JP2006034306A - Radiographic apparatus - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To reduce time required for calibration, to improve the utilization efficiency of an apparatus and to improve operability. <P>SOLUTION: Radiographic apparatus is provided with a calibration scanning condition setting part 54 for setting a calibration scanning condition on the basis of the execution frequency of a main scanning condition stored in a storage device 33 and executes calibration scanning on the basis of the calibration scanning condition set by the calibration scanning condition setting part 54. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、放射線撮影装置に関する。   The present invention relates to a radiation imaging apparatus.

放射線撮影装置として、放射線であるX線を用いて被検体の断層面の画像を生成するX線CT(Computed Tomography)装置が知られている。X線CT装置は、人体や物体などを被検体とし、医療用途や産業用途などの広範な用途で利用されている。   As a radiation imaging apparatus, an X-ray CT (Computed Tomography) apparatus that generates an image of a tomographic plane of a subject using X-rays that are radiation is known. An X-ray CT apparatus uses a human body or an object as a subject, and is used in a wide range of applications such as medical use and industrial use.

被検体の断層画像を撮影する本スキャンの際、X線CT装置は、被検体のスライス厚方向を軸として複数のビュー(view)方向からX線を照射し、それぞれのビュー方向ごとに被検体を透過するX線をX線検出器で検出し投影データを生成する。そして、X線CT装置は、その生成される投影データを、たとえば、フィルタ補正逆投影法(filtered back projection)により再構成して、被検体の断層画像を生成する。本スキャンの際においては、撮影部位に応じて、さまざまな条件の本スキャン条件が設定される。   During the main scan for capturing a tomographic image of the subject, the X-ray CT apparatus irradiates X-rays from a plurality of view directions with the slice thickness direction of the subject as an axis, and subjects the subject to each view direction. X-rays that pass through are detected by an X-ray detector to generate projection data. Then, the X-ray CT apparatus reconstructs the generated projection data by, for example, a filtered back projection method, and generates a tomographic image of the subject. In the main scan, various conditions of the main scan are set according to the imaging region.

ところで、X線CT装置のX線検出器は、複数の検出素子がアレイ状に形成されている。X線検出器を構成する各検出素子は、検出感度などの特性がそれぞれの間で異なりバラツキがある。このため、被検体の投影データには、X線検出器の特性のバラツキが含まれていることになるため、そのままの状態の投影データを再構成する場合、再構成される画像にリングアーチファクトなどの不具合が発生し、画像品質が低下する。   Incidentally, the X-ray detector of the X-ray CT apparatus has a plurality of detection elements formed in an array. The detection elements constituting the X-ray detector have different characteristics such as detection sensitivity, and vary. For this reason, the projection data of the subject includes variations in the characteristics of the X-ray detector. Therefore, when reconstructing the projection data as it is, ring artifacts are included in the reconstructed image. The image quality is degraded.

そこで、画像品質の低下を防止するために、本スキャンを行う前には、キャリブレーションスキャンを実施し、X線検出器の検出素子間における特性のバラツキを補正するためのキャリブレーションデータを生成する(たとえば、特許文献1参照)。
特開2001−70297号公報
Therefore, in order to prevent deterioration in image quality, before performing the main scan, a calibration scan is performed to generate calibration data for correcting variation in characteristics between detection elements of the X-ray detector. (For example, refer to Patent Document 1).
JP 2001-70297 A

キャリブレーションスキャンを実施する際には、キャリブレーションスキャン条件に基づいてエアやファントムなどの基準設定物にX線管からX線を照射し、そのX線管からのX線をX線検出器が検出する。そして、そのキャリブレーションスキャン条件にて検出されるX線に基づいてX線検出器の特性を校正するためのキャリブレーションデータを生成する。   When performing a calibration scan, the X-ray detector emits X-rays from the X-ray tube to a reference set object such as air or phantom based on the calibration scan conditions, and the X-ray detector detects the X-rays from the X-ray tube. To detect. Then, calibration data for calibrating the characteristics of the X-ray detector is generated based on the X-rays detected under the calibration scan condition.

その後、生成されたキャリブレーションデータに基づいて被検体の投影データを校正し、校正された投影データを再構成して被検体の断層画像を生成する。   Thereafter, the projection data of the subject is calibrated based on the generated calibration data, and the calibrated projection data is reconstructed to generate a tomographic image of the subject.

従来において、上述のキャリブレーションスキャンは、本スキャン条件が撮影部位に応じてさまざまな条件で設定可能なために、全ての本スキャン条件に対応可能なキャリブレーションスキャン条件にて実施されている。たとえば、X線管電圧100kVと120kVとで本スキャンすることが可能な場合、X線管電圧100kVと120kVとの両者を含むようにキャリブレーションスキャン条件が設定される。   Conventionally, the above-described calibration scan is performed under calibration scan conditions that can handle all the main scan conditions because the main scan conditions can be set under various conditions depending on the imaging region. For example, when the main scan can be performed at the X-ray tube voltages of 100 kV and 120 kV, the calibration scan condition is set so as to include both the X-ray tube voltages of 100 kV and 120 kV.

しかしながら、被検体の本スキャンが実施される撮影現場では、設定可能な全ての本スキャン条件にて本スキャンを実施することが少ない。たとえば、所定の患部を専門的に治療する医療分野においては、その専門としている患部の撮影に対し最適な本スキャン条件を、繰り返して実施する場合が多く、それぞれの本スキャン条件を実施する頻度は異なる場合が多数である。   However, at the imaging site where the main scan of the subject is performed, the main scan is rarely performed under all settable main scan conditions. For example, in the medical field in which a predetermined affected area is treated professionally, the main scan condition that is optimal for the imaging of the affected area that is the specialty is often repeatedly performed, and the frequency of performing each main scan condition is often There are many different cases.

このため、全ての本スキャン条件に対応可能なキャリブレーションスキャン条件にてキャリブレーションを実施する場合、実施されない条件を含むキャリブレーションスキャン条件にてキャリブレーションスキャンが実施されている。具体的には、たとえば、本スキャンにてX線管の管電圧100kVの条件のみしか実施しない場合であっても、装置が管電圧100kVと120kVとを本スキャンすることが可能な場合、管電圧100kVと120kVとの両者を含むようにキャリブレーションスキャン条件が設定され実施される。このために、従来においては、本スキャン条件として、たとえば、100kVの管電圧の実施が少ない場合であってもキャリブレーションスキャン条件として設定され、キャリブレーションに要する時間が増加し、装置の利用効率が下がって操作性が低下している。特に、近年においては、マルチスライスの実現のためにX線検出器の検出素子の数が増大するに伴い、キャリブレーションに要する時間が著しく増加し、装置の利用効率低下が顕著になっている。   For this reason, when calibration is performed under calibration scan conditions that are compatible with all main scan conditions, the calibration scan is performed under calibration scan conditions including conditions that are not performed. Specifically, for example, even when only the condition of the tube voltage 100 kV of the X-ray tube is performed in the main scan, if the apparatus can perform the main scan of the tube voltages 100 kV and 120 kV, Calibration scan conditions are set and implemented to include both 100 kV and 120 kV. For this reason, conventionally, as the main scan condition, for example, even when the tube voltage of 100 kV is small, it is set as the calibration scan condition, the time required for calibration is increased, and the use efficiency of the apparatus is increased. The operability is lowered. In particular, in recent years, as the number of detection elements of the X-ray detector increases to realize multi-slice, the time required for calibration has increased remarkably, and the use efficiency of the apparatus has been significantly reduced.

