JP2006184034A - Non-destructive inspection device - Google Patents
Non-destructive inspection device Download PDFInfo
- Publication number
- JP2006184034A JP2006184034A JP2004375095A JP2004375095A JP2006184034A JP 2006184034 A JP2006184034 A JP 2006184034A JP 2004375095 A JP2004375095 A JP 2004375095A JP 2004375095 A JP2004375095 A JP 2004375095A JP 2006184034 A JP2006184034 A JP 2006184034A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- display
- display unit
- main body
- nondestructive inspection
- inspection apparatus
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Images
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
Description
本発明は、携帯可能な非破壊検査装置に関する。 The present invention relates to a portable nondestructive inspection apparatus.
携帯可能な非破壊検査装置として、超音波や渦電流で傷を探る超音波探傷装置や渦流探傷装置がある。このうち、超音波を使用するものとしては、単一の超音波素子を備えたシングルプローブによる探傷や、複数の超音波素子を並べたフェイズドアレイプローブによる探傷がある。 Examples of portable nondestructive inspection apparatuses include an ultrasonic flaw detection apparatus and an eddy current flaw detection apparatus that search for flaws with ultrasonic waves and eddy currents. Among these, the one using ultrasonic waves includes flaw detection by a single probe provided with a single ultrasonic element and flaw detection by a phased array probe in which a plurality of ultrasonic elements are arranged.
このような非破壊検査装置は、探傷結果等の様々な情報を表示するLCDを備えている(例えば、特許文献1参照。)。例えば、シングルプローブによる結果は、傷の大きさを数値で表す探傷波形としてモニタ表示され、フェイズドアレイプローブによる結果は、探傷波形表示と傷を映像的に表示するセクトリアルスキャン表示とを同時にモニタ表示して検査者の検査結果の判断を容易にしている。
また、エンジン内部等の探傷部分が視認しにくい部位の探傷の場合には、ビデオスコープを併用してビデオスコープからの映像をモニタ表示する場合や、探傷マニュアルを表示する場合等があり、LCDへの表示項目が多大となっている。
Such a nondestructive inspection apparatus includes an LCD that displays various information such as flaw detection results (see, for example, Patent Document 1). For example, the result of a single probe is displayed on the monitor as a flaw detection waveform that expresses the size of the flaw as a numerical value, and the result of the phased array probe is a monitor display that displays the flaw detection waveform display and the tactical scan display that visually displays the flaw. This makes it easier for the inspector to judge the test result.
In addition, in the case of flaw detection in parts where it is difficult to see the flaw detection part inside the engine or the like, there are cases where the video scope is used together to display the image from the video scope or the flaw detection manual is displayed. The display items are very large.
しかしながら、上記従来の非破壊検査装置の場合、小型化や軽量化を図るためにLCDを小型(例えば6.5インチ程度)にした場合、探傷結果をグラフと画像で表示する際に表示画面が小さすぎて画面が見づらい問題がある。
本発明は上記事情に鑑みて成されたものであり、装置の大きさと結果表示の見易さを任意に選択できる非破壊検査装置を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object thereof is to provide a nondestructive inspection apparatus capable of arbitrarily selecting the size of the apparatus and the visibility of the result display.
本発明は、上記課題を解決するため、以下の手段を採用する。
本発明に係る非破壊検査装置は、携帯可能な装置本体と、該装置本体に配された第一表示部と、前記装置本体に対して可動、かつ、前記第一表示部から離間可能に配された第二表示部とを備えていることを特徴とする。
The present invention employs the following means in order to solve the above problems.
A nondestructive inspection apparatus according to the present invention includes a portable apparatus main body, a first display unit disposed in the apparatus main body, and movable with respect to the apparatus main body and detachable from the first display unit. And a second display portion.
