JP2006330487A - Optical element, method of manufacturing optical element, and optical desk device - Google Patents

Optical element, method of manufacturing optical element, and optical desk device Download PDF

Info

Publication number
JP2006330487A
JP2006330487A JP2005155861A JP2005155861A JP2006330487A JP 2006330487 A JP2006330487 A JP 2006330487A JP 2005155861 A JP2005155861 A JP 2005155861A JP 2005155861 A JP2005155861 A JP 2005155861A JP 2006330487 A JP2006330487 A JP 2006330487A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical element
optical
identification mark
metal film
film
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2005155861A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Ryoichi Hachiman
亮一 八幡
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nidec Sankyo Corp
Original Assignee
Nidec Sankyo Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nidec Sankyo Corp filed Critical Nidec Sankyo Corp
Priority to JP2005155861A priority Critical patent/JP2006330487A/en
Publication of JP2006330487A publication Critical patent/JP2006330487A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an optical element having an identification mark capable of securing visibility without sacrificing an effective surface area even in the case of a small-sized optical element, and to provide a method of manufacturing the optical element, and an optical desk device. <P>SOLUTION: A diffractive element 8 is formed rectangular in the plane direction and the identification mark formed from an anti-refractive film 9 is formed from a metal film 8e on the corner part of the surface. The metal film 8e has excellent visibility and when the diffractive element 8 is formed rectangular, a large identification mark 9a is formed without sacrificing the effective surface area of the diffractive element 8 by forming the identification mark 9a using a nearly triangular region outside of a far field pattern LL of an optical beam. As a result, the visibility is improved even in the identification mark 9a formed out of the effective surface area of the small-sized diffractive element 8. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、光学素子およびその製造方法に関する。詳しくは、視認性に優れた識別マークを有する光学素子、光学素子の製造方法および光ディスク装置に関する。   The present invention relates to an optical element and a method for manufacturing the same. Specifically, the present invention relates to an optical element having an identification mark with excellent visibility, a method for manufacturing the optical element, and an optical disc apparatus.

例えば、CD(コンパクトディスク)装置等にあっては、光源からの光ビームを複数の光ビームに分割して光記録ディスクに回折する光学素子として回折素子が備えられている。この回折素子としては、例えば透光性基板上に凸状の周期格子を形成したものが知られている。
このような回折素子などの光学素子の中には、光学的特性および光学系内の設置位置は異なるものの、形状や色が極めて似通っているために、肉眼では見分けのつきにくいものがある。さらに、1つの光学素子であっても部分的に光学特性が変化しているため、その設置姿勢または表裏が限定されるものがある。そのため、従来の光学素子は、特許文献1に示されるように光学素子表面の有効使用域以外の部分に光学的皮膜と同一材料からなる皮膜により識別マークが形成されている。
特開平8−106002号公報
For example, a CD (compact disc) device or the like includes a diffractive element as an optical element that divides a light beam from a light source into a plurality of light beams and diffracts them into an optical recording disk. As this diffraction element, for example, an element in which a convex periodic grating is formed on a translucent substrate is known.
Some optical elements such as diffractive elements have different optical characteristics and installation positions in the optical system, but some of them are difficult to distinguish with the naked eye because of their very similar shapes and colors. Furthermore, even with one optical element, since the optical characteristics are partially changed, there are some which have a limited installation posture or front and back. Therefore, as shown in Patent Document 1, in the conventional optical element, an identification mark is formed by a film made of the same material as the optical film in a portion other than the effective use area on the surface of the optical element.
JP-A-8-106002

比較的大型の光学素子であれば、特許文献1に開示がある識別マークでも支障ないが、近年、光ピックアップの分野では装置の小型化に伴い、その光学系に用いられる光学素子として、例えば1.5mm×2.0mmの回折素子の場合、特許文献1の識別マークでは極めて視認性が悪く、作業性が低下するという問題があった。また、最悪の場合、光学素子の取り付けを誤るという問題があった。視認性を向上させるため、識別マークを大きくすると、識別マークは光学的皮膜が形成された所定領域外に形成されていることから、所定領域外の面積を拡大することになり、光学的皮膜が形成された所定領域内の面積が縮小して光学素子の有効面積が減少するという問題があった。   Although the identification mark disclosed in Patent Document 1 is not a problem as long as it is a relatively large optical element, in recent years, in the field of optical pickups, for example, 1 as an optical element used in the optical system as the apparatus is downsized. In the case of a diffraction element of 0.5 mm × 2.0 mm, the identification mark of Patent Document 1 has a problem that visibility is extremely poor and workability is lowered. In the worst case, there is a problem that the optical element is incorrectly attached. In order to improve the visibility, when the identification mark is enlarged, the identification mark is formed outside the predetermined area where the optical film is formed. There is a problem that the effective area of the optical element is reduced by reducing the area in the formed predetermined region.

そこで、本発明の課題は、小型の光学素子であっても、光学素子の有効面積を犠牲にすることなく視認性を確保することができる識別マークを有する光学素子、光学素子の製造方法および光ディスク装置を提供することにある。   Accordingly, an object of the present invention is to provide an optical element having an identification mark that can ensure visibility without sacrificing the effective area of the optical element, even a small optical element, a method for manufacturing the optical element, and an optical disk To provide an apparatus.

