JP2006089595A - Build-up resin composition and its application - Google Patents

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JP2006089595A JP2004276789A JP2004276789A JP2006089595A JP 2006089595 A JP2006089595 A JP 2006089595A JP 2004276789 A JP2004276789 A JP 2004276789A JP 2004276789 A JP2004276789 A JP 2004276789A JP 2006089595 A JP2006089595 A JP 2006089595A
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Hironobu Iyama
浩暢 井山
Toru Nagashima
徹 永嶋
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a build-up resin composition suitable for production of a cured film with excellent heat resistance and small dielectric loss. <P>SOLUTION: This build-up resin composition comprises an epoxy resin (A), a curing agent (B) for the epoxy resin, a thermoplastic resin (C) and a filler (D), in which the curing agent (B) for the epoxy resin comprises a compound represented by formula (1) (wherein t is 1 or 2, r is 1-15, a plurality of B are a benzene ring or a naphthalene ring which may be substituted by a hydrocarbon or not, R<SP>10</SP>-R<SP>13</SP>are each a hydrogen atom, a 1-10C alkyl group, a 7-20C aralkyl group or a 6-20C aryl group). A vanish comprising the build-up resin composition and an organic solvent is provided. The film for the build-up is obtained using the vanish. A copper foil with a resin is obtained using the vanish. A printed wiring board having a layer of a cured product is composed of the build-up resin composition. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、ビルドアップ用樹脂組成物およびその用途に関する。   The present invention relates to a resin composition for buildup and its use.

近年の電気・電子機器の小型軽量化に伴い、プリント配線板の高密度化が進んでいる。この様なプリント配線板の一形態として、導電回路層と絶縁層とを交互に積層し、プリント配線板の表面のみならず、その内部にも導電回路を形成したビルドアッププリント配線板が知られている。このビルドアッププリント配線板の絶縁層はビルドアップ用フィルムと呼ばれる熱硬化性フィルムを硬化させたものからなるものが知られている。
このビルドアップ用フィルムに適したビルドアップ用樹脂組成物の一例に、エポキシ樹脂としてトリフェノールメタン骨格含有エポキシ樹脂、硬化剤としてフェノールノボラック、熱可塑性樹脂としてポリエーテルサルホンおよび充填材としてシリカからなるビルドアップ用樹脂組成物が提案されている(特許文献1)。
特開2001−72833号公報
Along with the recent reduction in size and weight of electric and electronic devices, the density of printed wiring boards has been increasing. As one form of such a printed wiring board, a build-up printed wiring board in which conductive circuit layers and insulating layers are alternately laminated and a conductive circuit is formed not only on the surface of the printed wiring board but also inside thereof is known. ing. The insulating layer of this buildup printed wiring board is known to be made of a cured thermosetting film called a buildup film.
An example of a buildup resin composition suitable for this buildup film is composed of an epoxy resin containing a triphenolmethane skeleton as an epoxy resin, a phenol novolac as a curing agent, polyethersulfone as a thermoplastic resin, and silica as a filler. A resin composition for buildup has been proposed (Patent Document 1).
JP 2001-72833 A

上記のビルドアップ用樹脂組成物は耐熱性に優れるものの、それから得られるフィルム状硬化物は誘電損失が十分小さくないという問題があった。本発明の目的は、耐熱性に優れ、かつ誘電損失が小さいフィルム状硬化物の製造に適したビルドアップ用樹脂組成物およびその用途を提供することにある。   Although the above resin composition for buildup is excellent in heat resistance, the film-like cured product obtained therefrom has a problem that the dielectric loss is not sufficiently small. The objective of this invention is providing the resin composition for buildups suitable for manufacture of the film-like hardened | cured material which is excellent in heat resistance and has a small dielectric loss, and its use.

本発明は、(A)エポキシ樹脂、(B)エポキシ樹脂硬化剤、(C)熱可塑性樹脂および(D)充填材を含み、かつエポキシ樹脂硬化剤(B)が、下記式(1)で表されるものであるビルドアップ用樹脂組成物にかかるものであり、また本発明は、該ビルドアップ用樹脂組成物および有機溶剤からなるワニス、該ワニスを用いて得られるビルドアップ用フィルム、該ワニスを用いて得られる樹脂付き銅箔、ならびに該ビルドアップ用樹脂組成物の硬化物の層を有するプリント配線基板にかかるものである。

Figure 2006089595
(式中、tは1または2を表し、rは1〜15の平均繰り返し数を表す。複数のBはそれぞれ同一であっても異なっていてもよく、炭化水素置換もしくは未置換のベンゼン環またはナフタレン環を表す。R10〜R13はそれぞれ同一であっても異なっていてもよく、水素原子、炭素数1〜10のアルキル基、炭素数7〜20のアラルキル基または炭素数6〜20のアリール基を表し、R10〜R13がそれぞれ複数存在する場合のそれらそれぞれは同一であっても異なっていてもよい。) The present invention includes (A) an epoxy resin, (B) an epoxy resin curing agent, (C) a thermoplastic resin, and (D) a filler, and the epoxy resin curing agent (B) is represented by the following formula (1). The present invention relates to a buildup resin composition, and the present invention relates to a varnish comprising the buildup resin composition and an organic solvent, a buildup film obtained using the varnish, and the varnish. And a printed wiring board having a layer of a cured product of the resin composition for build-up obtained by using the resin composition for build-up.
Figure 2006089595
(In the formula, t represents 1 or 2, r represents an average number of repetitions of 1 to 15. A plurality of B may be the same or different, and each may be a hydrocarbon-substituted or unsubstituted benzene ring or R 10 to R 13 may be the same or different and each represents a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, an aralkyl group having 7 to 20 carbon atoms, or an alkyl group having 6 to 20 carbon atoms. Represents an aryl group, and when there are a plurality of R 10 to R 13 , each may be the same or different.)

本発明によれば、耐熱性に優れ、かつ誘電損失の小さいフィルム状硬化物の製造に適したビルドアップ用樹脂組成物およびその用途が提供される。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the resin composition for buildups which are excellent in heat resistance, and suitable for manufacture of a film-like hardened | cured material with a small dielectric loss, and its use are provided.

本発明に用いられる(A)成分のエポキシ樹脂は、例えば、具体的にはフェノールノボラック型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、ビフェニルノボラック型エポキシ樹脂等のノボラック系樹脂類、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂等のビスフェノール系エポキシ樹脂類、トリスヒドロキシフェニルメタン系エポキシ樹脂類、テトラフェニルエタン系エポキシ樹脂類、アラルキル芳香族系エポキシ樹脂類、ジシクロペンタジエンフェノール系エポキシ樹脂類、芳香族ビスフェノール化合物および/またはポリフェノール化合物の水素添加化合物のエポキシ樹脂類、シクロヘキセンオキシド等の脂環式エポキシ樹脂類、グリシジルアミン型エポキシ樹脂等の各種誘導体類等があげられる。エポキシ樹脂は一種もしくは二種以上を用いることができる。
本発明の(A)成分であるエポキシ樹脂としては、高耐熱性および低誘電損失の面からトリスヒドロキシフェニルメタン系エポキシ樹脂類、ビスフェノール系樹脂類、およびアラルキル芳香族系エポキシ樹脂類よりなる群から選ばれる1種以上が好ましい。
Examples of the epoxy resin of component (A) used in the present invention include, for example, phenol novolac epoxy resins, cresol novolac epoxy resins, novolak resins such as biphenyl novolac epoxy resins, bisphenol A epoxy resins, Bisphenol F type epoxy resin, bisphenol S type epoxy resin, bisphenol type epoxy resin such as biphenyl type epoxy resin, trishydroxyphenylmethane type epoxy resin, tetraphenylethane type epoxy resin, aralkyl aromatic type epoxy resin, di Cyclopentadiene phenolic epoxy resins, aromatic bisphenol compounds and / or polyphenolic compound hydrogenated epoxy resins, cyclohexene oxide and other cycloaliphatic epoxy resins, Triethanolamine epoxy various derivatives such as resins. One or two or more epoxy resins can be used.
The epoxy resin which is the component (A) of the present invention is selected from the group consisting of trishydroxyphenylmethane-based epoxy resins, bisphenol-based resins, and aralkyl aromatic epoxy resins in terms of high heat resistance and low dielectric loss. One or more selected are preferable.

