JP2006226987A - Photoelectric encoder and scale therefor - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To accurately and inexpensively detect the absolute position with reduced electric power consumption and high resolution, using one-track scale, without using two tracks. <P>SOLUTION: In this photoelectric encoder for acquiring an image of a bit pattern on the scale 10 by a detector 20 for detecting relative displacement between the scale and the detector, an ABS pattern on the scale 10 is expressed by a modulated pseudo-random number, and the accurate absolute position is detected by combining with an interpolation using an image correlation. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、スケール上のビットパターンの画像を検出器で取得して、スケールと検出器の相対変位を検出するようにされた光電式エンコーダ、及び、そのスケールに係り、特に、マイクロメータやインジケータ等のバッテリ駆動の小型変位測定機、更にリニアスケールに用いるのに好適な、光電式エンコーダ、及び、そのスケールに関する。   The present invention relates to a photoelectric encoder that acquires an image of a bit pattern on a scale with a detector and detects a relative displacement between the scale and the detector, and to the scale, and more particularly, to a micrometer and an indicator. The present invention relates to a small-sized displacement measuring machine driven by a battery such as a photoelectric encoder suitable for use in a linear scale, and the scale.

特許文献1〜4に記載されている如く、図1(特許文献4の例)に示すように、絶対位置を得ようとするバイナリパターンや、M系列等の擬似乱数列を表現したABSコード608を有するトラックをスケール607上に配置して、透過又は反射により得られる光信号を検出器601で検出し、その2値化された値から絶対位置を復号する光電式絶対位置検出(ABS)エンコーダが知られている。図において、600は検出ヘッド、601a、601bは、それぞれ、X方向終端又は前端のABSコード検出器、602はマーカ検出器、603は、シフトレジスタ604、変換回路605、606、シフトレジスタ制御信号発生回路610を備えた信号処理回路である。   As described in Patent Documents 1 to 4, as shown in FIG. 1 (example of Patent Document 4), an ABS code 608 expressing a binary pattern for obtaining an absolute position, or a pseudo-random number sequence such as an M-sequence. A photoelectric absolute position detection (ABS) encoder that arranges a track having a position on a scale 607, detects an optical signal obtained by transmission or reflection by a detector 601, and decodes an absolute position from the binarized value It has been known. In the figure, 600 is a detection head, 601a and 601b are ABS code detectors at the end or front end in the X direction, 602 is a marker detector, 603 is a shift register 604, conversion circuits 605 and 606, and shift register control signal generation. A signal processing circuit including a circuit 610.

しかしながら、この装置では、初期位置をスケール607又は検出ヘッド600の移動を行なわずに検出するためには、特許文献2のように、必要ビット長分の長い検出器が必要になる。   However, in this apparatus, in order to detect the initial position without moving the scale 607 or the detection head 600, a detector having a long required bit length as in Patent Document 2 is required.

又、別の手法としては、絶対位置を示すトラックを並列に必要ビット分配置して、同時に検出器も同数用意する方法もある。   As another method, there is a method in which tracks indicating absolute positions are arranged in parallel for necessary bits, and the same number of detectors are prepared at the same time.

更に、ビットパターンの境界で0か1か不定になるのを防ぐため、特許文献3のように、検出ポイントを3点に増やしたり、特許文献4のように、検出器を移動させる方法もある。   Further, in order to prevent 0 or 1 from becoming undefined at the boundary of the bit pattern, there are methods of increasing the number of detection points to 3 as in Patent Document 3 or moving the detector as in Patent Document 4. .

あるいは、より高精度な位置を得るために、特許文献1〜4のように、図1に示した如く、インクリメンタルコード609を備えたトラックを併用し、内挿したインクリメンタルのカウントと絶対位置を合成することも行なわれている。   Alternatively, in order to obtain a more accurate position, as shown in FIGS. 1 to 4, a track having an incremental code 609 is used together as shown in FIG. 1, and the interpolated incremental count and absolute position are synthesized. It is also done.

又、特許文献5のように、2次元のイメージセンサを用いて、画像相関を計算することも行なわれている。   Further, as in Patent Document 5, image correlation is also calculated using a two-dimensional image sensor.

特開平7−286861号公報JP-A-7-286861 特開2000−234941号公報JP 2000-234941 A 特開2002−131088号公報Japanese Patent Application Laid-Open No. 2002-131088 特開2002−168655号公報(図6)JP 2002-168655 A (FIG. 6) 特開2002−230560号公報JP 2002-230560 A

しかしながら、単一のトラックで高精度を得るためには、スケールを微細加工しなければならず、コスト高になる。又、絶対位置コードの読出しが不正確になり勝ちである。更に、特許文献1乃至4のように、インクリメンタルのスケールトラックを併用する方法では、常時インクリメンタルの信号を読む必要があり、消費電力が増加してしまうため、低消費電力が必要なバッテリ駆動の機器への搭載が制限されてしまう。又、インクリメンタルトラックを増やす分だけコストも増加する。   However, in order to obtain high accuracy with a single track, the scale must be finely processed, resulting in high costs. In addition, reading of the absolute position code is likely to be inaccurate. Furthermore, as disclosed in Patent Documents 1 to 4, in the method using an incremental scale track together, it is necessary to read an incremental signal at all times, resulting in an increase in power consumption. Therefore, a battery-driven device requiring low power consumption. The mounting on will be limited. In addition, the cost increases as the incremental track is increased.

