JP2006112996A - Near-infrared spectroscopic analyzer - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、重化学工業プロセスの成分濃度や物理的特性をオンライン測定するのに用いて好適な近赤外分光分析装置に掛り、特に測定したスペクトル中の特定サンプルスペクトルを適当に変換させることにより検量線の出力精度を向上させる近赤外分光分析装置に関するものである。 The present invention relates to a near-infrared spectroscopic analyzer suitable for online measurement of component concentrations and physical characteristics of heavy chemical industrial processes, and in particular, calibration by appropriately converting a specific sample spectrum in the measured spectrum. The present invention relates to a near-infrared spectroscopic analyzer that improves the output accuracy of a line.
例えば、エチレン酢酸ビニル共重合体(EVA)は、一般的なプラスチックであるが酢酸ビニル(VA)の含有量によりその物性が大きく変化する。そのためにVA含有量を変えた多くの製品が製造されている。VA含有量を迅速に測定することは製造コストの削減と品質管理の観点から大きな効果がある。 For example, ethylene vinyl acetate copolymer (EVA) is a general plastic, but its physical properties greatly change depending on the content of vinyl acetate (VA). Therefore, many products with different VA contents are manufactured. Measuring the VA content quickly has a great effect from the viewpoint of reducing manufacturing costs and quality control.
プロセス異常などによりアウトライヤ状態が発生したことを検知する先行技術として、例えば下記のようなものがある。 As a prior art for detecting that an outlier state has occurred due to a process abnormality or the like, for example, there are the following.
図12は上記公報に記された近赤外分光分析計の構成ブロック図である。
図において、近赤外(NIR)分光器10は、波長帯域が0.9〜2.5μmの近赤外光の吸光度を試料について測定し、測定スペクトルを出力している。
適用検量線記憶部20は、検量線の作成時のサンプルスペクトル群の統計的特徴を表すパラメータを記憶する。例えば、PLS(partial least squares)回帰分析の統計的特徴を表すパラメータとしては、例えば以下のものがある。
(1) ファクター数
(2) 検量線の作成時の平均吸光スペクトル
(3) 検量線のファクターに対するローディング・ウェイト
(4) 検量線のファクターに対するローディング
(5) 検量線のスコアの標準偏差
(6) アウトライヤの範囲を定めるしきい値
FIG. 12 is a block diagram showing the configuration of the near-infrared spectrometer described in the above publication.
In the figure, a near-infrared (NIR)
The applied calibration
(1) Number of factors (2) Average absorbance spectrum at the time of calibration curve creation (3) Loading weight for calibration curve factor (4) Loading for calibration curve factor (5) Standard deviation of calibration curve score (6) Threshold value for outlier range
ここで、ファクター数とは、PLS回帰分析の予測精度が高くなるように定められる数学的なパラメータの一種で、潜在的な因子の数とも言う。ローディング・ウェイトとは、PLS回帰分析のアルゴリズム上で計算される数学的なパラメータの一種で、負荷量ベクトルとも呼ばれる。ローディングとは、PLS回帰分析のアルゴリズム上で計算される数学的なパラメータの一種である。検量線のスコアとは、ローディングに対して測定スペクトルがどの程度ばらついているかの程度を表すモーメントの一種である。
測定スペクトルは、近赤外分光器によってオンライン時に測定される第i番目の測定スペクトルで、測定スペクトルの総数はNとする。
Here, the number of factors is a kind of mathematical parameter determined so that the prediction accuracy of PLS regression analysis is high, and is also called the number of potential factors. The loading weight is a kind of mathematical parameter calculated on the PLS regression analysis algorithm, and is also called a load vector. Loading is a type of mathematical parameter calculated on the PLS regression analysis algorithm. The score of the calibration curve is a kind of moment representing the degree to which the measurement spectrum varies with respect to the loading.
The measurement spectrum is the i-th measurement spectrum measured on-line by the near-infrared spectrometer, and the total number of measurement spectra is N.
