JP2006093237A - Semiconductor integrated circuit arranging device, method of manufacturing integrated circuit device, and semiconductor integrated circuit device - Google Patents

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智樹 梅澤
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To fix a semiconductor integrated circuit to a substrate by flexibly changing the arranged state of the circuit. <P>SOLUTION: After an IC chip 42 provided with optical elements 88 on its side face is positioned at a height at which the optical elements 88 can make optical communication with the optical elements of the other IC chip by holding the chip 42 by means of an arm 50, the chip 42 is fixed on a printed circuit board 30 with a bonding agent. Therefore, even if it is required to fix the IC chip 42 at a different height, the fixation can be dealt with flexibly. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、半導体集積回路配置装置、半導体集積回路装置の製造方法、及び半導体集積回路装置にかかり、特に、半導体集積回路を基板に配置する半導体集積回路配置装置、半導体集積回路を基板に配置して半導体集積回路装置を製造する半導体集積回路装置の製造方法、及び、半導体集積回路と基板とを備えた半導体集積回路装置に関する。   The present invention relates to a semiconductor integrated circuit arrangement device, a method of manufacturing a semiconductor integrated circuit device, and a semiconductor integrated circuit device, and more particularly, a semiconductor integrated circuit arrangement device that arranges a semiconductor integrated circuit on a substrate, and a semiconductor integrated circuit arranged on a substrate. The present invention relates to a semiconductor integrated circuit device manufacturing method for manufacturing a semiconductor integrated circuit device, and a semiconductor integrated circuit device including a semiconductor integrated circuit and a substrate.

従来、側面に光素子(発光または受光)を備えるICチップを、他の光素子(受光発光)を備えたプリント基板上に配置し、ICチップの光素子とプリント基板上の光素子との間で光通信などをさせる装置が提案されている。この場合、ICチップの光素子とプリント基板上の光素子との間で光通信などが適正に行われるためには、プリント基板上のICチップの高さ位置や角度が予定される高さ位置や角度であることが必要であり、予定される高さ位置や角度でない場合には、光通信をすることができない。   Conventionally, an IC chip having an optical element (light emission or light reception) on a side surface is disposed on a printed circuit board having another optical element (light reception or light emission), and between the optical element of the IC chip and the optical element on the printed circuit board. A device for optical communication and the like has been proposed. In this case, the height position and angle of the IC chip on the printed circuit board are expected to be properly communicated between the optical element of the IC chip and the optical element on the printed circuit board. If it is not a planned height position or angle, optical communication cannot be performed.

そこで、基板に光素子を配置する際に、光素子の高さを、仮接続用バンプの高さにより決定する光モジュール(特許文献1)が提案されている。即ち、光素子と基板との間に仮接続用バンプを挟んで固定している。
特開2002‐111113号公報
In view of this, an optical module (Patent Document 1) has been proposed in which, when an optical element is arranged on a substrate, the height of the optical element is determined by the height of a bump for temporary connection. That is, the temporary connection bumps are sandwiched and fixed between the optical element and the substrate.
JP 2002-111113 A

しかし、複数の光素子各々の高さを変えて配置させたい場合、各々の高さにあった仮接続用バンプが必要となり、光素子の高さを柔軟に調整することはできない。   However, when it is desired to arrange the plurality of optical elements at different heights, provisional connection bumps corresponding to the respective heights are required, and the height of the optical elements cannot be adjusted flexibly.

本発明は、配置状態を柔軟に変更して半導体集積回路を固定することの可能な半導体集積回路配置装置及び半導体集積回路装置の製造方法、更にはこれらに関連する半導体集積回路装置を提供することを目的とする。   The present invention provides a semiconductor integrated circuit arrangement device capable of flexibly changing the arrangement state and fixing the semiconductor integrated circuit, a method for manufacturing the semiconductor integrated circuit device, and a semiconductor integrated circuit device related thereto. With the goal.

上記目的を達成するため請求項1記載の発明にかかる半導体集積回路配置装置は、半導体集積回路を保持する保持手段と、前記半導体集積回路が3次元状に移動するように、前記保持手段を移動させる移動手段と、前記半導体集積回路が基板に対して所定の配置状態となるように前記移動手段を制御する制御手段と、前記半導体集積回路が基板に対して前記所定の配置状態で維持している状態で、前記半導体集積回路を前記基板に固定させる固定手段と、を備えている。   In order to achieve the above object, a semiconductor integrated circuit placement device according to the first aspect of the present invention includes a holding means for holding a semiconductor integrated circuit and moving the holding means so that the semiconductor integrated circuit moves three-dimensionally. Moving means, control means for controlling the moving means so that the semiconductor integrated circuit is in a predetermined arrangement state with respect to the substrate, and maintaining the semiconductor integrated circuit in the predetermined arrangement state with respect to the substrate. And a fixing means for fixing the semiconductor integrated circuit to the substrate.

請求項7記載の発明にかかる半導体集積回路装置の製造方法は、半導体集積回路を基板に対して所定の配置状態に維持し、前記半導体集積回路が前記基板に対して前記所定の配置状態で維持している状態で、前記半導体集積回路を前記基板に固定させることを特徴とする。   According to a seventh aspect of the present invention, there is provided a method for manufacturing a semiconductor integrated circuit device, wherein the semiconductor integrated circuit is maintained in a predetermined arrangement state with respect to the substrate, and the semiconductor integrated circuit is maintained in the predetermined arrangement state with respect to the substrate. In this state, the semiconductor integrated circuit is fixed to the substrate.

保持手段は、半導体集積回路を保持し、移動手段は、半導体集積回路が3次元状に移動するように、保持手段を移動させる。   The holding means holds the semiconductor integrated circuit, and the moving means moves the holding means so that the semiconductor integrated circuit moves three-dimensionally.

制御手段は、半導体集積回路が基板に対して所定の配置状態となるように移動手段を制御する。即ち、半導体集積回路を基板に対して所定の配置状態に維持することができる。   The control means controls the moving means so that the semiconductor integrated circuit is in a predetermined arrangement state with respect to the substrate. That is, the semiconductor integrated circuit can be maintained in a predetermined arrangement state with respect to the substrate.

そして、固定手段は、半導体集積回路が基板に対して前記所定の配置状態で維持している状態で、前記半導体集積回路を前記基板に固定させる。   The fixing means fixes the semiconductor integrated circuit to the substrate in a state where the semiconductor integrated circuit is maintained in the predetermined arrangement state with respect to the substrate.

なお、半導体集積回路における、基板に対向する面の端に溝を形成するようにしてもよい。これにより、半導体集積回路における溝と基板とにより形成される空間に、固定手段は、例えば、接着剤を供給することにより、前記半導体集積回路を前記基板に固定させる。   Note that a groove may be formed at the end of the surface facing the substrate in the semiconductor integrated circuit. Thereby, the fixing means fixes the semiconductor integrated circuit to the substrate by supplying an adhesive, for example, in a space formed by the groove and the substrate in the semiconductor integrated circuit.

このように本発明では、移動手段を制御することにより半導体集積回路を基板に対して所定の配置状態に維持し、この状態で、半導体集積回路を基板に固定するので、配置状態を変えるためには、移動手段を制御すれば済み、配置状態を柔軟に変更して半導体集積回路を基板に固定することができる。   Thus, in the present invention, the semiconductor integrated circuit is maintained in a predetermined arrangement state with respect to the substrate by controlling the moving means, and in this state, the semiconductor integrated circuit is fixed to the substrate. Since it is sufficient to control the moving means, the semiconductor integrated circuit can be fixed to the substrate by flexibly changing the arrangement state.

