JP2006120392A - Excimer lamp lighting device and excimer lamp lighting method - Google Patents
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Abstract
Description
この発明は、エキシマランプ点灯装置及びエキシマランプ点灯方法に係わり、特に、1MHz乃至1GHzといった高い周波数の高周波電力が供給されて点灯するエキシマランプであって、放電によりエキシマ分子を形成し、該エキシマ分子から放射される光を放出するエキシマランプを有するエキシマランプ点灯装置及びエキシマランプ点灯方法に関する。 The present invention relates to an excimer lamp lighting device and an excimer lamp lighting method, and more particularly to an excimer lamp that is lit by being supplied with a high-frequency power of a high frequency such as 1 MHz to 1 GHz. The present invention relates to an excimer lamp lighting device having an excimer lamp that emits light emitted from the light source and an excimer lamp lighting method.
従来、光化学反応を利用した硬化、ドライ洗浄、殺菌、表面改質、光CVD等の処理に高効率の放射性能を有する真空紫外光放射源の1つとしてエキシマランプが利用されている。エキシマランプの代表的なものとしては、高周波電力を供給する電極間に希ガス等のエキシマ生成ガスと誘電体を介在させ、該電極間における誘電体を介した放電を利用したエキシマランプが知られている。 Conventionally, an excimer lamp has been used as one of vacuum ultraviolet light radiation sources having high efficiency radiation performance for processing such as curing, dry cleaning, sterilization, surface modification, and photo-CVD using a photochemical reaction. A typical excimer lamp is an excimer lamp that uses an excimer-generating gas such as a rare gas and a dielectric between electrodes that supply high-frequency power, and uses discharge through the dielectric between the electrodes. ing.
図6は、エキシマランプ点灯装置を利用した表面洗浄装置の一例を示す図である。同図において、この表面洗浄装置100は、ランプハウス101と処理室102との間に、例えば、石英ガラスからなる光取り出し窓部材107を配置したものである。ランプハウス101内には、例えば、アルミニウムよりなる冷却ブロック117が設けられている。この冷却ブロック117の下面には、それぞれ断面が半円形の複数、同図においては3つ、の溝部117aが設けられている。この複数の溝部117aは、各々長手方向が紙面に垂直方向であって、互いに略平行に並ぶように形成されている。これらの溝部117aの各々において、溝部117aの内径と適合する外径を有する円筒状のエキシマランプ104が配置されている。
FIG. 6 is a diagram illustrating an example of a surface cleaning apparatus using an excimer lamp lighting device. In this figure, the
図7は、エキシマランプ104の構成例を示す説明図であり、管軸に沿った断面を示している。
エキシマランプ104において、例えば、石英ガラスなどの誘電体よりなる円筒形の外側管104aと、例えば、石英ガラスなどの誘電体よりなり、外径が外側管104aの内径より小さい円筒形の内側管104bとが同軸状に配置されている。外側管104aと内側管104bの両端部は、気密にシールされていて放電容器を形成する。外側管104aと内側管104bとにより構成される密閉された円筒状の空間である放電空間118には、放電ガスとして、例えば、キセノンが封入されている。外側管104aの外面には、例えば、ニッケル製の網目状の電極103aが配置され、内側管104bの内面には、例えば、アルミニウム製の金属円筒状の電極103bが配置されている。
電極103a、103b間には、高周波高電圧電源105から高周波電力が供給される。なお、図6において、高周波高電圧電源105は1つのエキシマランプ104に接続されているが、実際は、すべてのエキシマランプ104に高周波高電圧電源105がそれぞれ接続されている。
ここで、外側管104a側に設けた電極103aは接地されている。また、内側管104b側に設けた電極103bと高周波高電圧電源105との接続は、電極103bの一端側においてなされている。以後、この接続部分を給電部119と称する。
高周波電圧が電極103a、103bに供給されると、放電空間118で放電プラズマが生成され、放電空間118に封入された放電ガスのエキシマ分子が形成されて、このエキシマ分子から光が放射される。放電ガスがキセノンの場合は、中心波長が172nmの真空紫外光が放射される。
FIG. 7 is an explanatory view showing a configuration example of the
In the
High-frequency power is supplied from the high-frequency high-
Here, the
When a high frequency voltage is supplied to the
図6に戻って、ランプハウス101内に配置されたエキシマランプ104から放出される光は、例えば、網目状の電極103aの網目部分を通過し、光取り出し窓部材107を介して処理室102側に取り出される。
ここで、冷却ブロック117は、各エキシマランプ104を熱交換により冷却するためのものである。なお、エキシマランプ104の点灯条件に応じて、冷却ブロック117に図示を省略した空間を設け、この空間内部を冷却水が循環するように構成してもよい。
また、冷却ブロック117の光取り出し窓部材107と対向した表面は、例えば、鏡面状に加工してもよい。このように加工することにより、エキシマランプ104より放出される光が効率よく光取り出し窓部材107に到達する。
Returning to FIG. 6, the light emitted from the
Here, the
Further, the surface of the
処理室102内には試料台108の上に被処理物109が配置される。被処理物109は、例えば、液晶ディスプレイ用ガラス基板である。液晶ディスプレイ用ガラス基板を洗浄する場合、例えば、処理室内は酸化性流体によって満たされる。この酸化性流体は酸素を含むものであり、例えば、酸素と窒素の混合ガスが酸化性流体として使用される。すなわち、高純度の空気を供給するガス供給手段116aから、処理室102の一部に設けられた酸化性流体導入口106aを介して、処理室102内部に高純度の空気が供給される。
各エキシマランプ104の放電ガスをキセノンとし、エキシマランプ104側から放射される中心波長172nmの真空紫外光が、光取り出し窓部材107を介して、被処理物109表面と処理室102内に導入された酸化性流体(酸素と窒素の混合ガス)に照射される。酸素と窒素の混合ガス中の酸素は真空紫外光と反応して酸素ラジカルを生じる。この酸素ラジカルと被処理物109(液晶ディスプレイ用ガラス基板)上の有機不純物とが反応して、処理室内102内で、炭化水素、二酸化炭素、水が生成され、これらは、酸化性流体排出口106bから、酸化性流体排出口106bに接続された排気手段116bにより排気される。
ここで、120は制御手段であり、高周波高電圧電源105に点灯信号、消灯信号を送出して、高周波高電圧電源105のon、offを制御することにより、各エキシマランプ104の点灯・消灯を制御する。なお、制御手段120は、ガス供給手段116a、排気手段116bをも制御して、処理室102内のガス供給、排気、エキシマランプ104の光照射の照度やタイミングを総合的に制御するように構成してもよい。
An
The discharge gas of each
Here, 120 is a control means, which sends on / off signals to the high-frequency high-
ところで、エキシマランプを点灯する場合、従来では、高周波高電圧電源105から高周波電力として数10KHzの周波数の高周波電力を供給して、エキシマランプの放電空間全域に均一に放電プラズマが形成され安定に維持される定常点灯状態を実現していた。
しかし、周波数が数10KHzの高周波電力でエキシマランプを点灯させる場合は、印加電圧としては約5kVといった非常に高い高電圧が必要であり、装置等の絶縁に対して十分な対策が必要であった。このような対策には、装置自身が大型化したり、高コスト化を招くといった問題があった。
このような問題に対処するために、定常点灯時の印加電圧を下げる目的で、特許文献1に記載されているように、印加する高周波電力の周波数を数MHzにするといった方法がある。この場合、例えば、印加電圧5kVで点灯していたエキシマランプを印加電圧1kV程度で定常点灯することが可能である。
However, when the excimer lamp is turned on with high frequency power of several tens of kilohertz, a very high voltage such as about 5 kV is required as an applied voltage, and sufficient measures are required for insulation of devices and the like. . Such countermeasures have problems that the apparatus itself becomes large and costs increase.