上記のトリスヒドロキシフェニルメタン系エポキシ樹脂類の具体例としては、例えば、下記式(2)で示されるエポキシ樹脂を挙げることができる。   Specific examples of the trishydroxyphenylmethane-based epoxy resins include an epoxy resin represented by the following formula (2).

Figure 2006089595
(式中、nは1〜10の平均繰り返し数を表す。複数あるiはそれぞれ同一であっても異なっていてもよく、1〜4の整数値を示す。複数あるR1はそれぞれ同一であっても異なってもよく、炭素数1〜10のアルキル基、炭素数7〜20のアラルキル基または炭素数6〜20のアリール基を表し、iが2以上の場合、同一環上の複数のR1はそれぞれ同一であっても異なっていてもよい。Glyはグリシジル基を示す。)
Figure 2006089595
(In the formula, n represents an average number of repetitions of 1 to 10. Plural i's may be the same or different, and each represents an integer value of 1 to 4. Plural R 1 s are the same. Or an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, an aralkyl group having 7 to 20 carbon atoms or an aryl group having 6 to 20 carbon atoms, and when i is 2 or more, a plurality of Rs on the same ring 1 may be the same or different, and Gly represents a glycidyl group.

上記R1におけるアルキル基の炭素数は1〜4が好ましく、アラルキル基の炭素数は7〜10が好ましく、アリール基の炭素数は6〜10が好ましい。 The alkyl group in R 1 preferably has 1 to 4 carbon atoms, the aralkyl group preferably has 7 to 10 carbon atoms, and the aryl group preferably has 6 to 10 carbon atoms.

上記のアルキル基としては、例えば、メチル基、エチル基、n−プロピル基、iso−プロピル基、n−ブチル基、iso−ブチル基、tert−ブチル基、n−ペンチル基、iso−ペンチル基、tert−ペンチル基、n−ヘキシル基、iso−ヘキシル基、tert−ヘキシル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基等の直鎖、分岐鎖、脂環式のアルキル基を挙げることができる。アラルキル基としては、例えば、フェニルメチル基、フェニルエチル基、フェニルプロピル基、ジフェニルメチル基等を挙げることができる。アリール基としては、例えば、フェニル基、ナフチル基、ビフェニル基等が挙げられる。これらのアラルキル基やアリール基にはメチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基等の置換基が存在しても良い。   Examples of the alkyl group include methyl group, ethyl group, n-propyl group, iso-propyl group, n-butyl group, iso-butyl group, tert-butyl group, n-pentyl group, iso-pentyl group, Examples thereof include linear, branched, and alicyclic alkyl groups such as a tert-pentyl group, an n-hexyl group, an iso-hexyl group, a tert-hexyl group, a cyclopentyl group, and a cyclohexyl group. Examples of the aralkyl group include a phenylmethyl group, a phenylethyl group, a phenylpropyl group, and a diphenylmethyl group. Examples of the aryl group include a phenyl group, a naphthyl group, and a biphenyl group. These aralkyl groups and aryl groups may have a substituent such as a methyl group, an ethyl group, a propyl group, or a butyl group.

1は、水素原子、メチル基およびtert−ブチル基からなる群より選ばれるものであれば好ましい。一般式(2)で表されるエポキシ樹脂の軟化点は、導体回路に対する埋め込み性確保、ガラス転移温度低下防止という観点から、軟化点が40〜100℃であることが好ましく、更に好ましくは50〜90℃である。 R 1 is preferably selected from the group consisting of a hydrogen atom, a methyl group and a tert-butyl group. The softening point of the epoxy resin represented by the general formula (2) is preferably 40 to 100 ° C., more preferably 50 to 50 ° C., from the viewpoint of ensuring embeddability in a conductor circuit and preventing the glass transition temperature from decreasing. 90 ° C.

また、上記のビスフェノール系樹脂類の具体例としては、例えば、下記式(3)で示されるエポキシ樹脂を挙げることができる。   Moreover, as a specific example of said bisphenol-type resin, the epoxy resin shown by following formula (3) can be mentioned, for example.

Figure 2006089595
(式中、qは0〜15の平均繰り返し数を表す。R6〜R9はそれぞれ同一であっても異なっていてもよく、水素原子、炭素数1〜10のアルキル基、炭素数7〜20のアラルキル基または炭素数6〜20のアリール基を表し、R6〜R9がそれぞれ複数存在する場合のそれらそれぞれは同一であっても異なっていてもよい。Xは単結合を表すか、炭素数1〜10のアルキレン基、炭素数6〜20のアリーレン基および炭素数5〜7のシクロアルキレン基からなる群から選ばれる一種の基または二種以上組み合わせてなる基を表す。Glyはグリシジル基を示す。)
Figure 2006089595
(In the formula, q represents an average number of repetitions of 0 to 15. R 6 to R 9 may be the same or different, and each represents a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, or 7 to 7 carbon atoms. 20 represents an aralkyl group or an aryl group having 6 to 20 carbon atoms, and when there are a plurality of R 6 to R 9 , they may be the same or different, and X represents a single bond, 1 type of group selected from the group which consists of a C1-C10 alkylene group, a C6-C20 arylene group, and a C5-C7 cycloalkylene group, or the group formed by combining 2 or more types, Gly represents glycidyl. Group.)

上記R6〜R9におけるアルキル基の炭素数は1〜4が好ましく、アラルキル基の炭素数は7〜10が好ましく、アリール基の炭素数は6〜10が好ましい。上記Xにおけるアルキレン基の炭素数は1〜4が好ましく、アリーレン基の炭素数は6〜10が好ましく、シクロアルキレン基の炭素数は5〜6が好ましい。 The alkyl group in R 6 to R 9 preferably has 1 to 4 carbon atoms, the aralkyl group preferably has 7 to 10 carbon atoms, and the aryl group preferably has 6 to 10 carbon atoms. 1-4 are preferable, as for carbon number of the alkylene group in said X, 6-10 are preferable, as for carbon number of an arylene group, and carbon number of a cycloalkylene group is 5-6.

