JP2006268651A - Emulation apparatus - Google Patents
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Abstract
Description
本発明はエミュレーション装置に関し、特にロジック回路が複数のメモリに同時にアクセスを行うシステムのエミュレーション装置に関する。 The present invention relates to an emulation apparatus, and more particularly to an emulation apparatus for a system in which a logic circuit accesses a plurality of memories simultaneously.
システムLSI(Large Scale Integration)の開発において、システムLSIの試作後に、不具合が発見された場合、その修正には、LSI露光マスクの修正等高額な費用と、再度の試作等に長期の時間が必要である。特にその修正に要する費用は、LSIの高集積化が進むにつれて製造工程で使用する技術も高度なものとなるので、益々高額の費用が発生するようになってきている。 In the development of system LSI (Large Scale Integration), if a defect is discovered after the trial production of the system LSI, it requires expensive expenses such as correction of the LSI exposure mask, and a long time is required for the trial production again. It is. In particular, the cost required for the correction is becoming higher as the technology used in the manufacturing process becomes more advanced as the integration of LSIs increases.
そこで、システムLSIの不具合を未然に防ぐため、システムLSIの試作前に、最終製品となるシステムLSIに近い形での実動作検証が行われている。これによって、システムLSIの設計を完成度の高いものとすること可能である。そこで、最終製品となるシステムLSIの試作に先立って、FPGA(Field Programmable Gate Array)等の電気的に再設計可能なLSIを用いたプロトタイプボードによってシステムLSIの動作をエミュレーション(擬似動作)し、検証が行われる。 Therefore, in order to prevent problems of the system LSI, actual operation verification in a form close to the system LSI that is the final product is performed before the trial production of the system LSI. As a result, the design of the system LSI can be made highly complete. Therefore, prior to prototyping the system LSI, which is the final product, system LSI operations are emulated (simulated) using a prototype board that uses an electrically redesignable LSI such as an FPGA (Field Programmable Gate Array). Is done.
FPGAを用いてエミュレーションを行うFPGAボード300の模式図を図3に示す。図3に示すFPGAボード300では、1つのFPGA301とそれに接続される1つのメモリ302を有している。このFPGA301は、外部のプログラムによって内部に様々な回路を実現できる。
A schematic diagram of an
エミュレーションを行う場合、FPGA300に機能回路である複数のユーザー回路を実現し、それぞれのユーザー回路がメモリを有するシステムとなる場合がある。3つのユーザー回路とそのそれぞれに接続されるメモリを有するシステム400のブロック図を図4に示す。図4に示すブロック図は、ユーザー回路401、402、403を有しており、ユーザー回路401とユーザー回路402とが接続され、ユーザー回路402とユーザー回路403とが接続されている。また、それぞれのユーザー回路は別々のメモリ404、405、406に接続されている。
When emulation is performed, a plurality of user circuits which are functional circuits may be realized in the
システム400のようなシステムをFPGAボード300上でエミュレーションを行う場合、特許文献1で開示されている時分割多重アクセスを応用し、1つのオンボードメモリに対して時分割多重アクセスを行うことが考えられる。
When emulating a system such as the
従来の一般的な時分割多重アクセス回路を有するFPGA501及びメモリ502のブロック図を図5に示す。図5に示すFPGA501は、ユーザー回路1から3、時分割多重アクセス制御回路504を有している。また、メモリ502は、ユーザー回路1から3に対応して分割されたメモリ1から3を有している。ユーザー回路1から3には外部より低速クロックが与えられており、時分割多重アクセス制御回路504には外部より高速クロックが与えられている。時分割多重アクセス制御回路504は、各ユーザー回路からのアドレス1から3を受け取り、実際のメモリ上のアドレスに変換し、各ユーザー回路とメモリの通信を行う。
FIG. 5 shows a block diagram of an
図5に示すFPGA501及びメモリ502の動作タイミングチャートを図6に示す。図6に示す、タイミングAの区間は、3つのユーザー回路からそれぞれメモリアクセス(ユーザーアクセス1から3)があった場合である。この場合、時分割多重アクセス制御回路504はそれぞれのアクセスを順次行う。これによって、3つのユーザー回路はそれぞれアクセスを完了する。また、タイミングBは、3つのユーザー回路のうちユーザー回路2のみがメモリアクセスを行う場合である。この場合、時分割多重アクセス制御回路504はユーザー回路2のみのデータアクセスを行う。
FIG. 6 shows an operation timing chart of the
従来の一般的な時分割多重アクセス制御回路では、ユーザー回路の1サイクルのクロック内で、複数のユーザー回路からのすべてのメモリアクセスを完了する必要がある。すべてのユーザー回路のメモリアクセスが完了する前に、ユーザー回路に次のサイクルのクロックが入力された場合、メモリのデータにアクセスできなかったユーザー回路が誤動作を起こす問題がある。 In the conventional general time division multiple access control circuit, it is necessary to complete all memory accesses from a plurality of user circuits within one cycle of the clock of the user circuit. If the clock of the next cycle is input to the user circuit before the memory access of all the user circuits is completed, there is a problem that the user circuit that cannot access the data in the memory malfunctions.
