JP2006201630A - Image persistence phenomenon correcting method, self-luminous device, image persistence phenomenon correcting device and program - Google Patents

Image persistence phenomenon correcting method, self-luminous device, image persistence phenomenon correcting device and program Download PDF

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淳史 小澤
Mitsuru Tada
満 多田
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To solve the problem in which picture quality is greatly lowered by correction of an image persistence phenomenon. <P>SOLUTION: The image persistence phenomenon correcting method includes: a process in which a deterioration amount difference generated between a correction object pixel and a reference pixel is successively computed according to the input signal related to the driving condition of self-luminous elements; a process in which the computed deterioration amount difference is cumulatively added for every correction object pixel to compute an accumulated deterioration amount difference for each correction object pixel; a process in which judgement is made to judge whether the size of the accumulated deterioration amount difference is updated toward a reducing direction or an enlarging direction due to the emission of the luminous elements by the input signal, a process which instructs an execution stop of the correction operation to the corresponding input signal when it is judged that the size of the accumulated deterioration amount difference is updated to the reducing direction; a process which instructs the computation of the correction amount to reduce the size of the accumulated deterioration amount difference is reduced when it is judged that the size of the accumulated deterioration amount difference is updated to the enlarging direction; and a process which corrects the corresponding input signal by the computed correction amount. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

発明の一つの形態は、自発光装置に発生する焼き付き現象の補正方法に関する。また、発明の一つの形態は、焼き付き現象補正装置に関する。また、発明の一つの形態は、焼き付き現象補正装置を搭載した自発光装置に関する。また、発明の一つの形態は、自発光装置に搭載されたコンピュータに焼き付き補正機能を実行させるプログラムに関する。   One embodiment of the present invention relates to a method for correcting a burn-in phenomenon that occurs in a self-luminous device. One embodiment of the present invention relates to a burn-in phenomenon correction apparatus. One embodiment of the present invention relates to a self-luminous device equipped with a burn-in phenomenon correcting device. One embodiment of the present invention relates to a program for causing a computer mounted on a self-luminous device to execute a burn-in correction function.

フラットパネルディスプレイは、コンピュータディスプレイ、携帯端末、テレビなどの製品で広く普及している。現在、主には液晶ディスプレイパネルが多く採用されているが、依然、視野角の狭さや応答速度の遅さが指摘され続けている。
一方、自発光素子で形成された有機ＥＬディスプレイは、前述した視野角や応答性の課題を克服できるのに加え、バックライト不要の薄い形態、高輝度、高コントラストを達成できる。このため、液晶ディスプレイに代わる次世代表示装置として期待されている。 Flat panel displays are widely used in products such as computer displays, portable terminals, and televisions. Currently, liquid crystal display panels are mainly used, but the narrow viewing angle and slow response speed continue to be pointed out.
On the other hand, an organic EL display formed of a self-luminous element can overcome the above-mentioned problems of viewing angle and responsiveness, and can achieve a thin form, high brightness, and high contrast that do not require a backlight. Therefore, it is expected as a next-generation display device that replaces the liquid crystal display.

ところで、有機ＥＬ素子その他の自発光素子は、その発光量と時間に比例して劣化する特性があることは一般的にも知られている。
一方で、ディスプレイに表示される画像の内容は一様ではない。このため、自発光素子の劣化が部分的に進行し易い。例えば時刻表示領域（固定表示領域）の自発光素子は、他の表示領域（動画表示領域）の自発光素子に比べて劣化の進行が速い。
劣化が進行した自発光素子の輝度は、他の表示領域の輝度に比して相対的に低下する。一般に、この現象は“焼き付き”と呼ばれる。以下、部分的な自発光素子の劣化を“焼き付き”と表記する。 By the way, it is generally known that organic EL elements and other self-light-emitting elements have a characteristic of deteriorating in proportion to the amount of light emission and time.
On the other hand, the content of the image displayed on the display is not uniform. For this reason, the deterioration of the self-luminous element is likely to proceed partially. For example, the self-light-emitting element in the time display area (fixed display area) progresses more rapidly than the self-light-emitting elements in other display areas (moving image display areas).
The luminance of the self-luminous element that has deteriorated is relatively lowered as compared with the luminance of other display areas. In general, this phenomenon is called “burn-in”. Hereinafter, partial deterioration of the self-luminous element is referred to as “burn-in”.

現在、“焼き付き”現象の改善策として様々な手法が検討されている。例えば、以下のような処理技術が開示されている。
特開２００３−２２８３２９号公報 この文献には、表示パネルを構成する各画素に対する入力データを一定周期で画素毎に積算し、それらの最大値から各画素の積算値を減算して各画素についての補正量を設定する方法が開示されている。また、非使用状態において補正量の大きさに比例する時間だけ各画素を一定輝度で発光することで各画素の表示特性を揃える方法が開示されている。すなわち、補正専用のパターンを表示して各画素の表示特性を揃える方法が開示されている。 At present, various methods are being studied for improving the “burn-in” phenomenon. For example, the following processing techniques are disclosed.
In this document, input data for each pixel constituting the display panel is integrated for each pixel at a constant period, and the integrated value of each pixel is subtracted from the maximum value of each pixel. A method for setting the correction amount is disclosed. Further, a method is disclosed in which the display characteristics of each pixel are made uniform by emitting each pixel with a constant luminance for a time proportional to the amount of correction in a non-use state. That is, a method is disclosed in which a correction-dedicated pattern is displayed to align the display characteristics of each pixel.

確かに、補正専用のパターンを表示する方法は、焼き付き現象の改善に効果的である。
しかし、この方法は、入力画像を全く無視した補正方法である。このため、補正動作の実行が非使用状態時に限られる問題がある。また、非使用状態が補正に十分な期間存在しなかった場合、焼き付き現象の補正残りが発生する可能性がある。また、焼き付き現象の補正のためだけに電力を消費する問題がある。 Certainly, the method of displaying the correction-specific pattern is effective in improving the burn-in phenomenon.
However, this method is a correction method that completely ignores the input image. For this reason, there is a problem that the execution of the correction operation is limited to a non-use state. Further, if the non-use state does not exist for a period sufficient for correction, there is a possibility that a correction residue of the burn-in phenomenon occurs. In addition, there is a problem that power is consumed only for correcting the burn-in phenomenon.

発明者らは、以上の技術的課題に着目し、以下の技術手法を提案する。
すなわち、複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を、自発光装置の使用状態のまま補正する方法として、
（ａ）自発光素子の駆動条件に関する入力信号に基づいて、補正対象画素と基準画素との間に発生する劣化量差を逐次算出する処理と、
（ｂ）算出された劣化量差を補正対象画素毎に累積加算し、各補正対象画素についての累積劣化量差を算出する処理と、
（ｃ）入力信号による自発光素子の発光により、累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されるか、それとも拡大する方向に更新されるかを判定する処理と、
（ｄ）累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されると判定された場合、対応する入力信号に対する補正動作の実行停止を指示する処理と、
（ｅ）累積劣化量差の大きさが拡大する方向に更新されると判定された場合、累積劣化量差の大きさが縮小する補正量の算出を指示する処理と、
（ｆ）算出された補正量で対応する入力信号を補正する処理と
を有するものを提案する。
なお、自発光装置は、有機ＥＬ（エレクトロルミネッセンス）パネル、ＰＤＰ（プラズマディスプレイパネル）、ＣＲＴ（cathode ray tube）、ＦＥＤ（電界放出ディスプレイ）パネル、ＬＥＤパネル、プロジェクターを含むものとする。 The inventors pay attention to the above technical problems and propose the following technical methods.
That is, as a method of correcting the burn-in phenomenon of a self-light-emitting device in which a plurality of self-light-emitting elements are arranged in a matrix, with the self-light-emitting device being used,
(A) processing for sequentially calculating a deterioration amount difference generated between the correction target pixel and the reference pixel based on an input signal related to the driving condition of the self-light-emitting element;
(B) A process of cumulatively adding the calculated deterioration amount difference for each correction target pixel and calculating a cumulative deterioration amount difference for each correction target pixel;
(C) A process of determining whether the magnitude of the cumulative deterioration amount difference is updated in a decreasing direction or an increasing direction due to light emission of the self-luminous element by an input signal;
(D) When it is determined that the magnitude of the cumulative deterioration amount difference is updated in a decreasing direction, a process for instructing to stop execution of the correction operation for the corresponding input signal;
(E) When it is determined that the magnitude of the cumulative deterioration amount difference is updated in an increasing direction, a process for instructing calculation of a correction amount that reduces the magnitude of the cumulative deterioration amount difference;
(F) Proposing a method having a process of correcting the corresponding input signal with the calculated correction amount.
The self-luminous device includes an organic EL (electroluminescence) panel, a PDP (plasma display panel), a CRT (cathode ray tube), an FED (field emission display) panel, an LED panel, and a projector.

発明に係る方法は、累積劣化量差の大きさが拡大する方向に更新される場合には対応する入力信号を補正し、累積劣化量差の大きさが縮小される方向に更新する場合には対応する入力信号に対する補正を停止する。
すなわち、焼き付き現象を改善できる画素はそのまま表示し、焼き付き現象が改善しない画素は補正したものを表示する。
この結果、自発光装置の使用中も、原画像の画質をある程度維持したまま、自発光装置の焼き付き現象を改善できる。
また、自発光装置を使用状態のまま焼き付き現象を補正できるため、非使用状態の期間不足を原因とする補正残りの発生を無くすことができる。
また、焼き付き補正のためだけに非使用状態中に電力が消費される事態を無くすことができる。 The method according to the invention corrects the corresponding input signal when the magnitude of the cumulative deterioration amount difference is updated in the increasing direction, and updates when the magnitude of the cumulative deterioration amount difference is reduced. Stops correction for the corresponding input signal.
That is, pixels that can improve the burn-in phenomenon are displayed as they are, and pixels that do not improve the burn-in phenomenon are displayed as corrected.
As a result, the burn-in phenomenon of the self-light-emitting device can be improved while maintaining the image quality of the original image to some extent even during use of the self-light-emitting device.
Further, since the burn-in phenomenon can be corrected while the self-light-emitting device is in use, it is possible to eliminate the occurrence of correction correction due to insufficient period of non-use.
Further, it is possible to eliminate a situation where power is consumed during the non-use state only for burn-in correction.

以下、発明に係る技術手法を採用する焼き付き現象補正技術の実施形態例を説明する。
なお、本明細書で特に図示又は記載されない部分には、当該技術分野の周知又は公知技術を適用する。
また以下に説明する実施形態は、発明の一つの実施形態であって、これらに限定されるものではない。 Hereinafter, an embodiment example of a burn-in phenomenon correction technique that employs the technical technique according to the invention will be described.
In addition, the well-known or well-known technique of the said technical field is applied to the part which is not illustrated or described in particular in this specification.
The embodiment described below is one embodiment of the present invention and is not limited thereto.

