JP2006313672A - Plasma treatment method and plasma treatment device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、プラズマ処理方法及びプラズマ処理装置に関し、特に、放電空間から離れた位置にある被処理物を略常圧でプラズマ処理を行う場合に好適なプラズマ処理方法及びプラズマ処理装置に関する。 The present invention relates to a plasma processing method and a plasma processing apparatus, and more particularly to a plasma processing method and a plasma processing apparatus suitable for performing plasma processing on an object to be processed located at a position away from a discharge space at a substantially normal pressure.
従来、大気圧近傍の圧力下で発生させたプラズマを利用して、被処理物の表面改質、薄膜形成、アッシング、洗浄などのプラズマ処理を行う常圧プラズマ処理について、種々提案されている。 Conventionally, various atmospheric pressure plasma treatments have been proposed in which plasma treatment such as surface modification, thin film formation, ashing, and cleaning of an object to be processed is performed using plasma generated under a pressure near atmospheric pressure.
例えば、いわゆるリモート方式の常圧プラズマ処理では、放電空間を通過してプラズマ化した処理ガスが流出するプラズマ処理ヘッドの開口に対して被処理物を相対的に移動させ、開口から流出した処理ガスを被処理物の表面に順次、接触させることによって、被処理物の表面のプラズマ処理を行う(例えば、特許文献1参照)。 For example, in the so-called remote-type atmospheric pressure plasma processing, the object to be processed is moved relative to the opening of the plasma processing head through which plasmaized processing gas flows through the discharge space and flows out from the opening. Is sequentially brought into contact with the surface of the object to be processed, thereby performing plasma treatment on the surface of the object to be processed (see, for example, Patent Document 1).
また、長尺基材の表面を連続的に処理する場合には、間隔を設けた配置された2対のピンチローラの間に基材を通し、2対のピンチロールの間で真っ直ぐに保持された基材に、プラズマ化した処理ガスを接触させる(例えば、特許文献2参照)。
例えば長尺基材をリモート方式でプラズマ処理する場合、図1に示したように、プラズマ処理ヘッド2両側に、基材8を挟持し矢印4s,6s方向に回転する2対のピンチロール4,6を配置し、基材8を矢印8s方向に走行させながら、プラズマ処理ヘッド2の開口3から流出する処理ガス7を基材8に接触させる。
For example, when a long base material is subjected to plasma processing by a remote method, as shown in FIG. 1, two pairs of pinch rolls 4 that sandwich the
2対のピンチロール4,6間の距離L1は、ある程度の長さが必要になる。そのため、基材8の材質、厚さ等によっては、2対のピンチロール4,6間で基材8に弛みや皺が発生する。基材8に弛みや皺が発生すると、ガス流れが不均一になるので処理ムラや異常放電が発生する。また、基材8が周囲の部材に接触し、基材8に擦り傷などの不良が発生する。
The distance L1 between the two pairs of pinch rolls 4 and 6 needs to have a certain length. Therefore, depending on the material, thickness, and the like of the
本発明は、かかる実情に鑑み、基材を均一かつ安定して処理することができる、プラズマ処理方法及びプラズマ処理装置を提供しようとするものである。 In view of such circumstances, the present invention is intended to provide a plasma processing method and a plasma processing apparatus capable of uniformly and stably processing a substrate.
本発明は、上記課題を解決するために、以下のように構成したプラズマ処理方法を提供する。 In order to solve the above-described problems, the present invention provides a plasma processing method configured as follows.
プラズマ処理方法は、第1及び第2のステップを備える。前記第1のステップにおいて、少なくとも2対のピンチロールで基材を挟持し、該2対のピンチロール間を基材が最短距離で走行するようにする。前記第2のステップにおいて、開口を有するプラズマ処理ヘッドを、前記開口が前記2対のピンチロールの間で前記基材に対向するように配置した状態で、対向する電極対に電圧を印加し、該電極対の間の空間で放電を発生させ、該空間を通過してプラズマ化した処理ガスを前記開口から流出させ、前記処理ガスを、前記2対のピンチロール間を走行する前記基材に接触させる。前記プラズマ処理ヘッドの前記開口に隣接して、前記2対のピンチロールの少なくとも一方を前記開口に接近して配置するための空間を形成する。 The plasma processing method includes first and second steps. In the first step, the substrate is sandwiched between at least two pairs of pinch rolls so that the substrate travels between the two pairs of pinch rolls in the shortest distance. In the second step, in a state where the plasma processing head having an opening is disposed so that the opening faces the substrate between the two pairs of pinch rolls, a voltage is applied to the opposing electrode pair, A discharge is generated in a space between the pair of electrodes, a processing gas that has been converted into plasma through the space is caused to flow out of the opening, and the processing gas is applied to the base material that travels between the two pairs of pinch rolls. Make contact. A space for arranging at least one of the two pairs of pinch rolls close to the opening is formed adjacent to the opening of the plasma processing head.