従来の一般的な時分割多重アクセス回路は、ユーザー回路の1サイクルのクロック内の時間をユーザー回路数で分割して使用している。このため、ユーザー回路のクロックの1サイクルの長さは、データアクセス時間とユーザー回路数との積で求まる長さよりも長くなければならない。 The conventional general time division multiple access circuit uses the time within one cycle of the user circuit divided by the number of user circuits. For this reason, the length of one cycle of the clock of the user circuit must be longer than the length obtained by the product of the data access time and the number of user circuits.
つまり、ユーザー回路のクロックの速度は、データアクセス時間とユーザー回路数とから求まる値より速くすることができない。このことから、ユーザー回路がメモリアクセスを行っていない時間であっても、ユーザー回路はメモリアクセスを考慮した遅いクロックで動作させなければならない。よって、ユーザー回路を高速で動作させることが困難である問題があった。また、システムLSIの大規模化が進むと、FPGAで実現する回路規模も大きくなり、検証する機能が増える。また、近年ではエミュレーション装置を用いて、早期のソフトウェア開発を行うことも行われている。この場合に、FPGAの動作速度が遅いと、検証時間やソフトウェア開発期間が膨大になる問題がある。この問題を解決するために、FPGA内部のユーザー回路数にあわせて、メモリを増設することが考えられるが、この場合、FPGAボードを再設計する時間とコストが増大する問題がある。
従来のエミュレーション装置は、複数のユーザー回路に対して、それよりも少ない数のメモリである場合、高速なエミュレーションが困難であった。 The conventional emulation apparatus has difficulty in high-speed emulation when the number of memories is smaller than that for a plurality of user circuits.
本発明にかかるエミュレーション装置は、評価基板上に配置される電気的に再設計可能な半導体装置の内部に配置される複数の機能回路と、評価基板上に配置され、前記複数の機能回路から同時アクセスされることのあるメモリと、前記複数の機能回路の少なくとも2つが前記メモリに対して同時アクセスした場合はアクセスを時分割多重制御し、該複数の機能回路の少なくとも1つが前記メモリに対してアクセスをしている場合はアクティブ状態となるポーズ信号を出力するアクセス制御回路と、前記ポーズ信号がアクティブ状態の間は前記複数の機能回路へのクロック供給を停止するクロック制御回路とを有するものである。 An emulation apparatus according to the present invention includes a plurality of functional circuits disposed inside an electrically redesignable semiconductor device disposed on an evaluation board, and a plurality of functional circuits disposed on the evaluation board, and simultaneously from the plurality of functional circuits. When at least two of the memory to be accessed and the plurality of functional circuits simultaneously access the memory, the access is time-division multiplexed, and at least one of the plurality of functional circuits controls the memory. An access control circuit that outputs a pause signal that is in an active state when accessed; and a clock control circuit that stops clock supply to the plurality of functional circuits while the pause signal is in an active state. is there.
本発明によれば、メモリに対して時分割多重アクセスを行う複数の機能回路を有するエミュレーション装置であっても、アクセス制御回路及びクロック制御回路を有することとで、機能回路がメモリアクセスを行っている間は機能回路へのクロックの供給を停止させ、メモリアクセスを行っていない間は機能回路へ高速なクロックを供給することが可能である。これによって、メモリアクセスを行っていない間は機能回路を高速に動作させることが可能になるため、エミュレーション検証の時間とコストを削減可能である。 According to the present invention, even in an emulation device having a plurality of functional circuits that perform time division multiple access to the memory, the functional circuit performs memory access by having the access control circuit and the clock control circuit. It is possible to stop the supply of the clock to the functional circuit while it is on, and to supply a high-speed clock to the functional circuit while the memory is not being accessed. As a result, the functional circuit can be operated at high speed while the memory is not being accessed, so that the time and cost of emulation verification can be reduced.