又、特許文献5のように、画像の半分相当の領域を用いて画像相関を行う方法では、例えば一次元のみの相関を行った場合でも、画像相関演算のための演算量が膨大で、そのままでは、消費電力、コスト、サイズの面からバッテリ駆動の小型変位測定機には採用できない等の問題点を有していた。   Further, in the method of performing image correlation using a region corresponding to half of the image as in Patent Document 5, for example, even when only one-dimensional correlation is performed, the amount of calculation for image correlation calculation is enormous, However, in terms of power consumption, cost, and size, there are problems that it cannot be adopted for a battery-driven small displacement measuring machine.

本発明は、前記従来の問題点を解決するべくなされたもので、低消費電力、低価格で且つ高精度、高分解能の光電式エンコーダ、及び、そのスケールを提供することを第1の課題とする。   The present invention has been made to solve the above-mentioned conventional problems, and a first object is to provide a low-power consumption, low-cost, high-precision, high-resolution photoelectric encoder and its scale. To do.

本発明は、更に、より広範囲の絶対位置の表現や誤り訂正符号の付加を可能とすることを第2の課題とする。   It is a second object of the present invention to make it possible to express a wider range of absolute positions and add error correction codes.

本発明は、スケール上のビットパターンの画像を検出器で取得して、スケールと検出器の相対変位を検出するようにされた光電式エンコーダにおいて、前記ビットパターンを、共通の部分を持つように変調することにより、前記第1の課題を解決したものである。   The present invention provides a photoelectric encoder that acquires an image of a bit pattern on a scale with a detector and detects a relative displacement between the scale and the detector so that the bit pattern has a common part. The first problem is solved by modulation.

又、前記変調されたビットパターンを、擬似乱数列で配置することにより、絶対位置を検出可能としたものである。   Also, the absolute position can be detected by arranging the modulated bit pattern in a pseudo-random number sequence.

又、前記ビットパターンにベクトル値を割り当てることにより、前記第2の課題を解決したものである。   Further, the second problem is solved by assigning a vector value to the bit pattern.

又、前記ベクトル値を持った複数のビットパターンにより擬似乱数列を表現するようにしたものである。   The pseudo random number sequence is expressed by a plurality of bit patterns having the vector values.

又、前記変調されたビットパターン内に共通で現われる部分を参照画像として画像相関を行なうようにしたものである。   Further, image correlation is performed using a portion appearing in common in the modulated bit pattern as a reference image.

又、画像相関値のピーク位置を用いて、絶対位置コードのデコード開始位置を正確に決定できるようにしたものである。   Also, the decoding start position of the absolute position code can be accurately determined using the peak position of the image correlation value.

又、画像相関した値を使用して、最小二乗法によるフィッティングや特許文献5に記載の方法により、相関値の極値を高精度で推定できるようにしたものである。   Further, by using the image-correlated value, the extreme value of the correlation value can be estimated with high accuracy by the fitting by the least square method or the method described in Patent Document 5.

又、前記ピーク検出を必要最低限行なうことで、画像相関を終了するようにして、計算量を削減したものである。   Further, the amount of calculation is reduced by completing the image detection by performing the peak detection as much as possible.

又、得られた相関値の極値と絶対位置コードを合成することで、高精度な絶対位置が得られるようにしたものである。   Further, by combining the obtained extreme value of the correlation value and the absolute position code, a highly accurate absolute position can be obtained.

本発明は、又、共通の部分を持つように変調されたビットパターンを備えたことを特徴とする光電式エンコーダのスケールを提供するものである。   The present invention also provides a scale of a photoelectric encoder comprising a bit pattern modulated so as to have a common portion.

又、前記変調されたビットパターンが、擬似乱数列で配置されていることを特徴とする光電式エンコーダのスケールを提供するものである。   Further, the present invention provides a scale of a photoelectric encoder, wherein the modulated bit pattern is arranged in a pseudo random number sequence.

又、前記ビットパターンにベクトル値が割り当てられていることを特徴とする光電式エンコーダのスケールを提供するものである。   Further, the present invention provides a scale of a photoelectric encoder characterized in that a vector value is assigned to the bit pattern.

又、前記ベクトル値を持った複数のビットパターンにより擬似乱数列が表現されていることを特徴とする光電式エンコーダのスケールを提供するものである。   Further, the present invention provides a scale of a photoelectric encoder characterized in that a pseudo random number sequence is expressed by a plurality of bit patterns having the vector values.

