JP2006074066A - Substrate treatment apparatus - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、処理液を吐出するノズルを備えた基板処理装置に関する。 The present invention relates to a substrate processing apparatus including a nozzle that discharges a processing liquid.
半導体ウエハ、液晶表示装置用ガラス基板、フォトマスク用ガラス基板、光ディスク用基板等の基板に所定の処理を行うために基板処理装置が用いられている。このような基板処理装置では、基板を水平姿勢で回転させながらその表面に処理液ノズルからレジスト液、現像液あるいは洗浄液等の処理液を供給することにより基板の表面処理を行う。 A substrate processing apparatus is used to perform predetermined processing on a substrate such as a semiconductor wafer, a glass substrate for a liquid crystal display device, a glass substrate for a photomask, and a substrate for an optical disk. In such a substrate processing apparatus, the substrate is surface-treated by supplying a processing solution such as a resist solution, a developing solution or a cleaning solution to the surface of the substrate while rotating the substrate in a horizontal posture.
図7は基板処理装置の一例としての回転式塗布装置の構成を示す模式図である。図7において、回転式塗布装置は、基板Wを保持する基板保持部2と、基板保持部2を回転駆動するスピンモータ1を備える。さらに、回転式塗布装置には基板Wの表面にレジスト液を供給するレジスト液供給系30が設けられている。レジスト液供給系30はレジスト液26を貯留するレジスト容器25、レジスト容器25内のレジスト液26を導くレジスト供給管5およびレジスト液を吐出するレジストノズル4を備える。レジスト供給管5の途中にはレジスト容器25内のレジスト液26をノズル4へ送り出すためのベローズ20およびベローズ20を伸縮駆動するシリンダ21が配置されている。シリンダ21には圧縮空気を導入する2本の導入管路28,29が接続されている。導入管路28,29にはそれぞれ開閉弁22,23が取り付けられている。また、導入管路28,29に接続される切替弁24は圧縮空気27を一方の導入管路28と他方の導入管路29とに切り替えて供給する。
FIG. 7 is a schematic diagram showing a configuration of a rotary coating apparatus as an example of a substrate processing apparatus. In FIG. 7, the rotary coating apparatus includes a
基板Wにレジスト液を供給する場合、切替弁24により圧縮空気27を導入管路28を通してシリンダ21に供給する。そして、ベローズ20を伸長してレジスト容器25からレジスト液26をベローズ20内に吸い込む。その後、切替弁24を切り替えて圧縮空気27を導入管路29からシリンダ21に供給する。これにより、ベローズ20を圧縮し、ベローズ20内のレジスト液26をレジスト供給管5を通してレジストノズル4から基板Wの表面に吐出させる。基板Wの表面に吐出されたレジスト液は、基板Wの回転による遠心力を受けて基板Wの全面に均一に塗り広げられる。
When supplying the resist solution to the substrate W, compressed
基板Wの表面上に塗布形成されるレジスト薄膜の膜厚は、基板W上にレジスト薄膜の微細パターンを形成するために正確に制御される必要がある。また、レジスト薄膜の膜厚は基板Wに供給されるレジスト液の吐出量に依存する。このため、レジストノズル4からのレジスト液の吐出量は正確に制御される必要がある。 The film thickness of the resist thin film applied and formed on the surface of the substrate W needs to be accurately controlled in order to form a fine pattern of the resist thin film on the substrate W. The film thickness of the resist thin film depends on the discharge amount of the resist solution supplied to the substrate W. For this reason, the discharge amount of the resist solution from the resist nozzle 4 needs to be accurately controlled.
