JP2006153642A - Concentration measuring instrument - Google Patents

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JP2006153642A
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Tomohiro Kita
智博 喜多
Kayoko Oomiya
可容子 大宮
Mitsuhiro Nishio
光弘 西尾
Kenichi Uchiyama
兼一 内山
Michio Nakayama
通雄 中山
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Toshiba Corp
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a concentration measuring instrument having high measurement accuracy, capable of shortening an operation time. <P>SOLUTION: A chip carrier 700 for storing a glass chip 600 as an optical waveguide substrate is placed on the upper surface 501 of an optical block 500, and the optical block 500 is equipped with a light source module 530 and a detector 531. The first positioning part 420, the second positioning part 440 and a pressing part 460 for positioning and holding the glass chip operated by a turning handle 407 are provided on the device case 400 side. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は濃度測定装置に関し、さらに詳しくは、被測定液体試料中の特定成分の濃度を光を用いて測定する濃度測定装置に関する。   The present invention relates to a concentration measuring apparatus, and more particularly to a concentration measuring apparatus that measures the concentration of a specific component in a liquid sample to be measured using light.

従来、インスリンなどの各種のホルモン、タンパク質、血糖などの有機物質の濃度測定方法としては、電極反応で発生する電圧を測定する方法や、物質と反応して吸着される色素を用いて色変化をレーザ光などの光量の変化で測定する光学式濃度測定方法(例えば、特許文献1参照。)などがある。この光学式濃度測定方法は、測定の分解能が高いという利点がある。   Conventionally, methods for measuring the concentration of various hormones such as insulin, proteins, and organic substances such as blood sugar include measuring the voltage generated by the electrode reaction, and changing the color using a dye that reacts with the substance and is adsorbed. There is an optical density measurement method (for example, see Patent Document 1) in which measurement is performed by changing the amount of light such as laser light. This optical density measurement method has an advantage of high measurement resolution.

以下、この光学式濃度測定方法を簡単に説明する。先ず、ガラスチップの上に液体状の被測定物を配置し、被測定物に例えば色素を反応させて被測定物の濃度に応じて入射光が吸収されるようにする。そして、このガラスチップを濃度測定装置上に位置決め状態を確認しながら載置し、工具を用いてガラスチップをネジ止めする。その後、ガラスチップ内にレーザ光を導き、被測定物が配置された領域を通過したレーザ光をガラスチップの外側に取り出して光量検出を行う。この光量の検出値から被測定物の濃度を算出している。   Hereinafter, this optical density measurement method will be briefly described. First, a liquid object to be measured is placed on a glass chip, and for example, a dye is reacted with the object to be measured so that incident light is absorbed according to the concentration of the object to be measured. Then, the glass chip is placed on the concentration measuring device while confirming the positioning state, and the glass chip is screwed using a tool. Thereafter, a laser beam is guided into the glass chip, and the laser beam that has passed through the region where the object to be measured is placed is taken out of the glass chip to detect the amount of light. The concentration of the object to be measured is calculated from the detected value of the light quantity.

このような光学式濃度測定方法では、ガラスチップに対して光源および検出器を所定位置に配置し、光源から出射された光が被測定物を配置した領域へ最適な状態で入射されるように、ガラスチップと、光源と、検出器とを精度よく配置させる必要があった。
特開2004−184381号(第1頁、図1)
In such an optical concentration measurement method, the light source and the detector are arranged at predetermined positions with respect to the glass chip so that the light emitted from the light source is optimally incident on the region where the object to be measured is arranged. It was necessary to arrange the glass chip, the light source, and the detector with high accuracy.
Japanese Patent Application Laid-Open No. 2004-184381 (first page, FIG. 1)

しかし、上述の濃度測定装置では、ガラスチップの位置決めとネジ固定とを手作業で行うため、作業者により位置決め状態が異なり、測定に支障を及ぼすと共に、ネジを使用することでガラスチップの位置決めに時間がかかるという問題があった。   However, in the above-described concentration measuring apparatus, since the glass chip positioning and screw fixing are performed manually, the positioning state differs depending on the operator, which hinders measurement and uses the screw to position the glass chip. There was a problem that it took time.

そこで、本発明の目的は、測定精度が高く、作業時間を短縮できる濃度測定装置を提供することにある。   SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a concentration measuring apparatus that has high measurement accuracy and can shorten the working time.

本発明の第1の特徴は、光導波路基板上に配置された被測定物に、光導波路基板中を通る光を照射し、光導波路基板からの戻り光を受光することによって測定を行う濃度測定装置であって、光導波路基板が載置される基板載置部を有する装置本体と、基板載置部に載置された光導波路基板を特定方向のみに移動可能にする位置決めガイドと、基板載置部に載置された光導波路基板における特定方向の一方の端面に当接して光導波路基板の位置決めを行う第1位置決め部と、光導波路基板における特定方向の他方の端面を押圧する第2位置決め部と、光導波路基板を基板載置部側へ押し付ける押圧部と、第1位置決め部、および第2位置決め部、および押圧部を連動させる連動機構と、を備えることを要旨とする。   The first feature of the present invention is that concentration measurement is performed by irradiating the object to be measured disposed on the optical waveguide substrate with light passing through the optical waveguide substrate and receiving the return light from the optical waveguide substrate. An apparatus main body having a substrate mounting portion on which an optical waveguide substrate is mounted, a positioning guide that allows the optical waveguide substrate mounted on the substrate mounting portion to move only in a specific direction, and a substrate mounting A first positioning portion for positioning the optical waveguide substrate by contacting one end surface in the specific direction of the optical waveguide substrate placed on the mounting portion; and a second positioning for pressing the other end surface of the optical waveguide substrate in the specific direction And an interlocking mechanism that interlocks the first positioning portion, the second positioning portion, and the pressing portion.

また、本発明の第2の特徴は、光導波路基板上に配置された被測定物に、光導波路基板中を通る光を照射し、光導波路基板からの戻り光を受光することによって測定を行う濃度測定装置であって、光導波路基板を載置する基板載置部を有する装置本体と、基板載置部に載置された光導波路基板を特定方向のみに移動可能にする位置決めガイドと、基板載置部に載置された光導波路基板における特定方向の一方の端面に当接して光導波路基板の位置決めを行う第1位置決め部と、光導波路基板における特定方向の他方の端面を押圧する第2位置決め部と、光導波路基板を基板載置部側へ押し付ける押圧部と、第1位置決め部、および第2位置決め部、および押圧部を連動させる連動機構と、連動機構を操作する回転ハンドルと、光導波路基板を収納した状態で、基板載置部、および第1位置決め部、および第2位置決め部を干渉しないように装置本体に載置され、装置本体上で光導波路基板と分離される基板キャリアと、を備えていることを要旨とする。   The second feature of the present invention is that measurement is performed by irradiating the object to be measured arranged on the optical waveguide substrate with light passing through the optical waveguide substrate and receiving the return light from the optical waveguide substrate. An apparatus main body having a substrate mounting portion for mounting an optical waveguide substrate, a positioning guide that allows the optical waveguide substrate mounted on the substrate mounting portion to move only in a specific direction, and a substrate A first positioning unit that positions the optical waveguide substrate by contacting one end surface in the specific direction of the optical waveguide substrate placed on the mounting unit, and a second that presses the other end surface of the optical waveguide substrate in the specific direction A positioning unit, a pressing unit that presses the optical waveguide substrate toward the substrate mounting unit, a first positioning unit, a second positioning unit, an interlocking mechanism that interlocks the pressing unit, a rotary handle that operates the interlocking mechanism, and an optical Waveguide substrate A substrate carrier mounted on the apparatus main body so as not to interfere with the substrate mounting section, the first positioning section, and the second positioning section in the stored state, and separated from the optical waveguide substrate on the apparatus main body. It is a summary.

本発明によれば、測定精度が高く、作業時間を短縮できる濃度測定装置を提供することを可能とする。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, it becomes possible to provide the density | concentration measuring apparatus which has a high measurement precision and can shorten work time.

以下、本発明の実施の形態に係る濃度測定装置の詳細を図1〜図12を用いて説明する。   Hereinafter, the details of the concentration measuring apparatus according to the embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.

〔濃度測定装置の概略構成〕
図1に示すように、本実施の形態の濃度測定装置100は、装置本体200と、装置本体200の上面を開閉する開閉蓋としての蓋体300とを備えている。装置本体200は、装置ケース400と、この装置ケース400に設けられた光学ブロック500とを備えている。装置ケース400は、略直方体形状の筐体であり、上壁401に形成した開口部404(図5、図6参照。)で光学ブロック500の所定領域を露出させるようになっている。また、図1に示すように、装置ケース400の上壁401には、露出する光学ブロック500の所定領域を挟むように、第1カバー402と、第2カバー403とが装着されている。
[Schematic configuration of concentration measuring device]
As shown in FIG. 1, the concentration measuring apparatus 100 according to the present embodiment includes an apparatus main body 200 and a lid body 300 as an open / close lid that opens and closes the upper surface of the apparatus main body 200. The apparatus main body 200 includes an apparatus case 400 and an optical block 500 provided in the apparatus case 400. The device case 400 is a substantially rectangular parallelepiped housing, and a predetermined region of the optical block 500 is exposed through an opening 404 (see FIGS. 5 and 6) formed in the upper wall 401. As shown in FIG. 1, a first cover 402 and a second cover 403 are attached to the upper wall 401 of the apparatus case 400 so as to sandwich a predetermined region of the exposed optical block 500.

図2に示すように、光学ブロック500の上面501には、基板キャリアとしてのチップキャリア700が載置されるようになっている。このチップキャリア700は、光導波路基板としてのガラスチップ600を収納するようになっている。光学ブロック500は、一方の側面に設けられた複数の光源モジュール530と、他方の側面に設けられた、光源モジュール530と同数の検出器531とを備えている。   As shown in FIG. 2, a chip carrier 700 as a substrate carrier is placed on the upper surface 501 of the optical block 500. The chip carrier 700 is configured to house a glass chip 600 as an optical waveguide substrate. The optical block 500 includes a plurality of light source modules 530 provided on one side surface and the same number of detectors 531 as the light source modules 530 provided on the other side surface.

装置ケース400側には、図4、図7および図8などに示すように、ガラスチップ600を光学ブロック500上で位置決め、保持する第1位置決め部420、第2位置決め部440および押圧部460が設けられている。   On the apparatus case 400 side, as shown in FIGS. 4, 7 and 8, etc., there are a first positioning part 420, a second positioning part 440 and a pressing part 460 for positioning and holding the glass chip 600 on the optical block 500. Is provided.

〔光学ブロックの構成〕
図2および図3に示すように、光学ブロック500は略台状の構造を有する。この光学ブロック500は、金属ブロックを削り出しにより形成したものである。光学ブロック500の具体的な外形は、長方形状の上面501と、この上面501に対して平行をなす長方形状の下面502と、図2および図3に矢印yで示す長手方向の両側端に位置する、互いに平行をなす台形状の一対の側面503と、図中に矢印xで示す幅方向の両側に位置する一対のテーパ面504、505と、を備えている。なお、矢印xがなす方向と矢印yがなす方向とは、同一平面内において直交する方向となっている。
[Configuration of optical block]
As shown in FIGS. 2 and 3, the optical block 500 has a substantially trapezoidal structure. The optical block 500 is formed by cutting a metal block. The specific outer shape of the optical block 500 is located at a rectangular upper surface 501, a rectangular lower surface 502 parallel to the upper surface 501, and both longitudinal ends indicated by arrows y in FIGS. 2 and 3. And a pair of trapezoidal side surfaces 503 parallel to each other, and a pair of tapered surfaces 504 and 505 located on both sides in the width direction indicated by an arrow x in the drawing. Note that the direction formed by the arrow x and the direction formed by the arrow y are orthogonal to each other in the same plane.

図2に示すように、上面501には、図中の矢印x方向の中央で矢印y方向の光学ブロック500の長さのほぼ全体に亘って長方形状の基板載置面506が周囲の上面501に対してやや高く形成されている。基板載置面506には、矢印y方向に沿って複数(本実施の形態では8つ)の基板載置部(基板載置面506におけるガラスチップ600を載置する面領域)507が互いに平行をなすように隣接して配置されている。本実施の形態の濃度測定装置100では、複数のガラスチップ600をそれぞれ基板載置部507に同時に載置して、一度に複数のガラスチップ600を用いた測定を行うことが可能である。   As shown in FIG. 2, a rectangular substrate mounting surface 506 is formed on the upper surface 501 around the entire length of the optical block 500 in the arrow y direction at the center in the arrow x direction in the drawing. It is formed slightly higher than. A plurality (eight in this embodiment) of substrate placement portions (surface regions on which the glass chip 600 is placed on the substrate placement surface 506) 507 are parallel to each other on the substrate placement surface 506 along the arrow y direction. Are arranged adjacent to each other. In the concentration measuring apparatus 100 according to the present embodiment, a plurality of glass chips 600 can be simultaneously placed on the substrate placement unit 507, and measurement using the plurality of glass chips 600 can be performed at a time.

基板載置面506には、チップキャリア700に収納されたガラスチップ600がそれぞれ対応する基板載置部507に載置されるようになっている。ガラスチップ600は、その長手方向が矢印x方向に一致するように基板載置部507上に載置される。   On the substrate placement surface 506, the glass chips 600 housed in the chip carrier 700 are placed on the corresponding substrate placement portions 507. The glass chip 600 is placed on the substrate platform 507 so that the longitudinal direction thereof coincides with the arrow x direction.

