JP2007013383A - Manufacturing method of piezoelectric resonator piece, and piezoelectric resonator piece - Google Patents

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Hirobumi Kobayashi
博文 小林
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a crystal resonator piece with a perpendicular cross-sectional shape and an accurate planar shape for realizing a highly accurate frequency and to provide a manufacturing method with a high production efficiency for realizing the crystal resonator piece. <P>SOLUTION: The manufacturing method of the crystal resonator piece 10 includes: a dry etching processing step of boring grooves 13 on both front and rear sides of each vibration arm 12 and forming the crystal resonator chip 10 by leaving parts of the crystal resonator chip 10 in its cross-sectional directions of outer circumferential edges 14, 15; and a wet etching processing step of removing the parts of the crystal resonator chip 10 in the cross-sectional directions of the outer circumferential edges 14, 15. Further, the crystal resonator chip 10 is manufactured as above at a low cost, has a highly accurate resonance frequency and can attain downsizing and high frequency applications. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、圧電振動片の製造方法、この製造方法で製造された圧電振動片に関する。   The present invention relates to a method for manufacturing a piezoelectric vibrating piece and a piezoelectric vibrating piece manufactured by the manufacturing method.

従来、圧電材料としての水晶基板の上の全面にマスク膜を形成し、露光処理を行い、このマスク膜表面をシリル化した後、ドライエッチング加工を行う工程と、さらに全面にエッチングマスク材料を形成する工程と、その後このエッチングマスク材料を前記マスク膜が露出するまで除去し、さらに前記マスク膜を除去し、前記エッチングマスク材料からなるエッチングマスクを形成する工程と、その後、このエッチングマスクを用いて前記水晶基板を加工する工程とを有する水晶振動子の製造方法というものが知られている(例えば、特許文献1参照)。   Conventionally, a mask film is formed on the entire surface of a quartz substrate as a piezoelectric material, exposed to light, and the mask film surface is silylated, followed by a dry etching process, and further an etching mask material is formed on the entire surface. Removing the etching mask material until the mask film is exposed, and then removing the mask film to form an etching mask made of the etching mask material, and then using the etching mask. There is known a manufacturing method of a crystal resonator having a step of processing the crystal substrate (see, for example, Patent Document 1).

また、少なくとも2本の振動用アーム部(振動腕)と、このアーム部を連結する少なくとも1つの基部からなり、このアーム部に駆動電極と検出電極を設け、前記アーム部の断面形状が略六辺形でその上下の辺に接する左右の辺の差が等しく、且つ対向する辺が平行である音叉型振動子であって、アーム部を上面と下面の同時ドライエッチングにより加工する音叉型振動子というものが知られている(例えば、特許文献2参照)。   Further, the arm portion includes at least two vibration arm portions (vibrating arms) and at least one base portion that connects the arm portions. The arm portion is provided with a drive electrode and a detection electrode. A tuning fork type vibrator in which the difference between the left and right sides in contact with the upper and lower sides is equal and the opposite sides are parallel, and the arm part is processed by simultaneous dry etching of the upper surface and the lower surface. (For example, refer to Patent Document 2).

特開平5−218775号公報(第2,3頁、図1)Japanese Patent Laid-Open No. 5-218775 (pages 2, 3 and 1) 特開2004−93318号公報(第3,4頁、図1,2)JP 2004-93318 A (3rd and 4th pages, FIGS. 1 and 2)

旧来、水晶振動子は、水晶基板からフォトリソグラフィ技術を用いてケミカルエッチング加工(ウエットエッチング加工)により形成していたが、水晶基板が結晶方位の異方性を有していることから、ケミカルエッチング加工後の水晶振動子の断面形状が斜面となるほか、レジストマスク形状に対して正確な形状が得られないというような課題を有していた。   Traditionally, crystal resonators were formed from a quartz substrate by chemical etching (wet etching) using photolithography technology. However, because the quartz substrate has anisotropy in crystal orientation, In addition to the fact that the cross-sectional shape of the crystal resonator after processing becomes a slope, there is a problem that an accurate shape cannot be obtained with respect to the resist mask shape.

そこで、前述した特許文献1あるいは特許文献2のように、水晶振動子の形成にドライエッチング加工を用いることが提案されている。特許文献1によれば、平板の水晶基板から水晶振動子を形成する際の形成手段としてドライエッチング加工を採用し、垂直な断面形状を備える水晶振動子が得られるとしている。   Therefore, as described in Patent Document 1 or Patent Document 2 described above, it has been proposed to use dry etching for forming a crystal resonator. According to Patent Document 1, dry etching is employed as a forming means when forming a crystal resonator from a flat crystal substrate, and a crystal resonator having a vertical cross-sectional shape is obtained.

また、特許文献2では、ドライエッチング加工により、水晶の上面と下面の両方の面に同時にイオンプラズマを当てることにより上下と左右の長さが対称な水晶振動子が得られるとしている。   Further, in Patent Document 2, it is said that a crystal resonator having symmetrical vertical and horizontal lengths can be obtained by simultaneously applying ion plasma to both the upper and lower surfaces of the crystal by dry etching.

しかしながら、このような特許文献1や特許文献2では、小型化や高周波化を図るために水晶振動子の振動腕に溝を設けるような場合には、外形形状の形成とは別に溝形成工程が必要になり、このような製造方法においては、外形形状と溝との相対的な形状誤差が発生することが予測され、正確な発振周波数や共振周波数が得られないという課題を有している。   However, in Patent Document 1 and Patent Document 2 described above, when a groove is provided in the vibrating arm of a crystal resonator in order to reduce the size and increase the frequency, a groove forming step is performed separately from the formation of the outer shape. In such a manufacturing method, a relative shape error between the outer shape and the groove is predicted to occur, and there is a problem that an accurate oscillation frequency and resonance frequency cannot be obtained.

さらに、ドライエッチング加工は、一般的にケミカルエッチング加工に比べエッチング速度が遅いことや、外形形状の形成工程と溝形成工程とが別になることから、工程が長くなり生産効率が低下することが考えられる。   Furthermore, dry etching generally has a slower etching rate than chemical etching, and the outer shape forming process and the groove forming process are separate, which may lead to longer processes and lower production efficiency. It is done.