本発明のエミュレーション装置によれば、複数のユーザー回路に対して、それよりも少ない数のメモリであっても、高速なエミュレーションが可能になる。 According to the emulation apparatus of the present invention, high-speed emulation is possible for a plurality of user circuits even with a smaller number of memories.
実施の形態1
実施の形態1にかかるエミュレーション装置100を図1に示す。エミュレーション装置100について図1を参照して詳細に説明する。エミュレーション装置100はFPGA101とメモリ102を有している。
FIG. 1 shows an
FPGA101は内部にエミュレーションする機能を実現したユーザー回路103、ユーザー回路103のメモリアクセスを時分割多重制御するアクセス制御回路104、FPGA101に入力されるオンボードクロックを制御し、ユーザー回路103へのユーザークロック供給を制御するクロック制御回路105を有している。
The
ユーザー回路103は、エミュレーションする機能回路の単位であるユーザー回路1から3を有している。ユーザー回路1から3は、それぞれ第1のアドレス信号であるアドレス1から3、データの書き込みを指定する信号Wen1から3、データの読み込みを指定する信号Ren1から3、送受信データとなるデータ1から3を入力又は出力する。ユーザー回路の入出力信号は、入力配線と出力配線とが分離しているセパレートバスであっても、入力配線と出力配線とが一体となっている入出力バスでもよい。
The
アクセス制御回路104は、アクセス情報解析部106とセレクタ107とを有している。アクセス情報解析部106は、アドレス1から3をメモリ上の実際アドレスを示す第2のアドレス信号であるConvertedアドレスに変換して出力する。また、アクセス情報解析部106は、入力されるアドレス1から3に基づいて、セレクタ107が接続されるユーザー回路1から3のいずれか1つを選択するためのセレクト信号SELを出力する。セレクタ107は、このセレクト信号SELに基づいて選択された1つユーザー回路とメモリ102との信号の送受信を可能にする。
The
さらに、アクセス情報解析部106は、アドレス1から3に基づいてポーズ信号と、メモリクロックを出力する。ポーズ信号は、クロック制御回路105が出力するユーザークロックを停止させる信号である。ポーズ信号は、アクティブ状態を示すHighレベル(例えば、電源電圧)の場合にユーザークロックを停止させ、ディスアクティブ状態を示すLowレベル(例えば、接地電圧)の場合はユーザークロックを停止させない。メモリクロックは、ユーザー回路がメモリアクセスを行っている時はクロックを出力し、メモリアクセスを行っていない時には停止しているクロックである。
Further, the access
また、アクセス情報解析部106は、外部からのオンボードクロックに基づいて動作している。さらに、クロック制御回路から出力されるユーザークロックをモニタしている。
The access
クロック制御回路105は、クロックカウンタ108と判定器109を有している。クロックカウンタ108は外部より入力されるオンボードクロックの立ち上がりエッジの回数をカウントし、そのカウント値を出力端子Qより出力する。また、クロックカウンタ108は、アクセス制御回路104からインバータ110を介して反転したポーズ信号がenable端子に入力される。クロックカウンタ108は、enable端子にHighレベルの信号が入力される時はオンボードクロックのカウントを行い、Lowレベルの信号が入力される時はオンボードクロックのカウントを停止する。
The
判定器109は、判定条件によってクロックカウンタの分周比を決定し、ユーザークロックを生成する。実施の形態1は、例えば、4分周の判定条件となっている。判定条件Q[1]==1'b1は、クロックカウンタ108の出力Qの2ビット目が"1(High)"である場合に判定器109は"1"を出力し、2ビット目が"0(Low)"である場合に判定器109は"0"を出力する条件である。つまり、クロックカウンタ108の出力が2ビットのビットサイズであって、十の位を2ビット、一の位を1ビットとした場合、クロックカウンタ108の出力は"00"、"01"、"10"、"11"と進む。このことから、2回のオンボードクロックの立ち上がり毎に判定器109の出力が"1"と"0"を繰り返し、4分周となることが分かる。この分周比は、1/2分周、2分周、8分周など任意に設定可能である。
The
メモリ102は、メモリが必要となるユーザー回路の数と同じだけ分割された仮想メモリ空間を有する。例えば、ユーザー回路1から3にそれぞれ対応したメモリ1から3を有している。
The
次に、実施の形態1にかかるエミュレーション装置の動作のタイミングチャートを図2に示す。図2を参照して実施の形態1にかかるエミュレーション装置の動作について説明する。 Next, FIG. 2 shows a timing chart of the operation of the emulation apparatus according to the first embodiment. The operation of the emulation apparatus according to the first embodiment will be described with reference to FIG.