この非破壊検査装置は、第二表示部を装置本体から移動することによって、第一表示部と第二表示部とを互いに独立した状態に配することができ、それぞれの表示部に同時に画像表示させて検査結果や検査条件の設定値を表示して視認することができる。 In this nondestructive inspection device, the first display unit and the second display unit can be arranged independently of each other by moving the second display unit from the apparatus main body, and image display is simultaneously performed on each display unit. Thus, the inspection result and the set value of the inspection condition can be displayed and visually confirmed.
また、本発明に係る非破壊検査装置は、前記非破壊検査装置であって、前記第二表示部が、前記第一表示部と重なり合う状態で前記装置本体に収納可能とされていることを特徴とする。
この非破壊検査装置は、第一表示部に画像表示させないときには、第二表示部を装置本体に収納することができ、装置全体をコンパクトな大きさにすることができる。
The nondestructive inspection apparatus according to the present invention is the nondestructive inspection apparatus, wherein the second display unit can be stored in the apparatus main body in a state of overlapping the first display unit. And
When the non-destructive inspection apparatus does not display an image on the first display section, the second display section can be housed in the apparatus main body, and the entire apparatus can be made compact.
また、本発明に係る非破壊検査装置は、前記非破壊検査装置であって、前記装置本体に対して前記第二表示部を回動可能に配する回動部を備えていることを特徴とする。
この非破壊検査装置は、回動部によって第二表示部を装置本体から回動して第一表示部と第二表示部との両方を視認可能にすることができる。
Further, the nondestructive inspection apparatus according to the present invention is the nondestructive inspection apparatus, characterized in that the nondestructive inspection apparatus includes a rotating unit that rotatably arranges the second display unit with respect to the apparatus main body. To do.
In this nondestructive inspection apparatus, the second display section can be rotated from the apparatus main body by the rotating section so that both the first display section and the second display section can be viewed.
また、本発明に係る非破壊検査装置は、前記非破壊検査装置であって、前記装置本体に対して前記第二表示部をスライド自在に配するスライド部を備えていることを特徴とする。
この非破壊検査装置は、スライド部によって第二表示部を装置本体から移動して第一表示部と第二表示部との両方を視認可能にすることができる。
The nondestructive inspection apparatus according to the present invention is the nondestructive inspection apparatus, further comprising a slide portion that slidably arranges the second display portion with respect to the apparatus main body.
In this nondestructive inspection apparatus, both the first display section and the second display section can be made visible by moving the second display section from the apparatus main body by the slide section.
また、本発明に係る非破壊検査装置は、前記非破壊検査装置であって、前記装置本体と前記第二表示部との係合部を備えていることを特徴とする。
この非破壊検査装置は、係合部にて装置本体に対する第二表示部の移動を規制することができる。
Moreover, the nondestructive inspection apparatus according to the present invention is the nondestructive inspection apparatus, and includes an engaging portion between the apparatus main body and the second display portion.
In this nondestructive inspection device, movement of the second display portion relative to the device main body can be restricted by the engaging portion.
また、本発明に係る非破壊検査装置は、前記非破壊検査装置であって、前記第二表示部にタッチパネルが配されていることを特徴とする。
この非破壊検査装置は、表示部と別に操作スイッチを配する必要がなく、画面の大きさを変えずに装置を小型化することができる。
The nondestructive inspection apparatus according to the present invention is the nondestructive inspection apparatus, wherein a touch panel is disposed on the second display unit.
This nondestructive inspection apparatus does not require an operation switch separately from the display unit, and can be downsized without changing the size of the screen.
本発明によれば、装置の大きさを変えなくても第一表示部又は第二表示部に情報を表示させることができ、第一表示部と第二表示部とを離間させて装置を大きくすることによって、それぞれの表示部により多くの情報を表示させることができる。 According to the present invention, information can be displayed on the first display section or the second display section without changing the size of the apparatus, and the apparatus can be enlarged by separating the first display section and the second display section. By doing so, more information can be displayed on each display part.
