JP2006285013A - Solid-state imaging apparatus for automatic focus - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、位相差検出型オートフォーカス(AF)を行う固体撮像装置に関し、特にデジタルカメラ又はアナログ(銀塩)カメラ等に用いられるオートフォーカス用固体撮像装置(AFセンサ)に関するものである。 The present invention relates to a solid-state imaging device that performs phase difference detection autofocus (AF), and more particularly to an autofocus solid-state imaging device (AF sensor) used in a digital camera, an analog (silver salt) camera, or the like.
図5は、従来のカメラに用いられる位相差検出方式と呼ばれるオートフォーカス用の焦点検出装置を示す図である(下記特許文献1参照)。 FIG. 5 is a diagram showing a focus detection device for autofocus called a phase difference detection method used in a conventional camera (see Patent Document 1 below).
同図において、カメラの撮影レンズ502により被写体1を撮影する。基準部光束と参照部光束の2つの被写体光束が、撮影レンズ502の2つの部分に各々入射し、コンデンサレンズ503及びセパレータレンズ504を経て複数の光電変換素子が一列に配置された固体撮像装置としての受光素子505の基準部506と参照部507とに結像する。上記セパレータレンズ504上の2つの領域の被写体に対する視差により、それぞれの像がずれるので、このずれ量を検出して、撮影レンズ502の位置を前後に移動させることにより、結像した2つの被写体像の像間隔が所定の値になり合焦状態となる。
In the figure, the subject 1 is photographed by the photographing lens 502 of the camera. As a solid-state imaging device in which two subject light fluxes, ie, a reference portion light beam and a reference portion light beam, respectively enter two portions of the photographing lens 502 and a plurality of photoelectric conversion elements are arranged in a row through a condenser lens 503 and a
一方、カメラ本体の画像を得るための固体撮像装置として、従来、例えば、下記特許文献2や下記特許文献3のように同一半導体基板上に形成された画素領域を複数に分割し、画素からの出力信号を順次又は同時に読み出す手段が、デジタルカメラやデジタルカムコーダ用の撮像素子において提案されていた。 On the other hand, as a solid-state imaging device for obtaining an image of a camera body, conventionally, for example, as in Patent Document 2 and Patent Document 3 below, a pixel region formed on the same semiconductor substrate is divided into a plurality of pixels, Means for reading output signals sequentially or simultaneously has been proposed in image sensors for digital cameras and digital camcorders.
図6は、上記従来の本体の画像を得るための固体撮像装置を示す図である。 FIG. 6 is a diagram showing a solid-state imaging device for obtaining the conventional image of the main body.
同図において、画素605はフォトダイオード等の光電変換素子を有し、これらを2次元状に配列することで被写体を撮像する撮像領域を形成している。前記撮像領域は水平方向又は垂直方向に複数配置され、分割方法は例えば、下記特許文献3では上下(垂直方向)左右(水平方向)に等しく4分割しており、赤(R)、青(B)、緑1(G1)、緑2(G2)の色フィルタ用に分割している。垂直方向に複数に配列された画素に対してパルス信号を垂直方向に駆動させるための垂直シフトレジスタ606a,606bを有する。 In the figure, a pixel 605 has a photoelectric conversion element such as a photodiode, and forms an imaging region for imaging a subject by arranging these two-dimensionally. A plurality of the imaging regions are arranged in the horizontal direction or the vertical direction, and the division method is, for example, in the following Patent Document 3, divided into four equal parts in the vertical (vertical direction) and the horizontal (horizontal direction), red (R), blue (B ), Green 1 (G1), and green 2 (G2) color filters. Vertical shift registers 606a and 606b for driving a pulse signal in the vertical direction to a plurality of pixels arranged in the vertical direction are provided.
