JP2006201629A - Image persistence phenomenon correcting method, self-luminous device, image persistence phenomenon correcting device and program - Google Patents
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Abstract
Description
発明の一つの形態は、自発光装置に発生する焼き付き現象の補正方法に関する。また、発明の一つの形態は、焼き付き現象補正装置に関する。また、発明の一つの形態は、焼き付き現象補正装置を搭載した自発光装置に関する。また、発明の一つの形態は、自発光装置に搭載されたコンピュータに焼き付き補正機能を実行させるプログラムに関する。 One embodiment of the present invention relates to a method for correcting a burn-in phenomenon that occurs in a self-luminous device. One embodiment of the present invention relates to a burn-in phenomenon correction apparatus. One embodiment of the present invention relates to a self-luminous device equipped with a burn-in phenomenon correcting device. One embodiment of the present invention relates to a program for causing a computer mounted on a self-luminous device to execute a burn-in correction function.
フラットパネルディスプレイは、コンピュータディスプレイ、携帯端末、テレビなどの製品で広く普及している。現在、主には液晶ディスプレイパネルが多く採用されているが、依然、視野角の狭さや応答速度の遅さが指摘され続けている。
一方、自発光素子で形成された有機ELディスプレイは、前述した視野角や応答性の課題を克服できるのに加え、バックライト不要の薄い形態、高輝度、高コントラストを達成できる。このため、液晶ディスプレイに代わる次世代表示装置として期待されている。
Flat panel displays are widely used in products such as computer displays, portable terminals, and televisions. Currently, liquid crystal display panels are mainly used, but the narrow viewing angle and slow response speed continue to be pointed out.
On the other hand, an organic EL display formed of a self-luminous element can overcome the above-mentioned problems of viewing angle and responsiveness, and can achieve a thin form, high brightness, and high contrast that do not require a backlight. Therefore, it is expected as a next-generation display device that replaces the liquid crystal display.
ところで、有機EL素子その他の自発光素子は、その発光量と時間に比例して劣化する特性があることは一般的にも知られている。
一方で、ディスプレイに表示される画像の内容は一様ではない。このため、自発光素子の劣化が部分的に進行し易い。例えば時刻表示領域(固定表示領域)の自発光素子は、他の表示領域(動画表示領域)の自発光素子に比べて劣化の進行が速い。
劣化が進行した自発光素子の輝度は、他の表示領域の輝度に比して相対的に低下する。一般に、この現象は“焼き付き”と呼ばれる。以下、部分的な自発光素子の劣化を“焼き付き”と表記する。
By the way, it is generally known that organic EL elements and other self-light-emitting elements have a characteristic of deteriorating in proportion to the amount of light emission and time.
On the other hand, the content of the image displayed on the display is not uniform. For this reason, the deterioration of the self-luminous element is likely to proceed partially. For example, the self-light-emitting element in the time display area (fixed display area) progresses more rapidly than the self-light-emitting elements in other display areas (moving image display areas).
The luminance of the self-luminous element that has deteriorated is relatively lowered as compared with the luminance of other display areas. In general, this phenomenon is called “burn-in”. Hereinafter, partial deterioration of the self-luminous element is referred to as “burn-in”.
現在、“焼き付き”現象の改善策として様々な手法が検討されている。以下、その幾つかを列記する。
ところで、既存の処理は、劣化進行の度合いにかかわらず劣化の進行速度が同じであるとの仮定に基づいて補正値を求めている。
しかし、自発光素子の劣化の進行速度は、劣化の進行度合いに応じて変化する特性がある。すなわち、劣化の進行した自発光素子の劣化は、発光初期の劣化に比して進行速度が低下する特性がある。
従って、この速度の違いを無視して画素間の劣化量差を算出すると、誤差の累積効果によって正確な補正動作が期待できなくなる可能性がある。
By the way, the existing process calculates | requires a correction value based on the assumption that the progress speed of deterioration is the same irrespective of the degree of progress of deterioration.
However, the deterioration rate of the self-luminous element has a characteristic that changes depending on the degree of deterioration. That is, the deterioration of the self-luminous element that has been deteriorated has a characteristic that the traveling speed is lower than the deterioration at the initial stage of light emission.
Accordingly, if the difference in deterioration amount between pixels is calculated while ignoring this difference in speed, there is a possibility that an accurate correction operation cannot be expected due to the cumulative effect of errors.
発明者らは、以上の技術的課題に着目し、以下の技術手法を提案する。
すなわち、複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を補正する方法として、
(a)経時変化を反映した劣化特性に基づいて、各画素と基準画素との間の劣化量差を算出する処理と、
(b)各画素について算出された劣化量差を累積加算し、各画素についての累積劣化量差を算出する処理と、
(c)累積劣化量差に基づいて、入力信号の補正に使用する補正量を逐次決定する処理と、
(d)自発光素子の駆動条件に関する入力信号を、逐次決定された補正量に基づいて補正する処理と
を有するものを提案する。
なお、自発光装置は、有機EL(エレクトロルミネッセンス)パネル、PDP(プラズマディスプレイパネル)、CRT(cathode ray tube)、FED(電界放出ディスプレイ)パネル、LEDパネル、プロジェクターを含むものとする。
The inventors pay attention to the above technical problems and propose the following technical methods.
That is, as a method of correcting the burn-in phenomenon of a self-light-emitting device in which a plurality of self-light-emitting elements are arranged in a matrix,
(A) processing for calculating a deterioration amount difference between each pixel and a reference pixel based on deterioration characteristics reflecting a change with time;
(B) a process of cumulatively adding the deterioration amount difference calculated for each pixel and calculating a cumulative deterioration amount difference for each pixel;
(C) processing for sequentially determining a correction amount to be used for correcting the input signal based on the accumulated deterioration amount difference;
(D) A method is proposed that includes a process for correcting an input signal related to a driving condition of a self-luminous element based on a correction amount that is sequentially determined.
