JP2006051501A - Method and apparatus for removing object to be removed from fluid, method for producing wafer and method for producing semiconductor device - Google Patents

Method and apparatus for removing object to be removed from fluid, method for producing wafer and method for producing semiconductor device Download PDF

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To solve such a problem that it is difficult to control the thickness of a second filter film by using an air bubble generating unit for hindering the filtering capacity of a filter from being deteriorated owing to, for example, the clogging of the second filter film formed on the surface of the filter. <P>SOLUTION: According to an apparatus for removing an object to be removed from fluid and a method for removing the object to be removed using the apparatus, air diffusing pipes 26, 27, 28 are arranged at the bottom of an original water tank 1. Air of the same pressure is sent into each of air diffusing pipes 26, 27, 28 from both ends of each pipe, so that the quantities of air bubbles to be discharged from air diffusing pipes 26, 27, 28 are uniformized with one another. As a result, the second filter film 21 to be formed on the surface of the filter 4 can be adjusted and the filtering capacity of the filter can always be kept at a constant optimum value. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、フィルタに形成される第2のフィルタ膜をエアーブローしながら、被除去物を含む流体を濾過するものである。   The present invention is for filtering a fluid containing an object to be removed while air blowing through a second filter film formed on the filter.

現在、産業廃棄物を減らす事は、エコロジーの観点から重要なテーマであり、企業課題である。この産業廃棄物の中には、色々な排水や汚水がある。   At present, reducing industrial waste is an important theme from an ecological point of view and is a corporate issue. There are various types of wastewater and sewage in this industrial waste.

以下、水や薬品等の流体中に被除去物である物質が含まれているものを排水と呼び説明する。これらの排水は、高価な濾過処理装置等で前記被除去物が取り除かれ、排水がきれいな流体となり再利用されたり、除去できずに残ったものを産業廃棄物として処理している。特に水は、きれいな状態にして川や海等の自然界に戻されたり、再利用される。   Hereinafter, a substance containing a substance to be removed in a fluid such as water or chemicals will be referred to as “drainage”. These wastewaters are processed as industrial waste by removing the object to be removed by an expensive filtration device or the like, and the wastewater becomes a clean fluid and reused or cannot be removed. In particular, water is returned to the natural world such as rivers and seas in a clean state or reused.

この事からも判るように、排水処理の技術は、環境汚染の意味からも、またリサイクルの点からも重要な問題であり、低イニシャルコスト、低ランニングコストのシステムが早急に望まれている。   As can be seen from this, wastewater treatment technology is an important problem from the viewpoint of environmental pollution and from the viewpoint of recycling, and a system with low initial cost and low running cost is urgently desired.

一例として、半導体分野に於ける排水処理を以下に説明していく。一般に、金属、半導体、セラミック等の板状体を研削または研磨する際、設備の温度上昇防止、潤滑性向上、研削屑または切削屑の板状体への付着等が考慮され、水等の流体が供給されている。   As an example, wastewater treatment in the semiconductor field will be described below. In general, when grinding or polishing a plate such as metal, semiconductor, ceramic, etc., fluid such as water is considered in consideration of prevention of temperature rise of equipment, improvement of lubricity, adhesion of grinding or cutting waste to the plate. Is supplied.

一方、「環境に優しい」をテーマに、前記半導体ウェハの研削屑または研磨屑が混入された排水は、濾過されてきれいな水にして自然界に戻されたり、あるいは再利用され、濃縮された排水は、回収されている。   On the other hand, with the theme of “environmentally friendly”, wastewater mixed with grinding or polishing waste of the semiconductor wafer is filtered and returned to the natural world as clean water, or recycled wastewater is concentrated. Have been recovered.

現状の半導体製造に於いて、Siを主体とする屑の混入された排水処理には、凝集沈殿法、フィルタ濾過と遠心分離機を組み合わせた方法の二通りがあり、各半導体メーカーで採用している。   In the current semiconductor manufacturing, there are two types of wastewater treatment mainly containing Si, which is a combination of coagulation sedimentation method and filter filtration and centrifuge. Yes.

しかし上記二通りの方法は、どちらともモータの電気代やフィルタの交換費用等のランニングコストが非常に大きく、またイニシャルコストも非常に大きいという問題があった(例えば、特許文献1参照。)。   However, both of the above two methods have a problem that the running cost such as the electric cost of the motor and the replacement cost of the filter is very high and the initial cost is also very high (see, for example, Patent Document 1).

上記の問題に鑑みて、本出願人は、イニシャルコストとランニングコストが非常に安いシステムを開発した。以下にその概要を示す。   In view of the above problems, the present applicant has developed a system with very low initial cost and running cost. The outline is shown below.

最初に、このシステムの機構を説明する。   First, the mechanism of this system will be described.

図5における符号1は、原水タンクである。このタンク1の上方には、原水供給手段としてパイプ2が設けられている。このパイプ2は、被除去物が混入した流体の通過する所である。例えば、半導体分野で説明すると、ダイシング装置、バックグラインド装置、ミラーポリッシング装置またはCMP装置から流れ出る被除去物が混入された排水(原水)が通過する所である。尚、この排水は、ダイシング装置から流れるシリコン屑が混入された排水として説明していく。   Reference numeral 1 in FIG. 5 is a raw water tank. Above the tank 1, a pipe 2 is provided as raw water supply means. This pipe 2 is a place where a fluid mixed with an object to be removed passes. For example, in the semiconductor field, waste water (raw water) mixed with an object to be removed flowing out from a dicing apparatus, a back grinding apparatus, a mirror polishing apparatus, or a CMP apparatus passes. The drainage will be described as drainage mixed with silicon waste flowing from the dicing apparatus.

原水タンク1に貯められた原水3の中には、フィルタ4が複数個設置される。このフィルタ4の下方には、例えばパイプに小さい孔を開けたような、バブリング装置の如き、気泡発生装置5が設けられ、ちょうど第1のフィルタ膜の表面を通過するように孔の位置が調整されている。6は、エアーブローである。   A plurality of filters 4 are installed in the raw water 3 stored in the raw water tank 1. Below this filter 4, for example, a bubble generating device 5 such as a bubbling device in which a small hole is made in a pipe is provided, and the position of the hole is adjusted so as to pass through the surface of the first filter membrane. Has been. 6 is an air blow.

フィルタ4に固定されたパイプ7は、フィルタ4で濾過された濾過流体が通過し、第1のバルブ9を介して原水タンク1側に向かうパイプ10と、再利用(または排水される)側に向かうパイプ11に選択輸送される。また原水タンク1の側壁および底面には、第2のパイプ12、第3のパイプ13、第4のパイプ14および第5のパイプ15が取り付けられている。   The pipe 7 fixed to the filter 4 passes through the filtered fluid filtered by the filter 4 and passes through the first valve 9 to the raw water tank 1 side and to the reuse (or drained) side. It is selectively transported to the pipe 11 that heads. A second pipe 12, a third pipe 13, a fourth pipe 14 and a fifth pipe 15 are attached to the side wall and the bottom surface of the raw water tank 1.

