JP2006338079A - 画像補正装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】ノイズが多い画素の影響を排除して画像のノイズを低減する画像補正装置を提供すること。
【解決手段】撮像手段101と、演算器102と、メモリ103とを構成要素とする画像情報出力手段に具備された、画像のノイズを低減する画像補正装置であって、注目画素近傍の参照領域内に存在する、感度が所定の閾値よりも高い画素素子に対応する画素を有効画素として選択する有効画素選択手段と、前記有効画素の中から前記注目画素の補正に用いる補正用画素を選択する補正用画素選択手段と、前記注目画素の画素信号値を、前記補正用画素の画素信号値を用いて算出した補正値で置換する画素信号値補正手段とを備えることを特徴とする画像補正装置を構成する。
【選択図】 図1

Description

本発明は画像補正装置に関する。
従来、画像ノイズの低減方法についての提案がなされている。例えば、下記特許文献1には、画像の輪郭を損なうことなく、迅速に画像上のノイズを低減、除去し、自然で滑らかな色再現を行うために、注目画素がエッジに含まれる場合、エッジに沿った楕円形のメディアンフィルタを用いた平滑化処理を実行する方法が記述されている。
特開2004−214756号公報
しかしながら、上記特許文献1に記載の画像ノイズの低減方法においては、ノイズを含む画素を除外せずに補正するので、ノイズが多い画像ではノイズを含む画素の画素信号値が反映されてしまうため、ノイズの除去および低減が困難になる、という問題点があった。
本発明は上記の問題に鑑みてなされたものであり、本発明が解決しようとする課題は、ノイズが多い画素の影響を排除して画像のノイズを低減する画像補正装置を提供することである。
画素信号値を補正する対象となっている画素、すなわち、注目画素の近傍に、該補正に用いる、感度が所定の閾値よりも高い画素素子に対応する画素である有効画素が存在する参照領域を設定し、さらに、該有効画素の中から前記注目画素の補正に用いる補正用画素を選択し、前記注目画素の画素信号値を、前記補正用画素の画素信号値を用いて算出した補正値で置換することを特徴とする画像補正装置を構成する。
本発明の実施によって、ノイズが多い画素の影響を排除して画像のノイズを低減する画像補正装置を提供することが可能となる。
本発明に係る画像補正装置は、画像のノイズを低減する画像補正装置であって、注目画素近傍の参照領域内に存在する、感度が所定の閾値よりも高い画素素子に対応する画素を有効画素として選択する有効画素選択手段と、前記有効画素の中から前記注目画素の補正に用いる補正用画素を選択する補正用画素選択手段と、前記注目画素の画素信号値を、前記補正用画素の画素信号値を用いて算出した補正値で置換する画素信号値補正手段とを備えていることを特徴とする。
ここで、「注目画素」は、画素信号値を補正する対象となっている画素を意味し、「参照領域」は、画素信号値が前記補正(画素の補正)に用いられるような画素が存在する領域を意味し、「画素素子」は、入力信号を個々の画素信号に変換する変換素子を意味し、画素素子と画素とは1対1に対応しているものとし、「感度」は画素素子である変換素子の変換効率を意味している。
このような構成によって、低感度でノイズを多く含む画素信号を出力する画素素子に対応する画素が多い画像であっても、ある注目画素の画素信号値を補正する際には、感度が良好な(したがって、ノイズの少ない画素信号を出力する)画素素子に対応する画素のみを有効画素として選択するため、低感度でノイズを多く含む画素信号を出力する画素素子に対応する画素の影響を受けないノイズの低減ないしは除去ができる。また、選択された有効画素の中から、さらに注目画素の補正に用いる補正用画素を選択しているので、注目画素の真値の補正に適さない画素信号値を有する等の、感度以外の不適要因を持つ画素の影響を受けないノイズの低減ないしは除去ができる。感度以外不適の要因とは、例えば、注目画素と異なる対象物が撮像されているために、注目画素の真値とは異なる画素信号値を持つこと等が挙げられる。
さらに、前記補正用画素選択手段は、前記参照領域内にエッジが存在するか否かを判定するエッジ有無判定手段と、前記エッジ有無判定手段によってエッジ有りと判定された場合に前記有効画素を複数のクラスタにクラスタリングする有効画素クラスタリング手段とを具備し、前記クラスタの中から少なくとも1つのクラスタを選択し、該クラスタに属する全ての有効画素を前記補正用画素として選択する。ここで、「エッジ」は、画面中の物体像の輪郭を意味する。
前記有効画素クラスタリング手段は、例えば、前記有効画素の画素信号値の全てを含む信号値区間を複数の分割信号値区間に分割し、同一の該分割信号値区間に含まれる画素信号値を有する前記有効画素は全て同一のクラスタに属するとして、前記有効画素をクラスタに組分けするものである。