The self-luminous device includes an organic EL (electroluminescence) panel, a PDP (plasma display panel), a CRT (cathode ray tube), an FED (field emission display) panel, an LED panel, and a projector.
発明に係る方法の場合、経時変化を反映した劣化特性に基づいて劣化量差を算出できる。すなわち、劣化の進行速度の変化を、焼き付き現象の補正に直接的に反映できる。この結果、補正処理の信頼性を一段と向上できる。 In the case of the method according to the invention, the deterioration amount difference can be calculated based on the deterioration characteristics reflecting the change with time. That is, the change in the deterioration progress rate can be directly reflected in the correction of the burn-in phenomenon. As a result, the reliability of the correction process can be further improved.
以下、発明に係る技術手法を採用する焼き付き現象補正技術の実施形態例を説明する。
なお、本明細書で特に図示又は記載されない部分には、当該技術分野の周知又は公知技術を適用する。
また以下に説明する実施形態は、発明の一つの実施形態であって、これらに限定されるものではない。
Hereinafter, an embodiment example of a burn-in phenomenon correction technique that employs the technical technique according to the invention will be described.
In addition, the well-known or well-known technique of the said technical field is applied to the part which is not illustrated or described in particular in this specification.
The embodiment described below is one embodiment of the present invention and is not limited thereto.
(A)劣化の進行特性
図1に、同一の駆動条件で自発光素子の発光を継続した場合の輝度劣化の進行特性を示す。図1に示すように、輝度劣化は常に一定ではなく、輝度劣化の進行につれて進行速度が次第に低下する特性が認められる。これは、初期値から半減するまでの変化が直線でなく曲線となることから分かる。
従って、初期特性のままで劣化量差を算出することは(累積劣化量差を算出することは)、実際以上に算出された誤差を次第に含むことになり、劣化量差の正確な補正動作が実現できない問題がある。
(A) Progression Characteristics of Degradation FIG. 1 shows the progress characteristics of luminance degradation when the self-luminous element continues to emit light under the same driving conditions. As shown in FIG. 1, the luminance degradation is not always constant, and a characteristic that the traveling speed gradually decreases as the luminance degradation progresses is recognized. This can be seen from the fact that the change from the initial value to half is not a straight line but a curve.
Therefore, calculating the deterioration amount difference with the initial characteristics (calculating the accumulated deterioration amount difference) gradually includes errors calculated more than the actual one, and the correct correction operation of the deterioration amount difference is performed. There are problems that cannot be realized.
(B)焼き付き現象補正装置の形態例
(a)形態例1
図2に、焼き付き現象補正装置の一つの形態例を示す。以下、焼き付き現象補正装置を「補正装置」という。ここで、補正装置1は、同色で発光する画素について配置される。なお、発光色は、一般に赤、青、緑の三色をいう。もっとも、白色光源を使用する場合には白をいう。
補正装置1は、劣化特性調整部3、劣化量差算出部5、累積劣化量差算出部7、補正量決定部9、補正効果予測部11、累積劣化量差蓄積部13、劣化量差補正部15を主要な構成要素とする。
(B) Form example of burn-in phenomenon correction apparatus (a) Form example 1
FIG. 2 shows an example of a burn-in phenomenon correction apparatus. Hereinafter, the burn-in phenomenon correction device is referred to as a “correction device”. Here, the
The
このうち、劣化特性調整部3が、経時変化に応じた劣化特性の調整を実現する処理デバイスに相当する。図3に、劣化特性調整部3の形態例を示す。この形態例の場合、劣化特性調整部3は、累積劣化量算出部3A、補正値決定部3B、補正値保持部3Cで構成される。
累積劣化量算出部3Aは、劣化量差の算出基準に用いる基準画素についての劣化量の累積値を算出する処理デバイスである。累積劣化量算出部3Aには、算出された累積劣化量を保存する記憶デバイスと、新たに算出された劣化量で累積劣化量を更新する演算部とが設けられている。
Among these, the deterioration
The cumulative deterioration amount calculation unit 3A is a processing device that calculates the cumulative value of the deterioration amount for the reference pixel used as a reference for calculating the deterioration amount difference. The cumulative deterioration amount calculation unit 3A is provided with a storage device that stores the calculated cumulative deterioration amount and a calculation unit that updates the cumulative deterioration amount with the newly calculated deterioration amount.
この形態例の場合、自発光装置の経時変化の特定に基準画素を使用する。これは、焼き付き現象の補正処理は、各画素と基準画素との劣化量差をゼロにする方向で実施されるため、各画素の累積劣化量は基準画素の累積劣化量とほぼ同じになると推測されるためである。
この結果、経時変化の特定に必要な累積劣化量の監視負荷は格段に軽減されることになる。すなわち、全画素について累積劣化量を監視する必要がなく、メモリ容量などのシステム負荷が軽減される。
In the case of this embodiment, the reference pixel is used for specifying the change over time of the self-light-emitting device. This is because the burn-in phenomenon correction processing is performed in a direction in which the difference in deterioration amount between each pixel and the reference pixel becomes zero, so that the cumulative deterioration amount of each pixel is estimated to be almost the same as the cumulative deterioration amount of the reference pixel. It is to be done.
As a result, the monitoring load of the accumulated deterioration amount necessary for specifying the change with time is remarkably reduced. That is, it is not necessary to monitor the cumulative deterioration amount for all the pixels, and the system load such as the memory capacity is reduced.