上記の課題を解決するため、本発明では、識別マークが形成された光学素子において、前記識別マークを金属膜により形成したことを特徴とする。   In order to solve the above problems, the present invention is characterized in that in the optical element in which the identification mark is formed, the identification mark is formed of a metal film.

本発明を適用した光学素子は、光ディスク装置に用いることができる。このような光ディスク装置は、レーザ光源と、光検出器と、前記レーザ光源から出射された光ビームを光記録ディスクに導く往路および前記光記録ディスクで反射した戻り光を光検出器に導く復路を構成する光学系とを有し、前記光学系は、前記光学素子を前記レーザ光源と前記光記録ディスクとの前記往路または前記復路との間に備え、前記レーザ光源から出射された光ビームの断面積の外側に前記識別マークが配設されている。   The optical element to which the present invention is applied can be used in an optical disc apparatus. Such an optical disk device has a laser light source, a photodetector, an outward path for guiding the light beam emitted from the laser light source to the optical recording disk, and a return path for guiding the return light reflected by the optical recording disk to the photodetector. An optical system comprising the optical element, wherein the optical system includes the optical element between the laser light source and the forward path or the return path between the optical recording disk and cuts off the light beam emitted from the laser light source. The identification mark is disposed outside the area.

本発明では、前記光学素子を四角形に形成し、その角部に前記識別マークが形成されていることが好ましい。また、識別マークは三角形に形成されていることが好ましい。半導体レーザから出射された光ビームの断面積(ファーフィールドパターン)は、楕円形状であるため、四角に形成された光学素子の場合、ファーフィールドパターンを光学素子上に最大に形成すると、その角部がファーフィールドパターンの外側になる。故に、ファーフィールドパターンの外側になる角部の三角形に沿うようにして識別マークを三角形に形成することにより、光学素子の有効面積を犠牲にすることなく、より大きな識別マークを形成することができる。   In the present invention, it is preferable that the optical element is formed in a quadrangular shape and the identification mark is formed in a corner portion thereof. The identification mark is preferably formed in a triangular shape. Since the cross-sectional area (far field pattern) of the light beam emitted from the semiconductor laser is elliptical, in the case of an optical element formed in a square, when the far field pattern is formed on the optical element to the maximum, the corner Is outside the far field pattern. Therefore, by forming the identification mark in a triangle along the corner triangle that is outside the far field pattern, a larger identification mark can be formed without sacrificing the effective area of the optical element. .

本発明において、前記金属膜は、膜自身の応力を緩和するためのスリットを有していることが好ましい。このように構成すると、金属膜自身に応力が生じたとしても、金属膜に形成されたスリットによって応力が緩和される。故に、金属膜を光学素子の表面にベタで形成した場合と比較して、光学素子の表面から剥離しにくく構成することができる。   In the present invention, the metal film preferably has a slit for relaxing the stress of the film itself. If comprised in this way, even if stress will arise in metal film itself, stress will be relieve | moderated by the slit formed in the metal film. Therefore, as compared with the case where the metal film is solidly formed on the surface of the optical element, the metal film can be configured to be less likely to peel from the surface of the optical element.

本発明において、前記金属膜は、前記光学素子としての前記回折素子を形成する際に該回折素子の全ての溝部に配設されたものの一部であってもよい。   In the present invention, the metal film may be a part of what is disposed in all the grooves of the diffraction element when the diffraction element as the optical element is formed.

本発明では、光学素子の製造方法において、前記光学素子としての前記回折素子をフォトリソ工程によって形成するとともに、前記フォトリソ工程におけるマスキング装置により前記識別マークの位置のみの前記金属膜を保護するレジスト膜を形成し、該レジスト膜により保護された金属膜以外をエッチングするようにしてもよい。このように構成すると、識別マークとしての金属膜を、回折素子を形成するフォトリソ工程におけるマスキング装置により形成することができる。   In the present invention, in the optical element manufacturing method, the diffractive element as the optical element is formed by a photolithography process, and a resist film that protects the metal film only at the position of the identification mark by a masking device in the photolithography process is provided. A metal film other than the metal film formed and protected by the resist film may be etched. If comprised in this way, the metal film as an identification mark can be formed with the masking apparatus in the photolithographic process which forms a diffraction element.

本発明では、光学素子の製造方法において、基板上に複数の前記光学素子を形成し、その後、前記複数の光学素子の表面に前記識別マークを形成した後、前記基板を切断して前記光学素子毎に分離するようにしてもよい。このように構成すると、作業性を向上することができる。   In the present invention, in the optical element manufacturing method, a plurality of the optical elements are formed on a substrate, and then the identification marks are formed on the surfaces of the plurality of optical elements, and then the substrate is cut to form the optical elements. You may make it isolate | separate every. If comprised in this way, workability | operativity can be improved.