図7の塗布装置では、レジスト液の吐出量は以下のように制御されている。まず、基板Wへの吐出前において、シリンダ21に圧縮空気27を供給してシリンダ21を駆動する時間、すなわちレジストノズル4からのレジスト液の吐出時間を種々設定し、その時のレジスト液の吐出量を計量容器で計量して吐出時間とレジスト液の吐出量との関係を予め求める。そして、その計量結果に基づいて、レジスト液の吐出量が所望の値となるようにレジスト液の吐出時間、すなわちシリンダ21の駆動時間を設定する。
In the coating apparatus shown in FIG. 7, the discharge amount of the resist solution is controlled as follows. First, before discharging onto the substrate W, various times are set for the time for supplying the
そして、実際のレジスト液吐出時には、上記処理により設定された駆動時間に基づいてシリンダ21が駆動され、レジストノズル4からレジスト液が基板Wの表面に吐出される。そして、設定した駆動時間が経過すると、導入管路28,29の開閉弁22,23が閉鎖され、シリンダ21の駆動が停止される。これにより、レジストノズル4からのレジスト液の吐出が停止する。
When the resist solution is actually discharged, the cylinder 21 is driven based on the drive time set by the above processing, and the resist solution is discharged from the resist nozzle 4 onto the surface of the substrate W. Then, when the set drive time has elapsed, the on-off
上記従来の回転式塗布装置では、レジスト液の吐出量はシリンダ21への導入管路28,29の開閉弁22,23の開閉動作により制御されていた。開閉弁22,23の開閉動作は圧縮空気27を利用して行われている。このため、開閉弁22,23の開閉動作は常に一定とはならず、そのためにレジスト液の吐出量を正確に制御することが困難であった。
In the conventional rotary coating apparatus, the resist solution discharge amount is controlled by the opening / closing operation of the opening /
また、開閉弁22,23はそれぞれ固有の流量特性を有している。このため、同じ種類の開閉弁22,23を用いた回転式塗布装置であっても各回転式塗布装置ごとにレジスト液の吐出時間と吐出量との関係が異なる。そこで、各回転式塗布装置ごとにレジスト液の吐出時間と吐出量との関係を求めて吐出時間を設定する必要があった。
Each of the on-off
一方、従来の回転式塗布装置においてレジスト液の吐出量を変更する場合には、レジスト液の吐出時間を変更するのみならず、レジストノズル4からのレジスト液の吐出速度を変更することも可能である。そして、この場合には、シリンダ21に供給される圧縮空気27の供給管路に設けられた流量制御装置(図示せず)を手動で変更して圧縮空気27の供給量を調整していた。しかしながら、レジスト液の吐出速度を変更する必要が生じる度に、圧縮空気27の流量制御装置を手動で再調整する必要があり、レジスト液の吐出速度の変更が困難であった。
On the other hand, when changing the discharge amount of the resist solution in the conventional rotary coating apparatus, not only the discharge time of the resist solution but also the discharge speed of the resist solution from the resist nozzle 4 can be changed. is there. In this case, the supply amount of the
本発明の目的は、ノズルからの処理液の吐出量を正確に設定することが可能でかつノズルからの処理液の吐出動作の変更が容易な基板処理装置を提供することである。 An object of the present invention is to provide a substrate processing apparatus capable of accurately setting the discharge amount of the processing liquid from the nozzle and easily changing the discharge operation of the processing liquid from the nozzle.
(1)第1の発明
第1の発明に係る基板処理装置は、処理液供給源から導かれる処理液を基板に供給して所定の処理を行う基板処理装置であって、基板を保持する基板保持手段と、基板保持手段に保持された基板に処理液を吐出するノズルと、処理液供給源の処理液をノズルへ送り出すポンプと、ポンプを駆動するモータと、ノズルからの処理液の吐出動作を制御する制御情報を入力する入力手段と、入力手段により入力された制御情報に基づいてモータの動作を制御する制御手段とを備え、入力手段は、ノズルからの処理液の吐出量、吐出時間、吐出速度、モータの加速時間および減速時間の5つの制御情報のうち少なくとも4つの制御情報を入力可能であり、制御手段は、5つの制御情報のうち4つの制御情報が入力された場合に、5つの制御情報のうちの残りの制御情報を求め、5つの制御情報に基づいてモータの動作を制御するものである。
(1) 1st invention The substrate processing apparatus which concerns on 1st invention is a substrate processing apparatus which supplies the process liquid guide | induced from a process liquid supply source to a board | substrate, and performs a predetermined | prescribed process, Comprising: The board | substrate holding a board | substrate A holding means, a nozzle for discharging the processing liquid to the substrate held by the substrate holding means, a pump for sending the processing liquid from the processing liquid supply source to the nozzle, a motor for driving the pump, and an operation for discharging the processing liquid from the nozzle Input means for inputting control information for controlling the control, and control means for controlling the operation of the motor based on the control information input by the input means. The input means includes a discharge amount and discharge time of the processing liquid from the nozzle. , At least four control information among the five control information of the discharge speed, the acceleration time and the deceleration time of the motor can be input, and the control means, when four control information of the five control information is input, 5 The remaining control information of the control information is obtained, and the operation of the motor is controlled based on the five control information.
第1の発明に係る基板処理装置においては、処理液をノズルへ送り出すポンプはモータにより駆動される。モータの回転動作は、制御手段により正確に制御することができる。このため、モータにより駆動されるポンプからの処理液の吐出量を正確に制御することによりノズルから吐出される処理液の吐出量を所望の値に設定することができる。さらに、入力手段からはノズルの処理液の吐出動作を制御する制御情報を入力することができ、この入力された制御情報に基づいてモータの動作が制御される。このため、入力手段から制御情報を入力することにより、ノズルの処理液の吐出動作を容易に変更することが可能となる。 In the substrate processing apparatus according to the first aspect of the present invention, the pump that sends the processing liquid to the nozzle is driven by a motor. The rotation operation of the motor can be accurately controlled by the control means. For this reason, the discharge amount of the processing liquid discharged from the nozzle can be set to a desired value by accurately controlling the discharge amount of the processing liquid from the pump driven by the motor. Furthermore, control information for controlling the discharge operation of the processing liquid of the nozzle can be input from the input means, and the operation of the motor is controlled based on the input control information. For this reason, it becomes possible to easily change the discharge operation of the processing liquid of the nozzle by inputting the control information from the input means.