In order to cope with such a problem, there is a method of setting the frequency of the applied high frequency power to several MHz as described in Patent Document 1 for the purpose of reducing the applied voltage during steady lighting. In this case, for example, an excimer lamp that has been lit at an applied voltage of 5 kV can be steadily lit at an applied voltage of about 1 kV.
しかしながら、特に、大型、高出力のエキシマランプに周波数が数MHzである高周波電力を印加して点灯する場合、高周波電力を供給後、放電空間に放電プラズマがエキシマランプ全体、すなわち、放電空間全体に均一に広がるまで、時間がかかるといった新たな問題が発生することが分った。これは、従来のように数10KHzの高周波電力でエキシマランプを点灯させる場合には確認されなかった現象である。 However, especially when a high-frequency power having a frequency of several MHz is applied to a large-sized, high-power excimer lamp, the discharge plasma is applied to the entire excimer lamp, that is, the entire discharge space after the high-frequency power is supplied. It has been found that a new problem occurs that takes time to spread evenly. This is a phenomenon that has not been confirmed when the excimer lamp is turned on with a high frequency power of several tens KHz as in the prior art.
図8は、この現象を詳しく観察した結果を模式的に説明する図である。放電プラズマの成長は、放電開始時にエキシマランプ104の給電部119近傍で絶縁破壊により発生した放電プラズマ200が給電部119側から順(図8(a)(b)(c)(d)の順)に生成され、徐々にエキシマランプ104の管軸方向に広がっていく。
放電プラズマがエキシマランプ104の管軸方向に徐々に広がる現象は、特に、エキシマランプ104の全長が長い程、またエキシマランプ104の放電空間118に封入された封入ガスの圧力が高い程より顕著に現れた。更には、エキシマランプ104の定常点灯時に供給する定常電力が低いほど放電プラズマの成長に更に時間がかかり、供給電力によっては、放電プラズマがエキシマランプ104全体に広がらない現象、例えば、図8(b)に示すように、給電部119から管軸方向に3割程度の長さしか放電プラズマが成長しなくなるといった現象が現れた。
このような状態で照射処理を行うと、被処理物が不均一に処理されてしまうという問題が発生する。また、放電プラズマがエキシマランプ104の管軸方向に充分に成長するまで待ってから処理を施せば、不均一な処理は回避できるが、処理に時間がかかり、特に点灯点滅を繰り返し行うような生産ラインではスループットを非常に低下してしまうといった問題があった。
FIG. 8 is a diagram schematically illustrating the result of detailed observation of this phenomenon. The growth of the discharge plasma is such that the
The phenomenon in which the discharge plasma gradually spreads in the tube axis direction of the
When the irradiation process is performed in such a state, a problem that the object to be processed is processed unevenly occurs. In addition, if processing is performed after the discharge plasma has sufficiently grown in the tube axis direction of the
本発明の目的は、エキシマランプに印加する高周波電力の周波数を従来の数10KHzよりも高い1MHz乃至1GHzに設定し、エキシマランプ点灯時の印加電圧を従来より低くする際、全長の長いエキシマランプの点灯時においても、放電プラズマの放電空間における空間的不均一さがなく、放電プラズマが放電空間全体に均一に分布するまでの時間を短縮することができ、更には、点灯点滅を繰り返すような点灯形態においても、均一なエキシマ光の照射処理を行うことができるエキシマランプ点灯装置及びエキシマランプ点灯方法を提供することにある。 The object of the present invention is to set the frequency of the high frequency power applied to the excimer lamp to 1 MHz to 1 GHz, which is higher than the conventional several tens of KHz, and lower the applied voltage when the excimer lamp is turned on than before. Even during lighting, there is no spatial non-uniformity in the discharge space of the discharge plasma, it is possible to reduce the time until the discharge plasma is uniformly distributed throughout the discharge space, and further lighting that repeats lighting flashing The present invention also provides an excimer lamp lighting device and an excimer lamp lighting method capable of performing uniform excimer light irradiation processing.
本発明は、上記の課題を解決するために、次のような手段を採用した
第1の手段は、放電によってエキシマ分子を生成する放電ガスが放電容器内に充填されたエキシマランプと、該エキシマランプに周波数が1MHz乃至1GHzである高周波電力を供給してエキシマランプを点灯させる点灯回路部と、制御部とからなるエキシマランプ点灯装置において、上記制御部は、エキシマランプの始動期間中にはエキシマランプの定常点灯時に供給される定常電力よりも高い電力を上記エキシマランプに供給させ、エキシマランプが定常点灯状態に移行後は、定常電力をエキシマランプに供給させるように上記点灯回路部を制御することを特徴とするエキシマランプ点灯装置である。
In order to solve the above problems, the present invention employs the following means. The first means includes an excimer lamp in which a discharge gas for generating excimer molecules by discharge is filled in a discharge vessel, and the excimer. In an excimer lamp lighting device comprising a lighting circuit section for turning on an excimer lamp by supplying high-frequency power having a frequency of 1 MHz to 1 GHz to the lamp, and a control section, the control section is configured so that the excimer lamp starts during the excimer lamp start-up period. Control the lighting circuit unit to supply the excimer lamp with power higher than the steady power supplied during steady lighting of the lamp, and after the excimer lamp enters the steady lighting state, supply the steady power to the excimer lamp. This is an excimer lamp lighting device.