上記方法において、ピンチロールの少なくとも一方をプラズマ処理ヘッドの開口に接近して配置するための空間は、ピンチロールを収納する切り欠き部をプラズマ処理ヘッドの開口に隣接して設けたり、プラズマ処理ヘッドの開口側の幅を狭くしてプラズマ処理ヘッドを先細形状にするなどにより、形成することができる。 In the above method, the space for disposing at least one of the pinch rolls close to the opening of the plasma processing head is provided with a notch for housing the pinch roll adjacent to the opening of the plasma processing head. The opening can be formed by narrowing the width of the opening side and making the plasma processing head tapered.
上記方法によれば、プラズマ処理ヘッドの開口に隣接する空間に2対のピンチロールの少なくとも一方を配置し、プラズマ処理ヘッドの開口に2対のピンチロールの少なくとも一方を近づけ、2対のピンチロールの間の距離を短くすることができる。これにより、2対のピンチロールの間で基材に弛みや皺が発生しないようにすることができる。基材に弛みや皺がなければ、処理が不安定になったり、不均一になったりすることはない。 According to the above method, at least one of the two pairs of pinch rolls is disposed in a space adjacent to the opening of the plasma processing head, and at least one of the two pairs of pinch rolls is brought close to the opening of the plasma processing head. The distance between can be shortened. Thereby, it is possible to prevent the base material from being slackened or wrinkled between the two pairs of pinch rolls. If there is no slack or wrinkle on the substrate, the treatment will not become unstable or non-uniform.
好ましくは、前記ピンチロールの少なくとも外周面が、前記プラズマ処理ヘッドの前記開口から流出する前記処理ガスに対して耐性を有する。 Preferably, at least the outer peripheral surface of the pinch roll is resistant to the processing gas flowing out of the opening of the plasma processing head.
2対のピンチロールの間の距離を短くすると、ピンチロールの少なくとも外周面は、プラズマ処理ヘッドの開口から流出する処理ガス(現にプラズマ化している処理ガスであっても、プラズマを経て活性化した処理ガスであってもよい。)に接触しやすくなる。そのため、ピンチロールの少なくとも外周面が処理ガスに対して耐性を有し、処理ガスで腐食されたり、材質が劣化したりしないようにすることが好ましい。 When the distance between the two pairs of pinch rolls is shortened, at least the outer peripheral surface of the pinch roll is activated through the plasma even if the process gas flows out from the opening of the plasma processing head (even if the process gas is actually plasma). It may be a processing gas). Therefore, it is preferable that at least the outer peripheral surface of the pinch roll is resistant to the processing gas so that it is not corroded by the processing gas and the material is not deteriorated.
好ましくは、前記ピンチロールが、絶縁性を有する。 Preferably, the pinch roll has an insulating property.
2対のピンチロールの間の距離を短くすると、ピンチロールが電極対に接近する。ピンチロールが導電性を有する場合には、電極対とピンチロールとの間で異常放電が発生しやすくなる。ピンチロールが絶縁性を有すれば、異常放電を防止することができる。 When the distance between the two pairs of pinch rolls is shortened, the pinch rolls approach the electrode pair. When the pinch roll has conductivity, abnormal discharge is likely to occur between the electrode pair and the pinch roll. If the pinch roll has insulating properties, abnormal discharge can be prevented.
また、本発明は、上記課題を解決するために、以下のように構成したプラズマ処理装置を提供する。 In order to solve the above problems, the present invention provides a plasma processing apparatus configured as follows.