ここで、前記所定の配置状態を、前記半導体集積回路と前記基板とが平行でかつ前記半導体集積回路の高さが所定の高さであるとしてもよい。   Here, the predetermined arrangement state may be that the semiconductor integrated circuit and the substrate are parallel to each other and the height of the semiconductor integrated circuit is a predetermined height.

この場合、予め定められた基準高さを示す高さ教示手段を用い、制御手段は、保持手段を高さ教示手段に位置させることにより、基準高さを検出し、検出した基準高さに基づいて、半導体集積回路の高さが所定の高さとなるように、移動手段を制御する。   In this case, using the height teaching means indicating a predetermined reference height, the control means detects the reference height by positioning the holding means on the height teaching means, and based on the detected reference height. Thus, the moving means is controlled so that the height of the semiconductor integrated circuit becomes a predetermined height.

また、所定の配置状態を、半導体集積回路と前記基板とのなす角が所定の角度(0度より大きい)としてもよい。   Further, the predetermined arrangement state may be such that an angle formed by the semiconductor integrated circuit and the substrate is a predetermined angle (greater than 0 degrees).

このように、半導体集積回路と基板とのなす角が所定の角度(0度より大きい)の配置状態となるように、移動手段を制御し、この状態で、半導体集積回路を基板に固定するので、半導体集積回路と基板とのなす角を種々変更したい場合でも、移動手段を制御すればすみ、半導体集積回路と基板とのなす角が異なる種々の配置状態に柔軟に変更して半導体集積回路を基板に固定することができる。   In this way, the moving means is controlled so that the angle formed between the semiconductor integrated circuit and the substrate is a predetermined angle (greater than 0 degrees), and in this state, the semiconductor integrated circuit is fixed to the substrate. Even if it is desired to change the angle formed between the semiconductor integrated circuit and the substrate, it is only necessary to control the moving means, so that the angle formed between the semiconductor integrated circuit and the substrate can be flexibly changed into various arrangement states. It can be fixed to the substrate.

この場合、半導体集積回路の一端側が前記基板に位置し、他端側が載置することにより、前記半導体集積回路と前記基板とのなす角が所定の角度となるように、前記半導体集積回路を支持する、前記基板に配置された支持手段を備え、制御手段は、半導体集積回路の一端側が前記基板に位置し、他端側が前記支持手段に載置するように、移動手段を制御するようにしてもよい。なお、半導体集積回路の一端側が基板に位置し、他端側が支持手段に載置されている状態で、支持手段を移動することにより、半導体集積回路と前記基板とのなす角が所定の角度となるように微調整してもよい。   In this case, one end side of the semiconductor integrated circuit is positioned on the substrate, and the other end side is placed, thereby supporting the semiconductor integrated circuit so that an angle formed between the semiconductor integrated circuit and the substrate becomes a predetermined angle. And supporting means arranged on the substrate, wherein the control means controls the moving means so that one end side of the semiconductor integrated circuit is located on the substrate and the other end side is placed on the supporting means. Also good. The angle formed between the semiconductor integrated circuit and the substrate is set to a predetermined angle by moving the support means while one end side of the semiconductor integrated circuit is positioned on the substrate and the other end side is placed on the support means. Fine adjustments may be made so that

また、上記のように、所定の配置状態が、半導体集積回路と前記基板とのなす角が所定の角度(0度より大きい)の場合、半導体集積回路の基板と接する部分を、半導体集積回路と基板とのなす角が所定の角度より小さくなる形状としてもよい。例えば、半導体集積回路の基板と接する部分がテーパー形状としたり、円弧状とたり、してもよい。このように、半導体集積回路の基板と接する部分を、半導体集積回路と基板とのなす角が所定の角度より小さくなる形状とすると、半導体集積回路と基板とに接着剤を供給すると、半導体集積回路の基板と接する部分における接着剤にあたる面積をより大きくすることができ、接着効果を高めることができる。   Further, as described above, when the predetermined arrangement state is that the angle formed between the semiconductor integrated circuit and the substrate is a predetermined angle (greater than 0 degrees), the portion of the semiconductor integrated circuit that is in contact with the substrate is defined as the semiconductor integrated circuit. The angle formed with the substrate may be smaller than a predetermined angle. For example, a portion in contact with the substrate of the semiconductor integrated circuit may have a tapered shape or an arc shape. As described above, when the portion of the semiconductor integrated circuit that is in contact with the substrate has a shape in which the angle formed between the semiconductor integrated circuit and the substrate is smaller than a predetermined angle, the adhesive is supplied to the semiconductor integrated circuit and the substrate. The area corresponding to the adhesive in the portion in contact with the substrate can be increased, and the adhesion effect can be enhanced.

請求項13記載の発明は、光通信するための光素子が一方の面に配置された半導体集積回路と、前記半導体集積回路の前記一方の面側が対向して配置され、前記光素子と光通信するための光の導波路が内部に形成された基板と、を備えた半導体集積回路装置であって、前記光素子が前記導波路を介して光通信しかつ前記半導体集積回路と前記基板とのなす角が所定の角度(0度より大きい)となるように、前記半導体集積回路が前記基板に配置された、ことを特徴とする。   According to a thirteenth aspect of the present invention, a semiconductor integrated circuit in which an optical element for optical communication is arranged on one side and the one side of the semiconductor integrated circuit are arranged to face each other, and the optical element and the optical communication are arranged. A semiconductor integrated circuit device comprising: a substrate having an optical waveguide formed therein, wherein the optical element communicates optically through the waveguide, and the semiconductor integrated circuit and the substrate The semiconductor integrated circuit is disposed on the substrate such that an angle formed is a predetermined angle (greater than 0 degrees).

上記所定の角度は、基板に形成された導波路により定められる場合がある。   The predetermined angle may be determined by a waveguide formed on the substrate.

よって、光素子が導波路を介して光通信しかつ半導体集積回路と基板とのなす角が所定の角度となるように、半導体集積回路を基板に配置しているので、基板に形成された導波路により要請される角度にも柔軟に対処することができる。   Therefore, the semiconductor integrated circuit is arranged on the substrate so that the optical element performs optical communication through the waveguide and the angle formed between the semiconductor integrated circuit and the substrate is a predetermined angle. It is possible to flexibly cope with the angle required by the waveguide.

この場合、請求項14のように、前記半導体集積回路の一端側が前記基板に位置し、他端側が載置されることにより、前記半導体集積回路と前記基板とのなす角が所定の角度となるように、前記半導体集積回路を支持する、前記基板に配置された支持手段を備え、前記半導体集積回路の一端側を前記基板に位置させ、前記他端側を前記支持手段に載置するようにしてもよい。   In this case, as described in claim 14, one end side of the semiconductor integrated circuit is positioned on the substrate and the other end side is placed, whereby an angle formed between the semiconductor integrated circuit and the substrate becomes a predetermined angle. And supporting means disposed on the substrate for supporting the semiconductor integrated circuit, wherein one end side of the semiconductor integrated circuit is positioned on the substrate and the other end side is placed on the supporting means. May be.