まず、タイミングT1でユーザー回路1から3がそれぞれメモリに対してアクセス1から3を行う。この場合、アクセス制御回路104はタイミングT1からT2でアクセス1に基づいてユーザー回路1とメモリ1とのデータの送受信を行い、タイミングT2からT3でアクセス2に基づいてユーザー回路2とメモリ2とのデータの送受信を行い、タイミングT3からT4でアクセス3に基づいてユーザー回路3とメモリ3とのデータの送受信を行う。つまり、アクセス制御回路104タイミングT1からT4で各アクセスを時分割多重して行う。
First, at timing T1, the
また、アクセス制御回路104は、タイミングT1で各ユーザー回路からのアクセス信号に基づいてメモリクロックを生成する。このメモリクロックに基づいてメモリは動作する。さらに、アクセス制御回路104は、アクセス信号に基づいてポーズ信号を生成する。このポーズ信号は、インバータ110によって反転した信号となり、クロック制御回路105内部のクロックカウンタ108のenable端子に入力される。クロックカウンタ108は、enable端子にはLowレベルの信号が入力されることとなるため、オンボードクロックのカウント動作を停止する。これによって、クロックカウンタ108の出力は"10"のまま保持される。クロックカウンタ108の出力Qが"01"のままであるため、判定器109が出力するユーザークロックはHighレベルを保持したままになる。ユーザークロックがHighレベルで保持されている間、各ユーザー回路はデータ処理動作を停止する。
Further, the
タイミングT4ですべてのユーザー回路からのアクセスを完了すると、アクセス制御回路104は、ポーズ信号をLowレベルとする。ポーズ信号に応じて、クロックカウンタ108のenable端子はHighレベルとなるため、オンボードクロックのカウントを再開する。よって、クロック制御回路105はユーザークロックを出力する。ユーザークロックに基づいて各ユーザー回路はデータ処理動作を行う。ユーザー回路1から3のいずれもがメモリへのアクセスを行わない場合、アクセス制御回路104はメモリクロックを停止する。
When access from all user circuits is completed at timing T4, the
タイミングT5でユーザー回路2からメモリ102に対するアクセス2があり、ユーザー回路1及び3からはメモリ102に対するアクセスがなかった場合、アクセス制御回路104はアクセス2に基づいて、ユーザー回路2とメモリ2とのデータの送受信を行う。この場合も、ポーズ信号がHighレベルになり、クロックカウンタ108のカウント動作を停止する。よって、ユーザー回路2がアクセス2を完了するまで各ユーザー回路はデータ処理を停止する。
When there is an access 2 to the
実施の形態1のエミュレーション装置100によれば、ユーザー回路1から3の少なくともいずれか1つがメモリ102とデータを送受信している場合、アクセス制御回路104がポーズ信号をHighレベルにし、クロック制御回路105のユーザークロックを停止させる。これにより、ユーザークロックの速度を上げても、各ユーザー回路がメモリ102へのアクセス中にユーザー回路は動作しない。よって、メモリアクセス不良を起こすことなく、ユーザー回路を高速動作させることが可能である。複雑で大規模なユーザー回路を膨大な検証パターンによって検証する場合、ユーザー回路を高速動作させることで、従来のエミュレーション装置に比べ検証時間を短縮することが可能である。また、ソフトウェア開発にエミュレーション装置を用いる場合であっても、ユーザー回路を高速に動作させることができるため、ソフトウェアの開発期間を短縮することが可能である。
According to the
また、実施の形態1にかかるエミュレーション装置100は、各ユーザー回路からメモリ102に対して時分割多重アクセスを行う。このことから、例えば、高速動作が可能な多様なユーザー回路を備えたエミュレーション検証基板を、1個のFPGAと1個のメモリとで実現可能である。つまり、所定のエミュレーション検証基板で様々なユーザー回路を検証可能であれば、新規にエミュレーション検証基板を設計する時間とコストとを削減可能である。
Further, the
本発明は上記実施の形態に限られたものではなく、適宜変更が可能である。例えば、ユーザー回路は1つでも複数でもよく、個数は限られたものではない。また、メモリは複数でもよく、ユーザー回路から時分割多重アクセスされればよい。さらに、アクセス制御回路104とクロック制御回路105との接続はポーズ信号によって、ユーザークロックを停止できればよく、その接続の論理及び接続方法は上記実施の形態に限られたものではない。
The present invention is not limited to the above embodiment, and can be modified as appropriate. For example, there may be one or more user circuits, and the number is not limited. Also, a plurality of memories may be used as long as time division multiple access is performed from the user circuit. Further, the connection between the
また、上記実施の形態では電気的に再設計可能な装置としてFPGAを用いたが、これは、電気的に再設計可能な装置であればよい。例えば、CPLD(Complex Programmable Logic Device)などでも実現可能である。また、ユーザー回路から時分割多重アクセスされるメモリは、メモリに限らずユーザー回路から時分割多重アクセスされる装置であればよい。 In the above embodiment, an FPGA is used as an electrically redesignable device. However, this may be any device that can be electrically redesigned. For example, it can be realized by a CPLD (Complex Programmable Logic Device). Further, the memory that is time-division multiple accessed from the user circuit is not limited to the memory, and may be any device that is time-division multiple access from the user circuit.