また、前記補正用画素選択手段は、例えば、各前記クラスタの重心座標を算出し、前記注目画素の位置と前記重心の位置との距離が最も短いクラスタに属する全ての有効画素を前記補正用画素として選択するものである。ここに、「クラスタの重心」は、同一クラスタに属する全ての有効画素の位置に同じ質量の質点が存在しているとして、その質点系の重心として求める。
さらに、前記補正用画素の画素信号値を用いて算出した補正値としては、該補正用画素の画素信号値の平均値、前記注目画素の位置と各該補正用画素の位置との距離が小さくなるにつれて大きくなる重さを用いて計算した該補正用画素の画素信号値の加重平均値、該補正用画素の画素信号値の中央値、最も感度が高い画素素子に対応する有効画素の画素信号値(エッジ無しの場合)等がある。
以下に、温度画像のノイズ低減を実施の形態例として、本発明を詳細に説明する。本実施の形態例では、温度値(画素素子が出力する画素信号値)にノイズが大きく乗っている画素が多く存在し、且つ画素数が少ない画像の、ノイズ低減を目的とする。
なお、本実施の形態例では温度画像を対象とするが、本発明は、これに限るものではなく、他の2次元画像データのノイズ低減を行う画像補正装置であってもよい。
図1に、本実施の形態例の構成概略図を示す。図において、撮像手段101は、本実施の形態例では、電子式遠赤外線カメラであるとするが、その他の撮像手段、例えば、可視光や近赤外線の電子式カメラであってもよい。
メモリ103には、撮像手段101の各画素素子の感度が記録されている。演算器102は、メモリ103に記憶された情報に基づき、撮像手段101で得られた画像の補正演算を行う。また、不図示の出力手段によって、演算器102で補正された画像情報を出力する。
本実施の形態例において、演算器102には、上記の有効画素選択手段と、補正用画素選択手段と、画素信号値補正手段とが具備されている。
さらに、本実施の形態例における補正用画素選択手段は、参照領域内にエッジが存在するか否かを判定するエッジ有無判定手段と、前記エッジ有無判定手段によってエッジ有りと判定された場合に前記有効画素を複数のクラスタにクラスタリングする有効画素クラスタリング手段とを具備している。
このような構成によって、参照領域内にエッジが存在すると判断された場合、参照領域内が、有効画素の画素信号値に基づいて、有効画素クラスタリング手段によって、複数の領域(後述のクラスタ存在領域)に分割され、注目画素から遠い領域の画素信号値が注目画素の補正に反映されることが無いため、領域の画像形状を損なうことなく、ノイズの低減ないしは除去ができる。
図4の具体例に基づいて、上記の過程を説明する。図4の(a)における301は取得画像であり、ある補正対象である注目画素302およびその参照領域303が設定されたとする。このとき、参照領域303内の各画素の画素信号値は、本来ならば図4の(c)の値をとるべきところ、低感度画素素子においてノイズが発生したため、図4の(b)のようになっているとする。ノイズが多いため、例えばメディアンフィルタでは、注目画素302の補正後の値は真値とは異なる値となってしまう。また、参照領域303内は、本来の画素信号値(図4の(c))をみると、右上の画素信号値30の領域とその他の画素信号値26の領域とに分割される。注目画素302は画素信号値26の領域に属しており、画素信号値30の領域の画素の画素信号値を補正に用いては、補正結果に逆にノイズが乗ってしまい、領域の画像境界形状を乱してしまうこととなる。
そこで、まず、感度が良好な画素素子に対応する画素を有効画素として選択する。選択方法としては、感度が所定の閾値よりも高い画素素子に対応する画素を有効画素として選択する方法を採用する。選択した結果が、図4の(d)であったとする(選択された有効画素に○を付す)。
選択された有効画素の中から、さらに、注目画素302を含むか、あるいは、注目画素302に最も近いクラスタ存在領域(後述)に属する有効画素を補正用画素として選択する。選択した結果が、例えば図4の(e)のようになる。最終的に選択された補正用画素((e)において○を付す)を用いて補正をすれば、感度が良好な画素素子に対応し、且つ、注目画素302が属する領域中の画素の画素信号値を用いて補正することとなるので、低感度画素の影響を受けず、且つ、領域の画像形状を乱さない補正が可能となる。
以下、図2から図13に、本実施の形態例の作用を示す。
図2、図3(図2の続き)に、本実施の形態例のフローチャートを示す。
処理S201では、所定の事象をトリガーとして処理を開始する。例えば、撮像手段101の電源投入時をトリガーとする。なお、トリガーはこれに限るものではない。
処理S202では、撮像手段で撮像した画像をメモリ103に取り込む。
処理S203では、注目画素を設定する。注目画素Pの画像平面上での位置(ここでは、画素の中心位置とする)の座標値を(i,j)とする。注目画素とは、補正対象の画素のことである。設定方法は、例えば、画面中の全画素を補正する場合には、画面左上端を開始点として、注目画素を順次更新していく。他にも、感度が所定の閾値以下の画素素子に対応する画素のみを補正対象として抽出することも考えられる。なお、注目画素の設定方法は、これらに限定されるものではない。