そして、前記半導体集積回路の前記基板と接する部分を、前記半導体集積回路と前記基板とのなす角が所定の角度より小さくなる形状としてもよい。例えば、上記のように、半導体集積回路の基板と接する部分がテーパー形状としたり、円弧状とたり、してもよい。これにより、上記のように、半導体集積回路の基板と接する部分における接着剤にあたる面積をより大きくすることができ、接着効果を高めることができる。   The portion of the semiconductor integrated circuit that contacts the substrate may have a shape in which an angle formed by the semiconductor integrated circuit and the substrate is smaller than a predetermined angle. For example, as described above, the portion of the semiconductor integrated circuit that contacts the substrate may be tapered or arcuate. Thereby, as described above, the area corresponding to the adhesive in the portion in contact with the substrate of the semiconductor integrated circuit can be increased, and the adhesion effect can be enhanced.

なお、請求項16に記載の発明は、半導体集積回路を基板に配置して構成される半導体集積回路装置であって、前記半導体回路の前記基板に対向する面の端に、接着剤供給用の溝が形成されたことを特徴とする。   The invention according to claim 16 is a semiconductor integrated circuit device configured by arranging a semiconductor integrated circuit on a substrate, and is provided with an adhesive supplying agent at an end of a surface of the semiconductor circuit facing the substrate. A groove is formed.

このように、半導体回路における基板に対向する面の端に、接着剤供給用の溝が形成されているので、この溝と基板とにより形成される空間に接着剤を供給し、半導体回路と基板とを固定する。   Thus, since the groove | channel for adhesive supply is formed in the edge of the surface facing the board | substrate in a semiconductor circuit, an adhesive agent is supplied to the space formed by this groove | channel and a board | substrate, and a semiconductor circuit and a board | substrate And fix.

以上説明したように本発明は、配置状態を柔軟に変更して半導体集積回路を固定することができる、という効果がある。   As described above, the present invention has an effect that the semiconductor integrated circuit can be fixed by flexibly changing the arrangement state.

以下、本発明の第1の実施の形態を、図面を参照して詳細に説明する。   DESCRIPTION OF EXEMPLARY EMBODIMENTS Hereinafter, a first embodiment of the invention will be described in detail with reference to the drawings.

図1に示すように、本実施の形態に係る半導体集積回路配置装置としてのマウンターは、プリント基板(PWPA)30を搬送するコンベアべルト32を備えている。このコンベアベルト32の横には、後述する基準高さ教示棒51を挟んで、複数のICチップ42をマトリクス状に配置したチップトレー40を備えている。各ICチップ42は、その側面に光素子を備えている。なお、光素子の配置位置は所定位置に予め定められている。   As shown in FIG. 1, the mounter as the semiconductor integrated circuit placement device according to the present embodiment includes a conveyor belt 32 that conveys a printed circuit board (PWPA) 30. Next to the conveyor belt 32, there is provided a chip tray 40 in which a plurality of IC chips 42 are arranged in a matrix with a reference height teaching rod 51 described later interposed therebetween. Each IC chip 42 has an optical element on its side surface. The arrangement position of the optical element is predetermined at a predetermined position.

また、マウンターは、チップトレー40とコンベアベルト32双方の配置領域の外側にコの字状に形成された2つのy方向軸54を備えている。この2つのy方向軸54には、x方向軸52が掛け渡されて配置されている。x方向軸52はy方向軸54の上をy方向に移動可能に取り付けられている。X方向軸52には、先端部にICチップ42を挟持する挟持部56が、z方向に移動可能であると共に3次元状に微動可能なように構成されたアーム50が、x方向に移動可能に取り付けられている。 なお、x、y、z方向は互いに直交する。   The mounter also includes two y-direction shafts 54 formed in a U-shape outside the arrangement area of both the chip tray 40 and the conveyor belt 32. An x-direction axis 52 is stretched over the two y-direction axes 54. The x-direction shaft 52 is mounted on the y-direction shaft 54 so as to be movable in the y-direction. On the X-direction shaft 52, an arm 50 configured to be movable in the z direction and finely movable in a three-dimensional manner is capable of moving a holding portion 56 that holds the IC chip 42 at the tip portion. Is attached. Note that the x, y, and z directions are orthogonal to each other.

また、マウンターは表示装置58、キーボード60、マウス62等を備えた管理装置64を備えている。   The mounter also includes a management device 64 including a display device 58, a keyboard 60, a mouse 62, and the like.

図2に示すように、マウンターの制御系は、アーム50をx方向軸52に沿ってx方向に移動させるx方向移動モータ66、x方向軸52をy方向軸54に沿ってy方向に移動させるy方向移動モータ68、アーム50の先端に設けられた挟持部56をz方向に移動させるz方向移動モータ70を備えている。また、この制御系は、アーム50に設けられ、挟持部56を3次元状に移動させる先端部移動モータ78と、挟持部56の先端に配置された接触センサー82を備えている。更に、この制御系は、x方向移動モータ66、y方向移動モータ68、z方向移動モータ70それぞれが、ドライバー72、74、76を介して接続し、また、ドライバー80を介して先端部移動モータ78が接続し、そして、接触センサー82が接続するコントローラー84を備えている。   As shown in FIG. 2, the mounter control system moves the arm 50 in the x direction along the x direction axis 52 and moves the x direction axis 52 in the y direction along the y direction axis 54. A y-direction movement motor 68 is provided, and a z-direction movement motor 70 is provided for moving the clamping portion 56 provided at the tip of the arm 50 in the z-direction. The control system includes a tip end moving motor 78 that is provided on the arm 50 and moves the sandwiching portion 56 in a three-dimensional manner, and a contact sensor 82 disposed at the tip of the sandwiching portion 56. Further, in this control system, an x-direction movement motor 66, a y-direction movement motor 68, and a z-direction movement motor 70 are connected via drivers 72, 74, and 76, respectively, and a tip end movement motor is connected via a driver 80. 78 includes a controller 84 to which a contact sensor 82 is connected.

コントローラー84は、ドライバー72、74、76を介して、x方向移動モータ66、y方向移動モータ68、z方向移動モータ70を制御して、アーム50をx方向軸52に沿ってx方向に移動させ、x方向軸52をy方向軸54に沿ってy方向に移動させ、アーム50の先端に設けられた挟持部56をz方向に移動させる。また、コントローラー84は、ドライバー80を介して先端部移動モータ78を制御して、アーム50に設けられ、挟持部56を3次元状に移動させる。更に、コントローラ84は、接触センサー82からの信号を入力することにより、挟持部56の先端が何かに接触したことを検知することができる。   The controller 84 controls the x-direction movement motor 66, the y-direction movement motor 68, and the z-direction movement motor 70 via the drivers 72, 74, and 76 to move the arm 50 along the x-direction axis 52 in the x direction. Then, the x-direction axis 52 is moved in the y-direction along the y-direction axis 54, and the clamping portion 56 provided at the tip of the arm 50 is moved in the z-direction. In addition, the controller 84 controls the tip end moving motor 78 via the driver 80 and is provided on the arm 50 to move the holding portion 56 in a three-dimensional manner. Furthermore, the controller 84 can detect that the tip of the clamping unit 56 has touched something by inputting a signal from the contact sensor 82.

なお、このコントローラー84は、管理装置64内に備えられ、前述した表示装置58、マウス62、キーボード60も接続されている。   The controller 84 is provided in the management device 64, and is connected to the display device 58, the mouse 62, and the keyboard 60 described above.

次に、本実施の形態の作用を説明する。   Next, the operation of the present embodiment will be described.

図3には、マウンターにより、ICチップ42をプリント基板30に配置する配置処理プログラム(管理装置64により実行される)を示すフローチャートが示されている。   FIG. 3 shows a flowchart showing an arrangement processing program (executed by the management apparatus 64) for arranging the IC chip 42 on the printed circuit board 30 by the mounter.