本発明の目的は、前述した課題を解決することを要旨とし、圧電振動片において垂直な断面形状と正確な平面形状を有し、高精度な周波数を実現する圧電振動片と、この圧電振動片を実現する生産効率が高い製造方法を提供することである。   An object of the present invention is to solve the above-described problems, and has a vertical cross-sectional shape and an accurate plane shape in the piezoelectric vibrating piece, and realizes a highly accurate frequency, and the piezoelectric vibrating piece. Is to provide a manufacturing method with high production efficiency.

本発明の圧電振動片の製造方法は、圧電材料からなる基板から圧電振動片を分離形成する圧電振動片の製造方法であって、前記圧電振動片を構成する振動腕の主面の表裏両面それぞれに設けられる溝を穿設する工程と、前記圧電振動片の外形形状を表裏両面から形成する工程と、を含み、少なくとも前記溝を穿設する手段が、ドライエッチング加工であることを特徴とする。
ここで、圧電材料としては、例えば水晶、圧電振動片としては水晶振動片を例示することができる。
The method for manufacturing a piezoelectric vibrating piece according to the present invention is a method for manufacturing a piezoelectric vibrating piece by separately forming a piezoelectric vibrating piece from a substrate made of a piezoelectric material, and each of the front and back surfaces of the main surface of the vibrating arm constituting the piezoelectric vibrating piece. And a step of forming the outer shape of the piezoelectric vibrating piece from both front and back surfaces, and at least the means for drilling the groove is a dry etching process. .
Here, examples of the piezoelectric material include quartz, and examples of the piezoelectric vibrating piece include a quartz vibrating piece.

本発明によれば、圧電振動片の製造方法において、前述した振動腕に設けられる溝の穿設工程と外形形状の形成工程とを有し、溝はドライエッチング加工により穿設される。この溝は、圧電振動片のさらなる小型化や高周波化の実現のために設けられるが、旧来のウエットエッチング加工(ケミカルエッチング加工)では、水晶の結晶方位の異方性(エッチングレートの異方性)から、溝内部の断面が斜めに形成され、また形状の対称性が損なわれることがあり、振動特性(周波数特性)に与える影響は無視できない。   According to the present invention, the method for manufacturing a piezoelectric vibrating piece includes the above-described groove drilling step and outer shape forming step provided in the vibrating arm, and the groove is drilled by dry etching. This groove is provided to achieve further miniaturization and higher frequency of the piezoelectric vibrating piece. In the conventional wet etching process (chemical etching process), the crystal orientation anisotropy (etching rate anisotropy) ), The cross section inside the groove is formed obliquely, and the symmetry of the shape may be lost, and the influence on the vibration characteristics (frequency characteristics) cannot be ignored.

ドライエッチング加工では、水晶の結晶方位の異方性は無視できるため、所望の形状を正確に形成し、特に溝内部の断面が圧電振動片の主面に対して垂直に形成されることから、高精度な発振周波数や共振周波数を得ることができる。   In dry etching processing, since the anisotropy of crystal orientation of crystal can be ignored, the desired shape is formed accurately, and in particular, the cross section inside the groove is formed perpendicular to the main surface of the piezoelectric vibrating piece. A highly accurate oscillation frequency and resonance frequency can be obtained.

また、本発明では、前記溝を穿設し、前記圧電振動片の外形周縁部の断面の一部を残して外形形状を形成するドライエッチング加工工程と、この加工工程の後に、前記圧電振動片の外形周縁部の前記断面の一部を除去して外形形状を形成するウエットエッチング加工工程と、を含むことを特徴とする。   Further, in the present invention, a dry etching processing step of forming the groove and forming an outer shape leaving a part of a cross section of the outer peripheral edge of the piezoelectric vibrating piece, and the piezoelectric vibrating piece after the processing step And a wet etching process for removing a part of the cross section of the outer peripheral edge of the outer shape to form an outer shape.

このように、ドライエッチング加工により、振動腕に設けられる溝と、外形形状(圧電振動片の外形周縁部の断面方向の一部を残して)とを形成するため、溝と外形形状との相対的位置、形状誤差が小さくなり、さらに、溝及び外形の断面(側面)が主面に対して垂直に形成できるので、高精度な周波数特性を得ることができる。   As described above, the groove provided on the vibrating arm and the outer shape (with a part in the cross-sectional direction of the outer peripheral edge of the piezoelectric vibrating piece remaining) are formed by dry etching, so that the groove and the outer shape are relatively Since the target position and shape error are reduced, and the cross section (side surface) of the groove and the outer shape can be formed perpendicular to the main surface, high-accuracy frequency characteristics can be obtained.

さらに、ドライエッチング加工により溝の穿設加工と外形形状の形成加工とを一括して行い、その後、ドライエッチング加工で残った外形周縁部の断面方向の一部をウエットエッチング加工により除去するため、ウエットエッチング加工による加工量が少なくてすみ、加工時間を短くすることが可能となり、製造効率を高めることができる。   Furthermore, in order to remove the part of the cross-sectional direction of the outer periphery of the outer shape remaining by dry etching processing by wet etching processing, collectively performing the groove drilling processing and outer shape forming processing by dry etching processing, The amount of processing by wet etching can be reduced, the processing time can be shortened, and the manufacturing efficiency can be increased.

また、上記製造方法では、前記ドライエッチング加工工程によって、前記圧電振動片の外形周縁部のエッチング深さを、前記溝のエッチング深さよりも深く形成することが好ましい。   In the manufacturing method, it is preferable that an etching depth of an outer peripheral edge portion of the piezoelectric vibrating piece is deeper than an etching depth of the groove by the dry etching process.

圧電振動片の外形周縁部のドライエッチング加工は表裏両面方向から行われるので、上述したようなエッチング深さにすることで、外形周縁部の残り厚みが溝の残り厚みよりも薄く形成されることになる。従って、溝の形成後、外形周縁部を基板からウエットエッチング加工によって分離する際の加工量が少なくなることから、加工時間を短縮することが可能となる。   Since the dry etching of the outer peripheral edge of the piezoelectric vibrating piece is performed from both the front and back sides, the remaining thickness of the outer peripheral edge is made thinner than the remaining thickness of the groove by using the etching depth as described above. become. Therefore, after the groove is formed, the amount of processing when the outer peripheral edge is separated from the substrate by wet etching is reduced, so that the processing time can be shortened.

