JP2006053785A - Manufacturing management method of ic card, and manufacturing management device of ic card - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、複数の工程によってICカードを製造するICカードの製造管理方法及びICカードの製造管理装置に関する。 The present invention relates to an IC card manufacturing management method and an IC card manufacturing management apparatus for manufacturing an IC card by a plurality of processes.
従来、社員証や学生証などのIDカードとして、ICチップが内蔵されたICカードがある。
このようなICカードを製造するには、例えば、配列された複数のICチップを挟んで2枚のカード基材を貼り合せることによりラミネートシートを形成し、複数の金型によってラミネートシートをそれぞれカード状に打抜いている(例えば、特許文献1参照)。また、基材を貼り合せる前後において、必要に応じて基材に印刷を行っている。
Conventionally, as an ID card for an employee ID card or student ID card, there is an IC card with a built-in IC chip.
In order to manufacture such an IC card, for example, a laminate sheet is formed by laminating two card base materials with a plurality of arranged IC chips, and the laminate sheet is formed by a plurality of molds. (See, for example, Patent Document 1). Moreover, before and after bonding a base material, it prints on a base material as needed.
ところで、上記のように形成されたICカードは、ラミネートシート中での列番号によって品質が異なる場合がある。そのため、ICカードの品質管理を容易にすべく、形成されたICカードを収容する収容器には、ラミネートシート中での列毎に異なる色の識別標識を入れている。
しかしながら、ICカードの品質に影響を与え得る因子としては、例えば、カード基材、ICインレット等のロットの違いや、複数列で並行して印刷や発行などの処理を行う場合の処理装置の違い等、多数のものがある。そのため、前記識別標識を用いるのみでは、ICカードの品質を細かく区別して管理することが困難である。 However, factors that can affect the quality of IC cards include, for example, differences in lots such as card base materials and IC inlets, and differences in processing devices when processing such as printing and issuance in parallel in multiple rows There are many things. Therefore, it is difficult to finely distinguish and manage the quality of an IC card only by using the identification mark.
本発明の課題は、ICカードの品質管理を容易に行うことができるICカードの製造管理方法及びICカードの製造管理装置を提供することである。 An object of the present invention is to provide an IC card manufacturing management method and an IC card manufacturing management apparatus capable of easily performing quality control of the IC card.
請求項1記載の発明は、ICカードの製造管理方法であって、
複数のICカードのICチップから前記ICカードのIC固有情報を取得し、各ICチップに対して発行管理情報を記録するとともにプロテクトをかける発行工程と、
前記IC固有情報及び前記発行管理情報を対応付けて管理用データベースに記録する記録工程とを備えることを特徴とする。
The invention according to claim 1 is an IC card manufacturing management method,
Issuing step of obtaining IC specific information of the IC card from the IC chips of a plurality of IC cards, recording issue management information for each IC chip and applying protection;
And a recording step of associating the IC specific information with the issue management information in a management database.
ここで、IC固有情報とは、ICカードの識別番号や製造メーカ、製造年月日などの情報である。
また、発行管理情報とは、記憶領域に関するデータや、暗号処理方式に関するデータ、パスワードに関するデータ、ICカードの材料のロットに関するデータ、ICカードに対して行われた検査結果に関するデータ等である。
Here, the IC unique information is information such as an IC card identification number, manufacturer, date of manufacture, and the like.
The issuance management information is data relating to storage areas, data relating to cryptographic processing methods, data relating to passwords, data relating to lots of IC card materials, data relating to inspection results performed on IC cards, and the like.
請求項1記載の発明によれば、IC固有情報及び発行管理情報を対応付けて管理用データベースに記録することにより、ICカードのIC固有情報に基づいて、そのICカードの発行管理情報を取得することが可能となる。また、各ICカードのICチップに対して発行管理情報を書き込むことにより、ICカードから発行管理情報を取得することが可能となる。従って、ICカードの材料のロットに関するデータやICカードに対して行われた検査結果などを発行管理情報として用いることにより、前記識別標識の色を用いる従来の場合と比較して、ICカードの品質を細かく区別して管理することが容易となる。 According to the first aspect of the present invention, the IC card issue management information is obtained based on the IC card unique information by associating the IC card unique information and the issue management information with each other and recording them in the management database. It becomes possible. Further, by issuing issuance management information to the IC chip of each IC card, it becomes possible to obtain the issuance management information from the IC card. Therefore, the quality of the IC card is compared with the conventional case using the color of the identification mark by using the data relating to the lot of the IC card material or the inspection result performed on the IC card as the issue management information. It becomes easy to distinguish and manage them.
請求項2記載の発明は、請求項1記載のICカードの製造管理方法において、
前記発行工程の後に、前記ICカードの前記ICチップから前記IC固有情報を取得し、このICカードをカード収容器に収容するとともに、このカード収容器から容器識別情報を取得する収容工程を備え、
前記記録工程においては、前記IC固有情報、前記発行管理情報及び前記容器識別情報を対応付けて管理用データベースに記録することを特徴とする。
The invention described in
After the issuing step, the IC specific information is obtained from the IC chip of the IC card, and the IC card is accommodated in the card container, and the container step is provided for obtaining container identification information from the card container,
In the recording step, the IC specific information, the issue management information, and the container identification information are associated and recorded in a management database.
請求項2記載の発明によれば、IC固有情報、発行管理情報及び容器識別情報を対応付けて管理用データベースに記録することにより、ICカードのIC固有情報に基づいて、そのICカードを収容していたカード収容器の容器識別情報を取得することができる。従って、ICカードに機能不良が生じた場合に、そのICカードと同じカード収容器に収容されて同一のロットを構成していた他のICカードのIC固有情報を容易に取得することができる。
According to the invention described in
請求項3記載の発明は、請求項1または2記載のICカードの製造管理方法において、
前記発行工程の前に、
ICチップとカード基材とが固着されたラミネートシート中の前記ICチップの機能検査及び位置精度検査の少なくとも一方を行うとともに、検査対象の前記ICチップ中の前記IC固有情報を取得する第1検査工程と、
前記第1検査工程の結果、機能及び位置精度が所定の基準を満たすと判断されたICチップを有する領域で前記ラミネートシートをカード状に打抜いてICカードを形成する打抜き工程とを備え、
前記発行管理情報として、少なくとも前記第1検査工程の検査結果を用いることを特徴とする。
The invention described in
Before the issuing process,
A first inspection for performing at least one of a function inspection and a position accuracy inspection of the IC chip in the laminate sheet to which the IC chip and the card substrate are fixed, and acquiring the IC specific information in the IC chip to be inspected. Process,
As a result of the first inspection step, a punching step of punching the laminate sheet into a card shape in a region having an IC chip determined to have a function and positional accuracy satisfy a predetermined standard, and forming an IC card,
As the issue management information, at least an inspection result of the first inspection step is used.
請求項3記載の発明によれば、少なくとも第1検査工程の検査結果を発行管理情報として用いることにより、ICカードの品質を細かく区別して管理することが容易となる。
また、発行工程の前に打抜き工程によってラミネートシートからICカードを打抜かずにラミネートシートごと廃棄する場合であっても、廃棄されたICカードのIC固有情報と廃棄されなかったICカードのIC固有情報とを区別して管理することができるため、ICカードが廃棄されているのか、紛失しているのかを容易に判別することができる。
According to the invention described in
Also, even if the entire laminated sheet is discarded without punching the IC card from the laminated sheet by the punching process before the issuing process, the IC unique information of the discarded IC card and the IC unique of the IC card that has not been discarded Since information can be managed separately, it can be easily determined whether the IC card is discarded or lost.
なお、第1検査工程でのIC固有情報の取得には、各ICチップから別々にIC固有情報を取得する方法を用いても良いし、ラミネートシートに記録されたシート識別情報と、ラミネートシート中の各ICチップの位置及びIC固有情報とを対応付けて管理しておき、前記シート識別情報を介して各ICチップ中のIC固有情報を一括して取得する方法を用いても良い。
また、前記所定の基準としては、任意の基準を設定することができる。
In addition, in acquisition of IC specific information in a 1st test | inspection process, you may use the method of acquiring IC specific information separately from each IC chip, the sheet identification information recorded on the laminate sheet, It is also possible to use a method in which the position of each IC chip and the IC specific information are managed in association with each other, and the IC specific information in each IC chip is collectively acquired via the sheet identification information.
In addition, an arbitrary standard can be set as the predetermined standard.