第2の手段は、第1の手段において、上記制御部は、エキシマランプが定常点灯に移行したことを検出する点灯検知手段を有し、この点灯検知手段からの信号に基づいてエキシマランプへ供給する電力を定常点灯時よりも高い電力から定常電力へ切り替えるよう指令する指令信号を上記点灯回路部に送出することを特徴とするエキシマランプ点灯装置である。 The second means is the first means, wherein the control unit has lighting detection means for detecting that the excimer lamp has shifted to steady lighting, and supplies the excimer lamp to the excimer lamp based on a signal from the lighting detection means. The excimer lamp lighting device is characterized in that a command signal for instructing to switch the power to be switched from higher power to steady power than during steady lighting is sent to the lighting circuit section.
第3の手段は、第1の手段において、上記制御部は、エキシマランプが始動して一定時間後に信号を送出するタイマー手段を有し、このタイマー手段からの信号に基づいてエキシマランプへ供給する電力を定常点灯時よりも高い電力から定常電力へ切り替えるよう指令する指令信号を上記点灯回路部に送出することを特徴とするエキシマランプ点灯装置である。 According to a third means, in the first means, the control unit has a timer means for sending a signal after a predetermined time from the start of the excimer lamp, and supplies the signal to the excimer lamp based on the signal from the timer means. An excimer lamp lighting device is characterized in that a command signal for instructing to switch power from higher power to steady power than during steady lighting is sent to the lighting circuit section.
第4の手段は、第3の手段において、上記一定時間は、定常電力より高い電力が供給されてエキシマランプが始動し、定常点灯に移行するまでの時間に略一致するように設定されていることを特徴とするエキシマランプ点灯装置である。 The fourth means is set in the third means so that the predetermined time substantially coincides with the time until the excimer lamp starts when the electric power higher than the steady power is supplied and shifts to the steady lighting. This is an excimer lamp lighting device.
第5の手段は、第1の手段乃至第4の手段のいずれか1つの手段において、上記放電ガスの封入圧力は、常温において10kPa以上であることを特徴とするエキシマランプ点灯装置である。 A fifth means is an excimer lamp lighting device according to any one of the first means to the fourth means, wherein the sealed pressure of the discharge gas is 10 kPa or more at room temperature.
第6の手段は、放電によってエキシマ分子を生成する放電ガスが放電容器内に充填されたエキシマランプに周波数が1MHz乃至1GHzである高周波電力を供給して点灯させるエキシマランプ点灯方法において、上記エキシマランプの始動期間中にはエキシマランプの定常点灯時に供給される定常電力よりも高い電力をエキシマランプに供給し、エキシマランプが定常点灯状態に移行後は、定常電力をエキシマランプに供給することを特徴とするエキシマランプ点灯方法である。 A sixth means is an excimer lamp lighting method in which a high frequency power having a frequency of 1 MHz to 1 GHz is supplied to an excimer lamp in which a discharge gas that generates excimer molecules by discharge is filled in a discharge vessel. During the start-up period, power higher than the steady power supplied when the excimer lamp is steadily lit is supplied to the excimer lamp, and after the excimer lamp enters the steady lit state, the steady power is supplied to the excimer lamp. Excimer lamp lighting method.
本発明のエキシマランプ点灯装置によれば、エキシマランプに供給する高周波電力の周波数を1MHz乃至1GHzとし、エキシマランプの定常点灯時に供給される定常電力よりも高い電力をエキシマランプの始動期間中に供給するようにしたので、エキシマランプの始動から放電プラズマが完全にエキシマランプの放電空間全域に広がるまでに要する時間である始動期間を短くすることが可能となった。 According to the excimer lamp lighting device of the present invention, the frequency of the high-frequency power supplied to the excimer lamp is 1 MHz to 1 GHz, and higher power than the steady power supplied when the excimer lamp is steadily turned on is supplied during the excimer lamp start-up period. As a result, it is possible to shorten the start-up period, which is the time required from the start of the excimer lamp until the discharge plasma completely spreads over the entire discharge space of the excimer lamp.
さらに、エキシマランプの放電空間の管軸方向に放電プラズマを速く均一に広げることができるので、点灯点滅を繰り返し行うような生産ラインに本エキシマランプを適用した場合でも、瞬時に広い領域に安定したエキシマ光を照射することができる。 Furthermore, since the discharge plasma can be spread quickly and uniformly in the direction of the tube axis of the discharge space of the excimer lamp, even when this excimer lamp is applied to a production line that repeatedly turns on and off, it is instantaneously stable over a wide area. Excimer light can be irradiated.
また、エキシマランプが定常点灯状態に移行後は、定常電力がエキシマランプに供給されるようにしたので、定常点灯時に過剰な電力が印加される場合も無くなり、エキシマランプの発熱量が大きくなるという不具合が生こることも無くなった。
また、エキシマランプの放電容器が石英ガラスからなる場合においても、不所望な強度のエキシマ光(紫外光、真空紫外光)による石英ガラスの紫外線歪や石英ガラスのエキシマ光透過率の低下といった不具合が生じることも無くなった。
In addition, after the excimer lamp shifts to the steady lighting state, the steady power is supplied to the excimer lamp, so there is no case where excessive power is applied during steady lighting, and the heat generation amount of the excimer lamp increases. There is no longer a problem.
Even when the discharge vessel of the excimer lamp is made of quartz glass, there are problems such as ultraviolet distortion of the quartz glass due to undesired intensity of excimer light (ultraviolet light, vacuum ultraviolet light) and a decrease in the excimer light transmittance of the quartz glass. It no longer occurs.
また、エキシマランプが定常点灯状態に移行したことを検出する点灯検知手段を設けて、この点灯検知手段からの点灯検知信号に基づいてエキシマランプへ供給する電力を定常点灯時よりも高い電力から定常電力へ切り替えるようにしたので、確実にエキシマランプへの供給電力の切り替えを行うことが可能となった。 Further, a lighting detection means for detecting that the excimer lamp has shifted to the steady lighting state is provided, and the power supplied to the excimer lamp based on the lighting detection signal from the lighting detection means is steady from a higher power than that during steady lighting. Since switching to electric power has been made, it has become possible to reliably switch the power supplied to the excimer lamp.
また、電力供給後エキシマランプが始動してから放電プラズマが放電空間全体に均一に生成するまでの一定時間経過後に信号を送出するタイマー手段を設けて、このタイマー手段からの信号に基づいてエキシマランプへ供給する電力を定常点灯時よりも高い電力から定常電力へ切り替えるようにしたので、確実にエキシマランプへの供給電力の切り替えを行うことが可能となった。 The excimer lamp is provided with a timer means for sending a signal after a lapse of a certain time from when the excimer lamp is started after the power supply until the discharge plasma is uniformly generated in the entire discharge space, and based on the signal from the timer means. Since the power supplied to the power source is switched from higher power to steady power than during steady lighting, the power supplied to the excimer lamp can be switched reliably.
