JP2006349348A - Data recorder - Google Patents
Data recorder Download PDFInfo
- Publication number
- JP2006349348A JP2006349348A JP2005171810A JP2005171810A JP2006349348A JP 2006349348 A JP2006349348 A JP 2006349348A JP 2005171810 A JP2005171810 A JP 2005171810A JP 2005171810 A JP2005171810 A JP 2005171810A JP 2006349348 A JP2006349348 A JP 2006349348A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- measurement
- measurement data
- cycle
- collected
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Recording Measured Values (AREA)
Abstract
Description
本発明は、計測データを記憶する記憶部を備えて構成されているデータ記録装置に関するものである。 The present invention relates to a data recording apparatus that includes a storage unit that stores measurement data.
この種のデータ記録装置として、特許第3462642号公報に開示された計測データ処理装置が知られている。この計測データ処理装置では、情報処理装置が計測系からの計測データを一定周期(6秒)でサンプリングしてサンプリングデータを生成する。この場合、この計測データ処理装置では、情報処理装置が、サンプリングデータに基づいて1分、1時間、1日および1月の各周期毎の平均値を算出する。また、この計測データ処理装置では、情報処理装置が算出した各周期毎の平均値をグラフ化して表示部に表示させる。
ところが、上記のデータ処理装置には、以下の問題点がある。すなわち、このデータ処理装置では、計測データを一定周期でサンプリングしてサンプリングデータを生成すると共に、表示部に表示させるためにサンプリングデータに基づいて平均値を算出している。このため、このデータ処理装置では、上記した一定周期以外の周期では計測データがサンプリングされていない。したがって、このデータ処理装置には、別の周期でサンプリングされたデータが必要となったときには、サンプリングする周期の設定を変更して計測系からの計測データを改めて測定しなければならず、その設定変更および測定が煩雑であり、しかも、設定変更によって計測データの連続性が損なわれるという問題点がある。 However, the above data processing apparatus has the following problems. That is, in this data processing device, the measurement data is sampled at a constant period to generate sampling data, and the average value is calculated based on the sampling data for display on the display unit. For this reason, in this data processing apparatus, measurement data is not sampled in a period other than the above-described fixed period. Therefore, when data sampled at another cycle is required for this data processing device, the setting of the sampling cycle must be changed and measurement data from the measurement system must be measured again. The change and measurement are complicated, and there is a problem that the continuity of measurement data is impaired by the setting change.
本発明は、かかる問題点に鑑みてなされたものであり、改めて収集することなく所望の周期で収集された計測データを取得し得るデータ記録装置を提供することを主目的とする。また、計測データの連続性を維持し得るデータ記録装置を提供することを他の目的とする。 The present invention has been made in view of such a problem, and a main object of the present invention is to provide a data recording apparatus that can acquire measurement data collected at a desired cycle without being collected again. Another object is to provide a data recording apparatus capable of maintaining the continuity of measurement data.