以上説明したように、本発明における光学素子は、識別マークが金属膜により形成されている。金属膜は、光学的皮膜と比較して視認性が極めて高い。故に、小型の光学素子の有効面積外に形成された小型の識別マークであっても視認性を高めることができる。その結果、光学素子の有効面積を大きくすることができる。   As described above, in the optical element according to the present invention, the identification mark is formed of the metal film. The metal film has very high visibility compared to the optical film. Therefore, even a small identification mark formed outside the effective area of a small optical element can improve visibility. As a result, the effective area of the optical element can be increased.

[実施の形態1]
(全体構成)
図1は、本発明の実施の形態1に係る光ディスク装置の要部の構成を模式的に示す説明図である。
[Embodiment 1]
(overall structure)
FIG. 1 is an explanatory view schematically showing a configuration of a main part of the optical disc apparatus according to Embodiment 1 of the present invention.

図1において、本形態の光ディスク装置1は、例えば波長650nmのレーザ光束を発する半導体レーザ2と、光検出器3とを有している。また、光ディスク装置1は、半導体レーザ2から光記録ディスク10に向けて、ビームスプリッタ41、コリメートレンズ42、立ち上げミラー43、および対物レンズ44を備えた光学系40を有しており、これらの光学素子によって、半導体レーザ2から出射された光ビームを光記録ディスク10に導く往路が構成されている。また、光学系40は、ビームスプリッタ41と光検出器3との間にセンサレンズ45を備えており、対物レンズ44、立ち上げミラー43、コリメートレンズ42、ビームスプリッタ41、およびセンサレンズ45によって、光記録ディスク10で反射した戻り光を光検出器3に導く復路が構成されている。なお、光検出器3からみてビームスプリッタ41の背後には、半導体レーザ2から光記録ディスク10に向かう光ビームのうち、ビームスプリッタ41で反射された光を検出するフロントモニタ5(モニター用光検出器)が配置されている。   In FIG. 1, the optical disc apparatus 1 of the present embodiment includes a semiconductor laser 2 that emits a laser beam having a wavelength of 650 nm, for example, and a photodetector 3. Further, the optical disc apparatus 1 includes an optical system 40 including a beam splitter 41, a collimating lens 42, a rising mirror 43, and an objective lens 44 from the semiconductor laser 2 toward the optical recording disc 10, and these The optical element forms a forward path that guides the light beam emitted from the semiconductor laser 2 to the optical recording disk 10. Further, the optical system 40 includes a sensor lens 45 between the beam splitter 41 and the photodetector 3, and the objective lens 44, the rising mirror 43, the collimator lens 42, the beam splitter 41, and the sensor lens 45, A return path is configured to guide the return light reflected by the optical recording disk 10 to the photodetector 3. A front monitor 5 (monitoring light detection for detecting light reflected from the beam splitter 41 out of the light beam directed from the semiconductor laser 2 toward the optical recording disk 10 is located behind the beam splitter 41 when viewed from the photodetector 3. Device).

光検出器3は、光記録ディスク10で反射した戻り光を検出して情報を記録する際、あるいは情報の再生を行う際、フォーカシングエラー信号およびトラッキングエラー信号を生成するのに用いられ、これらのフォーカシングエラー信号およびトラッキングエラー信号は、対物レンズ駆動装置7にフィードバックされるようになっている。   The photodetector 3 is used to generate a focusing error signal and a tracking error signal when recording information by detecting return light reflected by the optical recording disk 10 or reproducing information. The focusing error signal and the tracking error signal are fed back to the objective lens driving device 7.

本形態の光ディスク装置1において、半導体レーザ2とビームスプリッタ41との間には、半導体レーザ2から出射された光ビームから、−1次回折光からなるサブビーム、0次光からなるメインビーム、および+1次回折光からなるサブビームを生成するためのグレーティングあるいはホログラム素子からなる回折素子8を備えている。このため、対物レンズ44によって0次光からなるメインビームを光記録ディスク10のトラック上に集光させ、その戻り光を光検出器3で検出することにより情報の再生を行うことができる。また、対物レンズ44によって0次光からなるメインビームを光記録ディスク10のトラック上に集光させて情報の記録を行うことができる。さらに、対物レンズ44によって−1次回折光からなるサブビーム、および+1次回折光からなるサブビームを、光記録ディスク10のトラックの接線方向でメインビームのスポットを挟む位置に集光させ、その戻り光を光検出器3で検出することにより、DPP法などによりトラッキングエラー信号を得ることができる。   In the optical disk apparatus 1 of the present embodiment, between the semiconductor laser 2 and the beam splitter 41, from the light beam emitted from the semiconductor laser 2, a sub beam composed of −1st order diffracted light, a main beam composed of 0th order light, and +1 A diffraction element 8 made of a grating or hologram element for generating a sub-beam made of the next diffracted light is provided. For this reason, it is possible to reproduce information by focusing a main beam composed of zero-order light on the track of the optical recording disk 10 by the objective lens 44 and detecting the return light by the photodetector 3. In addition, information can be recorded by condensing a main beam composed of zero-order light on the track of the optical recording disk 10 by the objective lens 44. Further, the sub-beam consisting of −1st order diffracted light and the subbeam consisting of + 1st order diffracted light are condensed by the objective lens 44 at a position sandwiching the spot of the main beam in the tangential direction of the track of the optical recording disk 10, and the return light is light By detecting with the detector 3, a tracking error signal can be obtained by the DPP method or the like.