図9は、図2のA−A断面図である。図9に示すように、光学ブロック500には、それぞれの基板載置部507内の一方側(光源モジュール530側)の領域と、一方のテーパ面504の所定位置と、を結ぶように貫通する光出射通路508が形成されている。光学ブロック500におけるテーパ面504側には、光源モジュール530を取り付ける、光出射通路508の一方の開口部508Aが形成されている。なお、この開口部508Aの近傍は、光源モジュール530を配置するため、光出射通路508よりも径が大きく形成されている。また、それぞれの基板載置部507における光源モジュール530側の領域には、基板載置部507上に載置されたガラスチップ600に光を入射させるための、光出射通路508の他方の開口端である出射開口部508Bが形成されている。   9 is a cross-sectional view taken along the line AA in FIG. As shown in FIG. 9, the optical block 500 is penetrated so as to connect a region on one side (the light source module 530 side) in each substrate mounting portion 507 and a predetermined position of one tapered surface 504. A light exit passage 508 is formed. On the tapered surface 504 side of the optical block 500, one opening 508A of the light emission path 508 to which the light source module 530 is attached is formed. In the vicinity of the opening 508A, the light source module 530 is disposed, so that the diameter is larger than that of the light emission path 508. Further, the other opening end of the light emission path 508 for allowing light to enter the glass chip 600 placed on the substrate platform 507 is located in the area on the light source module 530 side of each substrate platform 507. An emission opening 508B is formed.

また、図9に示すように、基板載置部507における検出器531側に位置する表面と、他方のテーパ面505との間には、光入射通路509が形成されている。この光入射通路509のテーパ面505における開口部509A側には、上述の検出器531が配置、固定され、検出器531の受光面が開口部509Aに臨んでいる。光入射通路509の他方の開口端は、基板載置部507内に開口された入射開口部509Bである。   Further, as shown in FIG. 9, a light incident path 509 is formed between the surface of the substrate platform 507 located on the detector 531 side and the other tapered surface 505. The detector 531 described above is arranged and fixed on the tapered surface 505 of the light incident path 509 on the opening 509A side, and the light receiving surface of the detector 531 faces the opening 509A. The other opening end of the light incident path 509 is an incident opening 509 </ b> B opened in the substrate platform 507.

さらに、図9に示すように、基板載置部507内における、出射開口部508Bと入射開口部509Bとの間で、かつ出射開口部508Bに隣接する位置には、下面502まで貫通する非検出光除去通路510が形成されている。この非検出光除去通路510は、出射開口部508Bから出てガラスチップ600に入射する光のうち、ガラスチップ600内に進まない反射成分が入射するようになっている。基板載置部507における非検出光除去通路510の開口端は、非検出光入射開口部510Aとなっている。また、下面502には、非検出光除去通路510の他方の開口部510Bが形成されている。本実施の形態では、非検出光除去通路510は、中間部で屈曲しており、開口端510Bから開口部510Aが見通せない位置関係となるように形成されている。   Further, as shown in FIG. 9, non-detection that penetrates to the lower surface 502 at a position between the exit opening 508 </ b> B and the entrance opening 509 </ b> B and adjacent to the exit opening 508 </ b> B in the substrate platform 507. A light removal passage 510 is formed. The non-detection light removal passage 510 is configured so that a reflection component that does not travel into the glass chip 600 out of the light that exits from the emission opening 508B and enters the glass chip 600 is incident. The opening end of the non-detection light removal passage 510 in the substrate platform 507 is a non-detection light incident opening 510A. Further, the other opening 510B of the non-detection light removal passage 510 is formed on the lower surface 502. In the present embodiment, the non-detection light removal passage 510 is bent at an intermediate portion, and is formed so as to have a positional relationship in which the opening 510A cannot be seen from the opening end 510B.

上述した光出射通路508、光入射通路509、および非検出光除去通路510の内壁面は、光吸収性を有するように黒色の塗装などの処理が施されている。   The inner wall surfaces of the light exit passage 508, the light entrance passage 509, and the non-detection light removal passage 510 described above are subjected to processing such as black coating so as to have light absorption.

なお、光学ブロック500の一方のテーパ面504に固定された光源モジュール530から出射される光の光軸は、光出射通路508内を通ってガラスチップ600の下面に所定入射角度で入射されるように設定されている。本実施の形態では、光源モジュール530を光学ブロック500に固定することにより、ガラスチップ600への所定入射角度の±0.2度以内の精度を達成することができる。   Note that the optical axis of the light emitted from the light source module 530 fixed to one tapered surface 504 of the optical block 500 passes through the light emission path 508 and enters the lower surface of the glass chip 600 at a predetermined incident angle. Is set to In the present embodiment, by fixing the light source module 530 to the optical block 500, an accuracy within ± 0.2 degrees of the predetermined incident angle to the glass chip 600 can be achieved.

図9に示すように、基板載置部507の上には、出射開口部508B、非検出光入射開口部510Aおよび入射開口部509Bを覆う透明な保護ガラス(図中一点鎖線で示す)511が配置されている。   As shown in FIG. 9, on the substrate mounting portion 507, a transparent protective glass (indicated by a one-dot chain line in the figure) 511 covering the emission opening 508B, the non-detection light incidence opening 510A, and the incidence opening 509B is provided. Is arranged.

そして、基板載置面506のそれぞれの基板載置部507には、ガラスチップ600を所定の高さで載置する4つの基板載置用突起512が上方へ向けて突設されている。これら基板載置用突起512は、それぞれの基板載置部507において、出射開口部508B、非検出光入射開口部510Aおよび入射開口部509Bが形成された領域を取り囲むように配置されている。すなわち、これら基板載置用突起512は、ガラスチップ600内の光導波路を干渉しない位置に配置されている。なお、これら基板載置用突起512は、金属製のピンを光学ブロック500の基板載置部507に固定したものである。これら基板載置用突起512の上端面は、研削、切削、研磨、バリ取りなどを行って、高さのばらつきが±50μm以内におさまるように平坦性が実現されている。   Each substrate placement portion 507 on the substrate placement surface 506 is provided with four substrate placement projections 512 for placing the glass chip 600 at a predetermined height. These substrate mounting protrusions 512 are arranged so as to surround the regions where the emission openings 508B, the non-detection light incident openings 510A, and the incident openings 509B are formed in the respective substrate placement portions 507. That is, these substrate mounting protrusions 512 are arranged at positions that do not interfere with the optical waveguide in the glass chip 600. These substrate mounting protrusions 512 are obtained by fixing metal pins to the substrate mounting portion 507 of the optical block 500. The upper end surfaces of the substrate mounting protrusions 512 are ground so that the variation in height is within ± 50 μm by grinding, cutting, polishing, deburring, and the like.

さらに、図2に示すように、基板載置面506におけるそれぞれの基板載置部507の矢印y方向の両側には、ガラスチップ600を幅方向の両側から挟んで特定方向(矢印x方向)のみの移動を可能とすると共に、矢印y方向の移動を規制する2対の位置決め突起513が突設されている。なお、本実施の形態では、互いに隣接する基板載置部507同士は、間に2本の位置決め突起513のみが配置され、互いに共用するようになっている。   Further, as shown in FIG. 2, only the specific direction (arrow x direction) is sandwiched between the glass chips 600 from both sides in the width direction on both sides of the substrate placement portion 507 on the substrate placement surface 506 in the arrow y direction. Two pairs of positioning projections 513 are provided so as to allow the movement in the direction of arrow y and restrict the movement in the direction of the arrow y. In the present embodiment, only two positioning projections 513 are arranged between the substrate mounting portions 507 adjacent to each other, and are shared by each other.

また、図2に示すように、基板載置面506における複数の基板載置部507の矢印y方向の両側には、チップキャリア700の位置決めを行うためのキャリア位置決めピン514がそれぞれ突設されている。   Further, as shown in FIG. 2, carrier positioning pins 514 for positioning the chip carrier 700 are respectively provided on both sides of the plurality of substrate platforms 507 on the substrate platform surface 506 in the arrow y direction. Yes.

さらに、図2、図3および図9に示すように、光学ブロック500の上面501における基板載置面506の矢印x方向の両側には、液溜め溝515がそれぞれ形成されている。この液溜め溝515の底部には、水分を含んで変色を起こす機能を有する所謂水没シート516が配置されている。この水没シート516により、ガラスチップ600の液体サンプルの液漏れを容易に認識することが可能となる。   Further, as shown in FIGS. 2, 3, and 9, liquid reservoir grooves 515 are respectively formed on both sides of the substrate mounting surface 506 on the upper surface 501 of the optical block 500 in the arrow x direction. A so-called submerged sheet 516 having a function of causing discoloration including moisture is disposed at the bottom of the liquid storage groove 515. With this submerged sheet 516, it is possible to easily recognize the liquid leakage of the liquid sample of the glass chip 600.

〔光源モジュールの概略構成〕
図9に示すように、光源モジュール530は、半導体レーザ531、コリメートレンズ532、半導体レーザ531を固定するスリーブ533、スリーブホルダ534、レンズホルダ535などを備えている。
[Schematic configuration of light source module]
As shown in FIG. 9, the light source module 530 includes a semiconductor laser 531, a collimating lens 532, a sleeve 533 for fixing the semiconductor laser 531, a sleeve holder 534, a lens holder 535, and the like.

光源モジュール530は、半導体レーザ531の出射光の光軸が光出射通路508のほぼ中心を通るように設定されている。なお、半導体レーザ531を固定するスリーブ533は、スリーブホルダ534に対して、光軸と直角をなす方向に移動調整可能に設けられている。また、コリメートレンズ532と半導体レーザ531とは、光軸方向に相対移動可能に設けられている。   The light source module 530 is set so that the optical axis of the emitted light from the semiconductor laser 531 passes through the substantially center of the light emitting path 508. The sleeve 533 for fixing the semiconductor laser 531 is provided so as to be movable and adjustable in a direction perpendicular to the optical axis with respect to the sleeve holder 534. The collimating lens 532 and the semiconductor laser 531 are provided so as to be relatively movable in the optical axis direction.

上述の構成により、光源モジュール530では、半導体レーザ531から出射される光の光軸を平行移動させる微調整と、光出射通路508内を進むレーザ光の広がり角度を微調整することが可能である。本実施の形態では、コリメートレンズ532の集光作用により、ガラスチップ600内に入射する光の広がり角度を0.5度以下に設定することが可能となる。   With the above-described configuration, the light source module 530 can finely adjust the optical axis of the light emitted from the semiconductor laser 531 and finely adjust the spread angle of the laser light traveling in the light emission path 508. . In the present embodiment, the spreading angle of light incident on the glass chip 600 can be set to 0.5 degrees or less by the light condensing action of the collimating lens 532.

〔検出器〕
検出器531は、受光素子として、入射光に基づき光電変換を行うフォトダイオードが用いられている。この検出器531は、光学ブロック500における光入射通路509のテーパ面505における開口端509Aに、受光面が臨むように固定されている。
〔Detector〕
In the detector 531, a photodiode that performs photoelectric conversion based on incident light is used as a light receiving element. The detector 531 is fixed so that the light receiving surface faces the opening end 509 </ b> A of the tapered surface 505 of the light incident path 509 in the optical block 500.

〔装置ケース〕
図5に示すように、装置ケース400は、上壁401に、上述した基板載置面506を露出させる矩形上の開口部404が形成されている。上述したように、装置ケース400内には、光学ブロック500が内蔵され、この光学ブロック500の上面の複数の基板載置部507が形成された基板載置面506が開口部404で露出するようになっている。この基板載置面506の上には、チップキャリア700が配置されるようになっている。
[Device Case]
As shown in FIG. 5, the apparatus case 400 has a rectangular opening 404 on the upper wall 401 that exposes the substrate mounting surface 506 described above. As described above, the optical block 500 is built in the apparatus case 400, and the substrate placement surface 506 formed with the plurality of substrate placement portions 507 on the upper surface of the optical block 500 is exposed through the opening 404. It has become. A chip carrier 700 is arranged on the substrate mounting surface 506.

また、装置ケース400の上面の一方側の側縁部には、装置ケース400の上部を開閉させる蓋体300が回動自在に支持されている。図1に示すように、この蓋体300の回動基部には、装置ケース400側に配置された開閉確認スイッチ412を押すピン301が突設されている。蓋体300が閉じられたときに、光学ブロック500側の光源モジュール530や検出器531の駆動が可能となるように設定されている。蓋体300の内側面は、黒色に塗装されて光吸収性が付与されている。   A lid 300 that opens and closes the upper portion of the apparatus case 400 is rotatably supported on one side edge of the upper surface of the apparatus case 400. As shown in FIG. 1, a pin 301 that pushes an open / close confirmation switch 412 disposed on the apparatus case 400 side protrudes from the rotation base of the lid 300. When the lid 300 is closed, the light source module 530 and the detector 531 on the optical block 500 side can be driven. The inner surface of the lid 300 is painted black to give light absorption.

