JP2006093237A - Semiconductor integrated circuit arranging device, method of manufacturing integrated circuit device, and semiconductor integrated circuit device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、半導体集積回路配置装置、半導体集積回路装置の製造方法、及び半導体集積回路装置にかかり、特に、半導体集積回路を基板に配置する半導体集積回路配置装置、半導体集積回路を基板に配置して半導体集積回路装置を製造する半導体集積回路装置の製造方法、及び、半導体集積回路と基板とを備えた半導体集積回路装置に関する。 The present invention relates to a semiconductor integrated circuit arrangement device, a method of manufacturing a semiconductor integrated circuit device, and a semiconductor integrated circuit device, and more particularly, a semiconductor integrated circuit arrangement device that arranges a semiconductor integrated circuit on a substrate, and a semiconductor integrated circuit arranged on a substrate. The present invention relates to a semiconductor integrated circuit device manufacturing method for manufacturing a semiconductor integrated circuit device, and a semiconductor integrated circuit device including a semiconductor integrated circuit and a substrate.
従来、側面に光素子(発光または受光)を備えるICチップを、他の光素子(受光発光)を備えたプリント基板上に配置し、ICチップの光素子とプリント基板上の光素子との間で光通信などをさせる装置が提案されている。この場合、ICチップの光素子とプリント基板上の光素子との間で光通信などが適正に行われるためには、プリント基板上のICチップの高さ位置や角度が予定される高さ位置や角度であることが必要であり、予定される高さ位置や角度でない場合には、光通信をすることができない。 Conventionally, an IC chip having an optical element (light emission or light reception) on a side surface is disposed on a printed circuit board having another optical element (light reception or light emission), and between the optical element of the IC chip and the optical element on the printed circuit board. A device for optical communication and the like has been proposed. In this case, the height position and angle of the IC chip on the printed circuit board are expected to be properly communicated between the optical element of the IC chip and the optical element on the printed circuit board. If it is not a planned height position or angle, optical communication cannot be performed.
そこで、基板に光素子を配置する際に、光素子の高さを、仮接続用バンプの高さにより決定する光モジュール(特許文献1)が提案されている。即ち、光素子と基板との間に仮接続用バンプを挟んで固定している。
しかし、複数の光素子各々の高さを変えて配置させたい場合、各々の高さにあった仮接続用バンプが必要となり、光素子の高さを柔軟に調整することはできない。 However, when it is desired to arrange the plurality of optical elements at different heights, provisional connection bumps corresponding to the respective heights are required, and the height of the optical elements cannot be adjusted flexibly.
本発明は、配置状態を柔軟に変更して半導体集積回路を固定することの可能な半導体集積回路配置装置及び半導体集積回路装置の製造方法、更にはこれらに関連する半導体集積回路装置を提供することを目的とする。 The present invention provides a semiconductor integrated circuit arrangement device capable of flexibly changing the arrangement state and fixing the semiconductor integrated circuit, a method for manufacturing the semiconductor integrated circuit device, and a semiconductor integrated circuit device related thereto. With the goal.
上記目的を達成するため請求項1記載の発明にかかる半導体集積回路配置装置は、半導体集積回路を保持する保持手段と、前記半導体集積回路が3次元状に移動するように、前記保持手段を移動させる移動手段と、前記半導体集積回路が基板に対して所定の配置状態となるように前記移動手段を制御する制御手段と、前記半導体集積回路が基板に対して前記所定の配置状態で維持している状態で、前記半導体集積回路を前記基板に固定させる固定手段と、を備えている。 In order to achieve the above object, a semiconductor integrated circuit placement device according to the first aspect of the present invention includes a holding means for holding a semiconductor integrated circuit and moving the holding means so that the semiconductor integrated circuit moves three-dimensionally. Moving means, control means for controlling the moving means so that the semiconductor integrated circuit is in a predetermined arrangement state with respect to the substrate, and maintaining the semiconductor integrated circuit in the predetermined arrangement state with respect to the substrate. And a fixing means for fixing the semiconductor integrated circuit to the substrate.
請求項7記載の発明にかかる半導体集積回路装置の製造方法は、半導体集積回路を基板に対して所定の配置状態に維持し、前記半導体集積回路が前記基板に対して前記所定の配置状態で維持している状態で、前記半導体集積回路を前記基板に固定させることを特徴とする。 According to a seventh aspect of the present invention, there is provided a method for manufacturing a semiconductor integrated circuit device, wherein the semiconductor integrated circuit is maintained in a predetermined arrangement state with respect to the substrate, and the semiconductor integrated circuit is maintained in the predetermined arrangement state with respect to the substrate. In this state, the semiconductor integrated circuit is fixed to the substrate.