610aは、R撮像領域601、G1撮像領域602に配列されている画素605から読み出された電荷等を蓄積するラインメモリ、610bは、G2撮像領域603、B撮像領域604に配列されている画素605から読み出された電荷等を蓄積するラインメモリ、611c〜611fは、それぞれラインメモリ610a,610bに保持された電荷等のうちR撮像領域601、G1撮像領域602、G2撮像領域603、B撮像領域604からの読み出されたものを順次外部の処理回路へ出力する水平シフトレジスタである。
610a is a line memory for accumulating charges read from the pixels 605 arranged in the R imaging area 601 and the
ここで、R撮像領域601に配列されている画素605から読み出されて、ラインメモリ610aで蓄積されている増幅信号は、水平シフトレジスタ611cで生成される制御信号に応じて処理回路へ出力される。G1撮像領域602に配列されている画素605から読み出されて、ラインメモリ610aで蓄積されている増幅信号は、水平シフトレジスタ611dで生成される制御信号に応じて処理回路へ出力される。
Here, the amplified signal read from the pixels 605 arranged in the R imaging region 601 and accumulated in the
同様に、G2撮像領域603に配列されている画素605からの信号は、水平シフトレジスタ611eで生成される制御信号に応じて処理回路へ出力され、B撮像領域604に配列されている画素605からの信号は、水平シフトレジスタ611fで生成される制御信号に応じて処理回路へ出力される。
Similarly, the signal from the pixel 605 arranged in the G2 imaging region 603 is output to the processing circuit in accordance with the control signal generated by the
全ての画素605に対して、2つの垂直シフトレジスタ606a,606bと4つの水平シフトレジスタ611c〜611fとを備えることによって、各撮像領域601〜604の対応する位置に配置されている画素605から読み出された各電荷等を処理回路へ出力する際に、並列に出力され時間差が生じないようにしている。
By providing two
このように、少なくとも縦方向の撮像領域の信号は同時に並列に出力されるが、通常、撮像領域が例えば画素ピッチが5μmとして水平方向に640画素、垂直方向に480画素配列されていると、隣接する撮像領域は3.2mm間隔又は2.4mm間隔で配列されることとなり、出力回路の配置も遠く離されて配置される。
従来の位相差検出型オートフォーカスを行うオートフォーカス用固体撮像装置においては、ライン型のセンサで構成されることが多く、ライン型のオートフォーカス用固体撮像装置は構成される画素数が少なかった。このため、光電変換信号を、上記従来のカメラ本体の画像を得るための固体撮像装置のようにわざわざ複数のチャンネルを設けて並列に読み出すことがなかった。そのため撮像領域の分割方法についても言及されたことはなかった。更に、画素数が増大した場合に高速で読み出すためには1ライン毎1画素毎の読出しとなるため限界があった。特にエリア型のオートフォーカス用固体撮像装置においてはライン型と比較して著しく画素数が増大しているために大きな課題となっていた。 Conventional solid-state imaging devices for autofocus that perform phase difference detection type auto-focusing are often composed of line-type sensors, and line-type solid-state imaging devices for auto-focusing have a small number of pixels. For this reason, the photoelectric conversion signal is not read out in parallel by providing a plurality of channels unlike the conventional solid-state imaging device for obtaining the image of the camera body. Therefore, there has been no mention of a method for dividing the imaging region. Further, when the number of pixels is increased, there is a limit to reading at a high speed in order to read out every pixel per line. Particularly in the area type solid-state imaging device for autofocus, the number of pixels is remarkably increased as compared with the line type, which is a big problem.
従来のように複数の出力回路を互いに遠く離されて配置された場合、出力信号のチャンネル間の精度が問題となり実用化できなかった。 When a plurality of output circuits are arranged far away from each other as in the prior art, the accuracy between channels of the output signal becomes a problem and cannot be put into practical use.
特に、位相差検出型のオートフォーカスセンサは、撮像領域の基準部と参照部とのペア性が重視され、画素配置だけではなく信号ラインの引き回しも基準部と参照部とで同じように配置しなければならない。従来のエリア型の撮像素子ように複数の出力回路を互いに遠く離されて配置された場合、出力信号のチャンネル間の精度が問題となり実用化できなかった。 In particular, the phase difference detection type autofocus sensor places importance on the pairing between the reference portion and the reference portion of the imaging region, and not only the pixel arrangement but also the signal line routing is arranged in the same manner in the reference portion and the reference portion. There must be. When a plurality of output circuits are arranged far apart from each other as in a conventional area-type image sensor, the accuracy between channels of the output signal becomes a problem and cannot be put into practical use.