上記目的を達成すべく請求項1記載のデータ記録装置は、計測データを所定周期で収集するデータ収集部と、前記データ収集部によって収集された複数の前記計測データを記憶する記憶部と、前記記憶部に記憶されている前記各計測データの中から所定のデータを抽出するデータ抽出部とを備え、前記データ抽出部は、前記所定周期のN倍(Nは2以上の整数)の周期が指定されたときに、当該周期で収集された前記計測データを抽出する。
In order to achieve the above object, a data recording apparatus according to
請求項2記載のデータ記録装置は、前記データ収集部が、複数種類の前記計測データを前記所定周期で収集し、前記データ抽出部が、前記N倍の周期が前記種類毎に指定可能に構成されて、当該指定された各周期でそれぞれ収集された当該種類毎の前記各計測データを抽出する。なお、本明細書における「複数種類の計測データ」とは、計測対象(例えば、製造ラインや機器等)、および計測項目(例えば、温度、電圧、電流および電力等)の少なくとも一方が異なる複数の計測データをいう。したがって、計測項目の種類が同じである計測データであっても、計測対象が異なれば、本明細書における「複数種類の計測データ」に相当する。
3. The data recording apparatus according to
請求項1記載のデータ記録装置によれば、計測データを収集した所定周期のN倍の周期が指定されたときに、データ抽出部がその周期で収集された計測データを記憶部に記憶されている複数の計測データの中から抽出することにより、その周期で収集された計測データを取得することができる。したがって、計測データの収集を改めて行うことなく、所望の周期で収集された計測データを確実かつ容易に取得することができる。また、計測データを抽出する周期を変更する必要が生じたとしても、所望の計測データの収集を改めて行うことなく記憶部に記憶されている複数の計測データを用いて変更した周期で抽出することができるため、計測データの収集を続行させることができる。したがって、記憶部に記憶されている計測データのデータの連続性を維持することができる。
According to the data recording device of
また、請求項2記載のデータ記録装置によれば、計測データを収集した所定周期のN倍の周期を種類毎に指定すると共に、指定された各周期でそれぞれ収集された種類毎の各計測データを抽出することにより、その種類に適した所望周期の計測データを確実かつ容易に抽出することができる。 In addition, according to the data recording apparatus of the second aspect, the cycle of N times the predetermined cycle in which the measurement data is collected is designated for each type, and each measurement data for each type collected in each designated cycle By extracting, measurement data of a desired cycle suitable for the type can be reliably and easily extracted.
以下、本発明に係るデータ記録装置の最良の形態について、添付図面を参照して説明する。 Hereinafter, the best mode of a data recording apparatus according to the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
最初に、データ記録装置1の構成について説明する。
First, the configuration of the
データ記録装置1は、図1に示すように、制御部3、記憶部4、操作部5および表示部6を備えて構成されると共に、複数(例えば3つ)の計測モジュール2x〜2zが接続可能に構成されている。なお、このデータ記録装置1は、例えば、図2に示すような工場Xの室温などの計測を継続的に実施することにより、その工場Xにおいて製品の各々がどのような温度条件下で製造されたかを監視するのに用いられる。
As shown in FIG. 1, the
計測モジュール2x〜2zは、工場Xにおける所定位置の温度を所定の周期で計測すると共に、計測した温度にタイムスタンプとして計測時間tを付した計測データDx〜Dz(以下、区別しないときには「計測データD」ともいう)を制御部3に出力する。また、計測モジュール2x〜2zは、計測データDx〜Dzを出力する周期(本発明における所定周期)を設定可能に構成され、本例では1分毎に計測データDを出力するように計測データDの出力周期が設定されている。なお、図1,2に示すように、計測モジュール2xは、工場Xの所定位置における室温を計測してその室温を示す計測データDxを出力する。計測モジュール2yは、製造ラインYの所定位置に配置された機器Y1の内部温度を計測して、その内部温度を示す計測データDyを出力する。計測モジュール2zは、製造ラインZの所定位置に配置された機器Z1の内部温度を計測して、その内部温度を示す計測データDzを出力する。
The
制御部3は、本発明におけるデータ収集部として機能し、計測モジュール2x〜2zから出力された複数種類の計測データDx〜Dzを1分毎に収集する。この場合、制御部3は、複数種類の計測データDx〜Dzに基づいて収集データDcを生成して記憶部4に記憶させる。この場合、収集データDcは、図3に示すように、タイムスタンプとして付された計測時間t(t1〜t9・・・)と、その各計測時間tに対応付けられたデータDx(Dx1〜Dx9・・・),Dy(Dy1〜Dy9・・・),Dz(Dz1〜Dz9・・・)とで構成されている。また、制御部3は、各計測モジュール2x〜2zに計測データDx〜Dzを出力させる周期、すなわち制御部3が計測データDx〜Dzを収集する周期を任意に設定可能に構成されている。