保持手段は、半導体集積回路を保持し、移動手段は、半導体集積回路が3次元状に移動するように、保持手段を移動させる。 The holding means holds the semiconductor integrated circuit, and the moving means moves the holding means so that the semiconductor integrated circuit moves three-dimensionally.
制御手段は、半導体集積回路が基板に対して所定の配置状態となるように移動手段を制御する。即ち、半導体集積回路を基板に対して所定の配置状態に維持することができる。 The control means controls the moving means so that the semiconductor integrated circuit is in a predetermined arrangement state with respect to the substrate. That is, the semiconductor integrated circuit can be maintained in a predetermined arrangement state with respect to the substrate.
そして、固定手段は、半導体集積回路が基板に対して前記所定の配置状態で維持している状態で、前記半導体集積回路を前記基板に固定させる。 The fixing means fixes the semiconductor integrated circuit to the substrate in a state where the semiconductor integrated circuit is maintained in the predetermined arrangement state with respect to the substrate.
なお、半導体集積回路における、基板に対向する面の端に溝を形成するようにしてもよい。これにより、半導体集積回路における溝と基板とにより形成される空間に、固定手段は、例えば、接着剤を供給することにより、前記半導体集積回路を前記基板に固定させる。 Note that a groove may be formed at the end of the surface facing the substrate in the semiconductor integrated circuit. Thereby, the fixing means fixes the semiconductor integrated circuit to the substrate by supplying an adhesive, for example, in a space formed by the groove and the substrate in the semiconductor integrated circuit.
このように本発明では、移動手段を制御することにより半導体集積回路を基板に対して所定の配置状態に維持し、この状態で、半導体集積回路を基板に固定するので、配置状態を変えるためには、移動手段を制御すれば済み、配置状態を柔軟に変更して半導体集積回路を基板に固定することができる。 Thus, in the present invention, the semiconductor integrated circuit is maintained in a predetermined arrangement state with respect to the substrate by controlling the moving means, and in this state, the semiconductor integrated circuit is fixed to the substrate. Since it is sufficient to control the moving means, the semiconductor integrated circuit can be fixed to the substrate by flexibly changing the arrangement state.
ここで、前記所定の配置状態を、前記半導体集積回路と前記基板とが平行でかつ前記半導体集積回路の高さが所定の高さであるとしてもよい。 Here, the predetermined arrangement state may be that the semiconductor integrated circuit and the substrate are parallel to each other and the height of the semiconductor integrated circuit is a predetermined height.
この場合、予め定められた基準高さを示す高さ教示手段を用い、制御手段は、保持手段を高さ教示手段に位置させることにより、基準高さを検出し、検出した基準高さに基づいて、半導体集積回路の高さが所定の高さとなるように、移動手段を制御する。 In this case, using the height teaching means indicating a predetermined reference height, the control means detects the reference height by positioning the holding means on the height teaching means, and based on the detected reference height. Thus, the moving means is controlled so that the height of the semiconductor integrated circuit becomes a predetermined height.
また、所定の配置状態を、半導体集積回路と前記基板とのなす角が所定の角度(0度より大きい)としてもよい。 Further, the predetermined arrangement state may be such that an angle formed by the semiconductor integrated circuit and the substrate is a predetermined angle (greater than 0 degrees).
このように、半導体集積回路と基板とのなす角が所定の角度(0度より大きい)の配置状態となるように、移動手段を制御し、この状態で、半導体集積回路を基板に固定するので、半導体集積回路と基板とのなす角を種々変更したい場合でも、移動手段を制御すればすみ、半導体集積回路と基板とのなす角が異なる種々の配置状態に柔軟に変更して半導体集積回路を基板に固定することができる。 In this way, the moving means is controlled so that the angle formed between the semiconductor integrated circuit and the substrate is a predetermined angle (greater than 0 degrees), and in this state, the semiconductor integrated circuit is fixed to the substrate. Even if it is desired to change the angle formed between the semiconductor integrated circuit and the substrate, it is only necessary to control the moving means, so that the angle formed between the semiconductor integrated circuit and the substrate can be flexibly changed into various arrangement states. It can be fixed to the substrate.