また、本発明では、前記圧電振動片の外形周縁部の断面の一部を残して外形形状を形成するウエットエッチング加工工程と、このウエットエッチング加工工程の後に、前記溝を穿設し、前記圧電振動片の外形周縁部の前記断面の一部を除去して外形形状を形成するドライエッチング加工工程と、を含むことを特徴とする。
このウエットエッチング加工工程は、例えば、圧電振動片の外周周縁を表裏両面側からエッチングして、外周周縁の厚みの一部を残して圧電振動片の概略形状を形成することを意味する。
Further, in the present invention, a wet etching process for forming an outer shape while leaving a part of a cross section of the outer peripheral edge of the piezoelectric vibrating piece, and after the wet etching process, the groove is formed, And a dry etching process step of forming an outer shape by removing a part of the cross section of the outer peripheral edge of the resonator element.
This wet etching processing step means, for example, that the outer peripheral edge of the piezoelectric vibrating piece is etched from both the front and back surfaces, and a rough shape of the piezoelectric vibrating piece is formed while leaving a part of the thickness of the outer peripheral edge.

ここのような製造方法によれば、圧電振動片の外形周縁部の加工をエッチング速度が速いウエットエッチング加工で行い、精度が要求される溝と外形形状の分離をドライエッチング加工で行うため、製造効率を高めるとともに、溝の圧電振動片の主面に対して垂直性が得られ、良好な周波数特性を備える圧電振動片を実現することができる。   According to such a manufacturing method, the outer peripheral edge of the piezoelectric vibrating piece is processed by wet etching with a high etching rate, and the groove and the outer shape that require high accuracy are separated by dry etching. While improving efficiency, the perpendicularity with respect to the main surface of the piezoelectric vibrating piece of a groove | channel is acquired, and the piezoelectric vibrating piece provided with the favorable frequency characteristic is realizable.

また、本発明では、前記ウエットエッチング加工工程によって、前記圧電振動片の外形周縁部の厚みを、前記基板から前記圧電振動片が脱落しない程度の厚みで形成することが好ましい。   In the present invention, it is preferable that the outer peripheral edge of the piezoelectric vibrating piece is formed by the wet etching process so that the piezoelectric vibrating piece does not fall off the substrate.

圧電振動片は、基板上に複数個一括形成され分離されて完成するが、外形周縁部は、圧電振動片を所定の形状に形成するまでの間、基板と各圧電振動片を接続しておくために厚みの一部が残されている。従って、外形周縁部は、圧電振動片が加工途中で基板から脱落しない程度に薄くしておけばよく、このようにすることで、溝の穿設と外形周縁部の分離加工とを一括して容易に行うことができる。   A plurality of piezoelectric vibrating pieces are collectively formed on the substrate and separated and completed, but the outer peripheral edge portion connects the substrate and each piezoelectric vibrating piece until the piezoelectric vibrating piece is formed into a predetermined shape. Therefore, a part of the thickness is left. Therefore, the outer peripheral edge may be thin enough that the piezoelectric vibrating piece does not fall off from the substrate during processing. By doing so, the groove perforation and the outer peripheral edge separation processing can be performed collectively. It can be done easily.

また、本発明の圧電振動片は、前述した製造方法で製造され、基部と、該基部から延在される振動腕を有し、前記振動腕の主面の表裏両面に溝が形成されていることを特徴とする。   The piezoelectric vibrating piece of the present invention is manufactured by the above-described manufacturing method, has a base portion and a vibrating arm extending from the base portion, and grooves are formed on both front and back surfaces of the main surface of the vibrating arm. It is characterized by that.

この発明によれば、前述した製造方法で製造され、且つ、前述したような溝を有する形状であるため、低コストで、高精度な共振周波数を有し、小型化、高周波化を可能とする圧電振動片を実現することができる。   According to the present invention, since it is manufactured by the above-described manufacturing method and has the groove as described above, it has a low-cost, high-accuracy resonance frequency, and can be downsized and increased in frequency. A piezoelectric vibrating piece can be realized.

以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
図1〜図3は本発明の実施形態1に係る圧電振動片とこの圧電振動片の製造方法を示し、図4は実施形態2に係る圧電振動片の製造方法を示している。
(実施形態1)
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
1 to 3 show a piezoelectric vibrating piece according to the first embodiment of the present invention and a method for manufacturing the piezoelectric vibrating piece, and FIG. 4 shows a method for manufacturing the piezoelectric vibrating piece according to the second embodiment.
(Embodiment 1)

図1は、実施形態1による圧電振動片の1例、図2,3は、この圧電振動片の製造方法を示している。なお、ここでは、圧電振動片として音叉型の水晶振動片を例示して説明する。
図1は、本実施形態の水晶振動片10を示す平面図である。なお、水晶振動片としては図1では音叉型水晶振動片を例示しているが、一部に溝を有する構造であればその形状は限定されない。図1において、本実施形態の水晶振動片10は、基部11の端面から一対の振動腕12が延在されて構成される音叉型水晶振動片である。
FIG. 1 shows an example of a piezoelectric vibrating piece according to Embodiment 1, and FIGS. 2 and 3 show a method for manufacturing the piezoelectric vibrating piece. Here, a tuning fork type crystal vibrating piece will be described as an example of the piezoelectric vibrating piece.
FIG. 1 is a plan view showing a crystal vibrating piece 10 according to the present embodiment. Although the tuning fork type crystal vibrating piece is illustrated in FIG. 1 as the quartz vibrating piece, the shape is not limited as long as it has a groove in a part. In FIG. 1, the quartz crystal vibrating piece 10 of the present embodiment is a tuning fork type quartz crystal vibrating piece formed by extending a pair of vibrating arms 12 from the end face of a base 11.

この一対の振動腕12の主面には、中央部に溝13が穿設されている。この溝13は、振動腕12の裏面側にも同じ位置、形状、深さで形成されている。この水晶振動片10は、平面形状が、図中、中心線Cに対して線対称に形成されている。   A groove 13 is formed in the central portion of the main surface of the pair of vibrating arms 12. The groove 13 is also formed at the same position, shape, and depth on the back side of the vibrating arm 12. The crystal resonator element 10 has a planar shape that is symmetrical with respect to the center line C in the drawing.

水晶振動片10には、図示しないが、振動腕12の表裏両面(側面も含む)、溝13の内部には、励振電極や検出電極が形成され、これらの電極はそれぞれ基部11にまで延在されており、パッケージ内に実装されて水晶振動子を構成し、外部回路に接続される。   Although not shown in the figure, the crystal vibrating piece 10 is formed with excitation electrodes and detection electrodes inside the front and back surfaces (including side surfaces) of the vibrating arm 12 and inside the groove 13, and these electrodes extend to the base 11. It is mounted in a package to constitute a crystal resonator and is connected to an external circuit.