したがって、本発明の目的は、キャリブレーションに要する時間を減少し、装置の利用効率を向上させ操作性を向上可能な放射線撮影装置を提供することにある。   Accordingly, an object of the present invention is to provide a radiation imaging apparatus capable of reducing the time required for calibration, improving the utilization efficiency of the apparatus, and improving the operability.

上記目的を達成するため、本発明の放射線撮影装置は、キャリブレーションスキャン条件に基づいて放射線を基準設定物に照射するキャリブレーションスキャンを実施して、前記放射線を検出する検出手段の特性を校正するためのキャリブレーションデータを生成し、本スキャン条件に基づいて照射され被検体を透過する放射線を前記検出手段にて検出して前記被検体の投影データを収集し、前記キャリブレーションデータに基づいて前記投影データを校正し、前記校正された前記投影データに基づいて前記被検体の画像を生成する放射線撮影装置であって、前記本スキャン条件を設定する本スキャン条件設定手段と、前記本スキャン条件設定手段により設定される前記本スキャン条件についての実施頻度を記憶する記憶手段と、前記記憶手段に記憶された前記本スキャン条件の実施頻度に基づいて前記キャリブレーションスキャン条件を設定するキャリブレーションスキャン設定手段とを有し、前記キャリブレーションスキャン条件設定手段が設定する前記キャリブレーションスキャン条件に基づいて前記キャリブレーションスキャンを実施する。   In order to achieve the above object, the radiation imaging apparatus of the present invention calibrates the characteristics of the detection means for detecting the radiation by performing a calibration scan for irradiating the reference setting object with radiation based on the calibration scan condition. Calibration data is generated, and radiation detected based on the main scanning condition and transmitted through the subject is detected by the detection means, and projection data of the subject is collected, and based on the calibration data, the calibration data is collected. A radiographic apparatus that calibrates projection data and generates an image of the subject based on the calibrated projection data, a main scan condition setting unit that sets the main scan condition, and the main scan condition setting Storage means for storing an execution frequency for the main scan condition set by the means, and the storage means Calibration scan setting means for setting the calibration scan condition based on the frequency of execution of the main scan condition stored in the storage, and based on the calibration scan condition set by the calibration scan condition setting means The calibration scan is performed.

上記の本発明の放射線撮影装置によれば、本スキャン条件を本スキャン条件設定手段が設定し、本スキャン条件設定手段により設定される本スキャン条件についての実施頻度を記憶手段が記憶する。そして、記憶手段に記憶された本スキャン条件の実施頻度に基づいてキャリブレーションスキャン設定手段がキャリブレーションスキャン条件を設定する。そして、キャリブレーションスキャン条件設定手段が設定するキャリブレーションスキャン条件に基づいてキャリブレーションスキャンが実施される。   According to the radiographic apparatus of the present invention described above, the main scan condition is set by the main scan condition setting unit, and the execution frequency for the main scan condition set by the main scan condition setting unit is stored by the storage unit. Then, the calibration scan setting unit sets the calibration scan condition based on the execution frequency of the main scan condition stored in the storage unit. Then, the calibration scan is performed based on the calibration scan condition set by the calibration scan condition setting means.

したがって、本発明によれば、キャリブレーションに要する時間を減少し、装置の利用効率を向上させ操作性を向上可能な放射線撮影装置を提供することができる。   Therefore, according to the present invention, it is possible to provide a radiation imaging apparatus that can reduce the time required for calibration, improve the utilization efficiency of the apparatus, and improve the operability.

以下より、本発明にかかる実施形態について説明する。   Embodiments according to the present invention will be described below.

図1は、本発明にかかる実施形態の放射線撮影装置としてのX線CT装置1の全体構成を示すブロック図であり、図2は、本発明にかかる実施形態の放射線撮影装置としてのX線CT装置1の要部を示す構成図である。   FIG. 1 is a block diagram showing an overall configuration of an X-ray CT apparatus 1 as a radiation imaging apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 shows an X-ray CT as a radiation imaging apparatus according to an embodiment of the present invention. 2 is a configuration diagram showing a main part of the device 1. FIG.

図1に示すように、本実施形態のX線CT装置1は、走査ガントリ2と操作コンソール3と撮影テーブル4とを有する。   As shown in FIG. 1, the X-ray CT apparatus 1 of this embodiment includes a scanning gantry 2, an operation console 3, and an imaging table 4.

走査ガントリ2は、X線管20とX線管移動部21とコリメータ22とX線検出器23とデータ収集部24とX線コントローラ25とコリメータコントローラ26と回転部27と回転コントローラ28とを有する。ここで、X線管20とX線検出器23とは、X線照射空間29を挟んで対向して配置されている。   The scanning gantry 2 includes an X-ray tube 20, an X-ray tube moving unit 21, a collimator 22, an X-ray detector 23, a data collection unit 24, an X-ray controller 25, a collimator controller 26, a rotation unit 27, and a rotation controller 28. . Here, the X-ray tube 20 and the X-ray detector 23 are disposed to face each other with the X-ray irradiation space 29 interposed therebetween.

X線管20は、X線を照射するために設けられている。X線管20は、図2に示すように、X線コントローラ25からの制御信号CTL251に基づいて、所定強度のX線5を、コリメータ22を介して被検体6の撮影領域Rに照射する。   The X-ray tube 20 is provided for irradiating X-rays. As shown in FIG. 2, the X-ray tube 20 irradiates the imaging region R of the subject 6 with X-rays 5 having a predetermined intensity via the collimator 22 based on a control signal CTL 251 from the X-ray controller 25.

X線管移動部21は、図2に示すように、X線コントローラ25からの制御信号CTL252に基づいて、X線管20の放射中心を、走査ガントリ2におけるX線照射空間29内の撮影テーブル4に載置される被検体6のスライス厚方向zに移動させる。   As shown in FIG. 2, the X-ray tube moving unit 21 determines the radiation center of the X-ray tube 20 based on the control signal CTL 252 from the X-ray controller 25 and the imaging table in the X-ray irradiation space 29 in the scanning gantry 2. 4 is moved in the slice thickness direction z of the subject 6 to be placed.

コリメータ22は、図1および図2に示すように、X線管20とX線検出器23との間に配置されている。コリメータ22は、たとえば、図2に示すように、チャネル方向xとスライス厚方向zとにそれぞれ2枚ずつ設けられた板により構成されている。コリメータ22は、コリメータコントローラ26からの制御信号CTL261に基づいて、各方向に設けられた2枚の板を独立して移動させ、X線管20から照射されたX線5をそれぞれの方向において遮ってコーン状に成形し、X線5の照射範囲を調整する。   As shown in FIGS. 1 and 2, the collimator 22 is disposed between the X-ray tube 20 and the X-ray detector 23. For example, as shown in FIG. 2, the collimator 22 is composed of two plates each provided in the channel direction x and the slice thickness direction z. The collimator 22 independently moves two plates provided in each direction based on a control signal CTL 261 from the collimator controller 26, and blocks the X-rays 5 irradiated from the X-ray tube 20 in each direction. To form a cone, and adjust the irradiation range of the X-ray 5.