本発明に係る第1の実施形態について、図1から図5を参照して説明する。
本実施形態に係る非破壊検査装置1は、図1及び図2に示すように、携帯可能な装置本体2と、装置本体2に配されたLCD等の第一表示部3と、装置本体2に対して可動、かつ、第一表示部3から離間可能に配されたLCD等の第二表示部5と、装置本体2に対して第二表示部5を回動可能に配する回動部6と、回動部6に接続されて第一表示部3を覆うことができる蓋部7と、装置本体2と第二表示部5との係合部8とを備えている。
A first embodiment according to the present invention will be described with reference to FIGS.
As shown in FIGS. 1 and 2, the
装置本体2は、マグネシウム合金からなり、図示しないCPUや超音波信号の処理を行うプロセッサ、読み込んだ測定条件等を記憶するメモリ、これらを駆動するバッテリを内蔵するための前ハウジング10と後ハウジング11とから構成されている。前ハウジング10と後ハウジング11とは、図示しない防水パッキンを挟んで図示しないビスによって略直方体形状となるように互いに締結されている。
The apparatus
装置本体2の外表面には、図示しない超音波探傷用シングルプローブからの信号を入力するシングルプローブコネクタ12と、図示しないフェイズドアレイプローブからの信号を入力するフェイズドアレイプローブコネクタ13と、図示しないリモートスイッチを接続するリモートコネクタ15と、図示しないイヤホン等が接続されるアクセサリコネクタ16と、測定条件を選択するためのダイアル17とが配されている。
On the outer surface of the apparatus
前ハウジング10の表面10A側には凹部10Bが形成されており、凹部10Bの底部10Cには第一表示部3と複数の第一メンブレンスイッチ18とが配されている。
回動部6は、前ハウジング10の一端10D側に配されており、上ヒンジ部20、下ヒンジ部21及び回動軸部22を備えている。回動軸部22は、上ヒンジ部20、下ヒンジ部21に対して第一回動軸線C1回りに回動可能に配されており、上ヒンジ部20、下ヒンジ部21は、それぞれ前ハウジング10に対して図示しないビスにて防水可能に密着固定されている。
A
The rotating
回動軸部22には、第一回動軸線C1に対して直交する第二回動軸線C2方向に突出する突起部23が配されている。
この突起部23には、第二回動軸線C2回りに回動可能に蓋部7の一端7Aが配されている。即ち、蓋部7は、第一回動軸線C1回り及び第二回動軸線C2回りにそれぞれ回動可能とされている。
The
One
蓋部7の内側面7Bには、第一表示部3及び複数の第一メンブレンスイッチ18と対向させた際にこれらと接しないように、第二表示部5と複数の第二メンブレンスイッチ25とが配されている。
蓋部7は、第一表示部3と第二表示部5とを対向させて第一表示部3を覆う状態、及び、第二表示部5が外側を向くように蓋部7を反転して第一表示部3と第二表示部5とが同一方向を向いて配された状態のときに、前ハウジング10の凹部10B内に収納可能に形成されている。
The
The
回動軸部22、上ヒンジ部20及び下ヒンジ部21は、それぞれ内部が空洞に形成されており、第二表示部5と装置本体2とを電気的に接続するための図示しないケーブルが配されている。
回動軸部22と上ヒンジ部20及び下ヒンジ部21との隙間、並びに、回動軸部22と蓋部7との隙間には、Oリング26、27がそれぞれ挟み込まれて防水構造とされている。
The
O-rings 26 and 27 are sandwiched in the clearance between the
係合部8は、蓋部7の上端面7C及び下端面7Dのそれぞれ他端7E側に配された凸部28と、前ハウジング10の凹部10Bに配されて凸部28とそれぞれ係合可能な孔部29とを備えている。
凸部28は、略半球形状とされており、図示しないバネによって蓋部7に対してそれぞれ上下方向外方に一定の高さで突出するように付勢されている。
The
The
次に、本実施形態に係る非破壊検査装置1の使用方法、及び、作用・効果について説明する。
まず、図示しないシングルプローブによって探傷波形のみを表示する場合、シングルプローブを装置本体2のシングルプローブコネクタ12に接続し、探傷条件等を入力して検査準備を行う。
Next, a method of using the
First, when only a flaw detection waveform is displayed by a single probe (not shown), the single probe is connected to the
探傷結果を表示する場合には、蓋部7の他端7E側を把持して係合部8における凸部28と孔部29との係合を解除するように第一回動軸線C1回りに回動し、例えば、図3に示すように所定の位置まで開ける。