処理S204では、参照領域を設定する。具体的には、参照領域は、画面の辺に平行な辺を有する正方形または矩形の領域であるとし、その横幅Rxおよび縦幅Ryを設定する。
このような参照領域について、図4を用いて説明する。図4において、301は撮像された取得画像、302は注目画素、303は参照領域であるとする。図に示すように、参照領域の幅RxおよびRyは、それぞれ、横方向に並ぶ画素数および縦方向に並ぶ画素数である。図4の例では、Rx=5、Ry=7となる。
RxおよびRyの設定方法は、例えば、予め所定の値をメモリ103に保存しておいてこれを参照する。なお、参照領域幅の設定方法はこれに限定されるものではない。例えば、参照領域303内に存在して欲しい有効画素数が予め決まっている場合には、(参照領域内に存在して欲しい有効画素数)/(参照領域の画素数)=(入力画像全画素中における感度良好な画素素子に対応する画素数)/(入力画像全画素数)となるように、参照領域303の大きさを定めてもよい。あるいは、下記のように、参照領域303内の有効画素数が所定の閾値以上であるように、参照領域303を設定してもよい。
処理S205では、参照領域内の有効画素を設定する。ここで言う有効画素とは、所定の感度閾値THKよりも高い感度を持つ画素素子に対応する画素のことを言う。画像平面上での位置座標値(i,j)(ここでは、画素の中心位置座標とする)の画素に対応する画素素子の感度Kijは、メモリ103に保存された感度マップを参照することで得られる。
メモリ103には、予め撮像手段101の各画素に対応する画素素子の感度が感度マップとして保持されている。
有効画素選択処理について、図6を用いて説明する。
メモリ103には、取得画像501における感度マップが保存されている。感度マップにおいて、処理S203で設定された、位置座標値(i,j)の注目画素502、および、処理S204で設定された参照領域503内の各画素に対応する画素素子の感度が、図6の(b)に示された値であったとする。ここで感度閾値THK=7であったとすると、Kij>THKである画素素子に対応する画素、すなわち、感度Kijが7よりも高い画素素子に対応する画素が選択されるため、図6の(b)に示す○印が重畳された画素が有効画素となる。なお、感度閾値は、所定の固定値であってもよいし、参照領域内の全画素に対応する画素素子の感度値の平均値とする、等により、動的に変化させてもよい。
感度が高い画素素子に対応する画素ほど、その画素の画素信号値に発生するノイズの値が低くなる。上記のノイズとの相関を持つ値を取得できるのであれば、撮像装置において定義される感度マップとは異なる感度マップを、任意の手段を用いて取得して用いてもよい。
処理S206では、参照領域内の有効画素数Nallをカウント(計数)する。図6の例では、Nall=9となる。
処理S207では、Nall<THNであるか否か判定する。ここで、THNは所定の有効画素数閾値である。条件を満たさなければ、有効画素選択手段による処理が終了したことになるので、処理S208に移行し、条件を満たせば処理S218に移行する。なお、有効画素数閾値は、(有効画素数閾値)=(参照領域の画素数)×(入力画像全画素中における感度良好な画素素子に対応する画素数)/(入力画像全画素数)として動的に定めてもよいし、固定の閾値であってもよい。なお、有効画素数閾値の定め方は、これに限るものではない。
処理S218では、参照領域幅幅RxおよびRyが、それぞれ、所定の閾値THRxおよびTHRyの範囲内であるか否かを判定する。Rx<THRx且つRy<THRyを満たさなければ、S219に移行する。満たせば、処理S220に移行し、参照領域幅RxおよびRyを拡大する。
処理220では、参照領域幅RxおよびRyを拡大する。拡大前の幅をRxold、Ryold、拡大後の幅をRxnew、Rynew、拡大幅をSxおよびSyとすると、Rxnew=Rxold+Sx、Rynew=Ryold+Syとなる。
all=0であれば、Sx=α×Rxold、Sy=β×Ryoldとする。αおよびβは所定の係数である。
all>0であれば、Sx=Dmax、Sy=Dmaxとする。ここで、DmaxおよびDmaxは、注目画素の位置座標値を(i,j)とし、参照領域内の有効画素の位置座標値を(i,j)とすると、Dmaxは|i−i|の最大値、Dmaxは|j−j|の最大値とする。
Rx=Rxnew、Ry=Rynewとした後、処理S205に戻る。なお、拡大幅SxおよびSyの定め方はこれに限るものではない。
参照領域拡大幅設定について、図7を用いて説明する。