請求項4記載の発明は、請求項1〜3の何れか一項に記載のICカードの製造管理方法において、
前記発行工程の前に、
ICチップとカード基材とが固着されたラミネートシートをカード状に打抜いてICカードを形成する打抜き工程と、
前記打抜き工程での打抜き精度を検査するとともに、検査対象の前記ICカードの前記IC固有情報を取得する第2検査工程と、
前記第2検査工程の結果、打抜き精度が所定の基準を満たさないと判断されたICカードを廃棄する第2廃棄工程とを備え、
前記発行管理情報として、少なくとも前記第2検査工程の検査結果を用いることを特徴とする。
The invention according to claim 4 is the IC card manufacturing management method according to any one of claims 1 to 3,
Before the issuing process,
A punching step of punching a laminate sheet having an IC chip and a card base material fixed thereto into a card shape to form an IC card;
A second inspection step of inspecting the punching accuracy in the punching step and acquiring the IC specific information of the IC card to be inspected;
A second discarding step of discarding an IC card determined to have a punching accuracy not satisfying a predetermined standard as a result of the second inspection step;
As the issue management information, at least an inspection result of the second inspection step is used.
請求項4記載の発明によれば、少なくとも第2検査工程の検査結果を発行管理情報として用いることにより、ICカードの品質を細かく区別して管理することが容易となる。
また、発行工程の前に第2廃棄工程によってICカードを廃棄する場合であっても、廃棄されたICカードのIC固有情報と廃棄されなかったICカードのIC固有情報とを区別して管理することができるため、ICカードが廃棄されているのか、紛失しているのかを容易に判別することができる。
According to the invention described in claim 4, by using at least the inspection result of the second inspection process as the issue management information, it becomes easy to finely distinguish and manage the quality of the IC card.
Also, even when the IC card is discarded by the second discarding process before the issuing process, the IC unique information of the discarded IC card and the IC unique information of the IC card that has not been discarded should be managed separately. Therefore, it is possible to easily determine whether the IC card is discarded or lost.
なお、第2検査工程でのIC固有情報の取得には、各ICチップから別々にIC固有情報を取得する方法を用いても良いし、ラミネートシートに記録されたシート識別情報と、ラミネートシート中の各ICチップの位置及びIC固有情報とを対応付けて管理しておき、前記シート識別情報を介して各ICチップ中のIC固有情報を一括して取得する方法を用いても良い。更に、ICカードのカード収容器の容器識別情報と、カード収容器中の各ICカードの位置及びIC固有情報とを対応付けて管理しておき、前記容器識別情報を介して各ICチップ中のIC固有情報を一括して取得する方法を用いても良い。
また、前記所定の基準としては、任意の基準を設定することができる。
In addition, in acquisition of IC specific information in a 2nd test process, you may use the method of acquiring IC specific information separately from each IC chip, sheet identification information recorded on the laminate sheet, It is also possible to use a method in which the position of each IC chip and the IC specific information are managed in association with each other, and the IC specific information in each IC chip is collectively acquired via the sheet identification information. Furthermore, the container identification information of the card container of the IC card, the position of each IC card in the card container and the IC specific information are managed in association with each other, and the information in each IC chip is stored via the container identification information. A method of acquiring IC specific information all at once may be used.
In addition, an arbitrary standard can be set as the predetermined standard.
請求項5記載の発明は、請求項1〜4の何れか一項に記載のICカードの製造管理方法において、
前記発行工程の前に、
前記ICカードの表面または裏面に印刷を行う印刷工程と、
前記ICカードの印刷状態の検査を行うとともに、検査対象の前記ICカードの前記IC固有情報を取得する第3検査工程と、
前記第3検査工程の結果、印刷状態が所定の基準を満たさないと判断されたICカードを廃棄する第3廃棄工程とを備え、
前記発行管理情報として、少なくとも前記第3検査工程の検査結果を用いることを特徴とする。
The invention according to claim 5 is the IC card manufacturing management method according to any one of claims 1 to 4,
Before the issuing process,
A printing process for printing on the front or back surface of the IC card;
A third inspection step of inspecting the print state of the IC card and acquiring the IC specific information of the IC card to be inspected;
A third discarding step of discarding the IC card determined as a result of the third inspection step that the printing state does not satisfy a predetermined standard;
As the issue management information, at least an inspection result of the third inspection step is used.
請求項5記載の発明によれば、少なくとも第3検査工程の検査結果を発行管理情報として用いることにより、ICカードの品質を細かく区別して管理することが容易となる。
また、発行工程の前に第3廃棄工程によってICカードを廃棄する場合であっても、廃棄されたICカードのIC固有情報と廃棄されなかったICカードのIC固有情報とを区別して管理することができるため、ICカードが廃棄されているのか、紛失しているのかを容易に判別することができる。
According to the invention described in claim 5, by using at least the inspection result of the third inspection process as the issue management information, it becomes easy to finely distinguish and manage the quality of the IC card.
Also, even when the IC card is discarded in the third discarding process before the issuing process, the IC unique information of the discarded IC card and the IC unique information of the IC card that has not been discarded are managed separately. Therefore, it is possible to easily determine whether the IC card is discarded or lost.
なお、第3検査工程でのIC固有情報の取得には、各ICチップから別々にIC固有情報を取得する方法を用いても良いし、ICカードのカード収容器の容器識別情報と、カード収容器中の各ICカードの位置及びIC固有情報とを対応付けて管理しておき、前記容器識別情報を介して各ICチップ中のIC固有情報を一括して取得する方法を用いても良い。
また、前記所定の基準としては、任意の基準を設定することができる。
In addition, in acquisition of IC specific information in a 3rd test | inspection process, you may use the method of acquiring IC specific information separately from each IC chip, the container identification information of the card | curd container of an IC card, and card accommodation A method may be used in which the position of each IC card in the container and IC specific information are managed in association with each other, and the IC specific information in each IC chip is collectively acquired via the container identification information.
In addition, an arbitrary standard can be set as the predetermined standard.
請求項6記載の発明は、請求項1〜5の何れか一項に記載のICカードの製造管理方法において、
前記発行工程の後に、
前記ICカードの外観検査を行うとともに、検査対象の前記ICカードの前記IC固有情報を取得する第4検査工程と、
前記第4検査工程の結果、外観が所定の基準を満たさないと判断されたICカードを廃棄する第4廃棄工程とを備え、
前記発行管理情報として、少なくとも前記第4検査工程の検査結果を用いることを特徴とする。
The invention according to claim 6 is the IC card manufacturing management method according to any one of claims 1 to 5,
After the issuing process,
A fourth inspection step of performing an appearance inspection of the IC card and acquiring the IC specific information of the IC card to be inspected;
A fourth discarding step of discarding an IC card determined to have an appearance that does not satisfy a predetermined standard as a result of the fourth inspection step;
As the issue management information, at least an inspection result of the fourth inspection process is used.
請求項6記載の発明によれば、少なくとも第4検査工程の検査結果を発行管理情報として用いることにより、ICカードの品質を細かく区別して管理することが容易となる。
また、発行工程の前に第4廃棄工程によってICカードを廃棄する場合であっても、廃棄されたICカードのIC固有情報と廃棄されなかったICカードのIC固有情報とを区別して管理することができるため、ICカードが廃棄されているのか、紛失しているのかを容易に判別することができる。
According to the invention described in claim 6, by using at least the inspection result of the fourth inspection process as the issue management information, it becomes easy to finely distinguish and manage the quality of the IC card.
Also, even when the IC card is discarded by the fourth discarding process before the issuing process, the IC unique information of the discarded IC card and the IC unique information of the IC card that has not been discarded should be managed separately. Therefore, it is possible to easily determine whether the IC card is discarded or lost.
なお、第4検査工程でのIC固有情報の取得には、各ICチップから別々にIC固有情報を取得する方法を用いても良いし、ICカードのカード収容器の容器識別情報と、カード収容器中の各ICカードの位置及びIC固有情報とを対応付けて管理しておき、前記容器識別情報を介して各ICチップ中のIC固有情報を一括して取得する方法を用いても良い。
また、前記所定の基準としては、任意の基準を設定することができる。
In addition, the acquisition of the IC specific information in the fourth inspection process may use a method of acquiring the IC specific information separately from each IC chip, or the container identification information of the card container of the IC card and the card storage A method may be used in which the position of each IC card in the container and IC specific information are managed in association with each other, and the IC specific information in each IC chip is collectively acquired via the container identification information.