次に、図4に示すように蓋部7を第二回動軸線C2回りに回動して、180度反転する。
この状態で再び蓋部7を第一回動軸線C1回りに回動し、凸部28と孔部29とを係合して、図5に示すように、凹部10B内に蓋部7を収納する。
When displaying the flaw detection result, the
Next, as shown in FIG. 4, the
In this state, the
こうして、第一表示部3の外側に第二表示部5が外側を向くように互いに重なり合って配されて第二表示部5のみ視認可能となる。
この状態で第二メンブレンスイッチ25の操作を行い、第二表示部5に所定の探傷波形や所定の探傷結果を表示して確認する。
In this way, the
In this state, the
一方、図示しないフェイズドアレイプローブによって探傷波形とセクトリアルスキャン表示とを同時に表示する場合、フェイズドアレイプローブを装置本体2のフェイズドアレイプローブコネクタ13に接続し、探傷条件等を入力して検査準備を行う。
On the other hand, when the flaw detection waveform and the sequential scan display are simultaneously displayed by a phased array probe (not shown), the phased array probe is connected to the phased
探傷結果を表示する場合には、上述のように蓋部7を把持して第一回動軸線C1回りに蓋部7を回動し、例えば、図3に示すように所定の位置まで開ける。
第一表示部3と第二表示部5とをそれぞれ視認可能な位置に配した後、第一メンブレンスイッチ18及び第二メンブレンスイッチ25のそれぞれを操作して、例えば、第一表示部3にはセクトリアルスキャン表示し、第二表示部5には探傷波形を表示して、所定の探傷結果を確認する。
When displaying the flaw detection result, the
After arranging the
この非破壊検査装置1によれば、表示する情報量が多くなるフェイズドアレイプローブ探傷の場合、回動部6を介して第二表示部5を装置本体2から移動することによって、装置全体の大きさは大きくなる一方、第一表示部3と第二表示部5とを互いに独立した状態にすることができ、それぞれの表示部に同時に画像表示させて検査結果や検査条件の設定値を表示して視認することができる。
この際、例えば、太陽光等の反射によって第二表示部5の表示が見えにくい場合には、第二回動軸線C2回りに蓋部7を回動することによって、第二表示部5を最適な視認位置に移動することができる。
According to this
At this time, for example, when the display of the
一方、シングルプローブ探傷の場合、表示する情報量がフェイズドアレイプローブ探傷の場合よりも少なくて済むので、蓋部7を180度反転して第二表示部5を外側に露出させることによって、装置の大きさを変えずに携帯性を維持した状態での探傷を行うことができる。
また、係合部8にて装置本体2に対する第二表示部5の移動を規制することができることから、第一表示部3を覆う場合、及び、第一表示部3に画像表示させない場合には、第二表示部5を装置本体2に収納することができ、装置全体をコンパクトな大きさにすることができる。
On the other hand, since the amount of information to be displayed is smaller in the case of single probe flaw detection than in the case of phased array probe flaw detection, the
Moreover, since the movement of the
次に、第2の実施形態について図6及び図7を参照しながら説明する。
なお、上述した第1の実施形態と同様の構成要素には同一符号を付すとともに説明を省略する。
第2の実施形態と第1の実施形態との異なる点は、本実施形態に係る非破壊検査装置30の蓋部31の内側面31Bには第二表示部5のみが配され、第1の実施形態における第二メンブレンスイッチ25の代わりに、第二表示部5にタッチパネル32が配されているとした点である。
Next, a second embodiment will be described with reference to FIGS.
In addition, the same code | symbol is attached | subjected to the component similar to 1st Embodiment mentioned above, and description is abbreviate | omitted.