なお、基準画素には、例えば全画素のうち最も劣化が進んだ画素、最も劣化が遅れた画素、任意の実在する画素を想定する。もっとも、基準画素には、例えば累積劣化量の平均値を与える仮想的な画素を想定することも可能である。
また、累積劣化量算出部3Aは、基準画素に対応する累積劣化量を入力信号に基づいて算出する。ここでの入力信号は、自発光素子の駆動条件に関する信号である。例えば各自発光素子(画素)に対応する階調値、階調値の累積値、階調値から導出される劣化率、駆動電流値である。
これらのデータは、いずれも自発光素子の発光輝度や劣化量を与えるパラメータとして既存の技術においても利用されている。なお、特定のパラメータについての形態例は後述する。
As the reference pixel, for example, a pixel that has been most deteriorated among all pixels, a pixel that has been delayed most, and an arbitrary actual pixel are assumed. However, for the reference pixel, for example, a virtual pixel that gives an average value of the cumulative deterioration amount can be assumed.
Further, the cumulative deterioration amount calculation unit 3A calculates a cumulative deterioration amount corresponding to the reference pixel based on the input signal. The input signal here is a signal related to the driving condition of the self-light emitting element. For example, the gradation value corresponding to each light emitting element (pixel), the accumulated value of the gradation value, the deterioration rate derived from the gradation value, and the drive current value.
All of these data are also used in the existing technology as parameters for giving the light emission luminance and the amount of deterioration of the self-light-emitting element. Examples of specific parameters will be described later.
補正値決定部3Bは、算出された累積劣化量に応じ、劣化特性の補正に使用する補正値を決定する処理デバイスである。
ここでは、図4に示す累積劣化量−補正値変換テーブルを使用する。図4は、この種の変換テーブルの一例である。図4の場合、等間隔に累積劣化量の区分を設定し、各区分に補正値Xを対応付けている。勿論、この対応関係は、輝度劣化の進行特性の実測値に基づいて設定する。
補正値決定部3Bは、算出された累積劣化量が属する区分を検索し、検索結果に応じた補正値を読み出すものとする。
補正値保持部3Cは、決定された補正値を保持する記憶デバイスである。補正値は、この補正値保持部3Cを通じて累積劣化量算出部3A、劣化量差算出部5、補正量決定部9へと与えられる。この補正値X(0≦X≦1)を入力信号に基づいて算出された劣化量に乗算すれば、経時変化を反映した劣化量を算出できる。
The correction
Here, the cumulative deterioration amount-correction value conversion table shown in FIG. 4 is used. FIG. 4 is an example of this type of conversion table. In the case of FIG. 4, the categories of the cumulative deterioration amount are set at equal intervals, and the correction value X is associated with each category. Of course, this correspondence is set based on the actual measurement value of the progress characteristic of the luminance deterioration.
The correction
The correction
劣化量差算出部5は、補正処理前の入力信号に基づいて各画素と基準画素との劣化量差を算出する処理デバイスである。基準画素に対して劣化が進んでいる場合、劣化量差はプラスで与えられ、基準画素に対して劣化が遅れている場合、劣化量差はマイナスで与えられる。
劣化量の算出には任意の手法を適用できる。例えば、ある期間内に入力された入力信号を画素毎に累積加算したものを劣化量とする手法を適用する。なお、劣化量差は、各画素の劣化量と基準画素の劣化量との差分として与えられる。
更に、この劣化量差算出部5は、算出された劣化量差に経時変化を反映させる。例えば、劣化特性調整部3から与えられる補正値を劣化量差に乗算し、算出される劣化量差の精度を向上させる。なお、補正値は劣化量差の算出前に、各劣化量に乗算しても良い。
累積劣化量差算出部7には、補正済みの劣化量差が与えられる。
The deterioration amount
Any method can be applied to the calculation of the deterioration amount. For example, a method is applied in which the deterioration amount is obtained by accumulating input signals input within a certain period for each pixel. The deterioration amount difference is given as a difference between the deterioration amount of each pixel and the deterioration amount of the reference pixel.
Further, the deterioration amount
The accumulated deterioration amount
累積劣化量差算出部7は、画素毎に基準画素との累積劣化量差を算出する処理デバイスである。
累積劣化量差算出部7は、入力信号に基づいて算出された劣化量差(補正済み)を、累積劣化量差に対する加算情報として扱う。
一方、累積劣化量差算出部7は、補正効果予測部11から与えられる劣化量差(補正効果)を、累積劣化量差に対する減算情報として扱う。
補正効果予測部11は、補正量決定部9で決定された補正量の補正効果を予測する処理デバイスである。補正効果は劣化量差として予測される。
累積劣化量差蓄積部13は、算出された累積劣化量差を保存する記憶デバイスである。なお、保存対象とする累積劣化量差の内容は、累積劣化量差算出部7において逐次更新される。
The cumulative deterioration amount
The cumulative deterioration amount
On the other hand, the cumulative deterioration amount
The correction
The cumulative deterioration amount
補正量決定部9は、入力信号に対する補正量を画素毎に決定する処理デバイスである。補正量決定部9は、現存する累積劣化量差がある期間内に解消される方向で補正量を決定する。なお、補正量決定部9は、決定した補正量を補正効果予測部11に与える。
ここで、補正量は、補正装置1で採用する補正方法に応じて決定する。なお、劣化量差の補正には任意の手法を適用できる。
例えば、最も劣化の進んだ基準画素に他の画素の劣化が追いつくように補正値を決定しても良い。この場合、基準画素以外の画素は輝度を上げるように補正値が決定される。
また例えば、最も劣化の遅れた基準画素に他の画素の劣化が追いつくように補正値を決定しても良い。この場合、基準画素以外の画素は輝度を下げるように補正値が決定される。
The correction
Here, the correction amount is determined according to the correction method employed in the
For example, the correction value may be determined so that the deterioration of other pixels catches up with the reference pixel that has been most deteriorated. In this case, the correction value is determined so as to increase the luminance of pixels other than the reference pixel.
In addition, for example, the correction value may be determined so that the deterioration of other pixels catches up with the reference pixel that is most delayed in deterioration. In this case, the correction value is determined so as to lower the luminance of pixels other than the reference pixel.