X線検出器23は、X線管20が照射するX線を検出するために設けられている。X線検出器23は、たとえば、図2に示すように、8つのX線検出モジュール23A,23B,23C,23D,23E,23F,23G,23Hを有している。8つのX線検出モジュール23A,23B,23C,23D,23E,23F,23G,23Hは、A列からH列の順にスライス厚方向zに隣接して並列している。   The X-ray detector 23 is provided for detecting X-rays emitted from the X-ray tube 20. For example, as shown in FIG. 2, the X-ray detector 23 includes eight X-ray detection modules 23A, 23B, 23C, 23D, 23E, 23F, 23G, and 23H. Eight X-ray detection modules 23A, 23B, 23C, 23D, 23E, 23F, 23G, and 23H are arranged adjacent to each other in the slice thickness direction z in order from the A column to the H column.

図3は、X線検出器23を構成する8つのX線検出モジュール23A,23B,23C,23D,23E,23F,23G,23Hのうち、A列のX線検出モジュール23Aを示す構成図である。図3に示すように、X線検出モジュール23Aは、X線を検出する検出素子23aがチャネル方向xとスライス厚方向zとにアレイ状に配列されている。2次元的に配列された複数の検出素子23aは、円筒凹面状に湾曲したX線入射面を全体として形成している。ここで、チャネル方向xには、たとえば、1000個の検出素子23aが配列されており、スライス厚方向zには、たとえば、8個の検出素子23aが配列されている。なお、B列からH列のX線検出モジュール23B,23C,23D,23E,23F,23G,23Hも、図3に示すA列のX線検出モジュール23Aと同様である。   FIG. 3 is a configuration diagram showing the X-ray detection module 23A in the A column among the eight X-ray detection modules 23A, 23B, 23C, 23D, 23E, 23F, 23G, and 23H constituting the X-ray detector 23. . As shown in FIG. 3, in the X-ray detection module 23A, detection elements 23a for detecting X-rays are arranged in an array in the channel direction x and the slice thickness direction z. The plurality of detection elements 23a arranged two-dimensionally forms an X-ray incident surface curved in a cylindrical concave shape as a whole. Here, for example, 1000 detection elements 23a are arranged in the channel direction x, and for example, eight detection elements 23a are arranged in the slice thickness direction z. Note that the X-ray detection modules 23B, 23C, 23D, 23E, 23F, 23G, and 23H in the B to H columns are the same as the X-ray detection module 23A in the A column shown in FIG.

検出素子23aは、たとえば、検出したX線を光に変換するシンチレータ(図示なし)と、シンチレータが変換した光を電荷に変換するフォトダイオード(図示なし)とを有し、X線検出器23は固体検出器として構成されている。なお、検出素子23aは、これに限定されるものではなく、たとえば、カドミウム・テルル(CdTe)等を利用した半導体検出素子、あるいはキセノン(Xe)ガスを利用した電離箱型の検出素子23aであって良い。   The detection element 23a includes, for example, a scintillator (not shown) that converts detected X-rays into light, and a photodiode (not shown) that converts light converted by the scintillator into charges. The X-ray detector 23 includes: It is configured as a solid state detector. The detection element 23a is not limited to this. For example, the detection element 23a is a semiconductor detection element using cadmium tellurium (CdTe) or the like, or an ionization chamber type detection element 23a using xenon (Xe) gas. Good.

図4および図5は、X線管20とコリメータ22とX線検出器23の相互関係を示す図である。図4において、図4(a)はスライス厚方向zを視線とした状態を示す図であり、図4(b)はチャネル方向xを視線とした状態を示す図である。また、図5は、図4(b)と同様にチャネル方向xを視線とした状態において、被検体6を撮影する様子を示す図である。   4 and 5 are diagrams showing the interrelationship among the X-ray tube 20, the collimator 22, and the X-ray detector 23. FIG. 4A is a diagram illustrating a state in which the slice thickness direction z is a line of sight, and FIG. 4B is a diagram illustrating a state in which the channel direction x is a line of sight. FIG. 5 is a diagram illustrating a state in which the subject 6 is imaged in a state where the line of sight is the channel direction x as in FIG. 4B.

図4(a)および図4(b)に示すように、X線管20から放射されたX線5は、コリメータ22によってコーン状に成形され、X線検出器23に照射される。そして、図5に示すように、被検体6を撮影する場合においては、撮影テーブル4に被検体6を載置し、その載置された被検体6がX線照射空間29に搬入される。そして、被検体6のスライス厚方向zを軸として被検体6の周囲の複数のビュー方向からX線5を照射し、コリメータ22を介して、それぞれのビュー方向ごとに被検体6を透過するX線5をX線検出器23で検出し投影データを生成する。   As shown in FIGS. 4A and 4B, the X-ray 5 emitted from the X-ray tube 20 is formed into a cone shape by the collimator 22 and irradiated to the X-ray detector 23. As shown in FIG. 5, when imaging the subject 6, the subject 6 is placed on the imaging table 4, and the placed subject 6 is carried into the X-ray irradiation space 29. Then, X-rays 5 are irradiated from a plurality of view directions around the subject 6 with the slice thickness direction z of the subject 6 as an axis, and pass through the subject 6 for each view direction via the collimator 22. The line 5 is detected by the X-ray detector 23 to generate projection data.

データ収集部24は、X線検出器23が検出した放射線によるデータを収集するために設けられている。データ収集部24は、たとえば、図2に示すように、本スキャン条件にて、X線検出器23のそれぞれの検出素子23aが検出したX線5に基づいて被検体6の投影データを収集して、操作コンソール3に出力する。データ収集部24は、たとえば、選択・加算切換回路(MUX,ADD)241とアナログ−デジタル変換器(ADC)242とを有する。選択・加算切換回路241は、X線検出器23の検出素子23aによる投影データを、中央処理装置30からの制御信号CTL303に応じて選択し、あるいは組み合わせを変えて足し合わせ、その結果をアナログ−デジタル変換器242に出力する。アナログ−デジタル変換器242は、選択・加算切換回路241において選択あるいは任意の組み合わせで足し合わされた投影データをアナログ信号からデジタル信号に変換して中央処理装置30に出力する。   The data collection unit 24 is provided for collecting data based on radiation detected by the X-ray detector 23. For example, as shown in FIG. 2, the data collection unit 24 collects projection data of the subject 6 based on the X-rays 5 detected by the respective detection elements 23a of the X-ray detector 23 under the main scan conditions. To the operation console 3. The data collection unit 24 includes, for example, a selection / addition switching circuit (MUX, ADD) 241 and an analog-digital converter (ADC) 242. The selection / addition switching circuit 241 selects projection data by the detection element 23a of the X-ray detector 23 in accordance with the control signal CTL303 from the central processing unit 30, or adds a combination thereof, and the result is analog- Output to the digital converter 242. The analog-digital converter 242 converts the projection data selected by the selection / addition switching circuit 241 or added in an arbitrary combination from an analog signal to a digital signal and outputs it to the central processing unit 30.

X線コントローラ25は、図2に示すように、中央処理装置30からの制御信号CTL301に応じて、X線管20に制御信号CTL251を出力し、X線の照射を制御する。また、X線コントローラ25は、中央処理装置30による制御信号CTL301に応じて、X線管移動部221に対し制御信号CTL252を出力し、X線管20の放射中心をスライス厚方向zに移動するように制御する。   As shown in FIG. 2, the X-ray controller 25 outputs a control signal CTL 251 to the X-ray tube 20 in accordance with a control signal CTL 301 from the central processing unit 30 to control X-ray irradiation. Further, the X-ray controller 25 outputs a control signal CTL252 to the X-ray tube moving unit 221 in response to the control signal CTL301 from the central processing unit 30, and moves the radiation center of the X-ray tube 20 in the slice thickness direction z. To control.