The control unit 3 functions as a data collection unit in the present invention, and collects a plurality of types of measurement data Dx to Dz output from the
一方、制御部3は、本発明におけるデータ抽出部としても機能し、計測データDの出力周期のN倍(Nは2以上の整数)の周期が操作部5を介して指定されたときに、記憶部4に記憶されている収集データDcの中からその周期で収集された計測データDを抽出する。この場合、制御部3は、抽出したデータをグループ化することにより、図3に示すように、製造ラインYに関する検査データDi1と製造ラインZに関する検査データDi2とを計測時間tに対応付けて生成して記憶部4に出力する。また、制御部3は、検査データDi1,Di2(以下、区別しないときには「検査データDi」ともいう)を生成する際に計測データDを抽出するためのN倍の周期を任意に指定可能に構成されている。なお、制御部3は、このN倍の周期を計測データDの種類毎に指定可能に構成されると共に、このN倍の周期を1つの種類の計測データDに対しても複数指定可能に構成されている。また、制御部3は、操作部5で操作された操作内容に従い、生成した検査データDi1,Di2を計測時間tと共に表示部6に表示させる。
On the other hand, the control unit 3 also functions as a data extraction unit in the present invention, and when a cycle N times the output cycle of the measurement data D (N is an integer of 2 or more) is designated via the
記憶部4は、複数の計測データDx,Dy,Dzを含む収集データDc、および検査データDi1,Di2を記憶する。操作部5は、作業者によって操作された操作内容に応じた指示信号を制御部3に出力する。表示部6は、制御部3による制御に従って検査データDi1,Di2を表示する。
The storage unit 4 stores collected data Dc including a plurality of measurement data Dx, Dy, and Dz, and inspection data Di1 and Di2. The
次に、データ記録装置1の動作について図面を参照して説明する。
Next, the operation of the
図2に示す製造ラインY,Zにおいて製品がどのような温度条件下で製造されたかを監視する際には、まず、作業者は、操作部5を操作して計測モジュール2x〜2zにおける計測データDx〜Dzの出力周期(1分毎)を設定する。したがって、計測モジュール2x〜2zは、計測データDx〜Dzを1分毎に制御部3に出力する。この状態において、制御部3は、計測モジュール2x〜2zから1分毎に出力された計測データDx〜Dzに基づいて収集データDcを生成して記憶部4に記憶させる。この結果、図3に示すように、記憶部4には、計測モジュール2xから1分毎に出力された工場Xの室温を示す計測データDx1,Dx2・・、計測モジュール2yから1分毎に出力された機器Y1の内部温度を示す計測データDy1,Dy2・・、および計測モジュール2zから1分毎に出力された機器Z1の内部温度を示す計測データDz1,Dz2・・を計測時間t(t1〜t9・・・)に対応付けた収集データDcが順次蓄積記憶される。
When monitoring under what temperature conditions the product is manufactured in the production lines Y and Z shown in FIG. 2, first, the operator operates the
この場合、例えば、製造ラインYでは製品が2分毎に機器Y1内を通過すると共に製造ラインZでは製品が3分毎に機器Z1内を通過するものとする。したがって、作業者によって操作部5が操作されて、例えば、製造ラインYについては2分(本発明における所定周期の2倍)毎に収集された計測データDyの抽出が指定され、かつ製造ラインZについては3分(本発明における所定周期の3倍)毎に収集された計測データDzの抽出が指定されたものとする。この際には、制御部3は、記憶部4に記憶されている収集データDcに基づき、工場Xの室温と機器Y1,Z1の内部温度との対応関係を示す検査データDi1,Di2を生成する。
In this case, for example, in the production line Y, the product passes through the device Y1 every 2 minutes, and in the production line Z, the product passes through the device Z1 every 3 minutes. Therefore, when the