本発明によれば、スケール上のビットパターンが共通の部分を持つように変調されているので、ビットパターンの位置を正確に知ることができ、境界で0か1か不定になって精度が低下することがない。従って、検出ポイントを増やしたり、検出器を移動したり、検出範囲を幅広くして検出器を大型化することなく、ビットパターンを正確に読み込むことが可能となり、1次元1トラックのスケールで、低消費電力、低価格の絶対位置用アブソリュートエンコーダを供給できる。   According to the present invention, since the bit pattern on the scale is modulated so as to have a common part, the position of the bit pattern can be accurately known and becomes 0 or 1 at the boundary and the accuracy is lowered. There is nothing to do. Therefore, it is possible to accurately read a bit pattern without increasing the number of detection points, moving the detector, widening the detection range, and increasing the size of the detector. Absolute encoder for absolute position with low power consumption and low price can be supplied.

特に、前記変調されたビットパターンを擬似乱数列で配置した場合には、絶対位置を単一のトラックで検出可能となる。   In particular, when the modulated bit pattern is arranged in a pseudo-random number sequence, the absolute position can be detected with a single track.

更に、前記ビットパターンにベクトル値を割り当てて多値化した場合は、より広範囲の絶対位置の表現や誤り訂正符号の付加が可能となる。   Further, when a vector value is assigned to the bit pattern to make it multi-valued, it is possible to express a wider range of absolute positions and add an error correction code.

又、前記変調されたビットパターン内に共通で現われる部分を参照画像として画像相関を行なうようにした場合には、演算量の少ない画像相関演算でも、高精度のエンコーダを実現できる。   In addition, when image correlation is performed using a portion that appears in common in the modulated bit pattern as a reference image, a highly accurate encoder can be realized even with image correlation calculation with a small amount of calculation.

以下図面を参照して、本発明の実施形態を詳細に説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

本発明の第1実施形態は、図2に示す如く、図3で示されるフレームパターンが、図4に示す如く、擬似乱数列で配置されたトラックのみを配置したスケール10と、発光素子22、レンズ24及び受光素子アレイ26が搭載された検出器20と、信号処理装置30とを備えている。   As shown in FIG. 2, the first embodiment of the present invention includes a scale 10 in which the frame pattern shown in FIG. 3 has only tracks arranged in a pseudo-random sequence as shown in FIG. A detector 20 on which a lens 24 and a light receiving element array 26 are mounted, and a signal processing device 30 are provided.

前記信号処理装置30は、前記受光素子アレイ26の出力のノイズを除去して増幅するためのノイズフィルタ・増幅回路32と、該ノイズフィルタ・増幅回路32の出力のアナログ信号をデジタル信号に変換するA/D変換器34と、該A/D変換器34の出力信号を補正する信号補正回路36と、該信号補正回路36の出力の相関演算を行なう相関演算回路38と、該相関演算回路38の出力により絶対(ABS)位置を演算するABS演算回路40と、該ABS演算回路40で得られたABS位置と前記相関演算回路38で得られた内挿位置を合成して絶対位置として出力する位置合成回路42とを含んで構成される。   The signal processing device 30 removes noise output from the light receiving element array 26 and amplifies the noise filter / amplifier circuit 32, and converts an analog signal output from the noise filter / amplifier circuit 32 into a digital signal. An A / D converter 34, a signal correction circuit 36 for correcting the output signal of the A / D converter 34, a correlation calculation circuit 38 for performing a correlation calculation of the output of the signal correction circuit 36, and the correlation calculation circuit 38 The ABS calculation circuit 40 that calculates the absolute (ABS) position based on the output of, and the ABS position obtained by the ABS calculation circuit 40 and the interpolation position obtained by the correlation calculation circuit 38 are combined and output as an absolute position. And a position synthesis circuit 42.

このような構成において、前記レンズ24により拡大又は等倍とされたスケール10の透過像が受光素子アレイ26で検出され、検出信号は、信号処理装置30に伝送され、位置演算により位置が求められる。なお、図2の例は透過型で示したが、反射型の光学系として、発光素子22をレンズ24や受光素子アレイ26と同じ側に配置してもよい。   In such a configuration, the transmitted image of the scale 10 enlarged or equalized by the lens 24 is detected by the light receiving element array 26, and the detection signal is transmitted to the signal processing device 30, and the position is obtained by position calculation. . Although the example of FIG. 2 is shown as a transmission type, the light emitting element 22 may be arranged on the same side as the lens 24 and the light receiving element array 26 as a reflection type optical system.

前記スケール10には、図3に示すようなフレームパターンが、図4に示すようにスケールの移動方向に沿って、例えば9ビットのM系列数列として配置されている。   In the scale 10, a frame pattern as shown in FIG. 3 is arranged as an M-sequence number sequence of 9 bits, for example, along the moving direction of the scale as shown in FIG.

前記フレームパターンとしては、図3に示した如く、絶対位置を示すためコードとして、「1」、「0」の値を変調したフレームパターンを用いることができる。この「1」、「0」のパターンは、同一幅の周期と共通するイメージ(この例ではスタートビット付近)を持つ。このパターンを持った「1」、「0」を、スケール10上に擬似乱数として測長方向に配置する。擬似乱数としては、M系列、ゴールド系列等がある。なお、M系列やゴールド系列以外の擬似乱数を用いることもできる。   As the frame pattern, as shown in FIG. 3, a frame pattern in which values of “1” and “0” are modulated as codes to indicate absolute positions can be used. The patterns “1” and “0” have a common image (in the example, near the start bit) with the same width. “1” and “0” having this pattern are arranged on the scale 10 as pseudorandom numbers in the length measuring direction. Examples of the pseudo random number include an M series and a gold series. Note that pseudo-random numbers other than the M series and the Gold series can also be used.