上記のアルキル基としては、例えば、メチル基、エチル基、n−プロピル基、iso−プロピル基、n−ブチル基、iso−ブチル基、tert−ブチル基、n−ペンチル基、iso−ペンチル基、tert−ペンチル基、n−ヘキシル基、iso−ヘキシル基、tert−ヘキシル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基等の直鎖、分岐鎖、脂環式のアルキル基を挙げることができる。アラルキル基としては、例えば、フェニルメチル基、フェニルエチル基、フェニルプロピル基、ジフェニルメチル基等を挙げることができる。アリール基としては、例えば、フェニル基、ナフチル基、ビフェニル基等が挙げられる。これらのアラルキル基やアリール基にはメチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基等の置換基が存在しても良い。
アルキレン基としては、例えば、メチレン、ジメチレン、イソプロピリデン基等の直鎖、分岐鎖の炭化水素基を挙げることができる。アリーレン基としては、例えば、フェニレン基、ナフチレン基、ビフェニレン基等が挙げられる。これらのアリーレン基にはメチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基等の置換基が存在しても良い。シクロアルキレン基としては、例えば、シクロペンチレン基、シクロヘキシレン基等を挙げることができる。アルキレン基、アリーレン基およびシクロアルキレン基からなる群から二種以上組み合わせてなる基としては、アルキレン基−アリーレン基、アルキレン基−シクロアルキレン基、アルキレン基−アリーレン基−アルキレン基、アルキレン基−シクロアルキレン基−アルキレン基といった基が挙げられる。
Examples of the alkyl group include methyl group, ethyl group, n-propyl group, iso-propyl group, n-butyl group, iso-butyl group, tert-butyl group, n-pentyl group, iso-pentyl group, Examples thereof include linear, branched, and alicyclic alkyl groups such as a tert-pentyl group, an n-hexyl group, an iso-hexyl group, a tert-hexyl group, a cyclopentyl group, and a cyclohexyl group. Examples of the aralkyl group include a phenylmethyl group, a phenylethyl group, a phenylpropyl group, and a diphenylmethyl group. Examples of the aryl group include a phenyl group, a naphthyl group, and a biphenyl group. These aralkyl groups and aryl groups may have a substituent such as a methyl group, an ethyl group, a propyl group, or a butyl group.
Examples of the alkylene group include linear and branched hydrocarbon groups such as methylene, dimethylene and isopropylidene groups. Examples of the arylene group include a phenylene group, a naphthylene group, and a biphenylene group. These arylene groups may have a substituent such as a methyl group, an ethyl group, a propyl group, or a butyl group. Examples of the cycloalkylene group include a cyclopentylene group and a cyclohexylene group. The group formed by combining two or more kinds from the group consisting of an alkylene group, an arylene group and a cycloalkylene group includes an alkylene group-arylene group, an alkylene group-cycloalkylene group, an alkylene group-arylene group-alkylene group, and an alkylene group-cycloalkylene. Examples include groups such as a group-alkylene group.

6〜R9は、それぞれ独立に水素原子またはメチル基であれば好ましい。またXは、単結合、メチレン基またはイソプロピリデン基が好ましい。式(3)で表されるエポキシ樹脂の平均繰返し数qは、導体回路に対する埋め込み性確保という観点から、q=0〜8であることが好ましく、更に好ましくはq=0〜4である。 R 6 to R 9 are preferably each independently a hydrogen atom or a methyl group. X is preferably a single bond, a methylene group or an isopropylidene group. The average number of repetitions q of the epoxy resin represented by the formula (3) is preferably q = 0 to 8 and more preferably q = 0 to 4 from the viewpoint of ensuring embeddability in the conductor circuit.

また、上記のアラルキル芳香族系エポキシ樹脂類の具体例としては、例えば、下記式(4)で示されるエポキシ樹脂を挙げることができる。   Moreover, as a specific example of said aralkyl aromatic epoxy resin, the epoxy resin shown by following formula (4) can be mentioned, for example.

Figure 2006089595
(式中、pは1または2を表し、mは1〜15の平均繰り返し数を表す。複数のAはそれぞれ同一であっても異なっていてもよく、炭化水素置換もしくは未置換のベンゼン環またはナフタレン環を表す。R2〜R5はそれぞれ同一であっても異なっていてもよく、水素原子、炭素数1〜10のアルキル基、炭素数6〜20のアラルキル基または炭素数6〜20のアリール基を表し、R2〜R5がそれぞれ複数存在する場合のそれらそれぞれは同一であっても異なっていてもよい。Glyはグリシジル基を表す。)
Figure 2006089595
(In the formula, p represents 1 or 2, m represents an average number of repetitions of 1 to 15. A plurality of A may be the same or different, and each may be a hydrocarbon-substituted or unsubstituted benzene ring or R 2 to R 5 may be the same or different and each represents a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, an aralkyl group having 6 to 20 carbon atoms, or an alkyl group having 6 to 20 carbon atoms. Represents an aryl group, and when there are a plurality of R 2 to R 5 , they may be the same or different, and Gly represents a glycidyl group.)

上記R2〜R5におけるアルキル基の炭素数は1〜4が好ましく、アラルキル基の炭素数は7〜10が好ましく、アリール基の炭素数は6〜10が好ましい。 1-4 are preferable, as for carbon number of the alkyl group in said R < 2 > -R < 5 >, 7-10 are preferable and, as for carbon number of an aryl group, 6-10 are preferable.

上記のアルキル基としては、例えば、メチル基、エチル基、n−プロピル基、iso−プロピル基、n−ブチル基、iso−ブチル基、tert−ブチル基、n−ペンチル基、iso−ペンチル基、tert−ペンチル基、n−ヘキシル基、iso−ヘキシル基、tert−ヘキシル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基等の直鎖、分岐鎖、脂環式のアルキル基を挙げることができる。アラルキル基としては、例えば、フェニルメチル基、フェニルエチル基、フェニルプロピル基、ジフェニルメチル基等を挙げることができる。アリール基としては、例えば、フェニル基、ナフチル基、ビフェニル基等が挙げられる。これらのアラルキル基やアリール基にはメチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基等の置換基が存在しても良い。   Examples of the alkyl group include methyl group, ethyl group, n-propyl group, iso-propyl group, n-butyl group, iso-butyl group, tert-butyl group, n-pentyl group, iso-pentyl group, Examples thereof include linear, branched, and alicyclic alkyl groups such as a tert-pentyl group, an n-hexyl group, an iso-hexyl group, a tert-hexyl group, a cyclopentyl group, and a cyclohexyl group. Examples of the aralkyl group include a phenylmethyl group, a phenylethyl group, a phenylpropyl group, and a diphenylmethyl group. Examples of the aryl group include a phenyl group, a naphthyl group, and a biphenyl group. These aralkyl groups and aryl groups may have a substituent such as a methyl group, an ethyl group, a propyl group, or a butyl group.

複数のAはそれぞれ独立に、無置換のベンゼン環または無置換のナフタレン環が好ましく、特に好ましくは無置換のベンゼン環である。R2〜R5は、それぞれ独立に水素原子またはメチル基が好ましい。式(4)で表されるエポキシ樹脂の平均繰返し数mは、導体回路に対する埋め込み性確保という観点から、m=1〜8であることが好ましく、更に好ましくはm=1〜4である。 The plurality of A are each independently preferably an unsubstituted benzene ring or an unsubstituted naphthalene ring, and particularly preferably an unsubstituted benzene ring. R 2 to R 5 are each independently preferably a hydrogen atom or a methyl group. The average number of repetitions m of the epoxy resin represented by the formula (4) is preferably m = 1 to 8, and more preferably m = 1 to 4, from the viewpoint of ensuring embedding property to the conductor circuit.