パイプ2から供給された原水3は、原水タンク1に貯められ、フィルタ4により濾過される。このフィルタに取り付けられた第1のフィルタ膜20(図6参照)の表面は、気泡が通過し、気泡の上昇力や破裂により、第1のフィルタ膜20にトラップしたシリコン屑を動かし、常にその濾過能力が低下しないように維持されている。   The raw water 3 supplied from the pipe 2 is stored in the raw water tank 1 and filtered by the filter 4. Bubbles pass through the surface of the first filter membrane 20 (see FIG. 6) attached to this filter, and the silicon debris trapped in the first filter membrane 20 is moved by the rising force and rupture of the bubbles. The filtration capacity is maintained so as not to decrease.

また第1のフィルタ膜20が新規に取り付けられたり、休日により長期間停止された後に濾過を再開したり、またはパイプ7にシリコン屑が混入されている場合は、バルブ9を使って、濾過流体がパイプ10を介して原水タンク1に循環する様に設計されている。それ以外は、バルブ9は、パイプ11に切り替えられており、濾過流体は再利用される。   Further, when the first filter membrane 20 is newly attached, the filtration is resumed after being stopped for a long time due to a holiday, or when silicon waste is mixed in the pipe 7, the valve 9 is used to filter the fluid. Is circulated through the pipe 10 to the raw water tank 1. Otherwise, the valve 9 is switched to the pipe 11 and the filtered fluid is reused.

シリコン屑が所定の混入率よりも高かった場合、濾過流体は異常水と判断し、自動的に循環が開始されたり、またはポンプが止められ濾過が停止される。また循環する時は、排水がタンク1から溢れる事を考慮して、パイプ2からタンク1への流体供給が停止されても良い。   If the silicon scrap is higher than the predetermined mixing rate, the filtration fluid is determined to be abnormal water, and the circulation is automatically started or the pump is stopped and the filtration is stopped. Further, when circulating, the supply of fluid from the pipe 2 to the tank 1 may be stopped in consideration of the overflow of the drainage from the tank 1.

またセンサ17は、シリコン屑を常時センシングしている。センサ17として、受光・発光素子の付いた光センサを用いて、濾過流体の透明度を検出することにより、濾過流体中のシリコン屑の量を検出できる。発光素子は、発光ダイオードやレーザが考えられる。またセンサ17は、パイプ7の途中あるいはパイプ10の途中に取り付けても良い。   The sensor 17 constantly senses silicon scrap. The amount of silicon waste in the filtered fluid can be detected by detecting the transparency of the filtered fluid using an optical sensor with a light receiving / light emitting element as the sensor 17. The light emitting element may be a light emitting diode or a laser. The sensor 17 may be attached in the middle of the pipe 7 or in the middle of the pipe 10.

一方、原水タンク1は、時間とともに濃縮されてくる。そして所望の濃度になった場合、濾過作業を停止し、凝集沈殿させ、放置する。するとタンクの中の原水3は、だいたい層状に分かれる。つまり上層から下層に従い、やや透明な水からシリコン屑で全く非透明な液体に分布される。これらをパイプ12〜15を使い分けて回収する。   On the other hand, the raw water tank 1 is concentrated with time. And when it becomes a desired density | concentration, a filtration operation | work is stopped, it is made to coagulate, and it is left to stand. Then, the raw water 3 in the tank is roughly divided into layers. In other words, from the upper layer to the lower layer, it is distributed from a slightly transparent water to a completely non-transparent liquid with silicon waste. These are collected using pipes 12-15 separately.

以上述べたように、図5のシステムでは、原水タンク1、フィルタ4、小型ポンプ8で構成される。   As described above, the system of FIG. 5 includes the raw water tank 1, the filter 4, and the small pump 8.

次に、このシステムで採用するフィルタ4の構造について説明する。   Next, the structure of the filter 4 employed in this system will be described.

図6(A)に示す符号19は、額縁の如き形状の枠であり、この枠19の両面には、第1のフィルタ膜20が貼り合わされ固定されている。そして枠19、第1のフィルタ膜20で囲まれた内側の空間18には、パイプ7を吸引する事により、第1のフィルタ膜20により濾過された濾過流体が発生する。そして枠19にシールされて取り付けられているパイプ7を介して濾過流体が取り出されている。もちろん第1のフィルタ膜20と枠19は、排水が第1のフィルタ膜20以外から前記空間に侵入しないように完全にシールされている。   Reference numeral 19 shown in FIG. 6A denotes a frame having a frame shape, and the first filter film 20 is bonded and fixed to both surfaces of the frame 19. In the inner space 18 surrounded by the frame 19 and the first filter membrane 20, the filtered fluid filtered by the first filter membrane 20 is generated by sucking the pipe 7. The filtered fluid is taken out through the pipe 7 which is sealed and attached to the frame 19. Of course, the first filter membrane 20 and the frame 19 are completely sealed so that drainage does not enter the space from other than the first filter membrane 20.

図6(A)の第1のフィルタ膜20は、薄い樹脂膜であるため、吸引されると内側に反り、破壊に至る場合もある。そのため、この空間18をできるだけ小さくし、濾過能力を大きくするために、この空間18を多数個形成する必要がある。これを示したものが、図6(B)である。図では、空間18が9個しか示されていないが、実際は数多く形成される。また実際に採用した第1のフィルタ膜20は、約0.1mm厚さのポリオレフィン系の高分子膜であり、図の如く、薄い第1のフィルタ膜20が袋状に形成されており、図6(B)では、FTで示した。この袋状のフィルタFTの中に、パイプ7が一体化された枠19が挿入され、枠19とフィルタFTが貼り合わされている。符号RGは、押さえ手段であり、第1のフィルタ膜20が貼り合わされた枠19を両側から押さえるものである。そして押さえ手段の開口部OPからは、第1のフィルタ膜20が露出している。   Since the first filter film 20 in FIG. 6A is a thin resin film, when it is sucked, the first filter film 20 warps inward and may be destroyed. Therefore, in order to make the space 18 as small as possible and increase the filtering capacity, it is necessary to form a large number of the spaces 18. This is shown in FIG. 6 (B). Although only nine spaces 18 are shown in the figure, many spaces are actually formed. The actually employed first filter membrane 20 is a polyolefin-based polymer membrane having a thickness of about 0.1 mm, and the thin first filter membrane 20 is formed in a bag shape as shown in the figure. In 6 (B), it was indicated by FT. A frame 19 in which the pipe 7 is integrated is inserted into the bag-like filter FT, and the frame 19 and the filter FT are bonded together. Reference numeral RG denotes pressing means that presses the frame 19 to which the first filter film 20 is bonded from both sides. The first filter film 20 is exposed from the opening OP of the pressing means.

このフィルタ4の動作を概念的に示したものが図7である。ここでは、パイプ7側をポンプ等で吸引すれば、ハッチング無しの矢印のように、水が流れ濾過されることになる。   FIG. 7 conceptually shows the operation of the filter 4. Here, if the pipe 7 side is sucked with a pump or the like, water flows and is filtered as shown by an arrow without hatching.