図7の(a)において、取得画像601上に、注目画素602および注目画素の参照領域603が設定されたとする。このときの領域の幅をRxold、Ryoldとする。図7の(b)に示すように、参照領域603内に、有効画素604および605が存在したとすると、Nall=2となる。有効画素数閾値THNを例えば4とすると、Nall<THNであるため、処理S207での判定の結果、処理S218に移行する。処理S218において、参照領域603の幅が所定の閾値THRxおよびTHRy以内であるか否かを判定する。参照領域603の幅を、図7の(b)に示すように、Rx=Rxold、Ry=Ryoldとしたとき、Rxold<THRx、Ryold<THRyであれば、処理S220に移行する。処理S220では、まず、拡大幅を設定する。図7の例では、Nall>0であるため、Sx=Dmax、Sy=Dmaxとなる。有効画素605と注目画素602との横方向の距離をDX1、縦方向の距離をDY1とし、有効画素604と注目画素602との横方向の距離をDX2、縦方向の距離をDY2とすると、DX1>DX2であるため、Dmax=DX1となり、DY1<DY2であるため、Dmax=DY2となる。次に、領域を拡大する。拡大後の幅をRxnew、Rynewとすると、Rxnew=Rxold+Dmax、Rynew=Ryold+Dmaxとなる(図7の(c)、(d))。
処理S219では、S218の判定処理で、参照領域の幅が所定の閾値以上に達したと判定した場合に、注目画素P(i,j)は補正が不可能であると見なし、注目画素に対して無効画素フラグを立てる。無効画素フラグは、本実施の形態例で示す補正処理で補正された画像に対し、何らかの画像処理を施す場合に参照される。例えば、無効画素フラグが立てられた画素についてはエッジ検出等の画像処理を行わないことで、本補正手段で補正した画像を利用した任意の画像処理において誤った結果が発生することを防ぐ。なお、処理S219は、本補正手段で補正した画像の用途によっては省略することも可能である。
処理S207において、Nall≧THNであった場合には、有効画素選択手段による処理が終了したことになるので、処理S208に移行する。
処理S208では、参照領域内の有効画素の分散値σを算出する。分散値σは式、

σ = Σ{(T − Tave)}/Nall (式1)

で与えられる。ここで、Σ{X}は、参照領域L内の有効画素についてのXの総和を意味する。Nallは、参照領域L内の有効画素数である。Tは有効画素pの画素信号値であり、Taveは参照領域L内の有効画素の画素信号値Tの平均値である。
画素信号値Tを数値で表した具体例について、図4を用いて説明する。図4の(a)は画像全体(取得画像301)を示している。この画像内に、注目画素302の参照領域303が設定されたとする。参照領域303の大きさは、この例では横5画素×縦7画素である。また、参照領域303内の各画素の画素信号値が、図4の(b)に示す通りであったとする。一方、参照領域303内の各画素に対応する画素素子の感度(入力(被写体からの遠赤外線)の強さを画素信号値に変換する変換効率)が、図6の(b)の参照領域503に示す値であったとする。このとき、○印が重畳された画素が、対応する画素素子の感度>感度閾値となる有効画素であり、この結果を図4の(b)に重畳して示したのが図4の(d)である。
上記の(式1)では、この○印が重畳された有効画素の、原画像における画素信号値の分散を求めることになる。
処理S209では、処理S208で求めた分散値σが所定の閾値THS未満であるか否か判定する。σ<THSを満たせば、エッジ有無判定手段による処理が終了したことになるので、処理S226に移行する。σ<THSを満たさない場合も、エッジ有無判定手段による処理が終了したことになるので、処理S210に移行する。
処理S209は、エッジ有無判定手段による判定処理に相当する。有効画素の画素信号値は、有効でない画素の画素信号値と比べて信頼性が高い。もし、参照領域内の有効画素の画素信号値ばらつきが十分小さければ、その参照領域内にはエッジが存在しない、すなわち、参照領域内の画素は、どの画素もほぼ等しい画素信号値になると予測される。例えば、有効画素の画素信号値が図5の(b)に示すような場合は、分散値が小さく、エッジが存在しないとみなせる。一方、もし、ばらつきが大きければ、その参照領域内にはエッジが存在する、すなわち、参照領域内の画素信号値は2つ以上のクラスタに分類可能であると見なすことが出来る。例えば、図5の(c)に示すような場合は、参照領域403右上付近の有効画素とそれ以外の有効画素とで画素信号値が異なるため、分散値が大きく、エッジが存在すると見なせる。
通常の画像処理では、何らかのエッジ検出フィルタを用いて画素信号値の勾配を求め、勾配が閾値以上であればその画素はエッジに相当すると判定する。しかしながら、本実施の形態例で対象とするような、まばらな有効画素のみを対象にする場合には、通常のエッジ検出フィルタを用いてエッジの有無を求めることはできない。これに対して、本発明においては、上記のように、有効画素の画素信号値の分散値を用いることで、エッジの有無を判定することが可能となる。
なお、エッジ有無判定手段は、これに限るものではない。例えば、時系列画像の場合、エッジ有無判定手段は、過去の画像のエッジ検出結果から、処理対象の画像におけるエッジ存在箇所を推定することで、参照領域内にエッジが存在するか否かを判定するようにしてもよい。