管理装置64の所定のスタートボタンがONされると配置処理プログラムがスタートし、ステップ102で、図4に示すように、基準高さ教示棒51の上端にアーム50の先端を配置する。基準高さ教示棒51は、その上端が所定の高さに調整されて配置されている。管理装置64は、基準高さ教示棒51の配置情報(x、y、z座標情報)を記憶している。管理装置64からこの配置情報に基づく信号により、アーム50の先端が基準高さ教示棒51の上部に位置し、その後、アーム50の先端を序々に基準高さ教示棒51の上端に近づけ、接触センサー82により、アーム50の先端が基準高さ教示棒51の先端に位置したことを示す信号が入力されたとき、アーム50の駆動を停止させる。これにより、アーム50の先端は基準高さ教示棒51の上端に位置して停止する。   When a predetermined start button of the management device 64 is turned on, the arrangement processing program starts, and in step 102, the tip of the arm 50 is arranged at the upper end of the reference height teaching rod 51 as shown in FIG. The reference height teaching rod 51 is arranged with its upper end adjusted to a predetermined height. The management device 64 stores arrangement information (x, y, z coordinate information) of the reference height teaching bar 51. By the signal based on this arrangement information from the management device 64, the tip of the arm 50 is positioned above the reference height teaching bar 51, and thereafter, the tip of the arm 50 is gradually brought closer to the upper end of the reference height teaching bar 51 to make contact. When a signal indicating that the tip of the arm 50 is positioned at the tip of the reference height teaching bar 51 is input by the sensor 82, the driving of the arm 50 is stopped. As a result, the tip of the arm 50 is positioned at the upper end of the reference height teaching bar 51 and stops.

ステップ104で、基準高さを設定する。即ち、上述したように基準高さ教示棒51の上端は基準高さを示すので、本ステップ104では、アーム50の先端が基準高さ教示棒51の上端に接するときに検出された高さを基準高さとして設定する。   In step 104, a reference height is set. That is, since the upper end of the reference height teaching bar 51 indicates the reference height as described above, in this step 104, the height detected when the tip of the arm 50 contacts the upper end of the reference height teaching bar 51 is determined. Set as reference height.

次のステップ106で、基準高さ教示棒51の上端に位置するアームの先端を、管理装置64が記憶しているプリント基板30の配置情報に基づいて、プリント基板30の上に移動して配置する。ステップ108で、プリント基板30の高さを検出する。そして、ステップ110で、基準高さ教示棒51により示される基準高さと、プリント基板30の高さとの差を計算する。   In the next step 106, the tip of the arm located at the upper end of the reference height teaching bar 51 is moved and arranged on the printed circuit board 30 based on the arrangement information of the printed circuit board 30 stored in the management device 64. To do. In step 108, the height of the printed circuit board 30 is detected. In step 110, the difference between the reference height indicated by the reference height teaching bar 51 and the height of the printed circuit board 30 is calculated.

ステップ112で、ICチップ42の側面に配置された光素子の発光位置が、基板30の上面から所定高さとなるためのICチップの上面高さを計算する。   In step 112, the upper surface height of the IC chip is calculated so that the light emitting position of the optical element arranged on the side surface of the IC chip 42 becomes a predetermined height from the upper surface of the substrate 30.

ステップ114で、図5に示すように、ICチップ42をプリント基板30上の配置予定位置から所定の高さの位置に配置する。管理装置64は、配置予定位置の配置情報(x、y、z座標情報)を記憶している。管理装置64からこの配置情報に基づく信号により、アーム50の先端を配置予定位置から所定の高さの位置に位置させる。なお、コンベアベルト32上のプリント基板30を撮像する撮像装置を備え、撮像装置により撮像されて得られた画像データに基づいて、図5に示すように、ICチップ42及びプリント基板30に設けられたマーク90A、90Bの相対的な位置関係を考慮して、アーム50の先端を配置予定位置から所定の高さの位置に位置させるようにしてもよい。   In step 114, as shown in FIG. 5, the IC chip 42 is placed at a predetermined height from the planned placement position on the printed circuit board 30. The management device 64 stores arrangement information (x, y, z coordinate information) of planned arrangement positions. The tip of the arm 50 is positioned at a predetermined height from the planned placement position by a signal based on this placement information from the management device 64. In addition, an image pickup device for picking up an image of the printed circuit board 30 on the conveyor belt 32 is provided, and provided on the IC chip 42 and the printed circuit board 30 as shown in FIG. In consideration of the relative positional relationship between the marks 90A and 90B, the tip of the arm 50 may be positioned at a predetermined height from the planned placement position.

ステップ116で、図6に示すように、ステップ112で計算された上面高さにICチップ42の上面位置が一致するまで下降し停止する。これにより、ICチップ40の側面に配置された光素子88の発光位置が基準面から所定高さに一致する。この所定の高さは、ICチップ42の光素子88と、プリント基板30上に配置された他の光素子とが光通信するための、ICチップ42の光素子88の予定される高さhである。なお、高さhは、上記基準高さ教示棒の上端によって示される基準高さから所定距離だけ高い位置である。   In step 116, as shown in FIG. 6, it is lowered and stopped until the upper surface position of the IC chip 42 coincides with the upper surface height calculated in step 112. Thereby, the light emission position of the optical element 88 arranged on the side surface of the IC chip 40 coincides with the predetermined height from the reference surface. The predetermined height is a predetermined height h of the optical element 88 of the IC chip 42 for optical communication between the optical element 88 of the IC chip 42 and another optical element disposed on the printed circuit board 30. It is. The height h is a position higher by a predetermined distance from the reference height indicated by the upper end of the reference height teaching bar.

その後、ICチップの上面位置が、上記計算された上面高さ位置に一致した状態で、図7に示すように、接着剤供給装置の接着剤供給ノズル92から接着剤94を供給する。これにより、ICチップ42とプリント基板30とが平行でかつ、プリント基板30の側面に配置された光素子が所定の高さに位置した状態で、接着剤により固定される。よって、ICチップとプリント基板とを精度良く接着することができる。   Thereafter, the adhesive 94 is supplied from the adhesive supply nozzle 92 of the adhesive supply device as shown in FIG. 7 in a state where the upper surface position of the IC chip coincides with the calculated upper surface height position. As a result, the IC chip 42 and the printed board 30 are parallel to each other, and the optical element disposed on the side surface of the printed board 30 is fixed at a predetermined height by the adhesive. Therefore, the IC chip and the printed board can be bonded with high accuracy.

ここで、接着剤94として、図8に示すようにUV(紫外線)光96によりその接着効果が高まる材料のものを用いるようにしてもよい。これにより、ICチップとプリント基板とがより強固に固定される。   Here, as the adhesive 94, as shown in FIG. 8, a material whose bonding effect is enhanced by UV (ultraviolet) light 96 may be used. Thereby, an IC chip and a printed circuit board are fixed more firmly.

以後、図9に示すように、ICチップ42とプリント基板とが固定された状態で、封止剤を充填し、図10に示すように、ICチップ42とプリント基板30とが平行で、ICチップの側面に配置された光素子が予め定められた所定位置で固定される。   Thereafter, as shown in FIG. 9, the IC chip 42 and the printed board are fixed and filled with a sealant. As shown in FIG. 10, the IC chip 42 and the printed board 30 are parallel to each other, and the IC chip 42 and the printed board 30 are parallel. An optical element disposed on the side surface of the chip is fixed at a predetermined position.