本発明に用いられる(A)成分であるエポキシ樹脂の配合割合は、本発明の目的を達成するものであれば特に限定されないが、樹脂フィルム用樹脂成分に対して、通常1重量%以上、好ましくは、他の配合成分との関係に応じて1〜80重量%の範囲から適宜選択することができる。   The blending ratio of the epoxy resin which is the component (A) used in the present invention is not particularly limited as long as the object of the present invention is achieved, but is usually 1% by weight or more, preferably with respect to the resin component for resin film. Can be appropriately selected from the range of 1 to 80% by weight depending on the relationship with other compounding components.

本発明に用いられるエポキシ樹脂硬化剤(B)は下記式(1)で表されるものである。

Figure 2006089595
(式中、tは1または2を表し、rは1〜15の平均繰り返し数を表す。複数のBはそれぞれ同一であっても異なっていてもよく、炭化水素置換もしくは未置換のベンゼン環またはナフタレン環を表す。R10〜R13はそれぞれ同一であっても異なっていてもよく、水素原子、炭素数1〜10のアルキル基、炭素数7〜20のアラルキル基または炭素数6〜20のアリール基を表し、R10〜R13がそれぞれ複数存在する場合のそれらそれぞれは同一であっても異なっていてもよい。) The epoxy resin curing agent (B) used in the present invention is represented by the following formula (1).
Figure 2006089595
(In the formula, t represents 1 or 2, r represents an average number of repetitions of 1 to 15. A plurality of B may be the same or different, and each may be a hydrocarbon-substituted or unsubstituted benzene ring or R 10 to R 13 may be the same or different and each represents a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, an aralkyl group having 7 to 20 carbon atoms, or an alkyl group having 6 to 20 carbon atoms. Represents an aryl group, and when there are a plurality of R 10 to R 13 , each may be the same or different.)

上記R10〜R13におけるアルキル基の炭素数は1〜4が好ましく、アラルキル基の炭素数は7〜10が好ましく、アリール基の炭素数は6〜10が好ましい。 The carbon number of the alkyl group in R 10 to R 13 is preferably 1 to 4, the carbon number of the aralkyl group is preferably 7 to 10, and the carbon number of the aryl group is preferably 6 to 10.

上記のアルキル基としては、例えば、メチル基、エチル基、n−プロピル基、iso−プロピル基、n−ブチル基、iso−ブチル基、tert−ブチル基、n−ペンチル基、iso−ペンチル基、tert−ペンチル基、n−ヘキシル基、iso−ヘキシル基、tert−ヘキシル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基等の直鎖、分岐鎖、脂環式のアルキル基を挙げることができる。アラルキル基としては、例えば、フェニルメチル基、フェニルエチル基、フェニルプロピル基、ジフェニルメチル基等を挙げることができる。アリール基としては、例えば、フェニル基、ナフチル基、ビフェニル基等が挙げられる。これらのアラルキル基やアリール基にはメチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基等の置換基が存在しても良い。   Examples of the alkyl group include methyl group, ethyl group, n-propyl group, iso-propyl group, n-butyl group, iso-butyl group, tert-butyl group, n-pentyl group, iso-pentyl group, Examples thereof include linear, branched, and alicyclic alkyl groups such as a tert-pentyl group, an n-hexyl group, an iso-hexyl group, a tert-hexyl group, a cyclopentyl group, and a cyclohexyl group. Examples of the aralkyl group include a phenylmethyl group, a phenylethyl group, a phenylpropyl group, and a diphenylmethyl group. Examples of the aryl group include a phenyl group, a naphthyl group, and a biphenyl group. These aralkyl groups and aryl groups may have a substituent such as a methyl group, an ethyl group, a propyl group, or a butyl group.

複数のBはそれぞれ独立に、無置換のベンゼン環または無置換のナフタレン環が好ましく、特に好ましくは無置換のベンゼン環である。R10〜R13は、それぞれ独立に水素原子またはメチル基が好ましい。 The plurality of B are each independently preferably an unsubstituted benzene ring or an unsubstituted naphthalene ring, and particularly preferably an unsubstituted benzene ring. R 10 to R 13 are preferably each independently a hydrogen atom or a methyl group.

本発明で用いられるエポキシ樹脂硬化剤(B)としては下記式(5)で表されるフェノールビフェニルアラルキル型樹脂または式(6)で表されるフェノールフェニルアラルキル型樹脂がさらに好ましく、式(5)で表されるフェノールビフェニルアラルキル型樹脂が特に好ましい。

Figure 2006089595
(sはそれぞれ独立に1〜15の平均繰り返し単位を表す。)
式(5)で表される硬化剤の軟化点は、導体回路に対する埋め込み性確保、ガラス転移温度低下防止という観点から、軟化点が60〜120℃であることが好ましく、更に好ましくは75〜110℃である。 The epoxy resin curing agent (B) used in the present invention is more preferably a phenol biphenyl aralkyl type resin represented by the following formula (5) or a phenol phenyl aralkyl type resin represented by the formula (6), A phenol biphenyl aralkyl type resin represented by the formula is particularly preferred.
Figure 2006089595
(S each independently represents an average repeating unit of 1 to 15)
The softening point of the curing agent represented by the formula (5) is preferably 60 to 120 ° C., more preferably 75 to 110, from the viewpoints of ensuring embeddability in a conductor circuit and preventing a decrease in glass transition temperature. ° C.

エポキシ樹脂硬化剤(B)の配合割合は、エポキシ樹脂との組み合せで任意の割合で使用することができるが、通常はガラス転移温度が高くなるようにその配合比が決定され、エポキシ樹脂(A)のエポキシ当量とエポキシ樹脂硬化剤(B)の水酸基当量が1:1になるように配合するのが好ましい。   The blending ratio of the epoxy resin curing agent (B) can be used in any ratio in combination with the epoxy resin, but the blending ratio is usually determined so that the glass transition temperature becomes high, and the epoxy resin (A ) And the epoxy resin curing agent (B) preferably have a hydroxyl group equivalent of 1: 1.

本発明に用いられる(C)成分である熱可塑性樹脂の例としては、例えば、ポリフェニレンエーテル、ポリスチレン、ポリカーボネート等のエンジニアプラスチック類、ポリエーテルスルホン、ポリスルホン、ポリエーテルイミド、ポリイミド等のスーパーエンジニアプラスチック類、ポリエチレン、ポリブタジエン等のポリオレフィン類、ポリアクリレート、ポリメタクリレート等のポリアクリレート類、末端アミンおよび末端カルボキシル基変性ポリブタジエン−アクリロニトリルゴムおよびそれらの変性物等のゴム類等が挙げられる。この中でも強靭性や難燃性の観点からポリエーテルスルホンがさらに好ましい。   Examples of the thermoplastic resin which is the component (C) used in the present invention include engineer plastics such as polyphenylene ether, polystyrene and polycarbonate, and super engineer plastics such as polyethersulfone, polysulfone, polyetherimide and polyimide. And polyolefins such as polyethylene and polybutadiene, polyacrylates such as polyacrylate and polymethacrylate, rubbers such as terminal amine and terminal carboxyl group-modified polybutadiene-acrylonitrile rubbers and modified products thereof. Among these, polyethersulfone is more preferable from the viewpoint of toughness and flame retardancy.