アウトライヤ判定部30は、適用検量線記憶部20に記憶された検量線のサンプルスペクトル群に対して、試料スペクトルが含まれるか否かの判定を行う。アウトライヤの判定基準には、マハラノビス距離、RMSSR(Root Mean Square Spectral Residual)、NND(Nearest Neighbor Distance)等幾つかあるが、例えば適用検量線記憶部20に記憶された検量線のサンプルスペクトル群と、試料スペクトルとのマハラノビスの汎距離(2つまたはそれ以上の相関がある変数で定義される空間内での距離の測度)を演算し、このマハラノビスの汎距離がしきい値以内であれば試料スペクトルが当該検量線のサンプルスペクトル群に含まれ、このマハラノビスの汎距離がしきい値を超過していれば試料スペクトルがアウトライヤと判定する。
The
性状値演算部40は、アウトライヤ判定部30で検量線のサンプルスペクトル群に含まれると認められた試料スペクトルに対して、検量線を適用して性状値の演算を行う。アラーム情報付加部50は、アウトライヤ判定部30で検量線のサンプルスペクトル群に含まれないと認められた試料スペクトルに対して、アウトライヤである旨を表示する信号を付する。
The property
図13はアウトライヤの説明図である。
図において、横軸は真の性状値で、検量線を求めた範囲の下限値をYL、上限値をYHとし、この中間値をYMとする。縦軸は試料スペクトルを検量線に当てはめて得られた予測性状値で、検量線に対応する範囲の下限値をYL*、上限値をYH*とし、この中間値をYM*とする。原点をY0、Y0*であらわす。図中、45度線が検量線である。この検量線の上下それぞれに引かれた破線が、正常サンプルとアウトライヤを区別する境界線で、前述のしきい値の大小により広狭が定まる。
FIG. 13 is an explanatory diagram of an outlier.
In the figure, the horizontal axis is the true property value, the lower limit value of the range in which the calibration curve was obtained is YL, the upper limit value is YH, and this intermediate value is YM. The vertical axis is the predicted property value obtained by applying the sample spectrum to the calibration curve. The lower limit value of the range corresponding to the calibration curve is YL *, the upper limit value is YH *, and the intermediate value is YM *. The origin is represented by Y0 and Y0 *. In the figure, the 45-degree line is a calibration curve. The broken lines drawn on the upper and lower sides of the calibration curve are boundary lines for distinguishing between normal samples and outliers, and the width is determined by the magnitude of the threshold value.
この図面は3領域に区分される。第1は内挿領域であり、検量線を求めた範囲の下限値YLから上限値YHの間であって、上下の破線境界線に囲われた範囲である。第2は外挿領域であり、検量線を求めた範囲の下限値YL以下、若しくは上限値YH以上であって、検量線に沿う上下の破線境界線に囲われた範囲である。第3はアウトライヤ領域であって、上下の破線境界線から逸脱した範囲である。ここでは、試料1〜14がプロットしてあり、アウトライヤ領域には試料7,10,13,14が存在し、外挿領域には試料4,6が存在し、その他の試料は内挿領域に存在している。
This drawing is divided into three regions. The first is an interpolation area, which is between the lower limit value YL and the upper limit value YH of the range in which the calibration curve is obtained, and is surrounded by upper and lower broken line boundary lines. The second is an extrapolation region, which is a lower limit value YL or more than the upper limit value YH of the range in which the calibration curve is obtained, and is a range surrounded by upper and lower dashed boundary lines along the calibration curve. The third is the outlier region, which is a range that deviates from the upper and lower broken line boundaries. Here,
このような従来例の検量線作成法を模式的に示すと図14や図15のように表わすことができる。即ち、図14の従来例はアウトライアと判断されたスペクトルを除外して検量線を作成する方法であり、図15で示す従来例はレンジごとに広範囲な検量線を演算する方法である。 Such a conventional calibration curve creation method can be schematically represented as shown in FIGS. That is, the conventional example of FIG. 14 is a method of creating a calibration curve by excluding the spectrum determined to be an outlier, and the conventional example shown in FIG. 15 is a method of calculating a wide calibration curve for each range.