また、仮に並列に読み出すための複数の出力回路を設置したとしても増幅回路を駆動させるための消費電流が問題となり実用化できなかった。 Even if a plurality of output circuits for reading in parallel are installed, the current consumption for driving the amplifier circuit becomes a problem and cannot be put into practical use.
そこで、本発明は、位相差検出型のオートフォーカス用固体撮像装置において、2つの撮像領域の読み出しを高速化し、かつ半導体プロセス工程において出力回路の相対精度を上げることを目的としている。 Accordingly, an object of the present invention is to increase the relative accuracy of an output circuit in a semiconductor process in a phase difference detection type autofocus solid-state imaging device that speeds up reading of two imaging regions.
上記課題を解決するため、本発明のオートフォーカス用固体撮像装置は、光電変換素子を有する画素がそれぞれ複数配列された基準部と参照部の撮像領域から成り、位相差検出型オートフォーカスを行う固体撮像装置において、前記基準部と参照部から出力される信号を個別のチャンネルの出力回路に出力し、前記各出力回路は、互いに隣接して配置されることを特徴とする。 In order to solve the above-described problems, an autofocus solid-state imaging device according to the present invention is composed of an imaging region of a reference unit and a reference unit in which a plurality of pixels each having a photoelectric conversion element are arranged, and performs a phase difference detection type autofocus. In the imaging apparatus, signals output from the reference unit and the reference unit are output to output circuits of individual channels, and the output circuits are arranged adjacent to each other.
本発明によれば、撮像領域を基準部と参照部とに2分割し、それぞれの読出しチャンネルとして出力回路を個別に設けることによって、2チャンネルで同時に読み出すことが可能となり画像信号の読出しに要する時間が1/2となって高速化することができた。また、2つの出力回路を隣接配置することで、出力回路に必要なバイアス線を共通化でき、低消費電力、高精度なAFセンサが実現できた。 According to the present invention, the imaging area is divided into two parts, that is, the reference part and the reference part, and an output circuit is individually provided as each readout channel, so that readout can be performed simultaneously on the two channels, and the time required for readout of the image signal Was reduced to 1/2 and the speed could be increased. In addition, by arranging two output circuits adjacent to each other, a bias line necessary for the output circuit can be shared, and a low power consumption and high accuracy AF sensor can be realized.
始めに、本発明における実施の形態の概要を述べる。 First, the outline of the embodiment of the present invention will be described.
オートフォーカス用固体撮像装置において、位相差検出によりオートフォーカスを行うための撮像領域が基準部(以下、「A像領域」)と参照部(以下、「B像領域」)とに分割され、撮像領域は光電変換を行う光電変換素子で構成された複数の画素から成り、画素は水平方向又は垂直方向に配列されている。実施形態1では、複数の画素が水平方向及び垂直方向に配列されたエリア型であり、実施形態2では、一方向に配列されたライン型である。 In an autofocus solid-state imaging device, an imaging region for performing autofocusing by phase difference detection is divided into a reference portion (hereinafter referred to as “A image region”) and a reference portion (hereinafter referred to as “B image region”). The region is composed of a plurality of pixels composed of photoelectric conversion elements that perform photoelectric conversion, and the pixels are arranged in the horizontal direction or the vertical direction. The first embodiment is an area type in which a plurality of pixels are arranged in the horizontal direction and the vertical direction, and the second embodiment is a line type in which a plurality of pixels are arranged in one direction.