コリメータコントローラ26は、図2に示すように、中央処理装置30からの制御信号CTL302に応じてコリメータ22に制御信号CTL261を出力し、X線管20から放射されたX線5を成形するようにコリメータ22を制御する。   As shown in FIG. 2, the collimator controller 26 outputs a control signal CTL 261 to the collimator 22 in response to the control signal CTL 302 from the central processing unit 30 to shape the X-ray 5 emitted from the X-ray tube 20. The collimator 22 is controlled.

回転部27は、図1に示すように、回転コントローラ28からの制御信号CTL28に応じて所定の方向に回転する。この回転部27には、X線管20とX線管移動部21とコリメータ22とX線検出器23とデータ収集部24とX線コントローラ25とコリメータコントローラ26とが搭載されており、これらは、回転部27の回転に伴ってX線照射空間29に搬入される被検体6に対する位置が変化する。回転部27を回転させることにより、被検体6のスライス厚方向zを軸として複数のビュー方向からX線5が照射され、被検体6を透過したX線5が検出される。   As shown in FIG. 1, the rotating unit 27 rotates in a predetermined direction in response to a control signal CTL 28 from the rotation controller 28. The rotating unit 27 includes an X-ray tube 20, an X-ray tube moving unit 21, a collimator 22, an X-ray detector 23, a data collection unit 24, an X-ray controller 25, and a collimator controller 26. As the rotating unit 27 rotates, the position of the subject 6 carried into the X-ray irradiation space 29 changes. By rotating the rotating unit 27, X-rays 5 are irradiated from a plurality of view directions with the slice thickness direction z of the subject 6 as an axis, and the X-rays 5 transmitted through the subject 6 are detected.

回転コントローラ28は、図2に示すように、操作コンソール3の中央処理装置30による制御信号CTL304に応じて、回転部27に制御信号CTL28を出力し、回転部27を回転するように制御する。   As shown in FIG. 2, the rotation controller 28 outputs a control signal CTL 28 to the rotation unit 27 in accordance with a control signal CTL 304 from the central processing unit 30 of the operation console 3 and controls the rotation unit 27 to rotate.

操作コンソール3は、中央処理装置30と入力装置31と表示装置32と記憶装置33とを有する。   The operation console 3 includes a central processing unit 30, an input device 31, a display device 32, and a storage device 33.

図6は、操作コンソール3の中央処理装置30の構成を示す構成図である。   FIG. 6 is a configuration diagram showing the configuration of the central processing unit 30 of the operation console 3.

中央処理装置30は、たとえば、コンピュータによって構成されており、図6に示すように、制御部41と、データ処理部51とを有する。ここで、制御部41は、本スキャン制御部42と、キャリブレーションスキャン制御部43とを有し、データ処理部51は、本スキャン条件設定部52と、キャリブレーションデータ生成部53と、キャリブレーションスキャン条件設定部54と、校正部55と、画像生成部56と、警告部57とを有する。   The central processing unit 30 is configured by a computer, for example, and includes a control unit 41 and a data processing unit 51 as shown in FIG. Here, the control unit 41 includes a main scan control unit 42 and a calibration scan control unit 43, and the data processing unit 51 includes a main scan condition setting unit 52, a calibration data generation unit 53, and a calibration. A scan condition setting unit 54, a calibration unit 55, an image generation unit 56, and a warning unit 57 are included.

制御部41の本スキャン制御部42は、本スキャン条件に基づいて、X線管20からX線5を被検体6に照射し、被検体6を透過するX線5をX線検出器23にて検出するように、各部を制御して走査を行う。具体的には、本スキャン制御部42は、本スキャン条件に基づいて制御信号CTL30aを各部に出力し、本スキャンを実行させる。たとえば、本スキャン制御部42は、撮影テーブル4に制御信号CTL30bを出力し、撮影テーブル4を走査ガントリ2のX線照射空間29に搬入または搬出させる。また、本スキャン制御部42は、回転コントローラ28に制御信号CTL304を出力して、走査ガントリ2の回転部27を回転させる。また、本スキャン制御部42は、X線管20からX線5の照射するように、制御信号CTL301をX線コントローラ25に出力する。そして、本スキャン制御部42は、制御信号CTL302をコリメータコントローラ26に出力し、コリメータ22を制御してX線5を成形する。また、本スキャン制御部42は、制御信号CTL303をデータ収集部24に出力し、X線検出器23の検出素子23aが得る投影データを収集するように制御する。本実施形態においては、本スキャン制御部42は、本スキャン条件設定部52が設定する本スキャン条件に基づいて走査を行う。   The main scan control unit 42 of the control unit 41 irradiates the subject 6 with the X-ray 5 from the X-ray tube 20 based on the main scan condition, and applies the X-ray 5 transmitted through the subject 6 to the X-ray detector 23. In this way, each part is controlled to perform scanning. Specifically, the main scan control unit 42 outputs a control signal CTL 30a to each unit based on the main scan condition to execute the main scan. For example, the main scan control unit 42 outputs a control signal CTL 30 b to the imaging table 4 and causes the imaging table 4 to be carried into or out of the X-ray irradiation space 29 of the scanning gantry 2. Further, the main scan control unit 42 outputs a control signal CTL 304 to the rotation controller 28 to rotate the rotation unit 27 of the scanning gantry 2. Further, the main scan control unit 42 outputs a control signal CTL 301 to the X-ray controller 25 so that the X-ray tube 20 emits the X-ray 5. Then, the main scan control unit 42 outputs the control signal CTL 302 to the collimator controller 26 and controls the collimator 22 to shape the X-ray 5. Further, the main scan control unit 42 outputs a control signal CTL 303 to the data collection unit 24 and controls to collect projection data obtained by the detection element 23 a of the X-ray detector 23. In the present embodiment, the main scan control unit 42 performs scanning based on the main scan conditions set by the main scan condition setting unit 52.

キャリブレーションスキャン制御部43は、キャリブレーションスキャン条件に基づいてX線管20からX線5をエアやファントムなどの基準設定物に照射しX線検出器23にてX線管20からのX線5を検出するように、各部を制御して走査を行う。本実施形態においては、キャリブレーションスキャン制御部43は、キャリブレーションスキャン条件設定部54が設定するキャリブレーションスキャン条件に基づいて走査を行う。   The calibration scan control unit 43 irradiates the X-ray 5 from the X-ray tube 20 to a reference set object such as air or phantom based on the calibration scan condition, and the X-ray detector 23 X-rays from the X-ray tube 20. Scanning is performed by controlling each unit so as to detect 5. In the present embodiment, the calibration scan control unit 43 performs scanning based on the calibration scan conditions set by the calibration scan condition setting unit 54.

データ処理部51の本スキャン条件設定部52は、オペレータにより入力装置31から入力される被検体6の撮影方法などの指令に基づいて、本スキャン条件を設定する。本スキャン条件設定部52により設定される本スキャン条件の履歴は、後述する記憶装置33に記憶される。   The main scan condition setting unit 52 of the data processing unit 51 sets the main scan condition based on a command such as an imaging method of the subject 6 input from the input device 31 by the operator. The history of the main scanning conditions set by the main scanning condition setting unit 52 is stored in the storage device 33 described later.