上記のようなアウトライヤ判別法は、アウトライヤか否かを判別する方法であって未知のサンプルが既知のどのサンプルに当てはまるかは判別できない。また、多変量解析を使用したSIMCA等の判別方法は、機能が多く判別能力に優れているがオンライン用には簡便な判別法が望まれていた。
本発明はスペクトル変換機能を備えたオンライン判別付き近赤外分光分析装置を提供することを目的とする。
The outlier discriminating method as described above is a method for discriminating whether or not an outlier is present, and it cannot be discriminated to which sample an unknown sample applies. In addition, a discrimination method such as SIMCA using multivariate analysis has many functions and excellent discrimination capability, but a simple discrimination method has been desired for online use.
An object of the present invention is to provide a near-infrared spectroscopic analyzer with online discrimination having a spectrum conversion function.
このような課題を達成するために、本発明のうち請求項1記載の発明は、
スペクトル測定手段で測定した試料スペクトルを入力し、検量線に当てはめて性状値を求める近赤外分光分析装置において、
前記スペクトルを測定するスペクトル測定手段と、測定したスペクトルを入力し特異値分解する特異値分解手段と、分解したスペクトルが所定の範囲内にあるか所定の範囲外にあるかを判断するスペクトル判定手段と、所定の範囲内と判断されたスペクトルを入力してスペクトルの変換を行うスペクトル変換手段と、前記所定の範囲外と判断されたスペクトルと前記スペクトル変換を行ったスペクトルを入力して検量線を演算する検量線演算手段を備えたことを特徴とする。
In order to achieve such a problem, the invention according to
In the near-infrared spectroscopic analyzer that inputs the sample spectrum measured by the spectrum measuring means and obtains the property value by applying it to the calibration curve,
Spectrum measuring means for measuring the spectrum, singular value decomposition means for inputting the measured spectrum and performing singular value decomposition, and spectrum determining means for determining whether the decomposed spectrum is within a predetermined range or outside the predetermined range A spectrum conversion means for inputting a spectrum determined to be within a predetermined range and converting the spectrum; a spectrum determined to be out of the predetermined range; A calibration curve calculating means for calculating is provided.
請求項2記載の発明は、請求項1記載の近赤外分光分析装置において、
前記スペクトルの変換は所定の範囲内と判断されたスペクトルの全てに対して所定の処理を施すことを特徴とする。
The invention described in
In the spectrum conversion, a predetermined process is performed on all of the spectra determined to be within a predetermined range.
請求項3記載の発明は、請求項1又は2に記載の近赤外分光分析装置において、
スペクトルを変化させる方法は、波長シフト、スケール変換、オフセット、微分を含みスペクトル前処理の1種又は複数を特定のサンプルスペクトルに用いることを特徴とする。
The invention described in
The method of changing the spectrum is characterized by using one or more of the spectral pre-processing for a particular sample spectrum, including wavelength shift, scale conversion, offset, differentiation.
請求項4記載の発明は、請求項1乃至3記載の近赤外分光分析装置において、
サンプルとしてエチレン酢酸ビニル共重合体を用いたことを特徴とする。
The invention according to
An ethylene vinyl acetate copolymer is used as a sample.
本発明によれば次のような効果がある。
請求項1〜4に記載の発明によれば、
近赤外分光部で測定される試料スペクトルを入力し、検量線に当てはめて性状値を求める近赤外分光分析装置において、
前記スペクトルを特異値分解し、演算した特定のファクター数を持つスコアが所定の範囲内にあるか所定の範囲外にあるかを判断するスペクトル判定部と、所定の範囲内と判断されたスペクトルを入力してスペクトルの変換を行うスペクトル変換部と、前記所定の範囲外と判断されたスペクトルと前記スペクトル変換を行ったスペクトルを入力して検量線を作成する検量線作成部を備えたことにより検量線の精度を向上させた近赤外分光分析装置を実現することができる。
The present invention has the following effects.
