask has a large mask rigidity (strength), but position adjustment is difficult. A slit-type film formation mask has a large opening and easy position adjustment, but the mask rigidity ( (Strength) is small. On the other hand, the film-forming mask 1 according to the present invention can have the advantages of the general slot-type and slit-type film-forming masks that the rigidity (strength) of the mask is large and the position adjustment is easy.

本発明の第1実施形態に係る成膜用マスクを説明するための図である。(a)は成膜用マスク1を説明するための図であり、(b)は開口部の拡大図であり、(c)は一般的な成膜用マスクの開口部の拡大図である。It is a figure for demonstrating the film-forming mask which concerns on 1st Embodiment of this invention. (A) is a figure for demonstrating the film-forming mask 1, (b) is an enlarged view of an opening part, (c) is an enlarged view of the opening part of a general film-forming mask. 図1に示した成膜用マスクとマスクホルダを説明するための図である。It is a figure for demonstrating the film-forming mask and mask holder shown in FIG. 図1,2に示した成膜用マスクを用いた自発光パネルの製造方法を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the manufacturing method of the self-light emission panel using the film-forming mask shown in FIG. 本発明に係る自発光パネルの一実施形態を説明するための図である。(a)は図2に示した成膜用マスクを用いて成膜された自発光パネルを説明するための図であり、(b)は(a)に示した一画素を説明するための拡大図である。It is a figure for demonstrating one Embodiment of the self-light-emitting panel which concerns on this invention. (A) is a figure for demonstrating the self-light-emitting panel formed into a film using the film-forming mask shown in FIG. 2, (b) is an expansion for demonstrating one pixel shown in (a). FIG. 本発明の第2実施形態に係る成膜用マスクを説明するための図である。It is a figure for demonstrating the film-forming mask which concerns on 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第3実施形態に係る成膜用マスクを説明するための図である。(a)はスリット型マスクを説明するための図であり、(b)は(a)に示したスリットの一部分を拡大した図である。It is a figure for demonstrating the film-forming mask which concerns on 3rd Embodiment of this invention. (A) is a figure for demonstrating a slit type | mold mask, (b) is the figure which expanded a part of slit shown to (a). 本発明に係る自発光パネルの一実施形態を説明するための図である。(a)は図6に示した成膜用マスクを用いて成膜された自発光パネルを説明するための図である。(b)は(a)に示した画素を説明するための拡大図である。It is a figure for demonstrating one Embodiment of the self-light-emitting panel which concerns on this invention. (A) is a figure for demonstrating the self-light-emitting panel formed into a film using the film-forming mask shown in FIG. (B) is an enlarged view for explaining the pixel shown in (a). 本発明の第4実施形態に係る成膜用マスクを説明するための図である。It is a figure for demonstrating the film-forming mask which concerns on 4th Embodiment of this invention. 本発明の第5実施形態に係る成膜用マスクと発光領域との位置関係を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the positional relationship of the film-forming mask which concerns on 5th Embodiment of this invention, and a light emission area | region. 本発明の他の実施形態に係る自発光パネルを説明するための図である。It is a figure for demonstrating the self-light-emitting panel which concerns on other embodiment of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

1 成膜用マスク
2 開口パターン
3 開口部
4 梁部
5 補強部
6 支持部材(マスクホルダ)
10 自発光パネル
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Film-forming mask 2 Opening pattern 3 Opening part 4 Beam part 5 Reinforcement part 6 Support member (mask holder)
10 Self-luminous panel

Claims (10)