続いて、本実施形態における水晶振動片10の加工方法について図面を参照して説明する。本実施形態では、圧電材料として水晶(従って、本実施形態における基板は水晶基板である)を採用した例を上げ説明している。
図2は、一枚の水晶基板1上の水晶振動片10の配置の一部を示す平面図である。水晶基板1上において、複数の水晶振動片10は、X軸、Y軸に対してそれぞれ平行に図に示すように整列、配置されている。
Subsequently, a processing method of the crystal vibrating piece 10 in the present embodiment will be described with reference to the drawings. In the present embodiment, an example in which quartz is used as the piezoelectric material (therefore, the substrate in this embodiment is a quartz substrate) is described.
FIG. 2 is a plan view showing a part of the arrangement of the crystal vibrating pieces 10 on one crystal substrate 1. On the quartz substrate 1, the plurality of quartz vibrating pieces 10 are aligned and arranged in parallel to the X axis and the Y axis as shown in the figure.

ここで、隣接する水晶振動片10どうしは、それぞれ外形周縁部15を有して配置されている。なお、一対の振動腕12の間の空間14(図1、参照)も水晶基板1上に配置された状態では外形周縁部15の一部とされる。
なお、水晶基板1において、X軸は電気軸、Y軸は機械軸、Z軸は光学軸である。
Here, the adjacent quartz crystal vibrating pieces 10 are arranged with outer peripheral edge portions 15, respectively. Note that the space 14 (see FIG. 1) between the pair of vibrating arms 12 is also a part of the outer peripheral edge 15 in a state where the space 14 is disposed on the quartz substrate 1.
In the quartz substrate 1, the X axis is an electric axis, the Y axis is a mechanical axis, and the Z axis is an optical axis.

続いて、実施形態に係る水晶振動片10の製造方法について、さらに詳しく説明する。
図3(a)〜図3(e)は、本実施形態の加工工程を示す部分断面図である。なお、この断面図は、図1に表すA−A断面を示している。
Next, the method for manufacturing the quartz crystal resonator element 10 according to the embodiment will be described in more detail.
FIG. 3A to FIG. 3E are partial cross-sectional views showing the processing steps of this embodiment. In addition, this sectional drawing has shown the AA cross section shown in FIG.

図3(a)は、マスク30の成膜工程を示す断面図である。図1も参照する。図3(a)において、まず、表裏両面を均一になるように研磨した水晶基板1に、表裏両面に均一にマスク30を成膜する。なお、以降、表裏両面とも一括加工するため、表面側について説明する。マスク30は、水晶振動片10の平面形状に成膜され、溝13に相当する開口部31と、外形周縁部14,15に相当する水晶振動片10以外の領域が開口されている。続いてドライエッチング加工を行う。   FIG. 3A is a cross-sectional view illustrating a film forming process of the mask 30. Reference is also made to FIG. In FIG. 3A, first, a mask 30 is formed uniformly on both the front and back surfaces of the quartz substrate 1 polished so that both the front and back surfaces are uniform. In the following, the front side will be described because both front and back surfaces are collectively processed. The mask 30 is formed in the planar shape of the crystal vibrating piece 10, and an area other than the opening 31 corresponding to the groove 13 and the crystal vibrating piece 10 corresponding to the outer peripheral edge portions 14 and 15 is opened. Subsequently, dry etching is performed.

図3(b)は、ドライエッチング加工工程後の状態を示す断面図である。図3(b)において、マスク30の開口部31がエッチングされ、溝13が穿設される。ドライエッチング加工は、一般に採用されている酸化膜ドライエッチャーによってRIE(リアクティブイオンエッチング)装置にて、反応ガス、例えばCHF3を用いてエッチング加工する。   FIG. 3B is a cross-sectional view showing a state after the dry etching process. In FIG. 3B, the opening 31 of the mask 30 is etched, and the groove 13 is formed. In the dry etching process, etching is performed using a reactive gas, for example, CHF3, in an RIE (reactive ion etching) apparatus using a generally employed oxide film dry etcher.

この際、外形周縁部14,15は、断面方向中央部の一部が残り厚みを有して、水晶振動片10の外形形状が形成される。なお、外形周縁部14,15の水晶基板1の表面(または裏面)からのエッチング深さは、溝13の表面(または裏面)からのエッチング深さよりも深く形成される。従って、溝13の底部残り厚みよりも外形周縁部14,15の残り厚みの方が小さくなる。この差は、溝13の幅が外形周縁部14,15よりも小さいために、ドライエッチング加工の特性であるマイクロローディング効果によるエッチングレート差から生じる。   At this time, the outer peripheral edge portions 14 and 15 have a remaining thickness at a part of the central portion in the cross-sectional direction so that the outer shape of the quartz crystal vibrating piece 10 is formed. In addition, the etching depth from the surface (or back surface) of the quartz substrate 1 of the outer peripheral edge portions 14 and 15 is formed deeper than the etching depth from the surface (or back surface) of the groove 13. Accordingly, the remaining thickness of the outer peripheral edge portions 14 and 15 is smaller than the remaining thickness of the bottom portion of the groove 13. This difference is caused by a difference in etching rate due to the microloading effect that is a characteristic of the dry etching process because the width of the groove 13 is smaller than the outer peripheral edge portions 14 and 15.

溝13と水晶振動片10の外形周縁部の側面は、ドライエッチング加工で形成されるため、水晶の結晶方位の異方性から生ずるエッチング異方性がないため、水晶基板1の表面に対して垂直に形成される。
次に、水晶振動片10の平面形状に相当する範囲にレジスト膜20を成膜する。
Since the side surfaces of the outer peripheral edge of the groove 13 and the quartz crystal resonator element 10 are formed by dry etching, there is no etching anisotropy resulting from the crystal orientation anisotropy of the crystal. It is formed vertically.
Next, a resist film 20 is formed in a range corresponding to the planar shape of the quartz crystal vibrating piece 10.