処理S210では、参照領域内の有効画素を2値化する。この処理は有効画素クラスタリング手段による処理に相当する。2値化の方法としては、例えば、参照領域L内の有効画素pの画素信号値Tの平均値Taveを閾値として2値化する。画素pの2値化後の値をBとすれば、T>Taveを満たすときにはB=1、満たさなければB=0とする。例えば、図8の(b)の例では、2値化によるクラスタリング結果が図8の(c)となる。ここでの処理は、有効画素クラスタリング手段が、有効画素の画素信号値の全てを含む信号値区間を複数(この場合には2つ)の分割信号値区間(T≦Taveなる区間とT>Taveなる区間)に分割し、同一の分割信号値区間に含まれる画素信号値を有する有効画素は同一のクラスタに属するとして、前記有効画素をクラスタに組分けすることに相当する。なお、2値化の方法はこれに限るものではない。
処理S210は、有効画素クラスタリング手段による組分け処理に相当する。この場合は2つのクラスタに組分けしたが、2つ以上のクラスタに組分けしてもよい。一般に、有効画素の画素信号値の全てを含む信号値区間を複数の分割信号値区間に分割し、同一の分割信号値区間に含まれる画素信号値を有する有効画素は同一のクラスタに属するとして、有効画素をクラスタに組分けすることができる。
処理S211では、クラスタ0(B=0である有効画素が属するクラスタ)のクラスタ存在領域Lおよびクラスタ1(B=1である有効画素が属するクラスタ)のクラスタ存在領域Lを設定する。ここで、クラスタ存在領域は、一般に、同一のクラスタに属する有効画素の全てが存在する単連結の領域が該クラスタのクラスタ存在領域である、として定義される。
本実施の形態例においては、以下のようにして、クラスタ存在領域LおよびLを設定する。
まず、2値化後の値が0である有効画素の中で、最も右側にある有効画素の右端の(水平方向)位置座標値i0R、および、最も左側にある有効画素の左端の(水平方向)位置座標値i0L、最も上側にある有効画素の上端の(垂直方向)位置座標値j0T、および、最も下側にある有効画素の下端の(垂直方向)位置座標値j0Bを求める。同様に、2値化後の値が1である画素の中で、最も右側にある有効画素の右端の(水平方向)位置座標値i1R、および、最も左側にある有効画素の左端の(水平方向)位置座標値i1L、最も上側にある有効画素の上端の(垂直方向)位置座標値jT1、および、最も下側にある有効画素の下端の(垂直方向)位置座標値j1Bを求める。例えば、図8の(c)の例では、各位置座標は、図9に示すようになる。
つぎに、各クラスタ存在領域L、Lを、同一のクラスタに属する有効画素の全てを覆い、画面の辺に平行な辺を有する正方形領域または矩形領域の中で最小個数の画素を覆う領域であるように設定する。ここで、領域が画素を覆うとは、その画素の中心位置がその領域内に存在することをいう。この場合には、L、Lともに正方形領域または矩形領域であり、Lは点(i0L,j0T)と点(i0R,j0B)とを相対する頂点とし、Lは点(i1L,j1T)と点(i1R,j1B)とを相対する頂点としている(図9参照)。
処理S212では、各クラスタに属する有効画素数NおよびNをカウントする。例えば、図8の(c)の例では、N=6、N=3となる。
処理S213、S214、216、S217、S222、S223では、注目画素Pの補正に用いる有効画素、すなわち、補正用画素を選択する。これらの処理は補正用画素選択手段による処理に相当する。
補正用画素は、基本的には、画像平面上で注目画素を包含する位置に有効画素が配置されたクラスタであるとする。
処理S213では、PがLに存在しLには存在しない画素であるか否かを判定する。具体的には、Pの位置座標を(i,j)とし、
条件1:i0L<i<i0Rかつj0B<j<j0T
条件2:i1L<i<i1Rかつj1B<j<j1T
とした場合、条件1が満たされ条件2が満たされなければ、PはLに存在しLには存在しない画素であるから、処理S228に移行する。その他の場合には処理S214に移行する。
処理S214では、PがLに存在しLには存在しない画素であるか否かを判定する。具体的には、上記条件1が満たされず条件2が満たされているか否かを判定すればよい。PがLに存在しLには存在しない画素である場合は処理S230に移行し、その他の場合には処理S215に移行する。
なお、本実施の形態例では、各クラスタのクラスタ存在領域は、各クラスタの有効画素の外接正方形または矩形領域としたが、注目画素がいずれのクラスタに属するか、あるいは近いか判断可能であれば、その他のクラスタ存在領域を設定してもよい。例えば、図13に示すように、エッジ有無判定手段によって参照領域内にエッジが存在すると判定され、かつ、そのエッジの傾きθ(エッジ角度)が既知であれば、クラスタ間の分離が最もよくなるようにエッジの傾きθのライン(エッジを表す線)で参照領域を分割することで、クラスタ0のクラスタ存在領域Lおよびクラスタ1のクラスタ存在領域Lを設定してもよい。この場合には、エッジを挟む少なくとも2つのクラスタ存在領域が、該エッジに平行な辺を有することになる。このようなクラスタ存在領域を用いることによって、エッジ角度が既知な場合には、より精度の高い補正ができる。