キャリブレーションデータ生成部53は、キャリブレーションスキャン条件にて検出されるX線に基づいて、X線検出器23の検出感度などの特性を校正するためのキャリブレーションデータを生成する。   The calibration data generation unit 53 generates calibration data for calibrating characteristics such as detection sensitivity of the X-ray detector 23 based on the X-rays detected under the calibration scan condition.

キャリブレーションスキャン条件設定部54は、後述の記憶装置33に記憶される本スキャン条件の実施頻度に基づいてキャリブレーションスキャン条件を設定する。たとえば、キャリブレーションスキャン条件設定部54は、記憶装置33に記憶される本スキャン条件のうち実施頻度が大きな第1本スキャン条件に対応するように、キャリブレーションスキャン条件を設定する。具体的には、記憶装置33に記憶されている複数の本スキャン条件の履歴を解析し、たとえば、過去2か月など、過去の所定期間内で実施頻度が高い本スキャン条件を上位から抽出し、その抽出された本スキャン条件群に対応するようにキャリブレーションスキャン条件を設定する。また、キャリブレーションスキャン条件設定部54は、本スキャン条件設定部52がその第1本スキャン条件と異なる第2本スキャン条件を設定する場合には、その第2本スキャン条件に対応するようにキャリブレーションスキャン条件を再度設定する。   The calibration scan condition setting unit 54 sets the calibration scan condition based on the execution frequency of the main scan condition stored in the storage device 33 described later. For example, the calibration scan condition setting unit 54 sets the calibration scan condition so as to correspond to the first main scan condition that is frequently performed among the main scan conditions stored in the storage device 33. Specifically, the history of a plurality of main scan conditions stored in the storage device 33 is analyzed, and for example, main scan conditions that are frequently executed within a predetermined period in the past, such as the past two months, are extracted from the top. Then, the calibration scan condition is set so as to correspond to the extracted main scan condition group. In addition, when the main scan condition setting unit 52 sets a second main scan condition different from the first main scan condition, the calibration scan condition setting unit 54 performs calibration so as to correspond to the second main scan condition. Set the scan condition again.

校正部55は、キャリブレーションデータ生成部53にて生成されたキャリブレーションデータに基づいて、本スキャンにて得られた被検体6の投影データを校正する。   The calibration unit 55 calibrates the projection data of the subject 6 obtained in the main scan based on the calibration data generated by the calibration data generation unit 53.

画像生成部56は、校正部55にて校正される投影データに基づいて、被検体6の画像を生成する。たとえば、画像生成部56は、複数のビュー方向からの投影データをフィルタ補正逆投影法により画像再構成を行い、被検体6の断層像の画像データを生成する。   The image generation unit 56 generates an image of the subject 6 based on the projection data calibrated by the calibration unit 55. For example, the image generation unit 56 performs image reconstruction on projection data from a plurality of view directions by a filter-corrected back projection method, and generates image data of a tomographic image of the subject 6.

警告部57は、キャリブレーションスキャン条件設定部54が設定したキャリブレーションスキャン条件が、本スキャン条件設定部52により設定される本スキャン条件に対応していない場合、改めてキャリブレーションスキャン条件を設定するように警告を行う。たとえば、キャリブレーションスキャン条件設定部54が、記憶装置33に記憶される本スキャン条件のうち実施頻度が大きな第1本スキャン条件に対応するように、キャリブレーションスキャン条件を設定した場合、警告部57は、本スキャン条件設定手段が第1本スキャン条件と異なる第2本スキャン条件を設定したデータに基づいて、キャリブレーションスキャン条件を変更する旨を表示装置32に表示することにより警告を実施する。   The warning unit 57 sets the calibration scan condition again when the calibration scan condition set by the calibration scan condition setting unit 54 does not correspond to the main scan condition set by the main scan condition setting unit 52. To warn. For example, when the calibration scan condition setting unit 54 sets the calibration scan condition so as to correspond to the first main scan condition that is frequently executed among the main scan conditions stored in the storage device 33, the warning unit 57. Warns by displaying on the display device 32 that the calibration scan condition is to be changed based on the data in which the main scan condition setting means sets the second main scan condition different from the first main scan condition.

操作コンソール3の入力装置31は、撮影方法などの本スキャン条件を中央処理装置30に入力するために設けられており、たとえば、キーボードやマウスにより構成される。   The input device 31 of the operation console 3 is provided for inputting main scanning conditions such as a photographing method to the central processing unit 30, and is configured by, for example, a keyboard and a mouse.

表示装置32は、中央処理装置30からの指令に基づき、再構成により生成された断層像やその他の各種情報を表示する。   The display device 32 displays a tomographic image generated by reconstruction and various other information based on a command from the central processing unit 30.

記憶装置33は、各種のデータや再構成画像およびプログラム等を記憶し、その記憶されたデータが、必要に応じて中央処理装置30にアクセスされる。たとえば、記憶装置33は、本スキャン条件設定部52により設定される本スキャン条件について、本スキャン制御部42が実施する本スキャン条件の履歴を記憶し、その本スキャン条件の実施頻度を記憶する。記憶装置33は、たとえば、過去2か月分など、過去の所定期間内における本スキャン条件の履歴を記憶する。   The storage device 33 stores various data, reconstructed images, programs, and the like, and the stored data is accessed by the central processing unit 30 as necessary. For example, the storage device 33 stores a history of the main scan conditions performed by the main scan control unit 42 for the main scan conditions set by the main scan condition setting unit 52, and stores the frequency of execution of the main scan conditions. The storage device 33 stores a history of main scan conditions within a predetermined period in the past, for example, for the past two months.

つぎに、上記の本実施形態のX線CT装置1を用いてキャリブレーション条件を設定する方法について説明する。   Next, a method for setting calibration conditions using the X-ray CT apparatus 1 of the present embodiment will be described.

図7は、本実施形態においてキャリブレーション条件を設定する方法のフロー図である。   FIG. 7 is a flowchart of a method for setting calibration conditions in the present embodiment.

図7に示すように、まず、はじめに、本スキャン条件の実施履歴を取得する(S11)。   As shown in FIG. 7, first, the execution history of the main scan condition is acquired (S11).

被検体6の断層画像を撮影する際においては、オペレータによって、入力装置31に本スキャン条件の各設定項目を入力され、中央処理装置30に出力される。具体的には、本スキャン条件として、スライス厚、スライス数、その他、コンベンショナルスキャンとヘリカルスキャンなどの撮影方式がオペレータによって入力装置31に入力され、中央処理装置30の本スキャン条件設定部52に操作信号が出力される。そして、本スキャン条件設定部52が操作信号を本スキャン制御部42に出力し、本スキャン制御部42が走査ガントリ2と撮影テーブル4へ制御信号CTL30a,CTL30bを出力する。たとえば、本スキャン制御部42は、撮影テーブル4に制御信号CTL30bを出力し、撮影テーブル4を走査ガントリ2のX線照射空間29に搬入または搬出させる。また、本スキャン制御部42は、回転コントローラ28に制御信号CTL304を出力して、走査ガントリ2の回転部27を回転させる。また、本スキャン制御部42は、X線管20からX線5の照射するように、制御信号CTL301をX線コントローラ25に出力する。そして、本スキャン制御部42は、制御信号CTL302をコリメータコントローラ26に出力し、コリメータ22を制御してX線5を成形する。また、本スキャン制御部42は、制御信号CTL303をデータ収集部24に出力し、X線検出器23の検出素子23aが得る投影データを収集するように制御する。   When taking a tomographic image of the subject 6, the operator inputs each setting item of the main scan condition to the input device 31 and outputs it to the central processing unit 30. Specifically, as the main scanning conditions, the slice thickness, the number of slices, and other imaging methods such as conventional scanning and helical scanning are input to the input device 31 by the operator, and the main scanning condition setting unit 52 of the central processing unit 30 is operated. A signal is output. Then, the main scan condition setting unit 52 outputs an operation signal to the main scan control unit 42, and the main scan control unit 42 outputs control signals CTL 30 a and CTL 30 b to the scanning gantry 2 and the imaging table 4. For example, the main scan control unit 42 outputs a control signal CTL 30 b to the imaging table 4 and causes the imaging table 4 to be carried into or out of the X-ray irradiation space 29 of the scanning gantry 2. Further, the main scan control unit 42 outputs a control signal CTL 304 to the rotation controller 28 to rotate the rotation unit 27 of the scanning gantry 2. Further, the main scan control unit 42 outputs a control signal CTL 301 to the X-ray controller 25 so that the X-ray tube 20 emits the X-ray 5. Then, the main scan control unit 42 outputs the control signal CTL 302 to the collimator controller 26 and controls the collimator 22 to shape the X-ray 5. Further, the main scan control unit 42 outputs a control signal CTL 303 to the data collection unit 24 and controls to collect projection data obtained by the detection element 23 a of the X-ray detector 23.