According to invention of Claims 1-4,
In the near-infrared spectroscopic analyzer that inputs the sample spectrum measured by the near-infrared spectroscopic unit and obtains the property value by applying it to the calibration curve.
A spectrum determining unit that performs singular value decomposition on the spectrum and determines whether the score having the calculated number of specific factors is within a predetermined range or outside the predetermined range; and a spectrum determined to be within the predetermined range Calibration is provided by including a spectrum converter that inputs and converts a spectrum, and a calibration curve generator that generates a calibration curve by inputting the spectrum determined to be out of the predetermined range and the spectrum that has been subjected to the spectrum conversion. A near-infrared spectroscopic analysis apparatus with improved line accuracy can be realized.
図11は本発明で使用したポリエチレン及びポリ酢酸ビニルがランダムに結合したEVAの化学式である。EVAのVA含有量はその機械的強度を管理するための重要な指標である。 FIG. 11 is a chemical formula of EVA in which polyethylene and polyvinyl acetate used in the present invention are randomly bonded. The VA content of EVA is an important index for managing its mechanical strength.
図1は本発明の一実施例を示す構成図である。
スペクトル測定手段130で測定したスペクトルは特異値分解手段131に入力されて特異値分解を行った後スペクトル判定手段132に入力される。このスペクトル判定手段132は入力されたスペクトルをもとにスコアプロットによる判断を行い、スコアプロットが所定の範囲内にある対象サンプルか所定の範囲外にある非対象サンプルかを判断する。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention.
The spectrum measured by the
そして、このスペクトル判定手段132で所定の範囲内であると判断されたスペクトルはスペクトル変換手段133に入力される。このスペクトル変換手段133では、スコアプロットが所定の範囲内と判断されたスペクトルに対して所定の処理(例えば波長をシフトさせる)を施す。
The spectrum determined by the spectrum determination unit 132 to be within a predetermined range is input to the
検量線演算手段134では、前記所定の範囲外にあると判断されたスペクトルとスペクトル変換を行ったスペクトルを入力して検量線を作成する。 The calibration curve calculation means 134 creates a calibration curve by inputting the spectrum determined to be outside the predetermined range and the spectrum subjected to spectrum conversion.
次にサンプルを用いて行った実施例について説明する。
図2は本発明の実験に用いたEVAのサンプル(Sample No.S1〜S9)を示し、VA(w/w%)はポリエチレンに対する酢酸ビニルの重量比を示している。ここではサンプル1として最小w/w%=0からサンプル9として最大w/w%=41.1までの間の9種類のサンプルを使用した。
Next, examples carried out using samples will be described.
FIG. 2 shows EVA samples (Sample Nos. S1 to S9) used in the experiments of the present invention, and VA (w / w%) shows the weight ratio of vinyl acetate to polyethylene. Here, nine types of samples having a minimum w / w% = 0 as
図3は図2に示す9種類のEVAのサンプルをそれぞれ160℃で溶融して測定した近赤外スペクトルを示すものである。横軸は波数(cm−1)、縦軸は吸光度を示している。
図4は図3のスペクトルの部分拡大図を示すもので、EVA中のVA含有量によりスペクトルのピーク高さが変化していることを示している。4679cm-1のピークではEVA中のVA含有量が低いほどピークが小さくなりVA含有量が高いほどピークが大きくなっている。
FIG. 3 shows near-infrared spectra measured by melting nine types of EVA samples shown in FIG. 2 at 160 ° C., respectively. The horizontal axis represents the wave number (cm −1 ), and the vertical axis represents the absorbance.
FIG. 4 shows a partially enlarged view of the spectrum of FIG. 3 and shows that the peak height of the spectrum varies depending on the VA content in EVA. The peak at 4679 cm −1 is smaller as the VA content in EVA is lower, and the peak is larger as the VA content is higher.