The difference between the second embodiment and the first embodiment is that only the
この非破壊検査装置30によれば、タッチパネル32に第二メンブレンスイッチ25と同様の機能を持たせることによって、蓋部31に第二メンブレンスイッチ25がない分、表示部分の大きさを変えずに蓋部31全体の大きさを小さくすることができ、第一表示部3と第二表示部5との両方を表示させる際にも装置全体を小型化することができる。
According to this
次に、第3の実施形態について図8から図11を参照しながら説明する。
なお、上述した他の実施形態と同様の構成要素には同一符号を付すとともに説明を省略する。
第3の実施形態と第1の実施形態との異なる点は、本実施形態に係る非破壊検査装置40が、装置本体41に対して第二表示部5をスライド自在に配するスライド部42を備えているとした点である。
Next, a third embodiment will be described with reference to FIGS.
In addition, the same code | symbol is attached | subjected to the component similar to other embodiment mentioned above, and description is abbreviate | omitted.
The difference between the third embodiment and the first embodiment is that the
スライド部42は、図8に示すように、所定の幅に形成されて装置本体41の前ハウジング43の凹部43Bにビス45を介して固定された溝部46と、溝部46と係合可能に蓋部47の一端47A側の上端面47C及び下端面47Dのそれぞれに配された支軸部48とを備えている。
溝部46は、支軸部48と係合した状態で溝部46の延びる方向以外の方向への蓋部47の移動を規制する形状とされている。
この溝部46の一端部46A及び他端部46Bは、それぞれ支軸部48の外径と略同一の大きさの孔形状とされており、支軸部48との係合状態を維持するとともに第一回動軸線C1と同一方向の軸線回りに支軸部48を回動可能とするクリック部50が配されている。このクリック部50と支軸部48とは、本実施形態における回動部51を構成している。
As shown in FIG. 8, the
The
One
溝部46には、第1の実施形態と同様の孔部29が配されている。凸部28は、支軸部48と同様に溝部46とも係合可能とされており、溝部46に沿ってスライド可能とされている一方、蓋部47の他端47E側を溝部46の一端部46A又は他端部46Bから取外し可能とするために、上下方向から押圧されることによって蓋部47内部に埋設可能に付勢されている。
装置本体41には、第一表示部3の上方側に溝部46と対向して溝部46と同形状の図示しない溝部が配されている。この溝部は防水構造とされており、内部には装置本体41と第二表示部5とを電気的に接続する図示しないケーブルが配されている。
The
In the apparatus
次に、本実施形態に係る非破壊検査装置40の使用方法、及び、作用・効果について説明する。
まず、図9に示すように蓋部47を収納した状態で、図示しないシングルプローブによって探傷波形のみをモニタする場合、シングルプローブを装置本体41のシングルプローブコネクタ12に接続し、探傷条件等を入力して検査準備を行う。
Next, a method of using the
First, when only the flaw detection waveform is monitored with a single probe (not shown) with the
探傷結果をモニタする場合には、蓋部47の他端47E側を把持し、支軸部48が配された一端47A側を回動中心としてクリック部50に対して第一回動軸線C1回りに回動する。この際、凸部28を一旦へこませて蓋部47の他端47E側を溝部46から取り外して前ハウジング43から離間するように外側に開く。
図10に示すように、蓋部47と溝部46とが略平行となるように180度開いた後、蓋部47の支軸部48を溝部46に沿ってスライドして、凸部28と孔部とが係合する位置まで移動して図11に示す状態とする。
こうして、第一表示部3と第二表示部5とが何れも外側を向くように重なり合って第一表示部3が第二表示部5に覆われて第二表示部5のみ視認可能となり、第二表示部5に探傷波形を表示するとともに、第二メンブレンスイッチ25を操作して所定の探傷結果を確認する。
When the flaw detection result is monitored, the
As shown in FIG. 10, after the
Thus, the
一方、図示しないフェイズドアレイプローブによって探傷波形とセクトリアルスキャン表示とを同時にモニタする場合、フェイズドアレイプローブを装置本体41のフェイズドアレイプローブコネクタ13に接続し、探傷条件等を入力して検査準備を行う。
On the other hand, when the flaw detection waveform and the cereal scan display are simultaneously monitored by a phased array probe (not shown), the phased array probe is connected to the phased
探傷結果をモニタする場合には、上述と同様の操作により、例えば、図10に示すように所定の位置まで開ける。
そして、第一表示部3と第二表示部5とをそれぞれ視認可能な位置に配し、例えば、第一表示部3にはセクトリアルスキャン表示し、第二表示部5には探傷波形を表示して、第一メンブレンスイッチ18及び第二メンブレンスイッチ25のそれぞれを操作して所定の探傷結果を確認する。
When monitoring the flaw detection result, the same operation as described above is performed, for example, to a predetermined position as shown in FIG.