この時、記憶装置33は、本スキャン条件設定部52により設定される本スキャン条件について、本スキャン制御部42が実施する本スキャン条件の履歴を記憶し、その本スキャン条件の実施頻度を記憶する。記憶装置33は、たとえば、過去2か月分など、過去の所定期間内における本スキャン条件の履歴を記憶する。   At this time, the storage device 33 stores the history of the main scan conditions executed by the main scan control unit 42 for the main scan conditions set by the main scan condition setting unit 52, and stores the execution frequency of the main scan conditions. . The storage device 33 stores a history of main scan conditions within a predetermined period in the past, for example, for the past two months.

つぎに、本スキャン条件の実施頻度を解析する(S21)。   Next, the execution frequency of the main scan condition is analyzed (S21).

ここでは、記憶装置33に記憶される本スキャン条件の実施頻度に基づいて、キャリブレーションスキャン条件設定部54が解析を行う。たとえば、キャリブレーションスキャン条件設定部54は、記憶装置33に記憶されている複数の本スキャン条件の履歴を解析し、過去2か月など、過去の所定期間内で実施頻度が高い本スキャン条件を上位から抽出する。   Here, the calibration scan condition setting unit 54 performs analysis based on the execution frequency of the main scan condition stored in the storage device 33. For example, the calibration scan condition setting unit 54 analyzes the history of a plurality of main scan conditions stored in the storage device 33, and sets the main scan conditions that are frequently executed within a predetermined past period such as the past two months. Extract from the top.

つぎに、キャリブレーションスキャン条件の設定を行う(S31)。   Next, calibration scan conditions are set (S31).

ここでは、記憶装置33に記憶される本スキャン条件の履歴や実施頻度の解析結果に基づいて、キャリブレーションスキャン条件設定部54が、キャリブレーションスキャン条件を設定する。たとえば、キャリブレーションスキャン条件設定部54は、上記にて抽出された本スキャン条件群に対応するようにキャリブレーションスキャン条件を設定する。具体的には、装置が管電圧100kVと120kVとを本スキャンすることが可能な場合であって、本スキャンにて100kVのみが実施されている履歴を記憶している場合、120kVには対応せずに、100kVに対応するようなキャリブレーションスキャン条件を設定する。   Here, the calibration scan condition setting unit 54 sets the calibration scan condition based on the history of the main scan condition stored in the storage device 33 and the analysis result of the execution frequency. For example, the calibration scan condition setting unit 54 sets the calibration scan condition so as to correspond to the main scan condition group extracted above. Specifically, when the apparatus can perform a main scan of tube voltages of 100 kV and 120 kV, and stores a history in which only 100 kV is performed in the main scan, it corresponds to 120 kV. First, a calibration scan condition corresponding to 100 kV is set.

図8は、本スキャン条件の実施頻度の解析と、キャリブレーションスキャンの条件の設定とを示すフロー図である。   FIG. 8 is a flowchart showing analysis of the execution frequency of the main scan condition and setting of the calibration scan condition.

図8に示すように、本スキャン条件の実施履歴を取得する(S101)。そして、たとえば、管電圧が100Vであってスモールフォーカスでの本スキャンに対応したキャリブレーションスキャンを過去N日以内に実施したか否かを判定する(S111)。   As shown in FIG. 8, the execution history of the main scan condition is acquired (S101). Then, for example, it is determined whether or not a calibration scan corresponding to the main scan with the small focus is 100 V within the past N days (S111).

そして、管電圧が100Vであってスモールフォーカスでの本スキャンに対応したキャリブレーションスキャンを過去N日以内に実施していない場合には、さらに、その本スキャンが過去X日以内にY回以下実施されたか否かを判定する(S112)。そして、その本スキャンが過去X日以内にY回以下でない場合には、その本スキャンに対応したキャリブレーションスキャンを実施するように設定する(S201)。   If the tube voltage is 100V and the calibration scan corresponding to the main scan with the small focus is not performed within the past N days, the main scan is further performed Y times or less within the past X days. It is determined whether it has been done (S112). Then, if the main scan is not less than Y times within the past X days, it is set to perform a calibration scan corresponding to the main scan (S201).

一方、管電圧が100Vであってスモールフォーカスでの本スキャンに対応したキャリブレーションスキャンを過去N日以内に実施した場合には、その本スキャン条件に対応したキャリブレーションスキャンを省略するように設定する(S301)。そして、同様に、その本スキャンが過去X日以内にY回以下の場合には、その本スキャンに対応したキャリブレーションスキャンを省略するように設定する(S301)。   On the other hand, when the tube voltage is 100 V and the calibration scan corresponding to the main scan with the small focus is performed within the past N days, the calibration scan corresponding to the main scan condition is set to be omitted. (S301). Similarly, when the main scan is Y times or less within the past X days, the calibration scan corresponding to the main scan is set to be omitted (S301).

つぎに、たとえば、管電圧が120Vであってラージフォーカスでの本スキャンに対応したキャリブレーションスキャンを過去N日以内に実施したか否かを判定する(S211,S311)。   Next, for example, it is determined whether or not a calibration scan corresponding to the main scan with the tube voltage of 120 V and the large focus has been performed within the past N days (S211, S311).

そして、管電圧が120Vであってラージフォーカスでの本スキャンに対応したキャリブレーションスキャンを過去N日以内に実施していない場合には、さらに、その本スキャンが過去X日以内にY回以下実施されたか否かを判定する(S212,S312)。そして、その本スキャンが過去X日以内にY回以下でない場合には、その本スキャンに対応したキャリブレーションスキャンを実施するように設定する(S401,S501)。   If the tube voltage is 120V and the calibration scan corresponding to the main scan with the large focus has not been performed within the past N days, the main scan is further performed Y times or less within the past X days. It is determined whether it has been done (S212, S312). Then, if the main scan is not less than Y times within the past X days, a setting is made to perform a calibration scan corresponding to the main scan (S401, S501).