また、補正量決定部9は、決定された補正量に劣化特性調整部3から与えられた補正値の逆数1/Xを乗算して経時変化を反映した補正量を算出する。
これは、算出された補正量をそのまま入力信号の補正に用いたのでは、実際の補正効果が想定した補正効果に対して小さく現れるためである。従って、補正量決定部9は、このように経時変化を反映した補正量を劣化量差補正部15に与える。
The correction
This is because if the calculated correction amount is used as it is for correcting the input signal, the actual correction effect appears smaller than the assumed correction effect. Therefore, the correction
劣化量差補正部15は、与えられた補正量に基づいて入力信号を補正する処理デバイスである。例えば、入力信号に対して補正量を加減算することで入力信号を補正する。また例えば、補正量に応じて調整したゲインで入力信号を増幅又は減衰する。
補正後の入力信号は、自発光素子が配列された表示パネルの駆動信号として出力される。
以上の構成に係る補正装置1を用いれば、使用時間が長くなっても劣化量差の発生を正確に監視して補正することができる。すなわち、補正時期によらず、焼き付き現象を確実に解消できる。
The deterioration amount
The corrected input signal is output as a drive signal for a display panel in which self-emitting elements are arranged.
By using the
(b)形態例2
図5に、焼き付き現象補正装置の他の形態例を示す。図5は、図2と対応する部分に同一符号を付して示している。
この補正装置21は、劣化特性調整部3、劣化量差算出部5、累積劣化量差算出部7、補正量決定部9、累積劣化量差蓄積部13、劣化量差補正部15を主要な構成要素とする。
補正装置21(図5)と、補正装置1(図2)との違いは、劣化量差の算出に使用する入力信号の取り込み位置である。すなわち、補正装置21は、焼き付き補正後の入力信号を入力する点で補正装置1と異なっている。因みに、補正装置1は、焼き付き補正前の入力信号を劣化量差算出部5に入力している。
(B) Form example 2
FIG. 5 shows another example of the burn-in phenomenon correcting apparatus. FIG. 5 shows the parts corresponding to those in FIG.
The
The difference between the correction device 21 (FIG. 5) and the correction device 1 (FIG. 2) is the input signal capturing position used for calculating the deterioration amount difference. That is, the
以上のように、焼き付き補正後の入力信号を用いて画素間の劣化量差を算出する場合、算出される劣化量差に実際の発光状態を直接的に反映できる利点がある。このため、形態例1に比べて更に正確な劣化量差の算出が可能になる。
また、補正装置21の場合には、実際の発光状態を劣化量差に直接反映できるため、補正効果を別途予測して累積劣化量差に反映する処理を不要にできる。すなわち、補正装置1のように、補正効果予測部11を設ける必要がなくなり、システム規模の削減とコストダウンを実現できる。
As described above, when the deterioration amount difference between pixels is calculated using the input signal after burn-in correction, there is an advantage that the actual light emission state can be directly reflected in the calculated deterioration amount difference. For this reason, it is possible to calculate the deterioration amount difference more accurately than in the first embodiment.
Further, in the case of the
(c)形態例3
次に、劣化量の算出に劣化率を使用する場合の形態例を説明する。これは、発光特性の劣化が、入力信号値に比例して進行しない場合に非常に有効な処理手法であり、発明者らが提案する算出手法である。
ここで、劣化率とは、発光量の低下を単位時間当たりに換算した値をいい、発光特性の実測値より求められる。例えば、個々の階調値による発光がある期間継続した場合に実測された輝度の低下量を単位時間当たりに換算した値として与えられる。
(C)
Next, an example in which the deterioration rate is used for calculating the deterioration amount will be described. This is a very effective processing technique when the deterioration of the light emission characteristics does not proceed in proportion to the input signal value, and is a calculation technique proposed by the inventors.
Here, the deterioration rate refers to a value obtained by converting a decrease in light emission amount per unit time, and is obtained from an actual measurement value of light emission characteristics. For example, it is given as a value obtained by converting the actually measured amount of decrease in luminance when light emission by individual gradation values continues for a certain period.
この形態例に係る焼き付き補正装置31の構成は、基本的に形態例1の補正装置1や形態例2の補正装置21と同じである。すなわち、補正装置31は、劣化量を焼き付き補正前の階調値(入力信号)を取り込んで算出する方式の装置としても実現できるし、焼き付き補正後の階調値(入力信号)を取り込んで算出する方式の装置としても実現できる。
。
以下では、重複した説明を省略するため、この形態例に特徴的な構成部分についてのみ説明する。
The configuration of the burn-in correction device 31 according to this embodiment is basically the same as that of the
.
In the following, in order to omit redundant description, only the characteristic components of this embodiment will be described.
図6に、補正装置31で使用する劣化特性調整部33の形態例を示す。この形態例の場合、劣化特性調整部33は、累積劣化量算出部33A、補正値決定部33B、変換テーブル書き換え部33C、階調値−劣化率変換テーブル33Dで構成される。
累積劣化量算出部33Aは、劣化量差の算出基準に用いる基準画素についての劣化量の累積値を算出する処理デバイスである。累積劣化量算出部33Aには、算出された累積劣化量を保存する記憶デバイスと、新たに算出された劣化量で累積劣化量を更新する演算部とが設けられている。
In FIG. 6, the example of the deterioration characteristic adjustment part 33 used with the correction apparatus 31 is shown. In the case of this embodiment, the deterioration characteristic adjusting unit 33 includes a cumulative deterioration
The cumulative deterioration
ここで、累積劣化量算出部33Aは、基準画素についての階調値を入力すると、階調値−劣化率変換テーブル33Dを参照し、当該階調値に対応する劣化率を読み出す。そして、読み出された劣化率に発光時間tを乗算することにより、基準画素についての劣化量を算出する。
図7に変換テーブルの一例を示す。この変換テーブルは、階調値が8ビットの場合の例である。勿論、テーブル情報は、事前の実験で取得された階調値と劣化率の対応関係に基づいて設定されている。
Here, when the gradation value for the reference pixel is input, the cumulative deterioration
FIG. 7 shows an example of the conversion table. This conversion table is an example when the gradation value is 8 bits. Of course, the table information is set based on the correspondence relationship between the gradation value and the deterioration rate acquired in the previous experiment.