また第1の第1のフィルタ膜20、およびこの膜20で捕獲されたシリコン屑の層でシリコン屑が捕獲されることにより、縦置きにされた濾過装置に第2のフィルタ膜21が形成されることになる。この際、第2のフィルタ膜21は、シリコン屑が付着したものであるため、第2のフィルタ膜21に外力を加えることで、第2フィルタ21を取り除いたり、また第2のフィルタ膜21の表層を取り除いたりすることができる。またこの取り除きは、気泡の上昇力を使って表面をこする、あるいは攪拌機等で簡単に実現できる。そしてこの外力により第2のフィルタ膜21の濾過能力は、常時リフレッシュし、ほぼ一定の値を維持することになる。
特開2001−038352号公報(第10−13頁、第1−3図)
Further, the silicon filter is captured by the first filter film 20 and the layer of the silicon scrap captured by the film 20, whereby the second filter film 21 is formed in the vertically placed filter device. Will be. At this time, since the second filter film 21 is attached with silicon waste, by applying an external force to the second filter film 21, the second filter 21 can be removed or the second filter film 21 can be removed. The surface layer can be removed. Further, this removal can be easily realized by rubbing the surface using the rising force of bubbles or by a stirrer or the like. With this external force, the filtration capacity of the second filter membrane 21 is constantly refreshed and maintained at a substantially constant value.
Japanese Patent Laid-Open No. 2001-038352 (page 10-13, FIG. 1-3)

上記したように、従来における濾過装置の気泡発生装置5では、気泡発生装置5は塩化ビニールパイプ等の散気管であり、フィルタ4下部に位置する散気管には多数の穴が形成されていた。そして、気泡発生装置5はブロアー6に接続されており、気泡発生装置5にはブロアー6から空気が送り込まれた。その結果、気泡発生装置5の散気管の穴から発生する気泡によりフィルタ4表面に形成される第2のフィルタ膜21の調整を行っていた。   As described above, in the conventional bubble generating device 5 of the filtration device, the bubble generating device 5 is an air diffuser such as a vinyl chloride pipe, and a large number of holes are formed in the air diffuser located below the filter 4. The bubble generating device 5 was connected to the blower 6, and air was sent from the blower 6 to the bubble generating device 5. As a result, the second filter film 21 formed on the surface of the filter 4 is adjusted by the bubbles generated from the holes of the air diffusion tube of the bubble generating device 5.

しかし、気泡発生装置5の一端は密閉されており、また、気泡発生装置5の他端はブロアー6に設置されているため、常に、ブロアー6に接続している他端からのみ空気が送り込まれていた。そのため、気泡発生装置5において、ブロアー6に近い側では多量の気泡を得ることができたが、ブロアー6に遠い側では近い側と比べて十分な気泡が発生しなかった。その結果、フィルタ4表面に形成される第2のフィルタ膜21が、気泡発生装置5に対する位置により厚みや性質等が異なり、十分な濾過能力を得ることができないという問題があった。   However, since one end of the bubble generating device 5 is sealed and the other end of the bubble generating device 5 is installed in the blower 6, air is always sent only from the other end connected to the blower 6. It was. Therefore, in the bubble generating device 5, a large amount of bubbles can be obtained on the side closer to the blower 6, but sufficient bubbles are not generated on the side farther from the blower 6 than on the closer side. As a result, there is a problem in that the second filter film 21 formed on the surface of the filter 4 has a different thickness and properties depending on the position with respect to the bubble generating device 5 and cannot obtain a sufficient filtering ability.

更に、上記したように、原水タンク1内には複数のフィルタ4が設置されているが、従来における気泡発生装置5では複数のフィルタ4に対して均一に気泡を発生させることができなかった。その結果、フィルタ4表面に形成される第2のフィルタ膜21が、気泡発生装置5に対する位置により厚みや性質等が異なり、十分な濾過能力を得ることができないという問題があった。   Furthermore, as described above, a plurality of filters 4 are installed in the raw water tank 1, but the conventional bubble generator 5 cannot uniformly generate bubbles for the plurality of filters 4. As a result, there is a problem in that the second filter film 21 formed on the surface of the filter 4 has a different thickness and properties depending on the position with respect to the bubble generating device 5 and cannot obtain a sufficient filtering ability.

本発明は、上記した従来の課題に鑑みてなされたもので、本発明の流体の被除去物除去方法では、被除去物を含む流体内に複数枚のフィルタを浸漬し、前記フィルタに前記流体を通過させることにより、前記被除去物を除去する流体の被除去物除去方法において、前記フィルタの間隔を狭めることにより、前記フィルタ下方から発生した気泡がその形状を変形しながら、前記フィルタ間を通過することを特徴とする。   The present invention has been made in view of the above-described conventional problems. In the fluid removal object removal method of the present invention, a plurality of filters are immersed in a fluid containing the removal object, and the fluid is contained in the filter. In the fluid removal object removal method for removing the removal object by passing the filter, by reducing the interval between the filters, the bubbles generated from below the filter are deformed and the gap between the filters is reduced. It is characterized by passing.

更に、本発明の流体の被除去物除去方法では、前記フィルタにより前記気泡が変形し、前記気泡の変形に対する抗力により、前記フィルタの表面に外力を加えることを特徴とする。   Furthermore, in the fluid removal object removal method of the present invention, the bubbles are deformed by the filter, and an external force is applied to the surface of the filter by a resistance against the deformation of the bubbles.

更に、本発明の流体の被除去物除去装置では、被除去物を含む流体内に複数枚のフィルタを浸漬することにより、前記流体の濾過を行う流体の被除去物除去装置において、前記フィルタは実質的に所定の間隔bにて配置され、前記フィルタ間を通過する気泡が変形するように、前記間隔bが設定されていることを特徴とする。   Furthermore, in the fluid removal object removal apparatus of the present invention, in the fluid removal object removal apparatus that filters the fluid by immersing a plurality of filters in the fluid containing the removal object, the filter includes: The interval b is set so that bubbles arranged substantially at a predetermined interval b and passing between the filters are deformed.

更に、本発明の流体の被除去物除去装置では、前記フィルタ下方に設けられた気泡発生装置は、前記フィルタ面と直交するように配置されていることを特徴とする。   Further, in the fluid removal object removing device of the present invention, the bubble generating device provided below the filter is arranged so as to be orthogonal to the filter surface.

更に、本発明のウェハの製造方法では、インゴットをウェハ状に機械加工する時に発生した流体内に複数枚のフィルタを浸漬し、前記フィルタに前記流体を通過させることにより、前記機械加工により発生した被除去物を除去し、濾過された前記流体を再利用するウェハの製造方法において、前記フィルタの間隔を狭めることにより、前記フィルタ下方から発生した気泡がその形状を変形しながら、前記フィルタ間を通過することを特徴とする。   Furthermore, in the wafer manufacturing method of the present invention, a plurality of filters are immersed in a fluid generated when an ingot is machined into a wafer shape, and the fluid is passed through the filter, thereby causing the machining. In the wafer manufacturing method of removing the object to be removed and reusing the filtered fluid, by narrowing the interval between the filters, bubbles generated from below the filters are deformed and the gaps between the filters are reduced. It is characterized by passing.

更に、本発明の半導体装置の製造方法では、半導体ウェハを機械加工する時に発生した流体内に複数枚のフィルタを浸漬し、前記フィルタに前記流体を通過させることにより、前記機械加工により発生した被除去物を除去し、濾過された前記流体を再利用する半導体装置の製造方法において、前記フィルタの間隔を狭めることにより、前記フィルタ下方から発生した気泡がその形状を変形しながら、前記フィルタ間を通過することを特徴とする。   Furthermore, in the method for manufacturing a semiconductor device according to the present invention, a plurality of filters are immersed in a fluid generated when a semiconductor wafer is machined, and the fluid is passed through the filter, so that the substrate generated by the machining is generated. In a method of manufacturing a semiconductor device that removes a removed substance and reuses the filtered fluid, by reducing the interval between the filters, air bubbles generated from below the filters change the shape of the air bubbles between the filters. It is characterized by passing.