実施形態1においては、撮像領域における画素から出力された光電変換信号を読み出したい所望の列を選択するための水平駆動回路を具備し、光電変換信号を垂直方向へ転送するための垂直転送回路と、垂直転送回路を順次駆動するための垂直シフトレジスタを具備する。水平駆動回路、垂直転送回路及び水平シフトレジスタは少なくとも分割された撮像領域に対応する数だけ具備している。 In the first embodiment, there is provided a horizontal drive circuit for selecting a desired column from which a photoelectric conversion signal output from a pixel in an imaging region is to be read, and a vertical transfer circuit for transferring the photoelectric conversion signal in the vertical direction; And a vertical shift register for sequentially driving the vertical transfer circuits. The horizontal drive circuit, the vertical transfer circuit, and the horizontal shift register are provided in the number corresponding to at least the divided imaging regions.
複数の水平駆動回路は順次又は並列に駆動することを特徴とする。複数の垂直シフトレジスタは順次又は並列に駆動することを特徴とする。A像領域に対応する垂直転送回路から出力された信号を増幅し出力するための出力回路(A像用)とB像領域に対応する垂直転送回路から出力された信号を増幅し出力するための出力回路(B像用)とを具備することを特徴とする。 The plurality of horizontal drive circuits are driven sequentially or in parallel. The plurality of vertical shift registers are driven sequentially or in parallel. An output circuit (for A image) for amplifying and outputting the signal output from the vertical transfer circuit corresponding to the A image area and an output circuit for amplifying and outputting the signal output from the vertical transfer circuit corresponding to the B image area And an output circuit (for B image).
また、両実施形態とも、撮像領域における遮光画素は面積縮小のためA像領域又はB像領域の一方にのみ配列されている。 In both embodiments, the light-shielding pixels in the imaging region are arranged only in one of the A image region and the B image region in order to reduce the area.
更に、出力回路に一定電圧を供給するためのバイアス回路が少なくとも1つ備えられ、バイアス回路から一定電圧を供給するためのバイアス線は、A像用出力回路とB像用出力回路とで共通化されている。また、A像用出力回路とB像用出力回路とは半導体プロセス工程において相対精度を上げるのに有利なように互いに隣接して配置される。 Furthermore, at least one bias circuit for supplying a constant voltage to the output circuit is provided, and a bias line for supplying a constant voltage from the bias circuit is shared between the A image output circuit and the B image output circuit. Has been. Further, the A image output circuit and the B image output circuit are arranged adjacent to each other so as to be advantageous in increasing the relative accuracy in the semiconductor process.
[実施形態1]
次に、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。
[Embodiment 1]
Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
図1は、本発明における実施形態1のエリア型センサを示す模式図である。 FIG. 1 is a schematic diagram showing an area type sensor according to the first embodiment of the present invention.
同図において、オートフォーカス用固体撮像装置は、CMOSプロセス等によって同一半導体基板上に形成されている。101及び102はフォトダイオード等の光電変換素子で構成される画素120を含む撮像領域である。画素は2次元的なアレイに配置されており、位相差検出をしてオートフォーカスを行うための撮像領域101はA像領域(基準部)、撮像領域102はB像領域(参照部)とに分割されている。A像領域において複数の画素によって光電変換された信号は中央を境に2分割して水平に左方向及び右方向へ読み出すための水平駆動回路103,104を具え、互いに独立に制御できる垂直シフトレジスタ111,112によって駆動される垂直転送回路107,108とを具えている。黒レベル信号出力のために遮光されたOB(Optical Black)画素はA像領域に水平方向に配列されている。