因みに、最大階調値(255)の劣化率は0.03%であり、中間階調値(127)の劣化率は0.01%である。また、発光期間が1の場合の劣化量は、それぞれ300×10-4%と100×10-4%である。
図7に示す変換テーブルの場合であれば、入力された階調値から劣化量を直接読み出すことができる。
また、階調数が多い場合、変換テーブルには適当にサンプリングした階調値のみが保存される場合もある。この場合、保存されていない階調値に対応する劣化率又は劣化量は、補間演算によって算出する。
Incidentally, the deterioration rate of the maximum gradation value (255) is 0.03%, and the deterioration rate of the intermediate gradation value (127) is 0.01%. Further, the degradation amounts when the light emission period is 1 are 300 × 10 −4 % and 100 × 10 −4 %, respectively.
In the case of the conversion table shown in FIG. 7, the deterioration amount can be directly read from the input gradation value.
In addition, when the number of gradations is large, only the gradation values appropriately sampled may be stored in the conversion table. In this case, the deterioration rate or amount corresponding to the unstored gradation value is calculated by interpolation calculation.
補正値決定部33Bは、算出された累積劣化量に応じ、劣化特性を補正する補正値を決定する処理デバイスである。
ここでは、図8に示す累積劣化量−補正値変換テーブルを使用する。図8は、この種の変換テーブルの一例である。図8の場合、等間隔に累積劣化量の区分を設定し、各区分に補正値Xを対応付けている。
補正値Xは、図9に示す累積劣化量と輝度低下特性から導出される勾配の変化に基づいて決定される。
The correction
Here, the cumulative deterioration amount-correction value conversion table shown in FIG. 8 is used. FIG. 8 is an example of this type of conversion table. In the case of FIG. 8, the category of the cumulative deterioration amount is set at equal intervals, and the correction value X is associated with each category.
The correction value X is determined based on a change in gradient derived from the cumulative deterioration amount and the luminance reduction characteristic shown in FIG.
すなわち、初期の劣化傾向(劣化勾配)aに対する相対値として決定する。例えば、劣化率が95%の時点の劣化傾向(劣化勾配)をbとすると、この時点での補正値はb/aで与えられる。同様に、劣化率が90%の時点の劣化傾向(劣化勾配)をcとすると、この時点での補正値はc/aで与えられる。なお、各時点の劣化傾向(劣化勾配)は、図9に示す特性曲線の接線の勾配で定義する。
図8に示す変換テーブルは、このように決定した補正値が保存されている。
That is, it is determined as a relative value to the initial deterioration tendency (deterioration gradient) a. For example, if the deterioration tendency (deterioration gradient) at the time when the deterioration rate is 95% is b, the correction value at this time is given by b / a. Similarly, if the deterioration tendency (deterioration gradient) at the time when the deterioration rate is 90% is c, the correction value at this time is given by c / a. Note that the deterioration tendency (deterioration gradient) at each time point is defined by the tangential gradient of the characteristic curve shown in FIG.
The conversion table shown in FIG. 8 stores correction values determined in this way.
変換テーブル書き換え部33Cは、基準画素の累積劣化量に応じて決定された補正値に基づいて変換テーブルの情報を書き換える処理デバイスである。変換テーブル書き換え部33Cには、自発光素子の初期特性値に応じた劣化率を階調値別に保存した変換テーブル33C’が内蔵されている。変換テーブル33C’は、階調値−劣化率変換テーブル33Dと同様の構成でなる。
変換テーブル書き換え部33Cは、変換テーブル33C’の各値に補正値を乗算し、階調値−劣化率変換テーブル33Dの内容を更新する。すなわち、階調値に対応する劣化率(場合によっては、劣化量も含む。)を補正後の値に書き換える。
The conversion
The conversion
以上説明した劣化特性調整部33の処理内容をまとめると、図10に示すようになる。
まず、累積劣化量算出部33Aにおいて、現時点までに積算された基準画素についての累積劣化量が確認される(S1)。
次に、補正値決定部33Bにおいて、累積劣化量に対する補正値が図8に示す累積劣化量−補正値変換テーブルを用いて決定される(S2)。
この後、変換テーブル書き換え部33Cは、劣化率の初期値に補正値を一律に乗算し、乗算結果を階調値−劣化率変換テーブル33Dの現在値として書き込む(S3)。
The processing contents of the deterioration characteristic adjusting unit 33 described above are summarized as shown in FIG.
First, in the cumulative deterioration
Next, in the correction
Thereafter, the conversion
基準画素についての新たな階調値が確定すると、累積劣化量算出部33Aが階調値に対応する劣化率を階調値−劣化率変換テーブル33Dから導出する(S4)。
累積劣化量算出部33Aは、導出された劣化率に基づいて発光期間に対応する劣化量を算出し、これを前回算出された累積劣化量に加算することで、累積劣化量を更新する(S5)。
この後、劣化特性調整部33は、ステップS1の処理に戻り、一連の処理を繰り返す。
この一連の処理により、自発光素子の経時変化と階調値の違いに応じた適切な劣化率を常に用意する。
When a new gradation value for the reference pixel is determined, the cumulative deterioration
The cumulative deterioration
Thereafter, the deterioration characteristic adjusting unit 33 returns to the process of step S1 and repeats a series of processes.
Through this series of processes, an appropriate deterioration rate is always prepared in accordance with the change over time of the self-luminous element and the difference in gradation value.