Then, the
この非破壊検査装置40によれば、スライド部42によって第二表示部5を蓋部47とともに装置本体41から移動して、第一表示部3と第二表示部5との両方を視認可能にすることができる。また、回動部6によって蓋部47をさらに反転して再び装置本体41側にスライドして収納することによって、第二表示部5のみを外側に露出することができる。従って、第1の実施形態と同様の作用・効果を奏することができる。
According to this
次に、第4の実施形態について図12及び図13を参照しながら説明する。
なお、上述した他の実施形態と同様の構成要素には同一符号を付すとともに説明を省略する。
第4の実施形態と第3の実施形態との異なる点は、本実施形態に係る非破壊検査装置60の第一表示部3が前ハウジング61の表面61Aに露出した状態で配されるとともに、第二表示部5が第一表示部3と同一の方向を向くように配され、かつ、第一表示部3よりも前ハウジング61の内側をスライド可能に配されているとした点である。
第二表示部5は、前ハウジング61内に形成されて図示しない溝部上を移動可能な板状の支持部62の表面62Bに配されている。スライド部63は、支持部62の上端面62C、下端面62D及び溝部とからなり、支持部62は溝部上を装置本体65に沿う図中A方向にのみ移動可能とされている。
Next, a fourth embodiment will be described with reference to FIGS.
In addition, the same code | symbol is attached | subjected to the component similar to other embodiment mentioned above, and description is abbreviate | omitted.
The difference between the fourth embodiment and the third embodiment is that the
The
装置本体65と支持部62との接触部分には、NBR等の材料で作成されたパッキン66が配されて、支持部62と装置本体65とが弾性力を保ちながら接触されている。
この非破壊検査装置60に図示しないシングルプローブを装着して探傷波形のみをモニタする場合、図12に示すように、すでに外側に向けて配された第一表示部3に探傷波形を表示させて探傷作業を行う。
A packing 66 made of a material such as NBR is disposed at a contact portion between the apparatus
When a single probe (not shown) is attached to the
一方、非破壊検査装置60に図示しないフェイズドアレイプローブを装着して探傷波形とともにセクトリアルスキャン表示もモニタ表示する場合、まず、上述のようにフェイズドアレイプローブを装置本体65のフェイズドアレイプローブコネクタ13に接続し、探傷条件等を入力して検査準備を行う。
On the other hand, when a non-destructive phased array probe (not shown) is attached to the
探傷結果をモニタする場合には、上述と同様の操作により、例えば、図13に示すように、溝部に沿って第二表示部5が露出する位置まで支持部62の一端62A側をスライドさせる。
そして、例えば、第一表示部3にはセクトリアルスキャン表示し、第二表示部5には探傷波形を表示して、第一メンブレンスイッチ18及び第二メンブレンスイッチ25のそれぞれを操作して所定の探傷結果を確認する。
When monitoring the flaw detection result, the one
Then, for example, the
この非破壊検査装置60によれば、第二表示部5を移動する操作をしなくても第一表示部3の表示を確認することによって探傷作業を行うことができる。また、パッキン66が配されているので、支持部62の可動部分へのゴミの侵入及び付着を押さえることができ、例えば、溝部のゴミ詰まりによる不具合発生を好適に抑えることができる。
According to the
なお、本発明の技術範囲は上記実施の形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変更を加えることが可能である。
例えば、上記第1の実施形態では、回動部6が二方向の回動軸線C1、C2回りに蓋部7を回動可能とされているが、回動部をボールジョイントのように不特定方向に回動可能となるものでも構わない。
The technical scope of the present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications can be made without departing from the spirit of the present invention.