処理S228では、クラスタ0の有効画素の画素信号値の平均値Taveを算出する。
処理S229では、注目画素Pの画素信号値をTaveで置換する。すなわち、この場合は、注目画素が、1つのクラスタのクラスタ存在領域にのみ存在する場合であり、該クラスタに属する全ての有効画素を補正用画素として選択し、注目画素の画素信号値を、該補正用画素の画素信号値を用いて算出した補正値(この場合には平均値)で置換する場合である。
処理S230では、クラスタ1の有効画素の画素信号値の平均値Taveを算出する。
処理S231では、注目画素Pの画素信号値をTaveで置換する。すなわち、この場合も、注目画素が、1つのクラスタのクラスタ存在領域にのみ存在する場合であり、該クラスタに属する全ての有効画素を補正用画素として選択し、注目画素の画素信号値を、該補正用画素の画素信号値を用いて算出した補正値(この場合には平均値)で置換する場合である。
処理S213および処理S214の内容を、図9を用いて説明する。図9の例では、PがLに存在しLには存在しない画素である。このことから、注目画素Pがクラスタ0の有効画素と同じクラスタ存在領域にのみ存在していると見なすことができる。つまり、注目画素Pを補正するのに用いる補正用画素は、クラスタ0の有効画素となる。例えば図4の(b)の例では、図4の(e)に示す補正用画素(○印を付す)が選択される。
これにより、注目画素の真値とは異なる画素信号値を持つクラスタ1の画素の画素信号値が、注目画素の補正結果に反映されなくなるため、より精度の高い補正が可能となる。
処理S215では、上記条件1と条件2との両方が満たされるか否か判定する。上記条件1と条件2との両方が満たされた場合にはS221に移行し、その他の場合にはS216に移行する。後者の場合は、例えば図10や図11に示すような、注目画素Pがいずれのクラスタ存在領域にも存在しない場合であり、前者の場合は、例えば図12に示すような、注目画素Pが両方のクラスタ存在領域に存在する場合である。
処理S216および処理S217では、注目画素Pがいずれのクラスタ存在領域にも存在しない場合における、補正用画素の選択を行う。
まず、処理S216では、N=Nの条件を満たすか否かを判定する。満たせば処理S226に移行し、満たさなければ処理S217に移行する。満たさない場合は、例えば図10のような場合である。
処理S217では、N>Nの条件を満たすか否かを判定する。満たせば処理S228、S229に移行し、注目画素の画素信号値をクラスタ0の有効画素の平均値で補正する。すなわち、この場合は、注目画素が、クラスタ存在領域のいずれにも存在せず、且つ、少なくとも2つのクラスタおいて、クラスタに属する有効画素数が異なる場合であり、最も有効画素数が多いクラスタ(この場合にはクラスタ0、一般には複数存在する場合がある)に属する全ての有効画素を補正用画素として選択し、注目画素の画素信号値を、該補正用画素の画素信号値を用いて算出した補正値(この場合には平均値)で置換する場合である。
>Nの条件が満たさなければ処理S230、S231に移行し、注目画素の画素信号値をクラスタ1の有効画素の平均値で補正する。すなわち、この場合も、注目画素が、クラスタ存在領域のいずれにも存在せず、且つ、少なくとも2つのクラスタおいて、クラスタに属する有効画素数が異なる場合であり、最も有効画素数が多いクラスタ(この場合にはクラスタ1)に属する全ての有効画素を補正用画素として選択し、注目画素の画素信号値を、該補正用画素の画素信号値を用いて算出した補正値(この場合には平均値)で置換する場合である。
つまり、注目画素がいずれのクラスタにも属さない場合で、且つ、クラスタ間で有効画素の数が異なる場合には、注目画素は有効画素数が多いクラスタのクラスタ存在領域に存在するとみなし、そのクラスタの有効画素を補正用画素とする。図10の例では、クラスタ0の有効画素が補正用画素となる。
一方、N=Nの条件を満たす場合は、例えば図11のような場合である。この場合、注目画素が各クラスタと同じクラスタ存在領域に属している可能性は、両クラスタとも同程度と見なせるため、注目画素の画素信号値を全有効画素の平均値で補正する。処理S226では、参照領域内の全有効画素の平均値Taveallを算出し、続いて、処理S227では、注目画素Pの画素信号値をTaveallに更新する。すなわち、この場合は、注目画素が、クラスタ存在領域のいずれにも存在せず、且つ、全てのクラスタにおいて、各クラスタに属する有効画素数が等しい場合に、全ての前記有効画素を前記補正用画素として選択し、注目画素の画素信号値を、該補正用画素の画素信号値を用いて算出した補正値(この場合には平均値)で置換する場合である。
なお、エッジ有無判定手段によってエッジ無しと判定された場合に、処理S226に換えて、全ての有効画素の中で、最も感度が高い画素素子に対応する有効画素(複数存在する場合もある)を補正用画素として選択し、処理S227で、注目画素Pの画素信号値を該補正用画素の画素信号値(補正用画素が複数の場合は画素信号値の平均値)に更新してもよい。