（Ａ）形態例１
（ａ）焼き付き現象補正装置の構成
図１に、焼き付き現象補正装置（以下、「補正装置」という。）の構成例を示す。
なお、以下に示す補正処理は、同色で発光する画素について実行されるものとする。なお、発光色は、一般に赤、青、緑の三色をいう。もっとも、白色光源を使用する場合には白をいう。
また、入力信号には、輝度を指定する階調値、自発光素子に印加される駆動電流値その他の自発光素子の駆動条件に関する信号が与えられるものとする。 (A) Form example 1
(A) Configuration of Burn-in Phenomenon Correction Device FIG. 1 shows a configuration example of a burn-in phenomenon correction device (hereinafter referred to as “correction device”).
Note that the following correction processing is executed for pixels that emit light of the same color. The emission color generally refers to three colors of red, blue, and green. However, white is used when a white light source is used.
Further, it is assumed that the input signal is provided with a gradation value designating luminance, a drive current value applied to the self light emitting element, and other signals relating to the driving conditions of the self light emitting element.

補正装置１は、劣化量差算出部３、累積劣化量差算出部５、補正効果予測部７、累積劣化量差蓄積部９、補正動作選択部１１、補正量決定部１３、劣化量差補正部１５を主要な構成要素とする。
劣化量差算出部３は、補正処理前の入力信号に基づいて各画素（補正対象画素）と基準画素との劣化量差ΔＲを算出する処理デバイスである。劣化量差ΔＲの算出には、任意の手法を適用できる。例えば、補正対象画素に対応する入力信号値と基準画素に対応する入力信号値との差分を算出する方法を適用できる。 The correction apparatus 1 includes a deterioration amount difference calculation unit 3, a cumulative deterioration amount difference calculation unit 5, a correction effect prediction unit 7, a cumulative deterioration amount difference accumulation unit 9, a correction operation selection unit 11, a correction amount determination unit 13, and a deterioration amount difference correction. The unit 15 is a main component.
The deterioration amount difference calculation unit 3 is a processing device that calculates a deterioration amount difference ΔR between each pixel (correction target pixel) and a reference pixel based on an input signal before correction processing. Any method can be applied to calculate the deterioration amount difference ΔR. For example, a method of calculating the difference between the input signal value corresponding to the correction target pixel and the input signal value corresponding to the reference pixel can be applied.

この形態例の場合、補正対象画素の劣化が基準画素に対して進んでいる場合、劣化量差ΔＲはプラスで表現されるものとする。反対に、補正対象画素の劣化が基準画素に対して遅れている場合、劣化量差ΔＲはマイナスで表現されるものとする。算出された劣化量差ΔＲは、劣化量差算出部３から累積劣化量差算出部５に与えられる。
なお、基準画素は、自発光装置を構成する実在の画素でも良いし、仮想的な画素として設定しても良い。実在の画素には、例えば累積劣化量が最大の画素、累積劣化量が最小の画素を適用する。また、仮想の画素には、例えば累積劣化量の平均値を与える画素を適用する。 In the case of this embodiment, when the deterioration of the correction target pixel is advanced with respect to the reference pixel, the deterioration amount difference ΔR is expressed as a plus. On the contrary, when the deterioration of the correction target pixel is delayed with respect to the reference pixel, the deterioration amount difference ΔR is expressed as a minus value. The calculated deterioration amount difference ΔR is given from the deterioration amount difference calculation unit 3 to the cumulative deterioration amount difference calculation unit 5.
Note that the reference pixel may be an actual pixel constituting the self-light-emitting device, or may be set as a virtual pixel. For example, a pixel having the largest cumulative degradation amount and a pixel having the smallest cumulative degradation amount are applied to the actual pixels. In addition, for example, a pixel that gives an average value of the cumulative deterioration amount is applied to the virtual pixel.

累積劣化量差算出部５は、画素毎の累積劣化量差ΣΔＲを算出する処理デバイスである。累積劣化量差算出部５は、入力信号に基づいて算出された劣化量差を加算情報として扱う。一方、累積劣化量差算出部５は、補正効果予測部７から与えられる劣化量差（補正効果）を減算情報として扱う。累積劣化量差算出部５は、劣化量差ΔＲの加算又は減算により累積劣化量差ΣΔＲの更新処理を実行する。
補正効果予測部７は、補正量決定部１３で決定された補正量の補正効果を予測する処理デバイスである。補正効果は劣化量差ΔＲとして予測される。補正効果予測部７は、補正効果を累積劣化量差ΣΔＲに反映させるために設けられている。 The cumulative deterioration amount difference calculation unit 5 is a processing device that calculates a cumulative deterioration amount difference ΣΔR for each pixel. The cumulative deterioration amount difference calculation unit 5 handles the deterioration amount difference calculated based on the input signal as addition information. On the other hand, the cumulative deterioration amount difference calculation unit 5 handles the deterioration amount difference (correction effect) given from the correction effect prediction unit 7 as subtraction information. The cumulative deterioration amount difference calculation unit 5 executes an update process of the cumulative deterioration amount difference ΣΔR by adding or subtracting the deterioration amount difference ΔR.
The correction effect prediction unit 7 is a processing device that predicts the correction effect of the correction amount determined by the correction amount determination unit 13. The correction effect is predicted as a deterioration amount difference ΔR. The correction effect prediction unit 7 is provided to reflect the correction effect on the accumulated deterioration amount difference ΣΔR.

累積劣化量差蓄積部９は、算出された累積劣化量差ΣΔＲを保存する記憶デバイスである。なお、保存される累積劣化量差ΣΔＲは、累積劣化量差算出部５によって逐次更新される。すなわち、累積劣化量差ΣΔＲは累積劣化量差算出部５に読み出され、前述した加減算処理により逐次更新される。
補正動作選択部１１は、次回発光期間の入力信号によって累積劣化量差ΣΔＲの大きさが縮小する方向に更新されるか、それとも拡大する方向に更新されるかを判定する処理デバイスである。 The cumulative deterioration amount difference accumulation unit 9 is a storage device that stores the calculated cumulative deterioration amount difference ΣΔR. The stored cumulative deterioration amount difference ΣΔR is sequentially updated by the cumulative deterioration amount difference calculation unit 5. That is, the cumulative deterioration amount difference ΣΔR is read by the cumulative deterioration amount difference calculation unit 5 and is sequentially updated by the addition / subtraction process described above.
The correction operation selection unit 11 is a processing device that determines whether the magnitude of the cumulative deterioration amount difference ΣΔR is updated in a decreasing direction or an increasing direction according to an input signal of the next light emission period.

この形態例の場合、補正動作選択部１１は、次回発光期間の入力信号による更新後の累積劣化量差ΣΔＲＡとその更新前の累積劣化量差ΣΔＲＢとを比較し、その大小関係によって累積劣化量差ΣΔＲの更新方向を判定する。
更新前の累積劣化量差ΣΔＲＢは、累積劣化量差蓄積部９から補正動作選択部１１に読み出される。また、更新後の累積劣化量差ΣΔＲＡは、累積劣化量差算出部５から補正動作選択部１１に読み出される。
補正動作選択部１１は、更新後の累積劣化量差ΣΔＲＡ≧更新前の累積劣化量差ΣΔＲＢのとき、累積劣化量差が拡大する方向に更新されると判定し、更新後の累積劣化量差ΣΔＲＡ＜更新前の累積劣化量差ΣΔＲＢのとき、累積劣化量差が縮小する方向に更新されると判定する。
図２に、この判定条件と補正動作の関係を示す。この補正動作選択部１１が、請求項における更新方向判定部と補正動作指示部に対応する機能を実行する。 In the case of this embodiment, the correction operation selection unit 11 compares the cumulative deterioration amount difference ΣΔRA after the update by the input signal of the next light emission period with the cumulative deterioration amount difference ΣΔRB before the update, and the cumulative deterioration amount according to the magnitude relationship. The update direction of the difference ΣΔR is determined.
The cumulative deterioration amount difference ΣΔRB before the update is read from the cumulative deterioration amount difference accumulation unit 9 to the correction operation selection unit 11. The updated accumulated deterioration amount difference ΣΔRA is read from the accumulated deterioration amount difference calculating unit 5 to the correction operation selecting unit 11.
The correction operation selection unit 11 determines that the cumulative deterioration amount difference after update is ΣΔRA ≧ the cumulative deterioration amount difference before update ΣΔRB, the cumulative deterioration amount difference is updated in an increasing direction, and the updated cumulative deterioration amount difference is updated. When ΣΔRA <cumulative deterioration amount difference before update ΣΔRB, it is determined that the cumulative deterioration amount difference is updated in a decreasing direction.
FIG. 2 shows the relationship between this determination condition and the correction operation. The correction operation selection unit 11 executes functions corresponding to the update direction determination unit and the correction operation instruction unit in the claims.

補正量決定部１３は、入力信号に対する補正量を画素毎に決定する処理デバイスである。補正量決定部１３は、累積劣化量差がある期間内に解消される方向で補正量を決定する。補正量の演算手法は任意である。
なお、決定された補正量は、補正効果予測部７と劣化量差補正部１５に与えられる。
劣化量差補正部１５は、与えられた補正量によって入力信号を補正する処理デバイスである。補正後の入力信号は、自発光素子が配列された表示パネルの駆動信号として出力される。ここでの補正処理は、補正量の加減算の他、入力信号のゲインの増減、補正量との置換などにより実現する。 The correction amount determination unit 13 is a processing device that determines a correction amount for an input signal for each pixel. The correction amount determination unit 13 determines the correction amount in such a direction that the accumulated deterioration amount difference is eliminated within a certain period. The calculation method of the correction amount is arbitrary.
The determined correction amount is given to the correction effect prediction unit 7 and the deterioration amount difference correction unit 15.
The deterioration amount difference correction unit 15 is a processing device that corrects an input signal with a given correction amount. The corrected input signal is output as a drive signal for a display panel in which self-emitting elements are arranged. The correction processing here is realized by addition / subtraction of the correction amount, increase / decrease in the gain of the input signal, replacement with the correction amount, and the like.

（ｂ）焼き付き補正処理例
図３に、補正装置１で実行される一連の処理動作を示す。
次発光期間の入力信号が入力される度、補正動作選択部１１が、前発光期間の累積劣化量差ΣΔＲＢを確認する（Ｓ１）。
これと並行して、次発光期間の入力信号について、劣化量差算出部３が補正対象画素と基準画素の劣化量差を算出する。この後、劣化量差算出部３は、前発光期間に算出された累積劣化量差に新たに算出された劣化量差を加算し、次発光期間に対応する累積劣化量差ΣΔＲＡを算出する。
この累積劣化量差ΣΔＲＡは、補正動作選択部１１において確認される（Ｓ２）。 (B) Burn-in Correction Processing Example FIG. 3 shows a series of processing operations executed by the correction device 1.
Each time an input signal for the next light emission period is input, the correction operation selection unit 11 checks the cumulative deterioration amount difference ΣΔRB for the previous light emission period (S1).
In parallel with this, the deterioration amount difference calculation unit 3 calculates the deterioration amount difference between the correction target pixel and the reference pixel for the input signal of the next light emission period. Thereafter, the deterioration amount difference calculation unit 3 adds the newly calculated deterioration amount difference to the cumulative deterioration amount difference calculated in the previous light emission period, and calculates a cumulative deterioration amount difference ΣΔRA corresponding to the next light emission period.
This cumulative deterioration amount difference ΣΔRA is confirmed by the correction operation selection unit 11 (S2).

