JP2006284701A - Illuminator for microscope and fluorescence microscope apparatus - Google Patents
Illuminator for microscope and fluorescence microscope apparatus Download PDFInfo
- Publication number
- JP2006284701A JP2006284701A JP2005101748A JP2005101748A JP2006284701A JP 2006284701 A JP2006284701 A JP 2006284701A JP 2005101748 A JP2005101748 A JP 2005101748A JP 2005101748 A JP2005101748 A JP 2005101748A JP 2006284701 A JP2006284701 A JP 2006284701A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- microscope
- laser beam
- laser light
- lens
- wavelength
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Images
Landscapes
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Abstract
Description
この発明は、顕微鏡用照明装置および蛍光顕微鏡装置に関するものである。 The present invention relates to a microscope illumination apparatus and a fluorescence microscope apparatus.
従来、フェムト秒オーダーの超短パルスレーザ光を、フォトニックバンドギャップ材のような微細構造光学要素に入射させることによってスペクトル拡散させ、広い波長帯域を有するレーザ光を出射させるとともに、音響光学フィルタ(AOTF)やプリズム、あるいはグレーティングを用いて波長範囲を選択する照明装置が知られている(例えば、特許文献1参照。)。
しかしながら、特許文献1の照明装置においては、AOTF、プリズムあるいはグレーティングによりレーザ光の波長を選択しているため、選択されて出射されるレーザ光の空間的なビーム品質が良好ではないという不都合がある。すなわち、AOTF、プリズムあるいはグレーティングによって分光されるレーザ光には、波長選択素子の面精度等の影響によるビームノイズが多く含まれるため、そのまま顕微鏡装置に入射させたのでは、鮮明な蛍光画像を得ることができないという不都合がある。また、AOTFやグレーティングは、分光の際に複数の次数の光を発生させるため、その分、波長選択された出射光の光量が低下するという不都合もある。
However, in the illumination device of
本発明は上述した事情に鑑みてなされたものであって、簡易な構成で波長選択の効率を向上することができる顕微鏡用照明装置および空間的なビーム品質の高いレーザ光の照射により鮮明な蛍光画像を得ることができる蛍光顕微鏡装置を提供することを目的としている。 The present invention has been made in view of the above-described circumstances, and is capable of improving the efficiency of wavelength selection with a simple configuration and clear fluorescence by irradiation with laser light with high spatial beam quality. It aims at providing the fluorescence microscope apparatus which can obtain an image.
上記目的を達成するために、本発明は、以下の手段を提供する。
本発明は、超短パルスレーザ光を出射するレーザ光源と、該レーザ光源からの超短パルスレーザ光を顕微鏡本体に導く際に、超短パルスレーザ光のスペクトルを拡散させる光ファイバと、該光ファイバの出射端に配置され、出射されるスペクトル拡散されたレーザ光を集光させる集光レンズと、該集光レンズによる集光位置に配置される空間フィルタとを備え、前記集光レンズが、入射されるレーザ光を、波長毎に光軸方向の異なる位置に集光させる顕微鏡用照明装置を提供する。
In order to achieve the above object, the present invention provides the following means.
The present invention includes a laser light source that emits an ultrashort pulse laser beam, an optical fiber that diffuses the spectrum of the ultrashort pulse laser beam when the ultrashort pulse laser beam from the laser light source is guided to a microscope body, and the light A condensing lens that is disposed at the output end of the fiber and condenses the emitted spectrum-spread laser beam, and a spatial filter disposed at a condensing position by the condensing lens, and the condensing lens includes: Provided is an illumination device for a microscope that condenses incident laser light at different positions in the optical axis direction for each wavelength.
本発明によれば、光ファイバから出射される広い波長帯域のレーザ光を集光レンズに入射させることで、該レーザ光を波長毎に光軸方向に異なる位置に集光させることができる。そして、集光レンズによる集光位置に配置された空間フィルタを通過させられることにより、レーザ光の空間的なビームノイズが除去されてビーム品質の良好なレーザ光が出射されることになる。この場合に、空間フィルタによれば、レーザ光のエネルギの多くを遮断することなく通過させることができ、波長選択の効率を向上することができる。 According to the present invention, laser light having a wide wavelength band emitted from an optical fiber is incident on a condensing lens, so that the laser light can be condensed at different positions in the optical axis direction for each wavelength. Then, by passing through a spatial filter arranged at a condensing position by the condensing lens, spatial beam noise of the laser light is removed, and laser light with good beam quality is emitted. In this case, according to the spatial filter, much of the energy of the laser beam can be passed without being cut off, and the efficiency of wavelength selection can be improved.