(回折素子8の構成)
図2(a)、(b)、(c)はそれぞれ、本発明の実施の形態1で用いた回折素子の平面図、および回折素子を長尺方向に沿って切断し、その一部を拡大して示す断面図、および(a)で示された識別マークの拡大図である。
(Configuration of diffraction element 8)
2 (a), 2 (b), and 2 (c) are plan views of the diffractive element used in Embodiment 1 of the present invention, respectively, and the diffractive element is cut along the longitudinal direction and a part thereof is enlarged. FIG. 2 is an enlarged view of the identification mark shown in FIG.

図2(a)に示すように、本形態の光ディスク装置1に用いる回折素子8は、透光性基板であって、例えばガラス基板が用いられている。また、平面方向が長方形に形成され、その表面には回折素子8の長尺方向(L)と直交する方向に沿って、溝部8gおよび突条部8hが交互に複数配列された回折格子8cを有している。さらに、回折素子8の4つの角部は、そのうちの1つのみに金属膜8eが形成され、この金属膜8eを含む回折素子8の上面には、反射防止膜9が形成されている。本形態の場合、このように金属膜8eを識別マーク9aとして形成することにより、金属膜8eが形成された領域と金属膜8eが形成されていない領域とのコントラストにより、特定の角部を識別することができる。本形態の識別マーク9aは、図2(c)に示すように、ストライプ状の金属膜8eが複数並設されている。別言すれば、金属膜8eにストライプ状のスリット8fが複数形成されている。   As shown in FIG. 2A, the diffractive element 8 used in the optical disc apparatus 1 according to the present embodiment is a translucent substrate, for example, a glass substrate. Further, a diffraction grating 8c in which a planar direction is formed in a rectangular shape and a plurality of grooves 8g and protrusions 8h are alternately arranged along the direction orthogonal to the longitudinal direction (L) of the diffraction element 8 is formed on the surface. Have. Furthermore, a metal film 8e is formed on only one of the four corners of the diffraction element 8, and an antireflection film 9 is formed on the upper surface of the diffraction element 8 including the metal film 8e. In the case of this embodiment, by forming the metal film 8e as the identification mark 9a in this way, a specific corner is identified by the contrast between the region where the metal film 8e is formed and the region where the metal film 8e is not formed. can do. As shown in FIG. 2C, the identification mark 9a of this embodiment has a plurality of stripe-shaped metal films 8e arranged in parallel. In other words, a plurality of stripe-shaped slits 8f are formed in the metal film 8e.

ここで、図2(a)に示すように、半導体レーザ2から出射された光ビームの断面積であるファーフィールドパターンLLは楕円であり、その長軸方向が回折素子の長尺方向(L)に対応し、短軸方向が回折素子の長尺方向(L)と直交する方向に対応する。また、半導体レーザ2から出射された光ビームは、図2(a)に円LLで示す領域が光記録ディスク10への集光に利用される。回折素子8の有効面積を最大に利用するため、回折素子8上にはファーフィールドパターンLLが最大に形成されているが、回折素子8の角部がファーフィールドパターンLLの外側になる。本形態では、ファーフィールドパターンLLの外側になる角部の三角形に沿うようにして識別マーク9aが三角形に形成されている。   Here, as shown in FIG. 2A, the far field pattern LL which is a cross-sectional area of the light beam emitted from the semiconductor laser 2 is an ellipse, and the major axis direction thereof is the longitudinal direction (L) of the diffraction element. The minor axis direction corresponds to the direction orthogonal to the long direction (L) of the diffraction element. Also, the light beam emitted from the semiconductor laser 2 is used for condensing the optical recording disk 10 in the region indicated by the circle LL in FIG. In order to use the effective area of the diffractive element 8 to the maximum, the far field pattern LL is formed on the diffractive element 8 at the maximum, but the corner of the diffractive element 8 is outside the far field pattern LL. In the present embodiment, the identification mark 9a is formed in a triangle along the corner triangle that is outside the far field pattern LL.

(回折素子の製造方法)
図3は、本発明の実施の形態1における回折素子の一部を模式的に示し、その製造方法を説明するための説明図である。
(Diffraction element manufacturing method)
FIG. 3 is a diagram schematically showing a part of the diffraction element according to the first embodiment of the present invention, and is an explanatory diagram for explaining the manufacturing method thereof.

以下、本発明の回折素子8の製造方法の一実施形態を図3に基づいて詳細に説明する。先ず第1工程において、(a)に示されるように、透光性基板としての例えばガラス基板1を用意する。   Hereinafter, an embodiment of a method for producing the diffraction element 8 of the present invention will be described in detail with reference to FIG. First, in the first step, as shown in (a), for example, a glass substrate 1 is prepared as a translucent substrate.