更新前後の累積劣化量差が確認されると、補正動作選択部１１は、次発光期間の累積劣化量差ΣΔＲＡが前発光期間の累積劣化量差ΣΔＲＢより小さいか否かが判定される（Ｓ３）。この判定処理は補正対象画素ごとに実行される。
ここで肯定結果が得られた場合、補正動作選択部１１は、補正量決定部１３に補正処理の停止を指示する（補正量をゼロに制御する指示を含む。）。劣化量差補正部１５は、次発光期間に対応する入力信号を補正せず、そのまま次発光装置に出力する（Ｓ４）。 When the cumulative deterioration amount difference before and after the update is confirmed, the correction operation selection unit 11 determines whether or not the cumulative deterioration amount difference ΣΔRA in the next light emission period is smaller than the cumulative deterioration amount difference ΣΔRB in the previous light emission period (S3). ). This determination process is executed for each correction target pixel.
When a positive result is obtained here, the correction operation selection unit 11 instructs the correction amount determination unit 13 to stop the correction process (including an instruction to control the correction amount to zero). The deterioration amount difference correction unit 15 does not correct the input signal corresponding to the next light emission period, and outputs it to the next light emitting device as it is (S4).

一方、否定結果が得られた場合、補正動作選択部１１は、補正量決定部１３に補正処理の実行を指示する。この指示を受けて、補正量決定部１３は、累積劣化量差ΣΔＲがある期間内に補正されるように補正量を決定する。この後、劣化量差補正部１５が入力信号の補正処理を実行する（Ｓ５）。
この処理に続き、補正効果予測部７は、補正量を劣化量差に換算し、累積劣化量差算出部５に与える。累積劣化量差算出部５は、換算された劣化量差を累積劣化量差から減算し、補正効果を累積劣化量差に反映する（Ｓ６）。 On the other hand, when a negative result is obtained, the correction operation selection unit 11 instructs the correction amount determination unit 13 to execute the correction process. In response to this instruction, the correction amount determination unit 13 determines the correction amount so that the accumulated deterioration amount difference ΣΔR is corrected within a certain period. Thereafter, the deterioration amount difference correction unit 15 executes the input signal correction process (S5).
Following this process, the correction effect predicting unit 7 converts the correction amount into a deterioration amount difference and gives it to the cumulative deterioration amount difference calculating unit 5. The cumulative deterioration amount difference calculation unit 5 subtracts the converted deterioration amount difference from the cumulative deterioration amount difference, and reflects the correction effect on the cumulative deterioration amount difference (S6).

（ｃ）形態例の効果
一連の処理の実行により、そのままでも焼き付き現象を改善できる画素については、原画像のまま自発光装置に表示できる。このため、画質の維持と焼き付き現象の補正とを同時に実行できる。
勿論、原画像をそのまま自発光装置に表示したのでは累積劣化量差が拡大する場合（焼き付き現象が目立ち易くなる場合）には、累積劣化量差が縮小するように補正動作が実行される。
ここで、補正動作の実行は、補正対象画素の入力信号値を変更することを意味する。従って、補正動作が実行された画素の画質は一般に低下する。 (C) Effects of Embodiments By performing a series of processes, pixels that can improve the burn-in phenomenon as they are can be displayed on the light-emitting device as they are. For this reason, it is possible to simultaneously execute image quality maintenance and image sticking correction.
Of course, when the original image is displayed on the self-light-emitting device as it is, when the accumulated deterioration amount difference increases (when the burn-in phenomenon becomes noticeable), the correction operation is performed so that the accumulated deterioration amount difference is reduced.
Here, executing the correction operation means changing the input signal value of the correction target pixel. Therefore, the image quality of the pixel for which the correction operation has been performed generally decreases.

しかし、場合分けした各状態の存在確率から、自発光装置を構成する全画素が同時に補正される可能性はほとんど無い。従って、補正動作の部分的な実行によってもある程度の画質は確保される。例えば、約半分程度の画素については原画像の画質のまま表示できる。
また、使用中（画像の表示中）も焼き付き現象の補正動作が実行されるため、非使用状態での補正時間が短くて済む。すなわち、非使用状態が短くても、焼き付き補正動作を完了できる。また、非使用状態での補正期間が短く済むため、無駄な電力消費を無くすことができる。 However, there is almost no possibility that all the pixels constituting the self-light-emitting device are corrected at the same time from the existence probabilities of the respective states. Therefore, a certain level of image quality is ensured even by partial execution of the correction operation. For example, about half of the pixels can be displayed with the original image quality.
Further, since the burn-in phenomenon correction operation is executed during use (during image display), the correction time in the non-use state can be shortened. That is, even if the non-use state is short, the burn-in correction operation can be completed. In addition, since the correction period in the non-use state can be shortened, useless power consumption can be eliminated.

（Ｂ）形態例２
（ａ）焼き付き現象補正装置の構成
続いて、補正装置の他の構成例について説明する。前述の形態例１では、累積劣化量差の更新前後の変化方向により補正処理の実行と停止を選択する場合について説明したが、この形態例では他の判定手法について説明する。
ここでは、前発光期間までに補正対象画素と基準画素のどちらがより劣化が進んでいるかと、次発光期間の入力信号値の大小関係に基づいて補正動作の実行と停止を選択する場合について説明する。
この形態例では、前発光期間までに生じた劣化の関係を、累積劣化量差の符号（正値／負値）により判定するものとして説明する。 (B) Embodiment 2
(A) Configuration of Burn-in Phenomenon Correction Device Next, another configuration example of the correction device will be described. In the first embodiment, the case where execution and stop of the correction process are selected according to the change direction before and after the update of the accumulated deterioration amount difference has been described. In this embodiment, another determination method will be described.
Here, a description will be given of a case where the execution or stop of the correction operation is selected based on which of the correction target pixel and the reference pixel is further deteriorated by the previous light emission period and the magnitude relationship of the input signal values in the next light emission period. .
In this embodiment, a description will be given on the assumption that the relationship of deterioration that has occurred until the previous light emission period is determined by the sign (positive value / negative value) of the cumulative deterioration amount difference.

図４に、この方式を採用する補正装置の構成例を示す。
補正装置２１は、劣化量差算出部３、累積劣化量差算出部５、補正効果予測部７、累積劣化量差蓄積部９、補正動作選択部２３、補正量決定部１３、劣化量差補正部１５を主要な構成要素とする。
図１との対応部分には同一符号を付して示すように、形態例１との違いは補正動作選択部２３のみである。従って、形態例１と同じ構成部分についての説明は省略する。
補正動作選択部２３は、入力信号値と累積劣化量差ΣΔＲに基づいて補正動作の実行と停止を選択する処理デバイスである。
補正動作選択部２３は、累積劣化量差ΣΔＲの符号が正値か負値かにより、補正対象画素と基準画素のいずれの劣化が進んでいるかを最初に判定する。 FIG. 4 shows a configuration example of a correction apparatus that employs this method.
The correction device 21 includes a deterioration amount difference calculation unit 3, a cumulative deterioration amount difference calculation unit 5, a correction effect prediction unit 7, a cumulative deterioration amount difference accumulation unit 9, a correction operation selection unit 23, a correction amount determination unit 13, and a deterioration amount difference correction. The unit 15 is a main component.
As shown in FIG. 1, the same reference numerals are assigned to the corresponding parts, and only the correction operation selection unit 23 is different from the first embodiment. Therefore, the description of the same components as those in Embodiment 1 is omitted.
The correction operation selection unit 23 is a processing device that selects execution and stop of the correction operation based on the input signal value and the accumulated deterioration amount difference ΣΔR.
The correction operation selection unit 23 first determines which deterioration of the correction target pixel or the reference pixel is progressing depending on whether the sign of the accumulated deterioration amount difference ΣΔR is a positive value or a negative value.

次に、次発光期間の入力信号値の大小関係により累積劣化量差の変更方向を判断する。
例えば、基準画素に対する補正対象画素の累積劣化量差が正の場合に（補正対象画素の方が相対的に劣化していることを意味する。）、補正対象画素についての入力信号値の方が基準画素についての入力信号値よりも小さいとき、補正動作選択部２３は、累積劣化量差が自然に縮小されると判断する。すなわち、焼き付き現象が自然に改善される入力信号値であると判断する。
また例えば、基準画素に対する補正対象画素の累積劣化量差が正の場合に、補正対象画素と基準画素の入力信号値が同じか、補正対象画素についての入力信号値の方が基準画素についての入力信号値よりも大きいとき、補正動作選択部２３は、累積劣化量差が縮小されないと判断する。すなわち、補正処理が必要であると判断する。このとき、補正対象画素に対応する入力信号値は、基準画素に対応する入力信号値よりも小さくなるように補正量が決定される。 Next, the change direction of the accumulated deterioration amount difference is determined based on the magnitude relationship of the input signal values in the next light emission period.
For example, when the accumulated deterioration amount difference of the correction target pixel with respect to the reference pixel is positive (meaning that the correction target pixel is relatively deteriorated), the input signal value for the correction target pixel is more When the input signal value is smaller than the reference pixel, the correction operation selection unit 23 determines that the accumulated deterioration amount difference is naturally reduced. In other words, it is determined that the input signal value can naturally improve the burn-in phenomenon.
In addition, for example, when the accumulated deterioration amount difference of the correction target pixel with respect to the reference pixel is positive, the input signal value of the correction target pixel and the reference pixel are the same, or the input signal value for the correction target pixel is the input for the reference pixel. When larger than the signal value, the correction operation selecting unit 23 determines that the accumulated deterioration amount difference is not reduced. That is, it is determined that correction processing is necessary. At this time, the correction amount is determined so that the input signal value corresponding to the correction target pixel is smaller than the input signal value corresponding to the reference pixel.

また例えば、基準画素に対する補正対象画素の累積劣化量差が負の場合に（基準画素の方が相対的に劣化していることを意味する。）、補正対象画素についての入力信号値の方が基準画素についての入力信号値よりも大きいとき、補正動作選択部２３は、累積劣化量差が自然に縮小されると判断する。すなわち、焼き付き現象が自然に改善される入力信号値であると判断する。
また例えば、基準画素に対する補正対象画素の累積劣化量差が負の場合に、補正対象画素と基準画素の入力信号値が同じか、補正対象画素についての入力信号値の方が基準画素についての入力信号値よりも小さいとき、補正動作選択部２３は、累積劣化量差が縮小されないと判断する。すなわち、補正処理が必要であると判断する。このとき、補正対象画素に対応する入力信号値は、基準画素に対応する入力信号値よりも大きくなるように補正量が決定される。
図５に、この判定動作と補正動作の関係を示す。やはり、この補正動作選択部２３が、請求項における更新方向判定部と補正動作指示部に対応する機能を実行する。 For example, when the cumulative deterioration amount difference of the correction target pixel with respect to the reference pixel is negative (meaning that the reference pixel is relatively deteriorated), the input signal value with respect to the correction target pixel is greater. When it is larger than the input signal value for the reference pixel, the correction operation selection unit 23 determines that the accumulated deterioration amount difference is naturally reduced. That is, it is determined that the input signal value is a natural improvement in the burn-in phenomenon.
Also, for example, when the accumulated deterioration amount difference of the correction target pixel with respect to the reference pixel is negative, the input signal value of the correction target pixel and the reference pixel are the same, or the input signal value for the correction target pixel is the input for the reference pixel. When the value is smaller than the signal value, the correction operation selecting unit 23 determines that the accumulated deterioration amount difference is not reduced. That is, it is determined that correction processing is necessary. At this time, the correction amount is determined so that the input signal value corresponding to the correction target pixel is larger than the input signal value corresponding to the reference pixel.
FIG. 5 shows the relationship between the determination operation and the correction operation. Again, the correction operation selection unit 23 executes functions corresponding to the update direction determination unit and the correction operation instruction unit in the claims.