図3(c)は、レジスト膜20が成膜された状態を示している。まず、レジスト膜20を水晶基板1の表面の全体に成膜した後、露光を行い図3(c)に示すように、水晶振動片10の平面形状に相当する範囲と、溝13の内部全体が残された状態に形成する。水晶振動片10の外形周縁部14,15は開口されている。このような状態でウエットエッチング加工を行い、水晶振動片10の外形周縁部14,15を除去する。
なお、レジスト膜30は、メタルマスク等へ置き換えることも可能である。
FIG. 3C shows a state in which the resist film 20 is formed. First, after the resist film 20 is formed on the entire surface of the quartz substrate 1, exposure is performed and the range corresponding to the planar shape of the quartz crystal vibrating piece 10 and the entire inside of the groove 13 are exposed as shown in FIG. Is formed in a state where is left. The outer peripheral edges 14 and 15 of the quartz crystal vibrating piece 10 are opened. In this state, wet etching is performed to remove the outer peripheral edges 14 and 15 of the quartz crystal vibrating piece 10.
The resist film 30 can be replaced with a metal mask or the like.

図3(d)は、ウエットエッチング加工工程により、水晶振動片10の外形周縁部14,15が除去された状態を示している。前述したように、レジスト膜20は、外形周縁部14,15のみが開口されているため、このウエットエッチング加工工程では、外形周縁部のみが除去され、水晶振動片10の外形形状が形成される。この際、水晶振動片10の外形周縁部の残り厚みは、溝13の残り厚みよりも薄いため、ウエットエッチング加工時間は短時間ですむ。   FIG. 3D shows a state where the outer peripheral edge portions 14 and 15 of the crystal vibrating piece 10 are removed by the wet etching process. As described above, since only the outer peripheral edge portions 14 and 15 of the resist film 20 are opened, in this wet etching process, only the outer peripheral edge portion is removed, and the outer shape of the crystal vibrating piece 10 is formed. . At this time, since the remaining thickness of the outer peripheral edge of the crystal vibrating piece 10 is thinner than the remaining thickness of the groove 13, the wet etching processing time is short.

図3(e)には、上述したウエットエッチング加工後、レジスト膜20を除去した後の水晶振動片10が示されている。このようにして、図1に示すような溝13を有する水晶振動片10が形成される。   FIG. 3E shows the crystal vibrating piece 10 after the resist film 20 is removed after the above-described wet etching process. In this way, the crystal vibrating piece 10 having the groove 13 as shown in FIG. 1 is formed.

従って、前述した実施形態1によれば、ドライエッチング加工によって、溝13と外形周縁部の断面の大部分が、高精度でしかも断面形状が水晶振動片10の表面に対して垂直に形成されるため、高精度な発振周波数や共振周波数を得ることができる。   Therefore, according to the above-described first embodiment, most of the cross section of the groove 13 and the outer peripheral edge portion is formed with high accuracy and the cross sectional shape is perpendicular to the surface of the crystal vibrating piece 10 by dry etching. Therefore, a highly accurate oscillation frequency and resonance frequency can be obtained.

また、このように、ドライエッチング加工により、振動腕12に設けられる溝13と、水晶振動片10の外形周縁部の断面の大部分を一括形成するため、溝13と外形形状との相対的位置、形状誤差が小さくなり、また、一対の振動腕12の対称性が保たれること、及び、外形形状形成後に成膜される励振電極または検出電極において、振動腕12の外形部に形成される電極と、溝13内に形成される電極との間の距離が高精度に形成可能となり、良好な周波数特性を得ることができる。   Further, in this way, the groove 13 provided in the vibrating arm 12 and most of the cross-section of the outer peripheral edge of the quartz crystal vibrating piece 10 are collectively formed by dry etching, so the relative position between the groove 13 and the outer shape. The shape error is reduced, the symmetry of the pair of vibrating arms 12 is maintained, and the excitation electrode or the detection electrode formed after forming the outer shape is formed on the outer portion of the vibrating arm 12. The distance between the electrode and the electrode formed in the groove 13 can be formed with high accuracy, and good frequency characteristics can be obtained.

さらに、ドライエッチング加工により溝の穿設加工と外形形状の形成加工とを一括して行い、その後、ドライエッチング加工において残した外形周縁部の断面(厚み)の一部をウエットエッチング加工により除去するため、ウエットエッチング加工による加工量が少なくてすみ、加工時間を短くすることが可能となり、製造効率を高めることができる。
(実施形態2)
Further, the groove drilling process and the outer shape forming process are collectively performed by dry etching, and then a part of the cross-section (thickness) of the outer peripheral edge left in the dry etching process is removed by wet etching. Therefore, the amount of processing by wet etching can be reduced, the processing time can be shortened, and the manufacturing efficiency can be increased.
(Embodiment 2)

続いて、本発明の実施形態2に係る水晶振動片10の製造方法について図面を参照して説明する。実施形態2は、前述した実施形態1に対してドライエッチング加工工程とウエットエッチング加工工程の工程順とその際の加工部位が異なることに特徴を有し、水晶振動片の完成時の形状は同じであるため(図1、参照)共通部位には同じ符号を附して説明する。なお、水晶基板1上における水晶振動片の配置関係も図2で示しており説明を省略する。   Then, the manufacturing method of the crystal vibrating piece 10 which concerns on Embodiment 2 of this invention is demonstrated with reference to drawings. The second embodiment is different from the first embodiment described above in that the order of the dry etching process and the wet etching process and the processing parts at that time are different, and the shape of the crystal resonator element when completed is the same. For this reason (see FIG. 1), common portions will be described with the same reference numerals. The arrangement relationship of the quartz crystal vibrating pieces on the quartz substrate 1 is also shown in FIG.

図4(a)〜図4(f)は、本実施形態に係る水晶振動片10の製造工程を示す断面図である。図1で表されるA−A断面を示している。まず、水晶基板1の表裏両面にマスク30を形成する。
図4(a)は、水晶基板1にマスク30を成膜した状態を示している。マスク30は、水晶振動片10の外形形状に相当する形状に成膜される。なお、マスク30は、レジスト膜に置き換えることも可能である。次に、表裏両面からウエットエッチング加工を行う。
FIG. 4A to FIG. 4F are cross-sectional views illustrating the manufacturing steps of the crystal vibrating piece 10 according to the present embodiment. The AA cross section represented by FIG. 1 is shown. First, masks 30 are formed on both the front and back surfaces of the quartz substrate 1.
FIG. 4A shows a state in which a mask 30 is formed on the quartz substrate 1. The mask 30 is formed into a shape corresponding to the outer shape of the crystal vibrating piece 10. Note that the mask 30 can be replaced with a resist film. Next, wet etching is performed from both the front and back sides.