なお、階調値−劣化率変換テーブル33Dは、劣化量差算出部5及び補正量決定部9において適時参照され、画素間の累積劣化量差の算出や入力信号(階調値)に対する補正量の算出に使用される。
図11に、この形態例に係る補正装置31の焼き付き現象の補正動作を示す。
まず、劣化量差算出部5が、補正対象画素と基準画素のそれぞれについて、表示階調値とその階調値での発光期間t1を検出する(S11)。
Note that the gradation value-deterioration rate conversion table 33D is referred to by the deterioration amount
FIG. 11 shows a correction operation for the burn-in phenomenon of the correction device 31 according to this embodiment.
First, the deterioration amount
次に、劣化量差算出部5は、劣化特性調整部3(階調値−劣化率変換テーブル33D)から各画素の階調値に対応する劣化率を導出する(S12)。勿論、ここでの劣化率は、経時変化を反映して補正された劣化率である。補正対象画素に対応する劣化率をX1で表し、基準画素に対応する劣化率をX2で表す。
続いて、劣化量差算出部5は、導出された劣化率に発光期間を乗算し、各画素に対応する劣化量Rを算出する。ここで、補正対象画素に対応する劣化量をR1、基準画素に対応する劣化量をR2で表現すると、各劣化量は次式で算出される(S13)。
R1=X1・t1
R2=X2・t1
Next, the deterioration amount
Subsequently, the deterioration amount
R1 = X1 · t1
R2 = X2 · t1
次に、劣化量差算出部5は、補正対象画素と基準画素の劣化量差ΔR(=R1−R2)を算出する(S14)。
累積劣化量差算出部7は、各画素について劣化量差ΔRが算出されると、対応する累積劣化量差に劣化量差ΔRを加算し、累積劣化量差を更新する(S15)。
補正量決定部9は、累積劣化量差蓄積部13に蓄積されている累積劣化量差がゼロか否か判定する(S16)。
ゼロの場合、補正量決定部9は、焼き付き現象の補正動作は不要と判定する。この結果、当該画素についての補正動作はステップS1に戻る。
一方、ゼロ以外の場合、補正量決定部9は、補正対象画素と基準画素との間の劣化量差を縮小できる劣化率を決定する。劣化率は、例えば補正すべき累積劣化量差を補正期間t2で除算して算出する。
Next, the deterioration amount
When the deterioration amount difference ΔR is calculated for each pixel, the cumulative deterioration amount
The correction
In the case of zero, the correction
On the other hand, if it is other than zero, the correction
次に、補正量決定部9は、劣化特性調整部3(階調値−劣化率変換テーブル33D)から算出した劣化率に対応する階調値を導出する(S17)。この補正値は、経時変化を反映した値である。
この後、劣化量差補正部15は、導出された階調値を補正値として入力し、表示デバイスに出力される対象画像の階調値を補正する。この補正処理により、焼き付き現象は経時変化を問わず確実に補正される。
なお、この形態例の場合は、補正効果を累積劣化量差に反映させる必要がある。そこで、補正値としての階調値の補正効果が補正効果予測部11において予測される。具体的には、補正期間t2に縮小される劣化量差ΔR2が算出され、累積劣化量差算出部7に出力される。
Next, the correction
Thereafter, the deterioration amount
In the case of this embodiment, it is necessary to reflect the correction effect on the accumulated deterioration amount difference. Therefore, the correction
累積劣化量差算出部7は、この劣化量差ΔR2を対応する累積劣化量差から減算し、補正効果を反映させる(S18)。
この処理が終了すると、補正量決定部9によるステップS16の判定処理が再び実行される。以上一連の処理動作の繰り返しにより、対象画素間の累積劣化量差はどの時点でも確実に補正される。
The cumulative deterioration amount
When this process ends, the determination process of step S16 by the correction
(D)自発光装置への搭載例
図12に、焼き付き現象補正装置の自発光装置への搭載例を示す。
自発光装置41は、筐体43に焼き付き現象補正装置45と表示デバイス47を搭載する。
ここで、焼き付き現象補正装置45は、前述した補正装置1、21、31のいずれかに対応する。焼き付き現象補正装置45は、外部端子又は内部で発生された映像信号を入力し、補正対象画素と基準画素との間に劣化量差が発生しないように入力信号の補正動作を実行する。
(D) Mounting Example to Self-Light-Emitting Device FIG. 12 shows a mounting example of the burn-in phenomenon correction device to the self-light-emitting device.
The self-light-emitting device 41 includes a burn-in
Here, the burn-in
また、表示デバイス47は、表示デバイスとその駆動回路とで構成されるものとする。表示デバイスには、有機EL(エレクトロルミネッセンス)パネル、PDP(プラズマディスプレイパネル)、FED(電界放出ディスプレイ)パネル、LEDパネル、CRTが用いられる。
図12の場合、自発光装置41に、焼き付き現象の補正専用の処理デバイスである焼き付き現象補正装置45が搭載されているものとして表しているが、当該機能がソフトウェア的に全て実行される場合には、これらの機能は自発光装置に搭載されたコンピュータにより実現される。
The
In the case of FIG. 12, the self-light-emitting device 41 is illustrated as having a burn-in
(F)他の形態例
(a)前述の形態例では、発光期間t1と補正期間t2が任意長の場合について説明した。
しかし、発光期間t1と補正期間t2は同じでも良い。例えば、単位フィールド又は単位フレームでも良い。この場合、劣化量は、各入力信号値又はその換算値(例えば劣化率)で算出できる。
(F) Other Embodiments (a) In the above-described embodiments, the case where the light emission period t1 and the correction period t2 are arbitrary lengths has been described.
However, the light emission period t1 and the correction period t2 may be the same. For example, a unit field or a unit frame may be used. In this case, the deterioration amount can be calculated by each input signal value or its converted value (for example, deterioration rate).