プラズマ処理装置は、対向する電極対に電圧を印加し、該電極対の間の空間で放電を発生させ、該空間を通過してプラズマ化した処理ガスが流出する開口を有するプラズマ処理ヘッドと、走行する基材を挟持する少なくとも2対のピンチロールとを備え、前記プラズマ処理ヘッドの前記開口が、前記2対のピンチロール間において、前記2対のピンチロール間を走行する前記基材に対向し、前記開口から流出する前記処理ガスを、前記2対のピンチロール間を走行する前記基材に接触させるタイプの装置である。プラズマ処理装置は、前記プラズマ処理ヘッドの前記開口に隣接して、前記2対のピンチロールの少なくとも一方を前記開口に接近して配置するための空間を有する。 The plasma processing apparatus applies a voltage to the opposing electrode pair, generates a discharge in a space between the electrode pair, and has a plasma processing head having an opening through which the plasmaized processing gas flows out. At least two pairs of pinch rolls sandwiching the traveling base material, and the opening of the plasma processing head is opposed to the base material traveling between the two pairs of pinch rolls between the two pairs of pinch rolls. In this type of apparatus, the processing gas flowing out from the opening is brought into contact with the base material traveling between the two pairs of pinch rolls. The plasma processing apparatus has a space for arranging at least one of the two pairs of pinch rolls close to the opening, adjacent to the opening of the plasma processing head.
上記構成において、ピンチロールの少なくとも一方をプラズマ処理ヘッドの開口に接近して配置するための空間は、ピンチロールを収納する切り欠き部をプラズマ処理ヘッドの開口に隣接して設けたり、プラズマ処理ヘッドの開口側の幅を狭くしてプラズマ処理ヘッドを先細形状にするなどにより、形成することができる。 In the above configuration, the space for disposing at least one of the pinch rolls close to the opening of the plasma processing head is provided with a notch for accommodating the pinch roll adjacent to the opening of the plasma processing head. The opening can be formed by narrowing the width of the opening side and making the plasma processing head tapered.
上記構成によれば、プラズマ処理ヘッドの開口に隣接する空間に2対のピンチロールの少なくとも一方を配置し、プラズマ処理ヘッドの開口に2対のピンチロールの少なくとも一方を近づけ、2対のピンチロールの間の距離を短くすることができる。これにより、2対のピンチロールの間で基材に弛みや皺が発生しないようにすることができる。基材に弛みや皺がなければ、処理が不安定になったり、不均一になったりすることはない。 According to the above configuration, at least one of the two pairs of pinch rolls is disposed in a space adjacent to the opening of the plasma processing head, and at least one of the two pairs of pinch rolls is brought close to the opening of the plasma processing head. The distance between can be shortened. Thereby, it is possible to prevent the base material from being slackened or wrinkled between the two pairs of pinch rolls. If there is no slack or wrinkle on the substrate, the treatment will not become unstable or non-uniform.
好ましくは、前記ピンチロールの少なくとも外周面が、前記プラズマ処理ヘッドの前記開口から流出する前記処理ガスに対して耐性を有する。 Preferably, at least the outer peripheral surface of the pinch roll is resistant to the processing gas flowing out of the opening of the plasma processing head.
2対のピンチロールの間の距離を短くすると、ピンチロールの少なくとも外周面は、プラズマ処理ヘッドの開口から流出する処理ガス(現にプラズマ化している処理ガスであっても、プラズマを経て活性化した処理ガスであってもよい。)に接触しやすくなる。そのため、ピンチロールの少なくとも外周面が処理ガスに対して耐性を有し、処理ガスで腐食されたり、材質が劣化したりしないようにすることが好ましい。 When the distance between the two pairs of pinch rolls is shortened, at least the outer peripheral surface of the pinch roll is activated through the plasma even if the process gas flows out from the opening of the plasma processing head (even if the process gas is actually plasma). It may be a processing gas). Therefore, it is preferable that at least the outer peripheral surface of the pinch roll is resistant to the processing gas so that it is not corroded by the processing gas and the material is not deteriorated.
好ましくは、前記ピンチロールが、絶縁性を有する。 Preferably, the pinch roll has an insulating property.
2対のピンチロールの間の距離を短くすると、ピンチロールが電極対に接近する。ピンチロールが導電性を有する場合には、電極対とピンチロールとの間で異常放電が発生しやすくなる。ピンチロールが絶縁性を有すれば、異常放電を防止することができる。 When the distance between the two pairs of pinch rolls is shortened, the pinch rolls approach the electrode pair. When the pinch roll has conductivity, abnormal discharge is likely to occur between the electrode pair and the pinch roll. If the pinch roll has insulating properties, abnormal discharge can be prevented.