図5はこのような変化を図にまとめたものである。なお、VA含有量ゼロのところではピークが出ない場合があるので、図中の(ニ)で示すVA=6.3%を基準にしている。
スペクトルのピークはそれぞれ化学の官能基に帰属するが、●印はCH2、○印はCH3,C=O、CHとC=O結合音等に帰属されるピークを示している。図によれば、ピークの帰属により波長のシフトが変わることが判る。
FIG. 5 summarizes such changes in a diagram. In addition, since there may be no peak at a VA content of zero, VA = 6.3% indicated by (D) in the figure is used as a reference.
Each spectrum peak is attributed to a chemical functional group. The mark ● represents a peak attributed to CH 2 , the mark ◯ represents CH 3 , C═O, CH and C═O bond sound, and the like. According to the figure, it can be seen that the shift in wavelength changes depending on the attribution of the peak.
図6(a)は最も集団から離れたS1サンプルのスペクトルを波長シフトさせてそのスペクトルをS1サンプルスペクトルの代わりに使用した各検量線のSECV(Standard Error of Cross Validation)とSEC(Standard Error of Calibration)の変化を示したものである。 FIG. 6A shows the SECV (Standard Error of Cross Validation) and SEC (Standard Error of Calibration) of each calibration curve in which the spectrum of the S1 sample farthest from the population is wavelength-shifted and the spectrum is used instead of the S1 sample spectrum. ).
図6(a)において、縦軸はSECV/SEC(%)、横軸は波長シフト量である。図の(イ)で示す点はS1のサンプルスペクトルを10cm−1ずらして残りのサンプルスペクトルS1〜S9の同じものを使用したときの検量線作成の誤差を示すものであり、S1サンプルのスペクトルを前後にシフトさせたときの検量線の誤差を示している。 In FIG. 6A, the vertical axis represents SECV / SEC (%), and the horizontal axis represents the wavelength shift amount. The point indicated by (A) in the figure indicates the error in the calibration curve creation when the sample spectrum of S1 is shifted by 10 cm −1 and the same one of the remaining sample spectra S1 to S9 is used. It shows the error of the calibration curve when shifting back and forth.
図6(b)では波数シフトが0の場合のSECVは0.521%,SECが0.423%で、相関関数(Correlation Coefficient)が0.999475となっている。そして、波数を0±12cm−1シフト(+側に2,4,6・・・12、−側に3,5,6・・・12)させた場合、最良のものは波数を−8cm−1シフトさせたときのもので、SECVが0.35%,SECが0.323%となり、相関関数が改良されている。
図7は波長シフト前後のスペクトル5500〜4500cm−1の範囲の一部(※部分)を右下に拡大して示すもので、(リ)で示すスペクトルは(チ)で示すオリジナルのスペクトルを−8cm−1シフトさせた状態を示している。
In FIG. 6B, when the wave number shift is 0, the SECV is 0.521%, the SEC is 0.423%, and the correlation function (Correlation Coefficient) is 0.999475. When the wave number is shifted by 0 ± 12 cm −1 (2, 4, 6... 12 on the + side and 3, 5, 6... 12 on the − side), the best wave number is −8 cm −. In the case of 1 shift, the SECV is 0.35% and the SEC is 0.323%, and the correlation function is improved.
FIG. 7 shows a part (* part) of the
図8は連続測定したEVAの近赤外スペクトルのスコア分析結果を示している。各サンプルS1〜S9毎に集合体(クラスター)を形成しているのが判る。途中に点在する◆印は他サンプルに銘柄変換する途中のスコアである。VA量がゼロ(ポリエチレン)のS1が大きく集団からずれている。 FIG. 8 shows the score analysis result of the near-infrared spectrum of EVA measured continuously. It can be seen that an aggregate (cluster) is formed for each of the samples S1 to S9. The ◆ marks scattered in the middle are the scores in the middle of converting the brand into another sample. S1 having zero VA amount (polyethylene) is greatly deviated from the group.