上記発明においては、前記空間フィルタの厚さ寸法が、切り出すレーザ光の波長帯域の広さに応じて設定されていることとしてもよい。
このように構成することで、所望の波長帯域を有するレーザ光を選択して顕微鏡本体に入射させることができる。空間フィルタの厚さ寸法を厚くすることにより、顕微鏡本体に入射させるレーザ光の波長帯域幅をより狭くすることができる。これにより、空間的なビーム品質を向上できるのと同時に、スペクトル成分の裾野に配される余分な波長成分を除去して、空間的なビーム品質をさらに向上することができる。
In the said invention, it is good also as the thickness dimension of the said spatial filter being set according to the width of the wavelength range of the laser beam to cut out.
By comprising in this way, the laser beam which has a desired wavelength band can be selected and made to inject into a microscope main body. By increasing the thickness dimension of the spatial filter, it is possible to further narrow the wavelength bandwidth of the laser light incident on the microscope body. As a result, the spatial beam quality can be improved, and at the same time, the extra wavelength component arranged at the base of the spectrum component can be removed, and the spatial beam quality can be further improved.
また、上記発明においては、前記空間フィルタを光軸方向に移動させるフィルタ移動機構を備えることとしてもよい。
このように構成することでフィルタ移動機構の作動により空間フィルタの光軸方向位置を変化させ、選択するレーザ光の波長を変化させることができる。その結果、広い波長帯域のレーザ光の中から所望の波長あるいは波長帯域のレーザ光を切り出して顕微鏡本体に入射させることができる。
Moreover, in the said invention, it is good also as providing the filter moving mechanism which moves the said spatial filter to an optical axis direction.
With this configuration, the position of the spatial filter in the optical axis direction can be changed by the operation of the filter moving mechanism, and the wavelength of the laser beam to be selected can be changed. As a result, laser light having a desired wavelength or wavelength band can be cut out from laser light having a wide wavelength band and incident on the microscope body.
また、上記発明においては、前記空間フィルタを通過したレーザ光を略平行光にするコリメート光学系を備え、該コリメート光学系を構成するレンズ群内の少なくとも1つのレンズを光軸方向に移動させるレンズ移動機構を備えることとしてもよい。
このように構成することで、空間フィルタを通過して拡散するレーザ光がコリメート光学系によって略平行光に変換される。そして、レンズ移動機構の作動によりコリメート光学系を構成するレンズを光軸方向に移動させることで、略平行光となったレーザ光の光束径を設定することができる。すなわち、空間フィルタの移動によって選択された異なる波長のレーザ光を同一の光束径で顕微鏡本体に入射させることができる。
In the above invention, the lens further includes a collimating optical system that converts the laser light that has passed through the spatial filter into substantially parallel light, and moves at least one lens in a lens group constituting the collimating optical system in the optical axis direction. It is good also as providing a moving mechanism.
With this configuration, the laser light that diffuses through the spatial filter is converted into substantially parallel light by the collimating optical system. Then, by moving the lens constituting the collimating optical system in the optical axis direction by the operation of the lens moving mechanism, it is possible to set the beam diameter of the laser light that has become substantially parallel light. That is, laser beams having different wavelengths selected by moving the spatial filter can be incident on the microscope main body with the same beam diameter.
また、上記発明においては、前記フィルタ移動機構から出射されるレーザ光の波長に基づいて、前記フィルタ移動機構およびレンズ移動機構を制御する制御装置を備えることとしてもよい。
制御装置の作動により、出射するレーザ光の波長を設定するだけで、フィルタ移動機構およびレンズ移動機構が制御され、所望の波長のレーザ光が同一の光束径で出射されるように自動的に調節されることになる。
In the above invention, a control device may be provided that controls the filter moving mechanism and the lens moving mechanism based on the wavelength of laser light emitted from the filter moving mechanism.
By simply setting the wavelength of the laser beam to be emitted, the filter moving mechanism and the lens moving mechanism are controlled by the operation of the control device, and the laser beam with the desired wavelength is automatically adjusted to be emitted with the same beam diameter. Will be.
