JP2006162600A - 表面特性の位置分解評価方法とその装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明は、表面特性、特に表面の光学特性に影響を与える表面特性の位置分解した検査と評価の方法及び装置に関する。ここでは、所与のビームは第1の所与の立体角で検査対象表面に照射される。更に、検査対象表面により特に散乱や反射により影響を受けたビームの少なくとも一部分が第2の立体角で検出される。この時少なくとも一つの測定値が位置分解して捕捉され、これは、検査対象表面により影響を受けたビームの少なくとも一つの所与の特性を特徴づける。この位置分解した測定値の少なくとも一部分を介して、表面を特徴づけるための少なくとも一つの統計量が決定される。
【選択図】図4
Description
20 赤の効果ピグメントを持つ黒の上塗りの色位置(位置積分した色測定に基づく)
30 赤い効果ピグメントの色位置
Claims (22)
- 検査表面特性の光学的検査方法、特に位置分解した表面特性の決定方法において、
−所与のビームを一つの第1の所与の立体角で一つの検査対象表面に照射する、
−検査対象表面により影響を受けた各ビームの少なくとも一部分を第2の所与の立体角で検出し、このとき少なくとも一つの測定量を位置分解して捕捉し、これにより、検査対象表面により影響を受けたビームの少なくとも一つの所定の特性の特徴づけを行う、
−表面の特徴づけのために、位置分解された測定値の少なくとも一部分を介して少なくとも一つの統計量を決定する、
というステップを持つ検査方法。 - 所定のビームが統計量決定の際に望ましくは特にA、B、C、D50、D65、D75、F11、TL84標準光といった標準の光、特に望ましくはD65標準光に換算されることを特徴とする、請求項1に記載の方法。
- 検査対象表面により影響を受けたビームの特性が、スペクトルビーム強度、特にスペクトル拡散反射β(λ)、スペクトル透過τ(λ)、ビーム強度積分、最大ビーム強度の波長その他で構成される特性グループの中から選ばれることを特徴とする、請求項1または2に記載の方法。
- 少なくとも一つの測定量の、少なくとも一つの所定の値間隔を使用して統計量が決定されることを特徴とする、請求項1から3のうちいずれか1項に記載の方法。
- 位置分解した測定値の分布Fm*(m*=m)が少なくとも一つ決定され、これが、影響を受けたビームを特徴づけることを特徴とする、請求項1から4のうちいずれか1項に記載の方法。
- 少なくとも一つの、影響を受けたビームを特徴づける指標が、少なくとも一つの統計的パラメータに応じて、位置分解された測定値、望ましくは位置分解された測定値の少なくとも一つの分布Fm*(m*=m)から導出されることを特徴とする、請求項1から5のうちいずれか1項に記載の方法。
- 統計量、特に位置分解された測定値の分布Fm*(m*=m)が、平均値μm*、ばらつき、中央値、値域、最小値、最大値、絶対偏差、四分位間隔、標準偏差σm*、分散σ2 m*その他から構成される統計量のグループから選ばれることを特徴とする、請求項1から6のうちいずれか1項に記載の方法。
- 平均値μm*が、算術平均、幾何学平均、移動平均、ベクトル平均、調和平均、加重平均、一般平均値その他およびこれらの組み合わせで構成される平均値グループから選ばれることを特徴とする、請求項1から7のうちいずれか1項に記載の方法。
- 少なくとも一度は第1のおよび/または第2の所与の立体角が変更され、検出装置が検査対象表面から影響を受けたビームを新たに検出し、少なくとも一つの統計量が新たに決定されることを特徴とする、請求項1から9のうちいずれか1項に記載の方法。
- 請求項1から11に記載うちいずれか1項に記載の方法による、特に表面特性の位置分解した決定方法を実施するための装置であって、
−所定のビームを第1の所定の立体角で検査対象表面に照射する少なくとも一つの第1の照射装置、
−検査対象表面により影響を受けたビームの少なくとも一部分を第2の所定の立体角で検出し、このとき少なくとも一つの測定量が位置分解して捕捉され、これが、検査対象表面により影響を受けたビームの少なくとも一つの所定の特性を特徴づける少なくとも一つの第1の検出装置、
−少なくとも一つの統計量を、位置分解された測定値の少なくとも一部分を介して表面の特徴づけのために決定する少なくとも一つのプロセッサ装置、
−少なくとも統計量、またはこれから導出した指標、または位置分解された測定値から導出した指標を出力する少なくとも一つの出力装置、
を備える装置。 - 第1の検出装置が少なくとも一つの望ましくは平面受像要素を備え、これが位置分解したビーム検出を行えることを特徴とする、請求項11に記載の装置。
- 第1の検出装置が、カメラ、CCDチップその他から構成される検出装置のグループから選ばれることを特徴とする、請求項11または12に記載の装置。
- 少なくとも第2の照射装置が備わっていることを特徴とする、請求項11から13のうちいずれか1項に記載の装置。
- 検査対象表面が少なくとも時間的に同時に、少なくとも2つの照射装置から照射されることを特徴とする、請求項11から14のうちいずれか1項に記載の装置。
- 少なくとも一つの照射装置が、電球、放電灯、ハロゲンランプ、発光ダイオード、レーザーおよびレーザーダイオード、熱照射源その他から構成される照射源のグループの少なくとも一つの照射源であることを特徴とする、請求項11から15のうちいずれか1項に記載の装置。
- 少なくとも一つの照射源が、少なくとも一つのビーム特性、以下に限定されないが特に発光スペクトルS(λ)、最大強度の波長、偏光、強度、変調、コヒーレンスその他について変更可能であることを特徴とする、請求項11から16のうちいずれか1項に記載の装置。
- 少なくとも一つの照射源がビームを照射し、これが統計量決定の際に望ましくは標準の光、特にA、B、C、D50、D65、D75、F11、TL84標準光、特に望ましくはD65標準光に換算できることを特徴とする、請求項11から17のうちいずれか1項に記載の装置。
- 少なくとも一つの第2の検出装置が備わっており、これが、フォトセル、光電池、光ダイオードその他から構成される検出装置グループから選ばれることを特徴とする、請求項11から18のうちいずれか1項に記載の装置。
- 請求項1から10のうちいずれか1項に記載され、特に位置分解した、表面特性、望ましくは自動車塗装の表面特性の決定のための方法の利用方法。
- 請求項11から20のうちいずれか1項に記載され、特に位置分解した、表面特性、望ましくは自動車塗装の表面特性の決定のための装置の利用方法。
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