この場合、半導体集積回路の一端側が前記基板に位置し、他端側が載置することにより、前記半導体集積回路と前記基板とのなす角が所定の角度となるように、前記半導体集積回路を支持する、前記基板に配置された支持手段を備え、制御手段は、半導体集積回路の一端側が前記基板に位置し、他端側が前記支持手段に載置するように、移動手段を制御するようにしてもよい。なお、半導体集積回路の一端側が基板に位置し、他端側が支持手段に載置されている状態で、支持手段を移動することにより、半導体集積回路と前記基板とのなす角が所定の角度となるように微調整してもよい。 In this case, one end side of the semiconductor integrated circuit is positioned on the substrate, and the other end side is placed, thereby supporting the semiconductor integrated circuit so that an angle formed between the semiconductor integrated circuit and the substrate becomes a predetermined angle. And supporting means arranged on the substrate, wherein the control means controls the moving means so that one end side of the semiconductor integrated circuit is located on the substrate and the other end side is placed on the supporting means. Also good. The angle formed between the semiconductor integrated circuit and the substrate is set to a predetermined angle by moving the support means while one end side of the semiconductor integrated circuit is positioned on the substrate and the other end side is placed on the support means. Fine adjustments may be made so that
また、上記のように、所定の配置状態が、半導体集積回路と前記基板とのなす角が所定の角度(0度より大きい)の場合、半導体集積回路の基板と接する部分を、半導体集積回路と基板とのなす角が所定の角度より小さくなる形状としてもよい。例えば、半導体集積回路の基板と接する部分がテーパー形状としたり、円弧状とたり、してもよい。このように、半導体集積回路の基板と接する部分を、半導体集積回路と基板とのなす角が所定の角度より小さくなる形状とすると、半導体集積回路と基板とに接着剤を供給すると、半導体集積回路の基板と接する部分における接着剤にあたる面積をより大きくすることができ、接着効果を高めることができる。 Further, as described above, when the predetermined arrangement state is that the angle formed between the semiconductor integrated circuit and the substrate is a predetermined angle (greater than 0 degrees), the portion of the semiconductor integrated circuit that is in contact with the substrate is defined as the semiconductor integrated circuit. The angle formed with the substrate may be smaller than a predetermined angle. For example, a portion in contact with the substrate of the semiconductor integrated circuit may have a tapered shape or an arc shape. As described above, when the portion of the semiconductor integrated circuit that is in contact with the substrate has a shape in which the angle formed between the semiconductor integrated circuit and the substrate is smaller than a predetermined angle, the adhesive is supplied to the semiconductor integrated circuit and the substrate. The area corresponding to the adhesive in the portion in contact with the substrate can be increased, and the adhesion effect can be enhanced.
請求項13記載の発明は、光通信するための光素子が一方の面に配置された半導体集積回路と、前記半導体集積回路の前記一方の面側が対向して配置され、前記光素子と光通信するための光の導波路が内部に形成された基板と、を備えた半導体集積回路装置であって、前記光素子が前記導波路を介して光通信しかつ前記半導体集積回路と前記基板とのなす角が所定の角度(0度より大きい)となるように、前記半導体集積回路が前記基板に配置された、ことを特徴とする。 According to a thirteenth aspect of the present invention, a semiconductor integrated circuit in which an optical element for optical communication is arranged on one side and the one side of the semiconductor integrated circuit are arranged to face each other, and the optical element and the optical communication are arranged. A semiconductor integrated circuit device comprising: a substrate having an optical waveguide formed therein, wherein the optical element communicates optically through the waveguide, and the semiconductor integrated circuit and the substrate The semiconductor integrated circuit is disposed on the substrate such that an angle formed is a predetermined angle (greater than 0 degrees).
上記所定の角度は、基板に形成された導波路により定められる場合がある。 The predetermined angle may be determined by a waveguide formed on the substrate.
よって、光素子が導波路を介して光通信しかつ半導体集積回路と基板とのなす角が所定の角度となるように、半導体集積回路を基板に配置しているので、基板に形成された導波路により要請される角度にも柔軟に対処することができる。 Therefore, the semiconductor integrated circuit is arranged on the substrate so that the optical element performs optical communication through the waveguide and the angle formed between the semiconductor integrated circuit and the substrate is a predetermined angle. It is possible to flexibly cope with the angle required by the waveguide.
この場合、請求項14のように、前記半導体集積回路の一端側が前記基板に位置し、他端側が載置されることにより、前記半導体集積回路と前記基板とのなす角が所定の角度となるように、前記半導体集積回路を支持する、前記基板に配置された支持手段を備え、前記半導体集積回路の一端側を前記基板に位置させ、前記他端側を前記支持手段に載置するようにしてもよい。
In this case, as described in
そして、前記半導体集積回路の前記基板と接する部分を、前記半導体集積回路と前記基板とのなす角が所定の角度より小さくなる形状としてもよい。例えば、上記のように、半導体集積回路の基板と接する部分がテーパー形状としたり、円弧状とたり、してもよい。これにより、上記のように、半導体集積回路の基板と接する部分における接着剤にあたる面積をより大きくすることができ、接着効果を高めることができる。 The portion of the semiconductor integrated circuit that contacts the substrate may have a shape in which an angle formed by the semiconductor integrated circuit and the substrate is smaller than a predetermined angle. For example, as described above, the portion of the semiconductor integrated circuit that contacts the substrate may be tapered or arcuate. Thereby, as described above, the area corresponding to the adhesive in the portion in contact with the substrate of the semiconductor integrated circuit can be increased, and the adhesion effect can be enhanced.