この際に、制御部3は、工場Xの室温および機器Y1の内部温度を示す計測データDx,Dyの中から2分毎、すなわち制御部3が計測データDx,Dyを収集する周期(1分)の2倍の周期で収集された計測データDx,Dyを抽出してグループ化することにより、製造ラインYに関する検査データDi1を生成する。この場合、製造ラインYの検査データDi1は、図3に示すように、計測時間t(t2,t4,t6・・・)と、各計測時間tに対応する工場Xの2分毎の室温を示す計測データDx2,Dx4,Dx6・・と、各計測時間tに対応する機器Y1の2分毎の内部温度を示す計測データDy2,Dy4,Dy6・・とで構成される。したがって、作業者は、製造ラインYの検査データDi1の内容を表示部6に表示させることにより、製造ラインYにおいて製品の各々が各計測時間tのときにどのような温度条件下で製造されたかを特定することができる。 At this time, the controller 3 collects the measurement data Dx, Dy every two minutes from the measurement data Dx, Dy indicating the room temperature of the factory X and the internal temperature of the device Y1, that is, a period (1 minute) The inspection data Di1 relating to the production line Y is generated by extracting and grouping the measurement data Dx and Dy collected at a period twice as long as. In this case, as shown in FIG. 3, the inspection data Di1 of the production line Y includes the measurement time t (t2, t4, t6...) And the room temperature every two minutes of the factory X corresponding to each measurement time t. Measurement data Dx2, Dx4, Dx6,... And measurement data Dy2, Dy4, Dy6,... Indicating the internal temperature every two minutes of the device Y1 corresponding to each measurement time t. Therefore, the operator displays the contents of the inspection data Di1 of the production line Y on the display unit 6 so that under what temperature conditions each product is produced in the production line Y at each measurement time t. Can be specified.
また、制御部3は、工場Xの室温および機器Z1の内部温度を示す計測データDx,Dzの中から3分毎の計測データDx,Dzを抽出してグループ化することにより、製造ラインZに関する検査データDi2も生成する。この場合、製造ラインZの検査データDi2は、図3に示すように、計測時間t(t3,t6,t9・・・)と、各計測時間tに対応する工場Xの3分毎の室温を示す計測データDx3,Dx6,Dx9・・と、各計測時間tに対応する機器Z1の3分毎の内部温度を示す計測データDz3,Dz6,Dz9・・とで構成される。したがって、作業者は、製造ラインZの検査データDi2の内容を表示部6に表示させることにより、製造ラインZにおいて製品の各々が各計測時間tのときにどのような温度条件下で製造されたかを特定することができる。 Further, the control unit 3 extracts the measurement data Dx, Dz every 3 minutes from the measurement data Dx, Dz indicating the room temperature of the factory X and the internal temperature of the device Z1, and groups them, thereby relating to the production line Z. Inspection data Di2 is also generated. In this case, as shown in FIG. 3, the inspection data Di2 of the production line Z includes the measurement time t (t3, t6, t9...) And the room temperature every 3 minutes of the factory X corresponding to each measurement time t. Measurement data Dx3, Dx6, Dx9,... And measurement data Dz3, Dz6, Dz9,... Indicating the internal temperature every 3 minutes of the device Z1 corresponding to each measurement time t. Therefore, the operator displays the contents of the inspection data Di2 of the production line Z on the display unit 6 so that under what temperature conditions each product is produced in the production line Z at each measurement time t. Can be specified.