また、エキシマランプに供給する高周波電力の周波数を1MHz乃至1GHzとしたので、周波数が数10KHzの高周波電力を供給する場合と比較して、エキシマランプへの印加電圧を低電圧にすることができるという従来の効果も併せ持つこともできる。 In addition, since the frequency of the high frequency power supplied to the excimer lamp is set to 1 MHz to 1 GHz, the applied voltage to the excimer lamp can be made lower than that in the case of supplying high frequency power having a frequency of several tens of KHz. It can also have conventional effects.
はじめに、下記に示す各実施形態の発明に至った経緯について説明する。発明者らは、エキシマランプ点灯装置について、鋭意研究した結果、大型、高出力のエキシマランプに周波数が1MHz以上である高周波電力を供給して点灯する場合において、エキシマランプへ供給する電力が大きいほど、放電空間において放電プラズマが成長して空間的不均一さが無くなり、放電空間全体に均一に分布するまでの時間が短くなることを発見した。
そこで、放電プラズマが確実に放電空間全体に均一に生成されるまでの時間が短時間であり、図8(b)に示すような放電空間での放電プラズマが不均一に生成されたままの状態にならないような電力をエキシマランプに供給すれば、先に述べたような問題を回避することが可能であることを見出した。
First, the background to the invention of each embodiment shown below will be described. As a result of diligent research on the excimer lamp lighting device, the inventors have increased the power supplied to the excimer lamp when the high-frequency excimer lamp is turned on by supplying high-frequency power having a frequency of 1 MHz or higher. It has been found that the discharge plasma grows in the discharge space and the spatial non-uniformity is eliminated, and the time until the discharge plasma is uniformly distributed throughout the discharge space is shortened.
Therefore, the time until the discharge plasma is reliably generated uniformly in the entire discharge space is short, and the discharge plasma in the discharge space as shown in FIG. It has been found that the problem as described above can be avoided by supplying the excimer lamp with such a power that does not occur.
この理由は明らかではないが、以下のように考えられる。すなわち、エキシマランプの外側管104a、内側管104b、電極103a、103b、放電空間118内の放電ガスから形成される放電部は、分布定数回路を形成しているものと思われる。そのため、電極103aにおける電位は、給電部119から管軸方向に遠ざかるにつれて小さくなる。
この傾向は、電極103a、103b間に印加される高周波高電圧の周波数が1MHz以上の高周波になった場合、顕著になる。そのため、放電空間において給電部119に近い部位から順次、管軸方向に沿って放電プラズマが成長していく現象も顕著になる。
よって、エキシマランプへの供給電力を大きくすれば、給電部119から管軸方向に離れた位置においても、放電空間118内で絶縁破壊が発生するに足る十分な電力が給電部119近傍の位置とほぼ同時に供給可能となる。そして放電プラズマが確実に放電空間全体に均一に生成されるまでの時間が短時間にすることができたものと考えられる。
The reason for this is not clear, but is considered as follows. That is, the discharge part formed from the discharge gas in the
This tendency becomes conspicuous when the frequency of the high frequency high voltage applied between the
Therefore, if the power supplied to the excimer lamp is increased, sufficient power to cause dielectric breakdown in the
エキシマランプへ供給される高周波電力の周波数が従来の数10KHz程度であった場合は、電極103aにおける電位が、給電部119から管軸方向に遠ざかるにつれて小さくなる割合が小さい。そのため、エキシマランプを点灯させるための電力を供給した場合、瞬時のうちに放電空間118全体で均一に放電プラズマが生成されていたものと考えられる。
When the frequency of the high-frequency power supplied to the excimer lamp is about several tens of KHz in the related art, the rate at which the potential at the
ところで、一般にエキシマランプに電力を供給して放電空間で絶縁破壊が発生して放電プラズマが形成される場合、放電プラズマが形成された領域での放電インピーダンスは低下する。そのため、一旦、放電プラズマが形成され、放電プラズマを維持するための電力、すなわち、エキシマランプの定常点灯時に供給する定常電力は、放電破壊を発生させるときに供給した電力よりも低電力でよい。 By the way, in general, when electric power is supplied to an excimer lamp and dielectric breakdown occurs in the discharge space to form discharge plasma, the discharge impedance in the region where the discharge plasma is formed decreases. Therefore, once the discharge plasma is formed, the power for maintaining the discharge plasma, that is, the steady power supplied when the excimer lamp is steadily lit, may be lower than the power supplied when the discharge breakdown is generated.
そのため、発明者らが見出した知見に基づき、放電プラズマが確実かつ均一に放電空間全体に生成されるまでの時間が短時間であって、放電空間での放電プラズマが不均一に生成されたままの状態にならないような電力を一定にエキシマランプに供給し続けると、放電プラズマが放電空間全体に均一に生成された後の定常点灯時には、過剰な電力が供給されることも考えられる。
すなわち、定常点灯時において放電プラズマが維持されるのに必要な電力である定常電力より大きい電力がエキシマランプに供給されることになる。この場合、エキシマランプにおける発熱量が大きくなり、冷却構造が大掛かりになる。また、供給される電力が定常電力より大きいので、エキシマ光の強度が定常電力供給時よりも大きくなる。そのため、エキシマランプの放電容器が石英ガラスからなる場合、不所望な強度のエキシマ光(紫外光、真空紫外光)による石英ガラスの紫外線歪や石英ガラスのエキシマ光透過率の低下といった不具合が生じることも考えられる。
Therefore, based on the knowledge found by the inventors, the time until the discharge plasma is reliably and uniformly generated in the entire discharge space is short, and the discharge plasma in the discharge space is generated unevenly. If power that does not result in the above state is continuously supplied to the excimer lamp, excessive power may be supplied during steady lighting after the discharge plasma is uniformly generated in the entire discharge space.
In other words, the excimer lamp is supplied with power that is larger than the steady power that is necessary for maintaining the discharge plasma during steady lighting. In this case, the amount of heat generated in the excimer lamp becomes large and the cooling structure becomes large. Further, since the supplied power is larger than the steady power, the intensity of excimer light becomes larger than that during steady power supply. Therefore, when the discharge vessel of the excimer lamp is made of quartz glass, problems such as ultraviolet distortion of the quartz glass caused by undesired intensity of excimer light (ultraviolet light, vacuum ultraviolet light) and a decrease in the excimer light transmittance of the quartz glass may occur. Is also possible.