なお、請求項16に記載の発明は、半導体集積回路を基板に配置して構成される半導体集積回路装置であって、前記半導体回路の前記基板に対向する面の端に、接着剤供給用の溝が形成されたことを特徴とする。
The invention according to
このように、半導体回路における基板に対向する面の端に、接着剤供給用の溝が形成されているので、この溝と基板とにより形成される空間に接着剤を供給し、半導体回路と基板とを固定する。 Thus, since the groove | channel for adhesive supply is formed in the edge of the surface facing the board | substrate in a semiconductor circuit, an adhesive agent is supplied to the space formed by this groove | channel and a board | substrate, and a semiconductor circuit and a board | substrate And fix.
以上説明したように本発明は、配置状態を柔軟に変更して半導体集積回路を固定することができる、という効果がある。 As described above, the present invention has an effect that the semiconductor integrated circuit can be fixed by flexibly changing the arrangement state.
以下、本発明の第1の実施の形態を、図面を参照して詳細に説明する。 DESCRIPTION OF EXEMPLARY EMBODIMENTS Hereinafter, a first embodiment of the invention will be described in detail with reference to the drawings.
図1に示すように、本実施の形態に係る半導体集積回路配置装置としてのマウンターは、プリント基板(PWPA)30を搬送するコンベアべルト32を備えている。このコンベアベルト32の横には、後述する基準高さ教示棒51を挟んで、複数のICチップ42をマトリクス状に配置したチップトレー40を備えている。各ICチップ42は、その側面に光素子を備えている。なお、光素子の配置位置は所定位置に予め定められている。
As shown in FIG. 1, the mounter as the semiconductor integrated circuit placement device according to the present embodiment includes a
また、マウンターは、チップトレー40とコンベアベルト32双方の配置領域の外側にコの字状に形成された2つのy方向軸54を備えている。この2つのy方向軸54には、x方向軸52が掛け渡されて配置されている。x方向軸52はy方向軸54の上をy方向に移動可能に取り付けられている。X方向軸52には、先端部にICチップ42を挟持する挟持部56が、z方向に移動可能であると共に3次元状に微動可能なように構成されたアーム50が、x方向に移動可能に取り付けられている。 なお、x、y、z方向は互いに直交する。
The mounter also includes two y-
また、マウンターは表示装置58、キーボード60、マウス62等を備えた管理装置64を備えている。
The mounter also includes a
図2に示すように、マウンターの制御系は、アーム50をx方向軸52に沿ってx方向に移動させるx方向移動モータ66、x方向軸52をy方向軸54に沿ってy方向に移動させるy方向移動モータ68、アーム50の先端に設けられた挟持部56をz方向に移動させるz方向移動モータ70を備えている。また、この制御系は、アーム50に設けられ、挟持部56を3次元状に移動させる先端部移動モータ78と、挟持部56の先端に配置された接触センサー82を備えている。更に、この制御系は、x方向移動モータ66、y方向移動モータ68、z方向移動モータ70それぞれが、ドライバー72、74、76を介して接続し、また、ドライバー80を介して先端部移動モータ78が接続し、そして、接触センサー82が接続するコントローラー84を備えている。
As shown in FIG. 2, the mounter control system moves the
コントローラー84は、ドライバー72、74、76を介して、x方向移動モータ66、y方向移動モータ68、z方向移動モータ70を制御して、アーム50をx方向軸52に沿ってx方向に移動させ、x方向軸52をy方向軸54に沿ってy方向に移動させ、アーム50の先端に設けられた挟持部56をz方向に移動させる。また、コントローラー84は、ドライバー80を介して先端部移動モータ78を制御して、アーム50に設けられ、挟持部56を3次元状に移動させる。更に、コントローラ84は、接触センサー82からの信号を入力することにより、挟持部56の先端が何かに接触したことを検知することができる。
The
なお、このコントローラー84は、管理装置64内に備えられ、前述した表示装置58、マウス62、キーボード60も接続されている。
The
次に、本実施の形態の作用を説明する。 Next, the operation of the present embodiment will be described.