（ｂ）焼き付き補正処理例
図６に、補正装置２１で実行される一連の処理動作を示す。
次発光期間の入力信号が入力される度、補正動作選択部２３が、前発光期間の累積劣化量差ΣΔＲＢを確認する（Ｓ１１）。
また、補正動作選択部２３は、次発光期間の入力信号値を、補正対象画素と基準画素のそれぞれについて確認する（Ｓ１２）。
次に、補正動作選択部２３は、前発光期間の累積劣化量差ΣΔＲＢが非ゼロか否かを判定する（Ｓ１３）。
このステップＳ１３で否定結果が得られたとき（すなわち、累積劣化量差ΣΔＲＢ＝０のとき）、補正動作選択部２３は、入力信号をそのまま補正せずに出力するように指示する（Ｓ１４）。 (B) Burn-in Correction Processing Example FIG. 6 shows a series of processing operations executed by the correction device 21.
Each time an input signal for the next light emission period is input, the correction operation selection unit 23 checks the cumulative deterioration amount difference ΣΔRB for the previous light emission period (S11).
The correction operation selection unit 23 checks the input signal value of the next light emission period for each of the correction target pixel and the reference pixel (S12).
Next, the correction operation selection unit 23 determines whether or not the cumulative deterioration amount difference ΣΔRB in the previous light emission period is non-zero (S13).
When a negative result is obtained in step S13 (that is, when the cumulative deterioration amount difference ΣΔRB = 0), the correction operation selection unit 23 instructs to output the input signal without correction (S14).

これに対し、肯定結果が得られたとき、補正動作選択部２３は、累積劣化量差ΣΔＲＢが負か否かを判定する（Ｓ１５）。
なお、ステップＳ１５で肯定結果が得られた場合、補正動作選択部２３は、補正対象画素の入力信号値が基準画素以下か否か判定する（Ｓ１６）。
このステップＳ１６で否定結果が得られれば、そのことは累積劣化量差ΣΔＲＡが縮小されることを意味する。従って、補正動作選択部２３は、入力信号をそのまま補正せずに出力するように指示する（Ｓ１４）。
一方、ステップＳ１６で肯定結果が得られれば、そのことは累積劣化量差ΣΔＲＡが拡大されることを意味する。従って、補正動作選択部２３は、累積劣化量差ΣΔＲＡが縮小されるように補正対象画素の入力信号値が基準画素より大きい値に変更されるように補正処理の実行を指示する（Ｓ１７）。そして、算出された補正量により入力信号の補正が実行される。 On the other hand, when a positive result is obtained, the correction operation selection unit 23 determines whether or not the cumulative deterioration amount difference ΣΔRB is negative (S15).
If a positive result is obtained in step S15, the correction operation selection unit 23 determines whether or not the input signal value of the correction target pixel is equal to or less than the reference pixel (S16).
If a negative result is obtained in this step S16, this means that the cumulative deterioration amount difference ΣΔRA is reduced. Accordingly, the correction operation selection unit 23 instructs to output the input signal without correction (S14).
On the other hand, if a positive result is obtained in step S16, this means that the cumulative deterioration amount difference ΣΔRA is enlarged. Accordingly, the correction operation selection unit 23 instructs the execution of the correction process so that the input signal value of the correction target pixel is changed to a value larger than the reference pixel so that the cumulative deterioration amount difference ΣΔRA is reduced (S17). Then, the correction of the input signal is executed with the calculated correction amount.

また、ステップＳ１５で否定結果が得られた場合、補正動作選択部２３は、補正対象画素の入力信号値が基準画素以上か否か判定する（Ｓ１８）。
このステップＳ１８で否定結果が得られれば、そのことは累積劣化量差ΣΔＲ１が縮小されることを意味する。従って、補正動作選択部２３は、入力信号をそのまま補正せずに出力するように指示する（Ｓ１４）。
一方、ステップＳ１８で肯定結果が得られれば、そのことは累積劣化量差ΣΔＲ１が拡大されることを意味する。従って、補正動作選択部２３は、累積劣化量差ΣΔＲ１が縮小されるように補正対象画素の入力信号値が基準画素より小さい値に変更されるように補正処理の実行を指示する（Ｓ１９）。そして、算出された補正量により入力信号の補正が実行される。
この後、補正効果予測部７は、補正量を劣化量差に換算し、累積劣化量差算出部５に与える。累積劣化量差算出部５は、換算された劣化量差を累積劣化量差から減算し、補正効果を累積劣化量差に反映する（Ｓ２０）。 If a negative result is obtained in step S15, the correction operation selection unit 23 determines whether the input signal value of the correction target pixel is equal to or higher than the reference pixel (S18).
If a negative result is obtained in step S18, this means that the cumulative deterioration amount difference ΣΔR1 is reduced. Accordingly, the correction operation selection unit 23 instructs to output the input signal without correction (S14).
On the other hand, if a positive result is obtained in step S18, this means that the cumulative deterioration amount difference ΣΔR1 is enlarged. Accordingly, the correction operation selection unit 23 instructs the execution of the correction process so that the input signal value of the correction target pixel is changed to a value smaller than the reference pixel so that the cumulative deterioration amount difference ΣΔR1 is reduced (S19). Then, the correction of the input signal is executed with the calculated correction amount.
Thereafter, the correction effect prediction unit 7 converts the correction amount into a deterioration amount difference, and gives it to the cumulative deterioration amount difference calculation unit 5. The cumulative deterioration amount difference calculation unit 5 subtracts the converted deterioration amount difference from the cumulative deterioration amount difference, and reflects the correction effect on the cumulative deterioration amount difference (S20).

（ｃ）形態例の効果
このような処理方法を採用する場合にも、そのままでも焼き付き現象を改善できる画像（又は画素）については、原画像のまま自発光装置に表示できる。このため、画質の維持と焼き付き現象の補正とを同時に実行できる。
勿論、原画像をそのまま自発光装置に表示したのでは累積劣化量差が拡大する（焼き付き現象が目立ち易くなる）場合には、累積劣化量差が縮小するように補正動作が実行される。
また、使用中（画像の表示中）も焼き付き現象の補正動作が実行されるため、非使用状態での補正時間が短くて済む。すなわち、非使用状態が短くても、焼き付き補正動作を完了できる。また、非使用状態での補正期間が短く済むため、無駄な電力消費を無くすことができる。 (C) Effects of Embodiments When such a processing method is employed, an image (or pixel) that can improve the burn-in phenomenon even if it is used can be displayed on the self-luminous device as it is. For this reason, it is possible to simultaneously execute image quality maintenance and image sticking correction.
Of course, when the original image is displayed on the self-luminous device as it is, if the accumulated deterioration amount difference increases (the burn-in phenomenon becomes more conspicuous), the correction operation is executed so that the accumulated deterioration amount difference is reduced.
Further, since the burn-in phenomenon correction operation is executed during use (during image display), the correction time in the non-use state can be shortened. That is, even if the non-use state is short, the burn-in correction operation can be completed. In addition, since the correction period in the non-use state can be shortened, useless power consumption can be eliminated.

（Ｃ）形態例３
（ａ）焼き付き現象補正装置の構成
この形態例では、劣化量差の算出に劣化率を用いる場合について補正処理の選択動作を説明する。
劣化率とは、発光量の低下を単位時間当たりに換算した値をいい、発光特性の実測値より求められる。例えば、個々の階調値による発光がある期間継続した場合に実測された輝度の低下量を単位時間当たりに換算した値として与えられる。
なお、劣化率（単位時間あたりの劣化比率）は、各画素の発光輝度（例えば、駆動電流量）やその時の発熱温度が影響する特性がある。
これは、発光特性の劣化が、入力信号値に比例して進行しない場合に非常に有効な処理手法であり、発明者らが提案する算出手法である。 (C) Embodiment 3
(A) Configuration of Burn-in Phenomenon Correction Device In this embodiment, the correction processing selection operation will be described in the case where the deterioration rate is used for calculating the deterioration amount difference.
The deterioration rate refers to a value obtained by converting a decrease in light emission amount per unit time, and is obtained from an actual measurement value of light emission characteristics. For example, it is given as a value obtained by converting the actually measured amount of decrease in luminance when light emission by individual gradation values continues for a certain period.
The deterioration rate (deterioration ratio per unit time) has a characteristic that the light emission luminance (for example, drive current amount) of each pixel and the heat generation temperature at that time have an influence.
This is a very effective processing technique when the deterioration of the light emission characteristics does not proceed in proportion to the input signal value, and is a calculation technique proposed by the inventors.

（ａ）焼き付き現象補正装置の構成
図７に、補正装置の他の形態例を示す。図７に示す補正装置３１は、階調値−劣化率変換テーブル３３、劣化量差算出部３５、累積劣化量差算出部５、補正効果予測部７、累積劣化量差蓄積部９、補正動作選択部３７、補正量決定部３９、劣化量差補正部１５を主要な構成要素とする。
（ａ−１）階調値−劣化率変換テーブル
このうち、階調値−劣化率変換テーブル３３、劣化量差算出部３５、補正動作選択部３７の３つがこの形態例に特有の構成要素である。以下では、これらの構成要素を主に説明する。なお、他の構成は形態例１と同じであるため説明を省略する。 (A) Configuration of Burn-in Phenomenon Correction Device FIG. 7 shows another example of the correction device. 7 includes a gradation value-deterioration rate conversion table 33, a deterioration amount difference calculation unit 35, a cumulative deterioration amount difference calculation unit 5, a correction effect prediction unit 7, a cumulative deterioration amount difference accumulation unit 9, and a correction operation. The selection unit 37, the correction amount determination unit 39, and the deterioration amount difference correction unit 15 are main components.
(A-1) Tone value-deterioration rate conversion table Among these, the tone value-deterioration rate conversion table 33, the deterioration amount difference calculation unit 35, and the correction operation selection unit 37 are the components that are unique to this embodiment. is there. In the following, these components will be mainly described. Since other configurations are the same as those of the first embodiment, the description thereof is omitted.

階調値−劣化率変換テーブル３３（以下、「変換テーブル３３」という。）は、入力信号が階調値で与えられる場合に、これを劣化率に変換するためのルックアップテーブルである。
ここで、テーブル情報は、事前の実験で取得された階調値と劣化率の対応関係に基づいて設定する。発明者らは、テーブル情報を決める実験例として以下の手法を一例として提案する。例えば、ある固定の階調値で自発光デバイスを一定期間点灯し、その際に実測される輝度が最大階調値（８ビットの場合は２５５）の初期輝度に対してどれだけ低下しているかを実測する作業（すなわち、輝度低下率）を全ての階調値について繰り返す。
なお、階調数が多い場合には、適当な階調値をサンプリングし、その結果から得られる関係式を利用して算出するという方法も考えられる。 The gradation value-deterioration rate conversion table 33 (hereinafter referred to as “conversion table 33”) is a lookup table for converting an input signal into a deterioration rate when given as a gradation value.
Here, the table information is set based on the correspondence relationship between the gradation value and the deterioration rate acquired in the previous experiment. The inventors propose the following method as an example of an experiment for determining table information. For example, when the self-luminous device is turned on for a certain period at a certain fixed gradation value, how much the actually measured luminance is reduced with respect to the initial luminance of the maximum gradation value (255 for 8-bit) The operation of actually measuring (that is, the luminance reduction rate) is repeated for all gradation values.
When the number of gradations is large, a method of sampling an appropriate gradation value and calculating using a relational expression obtained from the result is also conceivable.