開口パターンを有する成膜用マスクであって、
前記開口パターンが当該成膜用マスクの変形を防止する補強部を有することを特徴とする成膜用マスク。
A film forming mask having an opening pattern,
The film formation mask, wherein the opening pattern includes a reinforcing portion for preventing deformation of the film formation mask.
前記開口パターンは複数の開口部がマトリクス状に形成され、
前記補強部は、前記開口部の角部に形成されて前記開口部の内側に向けた凸部形状からなることを特徴とする請求項1に記載の成膜用マスク。
The opening pattern has a plurality of openings formed in a matrix.
The film-forming mask according to claim 1, wherein the reinforcing portion has a convex shape that is formed at a corner portion of the opening and faces the inside of the opening.
前記補強部は被成膜対象の画素領域に前記凸部形状が対応することを特徴とする請求項2に記載の成膜用マスク。   The film-forming mask according to claim 2, wherein the protrusion has a shape corresponding to a pixel region to be deposited. 前記補強部はTFT形成領域に対応した位置に前記凸部形状が形成されることを特徴とする請求項2に記載の成膜用マスク。   The film-forming mask according to claim 2, wherein the reinforcing portion is formed with the convex shape at a position corresponding to a TFT formation region. 前記開口パターンは、複数の開口部がスリット形状に形成され、
前記補強部は前記開口部の長手方向に沿って一つまたは複数形成されて前記開口部の内側に向けた凸部形状からなることを特徴とする請求項1に記載の成膜用マスク。
The opening pattern has a plurality of openings formed in a slit shape,
The film-forming mask according to claim 1, wherein one or a plurality of the reinforcing portions are formed along a longitudinal direction of the opening and have a convex shape facing the inside of the opening.
前記補強部は被成膜対象の画素領域に前記凸部形状が対応することを特徴とする請求項5に記載の成膜用マスク。   The film forming mask according to claim 5, wherein the protrusion has a shape corresponding to a pixel region to be formed. 被成膜対象の成膜領域に対応して形成された開口パターンを備え、当該開口パターンが当該成膜用マスクの変形を防止する補強部を有する成膜用マスクを、成膜源と自発光素子基板との間に配備する第1の工程と、
前記第1の工程後、前記成膜用マスクを介して前記成膜源から前記自発光素子基板上に成膜層を形成する第2の工程と
を有することを特徴とする自発光パネルの製造方法。
A film formation mask having an opening pattern formed corresponding to a film formation region to be formed and having a reinforcing portion that prevents the film formation mask from being deformed, and a film formation source and a self-light emitting A first step of disposing between the element substrate;
And a second step of forming a film-forming layer on the self-light-emitting element substrate from the film-forming source through the film-forming mask after the first step. Method.
基板上に直接又は他の層を介して形成された第1の導電層と、該第1の導電層の上に積層された、発光層を含む成膜層と、該成膜層の上に形成された第2の導電層とを有する自発光素子を一つまたは複数備える自発光パネルであって、
前記成膜層は、被成膜対象の成膜領域に対応して形成された開口パターンを備え、前記開口パターンが当該成膜用マスクの変形を防止する補強部を備えた成膜用マスクを介して前記成膜層が形成されていることを特徴とする自発光パネル。
A first conductive layer formed on the substrate directly or via another layer; a film-forming layer including a light-emitting layer laminated on the first conductive layer; and A self-light-emitting panel comprising one or a plurality of self-light-emitting elements each having a formed second conductive layer,
The film-forming layer includes an opening pattern formed corresponding to a film-forming region to be formed, and the opening pattern includes a film-forming mask provided with a reinforcing portion that prevents deformation of the film-forming mask. A self-luminous panel, characterized in that the film-forming layer is formed therebetween.
前記成膜用マスクは、被成膜対象の画素領域に対応してマトリクス状に複数の開口部が形成され、
前記補強部は前記開口部の角部に形成されて前記開口部の内側に向けた凸部形状からなり、
前記成膜層は前記成膜用マスクに対応した成膜パターンが基板上に形成され、当該成膜パターン中に前記凸部形状に対応した凹部が形成されていることを特徴とする請求項8に記載の自発光パネル。
The film formation mask has a plurality of openings formed in a matrix corresponding to the pixel region to be formed,
The reinforcing part is formed at a corner of the opening and has a convex shape facing the inside of the opening,
9. The film formation layer, wherein a film formation pattern corresponding to the film formation mask is formed on a substrate, and a concave portion corresponding to the convex portion shape is formed in the film formation pattern. Self-luminous panel as described in 1.
前記成膜用マスクは、複数の開口部がスリット形状に形成され、
前記補強部は、当該開口部の長手方向に沿って複数形成されて前記開口部の内側に向けた凸部形状からなり、
前記成膜層は、前記成膜用マスクに対応した成膜パターンが基板上に形成され、当該成膜パターン中に前記成膜用マスクの前記凸部形状に対応した凹部が形成されていることを特徴とする請求項8に記載の自発光パネル。
The film formation mask has a plurality of openings formed in a slit shape,
The reinforcing portion is formed in a plurality of shapes along the longitudinal direction of the opening and has a convex shape toward the inside of the opening.
In the film formation layer, a film formation pattern corresponding to the film formation mask is formed on a substrate, and a concave portion corresponding to the shape of the protrusion of the film formation mask is formed in the film formation pattern. The self-luminous panel according to claim 8.
JP2005228105A 2005-08-05 2005-08-05 Mask for film deposition, method for producing spontaneous light emitting panel, and spontaneous light emitting panel Pending JP2007039777A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005228105A JP2007039777A (en) 2005-08-05 2005-08-05 Mask for film deposition, method for producing spontaneous light emitting panel, and spontaneous light emitting panel

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005228105A JP2007039777A (en) 2005-08-05 2005-08-05 Mask for film deposition, method for producing spontaneous light emitting panel, and spontaneous light emitting panel

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2007039777A true JP2007039777A (en) 2007-02-15

Family

ID=37798042

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005228105A Pending JP2007039777A (en) 2005-08-05 2005-08-05 Mask for film deposition, method for producing spontaneous light emitting panel, and spontaneous light emitting panel