装置ケース400の上壁401上面の側部には、光源モジュール530および検出器531などを駆動するための駆動スイッチ405や各種のインジケータ406が設けられている。上述するように、開閉確認スイッチ412がピン301で押されている状態、すなわち、蓋体300が閉じられている状態のみに、駆動スイッチ405をONにできるようになっている。インジケータ406は、蓋体300の開閉状態やチップキャリア700の有無などの検出結果などを点灯表示するようになっている。なお、チップキャリア700の載置の有無は、図示しない検出手段で行うようになっている。   A drive switch 405 and various indicators 406 for driving the light source module 530 and the detector 531 are provided on the side of the upper surface 401 of the upper case 401 of the apparatus case 400. As described above, the drive switch 405 can be turned on only when the open / close confirmation switch 412 is pressed by the pin 301, that is, when the lid 300 is closed. The indicator 406 lights up and displays a detection result such as the open / closed state of the lid 300 and the presence / absence of the chip carrier 700. Whether or not the chip carrier 700 is placed is determined by a detection means (not shown).

また、図1に示すように、装置ケース400の上壁401の表面における光学ブロック500が露出する領域の一側方に、回転ハンドル407が設けられている。この回転ハンドル407は、円柱状の回転基部408と、回転基部408の軸方向に直角をなすように一体に設けられたハンドル部409とを備えている。回転基部408の下部には、上壁401を貫通して装置ケース400内に突出する回転軸部410(図10参照。)が一体に設けられている。図10は、装置ケース400の内側から、装置ケース400の上壁部を貫通して突出する回転軸部410を見た状態を示している。   Further, as shown in FIG. 1, a rotation handle 407 is provided on one side of a region where the optical block 500 is exposed on the surface of the upper wall 401 of the apparatus case 400. The rotation handle 407 includes a columnar rotation base 408 and a handle portion 409 integrally provided so as to be perpendicular to the axial direction of the rotation base 408. A rotating shaft portion 410 (see FIG. 10) that penetrates the upper wall 401 and protrudes into the device case 400 is integrally provided at the lower portion of the rotating base portion 408. FIG. 10 shows a state in which the rotary shaft portion 410 that protrudes through the upper wall portion of the device case 400 is seen from the inside of the device case 400.

さらに、図5に示すように、装置ケース400の上壁401の表面上には、開口部404の矢印y方向の両側に、矢印x方向に沿ってガイド部としてのガイドレール411がそれぞれ設けられている。この一対のガイドレール411は、後述する第1位置決め部420、第2位置決め部440、および押圧部460を矢印x方向に往復可能に案内する機能を有する。   Further, as shown in FIG. 5, on the surface of the upper wall 401 of the device case 400, guide rails 411 as guide portions are provided along the arrow x direction on both sides of the opening 404 in the arrow y direction. ing. The pair of guide rails 411 has a function of guiding a first positioning portion 420, a second positioning portion 440, and a pressing portion 460, which will be described later, so as to reciprocate in the arrow x direction.

〔ガラスチップ〕
図12に示すように、ガラスチップ600は、長方形状のガラス基板であり、例えばホウケイ酸ガラスなどの光透過性のある材料からなる。ガラスチップ600の上面中央には、被測定物を収容するサンプル配置部601が形成されている。このサンプル配置部601は、例えばABS樹脂でなる突堤602で囲まれたものであり、突堤602で囲まれた内側の凹部に、被測定物としての例えばタンパク質などを含む液体を収容するようになっている。
[Glass chip]
As shown in FIG. 12, the glass chip 600 is a rectangular glass substrate and is made of a light-transmitting material such as borosilicate glass. At the center of the upper surface of the glass chip 600, a sample placement portion 601 for accommodating an object to be measured is formed. The sample placement portion 601 is surrounded by a jetty 602 made of, for example, ABS resin, and a liquid containing, for example, a protein as the object to be measured is accommodated in an inner recess surrounded by the jetty 602. ing.

また、ガラスチップ600の上面における、サンプル配置部601の両側(ガラスチップ600の長手方向の両側)には、入射側グレーティング603と出射側グレーティング604が形成されている。これら入射側グレーティング603と出射側グレーティング604は、例えば、二酸化チタン(TiO)膜をストライプ状にパターニングすることにより形成されている。 In addition, on the upper surface of the glass chip 600, on both sides of the sample placement portion 601 (both sides in the longitudinal direction of the glass chip 600), an incident side grating 603 and an emission side grating 604 are formed. The incident side grating 603 and the emission side grating 604 are formed by, for example, patterning a titanium dioxide (TiO 2 ) film in a stripe shape.

図12に示すように、このような構成のガラスチップ600では、光源モジュール530から出射された光Lが所定の入射角度θで入射すると、ガラスチップ600内に入射した1次光L1は、入射側グレーティング603で回折してガラスチップ600の下面側で全反射し、その反射光がガラスチップ600の上面で全反射するというように、反射を繰り返して光導波路を形成する。そして、サンプル配置部601を通過した光は、出射側グレーティング604で回折してガラスチップ600の下面側から出射して光入射通路509(図9参照。)に入射するようになっている。   As shown in FIG. 12, in the glass chip 600 having such a configuration, when the light L emitted from the light source module 530 is incident at a predetermined incident angle θ, the primary light L1 incident in the glass chip 600 is incident. The optical waveguide is formed by repeating reflection such that the light is diffracted by the side grating 603 and totally reflected on the lower surface side of the glass chip 600, and the reflected light is totally reflected on the upper surface of the glass chip 600. The light that has passed through the sample placement portion 601 is diffracted by the emission side grating 604 and emitted from the lower surface side of the glass chip 600 to enter the light incident path 509 (see FIG. 9).

最初にガラスチップ600の下面で反射された0次光L0は、光学ブロック500の非検出光除去通路510(図9参照。)内に入射して排除される。   First, the 0th-order light L0 reflected from the lower surface of the glass chip 600 enters the non-detection light removal path 510 (see FIG. 9) of the optical block 500 and is eliminated.

〔チップキャリア〕
図2に示すように、チップキャリア700は、複数の(本実施の形態では、8枚)のガラスチップ600が載置される矩形状のフレームである。なお、図2は、チップキャリア700に1枚のガラスチップ600を載置した状態を示しているが、通常は8枚のガラスチップ600を載置して用いる。
[Chip carrier]
As shown in FIG. 2, the chip carrier 700 is a rectangular frame on which a plurality (eight in this embodiment) of glass chips 600 are placed. 2 shows a state in which one glass chip 600 is placed on the chip carrier 700, but usually eight glass chips 600 are placed and used.

チップキャリア700は、互いに平行な一対の横フレーム701と、これら横フレーム701同士の端部同士を連結する互いに平行な一対の縦フレーム702とからなる。横フレーム701同士の互いに対向する内側縁部には、間にガラスチップ600を配置して、ガラスチップ600の位置決めを行う位置決めリブ703が等間隔に形成されている。互いに隣接する位置決めリブ703同士の間は、切り欠き704が形成され、この切り欠き704の両側のチップ載置部705上にガラスチップ600の四隅を載せるようになっている。チップキャリア700の上に載置されたガラスチップ600は、位置決めリブ703およびチップ載置部705にてチップキャリア700に対して位置決めされるようになっている。   The chip carrier 700 includes a pair of horizontal frames 701 that are parallel to each other and a pair of vertical frames 702 that are parallel to each other and connect the ends of the horizontal frames 701 to each other. Positioning ribs 703 for positioning the glass chips 600 are formed at equal intervals on the inner edges of the horizontal frames 701 facing each other, with the glass chips 600 disposed therebetween. A notch 704 is formed between the positioning ribs 703 adjacent to each other, and the four corners of the glass chip 600 are placed on the chip mounting portions 705 on both sides of the notch 704. The glass chip 600 placed on the chip carrier 700 is positioned with respect to the chip carrier 700 by the positioning rib 703 and the chip placement portion 705.

また、チップキャリア700の一対の横フレーム701には、載置されたそれぞれのガラスチップ600の幅方向の中央に位置する溝708が形成されている。この溝708は、後述する第1位置決め部420および第2位置決め部440の動作に横フレーム701が干渉しないように形成されている。   A pair of horizontal frames 701 of the chip carrier 700 is formed with a groove 708 positioned at the center in the width direction of each glass chip 600 placed. The groove 708 is formed so that the horizontal frame 701 does not interfere with operations of a first positioning portion 420 and a second positioning portion 440 described later.

そして、それぞれの縦フレーム702の中間部には、光学ブロック500の基板載置面506に突設されたキャリア位置決めピン514が嵌合する位置決め穴706が形成されている。なお、図3は、チップキャリア700を光学ブロック500上に載置して、キャリア位置決めピン514が位置決め孔706に嵌合している状態をしめしている。また、チップキャリア700のそれぞれの縦フレーム702には、搬送操作を行うための操作用ロッド707が突設されている。   A positioning hole 706 is formed in the middle portion of each vertical frame 702 to fit the carrier positioning pin 514 protruding from the substrate mounting surface 506 of the optical block 500. FIG. 3 shows a state in which the chip carrier 700 is placed on the optical block 500 and the carrier positioning pins 514 are fitted in the positioning holes 706. Each vertical frame 702 of the chip carrier 700 is provided with an operation rod 707 for carrying out a transfer operation.

なお、チップキャリア700を光学ブロック500上に適正に載置したときには、チップキャリア700の内側の枠内空間に、光学ブロック500の基板載置部507に突設された基板載置用突起512が入り込み、基板載置用突起512がガラスチップ600をチップキャリア700から浮き上がるように設定されている。このため、チップキャリア700の厚みは、基板載置部507内の光学ブロック500がなす平面から突起の突端までの間に収まるように設定される。   When the chip carrier 700 is properly placed on the optical block 500, the substrate placement protrusions 512 projecting from the substrate placement portion 507 of the optical block 500 are formed in the inner frame space of the chip carrier 700. The substrate mounting protrusion 512 is set so as to lift the glass chip 600 from the chip carrier 700. For this reason, the thickness of the chip carrier 700 is set so as to fall between the plane formed by the optical block 500 in the substrate platform 507 and the protruding end of the protrusion.

〔第1位置決め部〕
次に、図4〜図6および図11を用いて、第1位置決め部420の構成を説明する。
[First positioning part]
Next, the structure of the 1st positioning part 420 is demonstrated using FIGS. 4-6 and FIG.

図5に示すように、第1位置決め部420は、装置ケース400の開口部404を挟むように配置された一対のガイドレール411に直角をなすように架け渡されると共に、開口部404の矢印x方向の一方側に位置して、ガイドレール411に対して摺動可能もしくは走行可能な第1位置決めブロック421を有している。   As shown in FIG. 5, the first positioning portion 420 is bridged so as to form a right angle with a pair of guide rails 411 disposed so as to sandwich the opening 404 of the apparatus case 400, and the arrow x of the opening 404 It has the 1st positioning block 421 which can be slid with respect to the guide rail 411, or can drive | work, located in the one side of a direction.

第1位置決めブロック421における開口部404側の端面には、複数(本実施の形態では8本)の第1コンタクトピン422が突設されている。また、第1位置決めブロック421の矢印y方向の両端部には、それぞれ一端が連結され、且つ他端が装置ケース400の上壁401の表面に突設されたボルト429に連結、固定されるコイルバネ423が架け渡されている。なお、このコイルバネ423は、第1位置決めブロック421を開口部404から遠ざける方向(図11中、太い矢印x1で示す方向)へ常時付勢するように設定されている。   A plurality of (eight in the present embodiment) first contact pins 422 project from the end surface of the first positioning block 421 on the opening 404 side. In addition, one end is connected to both ends of the first positioning block 421 in the arrow y direction, and the other end is connected to and fixed to a bolt 429 protruding from the surface of the upper wall 401 of the device case 400. 423 is bridged. The coil spring 423 is set so as to constantly urge the first positioning block 421 in the direction away from the opening 404 (the direction indicated by the thick arrow x1 in FIG. 11).

また、図4〜図6および図11に示すように、第1位置決めブロック421の矢印y方向の両端近傍における開口部404と反対側の側面には、平面コ字状のストローク規制部材424がそれぞれ固設されている。   Further, as shown in FIGS. 4 to 6 and FIG. 11, the U-shaped stroke regulating member 424 is provided on the side surface of the first positioning block 421 opposite to the opening 404 in the vicinity of both ends in the arrow y direction. It is fixed.

これらストローク規制部材424は、上壁401に突設されたストッパ部材425で矢印x方向のストロークが規制されるようになっている。なお、ストッパ部材425は、ストローク規制部材424のコ字状形状の内側に位置するように設けられている。   These stroke regulating members 424 are configured such that the stroke in the arrow x direction is regulated by a stopper member 425 protruding from the upper wall 401. The stopper member 425 is provided so as to be located inside the U-shaped shape of the stroke restricting member 424.