図８は、この階調値と劣化率との対応関係を表している。例えば、階調値“ｎ”に対応する劣化率を“Ｘｎ
”として表している。なお、図８は８ビットの場合であるので、ｎは０〜２５５までの値として与えられる。
図９に、具体例を示す。この例の場合、大階調値（２５５）の劣化率は０．０３％であり、中間階調値（１２７）の劣化率は０．０１％である。また、発光期間が１の場合の劣化量は、それぞれ３００×１０-4％と１００×１０-4％である。
なお、この変換テーブルは、階調値から劣化率を読み出すことも、劣化率から階調値を読み出すことも可能である。 FIG. 8 shows the correspondence between the gradation value and the deterioration rate. For example, the deterioration rate corresponding to the gradation value “n” is set to “X n
Note that, since FIG. 8 is a case of 8 bits, n is given as a value from 0 to 255.
FIG. 9 shows a specific example. In this example, the deterioration rate of the large gradation value (255) is 0.03%, and the deterioration rate of the intermediate gradation value (127) is 0.01%. Further, the degradation amounts when the light emission period is 1 are 300 × 10 −4 % and 100 × 10 −4 %, respectively.
In this conversion table, the deterioration rate can be read from the gradation value, or the gradation value can be read from the deterioration rate.

（ａ−２）劣化量差算出部
劣化量算出部３５は、各画素に対応する入力信号値（階調値）から各発光期間の劣化量を算出する処理デバイスである。
劣化量算出部３５は、階調値に対応する劣化率を階調値−劣化率変換テーブル３３を参照して読み出すと共に、読み出された劣化率に発光時間ｔを乗算して導出される劣化量の差を算出する処理デバイスである。
図１０に、劣化量差算出部３５で実行される信号処理例を示す。なお、補正対象画素を画素１、基準画素を画素２として説明する。
まず、劣化量算出部３５は、画素１及び２それぞれについて、各階調値と発光期間ｔ１を検出する（Ｓ２１）。 (A-2) Degradation Amount Difference Calculation Unit The degradation amount calculation unit 35 is a processing device that calculates a deterioration amount in each light emission period from an input signal value (gradation value) corresponding to each pixel.
The deterioration amount calculation unit 35 reads out the deterioration rate corresponding to the gradation value with reference to the gradation value-deterioration rate conversion table 33, and multiplies the read out deterioration rate by the light emission time t. A processing device that calculates the difference in quantity.
FIG. 10 shows an example of signal processing executed by the deterioration amount difference calculation unit 35. The correction target pixel will be described as pixel 1, and the reference pixel will be described as pixel 2.
First, the deterioration amount calculation unit 35 detects each gradation value and the light emission period t1 for each of the pixels 1 and 2 (S21).

次に、劣化量差算出部３５は、検出された各階調値に対応する劣化率を導出する（Ｓ２２）。ここでは、画素１に対応する劣化率をα１、画素２に対応する劣化率をα２と示す。
劣化量差算出部３５は、導出された各劣化率α１、α２に発光期間ｔ１を乗算し、画素１の劣化量Ｒ（α１）と、画素２の劣化量Ｒ（α２）を算出する（Ｓ２３）。
この後、劣化量差算出部３５は、Ｒ（α１）−Ｒ（α２）で与えられる演算処理を実行し、画素１と画素２の２画素間における劣化量差ΔＲを算出する（Ｓ２４）。
このように算出された劣化量差ΔＲが累積劣化量差算出部５に与えられ、累積劣化量差ΣΔＲの更新に用いられる。 Next, the deterioration amount difference calculation unit 35 derives a deterioration rate corresponding to each detected gradation value (S22). Here, the deterioration rate corresponding to the pixel 1 is denoted by α1, and the deterioration rate corresponding to the pixel 2 is denoted by α2.
The deterioration amount difference calculation unit 35 multiplies the derived deterioration rates α1 and α2 by the light emission period t1 to calculate the deterioration amount R (α1) of the pixel 1 and the deterioration amount R (α2) of the pixel 2 (S23). ).
Thereafter, the deterioration amount difference calculation unit 35 executes a calculation process given by R (α1) −R (α2), and calculates a deterioration amount difference ΔR between the two pixels of the pixel 1 and the pixel 2 (S24).
The deterioration amount difference ΔR calculated in this way is given to the cumulative deterioration amount difference calculation unit 5 and used for updating the cumulative deterioration amount difference ΣΔR.

（ａ−３）補正動作選択部
補正動作選択部３７は、前発光期間までの累積劣化量差ΔＲと次発光期間の階調値に対応する劣化率α１、α２に基づいて補正動作の実行と停止を選択する処理デバイスである。
まず、補正動作の実行と停止の判断基準を与える補正条件を説明する。
図１１及び図１２に、補正動作の選択原理を説明する。図１０の場合と同様に、補正対象画素を画素１、基準画素を画素２として説明する。また、現在の発光期間をｔ１、次の発光期間をｔ２として説明する。なお、以下に示す条件を満たす場合、発光期間ｔ２は、発光期間ｔ１までに発生した累積劣化量差を補正する期間となる。 (A-3) Correction Operation Selection Unit The correction operation selection unit 37 executes the correction operation based on the accumulated deterioration amount difference ΔR until the previous light emission period and the deterioration rates α1 and α2 corresponding to the gradation values of the next light emission period. A processing device that selects a stop.
First, a correction condition that gives a criterion for executing and stopping the correction operation will be described.
11 and 12 explain the selection principle of the correction operation. Similar to the case of FIG. 10, the correction target pixel will be described as pixel 1, and the reference pixel will be described as pixel 2. Also, the current light emission period is assumed to be t1, and the next light emission period is assumed to be t2. When the following conditions are satisfied, the light emission period t2 is a period for correcting the accumulated deterioration amount difference generated up to the light emission period t1.

以下では、発光期間ｔ１及びｔ２が任意の長さであるとして説明する。もっとも、ｔ１とｔ２は同じ１フレーム期間でも良い。ここでも、画素１に対応する劣化率をα１、画素２に対応する劣化率をα２とする。
この場合、画素１の発光期間ｔ１における劣化量Ｒ（α１）は、α１×ｔ１で与えられ、画素２の発光期間ｔ１における劣化量Ｒ（α２）は、α２×ｔ２で与えられる。従って、画素２に対する画素１の劣化量差ΔＲ１は、Ｒ（α１）−Ｒ（α２）（＝（α１−α２）×ｔ１）で与えられる。 In the following description, it is assumed that the light emission periods t1 and t2 have an arbitrary length. However, t1 and t2 may be the same one frame period. Again, the deterioration rate corresponding to the pixel 1 is α1, and the deterioration rate corresponding to the pixel 2 is α2.
In this case, the deterioration amount R (α1) of the pixel 1 in the light emission period t1 is given by α1 × t1, and the deterioration amount R (α2) of the pixel 2 in the light emission period t1 is given by α2 × t2. Accordingly, the deterioration amount difference ΔR1 of the pixel 1 with respect to the pixel 2 is given by R (α1) −R (α2) (= (α1−α2) × t1).

図１１に、発光期間ｔ１の劣化率α１がα２より大きい場合（すなわち、画素１の劣化が画素２より進んでいる場合）の特性変化を示す。この場合、劣化量差ΔＲ１は正値となる。なお、図１１は、発光期間ｔ１の開始時において画素１と画素２の劣化量が同じであるものとして表している。
図１２に、発光期間ｔ１の劣化率α１がα２より小さい場合（すなわち、画素１の劣化が画素２より遅れている場合）の特性変化を示す。この場合、劣化量差ΔＲ１は負値となる。この図１２も、発光期間ｔ１の開始時において画素１と画素２の劣化量が同じであるものとして表している。 FIG. 11 shows a change in characteristics when the deterioration rate α1 of the light emission period t1 is larger than α2 (that is, when the deterioration of the pixel 1 is more advanced than the pixel 2). In this case, the deterioration amount difference ΔR1 is a positive value. Note that FIG. 11 shows that the deterioration amounts of the pixel 1 and the pixel 2 are the same at the start of the light emission period t1.
FIG. 12 shows a characteristic change when the deterioration rate α1 of the light emission period t1 is smaller than α2 (that is, when the deterioration of the pixel 1 is delayed from the pixel 2). In this case, the deterioration amount difference ΔR1 is a negative value. FIG. 12 also shows that the deterioration amounts of the pixel 1 and the pixel 2 are the same at the start of the light emission period t1.

発光期間ｔ２の劣化量差ΔＲ２も同様に表すことができる。すなわち、ΔＲ２は、画素１に対応する劣化率β１と画素２に対応する劣化率β２を用い、Ｒ（β１）−Ｒ（β２）（＝（β１−β２）×ｔ２）で表すことができる。
図１１及び図１２から分かるように、焼き付き現象を改善するには、その原因である劣化量差が小さくなるように更新されること、すなわち、｜ΔＲ１｜よりも｜ΔＲ１＋ΔＲ２｜の方が小さくなるように更新されることが必要である。
この条件は、｜ΔＲ１｜＞｜ΔＲ１＋ΔＲ２｜で与えられる。
この条件式を満たせば、補正動作を特に実行しなくても原画像をそのまま表示するだけで画素間の劣化量差を縮小することができる。
従って、補正動作の実行と停止の選択は、この条件式を満たすか否かで判定できる。 The deterioration amount difference ΔR2 in the light emission period t2 can be similarly expressed. That is, ΔR2 can be expressed as R (β1) −R (β2) (= (β1−β2) × t2) using the deterioration rate β1 corresponding to the pixel 1 and the deterioration rate β2 corresponding to the pixel 2.
As can be seen from FIG. 11 and FIG. 12, in order to improve the burn-in phenomenon, update is performed so that the difference in deterioration amount that is the cause is smaller, that is, | ΔR1 + ΔR2 | is smaller than | ΔR1 |. Needs to be updated.
This condition is given by | ΔR1 |> | ΔR1 + ΔR2 |.
If this conditional expression is satisfied, it is possible to reduce the deterioration amount difference between pixels only by displaying the original image as it is without performing any correction operation.
Therefore, execution of the correction operation and selection of stop can be determined by whether or not this conditional expression is satisfied.

以下では、補正動作選択部３７で実行される処理動作の具体例を示す。
まず、補正動作選択部３７は、現発光期間（この場合は、発光期間ｔ１）での補正対象画素の累積劣化量差ΣΔＲＢが正値か負値か判定する。すなわち、補正対象画素の劣化が基準画素に対して進んでいる状態か、それとも遅れている状態かを判定する。
次に、補正動作選択部３７は、次発光期間（この場合は、発光期間ｔ２）において、補正対象画素の劣化率と基準画素の劣化率との大小関係を判定する。
例えば、累積劣化量差が正値の場合に、補正対象画素の劣化率β１が基準画素β２の劣化率より低ければ、劣化量差ΔＲは縮小する。
従って、補正動作選択部３７は、原画像信号のうちでこの条件を満たす画素を、画質低下を引き起こす補正動作が不要であると判断する。 Hereinafter, a specific example of the processing operation executed by the correction operation selection unit 37 will be shown.
First, the correction operation selection unit 37 determines whether the accumulated deterioration amount difference ΣΔRB of the correction target pixel in the current light emission period (in this case, the light emission period t1) is a positive value or a negative value. That is, it is determined whether the deterioration of the correction target pixel is advanced or delayed with respect to the reference pixel.
Next, the correction operation selection unit 37 determines the magnitude relationship between the deterioration rate of the correction target pixel and the deterioration rate of the reference pixel in the next light emission period (in this case, the light emission period t2).
For example, when the accumulated deterioration amount difference is a positive value, if the deterioration rate β1 of the correction target pixel is lower than the deterioration rate of the reference pixel β2, the deterioration amount difference ΔR is reduced.
Therefore, the correction operation selection unit 37 determines that a correction operation that causes a deterioration in image quality is unnecessary for pixels that satisfy this condition in the original image signal.