上記のポリエーテルスルホンは、分子末端がハロゲン原子、アルコキシ基、フェノール性水酸基である公知のポリエーテルスルホンを用いることができる。中でも(A)成分との相溶性や反応性、そして硬化物の耐溶剤性の観点から両末端の両方がフェノール性水酸基であるポリエーテルスルホンが特に好ましい。   As the polyether sulfone, known polyether sulfones whose molecular ends are halogen atoms, alkoxy groups, and phenolic hydroxyl groups can be used. Among these, polyethersulfone having both phenolic hydroxyl groups at both ends is particularly preferred from the viewpoints of compatibility with the component (A), reactivity, and solvent resistance of the cured product.

ポリエーテルスルホンの使用量は、通常、本発明の樹脂組成物全体に対して、10〜70重量%である。この使用量が少なすぎると、硬化物の靭性が低下する恐れがあり、多すぎると、組成物の加工性が低下したり、硬化物の吸水率が上昇する恐れがある。   The usage-amount of polyethersulfone is 10-70 weight% normally with respect to the whole resin composition of this invention. If the amount used is too small, the toughness of the cured product may be reduced. If the amount is too large, the processability of the composition may be reduced or the water absorption rate of the cured product may be increased.

ポリエーテルスルホンの製造方法としては、公知の方法を採用することができ、また、市販品の例としては、住友化学工業製、商品名:スミカエクセル、アモコ社製、商品名:REDEL、等が挙げられる。   As a method for producing polyethersulfone, a known method can be adopted, and examples of commercially available products include Sumitomo Chemical Co., Ltd., trade name: Sumika Excel, Amoco, trade name: REDEL, etc. Can be mentioned.

本発明に用いられる(D)成分である充填材の例としては、例えば、有機フィラーや無機フィラー等が挙げられる。有機フィラーとしては、例えばエポキシ樹脂粉末、メラミン樹脂粉末、尿素樹脂粉末、グアナミン樹脂粉末、ポリエステル樹脂粉末等の樹脂粉末類を挙げることができる。また、無機フィラーとしては、例えば、シリカ、アルミナ、酸化チタン等の無機粉末類を挙げることができる。この中でも特に熱膨張率を低下させるためには無機フィラーが好ましく、無機フィラーの中でも誘電特性の観点からシリカが特に好ましい。   As an example of the filler which is (D) component used for this invention, an organic filler, an inorganic filler, etc. are mentioned, for example. Examples of the organic filler include resin powders such as epoxy resin powder, melamine resin powder, urea resin powder, guanamine resin powder, and polyester resin powder. Moreover, as an inorganic filler, inorganic powders, such as a silica, an alumina, a titanium oxide, can be mentioned, for example. Among these, an inorganic filler is preferable for reducing the thermal expansion coefficient, and silica is particularly preferable among the inorganic fillers from the viewpoint of dielectric properties.

本発明に用いられる(D)充填材は、通常はその最大粒径が0.1〜20μmの範囲内のものであるが、0.1〜5μmの範囲内であれば好ましく、さらに0.1〜1μmの範囲内のものであればなお好ましい。   The filler (D) used in the present invention usually has a maximum particle size in the range of 0.1 to 20 μm, but is preferably in the range of 0.1 to 5 μm, and more preferably 0.1 It is still more preferable if it is in the range of ˜1 μm.

無機フィラーの含有割合は、通常、樹脂組成物全体に対して10〜80重量%である。この含有割合が少ないと、硬化物の低吸水性や低熱膨張率の効果が小さくなることがあり、一方、多いと、レーザー加工性が低下することがある。また、一般的なガラスクロス基材積層板と同等の低熱膨張率を達成するためには、シリカの場合、通常50重量%以上、好ましくは70重量%以上である。   The content rate of an inorganic filler is 10-80 weight% normally with respect to the whole resin composition. If this content is small, the effect of low water absorption and low coefficient of thermal expansion of the cured product may be reduced. On the other hand, if it is high, laser processability may be reduced. Further, in order to achieve a low thermal expansion coefficient equivalent to that of a general glass cloth base laminate, in the case of silica, it is usually 50% by weight or more, preferably 70% by weight or more.

また、本発明のビルドアップ用樹脂組成物には硬化触媒を配合することができる。この様な硬化触媒としては、具体的には、例えばトリフェニルホスフィン、トリ−4−メチルフェニルホスフィン、トリ−4−メトキシフェニルホスフィン、トリブチルホスフィン、トリオクチルホスフィン、トリ−2−シアノエチルホスフィン等の有機ホスフィン化合物類およびこれらのテトラフェニルボレート塩類、トリブチルアミン、トリエチルアミン、1,8−ジアザビシクロ(5,4,0)ウンデセン−7、トリアミルアミン等のアミン類、塩化ベンジルトリメチルアンモニウム、水酸化ベンジルトリメチルアンモニウム、トリエチルアンモニウムテトラフェニルボレート等の四級アンモニウム塩類、2−エチルイミダゾール、2−エチル−4−メチルイミダゾール等のイミダゾール類等が挙げられる。硬化触媒はこれらの例示に限定されるものではないが、本発明では有機ホスフィン化合物やイミダゾール類の使用が特に好ましい。
硬化触媒の配合割合は、所望のゲルタイムが得られるように任意の割合で増減することができる。通常、組成物のゲルタイムが80℃〜250℃の温度範囲で1分〜15分となるように配合するのが好ましく、本発明の樹脂組成物の成分(A)、成分(B)、成分(C)の合計量に対して通常0.01〜1重量%、好ましくは0.05〜0.5重量%である。
Moreover, a curing catalyst can be mix | blended with the resin composition for buildups of this invention. Specific examples of such a curing catalyst include organic compounds such as triphenylphosphine, tri-4-methylphenylphosphine, tri-4-methoxyphenylphosphine, tributylphosphine, trioctylphosphine, and tri-2-cyanoethylphosphine. Phosphine compounds and tetraphenylborate salts thereof, tributylamine, triethylamine, amines such as 1,8-diazabicyclo (5,4,0) undecene-7, triamylamine, benzyltrimethylammonium chloride, benzyltrimethylammonium hydroxide And quaternary ammonium salts such as triethylammonium tetraphenylborate and imidazoles such as 2-ethylimidazole and 2-ethyl-4-methylimidazole. The curing catalyst is not limited to these examples, but in the present invention, use of an organic phosphine compound or imidazoles is particularly preferable.
The blending ratio of the curing catalyst can be increased or decreased at an arbitrary ratio so that a desired gel time can be obtained. Usually, it is preferable to mix the composition so that the gel time of the composition is 1 minute to 15 minutes in the temperature range of 80 ° C. to 250 ° C., and the component (A), component (B), component ( It is usually 0.01 to 1% by weight, preferably 0.05 to 0.5% by weight, based on the total amount of C).

本発明の樹脂組成物には、本発明の目的を損なわない範囲でエポキシ樹脂成分以外の熱硬化性樹脂を含有させてもよい。例えば、ビスフェノールAのシアネート等のシアネート樹脂類、ジアミノジフェニルメタンビスマレイミド等のビスマレイミド類、ジアミノジフェニルメタン等のジアミン類、ビスマレイミド類とジアミン類との付加重合物類、ビスフェノールAのビスビニルベンジルエーテル化物、ビスフェノールAのジプロパギルエーテル化物等のアルキニルエーテル類、レゾール樹脂類、ビニル基含有ポリオレフィン化合物等のポリオレフィン類等が挙げられるが、これらに限定されるものではない。   You may make the resin composition of this invention contain thermosetting resins other than an epoxy resin component in the range which does not impair the objective of this invention. For example, cyanate resins such as cyanate of bisphenol A, bismaleimides such as diaminodiphenylmethane bismaleimide, diamines such as diaminodiphenylmethane, addition polymers of bismaleimides and diamines, bisvinylbenzyl etherified products of bisphenol A And alkynyl ethers such as dipropargyl etherified products of bisphenol A, polyolefins such as resol resins, vinyl group-containing polyolefin compounds, and the like, but are not limited thereto.