また、第1位置決めブロック421における開口部404と反対側に位置する端面には、第1位置決めブロック421の幅方向(矢印y方向)の中央に駆動力伝達ロッド426が固設されている。この駆動力伝達ロッド426には、圧縮コイルバネ427が嵌合するように通されており、この圧縮コイルバネ427を介して第1駆動伝達プレート428に駆動力伝達ロッド426が軸方向に摺動可能に嵌挿されている。なお、図4〜図6および図11に示すように、第1駆動伝達プレート428は、上壁401に形成されたプレート用開口部430を通して装置ケース400内の後述する連動機構800(図10参照。)に連結され、連動機構800の動作に応じて矢印x方向に往復駆動されるようになっている。   Further, a driving force transmission rod 426 is fixedly provided at the center of the first positioning block 421 in the width direction (arrow y direction) on the end surface of the first positioning block 421 located on the opposite side of the opening 404. A compression coil spring 427 is passed through the drive force transmission rod 426 so that the drive force transmission rod 426 can slide in the axial direction on the first drive transmission plate 428 via the compression coil spring 427. It is inserted. As shown in FIGS. 4 to 6 and FIG. 11, the first drive transmission plate 428 is connected to a later-described interlocking mechanism 800 (see FIG. 10) in the apparatus case 400 through a plate opening 430 formed in the upper wall 401. )) And is driven to reciprocate in the direction of the arrow x in accordance with the operation of the interlocking mechanism 800.

第1位置決めブロック421は、一対のガイドレール411に亘る長さを有した金属製のブロックであり、ガイドレール411を案内する図示しないガイド溝が矢印y方向の両端部の下面に形成されている。   The first positioning block 421 is a metal block having a length extending over a pair of guide rails 411, and guide grooves (not shown) for guiding the guide rails 411 are formed on the lower surfaces of both end portions in the arrow y direction. .

図5に示すように、第1コンタクトピン422は、細い先端ピン422Aと、この先端ピン422Aを同軸的に嵌合する基部ピン422Bと、で構成されている。基部ピン422Bは、第1位置決めブロック421に植設されている。また、先端ピン422Aは、基部ピン422Bから突出する方向に図示しないバネで所定の力で常時付勢されている。さらに、先端ピン422Aの先端は、基板載置部507の基板載置用突起512上に載置されたガラスチップ600の対向する端面のほぼ中央に当接可能に位置決め設定されている。   As shown in FIG. 5, the first contact pin 422 includes a thin tip pin 422A and a base pin 422B that fits the tip pin 422A coaxially. The base pin 422B is implanted in the first positioning block 421. The tip pin 422A is always urged with a predetermined force by a spring (not shown) in a direction protruding from the base pin 422B. Further, the distal end of the distal end pin 422A is positioned and set so as to be able to contact substantially the center of the opposing end surface of the glass chip 600 placed on the substrate placement projection 512 of the substrate placement portion 507.

このような構成の第1位置決め部420は、第1駆動伝達プレート428の往復動作に応じてストローク規制部材424とストッパ部材425との位置関係により、所定のストロークで矢印x方向の進退動作を行うようになっている。このとき、第1位置決めブロック421が基板載置部507が露出する開口部404側へ最も移動したときに、第1コンタクトピン422の先端ピン422Aは、ガラスチップ600の端面に当たって、ガラスチップ600の位置決めを行うようになっている。そして、先端ピン422Aがガラスチップ600の端面に当接する最も高い圧力が所定の圧力(例えば、100gf)以下になるように設定されている。   The first positioning unit 420 having such a configuration performs an advance / retreat operation in the direction of the arrow x with a predetermined stroke according to the positional relationship between the stroke restricting member 424 and the stopper member 425 in accordance with the reciprocating operation of the first drive transmission plate 428. It is like that. At this time, when the first positioning block 421 moves most toward the opening 404 side where the substrate mounting portion 507 is exposed, the tip pin 422A of the first contact pin 422 hits the end surface of the glass chip 600 and Positioning is performed. The highest pressure at which the tip pin 422A contacts the end surface of the glass chip 600 is set to be a predetermined pressure (for example, 100 gf) or less.

なお、基板載置部507にガラスチップ600を載置した初期の状態では、先端ピン422Aの先端は、これに対向するガラスチップ600の一方の端面とは接触しないように設定されている。また、ストローク規制部材424における開口部404と反対側の部分には、ストッパ部材425との当接位置を変えてストロークを微調整できる調整ネジ部424Aが設けられている。   In the initial state in which the glass chip 600 is placed on the substrate platform 507, the tip of the tip pin 422A is set so as not to come into contact with one end face of the glass chip 600 facing the tip pin 422A. Further, an adjustment screw portion 424A that can finely adjust the stroke by changing the contact position with the stopper member 425 is provided at a portion of the stroke regulating member 424 opposite to the opening 404.

〔第2位置決め部〕
次に、図5〜図8および図11を用いて、第2位置決め部440および押圧部460の構成を説明する。
[Second positioning part]
Next, the structure of the 2nd positioning part 440 and the press part 460 is demonstrated using FIGS. 5-8 and FIG.

先ず、第2位置決め部440は、上述した一対のガイドレール411に跨るように架け渡されて、ガイドレール411に沿ってガイドレール411と直角をなすた状態で摺動もしくは走行可能な第2位置決めブロック441を備えている。   First, the second positioning portion 440 is spanned across the pair of guide rails 411 described above, and can be slid or run along the guide rails 411 at a right angle with the guide rails 411. A block 441 is provided.

この第2位置決めブロック441は、装置ケース400の上壁401に形成した開口部404の他方側(第1位置決め部420と反対側)に位置している。第2位置決めブロック441の両端の下部には、それぞれガイドレール411を摺動もしくは走行するスライドシュー442が設けられている。   The second positioning block 441 is located on the other side of the opening 404 formed in the upper wall 401 of the apparatus case 400 (the side opposite to the first positioning portion 420). Slide shoes 442 that slide or run on the guide rails 411 are provided at lower portions of both ends of the second positioning block 441, respectively.

また、第2位置決めブロック441における一対のガイドレール411に挟まれた部分(両端部を除く中間部分)の開口部404側には、複数(本実施の形態では8本)の第2コンタクトピン443が突設されている。この第2コンタクトピン443は、基板載置部507に載置されたガラスチップ600の対向する端面の中央に突き当て可能となるように位置設定されている。第2コンタクトピン443は、細い先端ピン443Aと、この先端ピン443Aを同軸的に嵌合する基部ピン443Bと、で構成されている。基部ピン443Bは、第2位置決めブロック441に植設されている。また、先端ピン443Aは、基部ピン443Bから突出する方向に図示しないバネで所定の力で常時付勢されている。   In addition, a plurality (eight in this embodiment) of second contact pins 443 are provided on the opening 404 side of the portion (intermediate portion excluding both ends) sandwiched between the pair of guide rails 411 in the second positioning block 441. Is protruding. The second contact pin 443 is positioned so as to be able to abut on the center of the opposite end surfaces of the glass chip 600 placed on the substrate platform 507. The second contact pin 443 includes a thin tip pin 443A and a base pin 443B that fits the tip pin 443A coaxially. The base pin 443B is implanted in the second positioning block 441. The tip pin 443A is always urged with a predetermined force by a spring (not shown) in a direction protruding from the base pin 443B.

さらに、第2位置決めブロック441の上面における両端部近傍および中間部には、それぞれ軸受け板444が立設されている。これら軸受け板444には、支持軸445が貫通して支持されている。この支持軸445には、押圧部460を構成する複数(本実施の形態で8本)の押圧アーム461の中間部が、回転可能に軸支されている。   Further, bearing plates 444 are provided upright in the vicinity of both ends and in the middle of the upper surface of the second positioning block 441, respectively. A support shaft 445 penetrates and is supported by these bearing plates 444. An intermediate portion of a plurality (eight in this embodiment) of pressing arms 461 constituting the pressing portion 460 is rotatably supported on the support shaft 445.

ところで、上記第2位置決めブロック441における開口部404と反対側には、この第2位置決めブロック441と平行をなすと共に、一対のガイドレール411を跨ぐように架け渡された押圧ブロック462が設けられている。この押圧ブロック462の両端下部には、ガイドレール411を摺動もしくは走行するスライドシュー463が設けられており(図8参照。)、ガイドレール411に沿って移動可能となっている。   By the way, on the opposite side of the opening 404 in the second positioning block 441, there is provided a pressing block 462 that is parallel to the second positioning block 441 and spans across the pair of guide rails 411. Yes. Slide shoes 463 that slide or run on the guide rail 411 are provided at the lower ends of both ends of the pressing block 462 (see FIG. 8), and are movable along the guide rail 411.

図11に示すように、押圧ブロック462および第2位置決めブロック441の上面における両端部近傍には、それぞれ対向する対向板464、446が立設され、これら対向板464、446間にコイルバネ467が介在された状態で、順次、対向板446、コイルバネ467、対向板464にボルト466が挿通されている。ボルト466の先端側部分が突出する対向板464の外側で位置決めナット468がボルト466に螺合されている。この状態で、第2位置決めブロック441と押圧ブロック462との間の間隔が設定されている。   As shown in FIG. 11, opposed plates 464 and 446 are erected in the vicinity of both end portions on the upper surfaces of the pressing block 462 and the second positioning block 441, and a coil spring 467 is interposed between the opposed plates 464 and 446. In this state, bolts 466 are inserted through the counter plate 446, the coil spring 467, and the counter plate 464 sequentially. A positioning nut 468 is screwed to the bolt 466 outside the counter plate 464 from which the tip side portion of the bolt 466 protrudes. In this state, an interval between the second positioning block 441 and the pressing block 462 is set.

押圧ブロック462の上面における両端部分には、ピン469が突設されている。そして、装置ケース400の上壁401には、ピン469に一端が固定されたコイルバネ470の他端が固定されたピン471が突設されている。なお、コイルバネ470は、押圧ブロック462を開口部404側から遠ざける方向へ付勢するように設定されている。   Pins 469 protrude from both end portions of the upper surface of the pressing block 462. A pin 471 having a coil spring 470 having one end fixed to the pin 469 and a second end fixed to the upper wall 401 of the device case 400 is projected. The coil spring 470 is set to urge the pressing block 462 in a direction away from the opening 404 side.

また、図4〜図6および図11に示すように、装置ケース400の上壁401における開口部404の両側(矢印y方向の両側)の位置には、第2位置決めブロック441の開口部404側への移動を規制する位置決めブロック472が突設されている。これに対して、第2位置決めブロック441の両端部には、位置決めブロック472に当接する位置決め当接部447が設けられている。この位置決めブロック472は、第2位置決めブロック441が開口部404側へ最も近づく位置を規定している。このため、第2位置決め部440の第2コンタクトピン443の先端ピン443Aでガラスチップ600の端面を突き当てる荷重が、位置決めブロック441と位置決め当接部447との位置によって規定される。本実施の形態では、先端ピン422Aでガラスチップ600の端面に突き当てる荷重が100gf以下となるように設定されている。   Further, as shown in FIGS. 4 to 6 and FIG. 11, the opening 404 side of the second positioning block 441 is located on both sides (both sides in the arrow y direction) of the opening 404 in the upper wall 401 of the apparatus case 400. A positioning block 472 for restricting the movement to is projected. In contrast, positioning contact portions 447 that contact the positioning block 472 are provided at both ends of the second positioning block 441. The positioning block 472 defines a position where the second positioning block 441 is closest to the opening 404 side. For this reason, the load that abuts the end surface of the glass chip 600 with the tip pin 443A of the second contact pin 443 of the second positioning portion 440 is defined by the positions of the positioning block 441 and the positioning contact portion 447. In the present embodiment, the load applied to the end surface of the glass chip 600 by the tip pin 422A is set to be 100 gf or less.

また、押圧ブロック462の中央下部には、上壁401に形成したプレート用開口部473を貫通して装置ケース400内に突出する第2駆動伝達プレート474(図5、図6、および図10参照。)が設けられている。この第2駆動伝達プレート474は、後述する連動機構800に連結されている。   In addition, a second drive transmission plate 474 (see FIGS. 5, 6, and 10) that protrudes into the apparatus case 400 through the plate opening 473 formed in the upper wall 401 is provided at the center lower portion of the pressing block 462. .) Is provided. The second drive transmission plate 474 is connected to an interlocking mechanism 800 described later.

さらに、図7、図8、および図11に示すように、押圧ブロック462の上面おける開口部404と反対側の縁部には、立ち上がり壁部475が立設され、この立ち上がり壁部475の上縁部から開口部404側へ向けて延在されて押圧ブロック462と対向するカム壁部476が形成されている。このカム壁部476の下面には、上壁401の開口部404から離れるに従って上に傾くテーパ状のカム面476Aが形成されている。このカム面476Aにより、後述する押圧部460の押圧アーム461を動作させるようになっている。   Further, as shown in FIGS. 7, 8, and 11, a rising wall portion 475 is erected on the edge of the upper surface of the pressing block 462 opposite to the opening 404, and the upper portion of the rising wall portion 475 is overlaid. A cam wall portion 476 that extends from the edge portion toward the opening 404 and faces the pressing block 462 is formed. A tapered cam surface 476 </ b> A is formed on the lower surface of the cam wall portion 476 so as to be inclined upward as it is away from the opening 404 of the upper wall 401. By this cam surface 476A, a pressing arm 461 of a pressing portion 460 described later is operated.

〔押圧部〕
次に、図5〜図8および図11を用いて、押圧部460の構成について説明する。
(Pressing part)
Next, the structure of the press part 460 is demonstrated using FIGS. 5-8 and FIG.

押圧部460は、上述したように、第2位置決めブロック441の上面に設けられた3つの軸受け板444に嵌挿された支持軸445に中間部が回転可能に軸支された複数(本実施の形態で8本)の押圧アーム461が、上述したカム壁部476の作用を受けて、基板載置部507に載置されたガラスチップ600の上面を押圧するようになっている。   As described above, the pressing portion 460 includes a plurality of (this embodiment) in which the intermediate portion is rotatably supported by the support shaft 445 fitted and inserted into the three bearing plates 444 provided on the upper surface of the second positioning block 441. Eight pressing arms 461 are configured to press the upper surface of the glass chip 600 placed on the substrate platform 507 under the action of the cam wall 476 described above.