以上、説明したように本発明の流体の被除去物除去装置およびそれを用いた被除去物除去方法によれば、以下に示すような優れた効果を奏し得る。   As described above, according to the fluid removal object removal apparatus and the removal object removal method using the fluid removal apparatus of the present invention, the following excellent effects can be obtained.

第1に、流体の被除去物除去装置において、原水タンク内に設置される複数のフィルタに対して散気管を直角方向に延在して形成させている。この位置関係にあることで、複数のフィルタに対して、少数の散気管で対処することができるので、濾過装置自体も簡素化した構造にできる。   First, in the fluid removal object removal apparatus, the air diffuser pipes are formed to extend in a direction perpendicular to the plurality of filters installed in the raw water tank. By being in this positional relationship, a plurality of filters can be dealt with with a small number of air diffusers, so that the filtering device itself can also have a simplified structure.

第2に、流体の被除去物除去装置において、原水タンク底部に設置された少数の散気管の両端を接続し、更に、それを1本の管に接続する。そして、その管をブロアーに接続することで、全ての散気管の両端から同圧力で空気を送り込むことができる。そのことにより、原水タンク内のフィルタに対して均一に気泡を発生させることができる。   Second, in the fluid removal object removal apparatus, both ends of a small number of diffuser pipes installed at the bottom of the raw water tank are connected, and further connected to one pipe. And by connecting the pipe to the blower, air can be fed from both ends of all the diffuser pipes with the same pressure. Thereby, air bubbles can be generated uniformly with respect to the filter in the raw water tank.

第3に、流体の被除去物除去方法において、原水タンク内に設置されたフィルタ間の距離を散気管から発生した気泡の直径よりも狭く設置する。そのことにより、散気管から発生した気泡はフィルタ間を通過する時、押し縮められる力に対する抵抗力が発生する。その結果、気泡がフィルタ間を通過する時、第2のフィルタ膜に確実に外力を与えることでフィルタの目詰まりを防止でき、フィルタの濾過能力を、常に、維持することが可能な流体の被除去物除去方法を実現できる。   Thirdly, in the fluid removal object removal method, the distance between the filters installed in the raw water tank is set smaller than the diameter of the bubbles generated from the air diffuser. As a result, when the bubbles generated from the air diffuser pass between the filters, a resistance force against the force that is compressed is generated. As a result, when air bubbles pass between the filters, it is possible to prevent clogging of the filter by reliably applying an external force to the second filter membrane, and it is possible to always maintain the filtration capability of the filter. A removal object removal method can be realized.

第4に、流体の被除去物除去方法において、上記したように、原水タンク内のフィルタに対して均一に気泡を発生させることができることで、フィルタの表面に形成された第2のフィルタ膜厚を均一の厚さにコントロールすることができる。そのことにより、フィルタの濾過能力を、常に、維持することが可能な流体の被除去物除去方法を実現できる。   Fourth, in the fluid removal object removal method, as described above, the second filter film thickness formed on the surface of the filter can be generated uniformly with respect to the filter in the raw water tank. Can be controlled to a uniform thickness. As a result, it is possible to realize a fluid removal object removal method capable of always maintaining the filtration capability of the filter.

第5に、流体の被除去物除去方法において、濾過装置ON時における気泡量をその後の継続して行う時における気泡量よりも少なくして行うことができる。そのことにより、濾過装置のON時の第2のフィルタ膜を破壊することなく、かつ、早期に通常の第2のフィルタ膜の状態にすることができるので、フィルタの濾過能力を落とすことなく長期にわたり維持させることができる。   Fifth, in the fluid removal object removal method, the amount of bubbles when the filtration device is ON can be made smaller than the amount of bubbles when continuously performing the filtration. As a result, the second filter membrane can be brought into the normal second filter membrane state at an early stage without destroying the second filter membrane when the filtration device is turned on, so that the filtration capability of the filter can be reduced for a long time. Can be maintained over time.

図1〜図4は本発明である気泡発生装置の実施例を説明するための図であり、図中、上記した従来の実施例と同一の符号を付した部分は同一物を表わしており、液体から被除去物を除去する機構は従来のものと同様である。そのため、従来例で説明した機構の説明はここでは割愛することとする。   1-4 is a figure for demonstrating the Example of the bubble generator which is this invention, In the figure, the part which attached | subjected the code | symbol same as the above-mentioned conventional Example represents the same thing, The mechanism for removing the object to be removed from the liquid is the same as the conventional mechanism. Therefore, the description of the mechanism described in the conventional example is omitted here.

先ず、図3および図4を参照して、図7を用いて従来例でも簡単に説明した第1のフィルタ膜20、第2のフィルタ膜21について詳細に説明する。   First, with reference to FIGS. 3 and 4, the first filter film 20 and the second filter film 21 described briefly in the conventional example with reference to FIG. 7 will be described in detail.

本発明は、金属、無機物または有機物等の被除去物が混入された流体(排水)を、被除去物から成るフィルタで除去するものであり、例えば、被除去物は、結晶インゴットをウェハ状にスライスする時、半導体ウェハをダイシングする時、バックグラインドする時、CMP(Chemical-Mechanical Polishing)またはウェハポリッシングする時等で発生する。   The present invention removes a fluid (drainage) mixed with an object to be removed such as a metal, an inorganic substance, or an organic substance with a filter made of the object to be removed. For example, the object to be removed is a crystal ingot formed into a wafer. It occurs when slicing, dicing a semiconductor wafer, back grinding, CMP (Chemical-Mechanical Polishing), or wafer polishing.

この被除去物は、Si、酸化Si、Al、SiGe、封止樹脂等の有機物およびその他の絶縁材料や金属材料が該当する。また化合物半導体では、GaAs等の化合物半導体が該当する。   This object to be removed corresponds to organic substances such as Si, oxidized Si, Al, SiGe, sealing resin, and other insulating materials and metal materials. In the compound semiconductor, a compound semiconductor such as GaAs is applicable.

また最近では、CSP(チップスケールパッケージ)の製造に於いてダイシングを採用している。これはウェハの表面に樹脂を被覆し、最後に封止された樹脂とウェハを一緒にダイシングするものである。またセラミック基板の上に半導体チップをマトリックス状に配置し、セラミック基板も含めて樹脂を被覆し、最後に封止された樹脂とセラミック基板をダイシングするものもある。これらもダイシングする際に被除去物が発生する。   Recently, dicing has been adopted in the manufacture of CSP (chip scale package). In this method, the surface of the wafer is coated with a resin, and the finally sealed resin and the wafer are diced together. There is also a type in which semiconductor chips are arranged in a matrix on a ceramic substrate, the resin is coated including the ceramic substrate, and the sealed resin and the ceramic substrate are finally diced. When these are also diced, an object to be removed is generated.