また例えば、累積劣化量差が正値の場合に、補正対象画素の劣化率β１が基準画素β２の劣化率より大きいとき又は両階調値が同じとき、劣化量差ΔＲは拡大するか現状のままである。
この場合、補正動作選択部３７は、補正対象画素の劣化率β１を基準画素β２の劣化率より低くするように補正動作を指示する。
また例えば、累積劣化量差が負値の場合に、補正対象画素の劣化率β１が基準画素β２の劣化率より大きければ、劣化量差ΔＲは縮小する。
従って、補正動作選択部３７は、原画像信号のうちでこの条件を満たす画素を、画質低下を引き起こす補正動作が不要であると判断する。 Further, for example, when the accumulated deterioration amount difference is a positive value, when the deterioration rate β1 of the correction target pixel is larger than the deterioration rate of the reference pixel β2 or when both gradation values are the same, the deterioration amount difference ΔR is increased or It remains.
In this case, the correction operation selection unit 37 instructs the correction operation so that the deterioration rate β1 of the correction target pixel is lower than the deterioration rate of the reference pixel β2.
Further, for example, when the cumulative deterioration amount difference is a negative value, if the deterioration rate β1 of the correction target pixel is larger than the deterioration rate of the reference pixel β2, the deterioration amount difference ΔR is reduced.
Therefore, the correction operation selection unit 37 determines that a correction operation that causes a deterioration in image quality is unnecessary for pixels that satisfy this condition in the original image signal.

また例えば、累積劣化量差が負値の場合に、補正対象画素の劣化率β１が基準画素β２の劣化率より小さいとき又は両階調値が同じとき、劣化量差ΔＲは拡大するか現状のままである。
この場合、補正動作選択部３７は、補正対象画素の劣化率β１を基準画素β２の劣化率より大きくなるように補正動作を指示する。
図１３に、この判定動作と補正動作の関係を示す。やはり、この補正動作選択部３７が、請求項における更新方向判定部と補正動作指示部に対応する機能を実行する。 In addition, for example, when the cumulative deterioration amount difference is a negative value, when the deterioration rate β1 of the correction target pixel is smaller than the deterioration rate of the reference pixel β2 or when both gradation values are the same, the deterioration amount difference ΔR increases or It remains.
In this case, the correction operation selection unit 37 instructs the correction operation so that the deterioration rate β1 of the correction target pixel is larger than the deterioration rate of the reference pixel β2.
FIG. 13 shows the relationship between the determination operation and the correction operation. Again, the correction operation selection unit 37 executes functions corresponding to the update direction determination unit and the correction operation instruction unit in the claims.

（ａ−４）補正量決定部
補正量決定部３９は、補正動作の実行が指示されたとき、累積劣化量差蓄積部９から読み出した累積劣化量差ΣΔＲが解消されるように劣化率β１を算出する処理デバイスである。
なお、補正量決定部３９は、補正用の劣化率β１に対応する階調値（補正量）を階調値−劣化率変換テーブル３３を参照して決定する。すなわち、変換テーブルを逆引きすることにより、劣化率に対応する階調値を導出する。
導出された階調値は、補正量として劣化量差補正部１５に与えられる。 (A-4) Correction Amount Determination Unit When the correction amount determination unit 39 is instructed to perform a correction operation, the deterioration rate β1 so that the accumulated deterioration amount difference ΣΔR read from the accumulated deterioration amount difference accumulation unit 9 is eliminated. Is a processing device for calculating
The correction amount determination unit 39 determines a gradation value (correction amount) corresponding to the correction deterioration rate β1 with reference to the gradation value-deterioration rate conversion table 33. In other words, the gradation value corresponding to the deterioration rate is derived by reversely converting the conversion table.
The derived gradation value is given to the deterioration amount difference correction unit 15 as a correction amount.

（ｂ）焼き付き補正処理例
図１４に、補正装置３１で実行される一連の処理動作を示す。
次発光期間の入力信号が入力される度、補正動作選択部３７が、前発光期間の累積劣化量差ΣΔＲＢを確認する（Ｓ３１）。
また、補正動作選択部３７は、次発光期間の階調値に対応する劣化率を、補正対象画素と基準画素のそれぞれについて確認する（Ｓ３２）。
次に、補正動作選択部３７は、前発光期間の累積劣化量差ΣΔＲＢが非ゼロか否かを判定する（Ｓ３３）。
このステップＳ３３で否定結果が得られたとき（すなわち、累積劣化量差ΣΔＲ１＝０のとき）、補正動作選択部３７は、入力信号をそのまま補正せずに出力するように指示する（Ｓ３４）。 (B) Burn-in Correction Processing Example FIG. 14 shows a series of processing operations executed by the correction device 31.
Each time an input signal for the next light emission period is input, the correction operation selection unit 37 checks the cumulative deterioration amount difference ΣΔRB for the previous light emission period (S31).
In addition, the correction operation selection unit 37 checks the deterioration rate corresponding to the gradation value of the next light emission period for each of the correction target pixel and the reference pixel (S32).
Next, the correction operation selection unit 37 determines whether or not the cumulative deterioration amount difference ΣΔRB in the previous light emission period is non-zero (S33).
When a negative result is obtained in step S33 (that is, when the cumulative deterioration amount difference ΣΔR1 = 0), the correction operation selection unit 37 instructs to output the input signal without correction (S34).

これに対し、肯定結果が得られたとき、補正動作選択部３７は、累積劣化量差ΣΔＲ１が負か否かを判定する（Ｓ３５）。
なお、ステップＳ３５で肯定結果が得られた場合、補正動作選択部３７は、補正対象画素の劣化率β１が基準画素の劣化率β２以上か否か判定する（Ｓ３６）。
このステップＳ３６で否定結果が得られれば、そのことは累積劣化量差ΣΔＲＡが縮小されることを意味する。従って、補正動作選択部３７は、入力信号をそのまま補正せずに出力するように指示する（Ｓ３４）。
一方、ステップＳ３６で肯定結果が得られれば、そのことは累積劣化量差ΣΔＲＡが拡大されることを意味する。従って、補正動作選択部２３は、累積劣化量差ΣΔＲＡが縮小されるように補正対象画素の劣化率が基準画素より大きい値に変更されるように補正処理の実行を指示する（Ｓ３７）。そして、同劣化率について導出された補正量により入力信号の補正が実行される。 On the other hand, when a positive result is obtained, the correction operation selection unit 37 determines whether or not the cumulative deterioration amount difference ΣΔR1 is negative (S35).
When a positive result is obtained in step S35, the correction operation selection unit 37 determines whether or not the deterioration rate β1 of the correction target pixel is equal to or higher than the deterioration rate β2 of the reference pixel (S36).
If a negative result is obtained in this step S36, this means that the cumulative deterioration amount difference ΣΔRA is reduced. Therefore, the correction operation selection unit 37 instructs to output the input signal without correction (S34).
On the other hand, if a positive result is obtained in step S36, this means that the cumulative deterioration amount difference ΣΔRA is enlarged. Accordingly, the correction operation selection unit 23 instructs the execution of the correction process so that the deterioration rate of the correction target pixel is changed to a value larger than the reference pixel so that the cumulative deterioration amount difference ΣΔRA is reduced (S37). Then, the input signal is corrected using the correction amount derived for the deterioration rate.

また、ステップＳ３５で否定結果が得られた場合、補正動作選択部２３は、補正対象画素の劣化率β１が基準画素の劣化率β２以上か否か判定する（Ｓ３８）。
このステップＳ３８で否定結果が得られれば、そのことは累積劣化量差ΣΔＲＡが縮小されることを意味する。従って、補正動作選択部３７は、入力信号をそのまま補正せずに出力するように指示する（Ｓ３４）。
一方、ステップＳ３８で肯定結果が得られれば、そのことは累積劣化量差ΣΔＲＡが拡大されることを意味する。従って、補正動作選択部３７は、累積劣化量差ΣΔＲＡが縮小されるように補正対象画素の劣化率が基準画素より小さい値に変更されるように補正処理の実行を指示する（Ｓ３９）。そして、算出された補正量により入力信号の補正が実行される。
この後、補正効果予測部７は、補正量を劣化量差に換算し、累積劣化量差算出部５に与える。累積劣化量差算出部５は、換算された劣化量差を累積劣化量差から減算し、補正効果を累積劣化量差に反映する（Ｓ４０）。 If a negative result is obtained in step S35, the correction operation selecting unit 23 determines whether or not the deterioration rate β1 of the correction target pixel is equal to or higher than the deterioration rate β2 of the reference pixel (S38).
If a negative result is obtained in this step S38, this means that the cumulative deterioration amount difference ΣΔRA is reduced. Therefore, the correction operation selection unit 37 instructs to output the input signal without correction (S34).
On the other hand, if a positive result is obtained in step S38, this means that the cumulative deterioration amount difference ΣΔRA is increased. Therefore, the correction operation selection unit 37 instructs the execution of the correction process so that the deterioration rate of the correction target pixel is changed to a value smaller than the reference pixel so that the cumulative deterioration amount difference ΣΔRA is reduced (S39). Then, the correction of the input signal is executed with the calculated correction amount.
Thereafter, the correction effect prediction unit 7 converts the correction amount into a deterioration amount difference, and gives it to the cumulative deterioration amount difference calculation unit 5. The cumulative deterioration amount difference calculation unit 5 subtracts the converted deterioration amount difference from the cumulative deterioration amount difference, and reflects the correction effect on the cumulative deterioration amount difference (S40).

（Ｄ）自発光装置への搭載例
図１５に、焼き付き現象補正装置の自発光装置への搭載例を示す。
自発光装置４１は、筐体４３に焼き付き現象補正装置４５と表示デバイス４７を搭載する。
ここで、焼き付き現象補正装置４５は、前述した補正装置１、２１、３１のいずれかに対応する。焼き付き現象補正装置４５は、外部端子又は内部で発生された映像信号を入力し、補正対象画素と基準画素との間に劣化量差が発生しないように入力信号の補正動作を実行する。 (D) Example of mounting on self-luminous device FIG. 15 shows an example of mounting the burn-in phenomenon correcting device on the self-luminous device.
The self-light-emitting device 41 includes a burn-in phenomenon correction device 45 and a display device 47 mounted on a housing 43.
Here, the burn-in phenomenon correction device 45 corresponds to any of the correction devices 1, 21, and 31 described above. The burn-in phenomenon correction device 45 inputs an image signal generated at an external terminal or inside, and executes an input signal correction operation so that a deterioration amount difference does not occur between the correction target pixel and the reference pixel.