なお、本発明のプラズマ処理方法及びプラズマ処理装置は、1Pa以上、特に略常圧(大気圧近傍)の開放系、あるいは低気密系の場合に特に好適であるが、これに限るものではない。本発明において、略常圧とは、1.013×104〜50.663×104Paの範囲を言い、圧力調整の容易化や装置構成の簡略化を考慮すると、1.333×104〜10.664×104Paが好ましく、9.331×104〜10.397×104Paがより好ましい。 The plasma processing method and plasma processing apparatus of the present invention are particularly suitable for an open system of 1 Pa or more, particularly a substantially normal pressure (near atmospheric pressure), or a low airtight system, but is not limited thereto. In the present invention, “substantially normal pressure” refers to a range of 1.013 × 10 4 to 50.663 × 10 4 Pa, and considering the ease of pressure adjustment and the simplification of the apparatus configuration, 1.333 × 10 4. ˜10.664 × 10 4 Pa is preferable, and 9.331 × 10 4 to 10.397 × 10 4 Pa is more preferable.
本発明のプラズマ処理方法及びプラズマ処理装置は、基材を均一かつ安定して処理することができる。 The plasma processing method and plasma processing apparatus of the present invention can uniformly and stably process a substrate.
以下、本発明の実施の形態として実施例について、図2〜図4を参照しながら説明する。 Examples of the present invention will be described below with reference to FIGS.
(実施例1) 実施例1のプラズマ処理装置について、図2及び図3を参照しながら説明する。 (Example 1) The plasma processing apparatus of Example 1 is demonstrated referring FIG.2 and FIG.3.
図2の要部構成図に示すように、プラズマ処理ヘッド12の両側に、基材18を挟持し矢印14s,16s方向に回転する2対のピンチロール14,16を配置し、基材18を矢印18s方向に走行させながら、プラズマ処理ヘッド12の開口13から流出する処理ガス17を基材18に接触させる。なお、2対のピンチロール14,16よりも外側(すなわち、ピンチロール14,16間以外の部分)に、他のピンチロールを設けてもよい。
2, two pairs of
プラズマ処理ヘッド12は、開口13を有する。開口13からは、対向する電極対(図示せず)に電圧を印加し、該電極対の間の空間で放電を発生させ、該空間を通過させてプラズマ化した処理ガス17(現にプラズマ化している処理ガス17であっても、プラズマを経て活性化した処理ガス17であってもよい。)が流出する。例えば電極対に交流電圧やパルス電圧を印加し、処理ガスをプラズマ化する。放電の形態は、グロー放電が均一処理のために好ましいが、コロナ放電や誘電体バリア放電や沿面放電であってもよい。
The
プラズマ処理ヘッド12は、その内部に電極対を設け、処理ガスをプラズマ化するようにしても、外部でプラズマ化した処理ガスが供給され、それを開口12から流出するようにしてもよい。
The
プラズマ処理ヘッド12には、開口13に隣接して切り欠き部12a,12bが形成されている。各切り欠き部12a,12bに、ピンチロール14,16の上側ロールの一部分が収納される。各切り欠き部12a,12bは、収納するピンチロール14,16にフィットする形状とし、ガス流れを乱す空間を形成しないようにする。
In the
ピンチロール14,16は、図3(a)に示すように、基材18の幅方向(基材2の走行方向18sに対して略直角方向)に、基材18全体に接触するようにしても、図3(b)に示すように、幅方向の一部分のみに接触するようにしてもよい。また、複数個所で接触するようにしてもよい。例えば図3(b)に示すように、基材18の幅方向両側の端部に2組のピンチローラ14a,14b;16a,16bを配置してもよい。
As shown in FIG. 3A, the pinch rolls 14 and 16 are in contact with the
2対のピンチロール14,16の個々のロールは、2対のピンチロール14,16間で基材18に弛みや皺が生じないよう、適宜速度で回転駆動させたり、従動させたり、回転抵抗を与えたりすればよい。
The individual rolls of the two pairs of pinch rolls 14 and 16 are rotated or driven at an appropriate speed so that the
2対のピンチロール14,16は、開口13に接近して配置されているので、開口13から流出する高濃度の処理ガス17に接触する。2対のピンチロール14,16の少なくとも外周面は、開口13から流出する処理ガス17に対して耐性を有するようにする。例えば、ピンチロール14,16に、ガラス、セラミックス、フッ素などをコーティングし、処理ガス17で腐食したり、材質が劣化したりしないようにする。
Since the two pairs of pinch rolls 14 and 16 are arranged close to the
さらに、放電に影響を与えないよう、ピンチロール14,16のロール基材には、絶縁材料を用いる。例えば、ピンチロール14,16は、シリコンロールとすることが好ましい。 Furthermore, an insulating material is used for the roll base material of the pinch rolls 14 and 16 so as not to affect the discharge. For example, the pinch rolls 14 and 16 are preferably silicon rolls.