さらに、本発明のビルドアップ用樹脂組成物には、必要に応じて例えば、アクリレート類、メタクリレート類、スチレン類等を含有させることにより光硬化性を付与してもよい。   Furthermore, you may provide photocurability by making the resin composition for buildups of this invention contain acrylates, methacrylates, styrene, etc. as needed.

加えて、本発明のビルドアップ用樹脂組成物には、必要に応じて、ブロモ含有ポリカーボネート、ブロモ含有ポリフェニレンオキサイド、ブロモ含有ポリアクリレート、ブロモ含有ポリスチレン等の有機系難燃剤、三酸化アンチモン、水酸化アルミニウム、赤リン等の無機系難燃剤、ワックス類、ステアリン酸亜鉛等の離型剤、シランカップリング剤等の表面処理剤等を含有させてもよい。   In addition, the build-up resin composition of the present invention includes, as necessary, organic flame retardants such as bromo-containing polycarbonate, bromo-containing polyphenylene oxide, bromo-containing polyacrylate, and bromo-containing polystyrene, antimony trioxide, hydroxylated You may contain inorganic flame retardants, such as aluminum and red phosphorus, mold release agents, such as waxes and zinc stearate, surface treatment agents, such as a silane coupling agent.

本発明のビルドアップ用樹脂組成物は、その硬化物が耐熱性および低誘電損失性に優れることからビルドアップ工法用の絶縁材料に好適に用いられる。この様な絶縁材料としては、例えば、本発明のビルドアップ用樹脂組成物および有機溶剤とからなるワニス、このワニスを用いて得られるビルドアップ用フィルム、このワニスを用いて得られる樹脂付き銅箔等が挙げられる。   The resin composition for buildup of the present invention is suitably used as an insulating material for a buildup method because the cured product is excellent in heat resistance and low dielectric loss. As such an insulating material, for example, a varnish comprising the resin composition for build-up of the present invention and an organic solvent, a film for build-up obtained using this varnish, a copper foil with resin obtained using this varnish Etc.

上記のワニスは、本発明のビルドアップ用樹脂組成物を有機溶剤と混合することにより得られる。
有機溶剤としては、通常、γ−ブチロラクトン、ジメチルホルムアミド(DMF)、N−メチルピロリドン(NMP)、N,N−ジメチルアセトアミド(DMAc)等が用いられる。
Said varnish is obtained by mixing the resin composition for buildup of this invention with the organic solvent.
As the organic solvent, γ-butyrolactone, dimethylformamide (DMF), N-methylpyrrolidone (NMP), N, N-dimethylacetamide (DMAc) and the like are usually used.

また、上記のビルドアップ用フィルムは、ワニスをロールコーターやテーブルコーター等を使用してポリエチレンテレフタレート等のキャリアフィルム上に塗布し、有機溶剤を留去し、半硬化させることにより、キャリアフィルム付きビルドアップ用フィルムとして得られる。これからキャリアフィルムを剥がせばビルドアップ用フィルムが得られるが、キャリアフィルムが付いたまま、そのビルドアップ用フィルムの面を銅箔や、既に幾層か積層して回路を作製しつつあるビルドアッププリント配線板に宛てて圧着してからキャリアフィルムを剥がすといった使用法も可能である。
前記有機溶剤の留去、半硬化の条件は、使用するビルドアップ用樹脂組成物の各成分、溶媒の種類、使用量等に応じて適宜選択されるが、通常、60℃〜200℃、1分間〜30分間の範囲である。
In addition, the above build-up film is applied to a carrier film such as polyethylene terephthalate using a roll coater or table coater, and the organic solvent is distilled off and semi-cured to build the film with a carrier film. Obtained as an up film. If you peel off the carrier film from this, you can get a build-up film, but with the carrier film attached, the build-up film is already being laminated with copper foil or several layers to build a circuit. A method of use is also possible in which the carrier film is peeled off after being pressure-bonded to the printed wiring board.
The conditions for distilling off and semi-curing the organic solvent are appropriately selected according to the components of the build-up resin composition to be used, the type of solvent, the amount used, and the like. The range is from 30 minutes to 30 minutes.

また、先の樹脂付き銅箔は、ワニスを銅箔上にテーブルコーター等を利用して塗布し、薄膜化させ、有機溶剤を留去し、半硬化させて得られるし、また前記のように、キャリアフィルム付きビルドアップ用フィルムのビルドアップ用フィルムの面を銅箔に宛てて圧着してからキャリアフィルムを剥がすといった方法でも得られる。
有機溶剤の留去、半硬化の条件は、使用するビルドアップ用樹脂組成物の各成分や溶媒の種類や使用量に応じて適宜選択されるが、通常、60℃〜200℃、1分間〜30分間の範囲である。
Also, the copper foil with resin is obtained by applying varnish on the copper foil using a table coater, etc., thinning it, distilling off the organic solvent, and semi-curing, as described above. It can also be obtained by a method in which the surface of the build-up film of the build-up film with a carrier film is pressed against the copper foil and then the carrier film is peeled off.
The conditions for distilling off the organic solvent and semi-curing are appropriately selected according to the components of the build-up resin composition to be used, the type of solvent and the amount used, but usually from 60 ° C to 200 ° C for 1 minute. The range is 30 minutes.

ビルドアッププリント配線板の絶縁層は、上記のビルドアップ用フィルムや樹脂付き銅箔の樹脂を加熱硬化させることにより得られる。加熱硬化させる際の条件は、通常、60℃〜200℃、30分間〜5時間の範囲である。   The insulating layer of the build-up printed wiring board can be obtained by heat-curing the above-described film for build-up or a resin-coated copper foil. The conditions for heat-curing are usually in the range of 60 ° C to 200 ° C for 30 minutes to 5 hours.

次に上記のビルドアップ用フィルム、樹脂付き銅箔等を用いてビルドアッププリント配線板を製造する方法について説明する。ビルドアッププリント配線板を製造する方法は、例えば次の方法がある。   Next, a method for producing a build-up printed wiring board using the above-described film for build-up, copper foil with resin, etc. will be described. As a method for manufacturing the build-up printed wiring board, for example, there are the following methods.

(i)ビルドアップ用フィルムをコア基板に貼合し、加熱硬化させてビルドアッププリント配線板の絶縁層を形成する。この後、レーザー加工、メッキプロセス等を経てバイア形成、配線層形成を行なってから、再度配線層上にビルドアップ用フィルムを貼合し、加熱硬化させる工程を繰り返すことにより、ビルドアッププリント配線板を製造する方法。
なおビルドアップ用フィルムをコア基板に貼合する条件は、0.1〜5hPaの減圧下、80〜150℃で0.05〜0.5MPa、10秒間〜2分間、真空ラミネートし、引き続き、常圧に戻して80〜150℃で0.5〜2MPa、20秒間〜2分間、加圧し平坦化する。その後、熱風オーブン中、100〜200℃、30分間〜5時間硬化させるのが通常である。
(I) A build-up film is bonded to the core substrate, and is heat-cured to form an insulating layer of the build-up printed wiring board. After this, via formation, wiring layer formation through laser processing, plating process, etc., then build-up printed wiring board is repeated by pasting build-up film on wiring layer again and heat curing How to manufacture.
The condition for laminating the build-up film to the core substrate was as follows: vacuum lamination at 0.05 to 0.5 MPa for 10 seconds to 2 minutes at 80 to 150 ° C. under reduced pressure of 0.1 to 5 hPa, and The pressure is returned to 0.5 to 2 MPa for 20 seconds to 2 minutes at 80 to 150 ° C. and flattened. Thereafter, it is usually cured in a hot air oven at 100 to 200 ° C. for 30 minutes to 5 hours.