特に、モータの動作制御に必要な5つの制御情報のうち、4つの制御情報が入力された場合に、制御手段が残りの制御情報を求めてモータの動作を制御することができる。これにより、作業者の制御情報の入力作業を簡素化することができる。 In particular, when four pieces of control information among five pieces of control information necessary for motor operation control are input, the control unit can obtain the remaining control information and control the operation of the motor. Thereby, the input operation of the operator's control information can be simplified.
(2)第2の発明
第2の発明に係る基板処理装置は、第1の発明に係る基板処理装置の構成において、制御手段は、ノズルからの処理液の吐出時間、吐出速度、モータの加速時間および減速時間の制御情報に基づいてモータの動作を制御するものである。
(2) Second invention A substrate processing apparatus according to a second invention is the same as the substrate processing apparatus according to the first invention, wherein the control means controls the discharge time of the processing liquid from the nozzle, the discharge speed, and the acceleration of the motor. The operation of the motor is controlled based on time and deceleration time control information.
第2の発明に係る基板処理装置においては、制御手段がノズルからの処理液の吐出時間、吐出速度、モータの加速時間および減速時間の制御情報に基づいてモータの動作を制御することができる。これにより、ノズルからの処理液の吐出動作を正確に制御することができる。 In the substrate processing apparatus according to the second aspect of the invention, the control means can control the operation of the motor based on the control information of the discharge time, discharge speed, motor acceleration time and deceleration time of the processing liquid from the nozzle. Thereby, the discharge operation of the processing liquid from the nozzle can be accurately controlled.
(3)第3の発明
第3の発明に係る基板処理装置は、第1または第2の発明に係る基板処理装置の構成において、制御手段は、処理液の吐出速度の制御情報に基づいてモータの回転速度を制御するものである。
(3) Third Invention A substrate processing apparatus according to a third invention is the substrate processing apparatus according to the first or second invention, wherein the control means is a motor based on control information on the discharge speed of the processing liquid. It controls the rotation speed.
第3の発明に係る基板処理装置においては、制御手段は、吐出速度の制御情報に基づいてモータの回転速度を制御することができる。これにより、ノズルから所望の吐出速度で処理液を基板に吐出することができる。 In the substrate processing apparatus according to the third aspect of the present invention, the control means can control the rotation speed of the motor based on the discharge speed control information. Thereby, the processing liquid can be discharged from the nozzle to the substrate at a desired discharge speed.
(4)第4の発明
第4の発明に係る基板処理装置は、第1〜第3のいずれかの発明に係る基板処理装置の構成において、制御手段は、モータの加速時間および減速時間の少なくとも一方の制御情報に基づいてモータの加速または減速動作を制御するものである。
(4) Fourth invention A substrate processing apparatus according to a fourth invention is the substrate processing apparatus according to any one of the first to third inventions, wherein the control means includes at least an acceleration time and a deceleration time of the motor. The acceleration or deceleration operation of the motor is controlled based on one control information.
第4の発明に係る基板処理装置においては、制御手段は、加速時間および減速時間の少なくとも一方の制御情報に基づいてモータの加速または減速動作を制御することができる。これにより、ノズルからの処理液の吐出初期および吐出終期の状態を所望の状態に制御することができる。 In the substrate processing apparatus according to the fourth aspect of the invention, the control means can control the acceleration or deceleration operation of the motor based on control information on at least one of the acceleration time and the deceleration time. As a result, the initial and final discharge states of the processing liquid from the nozzle can be controlled to a desired state.
(5)第5の発明
第5の発明に係る基板処理装置は、第1〜第4のいずれかの発明に係る基板処理装置の構成において、制御手段は、処理液の吐出時間の制御情報に基づいてモータがポンプを駆動する時間を制御するものである。
(5) Fifth Invention A substrate processing apparatus according to a fifth invention is the configuration of the substrate processing apparatus according to any one of the first to fourth inventions, wherein the control means uses control information for a discharge time of the processing liquid. Based on this, the time for the motor to drive the pump is controlled.
第5の発明に係る基板処理装置においては、制御手段は、吐出時間の制御情報に基づいてモータがポンプを駆動する時間を制御することができる。これにより、ノズルからの処理液の吐出時間を所望の値に調整して処理液の吐出量を制御することができる。 In the substrate processing apparatus according to the fifth aspect of the invention, the control means can control the time for which the motor drives the pump based on the discharge time control information. Thereby, the discharge time of the processing liquid can be controlled by adjusting the discharge time of the processing liquid from the nozzle to a desired value.
(6)第6の発明
第6の発明に係る基板処理装置は、第1〜第5のいずれかの発明に係る基板処理装置の構成において、制御手段は、処理液の吐出量の制御情報に基づいてモータの回転動作を制御するものである。
(6) Sixth Invention A substrate processing apparatus according to a sixth invention is the configuration of the substrate processing apparatus according to any one of the first to fifth inventions, wherein the control means uses the control information for the discharge amount of the processing liquid. Based on this, the rotation operation of the motor is controlled.