よって、電力が供給されエキシマランプが始動してから放電プラズマが放電空間全体に均一に生成するまでの期間であるエキシマランプの始動期間中に、放電プラズマが確実に放電空間全体に均一に生成されるまでの時間が短時間であり、かつ、放電空間での放電プラズマが不均一に生成されたままの状態にならないような電力をエキシマランプに供給し、放電プラズマが放電空間全体に均一に生成されたあとは、エキシマランプに供給する電力を上記した定常電力まで低減させることが望ましい。このようにすることにより、エキシマランプの定常点灯時に、所望のエキシマ光の強度を得ることができる。また、エキシマランプの発熱量も所定の値に抑制できる。 Therefore, the discharge plasma is reliably generated uniformly throughout the discharge space during the excimer lamp start-up period, which is the period from when power is supplied and the excimer lamp starts until the discharge plasma is uniformly generated throughout the discharge space. Power is supplied to the excimer lamp so that the discharge plasma in the discharge space is not generated in a non-uniform manner, and the discharge plasma is uniformly generated in the entire discharge space. After that, it is desirable to reduce the power supplied to the excimer lamp to the above-described steady power. By doing so, it is possible to obtain a desired excimer light intensity when the excimer lamp is steadily lit. Further, the heat generation amount of the excimer lamp can be suppressed to a predetermined value.
次に、本発明の第1の実施形態を図1乃至図3を用いて説明する。
図1は、本実施形態の発明に係るエキシマランプ点灯装置の構成を示す図である。
本実施形態のエキシマランプ点灯装置は、エキシマランプ7と、エキシマランプに電力を供給する点灯回路部20と、点灯回路部20の動作を制御する制御手段である制御部10とから構成される。ここで、一般に、点灯回路部20とエキシマランプ7間のインピーダンス整合のために、点灯回路部20とエキシマランプ7との間にコンデンサ、インダクタンスからなる整合回路6を設けることが好ましい。
なお、エキシマランプ7の具体的構成例を図2に示す。この具体構成例は、先に図7に示すものと同様であるので、ここでは詳細な説明を省略する。
Next, a first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.
FIG. 1 is a diagram showing a configuration of an excimer lamp lighting device according to the invention of this embodiment.
The excimer lamp lighting device of the present embodiment includes an
A specific configuration example of the
制御部10は、点灯スイッチ回路1、論理積演算を行う論理回路4、エキシマランプ7の定常点灯状態、すなわち放電プラズマが図2に示すエキシマランプの放電空間118において均一に生成した状態、を検知するための点灯検知手段8、点灯検知手段8からの光検知信号に基づき点灯検知信号を出力する点灯検知回路9とから構成される。
The control unit 10 detects the lighting switch circuit 1, the logic circuit 4 that performs AND operation, and the steady lighting state of the
点灯検知手段8は、例えば、フォトダイオード等で構成され、光を受光すると光検知信号を出力するものである。図2に示すように、エキシマランプ7の放電空間118で放電が発生すると、エキシマ光以外に可視光、近赤外光も放出される。そのため、検知手段8が受光する光の波長はエキシマ光の波長でも、可視光、近赤外光の波長でもよい。
The lighting detection means 8 is composed of, for example, a photodiode or the like, and outputs a light detection signal when receiving light. As shown in FIG. 2, when a discharge occurs in the
先に、図8で述べたように、エキシマランプ7の放電空間118に生成される放電プラズマは、点灯回路部20からの電力が供給される給電部119の側から成長する。給電部119は、エキシマランプ7の実際の組立ての容易さ、配線の熱対策等の関係上、図2に示すようにエキシマランプ7の一端部側に設けられることが多い。
よって、点灯検出手段8を放電プラズマが成長し到達するエキシマランプ7の他端部に配置すれば、点灯検出手段8がエキシマランプ7からの光を検出した時点で、放電プラズマが放電空間118全体に広がったことを検出することができる。
なお、点灯検出手段8を同図に示すように、エキシマランプ7の両端の光を検出するように2個設置すれば、給電部119を設けた位置に関係なく、放電空間118全域に放電プラズマが完全に広がったことを検知することができる。
As described above with reference to FIG. 8, the discharge plasma generated in the
Therefore, if the lighting detection means 8 is arranged at the other end portion of the
If two lighting detection means 8 are installed so as to detect the light at both ends of the
点灯回路部20は、高周波の正弦波信号を送出するファンクションジェネレータ2と、ファンクションジェネレータ2からの高周波正弦波信号を増幅して、高周波電力を出力するアンプ手段5とからなる。この点灯回路部20は、図7における高周波高電庄電源105に相当するものである。
The
ここで、フアクションジェネレータ2から送出される高周波正弦波信号の周波数の範囲は、1MHz乃至1GHzである。よって、アンプ手段5から出力される高周波電力の周波数範囲は1MHz乃至1GHzとなる。
先に述べたように、エキシマランプ7に供給される高周波電力において、周波数が1MHzより小さくなると、エキシマランプ7に印加される電圧が高電圧となり、装置等の絶縁に対して十分な対策が必要となり好ましくない。
また、上記周波数が1GHzを超えると、電力伝送構造が大掛かりになる。よって、実用上、エキシマランプ7に供給される高周波電力の周波数範囲は1MHz乃至1GHzが望ましい。
Here, the frequency range of the high frequency sine wave signal transmitted from the
As described above, in the high-frequency power supplied to the
If the frequency exceeds 1 GHz, the power transmission structure becomes large. Therefore, in practice, the frequency range of the high frequency power supplied to the
次に、図1、図2及び図3に示すタイミングチャートを用いて、本実施形態の発明に係るエキシマランプ点灯装置の動作を説明する。なお、点灯検知手段8は、図2に示すように、エキシマランプ7の両端部付近に2個(81,82)設けられているものとする。
まず、制御部10の点灯スイッチ回路1より、エキシマランプ7の点灯開始指令である始動信号が点灯回路部20のファンクションジェネレータ2、及び論理回路4に送出される(S101)。ファンクションジェネレータ2は、始動信号を受けて、アンプ手段5に高周波の正弦波信号を送出する(S102)。アンプ手段5は、ファンクションジェネレータ2からの高周波正弦波信号を受けて、高周波電力を出力する(S103)。出力された電力は、整合回路6を介してエキシマランプ7に供給される。
Next, the operation of the excimer lamp lighting device according to the invention of this embodiment will be described with reference to the timing charts shown in FIGS. As shown in FIG. 2, it is assumed that two (81, 82) lighting detection means 8 are provided near both ends of the
First, from the lighting switch circuit 1 of the control unit 10, a start signal which is a lighting start command for the
ここで、アンプ手段5により増幅され出力される電力は、電圧周波数が1MHz乃至1GHzであって、エキシマランプ7において、放電プラズマが確実に放電空間118全体に均一に、かつ、短時間に成長するような値に設定されている。
Here, the electric power amplified and output by the amplifier means 5 has a voltage frequency of 1 MHz to 1 GHz, and in the
エキシマランプ7が発光し、点灯検知手段81,82がエキシマランプ7より放出される光を検知すると、点灯検知手段81、82よりそれぞれ光検知信号が点灯検知回路9に送出される(S104、S105)。点灯検知回路9は、点灯検知手段81、82からの信号をすべて受信したら、点灯検知信号を論理回路4に送出する(S106)。論理回路4は、点灯スイッチ回路1からの始動信号と点灯検知回路9からの点灯検知信号との論理積を取ってゲイン制御信号をアンプ手段5に送出する(S107)。アンプ手段5は、点灯検知回路9から受信したゲイン制御信号に基づき、増幅率を変更して、出力する高周波電力の値を変更する(S103の破線より右の領域)。
When the
ここで、アンプ手段5から増幅率が変更されて出力される電力は、エキシマランプ7の定常点灯時に供給される定常電力である。この定常電力は、例えば、エキシマ光を用いた光処理装置において必要とされるエキシマ光強度が得られるように設定される。
Here, the power output from the amplifier means 5 with the amplification factor changed is the steady power supplied when the
次に、上記のエキシマランプ点灯装置を用いて、始動期間中の印加電力についての比較実験結果について説明する。ここで使用したエキシマランプの構造は、図2に示すものと同様である。
実験は、エキシマランプとして、外側管104aの外径40mm、管軸方向の長さ25cmのランプに放電用ガスとしてキセノンを50kPaを封入したものを用いた。エキシマランプの電極103bの一端に給電部119を接続し、供給電力を変えた場合の放電プラズマの成長に要する時間を測定した。ここでエキシマランプに供給される高周波電力の周波数は、4MHzに設定した。
Next, a description will be given of the results of a comparative experiment on the applied power during the start-up period using the excimer lamp lighting device. The structure of the excimer lamp used here is the same as that shown in FIG.