一方、管電圧が120Vであってラージフォーカスでの本スキャンに対応したキャリブレーションスキャンを過去N日以内に実施した場合には、その本スキャン条件に対応したキャリブレーションスキャンを省略するように設定する(S601,S701)。そして、同様に、その本スキャンが過去X日以内にY回以下の場合には、その本スキャンに対応したキャリブレーションスキャンを省略するように設定する(S601,S701)。   On the other hand, when the tube voltage is 120 V and the calibration scan corresponding to the main scan with the large focus is performed within the past N days, the calibration scan corresponding to the main scan condition is set to be omitted. (S601, S701). Similarly, when the main scan is Y times or less within the past X days, the calibration scan corresponding to the main scan is set to be omitted (S601, S701).

そして、キャリブレーションスキャンを実施する際においては、キャリブレーションスキャン条件設定部54にて設定されたキャリブレーションスキャン条件にて、キャリブレーションスキャン制御部43が、X線管20からX線5をエアやファントムなどの基準設定物に照射し、X線検出器23にてX線管20からのX線5を検出するように、各部を制御して走査を行う。なお、キャリブレーションスキャンは、たとえば、1日に1回程度、X線CT装置を立ち上げる際に実施される。   Then, when performing the calibration scan, the calibration scan control unit 43 causes the X-ray tube 20 to move the X-ray 5 through the air under the calibration scan condition set by the calibration scan condition setting unit 54. Scanning is performed by controlling each unit so that a reference setting object such as a phantom is irradiated and the X-ray detector 23 detects the X-ray 5 from the X-ray tube 20. The calibration scan is performed, for example, when the X-ray CT apparatus is started up about once a day.

そして、そのキャリブレーションスキャン条件にて検出されるX線に基づいて、キャリブレーションデータ生成部53が、X線検出器23の検出感度などの特性を校正するためのキャリブレーションデータを生成する。   Then, based on the X-rays detected under the calibration scan condition, the calibration data generation unit 53 generates calibration data for calibrating characteristics such as detection sensitivity of the X-ray detector 23.

そして、キャリブレーションスキャン条件設定部54が設定したキャリブレーションスキャン条件が、本スキャン条件設定部52により設定される本スキャン条件に対応していない場合には、上述のようにキャリブレーションデータ生成部53にて生成されたキャリブレーションデータに基づいて、校正部55が、本スキャンにて得られた被検体6の投影データを校正する。たとえば、記憶装置33に記憶される本スキャン条件のうち実施頻度が大きな第1本スキャン条件に対応するように、キャリブレーションスキャン条件設定部54がキャリブレーションスキャン条件を設定する。   When the calibration scan condition set by the calibration scan condition setting unit 54 does not correspond to the main scan condition set by the main scan condition setting unit 52, the calibration data generation unit 53 as described above. The calibration unit 55 calibrates the projection data of the subject 6 obtained in the main scan based on the calibration data generated in step S2. For example, the calibration scan condition setting unit 54 sets the calibration scan condition so as to correspond to the first main scan condition that is frequently executed among the main scan conditions stored in the storage device 33.

そして、校正部55にて校正される投影データに基づいて、画像生成部56が、フィルタ補正逆投影法により画像再構成を行い、被検体6の断層像の画像データを生成する。   Then, based on the projection data calibrated by the calibration unit 55, the image generation unit 56 performs image reconstruction by a filter-corrected back projection method, and generates tomographic image data of the subject 6.

なお、キャリブレーションスキャン条件設定部54が設定したキャリブレーションスキャン条件が、本スキャン条件設定部52により設定される本スキャン条件に対応していない場合においては、警告部57が、改めてキャリブレーションスキャン条件を設定するように警告を行う。たとえば、キャリブレーションスキャン条件設定部54が、記憶装置33に記憶される本スキャン条件のうち実施頻度が大きな第1本スキャン条件に対応するように、キャリブレーションスキャン条件を設定した場合、警告部57は、本スキャン条件設定手段が第1本スキャン条件と異なる第2本スキャン条件を設定したデータに基づいて、キャリブレーションスキャン条件を変更する旨を表示装置32に表示することにより警告を実施する。そして、キャリブレーションスキャン条件設定部54が、その第2本スキャン条件に対応するようにキャリブレーションスキャン条件を再度設定する。そして、同様に、キャリブレーションスキャン条件設定部54が再設定したキャリブレーションスキャン条件に基づいて、キャリブレーションスキャン制御部43は走査を行い、そのキャリブレーションスキャン条件にて検出されるX線5に基づいて、キャリブレーションデータ生成部53がキャリブレーションデータを生成する。   When the calibration scan condition set by the calibration scan condition setting unit 54 does not correspond to the main scan condition set by the main scan condition setting unit 52, the warning unit 57 again sets the calibration scan condition. Warning to set. For example, when the calibration scan condition setting unit 54 sets the calibration scan condition so as to correspond to the first main scan condition that is frequently executed among the main scan conditions stored in the storage device 33, the warning unit 57. Warns by displaying on the display device 32 that the calibration scan condition is to be changed based on the data in which the main scan condition setting means sets the second main scan condition different from the first main scan condition. Then, the calibration scan condition setting unit 54 sets the calibration scan condition again so as to correspond to the second main scan condition. Similarly, based on the calibration scan condition reset by the calibration scan condition setting unit 54, the calibration scan control unit 43 performs scanning, and based on the X-ray 5 detected under the calibration scan condition. Thus, the calibration data generation unit 53 generates calibration data.

図9は、警告部57によって警告が実施される際のフロー図を示す。   FIG. 9 shows a flowchart when a warning is executed by the warning unit 57.

図9に示すように、管電圧が100kVであってスモールフォーカスの本スキャンを実施する指令を、警告部57が取得する(S801)。そして、管電圧100kVであってスモールフォーカスの本スキャンに対応するキャリブレーションスキャンを過去N日以内に実施したか否かを警告部57が判定する(S802)。   As shown in FIG. 9, the warning unit 57 obtains an instruction to execute a small focus main scan when the tube voltage is 100 kV (S801). Then, the warning unit 57 determines whether or not the calibration scan corresponding to the small focus main scan with the tube voltage of 100 kV has been performed within the past N days (S802).

そして、管電圧が100Vであってスモールフォーカスでの本スキャンに対応したキャリブレーションスキャンを過去N日以内に実施した場合には、その本スキャンの実施を許可し、警告部57は警告しない(S901)。   If the tube voltage is 100 V and the calibration scan corresponding to the main scan with the small focus is performed within the past N days, the execution of the main scan is permitted and the warning unit 57 does not warn (S901). ).

一方、管電圧が100Vであってスモールフォーカスでの本スキャンに対応したキャリブレーションスキャンを過去N日以内に実施していない場合には、警告部57は警告を実施し、その本スキャンに対応したキャリブレーションスキャンの実施を促す(S811)。そして、本スキャンに対応したキャリブレーションスキャンの実施の有無を判定し、実施が有る場合には、その本スキャンの実施を許可し、警告部57は警告しない(S901)。また、そのキャリブレーションスキャンの実施がない場合には、再度、警告部57が警告を実施し、その本スキャンに対応したキャリブレーションスキャンの実施を促す(S811)。   On the other hand, if the tube voltage is 100 V and the calibration scan corresponding to the main scan with the small focus has not been performed within the past N days, the warning unit 57 issues a warning and corresponds to the main scan. The user is prompted to perform a calibration scan (S811). Then, it is determined whether or not a calibration scan corresponding to the main scan is performed. If the calibration scan is performed, the execution of the main scan is permitted, and the warning unit 57 does not warn (S901). If the calibration scan is not performed, the warning unit 57 again issues a warning and prompts execution of the calibration scan corresponding to the main scan (S811).