図4(b)は、ウエットエッチング加工工程後の水晶基板1を示している。図4(b)において、このウエットエッチング加工によって、水晶振動片10の外形形状が形成される。この際、水晶振動片10の外形周縁部14,15(図1,2も参照)は、断面(厚み)の一部を残している。ここで、外形周縁部14,15のエッチング残り厚みは、加工途中において、水晶基板1から水晶振動片10が脱落しない程度の厚みを残している。この厚みは数μm以下にすることが望ましい。
そして、一旦、マスク30を除去した後、表面全体にわたってマスク40を形成する。
FIG. 4B shows the crystal substrate 1 after the wet etching process. In FIG. 4B, the external shape of the crystal vibrating piece 10 is formed by this wet etching process. At this time, the outer peripheral edge portions 14 and 15 (see also FIGS. 1 and 2) of the quartz crystal vibrating piece 10 leave a part of the cross section (thickness). Here, the remaining etching thickness of the outer peripheral edge portions 14 and 15 remains such that the crystal vibrating piece 10 does not fall off from the crystal substrate 1 during the processing. This thickness is preferably several μm or less.
Then, once the mask 30 is removed, the mask 40 is formed over the entire surface.

図4(c)には、マスク40の形成工程が示されている。上述したウエットエッチング加工によって水晶振動片10の外形形状が形成された水晶基板1の表面全体にマスク40を形成する。
そして、図4(d)に示すように、このマスク40表面に水晶振動片10に相当する範囲のレジスト膜25を成膜する。
FIG. 4C shows a process for forming the mask 40. A mask 40 is formed on the entire surface of the quartz crystal substrate 1 on which the external shape of the quartz crystal vibrating piece 10 is formed by the wet etching process described above.
Then, as shown in FIG. 4D, a resist film 25 in a range corresponding to the crystal vibrating piece 10 is formed on the surface of the mask 40.

図4(d)は、レジスト膜25を成膜した状態を示している。図4(d)において、レジスト膜25は、マスク40の上面の水晶振動片10に相当する範囲に形成するが、溝13に相当する範囲に開口部26が形成されている。そして、このレジスト膜25を用いてマスク40をエッチングすべき領域を剥離し、レジスト膜25を除去する。   FIG. 4D shows a state where a resist film 25 is formed. In FIG. 4D, the resist film 25 is formed in a range corresponding to the crystal vibrating piece 10 on the upper surface of the mask 40, but an opening 26 is formed in a range corresponding to the groove 13. Then, the resist film 25 is used to peel the region where the mask 40 is to be etched, and the resist film 25 is removed.

図4(e)は、マスク40が所定の形状に形成された状態を示している。ここで、マスク40は、溝13と外形周縁部14,15を除いた範囲、つまり、溝13の範囲を除いた水晶振動片10の外形形状の範囲に形成されていることになる。このような状態でドライエッチング加工工程により外形周縁部14,15を除去し、水晶振動片10を単体に分離する。   FIG. 4E shows a state where the mask 40 is formed in a predetermined shape. Here, the mask 40 is formed in a range excluding the groove 13 and the outer peripheral edge portions 14, 15, that is, in the outer shape range of the crystal vibrating piece 10 excluding the range of the groove 13. In such a state, the outer peripheral edge portions 14 and 15 are removed by a dry etching process, and the crystal vibrating piece 10 is separated into a single piece.

図4(f)は、上述したドライエッチング加工によって形成された水晶振動片10を示している。水晶振動片10は、このドライエッチング加工において、溝13と水晶基板1からの分離を一括して行われる。ここで、溝13と外形周縁部14,15との厚み関係について説明すると、外形周縁部14,15のエッチング残り厚み14a,15a(図4(e)、参照)は、溝13のエッチング深さ13a,13bよりも小さいので、溝13の深さを確保するまでエッチング加工することで、外形周縁部が貫通され、水晶振動片10が水晶基板1から分離形成される。そして、マスク40を除去し水晶振動片10が完成する。   FIG. 4F shows the crystal vibrating piece 10 formed by the dry etching process described above. The quartz crystal resonator element 10 is collectively separated from the groove 13 and the quartz substrate 1 in this dry etching process. Here, the thickness relationship between the groove 13 and the outer peripheral edge portions 14 and 15 will be described. The remaining etching thicknesses 14a and 15a (see FIG. 4 (e)) of the outer peripheral edge portions 14 and 15 are the etching depth of the groove 13. Since it is smaller than 13a and 13b, the outer peripheral edge is penetrated by etching until the depth of the groove 13 is ensured, and the crystal vibrating piece 10 is formed separately from the crystal substrate 1. Then, the mask 40 is removed, and the crystal vibrating piece 10 is completed.

従って、前述した実施形態2によれば、水晶振動片10の外形周縁部14,15の加工をエッチング速度が速いウエットエッチング加工で行い、精度が要求される溝と外形形状の分離をドライエッチング加工で行うため、製造効率を高めるとともに、溝13及び外形周縁部14,15の側面が水晶振動片の表面(主面)に対して垂直性となり、また、外形形状形成後に成膜される励振電極または検出電極において、振動腕12の外形部に形成される電極と、溝13内に形成される電極との間の距離が高精度に形成可能となるため、良好な周波数特性を備える水晶振動片10を実現することができる。   Therefore, according to the second embodiment described above, the outer peripheral edge portions 14 and 15 of the quartz crystal vibrating piece 10 are processed by wet etching with a high etching speed, and the groove and the outer shape that require high accuracy are separated by dry etching. Thus, the manufacturing efficiency is improved, and the side surfaces of the groove 13 and the outer peripheral edge portions 14 and 15 are perpendicular to the surface (main surface) of the crystal vibrating piece, and the excitation electrode is formed after the outer shape is formed. Alternatively, in the detection electrode, since the distance between the electrode formed on the outer shape of the vibrating arm 12 and the electrode formed in the groove 13 can be formed with high accuracy, the crystal vibrating piece having good frequency characteristics 10 can be realized.