次いで第2工程において、(b)に示されるように、金属膜を膜付けする。この金属膜としては、ガラス基板、回折格子膜とエッチング性が異なり、また、回折格子膜の蒸着において変化しない材料が用いられる。   Next, in the second step, as shown in (b), a metal film is formed. As the metal film, a material that is different in etching property from a glass substrate and a diffraction grating film and that does not change during the deposition of the diffraction grating film is used.

次いで第3工程において、(c)に示されるように、レジスト11を塗布し、次いで第4工程において、プリベークを行ってレジスト11中の溶剤を揮発させ、次いで第5工程において、(d)に示されるように、回折格子8cの凸部(格子部)に対応する部分をガラスマスク板12を用いて露光し、次いで第6工程において、現像を行って、露光したレジスト11部分を溶かして非露光部分11aを残す。   Next, in the third step, as shown in (c), a resist 11 is applied, then in the fourth step, pre-baking is performed to volatilize the solvent in the resist 11, and then in the fifth step, (d) As shown in the figure, the portion corresponding to the convex portion (grating portion) of the diffraction grating 8c is exposed using the glass mask plate 12, and then developed in the sixth step to melt the exposed resist 11 portion and remove it. The exposed portion 11a is left.

次いで第7工程において、リンスを行い、次いで第8工程において、乾燥(ポストベーク)を行い、次いで第9工程において、(e)に示されるように、金属膜8eをウェットエッチングする。   Next, rinsing is performed in the seventh step, followed by drying (post-baking) in the eighth step, and then, in the ninth step, the metal film 8e is wet-etched as shown in (e).

ここで、本実施形態においては、上記ウェットエッチングにて金属膜8eをオーバーエッチングしており、残された金属膜8eは、(e)に示されるように非露光部分11aより小さくなるようにしている。   Here, in this embodiment, the metal film 8e is over-etched by the wet etching, and the remaining metal film 8e is made smaller than the non-exposed portion 11a as shown in (e). Yes.

次いで第10工程において、(f)に示されるように、回折格子膜8bを蒸着する。回折格子膜8bの蒸着を行うと、回折格子膜8bは、非露光部分11a上及び上方から見てレジスト11がないガラス基板8a上の部分に蒸着される。すなわち、上述のように、残された金属膜8eとこの金属膜8e上の非露光部分11aによって上記断面茸状が形成されていることから、回折格子膜8bは、非露光部分11a上とガラス基板8a上との間で繋がり難くなる。   Next, in the tenth step, a diffraction grating film 8b is deposited as shown in FIG. When the diffraction grating film 8b is deposited, the diffraction grating film 8b is deposited on the non-exposed portion 11a and on the glass substrate 8a where the resist 11 does not exist when viewed from above. That is, as described above, since the cross-sectional saddle shape is formed by the remaining metal film 8e and the non-exposed portion 11a on the metal film 8e, the diffraction grating film 8b is formed on the non-exposed portion 11a and the glass. It becomes difficult to connect with the substrate 8a.

次いで第11工程において、(g)に示されるように、非露光部分11aをレジスト剥離液(例えばアセトン系の溶剤)を用いて除去することによりこの非露光部分11a上の回折格子膜8bも除去する所謂リフトオフを行う。   Next, in the eleventh step, as shown in (g), the non-exposed portion 11a is removed using a resist stripping solution (for example, an acetone-based solvent) to remove the diffraction grating film 8b on the non-exposed portion 11a. The so-called lift-off is performed.

この後、再度フォトリソ工程を行う。すなわち、第12工程において、(h)に示されるように、レジスト11を塗布し、次いで第13工程において、プリベークを行ってレジスト11中の溶剤を揮発させ、次いで第14工程において、(i)に示されるように、識別マーク9aの位置に対応する部分をガラスマスク板12を用いて遮蔽した状態で露光し、次いで第15工程において、現像を行って、露光したレジスト11部分を溶かして非露光部分11aを残す。   Thereafter, the photolithography process is performed again. That is, in the twelfth step, as shown in (h), the resist 11 is applied, and then in the thirteenth step, pre-baking is performed to volatilize the solvent in the resist 11, and then in the fourteenth step, (i) As shown in FIG. 5, the portion corresponding to the position of the identification mark 9a is exposed in a state where it is shielded by using the glass mask plate 12, and then developed in the fifteenth step to dissolve the exposed portion of the resist 11 so that it is not exposed. The exposed portion 11a is left.

次いで第16工程において、リンスを行い、次いで第17工程において、乾燥(ポストベーク)を行い、次いで第18工程において、(j)に示されるように、金属膜8eをウェットエッチングする。その際、非露光部分11aによって保護された金属膜8eのみウェットエッチングされずに残る。   Next, rinsing is performed in the sixteenth step, followed by drying (post-baking) in the seventeenth step, and then, in the eighteenth step, the metal film 8e is wet-etched as shown in (j). At that time, only the metal film 8e protected by the non-exposed portion 11a remains without being wet etched.

次いで第19工程において、(k)に示されるように、レジスト11をレジスト剥離液を用いて除去する。すると、ガラス基板8a上に凸上の周期格子8cが形成された回折格子8cと識別マークの位置のみに残った金属膜8eとが得られることになる。   Next, in a nineteenth step, as shown in (k), the resist 11 is removed using a resist stripping solution. Then, a diffraction grating 8c having a convex periodic grating 8c formed on the glass substrate 8a and a metal film 8e remaining only at the position of the identification mark are obtained.