(ii)コア基板上にワニスをロールコーターやテーブルコーター等を使用して塗布し、溶媒を留去した後、加熱硬化させ絶縁層を形成する。この後、レーザー加工、メッキプロセスを経てバイア形成、配線層形成を行なってから、配線層上にワニスを塗布し、加熱硬化させる工程を繰り返すことにより、ビルドアッププリント配線板を製造する方法。 (Ii) A varnish is applied onto the core substrate using a roll coater, a table coater or the like, the solvent is distilled off, and then heat-cured to form an insulating layer. After that, after forming vias and wiring layers through laser processing and plating processes, a method of manufacturing a build-up printed wiring board by repeating the steps of applying varnish on the wiring layers and heating and curing.

(iii)コア基板上に樹脂付き銅箔を真空ラミネーターあるいは真空プレスで貼合し、引き続き加熱硬化した後、銅箔をエッチングして回路形成を行ない、続けて樹脂付き銅箔を貼合、加熱硬化する工程を繰り返すことにより、ビルドアッププリント配線板を製造する方法。
なお、樹脂付き銅箔をコア基板にプレス貼合および硬化する条件は、通常、1〜10kPaの減圧下、80〜250℃の範囲で選択される所定温度まで1〜5℃/分で昇温し、所定温度に到達した段階で、1MPa〜10MPaで加圧成型する。引き続き、減圧および加圧下に20分間〜300分間硬化させるのが通常である。
(Iii) A resin-coated copper foil is bonded onto the core substrate with a vacuum laminator or a vacuum press, followed by heat-curing, then the copper foil is etched to form a circuit, and then the resin-coated copper foil is bonded and heated. A method of manufacturing a build-up printed wiring board by repeating the curing process.
In addition, the conditions for press-bonding and curing the copper foil with resin to the core substrate are usually 1 to 5 ° C./min up to a predetermined temperature selected in the range of 80 to 250 ° C. under reduced pressure of 1 to 10 kPa. Then, when it reaches the predetermined temperature, it is pressure molded at 1 MPa to 10 MPa. Subsequently, it is usually cured for 20 minutes to 300 minutes under reduced pressure and pressure.

上記の方法で得られるビルドアッププリント配線板用の絶縁層の厚みは通常、10〜300μmの範囲である。   The thickness of the insulating layer for build-up printed wiring boards obtained by the above method is usually in the range of 10 to 300 μm.

以下、実施例により本発明をさらに詳細に説明するが、本発明はこれらによって限定されるものではない。   EXAMPLES Hereinafter, although an Example demonstrates this invention further in detail, this invention is not limited by these.

実施例で使用した(A)〜(D)の各成分は次の通りである。
成分(A)エポキシ樹脂
A1:EPPN 502H
(日本化薬製 エポキシ樹脂、エポキシ当量=169g/eq、式(1)に該当)
A2:エポトート YD−128M
(東都化成製 エポキシ樹脂、エポキシ当量=185g/eq、式(2)に該当)
A3:エピクロン 830S
(大日本インキ化学工業製 エポキシ樹脂、エポキシ当量=170g/eq、式(2)に該当)
A4:NC−3000
(日本化薬製 エポキシ樹脂、エポキシ当量=275g/eq、式(3)に該当)
The components (A) to (D) used in the examples are as follows.
Component (A) Epoxy resin A1: EPPN 502H
(Nippon Kayaku Epoxy Resin, Epoxy Equivalent = 169 g / eq, corresponds to Formula (1))
A2: Epototo YD-128M
(Epoxy resin manufactured by Tohto Kasei, epoxy equivalent = 185 g / eq, corresponding to formula (2))
A3: Epicron 830S
(Epoxy resin manufactured by Dainippon Ink and Chemicals, Epoxy equivalent = 170 g / eq, corresponding to formula (2))
A4: NC-3000
(Nippon Kayaku epoxy resin, epoxy equivalent = 275 g / eq, corresponding to formula (3))

成分(B)フェノール樹脂系硬化剤
B1:フェノールビフェニルアラルキル型樹脂
(明和化成製 MEH7851−M、水酸基当量=209g/eq、式(5)に該当)
B2:フェノールビフェニルアラルキル型樹脂
(明和化成製 MEH7851−H、水酸基当量=216g/eq、式(5)に該当)
B3:フェノールビフェニルアラルキル型樹脂
(明和化成製 MEH7851−3H、水酸基当量=230g/eq、式(5)に該当)
B4:フェノールフェニルアラルキル型樹脂
(明和化成製 MEH7800−4S、水酸基当量=169g/eq、式(6)に該当)
B5:フェノールノボラック樹脂
(明和化成製 H−4、水酸基当量=105g/eq;下式に該当)

Figure 2006089595
B6:クレゾールノボラック樹脂
(大日本インキ化学工業製 KA−1160、水酸基当量=110g/eq;下式に該当)
Figure 2006089595
B7:液状ポリブタジエンのフェノール変性物
(新日本石油化学製 PP−700−300S、水酸基当量=317g/eq) Component (B) Phenol resin-based curing agent B1: Phenol biphenyl aralkyl type resin (Maywa Kasei MEH7851-M, hydroxyl equivalent = 209 g / eq, corresponding to formula (5))
B2: phenol biphenyl aralkyl type resin (MEH7851-H, manufactured by Meiwa Kasei Co., Ltd., hydroxyl equivalent = 216 g / eq, corresponding to formula (5))
B3: phenol biphenyl aralkyl type resin (MEH7851-3H manufactured by Meiwa Kasei Co., Ltd., hydroxyl equivalent = 230 g / eq, corresponding to formula (5))
B4: Phenolic phenylaralkyl type resin (Maywa Kasei MEH7800-4S, hydroxyl group equivalent = 169 g / eq, corresponding to formula (6))
B5: Phenol novolak resin (Maywa Kasei H-4, hydroxyl equivalent = 105 g / eq; corresponds to the following formula)
Figure 2006089595
B6: Cresol novolac resin (KA-1160, manufactured by Dainippon Ink and Chemicals, hydroxyl equivalent = 110 g / eq; corresponds to the following formula)
Figure 2006089595
B7: Phenol-modified product of liquid polybutadiene (PP-700-300S, manufactured by Shin Nippon Petrochemical Co., Ltd., hydroxyl equivalent = 317 g / eq)

成分(C)ポリエーテルスルホン
C1:末端フェノール性水酸基型ポリエーテルスルホン
(住友化学製 スミカエクセル PES 5003P)
Component (C) Polyethersulfone C1: Terminal phenolic hydroxyl group-type polyethersulfone (Sumitomo Chemical Sumika Excel PES 5003P)

成分(D)無機フィラー
D1:球状シリカ
(電気化学製 SFP−20X)
Component (D) Inorganic filler D1: Spherical silica (SFP-20X manufactured by Electrochemical)

表1に記載の各成分および有機溶剤を表1に記載の組成(重量部)で混合、分散し、ビルドアップ用樹脂組成物を有機溶剤との混合物(ワニス)として得た。   Each component and the organic solvent described in Table 1 were mixed and dispersed in the composition (parts by weight) described in Table 1 to obtain a resin composition for buildup as a mixture (varnish) with the organic solvent.