また、水晶振動片10は、水晶基板1上に複数個一括形成、分離されて完成するが、外形周縁部の断面(厚み)の一部は、水晶振動片10を所定の形状に形成するまでの間、水晶基板1と各水晶振動片10を接続しておくために残されている。従って、外形周縁部14,15は、水晶振動片10が加工途中で水晶基板1から脱落しない程度に薄くしておけばよく、このようにすることで、溝13の穿設と外形周縁部14,15の分離加工とを一括して容易に行うことができる。   Further, a plurality of quartz crystal vibrating pieces 10 are collectively formed and separated on the quartz substrate 1 and completed. However, a part of the cross section (thickness) of the outer peripheral edge portion is until the quartz crystal vibrating piece 10 is formed in a predetermined shape. In the meantime, the quartz substrate 1 and each quartz crystal vibrating piece 10 are left to be connected. Therefore, the outer peripheral edge portions 14 and 15 need only be thin enough that the quartz crystal resonator element 10 does not fall off from the quartz crystal substrate 1 during the processing. , 15 can be easily performed in a lump.

なお、本発明は前述の実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良等は本発明に含まれるものである。
すなわち、本発明は、主に特定の実施形態に関して特に図示され、且つ、説明しているが、本発明の技術的思想及び目的の範囲に逸脱することなく、以上説明した実施形態に対し、形状、材質、組み合わせ、その他の詳細な構成において、当業者が様々な変形を加えることができるものである。
It should be noted that the present invention is not limited to the above-described embodiments, and modifications, improvements, and the like within the scope that can achieve the object of the present invention are included in the present invention.
That is, although the present invention has been illustrated and described with particular reference to particular embodiments, it is not intended to depart from the technical spirit and scope of the invention. Those skilled in the art can make various modifications in materials, combinations, and other detailed configurations.

従って、上記に開示した形状、材質などを限定した記載は、本発明の理解を容易にするために例示的に記載したものであり、本発明を限定するものでないから、それらの形状、材質、組み合わせなどの限定の一部もしくは全部の限定をはずした部材の名称での記載は、本発明に含まれるものである。   Therefore, the description limited to the shape, material, etc. disclosed above is an example for easy understanding of the present invention, and does not limit the present invention. The description by the name of the member which remove | excluded some or all restrictions, such as a combination, is included in this invention.

例えば、実施形態1,2では、圧電基板として水晶を例示しているが、水晶以外の圧電基板にも応用することができ、特に、結晶方位の異方性を有する圧電基板には効果が大きい。   For example, in Embodiments 1 and 2, quartz is exemplified as the piezoelectric substrate, but it can also be applied to piezoelectric substrates other than quartz, and is particularly effective for piezoelectric substrates having crystal orientation anisotropy. .

また、実施形態1,2では、音叉型の水晶振動片を例示して説明したが、音叉型に限らず、一般にH型、ダブルT型と称せられる圧電振動片にも応用することが可能である。   In the first and second embodiments, the tuning fork type quartz vibrating piece is described as an example. However, the tuning fork type quartz vibrating piece is not limited to the tuning fork type, and can be applied to a piezoelectric vibrating piece generally referred to as an H type or a double T type. is there.

従って、前述の実施形態1及び実施形態2によれば、垂直な断面形状と正確な平面形状を有し、高精度な発振周波数、共振周波数を実現する水晶振動片と、この水晶振動片を実現する製造効率が高い製造方法を提供することができる。   Therefore, according to the first and second embodiments described above, a quartz crystal resonator element having a vertical cross-sectional shape and an accurate planar shape and realizing a highly accurate oscillation frequency and resonance frequency, and the crystal resonator element are realized. It is possible to provide a manufacturing method with high manufacturing efficiency.

本発明の実施形態1に係る水晶振動片を示す平面図。FIG. 3 is a plan view showing the crystal resonator element according to the first embodiment of the invention. 本発明の実施形態1に係る水晶基板上の水晶振動片の配置の一部を示す平面図。The top view which shows a part of arrangement | positioning of the crystal vibrating piece on the quartz substrate which concerns on Embodiment 1 of this invention. (a)〜(e)は本発明の実施形態1に係る水晶振動片の製造方法を示す断面図。(A)-(e) is sectional drawing which shows the manufacturing method of the quartz crystal vibrating piece which concerns on Embodiment 1 of this invention. (a)〜(f)は本発明の実施形態2に係る水晶振動片の製造方法を示す断面図。(A)-(f) is sectional drawing which shows the manufacturing method of the quartz crystal vibrating piece which concerns on Embodiment 2 of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

1…基板としての水晶基板、10…圧電振動片としての水晶振動片、12…振動腕、13…溝、14,15…外形周縁部、20,25…レジスト膜、30,40…マスク。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Quartz substrate as a substrate, 10 ... Quartz vibrating piece as a piezoelectric vibrating piece, 12 ... Vibrating arm, 13 ... Groove, 14, 15 ... Outer peripheral edge part, 20, 25 ... Resist film, 30, 40 ... Mask

Claims (6)