また、表示デバイス４７は、表示デバイスとその駆動回路とで構成されるものとする。表示デバイスには、有機ＥＬ（エレクトロルミネッセンス）パネル、ＰＤＰ（プラズマディスプレイパネル）、ＦＥＤ（電界放出ディスプレイ）パネル、ＬＥＤパネル、ＣＲＴが用いられる。
図１４の場合、自発光装置４１に、焼き付き現象の補正専用の処理デバイスである焼き付き現象補正装置４５が搭載されているものとして表しているが、当該機能がソフトウェア的に全て実行される場合には、これらの機能は自発光装置に搭載されたコンピュータにより実現される。 The display device 47 is assumed to be composed of a display device and its drive circuit. As the display device, an organic EL (electroluminescence) panel, a PDP (plasma display panel), an FED (field emission display) panel, an LED panel, or a CRT is used.
In the case of FIG. 14, the self-light-emitting device 41 is illustrated as having a burn-in phenomenon correction device 45, which is a dedicated processing device for correcting the burn-in phenomenon. However, when all the functions are executed in software. These functions are realized by a computer mounted on the self-luminous device.

（ｃ）形態例の効果
このような処理方法を採用する場合にも、画質の維持と焼き付き現象の補正を同時に実行できる。
更に、この形態例の場合、劣化率を用いて各発光期間の劣化量を正確に算出することができる。すなわち、発光特性の劣化が入力信号値に比例して進行しない場合にも、高い精度で補正量を決定でき、焼き付き現象を無くすことができる。
勿論、使用中（画像の表示中）も焼き付き現象の補正動作が実行されるため、非使用状態での補正時間が短くて済む。また、非使用状態での補正期間が短く済むため、無駄な電力消費を無くすことができる。 (C) Effects of Embodiments Even when such a processing method is employed, image quality maintenance and burn-in correction can be performed simultaneously.
Furthermore, in the case of this embodiment, the deterioration amount of each light emission period can be accurately calculated using the deterioration rate. That is, even when the deterioration of the light emission characteristics does not proceed in proportion to the input signal value, the correction amount can be determined with high accuracy, and the burn-in phenomenon can be eliminated.
Of course, the correction operation for the burn-in phenomenon is performed even during use (during image display), so that the correction time in the non-use state can be shortened. In addition, since the correction period in the non-use state can be shortened, useless power consumption can be eliminated.

（Ｆ）他の形態例
（ａ）前述の形態例では、発光期間ｔ１と補正期間ｔ２が任意長の場合について説明した。
しかし、発光期間ｔ１と補正期間ｔ２は同じでも良い。例えば、単位フィールド又は単位フレームでも良い。この場合、劣化量は、各入力信号値又はその換算値（例えば劣化率）で算出できる。
（ｂ）前述の形態例では、累積劣化量差ΣΔＲを保管するように補間量を決定する方法を選択した。
しかし、各発光期間に前発光期間に発生した劣化量差を解消する場合には、累積劣化量差に代えて前発光期間の劣化量差を用いる仕組みを採用すれば良い。すなわち、劣化量差を管理する仕組みを無くし得る。 (F) Other Embodiments (a) In the above-described embodiments, the case where the light emission period t1 and the correction period t2 are arbitrary lengths has been described.
However, the light emission period t1 and the correction period t2 may be the same. For example, a unit field or a unit frame may be used. In this case, the deterioration amount can be calculated by each input signal value or its converted value (for example, deterioration rate).
(B) In the above-described embodiment, the method of determining the interpolation amount is selected so as to store the accumulated deterioration amount difference ΣΔR.
However, in order to eliminate the deterioration amount difference generated in the previous light emission period in each light emission period, a mechanism using the deterioration amount difference in the previous light emission period instead of the cumulative deterioration amount difference may be employed. That is, the mechanism for managing the difference in deterioration amount can be eliminated.

（ｃ）前述の形態例３では、変換テーブルとして単位フレームの階調値と劣化率の対応関係を保存する場合について説明した。
しかし、複数フレームに対応する階調値の積算値と劣化率の対応関係を保存しても良い。この場合、発光期間ｔ１と補正期間ｔ２をそれぞれ複数フレームで与える場合に効果的である。
（ｄ）前述の形態例には、発明の趣旨の範囲内で様々な変形例が考えられる。また、本明細書の記載に基づいて創作される各種の変形例及び応用例も考えられる。 (C) In the above-described third embodiment, the case where the correspondence relationship between the gradation value of the unit frame and the deterioration rate is stored as the conversion table has been described.
However, the correspondence between the integrated value of gradation values corresponding to a plurality of frames and the deterioration rate may be stored. In this case, it is effective when the light emission period t1 and the correction period t2 are each given by a plurality of frames.
(D) Various modifications can be considered for the above-described embodiments within the scope of the gist of the invention. Various modifications and application examples created based on the description of the present specification are also conceivable.

焼き付き現象補正装置の形態例を示す図である。It is a figure which shows the example of a form of the burn-in phenomenon correction apparatus. 判定条件と補正動作との関係を示す。The relationship between determination conditions and correction | amendment operation | movement is shown. 焼き付き補正処理例を示すフローチャートである。5 is a flowchart illustrating an example of a burn-in correction process. 焼き付き現象補正装置の他の形態例を示す図である。It is a figure which shows the other example of a burn-in phenomenon correction apparatus. 判定条件と補正動作との関係を示す。The relationship between determination conditions and correction | amendment operation | movement is shown. 焼き付き補正処理例を示すフローチャートである。5 is a flowchart illustrating an example of a burn-in correction process. 焼き付き現象補正装置の他の形態例を示す図である。It is a figure which shows the other example of a burn-in phenomenon correction apparatus. 累積劣化量−補正値変換テーブルを示す図である。It is a figure which shows a cumulative deterioration amount-correction value conversion table. 累積劣化量−補正値変換テーブルの具体例を示す図である。It is a figure which shows the specific example of a cumulative deterioration amount-correction value conversion table. 劣化量差の算出処理例を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the calculation process example of deterioration amount difference. 補正対象画素の劣化が基準画素に対して進んでいる場合の劣化量差の発生と縮小を説明する図である。It is a figure explaining generation | occurrence | production and reduction | decrease of a deterioration amount difference in case deterioration of a correction object pixel is advanced with respect to a reference pixel. 基準画素の劣化が基準画素に対して進んでいる場合の劣化量差の発生と縮小を説明する図である。It is a figure explaining generation | occurrence | production and reduction | decrease of a degradation amount difference in case degradation of a reference pixel is advanced with respect to a reference pixel. 判定条件と補正動作との関係を示す。The relationship between determination conditions and correction | amendment operation | movement is shown. 焼き付き補正処理例を示すフローチャートである。5 is a flowchart illustrating an example of a burn-in correction process. 自発光装置の構成例を示す図である。It is a figure which shows the structural example of a self-light-emitting device.

符号の説明Explanation of symbols

１ 焼き付き現象補正装置
３ 劣化量差算出部
５ 累積劣化量差算出部
７ 補正効果予測部
９ 累積劣化量差蓄積部
１１ 補正動作選択部
１３ 補正量決定部
１５ 劣化量差補正部
２１ 焼き付き現象補正装置
２３ 補正動作選択部
３１ 焼き付き現象補正装置
３３ 階調値−劣化率変換テーブル
３５ 劣化量差算出部
３７ 補正動作選択部
３９ 補正量決定部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Burn-in phenomenon correction device 3 Deterioration amount difference calculation unit 5 Cumulative deterioration amount difference calculation unit 7 Correction effect prediction unit 9 Cumulative deterioration amount difference accumulation unit 11 Correction operation selection unit 13 Correction amount determination unit 15 Degradation amount difference correction unit 21 Burn-in phenomenon correction Device 23 Correction operation selection unit 31 Burn-in phenomenon correction device 33 Gradation value-deterioration rate conversion table 35 Deterioration amount difference calculation unit 37 Correction operation selection unit 39 Correction amount determination unit

Claims (11)