第6の発明に係る基板処理装置においては、制御手段は、処理液の吐出量の制御情報に基づいてモータの回転動作を制御することができる。これにより、ノズルからの処理液の吐出量を所望の値に制御することができる。 In the substrate processing apparatus according to the sixth aspect of the invention, the control means can control the rotation operation of the motor based on the control information on the discharge amount of the processing liquid. Thereby, the discharge amount of the processing liquid from the nozzle can be controlled to a desired value.
(7)第7の発明
第7の発明に係る基板処理装置は、第1〜第6のいずれかの発明に係る基板処理装置の構成において、入力手段は、ポンプの特性に応じて制御情報を補正するための補正情報をさらに入力し、制御手段は、入力手段により入力された制御情報を補正情報に基づいて補正し、補正後の制御情報に基づいてモータの動作を制御するものである。
(7) Seventh Invention A substrate processing apparatus according to a seventh invention is the configuration of the substrate processing apparatus according to any one of the first to sixth inventions, wherein the input means provides control information according to the characteristics of the pump. Correction information for correction is further input, and the control means corrects the control information input by the input means based on the correction information, and controls the operation of the motor based on the corrected control information.
第7の発明に係る基板処理装置においては、入力手段によりノズルの処理液の吐出動作を制御する制御情報と、ポンプの特性に応じて制御情報を補正するための補正情報とを入力することができる。補正情報は、同一仕様の基板処理装置に対して汎用的に作成された制御情報に対し、個々の基板処理装置のポンプ固有の特性に応じて汎用の制御情報を補正するための情報を有する。そこで、制御手段が入力された補正情報に基づいて制御情報を補正してノズルの処理液の吐出動作を制御することにより、処理液の吐出動作を所望の状態に正確に制御することができる。 In the substrate processing apparatus according to the seventh aspect of the invention, it is possible to input control information for controlling the discharge operation of the processing liquid of the nozzle and correction information for correcting the control information according to the characteristics of the pump by the input means. it can. The correction information includes information for correcting the general-purpose control information in accordance with the pump-specific characteristics of each substrate processing apparatus with respect to the control information generated for the general-purpose substrate processing apparatus. Therefore, the control liquid is controlled to a desired state accurately by correcting the control information based on the correction information input by the control means to control the discharge operation of the processing liquid of the nozzle.
(8)第8の発明
第8の発明に係る基板処理装置は、第1〜第7のいずれかの発明に係る基板処理装置の構成において、制御手段は、所定の処理のための複数の処理工程における処理手順を規定する処理手順情報と、モータの回転動作を規定するモータ制御情報とを格納し、処理手順情報に基づいて複数の処理工程を制御するとともに、モータ制御情報に基づいてモータの動作を制御し、モータ制御情報は、5つの制御情報の全てまたは一部を含むものである。
(8) Eighth Invention A substrate processing apparatus according to an eighth invention is the configuration of the substrate processing apparatus according to any one of the first to seventh inventions, wherein the control means includes a plurality of processes for a predetermined process. Stores processing procedure information that defines the processing procedure in the process and motor control information that defines the rotational operation of the motor, controls a plurality of processing steps based on the processing procedure information, and controls the motor based on the motor control information. The operation is controlled, and the motor control information includes all or part of the five pieces of control information.
第8の発明に係る基板処理装置においては、制御手段は、格納された処理手順情報に基づいて複数の処理工程を制御するとともに、格納されたモータ制御情報に基づいてモータの動作を制御する。 In the substrate processing apparatus according to the eighth aspect of the invention, the control means controls a plurality of processing steps based on the stored processing procedure information and controls the operation of the motor based on the stored motor control information.
(9)第9の発明
第9の発明に係る基板処理装置は、第1〜第8のいずれかの発明に係る基板処理装置の構成において、入力手段は、制御情報としてモータの回転速度の変化を示す回転速度変化パターンを入力し、制御手段は、入力手段から入力された回転速度変化パターンに基づいてモータの回転動作を制御するものである。
(9) Ninth Invention A substrate processing apparatus according to a ninth invention is the configuration of the substrate processing apparatus according to any one of the first to eighth inventions, wherein the input means changes the rotation speed of the motor as control information. The control means controls the rotational operation of the motor based on the rotational speed change pattern input from the input means.
第9の発明に係る基板処理装置においては、入力手段からモータの回転速度変化パターンを入力し、入力された回転速度変化パターンに従ってモータの回転動作を制御することができる。これにより、処理液をノズルから所望の状態で吐出させることができる。 In the substrate processing apparatus according to the ninth aspect of the present invention, the rotational speed change pattern of the motor can be input from the input means, and the rotational operation of the motor can be controlled according to the input rotational speed change pattern. Thereby, a process liquid can be discharged from a nozzle in a desired state.