以上説明したように、本実施の形態では、アームによりICチップを保持し、ICチップを所定の高さに位置させ、この状態でICチップをプリント基板上に固定するので、ICチップを異なる高さに固定したい場合でも柔軟に対処することができる。   As described above, in this embodiment, the IC chip is held by the arm, the IC chip is positioned at a predetermined height, and the IC chip is fixed on the printed board in this state. Even if you want to fix it, you can deal flexibly.

前述した第1の実施の形態では、ICチップのプリント基盤に面する面の形状を平面にしているが、本発明はこれに限定されるものではなく、ICチップのプリント基盤に面する面の端部に溝を形成し、この溝とプリント基盤との間に所定の空間を有するようにしてもよい。この場合、この空間に接着剤を供給して固定する。以下、これを詳細に説明する。   In the first embodiment described above, the shape of the surface facing the printed circuit board of the IC chip is flat, but the present invention is not limited to this, and the surface of the surface facing the printed circuit board of the IC chip is not limited to this. A groove may be formed at the end, and a predetermined space may be provided between the groove and the printed board. In this case, an adhesive is supplied and fixed in this space. This will be described in detail below.

図11には、ウェハー10が示されている。ウェハー10は、第1の面10Aに、複数の集積回路11をマトリクス状に配置している。また、ウェハー10の第1の面10Aに対向する第2の面10Bには、溝形成手段12より溝14が形成されている。なお、溝の形成方法としては、例えば、エッチング等である。   In FIG. 11, the wafer 10 is shown. The wafer 10 has a plurality of integrated circuits 11 arranged in a matrix on the first surface 10A. Further, a groove 14 is formed by the groove forming means 12 on the second surface 10B facing the first surface 10A of the wafer 10. In addition, as a formation method of a groove | channel, it is an etching etc., for example.

第2の面10Bに形成される溝14の位置は、集積回路11が形成された領域の外側(周囲)の位置P1、即ち、2つの集積回路11の間の位置P1や、複数の集積回路の中の最も外側に位置する集積回路の更に外側の位置P1に対向する位置P2である。また、位置P1は、正方形の集積回路11の少なくとも2辺、例えば、対向する2辺の外側の位置である。なお、溝の形状は、細長い形状である。その他、溝は、各辺に対向する領域に沿って、間隔を空けて複数形成するようにしてもよい。   The position of the groove 14 formed in the second surface 10B is a position P1 outside (periphery) of the region where the integrated circuit 11 is formed, that is, a position P1 between the two integrated circuits 11, or a plurality of integrated circuits. The position P2 is opposite to the position P1 on the outermost side of the integrated circuit located on the outermost side. The position P1 is a position outside at least two sides of the square integrated circuit 11, for example, two opposite sides. The shape of the groove is an elongated shape. In addition, a plurality of grooves may be formed at intervals along a region facing each side.

このように形成されたウェハー10は、図11(B)に示すように、切断手段16により、各集積回路11毎に、位置P1を基準に切断される。このように切断されると、各々が溝14を有するICチップ42が製造される。即ち、各ICチップ42は、図12に示すように、第1の面42Aに集積回路11が形成され、第1の面42Aに対向する第2の面42Bの端には、溝14が形成されている。   As shown in FIG. 11B, the wafer 10 formed in this way is cut by the cutting means 16 for each integrated circuit 11 with reference to the position P1. When cut in this way, IC chips 42 each having a groove 14 are manufactured. That is, in each IC chip 42, as shown in FIG. 12, the integrated circuit 11 is formed on the first surface 42A, and the groove 14 is formed at the end of the second surface 42B opposite to the first surface 42A. Has been.

次に、ICチップ42は、上記のように、プリント基板30にマウントされる(図13も参照)。即ち、ICチップ42の第2の面42Bとプリント基板30のリードフレームとが接するようにマウントする。これにより、プリント基板30と溝14との間に所定の空間が形成される。本実施の形態では、この空間に、図13(A)に示すように、接着剤供給装置92から接着剤94を供給する。これにより、図13(B)に示すように、溝14とプリント基板30との間に形成された空間に供給された接着剤22により固定される。   Next, the IC chip 42 is mounted on the printed circuit board 30 as described above (see also FIG. 13). That is, the mounting is performed so that the second surface 42B of the IC chip 42 and the lead frame of the printed circuit board 30 are in contact with each other. Thereby, a predetermined space is formed between the printed circuit board 30 and the groove 14. In the present embodiment, an adhesive 94 is supplied from an adhesive supply device 92 to this space as shown in FIG. Accordingly, as shown in FIG. 13B, the adhesive 22 supplied to the space formed between the groove 14 and the printed board 30 is fixed.

前述したように、接着剤94は、UV光96によりその接着効果が高まる材料で構成されているので、図14に示すように、溝14とプリント基板30との間の空間に供給された接着剤94にUV光を照射することにより、接着剤94の接着効果を高め、より強固にICチップ42とプリント基板30とを固定する。   As described above, since the adhesive 94 is made of a material whose bonding effect is enhanced by the UV light 96, the adhesive supplied to the space between the groove 14 and the printed circuit board 30 as shown in FIG. By irradiating the agent 94 with UV light, the adhesive effect of the adhesive 94 is enhanced, and the IC chip 42 and the printed board 30 are more firmly fixed.

そして、図15に示すように、ICチップのボンディングパットとプリント基板30のリード電極とを、金属線26により接続する。なお、その後、この半導体集積回路装置は、樹脂などにより封しされパッケージが形成される。   Then, as shown in FIG. 15, the bonding pad of the IC chip and the lead electrode of the printed circuit board 30 are connected by the metal wire 26. Thereafter, the semiconductor integrated circuit device is sealed with resin or the like to form a package.

次に、本発明の第2の実施の形態を説明する。本実施の形態は、前述した第1の実施の形態の構成と同様の構成であるのでその説明を省略する。なお、本実施の形態のICチップ42は、その底面の所定位置に、光素子を配置している。   Next, a second embodiment of the present invention will be described. Since this embodiment has the same configuration as that of the first embodiment described above, description thereof is omitted. In the IC chip 42 of the present embodiment, optical elements are arranged at predetermined positions on the bottom surface.

次に、本実施の形態の作用を説明するが、本実施の形態の作用も第2の実施の形態の作用と同一の作用部分があるので異なる部分のみを説明する。   Next, the operation of the present embodiment will be described. Since the operation of the present embodiment is the same as that of the second embodiment, only different portions will be described.

即ち、図16に示すように、アーム50の挟持部56によりICチップ42を挟持し、
ICチップ42をプリント基板30における、ICチップ42をマウント予定の位置より、所定高さの位置に移動する。次に、図17に示すように、アーム50は挟持部56を制御し、ICチップ42の一端42A側が下に、他端42B側が上となるように傾け、ICチップ42とプリント基板との成す角が所定の角度θ℃となるようにする。また、プリント基板30上に、ICチップ42の一端42Aがプリント基板に位置し、他端42B側が載置することにより、ICチップ42とプリント基板30との成す角が所定の角度θとなるための指示手段としての指示部材120と、ICチップ42の一端側42A側が接触される接触部材122と、を配置する。そして、アーム50は、図18に示すように、ICチップの一端42Aが接触部材122に接触し、他端42B側が指示部材120に載置するように、ICチップ48を移動する。
That is, as shown in FIG. 16, the IC chip 42 is sandwiched by the sandwiching portion 56 of the arm 50,
The IC chip 42 is moved to a predetermined height position on the printed circuit board 30 from the position where the IC chip 42 is to be mounted. Next, as shown in FIG. 17, the arm 50 controls the clamping portion 56, and the IC chip 42 is inclined so that one end 42 </ b> A side is down and the other end 42 </ b> B side is up, and the IC chip 42 and the printed board are formed. The angle is set to a predetermined angle θ ° C. In addition, since one end 42A of the IC chip 42 is positioned on the printed board and the other end 42B is placed on the printed board 30, the angle formed by the IC chip 42 and the printed board 30 becomes a predetermined angle θ. An instruction member 120 serving as the instruction means and a contact member 122 with which the one end side 42A side of the IC chip 42 is in contact are arranged. Then, as shown in FIG. 18, the arm 50 moves the IC chip 48 so that one end 42 </ b> A of the IC chip is in contact with the contact member 122 and the other end 42 </ b> B is placed on the indicating member 120.