図9はS1サンプルを(ヘ)から(ト)の位置に−8cm−1波長をシフトさせた前後のスコア分析結果である。
波長シフトにより集合体(クラスター)の位置が変化したことが判る。
FIG. 9 shows the score analysis results before and after shifting the S1 sample from the position (f) to the position (g) by −8 cm −1 wavelength.
It can be seen that the position of the aggregate (cluster) was changed by the wavelength shift.
図10は、図1に示す分析システムを使用した場合のリアルタイム検量線出力結果を示すものである。●印はスペクトル判定/変換機能のない分析システムで検量線演算した結果を示している。また、○印はスペクトル判定/変換機能を持つ本発明のシステムで検量線演算した結果を示し、スコアプロットの基準値を超えたところで測定サンプルスペクトルを変換する。 FIG. 10 shows a real-time calibration curve output result when the analysis system shown in FIG. 1 is used. The ● mark indicates the result of the calibration curve calculation using an analysis system without a spectrum judgment / conversion function. A circle indicates the result of the calibration curve calculation by the system of the present invention having the spectrum determination / conversion function, and the measured sample spectrum is converted when the reference value of the score plot is exceeded.
この例ではサンプルS1はスペクトル判定手段132(図1参照)で判定した図6の結果に従い−8cm-1シフトさせた後、検量線演算を行っている。検量線作成時にサンプルS1のスペクトルは−8cm-1シフトさせたものを使用しているため図6に示すように検量線全体のSEC、SECV値が向上し、S3,S2,S1の予測値も●印に比べ良くなって図2の値により近くなっている。 In this example, the sample S1 is shifted by −8 cm −1 in accordance with the result of FIG. 6 determined by the spectrum determining means 132 (see FIG. 1), and then the calibration curve calculation is performed. Since the spectrum of sample S1 shifted by −8 cm −1 is used when preparing the calibration curve, the SEC and SECV values of the entire calibration curve are improved as shown in FIG. 6, and the predicted values of S3, S2 and S1 are also obtained. It is better than the mark ● and closer to the value in Fig. 2.
即ち、S1のサンプルに着目すると、スペクトル判定/変換機能のない分析システムで検量線演算した結果(●印)ではVA値が0.8%程度誤差が生じているのに対し、スペクトル判定/変換機能を持つシステムで検量線演算した結果(○印)では0%程度となっており図2の値の0%に対して誤差はほとんど生じていない。
また、S2のサンプルに着目すると、スペクトル判定/変換機能のない分析システムで検量線演算した結果(●印)ではVA値が6.1%程度で0.2%の誤差が生じているのに対し、スペクトル判定/変換機能を持つシステムで検量線演算した結果(○印)では6.3%程度となっており図2の値の6.3%に対して誤差はほとんど生じていない。
That is, paying attention to the sample of S1, the result of the calibration curve calculation by the analysis system without the spectrum determination / conversion function (● mark) shows that the VA value has an error of about 0.8%, but the spectrum determination / conversion The result of the calibration curve calculation (○ mark) in the system having a function is about 0%, and there is almost no error with respect to 0% of the value in FIG.
Focusing on the sample of S2, the result of the calibration curve calculation by the analysis system without the spectrum judgment / conversion function (marked with ●) shows that an error of 0.2% occurs when the VA value is about 6.1%. On the other hand, the result of the calibration curve calculation by the system having the spectrum determination / conversion function (◯ mark) is about 6.3%, and there is almost no error with respect to 6.3% of the value of FIG.
また、S3のサンプルに着目すると、スペクトル判定/変換機能のない分析システムで検量線演算した結果(●印)ではVA値が9.6%程度で4%の誤差が生じているのに対し、スペクトル判定/変換機能を持つシステムで検量線演算した結果(○印)では9.8%程度となっており図2の値の10%に対して誤差は0.2%と少なくなっている。 Focusing on the sample of S3, the result of the calibration curve calculation by the analytical system without the spectrum determination / conversion function (marked with ●) is that the VA value is about 9.6%, and an error of 4% occurs. The result of the calibration curve calculation by the system having the spectrum determination / conversion function (marked by ○) is about 9.8%, and the error is as small as 0.2% with respect to 10% of the value of FIG.