また、本発明は、上記いずれかの顕微鏡用照明装置と、該顕微鏡用照明装置から入力されたレーザ光を走査させるスキャナ、該スキャナにより走査されたレーザ光を標本に入射させるとともに、標本において発生した蛍光を集光する対物レンズ、および、該対物レンズにより集光された蛍光を検出する光検出器を有する顕微鏡本体とを備える蛍光顕微鏡装置を提供する。 In addition, the present invention provides any one of the above-described illumination devices for a microscope, a scanner that scans laser light input from the illumination device for microscopes, laser light scanned by the scanner is incident on the sample, and is generated in the sample Provided is a fluorescence microscope apparatus comprising an objective lens for condensing the fluorescent light and a microscope main body having a photodetector for detecting the fluorescent light collected by the objective lens.
本発明によれば、顕微鏡用照明装置から送られてくるレーザ光が、スキャナによって走査され、対物レンズによって標本に集光される。標本において発生した蛍光は、対物レンズおよびスキャナを介して戻る途中で分岐され、光検出器により検出される。これにより蛍光画像を得ることができる。この場合において、顕微鏡用照明装置からは広い波長帯域から高効率に波長選択されたビーム品質の良好なレーザ光が入射されるので、光検出器によって、明るく、かつ、分解能の高い蛍光画像を取得することができる。 According to the present invention, the laser beam sent from the microscope illumination device is scanned by the scanner and condensed on the specimen by the objective lens. The fluorescence generated in the specimen is branched on the way back through the objective lens and the scanner, and is detected by the photodetector. Thereby, a fluorescent image can be obtained. In this case, since a laser beam with a good beam quality selected from a wide wavelength band with high efficiency is incident from the microscope illumination device, a bright and high-resolution fluorescent image is acquired by the photodetector. can do.
本発明に係る顕微鏡用照明装置によれば、簡易な構成で波長選択の効率を向上することができるという効果を奏する。また、本発明に係る蛍光顕微鏡装置によれば、高効率に波長選択されたビーム品質の高いレーザ光を用いて明るく、かつ、分解能の高い蛍光画像を取得することができるという効果を奏する。 According to the microscope illumination device of the present invention, the wavelength selection efficiency can be improved with a simple configuration. In addition, according to the fluorescence microscope apparatus of the present invention, there is an effect that it is possible to acquire a bright and high-resolution fluorescent image using a laser beam with high beam quality that is wavelength-selected with high efficiency.
以下、本発明の第1の実施形態に係る顕微鏡用照明装置1および蛍光顕微鏡装置2について、図1を参照して説明する。
本実施形態に係る蛍光顕微鏡装置2は、顕微鏡用照明装置1と、顕微鏡本体3と、画像表示装置4とを備えている。
Hereinafter, a
The
本実施形態に係る顕微鏡用照明装置1は、図1に示されるように、フェムト秒オーダーの超短パルスレーザ光L1を出射するレーザ光源5と、該レーザ光源5から発せられた超短パルスレーザ光L1の光軸の位置および角度を調節するアライメント調整光学系6と、アライメント調整された超短パルスレーザ光L1を集光させるカップリング光学系7と、該カップリング光学系7による集光位置に一端を配置したフォトニックバンドギャップ材からなる光ファイバ8と、光ファイバ8から出射されるレーザ光L2を略平行光に変換する第1のコリメート光学系9と、略平行光にされたレーザ光L2を集光させる集光レンズ10と、該集光レンズ10による集光位置に配置された空間フィルタ11と、該空間フィルタ11を通過したレーザ光L3を略平行光に変換する第2のコリメート光学系12とを備えている。