In addition, an arbitrary standard can be set as the predetermined standard.
請求項7記載の発明は、ICカードの製造管理装置であって、
複数のICカードのICチップから前記ICカードのIC固有情報を取得し、各ICチップに対して発行管理情報を記録するとともにプロテクトをかける発行装置と、
前記IC固有情報及び前記発行管理情報を対応付けて記憶する管理用データベースとを備えることを特徴とする。
The invention according to claim 7 is an IC card manufacturing management device,
An issuing device that obtains IC specific information of the IC card from IC chips of a plurality of IC cards, records issue management information for each IC chip, and protects the IC card;
And a management database for storing the IC specific information and the issue management information in association with each other.
請求項7記載の発明によれば、IC固有情報及び発行管理情報を対応付けて管理用データベースが記憶するので、ICカードのIC固有情報に基づいて、そのICカードの発行管理情報を取得することが可能となる。また、各ICカードのICチップに対して発行管理情報を書き込むので、ICカードから発行管理情報を取得することが可能となる。従って、ICカードの材料のロットに関するデータやICカードに対して行われた検査結果などを発行管理情報として用いることにより、前記識別標識の色を用いる従来の場合と比較して、ICカードの品質を細かく区別して管理することが容易となる。 According to the seventh aspect of the invention, since the management database stores the IC unique information and the issue management information in association with each other, the issue management information of the IC card is acquired based on the IC unique information of the IC card. Is possible. In addition, since the issue management information is written to the IC chip of each IC card, it is possible to acquire the issue management information from the IC card. Therefore, the quality of the IC card is compared with the conventional case using the color of the identification mark by using the data relating to the lot of the IC card material or the inspection result performed on the IC card as the issue management information. It becomes easy to distinguish and manage them.
請求項8記載の発明は、請求項7記載のICカードの製造管理装置において、
前記発行装置によってプロテクトされた前記ICカードの前記ICチップから前記IC固有情報を取得し、このICカードをカード収容器に収容するとともに、このカード収容器から容器識別情報を取得する収容装置を備え、
前記管理用データベースは、前記IC固有情報、前記発行管理情報及び前記容器識別情報を対応付けて記憶することを特徴とする。
The invention according to claim 8 is the IC card manufacturing management apparatus according to claim 7,
A storage device for acquiring the IC specific information from the IC chip of the IC card protected by the issuing device, storing the IC card in a card storage device, and acquiring container identification information from the card storage device; ,
The management database stores the IC specific information, the issue management information, and the container identification information in association with each other.
請求項8記載の発明によれば、IC固有情報、発行管理情報及び容器識別情報を対応付けて管理用データベースが記憶するので、ICカードのIC固有情報に基づいて、そのICカードを収容していたカード収容器の容器識別情報を取得することができる。従って、ICカードに機能不良が生じた場合に、そのICカードと同じカード収容器に収容されて同一のロットを構成していた他のICカードのIC固有情報を容易に取得することができる。 According to the invention described in claim 8, since the management database stores the IC unique information, the issue management information, and the container identification information in association with each other, the IC card is accommodated based on the IC unique information of the IC card. The container identification information of the card container can be acquired. Therefore, when a malfunction occurs in an IC card, it is possible to easily obtain IC specific information of another IC card that is accommodated in the same card container as that IC card and constitutes the same lot.
請求項9記載の発明は、請求項7または8記載のICカードの製造管理装置において、
ICチップとカード基材とが固着されたラミネートシート中の前記ICチップの機能検査及び位置精度検査の少なくとも一方を行う第1検査装置と、
前記第1検査装置における検査対象の前記ICチップ中の前記IC固有情報を取得する第1取得装置と、
前記第1検査装置による検査の結果、機能及び位置精度が所定の基準を満たすと判断されたICチップを有する領域で前記ラミネートシートをカード状に打抜いてICカードを形成する打抜き装置とを備え、
前記発行管理情報は、少なくとも前記第1検査装置の検査結果を有することを特徴とする。
The invention according to
A first inspection device that performs at least one of a function inspection and a position accuracy inspection of the IC chip in the laminate sheet to which the IC chip and the card substrate are fixed;
A first acquisition device for acquiring the IC specific information in the IC chip to be inspected in the first inspection device;
A punching device for punching the laminate sheet into a card shape in a region having an IC chip determined to satisfy a predetermined standard in function and position accuracy as a result of the inspection by the first inspection device; ,
The issuance management information includes at least an inspection result of the first inspection apparatus.
請求項9記載の発明によれば、少なくとも第1検査装置の検査結果を発行管理情報として用いるので、ICカードの品質を細かく区別して管理することが容易となる。
また、発行装置の前に打抜き装置によってラミネートシートからICカードを打抜かずにラミネートシートごと廃棄する場合であっても、廃棄されたICカードのIC固有情報と廃棄されなかったICカードのIC固有情報とを区別して管理することができるため、ICカードが廃棄されているのか、紛失しているのかを容易に判別することができる。
According to the ninth aspect of the invention, since at least the inspection result of the first inspection apparatus is used as the issue management information, the quality of the IC card can be easily distinguished and managed.
Also, even if the entire laminated sheet is discarded without punching the IC card from the laminated sheet by the punching device before the issuing device, the IC unique information of the discarded IC card and the IC unique of the IC card that has not been discarded Since information can be managed separately, it can be easily determined whether the IC card is discarded or lost.
請求項10記載の発明は、請求項7〜9の何れか一項に記載のICカードの製造管理装置において、
ICチップとカード基材とが固着されたラミネートシートをカード状に打抜いてICカードを形成する打抜き装置と、
前記打抜き装置での打抜き精度を検査する第2検査装置と、
前記第1検査装置における検査対象の前記ICカードの前記IC固有情報を取得する第2取得装置と、
前記第2検査装置による検査の結果、打抜き精度が所定の基準を満たさないと判断されたICカードを廃棄する第2廃棄装置とを備え、
前記発行管理情報は、少なくとも前記第2検査装置の検査結果を有することを特徴とする。
The invention according to claim 10 is the IC card manufacturing management apparatus according to any one of claims 7 to 9,
A punching device for punching a laminate sheet to which an IC chip and a card substrate are fixed, into a card shape to form an IC card;
A second inspection device for inspecting the punching accuracy in the punching device;
A second acquisition device for acquiring the IC specific information of the IC card to be inspected in the first inspection device;
A second discarding device for discarding an IC card determined to have a punching accuracy not satisfying a predetermined standard as a result of the inspection by the second inspection device;
The issuance management information includes at least an inspection result of the second inspection apparatus.
請求項10記載の発明によれば、少なくとも第2検査装置の検査結果を発行管理情報として用いるので、ICカードの品質を細かく区別して管理することが容易となる。
また、発行装置の前に第2廃棄装置によってICカードを廃棄する場合であっても、廃棄されたICカードのIC固有情報と廃棄されなかったICカードのIC固有情報とを区別して管理することができるため、ICカードが廃棄されているのか、紛失しているのかを容易に判別することができる。
According to the invention described in claim 10, since at least the inspection result of the second inspection device is used as the issue management information, it becomes easy to finely distinguish and manage the quality of the IC card.
Also, even when the IC card is discarded by the second discarding device before the issuing device, the IC unique information of the discarded IC card and the IC unique information of the IC card that has not been discarded are managed separately. Therefore, it is possible to easily determine whether the IC card is discarded or lost.
請求項11記載の発明は、請求項7〜10の何れか一項に記載のICカードの製造管理装置において、
前記ICカードの表面または裏面に印刷を行う印刷装置と、
前記ICカードの印刷状態の検査を行う第3検査装置と、
前記第3検査装置における検査対象の前記ICカードの前記IC固有情報を取得する第3取得装置と、
前記第3検査装置による検査の結果、印刷状態が所定の基準を満たさないと判断されたICカードを廃棄する第3廃棄装置とを備え、
前記発行管理情報は、少なくとも前記第3検査装置の検査結果を有することを特徴とする。
The invention described in claim 11 is the IC card manufacturing management apparatus according to any one of claims 7 to 10,
A printing device for printing on the front or back surface of the IC card;
A third inspection device for inspecting the print state of the IC card;
A third acquisition device for acquiring the IC specific information of the IC card to be inspected in the third inspection device;
A third discarding device for discarding an IC card that has been determined that the printing state does not satisfy a predetermined standard as a result of the inspection by the third inspection device;
The issuance management information includes at least an inspection result of the third inspection apparatus.