複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を、自発光装置の使用状態のまま補正する方法であって、
自発光素子の駆動条件に関する入力信号に基づいて、補正対象画素と基準画素との間に発生する劣化量差を逐次算出する処理と、
算出された劣化量差を補正対象画素毎に累積加算し、各補正対象画素についての累積劣化量差を算出する処理と、
前記入力信号による自発光素子の発光により、累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されるか、それとも拡大する方向に更新されるかを判定する処理と、
累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されると判定された場合、対応する入力信号に対する補正動作の実行停止を指示する処理と、
累積劣化量差の大きさが拡大する方向に更新されると判定された場合、累積劣化量差の大きさが縮小する補正量の算出を指示する処理と、
算出された補正量で対応する入力信号を補正する処理と
を有することを特徴とする焼き付き現象補正方法。 A method of correcting the burn-in phenomenon of a self-light-emitting device in which a plurality of self-light-emitting elements are arranged in a matrix while the self-light-emitting device is in use,
A process of sequentially calculating a deterioration amount difference generated between the correction target pixel and the reference pixel based on an input signal related to a driving condition of the self-light emitting element;
A process of cumulatively adding the calculated deterioration amount difference for each correction target pixel and calculating a cumulative deterioration amount difference for each correction target pixel;
A process of determining whether the magnitude of the cumulative deterioration amount difference is updated in a direction of reduction or update in a direction of enlargement due to light emission of the self-luminous element by the input signal;
When it is determined that the magnitude of the cumulative deterioration amount difference is updated in a decreasing direction, a process for instructing execution stop of the correction operation for the corresponding input signal;
When it is determined that the magnitude of the cumulative deterioration amount difference is updated in an increasing direction, a process for instructing calculation of a correction amount that reduces the magnitude of the cumulative deterioration amount difference;
And a process of correcting a corresponding input signal with the calculated correction amount. 請求項１に記載の焼き付き現象補正方法において、
次の発光期間に対応する前記入力信号によって、累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されるか、それとも拡大する方向に更新されるかを判定する処理は、
更新前の累積劣化量差と更新後の累積劣化量差とを比較する処理と、
更新後の累積劣化量差の方が小さい場合、累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されると判定する処理と、
更新後の累積劣化量差の方が大きい場合又は更新前後の累積劣化量差が同じ場合、累積劣化量差の大きさが拡大する方向に更新されると判定する処理と
を有することを特徴とする焼き付き現象補正方法。 In the burn-in phenomenon correction method according to claim 1,
According to the input signal corresponding to the next light emission period, the process of determining whether the magnitude of the cumulative deterioration amount difference is updated in the direction of reducing or updated in the direction of increasing,
A process of comparing the accumulated deterioration amount difference before update with the accumulated deterioration amount difference after update;
When the cumulative deterioration amount difference after update is smaller, a process of determining that the cumulative deterioration amount difference is updated in a direction in which the magnitude of the cumulative deterioration amount difference is reduced;
And determining that the cumulative deterioration amount difference is updated in an increasing direction when the cumulative deterioration amount difference after the update is larger or the cumulative deterioration amount difference before and after the update is the same. Burn-in correction method. 請求項１に記載の焼き付き現象補正方法において、
次の発光期間に対応する前記入力信号によって、累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されるか、それとも拡大する方向に更新されるかを判定する処理は、
更新前の累積劣化量差が正値か負値かを判定する処理と、
更新前の累積劣化量差が正値であると判定された場合に、補正対象画素の入力信号値が基準画素の入力信号値と同じか大きいとき、累積劣化量差の大きさが拡大する方向に更新されると判定する処理と、
更新前の累積劣化量差が正値であると判定された場合に、補正対象画素の入力信号値が基準画素の入力信号値より小さいとき、累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されると判定する処理と、
更新前の累積劣化量差が負値であると判定された場合に、補正対象画素の入力信号値が基準画素の入力信号値より大きいとき、累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されると判定する処理と、
更新前の累積劣化量差が負値であると判定された場合に、補正対象画素の入力信号値が基準画素の入力信号値と同じか小さいとき、累積劣化量差の大きさが拡大する方向に更新されると判定する処理と、
を有することを特徴とする焼き付き現象補正方法。 In the burn-in phenomenon correction method according to claim 1,
According to the input signal corresponding to the next light emission period, the process of determining whether the magnitude of the cumulative deterioration amount difference is updated in the direction of reducing or updated in the direction of increasing,
A process of determining whether the cumulative deterioration amount difference before update is a positive value or a negative value;
A direction in which the magnitude of the cumulative deterioration amount difference increases when the input signal value of the correction target pixel is equal to or greater than the input signal value of the reference pixel when it is determined that the cumulative deterioration amount difference before update is a positive value. A process for determining that it is updated to
When it is determined that the accumulated deterioration amount difference before update is a positive value, and the input signal value of the pixel to be corrected is smaller than the input signal value of the reference pixel, the accumulated deterioration amount difference is updated in a direction to reduce. A process for determining that
When it is determined that the accumulated deterioration amount difference before update is a negative value, and the input signal value of the correction target pixel is larger than the input signal value of the reference pixel, the accumulated deterioration amount difference is updated in the direction of reducing. A process for determining that
A direction in which the magnitude of the cumulative degradation amount difference increases when the input signal value of the correction target pixel is the same as or smaller than the input signal value of the reference pixel when it is determined that the cumulative degradation amount difference before update is a negative value A process for determining that it is updated to
A burn-in phenomenon correction method comprising: 請求項１に記載の焼き付き現象補正方法において、
次の発光期間に対応する前記入力信号によって、累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されるか、それとも拡大する方向に更新されるかを判定する処理は、
更新前の累積劣化量差が正値か負値かを判定する処理と、
更新前の累積劣化量差が正値であると判定された場合に、補正対象画素の入力信号値から導出される劣化率が基準画素の入力信号値から導出される劣化率と同じか大きいとき、累積劣化量差の大きさが拡大する方向に更新されると判定する処理と、
更新前の累積劣化量差が正値であると判定された場合に、補正対象画素の入力信号値から導出される劣化率が基準画素の入力信号値から導出される劣化率より小さいとき、累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されると判定する処理と、
更新前の累積劣化量差が負値であると判定された場合に、補正対象画素の入力信号値から導出される劣化率が基準画素の入力信号値から導出される劣化率より大きいとき、累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されると判定する処理と、
更新前の累積劣化量差が負値であると判定された場合に、補正対象画素の入力信号値から導出される劣化率が基準画素の入力信号値から導出される劣化率と同じか小さいとき、累積劣化量差の大きさが拡大する方向に更新されると判定する処理と、
を有することを特徴とする焼き付き現象補正方法。 In the burn-in phenomenon correction method according to claim 1,
According to the input signal corresponding to the next light emission period, the process of determining whether the magnitude of the cumulative deterioration amount difference is updated in the direction of reducing or updated in the direction of increasing,
A process of determining whether the cumulative deterioration amount difference before update is a positive value or a negative value;
The deterioration rate derived from the input signal value of the pixel to be corrected is equal to or greater than the deterioration rate derived from the input signal value of the reference pixel when it is determined that the cumulative deterioration amount difference before update is a positive value. , Processing for determining that the magnitude of the cumulative deterioration amount difference is updated in an increasing direction;
When it is determined that the accumulated deterioration amount difference before update is a positive value, accumulation is performed when the deterioration rate derived from the input signal value of the correction target pixel is smaller than the deterioration rate derived from the input signal value of the reference pixel. A process for determining that the magnitude of the deterioration amount difference is updated in a decreasing direction;
Accumulated when the deterioration rate derived from the input signal value of the correction target pixel is larger than the deterioration rate derived from the input signal value of the reference pixel when it is determined that the accumulated deterioration amount difference before update is a negative value. A process for determining that the magnitude of the deterioration amount difference is updated in a decreasing direction;
The deterioration rate derived from the input signal value of the pixel to be corrected is equal to or smaller than the deterioration rate derived from the input signal value of the reference pixel when it is determined that the cumulative deterioration amount difference before update is a negative value , Processing for determining that the magnitude of the cumulative deterioration amount difference is updated in an increasing direction;
A burn-in phenomenon correction method comprising: 請求項１に記載の焼き付き現象補正方法において、
前記基準画素は、同色で発光する複数の自発光素子毎に設定される
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。 In the burn-in phenomenon correction method according to claim 1,
The burn-in phenomenon correction method, wherein the reference pixel is set for each of a plurality of self-light-emitting elements that emit light of the same color. 請求項１に記載の焼き付き現象補正方法において、
前記基準画素は、補正量の算出用に仮想的に設定された画素である
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。 In the burn-in phenomenon correction method according to claim 1,
The burn-in phenomenon correction method, wherein the reference pixel is a pixel virtually set for calculating a correction amount. 請求項１に記載の焼き付き現象補正方法において、
前記入力信号は、輝度を指定する階調値である
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。 In the burn-in phenomenon correction method according to claim 1,
The burn-in phenomenon correction method, wherein the input signal is a gradation value for designating luminance. 請求項１に記載の焼き付き現象補正方法において、
前記入力信号は、自発光素子に印加される駆動電流値である
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。 In the burn-in phenomenon correction method according to claim 1,
The burn-in phenomenon correction method, wherein the input signal is a drive current value applied to a self-luminous element. 複数の自発光素子が基体上にマトリクス状に配置された自発光装置であって、
自発光素子の駆動条件に関する入力信号に基づいて、補正対象画素と基準画素との間に発生する劣化量差を逐次算出する劣化量差算出部と、
算出された劣化量差を補正対象画素毎に累積加算し、各補正対象画素についての累積劣化量差を算出する累積劣化量差算出部と、
前記入力信号による自発光素子の発光により、累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されるか、それとも拡大する方向に更新されるかを判定する更新方向判定部と、
累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されると判定された場合、対応する入力信号に対する補正動作の実行停止を指示し、累積劣化量差の大きさが拡大する方向に更新されると判定された場合、累積劣化量差の大きさが縮小する補正量の算出を指示する補正動作指示部と、
決定された補正量で対応する入力信号を補正する劣化量差補正部と
を有することを特徴とする自発光装置。 A self-light-emitting device in which a plurality of self-light-emitting elements are arranged in a matrix on a substrate,
A deterioration amount difference calculation unit that sequentially calculates a deterioration amount difference generated between the correction target pixel and the reference pixel, based on an input signal related to a driving condition of the self-light emitting element;
A cumulative deterioration amount difference calculating unit that cumulatively adds the calculated deterioration amount difference for each correction target pixel and calculates a cumulative deterioration amount difference for each correction target pixel;
An update direction determination unit that determines whether the magnitude of the cumulative deterioration amount difference is updated in the direction of reduction or update in the direction of enlargement due to light emission of the self-light-emitting element by the input signal;
When it is determined that the magnitude of the cumulative deterioration amount difference is updated in a decreasing direction, an instruction to stop execution of the correction operation for the corresponding input signal is issued, and the cumulative deterioration amount difference is updated in the increasing direction. A correction operation instruction unit that instructs calculation of a correction amount that reduces the magnitude of the cumulative deterioration amount difference,
A self-luminous device comprising: a deterioration amount difference correction unit that corrects a corresponding input signal with a determined correction amount. 複数の自発光素子が基体上にマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象補正装置であって、
自発光素子の駆動条件に関する入力信号に基づいて、補正対象画素と基準画素との間に発生する劣化量差を逐次算出する劣化量差算出部と、
算出された劣化量差を補正対象画素毎に累積加算し、各補正対象画素についての累積劣化量差を算出する累積劣化量差算出部と、
前記入力信号による自発光素子の発光により、累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されるか、それとも拡大する方向に更新されるかを判定する更新方向判定部と、
累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されると判定された場合、対応する入力信号に対する補正動作の実行停止を指示し、累積劣化量差の大きさが拡大する方向に更新されると判定された場合、累積劣化量差の大きさが縮小する補正量の算出を指示する補正動作指示部と、
決定された補正量で対応する入力信号を補正する劣化量差補正部と
を有することを特徴とする焼き付き現象補正装置。 A self-light-emitting device burn-in phenomenon correcting device in which a plurality of self-light-emitting elements are arranged in a matrix on a substrate,
A deterioration amount difference calculation unit that sequentially calculates a deterioration amount difference generated between the correction target pixel and the reference pixel, based on an input signal related to a driving condition of the self-light emitting element;
A cumulative deterioration amount difference calculating unit that cumulatively adds the calculated deterioration amount difference for each correction target pixel and calculates a cumulative deterioration amount difference for each correction target pixel;
An update direction determination unit that determines whether the magnitude of the cumulative deterioration amount difference is updated in the direction of reduction or update in the direction of enlargement due to light emission of the self-light-emitting element by the input signal;
When it is determined that the magnitude of the cumulative deterioration amount difference is updated in a decreasing direction, an instruction to stop execution of the correction operation for the corresponding input signal is issued, and the cumulative deterioration amount difference is updated in the increasing direction. A correction operation instruction unit that instructs calculation of a correction amount that reduces the magnitude of the cumulative deterioration amount difference,
A burn-in phenomenon correction device, comprising: a deterioration amount difference correction unit that corrects a corresponding input signal with a determined correction amount. 複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置に搭載したコンピュータに、
自発光素子の駆動条件に関する入力信号に基づいて、補正対象画素と基準画素との間に発生する劣化量差を逐次算出する処理と、
算出された劣化量差を補正対象画素毎に累積加算し、各補正対象画素についての累積劣化量差を算出する処理と、
前記入力信号による自発光素子の発光により、累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されるか、それとも拡大する方向に更新されるかを判定する処理と、
累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されると判定された場合、対応する入力信号に対する補正動作の実行停止を指示する処理と、
累積劣化量差の大きさが拡大する方向に更新されると判定された場合、累積劣化量差の大きさが縮小する補正量の算出を指示する処理と、
算出された補正量で対応する入力信号を補正する処理と
を実行させることを特徴とするプログラム。
In a computer mounted on a self-luminous device in which a plurality of self-luminous elements are arranged in a matrix,
A process of sequentially calculating a deterioration amount difference generated between the correction target pixel and the reference pixel based on an input signal related to a driving condition of the self-light emitting element;
A process of cumulatively adding the calculated deterioration amount difference for each correction target pixel and calculating a cumulative deterioration amount difference for each correction target pixel;
A process of determining whether the magnitude of the cumulative deterioration amount difference is updated in a direction of reduction or update in a direction of enlargement due to light emission of the self-luminous element by the input signal;
When it is determined that the magnitude of the cumulative deterioration amount difference is updated in a decreasing direction, a process for instructing execution stop of the correction operation for the corresponding input signal;
When it is determined that the magnitude of the cumulative deterioration amount difference is updated in an increasing direction, a process for instructing calculation of a correction amount that reduces the magnitude of the cumulative deterioration amount difference;
And a process for correcting a corresponding input signal with the calculated correction amount.
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