(b)前述の形態例3では、自発光素子の初期特性値に応じた劣化率を階調値別に保存した変換テーブル33C’を用意し、補正値決定部33Bで算出された補正値を乗算することで経時変化を劣化率に反映する方法について説明した。
しかし、全ての階調値について経時変化を反映した劣化率を対応付けた変換テーブルを累積劣化量の区分毎に複数用意し、累積劣化量の区分に対応する一つの変換テーブルを選択する手法を採用しても良い。
(B) In the above-described third embodiment, the conversion table 33C ′ in which the deterioration rate corresponding to the initial characteristic value of the self-luminous element is stored for each gradation value is prepared, and the correction value calculated by the correction
However, there is a method in which a plurality of conversion tables in which deterioration rates reflecting changes with time for all gradation values are associated are prepared for each cumulative deterioration amount category, and one conversion table corresponding to the cumulative deterioration amount category is selected. It may be adopted.
(c)前述の形態例3では、変換テーブルとして単位フレームの階調値と劣化率の対応関係を保存する場合について説明した。
しかし、複数フレームに対応する階調値の積算値と劣化率の対応関係を保存しても良い。この場合、発光期間t1と補正期間t2をそれぞれ複数フレームで与える場合に効果的である。
(d)前述の形態例では、使用状態のまま焼き付き現象を補正する場合について説明したが、非使用状態において焼き付きを補正することもできる。
(e)前述の形態例には、発明の趣旨の範囲内で様々な変形例が考えられる。また、本明細書の記載に基づいて創作される各種の変形例及び応用例も考えられる。
(C) In the above-described third embodiment, the case where the correspondence relationship between the gradation value of the unit frame and the deterioration rate is stored as the conversion table has been described.
However, the correspondence between the integrated value of gradation values corresponding to a plurality of frames and the deterioration rate may be stored. In this case, it is effective when the light emission period t1 and the correction period t2 are each given by a plurality of frames.
(D) In the above-described embodiment, the case where the burn-in phenomenon is corrected in the use state has been described. However, the burn-in phenomenon can be corrected in the non-use state.
(E) Various modifications can be considered for the above-described embodiments within the scope of the gist of the invention. Various modifications and application examples created based on the description of the present specification are also conceivable.
1、21、31 焼き付き現象補正装置
3、33 劣化特性調整部
3A、33A 累積劣化量算出部
3B、33B 補正値決定部
3C 補正値保持部
5 劣化量差算出部
7 累積劣化量差算出部
9 補正量決定部
11 補正効果予測部
13 累積劣化量差蓄積部
15 劣化量差補正部
33C 変換テーブル書き換え部
33D 階調値−劣化率変換テーブル
1, 21, 31 Burn-in
Claims (17)
経時変化を反映した劣化特性に基づいて、各画素と基準画素との間の劣化量差を算出する処理と、
各画素について算出された劣化量差を累積加算し、各画素についての累積劣化量差を算出する処理と、
前記累積劣化量差に基づいて、入力信号の補正に使用する前記補正量を逐次決定する処理と、
自発光素子の駆動条件に関する入力信号を、逐次決定された補正量に基づいて補正する処理と
を有することを特徴とする焼き付き現象補正方法。 A method of correcting a burn-in phenomenon of a self-light-emitting device in which a plurality of self-light-emitting elements are arranged in a matrix,
A process of calculating a deterioration amount difference between each pixel and a reference pixel based on a deterioration characteristic reflecting a change over time;
A process of cumulatively adding the deterioration amount difference calculated for each pixel and calculating a cumulative deterioration amount difference for each pixel;
A process of sequentially determining the correction amount to be used for correcting the input signal based on the cumulative deterioration amount difference;
A burn-in phenomenon correction method comprising: correcting an input signal related to a driving condition of the self-light-emitting element based on a correction amount that is sequentially determined.
前記劣化量差は、前記補正量による補正処理前の入力信号に基づいて算出される
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。 In the burn-in phenomenon correction method according to claim 1,
The burn-in phenomenon correction method, wherein the deterioration amount difference is calculated based on an input signal before the correction processing by the correction amount.
前記劣化量差は、前記補正量による補正処理後の入力信号に基づいて算出される
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。 In the burn-in phenomenon correction method according to claim 1,
The burn-in phenomenon correction method, wherein the deterioration amount difference is calculated based on an input signal after correction processing using the correction amount.
前記経時変化を反映した劣化特性は、基準画素の累積劣化量に関連づけられた変換情報である
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。 In the burn-in phenomenon correction method according to claim 1,
The burn-in phenomenon correction method, wherein the deterioration characteristic reflecting the change with time is conversion information associated with a cumulative deterioration amount of a reference pixel.
前記変換情報は、入力信号から算出される劣化量差に乗算される補正係数である
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。 In the burn-in phenomenon correction method according to claim 4,
The burn-in phenomenon correction method, wherein the conversion information is a correction coefficient multiplied by a deterioration amount difference calculated from an input signal.
前記変換情報は、入力信号に対応付けられた換算値である
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。 In the burn-in phenomenon correction method according to claim 6,
The burn-in phenomenon correction method, wherein the conversion information is a converted value associated with an input signal.
前記換算値は、個々の入力信号値による発光がある期間継続した場合に実測された輝度の低下量を単位時間当たりに換算した劣化率として与えられる
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。 In the burn-in phenomenon correction method according to claim 4,
The burn-in correction method according to claim 1, wherein the converted value is given as a deterioration rate obtained by converting a decrease in luminance actually measured when light emission by each input signal value continues for a certain period.
前記基準画素は、同色で発光する複数の自発光素子毎に設定される
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。 In the burn-in phenomenon correction method according to claim 1,
The burn-in phenomenon correction method, wherein the reference pixel is set for each of a plurality of self-light-emitting elements that emit light of the same color.
前記基準画素は、補正量の算出用に仮想的に設定された画素である
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。 In the burn-in phenomenon correction method according to claim 1,
The burn-in phenomenon correction method, wherein the reference pixel is a pixel virtually set for calculating a correction amount.