In the figure, an autofocus solid-state imaging device is formed on the same semiconductor substrate by a CMOS process or the like. Reference numerals 101 and 102 denote imaging regions including pixels 120 formed of photoelectric conversion elements such as photodiodes. The pixels are arranged in a two-dimensional array. An imaging area 101 for detecting phase difference and performing autofocus is an A image area (standard part), and an imaging area 102 is a B image area (reference part). It is divided. A vertical shift register which has
また、B像領域において複数の画素によって光電変換された信号は中央を境に2分割して水平に左方向及び右方向へ読み出すための水平駆動回路105,106を具え、互いに独立に制御できる垂直シフトレジスタ113,114によって駆動される垂直転送回路109,110とを具えている。
Further, the signal photoelectrically converted by a plurality of pixels in the B image region is divided into two at the center and is provided with
次に動作について説明する。被写体からの光信号を画素120によって光電変換する。簡略化のために画素は3×4のアレイに配置しているが、実際には更に多くの数の画素で構成されている。水平駆動回路105,106によって列の駆動を選択することができ、所望の列の光電変換信号が出力される。いまA像領域における所望の列を水平駆動回路103によって選択した場合、前記所望の列の画素信号が水平方向へ左側に出力される。垂直シフトレジスタ111によって読み出したい開始の領域(行)を選択し、順次垂直転送回路107に読出しパルスを出力し、画素信号が順次垂直転送回路107を介して出力される。
Next, the operation will be described. A light signal from the subject is photoelectrically converted by the pixel 120. For the sake of simplicity, the pixels are arranged in a 3 × 4 array, but in actuality, they are made up of a larger number of pixels. Column driving can be selected by the
また、A像領域において前記選択した列とは別の列を水平駆動回路104によって選択した場合は、選択した列の画素信号が水平方向へ右側に出力され、垂直シフトレジスタ112によって垂直シフトレジスタ111とは異なった領域の読み出したい開始の領域を選択し、順次垂直転送回路108に読出しパルスを出力し、画素信号が順次垂直転送回路108を介して出力される。このとき垂直シフトレジスタ111と垂直シフトレジスタ112とは同時には動作しない。
Further, when the
一方、B像領域における所望の列を水平駆動回路105によって選択した場合、所望の列の画素信号が水平方向へ左側に出力され、垂直シフトレジスタ113によって読み出したい開始の領域を選択し、順次垂直転送回路109に読出しパルスを出力し、画素信号が順次垂直転送回路109を介して出力される。また、B像領域において前記選択した列とは別の列を水平駆動回路106によって選択した場合は、選択した列の画素信号が水平方向へ右側に出力され、垂直シフトレジスタ114によって読み出したい開始の領域を選択し、順次垂直転送回路110に読出しパルスを出力し、画素信号が順次垂直転送回路110を介して出力される。
On the other hand, when a desired column in the B image region is selected by the
このとき垂直シフトレジスタ113と垂直シフトレジスタ114とは同時には動作しないが、垂直シフトレジスタ111と垂直シフトレジスタ113とは同時に動作し、垂直シフトレジスタ112と垂直シフトレジスタ114とは同時に動作する。
At this time, the
A像領域から垂直転送回路107を介して出力された信号はA像用出力回路116によって増幅されて出力端子118から出力される。また、A像領域から垂直転送回路108を介して出力された信号もA像用出力回路116によって増幅されて出力端子118から出力される。
The signal output from the A image area via the
一方、B像領域から垂直転送回路109を介して出力された信号は、B像用出力回路117によって増幅されて出力端子119から出力される。また、B像領域から垂直転送回路110を介して出力された信号もB像用出力回路117によって増幅されて出力端子119から出力される。
On the other hand, a signal output from the B image area via the
いま、A像領域から垂直転送回路107を介して出力された信号がA像用出力回路116によって増幅されて出力端子118から1チャンネル出力されている。それと同時にB像領域から垂直転送回路109を介して出力された信号はB像用出力回路117によって増幅されて出力端子119から1チャンネル出力されて読み出された。A像領域の出力信号とB像領域の出力信号とを同時に2チャンネルで読み出すことができたため、読出し時間が1/2に短縮され高速化することができた。