次に、図19に示すように、接着剤供給ノズル92から、ICチップ42の一端側42Aに接着剤94を供給する。そして、接着剤94にUV光を照射することにより、その接着効果を高め、ICチップ42とプリント基板30とをより強固に接着する。   Next, as shown in FIG. 19, the adhesive 94 is supplied from the adhesive supply nozzle 92 to the one end side 42 </ b> A of the IC chip 42. Then, the adhesive effect is enhanced by irradiating the adhesive 94 with UV light, and the IC chip 42 and the printed board 30 are more firmly bonded.

次に、第2の実施の形態の変形例を説明する。   Next, a modification of the second embodiment will be described.

前述した第2の実施の形態では、図19に示すように、指示部材120によりICチップが支持された状態で、ICチップとプリント基板30とを固定するようにしている。第1の変形例では、図20に示すように、この指示部材120を省略している。   In the second embodiment described above, as shown in FIG. 19, the IC chip and the printed board 30 are fixed while the IC chip is supported by the instruction member 120. In the first modified example, as shown in FIG. 20, the indicating member 120 is omitted.

ここで、第3の実施の形態及び第1の変形例(後述する第2の変形例も)に示すように、ICチップ42がプリント基板30と所定の角度を成すように固定されている理由を説明する。図21に示すように、プリント基板30には導波路124が形成され、ICチップ42の下面に光素子88を備え、このICチップ42に設けられた光素子88からの光126を、反射ミラー128を介して導波路124に導き光通信を行ったり、導波路を介して光が供給され、反射ミラー128により、ICチップ30の光素子88により受光することにより光通信を行う。この際、例えば、Si異方性エッチングなで面を容易に作成した反射ミラーを反射ミラー128として用いると、反射ミラー128の面の傾斜角度は、ある角度(例えば54.7°)となり、これにより、ICチップ42がプリント基板30に対する角度(上記所定の角度θ)が要請され、これに柔軟に対処するため、ICチップ42をプリント基板30と所定の角度を成すように固定している。これにより、反射ミラー128の自由度が多くなる。   Here, as shown in the third embodiment and the first modification (also a second modification described later), the reason why the IC chip 42 is fixed at a predetermined angle with the printed circuit board 30. Will be explained. As shown in FIG. 21, a waveguide 124 is formed on the printed circuit board 30, and an optical element 88 is provided on the lower surface of the IC chip 42, and light 126 from the optical element 88 provided on the IC chip 42 is reflected by a reflection mirror. Optical communication is performed by guiding the light to the waveguide 124 via 128, or by supplying light via the waveguide and receiving light by the optical element 88 of the IC chip 30 by the reflection mirror 128. At this time, for example, when a reflection mirror whose surface is easily formed by Si anisotropic etching is used as the reflection mirror 128, the inclination angle of the surface of the reflection mirror 128 becomes an angle (for example, 54.7 °). Therefore, the IC chip 42 is required to have an angle with respect to the printed circuit board 30 (the predetermined angle θ), and the IC chip 42 is fixed to the printed circuit board 30 so as to form a predetermined angle in order to flexibly cope with this. Thereby, the freedom degree of the reflective mirror 128 increases.

次に、第2の変形例を説明する。第2の変形例では、図22に示すように、ICチップ42の一端及び他端の少なくとも一端(プリント基板と接触する側)には、この一端側におけるICチップ42と基板30との成す角が、上記所定角度θより小さくなる形状、例えば、テーパ部130が設けられている。このように少なくとも一端側にテーパ部130が設けられたICチップ42は、図23及び図24に示すように、この一端側が接触部材122に接触するように配置され、この状態で、図25に示すように、接着剤94を供給する。これにより、ICチップ42の一端側が、接着剤と接する面積が多くなり、ICチップ42とプリント基板30とをより強固に接着することができる。   Next, a second modification will be described. In the second modification, as shown in FIG. 22, at least one end (the side in contact with the printed circuit board) of one end and the other end of the IC chip 42 is an angle formed by the IC chip 42 and the substrate 30 on the one end side. However, a shape smaller than the predetermined angle θ, for example, a tapered portion 130 is provided. As shown in FIGS. 23 and 24, the IC chip 42 provided with the tapered portion 130 on at least one end side as described above is arranged so that the one end side contacts the contact member 122. As shown, adhesive 94 is supplied. Thereby, the area where the one end side of the IC chip 42 is in contact with the adhesive increases, and the IC chip 42 and the printed board 30 can be bonded more firmly.

なお、図26に示すように、UV光を接着剤94に照射することにより、接着剤94の接着効果を高め、さらに、接着効果を高めるようにしてもよい。   In addition, as shown in FIG. 26, the adhesive effect of the adhesive 94 may be enhanced by irradiating the adhesive 94 with UV light, and the adhesive effect may be further enhanced.

以上説明した各実施の形態では、基準高さ教示棒をプリント基板外に設けて、絶対的な基準高さを教示するようにしているが、本発明はこれに防止されるものでなく、各プリント基盤上に配置し、各プリント基盤毎に相対的な高さを教示するようにしてもよい。この場合、各プリント基盤毎に基準高さ教示棒の高さを変えて、必要に応じた高さを教示させるようにしてもよい。   In each of the embodiments described above, the reference height teaching bar is provided outside the printed circuit board to teach the absolute reference height, but the present invention is not prevented by this, It may be arranged on a print board, and a relative height may be taught for each print board. In this case, the height of the reference height teaching rod may be changed for each print base to teach the height as necessary.