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2007039777A (en)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20160069075A (en) * 2014-12-05 2016-06-16 삼성디스플레이 주식회사 Mask frame assembly for deposition, manufacturing method of the same
WO2019064419A1 (en) * 2017-09-28 2019-04-04 シャープ株式会社 Vapor deposition mask and vapor deposition mask manufacturing method
KR20200013782A (en) * 2018-05-14 2020-02-07 쿤산 고-비젼녹스 옵토-일렉트로닉스 씨오., 엘티디. Mask and Mask Assembly
CN113924380A (en) * 2019-03-27 2022-01-11 夏普株式会社 Display device and vapor deposition mask

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10333131A (en) * 1996-12-17 1998-12-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd Display panel, manufacture of display panel, driving method for display panel, defect correcting method for display panel, and display device using display panel
JP2001296819A (en) * 2000-04-17 2001-10-26 Nec Corp Organic thin-film el device and method for manufacturing the same

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10333131A (en) * 1996-12-17 1998-12-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd Display panel, manufacture of display panel, driving method for display panel, defect correcting method for display panel, and display device using display panel
JP2001296819A (en) * 2000-04-17 2001-10-26 Nec Corp Organic thin-film el device and method for manufacturing the same

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20160069075A (en) * 2014-12-05 2016-06-16 삼성디스플레이 주식회사 Mask frame assembly for deposition, manufacturing method of the same
KR102309621B1 (en) 2014-12-05 2021-10-07 삼성디스플레이 주식회사 Mask frame assembly for deposition, manufacturing method of the same
WO2019064419A1 (en) * 2017-09-28 2019-04-04 シャープ株式会社 Vapor deposition mask and vapor deposition mask manufacturing method
CN111108229A (en) * 2017-09-28 2020-05-05 夏普株式会社 Vapor deposition mask and method for manufacturing vapor deposition mask
US10808314B2 (en) 2017-09-28 2020-10-20 Sharp Kabushiki Kaisha Vapor deposition mask and method for manufacturing vapor deposition mask
KR20200013782A (en) * 2018-05-14 2020-02-07 쿤산 고-비젼녹스 옵토-일렉트로닉스 씨오., 엘티디. Mask and Mask Assembly
JP2020523478A (en) * 2018-05-14 2020-08-06 クンシャン ゴー−ビシオノクス オプト−エレクトロニクス カンパニー リミテッドKunshan Go−Visionox Opto−Electronics Co., Ltd. Masks and mask components
KR102257213B1 (en) 2018-05-14 2021-05-27 쿤산 고-비젼녹스 옵토-일렉트로닉스 씨오., 엘티디. Mask and mask assembly
JP7029477B2 (en) 2018-05-14 2022-03-03 クンシャン ゴー-ビシオノクス オプト-エレクトロニクス カンパニー リミテッド Masks and mask components
CN113924380A (en) * 2019-03-27 2022-01-11 夏普株式会社 Display device and vapor deposition mask
CN113924380B (en) * 2019-03-27 2023-08-29 夏普株式会社 Display device and vapor deposition mask

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6570707B2 (en) Organic electroluminescence lighting panel, manufacturing method thereof, and organic electroluminescence lighting device
US7674712B2 (en) Patterning method for light-emitting devices
JP4945986B2 (en) Method for manufacturing organic electroluminescence device
US8029684B2 (en) Self-emission panel and method of manufacturing the same
KR20040065183A (en) Organic el device and method for producing the same
US7675229B2 (en) Self-emission panel and method of fabricating the same
JP2006303476A (en) Bottom emission type organic light emitting device
JP2008108503A (en) Manufacturing method of white light emitting organic el element
JP2000235894A (en) Organic el element and its manufacture
WO2011122481A1 (en) Method of producing substrate for light-emitting device
JP5569023B2 (en) Organic electroluminescence device and method for manufacturing the same
JP4736676B2 (en) Active matrix driving type organic electroluminescence display device
JP2005084642A (en) Both side display device and method for manufacturing the same
JP5278686B2 (en) Organic EL display panel and manufacturing method thereof
JP2004281085A (en) Flexible organic el device and flexible organic el display
JP2845233B2 (en) Organic electroluminescence device and method of manufacturing the same
JP2007039777A (en) Mask for film deposition, method for producing spontaneous light emitting panel, and spontaneous light emitting panel
JP2009230956A (en) Manufacturing method of organic electroluminescent display device
TW579657B (en) Method for making an electroluminescence display device
TW201214823A (en) Light-emitting device
JP4643138B2 (en) Display device and manufacturing method thereof
JP2008108680A (en) Manufacturing method of organic el element
JP2001284048A (en) Organic el element full color display panel and its manufacturing method
JP2007234331A (en) Sealing member for self-luminous panel, method of manufacturing self-luminous panel, and self-luminous panel
WO2011013276A1 (en) Organic el illuminating device and method for manufacturing same

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080609

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100610

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110719

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20111213