Now, the signal output from the A image region via the
図2は、出力回路116及び出力回路117を構成する増幅回路の模式図である。
FIG. 2 is a schematic diagram of an amplifier circuit that constitutes the
A像用出力回路116とB像用出力回路117とは相対的な精度が要求されるため同じ回路配置構成である。Vinに入力された信号を演算増幅器opamp1でバッファし、容量Cに電荷信号として蓄積する。CLMPパルスでオン又はオフするMOSトランジスタを介して一定電圧Vref基準でクランプした信号に演算増幅器opamp2を用いてR1及びR2によってゲイン(R1+R2)/R1倍された増幅信号をVoutから出力するものである。
The A
一定電圧Vrefは、図1におけるバイアス回路115において発生させ、バイアス線121によってA像用出力回路116とB像用出力回路117とに供給される。これらの出力回路116,117各々に必要な一定電圧を発生させるためのバイアス回路と一定電圧を供給させるためのバイアス線を共通化することで低消費電力化することができた。更に、これらの出力回路116,117とを互いに隣接して配置することで製造における相対ばらつきが小さく抑えられて高精度な出力を得ることができた。
The constant voltage Vref is generated in the
黒レベル出力するためのOB画素(遮光画素)信号出力はA像領域から出力される。OB信号が出力されるタイミングでスイッチ122がオンし、前記スイッチ122を介して前記OB画素信号はA像用出力回路116及びB像用出力回路117に入力される。それぞれの出力回路で前記OB画素信号は増幅されて出力端子118及び出力端子119より出力される。OB画素信号出力を兼用することによって片方のOB画素配列が不要となり、チップ面積が縮小することができた。
An OB pixel (light-shielded pixel) signal output for outputting a black level is output from the A image area. The switch 122 is turned on at the timing when the OB signal is output, and the OB pixel signal is input to the A
なお、本実施形態においては、A像領域とB像領域の各々を2分割したエリアとしているが、各領域を1つのエリアとして回路構成してもよい。 In the present embodiment, each of the A image area and the B image area is divided into two areas, but each area may be configured as one area.
[実施形態2]
図3は、本発明の実施形態2におけるライン型センサを示す模式図である。
[Embodiment 2]
FIG. 3 is a schematic diagram showing a line type sensor according to Embodiment 2 of the present invention.
同図において、オートフォーカス用固体撮像装置は、CMOSプロセス等によって同一半導体基板上に形成されている。301及び302はフォトダイオード等の光電変換素子で構成される画素313を含む撮像領域である。画素は1次元的なライン状に配置されており、位相差検出をしてオートフォーカスを行うための撮像領域301はA像領域(基準部)、撮像領域302はB像領域(参照部)とに分割されている。A像領域において複数の画素によって光電変換された信号は、垂直シフトレジスタ305によって駆動される垂直転送回路303とを具えている。また、B像領域において複数の画素によって光電変換された信号は、垂直シフトレジスタ306によって駆動される垂直転送回路304とを具えている。
In the figure, an autofocus solid-state imaging device is formed on the same semiconductor substrate by a CMOS process or the like.
次に動作について説明する。被写体からの光信号を画素313によって光電変換する。簡略化のために画素は1×4のラインに配置しているが、実際には更に多くの数の画素で構成されている。いま、A像領域における画素から光電変換された画素信号が出力されるとして、垂直シフトレジスタ305によって読み出したい開始の領域(行)を選択し、順次垂直転送回路303に読出しパルスを出力し、画素信号が順次垂直転送回路303を介して出力される。一方、B像領域において複数の画素によって光電変換された信号は、垂直シフトレジスタ306によって読み出したい開始の領域を選択し、順次垂直転送回路304に読出しパルスを出力し、画素信号が順次垂直転送回路304を介して出力される。このとき垂直シフトレジスタ305と垂直シフトレジスタ306とは同時に動作する。
Next, the operation will be described. The light signal from the subject is photoelectrically converted by the pixel 313. For simplification, the pixels are arranged in a 1 × 4 line, but in actuality, the pixels are composed of a larger number of pixels. Now, assuming that a pixel signal photoelectrically converted from a pixel in the A image region is output, a start region (row) to be read is selected by the