In the experiment, an excimer lamp having an outer diameter of 40 mm of the
まず、始動期間中のエキシマランプへの供給電力を200Wとし、放電空間118内全体に放電プラズマが広がった後の供給電力を100Wに設定した場合、始動から放電プラズマが完全に放電空間118全域に広がるまでに要した時間(すなわち始動期間)は、0.4秒であった。また供給電力を100Wに切り替えた後も放電は、放電空間118全域に広がった状態が維持された。すなわち、印加電力100Wの定常点灯状態を維持することができた。
First, when the power supplied to the excimer lamp during the start-up period is 200 W and the power supply after the discharge plasma spreads in the
一方、始動時からエキシマランプに供給する電力を100W一定としたときは、放電プラズマが放電空間118全域に成長するまでの時間が3秒を要した。なお、放電プラズマが広がったあとは、定常点灯状態が維持された。
On the other hand, when the power supplied to the excimer lamp was fixed at 100 W from the start, it took 3 seconds for the discharge plasma to grow throughout the
すなわち、エキシマランプの始動期間中に、定常点灯時の電力100Wよりも大きい電力200Wをエキシマランプに印加すると、始動から100Wの電力を一定に印加する場合と比較して、始動から放電空間118内全体に放電プラズマが広がるまでの時間を短くすることができることが確認された。
That is, during the start-up period of the excimer lamp, when power 200W larger than the power 100W at the time of steady lighting is applied to the excimer lamp, compared with the case where power of 100W is applied constantly from the start, the
このように、本実施形態の発明に係るエキシマランプ点灯装置によれば、エキシマランプに供給する高周波電力の周波数を1MHz乃至1GHzとし、エキシマランプの定常点灯時に供給される定常電力よりも高い電力をエキシマランプの始動期間中に供給するようにしたので、エキシマランプの始動から放電プラズマが完全にエキシマランプの放電空間118全域に広がるまでに要する時間である始動期間を短くすることが可能となった。
更に、エキシマランプの放電空間の管軸方向に放電プラズマを早く均一に広げることができるので、点灯点滅を繰り返し行うような生産ラインに本エキシマランプ点灯装置を適用した場合でも、瞬時に安定したエキシマ光を提供できるといった利点がある。
Thus, according to the excimer lamp lighting device according to the invention of the present embodiment, the frequency of the high-frequency power supplied to the excimer lamp is set to 1 MHz to 1 GHz, and the power higher than the steady power supplied during steady lighting of the excimer lamp is obtained. Since the excimer lamp is supplied during the start-up period, it is possible to shorten the start-up period, which is the time required from the start of the excimer lamp until the discharge plasma completely spreads over the
Furthermore, since the discharge plasma can be spread quickly and uniformly in the direction of the tube axis of the discharge space of the excimer lamp, even if this excimer lamp lighting device is applied to a production line that repeatedly turns on and off, an instantaneously stable excimer can be obtained. There is an advantage that light can be provided.
また、エキシマランプが定常点灯状態に移行後は、定常電力がエキシマランプに供給されるようにしたので、定常点灯時に過剰な電力が印加される場合も無くなり、エキシマランプの発熱量が大きくなるという不具合が生じることも無くなった。
また、エキシマランプの放電容器が石英ガラスからなる場合においても、不所望な強度のエキシマ光(紫外光、真空紫外光)による石英ガラスの紫外線歪や石英ガラスのエキシマ光透過率の低下といった不具合が生じることも無くなった。
In addition, after the excimer lamp shifts to the steady lighting state, the steady power is supplied to the excimer lamp, so there is no case where excessive power is applied during steady lighting, and the heat generation amount of the excimer lamp increases. There is no longer a problem.
Even when the discharge vessel of the excimer lamp is made of quartz glass, there are problems such as ultraviolet distortion of the quartz glass due to undesired intensity of excimer light (ultraviolet light, vacuum ultraviolet light) and a decrease in the excimer light transmittance of the quartz glass. It no longer occurs.
特に、エキシマランプが定常点灯状態に移行したことを検出する点灯検知手段8(81,82)、点灯検知回路9からなる点灯検知手段を設けて、この点灯検知手段からの信号に基づいてエキシマランプへ供給する電力を定常点灯時よりも高い電力から定常電力へ切り替えるようにしたので、確実にエキシマランプへの供給電力の切り替えを行うことが可能となった。 In particular, lighting detection means 8 (81, 82) for detecting that the excimer lamp has shifted to the steady lighting state and lighting detection means comprising the lighting detection circuit 9 are provided, and the excimer lamp is based on a signal from the lighting detection means. Since the power supplied to the power source is switched from higher power to steady power than during steady lighting, the power supplied to the excimer lamp can be switched reliably.