圧電材料からなる基板から圧電振動片を分離形成する圧電振動片の製造方法であって、
前記圧電振動片を構成する振動腕の主面の表裏両面それぞれに設けられる溝を穿設する工程と、
前記圧電振動片の外形形状を表裏両面から形成する工程と、を含み、
少なくとも前記溝を穿設する手段が、ドライエッチング加工であることを特徴とする圧電振動片の製造方法。
A method of manufacturing a piezoelectric vibrating piece by separately forming a piezoelectric vibrating piece from a substrate made of a piezoelectric material,
Drilling grooves provided on both the front and back surfaces of the main surface of the vibrating arm constituting the piezoelectric vibrating piece;
Forming the outer shape of the piezoelectric vibrating piece from both front and back sides,
A method of manufacturing a piezoelectric vibrating piece, wherein at least the means for forming the groove is dry etching.
請求項1に記載の圧電振動片の製造方法において、
前記溝を穿設し、前記圧電振動片の外形周縁部の断面の一部を残して外形形状を形成するドライエッチング加工工程と、
この加工工程の後に、前記圧電振動片の外形周縁部の前記断面の一部を除去して外形形状を形成するウエットエッチング加工工程と、
を含むことを特徴とする圧電振動片の製造方法。
In the manufacturing method of the piezoelectric vibrating piece according to claim 1,
A dry etching process for forming the outer shape by drilling the groove and leaving a part of the cross section of the outer peripheral edge of the piezoelectric vibrating piece;
After this processing step, a wet etching processing step of removing a part of the cross section of the outer peripheral edge of the piezoelectric vibrating piece to form an outer shape,
A method for manufacturing a piezoelectric vibrating piece, comprising:
請求項2に記載の圧電振動片の製造方法において、
前記ドライエッチング加工工程によって、前記圧電振動片の外形周縁部のエッチング深さを、前記溝のエッチング深さよりも深く形成することを特徴とする圧電振動片の製造方法。
In the manufacturing method of the piezoelectric vibrating piece according to claim 2,
The method for manufacturing a piezoelectric vibrating piece, wherein the etching depth of the outer peripheral edge of the piezoelectric vibrating piece is formed deeper than the etching depth of the groove by the dry etching process.
請求項1に記載の圧電振動片の製造方法において、
前記圧電振動片の外形周縁部の断面の一部を残して外形形状を形成するウエットエッチング加工工程と、
このウエットエッチング加工工程の後に、前記溝を穿設し、前記圧電振動片の外形周縁部の前記断面の一部を除去して外形形状を形成するドライエッチング加工工程と、
を含むことを特徴とする圧電振動片の製造方法。
In the manufacturing method of the piezoelectric vibrating piece according to claim 1,
A wet etching process for forming an outer shape leaving a part of the cross section of the outer peripheral edge of the piezoelectric vibrating piece;
After this wet etching processing step, a dry etching processing step of forming the outer shape by drilling the groove and removing a part of the cross section of the outer periphery of the piezoelectric vibrating piece;
A method for manufacturing a piezoelectric vibrating piece, comprising:
請求項4に記載の圧電振動片の製造方法において、
前記ウエットエッチング加工工程によって、前記圧電振動片の外形周縁部の厚みを、前記基板から前記圧電振動片が脱落しない程度の厚みで形成することを特徴とする圧電振動片の製造方法。
In the manufacturing method of the piezoelectric vibrating piece according to claim 4,
The method of manufacturing a piezoelectric vibrating piece, wherein the outer peripheral edge of the piezoelectric vibrating piece is formed by the wet etching process so as to prevent the piezoelectric vibrating piece from falling off the substrate.
請求項1ないし請求項5のいずれか一項に記載の製造方法で製造され、
基部と、該基部から延在される振動腕を有し、
前記振動腕の主面の表裏両面に溝が形成されていることを特徴とする圧電振動片。
It is manufactured by the manufacturing method according to any one of claims 1 to 5,
A base and a vibrating arm extending from the base;
A piezoelectric vibrating piece in which grooves are formed on both front and back surfaces of the main surface of the vibrating arm.
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Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008205657A (en) * 2007-02-17 2008-09-04 Seiko Instruments Inc Method of manufacturing piezoelectric vibrating piece, piezoelectric vibrating piece, piezoelectric vibrator, oscillator, electronic apparatus, and radio-controlled clock
EP2043259A1 (en) 2007-09-25 2009-04-01 Nihon Dempa Kogyo Co., Ltd. Piezoelectric vibrating pieces and methods for manufacturing same
WO2010023741A1 (en) * 2008-08-28 2010-03-04 セイコーインスツル株式会社 Piezoelectric vibrating reed manufacturing method, piezoelectric vibrator, oscillator, electronic apparatus, and radio-controlled clock
JP2010178169A (en) * 2009-01-30 2010-08-12 Panasonic Corp Method for manufacturing crystal device
CN101286729B (en) * 2007-03-30 2010-08-25 京瓷金石株式会社 Tuning fork flexural crystal vibration device, crystal vibrator, and crystal oscillator
CN105451470A (en) * 2014-08-29 2016-03-30 深南电路有限公司 Circuit board processing method
US10128430B2 (en) 2015-01-13 2018-11-13 Seiko Epson Corporation Vibration element manufacturing method, vibration element, electronic device, electronic apparatus, and moving object
US10418968B2 (en) 2015-10-28 2019-09-17 Seiko Epson Corporation Electronic component manufacturing method, vibrator device, electronic apparatus, and vehicle
US10418967B2 (en) 2014-07-25 2019-09-17 Seiko Epson Corporation Resonator element, manufacturing method for resonator element, resonator, electronic device, and moving object

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008205657A (en) * 2007-02-17 2008-09-04 Seiko Instruments Inc Method of manufacturing piezoelectric vibrating piece, piezoelectric vibrating piece, piezoelectric vibrator, oscillator, electronic apparatus, and radio-controlled clock
CN101286729B (en) * 2007-03-30 2010-08-25 京瓷金石株式会社 Tuning fork flexural crystal vibration device, crystal vibrator, and crystal oscillator
EP2043259A1 (en) 2007-09-25 2009-04-01 Nihon Dempa Kogyo Co., Ltd. Piezoelectric vibrating pieces and methods for manufacturing same
JP2009081521A (en) * 2007-09-25 2009-04-16 Nippon Dempa Kogyo Co Ltd Method of manufacturing piezoelectric vibration piece and method of manufacturing piezoelectric device
US8365371B2 (en) 2007-09-25 2013-02-05 Nihon Dempa Kogyo Co., Ltd. Methods for manufacturing piezoelectric vibrating devices
WO2010023741A1 (en) * 2008-08-28 2010-03-04 セイコーインスツル株式会社 Piezoelectric vibrating reed manufacturing method, piezoelectric vibrator, oscillator, electronic apparatus, and radio-controlled clock
JP5244188B2 (en) * 2008-08-28 2013-07-24 セイコーインスツル株式会社 Method for manufacturing piezoelectric vibrating piece
US8516669B2 (en) 2008-08-28 2013-08-27 Seiko Instruments Inc. Method of manufacturing piezoelectric vibrating reed, piezoelectric vibrator, oscillator, electronic equipment and radio-controlled timepiece
JP2010178169A (en) * 2009-01-30 2010-08-12 Panasonic Corp Method for manufacturing crystal device
US10418967B2 (en) 2014-07-25 2019-09-17 Seiko Epson Corporation Resonator element, manufacturing method for resonator element, resonator, electronic device, and moving object
CN105451470A (en) * 2014-08-29 2016-03-30 深南电路有限公司 Circuit board processing method
CN105451470B (en) * 2014-08-29 2018-06-26 深南电路有限公司 A kind of processing method of circuit board
US10128430B2 (en) 2015-01-13 2018-11-13 Seiko Epson Corporation Vibration element manufacturing method, vibration element, electronic device, electronic apparatus, and moving object
US10418968B2 (en) 2015-10-28 2019-09-17 Seiko Epson Corporation Electronic component manufacturing method, vibrator device, electronic apparatus, and vehicle

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