(A)は、第1の実施の形態に係るマウンターの上面図であり、(B)は、マウンターの側面図である。(A) is a top view of the mounter which concerns on 1st Embodiment, (B) is a side view of a mounter. マウンターの制御系を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the control system of a mounter. マウンターにより実行される配置処理プログラムを示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the arrangement | positioning process program performed by the mounter. マウンターのアームにより基準高さを検出する様子を示す図である。It is a figure which shows a mode that a reference | standard height is detected by the arm of a mounter. マウンターのアームによりICチップをプリント基板上に移動する様子を示す図である。It is a figure which shows a mode that an IC chip is moved on a printed circuit board by the arm of a mounter. マウンターのアームにより、ICチップとプリント基板とが平行で、ICチップが所定の高さで維持する様子を示す図である。It is a figure which shows a mode that an IC chip and a printed circuit board are parallel by the arm of a mounter, and an IC chip is maintained by predetermined height. ICチップとプリント基板とが平行でかつICチップが所定の高さで維持している状態で、接着剤を供給する様子を示す図である。It is a figure which shows a mode that an adhesive agent is supplied in a state in which an IC chip and a printed circuit board are parallel and the IC chip is maintained at a predetermined height. 接着剤にUV光を照射することにより接着効果を高める様子を示す図である。It is a figure which shows a mode that an adhesive effect is heightened by irradiating UV light to an adhesive agent. ICチップとプリント基板とが固定された状態で封止剤を充填する様子を示す図である。It is a figure which shows a mode that a sealing agent is filled in the state in which the IC chip and the printed circuit board were fixed. ICチップとプリント基板とが平行でかつICチップが所定の高さで維持している様子を示す図である。It is a figure which shows a mode that an IC chip and a printed circuit board are parallel, and an IC chip is maintained by predetermined | prescribed height. (A)は、ウェハーに溝を形成する様子を示す図であり、(B)は、ウェハーを切断してICチップを製造する様子を示す図である。(A) is a figure which shows a mode that a groove | channel is formed in a wafer, (B) is a figure which shows a mode that a wafer is cut | disconnected and an IC chip is manufactured. ICチップの断面図である。It is sectional drawing of an IC chip. (A)は、ICチップの溝とプリント基板との間の空間に接着剤を供給している様子を示す図であり、(B)は、溝とプリント基板との間の空間に供給された接着剤によりICチップとプリント基板とが接着されている様子を示す図である。(A) is a figure which shows a mode that the adhesive agent is supplied to the space between the groove | channel of an IC chip and a printed circuit board, (B) was supplied to the space between a groove | channel and a printed circuit board. It is a figure which shows a mode that the IC chip and the printed circuit board are adhere | attached with the adhesive agent. 接着剤にUV光を照射し接着効果を高める様子を示す図である。It is a figure which shows a mode that an adhesive agent is irradiated with UV light and the adhesive effect is improved. ICチップとプリント基板とを線により接続した様子を示す図である。It is a figure which shows a mode that the IC chip and the printed circuit board were connected by the line. 第2の実施の形態に係るアームによりICチップが移動している様子を示す図である。It is a figure which shows a mode that the IC chip is moving with the arm which concerns on 2nd Embodiment. アームによりICチップの一端側をプリント基板に、他端側を指示部材に載置する様子を示す図である。It is a figure which shows a mode that the one end side of an IC chip is mounted in a printed circuit board by an arm, and the other end side is mounted in a pointing member. 指示部材により、ICチップとプリント基板とが所定の角度で維持している様子を示す図である。It is a figure which shows a mode that an IC chip and a printed circuit board are maintained with the predetermined | prescribed angle by the instruction | indication member. ICチップとプリント基板とが所定の角度で維持している状態で接着剤を供給する様子を示す図である。It is a figure which shows a mode that an adhesive agent is supplied in the state which maintains the IC chip and the printed circuit board at the predetermined angle. 第1の変形例に係る接着剤にUV光を照射している様子を示す図である。It is a figure which shows a mode that UV light is irradiated to the adhesive agent which concerns on a 1st modification. ICチップの底面に配置された光素子からの光が、プリント基板に設けられた導波路を進む様子を示す図The figure which shows a mode that the light from the optical element arrange | positioned at the bottom face of an IC chip advances the waveguide provided in the printed circuit board 第2の変形例に係るテーパ部が形成されたICチップをプリント基板上に移動する様子を示す図である。It is a figure which shows a mode that the IC chip in which the taper part which concerns on a 2nd modification was formed is moved on a printed circuit board. ICチップとプリント基板とが所定の角度を成すように傾ける様子を示す図である。It is a figure which shows a mode that an IC chip and a printed circuit board incline so that a predetermined angle may be made. ICチップとプリント基板とが所定の角度を成す状態でICチップの一端をプリント基板に接触させた状態を示す図である。It is a figure which shows the state which made the end of IC chip contact the printed circuit board in the state in which the IC chip and the printed circuit board made a predetermined angle. ICチップとプリント基板とが所定の角度で維持されている状態で、接着剤を供給する様子を示す図である。It is a figure which shows a mode that an adhesive agent is supplied in the state by which the IC chip and the printed circuit board are maintained at the predetermined angle. 第2の変形例における接着剤にUV光を照射している様子を示す図である。It is a figure which shows a mode that UV light is irradiated to the adhesive agent in a 2nd modification.

符号の説明Explanation of symbols

30 基板
32 コンベアベルト
40 チップトレー
42 ICチップ
50 アーム
51 基準高さ教示棒
52 x方向軸
54 y方向軸
56 挟持部
64 管理装置
66 x方向移動モータ
68 y方向移動モータ
70 z方向移動モータ
72〜76 ドライバ
78 先端部移動モータ
82 接触センサ
84 コントローラ
86 中間部材
88 発光素子
90A マーク
90B マーク
92 接着剤供給ノズル
94 接着剤
96 UV光
120 支持部材
122 接触部材
124 導波路
126 光
128 反射ミラー
130 テーパ部
30 Substrate 32 Conveyor belt 40 Chip tray 42 IC chip 50 Arm 51 Reference height teaching bar 52 x-direction axis 54 y-direction axis 56 Nipping part 64 Management device 66 x-direction movement motor 68 y-direction movement motor 70 z-direction movement motor 72 to 76 Driver 78 Tip Moving Motor 82 Contact Sensor 84 Controller 86 Intermediate Member 88 Light Emitting Element 90A Mark 90B Mark 92 Adhesive Supply Nozzle 94 Adhesive 96 UV Light 120 Support Member 122 Contact Member 124 Waveguide 126 Light 128 Reflecting Mirror 130 Tapered Part

Claims (16)