請求項11記載の発明によれば、少なくとも第3検査装置の検査結果を発行管理情報として用いるので、ICカードの品質を細かく区別して管理することが容易となる。
また、発行装置の前に第3廃棄装置によってICカードを廃棄する場合であっても、廃棄されたICカードのIC固有情報と廃棄されなかったICカードのIC固有情報とを区別して管理することができるため、ICカードが廃棄されているのか、紛失しているのかを容易に判別することができる。
According to the eleventh aspect of the invention, since at least the inspection result of the third inspection device is used as the issue management information, the quality of the IC card can be easily distinguished and managed.
Also, even when the IC card is discarded by the third discarding device before the issuing device, the IC unique information of the discarded IC card and the IC unique information of the IC card not discarded are managed separately. Therefore, it is possible to easily determine whether the IC card is discarded or lost.
請求項12記載の発明は、請求項7〜11の何れか一項に記載のICカードの製造管理装置において、
前記発行装置によってプロテクトされた前記ICカードの外観検査を行う第4検査装置と、
前記第4検査装置における検査対象の前記ICカードの前記IC固有情報を取得する第4取得装置と、
前記第4検査装置による検査の結果、外観が所定の基準を満たさないと判断されたICカードを廃棄する第4廃棄装置とを備え、
前記発行管理情報は、少なくとも前記第4検査装置の検査結果を有することを特徴とする。
The invention according to claim 12 is the IC card manufacturing management apparatus according to any one of claims 7 to 11,
A fourth inspection device for inspecting the appearance of the IC card protected by the issuing device;
A fourth acquisition device for acquiring the IC specific information of the IC card to be inspected in the fourth inspection device;
A fourth discarding device for discarding an IC card determined to have an appearance that does not satisfy a predetermined standard as a result of the inspection by the fourth inspection device;
The issuance management information includes at least an inspection result of the fourth inspection apparatus.
請求項12記載の発明によれば、少なくとも第4検査装置の検査結果を発行管理情報として用いるので、ICカードの品質を細かく区別して管理することが容易となる。
また、発行装置の前に第4廃棄装置によってICカードを廃棄する場合であっても、廃棄されたICカードのIC固有情報と廃棄されなかったICカードのIC固有情報とを区別して管理することができるため、ICカードが廃棄されているのか、紛失しているのかを容易に判別することができる。
According to the invention of the twelfth aspect, since at least the inspection result of the fourth inspection apparatus is used as the issue management information, the quality of the IC card can be easily distinguished and managed.
Further, even when the IC card is discarded by the fourth discarding device before the issuing device, the IC unique information of the discarded IC card and the IC unique information of the IC card that has not been discarded are managed separately. Therefore, it is possible to easily determine whether the IC card is discarded or lost.
請求項1,7記載の発明によれば、前記識別標識の色を用いる従来の場合と比較して、ICカードの品質を細かく区別して管理することが容易となる。 According to the first and seventh aspects of the present invention, it is easy to finely distinguish and manage the quality of the IC card as compared with the conventional case using the color of the identification mark.
請求項2,8記載の発明によれば、請求項1,7記載の発明と同様の効果を得ることができるのは勿論のこと、ICカードに機能不良が生じた場合に、そのICカードと同じカード収容器に収容されて同一のロットを構成していた他のICカードのIC固有情報を容易に取得することができる。 According to the second and eighth aspects of the invention, the same effects as those of the first and seventh aspects of the invention can be obtained, and when an IC card malfunctions, It is possible to easily obtain IC specific information of other IC cards that are accommodated in the same card container and constitute the same lot.
請求項3〜6,9〜12記載の発明によれば、請求項1または2,7または8記載の発明と同様の効果を得ることができるのは勿論のこと、ICカードの品質を細かく区別して管理することが容易となる。 According to the third to sixth, ninth to twelfth inventions, it is possible to obtain the same effect as the first, second, seventh or eighth invention, and to finely control the quality of the IC card. It becomes easy to manage separately.
以下に、本発明の実施の形態について、図面を参照して説明する。
まず、ICカードについて説明する。本実施の形態におけるICカードは、図1(a),(b)に示されるラミネートシート100を鎖線部分でカード状に打抜くことにより形成されるものである。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
First, the IC card will be described. The IC card in the present embodiment is formed by punching the
これらの図に示すように、ラミネートシート100は、第1基材101と第2基材102との間に、複数のICインレット103,…を備えている。
As shown in these drawings, the
第1基材101及び第2基材102としては、熱収縮によるカール等が生じないよう、熱収縮及びそのバラツキが小さいものが用いられており、本実施の形態においてはPET製のものが用いられている。
As the
第1基材101の縦横の長さは、本実施の形態においては横500×縦650mmとなっており、ICカードを横方向に5列、縦方向に10列だけ形成可能となっている。また、第1基材101の厚さは、総厚で50〜250μとなっている。但し、第1基材101の寸法はこれに限らない。
この第1基材101は、枚葉シートとして後述のラミネートシートのラミネートシート製造部2(図2参照)に供給されている。
The length and width of the
The
なお、第1基材101の表面(図1(b)の上側の面)には、偽造や変造の防止のために、透かし印刷やホログラム、細紋等の画像が記録されていても良いし、枠や文字、記号等の画像が記録されていても良い。 Note that an image such as watermark printing, a hologram, or a fine pattern may be recorded on the surface of the first base material 101 (the upper surface in FIG. 1B) to prevent forgery or alteration. Images such as frames, characters and symbols may be recorded.
第2基材102は、第1基材101とほぼ等しい寸法を有しており、枚葉シートとしてラミネートシート製造部2に供給されるようになっている。なお、第2基材102としては、所定間隔ごとに第1基材101と貼合される長尺なロールシートを用いることも可能である。第2基材102の表面(図1(b)の下側の面)には、情報を書き込むための筆記層が設けられている。
The
ICインレット103は、ICチップ103a及びアンテナ103bを備えている。なお、ICインレット103としては、印刷やエッチング等によりアンテナ回路を設けたフィルム上にICチップ103aを搭載したものや、更にフィルム上のICチップ103a等を予め樹脂で封止したものを用いることも可能である。
The
ICインレット103と第1基材101及び第2基材102との間には、接着剤104が介在している。接着剤104は、例えばホットメルト接着剤であり、好ましくは反応性ホットメルト接着剤である。
An adhesive 104 is interposed between the
続いて、本発明に係るICカードの製造管理装置について説明する。
図2は、ICカードの製造管理装置(以下、製造管理装置とする)1の概略構成を示すブロック図である。
この図に示すように、製造管理装置1は、第1基材101、第2基材102及びICインレット103からラミネートシート100を形成するラミネートシート製造部2と、ラミネートシート100からICカード110(図4参照)を製造するICカード製造部3等とを備えている。なお、製造管理装置1には、図示しない搬送装置が設けられており、この搬送装置によって各材料が搬送方向Xに搬送されるようになっている。
Next, an IC card manufacturing management apparatus according to the present invention will be described.
FIG. 2 is a block diagram illustrating a schematic configuration of an IC card manufacturing management apparatus (hereinafter referred to as a manufacturing management apparatus) 1.