処理S221から処理S223では、注目画素が両方のクラスタ存在領域に属する場合に、注目画素がいずれのクラスタのクラスタ存在領域に属するとするのがよいかを判定する。具体的には、各クラスタの重心を求め、その重心の位置と注目画素の位置との距離が最も短いクラスタのクラスタ存在領域に属すると判定する。クラスタの重心は、同一のクラスタに属する有効画素の位置に同じ質量の質点が存在しているとして、その質点系の重心として求める。
処理S221では、注目画素の位置と各クラスタの重心の位置との距離dおよびdを算出する(図12参照)。図12において、クラスタ0の重心の位置座標値は(ig,jg)で示され、クラスタ1の重心の位置座標値は(ig,jg)で示されている。
処理S222では、d=dの条件を満たすか否か判定する。満たせば処理S226に移行し、満たさなければ処理S223に移行する。
処理S223では、d>dの条件を満たすか否か判定する。満たせば処理S228に移行し、満たさなければ処理S230に移行する。
処理S221以降の処理は、注目画素が、複数のクラスタのクラスタ存在領域に共通する部分に存在する場合の処理であり、この場合は、クラスタの重心の位置座標値を算出し、注目画素の位置と該重心の位置との距離が最も短いクラスタ(上記d=dの場合のように、複数存在する場合がある)に属する全ての有効画素を補正用画素として選択し、注目画素の画素信号値を、該補正用画素の画素信号値を用いて算出した補正値(この場合には平均値)で置換する場合である。
なお、上記の、注目画素の位置と重心の位置との距離が最も短いクラスタに属する全ての有効画素を補正用画素として選択する方法は、クラスタ存在領域を設定して用いることを行わなくても、実行可能である。この場合には、処理210終了後、S221に移行すればよい。
なお、処理S226から処理S231にかけて、選択された補正用画素の平均値を注目画素の画素信号値とすることで注目画素の補正を行った。しかしながら、補正用画素を用いて補正を行うのであれば、補正値は平均値でなくてもよい。例えば、補正用画素の画素信号値の中央値を採用してもよい。
上記の処理S226から処理S231にかけての処理は、画素信号値補正手段による処理に相当する。
処理S224では、補正対象である全ての画素の補正が終了しているか否かを判定する。終了していれば処理S202に戻り、次の画像の処理に移行する。終了していなければ、補正対象である注目画素P(i、j)を更新し、処理S204に戻る。
本実施の形態例においては、ノイズが多く有効画素が少ない場合においても、参照領域内にエッジが存在するか否かを判定することが可能であり、参照領域内にエッジが存在すると判定された場合には、有効画素をクラスタに組分けし、注目画素と各クラスタとの位置関係のすべての場合について、補正に最適なクラスタを選択し、そのクラスタに属する有効画素の画素信号値を用いて注目画素の画素信号値を補正することが可能となり、これによって、画像のノイズの低減ないしは除去ができる。
なお、本発明の実施形態は、本実施の形態例に限られるものではない。例えば、本実施の形態例においては、処理S210以降の処理において、注目画素が1つのクラスタのクラスタ存在領域にのみ存在する場合に、該クラスタに属する全ての有効画素を補正用画素として選択する第1の選択処理と、注目画素が複数のクラスタのクラスタ存在領域に存在する場合に、各該クラスタの重心の位置座標値を算出し、注目画素の位置と該重心の位置との距離が最も短いクラスタに属する全ての有効画素を補正用画素として選択する第2の選択処理と、注目画素がクラスタ存在領域のいずれにも存在せず、且つ、少なくとも2つのクラスタおいて、クラスタに属する有効画素数が異なる場合に、該有効画素数が最も大きいクラスタに属する全ての有効画素を前記補正用画素として選択する第3の選択処理と、注目画素がクラスタ存在領域のいずれにも存在せず、且つ、全てのクラスタにおいて、各クラスタに属する有効画素数が等しい場合に、全ての有効画素を補正用画素として選択する第4の選択処理との全てを実行しているが、上記第1ないし第4の選択処理のうちの少なくとも1つの選択処理を実行するものであってもよい。
実施の形態例の構成概略図である。 実施の形態例のフローチャートである。 図2の続きである。 実施の形態例説明図である。 エッジ有無判定処理の説明図である。 有効画素選択処理の説明図である。 参照領域拡大幅設定の説明図である。 クラスタリング処理の説明図である。 補正用画素選択処理の説明図である。 補正用画素選択処理の説明図である。 補正用画素選択処理の説明図である。 補正用画素選択処理の説明図である。 エッジ傾き角度が既知の場合のクラスタ存在領域設定例である。
符号の説明
101:撮像手段、102:演算器、103:メモリ、301:取得画像、302:注目画素、303:参照領域、401:取得画像、402:注目画素、403:参照領域、501:取得画像、502:注目画素、503:参照領域、601:取得画像、602:注目画素、603:参照領域、604〜609:有効画素、701:取得画像、702:注目画素、703:参照領域。