一方、半導体分野以外でも被除去物が発生する所は数多くある。例えばガラスを採用する産業に於いて、液晶パネル、EL表示装置のパネル等は、ガラス基板のダイシング、基板側面の研磨等で発生するガラス屑が被除去物に該当する。また電力会社や鉄鋼会社では燃料として石炭を採用しており、石炭から発生する粉体が該当し、更には煙突から出る煙の中に混入される粉体も被除去物に相当する。また鉱物の加工、宝石の加工、墓石の加工から発生する粉体もそうである。更には、旋盤等で加工した際に発生する金属屑、セラミック基板等のダイシング、研磨等で発生するセラミック屑等も被除去物に該当する。   On the other hand, there are many places where removed objects are generated even outside the semiconductor field. For example, in an industry that uses glass, in a liquid crystal panel, a panel of an EL display device, and the like, glass waste generated by dicing a glass substrate, polishing a side surface of the substrate, and the like corresponds to an object to be removed. In addition, electric power companies and steel companies employ coal as a fuel, which corresponds to powder generated from coal, and further, powder mixed in smoke emitted from the chimney corresponds to the object to be removed. This is also the case for powders generated from processing minerals, gemstones, and tombstones. Furthermore, metal scraps generated when processing with a lathe, ceramic scraps generated by dicing, polishing, etc. of a ceramic substrate also correspond to objects to be removed.

これらの被除去物は、研磨、研削または粉砕等の加工により発生し、被除去物を取り去る事を目的として水や薬品等の流体を流す。そのためこの流体の中に被除去物が混入されてしまう。   These objects to be removed are generated by processes such as polishing, grinding, or pulverization, and a fluid such as water or chemicals is flowed for the purpose of removing the objects to be removed. Therefore, the object to be removed is mixed in this fluid.

そして、以下に、上記したように流体、被除去物は、色々なものがあるが、ここでは流体として水が採用され、水の中に切削された被除去物が含まれたものとして説明してゆく。   In the following, there are various types of fluids and objects to be removed as described above. Here, it is assumed that water is used as the fluid and the objects to be removed are included in the water. Go.

図3の符号20は第1のフィルタ膜で、22はフィルタ孔である。またフィルタ孔22の露出部および第1のフィルタ膜20の表面に層状に形成されている膜が、被除去物23、24であり、この被除去物23、24はフィルタ孔22を通過できない大きな被除去物23とフィルタ孔22を通過できる小さな被除去物24に分けられる。図では黒丸で示したものが通過できる小さな被除去物24である。   Reference numeral 20 in FIG. 3 denotes a first filter film, and 22 denotes a filter hole. The film formed in a layered manner on the exposed portion of the filter hole 22 and the surface of the first filter film 20 is the objects to be removed 23 and 24, and these objects to be removed 23 and 24 cannot pass through the filter hole 22. The object to be removed 23 is divided into small objects to be removed 24 that can pass through the filter holes 22. In the figure, a black circle represents a small object to be removed 24 that can pass through.

またここで採用可能な第1のフィルタ膜20は、原理的に考えて有機高分子系、セラミック系とどちらでも採用可能である。しかしここでは、ポリオレフィン系の高分子膜を採用した。   The first filter film 20 that can be used here can be either organic polymer type or ceramic type in principle. However, here, a polyolefin polymer film was used.

図3の第1のフィルタ膜20の上方には、被除去物が混入された排水があり、第1のフィルタ膜20の下方は、第1のフィルタ膜20により濾過された濾過流体が生成されている。矢印の方向に排水を流し、第1のフィルタ膜20を使って前記排水を濾過するため、水は、自然落下されるか、加圧されて図の下方に移る。また、濾過流体が在る側から排水が吸引される。また第1のフィルタ膜20は、水平に配置されているが図7の様に縦置きでも良い。   Above the first filter membrane 20 in FIG. 3, there is waste water mixed with an object to be removed, and below the first filter membrane 20, a filtered fluid filtered by the first filter membrane 20 is generated. ing. In order to flow the waste water in the direction of the arrow and filter the waste water using the first filter membrane 20, the water is naturally dropped or pressurized and moved downward in the figure. Further, drainage is sucked from the side where the filtering fluid is present. Further, the first filter film 20 is arranged horizontally, but may be placed vertically as shown in FIG.

上記したようにフィルタ膜を介して排水を加圧したり、吸引したりする結果、排水は、第1のフィルタ膜20を通過する。その際、フィルタ孔22を通過できない大きな被除去物23は、第1のフィルタ膜20の表面に残存する。   As described above, as a result of pressurizing or sucking the wastewater through the filter membrane, the wastewater passes through the first filter membrane 20. At that time, a large object to be removed 23 that cannot pass through the filter hole 22 remains on the surface of the first filter film 20.

本発明では、被除去物が第1のフィルタ膜20表面に捕獲されて残存した層を第2のフィルタ膜21として活用する。   In the present invention, a layer in which an object to be removed is captured and left on the surface of the first filter film 20 is used as the second filter film 21.

研削、研磨または粉砕等の機械加工により発生する被除去物は、その大きさ(粒径)が有る程度の範囲で分布し、しかもそれぞれの被除去物の形状が異なっている。また第1のフィルタ膜20が浸かっている排水の中で被除去物がランダムに位置している。そして大きな被除去物から小さな被除去物までが不規則にフィルタ孔22に移動していく。この時フィルタ孔22よりも小さな被除去物24は通過するが、フィルタ孔22よりも大きな被除去物23は捕獲される。そして捕獲された大きな被除去物23が第2のフィルタ膜21の初段の層となり、この層がフィルタ孔22よりも小さなフィルタ孔を形成し、この小さなフィルタ孔を介して大きな被除去物23から小さな被除去物24が捕獲されていく。この時、被除去物の形状がそれぞれ異なるために、被除去物と被除去物の間には、色々な形状の隙間ができ、水はこの隙間を通路として移動し、最終的には濾過される。これは、砂浜の水はけが良いのと非常に似ている。   Objects to be removed generated by machining such as grinding, polishing or pulverization are distributed within a certain range (size), and the shapes of the objects to be removed are different. In addition, objects to be removed are randomly located in the waste water in which the first filter film 20 is immersed. A large object to a small object to be removed moves irregularly to the filter hole 22. At this time, an object to be removed 24 smaller than the filter hole 22 passes, but an object to be removed 23 larger than the filter hole 22 is captured. The captured large object to be removed 23 becomes the first layer of the second filter film 21, and this layer forms a filter hole smaller than the filter hole 22, and the large object to be removed 23 passes through this small filter hole. Small objects to be removed 24 are captured. At this time, since the shapes of the objects to be removed are different from each other, gaps of various shapes are formed between the objects to be removed, and water moves through the gaps and is finally filtered. The This is very similar to the good drainage of sandy beaches.

この第2のフィルタ膜21は、大きな被除去物23から小さな被除去物24をランダムに捕獲しながら徐々に成長し、水(流体)の通路を確保しながら小さな被除去物24をトラップする様になる。しかも第2のフィルタ膜21は、層状に残存しているだけで被除去物は容易に移動可能なので、層の付近に気泡を通過させたり、水流を与えたり、音波や超音波を与えたり、機械的振動を与えたり、更にはスキージ等でこすったりする事で、簡単に第2のフィルタ膜21の表層を排水側に移動させることができる。つまり第2のフィルタ膜21のフィルタ能力が低下しても、第2のフィルタ膜21に外力を加えることで、簡単にその能力を復帰させることができるメリットを有する。また別の表現をすれば、フィルタ能力の低下の原因は、主に目詰まりであり、この目詰まりを発生させている第2のフィルタ膜21の表層の被除去物を再度流体中に移動させる事ができ、目詰まりを解消させることができる。   The second filter film 21 grows gradually while randomly capturing small objects to be removed 24 from the large objects to be removed 23, and traps the small objects 24 while securing a water (fluid) passage. become. In addition, since the second filter film 21 remains in a layer form and the object to be removed can be easily moved, bubbles are allowed to pass near the layer, a water flow is applied, a sound wave or an ultrasonic wave is applied, By applying mechanical vibration or rubbing with a squeegee or the like, the surface layer of the second filter membrane 21 can be easily moved to the drain side. In other words, even if the filter capacity of the second filter film 21 is lowered, there is a merit that the capacity can be easily restored by applying an external force to the second filter film 21. In other words, the cause of the decrease in the filter capacity is mainly clogging, and the removal target on the surface layer of the second filter film 21 that causes the clogging is moved again into the fluid. Can be clogged.