次いで第20工程において、(l)に示されるように、透光性材料としての反射防止膜8dを蒸着することにより金属膜8eからなる識別マーク9aを有する回折素子8が得られる。   Next, in the twentieth step, as shown in (l), the diffraction element 8 having the identification mark 9a made of the metal film 8e is obtained by depositing the antireflection film 8d as a translucent material.

なお、上記製造方法においては、便宜上、回折素子8の一部を模式的に示した図3を用いて製造方法を説明したが、本形態の場合、複数の回折素子8を纏めて製造している。すなわち、ガラス基板8aに複数の回折素子8相当分の回折格子8cを形成し、その後、それぞれの回折素子8毎に識別マーク9aを形成した後、ガラス基板8aを切断して複数の回折素子8を製造している。また、図3は、説明理解の容易性を考慮しガラス基板8aに対する積層を誇張して描いているが、実際には極めて薄い膜となっている。   In addition, in the said manufacturing method, although the manufacturing method was demonstrated using FIG. 3 which showed a part of diffraction element 8 typically for convenience, in the case of this form, it manufactures the several diffraction element 8 collectively. Yes. That is, the diffraction grating 8c corresponding to the plurality of diffraction elements 8 is formed on the glass substrate 8a, and then the identification mark 9a is formed for each diffraction element 8, and then the glass substrate 8a is cut to form the plurality of diffraction elements 8. Is manufacturing. FIG. 3 exaggerates the lamination of the glass substrate 8a in consideration of the ease of understanding of the explanation, but it is actually a very thin film.

(本形態の効果)
以上説明したように、本形態における回折素子8は、平面方向が四角形に形成され、その表面の角部に識別マーク9aが金属膜8eにより形成されている。金属膜8eは、視認性優れており、しかも四角に形成された回折素子8の場合、光ビームのファーフィールドパターンLLの外側の略三角形の領域を利用して識別マーク9aを形成することにより、回折素子8の有効面積を犠牲にすることなく、より大きな識別マーク9aを形成することができる。故に、小型の回折素子8の有効面積外に形成された識別マーク9aであっても視認性を高めることができる。
(Effect of this embodiment)
As described above, the diffraction element 8 according to the present embodiment has a quadrangular planar direction, and the identification mark 9a is formed by the metal film 8e at the corner of the surface. The metal film 8e is excellent in visibility, and in the case of the diffraction element 8 formed in a square, by forming an identification mark 9a using a substantially triangular region outside the far field pattern LL of the light beam, A larger identification mark 9a can be formed without sacrificing the effective area of the diffraction element 8. Therefore, even the identification mark 9a formed outside the effective area of the small diffractive element 8 can improve visibility.

また、本形態において、識別マーク9aが三角形に形成されているので、光ビームのファーフィールドパターンLLの外側が略三角形に沿うようにして識別マーク9aを三角形に形成することにより、回折素子8の有効面積を犠牲にすることなく、より大きな識別マーク9aを形成することができる。   In the present embodiment, since the identification mark 9a is formed in a triangle, the identification mark 9a is formed in a triangle so that the outer side of the far field pattern LL of the light beam is substantially along the triangle. A larger identification mark 9a can be formed without sacrificing the effective area.

さらに本形態において、本形態の識別マーク9aは、ストライプ状の金属膜8eが複数並設されている。別言すれば、金属膜8eにストライプ状のスリット8fが複数形成されているので、金属膜8e自身に応力が生じたとしても、金属膜8eに形成したスリット8fによって応力が緩和され、回折素子8の表面から剥離しにくくなる。   Furthermore, in this embodiment, the identification mark 9a of this embodiment has a plurality of stripe-shaped metal films 8e arranged in parallel. In other words, since a plurality of stripe-shaped slits 8f are formed in the metal film 8e, even if stress occurs in the metal film 8e itself, the stress is relieved by the slits 8f formed in the metal film 8e, and the diffraction element It becomes difficult to peel from the surface of 8.

本発明では、光学素子の製造方法において、回折素子8をフォトリソ工程によって形成するとともに、フォトリソ工程におけるマスキング装置により識別マーク9aの位置のみの金属膜8eを保護するレジスト11膜を形成し、このレジスト11膜により保護された金属膜8e以外をエッチングしているので、識別マーク9aとしての金属膜8eを、回折素子8を形成するフォトリソ工程におけるマスキング装置により形成することができる。   In the present invention, in the optical element manufacturing method, the diffractive element 8 is formed by a photolithography process, and a resist 11 film that protects the metal film 8e only at the position of the identification mark 9a is formed by a masking device in the photolithography process. Since the metal film 8e other than the metal film 8e protected by the 11 film is etched, the metal film 8e as the identification mark 9a can be formed by a masking device in the photolithography process for forming the diffraction element 8.