(10)第10の発明
第10の発明に係る基板処理装置は、第9の発明に係る基板処理装置の構成において、回転速度変化パターンは台形状のパターンであるものである。
(10) Tenth Invention A substrate processing apparatus according to a tenth invention is the configuration of the substrate processing apparatus according to the ninth invention, wherein the rotational speed change pattern is a trapezoidal pattern.
第10の発明に係る基板処理装置においては、台形状の回転速度変化パターンを入力することが可能であり、制御手段が台形状の回転速度変化パターン、ノズルからの処理液の吐出量、吐出時間、吐出速度、モータの加速時間および減速時間の制御情報に基づいてモータの動作を制御することができる。これにより、ノズルからの処理液の吐出動作を正確に制御することができる。 In the substrate processing apparatus according to the tenth invention, it is possible to input a trapezoidal rotation speed change pattern, and the control means has a trapezoidal rotation speed change pattern, the discharge amount of the processing liquid from the nozzle, and the discharge time. The operation of the motor can be controlled based on the control information of the discharge speed, the acceleration time and the deceleration time of the motor. Thereby, the discharge operation of the processing liquid from the nozzle can be accurately controlled.
(11)第11の発明
第11の発明に係る基板処理装置は、第9の発明に係る基板処理装置の構成において、回転速度変化パターンは、モータの加速時および減速時に回転速度がS字状に変化するS字状のパターンであるものである。
(11) Eleventh invention A substrate processing apparatus according to an eleventh aspect of the invention is the substrate processing apparatus according to the ninth aspect of the invention, wherein the rotational speed change pattern has an S-shaped rotational speed when the motor is accelerated and decelerated. It is an S-shaped pattern that changes to.
第11の発明に係る基板処理装置においては、モータの加速時および減速時に回転速度がS字状に変化するS字状のパターンが入力可能であり、制御手段は、ノズルからの処理液の吐出量、吐出時間、吐出速度、モータの加速時間および減速時間の制御情報に基づいてS字状の回転速度変化パターンに従ったモータの回転動作を制御することができる。これにより、ノズルの処理液の吐出動作を正確に制御することができる。 In the substrate processing apparatus according to the eleventh aspect of the invention, an S-shaped pattern whose rotational speed changes in an S-shape when the motor is accelerated and decelerated can be input, and the control means discharges the processing liquid from the nozzle. The rotational operation of the motor in accordance with the S-shaped rotational speed change pattern can be controlled based on the control information on the amount, the discharge time, the discharge speed, the acceleration time and the deceleration time of the motor. Thereby, the discharge operation of the processing liquid of the nozzle can be accurately controlled.
図1は本発明の実施例による基板処理装置の一例としての回転式塗布装置の概略構成図である。図1において、回転式塗布装置は、スピンモータ1と、スピンモータ1の回転軸の先端に取り付けられ、基板Wを水平姿勢で保持して回転駆動される基板保持部2を備える。また、回転式塗布装置は、基板Wにレジスト液を供給するレジスト液供給系30を有する。レジスト液供給系30は、レジスト液9を貯留するレジスト容器8と、レジスト液9を吐出するレジストノズル4と、レジストノズル4とレジスト容器8とを連結するレジスト供給管路5と、レジスト供給管路5中に設けられた吐出ポンプ6およびポンプ駆動モータ7を備える。
FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a rotary coating apparatus as an example of a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention. In FIG. 1, the rotary coating apparatus includes a spin motor 1 and a
レジストノズル4は基板Wの上方位置と基板Wの外方の待機位置との間を移動可能に形成されている。 The resist nozzle 4 is formed to be movable between a position above the substrate W and a standby position outside the substrate W.
ポンプ駆動モータ7はパルスモータからなる。パルスモータでは、駆動パルスにより回転数を正確に制御することができる。このパルスモータからなるポンプ駆動モータ7は主コントローラ11の制御の下でモータコントローラ10から出力される駆動パルスにより回転駆動される。
The
吐出ポンプ6はポンプ駆動モータ7から回転力を受けてレジスト液9をレジスト容器8内からレジスト供給管路5を通してレジストノズル4に送り出し、レジストノズル4から吐出させる。
The
主コントローラ11は、入力部12、制御部13および表示部14から構成される。入力部12は、レジストノズル4からのレジスト液9の吐出動作の制御情報やポンプ駆動モータ7の回転動作の制御情報を入力する。
The
制御部13は、回転式塗布装置における処理手順を規定する制御情報を格納するレシピデータ、およびポンプ駆動モータ7の動作を規定する制御情報を格納するサブライブラリを有する。入力部12から入力される各制御情報は、レシピデータおよびサブライブラリの所定位置に格納される。そして、制御部13はレシピデータおよびサブライブラリを参照して回転式塗布装置の各部の動作を制御するとともに、モータコントローラ10に制御信号を出力してポンプ駆動モータ7の回転動作を制御する。
The
表示部14は、入力部12から入力される制御情報や制御部13で求められる制御情報等を表示する。
The
図2はレシピデータの説明図であり、図3はサブライブラリの説明図である。さらに、図4は回転式塗布装置の処理工程におけるポンプ駆動モータの回転速度変化を示す図である。 FIG. 2 is an explanatory diagram of recipe data, and FIG. 3 is an explanatory diagram of a sub-library. Furthermore, FIG. 4 is a figure which shows the rotational speed change of the pump drive motor in the process of a rotary coating device.