前記エンコーダは、測長方向に沿って受光素子アレイ26を持ち、発光素子22がスケール10を照らすことにより、スケール10の透過又は反射のイメージを得ることができる。受光素子の幅は、必要な分解能との関係で決定され、受光素子の数は、測長範囲及び受光素子の幅により決定される。   The encoder has a light receiving element array 26 along the length measuring direction, and the light emitting element 22 illuminates the scale 10 so that a transmission or reflection image of the scale 10 can be obtained. The width of the light receiving element is determined in relation to the necessary resolution, and the number of light receiving elements is determined by the length measurement range and the width of the light receiving element.

図4の例では、破線で示す範囲Aが実際に撮像される範囲を示し、スケール10が画面左方に移動し、撮像範囲が右側に移動している状態を示している。左端側にあるフレームのスタートビットを検出し、定められたフレーム間隔順に、右側にあるフレームをデコードしていくと、9ビットのコードが得られる。このときデコードされるスケール上のパターンは、スケールの移動に伴い、図4に示すように10Eh→01Dh→1D1hと変わっていく。これらの値は、測長範囲内でただ一度しか現われない値で、絶対位置と1対1の関係がある。従って、この値から絶対位置を知ることができる。しかし、受光素子幅とスケールの実際的な製造の問題により、かなりの高倍率の光学系を用いなければ、サブミクロン以下の位置精度を得ることはできない。   In the example of FIG. 4, a range A indicated by a broken line indicates a range where the image is actually captured, and the scale 10 is moved to the left side of the screen and the imaging range is moved to the right side. When the start bit of the frame on the left end side is detected and the frame on the right side is decoded in the order of a predetermined frame interval, a 9-bit code is obtained. The pattern on the scale decoded at this time changes from 10Eh → 01Dh → 1D1h as shown in FIG. 4 as the scale moves. These values are values that appear only once within the measurement range, and have a one-to-one relationship with the absolute position. Therefore, the absolute position can be known from this value. However, due to practical manufacturing problems of the light receiving element width and scale, it is not possible to obtain sub-micron position accuracy without using a considerably high magnification optical system.

そこで、本実施形態では、図4に示した単一のトラックを持つスケールで高分解能を得るために、画像相関を使用する。即ち、特許文献5と同様に、参照イメージと撮像した実イメージ間の差又は積の絶対値の和を用いて、両イメージ間の相違を数値化する。但し、本実施形態では、特許文献5のように、画面半分ほどの大きさのイメージ同士を比較するのではなく、図5に示す如く、「1」、「0」のフレームに共通のイメージ部分から選択した必要最小限の大きさを持ったパターンとする。参照イメージのサイズは、大きい方が精度の向上が期待できるが、演算量が増加する。又、参照イメージはスケールのデザインによっても変わってくる。適用するシステムによって、フレーム及び参照イメージの最適なデザインを選択することができる。本実施形態では、図3で示されたスケールのスタートビット付近の画像のみを、図5に示した如く参照イメージとする。   Therefore, in the present embodiment, image correlation is used in order to obtain high resolution on a scale having a single track shown in FIG. That is, as in Patent Document 5, the difference between the two images is digitized using the difference between the reference image and the captured real image or the sum of the absolute values of the products. However, in the present embodiment, as in Patent Document 5, images having a size about half the screen are not compared with each other, but as shown in FIG. 5, the image portion common to the frames “1” and “0” is used. A pattern having the minimum required size selected from A larger reference image can be expected to improve accuracy, but the amount of computation increases. The reference image also depends on the scale design. Depending on the system applied, the optimal design of the frame and reference image can be selected. In the present embodiment, only the image near the start bit of the scale shown in FIG. 3 is used as a reference image as shown in FIG.

参照イメージは、実際の代表的な画像から得てもよいし、人工的に作成しても良い。図6に参照イメージの他の例を示す。   The reference image may be obtained from an actual representative image or may be artificially created. FIG. 6 shows another example of the reference image.

以下、図7に示すフローチャートを参照して全体の処理手順を説明する。   The overall processing procedure will be described below with reference to the flowchart shown in FIG.

まず、ステップ100で、前記ノイズフィルタ・増幅回路32、A/D変換器34及び信号補正回路36を介して、画像データを取得する。   First, in step 100, image data is acquired via the noise filter / amplifier circuit 32, the A / D converter 34, and the signal correction circuit 36.

次いでステップ110で、前記相関演算回路38により、図8に示す如く、相関演算を行なう。なお、図8では差を用いる差分法を示したが、積を用いる掛け算法を使用しても良い。   Next, at step 110, the correlation calculation circuit 38 performs correlation calculation as shown in FIG. Although FIG. 8 shows a difference method using a difference, a multiplication method using a product may be used.