さらにまた、本形態では、回折素子8の製造方法において、ガラス基板8aに複数の回折素子8相当分の回折格子8cが形成され、その後、それぞれの回折素子8毎に識別マーク9aを形成した後、ガラス基板8aを切断して複数の回折素子8を製造しているので、作業性を向上することができる。   Furthermore, in this embodiment, after the diffraction grating 8c corresponding to the plurality of diffraction elements 8 is formed on the glass substrate 8a in the method for manufacturing the diffraction element 8, and then the identification mark 9a is formed for each diffraction element 8. Since the plurality of diffraction elements 8 are manufactured by cutting the glass substrate 8a, workability can be improved.

[その他の実施の形態]
以上本発明者によってなされた発明を実施形態に基づき具体的に説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変形可能であるというのはいうまでもなく、例えば、上記実施形態においては、識別マークを三角形としているがこれに限定されるものではなく、L字状、四角形等様々な形状に形成してもよい。また、上記実施形態においては、透光性基板をガラス基板8aとしているが、これに限定されるものではなく、例えばプラスチック基板としてもよい。
[Other embodiments]
Although the invention made by the present inventor has been specifically described based on the embodiments, the present invention is not limited to the above embodiments, and various modifications can be made without departing from the scope of the invention. Needless to say, for example, in the above-described embodiment, the identification mark is a triangle, but is not limited thereto, and may be formed in various shapes such as an L shape and a quadrangle. Moreover, in the said embodiment, although the translucent board | substrate is made into the glass substrate 8a, it is not limited to this, For example, it is good also as a plastic substrate.

また、上記実施の形態では、識別マーク9aが三角形に形成されているが、必ずしも三角形に限定されるものではなく、四角形でもよい。さらに、金属膜8eにストライプ状のスリット8fが複数形成されているが、スリット8fを一切設けず、金属膜8eをベタで形成してもよい。   Moreover, in the said embodiment, although the identification mark 9a is formed in the triangle, it is not necessarily limited to a triangle, A square may be sufficient. Furthermore, although a plurality of stripe-shaped slits 8f are formed in the metal film 8e, the metal film 8e may be formed as a solid without providing any slits 8f.

さらに、回折格子8は、回折素子8の長尺方向(L)と直交する方向に沿って溝部および突条部が配列されているが、回折素子8の配設方向はこれに限定されるものではなく、様々に形状に形成してもよい。例えば、長尺方向(L)に沿って溝部および突条部を配設するようにしてもよいし、長尺方向(L)に対し45度傾けて溝部および突条部を配設するようにしてもよい。   Further, in the diffraction grating 8, grooves and protrusions are arranged along a direction orthogonal to the longitudinal direction (L) of the diffraction element 8, but the arrangement direction of the diffraction element 8 is limited to this. Instead, it may be formed in various shapes. For example, the groove portion and the ridge portion may be disposed along the longitudinal direction (L), or the groove portion and the ridge portion may be disposed at an inclination of 45 degrees with respect to the longitudinal direction (L). May be.

本発明の実施の形態1に係る光ディスク装置の要部の構成を模式的に示す説明図である。It is explanatory drawing which shows typically the structure of the principal part of the optical disk apparatus based on Embodiment 1 of this invention. (a)、(b)はそれぞれ、本発明の実施の形態1で用いた回折素子の平面図、および回折素子を長尺方向に沿って切断し、その一部を拡大して示す断面図である(A), (b) is the top view of the diffraction element used in Embodiment 1 of this invention, respectively, and sectional drawing which cut | disconnects a diffraction element along a elongate direction and expands the part. is there 本発明の実施の形態1における回折素子の一部を模式的に示し、その製造方法を説明するための説明図である。It is explanatory drawing for demonstrating a part of diffraction element in Embodiment 1 of this invention typically, and explaining the manufacturing method.

符号の説明Explanation of symbols

1 光ディスク装置
2 レーザ光源
3 光検出器
8 回折素子(光学素子)
8a ガラス基板(基板)
8e 金属膜
8f スリット
8g 溝部
9a 識別マーク
10 光記録ディスク
11 レジスト

DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Optical disk apparatus 2 Laser light source 3 Photodetector 8 Diffraction element (optical element)
8a Glass substrate (substrate)
8e Metal film 8f Slit 8g Groove 9a Identification mark 10 Optical recording disk 11 Resist

Claims (8)