前記入力信号は、輝度を指定する階調値である
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。 In the burn-in phenomenon correction method according to claim 1,
The burn-in phenomenon correction method, wherein the input signal is a gradation value for designating luminance.
前記入力信号は、自発光素子に印加される駆動電流値である
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。 In the burn-in phenomenon correction method according to claim 1,
The burn-in phenomenon correction method, wherein the input signal is a drive current value applied to a self-luminous element.
経時変化を反映した劣化特性に基づいて、各画素と基準画素との間の劣化量差を算出する劣化量差算出部と、
各画素について算出された劣化量差を累積加算し、各画素についての累積劣化量差を算出する累積劣化量差算出部と、
前記累積劣化量差に基づいて、入力信号の補正に使用する前記補正量を逐次決定する補正量決定部と、
自発光素子の駆動条件に関する入力信号を、逐次決定された補正量に基づいて補正する入力信号補正部と
を有することを特徴とする自発光装置。 A self-light-emitting device in which a plurality of self-light-emitting elements are arranged in a matrix on a substrate,
A deterioration amount difference calculating unit that calculates a deterioration amount difference between each pixel and the reference pixel based on deterioration characteristics reflecting changes with time;
A cumulative deterioration amount difference calculating unit that cumulatively adds the deterioration amount difference calculated for each pixel and calculates a cumulative deterioration amount difference for each pixel;
A correction amount determination unit that sequentially determines the correction amount used for correcting the input signal based on the accumulated deterioration amount difference;
A self-light-emitting device, comprising: an input signal correction unit that corrects an input signal related to a driving condition of the self-light-emitting element based on a correction amount sequentially determined.
経時変化を反映した劣化特性に基づいて、各画素と基準画素との間の劣化量差を算出する劣化量差算出部と、
各画素について算出された劣化量差を累積加算し、各画素についての累積劣化量差を算出する累積劣化量差算出部と、
前記累積劣化量差に基づいて、入力信号の補正に使用する前記補正量を逐次決定する補正量決定部と、
自発光素子の駆動条件に関する入力信号を、逐次決定された補正量に基づいて補正する入力信号補正部と
を有することを特徴とする焼き付き現象補正装置。 A self-light-emitting device burn-in phenomenon correcting device in which a plurality of self-light-emitting elements are arranged in a matrix on a substrate,
A deterioration amount difference calculating unit that calculates a deterioration amount difference between each pixel and the reference pixel based on deterioration characteristics reflecting changes with time;
A cumulative deterioration amount difference calculating unit that cumulatively adds the deterioration amount difference calculated for each pixel and calculates a cumulative deterioration amount difference for each pixel;
A correction amount determination unit that sequentially determines the correction amount used for correcting the input signal based on the accumulated deterioration amount difference;
An image burn-in phenomenon correction apparatus, comprising: an input signal correction unit that corrects an input signal related to a driving condition of the self-light-emitting element based on a sequentially determined correction amount.
経時変化に応じて劣化特性を調整する劣化特性調整部
を有することを特徴とする焼き付き現象補正装置。 The burn-in phenomenon correction device according to claim 13 is provided.
A burn-in phenomenon correcting device, comprising: a deterioration characteristic adjusting unit that adjusts a deterioration characteristic according to a change with time.
前記劣化特性調整部は、
基準画素の累積劣化量を算出する累積劣化量算出部と、
算出された累積劣化量に応じ、劣化特性を選択する劣化特性選択部と
を有することを特徴とする焼き付き現象補正装置。 In the burn-in phenomenon correction apparatus according to claim 14,
The deterioration characteristic adjusting unit is
A cumulative deterioration amount calculation unit for calculating the cumulative deterioration amount of the reference pixel;
A burn-in phenomenon correction apparatus, comprising: a deterioration characteristic selection unit that selects a deterioration characteristic according to the calculated cumulative deterioration amount.
前記劣化特性調整部は、
基準画素の累積劣化量を算出する累積劣化量算出部と、
算出された累積劣化量に応じ、劣化特性を補正する劣化特性補正部と
を有することを特徴とする焼き付き現象補正装置。 In the burn-in phenomenon correction apparatus according to claim 14,
The deterioration characteristic adjusting unit is
A cumulative deterioration amount calculation unit for calculating the cumulative deterioration amount of the reference pixel;
A burn-in phenomenon correction apparatus comprising: a deterioration characteristic correction unit that corrects deterioration characteristics according to the calculated cumulative deterioration amount.
経時変化を反映した劣化特性に基づいて、各画素と基準画素との間の劣化量差を算出する処理と、
各画素について算出された劣化量差を累積加算し、各画素についての累積劣化量差を算出する処理と、
前記累積劣化量差に基づいて、入力信号の補正に使用する前記補正量を逐次決定する処理と、
自発光素子の駆動条件に関する入力信号を、逐次決定された補正量に基づいて補正する処理と
を実行させることを特徴とするプログラム。
In a computer mounted on a self-luminous device in which a plurality of self-luminous elements are arranged in a matrix,
A process of calculating a deterioration amount difference between each pixel and a reference pixel based on a deterioration characteristic reflecting a change over time;
A process of cumulatively adding the deterioration amount difference calculated for each pixel and calculating a cumulative deterioration amount difference for each pixel;
A process of sequentially determining the correction amount to be used for correcting the input signal based on the cumulative deterioration amount difference;
A program for correcting an input signal related to a driving condition of the self-light-emitting element based on a correction amount sequentially determined.
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JP2008216874A (en) * | 2007-03-07 | 2008-09-18 | Hitachi Displays Ltd | Organic el display device |
JP2009133943A (en) * | 2007-11-29 | 2009-06-18 | Kyocera Corp | Image display |
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2005
- 2005-01-21 JP JP2005014832A patent/JP2006201629A/en active Pending
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