レーザ光源5は、例えば、波長800nmの超短パルスレーザ光L1を出射するようになっている。
As shown in FIG. 1, a
For example, the
前記アライメント調整光学系6は、例えば、光軸に対して垂直な2軸の傾き角を調節できる2枚の反射ミラーおよびビーム位置検出光学系により構成されている、これにより、アライメント調整光学系6は、レーザ光源5から出射された超短パルスレーザ光L1の光束の中心位置を光軸に一致させるように調節できる。
The alignment adjustment
前記光ファイバ8は、例えば、フォトニッククリスタルファイバあるいはテーパファイバにより構成されている。これにより、光ファイバ8は、一端から入射される波長800nmの超短パルスレーザ光L1を伝播させる間にスペクトル拡散させて、略300〜1600nmの波長帯域を有する白色レーザ光L2を他端から出射させるようになっている。
The
前記集光レンズ10は、軸上色収差の大きいレンズであって、波長の異なるレーザ光を光軸方向に異なる位置に集光させるようになっている。
前記空間フィルタ11は、ピンホールである。空間フィルタ11を集光レンズ10に対して所定の距離だけ離して配置することにより、特定の波長のレーザ光L3のみを通過させ、他の波長のレーザ光を遮断することができるようになっている。
The
The
前記顕微鏡本体3は、筐体13内に、顕微鏡用照明装置1から出射されてきた所定波長の略平行光からなるレーザ光L3を2次元的に走査するスキャナ14と、走査されたレーザ光L3を集光して中間像を結像させる瞳投影レンズ15と、中間像を結像したレーザ光を集光する結像レンズ16と、結像レンズ16から発せられたレーザ光を集光して標本Aに再結像させる対物レンズ17と、標本Aにおいて発生し、対物レンズ17、結像レンズ16、瞳投影レンズ15およびスキャナ14を介して戻る蛍光Fを分岐するダイクロイックミラー18と、集光レンズ19と、分岐された蛍光を撮像する光検出器20とを備えている。
The microscope main body 3 includes a
スキャナ14は、例えば、互いに直交する2本の軸線回りに揺動させられる2枚のガルバノミラー(図示略)を近接配置してなる、いわゆる近接ガルバノミラーにより構成されている。
前記光検出器20は、例えば、光電子増倍管(PMT:Photo Multiplier Tube)である。
前記画像表示装置4は、光検出器20により検出された標本Aからの蛍光Fに基づいて構成された蛍光画像を表示するようになっている。
The
The
The image display device 4 is configured to display a fluorescence image configured based on the fluorescence F from the specimen A detected by the
このように構成された本実施形態に係る顕微鏡用照明装置1および蛍光顕微鏡装置2の作用について、以下に説明する。
レーザ光源5から出射された超短パルスレーザ光L1は、アライメント調整光学系6によってその光軸位置および角度を調節された後に、カップリング光学系7により集光されて光ファイバ8に入射させられる。
The operation of the
The ultrashort pulse laser beam L1 emitted from the
光ファイバ8に入射された超短パルスレーザ光L1は、フォトニックバンドギャップ材からなる光ファイバ8の非線形効果によってスペクトル拡散させられて、波長300〜1600nmの広い波長帯域を有する白色レーザ光L2として光ファイバ8の他端から出射される。そして、出射された白色レーザ光L2は第1のコリメート光学系9によって略平行光にされた後に集光レンズ10によって集光される。
The ultrashort pulse laser light L1 incident on the
集光レンズ10は、色収差の大きなレンズにより構成されているので、その集光位置はレーザ光L2の波長によって異なる。したがって、白色レーザ光L2は、集光レンズ10によって集光される際に波長ごとに分光され、波長の異なるレーザ光が光軸方向に異なる位置に集光させられる。
Since the
そして、本実施形態によれば、所定の波長のレーザ光L2の集光位置に空間フィルタ11が配置されているので、空間フィルタ11によってその波長のレーザ光L3のみの通過が許容され、他の波長のレーザ光は遮断される。また、空間フィルタ11は、レーザ光L3に含まれるビームノイズを遮断し、かつ、レーザエネルギの多くを通過させるので、高い効率で所定の波長のレーザ光L3を選択することができる。そして、選択された所定波長のレーザ光L3は第2のコリメート光学系12によって略平行光とされた状態で顕微鏡本体3に向けて出射される。
And according to this embodiment, since the
本実施形態に係る顕微鏡用照明装置1によれば、超短パルスレーザ光L1を伝播させる際にスペクトル拡散させる光ファイバ8により得られた白色レーザ光L2から、集光レンズ10と空間フィルタ11という極めて簡易な構成によって、所望の波長のレーザ光L3を選択的に切り出すことができる。この際に、複数の次数の光を発生させることなく切り出すので、所望の波長のレーザ光L3を効率よく最大限に切り出すことができる。また、空間フィルタ11により、レーザビームノイズを除去するので、出射されるレーザ光L3のビーム品質を向上することができる。
According to the