101 FPGA(Field Programmable Gate Array)
102 メモリ
103 ユーザー回路
104 アクセス制御回路
105 クロック制御回路
106 アクセス情報解析部
107 セレクタ
108 クロックカウンタ
109 判定器
109 判定器
110 インバータ
301 FPGA
302 メモリ
401 ユーザー回路
402 ユーザー回路
403 ユーザー回路
404 メモリ
501 FPGA
502 メモリ
504 時分割多重アクセス制御回路
101 FPGA (Field Programmable Gate Array)
102
302
502
Claims (7)
評価基板上に配置され、前記複数の機能回路から同時アクセスされることのあるメモリと、
前記複数の機能回路の少なくとも2つが前記メモリに対して同時アクセスした場合はアクセスを時分割多重制御し、該複数の機能回路の少なくとも1つが前記メモリに対してアクセスをしている場合はアクティブ状態となるポーズ信号を出力するアクセス制御回路と、
前記ポーズ信号がアクティブ状態の間は前記複数の機能回路へのクロック供給を停止するクロック制御回路とを有するエミュレーション装置。 A plurality of functional circuits disposed inside an electrically redesignable semiconductor device disposed on an evaluation board;
A memory that is disposed on the evaluation board and may be accessed simultaneously from the plurality of functional circuits;
When at least two of the plurality of functional circuits access the memory at the same time, the access is time-division multiplexed, and when at least one of the plurality of functional circuits is accessing the memory, the active state An access control circuit that outputs a pause signal,
An emulation apparatus comprising: a clock control circuit that stops clock supply to the plurality of functional circuits while the pause signal is in an active state.
前記複数の機能回路から同時アクセスされることのあるメモリと、
前記複数の機能回路の少なくとも2つが前記メモリに対して同時アクセスした場合にはアクセスを時分割多重制御し、該複数の機能回路の少なくとも1つが前記メモリに対してアクセスをしている場合はアクティブ状態となるポーズ信号を出力するアクセス制御回路と、
前記ポーズ信号がアクティブ状態の間は前記複数の機能回路へのクロック供給を停止するクロック制御回路とを有するエミュレーション装置。
Multiple functional circuits;
A memory that may be accessed simultaneously from the plurality of functional circuits;
When at least two of the plurality of functional circuits access the memory at the same time, the access is time-division multiplexed, and when at least one of the plurality of functional circuits accesses the memory, it is active. An access control circuit that outputs a pause signal that becomes a state;
An emulation apparatus comprising: a clock control circuit that stops clock supply to the plurality of functional circuits while the pause signal is in an active state.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2005088386A JP2006268651A (en) | 2005-03-25 | 2005-03-25 | Emulation apparatus |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publications (1)
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Family
ID=37204521
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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