次いでステップ120で、得られた画像相関値から、図9に示す如く、逆凸状に現われるピークを検出し、そのピーク付近の相関値を利用して、図10(特許文献5の図12に対応)に示す如く、真のピークを内挿演算する。内挿演算には、特許文献5に記載されている方法や、最小二乗法による多項式のフィッティングによる推定を用いることができる。又、このピーク検出により、ABSコードのデコード開始位置を精度良く決めることができる。なお、相関演算は画面全域で行なう必要は無く、ピークを検出し、内挿のために必要な最低限のみ求めれば、計算を終了して計算量を削減することができる。スタートビットは、図3に示した如く、「1」、「0」のどちらのパターンにも存在するので、擬似乱数列の値によって、画像相関を行なう範囲が大きく増加したり、検出できなくなったりすることがない。   Next, in step 120, a peak appearing in an inverse convex shape is detected from the obtained image correlation value as shown in FIG. 9, and the correlation value in the vicinity of the peak is used to obtain FIG. 10 (see FIG. 12 of Patent Document 5). The true peak is interpolated as shown in FIG. For the interpolation calculation, the method described in Patent Document 5 or estimation by fitting a polynomial by the least square method can be used. Also, this peak detection allows the ABS code decoding start position to be determined with high accuracy. Note that the correlation calculation need not be performed over the entire screen. If the peak is detected and only the minimum necessary for interpolation is obtained, the calculation can be completed and the amount of calculation can be reduced. As shown in FIG. 3, since the start bit exists in both the patterns “1” and “0”, the range of image correlation greatly increases or cannot be detected depending on the value of the pseudo random number sequence. There is nothing to do.

次いでステップ130で、前記ABS演算回路40により、ピーク位置を基準にABS情報を取得し、ステップ140で、ABSデータを復号する。   Next, in step 130, the ABS calculation circuit 40 acquires ABS information based on the peak position, and in step 140, the ABS data is decoded.

次いで、ステップ150で内挿演算を行なった後、ステップ160で、前記位置合成回路42により、光学系の倍率を考慮してABS位値と内挿位値を合成すれば、求める絶対位置を算出することができる。   Next, after performing an interpolation operation in step 150, in step 160, the position combining circuit 42 calculates the absolute position to be obtained by combining the ABS position value and the interpolation position value in consideration of the magnification of the optical system. can do.

以下、具体的な合成演算の方法の例を図11を参照して説明する。   Hereinafter, a specific example of the composition calculation method will be described with reference to FIG.

まず、M系列のデータをデコード開始した位置XABSを求める。この位置は単なるピク
セル番号ではなく、サブピクセル以下の値が必要である。
First, a position X ABS where decoding of M-sequence data is started is obtained. This position is not just a pixel number, but a value less than or equal to a subpixel is required.

ABS=Xp−Spitch・n …(1)
:内挿演算のピーク検出位置
pitch:スケールの1フレーム長、実施例では120um
n:内挿演算位置からABSコード開始位置までのフレーム数
X ABS = X p −S pitch · n (1)
X p : Peak detection position of interpolation calculation S pitch : One frame length of scale, 120 μm in the embodiment
n: Number of frames from the interpolation calculation position to the ABS code start position

次に原点位置からのABSフレーム番号PABSを光学倍率Soptを加味して加えると、求める位置Xは、次式で得られる。 Then the addition by adding the ABS frame number P ABS optical power S opt from the origin position, a position X to obtain can be obtained by the following equation.

X=(PABS・Spitch−XABS)/Sopt+X0 …(2)
ABS:デコードされたABSフレーム番号
ABS:M系列ABSコードのデコード開始位置
opt:光学倍率
0:オフセット調整値
X = (P ABS · S pitch −X ABS ) / S opt + X 0 (2)
P ABS : Decoded ABS frame number X ABS : Decoding start position of M series ABS code S opt : Optical magnification X 0 : Offset adjustment value

これらの手法により、全長を比較する場合に比べて、計算量の大幅な削減が可能となり、消費電力を大きく低減することができる。   By these methods, the amount of calculation can be greatly reduced as compared with the case where the total lengths are compared, and the power consumption can be greatly reduced.

本実施形態においては、ピーク検出を、画像の歪みの少ない中心部分のみで行なっているので、少ない計算負荷で高精度の測定を行なうことができる。なお、両端の2個所で行なって、ミスアライメントの影響を受け難くしたり、あるいは、全体で行なうことも可能である。   In the present embodiment, since peak detection is performed only in the central portion with less image distortion, high-precision measurement can be performed with a small calculation load. Note that it can be performed at two locations on both ends to make it less susceptible to misalignment or as a whole.