図2〜図4に示すように、回転式塗布装置では、レジスト液吐出工程、回転塗布工程、基板のリンス工程、乾燥工程および待機工程の各処理工程が行われる。図2のレシピデータ15には、回転式塗布装置の各処理工程に対応する処理ステップ15a、各処理ステップにおける基板回転数15b、各処理ステップにおける処理時間15cおよびレジストノズルの移動タイミング情報(図示せず)等の制御情報が格納されている。
As shown in FIGS. 2 to 4, in the rotary coating apparatus, a resist solution discharge process, a spin coating process, a substrate rinsing process, a drying process, and a standby process are performed. The
また、図3のサブライブラリ16には、レジストノズル4からのレジスト液の吐出速度Vd、ポンプ駆動モータ7の加速時間Taおよび減速時間Tr、レジスト液の吐出量Q、ポンプ駆動モータ7の駆動パターンPおよびレジスト液の吐出量の補正値Cが格納されている。
3 includes a resist solution discharge speed Vd from the resist nozzle 4, an acceleration time Ta and a deceleration time Tr of the
上記実施例においては、基板保持部2が本発明の基板保持手段に相当し、レジストノズル4がノズルに相当し、吐出ポンプ6がポンプに相当し、ポンプ駆動モータ7がモータに相当し、主コントローラ11の入力部14が入力手段に相当し、制御部12が制御手段に相当する。さらに、レシピデータ15が処理手順情報に相当し、サブライブラリ16がモータ制御情報に相当する。
In the above embodiment, the
上記構成を有する回転式塗布装置の処理動作について以下に説明する。通常、回転式塗布装置のレシピデータ15およびサブライブラリ16は予め作成され、主コントローラ11の制御部13に格納されている。そして、回転式塗布装置は格納されたレシピデータ15およびサブライブラリ16を参照して各処理工程を行う。
The processing operation of the rotary coating apparatus having the above configuration will be described below. Usually, the
また、レシピデータ15およびサブライブラリ16に格納された制御情報に基づく処理動作を変更して新たな処理動作を行わせる場合には、主コントローラ11の入力部12から変更すべき制御情報を入力する。ここでは、レジストノズル4の吐出動作を変更する場合について説明する。
In addition, when changing the processing operation based on the control information stored in the
この場合、作業者は入力部12からレジストノズル4からのレジスト液の吐出速度Vd、ポンプ駆動モータ7の加速時間Taおよび減速時間Tr、レジスト液の吐出量Q、ポンプ駆動モータ7の駆動パターンP、レジスト液の吐出量の補正値Cおよびレジスト液の吐出時間Tdを入力する。入力された制御情報のうち、レジスト液の吐出時間Tdは図2のレシピデータ15の処理ステップS3の処理時間15c内の時間T3として格納され、残りの制御情報は図3のサブライブラリ16内の所定位置に格納される。これにより、処理が開始状態となる。
In this case, the operator uses the
なお、本実施例の回転式塗布装置では、入力部12より上記の7つの制御情報をすべて入力しなくてもよい。例えば、ポンプ駆動モータ7の回転速度を図5に示すような台形状の駆動パターンで制御する場合には、レジスト液9の吐出量Q、吐出速度Vd、吐出時間Td、加速時間Taおよび減速時間Trの5つの制御情報のうち、少なくとも4つの制御情報を入力すればよい。この場合、制御部13は入力された4つの制御情報に基づいて残りの制御情報を算出する。
In the rotary coating apparatus of this embodiment, it is not necessary to input all the seven control information from the
例えば、入力部12よりレジスト液9の吐出速度Vd、吐出時間Td、ポンプ駆動モータ7の加速時間Taおよび減速時間Trを入力すると、制御部13がレジスト液の吐出量Qを算出し、サブライブラリ16内に格納するとともに、表示部14に表示する。これにより、作業者はレジスト液の吐出量Qを確認することができる。
For example, when the discharge speed Vd, discharge time Td, acceleration time Ta and deceleration time Tr of the
また、ポンプ駆動モータ7の回転速度を図6に示すようなS字状の駆動パターンで制御する場合には、台形状の駆動パターンの場合と同様の少なくとも4つの制御情報に加え、ポンプ駆動モータ7の加速時および減速時のS字状の回転速度の制御情報を入力すればよい。
When the rotational speed of the