なお、エキシマランプの放電空間に封入する放電ガス(例えば、キセノン)の封入圧は、常温において10kPa以上とすることが好ましい。10kPaより小さいと、エキシマランプから取り出すエキシマ光の強度が小さくなり、実用的では無くなる。
先に述べたように、エキシマランプの放電ガスの封入圧力が高くなると、上記始動期間は長くなるが、本発明のエキシマランプを用いることにより、放電ガスの封入圧力が常温において10kPa以上であっても始動期間を短くすることが可能となった。
In addition, it is preferable that the enclosure pressure of discharge gas (for example, xenon) enclosed in the discharge space of an excimer lamp shall be 10 kPa or more at normal temperature. If it is less than 10 kPa, the intensity of excimer light taken out from the excimer lamp becomes small, which is not practical.
As described above, when the discharge gas charging pressure of the excimer lamp is increased, the start-up period becomes longer. By using the excimer lamp of the present invention, the discharge gas sealing pressure is 10 kPa or more at room temperature. It has become possible to shorten the starting period.
また、本実施形態の発明に係るエキシマランプ点灯装置は、エキシマランプに供給する高周波電力の周波数を1MHz乃至1GHzとしたので、周波数が数10KHzの高周波電力を供給する場合と比較して、印加電圧を低電圧にすることができるという従来の効果も併せ持つ。 Moreover, since the frequency of the high frequency power supplied to the excimer lamp is 1 MHz to 1 GHz in the excimer lamp lighting device according to the invention of the present embodiment, the applied voltage is compared with the case where high frequency power having a frequency of several tens of KHz is supplied. The conventional effect that can be reduced to a low voltage.
次に、本発明の第2の実施形態を図4及び図5を用いて説明する。
図4は、本実施形態の発明に係るエキシマランプ点灯装置の構成を示す図である。
本実施形態のエキシマ点灯装置は、図1に示す本発明の第1の実施形態において、制御部10に含まれる論理回路4、点灯検知手段8、点灯検知回路9に替えて、タイマー回路30を設けたものである。その他の構成は図1に示した同符号の構成に対応するので説明を省略する。
Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.
FIG. 4 is a diagram showing the configuration of the excimer lamp lighting device according to the invention of this embodiment.
In the first embodiment of the present invention shown in FIG. 1, the excimer lighting device according to the present embodiment includes a timer circuit 30 instead of the logic circuit 4, the lighting detection means 8, and the lighting detection circuit 9 included in the control unit 10. It is provided. Other configurations correspond to the configurations of the same reference numerals shown in FIG.
タイマー回路30は、点灯スイッチ回路1から送出される始動信号を受信すると同時に計時動作を開始する。そして、予め設定しておいた所定時間を計時後、計時を終了するとともにゲイン制御信号をアンプ手段5に送出するものである。 The timer circuit 30 starts the time counting operation simultaneously with receiving the start signal sent from the lighting switch circuit 1. Then, after counting a predetermined time set in advance, the timing is terminated and a gain control signal is sent to the amplifier means 5.
次に、図4及び図5に示すタイミングチャートを用いて、本実施形態の発明に係るエキシマランプ点灯装置の動作を説明する。
まず、制御部10の点灯スイッチ回路1より、エキシマランプ7の点灯開始指令である始動信号が点灯回路部20のファンクションジェネレータ2、及びタイマー回路30に送出される(S111)。ファンクションジェネレータ2は、始動信号を受けて、アンプ手段5に高周波の正弦波信号を送出する(S112)。アンプ手段5は、ファンクションジェネレータ2からの高周波正絃波信号を受けて、高周波の電力を出力する(S113)。出力された電力は、整合回路6を介してエキシマランプ7に印加される。
Next, the operation of the excimer lamp lighting device according to the present invention will be described with reference to timing charts shown in FIGS.
First, from the lighting switch circuit 1 of the control unit 10, a start signal, which is a lighting start command for the
ここで、アンプ手段5により増幅され出力される電力は、電圧周波数が1MHz乃至1GHzであって、エキシマランプ7において、放電プラズマが確実に放電空間118全体に均一に、かつ、短時間に成長するような値に設定されている。
Here, the electric power amplified and output by the amplifier means 5 has a voltage frequency of 1 MHz to 1 GHz, and in the
一方、タイマー回路30は、点灯スイッチ回路1からの始動信号を受信すると同時に、計時動作を開始する。そして予め定められた所定時間を計時後、ゲイン制御信号をアンプ手段5に送出する(S114)。アンプ手段5は、タイマー回路30から受信したゲイン制御信号に基づき、増幅率を変更して、出力する高周波電力の値を変更する(S113の破線より右の領域)。 On the other hand, the timer circuit 30 starts the time counting operation at the same time as receiving the start signal from the lighting switch circuit 1. Then, after measuring a predetermined time, a gain control signal is sent to the amplifier means 5 (S114). The amplifier means 5 changes the amplification factor based on the gain control signal received from the timer circuit 30 and changes the value of the high-frequency power to be output (region to the right of the broken line in S113).
ここで、タイマー回路30に設定される予め定められた所定時間は、エキシマランプに電力を供給してエキシマランプが始動してから、放電プラズマが放電空間全体に均一に生成するまでの期間であるエキシマランプの始動期間に相当する時間であり、例えば0.5秒などが設定される。 Here, the predetermined time set in the timer circuit 30 is a period from when power is supplied to the excimer lamp to start the excimer lamp until discharge plasma is uniformly generated in the entire discharge space. This is a time corresponding to the excimer lamp start-up period, for example, 0.5 seconds.
また、アンプ手段5から増幅率が変更されて出力される電力は、エキシマランプ7の定常点灯時に供給される定常電力である。この定常電力は、例えば、エキシマ光を用いた光処理装置において必要とされるエキシマ光強度が得られるように設定される。
The power output from the amplifier means 5 with the amplification factor changed is steady power supplied when the
このように、本実施形態の発明に係るエキシマランプ点灯装置においても、第1の実施形態の発明に係るエキシマランプ点灯装置と同様の作用効果を奏することができる。 Thus, also in the excimer lamp lighting device according to the invention of the present embodiment, the same effects as the excimer lamp lighting device according to the invention of the first embodiment can be achieved.
特に、本実施形態においては、エキシマランプに電力を供給してから放電プラズマが放電空間全体に均一に生成するまでの一定時間経過後に信号を送出するタイマー手段(タイマー回路30)を設けて、このタイマー手段からの信号に基づいてエキシマランプへ供給する電力を定常点灯時よりも高い電力から定常電力へ切り替えるようにしたので、確実にエキシマランプへの供給電力の切り替えを行うことが可能となった。 In particular, in this embodiment, there is provided a timer means (timer circuit 30) that sends a signal after a lapse of a certain time from when power is supplied to the excimer lamp until discharge plasma is uniformly generated in the entire discharge space. Based on the signal from the timer means, the power supplied to the excimer lamp is switched from higher power to steady power than during steady lighting, so it is possible to reliably switch the power supplied to the excimer lamp. .