以上説明したように、本発明によれば検量線作成用のサンプルセット中検量線に影響を与えているサンプルを見つけ、波長をシフトさせることにより検量線の精度を改善することができる。
なお、以上の説明は、本発明の説明および例示を目的として特定の好適な実施例を示したに過ぎない。本実施例ではスペクトルを変形させる手段として波長シフトを用いたが、例えば、掛け算、足し算、ベースライン補正、スケール変換、オフセット、微分等スペクトル前処理の一種又は複数種を特定サンプルスペクトルに使用することができる。
As described above, according to the present invention, the accuracy of the calibration curve can be improved by finding a sample affecting the calibration curve in the sample set for creating the calibration curve and shifting the wavelength.
The above description merely shows a specific preferred embodiment for the purpose of explanation and illustration of the present invention. In this embodiment, wavelength shift is used as a means for transforming the spectrum. For example, one or more kinds of spectrum preprocessing such as multiplication, addition, baseline correction, scale conversion, offset, and differentiation are used for the specific sample spectrum. Can do.
また、本発明ではサンプルの判別法として、PLSのスコアプロットを用いたが特徴を表わすファクターがあれば、主成分分析のスコアを用いても良い。
また、本発明ではスコアはファクター1及びファクター2を用いたが特徴を表わすファクターがあれば他のファクターでも良い。
In the present invention, a PLS score plot is used as a sample discrimination method. However, if there is a factor representing a feature, a score of principal component analysis may be used.
In the present invention,
また、サンプルの判別時に3つ以上のファクターを使用し例えば、
ファクター>1
ファクター>0.3
ファクター>5
のものを対象にしたり、又は2つ以上満たすものを対象にしても良い。
更に複数のサンプルを違った形に変換することも可能である。
従って本発明は上記実施例に限定されることなく、その本質から逸脱しない範囲で更に多くの変更、変形を含むものである。
In addition, three or more factors are used when distinguishing samples.
Factor> 1
Factor> 0.3
Factor> 5
It is also possible to target a thing that satisfies or two or more.
It is also possible to convert multiple samples into different forms.
Therefore, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and includes many changes and modifications without departing from the essence thereof.
10 近赤外分析器
20 適用検量線記憶部
30 アウトライヤ判定部
40 性状値演算部
50 アラーム情報付加部
130 スペクトル測定手段
131 特異値分解手段
132 スペクトル判定手段
133 スペクトル変換手段
134 検量線演算手段
DESCRIPTION OF
Claims (4)
前記スペクトルを測定するスペクトル測定手段と、測定したスペクトルを入力し特異値分解する特異値分解手段と、分解したスペクトルが所定の範囲内にあるか所定の範囲外にあるかを判断するスペクトル判定手段と、所定の範囲内と判断されたスペクトルを入力してスペクトルの変換を行うスペクトル変換手段と、前記所定の範囲外と判断されたスペクトルと前記スペクトル変換を行ったスペクトルを入力して検量線を演算する検量線演算手段を備えたことを特徴とする近赤外分光分析装置。 In the near-infrared spectroscopic analyzer that inputs the sample spectrum measured by the spectrum measuring means and obtains the property value by applying it to the calibration curve,
Spectrum measuring means for measuring the spectrum, singular value decomposition means for inputting the measured spectrum and performing singular value decomposition, and spectrum determining means for determining whether the decomposed spectrum is within a predetermined range or outside the predetermined range A spectrum conversion means for inputting a spectrum determined to be within a predetermined range and converting the spectrum; a spectrum determined to be out of the predetermined range; A near-infrared spectroscopic analyzer comprising a calibration curve calculation means for calculating.
4. The near-infrared spectroscopic analyzer according to claim 1, wherein an ethylene vinyl acetate copolymer is used as a sample.
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