また、このようにして顕微鏡用照明装置1から出射された所定波長のレーザ光L3は、スキャナ14によって2次元的に走査された後に、瞳投影レンズ15、結像レンズ16および対物レンズ17を介して標本Aに集光される。レーザ光L3を照射された標本Aにおいては、蛍光物質が励起されることにより蛍光Fが発せられる。標本Aにおいて発生した蛍光Fは、対物レンズ17によって集められた後、結像レンズ16、瞳投影レンズ15およびスキャナ14を介して同一光路を戻る途中でダイクロイックミラー18によってレーザ光L3から分岐され、集光レンズ19により集光されて光検出器20により検出される。そして、光検出器20により検出された蛍光Fに基づいて蛍光画像が構成され画像表示装置4により表示される。
The laser light L3 having a predetermined wavelength emitted from the
本実施形態に係る蛍光顕微鏡装置2によれば、顕微鏡用照明装置1から顕微鏡本体3に入射されるレーザ光L3が、高効率に波長選択された特定波長のレーザ光L3であるため、標本Aに対し十分な光強度のレーザ光L3を照射させることができ、明るい蛍光画像を取得することができる。また、顕微鏡用照明装置1から顕微鏡本体3に入射されるレーザ光L3が、ビーム品質の良好なレーザ光L3であるため、取得される蛍光画像におけるノイズの発生を低減し、鮮明な蛍光画像を取得することができる。
According to the
なお、空間フィルタ11の厚さ寸法を、図2に示されるように広くすることにより、顕微鏡用照明装置1から出射されるレーザ光L3の波長帯域幅をさらに狭くすることができる。これにより、スペクトル成分の裾野に配置される余分な波長成分を除去することができ、顕微鏡本体3に導入するレーザ光L3のビーム品質をさらに向上することができる。
Note that the wavelength bandwidth of the laser beam L3 emitted from the
次に、本発明の第2の実施形態に係る顕微鏡用照明装置30および蛍光顕微鏡装置31について、図3を参照して以下に説明する。
本実施形態の説明において、上述した第1の実施形態に係る顕微鏡用照明装置1および蛍光顕微鏡装置2と構成を共通とする箇所には、同一符号を付して説明を省略する。
Next, a
In the description of the present embodiment, portions having the same configuration as those of the
本実施形態に係る顕微鏡用照明装置30は、図3に示されるように、空間フィルタ11を光軸方向に移動させるフィルタ移動機構32と、第2のコリメート光学系12を構成するレンズ12a,12bを光軸方向に移動させるレンズ移動機構33,34と、これらの移動機構32〜34を制御する制御装置35とを備えている。
また、顕微鏡本体3には、図示しない波長選択スイッチが設けられており、顕微鏡用照明装置30に対して、出射すべきレーザ光L3の波長を指示する波長指令信号S1を出力するようになっている。
As shown in FIG. 3, the
Further, the microscope body 3 is provided with a wavelength selection switch (not shown), and outputs a wavelength command signal S1 indicating the wavelength of the laser light L3 to be emitted to the
前記制御装置35は、顕微鏡本体3から入力される波長指令信号S1に基づいて、フィルタ移動機構32およびレンズ移動機構33,34を駆動するようになっている。制御装置35には、図示しないメモリ装置が備えられ、顕微鏡本体3に向けて出射すべき波長と、空間フィルタ11およびレンズ12a,12bの位置とを対応づけて記憶している。
The
メモリ装置に記憶されている空間フィルタ11の位置は、指示された波長のレーザ光L3を通過させる位置に設定されている。また、レンズ12a,12bの位置は、指示された波長に基づいて変化する空間フィルタ11の位置に応じてその空間フィルタ11を通過させられるレーザ光L3の開口数が変化しても、顕微鏡本体3に向けて出射されるレーザ光L3が、常に同等の光束径を有する略平行光となる位置に設定されている。
The position of the
制御装置35は、顕微鏡本体3から入力される波長指令信号S1に基づいて、当該波長に対応する空間フィルタ11およびレンズ12a,12bの位置をメモリ装置内から検索して、空間フィルタ11およびレンズ12a,12bがそれぞれの位置を達成するようにフィルタ移動機構32およびレンズ移動機構33,34を作動させるようになっている。
Based on the wavelength command signal S1 input from the microscope body 3, the
このように構成された本実施形態に係る顕微鏡用照明装置30および蛍光顕微鏡装置31の作用について、以下に説明する。
本実施形態に係る蛍光顕微鏡装置31を用いて標本Aを観察するには、顕微鏡本体3に設けられた図示しない波長選択スイッチを操作して、顕微鏡用照明装置30の制御装置35に対して波長指令信号S1を出力する。
The operation of the
In order to observe the specimen A using the
波長指令信号S1が入力されると、制御装置35は、指示された波長に基づいて、図示しないメモリ装置を検索し、その波長に対応する空間フィルタ11の位置およびレンズ12a,12bの位置が達成されるように、フィルタ移動機構32およびレンズ移動機構33,34を駆動する。