押圧アーム461における開口部404側の端部には、下方に突設されたチップ押さえ部461Aが設けられている。また、押圧アーム461の他方の端部には、カム壁部476の下面に接触して転がる車輪461Bが回転自在に設けられている。また、図7および図8に示すように、押圧アーム461における、支持軸445と、車輪461Bが設けられた端部との間には、第2位置決めブロック441側から車輪461Bを上方へ常時付勢する圧縮バネ448が介在されている。   At the end of the pressing arm 461 on the opening 404 side, a chip pressing portion 461A that protrudes downward is provided. A wheel 461B that rolls in contact with the lower surface of the cam wall 476 is rotatably provided at the other end of the pressing arm 461. Further, as shown in FIGS. 7 and 8, the wheel 461B is always attached upward from the second positioning block 441 side between the support shaft 445 and the end portion where the wheel 461B is provided in the pressing arm 461. An energizing compression spring 448 is interposed.

押圧部460は、回転ハンドル407の操作に応じて、上記した第2位置決め部440と一緒に矢印x方向に進退すると共に、第2位置決め部440の先端ピン443Aでガラスチップ600を押圧した後、若しくは押圧されると同時にガラスチップ600の上面に、カム面476Aを車輪461Bが上ることにより、チップ押さえ部461Aが下降して所定の圧力(100gf以下の加重)でガラスチップ600を保持するように設定されている。なお、チップ押さえ部461Aがガラスチップ600を押圧する圧力を設定するには、図7および図8に示す圧縮バネ448の付勢力の設定を調整すればよい。   The pressing portion 460 advances and retreats in the direction of the arrow x together with the second positioning portion 440 according to the operation of the rotary handle 407, and after pressing the glass chip 600 with the tip pin 443A of the second positioning portion 440, Alternatively, as the wheel 461B moves up the cam surface 476A on the upper surface of the glass chip 600 at the same time as being pressed, the chip pressing portion 461A descends and holds the glass chip 600 with a predetermined pressure (a load of 100 gf or less). Is set. In order to set the pressure at which the chip pressing portion 461A presses the glass chip 600, the setting of the urging force of the compression spring 448 shown in FIGS. 7 and 8 may be adjusted.

特に、チップ押さえ部461Aがガラスチップ600に当接する位置は、第2位置決め部440の先端ピン443Aでガラスチップ600が適正な位置に位置決めされたときに、基板載置部507に突設された4本の基板載置用突起512を結んで形成される四角形領域の内側で、光源モジュール530から出射された光の経路から外れた位置に設定されている。   In particular, the position where the chip pressing portion 461A contacts the glass chip 600 is protruded from the substrate mounting portion 507 when the glass chip 600 is positioned at an appropriate position by the tip pin 443A of the second positioning portion 440. It is set at a position outside the path of the light emitted from the light source module 530 inside the rectangular area formed by connecting the four substrate mounting protrusions 512.

〔連動機構〕
次に、図10を用いて連動機構800について説明する。なお、図10は、装置ケース400の上壁401を下面側から見た状態を示すものであり、光学ブロック500を省略した状態を示している。
[Interlocking mechanism]
Next, the interlocking mechanism 800 will be described with reference to FIG. FIG. 10 shows a state in which the upper wall 401 of the device case 400 is viewed from the lower surface side, and shows a state in which the optical block 500 is omitted.

本実施の形態における連動機構800は、装置ケース400の上壁401の下面側に設けられている。この連動機構800は、回転ハンドル407の回転基部408の下部から同軸的に延設されて、上壁401を貫通して装置ケース400内に突出する回転軸部410に連動するようになっている。   The interlocking mechanism 800 in the present embodiment is provided on the lower surface side of the upper wall 401 of the device case 400. The interlocking mechanism 800 is coaxially extended from the lower part of the rotation base 408 of the rotary handle 407 and is interlocked with a rotary shaft 410 that penetrates the upper wall 401 and protrudes into the device case 400. .

図10に示すように、回転軸部410の下端には、この回転軸部410に直交するように中間部で固定されたアーム部としての回動アーム801が設けられている。回転軸部410の矢印x方向の側方には、固定ピン802が上壁401の下面に固設されている。この固定ピン802には、コイルバネ803の一端が固定されている。回動アーム801の一方の端部には、コイルバネ803の他端を固定する固定ピン804が設けられている。なお、固定ピン802、804同士を最も離した状態において、コイルバネ803が回転軸部410のほぼ延長上に位置すると共に、最も引き伸ばされた状態となるように設定されている。例えば、この状態において、回転ハンドル407をどちらか一方の回転方向に僅かに回すと、コイルバネ803が縮むことにより、回動アーム801がコイルバネ803により強制的に回動されるようになっている。   As shown in FIG. 10, a rotating arm 801 as an arm portion fixed at an intermediate portion is provided at the lower end of the rotating shaft portion 410 so as to be orthogonal to the rotating shaft portion 410. A fixing pin 802 is fixed to the lower surface of the upper wall 401 on the side of the rotation shaft portion 410 in the direction of the arrow x. One end of a coil spring 803 is fixed to the fixing pin 802. A fixing pin 804 that fixes the other end of the coil spring 803 is provided at one end of the rotating arm 801. It should be noted that the coil spring 803 is positioned substantially on the extension of the rotating shaft 410 and is set to be in the most extended state in a state where the fixing pins 802 and 804 are most separated from each other. For example, in this state, when the rotary handle 407 is slightly rotated in either one of the rotation directions, the coil spring 803 contracts so that the rotating arm 801 is forcibly rotated by the coil spring 803.

また、図10に示すように、コイルバネ803が最も引き伸ばされた状態において、回動アーム801の他端801Aの側方には、ストッパ部材805が設けられている。上述した第1位置決め部420、第2位置決め部440、および押圧部460が開口部404から離れた状態で待機する場合に、回動アーム801の他端801Aがストッパ部材805に当接するようになっている。   As shown in FIG. 10, a stopper member 805 is provided on the side of the other end 801 </ b> A of the rotating arm 801 in the state where the coil spring 803 is most stretched. When the first positioning unit 420, the second positioning unit 440, and the pressing unit 460 described above are on standby in a state where they are separated from the opening 404, the other end 801A of the rotating arm 801 comes into contact with the stopper member 805. ing.

回動アーム801における、一端の固定ピン804と回転軸部410との間には、上方に向けてピン806が突設されている。回動アーム801には、ピン806を介して、矢印y方向に移動自在の往復ロッド807が連結されている。なお、この往復ロッド807は、上壁401の下面に、矢印y方向に沿って伸びるように設けられたガイドレール811を摺動するようになっている。   A pin 806 protrudes upward between the fixed pin 804 at one end and the rotating shaft 410 in the rotating arm 801. A reciprocating rod 807 that is movable in the direction of arrow y is connected to the rotating arm 801 via a pin 806. The reciprocating rod 807 slides on a guide rail 811 provided on the lower surface of the upper wall 401 so as to extend along the arrow y direction.

この往復ロッド807の一端部の周面には、上記ピン806が嵌合する長孔808が形成されている。長孔808は、ピン806を矢印x方向に移動可能となるように形成されている。このため、回動アーム801の揺動に伴い、往復ロッド807が矢印y方向に往復移動可能となっている。   A long hole 808 into which the pin 806 is fitted is formed on the peripheral surface of one end of the reciprocating rod 807. The long hole 808 is formed so that the pin 806 can be moved in the arrow x direction. For this reason, the reciprocating rod 807 can reciprocate in the direction of the arrow y as the pivot arm 801 swings.

往復ロッド807の他端部には、矢印x方向の両側に向けて延びるように形成された駆動伝達板809、810が一体に形成されている。これら駆動伝達板809、810は、第1伝達アーム部812と、第2伝達アーム部813とに駆動力を伝達するようになっている。   Drive transmission plates 809 and 810 are formed integrally with the other end of the reciprocating rod 807 so as to extend toward both sides in the direction of the arrow x. These drive transmission plates 809 and 810 transmit the driving force to the first transmission arm portion 812 and the second transmission arm portion 813.

図10に示すように、第1伝達アーム部812は、一方の端部が駆動伝達板810に係当すると共に、中間部でほぼ直角に屈曲したL字形状の揺動アーム814と、揺動アーム814の他方の端部に回動自在に連結され、上壁401に形成されると共に、自由端側に上記した第1駆動伝達プレート428が一体に設けられた伝達アーム815と、を備えている。   As shown in FIG. 10, the first transmission arm portion 812 has one end engaged with the drive transmission plate 810 and an L-shaped swing arm 814 bent substantially at a right angle at the middle portion, A transmission arm 815 that is rotatably connected to the other end of the arm 814, is formed on the upper wall 401, and is integrally provided with the first drive transmission plate 428 on the free end side. Yes.

揺動アーム814の屈曲部は、上壁401の下面に対して、支持軸816で回動自在に軸支されている。また、第1駆動伝達プレート428は、伝達アーム815の自由端に対して上方へ向けて直角をなすように設けられており、上記したプレート用開口部430を介して上壁401より上方へ向けて突出している。第1駆動伝達プレート428の上端部は、上述した駆動力伝達ロッド426を介して第1位置決めブロック421に連結されている。   The bent portion of the swing arm 814 is pivotally supported by the support shaft 816 with respect to the lower surface of the upper wall 401. The first drive transmission plate 428 is provided so as to form a right angle upward with respect to the free end of the transmission arm 815, and is directed upward from the upper wall 401 via the plate opening 430 described above. Protruding. The upper end portion of the first drive transmission plate 428 is connected to the first positioning block 421 via the drive force transmission rod 426 described above.

第2伝達アーム部813は、一方の端部が駆動伝達板809に係当すると共に、中間部でほぼ直角に屈曲したL字形状の揺動アーム816と、この揺動アーム816の他方の端部に回動自在に連結され、自由端側に上記した第2駆動伝達プレート474が一体に設けられた伝達アーム817と、を備えている。   The second transmission arm portion 813 has one end engaged with the drive transmission plate 809 and an L-shaped swing arm 816 bent substantially at a right angle at the intermediate portion, and the other end of the swing arm 816. And a transmission arm 817 integrally connected to the second drive transmission plate 474 on the free end side.

揺動アーム816の屈曲部は、上壁401の下面に対して、支持軸818で回動自在に軸支されている。また、第2駆動伝達プレート474は、伝達アーム817の自由端に対して上方へ向けて直角をなすように設けられており、上記したプレート用開口部473を介して上壁401より上方へ向けて突出している。第2駆動伝達プレート474の上端部は、上述した押圧ブロック462の中央下部に一体に設けられている。   The bent portion of the swing arm 816 is pivotally supported by the support shaft 818 with respect to the lower surface of the upper wall 401. The second drive transmission plate 474 is provided so as to form a right angle upward with respect to the free end of the transmission arm 817, and is directed upward from the upper wall 401 via the plate opening 473 described above. Protruding. The upper end portion of the second drive transmission plate 474 is integrally provided at the lower center portion of the above-described pressing block 462.

〔本実施の形態の濃度測定装置の動作、作用〕
まず、本実施の形態に係る濃度測定装置100を用いて被測定物の濃度を測定する場合の動作、作用を説明する。
[Operation and Action of Concentration Measurement Device of this Embodiment]
First, the operation and action when measuring the concentration of an object to be measured using the concentration measuring apparatus 100 according to the present embodiment will be described.

(チップキャリアの載置)
ガラスチップ600の上面における、サンプル配置部601に、例えばタンパク質溶液などの被測定物を滴下して配置する。また、被測定物によっては、適宜反応処理や色素の付加などを行っておく。
(Chip carrier placement)
An object to be measured such as a protein solution is dropped and placed on the sample placement portion 601 on the upper surface of the glass chip 600. In addition, depending on the object to be measured, a reaction treatment or addition of a dye is appropriately performed.

次に、図2に示すように、ガラスチップ600をチップキャリア700に載置する。なお、図2においては、1枚のガラスチップ600を示すが、複数の(本実施の形態では8枚の)ガラスチップ600をチップキャリア700に載置しておく。   Next, as shown in FIG. 2, the glass chip 600 is placed on the chip carrier 700. In FIG. 2, one glass chip 600 is shown, but a plurality (eight in this embodiment) of glass chips 600 are placed on the chip carrier 700.