A像領域から垂直転送回路303を介して出力された信号はA像用出力回路309によって増幅されて出力端子311から出力される。一方、B像領域から垂直転送回路304を介して出力された信号はB像用出力回路310によって増幅されて出力端子312から出力される。いま、A像領域から垂直転送回路303を介して出力された信号がA像用出力回路309によって増幅されて出力端子311から1チャンネル出力されている。それと同時にB像領域から垂直転送回路304を介して出力された信号はB像用出力回路310によって増幅されて出力端子312から1チャンネル出力されて読み出された。A像領域の出力信号とB像領域の出力信号とを同時に2チャンネルで読み出すことができたため、読出し時間が1/2に短縮され高速化することができた。
A signal output from the A image area via the
A像用出力回路309及びB像用出力回路310を構成する増幅回路は実施形態1と同様であり、模式図も図2示す通りである。A像用出力回路309とB像用出力回路310とは相対的な精度が要求されるため同じ回路配置構成である。Vinに入力された信号を演算増幅器opamp1でバッファし、容量Cに電荷信号として蓄積する。CLMPパルスでオン又はオフするMOSトランジスタを介して一定電圧Vref基準でクランプした信号に演算増幅器opamp2を用いてR1及びR2によってゲイン(R1+R2)/R1倍された増幅信号をVoutから出力するものである。
The amplification circuits constituting the A
一定電圧Vrefは、図3におけるバイアス回路308において発生させ、バイアス線314によってA像用出力回路309とB像用出力回路310とに供給される。これらの出力回路309,310各々に必要な一定電圧を発生させるバイアス回路と一定電圧を供給するためのバイアス線を共通化することで低消費電力化することができた。更に、これらの出力回路309,310を互いに隣接して配置することで製造における相対ばらつきが小さく抑えられて高精度な出力を得ることができた。
The constant voltage Vref is generated in the bias circuit 308 in FIG. 3 and supplied to the A
なお、本実施形態においても、黒レベル出力するためのOB画素が、例えばA像領域の先頭3bitに配置される。 Also in this embodiment, an OB pixel for outputting a black level is arranged, for example, at the top 3 bits of the A image area.
[実施形態3]
図4は、本発明を用いたTTL−SIR(Through The Lens―2次結像位相差検出)型オートフォーカスシステムを搭載した一眼レフカメラの光学系概略図を示す図である。
[Embodiment 3]
FIG. 4 is a diagram showing a schematic optical system of a single-lens reflex camera equipped with a TTL-SIR (Through The Lens—secondary imaging phase difference detection) type autofocus system using the present invention.
同図において、40は被写体像をフィルム上やイメージセンサ上に一時結像させるための撮影レンズ、41はファインダスクリーン42へ光を反射させるためのクイックリターンミラーであり、光を数10%透過するハーフミラーとなっている。43はAF系へ光を導くためのサブミラー、44は本発明のオートフォーカス用固体撮像装置、45はAFセンサ上に被写体像を再結像させるための二次結像レンズ(メガネレンズ)、46はAFセンサ44へ光を導く反射ミラー、47はフォーカルプレーンシャッタ、48はフィルム又はイメージセンサ、49は光線の主軸を示している。
In the figure,
本実施形態において、実施形態1又は実施形態2に記載のオートフォーカス用固体撮像装置を用いることで、従来以上のオートフォーカススピードを有する一眼レフカメラの実現が可能となった。 In the present embodiment, by using the autofocus solid-state imaging device described in the first or second embodiment, it is possible to realize a single-lens reflex camera having an autofocus speed higher than that in the past.
本実施形態はアナログカメラ、デジタルカメラを問わず、TTL−SIR型AFカメラであれば、本発明が適用できることは明らかである。 It is obvious that the present invention can be applied to any embodiment of the present invention as long as it is a TTL-SIR AF camera regardless of whether it is an analog camera or a digital camera.
101,102…撮像領域
103,104,105,106…水平駆動回路
107,108,109,110…垂直転送回路
111,112,113,114…垂直シフトレジスタ
115…バイアス回路
116…A像用出力回路
117…B像用出力回路
118…A像用出力端子
119…B像用出力端子
121…バイアス配線
122…スイッチ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 101,102 ... Imaging area 103,104,105,106 ... Horizontal drive circuit 107,108,109,110 ... Vertical transfer circuit 111,112,113,114 ...
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