これにより、光ファイバ8から出射される白色レーザ光L2の内、指示された波長のレーザ光L3が通過させられる位置に空間フィルタ11が移動させられる。また、空間フィルタ11の位置が変化すると通過するレーザ光L3の開口数が変化するが、レンズ移動機構33,34の作動によってレンズ12a,12bを移動させることにより、第2のコリメート光学系12から出射されるレーザ光L3の光束径が一定に維持される。
When the wavelength command signal S1 is input, the
As a result, the
すなわち、本実施形態に係る顕微鏡用照明装置30によれば、広い波長帯域を有する白色レーザ光L2の中から、指定された任意の波長のレーザ光L3を効率的に選択し、かつ、高いビーム品質のレーザ光L3を出射させることができる。さらに、本実施形態に係る顕微鏡用照明装置30によれば、第2のコリメート光学系12から出射されるレーザ光L3の光束径およびビームダイバージェンスを常に同等となるように補正することができる。
That is, according to the
また、本実施形態に係る蛍光顕微鏡装置31によれば、常に同等の光束径およびビームダイバージェンスを有するレーザ光L3を顕微鏡本体3に入射させることができ、その結果、標本Aにおけるレーザ光L3の集光位置が光軸方向に変動することを防止できる。
したがって、広い波長帯域の中から選択した任意の波長のレーザ光L3を用いて、標本Aの深さ方向の同一位置における蛍光画像を取得することができる。その結果、レーザ光L3の波長毎に観察位置が変動してしまうことを防止して、分解能を向上することができるという利点がある。
Further, according to the
Therefore, a fluorescence image at the same position in the depth direction of the specimen A can be acquired using the laser light L3 having an arbitrary wavelength selected from a wide wavelength band. As a result, there is an advantage that the resolution can be improved by preventing the observation position from changing for each wavelength of the laser light L3.
A 標本
F 蛍光
L1 超短パルスレーザ光
L3 レーザ光
1,30 顕微鏡用照明装置
3 顕微鏡本体
5 レーザ光源
8 光ファイバ
10 集光レンズ
11 空間フィルタ
12 コリメート光学系
12a,12b レンズ
14 スキャナ
17 対物レンズ
20 光検出器
31 蛍光顕微鏡装置
32 フィルタ移動機構
33,34 レンズ移動機構
35 制御装置
A Specimen F Fluorescence L1 Ultrashort pulse laser light
Claims (6)
該レーザ光源からの超短パルスレーザ光を顕微鏡本体に導く際に、超短パルスレーザ光のスペクトルを拡散させる光ファイバと、
該光ファイバの出射端に配置され、出射されるスペクトル拡散されたレーザ光を集光させる集光レンズと、
該集光レンズによる集光位置に配置される空間フィルタとを備え、
前記集光レンズが、入射されるレーザ光を、波長毎に光軸方向の異なる位置に集光させる顕微鏡用照明装置。 A laser light source that emits ultrashort pulse laser light;
An optical fiber for diffusing the spectrum of the ultrashort pulse laser beam when guiding the ultrashort pulse laser beam from the laser light source to the microscope body;
A condensing lens that is arranged at the exit end of the optical fiber and condenses the emitted spectrally spread laser beam;
A spatial filter disposed at a condensing position by the condensing lens,
The microscope illumination apparatus, wherein the condenser lens condenses incident laser light at different positions in the optical axis direction for each wavelength.
該コリメート光学系を構成するレンズ群内の少なくとも1つのレンズを光軸方向に移動させるレンズ移動機構を備える請求項3に記載の顕微鏡用照明装置。 A collimating optical system that makes the laser light that has passed through the spatial filter substantially parallel light;
The illumination apparatus for a microscope according to claim 3, further comprising a lens moving mechanism that moves at least one lens in the lens group constituting the collimating optical system in the optical axis direction.