For example, in the first embodiment, the
1、30、40、60 非破壊検査装置
2、41、65 装置本体
3 第一表示部
5 第二表示部
6、51 回動部
8 係合部
32 タッチパネル
42、63 スライド部
1, 30, 40, 60
Claims (6)
該装置本体に配された第一表示部と、
前記装置本体に対して可動、かつ、前記第一表示部から離間可能に配された第二表示部とを備えていることを特徴とする非破壊検査装置。 A portable device body;
A first display unit disposed on the apparatus body;
A non-destructive inspection apparatus comprising: a second display unit that is movable with respect to the apparatus main body and that can be separated from the first display unit.
The non-destructive inspection apparatus according to claim 1, wherein a touch panel is arranged on the second display unit.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004375095A JP2006184034A (en) | 2004-12-27 | 2004-12-27 | Non-destructive inspection device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004375095A JP2006184034A (en) | 2004-12-27 | 2004-12-27 | Non-destructive inspection device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006184034A true JP2006184034A (en) | 2006-07-13 |
Family
ID=36737271
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004375095A Withdrawn JP2006184034A (en) | 2004-12-27 | 2004-12-27 | Non-destructive inspection device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2006184034A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017509873A (en) * | 2014-02-19 | 2017-04-06 | エジソン・ウェルディング・インスティチュート,インコーポレーテッド | Portable matrix phased array spot weld inspection system |
-
2004
- 2004-12-27 JP JP2004375095A patent/JP2006184034A/en not_active Withdrawn
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017509873A (en) * | 2014-02-19 | 2017-04-06 | エジソン・ウェルディング・インスティチュート,インコーポレーテッド | Portable matrix phased array spot weld inspection system |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US10591270B2 (en) | Systems and methods for control and calibration of a CMM | |
CN106537135B (en) | Articulating probe head and articulating arm coordinate measuring machine | |
CN109324710B (en) | Operation terminal integrated mechanical operation panel and external device | |
CN104519801A (en) | Portable ultrasonic imaging device | |
JPWO2014136521A1 (en) | Imaging apparatus, imaging method, and program | |
JP2010534853A (en) | Portable scanner for metal nondestructive inspection | |
JP2021526661A (en) | Technology for controlling non-destructive inspection devices via probe drivers | |
JP2006184034A (en) | Non-destructive inspection device | |
JP2005277992A5 (en) | ||
JP6139124B2 (en) | Portable ultrasonic diagnostic equipment | |
JP2009171085A (en) | Electronic device | |
US20150141835A1 (en) | Portable ultrasound image diagnostic apparatus | |
JP2005279096A (en) | Probe system, probe device, probe and method of controlling probe system | |
JP5526537B2 (en) | Ultrasonic diagnostic equipment | |
JP2011072532A (en) | Medical diagnostic imaging apparatus and ultrasonograph | |
JP3540139B2 (en) | Portable non-destructive inspection equipment | |
WO2005038449A1 (en) | A probe for non-destructive testing | |
JP2011099531A (en) | Clicking mechanism of connecting device and electronic equipment | |
JP4769652B2 (en) | Imaging device | |
JP2012210244A (en) | Sunshade for ultrasound diagnostic device | |
JP5409992B2 (en) | measuring device | |
JP2004228299A (en) | Mobile terminal device | |
CN217278887U (en) | Sound source positioning visualization system | |
JP5405757B2 (en) | Endoscope bending operation training device | |
JPS59138951A (en) | Ultrasonic flaw detecting device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20080304 |