図3には、マウンターにより、ICチップ42をプリント基板30に配置する配置処理プログラム(管理装置64により実行される)を示すフローチャートが示されている。
FIG. 3 shows a flowchart showing an arrangement processing program (executed by the management apparatus 64) for arranging the
管理装置64の所定のスタートボタンがONされると配置処理プログラムがスタートし、ステップ102で、図4に示すように、基準高さ教示棒51の上端にアーム50の先端を配置する。基準高さ教示棒51は、その上端が所定の高さに調整されて配置されている。管理装置64は、基準高さ教示棒51の配置情報(x、y、z座標情報)を記憶している。管理装置64からこの配置情報に基づく信号により、アーム50の先端が基準高さ教示棒51の上部に位置し、その後、アーム50の先端を序々に基準高さ教示棒51の上端に近づけ、接触センサー82により、アーム50の先端が基準高さ教示棒51の先端に位置したことを示す信号が入力されたとき、アーム50の駆動を停止させる。これにより、アーム50の先端は基準高さ教示棒51の上端に位置して停止する。
When a predetermined start button of the
ステップ104で、基準高さを設定する。即ち、上述したように基準高さ教示棒51の上端は基準高さを示すので、本ステップ104では、アーム50の先端が基準高さ教示棒51の上端に接するときに検出された高さを基準高さとして設定する。
In
次のステップ106で、基準高さ教示棒51の上端に位置するアームの先端を、管理装置64が記憶しているプリント基板30の配置情報に基づいて、プリント基板30の上に移動して配置する。ステップ108で、プリント基板30の高さを検出する。そして、ステップ110で、基準高さ教示棒51により示される基準高さと、プリント基板30の高さとの差を計算する。
In the
ステップ112で、ICチップ42の側面に配置された光素子の発光位置が、基板30の上面から所定高さとなるためのICチップの上面高さを計算する。
In
ステップ114で、図5に示すように、ICチップ42をプリント基板30上の配置予定位置から所定の高さの位置に配置する。管理装置64は、配置予定位置の配置情報(x、y、z座標情報)を記憶している。管理装置64からこの配置情報に基づく信号により、アーム50の先端を配置予定位置から所定の高さの位置に位置させる。なお、コンベアベルト32上のプリント基板30を撮像する撮像装置を備え、撮像装置により撮像されて得られた画像データに基づいて、図5に示すように、ICチップ42及びプリント基板30に設けられたマーク90A、90Bの相対的な位置関係を考慮して、アーム50の先端を配置予定位置から所定の高さの位置に位置させるようにしてもよい。
In
ステップ116で、図6に示すように、ステップ112で計算された上面高さにICチップ42の上面位置が一致するまで下降し停止する。これにより、ICチップ40の側面に配置された光素子88の発光位置が基準面から所定高さに一致する。この所定の高さは、ICチップ42の光素子88と、プリント基板30上に配置された他の光素子とが光通信するための、ICチップ42の光素子88の予定される高さhである。なお、高さhは、上記基準高さ教示棒の上端によって示される基準高さから所定距離だけ高い位置である。
In
その後、ICチップの上面位置が、上記計算された上面高さ位置に一致した状態で、図7に示すように、接着剤供給装置の接着剤供給ノズル92から接着剤94を供給する。これにより、ICチップ42とプリント基板30とが平行でかつ、プリント基板30の側面に配置された光素子が所定の高さに位置した状態で、接着剤により固定される。よって、ICチップとプリント基板とを精度良く接着することができる。
Thereafter, the adhesive 94 is supplied from the
ここで、接着剤94として、図8に示すようにUV(紫外線)光96によりその接着効果が高まる材料のものを用いるようにしてもよい。これにより、ICチップとプリント基板とがより強固に固定される。 Here, as the adhesive 94, as shown in FIG. 8, a material whose bonding effect is enhanced by UV (ultraviolet) light 96 may be used. Thereby, an IC chip and a printed circuit board are fixed more firmly.
以後、図9に示すように、ICチップ42とプリント基板とが固定された状態で、封止剤を充填し、図10に示すように、ICチップ42とプリント基板30とが平行で、ICチップの側面に配置された光素子が予め定められた所定位置で固定される。
Thereafter, as shown in FIG. 9, the
以上説明したように、本実施の形態では、アームによりICチップを保持し、ICチップを所定の高さに位置させ、この状態でICチップをプリント基板上に固定するので、ICチップを異なる高さに固定したい場合でも柔軟に対処することができる。 As described above, in this embodiment, the IC chip is held by the arm, the IC chip is positioned at a predetermined height, and the IC chip is fixed on the printed board in this state. Even if you want to fix it, you can deal flexibly.