このように、このデータ記録装置1では、計測データDの出力周期のN倍の周期が指定されたときに、制御部3がその周期で収集された計測データDを記憶部4に記憶されている収集データDcの中から抽出してグループ化する。このため、このデータ記録装置1によれば、収集データDcを構成する計測データDの周期の任意の整数倍の周期で収集された計測データDを取得することができる。したがって、計測データDの収集を改めて行うことなく、所望の周期で収集された計測データDを確実かつ容易に取得することができる。
Thus, in this
また、このデータ記録装置1によれば、検査データDi1,Di2を構成する計測データDの種類や周期などを変更する必要が生じたとしても、所望の計測データDの収集を改めて行うことなく記憶部4に記憶されている収集データDcを用いて検査データDi1,Di2を生成できるため、計測モジュール2x〜2zによる計測を続行させることができる。したがって、収集データDcのデータの連続性を維持することができる。さらに、収集データDcを構成する各計測データDに計測時間tがタイムスタンプとして対応付けられているため、計測時間tを基にして抽出することで、過去に計測した計測データDについて作業者が所望の期間の検査データを確実かつ容易に生成することができる。
Further, according to the
また、このデータ記録装置1によれば、計測データDの出力周期のN倍の周期を種類毎に指定すると共に、指定された各周期でそれぞれ収集された種類毎の各計測データDを抽出してグループ化することにより、その種類に適した所望周期の計測データDを確実かつ容易に抽出することができる。
Further, according to the
なお、本発明は、上記の構成に限定されない。本例では、3つの計測モジュール2x〜2zを用いて計測データDx〜Dzを収集する構成について説明したが、1つまたは任意の複数の計測モジュールを用いて計測データを収集する構成を採用することができる。また、本例では計測データDの出力周期を1分に設定しているが、それよりも短い0.1秒や1秒などの任意の周期に設定することもできる。この場合、計測データDを抽出する際の周期選択の自由度を高めるためには、計測データDの出力周期が指定周期に比べて短いほど好ましい。また、検査データDiを構成する計測データDの種類および周期は任意に設定可能である。例えば、図4に示すように、2分毎に抽出した計測データDx2,Dx4・・と5分毎に抽出した計測データDy5,Dy10・・とで構成される検査データDi3を生成することができる。この場合、検査データDi3は、同図に示すように、計測時間t(t2,t4,t5,t6,t8・・・)と、各計測時間t(t2,t4,t6・・・)に対応する工場Xの2分毎の室温を示す計測データDx2,Dx4,Dx6・・と、各計測時間t(t5,t10・・・)に対応する機器Y1の5分毎の内部温度を示す計測データDy5,Dy10・・とで構成される。さらに、計測データDx〜Dzのいずれか1つだけを計測データDの出力周期のN倍の周期で抽出して検査データDiを生成することも当然可能である。
In addition, this invention is not limited to said structure. In this example, the configuration in which the measurement data Dx to Dz are collected using the three
また、本発明におけるデータ収集部およびデータ抽出部の機能を1つの制御部3によって実現する構成について説明したが、データ収集部およびデータ抽出部を独立させた構成を採用することもできる。さらに、外部に設けられた計測モジュール2x〜2zをデータ記録装置1に接続する構成を上記したが、計測モジュール2x〜2zをデータ記録装置1の一部とする構成を採用することもできる。また、本例では温度を計測する計測モジュール2x〜2zを例に挙げて説明したが、計測モジュール2x〜2zによって計測される計測項目としては、電圧、電流および電力等の各種パラメータが含まれる。
Moreover, although the structure which implement | achieves the function of the data collection part and data extraction part in this invention by one control part 3 was demonstrated, the structure which made the data collection part and the data extraction part independent can also be employ | adopted. Furthermore, although the configuration in which the
1 データ記録装置
2x〜2z 計測モジュール
3 制御部
4 記憶部
5 操作部
6 表示部
Di1〜Di3 検査データ
Dx〜Dz 計測データ
DESCRIPTION OF
Claims (2)
前記データ抽出部は、前記所定周期のN倍(Nは2以上の整数)の周期が指定されたときに、当該周期で収集された前記計測データを抽出するデータ記録装置。 A data collection unit that collects measurement data at a predetermined period, a storage unit that stores the plurality of measurement data collected by the data collection unit, and a predetermined one of the measurement data stored in the storage unit A data extraction unit for extracting data;
The data extractor is a data recording device that extracts the measurement data collected in the cycle when a cycle N times the predetermined cycle (N is an integer of 2 or more) is designated.