基材18は、例えばフィルム状の長尺基材であり、ロールに巻き取る。ロールに巻き取らないシート状の基材であってもよい。
The
次に、基材18をプラズマ処理するときの動作について説明する。
Next, the operation when the
2対のピンチロール14,16で基材18を挟持し、基材18を矢印18s方向に走行させる。このとき、2対のピンチロール14,16間で基材18が真っ直ぐに、すなわち最短距離で走行するようにする。そして、プラズマ化した処理ガス17(現にプラズマ化している処理ガス17であっても、プラズマを経て活性化した処理ガス17であってもよい。)を、プラズマ処理ヘッド12の開口13から流出させ、2対のピンチロール14,16間で基材18に接触させ、放電によるプラズマ(活性種、イオンなど)を用いて、表面改質、薄膜形成、アッシング、洗浄などのプラズマ処理を行う。
The
処理ガス17は、プラズマ処理の目的に応じて選択すればよい。例えば、酸化処理には、窒素と酸素の混合ガスを用いる。還元処理には、窒素と水素を用いる。撥水化やエッチングには、フルオロカーボンを用いる。希釈ガスとして、窒素、アルゴン等の不活性ガスを用いてもよい。
The processing
ピンチロール14,16の一部分がプラズマ処理ヘッド12の切り欠き部12a,12bに収納され、2対のピンチロール14,16間の距離L2が短いため、2対のピンチロール14,16間で基材18には弛みや皺が発生しない。この部分で基材18に弛みや皺があると、処理が不安定になったり、不均一になったりするが、弛みや皺がないので、基材18を均一かつ安定して処理することができる。また、処理速度を向上することもできる。
Part of the pinch rolls 14 and 16 is housed in the
2対のピンチロール14,16間の距離L2は、10mm〜80mmの範囲が好ましく、30mm〜60mmの範囲が、より好ましい。開口13の幅、電極対の互いに対向する面に設ける誘電体の厚み、ピンチロール14,16の外径などは、ある程度以上の寸法が必要となるため、2対のピンチロール14,16間の距離L2は、10mm以上が好ましく、30mm以上がより好ましい。一方、2対のピンチロール14,16の少なくとも一方をプラズマ処理ヘッド12の開口13に接近して配置し、基材18に弛みや皺が発生しないようにするためには、2対のピンチロール14,16間の距離L2は80mm以下が好ましく、60mm以下がより好ましい。
The distance L2 between the two pairs of pinch rolls 14 and 16 is preferably in the range of 10 mm to 80 mm, and more preferably in the range of 30 mm to 60 mm. The width of the
(実施例2) 実施例2のプラズマ処理装置について、図4を参照しながら説明する。実施例2のプラズマ処理装置は、実施例1のプラズマ処理装置と略同様に構成される。以下では、実施例1と同様の構成部分には同じ符号を用い、実施例1との相違点を中心に説明する。 (Example 2) The plasma processing apparatus of Example 2 is demonstrated referring FIG. The plasma processing apparatus according to the second embodiment is configured in substantially the same manner as the plasma processing apparatus according to the first embodiment. In the following description, the same reference numerals are used for the same components as in the first embodiment, and differences from the first embodiment will be mainly described.