(1)ビルドアップ用フィルムの製造例
得られたワニスをフィルムコーター(テスター産業株式会社製 PI−1210)で50μmのPETフィルム(東レ株式会社製 ルミラー)上に、塗布厚みが約130μmとなるように塗布した。引き続き、80℃のオーブンで15〜30分乾燥し、ドライフィルムを得た。乾燥後の塗膜厚みは40〜60μmであった。200℃、60分の熱処理条件で測定した塗膜の不揮発分は92〜98%であった。
(1) Production Example of Build-up Film The obtained varnish is applied to a coating thickness of about 130 μm on a 50 μm PET film (Lumirror manufactured by Toray Industries, Inc.) with a film coater (PI-1210 manufactured by Tester Sangyo Co., Ltd.). It was applied to. Then, it dried for 15 to 30 minutes in 80 degreeC oven, and obtained the dry film. The coating thickness after drying was 40-60 μm. The non-volatile content of the coating film measured under the heat treatment conditions at 200 ° C. for 60 minutes was 92 to 98%.

(2)誘電損失の測定方法
得られたワニスをフィルムコーターでガラス板上に、塗布厚み80μm程度となるよう塗布した。このガラス板を160℃の真空オーブン中で15分間硬化および真空乾燥させ、半硬化物を作製した。得られた半硬化物をガラス板から剥離し、さらに180℃で10分間加圧成型し、錠剤状(厚さ:約1mm)の試験片を得た。得られた試験片を250℃/30分アニールし、錠剤の両面を平滑に研磨した。23℃、50%RHにおいてアジレント株式会社製 インピーダンスアナライザーにより1GHzでの誘電損失(tanδ)を測定した。また、誘電損失の逆数をQ値と定義し、tanδおよびQ値を表1にまとめた。
(2) Measuring method of dielectric loss The obtained varnish was applied on a glass plate with a film coater so that the coating thickness was about 80 μm. This glass plate was cured and vacuum dried in a vacuum oven at 160 ° C. for 15 minutes to produce a semi-cured product. The obtained semi-cured product was peeled from the glass plate and further pressure-molded at 180 ° C. for 10 minutes to obtain a tablet-like (thickness: about 1 mm) test piece. The obtained test piece was annealed at 250 ° C./30 minutes, and both sides of the tablet were polished smoothly. Dielectric loss (tan δ) at 1 GHz was measured with an impedance analyzer manufactured by Agilent Corporation at 23 ° C. and 50% RH. The reciprocal of dielectric loss was defined as Q value, and tan δ and Q value are summarized in Table 1.

(3)ガラス転移温度の測定方法
PETフィルムをポリイミドフィルム(宇部興産製 ユーピレックス50S)に変更する以外は、ビルドアップ用フィルム製造例と同様にしてビルドアップ用フィルムを得た。引き続き180℃で2時間熱処理した後、セイコーインスツルメント製 熱分析装置TMA−120を用い、引張モードでセカンド・スキャンにおける測定データからJIS C 6481に準拠しガラス転移温度を求めた。尚、昇温条件は23℃から200℃まで20℃/分で昇温した後(ファースト・スキャン)、引き続き、45℃まで冷却し5℃/分で255℃まで昇温した(セカンド・スキャン)。
(3) Measuring method of glass transition temperature A film for buildup was obtained in the same manner as in the film production example for buildup except that the PET film was changed to a polyimide film (Upilex 50S manufactured by Ube Industries). Subsequently, after heat treatment at 180 ° C. for 2 hours, a glass transition temperature was obtained from the measurement data in the second scan in a tensile mode according to JIS C 6481 using a Seiko Instruments thermal analyzer TMA-120. The temperature was raised from 23 ° C. to 200 ° C. at 20 ° C./min (first scan), then cooled to 45 ° C. and heated to 5 ° C./255° C. (second scan). .

Figure 2006089595
Figure 2006089595

本発明の樹脂組成物は溶融粘度が適当でビルドアップ加工性に優れ、保存安定性にも優れるので、ビルドアップ用として優れている。また、ビルドアップ用途に加え、絶縁材料、複合材料、接着剤材料、塗料材料等に応用することができる。
Since the resin composition of the present invention has an appropriate melt viscosity, is excellent in build-up processability, and is excellent in storage stability, it is excellent for build-up use. In addition to build-up applications, it can be applied to insulating materials, composite materials, adhesive materials, paint materials, and the like.

Claims (6)

(A)エポキシ樹脂、(B)エポキシ樹脂硬化剤、(C)熱可塑性樹脂および(D)充填材を含み、かつエポキシ樹脂硬化剤(B)が、下記式(1)で表されるものであるビルドアップ用樹脂組成物。
Figure 2006089595
(式中、tは1または2を表し、rは1〜15の平均繰り返し数を表す。複数のBはそれぞれ同一であっても異なっていてもよく、炭化水素置換もしくは未置換のベンゼン環またはナフタレン環を表す。R10〜R13はそれぞれ同一であっても異なっていてもよく、水素原子、炭素数1〜10のアルキル基、炭素数7〜20のアラルキル基または炭素数6〜20のアリール基を表し、R10〜R13がそれぞれ複数存在する場合のそれらそれぞれは同一であっても異なっていてもよい。)
(A) an epoxy resin, (B) an epoxy resin curing agent, (C) a thermoplastic resin and (D) a filler, and the epoxy resin curing agent (B) is represented by the following formula (1) A buildup resin composition.
Figure 2006089595
(In the formula, t represents 1 or 2, r represents an average number of repetitions of 1 to 15. A plurality of B may be the same or different, and each may be a hydrocarbon-substituted or unsubstituted benzene ring or R 10 to R 13 may be the same or different and each represents a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, an aralkyl group having 7 to 20 carbon atoms, or an alkyl group having 6 to 20 carbon atoms. Represents an aryl group, and when there are a plurality of R 10 to R 13 , each may be the same or different.)
一般式(1)において、Bが無置換のベンゼン環または無置換のナフタレン環であり、R10〜R13がそれぞれ独立に水素原子またはメチル基である請求項1記載のビルドアップ用樹脂組成物。 The resin composition for buildup according to claim 1, wherein, in the general formula (1), B is an unsubstituted benzene ring or an unsubstituted naphthalene ring, and R 10 to R 13 are each independently a hydrogen atom or a methyl group. . 請求項1または2記載のビルドアップ用樹脂組成物および有機溶剤からなるワニス。   A varnish comprising the resin composition for buildup according to claim 1 or 2 and an organic solvent. 請求項3のワニスを用いて得られるビルドアップ用フィルム。   The film for buildup obtained using the varnish of Claim 3. 請求項3のワニスを用いて得られる樹脂付き銅箔。   The copper foil with resin obtained using the varnish of Claim 3. 請求項1または2記載のビルドアップ用樹脂組成物の硬化物の層を有するプリント配線基板。
The printed wiring board which has a layer of the hardened | cured material of the resin composition for buildups of Claim 1 or 2.
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