As shown in this figure, the production management device 1 includes a laminate
ラミネートシート製造部2は、図3に示すように、第1基材101を1枚ずつ印刷部21に供給する第1基材供給部(図示せず)を備えている。
第1基材供給部は、堆積された枚葉シート状の第1基材101の上面を検出する検出装置と、第1基材101を持ち上げる吸着パッドとを備えている。
As shown in FIG. 3, the laminate
The first base material supply unit includes a detection device that detects the top surface of the deposited sheet-like
印刷部21は、印刷ローラ21aによって第1基材101の表面(図1の上面)に印刷を行うものである。
The
印刷部21よりも搬送方向Xの下流側には、バーコード印字装置210が配設されている。
バーコード印字装置210は、第1基材101の端部にバーコード106(図1参照)を印字するものである。バーコード印字装置210によって印字されるバーコード106は、後述の検査装置22,28等において検査対象の第1基材101やラミネートシート100を識別するためのものである。
A
The
バーコード印字装置210よりも搬送方向Xの下流側には、検査装置22及びバーコード読取装置23が配設されている。
An
検査装置22は、画像カメラ等によって第1基材101の不良領域を識別し、第1基材101の不良領域に関する情報(以下、不良領域情報とする)を後述の管理用コンピュータ9(図2参照)に送信するものである。なお、検査装置22によって識別される不良領域としては、印刷状態の不良な領域や、キズの有る領域などがある。
The
バーコード読取装置23は、第1基材101のバーコード106を読み取り、検査装置22の検査対象となっている第1基材101の識別情報を前記不良領域情報と併せて前記管理用コンピュータ9に送信するものである。
The
バーコード読取装置23よりも搬送方向Xの下流側には、第1基材101を集積して上下反転する反転装置(図示せず)が配設され、この反転装置よりも搬送方向Xの下流側には、第1基材101の裏面(図1の上面)に接着剤を塗布する接着剤塗布部24が配設されている。
A reversing device (not shown) for stacking the
接着剤塗布部24は、接着剤104を所定の厚さで塗布するダイ24aを備えている。なお、塗布方式としては、ダイ方式に限らず、グラビア方式、ロール方式などを用いることができる。
The
接着剤塗布部24よりも搬送方向Xの下流側には、バーコード読取装置240が配設されている。
このバーコード読取装置240は、第1基材101のバーコード106を読み取り、接着剤塗布部24の塗布対象となっている第1基材101の識別情報を前記管理用コンピュータ9に送信するものである。
A
The
バーコード読取装置240よりも搬送方向Xの下流側には、接着剤塗布後の第1基材101の裏面にICインレット103を載置するICインレット供給部203が配設されている。
An IC
ICインレット供給部203は、ICインレット103を載置する前に、ICカード110のID番号や製造メーカ、製造年月日などの情報(以下、IC固有情報とする)をICチップ103aに記録するようになっている。また、ICインレット供給部203は、バーコード読取装置240によって識別された第1基材101に関する前記不良領域情報を前記管理用コンピュータ9の管理用データベース91から受信し、この不良領域情報に基づいて第1基材101の不良領域にはICインレット103を載置しないようになっている。
The IC
ICインレット供給部よりも搬送方向Xの下流側には、第2基材102を接着剤塗布部25に供給する第2基材供給部(図示せず)が配設されている。この第2基材供給部は、前記第1基材供給部と同様の構成を有している。
A second base material supply unit (not shown) that supplies the
接着剤塗布部25は、後述の貼合せ装置26におけるローラ26aの側周面上に保持された第2基材102に対し、ダイ25aによって接着剤104を塗布するものである。
The
なお、塗布される接着剤104の厚さは、第1基材101に塗布される接着剤104の厚さと同じであることが好ましく、製造されるラミネートシート100の非対称性も考慮して設定されることがより好ましい。
Note that the thickness of the applied adhesive 104 is preferably the same as the thickness of the adhesive 104 applied to the
接着剤塗布部25よりも搬送方向Xの下流側には、ICインレット103を介在させて第1基材101及び第2基材102を貼合せる貼合せ装置26が配設されている。
A
貼合せ装置26は、第1基材101及び第2基材102にそれぞれ塗布された接着剤104を加熱する加熱保温装置(図示せず)と、第1基材101,ICインレット103及び第2基材102の積層物をニップするローラ26a,26bとを備えている。
The
前記加熱保温装置は、ローラ26a,26bよりも搬送方向Xの上流側に配設されている。これら加熱保温装置は、加熱により第1基材101及び第2基材102の表面がダメージを受けてしまうのを防止するため、接着剤104の温度に基づき加熱温度を調節するようになっている。
The heating and heat retaining device is disposed upstream of the
ローラ26a,26bは、第1基材101及び第2基材102の温度を調節する温調機(図示せず)を内部に備えている。これらローラ26a,26bの表面は、ともに金属製でも良いし、一方がゴム製でも良い。
Each of the
貼合せ装置26よりも搬送方向Xの下流側には、貼合された第1基材101、ICインレット103及び第2基材102を加熱圧着により一体化してラミネートシート100を形成する加熱圧着装置27が配設されている。
The thermocompression bonding apparatus that forms the
加熱圧着装置27は、貼合された第1基材101、ICインレット103及び第2基材102を上下から挟むローラ27a,27bと、ローラ27a,27bの間に熱風を送り込む温風送風機(図示せず)とを備えている。
The
なお、本実施の形態においては、加熱圧着装置27による加圧時間は20〜30sec、加圧力は0.4〜0.6kg/cm2、加熱温度は50〜70℃となっているが、これらの値は適宜変更可能であり、例えば加熱時間を10〜60sec、加圧力を0.2〜1kg/cm2、温度を50〜100℃としても良い。また、加熱圧着装置27により一体化された積層物は、図示しない冷却装置によって冷却されるようになっている。また、第2基材102として長尺なロールシートを用いる場合には、加熱圧着装置27よりも搬送方向Xの下流側には、積層物の切断装置が設けられる。
In this embodiment, the pressurizing time by the
加熱圧着装置27よりも搬送方向Xの下流側には、検査装置(第1検査装置)28及びバーコード読取装置(第1取得装置)29が配設されている。
An inspection device (first inspection device) 28 and a barcode reading device (first acquisition device) 29 are disposed downstream of the
検査装置28は、ラミネートシート100の各アンテナ103bと通信することにより、ICインレット103の位置精度及び機能を検査し、ICインレット103の位置精度不良情報や、機能不良情報を前記管理用コンピュータ9に送信するものである。なお、ICインレット103が機能不良になる場合としては、加熱圧着装置27による加熱温度が高すぎる場合や、加圧力が大きすぎる場合などがある。
The
バーコード読取装置29は、ラミネートシート100中の第1基材101のバーコード106を読み取り、検査装置28の検査対象となっているラミネートシート100の識別情報を、前記位置精度不良情報や機能不良情報と併せて前記管理用コンピュータ9に送信するものである。
The
バーコード読取装置29よりも搬送方向Xの下流側には、所定枚数のラミネートシート100,…を収容する収容器4Aが配設されている。なお、本実施の形態においては、収容器4Aによるラミネートシート100,…の収容枚数は40枚となっている。
A
収容器4Aよりも搬送方向Xの下流側には、図2に示すように、前記ICカード製造部3が配設されている。
ICカード製造部3は、図4に示すように、図示しないシート供給装置によって収容器4Aから供給されるラミネートシート100のバーコード106を読み取るバーコード読取装置(第2取得装置)30を備えている。
As shown in FIG. 2, the IC
As shown in FIG. 4, the IC
バーコード読取装置30は、ラミネートシート100中の第1基材101のバーコード106を読み取り、ラミネートシート100の識別情報を前記管理用コンピュータ9に送信するものである。
The
バーコード読取装置30よりも搬送方向Xの下流側には、打抜き装置31が配設されている。
打抜き装置31は、搬送方向Xと直交して配列された5つの打抜き金型31a,…をそれぞれ上下に移動させてラミネートシート100,…をカード状に打抜くことにより、最大5枚のICカード110を一度に形成するものである。この打抜き装置31は、バーコード読取装置30によって識別されたラミネートシート100に関する前記不良領域情報や位置精度不良情報、機能不良情報を前記管理用コンピュータ9から受信し、これらの情報に基づいて、ICインレット103の載置されていない領域や、ICインレット103の位置精度または機能の不良領域では、ラミネートシート100を打抜かないようになっている。このような打抜き装置31としては、例えば、特開平7−315624号公報に開示のものを用いることができる。
A punching
The punching
打抜き装置31よりも搬送方向Xの下流側には、検査装置(第2検査装置)310が配設されている。
検査装置310は、打抜き装置31によるICカード110の打抜き精度を検査し、検査結果を管理用コンピュータ9に送信するものである。
なお、検査装置310により打抜き精度が不良であると判断されたICカード110は、図示しない第2廃棄装置によって廃棄されるようになっている。
An inspection device (second inspection device) 310 is disposed downstream of the
The
Note that the
検査装置310よりも搬送方向Xの下流側には、形成されたICカード110,…を収容器4Bに収容して印刷装置32に搬送する搬送装置(図示せず)が配設されている。
On the downstream side of the
ここで、収容器4Bは、5つの収容部41B,…に分けてICカード110,…を収容するようになっている。各収容部41Bは、ラミネートシート100における打抜き領域、つまり図1(a)の鎖線内の領域の列と対応している。収容器4Bの側面には、収容器の識別情報を示すバーコード42Bが貼付されている。
Here, the