前述した第1の実施の形態では、ICチップのプリント基盤に面する面の形状を平面にしているが、本発明はこれに限定されるものではなく、ICチップのプリント基盤に面する面の端部に溝を形成し、この溝とプリント基盤との間に所定の空間を有するようにしてもよい。この場合、この空間に接着剤を供給して固定する。以下、これを詳細に説明する。 In the first embodiment described above, the shape of the surface facing the printed circuit board of the IC chip is flat, but the present invention is not limited to this, and the surface of the surface facing the printed circuit board of the IC chip is not limited to this. A groove may be formed at the end, and a predetermined space may be provided between the groove and the printed board. In this case, an adhesive is supplied and fixed in this space. This will be described in detail below.
図11には、ウェハー10が示されている。ウェハー10は、第1の面10Aに、複数の集積回路11をマトリクス状に配置している。また、ウェハー10の第1の面10Aに対向する第2の面10Bには、溝形成手段12より溝14が形成されている。なお、溝の形成方法としては、例えば、エッチング等である。
In FIG. 11, the
第2の面10Bに形成される溝14の位置は、集積回路11が形成された領域の外側(周囲)の位置P1、即ち、2つの集積回路11の間の位置P1や、複数の集積回路の中の最も外側に位置する集積回路の更に外側の位置P1に対向する位置P2である。また、位置P1は、正方形の集積回路11の少なくとも2辺、例えば、対向する2辺の外側の位置である。なお、溝の形状は、細長い形状である。その他、溝は、各辺に対向する領域に沿って、間隔を空けて複数形成するようにしてもよい。
The position of the
このように形成されたウェハー10は、図11(B)に示すように、切断手段16により、各集積回路11毎に、位置P1を基準に切断される。このように切断されると、各々が溝14を有するICチップ42が製造される。即ち、各ICチップ42は、図12に示すように、第1の面42Aに集積回路11が形成され、第1の面42Aに対向する第2の面42Bの端には、溝14が形成されている。
As shown in FIG. 11B, the
次に、ICチップ42は、上記のように、プリント基板30にマウントされる(図13も参照)。即ち、ICチップ42の第2の面42Bとプリント基板30のリードフレームとが接するようにマウントする。これにより、プリント基板30と溝14との間に所定の空間が形成される。本実施の形態では、この空間に、図13(A)に示すように、接着剤供給装置92から接着剤94を供給する。これにより、図13(B)に示すように、溝14とプリント基板30との間に形成された空間に供給された接着剤22により固定される。
Next, the
前述したように、接着剤94は、UV光96によりその接着効果が高まる材料で構成されているので、図14に示すように、溝14とプリント基板30との間の空間に供給された接着剤94にUV光を照射することにより、接着剤94の接着効果を高め、より強固にICチップ42とプリント基板30とを固定する。
As described above, since the adhesive 94 is made of a material whose bonding effect is enhanced by the
そして、図15に示すように、ICチップのボンディングパットとプリント基板30のリード電極とを、金属線26により接続する。なお、その後、この半導体集積回路装置は、樹脂などにより封しされパッケージが形成される。
Then, as shown in FIG. 15, the bonding pad of the IC chip and the lead electrode of the printed
次に、本発明の第2の実施の形態を説明する。本実施の形態は、前述した第1の実施の形態の構成と同様の構成であるのでその説明を省略する。なお、本実施の形態のICチップ42は、その底面の所定位置に、光素子を配置している。
Next, a second embodiment of the present invention will be described. Since this embodiment has the same configuration as that of the first embodiment described above, description thereof is omitted. In the
次に、本実施の形態の作用を説明するが、本実施の形態の作用も第2の実施の形態の作用と同一の作用部分があるので異なる部分のみを説明する。 Next, the operation of the present embodiment will be described. Since the operation of the present embodiment is the same as that of the second embodiment, only different portions will be described.
即ち、図16に示すように、アーム50の挟持部56によりICチップ42を挟持し、
ICチップ42をプリント基板30における、ICチップ42をマウント予定の位置より、所定高さの位置に移動する。次に、図17に示すように、アーム50は挟持部56を制御し、ICチップ42の一端42A側が下に、他端42B側が上となるように傾け、ICチップ42とプリント基板との成す角が所定の角度θ℃となるようにする。また、プリント基板30上に、ICチップ42の一端42Aがプリント基板に位置し、他端42B側が載置することにより、ICチップ42とプリント基板30との成す角が所定の角度θとなるための指示手段としての指示部材120と、ICチップ42の一端側42A側が接触される接触部材122と、を配置する。そして、アーム50は、図18に示すように、ICチップの一端42Aが接触部材122に接触し、他端42B側が指示部材120に載置するように、ICチップ48を移動する。
That is, as shown in FIG. 16, the
The
次に、図19に示すように、接着剤供給ノズル92から、ICチップ42の一端側42Aに接着剤94を供給する。そして、接着剤94にUV光を照射することにより、その接着効果を高め、ICチップ42とプリント基板30とをより強固に接着する。
Next, as shown in FIG. 19, the adhesive 94 is supplied from the
次に、第2の実施の形態の変形例を説明する。 Next, a modification of the second embodiment will be described.