また、本実施形態によれば、第1の実施形態の論理回路4、検知手段8、点灯検知回路9に替えて、タイマー回路30を設けたので、構成が簡便となり、装置を小型化することが可能となる。 Further, according to the present embodiment, since the timer circuit 30 is provided in place of the logic circuit 4, the detection means 8, and the lighting detection circuit 9 of the first embodiment, the configuration becomes simple and the apparatus can be downsized. Is possible.
なお、本実施形態においても、第1の実施形態と同様、エキシマランプの放電空間に封入する放電ガス(例えば、キセノン)の封入圧力は、常温において10kPa以上とすることが好ましい。 In this embodiment as well, as in the first embodiment, the sealing pressure of the discharge gas (for example, xenon) sealed in the discharge space of the excimer lamp is preferably 10 kPa or more at room temperature.
上記実施例では、高周波高電圧電源105と電極103の給電部119は、電極の一端に形成されているが、これに限定されるわけではなく、長尺の電極の中央等に設けることもできる。電極の一端に形成する利点は電極の形成が容易であることであり、電極の中央に設けることの利点は放電プラズマの成長時間を短くできる。
In the above embodiment, the high-frequency high-
本発明においては、エキシマランプの放電用ガスとしてキセノンガスを封入する以外に、他のガスを封入することもできる。エキシマランプから放射される単一波長の光は、放電容器内の封入ガスによって決まり、キセノンガス(Xe)の場合は波長172nmの光、アルゴンガス(Ar)の場合は波長126nmの光、クリプトンガス(Kr)の場合は波長146nmの光、アルゴンガス(Ar)と塩素ガス(Cl)の混合ガスの場合は波長175nmの光、クリプトンガス(Kr)と沃素ガス(I)の混合ガスの場合は波長191nmの光、アルゴンガス(Ar)とフッ素ガス(F)の混合ガスの場合は波長193nmの光、クリプトンガス(Kr)と沃素ガス(I)の混合ガスの場合は波長207nmの光、クリプトンガス(Kr)と塩素ガス(Cl)の混合ガスの場合は波長222nmの光を放射する。 In the present invention, in addition to enclosing xenon gas as the discharge gas for the excimer lamp, other gases can be encapsulated. The light having a single wavelength emitted from the excimer lamp is determined by the sealed gas in the discharge vessel. In the case of xenon gas (Xe), light having a wavelength of 172 nm, in the case of argon gas (Ar), the light having a wavelength of 126 nm, krypton gas. In the case of (Kr), light having a wavelength of 146 nm, in the case of a mixed gas of argon gas (Ar) and chlorine gas (Cl), in the case of a light of wavelength 175 nm, in the case of a mixed gas of krypton gas (Kr) and iodine gas (I) Light having a wavelength of 191 nm, light having a wavelength of 193 nm in the case of a mixed gas of argon gas (Ar) and fluorine gas (F), light having a wavelength of 207 nm in the case of a mixed gas of krypton gas (Kr) and iodine gas (I), krypton In the case of a mixed gas of gas (Kr) and chlorine gas (Cl), light having a wavelength of 222 nm is emitted.
1 点灯スイッチ回路
2 ファンクションジェネレーター
4 論理回路
5 アンプ手段
6 整合回路
7 エキシマランプ
8,81,82 点灯検知手段
9 点灯検知回路
10 制御部
20 点灯回路部
30 タイマー回路
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1
Claims (6)
上記制御部は、エキシマランプの始動期間中にはエキシマランプの定常点灯時に供給される定常電力よりも高い電力を上記エキシマランプに供給させ、エキシマランプが定常点灯状態に移行後は、定常電力をエキシマランプに供給させるように上記点灯回路部を制御する、ことを特徴とするエキシマランプ点灯装置。 An excimer lamp in which a discharge gas for generating excimer molecules by discharge is filled in a discharge vessel, a lighting circuit unit for turning on the excimer lamp by supplying high frequency power having a frequency of 1 MHz to 1 GHz to the excimer lamp, and a control unit In the excimer lamp lighting device consisting of
The control unit causes the excimer lamp to supply power higher than the steady power supplied when the excimer lamp is steadily lit during the start-up period of the excimer lamp. An excimer lamp lighting device that controls the lighting circuit unit so as to be supplied to an excimer lamp.
上記エキシマランプの始動期間中にはエキシマランプの定常点灯時に供給される定常電力よりも高い電力をエキシマランプに供給し、エキシマランプが定常点灯状態に移行後は、定常電力をエキシマランプに供給する、ことを特徴とするエキシマランプ点灯方法。 In an excimer lamp lighting method, a high frequency power having a frequency of 1 MHz to 1 GHz is supplied to an excimer lamp filled with a discharge gas that generates excimer molecules by discharge.
During the excimer lamp start-up period, power higher than the steady power supplied when the excimer lamp is steadily lit is supplied to the excimer lamp, and after the excimer lamp has shifted to the steady lit state, the steady power is supplied to the excimer lamp. Excimer lamp lighting method characterized by that.
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004305440A JP4586488B2 (en) | 2004-10-20 | 2004-10-20 | Excimer lamp lighting device and excimer lamp lighting method |
TW094127208A TW200614316A (en) | 2004-10-20 | 2005-08-10 | Excimer lamp lighting device and excimer lamp lighting method |
KR1020050089593A KR100911601B1 (en) | 2004-10-20 | 2005-09-27 | Eximer lamp lighting apparatus and method |
CN2005101181081A CN1763905B (en) | 2004-10-20 | 2005-10-20 | Inspired quasi molecule lamp igniting device and igniting method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004305440A JP4586488B2 (en) | 2004-10-20 | 2004-10-20 | Excimer lamp lighting device and excimer lamp lighting method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006120392A true JP2006120392A (en) | 2006-05-11 |
JP4586488B2 JP4586488B2 (en) | 2010-11-24 |
Family
ID=36538102
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004305440A Active JP4586488B2 (en) | 2004-10-20 | 2004-10-20 | Excimer lamp lighting device and excimer lamp lighting method |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4586488B2 (en) |
KR (1) | KR100911601B1 (en) |
CN (1) | CN1763905B (en) |
TW (1) | TW200614316A (en) |
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- 2005-09-27 KR KR1020050089593A patent/KR100911601B1/en active IP Right Grant
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CN1763905A (en) | 2006-04-26 |
TW200614316A (en) | 2006-05-01 |
JP4586488B2 (en) | 2010-11-24 |
KR100911601B1 (en) | 2009-08-07 |
CN1763905B (en) | 2010-05-05 |
TWI354314B (en) | 2011-12-11 |
KR20060051653A (en) | 2006-05-19 |
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