その後、作業者は、ガラスチップ600を載置したチップキャリア700を操作用ロッド707を持って、装置ケース400の開口部404に露呈する光学ブロック500の基板載置面506に搬送する。このとき、チップキャリア700に形成した位置決め穴706(図2参照。)に、図3に示すように光学ブロック500側のキャリア位置決めピン514を嵌合させて、チップキャリア700の位置決めを行う。なお、このとき、ガラスチップ600は、それぞれの基板載置部507に突設された4本の基板載置用突起512の上に載置され、チップキャリア700からは浮いた状態にある。ここで、ガラスチップ600は、基板載置部507の両側に突設された位置決め突起513で矢印y方向の移動が規制され、矢印x方向の移動が可能となっている。   Thereafter, the operator carries the chip carrier 700 on which the glass chip 600 is placed with the operation rod 707 to the substrate placement surface 506 of the optical block 500 exposed at the opening 404 of the apparatus case 400. At this time, as shown in FIG. 3, carrier positioning pins 514 on the optical block 500 side are fitted into positioning holes 706 (see FIG. 2) formed in the chip carrier 700 to position the chip carrier 700. At this time, the glass chip 600 is placed on the four substrate placement protrusions 512 projecting from the respective substrate placement portions 507, and is in a floating state from the chip carrier 700. Here, the movement of the glass chip 600 in the arrow y direction is restricted by the positioning protrusions 513 provided on both sides of the substrate mounting portion 507, and the movement in the arrow x direction is possible.

なお、図3においては、1枚のガラスチップ600が載置された状態を示すが、通常は、上述したように複数枚のガラスチップ600を同時に載置する。このとき、図5および図7に示すように、第1位置決め部420の第1コンタクトピン422の先端ピン422Aの先端は、ガラスチップ600の一方の端面には接触しない待機状態にある。また、第2位置決め部440の第2コンタクトピン443の先端ピン443Aの先端および押圧部460のチップ押さえ部461Aも、ガラスチップ600の他方の端面および表面には接触しない待機状態にある。   FIG. 3 shows a state where one glass chip 600 is placed, but usually a plurality of glass chips 600 are placed simultaneously as described above. At this time, as shown in FIGS. 5 and 7, the tip of the tip pin 422 </ b> A of the first contact pin 422 of the first positioning portion 420 is in a standby state where it does not contact one end surface of the glass chip 600. Further, the tip of the tip pin 443A of the second contact pin 443 of the second positioning portion 440 and the tip pressing portion 461A of the pressing portion 460 are in a standby state where they do not contact the other end surface and surface of the glass chip 600.

(回転ハンドルの操作に伴う動作および作用)
次に、図5に示す位置にある回転ハンドル407のハンドル部409を持って、図中矢印aで示す方向に図6に示す位置まで回動させる。回転ハンドル407が図5に示す位置にあるときは、図10に示すように、上壁401の下方に位置する回動アーム801が二点鎖線で示す位置にあり、回動アーム801の他端801Aがコイルバネ803の引っ張り力により、ストッパ部材805に圧接した状態にある。そして、回転ハンドル407を上記のように回すことにより、コイルバネ803を引っ張り力に抗して引き伸ばし、コイルバネ803の中心軸が回転軸部410を通り過ぎたときに、再度コイルバネ803の引っ張り力により回動アーム801が図10における実線で示す位置へ向けて回転付勢される。この回動アーム801の回動に従って、往復ロッド807が図10における二点鎖線で示す位置から実線で示す位置まで移動する。これに伴い往復ロッド807の駆動伝達板809、810に係当している揺動アーム814、816が、図10における二点鎖線で示す位置から実線で示す位置まで回動する。これら揺動アーム814、816の回動により伝達アーム815、817は、互いに近づく動作を行う。
(Operations and actions associated with the operation of the rotating handle)
Next, the handle portion 409 of the rotary handle 407 at the position shown in FIG. 5 is held and rotated to the position shown in FIG. 6 in the direction indicated by the arrow a in the figure. When the rotary handle 407 is in the position shown in FIG. 5, as shown in FIG. 10, the rotating arm 801 located below the upper wall 401 is in the position indicated by the two-dot chain line, and the other end of the rotating arm 801 801A is in pressure contact with the stopper member 805 by the pulling force of the coil spring 803. Then, by rotating the rotary handle 407 as described above, the coil spring 803 is stretched against the pulling force, and when the central axis of the coil spring 803 passes the rotating shaft portion 410, it is rotated again by the pulling force of the coil spring 803. The arm 801 is urged to rotate toward the position indicated by the solid line in FIG. As the turning arm 801 rotates, the reciprocating rod 807 moves from the position indicated by the two-dot chain line in FIG. 10 to the position indicated by the solid line. Accordingly, the swinging arms 814 and 816 engaged with the drive transmission plates 809 and 810 of the reciprocating rod 807 are rotated from the position indicated by the two-dot chain line in FIG. 10 to the position indicated by the solid line. The transmission arms 815 and 817 move toward each other as the swinging arms 814 and 816 rotate.

(第1位置決め部、第2位置決め部、および押圧部の動作および作用)
上述のように、揺動アーム814、816の回動により伝達アーム815、817が互いに近接すると、伝達アーム815の先端に一体に設けられた第1駆動伝達プレート428と、伝達アーム817の先端に一体に設けられた第2駆動伝達プレート474と、が互いに近接する。図5に示すように、第1駆動伝達プレート428の上端部は、圧縮コイルバネ427を介した駆動力伝達ロッド426の一端側に連結されている。この駆動力伝達ロッド426の他端側は、第1位置決めブロック421の中央部に連結されている。第2駆動伝達プレート474の上端部は、押圧ブロック462の中央部に連結されている。このため、上述のように回転ハンドル407を回動操作した場合、第1位置決めブロック421と押圧ブロック462とが近接する動作を行う。
(Operation and action of the first positioning portion, the second positioning portion, and the pressing portion)
As described above, when the transmission arms 815 and 817 come close to each other by the rotation of the swinging arms 814 and 816, the first drive transmission plate 428 provided integrally with the distal end of the transmission arm 815 and the distal end of the transmission arm 817. The second drive transmission plate 474 provided integrally is close to each other. As shown in FIG. 5, the upper end portion of the first drive transmission plate 428 is connected to one end side of the drive force transmission rod 426 via the compression coil spring 427. The other end side of the driving force transmission rod 426 is connected to the central portion of the first positioning block 421. The upper end portion of the second drive transmission plate 474 is connected to the central portion of the pressing block 462. For this reason, when the rotary handle 407 is rotated as described above, the first positioning block 421 and the pressing block 462 are moved closer to each other.

第1位置決めブロック421と押圧ブロック462とが近接する動作を行うと、押圧ブロック462にコイルバネ467介して連結され且つガイドレール411にスライド可能に設けられた第2位置決めブロック441も押圧ブロック462と共に、第1位置決めブロック441側へ移動する。   When the first positioning block 421 and the pressing block 462 are moved closer to each other, the second positioning block 441 connected to the pressing block 462 via the coil spring 467 and slidably provided on the guide rail 411 is also moved together with the pressing block 462. Move to the first positioning block 441 side.

上述のような第1位置決めブロック441の移動に伴って、図7および図8に示すように、第1コンタクトピン422の先端ピン422Aの先端が、ガラスチップ600の一方の端面に接触し、次いで第2位置決め部440における第2コンタクトピン443の先端ピン443Aの先端がガラスチップ600の他方の端面に接触する。   With the movement of the first positioning block 441 as described above, the tip of the tip pin 422A of the first contact pin 422 contacts one end surface of the glass chip 600, as shown in FIGS. The tip of the tip pin 443A of the second contact pin 443 in the second positioning portion 440 contacts the other end surface of the glass chip 600.

このとき、第1位置決めブロック421は、図6に示すように、ストローク規制部材424とストッパ部材425とが当接することにより位置決めされる。ガラスチップ600は、他方の端面が第2コンタクトピン443の先端ピン443Aの先端で、矢印x方向における第1位置決め部420側へ向けて押圧されると、第1コンタクトピン422の先端ピン422Aを基部ピン422B内に所定の距離だけ押し込んだ状態で、矢印x方向の移動が阻止される。なお、第1コンタクトピン422の先端ピン422Aの基部ピン422Bに対して出没するストロークは、先端ピン422Aが最も引っ込んだときに、ガラスチップ600の位置決めが行われるように、ストローク規制部材424とストッパ部材425との関係も加味して設定されている。   At this time, as shown in FIG. 6, the first positioning block 421 is positioned by contacting the stroke regulating member 424 and the stopper member 425. When the other end surface of the glass chip 600 is pressed toward the first positioning portion 420 in the arrow x direction with the tip of the tip pin 443A of the second contact pin 443, the tip pin 422A of the first contact pin 422 is pushed. Movement in the direction of the arrow x is prevented while being pushed into the base pin 422B by a predetermined distance. Note that the stroke of the first contact pin 422 that protrudes and retracts from the base pin 422B of the tip pin 422A is such that the glass chip 600 is positioned when the tip pin 422A is most retracted. The relationship with the member 425 is also set in consideration.

一方、第2位置決め部440では、第2コンタクトピン443の先端ピン443Aの先端が、第2位置決めブロック441の移動に伴って、ガラスチップ600の他方の端面を矢印x方向における第2位置決め部420側へ向けて押圧してガラスチップ600を第1位置決め部420側へ向けて移動させる。第2位置決めブロック441は、コイルバネ467を介して押圧ブロック462側と共に、矢印x方向における第1位置決め部420側へ移動する。その後、第2位置決めブロック441は、位置決めブロック472に当接して矢印x方向における第1位置決め部420側への移動が阻止される。このとき第2コンタクトピン443の先端ピン443Aは、基部ピン443Bに対して途中まで引っ込んだ状態となる。すなわち、ガラスチップ600が位置決めされた状態で、第2コンタクトピン443の先端ピン443Aは、基部ピン443Bに対して出没可能なストロークの中間の位置となるように設定されている。この理由は、第2コンタクトピン443の先端ピン443Aでガラスチップ600を強く押圧して破損させてしまうことを避けるためである。   On the other hand, in the second positioning portion 440, the tip of the tip pin 443A of the second contact pin 443 is moved along the other end face of the glass chip 600 in accordance with the movement of the second positioning block 441. The glass chip 600 is moved toward the first positioning portion 420 by pressing toward the side. The second positioning block 441 moves to the first positioning portion 420 side in the arrow x direction together with the pressing block 462 side via the coil spring 467. Thereafter, the second positioning block 441 contacts the positioning block 472 and is prevented from moving toward the first positioning unit 420 in the arrow x direction. At this time, the tip pin 443A of the second contact pin 443 is retracted partway with respect to the base pin 443B. That is, with the glass chip 600 positioned, the tip pin 443A of the second contact pin 443 is set to an intermediate position of a stroke that can be projected and retracted with respect to the base pin 443B. The reason for this is to prevent the glass chip 600 from being strongly pressed and damaged by the tip pin 443A of the second contact pin 443.

次に、第2位置決めブロック441が位置決めブロック472に当接した状態で、押圧ブロック462がさらに第1位置決め部420側へ押圧されると、コイルバネ467が圧縮されて押圧ブロック462が第2位置決めブロック441に当接する位置まで移動する。このような押圧ブロック462と第2位置決めブロック441との相対位置の変化に伴って、押圧部460が以下に説明する動作を行う。   Next, when the pressing block 462 is further pressed toward the first positioning portion 420 in a state where the second positioning block 441 is in contact with the positioning block 472, the coil spring 467 is compressed and the pressing block 462 becomes the second positioning block. It moves to a position where it abuts against 441. With the change in the relative position between the pressing block 462 and the second positioning block 441, the pressing unit 460 performs the operation described below.

まず、押圧ブロック462が第2位置決めブロック441に近づくにしたがって、押圧アーム461の端部に設けられた車輪461Bが、押圧ブロック462側のカム壁部476に沿って転がり、カム面476Aを車輪461Bが転がり上ることにより、チップ押さえ部461Aが下降して所定の圧力(100gf以下の加重)でガラスチップ600を保持するように設定されている。   First, as the pressing block 462 approaches the second positioning block 441, the wheel 461B provided at the end of the pressing arm 461 rolls along the cam wall portion 476 on the pressing block 462 side, and the cam surface 476A is moved along the wheel 461B. Is set to hold the glass chip 600 at a predetermined pressure (weight of 100 gf or less).

特に、チップ押さえ部461Aがガラスチップ600に当接する位置は、第2位置決め部440の先端ピン443Aでガラスチップ600が適正な位置に位置決めされたときに、基板載置部507に突設された4本の基板載置用突起512を結んで形成される四角形領域の内側で、光源モジュール530から出射された光の経路から外れた位置に設定されている。   In particular, the position where the chip pressing portion 461A contacts the glass chip 600 is protruded from the substrate mounting portion 507 when the glass chip 600 is positioned at an appropriate position by the tip pin 443A of the second positioning portion 440. It is set at a position outside the path of the light emitted from the light source module 530 inside the rectangular area formed by connecting the four substrate mounting protrusions 512.

なお、図10に示したように、回動アーム801の端部に一端が固定され、他端が装置ケース400の上壁401の下面に固定ピン802で固定されたコイルバネ803は、回動アーム801の揺動により回動アーム801の回転軸部410を通過する。コイルバネ803は、回転軸部410を通過すると圧縮するため、回動アーム801を強制的に回動させる動作(クイックモーション動作)を行う。また、第1位置決めブロック421および押圧ブロック462は、図5および図6に示すように、コイルバネ423、470で互いに離れる方向に付勢されているため、第1位置決め部420、第2位置決め部440、および押圧部460を解除させるには回動アーム801に連結されたコイルバネ803が回転軸部410を通過させる時点まで回転ハンドル407を図5に太い矢印aで示す方向と反対の方向に回転させれば、上述したクイックモーション動作で解除を行うことができる。   As shown in FIG. 10, the coil spring 803 having one end fixed to the end of the rotating arm 801 and the other end fixed to the lower surface of the upper wall 401 of the device case 400 with a fixing pin 802 includes the rotating arm. Due to the swing of 801, the rotating shaft portion 410 of the rotating arm 801 is passed. Since the coil spring 803 is compressed when it passes through the rotating shaft portion 410, the coil spring 803 performs an operation (quick motion operation) forcibly rotating the rotating arm 801. Further, as shown in FIG. 5 and FIG. 6, the first positioning block 421 and the pressing block 462 are biased in the direction away from each other by the coil springs 423 and 470, and thus the first positioning portion 420 and the second positioning portion 440. In order to release the pressing portion 460, the rotating handle 407 is rotated in the direction opposite to the direction indicated by the thick arrow a in FIG. 5 until the coil spring 803 connected to the rotating arm 801 passes the rotating shaft portion 410. Then, the release can be performed by the quick motion operation described above.