なお、前記第1実施形態の変調ビットパターンは、1フレームで1ビットの信号しか表現していないため、撮像範囲と製造上の制限から来るスケールの最小幅の関係から、表現できる絶対位置範囲が数百mmに限られていた。例えば、フレーム長が120μm、マーク最小幅が20μm、撮像範囲が1.44mm(イメージセンサで12フレームを一度に撮影)としたとき、表現可能な絶対位置範囲は約245mmである。又、リニアスケール等の用途では、ゴミやノイズによるビットの読み取り誤りの検出や訂正を行なうため、更に多くの情報を付加しなければならず、リニアスケールへの適用は難しかった。   Note that since the modulation bit pattern of the first embodiment expresses only a 1-bit signal in one frame, the absolute position range that can be expressed is based on the relationship between the imaging range and the minimum width of the scale due to manufacturing limitations. It was limited to several hundred mm. For example, when the frame length is 120 μm, the minimum mark width is 20 μm, and the imaging range is 1.44 mm (12 frames are captured at a time by the image sensor), the absolute position range that can be expressed is about 245 mm. Further, in applications such as a linear scale, in order to detect and correct bit reading errors due to dust and noise, more information must be added, making it difficult to apply to a linear scale.

次に、表現可能な絶対位置範囲を広げて、リニアスケールにも適用可能とした、本発明の第2実施形態を詳細に説明する。   Next, a detailed description will be given of a second embodiment of the present invention in which the absolute position range that can be expressed is expanded to be applicable to a linear scale.

本実施形態は、第1実施形態と同じ装置構成において、スケールデザインを改良したものである。   In the present embodiment, the scale design is improved in the same apparatus configuration as that of the first embodiment.

即ち、絶対位置を示すためのコードとして、1つのフレームにベクトル値を割り当てて多値化し、複数のフレームでベクトルの全ての値を表現するようなコードを用いる。図12は、2ビットの値を持つフレーム、図13は、3ビットの値を持つフレーム、図14は、4ビットの値を持つフレームの例を示している。   That is, as a code for indicating the absolute position, a code that assigns a vector value to one frame to be multi-valued and expresses all values of the vector in a plurality of frames is used. 12 shows a frame having a 2-bit value, FIG. 13 shows a frame having a 3-bit value, and FIG. 14 shows an example of a frame having a 4-bit value.

いずれの次元のフレームの場合も、各ビットパターンは、同一の幅であり、共通する部分を持つ。図12、図13、図14の例では、ビットパターンの左端付近が、黒から白に変化する共通イメージ(参照イメージと称する)となっている。又、共通する部分以外のイメージには、参照イメージと同じ部分があってはならない。そして、第1実施形態と同様に、スケール上に擬似乱数を測長方向に配置するが、このとき、擬似乱数列を、使用するベクトルの次元で区切り、そのベクトル値に該当するフレームを割り当てて、スケールパターンとする。擬似乱数としては、M系列、gold系列等を用いることができる。なお、第2実施形態によるスケールデザインは、図12〜図14に示したものに限定されず、他にも多くの変形例が可能である。又、ベクトル値も図に示した、上から4個(図12)、8個(図13)、16個(図14)に限定されず、任意の組合せをデコードに用い、残りの予備の部分を誤り訂正等に使うことができる。ビット長も、5ビット以上にしても良い。   In any dimension frame, each bit pattern has the same width and a common part. In the examples of FIGS. 12, 13, and 14, the left end of the bit pattern is a common image (referred to as a reference image) that changes from black to white. Also, the image other than the common part must not have the same part as the reference image. Then, as in the first embodiment, pseudo random numbers are arranged on the scale in the length measurement direction. At this time, the pseudo random number sequence is divided by the dimension of the vector to be used, and a frame corresponding to the vector value is assigned. And a scale pattern. As the pseudo random number, an M series, a gold series, or the like can be used. In addition, the scale design by 2nd Embodiment is not limited to what was shown in FIGS. 12-14, Many other modifications are possible. Also, the vector values are not limited to four (FIG. 12), eight (FIG. 13), and sixteen (FIG. 14) from the top as shown in the figure, and any combination is used for decoding, and the remaining spare part. Can be used for error correction. The bit length may be 5 bits or more.

例として、スタートビットに当たる最小線幅を20μm、その他の線幅を20μm×Nとしたときに、それぞれのベクトルの次元数M別の表現に必要なフレーム長Lを表1に示す。   As an example, Table 1 shows the frame length L necessary for expressing each vector by the number of dimensions M when the minimum line width corresponding to the start bit is 20 μm and the other line widths are 20 μm × N.

Figure 2006226987
Figure 2006226987

又、それぞれの例において、表現できる絶対位置範囲Pは、次の関係式で示される。   In each example, the absolute position range P that can be expressed is represented by the following relational expression.

P=L*2^(N−1) …(3)
N={ROUND(F/L)−1}*M …(4)
※ROUND()は丸めの意味
L:1フレーム長
N:撮像範囲内のビット数
F:イメージセンサ等を用いたときの実体の撮像範囲
M:ベクトル次元数(多値化数)
P = L * 2 ^ (N-1) (3)
N = {ROUND (F / L) -1} * M (4)
* ROUND () means rounding L: 1 frame length N: Number of bits in the imaging range F: Imaging range of the entity when using an image sensor, etc. M: Number of vector dimensions (multi-valued number)

例えばベクトル次元をM=3として、1フレーム長L=160μm、撮像範囲F=1.44mmとした場合、全てのビットで絶対位置を表現すると、表現可能な絶対位置範囲Pは、次のようになる。   For example, assuming that the vector dimension is M = 3, one frame length L = 160 μm, and imaging range F = 1.44 mm, the absolute position range P that can be expressed is expressed as follows when the absolute position is expressed by all bits: Become.