しかし第1のフィルタ膜20が新規で取り付けられた場合、第1のフィルタ膜20の表面には被除去物23、24の層(第2のフィルタ膜21)が形成されていないので、また第1のフィルタ膜20に第2のフィルタ膜21の層が薄くしか形成されていない場合は、フィルタ孔22を介して小さな被除去物24が通過する。この時は、その濾過流体を再度排水が貯められている側に戻し、小さな被除去物24が第2のフィルタ膜21で捕獲されることを確認するまで待つ。そして確認した後は、通過した小さな被除去物24の如きサイズの小さな被除去物が次々と捕獲され、排水は所定の清浄度で濾過される。   However, when the first filter film 20 is newly attached, the layers of the objects to be removed 23 and 24 (second filter film 21) are not formed on the surface of the first filter film 20. When a thin layer of the second filter film 21 is formed on one filter film 20, a small object to be removed 24 passes through the filter hole 22. At this time, the filtered fluid is returned to the side where the drainage is stored again, and the process waits until it is confirmed that the small object to be removed 24 is captured by the second filter membrane 21. After confirmation, small objects to be removed such as the small objects to be removed 24 that have passed through are captured one after another, and the wastewater is filtered with a predetermined cleanliness.

更に、本発明では、第2のフィルタ膜21が形成されていない場合、あるいは濾過流体に小さな被除去物24が残存する場合は、この濾過流体を排水側に戻す。この戻している最中に第1のフィルタ膜20の表面には、フィルタ孔22でトラップされた被除去物23、24が層状に膜として成長し、第1のフィルタ膜20表面の第2のフィルタ膜21は、色々なフィルタ孔径を作り出し、次々に小さい粒径から大きい粒径のものをトラップしてゆく。そして徐々に厚くなり、第1のフィルタ膜20で通過した小さな被除去物24やこの小さな被除去物24と同程度のサイズ、更にはこれよりも小さな被除去物をトラップし、濾過流体は殆ど被除去物が混入されていないきれいな状態となる。   Furthermore, in the present invention, when the second filter membrane 21 is not formed or when a small object to be removed 24 remains in the filtered fluid, the filtered fluid is returned to the drainage side. During the returning process, the objects to be removed 23 and 24 trapped in the filter holes 22 grow as layers on the surface of the first filter film 20, and the second filter on the surface of the first filter film 20. The filter membrane 21 creates various filter pore diameters, and traps those having a small particle diameter and a large particle diameter one after another. Then, it gradually becomes thicker, traps small objects to be removed 24 that have passed through the first filter membrane 20, the same size as the small objects to be removed 24, and objects to be removed that are smaller than this. It becomes a clean state with no object to be removed.

この状態を示すものが図4である。そして濾過流体に所望のサイズの被除去物が混入されないこと(また所定の混入の度合よりも小さくなったこと)を確認した後、この濾過流体を再利用すれば良い。更には、濾過流体を自然界に戻しても良い。   FIG. 4 shows this state. Then, after confirming that an object to be removed of a desired size is not mixed in the filtered fluid (and that the amount is smaller than a predetermined degree of mixing), the filtered fluid may be reused. Furthermore, the filtered fluid may be returned to nature.

また濾過流体に小さな被除去物24が残存している場合、この濾過流体を戻すのではなく、別のタンクに移し、この小さな被除去物24やこの被除去物24と同程度のサイズの被除去物が捕獲されるのを確認し、その後の濾過流体を再利用したり、自然界に戻したりしても良い。   Further, when the small object to be removed 24 remains in the filtered fluid, the filtered fluid is not returned, but is transferred to another tank, and the object to be removed is about the same size as the small object to be removed 24 or the object to be removed 24. After confirming that the removed matter is captured, the subsequent filtered fluid may be reused or returned to nature.

次に、本発明の流体の被除去物除去方法について、図1、図2および図7を参照にして説明する。   Next, a method for removing an object to be removed according to the present invention will be described with reference to FIGS.

上記したように、フィルタ能力の低下の原因は、主に目詰まりであり、この目詰まりを発生させている第2のフィルタ膜21の表層の被除去物を再度流体中に移動させる事で目詰まりを解消させることができる。   As described above, the cause of the decrease in the filter capacity is mainly clogging, and the object to be removed on the surface layer of the second filter film 21 that causes the clogging is moved again into the fluid. Clogging can be eliminated.

図7では、第2のフィルタ膜21を取り除く方法として、気泡の上昇を活用した例を示した。斜線で示す矢印の方向に気泡が上昇し、この気泡の上昇力や気泡の破裂が直接被除去物に外力を与え、また気泡の上昇力や気泡の破裂により発生する水流が被除去物に外力を与える。そしてこの外力により第2のフィルタ膜21の濾過能力は、常時リフレッシュし、ほぼ一定の値を維持することになる。   FIG. 7 shows an example in which the rise of bubbles is used as a method of removing the second filter film 21. The bubble rises in the direction of the arrow indicated by the diagonal lines, and the rising force of the bubble and the bursting of the bubble directly apply an external force to the object to be removed, and the water flow generated by the rising force of the bubble and the bursting of the bubble exerts an external force on the removed object. give. With this external force, the filtration capacity of the second filter membrane 21 is constantly refreshed and maintained at a substantially constant value.

本発明の特徴としては、図1および図2に示した気泡発生装置を用いることで、常に、濾過能力を維持することにある。つまり第2のフィルタ膜21に目詰まりが発生してその濾過能力が低下しても、前記気泡のように、第2のフィルタ膜21を構成する被除去物を動かす外力を与えることで、第2のフィルタ膜21を構成する被除去物を排水側に動かすことができ、濾過能力を長期にわたり維持させることができる。   A feature of the present invention is that the filtration capacity is always maintained by using the bubble generation device shown in FIGS. 1 and 2. That is, even if clogging occurs in the second filter membrane 21 and the filtration capacity thereof decreases, by applying an external force that moves an object to be removed that constitutes the second filter membrane 21 like the bubble, The to-be-removed object which comprises the 2 filter membranes 21 can be moved to the waste_water | drain side, and a filtration capability can be maintained over a long term.