識別マークが形成された光学素子において、
前記識別マークを金属膜により形成したことを特徴とする光学素子。
In the optical element on which the identification mark is formed,
An optical element in which the identification mark is formed of a metal film.
請求項1において、前記光学素子を四角形に形成し、その角部に前記識別マークを形成したことを特徴とする光学素子。   2. The optical element according to claim 1, wherein the optical element is formed in a quadrangular shape and the identification mark is formed in a corner portion thereof. 請求項1または2において、前記識別マークが三角形に形成されていることを特徴とする光学素子。   3. The optical element according to claim 1, wherein the identification mark is formed in a triangular shape. 請求項1ないし3のいずれかにおいて、前記金属膜は、膜自身の応力を緩和するためのスリットを有することを特徴とする光学素子。   4. The optical element according to claim 1, wherein the metal film has a slit for relaxing the stress of the film itself. 請求項1ないし4のいずれかにおいて、前記金属膜は、前記光学素子としての回折素子を形成する際に該回折素子の全ての溝部に配設されたものの一部であることを特徴とする光学素子。   5. The optical device according to claim 1, wherein the metal film is a part of the metal film disposed in all the groove portions of the diffractive element when the diffractive element is formed as the optical element. element. 請求項1ないし5のいずれかに記載の光学素子の製造方法において、前記光学素子としての前記回折素子をフォトリソ工程によって形成するとともに、前記フォトリソ工程におけるマスキング装置により前記識別マークの位置のみの前記金属膜を保護するレジスト膜を形成し、該レジスト膜により保護された金属膜以外をエッチングしたことを特徴とする光学素子の製造方法。   6. The method of manufacturing an optical element according to claim 1, wherein the diffractive element as the optical element is formed by a photolithography process, and only the position of the identification mark is formed by a masking device in the photolithography process. A method for manufacturing an optical element, comprising: forming a resist film for protecting a film; and etching the metal film other than the metal film protected by the resist film. 請求項6において、基板上に複数の前記光学素子を形成し、その後、前記複数の光学素子の表面に前記識別マークを形成した後、前記基板を切断して前記光学素子毎に分離したことを特徴とする光学素子の製造方法。   In Claim 6, after forming the said some optical element on a board | substrate, and forming the said identification mark on the surface of the said some optical element after that, the said board | substrate was cut | disconnected and separated for every said optical element. A method for manufacturing an optical element. 請求項1ないし5のいずれかに規定する光学素子を備えた光ディスク装置であって、
レーザ光源と、光検出器と、前記レーザ光源から出射された光ビームを光記録ディスクに導く往路および前記光記録ディスクで反射した戻り光を光検出器に導く復路を構成する光学系とを有し、
前記光学系は、前記光学素子を前記レーザ光源と前記光記録ディスクとの前記往路または前記復路との間に備え、
前記レーザ光源から出射された光ビームの断面積の外側に前記識別マークが配設されていることを特徴とする光ディスク装置。
An optical disc apparatus comprising the optical element defined in any one of claims 1 to 5,
A laser light source, a light detector, and an optical system constituting a forward path for guiding the light beam emitted from the laser light source to the optical recording disk and a return path for guiding the return light reflected by the optical recording disk to the light detector. And
The optical system includes the optical element between the laser light source and the forward path or the backward path of the optical recording disk,
An optical disc apparatus, wherein the identification mark is disposed outside a cross-sectional area of a light beam emitted from the laser light source.
JP2005155861A 2005-05-27 2005-05-27 Optical element, method of manufacturing optical element, and optical desk device Pending JP2006330487A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005155861A JP2006330487A (en) 2005-05-27 2005-05-27 Optical element, method of manufacturing optical element, and optical desk device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005155861A JP2006330487A (en) 2005-05-27 2005-05-27 Optical element, method of manufacturing optical element, and optical desk device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2006330487A true JP2006330487A (en) 2006-12-07

Family

ID=37552217

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005155861A Pending JP2006330487A (en) 2005-05-27 2005-05-27 Optical element, method of manufacturing optical element, and optical desk device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2006330487A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012517610A (en) * 2009-02-09 2012-08-02 オプタグリオ エス.アー.オ. Micro relief structure

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012517610A (en) * 2009-02-09 2012-08-02 オプタグリオ エス.アー.オ. Micro relief structure

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2000076689A (en) Optical pickup device
JP2004213854A (en) Optical pickup apparatus using hologram optical element and method of forming hologram pattern
US7139235B2 (en) Optical element with diffraction grating, semiconductor device, and optical information recording device employing the same
JP2004327005A (en) Optical head, diffraction element and its manufacturing method
KR100656000B1 (en) Optical diffraction device and optical information processing device
KR20070015043A (en) Optical head and information recording/reproducing apparatus
JP2006330487A (en) Optical element, method of manufacturing optical element, and optical desk device
KR100466667B1 (en) Optical material and optical pickup using this
JPH05307759A (en) Optical pickup
JP2002196123A (en) Dual-wavelength diffraction optical element, dual wavelength light source device and optical head device
JP2006330478A (en) Optical element, method of manufacturing optical element, and optical desk device
KR20060110282A (en) Multi-beam optical scanning device
JPH04129040A (en) Optical head and information recording and reproducing device using the same
JP2004253111A (en) Optical pickup device
KR20040068959A (en) Optical device for scanning an optical record carrier
JP4004905B2 (en) Optical integrated unit and optical pickup device
JP4271697B2 (en) Optical element, optical semiconductor device, and optical information processing apparatus using them
JP2007293938A (en) Diffraction grating, its manufacturing method, and optical pickup apparatus
JP2001028145A (en) Optical head device and disk recording/reproducing device
JP3837893B2 (en) Optical head device
JP2005038474A (en) Optical pickup device and optical disk device
JP2002163831A (en) Semiconductor laser device and optical pickup device
JPH11265515A (en) Optical pickup device
JP3269782B2 (en) Hologram laser
JP2002203325A (en) Optical pickup device