前述した第2の実施の形態では、図19に示すように、指示部材120によりICチップが支持された状態で、ICチップとプリント基板30とを固定するようにしている。第1の変形例では、図20に示すように、この指示部材120を省略している。
In the second embodiment described above, as shown in FIG. 19, the IC chip and the printed
ここで、第3の実施の形態及び第1の変形例(後述する第2の変形例も)に示すように、ICチップ42がプリント基板30と所定の角度を成すように固定されている理由を説明する。図21に示すように、プリント基板30には導波路124が形成され、ICチップ42の下面に光素子88を備え、このICチップ42に設けられた光素子88からの光126を、反射ミラー128を介して導波路124に導き光通信を行ったり、導波路を介して光が供給され、反射ミラー128により、ICチップ30の光素子88により受光することにより光通信を行う。この際、例えば、Si異方性エッチングなで面を容易に作成した反射ミラーを反射ミラー128として用いると、反射ミラー128の面の傾斜角度は、ある角度(例えば54.7°)となり、これにより、ICチップ42がプリント基板30に対する角度(上記所定の角度θ)が要請され、これに柔軟に対処するため、ICチップ42をプリント基板30と所定の角度を成すように固定している。これにより、反射ミラー128の自由度が多くなる。
Here, as shown in the third embodiment and the first modification (also a second modification described later), the reason why the
次に、第2の変形例を説明する。第2の変形例では、図22に示すように、ICチップ42の一端及び他端の少なくとも一端(プリント基板と接触する側)には、この一端側におけるICチップ42と基板30との成す角が、上記所定角度θより小さくなる形状、例えば、テーパ部130が設けられている。このように少なくとも一端側にテーパ部130が設けられたICチップ42は、図23及び図24に示すように、この一端側が接触部材122に接触するように配置され、この状態で、図25に示すように、接着剤94を供給する。これにより、ICチップ42の一端側が、接着剤と接する面積が多くなり、ICチップ42とプリント基板30とをより強固に接着することができる。
Next, a second modification will be described. In the second modification, as shown in FIG. 22, at least one end (the side in contact with the printed circuit board) of one end and the other end of the
なお、図26に示すように、UV光を接着剤94に照射することにより、接着剤94の接着効果を高め、さらに、接着効果を高めるようにしてもよい。 In addition, as shown in FIG. 26, the adhesive effect of the adhesive 94 may be enhanced by irradiating the adhesive 94 with UV light, and the adhesive effect may be further enhanced.
以上説明した各実施の形態では、基準高さ教示棒をプリント基板外に設けて、絶対的な基準高さを教示するようにしているが、本発明はこれに防止されるものでなく、各プリント基盤上に配置し、各プリント基盤毎に相対的な高さを教示するようにしてもよい。この場合、各プリント基盤毎に基準高さ教示棒の高さを変えて、必要に応じた高さを教示させるようにしてもよい。 In each of the embodiments described above, the reference height teaching bar is provided outside the printed circuit board to teach the absolute reference height, but the present invention is not prevented by this, It may be arranged on a print board, and a relative height may be taught for each print board. In this case, the height of the reference height teaching rod may be changed for each print base to teach the height as necessary.
30 基板
32 コンベアベルト
40 チップトレー
42 ICチップ
50 アーム
51 基準高さ教示棒
52 x方向軸
54 y方向軸
56 挟持部
64 管理装置
66 x方向移動モータ
68 y方向移動モータ
70 z方向移動モータ
72〜76 ドライバ
78 先端部移動モータ
82 接触センサ
84 コントローラ
86 中間部材
88 発光素子
90A マーク
90B マーク
92 接着剤供給ノズル
94 接着剤
96 UV光
120 支持部材
122 接触部材
124 導波路
126 光
128 反射ミラー
130 テーパ部
30
Claims (16)
前記半導体集積回路が3次元状に移動するように、前記保持手段を移動させる移動手段と、
前記半導体集積回路が基板に対して所定の配置状態となるように前記移動手段を制御する制御手段と、
前記半導体集積回路が基板に対して前記所定の配置状態で維持している状態で、前記半導体集積回路を前記基板に固定させる固定手段と、
を備えた半導体集積回路配置装置。 Holding means for holding a semiconductor integrated circuit;
Moving means for moving the holding means so that the semiconductor integrated circuit moves three-dimensionally;
Control means for controlling the moving means so that the semiconductor integrated circuit is in a predetermined arrangement state with respect to the substrate;
Fixing means for fixing the semiconductor integrated circuit to the substrate in a state where the semiconductor integrated circuit is maintained in the predetermined arrangement state with respect to the substrate;
A semiconductor integrated circuit placement device.