その被除去物を動かす方法として、図1(A)に示したように、原水タンク1に設置された複数のフィルタ4下部には、等間隔に、例えば、3本の散気管26、27、28が設置されている。そして、3本の散気管26、27、28は両端で接続されており、更に、1本の管29に接続され、この管29がブロアー6に接続している。この3本の散気管26、27、28の低部には、多数のフィルタ4に均等に気泡を発生させることができるように穴31(図2(A)参照)が適当な間隔で形成されている。そのため、3本の散気管26、27、28には、常に、両端から一定の圧力で空気が送り込まれているため、原水タンク1内で任意の場所に位置する複数のフィルタ4に対して、均一に気泡を発生させることができる。そして、この気泡の均一性は、原水タンク1上から目視により確認することができるので、その都度調整が可能である。   As a method of moving the object to be removed, as shown in FIG. 1 (A), at the lower part of the plurality of filters 4 installed in the raw water tank 1, for example, three air diffusers 26, 27, 28 is installed. The three diffuser tubes 26, 27, and 28 are connected at both ends, and further connected to a single tube 29, which is connected to the blower 6. Holes 31 (see FIG. 2A) are formed at appropriate intervals in the lower portions of the three air diffusers 26, 27, and 28 so that air bubbles can be generated evenly in a large number of filters 4. ing. Therefore, since the air is always sent to the three air diffusers 26, 27, and 28 from both ends at a constant pressure, the plurality of filters 4 located at arbitrary locations in the raw water tank 1 are Air bubbles can be generated uniformly. And since the uniformity of this bubble can be visually confirmed from the raw | natural water tank 1, it can adjust each time.

ここで、散気管26、27、28の下部に穴31は形成されているが、上述したように、原水3内には金属、無機物または有機物等の被除去物が混入されている。そのため、穴31を散気管26、27、28の低部に形成することで、被除去物が散気管26、27、28に堆積し散気管26、27、28の目詰まりを防ぐことができる。また、穴31の位置としては、散気管の底部に限定されず、被除去物が散気管内に堆積しない位置であれば良い。   Here, although the hole 31 is formed in the lower part of the diffuser tubes 26, 27, and 28, as described above, the object to be removed such as metal, inorganic substance, or organic substance is mixed in the raw water 3. Therefore, by forming the hole 31 in the lower part of the diffuser tubes 26, 27, 28, an object to be removed can be deposited on the diffuser tubes 26, 27, 28 and clogging of the diffuser tubes 26, 27, 28 can be prevented. . Further, the position of the hole 31 is not limited to the bottom of the air diffuser, and may be a position where an object to be removed does not accumulate in the air diffuser.

そして、3本の散気管26、27、28はフィルタ4に対して直角方向に延在して形成されている。この位置関係にあることで、複数のフィルタ4に対して、少数の散気管で対処することができるので、濾過装置自体も簡素化した構造にできる。また、原水タンク1の長側辺方向の両内壁にはフィルタ4を等間隔に設置するために、フィルタ押さえ25がフィルタの数に対応して形成されている。このフィルタ押さえ25により、フィルタ4の設置、取り外しも容易となり、後述するフィルタ4間の距離も正確に保てるようになる。更に、図1(B)に示したように、原水タンク1の内壁にはフィルタ4の深さ方向の位置も固定できるように点線30に示した位置に受け台30が形成されている。そのことで、フィルタ4はフィルタ4間および深さ方向においても、目的の位置に容易に設置することが可能となる。   The three air diffusers 26, 27, and 28 are formed to extend in a direction perpendicular to the filter 4. By being in this positional relationship, the plurality of filters 4 can be dealt with with a small number of air diffusers, so that the filtering device itself can also have a simplified structure. Moreover, in order to install the filters 4 at equal intervals on both inner walls in the long side direction of the raw water tank 1, filter holders 25 are formed corresponding to the number of filters. The filter holder 25 facilitates the installation and removal of the filter 4, and the distance between the filters 4 described later can be accurately maintained. Further, as shown in FIG. 1B, a cradle 30 is formed on the inner wall of the raw water tank 1 at a position indicated by a dotted line 30 so that the position of the filter 4 in the depth direction can also be fixed. Accordingly, the filters 4 can be easily installed at the target positions even between the filters 4 and in the depth direction.

更に、本発明の被除去物を動かす方法の特徴として、図2(B)に示したように、原水タンク1内に複数設置されたフィルタ4間の距離よりも散気管27から発生した気泡の直径の方が大きいことである。   Furthermore, as a feature of the method of moving the object to be removed according to the present invention, as shown in FIG. 2 (B), the bubble generated from the air diffuser 27 is larger than the distance between the filters 4 installed in the raw water tank 1. The diameter is larger.

具体的には、散気管27の穴31から発生した気泡32は原水3中で、例えば、直径aである球体を形成する。そして、気泡32は原水3表面へと浮上するが、その途中で、例えば、間隔bのフィルタ4間を通過する。このとき、本発明では、両者の関係はa>bとなるように設定されているため、気泡32は距離bのフィルタ4間を図示した33のように変形しながら通過する。そのことで、気泡33は第2のフィルタ膜21に対して確実に、そして、均一に外力を与えることができる。   Specifically, the bubbles 32 generated from the holes 31 of the air diffuser 27 form a sphere having a diameter a, for example, in the raw water 3. And the bubble 32 floats to the raw | natural water 3 surface, but passes between the filters 4 of the space | interval b, for example in the middle. At this time, in the present invention, since the relationship between the two is set to be a> b, the bubble 32 passes between the filters 4 at a distance b while being deformed as indicated by 33. As a result, the bubbles 33 can apply an external force to the second filter film 21 reliably and uniformly.

その結果、本発明の流体の被除去物除去方法では、目詰まりの原因である第2のフィルタ膜21を形成する被除去物を気泡32により発生する外力により捕獲を解除し、常に一定の濾過能力を維持させることができる。これは、外力を与えることで第2のフィルタ21の厚みをほぼ一定にしていると思われる。そして、あたかも被除去物1つ1つが原水3の入り口に栓をかけており、栓が外力により外れ、外れた所から原水3が浸入し、また栓が形成されたら再度外力により外すの繰り返しを行っているようなものである。上記したことは、気泡のサイズ、その量、気泡を当てている時間を調整することにより、常に濾過能力を維持できるメリットを有する。   As a result, in the fluid removal object removal method of the present invention, the removal of the removal object forming the second filter film 21 that is the cause of clogging is released by the external force generated by the bubbles 32, and the constant filtration is always performed. Ability can be maintained. This seems to make the thickness of the second filter 21 almost constant by applying an external force. And as if each object to be removed is plugged at the entrance of the raw water 3, the plug is removed by external force, the raw water 3 enters from the removed place, and once the plug is formed, repeat the removal by external force again It's like going. The above has the merit that the filtration capacity can be always maintained by adjusting the size of the bubbles, the amount thereof, and the time for which the bubbles are applied.

更に、本発明の被除去物を動かす方法の特徴として、濾過装置のON時における気泡量をその後の継続して行う時における気泡量よりも少なくして行うことである。   Furthermore, as a feature of the method of moving the object to be removed according to the present invention, the amount of bubbles when the filtration device is turned on is made smaller than the amount of bubbles when continuously performing the filtration.

具体的には、例えば、濾過装置をONしてから最初の3〜5分間は、フィルタ1枚当たりに1リットル/分の気泡を発生させ、その後は、通常通りに、例えば、フィルタ1枚当たりに2リットル/分の気泡を発生させる。この方法により、以下の効果を得ることができる。   Specifically, for example, for the first 3 to 5 minutes after the filtration device is turned on, bubbles of 1 liter / min are generated per filter, and thereafter, for example, per filter, as usual. To generate 2 l / min bubbles. By this method, the following effects can be obtained.