前記データ抽出部は、前記N倍の周期が前記種類毎に指定可能に構成されて、当該指定された各周期でそれぞれ収集された当該種類毎の前記各計測データを抽出する請求項1記載のデータ記録装置。 The data collection unit collects a plurality of types of measurement data at the predetermined period,
The said data extraction part is comprised so that the said N times period can be designated for every said kind, and each said measurement data for every said kind collected at each said designated period is extracted. Data recording device.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005171810A JP2006349348A (en) | 2005-06-13 | 2005-06-13 | Data recorder |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005171810A JP2006349348A (en) | 2005-06-13 | 2005-06-13 | Data recorder |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006349348A true JP2006349348A (en) | 2006-12-28 |
Family
ID=37645374
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005171810A Pending JP2006349348A (en) | 2005-06-13 | 2005-06-13 | Data recorder |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2006349348A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014110888A (en) * | 2012-10-30 | 2014-06-19 | Seiko Instruments Inc | Electronic apparatus, data extraction method, and data extraction program |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0658958A (en) * | 1992-08-10 | 1994-03-04 | Yokogawa Electric Corp | Three-dimensional waveform display device |
JPH07210243A (en) * | 1994-01-17 | 1995-08-11 | Toshiba Corp | Recording device |
JPH09304113A (en) * | 1996-05-13 | 1997-11-28 | Denshi Giken:Kk | Data analyzer for electronic control apparatus |
-
2005
- 2005-06-13 JP JP2005171810A patent/JP2006349348A/en active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0658958A (en) * | 1992-08-10 | 1994-03-04 | Yokogawa Electric Corp | Three-dimensional waveform display device |
JPH07210243A (en) * | 1994-01-17 | 1995-08-11 | Toshiba Corp | Recording device |
JPH09304113A (en) * | 1996-05-13 | 1997-11-28 | Denshi Giken:Kk | Data analyzer for electronic control apparatus |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014110888A (en) * | 2012-10-30 | 2014-06-19 | Seiko Instruments Inc | Electronic apparatus, data extraction method, and data extraction program |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US20180053310A1 (en) | Vibration image acquisition and processing | |
US20130107036A1 (en) | Inspection system and method for correlating data from sensors and visual displays | |
CN106796678B (en) | Quality monitoring in a packaging line | |
JP2008226006A (en) | Facility equipment diagnostic device and program | |
WO2006042799A3 (en) | Method and device for analyzing a technical process | |
PH12018502503B1 (en) | Operation information analyzer | |
US11790579B2 (en) | Production efficiency improvement assisting system | |
JP2006349348A (en) | Data recorder | |
US8805566B2 (en) | Product line management system and method thereof | |
CN111368104B (en) | Information processing method, device and equipment | |
JP2008204166A (en) | Plant-monitoring control system | |
JP4936109B2 (en) | Waveform analyzer | |
US8933403B2 (en) | Method and device for measurement with an IR imaging device | |
EP0715738B1 (en) | Interpretive measurement instrument | |
TWI265727B (en) | Image sensor inspection system | |
Odgaard et al. | Karhunen-Loeve (PCA) based detection of multiple oscillations in multiple measurement signals from large-scale process plants | |
JP2005114614A (en) | Testing device with test signal monitoring function, and remote testing system | |
KR970050038A (en) | Method and device for displaying plant operating status | |
JP6971428B1 (en) | Environmental monitoring system | |
TW201001161A (en) | System for recording apparatus gear operation status | |
CN110837812B (en) | Test monitoring method and system | |
JP2019149081A (en) | Information collection device, information collection method, information collection program, and recording medium | |
JP7254845B2 (en) | Diagnostic device, diagnostic method, and diagnostic program | |
Yagimli et al. | Measurement and Analysis of Drilling Vibration Using Tracer DAQ and LABVIEW | |
WO2023181804A1 (en) | Operation analysis device and operation analysis method |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080609 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Effective date: 20100629 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 |
|
A02 | Decision of refusal |
Effective date: 20101130 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 |