さらに、制御部13は、入力部12から吐出ポンプ6によるレジスト液の吐出量の補正値Cが入力されると、補正値Cに基づいてポンプ駆動モータ7の回転動作を補正する。通常、サブライブラリ16は、同一仕様の吐出ポンプ6およびポンプ駆動モータ7が用いられる回転式塗布装置に共通して用いられる。しかしながら、同一仕様の吐出ポンプ6であっても、各ポンプの吐出能力に装置固有の差異が生じる。例えば、ポンプ駆動モータ7に駆動パルスを2000パルス与えると1ml(ミリリットル)のレジスト液を吐出する仕様を有する吐出ポンプ6において、実際に2000パルスの駆動パルスをポンプ駆動モータ7に与えて吐出ポンプ6の吐出量を計測すると、1mlと異なる場合がある。
Further, when the correction value C of the discharge amount of the resist solution from the
そこで、実測した所定駆動パルス数当たりの吐出量を補正値Cとして入力部12から入力すると、制御部13は1駆動パルス当たりのレジスト液の吐出量を算出する。そして、レジストノズル4からの実際の吐出量を算出して表示部14に表示する。これにより、作業者は実際のレジストノズル4からのレジスト液の吐出量を確認することができる。
Therefore, when the actually measured discharge amount per predetermined number of drive pulses is input from the
また、レジストノズル4からの実際の吐出量が、入力された吐出量Qとなるように制御する場合には、補正値Cから算出した吐出量に基づいてレジスト液の吐出時間Tdの入力値あるいは吐出速度Vdの入力値を補正する。これにより、レジストノズル4からの吐出量を、入力した所望の吐出量Qに設定することができる。 When the actual discharge amount from the resist nozzle 4 is controlled to be the input discharge amount Q, the input value of the resist solution discharge time Td based on the discharge amount calculated from the correction value C or The input value of the discharge speed Vd is corrected. Thereby, the discharge amount from the resist nozzle 4 can be set to the input desired discharge amount Q.
上記の制御情報の入力が終了すると、作業者からの処理開始の入力情報を受けて、制御部13は、レシピデータ15の処理ステップS1の制御情報に基づいてレジストノズル4を基板Wの上方に移動させる。
When the input of the control information is completed, the
次に、処理ステップS2およびS3に示す制御情報に基づいてレジスト吐出処理が行われる。このとき、制御部13は、入力部12から入力され、かつサブライブラリ16に格納された制御情報に基づいてレジストノズル4から基板Wにレジスト液を吐出させる。例えば、入力部12により台形状の駆動パターンPが入力された場合、制御部13は各制御情報に従って、ポンプ駆動モータ7を図5に示すように回転駆動する。すなわち、レジスト液の吐出時刻t1からTa時間の間ポンプ駆動モータ7を加速し、その後一定の回転速度Rmで(Td−(Ta+Tr))時間回転させる。さらに、Tr時間の間ポンプ駆動モータ7を減速し、時刻t2において停止させる。これにより、レジストノズル4からはレジスト液9が所定の吐出速度Vdで所定の吐出量Qだけ基板W上に吐出される。
Next, a resist discharge process is performed based on the control information shown in process steps S2 and S3. At this time, the
その後、処理ステップS3〜S5に示す制御情報に基づいて、スピンモータ1が回転数R1,R4,R5で回転駆動され、基板Wの表面に吐出されたレジスト液9が全面に塗り広げられる。
Thereafter, based on the control information shown in the processing steps S3 to S5, the spin motor 1 is rotationally driven at the rotational speeds R1, R4, and R5, and the resist
さらに、処理ステップS6〜S8に示す制御情報に基づいて、基板Wの裏面のリンス処理および基板Wの周縁のエッジクリーニング処理が行われる。 Further, based on the control information shown in the processing steps S <b> 6 to S <b> 8, the rinsing process on the back surface of the substrate W and the edge cleaning process on the peripheral edge of the substrate W are performed.
さらに、処理ステップS9〜S10に示す制御情報に基づいて、基板Wからのリンス液の振り切り乾燥が行われた後、待機状態となる。 Furthermore, after the rinse-off of the rinse liquid from the substrate W is performed based on the control information shown in the processing steps S9 to S10, the standby state is set.