印刷装置32は、収容器4Bの各収容部41Bから取出したICカード110,…を一列に並べて搬送しつつ、これらICカード110,…の裏面に印刷を行うものである。
The
印刷装置32よりも搬送方向Xの上流側にはバーコード読取装置(第3取得装置)330が配設されており、下流側には検査装置(第3検査装置)33が配設されている。
A barcode reading device (third acquisition device) 330 is disposed upstream of the
バーコード読取装置330は、収容器4Bのバーコード42Bを読み取り、収容器4Bの識別情報を前記管理用コンピュータ9に送信するものである。
The
検査装置33は、画像カメラ等によってICカード110の裏面の印刷状態を検査し、検査結果を管理用コンピュータ9に送信するものである。
なお、検査装置33により印刷不良と判断されたICカード110は、図示しない第3廃棄装置によって廃棄されるようになっている。
The
Note that the
検査装置33よりも搬送方向Xの下流側には、発行装置34及び検査装置(第4検査装置)35が配設されている。
An
発行装置34は、ICインレット103の機能検査と、機能の正常なICチップ103aからの前記IC固有情報の取得と、このICチップ103aに対する発行とを行うものである。ここで、発行とは、ICチップ103aに発行管理情報を書き込んだ後、不正な書き込みを防止するためのプロテクトをかけることである。発行管理情報としては、記憶領域に関するデータや、暗号処理方式に関するデータ、パスワードに関するデータ、ICカードの材料のロットに関するデータ、検査装置28,310,33によってICカード110等に対して行われた検査結果に関するデータ等がある。
The issuing
検査装置35は、発行されたICカード110の外観をカメラ等によって検査し、検査結果を管理用コンピュータ9に送信するものである。
なお、発行装置34により機能不良と判断されたICカード110や、検査装置35により外観不良と判断されたICカード110は、図示しない第4廃棄装置によって廃棄されるようになっている。
The
Note that the
検査装置35よりも搬送方向Xの下流側には、検査装置(第4検査装置)36及びIC情報読取部(第4取得装置)37が配設されている。
An inspection device (fourth inspection device) 36 and an IC information reading unit (fourth acquisition device) 37 are disposed downstream of the
検査装置36は、ICカード110の外観をカメラ等によって検査し、検査結果を管理用コンピュータ9に送信するものである。
なお、検査装置36により外観不良と判断されたICカード110は、前記第4廃棄装置によって廃棄されるようになっている。
The
Note that the
IC情報読取部37は、検査装置36における検査対象のICカード110のIC固有情報を取得し、前記管理用コンピュータ9に送信するものである。
The IC
IC情報読取部37よりも搬送方向Xの下流側には、製品として完成されたICカード110,…を収容器(カード収容器)4Eに収容する収容装置5Eが配設されている。この収容装置5Eは、収容器4Eに記録されたバーコード42Eから、収容器4Eの容器識別情報を取得するようになっている。
シール部38は、収容器4Eの開口部をシールするものである。
On the downstream side of the IC
The
以上のラミネートシート製造部2及びICカード製造部3には、図1に示すように、管理用コンピュータ(第1〜第4取得装置)9が接続されている。
As shown in FIG. 1, a management computer (first to fourth acquisition devices) 9 is connected to the laminate
管理用コンピュータ9は、ラミネートシート製造部2及びICカード製造部3の動作を制御するものである。また、管理用コンピュータ9は、管理用データベース91を有している。
管理用データベース91は、前記IC固有情報、前記発行管理情報及び前記容器識別情報などを対応付けて記憶するようになっている。
The
The
続いて、本発明に係るICカードの製造管理方法について説明する。
まず、前記第1基材供給部が第1基材101を印刷部21に供給し、印刷部21が第1基材101の表面に印刷を行う。また、バーコード印字装置210が第1基材101の端部にバーコード106を印字する。
Next, an IC card manufacturing management method according to the present invention will be described.
First, the first base material supply unit supplies the
次に、検査装置22が第1基材101の不良領域を識別して前記不良領域情報を管理用コンピュータ9に送信する。また、この不良領域情報と併せて、バーコード読取装置23が検査対象の第1基材101の識別情報を管理用コンピュータ9に送信する。これにより、不良領域情報と第1基材101とが対応付けられて管理用データベース91に記録され、管理用コンピュータ9で管理される。
Next, the
次に、前記反転送置が第1基材101を反転させて接着剤塗布部24に供給し、接着剤塗布部24が第1基材101の裏面に接着剤104を塗布する。また、バーコード読取装置240が第1基材101のバーコード106を読み取り、接着剤塗布部24の塗布対象となっている第1基材101の識別情報を管理用コンピュータ9に送信する。
Next, the anti-transfer device inverts the
次に、ICインレット供給部203は、管理用コンピュータ9によって設定されたIC固有情報をICチップ103aに記録した後、ICインレット103を第1基材101の裏面上に載置する。このとき、ICインレット供給部203は、バーコード読取装置240によって識別された第1基材101に関する前記不良領域情報を管理用コンピュータ9の管理用データベース91から受信し、この不良領域情報に基づいて第1基材101の不良領域にはICインレット103を載置しない。また、管理用コンピュータ9の管理用データベース91には、第1基材101の識別情報と、第1基材101上でのICインレット103の位置及びIC固有情報とが対応付けて記録される。
Next, the IC
次に、前記第2基材供給部が第2基材102を接着剤塗布部25に供給し、接着剤塗布部25が第2基材102の裏面に接着剤104を塗布する。
Next, the second base material supply unit supplies the
次に、貼合せ装置26が前記加熱保温装置によって接着剤104を加熱した後、ICインレット103を介在させて第1基材101と第2基材102とを貼合せ、これらの積層物を加熱圧着装置27が加熱圧着する。これにより、ラミネートシート100が形成される。
Next, after the
次に、検査装置28がアンテナ103bと通信して前記IC固有情報を読み取ることにより、第1基材101の裏面上におけるICインレット103の位置精度及び機能を検査し(第1検査工程)、検査結果を管理用コンピュータ9に送信する。また、この検査結果と併せて、検査装置28の検査対象となっているラミネートシート100の識別情報をバーコード読取装置29が管理用コンピュータ9に送信する。これらの情報を受信したら、管理用コンピュータ9は、前記バーコード読取装置29からのラミネートシート100の識別情報に基づいて検査装置28における検査対象のICカード110のIC固有情報を管理用データベース91から取得し、検査装置28から送信される検査結果と、ICチップ103a中のIC固有情報とを対応付けて管理用データベース91に記録する(記録工程)。
Next, the
次に、図示しない搬送装置がラミネートシート100,…を40枚ごとに収容器4Aに収容した後、前記シート供給装置がICカード製造部3のバーコード読取装置30及び打抜き装置31にラミネートシート100を供給する。
Next, after a transport device (not shown) stores the
次に、バーコード読取装置30がバーコード106を読み取り、ラミネートシート100の識別情報を管理用コンピュータ9に送信する。また、打抜き装置31がラミネートシート100をカード状に打抜いてICカード110を形成する(打抜き工程)。このとき、打抜き装置31は、バーコード読取装置30によって識別されたラミネートシート100に関して検査装置22,28による検査結果を管理用コンピュータ9から受信し、これらの検査結果に基づいて、ICチップ103aの存在しない領域と、ICインレット103の位置精度または機能の不良領域とでは、ラミネートシート100を打抜かない。なお、打抜きのされなかった領域中のICインレット103は、ラミネートシート100ごと廃棄される。
Next, the
次に、検査装置310が打抜き装置31によるICカード110の打抜き精度を検査し、検査結果を管理用コンピュータ9に送信する(第2検査工程)。この検査結果に基づき、前記第2廃棄装置は、打抜き精度の不良なICカード110,…を廃棄する(第2廃棄工程)。また、管理用コンピュータ9は、前記バーコード読取装置30からのラミネートシート100の識別情報に基づいて検査装置310における検査対象のICカード110のIC固有情報を管理用データベース91から取得し、検査装置310から送信される検査結果と、ICカード110のIC固有情報とを対応付けて管理用データベース91に記録する(記録工程)。
Next, the
検査装置310によって打抜き精度の検査が行われたICカード110,…は、収容器4Bの各収容部41Bに収容される。このとき、管理用コンピュータ9は、収容器4Bのバーコード42Bによって示される識別情報と、収容器4B中でのICカード110,…の位置及びIC固有情報とを対応付けて管理用データベース91に記録する。
The
次に、印刷装置32は、収容器4Bにより搬送されたICカード110を収容部41B毎に一列に並べて搬送しつつ、これらICカード110の裏面に印刷を行う(印刷工程)。また、バーコード読取装置330が収容器4Bのバーコード42Bを読み取り、収容器4Bの識別情報を管理用コンピュータ9に送信する。
Next, the
次に、検査装置33がICカード110の裏面の印刷状態を検査し、検査結果を管理用コンピュータ9に送信する(第3検査工程)。この検査結果に基づき、前記第3廃棄装置は印刷不良のICカード110,…を廃棄する(第3廃棄工程)。また、管理用コンピュータ9は、前記バーコード読取装置330からの収容器4Bの識別情報に基づいて検査装置33における検査対象のICカード110のIC固有情報を管理用データベース91から取得し、検査装置33から送信される検査結果と、ICカード110のIC固有情報とを対応付けて管理用データベース91に記録する(記録工程)。
Next, the
次に、発行装置34は、ICインレット103の機能検査を行った後、機能の正常なICチップ103aに発行を行う(発行工程)。また、発行装置34は、発行を行ったICカード110のICチップ103aから前記IC固有情報を取得して管理用コンピュータ9に送信する。IC固有情報を取得したら、管理用コンピュータ9はIC固有情報と発行管理情報とを対応付けて管理用データベース91に記録する(記録工程)。
Next, the issuing