P=0.160*2^{(ROUND(1.44/0.16)−1)*3−1}
=1342177[mm] …(5)
P = 0.160 * 2 ^ {(ROUND (1.44 / 0.16) -1) * 3-1}
= 1342177 [mm] (5)

次元Mが4の場合、同様な計算により24159191[mm]となる。結果を表1の表現可能な絶対位置範囲Pに示す。   When the dimension M is 4, 24159191 [mm] is obtained by the same calculation. The results are shown in the absolute position range P that can be expressed in Table 1.

これらの結果から、第1実施形態と同様の光学系、マーク最小ピッチ幅を用いた場合でも、ベクトル化(多値化)により実用上十分な範囲の絶対位置を示すことができることが分かる。   From these results, it can be seen that even if the same optical system and mark minimum pitch width as in the first embodiment are used, the absolute position in a practically sufficient range can be shown by vectorization (multi-value).

又、これらのビット情報に誤り検出符号を付加することで、ゴミやノイズ等によるビット読み取りミスにも対応できる。   Further, by adding an error detection code to these bit information, it is possible to cope with a bit reading error due to dust or noise.

図15に、このベクトル化(多値化)方法を使用して、スケールを設計する方法を示す。まず、第1実施形態と同様にM系列を用いて、必要な長さの擬似乱数列を作成する。図15に示したように3ビットの多値化を行なう場合には、求められた擬似乱数列を3ビット毎に区切り、各区切り毎に該当するデザインを割り当てていき、全ての数列にビットパターンを割り当てれば終了となる。   FIG. 15 shows a method of designing a scale using this vectorization (multi-value) method. First, similarly to the first embodiment, a pseudo-random number sequence having a necessary length is created using an M sequence. As shown in FIG. 15, when 3-bit multi-value processing is performed, the obtained pseudo-random number sequence is divided every 3 bits, and a design corresponding to each division is assigned. If you assign, it ends.

デコードする場合は、第1実施形態と同様に、画像相関を利用してスタートビット付近の参照イメージを検出し、1フレーム毎にビットパターンを切り出し、ビットパターン毎のベクトル値を取り出し、擬似乱数列として合成すればよい。画像相関によるサブピクセル以下の値の演算も、第1実施形態と同様に行なうことができる。   When decoding, as in the first embodiment, a reference image near the start bit is detected using image correlation, a bit pattern is extracted for each frame, a vector value for each bit pattern is extracted, and a pseudo-random number sequence Can be synthesized as follows. The calculation of the value below the sub-pixel by the image correlation can be performed as in the first embodiment.

この第2実施形態によれば、第1実施形態より広範囲なABS位置を表現できるので、リニアエンコーダ等、広範囲のアブソリュートエンコーダを供給できる。又、誤り訂正符号を付加することにより、信頼性の高いエンコーダを供給することができる。   According to the second embodiment, since a wider range of ABS positions can be expressed than in the first embodiment, a wide range of absolute encoders such as a linear encoder can be supplied. Also, by adding an error correction code, a highly reliable encoder can be supplied.

なお、本エンコーダ方式は、1次元の受光素子アレイだけでなく、汎用で安価な2次元の受光素子マトリックスを用いた場合にも応用できる。   The encoder system can be applied not only to a one-dimensional light receiving element array but also to a general-purpose and inexpensive two-dimensional light receiving element matrix.

前記実施形態においては、本発明が、アブソリュートエンコーダに適用されていたが、本発明の適用対象はこれに限定されず、インクリメンタルエンコーダにも同様に適用できる。   In the above-described embodiment, the present invention is applied to an absolute encoder. However, the application target of the present invention is not limited to this, and can be applied to an incremental encoder as well.

特許文献4に記載された従来のABSエンコーダの一例の構成を示す斜視図The perspective view which shows the structure of an example of the conventional ABS encoder described in patent document 4 本発明に係る光電式エンコーダの実施形態の全体構成を示す正面図The front view which shows the whole structure of embodiment of the photoelectric encoder which concerns on this invention 第1実施形態で用いられているフレームパターンを示す平面図The top view which shows the frame pattern used in 1st Embodiment 同じくスケール上のフレームパターンの配置例を示す平面図The top view which similarly shows the example of arrangement of the frame pattern on the scale 同じく参照イメージを示す平面図A plan view showing the same reference image 同じく参照イメージの変形例を示す平面図Similarly, a plan view showing a modification of the reference image 同じく処理手順を示す流れ図Flow chart showing the processing procedure 同じく差分法による相関計算の様子を示す平面図Similarly, a plan view showing the state of correlation calculation by the difference method 同じく画像相関値の計算結果の例を示す線図A diagram showing an example of calculation results of image correlation values 同じく内挿の様子を示す線図Diagram showing the state of interpolation 同じくABS値と内挿値の合成の様子を示す平面図The top view which similarly shows the mode of a composition of an ABS value and an interpolation value 第2実施形態で用いられている2ビットの場合のフレームパターンを示す平面図The top view which shows the frame pattern in the case of 2 bits used by 2nd Embodiment 同じく3ビットの場合のフレームパターンを示す平面図Similarly, a plan view showing a frame pattern in the case of 3 bits 同じく4ビットの場合のフレームパターンを示す平面図Similarly, a plan view showing a frame pattern in the case of 4 bits 同じくスケール上のフレームパターンの配置方法を示す平面図The top view which similarly shows the arrangement method of the frame pattern on the scale