Claims (11)

  1. 画像のノイズを低減する画像補正装置であって、
    注目画素近傍の参照領域内に存在する、感度が所定の閾値よりも高い画素素子に対応する画素を有効画素として選択する有効画素選択手段と、
    前記有効画素の中から前記注目画素の補正に用いる補正用画素を選択する補正用画素選択手段と、
    前記注目画素の画素信号値を、前記補正用画素の画素信号値を用いて算出した補正値で置換する画素信号値補正手段とを備えることを特徴とする画像補正装置。
  2. 前記補正用画素選択手段は、
    前記参照領域内にエッジが存在するか否かを判定するエッジ有無判定手段と、
    前記エッジ有無判定手段によってエッジ有りと判定された場合に前記有効画素を複数のクラスタに組分けする有効画素クラスタリング手段とを具備し、
    前記クラスタの中から少なくとも1つのクラスタを選択し、該クラスタに属する全ての有効画素を前記補正用画素として選択することを特徴とする請求項1記載の画像補正装置。
  3. 前記有効画素クラスタリング手段は、前記有効画素の画素信号値の全てを含む信号値区間を複数の分割信号値区間に分割し、同一の該分割信号値区間に含まれる画素信号値を有する前記有効画素は全て同一のクラスタに属するとして、前記有効画素をクラスタに組分けすることを特徴とする請求項2記載の画像補正装置。
  4. 前記補正用画素選択手段は、各前記クラスタの重心の位置座標値を算出し、前記注目画素の位置と該重心の位置との距離が最も短いクラスタに属する全ての有効画素を前記補正用画素として選択することを特徴とする請求項2または3記載の画像補正装置。
  5. 前記補正用画素選択手段は、同一の前記クラスタに属する有効画素の全てが存在する単連結の領域を該クラスタのクラスタ存在領域として設定し、
    前記注目画素が1つの前記クラスタのクラスタ存在領域にのみ存在する場合に、該クラスタに属する全ての有効画素を前記補正用画素として選択する第1の選択処理と、
    前記注目画素が複数の前記クラスタのクラスタ存在領域に存在する場合に、各該クラスタの重心の位置座標値を算出し、前記注目画素の位置と該重心の位置との距離が最も短いクラスタに属する全ての有効画素を前記補正用画素として選択する第2の選択処理と、
    前記注目画素が前記クラスタ存在領域のいずれにも存在せず、且つ、少なくとも2つの前記クラスタおいて、クラスタに属する有効画素数が異なる場合に、該有効画素数が最も大きいクラスタに属する全ての有効画素を前記補正用画素として選択する第3の選択処理と、
    前記注目画素が前記クラスタ存在領域のいずれにも存在せず、且つ、全ての前記クラスタにおいて、各クラスタに属する有効画素数が等しい場合に、全ての前記有効画素を前記補正用画素として選択する第4の選択処理とのうちの少なくとも1つの選択処理を実行することを特徴とする請求項2または3記載の画像補正装置。
  6. 前記エッジ有無判定手段は、全ての前記有効画素の画素信号値の分散値を求め、該分散値が所定の閾値以上であれば前記参照領域内にエッジが存在すると判定し、該分散値が該閾値未満であれば前記参照領域内にエッジが存在しないと判定することを特徴とする請求項2、3、4または5記載の画像補正装置。
  7. 前記補正用画素選択手段は、前記エッジ有無判定手段によって前記参照領域内にエッジが存在しないと判定された場合に、全ての前記有効画素を前記補正用画素として選択することを特徴とする請求項2または6記載の画像補正装置。
  8. 前記補正用画素選択手段は、前記エッジ有無判定手段によって前記参照領域内にエッジが存在しないと判定された場合に、全ての前記有効画素の中で、最も感度が高い画素素子に対応する有効画素を前記補正用画素として選択することを特徴とする請求項2または6記載の画像補正装置。
  9. 前記参照領域内の前記有効画素数が所定の閾値以上になるように前記参照領域の大きさを設定することを特徴とする請求項1ないし8のいずれかに記載の画像補正装置。
  10. 前記クラスタ存在領域は、同一の前記クラスタに属する有効画素の全てを覆い、画面の辺に平行な辺を有する正方形領域または矩形領域の中で最小個数の画素を覆う領域であることを特徴とする請求項5、6または9記載の画像補正装置。
  11. 前記エッジ有無判定手段によって前記参照領域内にエッジが存在すると判断され、かつ、該エッジのエッジ角度が既知である場合に、該エッジを挟む少なくとも2つの前記クラスタ存在領域が、該エッジに平行な辺を有することを特徴とする請求項2、3、4、5、6または9記載の画像補正装置。
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JP2013110692A (ja) * 2011-11-24 2013-06-06 Fuji Xerox Co Ltd 画像処理装置および画像処理プログラム

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