このように、本実施例による回転式塗布装置では、主コントローラ11の入力部12からレジストノズル4の吐出動作およびポンプ駆動モータ7の回転動作の制御情報を入力することができる。このため、レジスト液の種類や基板Wの直径等に応じてレジスト液の吐出量を最適な量に変更することができる。
As described above, in the rotary coating apparatus according to the present embodiment, control information for the discharge operation of the resist nozzle 4 and the rotation operation of the
また、正確な回転制御が可能なパルスモータからなるポンプ駆動モータ7を用いて吐出ポンプ6を駆動することにより、レジストノズル4からのレジスト液の吐出量を正確に制御することができる。加えて、吐出ポンプ6の実際の吐出量から求めた補正値Cに基づいてレジストノズル4からの吐出動作を補正することにより、共通のサブライブラリ16を用いた場合でも各吐出ポンプ6の吐出特性に応じた補正を行なってレジスト液の吐出量を所望の量に正確に制御することができる。
Further, by driving the
なお、上記実施例において、ポンプ駆動モータ7の駆動パターンについては、台形状やS字状パターンのみならず、他の駆動パターンを与えることも可能である。
In the above embodiment, the drive pattern of the
また、上記実施例においては、レジスト液9の吐出時間Tdとして、レシピデータ15の処理時間15cのT3時間の欄に格納された処理時間を利用する例を示したが、吐出時間Tdをサブライブラリ16に格納するように構成してもよい。
In the above embodiment, the example in which the processing time stored in the T3 time column of the
なお、上記実施例のようにレシピデータ15に吐出時間Tdを入力するようにしておけば、ノズル4からのレジストの吐出量を変化させる場合、このレシピデータ15内の吐出時間を変更することにより、サブライブラリ16内のデータを変更することなく、ノズル4からのレジストの吐出量を容易に変更することができる。
If the ejection time Td is input to the
さらに、上記実施例においては、回転式塗布装置のレジストノズル4のレジスト供給系30を例に説明したが、エッジクリーニングノズルのリンス液供給系に本発明を適用することも可能であり、さらに洗浄装置や現像装置等他の処理液供給系を有する基板処理装置に適用することもできる。
Further, in the above embodiment, the resist
1 スピンモータ
2 基板保持部
4 レジストノズル
5 レジスト供給管路
6 吐出ポンプ
7 ポンプ駆動モータ
8 レジスト容器
9 レジスト液
10 モータコントローラ
11 主コントローラ
12 制御部
13 表示部
14 入力部
15 レシピデータ
16 サブライブラリ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1
Claims (11)
基板を保持する基板保持手段と、
前記基板保持手段に保持された基板に処理液を吐出するノズルと、
前記処理液供給源の処理液を前記ノズルへ送り出すポンプと、
前記ポンプを駆動するモータと、
前記ノズルからの処理液の吐出動作を制御する制御情報を入力する入力手段と、
前記入力手段により入力された制御情報に基づいて前記モータの動作を制御する制御手段とを備え、
前記入力手段は、前記ノズルからの処理液の吐出量、吐出時間、吐出速度、前記モータの加速時間および減速時間の5つの制御情報のうち少なくとも4つの制御情報を入力可能であり、
前記制御手段は、前記5つの制御情報のうち4つの制御情報が入力された場合に、前記5つの制御情報のうちの残りの制御情報を求め、前記5つの制御情報に基づいて前記モータの動作を制御することを特徴とする基板処理装置。 A substrate processing apparatus for performing a predetermined process by supplying a processing liquid guided from a processing liquid supply source to a substrate,
Substrate holding means for holding the substrate;
A nozzle for discharging a processing liquid onto the substrate held by the substrate holding means;
A pump for feeding the processing liquid from the processing liquid supply source to the nozzle;
A motor for driving the pump;
Input means for inputting control information for controlling the discharge operation of the processing liquid from the nozzle;
Control means for controlling the operation of the motor based on the control information input by the input means,
The input means is capable of inputting at least four pieces of control information among five pieces of control information of a processing liquid discharge amount, discharge time, discharge speed, acceleration time and deceleration time of the motor from the nozzle,
The control means obtains the remaining control information of the five control information when four control information of the five control information is input, and operates the motor based on the five control information. The substrate processing apparatus characterized by controlling.
前記制御手段は、前記入力手段により入力された前記制御情報を前記補正情報に基づいて補正し、補正後の制御情報に基づいて前記モータの動作を制御することを特徴とする請求項1〜6のいずれかに記載の基板処理装置。 The input means further inputs correction information for correcting the control information according to the characteristics of the pump,
The said control means correct | amends the said control information input by the said input means based on the said correction information, and controls operation | movement of the said motor based on the control information after correction | amendment. The substrate processing apparatus according to any one of the above.
前記モータ制御情報は、前記5つの制御情報の全てまたは一部を含むことを特徴とする請求項1〜7のいずれかに記載の基板処理装置。 The control means stores processing procedure information that defines processing procedures in a plurality of processing steps for the predetermined processing, and motor control information that defines a rotational operation of the motor, and based on the processing procedure information While controlling the plurality of processing steps, controlling the operation of the motor based on the motor control information,
The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the motor control information includes all or part of the five pieces of control information.
前記制御手段は、前記入力手段から入力された前記回転速度変化パターンに基づいて前記モータの回転動作を制御することを特徴とする請求項1〜8のいずれかに記載の基板処理装置。 The input means inputs a rotation speed change pattern indicating a change in the rotation speed of the motor as the control information,
The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the control unit controls a rotation operation of the motor based on the rotation speed change pattern input from the input unit.
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KR20130058422A (en) * | 2011-11-25 | 2013-06-04 | 세메스 주식회사 | Substrate treating apparatus |
-
2005
- 2005-10-21 JP JP2005307274A patent/JP2006074066A/en not_active Abandoned
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