このように、IC固有情報及び発行管理情報を対応付けて管理用データベース91に記録することにより、ICカード110のIC固有情報に基づいて、そのICカード110の発行管理情報を取得することが可能となる。
In this way, by recording the IC unique information and the issue management information in association with each other in the
ICチップ103aに発行が行われたら、検査装置35がICカード110の外観を検査し、検査結果を管理用コンピュータ9に送信する(第4検査工程)。この検査結果に基づき、前記第4廃棄装置は、外観不良のICカード110,…を廃棄する(第4廃棄工程)。また、管理用コンピュータ9は、前記バーコード読取装置330からの収容器4Bの識別情報に基づいて検査装置35における検査対象のICカード110のIC固有情報を管理用データベース91から取得し、検査装置35から送信される検査結果と、ICカード110のIC固有情報とを対応付けて管理用データベース91に記録する(記録工程)。
When the
次に、検査装置36がICカード110の外観を検査し、検査結果を管理用コンピュータ9に送信する(第4検査工程)。この検査結果に基づき、前記第4廃棄装置は、外観不良のICカード110,…を廃棄する(第4廃棄工程)。また、管理用コンピュータ9は、前記バーコード読取装置330からの収容器4Bの識別情報に基づいて検査装置36における検査対象のICカード110のIC固有情報を管理用データベース91から取得し、検査装置36から送信される検査結果と、ICカード110のIC固有情報とを対応付けて管理用データベース91に記録する(記録工程)。
Next, the
次に、IC情報読取部37は、廃棄されなかったICカード110の前記IC固有情報を読み取り、管理用コンピュータ9に送信する。また、収容装置5Eは、ICカードを収容器4Eに収容するとともに、収容器4Eの容器識別情報をバーコード42Eから取得して管理用コンピュータ9に送信する(収容工程)。IC固有情報及び容器識別情報を取得したら、管理用コンピュータ9はIC固有情報と、検査装置28,310,33,35,36による検査結果と、容器識別情報とを対応付けて管理用データベース91に記録する(記録工程)。
Next, the IC
これにより、ICカード110のIC固有情報に基づいて、そのICカード110を収容していた収容器4Eの容器識別情報を取得することが可能となる。
Thereby, based on the IC specific information of the
そして、シール部38が収容器4Eの開口部をシールすることにより、製品としてのICカード110,…が1つにまとめられて出荷待機状態となる。
Then, the
以上のICカードの製造管理方法によれば、ICカード110のIC固有情報に基づいて、そのICカード110の発行管理情報、つまり検査装置28,310,33,35,36による検査結果などを取得可能とすることができるため、従来と比較して、ICカード110の品質を細かく区別して管理することが容易となる。
According to the above IC card manufacturing management method, issuance management information of the
また、ICカード110のIC固有情報に基づいて、そのICカード110を収容していた収容器4Eの容器識別情報を取得することができるため、ICカード110に機能不良が生じた場合に、そのICカード110と同じ収容器4Eに収容されて同一のロットを構成していた他のICカード110のIC固有情報を容易に取得することができる。
In addition, since the container identification information of the
また、打抜き工程によってラミネートシートからICカード110を打抜かずにラミネートシートごと廃棄する場合であっても、廃棄されたICカード110のIC固有情報と廃棄されなかったICカード110のIC固有情報とを区別して管理することができるため、ICカード110が廃棄されているのか、紛失しているのかを容易に判別することができる。
Further, even when the laminated sheet is discarded without punching the
また、前記第2〜第4廃棄装置によってICカード110を廃棄する場合であっても、廃棄されたICカード110のIC固有情報と廃棄されなかったICカード110のIC固有情報とを区別して管理することができるため、ICカード110が廃棄されているのか、紛失しているのかを容易に判別することができる。
Further, even when the
1 製造管理装置(ICカードの製造管理装置)
4E 収容器(カード収容器)
5E 収容装置
9 管理用コンピュータ(第1〜第4取得装置)
28 検査装置(第1検査装置)
29 バーコード読取装置(第1取得装置)
30 バーコード読取装置(第2取得装置)
31 打抜き装置
32 印刷装置
33 検査装置(第3検査装置)
330 バーコード読取装置(第3取得装置)
34 発行装置
35,36 検査装置(第4検査装置)
37 IC情報読取部(第4取得装置)
91 管理用データベース
100 ラミネートシート
101 第1基材(カード基材)
102 第2基材(カード基材)
103a ICチップ
110 ICカード
310 検査装置(第2検査装置)
1 Manufacturing management device (IC card manufacturing management device)
4E container (card container)
28 Inspection device (first inspection device)
29 Bar code reader (first acquisition device)
30 Bar code reader (second acquisition device)
31
330 Bar code reader (third acquisition device)
34
37 IC information reader (fourth acquisition device)
91
102 Second substrate (card substrate)
Claims (12)
前記IC固有情報及び前記発行管理情報を対応付けて管理用データベースに記録する記録工程とを備えることを特徴とするICカードの製造管理方法。 Issuing step of obtaining IC specific information of the IC card from the IC chips of a plurality of IC cards, recording issue management information for each IC chip and applying protection;
A method of manufacturing and managing an IC card, comprising: a recording step of associating the IC specific information and the issue management information with each other and recording the information in a management database.
前記発行工程の後に、前記ICカードの前記ICチップから前記IC固有情報を取得し、このICカードをカード収容器に収容するとともに、このカード収容器から容器識別情報を取得する収容工程を備え、
前記記録工程においては、前記IC固有情報、前記発行管理情報及び前記容器識別情報を対応付けて管理用データベースに記録することを特徴とするICカードの製造管理方法。 In the manufacturing management method of the IC card according to claim 1,
After the issuing step, the IC specific information is obtained from the IC chip of the IC card, and the IC card is accommodated in the card container, and the container step is provided for obtaining container identification information from the card container,
In the recording step, the IC card manufacturing management method, wherein the IC specific information, the issue management information, and the container identification information are associated and recorded in a management database.
前記発行工程の前に、
ICチップとカード基材とが固着されたラミネートシート中の前記ICチップの機能検査及び位置精度検査の少なくとも一方を行うとともに、検査対象の前記ICチップ中の前記IC固有情報を取得する第1検査工程と、
前記第1検査工程の結果、機能及び位置精度が所定の基準を満たすと判断されたICチップを有する領域で前記ラミネートシートをカード状に打抜いてICカードを形成する打抜き工程とを備え、
前記発行管理情報として、少なくとも前記第1検査工程の検査結果を用いることを特徴とするICカードの製造管理方法。 In the manufacturing management method of the IC card according to claim 1 or 2,
Before the issuing process,
A first inspection for performing at least one of a function inspection and a position accuracy inspection of the IC chip in the laminate sheet to which the IC chip and the card substrate are fixed, and acquiring the IC specific information in the IC chip to be inspected. Process,
As a result of the first inspection step, a punching step of punching the laminate sheet into a card shape in a region having an IC chip determined to have a function and positional accuracy satisfy a predetermined standard, and forming an IC card,
An IC card manufacturing management method, wherein at least an inspection result of the first inspection step is used as the issuance management information.