フィルタ4は濾過装置がOFF時にも原水3内に浸漬しているため、そのフィルタ4表面に形成された第2のフィルタ膜21も原水3内に浸漬している。そのため、第2のフィルタ膜21の膜組成は、濾過装置のON時と比較して原水3によりあきらかに緩く形成されている。この状態で、通常通りに、例えば、フィルタ1枚当たりに2リットル/分の気泡を発生させると第2のフィルタ膜21の表層の被除去物を再度流体中に移動させてしまう。その結果、第2のフィルタ膜21は完全に除去されたり、または、残存しても必要最低限の膜厚が得られなくなってしまい、フィルタ4の濾過能力は大幅に低減してしまう。そして、この状態で濾過を行うと、濾過流体中に多量の被除去物が混入してしまう。   Since the filter 4 is immersed in the raw water 3 even when the filtering device is OFF, the second filter film 21 formed on the surface of the filter 4 is also immersed in the raw water 3. Therefore, the membrane composition of the second filter membrane 21 is clearly loosely formed by the raw water 3 compared to when the filtration device is ON. In this state, for example, if bubbles of 2 liters / minute are generated per filter as usual, the object to be removed from the surface of the second filter film 21 is moved again into the fluid. As a result, even if the second filter film 21 is completely removed or remains, a necessary minimum film thickness cannot be obtained, and the filtering ability of the filter 4 is greatly reduced. And if it filters in this state, a lot of to-be-removed objects will mix in the filtration fluid.

そこで、本発明の方法により濾過装置を作動させることで、濾過装置のON時の第2のフィルタ膜21を破壊することなく、かつ、早期に通常の第2のフィルタ膜21の状態にすることができるので、フィルタ4の濾過能力を落とすことなく長期にわたり維持させることができる。   Therefore, by operating the filtration device according to the method of the present invention, the second filter membrane 21 when the filtration device is turned on is not destroyed, and the normal second filter membrane 21 is brought into an early state. Therefore, the filter 4 can be maintained over a long period of time without degrading the filtering ability.

尚、濾過能力を維持できれば、外力が常に加わっていても良いし、間欠的に加わっても良い。また、上記した本発明の実施の形態では、散気管が3本の場合について説明したが、特に限定する必要はなく、作業目的に応じて考慮されることが望ましい。その他、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の変更が可能である。   In addition, as long as the filtration capability can be maintained, an external force may be applied constantly or intermittently. Further, in the above-described embodiment of the present invention, the case where there are three diffusing tubes has been described, but there is no need to be particularly limited, and it is desirable to consider according to the work purpose. In addition, various modifications can be made without departing from the scope of the present invention.

本発明の流体の被除去物除去装置を説明する(A)平面図、(B)(A)におけるX−X線方向の断面図である。BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS (A) Top view explaining the to-be-removed material removal apparatus of this invention, (B) It is sectional drawing of the XX direction in (A). 本発明の流体の被除去物除去方法を説明する(A)断面図、(B)断面図である。It is (A) sectional drawing and (B) sectional drawing explaining the to-be-removed thing removal method of the fluid of this invention. 本発明の第1および第2のフィルタ膜を説明する図である。It is a figure explaining the 1st and 2nd filter film | membrane of this invention. 本発明の第1および第2のフィルタ膜を説明する図である。It is a figure explaining the 1st and 2nd filter film | membrane of this invention. 本発明および従来の濾過装置を説明する図である。It is a figure explaining this invention and the conventional filtration apparatus. 本発明および従来のフィルタを説明する(A)斜視図、(B)斜視図である。It is (A) perspective view and (B) perspective view explaining this invention and the conventional filter. 本発明および従来の第1および第2のフィルタ膜を説明する図である。It is a figure explaining the 1st and 2nd filter membrane of the present invention and the conventional.

Claims (6)

被除去物を含む流体内に複数枚のフィルタを浸漬し、前記フィルタに前記流体を通過させることにより、前記被除去物を除去する流体の被除去物除去方法において、
前記フィルタの間隔を狭めることにより、前記フィルタ下方から発生した気泡がその形状を変形しながら、前記フィルタ間を通過することを特徴とする流体の被除去物除去方法。
In the fluid removal object removal method of removing the removal object by immersing a plurality of filters in the fluid containing the removal object and passing the fluid through the filter,
A method of removing an object to be removed of fluid, wherein bubbles generated from below the filter pass between the filters while reducing the shape of the filter by narrowing the interval between the filters.
前記フィルタにより前記気泡が変形し、前記気泡の変形に対する抗力により、前記フィルタの表面に外力を加えることを特徴とする請求項1に記載の流体の被除去物除去方法。 The fluid removal object removal method according to claim 1, wherein the bubble is deformed by the filter, and an external force is applied to a surface of the filter by a resistance against the deformation of the bubble. 被除去物を含む流体内に複数枚のフィルタを浸漬することにより、前記流体の濾過を行う流体の被除去物除去装置において、
前記フィルタは実質的に所定の間隔bにて配置され、前記フィルタ間を通過する気泡が変形するように、前記間隔bが設定されていることを特徴とする流体の被除去物除去装置。
In the fluid removal object removing apparatus for filtering the fluid by immersing a plurality of filters in the fluid containing the removal object,
An apparatus for removing an object to be removed of fluid, wherein the filter is arranged at a substantially predetermined interval b, and the interval b is set so that bubbles passing between the filters are deformed.
前記フィルタ下方に設けられた気泡発生装置は、前記フィルタ面と直交するように配置されていることを特徴とする請求項3に記載の流体の被除去物除去装置。 The fluid removal object removing device according to claim 3, wherein the bubble generating device provided below the filter is disposed so as to be orthogonal to the filter surface. インゴットをウェハ状に機械加工する時に発生した流体内に複数枚のフィルタを浸漬し、前記フィルタに前記流体を通過させることにより、前記機械加工により発生した被除去物を除去し、濾過された前記流体を再利用するウェハの製造方法において、
前記フィルタの間隔を狭めることにより、前記フィルタ下方から発生した気泡がその形状を変形しながら、前記フィルタ間を通過することを特徴とするウェハの製造方法。
By immersing a plurality of filters in the fluid generated when machining the ingot into a wafer, and passing the fluid through the filter, the object to be removed generated by the machining is removed and filtered. In a method of manufacturing a wafer that reuses fluid,
A method of manufacturing a wafer, characterized in that, by narrowing the interval between the filters, bubbles generated from below the filters pass between the filters while deforming their shapes.
半導体ウェハを機械加工する時に発生した流体内に複数枚のフィルタを浸漬し、前記フィルタに前記流体を通過させることにより、前記機械加工により発生した被除去物を除去し、濾過された前記流体を再利用する半導体装置の製造方法において、
前記フィルタの間隔を狭めることにより、前記フィルタ下方から発生した気泡がその形状を変形しながら、前記フィルタ間を通過することを特徴とする半導体装置の製造方法。
A plurality of filters are immersed in a fluid generated when machining a semiconductor wafer, and the fluid is allowed to pass through the filter to remove an object to be removed generated by the machining. In a manufacturing method of a semiconductor device to be reused,
By narrowing the interval between the filters, bubbles generated from below the filters pass between the filters while deforming their shapes.
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JP2017029935A (en) * 2015-08-03 2017-02-09 株式会社日立製作所 Membrane separation apparatus
JP2018046938A (en) * 2016-09-20 2018-03-29 プロモツール株式会社 Perfume system

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