半導体集積回路を保持する保持手段と、
前記半導体集積回路が3次元状に移動するように、前記保持手段を移動させる移動手段と、
前記半導体集積回路が基板に対して所定の配置状態となるように前記移動手段を制御する制御手段と、
前記半導体集積回路が基板に対して前記所定の配置状態で維持している状態で、前記半導体集積回路を前記基板に固定させる固定手段と、
を備えた半導体集積回路配置装置。
Holding means for holding a semiconductor integrated circuit;
Moving means for moving the holding means so that the semiconductor integrated circuit moves three-dimensionally;
Control means for controlling the moving means so that the semiconductor integrated circuit is in a predetermined arrangement state with respect to the substrate;
Fixing means for fixing the semiconductor integrated circuit to the substrate in a state where the semiconductor integrated circuit is maintained in the predetermined arrangement state with respect to the substrate;
A semiconductor integrated circuit placement device.
前記所定の配置状態は、前記半導体集積回路と前記基板とが平行でかつ前記半導体集積回路の高さが所定の高さであることを特徴とする請求項1記載の半導体集積回路配置装置。   2. The semiconductor integrated circuit arrangement device according to claim 1, wherein the predetermined arrangement state is such that the semiconductor integrated circuit and the substrate are parallel to each other, and the height of the semiconductor integrated circuit is a predetermined height. 予め定められた基準高さを示す高さ教示手段を用い、
前記制御手段は、
前記保持手段を前記高さ教示手段に位置させることにより、前記基準高さを検出し、検出した前記基準高さに基づいて、前記半導体集積回路の高さが前記所定の高さとなるように、前記移動手段を制御する、
ことを特徴とする請求項2記載の半導体集積回路配置装置。
Using a height teaching means showing a predetermined reference height,
The control means includes
By positioning the holding means on the height teaching means, the reference height is detected, and based on the detected reference height, the height of the semiconductor integrated circuit becomes the predetermined height. Controlling the moving means;
3. The semiconductor integrated circuit arrangement device according to claim 2, wherein:
前記所定の配置状態は、前記半導体集積回路と前記基板とのなす角が所定の角度であることを特徴とする請求項1記載の半導体集積回路配置装置。   2. The semiconductor integrated circuit arrangement device according to claim 1, wherein the predetermined arrangement state is such that an angle formed by the semiconductor integrated circuit and the substrate is a predetermined angle. 前記半導体集積回路の一端側が前記基板に位置し、他端側が載置することにより、前記半導体集積回路と前記基板とのなす角が所定の角度となるように、前記半導体集積回路を支持する、前記基板に配置された支持手段を備え、
前記制御手段は、前記半導体集積回路の一端側が前記基板に位置し、前記他端側が前記支持手段に載置するように、前記移動手段を制御する、
ことを特徴とする請求項4記載の半導体集積回路配置装置。
Supporting the semiconductor integrated circuit so that an angle formed between the semiconductor integrated circuit and the substrate is a predetermined angle by placing one end of the semiconductor integrated circuit on the substrate and placing the other end on the substrate; Comprising support means disposed on the substrate;
The control means controls the moving means so that one end side of the semiconductor integrated circuit is positioned on the substrate and the other end side is placed on the support means.
5. The semiconductor integrated circuit placement device according to claim 4, wherein
前記半導体集積回路の前記基板と接する部分が、前記半導体集積回路と前記基板とのなす角が所定の角度より小さくなる形状であることを特徴とする請求項4又は請求項5に記載の半導体集積回路配置装置。   6. The semiconductor integrated circuit according to claim 4, wherein a portion of the semiconductor integrated circuit that is in contact with the substrate has a shape in which an angle formed by the semiconductor integrated circuit and the substrate is smaller than a predetermined angle. Circuit placement device. 半導体集積回路を基板に対して所定の配置状態に維持し、
前記半導体集積回路が前記基板に対して前記所定の配置状態で維持している状態で、前記半導体集積回路を前記基板に固定させる、
半導体集積回路装置の製造方法。
Maintaining the semiconductor integrated circuit in a predetermined arrangement with respect to the substrate;
Fixing the semiconductor integrated circuit to the substrate in a state where the semiconductor integrated circuit is maintained in the predetermined arrangement state with respect to the substrate;
A method of manufacturing a semiconductor integrated circuit device.
前記所定の配置状態は、前記半導体集積回路と前記基板とが平行でかつ前記半導体集積回路の高さが所定の高さであることを特徴とする請求項7記載の半導体集積回路装置の製造方法。   8. The method of manufacturing a semiconductor integrated circuit device according to claim 7, wherein the predetermined arrangement state is that the semiconductor integrated circuit and the substrate are parallel to each other, and the height of the semiconductor integrated circuit is a predetermined height. . 前記基板に対する予め定められた基準高さを示す高さ教示手段を用いて、該基準高さを検出し、
検出した前記基準高さに基づいて、前記半導体集積回路の高さを前記所定の高さとする、
ことを特徴とする請求項8記載の半導体集積回路装置の製造方法。
Using a height teaching means indicating a predetermined reference height with respect to the substrate, the reference height is detected,
Based on the detected reference height, the height of the semiconductor integrated circuit is the predetermined height,
9. A method of manufacturing a semiconductor integrated circuit device according to claim 8, wherein:
前記所定の配置状態は、前記半導体集積回路と前記基板とのなす角が所定の角度であることを特徴とする請求項7記載の半導体集積回路装置の製造方法。   8. The method of manufacturing a semiconductor integrated circuit device according to claim 7, wherein in the predetermined arrangement state, an angle formed by the semiconductor integrated circuit and the substrate is a predetermined angle. 前記半導体集積回路の一端側が前記基板に位置し、他端側が載置することにより、前記半導体集積回路と前記基板とのなす角が所定の角度となるように、前記半導体集積回路を支持する、前記基板に配置された支持手段を用い、前記半導体集積回路の一端側を前記基板に位置させかつ前記他端側を前記支持手段に載置することを特徴とする請求項10記載の半導体集積回路装置の製造方法。   The semiconductor integrated circuit is supported so that an angle formed between the semiconductor integrated circuit and the substrate is a predetermined angle by placing one end side of the semiconductor integrated circuit on the substrate and placing the other end side on the substrate. 11. The semiconductor integrated circuit according to claim 10, wherein a support means disposed on the substrate is used, one end side of the semiconductor integrated circuit is positioned on the substrate and the other end side is placed on the support means. Device manufacturing method. 前記半導体集積回路の前記基板と接する部分における、前記半導体集積回路と前記基板とのなす角が所定の角度より小さくなる形状であることを特徴とする請求項10又は請求項11に記載の半導体集積回路装置の製造方法。   12. The semiconductor integrated circuit according to claim 10, wherein an angle formed by the semiconductor integrated circuit and the substrate at a portion in contact with the substrate of the semiconductor integrated circuit is smaller than a predetermined angle. A method of manufacturing a circuit device. 光通信するための光素子が一方の面に配置された半導体集積回路と、
前記半導体集積回路の前記一方の面側が対向して配置され、前記光素子と光通信するための光の導波路が内部に形成された基板と、
を備えた半導体集積回路装置であって、
前記光素子が前記導波路を介して光通信しかつ前記半導体集積回路と前記基板とのなす角が所定の角度となるように、前記半導体集積回路が前記基板に配置された、
ことを特徴とする半導体集積回路装置。
A semiconductor integrated circuit in which an optical element for optical communication is disposed on one surface;
A substrate on which the one surface side of the semiconductor integrated circuit is arranged to be opposed, and an optical waveguide for optical communication with the optical element is formed therein;
A semiconductor integrated circuit device comprising:
The semiconductor integrated circuit is disposed on the substrate such that the optical element performs optical communication via the waveguide and an angle formed between the semiconductor integrated circuit and the substrate is a predetermined angle;
A semiconductor integrated circuit device.
前記半導体集積回路の一端側が前記基板に位置し、他端側が載置されることにより、前記半導体集積回路と前記基板とのなす角が所定の角度となるように、前記半導体集積回路を支持する、前記基板に配置された支持手段を備え、
前記半導体集積回路の一端側が前記基板に位置し、前記他端側が前記支持手段に載置された、
ことを特徴とする請求項13記載の半導体集積回路装置。
One end side of the semiconductor integrated circuit is positioned on the substrate, and the other end side is placed, thereby supporting the semiconductor integrated circuit so that an angle formed between the semiconductor integrated circuit and the substrate becomes a predetermined angle. A support means disposed on the substrate,
One end side of the semiconductor integrated circuit is located on the substrate, and the other end side is placed on the support means.
The semiconductor integrated circuit device according to claim 13.
前記半導体集積回路の前記基板と接する部分が、前記半導体集積回路と前記基板とのなす角が前記所定の角度より小さくなる形状であることを特徴とする請求項13又は請求項14に記載の半導体集積回路配置装置。   15. The semiconductor according to claim 13, wherein a portion of the semiconductor integrated circuit that is in contact with the substrate has a shape in which an angle formed by the semiconductor integrated circuit and the substrate is smaller than the predetermined angle. Integrated circuit placement device. 半導体集積回路を基板に配置して構成される半導体集積回路装置であって、
前記半導体回路の前記基板に対向する面の端に、接着剤供給用の溝が形成された、
ことを特徴とする半導体集積回路装置。
A semiconductor integrated circuit device configured by arranging a semiconductor integrated circuit on a substrate,
A groove for supplying an adhesive is formed at an end of the surface of the semiconductor circuit facing the substrate.
A semiconductor integrated circuit device.
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