符号の説明Explanation of symbols

10…スケール
20…検出器
22…発光素子
24…レンズ
26…受光素子アレイ
30…信号処理装置
32…ノイズフィルタ・増幅回路
34…A/D変換器
36…信号補正回路
38…相関演算回路
40…ABS演算回路
42…位置合成回路
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Scale 20 ... Detector 22 ... Light emitting element 24 ... Lens 26 ... Light receiving element array 30 ... Signal processing device 32 ... Noise filter / amplifier circuit 34 ... A / D converter 36 ... Signal correction circuit 38 ... Correlation calculation circuit 40 ... ABS calculation circuit 42... Position synthesis circuit

Claims (13)

スケール上のビットパターンの画像を検出器で取得して、スケールと検出器の相対変位を検出するようにされた光電式エンコーダにおいて、
前記ビットパターンが、共通の部分を持つように変調されていることを特徴とする光電式エンコーダ。
In a photoelectric encoder that acquires an image of the bit pattern on the scale with a detector and detects the relative displacement between the scale and the detector,
A photoelectric encoder, wherein the bit pattern is modulated so as to have a common part.
前記変調されたビットパターンが、擬似乱数列で配置されていることを特徴とする請求項1に記載の光電式エンコーダ。   The photoelectric encoder according to claim 1, wherein the modulated bit pattern is arranged in a pseudo-random number sequence. 前記ビットパターンにベクトル値が割り当てられていることを特徴とする請求項1に記載の光電式エンコーダ。   The photoelectric encoder according to claim 1, wherein a vector value is assigned to the bit pattern. 前記ベクトル値を持った複数のビットパターンにより擬似乱数列が表現されていることを特徴とする請求項3に記載の光電式エンコーダ。   4. The photoelectric encoder according to claim 3, wherein a pseudo-random number sequence is expressed by a plurality of bit patterns having the vector values. 前記変調されたビットパターン内に共通で現われる部分を参照画像として画像相関を行なうことを特徴とする請求項2乃至4のいずれかに記載の光電式エンコーダ。   5. The photoelectric encoder according to claim 2, wherein image correlation is performed using a portion appearing in common in the modulated bit pattern as a reference image. 6. 画像相関値のピーク位置を用いて、絶対位置コードのデコード開始位置を決定することを特徴とする請求項5に記載の光電式エンコーダ。   6. The photoelectric encoder according to claim 5, wherein the decoding start position of the absolute position code is determined using the peak position of the image correlation value. 画像相関した値を使用して、相関値の極値を推定することを特徴とする請求項6に記載の光電式エンコーダ。   The photoelectric encoder according to claim 6, wherein an extreme value of the correlation value is estimated using a value obtained by image correlation. 前記ピーク検出を必要最低限行なうことで、画像相関を終了することを特徴とする請求項7に記載の光電式エンコーダ。   8. The photoelectric encoder according to claim 7, wherein image correlation is terminated by performing the peak detection as much as possible. 得られた相関値の極値と絶対位置コードを合成して高精度な絶対位置を得ることを特徴とする請求項8に記載の光電式エンコーダ。   9. The photoelectric encoder according to claim 8, wherein the obtained extreme value and the absolute position code are synthesized to obtain a highly accurate absolute position. 共通の部分を持つように変調されたビットパターンを備えたことを特徴とする光電式エンコーダのスケール。   A scale of a photoelectric encoder comprising a bit pattern modulated so as to have a common part. 前記変調されたビットパターンが、擬似乱数列で配置されていることを特徴とする請求項10に記載の光電式エンコーダのスケール。   The scale of the photoelectric encoder according to claim 10, wherein the modulated bit pattern is arranged in a pseudo-random number sequence. 前記ビットパターンにベクトル値が割り当てられていることを特徴とする請求項10に記載の光電式エンコーダのスケール。   The scale of the photoelectric encoder according to claim 10, wherein a vector value is assigned to the bit pattern. 前記ベクトル値を持った複数のビットパターンにより擬似乱数列が表現されていることを特徴とする請求項12に記載の光電式エンコーダのスケール。   The scale of the photoelectric encoder according to claim 12, wherein a pseudo-random number sequence is expressed by a plurality of bit patterns having the vector values.
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