前記発行工程の前に、
ICチップとカード基材とが固着されたラミネートシートをカード状に打抜いてICカードを形成する打抜き工程と、
前記打抜き工程での打抜き精度を検査するとともに、検査対象の前記ICカードの前記IC固有情報を取得する第2検査工程と、
前記第2検査工程の結果、打抜き精度が所定の基準を満たさないと判断されたICカードを廃棄する第2廃棄工程とを備え、
前記発行管理情報として、少なくとも前記第2検査工程の検査結果を用いることを特徴とするICカードの製造管理方法。 In the manufacturing management method of the IC card according to any one of claims 1 to 3,
Before the issuing process,
A punching step of punching a laminate sheet having an IC chip and a card base material fixed thereto into a card shape to form an IC card;
A second inspection step of inspecting the punching accuracy in the punching step and acquiring the IC specific information of the IC card to be inspected;
A second discarding step of discarding an IC card determined to have a punching accuracy not satisfying a predetermined standard as a result of the second inspection step;
An IC card manufacturing management method, wherein at least an inspection result of the second inspection step is used as the issuance management information.
前記発行工程の前に、
前記ICカードの表面または裏面に印刷を行う印刷工程と、
前記ICカードの印刷状態の検査を行うとともに、検査対象の前記ICカードの前記IC固有情報を取得する第3検査工程と、
前記第3検査工程の結果、印刷状態が所定の基準を満たさないと判断されたICカードを廃棄する第3廃棄工程とを備え、
前記発行管理情報として、少なくとも前記第3検査工程の検査結果を用いることを特徴とするICカードの製造管理方法。 In the manufacturing management method of the IC card according to any one of claims 1 to 4,
Before the issuing process,
A printing process for printing on the front or back surface of the IC card;
A third inspection step of inspecting the print state of the IC card and acquiring the IC specific information of the IC card to be inspected;
A third discarding step of discarding the IC card determined as a result of the third inspection step that the printing state does not satisfy a predetermined standard;
An IC card manufacturing management method, wherein at least an inspection result of the third inspection step is used as the issuance management information.
前記発行工程の後に、
前記ICカードの外観検査を行うとともに、検査対象の前記ICカードの前記IC固有情報を取得する第4検査工程と、
前記第4検査工程の結果、外観が所定の基準を満たさないと判断されたICカードを廃棄する第4廃棄工程とを備え、
前記発行管理情報として、少なくとも前記第4検査工程の検査結果を用いることを特徴とするICカードの製造管理方法。 In the manufacturing management method of the IC card according to any one of claims 1 to 5,
After the issuing process,
A fourth inspection step of performing an appearance inspection of the IC card and acquiring the IC specific information of the IC card to be inspected;
A fourth discarding step of discarding an IC card determined to have an appearance that does not satisfy a predetermined standard as a result of the fourth inspection step;
An IC card manufacturing management method, wherein at least an inspection result of the fourth inspection step is used as the issuance management information.
前記IC固有情報及び前記発行管理情報を対応付けて記憶する管理用データベースとを備えることを特徴とするICカードの製造管理装置。 An issuing device that obtains IC specific information of the IC card from IC chips of a plurality of IC cards, records issue management information for each IC chip, and protects the IC card;
An IC card manufacturing management apparatus comprising: a management database that stores the IC specific information and the issuance management information in association with each other.
前記発行装置によってプロテクトされた前記ICカードの前記ICチップから前記IC固有情報を取得し、このICカードをカード収容器に収容するとともに、このカード収容器から容器識別情報を取得する収容装置を備え、
前記管理用データベースは、前記IC固有情報、前記発行管理情報及び前記容器識別情報を対応付けて記憶することを特徴とするICカードの製造管理装置。 In the manufacturing management apparatus of the IC card according to claim 7,
A storage device for acquiring the IC specific information from the IC chip of the IC card protected by the issuing device, storing the IC card in a card storage device, and acquiring container identification information from the card storage device; ,
The management database stores the IC unique information, the issue management information, and the container identification information in association with each other.
ICチップとカード基材とが固着されたラミネートシート中の前記ICチップの機能検査及び位置精度検査の少なくとも一方を行う第1検査装置と、
前記第1検査装置における検査対象の前記ICチップ中の前記IC固有情報を取得する第1取得装置と、
前記第1検査装置による検査の結果、機能及び位置精度が所定の基準を満たすと判断されたICチップを有する領域で前記ラミネートシートをカード状に打抜いてICカードを形成する打抜き装置とを備え、
前記発行管理情報は、少なくとも前記第1検査装置の検査結果を有することを特徴とするICカードの製造管理装置。 In the manufacturing management apparatus of the IC card according to claim 7 or 8,
A first inspection device that performs at least one of a function inspection and a position accuracy inspection of the IC chip in the laminate sheet to which the IC chip and the card substrate are fixed;
A first acquisition device for acquiring the IC specific information in the IC chip to be inspected in the first inspection device;
A punching device for punching the laminate sheet into a card shape in a region having an IC chip determined to satisfy a predetermined standard in function and position accuracy as a result of the inspection by the first inspection device; ,
The IC card manufacturing management apparatus, wherein the issuance management information includes at least an inspection result of the first inspection apparatus.
ICチップとカード基材とが固着されたラミネートシートをカード状に打抜いてICカードを形成する打抜き装置と、
前記打抜き装置での打抜き精度を検査する第2検査装置と、
前記第2検査装置における検査対象の前記ICカードの前記IC固有情報を取得する第2取得装置と、
前記第2検査装置による検査の結果、打抜き精度が所定の基準を満たさないと判断されたICカードを廃棄する第2廃棄装置とを備え、
前記発行管理情報は、少なくとも前記第2検査装置の検査結果を有することを特徴とするICカードの製造管理装置。 In the manufacturing management apparatus of IC card as described in any one of Claims 7-9,
A punching device for punching a laminate sheet to which an IC chip and a card substrate are fixed, into a card shape to form an IC card;
A second inspection device for inspecting the punching accuracy in the punching device;
A second acquisition device for acquiring the IC specific information of the IC card to be inspected in the second inspection device;
A second discarding device for discarding an IC card determined to have a punching accuracy not satisfying a predetermined standard as a result of the inspection by the second inspection device;
The IC card manufacturing management apparatus, wherein the issuance management information includes at least an inspection result of the second inspection apparatus.
前記ICカードの表面または裏面に印刷を行う印刷装置と、
前記ICカードの印刷状態の検査を行う第3検査装置と、
前記第3検査装置における検査対象の前記ICカードの前記IC固有情報を取得する第3取得装置と、
前記第3検査装置による検査の結果、印刷状態が所定の基準を満たさないと判断されたICカードを廃棄する第3廃棄装置とを備え、
前記発行管理情報は、少なくとも前記第3検査装置の検査結果を有することを特徴とするICカードの製造管理装置。 In the manufacturing management apparatus of IC card as described in any one of Claims 7-10,
A printing device for printing on the front or back surface of the IC card;
A third inspection device for inspecting the print state of the IC card;
A third acquisition device for acquiring the IC specific information of the IC card to be inspected in the third inspection device;
A third discarding device for discarding an IC card that has been determined that the printing state does not satisfy a predetermined standard as a result of the inspection by the third inspection device;
The IC card manufacturing management apparatus, wherein the issuance management information includes at least an inspection result of the third inspection apparatus.
前記発行装置によってプロテクトされた前記ICカードの外観検査を行う第4検査装置と、
前記第4検査装置における検査対象の前記ICカードの前記IC固有情報を取得する第4取得装置と、
前記第4検査装置による検査の結果、外観が所定の基準を満たさないと判断されたICカードを廃棄する第4廃棄装置とを備え、
前記発行管理情報は、少なくとも前記第4検査装置の検査結果を有することを特徴とするICカードの製造管理装置。 In the manufacturing management apparatus of the IC card according to any one of claims 7 to 11,
A fourth inspection device for inspecting the appearance of the IC card protected by the issuing device;
A fourth acquisition device for acquiring the IC specific information of the IC card to be inspected in the fourth inspection device;
A fourth discarding device for discarding an IC card determined to have an appearance that does not satisfy a predetermined standard as a result of the inspection by the fourth inspection device;
The IC card manufacturing management apparatus, wherein the issuance management information includes at least an inspection result of the fourth inspection apparatus.
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2004
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