図4の要部構成図に示すように、基材18を挟持し矢印14s,16s方向に回転する2対のピンチロール14,16の間に、基材18を挟んで両側に、2組のプラズマ処理ヘッド22a,22bを配置する。各プラズマ処理ヘッド22a,22bは、プラズマ化された処理ガス27a,27b(現にプラズマ化している処理ガス27a,27bであっても、プラズマを経て活性化した処理ガス27a,27bであってもよい。)が流出する開口23a,23b側の幅が幅を狭く、先細形状に形成されている。各プラズマ処理ヘッド22a,22bの開口23a,23b側が先細形状であることにより、開口23a,23bの近傍に空間が形成される。この空間に、2対のピンチロール14,16を配置することにより、2対のピンチロール14,16間の距離L2を小さくし、2対のピンチロール14,16間で基材18には弛みや皺が発生しないようにして、基材18を均一かつ安定して処理することができる。また、処理速度を向上することもできる。
As shown in the configuration diagram of the main part of FIG. 4, two sets of two pairs of pinch rolls 14 and 16 that sandwich the
2組のプラズマ処理ヘッド22a,22bを用いて、基材18の両面を、同時に処理することができる。この場合、プラズマ処理ヘッド22a,22bごとに成分の異なる処理ガス27s,27bを用いることにより、基材18の表面と裏面で別個の処理を行うことができる。
Using both sets of plasma processing heads 22a and 22b, both surfaces of the
なお、本発明は、上記した実施の形態に限定されるものではなく、種々変更を加えて実施することが可能である。 The present invention is not limited to the above-described embodiment, and can be implemented with various modifications.
例えば、本発明のプラズマ処理方法及びプラズマ処理装置は、例えば、1Pa以上、特に略常圧(大気圧近傍)の開放系、あるいは低気密系で行うことができるが、これに限るものではない。 For example, the plasma processing method and the plasma processing apparatus of the present invention can be performed in an open system or a low airtight system of 1 Pa or more, particularly approximately normal pressure (near atmospheric pressure), but is not limited thereto.
12 プラズマ処理ヘッド
12a,12b 切り欠き部(空間)
13 開口
14 ピンチロール
16 ピンチロール
17 処理ガス
18 基材
22a,22b プラズマ処理ヘッド
23a,23b 開口
27a,27b 処理ガス
12
13
Claims (6)
開口を有するプラズマ処理ヘッドを、前記開口が前記2対のピンチロールの間で前記基材に対向するように配置した状態で、対向する電極対に電圧を印加し、該電極対の間の空間で放電を発生させ、該空間を通過してプラズマ化した処理ガスを前記開口から流出させ、前記処理ガスを、前記2対のピンチロール間を走行する前記基材に接触させる第2のステップとを備え、
前記プラズマ処理ヘッドの前記開口に隣接して、前記2対のピンチロールの少なくとも一方を前記開口に接近して配置するための空間を形成したことを特徴とする、プラズマ処理方法。 A first step of sandwiching the base material between at least two pairs of pinch rolls so that the base material travels between the two pairs of pinch rolls in the shortest distance;
A voltage is applied to the opposing electrode pair in a state where the plasma processing head having an opening is arranged so that the opening faces the substrate between the two pairs of pinch rolls, and a space between the electrode pair A second step of causing discharge to occur, causing the processing gas that has passed through the space to be converted into plasma to flow out of the opening, and bringing the processing gas into contact with the base material traveling between the two pairs of pinch rolls; With
A plasma processing method, wherein a space for arranging at least one of the two pairs of pinch rolls close to the opening is formed adjacent to the opening of the plasma processing head.
走行する基材を挟持する少なくとも2対のピンチロールとを備え、
前記プラズマ処理ヘッドの前記開口が、前記2対のピンチロール間において、前記2対のピンチロール間を走行する前記基材に対向し、前記開口から流出する前記処理ガスを、前記2対のピンチロール間を走行する前記基材に接触させる、プラズマ処理装置において、
前記プラズマ処理ヘッドの前記開口に隣接して、前記2対のピンチロールの少なくとも一方を前記開口に接近して配置するための空間を有することを特徴とする、プラズマ処理装置。 A plasma processing head having an opening through which a voltage is applied to the opposing electrode pair, a discharge is generated in the space between the electrode pair, and the processing gas converted into plasma through the space flows out;
Comprising at least two pairs of pinch rolls that sandwich the substrate to travel;
The opening of the plasma processing head is opposed to the base material traveling between the two pairs of pinch rolls between the two pairs of pinch rolls, and the processing gas flowing out of the openings is passed through the two pairs of pinch rolls. In the plasma processing apparatus, which is brought into contact with the base material traveling between rolls,
A plasma processing apparatus having a space for arranging at least one of the two pairs of pinch rolls close to the opening adjacent to the opening of the plasma processing head.
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JP2012199226A (en) * | 2011-03-10 | 2012-10-18 | Nagoya Univ | Plasma generating apparatus, plasma processing apparatus, and plasma processing method |
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