前記制御手段は、
前記保持手段を前記高さ教示手段に位置させることにより、前記基準高さを検出し、検出した前記基準高さに基づいて、前記半導体集積回路の高さが前記所定の高さとなるように、前記移動手段を制御する、
ことを特徴とする請求項2記載の半導体集積回路配置装置。 Using a height teaching means showing a predetermined reference height,
The control means includes
By positioning the holding means on the height teaching means, the reference height is detected, and based on the detected reference height, the height of the semiconductor integrated circuit becomes the predetermined height. Controlling the moving means;
3. The semiconductor integrated circuit arrangement device according to claim 2, wherein:
前記制御手段は、前記半導体集積回路の一端側が前記基板に位置し、前記他端側が前記支持手段に載置するように、前記移動手段を制御する、
ことを特徴とする請求項4記載の半導体集積回路配置装置。 Supporting the semiconductor integrated circuit so that an angle formed between the semiconductor integrated circuit and the substrate is a predetermined angle by placing one end of the semiconductor integrated circuit on the substrate and placing the other end on the substrate; Comprising support means disposed on the substrate;
The control means controls the moving means so that one end side of the semiconductor integrated circuit is positioned on the substrate and the other end side is placed on the support means.
5. The semiconductor integrated circuit placement device according to claim 4, wherein
前記半導体集積回路が前記基板に対して前記所定の配置状態で維持している状態で、前記半導体集積回路を前記基板に固定させる、
半導体集積回路装置の製造方法。 Maintaining the semiconductor integrated circuit in a predetermined arrangement with respect to the substrate;
Fixing the semiconductor integrated circuit to the substrate in a state where the semiconductor integrated circuit is maintained in the predetermined arrangement state with respect to the substrate;
A method of manufacturing a semiconductor integrated circuit device.
検出した前記基準高さに基づいて、前記半導体集積回路の高さを前記所定の高さとする、
ことを特徴とする請求項8記載の半導体集積回路装置の製造方法。 Using a height teaching means indicating a predetermined reference height with respect to the substrate, the reference height is detected,
Based on the detected reference height, the height of the semiconductor integrated circuit is the predetermined height,
9. A method of manufacturing a semiconductor integrated circuit device according to claim 8, wherein:
前記半導体集積回路の前記一方の面側が対向して配置され、前記光素子と光通信するための光の導波路が内部に形成された基板と、
を備えた半導体集積回路装置であって、
前記光素子が前記導波路を介して光通信しかつ前記半導体集積回路と前記基板とのなす角が所定の角度となるように、前記半導体集積回路が前記基板に配置された、
ことを特徴とする半導体集積回路装置。 A semiconductor integrated circuit in which an optical element for optical communication is disposed on one surface;
A substrate on which the one surface side of the semiconductor integrated circuit is arranged to be opposed, and an optical waveguide for optical communication with the optical element is formed therein;
A semiconductor integrated circuit device comprising:
The semiconductor integrated circuit is disposed on the substrate such that the optical element performs optical communication via the waveguide and an angle formed between the semiconductor integrated circuit and the substrate is a predetermined angle;
A semiconductor integrated circuit device.
前記半導体集積回路の一端側が前記基板に位置し、前記他端側が前記支持手段に載置された、
ことを特徴とする請求項13記載の半導体集積回路装置。 One end side of the semiconductor integrated circuit is positioned on the substrate, and the other end side is placed, thereby supporting the semiconductor integrated circuit so that an angle formed between the semiconductor integrated circuit and the substrate becomes a predetermined angle. A support means disposed on the substrate,
One end side of the semiconductor integrated circuit is located on the substrate, and the other end side is placed on the support means.
The semiconductor integrated circuit device according to claim 13.
前記半導体回路の前記基板に対向する面の端に、接着剤供給用の溝が形成された、
ことを特徴とする半導体集積回路装置。 A semiconductor integrated circuit device configured by arranging a semiconductor integrated circuit on a substrate,
A groove for supplying an adhesive is formed at an end of the surface of the semiconductor circuit facing the substrate.
A semiconductor integrated circuit device.
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JP2004273961A JP2006093237A (en) | 2004-09-21 | 2004-09-21 | Semiconductor integrated circuit arranging device, method of manufacturing integrated circuit device, and semiconductor integrated circuit device |
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