(測定開始動作および作用)
次に、図1に示すように、装置ケース400の蓋体300を閉じてピン301で開閉確認スイッチ412を押すことにより、光源モジュール530などの駆動スイッチ405をONにすることが可能となる。駆動スイッチ405をONにすると、光源モジュール530から光が出射され、検出器531でガラスチップ600を経た入射光を検出することができる。このように、検出器531で入射光の光量を検出することにより、サンプル配置部601に配置された被測定物の濃度を特定することができる。
(Measurement start operation and action)
Next, as shown in FIG. 1, the drive switch 405 such as the light source module 530 can be turned on by closing the lid 300 of the device case 400 and pressing the open / close confirmation switch 412 with the pin 301. When the drive switch 405 is turned on, light is emitted from the light source module 530, and incident light that has passed through the glass chip 600 can be detected by the detector 531. As described above, the concentration of the object to be measured placed in the sample placement unit 601 can be specified by detecting the amount of incident light by the detector 531.

(本実施の形態の効果)
本実施の形態に係る濃度測定装置100では、測定精度が高く、作業時間を短縮することができる。
(Effect of this embodiment)
In the concentration measuring apparatus 100 according to the present embodiment, the measurement accuracy is high and the working time can be shortened.

本実施の形態に係る濃度測定装置100では、光源モジュール530および検出器531が、金属ブロックでなる光学ブロック500に固定された構造であるため、光源モジュール530から出射される光の光軸の設定精度を高めると共に、設定後に光軸がずれることを抑制できる。このため、本実施の形態では、光出射通路508内を出射する光がガラスチップ600の下面に入射させる所定の入射角度θを高精度でガラスチップ600に当てることが可能となる。   In the concentration measurement apparatus 100 according to the present embodiment, since the light source module 530 and the detector 531 are fixed to the optical block 500 made of a metal block, the optical axis of the light emitted from the light source module 530 is set. While improving accuracy, it can control that an optical axis shifts after setting. For this reason, in the present embodiment, it is possible to apply a predetermined incident angle θ at which light emitted from the light exit passage 508 is incident on the lower surface of the glass chip 600 to the glass chip 600 with high accuracy.

光学ブロック500に光出射通路508および光入射通路509が形成されていることにより、光が誤った方向に照射されることを防止できる。   By forming the light exit path 508 and the light incident path 509 in the optical block 500, it is possible to prevent light from being irradiated in the wrong direction.

さらに、光学ブロック500に非検出光除去通路510を形成したことにより、ガラスチップ600下面で反射したフレネル反射成分を有効に除去することができる。すなわち、被測定物の濃度検出に用いられないフレネル反射成分を非検出光除去通路510から排除することができる。このため、濃度測定装置100の検出精度を向上させることができる。   Furthermore, by forming the non-detection light removal passage 510 in the optical block 500, the Fresnel reflection component reflected by the lower surface of the glass chip 600 can be effectively removed. That is, Fresnel reflection components that are not used for detecting the concentration of the object to be measured can be excluded from the non-detection light removal path 510. For this reason, the detection accuracy of the concentration measuring apparatus 100 can be improved.

本実施の形態に係る濃度測定装置100では、光学ブロック500における基板載置面506上にチップキャリア700を載置して、ガラスチップ600が一軸方向(矢印x方向)のみ移動可能としたことにより、ガラスチップ600の配置、位置決めが容易となる。さらに、第1位置決め部420、第2位置決め部440、および押圧部460でガラスチップ600を押圧する圧力を各バネ部材の付勢力を選択することにより容易に設定することができため、測定時にガラスチップ600が変形することを回避でき、測定精度をさらに高めることができる。   In the concentration measurement apparatus 100 according to the present embodiment, the chip carrier 700 is placed on the substrate placement surface 506 in the optical block 500 so that the glass chip 600 is movable only in the uniaxial direction (arrow x direction). The arrangement and positioning of the glass chip 600 are facilitated. Furthermore, since the pressure which presses the glass chip 600 with the 1st positioning part 420, the 2nd positioning part 440, and the press part 460 can be easily set by selecting the urging | biasing force of each spring member, it is glass at the time of a measurement. The chip 600 can be prevented from being deformed, and the measurement accuracy can be further increased.

本実施の形態に係る濃度測定装置100では、基板載置部507上で開口する、光出射通路508の出射開口部508B、光入射通路509の入射開口部509B、および非検出光除去通路510の非検出光入射開口部510Aを、一枚の保護ガラス511で覆っているため、ガラスチップ600から液体状の被測定物が零れても、液体が光源モジュール530や検出器531などに及んで、故障や精度低下などの電気的、光学的な悪影響を与えることを防止できる。   In the concentration measuring apparatus 100 according to the present embodiment, the exit opening 508B of the light exit passage 508, the entrance opening 509B of the light entrance passage 509, and the non-detection light removal passage 510 that are opened on the substrate platform 507 are provided. Since the non-detection light incident opening 510A is covered with a single protective glass 511, even if a liquid measurement object spills from the glass chip 600, the liquid reaches the light source module 530, the detector 531 and the like. It is possible to prevent electrical and optical adverse effects such as failure and accuracy degradation.

加えて、基板載置面506には、基板載置部507の外側に液溜め溝515を形成したことにより、液状の被測定物で装置を汚損することを防止できる。また、液溜め溝515の底部に液体との接触により変色を起こす水没シート516が配されているため、被測定物が漏れていること容易に認識することができる。   In addition, since the liquid storage groove 515 is formed on the substrate mounting surface 506 on the outside of the substrate mounting portion 507, it is possible to prevent the apparatus from being soiled with a liquid measurement object. In addition, since a submerged sheet 516 that causes discoloration due to contact with the liquid is disposed at the bottom of the liquid reservoir groove 515, it can be easily recognized that an object to be measured is leaking.

本実施の形態に係る濃度測定装置100では、ガラスチップ600を複数並置できるため、作業効率を高めることができる。そして、ガラスチップ600は、基板載置部507へ載置したときに、チップキャリア700から浮いた状態となるため、チップキャリア700の形状の自由度が高くなるという利点がある。   In the concentration measuring apparatus 100 according to the present embodiment, since a plurality of glass chips 600 can be juxtaposed, work efficiency can be improved. And since the glass chip 600 will be in the state which floated from the chip carrier 700 when mounted in the board | substrate mounting part 507, there exists an advantage that the freedom degree of the shape of the chip carrier 700 becomes high.

〔その他の実施の形態〕
上述した実施の形態の開示の一部をなす論述および図面はこの発明を限定するものであると理解すべきではない。この開示から当業者には様々な代替実施の形態、実施例および運用技術が明らかとなろう。
[Other Embodiments]
It should not be understood that the descriptions and drawings which form part of the disclosure of the above-described embodiments limit the present invention. From this disclosure, various alternative embodiments, examples and operational techniques will be apparent to those skilled in the art.

例えば、上述した実施の形態においては、第1位置決め部420、第2位置決め部440におけるガラスチップ600を押圧する部材をコンタクトピンで構成したが、ガラスチップ600に当接した際に緩衝性を有して当接する板材など各種の部材を適用することが可能である。また、第1位置決めブロック421、第2位置決めブロック441、および押圧ブロック462に駆動力を伝達させる連動機構は、上記実施の形態に限定されず、他のリンク機構などを適用することも可能である。   For example, in the above-described embodiment, the member that presses the glass chip 600 in the first positioning portion 420 and the second positioning portion 440 is configured with a contact pin. It is possible to apply various members such as a plate material that comes into contact. Further, the interlocking mechanism that transmits the driving force to the first positioning block 421, the second positioning block 441, and the pressing block 462 is not limited to the above-described embodiment, and other link mechanisms and the like can be applied. .

上述した実施の形態においては、カム面476Aを車輪461Bが転がることにより、押圧部460の押圧アーム461を揺動させて、チップ押さえ部461Aをガラスチップ600の表面に押し当てるようにしたが、押圧ブロック462と第2位置決めブロック441との相対距離により、押圧アーム461が回動するような機構、例えばラック・アンド・ピニオン機構などを適用しても勿論よい。   In the above-described embodiment, the wheel 461B rolls on the cam surface 476A, so that the pressing arm 461 of the pressing unit 460 is swung to press the chip pressing unit 461A against the surface of the glass chip 600. Of course, a mechanism in which the pressing arm 461 rotates depending on the relative distance between the pressing block 462 and the second positioning block 441, for example, a rack and pinion mechanism may be applied.

上述した実施の形態においては、1枚の保護ガラス511で出射開口部508B、入射開口部509B、および非検出光入射開口部510Aを塞ぐ構成としたが、それぞれの開口部に保護ガラスを設けてもよいし、2枚の保護ガラスでこれらの開口部を塞ぐ構成としてもよい。この場合、開口部を塞ぐことができればその平面形状は問わない。加えて、上述した実施の形態においては、保護ガラス511の表面に反射防止膜を付した構成としてもよい。   In the above-described embodiment, the output opening 508B, the incident opening 509B, and the non-detection light incident opening 510A are closed with one protective glass 511, but protective glass is provided in each opening. Alternatively, these openings may be closed with two protective glasses. In this case, the planar shape is not limited as long as the opening can be closed. In addition, in the above-described embodiment, the surface of the protective glass 511 may be provided with an antireflection film.

上述した実施の形態では、保護ガラス510を用いたが、ガラス以外の透明材料を用いることも可能である。この場合、光源モジュール530から出射される光(レーザ光)に対して十分な光透過性と、波長程度の平面度が得られる面精度が実現できるものであればよい。   In the embodiment described above, the protective glass 510 is used, but a transparent material other than glass can also be used. In this case, what is necessary is just to be able to realize sufficient optical transparency with respect to the light (laser light) emitted from the light source module 530 and surface accuracy capable of obtaining flatness of about the wavelength.

上述した実施の形態では、基板載置面506の両側のみに液溜め溝515を形成したが、基板載置面506を取り囲むように液溜め溝を形成しても勿論よい。   In the above-described embodiment, the liquid reservoir groove 515 is formed only on both sides of the substrate placement surface 506, but the liquid reservoir groove may of course be formed so as to surround the substrate placement surface 506.

上述した実施の形態では、基板載置部507に4本の基板載置用突起512を突設した構成であるが、光の経路に干渉しない位置に少なくとも3本以上の基板載置用突起512を設ける構成であればよい。   In the above-described embodiment, the four substrate mounting protrusions 512 are provided on the substrate mounting portion 507. However, at least three or more substrate mounting protrusions 512 are provided at positions that do not interfere with the light path. Any configuration may be used.

上述した実施の形態では、光学ブロック500を金属の削りだしにより形成したものを用いたが、光源モジュール530、半導体レーザ531などを一体的に装着できる構造であれば、加工方法や材料は適宜変更が可能である。   In the above-described embodiment, the optical block 500 formed by metal shaving is used. However, if the light source module 530, the semiconductor laser 531 and the like can be mounted integrally, the processing method and materials are changed as appropriate. Is possible.

上述した実施の形態では、光源モジュール530の光源として半導体レーザ531を用いたこれに限定されるものではない。   In the above-described embodiment, the light source module 530 is not limited to this using the semiconductor laser 531 as the light source.

本発明の実施の形態に係る濃度測定装置の概略を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the outline of the density | concentration measuring apparatus which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施の形態に係る濃度測定装置の光学ブロックとチップキャリアを示す分解斜視図である。It is a disassembled perspective view which shows the optical block and chip carrier of the density | concentration measuring apparatus which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施の形態に係る濃度測定装置の光学ブロックにチップキャリアを載せた状態を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the state which mounted the chip carrier in the optical block of the density | concentration measuring apparatus which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施の形態に係る濃度測定装置において、蓋体、第1カバー、および第2カバーを取り外した状態を示す斜視図である。In the concentration measuring apparatus which concerns on embodiment of this invention, it is a perspective view which shows the state which removed the cover body, the 1st cover, and the 2nd cover. 本発明の実施の形態に係る濃度測定装置において、ガラスチップの位置決めをしていない状態を示す要部平面図である。In the concentration measuring apparatus which concerns on embodiment of this invention, it is a principal part top view which shows the state which has not positioned the glass chip. 本発明の実施の形態に係る濃度測定装置において、ガラスチップの位置決めをしている状態を示す要部平面図である。In the concentration measuring apparatus which concerns on embodiment of this invention, it is a principal part top view which shows the state which has positioned the glass chip. 図2のA−A断面においてガラスチップの位置決めをしていない状態を示す図である。It is a figure which shows the state which has not positioned the glass chip in the AA cross section of FIG. 図2のA−A断面においてガラスチップの位置決めをしている状態を示す図である。It is a figure which shows the state which has positioned the glass chip in the AA cross section of FIG. 図2のA−A断面図である。It is AA sectional drawing of FIG. 本実施の形態に係る濃度測定装置の連動機構を示す図である。It is a figure which shows the interlocking mechanism of the density | concentration measuring apparatus which concerns on this Embodiment. 本実施の形態に係る濃度測定装置の要部斜視図である。It is a principal part perspective view of the density | concentration measuring apparatus which concerns on this Embodiment. ガラスチップの光導波路を示す断面説明図である。It is sectional explanatory drawing which shows the optical waveguide of a glass chip.