該顕微鏡用照明装置から入力されたレーザ光を走査させるスキャナ、該スキャナにより走査されたレーザ光を標本に入射させるとともに、標本において発生した蛍光を集光する対物レンズ、および、該対物レンズにより集光された蛍光を検出する光検出器を有する顕微鏡本体とを備える蛍光顕微鏡装置。 The microscope illumination device according to any one of claims 1 to 5,
A scanner that scans the laser beam input from the microscope illumination device, an objective lens that causes the laser beam scanned by the scanner to enter the sample and collects fluorescence generated in the sample, and a beam collected by the objective lens A fluorescence microscope apparatus comprising a microscope main body having a light detector for detecting emitted fluorescence.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005101748A JP2006284701A (en) | 2005-03-31 | 2005-03-31 | Illuminator for microscope and fluorescence microscope apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005101748A JP2006284701A (en) | 2005-03-31 | 2005-03-31 | Illuminator for microscope and fluorescence microscope apparatus |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006284701A true JP2006284701A (en) | 2006-10-19 |
Family
ID=37406735
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005101748A Withdrawn JP2006284701A (en) | 2005-03-31 | 2005-03-31 | Illuminator for microscope and fluorescence microscope apparatus |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2006284701A (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011145628A (en) * | 2010-01-18 | 2011-07-28 | Synergy Optosystems Co Ltd | Inspection device for optical waveguide |
CN104533357A (en) * | 2014-11-04 | 2015-04-22 | 中国石油天然气股份有限公司 | Observation device and observation method of microscopic oil displacement visualization model |
WO2021106299A1 (en) * | 2019-11-26 | 2021-06-03 | 浜松ホトニクス株式会社 | Optical unit and film thickness measurement device |
-
2005
- 2005-03-31 JP JP2005101748A patent/JP2006284701A/en not_active Withdrawn
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011145628A (en) * | 2010-01-18 | 2011-07-28 | Synergy Optosystems Co Ltd | Inspection device for optical waveguide |
CN104533357A (en) * | 2014-11-04 | 2015-04-22 | 中国石油天然气股份有限公司 | Observation device and observation method of microscopic oil displacement visualization model |
WO2021106299A1 (en) * | 2019-11-26 | 2021-06-03 | 浜松ホトニクス株式会社 | Optical unit and film thickness measurement device |
CN114787580A (en) * | 2019-11-26 | 2022-07-22 | 浜松光子学株式会社 | Optical unit and film thickness measuring apparatus |
US11988497B2 (en) | 2019-11-26 | 2024-05-21 | Hamamatsu Photonics K.K. | Optical unit and film thickness measurement device |
JP7495429B2 (en) | 2019-11-26 | 2024-06-04 | 浜松ホトニクス株式会社 | Optical unit and film thickness measuring device |
CN114787580B (en) * | 2019-11-26 | 2024-06-04 | 浜松光子学株式会社 | Optical unit and film thickness measuring device |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4869734B2 (en) | Multi-photon excitation scanning laser microscope | |
US7782529B2 (en) | Scanning microscope and method for examining a sample by using scanning microscopy | |
JP4315794B2 (en) | Confocal microscope | |
US20100294949A1 (en) | Scanning microscope device | |
US7480046B2 (en) | Scanning microscope with evanescent wave illumination | |
JP2007504499A (en) | Light source having a plurality of microstructured optical elements | |
JP2011118264A (en) | Microscope device | |
JP2006171024A (en) | Multi-point fluorescence spectrophotometry microscope and multi-point fluorescence spectrophotometry method | |
US8294984B2 (en) | Microscope | |
JP4818634B2 (en) | Scanning fluorescence observation system | |
US20050024721A1 (en) | Scanning microscope | |
JP4601266B2 (en) | Laser microscope | |
JP5495740B2 (en) | Confocal scanning microscope | |
JP2006119347A (en) | Laser scanning microscope | |
JP2005140981A (en) | Microscope | |
JP2010091694A (en) | Scanning microscope | |
JP2006284701A (en) | Illuminator for microscope and fluorescence microscope apparatus | |
JP4583723B2 (en) | Method for discriminating fluorescent reagent dyed sample using laser scanning microscope | |
JP4981460B2 (en) | Laser microscope | |
JP4878751B2 (en) | Microscope illumination device and fluorescence microscope device | |
JP2016537674A (en) | Microscope for evanescent illumination and point raster scan illumination | |
JP2010128473A (en) | Dispersion element and optical equipment with dispersion element | |
JP4994940B2 (en) | Laser scanning microscope | |
JP2006003747A (en) | Optical scanning type observation apparatus | |
JP2010286799A (en) | Scanning microscope |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20080603 |