符号の説明Explanation of symbols

100…濃度測定装置、200…装置本体、300…蓋体、400…装置ケース、401…上壁、404…開口部、407…回転ハンドル、410…回転軸部、420…第1位置決め部、421…第1位置決めブロック、428…第1駆動伝達プレート、440…第2位置決め部、441…第2位置決めブロック、445…支持軸、460…押圧部、461A…チップ押さえ部、474…第2駆動伝達プレート、476…カム壁部、500…光学ブロック、506…基板載置面、507…基板載置部、512…基板載置用突起、513…位置決め突起、514…キャリア位置決めピン、530…光源モジュール、531…半導体レーザ、531…検出器、600…ガラスチップ(光動波路基板)、700…チップキャリア(基板キャリア)、800…連動機構、801…回動アーム(アーム部)、807…往復ロッド、812…第1伝達アーム部、813…第2伝達アーム部。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 100 ... Concentration measuring apparatus, 200 ... Apparatus main body, 300 ... Cover body, 400 ... Apparatus case, 401 ... Upper wall, 404 ... Opening part, 407 ... Rotating handle, 410 ... Rotating shaft part, 420 ... 1st positioning part, 421 ... first positioning block, 428 ... first drive transmission plate, 440 ... second positioning section, 441 ... second positioning block, 445 ... support shaft, 460 ... pressing section, 461A ... chip pressing section, 474 ... second driving transmission Plate, 476 ... Cam wall, 500 ... Optical block, 506 ... Substrate placement surface, 507 ... Substrate placement part, 512 ... Substrate for projection, 513 ... Positioning projection, 514 ... Carrier positioning pin, 530 ... Light source module 531 ... Semiconductor laser, 531 ... Detector, 600 ... Glass chip (optical waveguide substrate), 700 ... Chip carrier (substrate carrier), 00 ... interlocking mechanism 801 ... rotating arm (arm portion), 807 ... reciprocating rod 812 ... first transfer arm, 813: second transfer arm.

Claims (10)

光導波路基板上に配置された被測定物に、前記光導波路基板中を通る光を照射し、前記光導波路基板からの戻り光を受光することによって測定を行う濃度測定装置であって、
前記光導波路基板が載置される基板載置部を有する装置本体と、
前記基板載置部に載置された前記光導波路基板を特定方向のみに移動可能にする位置決めガイドと、
前記基板載置部に載置された前記光導波路基板における前記特定方向の一方の端面に当接して前記光導波路基板の位置決めを行う第1位置決め部と、
前記光導波路基板における前記特定方向の他方の端面を押圧する第2位置決め部と、
前記光導波路基板を前記基板載置部側へ押し付ける押圧部と、
前記第1位置決め部、および前記第2位置決め部、および前記押圧部を連動させる連動機構と、
を備えることを特徴とする濃度測定装置。
A concentration measuring device that performs measurement by irradiating light to pass through the optical waveguide substrate to the object to be measured disposed on the optical waveguide substrate and receiving return light from the optical waveguide substrate,
An apparatus main body having a substrate mounting portion on which the optical waveguide substrate is mounted;
A positioning guide that allows the optical waveguide substrate mounted on the substrate mounting portion to move only in a specific direction;
A first positioning unit for positioning the optical waveguide substrate in contact with one end surface in the specific direction of the optical waveguide substrate mounted on the substrate mounting unit;
A second positioning portion that presses the other end surface of the optical waveguide substrate in the specific direction;
A pressing portion that presses the optical waveguide substrate toward the substrate mounting portion;
An interlocking mechanism for interlocking the first positioning part, the second positioning part, and the pressing part;
A concentration measuring device comprising:
前記第1位置決め部は、前記基板載置部の前記特定方向の一方側に配置され、且つ前記特定方向に沿って一定のストロークで往復移動可能に設けられ、
前記第2位置決め部は、前記基板載置部の前記特定方向の他方側に配置され、且つ前記特定方向に沿って往復移動可能に設けられ、
前記押圧部は、前記第2位置決め部とともに前記特定方向に沿って移動を行うように設けられ、前記光導波路基板が前記第1位置決め部と前記第2位置決め部とで位置決めされた状態で前記光導波路基板を押圧して保持することを特徴とする請求項1記載の濃度測定装置。
The first positioning part is disposed on one side of the specific direction of the substrate mounting part, and is provided so as to be reciprocable with a certain stroke along the specific direction.
The second positioning part is disposed on the other side of the specific direction of the substrate mounting part, and is provided so as to be able to reciprocate along the specific direction.
The pressing portion is provided so as to move along the specific direction together with the second positioning portion, and the optical waveguide substrate is positioned by the first positioning portion and the second positioning portion. The concentration measuring apparatus according to claim 1, wherein the waveguide substrate is pressed and held.
前記連動機構は、前記第1位置決め部と前記第2位置決め部とを、近接、離反させるように設定され、
前記第1位置決め部は、前記特定の方向における最も他方側に移動したときに、前記光導波路基板の位置決めを行うことを特徴とする請求項2記載の濃度測定装置。
The interlocking mechanism is set to bring the first positioning portion and the second positioning portion close to and away from each other,
The concentration measuring apparatus according to claim 2, wherein the first positioning unit positions the optical waveguide substrate when moving to the other side in the specific direction.
前記第1位置決め部の前記光導波路基板の一方の端面に当接する先端部は、前記特定方向の他方側へ向けてバネで付勢され、
前記第2位置決め部の前記光導波路基板の他方の端面に当接する先端部は、前記特定の方向の一方側へ向けてバネで付勢されていることを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか一項に記載の濃度測定装置。
The tip portion of the first positioning portion that contacts one end surface of the optical waveguide substrate is biased by a spring toward the other side in the specific direction,
4. The tip portion of the second positioning portion that contacts the other end surface of the optical waveguide substrate is biased by a spring toward one side in the specific direction. The density | concentration measuring apparatus as described in any one of these.
前記装置本体には、前記第1位置決め部と前記第2位置決め部を前記特定の方向に沿って案内するガイド部が設けられると共に、前記第1位置決め部と前記第2位置決め部とが互いに離反する方向にバネで付勢され、
前記回転ハンドルの回転軸が前記装置本体に回転自在に軸支されると共に、前記回転軸に直角をなすアーム部が固設され、前記アーム部の一方の端部と前記回転軸との間に回動可能に連結されて軸方向に沿って往復移動する往復ロッドを有し、
それぞれの中間部が前記装置本体に回動可能に軸支された一対の揺動アームのそれぞれにおける一方の端部が前記往復ロッドとともに移動して、前記一対の揺動アームのそれぞれの他方の端部同士が近接、離反するように設定され、前記一対の揺動アームの前記他方の端部同士が近接するときに、前記第1位置決め部および前記第2位置決め部を付勢する前記バネの付勢力に抗して前記第1位置決め部と第2位置決め部とを近接させることを特徴とする請求項1乃至請求項4のいずれか一項に記載の濃度測定装置。
The apparatus main body is provided with a guide part for guiding the first positioning part and the second positioning part along the specific direction, and the first positioning part and the second positioning part are separated from each other. Spring-loaded in the direction,
A rotary shaft of the rotary handle is rotatably supported by the apparatus main body, and an arm portion perpendicular to the rotary shaft is fixed, and is provided between one end of the arm portion and the rotary shaft. Having a reciprocating rod that is pivotably connected and reciprocates along the axial direction;
One end portion of each of the pair of swing arms pivotally supported by the apparatus main body so that each intermediate portion thereof is pivotally moved together with the reciprocating rod, and the other end of each of the pair of swing arms The spring is attached to bias the first positioning portion and the second positioning portion when the other ends of the pair of swinging arms are close to each other. 5. The concentration measuring apparatus according to claim 1, wherein the first positioning portion and the second positioning portion are brought close to each other against a force. 6.
前記第1位置決め部および前記第2位置決め部の前記光導波路基板の端面に当接する先端部は、前記特定方向に沿って出没可能に設けられ、且つ突出する方向に付勢され、前記第1位置決め部の先端部は、最も後退した位置で前記光導波路基板の位置決めを行うように設定されていることを特徴とする請求項1乃至請求項5のいずれか一項に記載の濃度測定装置。   The front end portions of the first positioning portion and the second positioning portion that are in contact with the end surfaces of the optical waveguide substrate are provided so as to be able to project and retract along the specific direction, and are urged in a protruding direction, so that the first positioning portion is provided. 6. The concentration measuring apparatus according to claim 1, wherein a distal end portion of the portion is set so as to position the optical waveguide substrate at a most retracted position. 前記基板載置部は、前記特定方向と直交する方向に沿って複数が並んで設けられていることを特徴とする請求項1乃至請求項6のいずれか一項に記載の濃度測定装置。   The concentration measuring apparatus according to claim 1, wherein a plurality of the substrate mounting portions are provided side by side along a direction orthogonal to the specific direction. 前記装置本体は、表面に前記基板載置部が設けられ、前記基板載置部に形成した出射開口部に連通する光出射通路、および前記基板載置部に形成した入射開口部に連通する光入射通路が形成された光学ブロックと、前記基板載置部が露出するように前記光学ブロックを内蔵する装置ケースと、を備え、
前記装置ケースの前記基板載置部が露出する面を開閉蓋で開閉可能としたことを特徴とする請求項1乃至請求項7のいずれか一項に記載の濃度測定装置。
The apparatus main body is provided with the substrate mounting portion on a surface thereof, a light emitting path communicating with an emission opening formed in the substrate mounting portion, and light communicating with an incident opening formed in the substrate mounting portion. An optical block in which an incident path is formed, and a device case containing the optical block so that the substrate mounting portion is exposed,
8. The concentration measuring apparatus according to claim 1, wherein a surface of the apparatus case on which the substrate placement unit is exposed can be opened and closed with an opening / closing lid.
前記装置ケースより露出する前記基板載置部の側方位置に前記回転ハンドルを備え、且つ前記装置ケースを貫通して前記回転ハンドルの前記回転軸が前記装置ケースの内側へ向けて貫通し、前記装置ケースの内側に前記連動機構が設けられていることを特徴とする請求項8記載の濃度測定装置。   The rotating handle is provided at a lateral position of the substrate platform exposed from the device case, and the rotating shaft of the rotating handle passes through the device case and penetrates toward the inside of the device case. The concentration measuring apparatus according to claim 8, wherein the interlocking mechanism is provided inside an apparatus case. 光導波路基板上に配置された被測定物に、前記光導波路基板中を通る光を照射し、前記光導波路基板からの戻り光を受光することによって測定を行う濃度測定装置であって、
前記光導波路基板を載置する基板載置部を有する装置本体と、
前記基板載置部に載置された前記光導波路基板を特定方向のみに移動可能にする位置決めガイドと、
前記基板載置部に載置された前記光導波路基板における前記特定方向の一方の端面に当接して前記光導波路基板の位置決めを行う第1位置決め部と、
前記光導波路基板における前記特定方向の他方の端面を押圧する第2位置決め部と、
前記光導波路基板を前記基板載置部側へ押し付ける押圧部と、
前記第1位置決め部、および前記第2位置決め部、および前記押圧部を連動させる連動機構と、
前記連動機構を操作する回転ハンドルと、
前記光導波路基板を収納した状態で、前記基板載置部、および前記第1位置決め部、および前記第2位置決め部を干渉しないように前記装置本体に載置され、前記装置本体上で前記光導波路基板と分離される基板キャリアと、
を備えていることを特徴とする濃度測定装置。
A concentration measuring device that performs measurement by irradiating light to pass through the optical waveguide substrate to the object to be measured disposed on the optical waveguide substrate and receiving return light from the optical waveguide substrate,
An apparatus main body having a substrate mounting portion for mounting the optical waveguide substrate;
A positioning guide that allows the optical waveguide substrate mounted on the substrate mounting portion to move only in a specific direction;
A first positioning unit for positioning the optical waveguide substrate in contact with one end surface in the specific direction of the optical waveguide substrate mounted on the substrate mounting unit;
A second positioning portion that presses the other end surface of the optical waveguide substrate in the specific direction;
A pressing portion that presses the optical waveguide substrate toward the substrate mounting portion;
An interlocking mechanism for interlocking the first positioning part, the second positioning part, and the pressing part;
A rotating handle for operating the interlocking mechanism;
The optical waveguide substrate is placed on the apparatus main body so as not to interfere with the substrate mounting section, the first positioning section, and the second positioning section in a state in which the optical waveguide substrate is housed, and the optical waveguide is mounted on the apparatus main body. A substrate carrier separated from the substrate;
A concentration measuring apparatus comprising:
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