以上のように、上記の本実施形態のX線CT装置1によれば、本スキャン条件設定部52が、本スキャン条件を設定し、記憶装置33が、その本スキャン条件設定部52により設定される本スキャン条件についての実施頻度を記憶する。そして、キャリブレーションスキャン条件設定部54が、記憶装置33に記憶された本スキャン条件の実施頻度に基づいてキャリブレーションスキャン条件を設定する。そして、キャリブレーションスキャン条件設定部54が設定するキャリブレーションスキャン条件に基づいて、キャリブレーションスキャン制御部43がキャリブレーションスキャンを実施する。このように、本実施形態は、記憶装置33に記憶された本スキャン条件の実施頻度に対応するようにキャリブレーションスキャン条件を設定して実施するため、キャリブレーションに要する時間を減少し、装置の利用効率を向上させ操作性を向上することができる。   As described above, according to the X-ray CT apparatus 1 of the present embodiment described above, the main scan condition setting unit 52 sets the main scan condition, and the storage device 33 is set by the main scan condition setting unit 52. The execution frequency for the main scan condition is stored. Then, the calibration scan condition setting unit 54 sets the calibration scan condition based on the execution frequency of the main scan condition stored in the storage device 33. Then, based on the calibration scan condition set by the calibration scan condition setting unit 54, the calibration scan control unit 43 performs the calibration scan. As described above, in the present embodiment, since the calibration scan condition is set so as to correspond to the execution frequency of the main scan condition stored in the storage device 33, the time required for calibration is reduced, and Usability can be improved and operability can be improved.

図1は、本発明にかかる実施形態のX線CT装置の全体構成を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing an overall configuration of an X-ray CT apparatus according to an embodiment of the present invention. 図2は、本発明にかかる実施形態のX線CT装置の要部を示す構成図である。FIG. 2 is a configuration diagram showing a main part of the X-ray CT apparatus according to the embodiment of the present invention. 図3は、本発明にかかる実施形態のX線CT装置において、X線検出器を構成する8つのX線検出モジュールのうち、A列のX線検出モジュールを示す構成図である。FIG. 3 is a configuration diagram illustrating an X-ray detection module in the A column among eight X-ray detection modules constituting the X-ray detector in the X-ray CT apparatus according to the embodiment of the present invention. 図4は、本発明にかかる実施形態のX線CT装置において、X線管とコリメータとX線検出器の相互関係を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing the interrelationship among the X-ray tube, the collimator, and the X-ray detector in the X-ray CT apparatus according to the embodiment of the present invention. 図5は、本発明にかかる実施形態のX線CT装置において、X線管とコリメータとX線検出器の相互関係を示す図である。FIG. 5 is a diagram illustrating the interrelationship among the X-ray tube, the collimator, and the X-ray detector in the X-ray CT apparatus according to the embodiment of the present invention. 図6は、本発明にかかる実施形態のX線CT装置において、操作コンソールの中央処理装置の構成を示す構成図である。FIG. 6 is a configuration diagram showing the configuration of the central processing unit of the operation console in the X-ray CT apparatus according to the embodiment of the present invention. 図7は、本発明にかかる実施形態のX線CT装置において、キャリブレーション条件を設定する方法のフロー図である。FIG. 7 is a flowchart of a method for setting calibration conditions in the X-ray CT apparatus according to the embodiment of the present invention. 図8は、本発明にかかる実施形態において、本スキャン条件の実施頻度の解析と、キャリブレーションスキャンの条件の設定とを示すフロー図である。FIG. 8 is a flowchart showing the analysis of the execution frequency of the main scan condition and the setting of the calibration scan condition in the embodiment according to the present invention. 図9は、本発明にかかる実施形態において、警告部によって警告が実施される際のフロー図を示す。FIG. 9 is a flowchart when a warning is executed by the warning unit in the embodiment according to the present invention.

符号の説明Explanation of symbols

1…X線CT装置、
2…走査ガントリ、
3…操作コンソール、
4…撮影テーブル、
5…X線、
6…被検体、
20…X線管、
21…X線管移動部、
22…コリメータ、
23…X線検出器、
23a…検出素子、
24…データ収集部、
241…選択・加算切換回路、
242…アナログ−デジタル変換器、
25…X線コントローラ、
26…コリメータコントローラ、
27…回転部、
28…回転コントローラ、
29…X線照射空間、
30…中央処理装置、
31…入力装置、
32…表示装置、
33…記憶装置、
41…制御部、
42…本スキャン制御部、
43…キャリブレーションスキャン制御部、
51…データ処理部、
52…本スキャン条件設定部、
53…キャリブレーションデータ生成部、
54…キャリブレーションスキャン条件設定部、
55…校正部、
56…画像生成部、
57…警告部
1 ... X-ray CT apparatus,
2 ... Scanning gantry,
3. Operation console,
4 ... Shooting table,
5 ... X-ray,
6 ... Subject,
20 ... X-ray tube,
21 ... X-ray tube moving part,
22 ... Collimator,
23 ... X-ray detector,
23a ... detecting element,
24 ... Data collection unit,
241 ... Selection / addition switching circuit,
242 ... Analog-to-digital converter,
25 ... X-ray controller,
26 ... Collimator controller,
27 ... rotating part,
28 ... Rotation controller,
29 ... X-ray irradiation space,
30 ... Central processing unit,
31 ... Input device,
32 ... display device,
33 ... Storage device,
41. Control unit,
42 ... this scan control unit,
43. Calibration scan control unit,
51: Data processing unit,
52 ... Main scan condition setting section,
53. Calibration data generation unit,
54 ... Calibration scan condition setting section,
55. Calibration section,
56 ... Image generation unit,
57 ... Warning section

Claims (2)

キャリブレーションスキャン条件に基づいて放射線を基準設定物に照射するキャリブレーションスキャンを実施して、前記放射線を検出する検出手段の特性を校正するためのキャリブレーションデータを生成し、本スキャン条件に基づいて照射され被検体を透過する放射線を前記検出手段にて検出して前記被検体の投影データを収集し、前記キャリブレーションデータに基づいて前記投影データを校正し、前記校正された前記投影データに基づいて前記被検体の画像を生成する放射線撮影装置であって、
前記本スキャン条件を設定する本スキャン条件設定手段と、
前記本スキャン条件設定手段により設定される前記本スキャン条件についての実施頻度を記憶する記憶手段と、
前記記憶手段に記憶された前記本スキャン条件の実施頻度に基づいて前記キャリブレーションスキャン条件を設定するキャリブレーションスキャン設定手段と
を有し、
前記キャリブレーションスキャン条件設定手段が設定する前記キャリブレーションスキャン条件に基づいて前記キャリブレーションスキャンを実施する
放射線撮影装置。
Based on the calibration scan condition, a calibration scan for irradiating the reference setting object with radiation is performed to generate calibration data for calibrating the characteristics of the detection means for detecting the radiation. Radiation irradiated and transmitted through the subject is detected by the detection means, the projection data of the subject is collected, the projection data is calibrated based on the calibration data, and based on the calibrated projection data A radiography apparatus for generating an image of the subject,
A main scan condition setting means for setting the main scan condition;
Storage means for storing an execution frequency for the main scan condition set by the main scan condition setting means;
Calibration scan setting means for setting the calibration scan condition based on the execution frequency of the main scan condition stored in the storage means;
A radiation imaging apparatus that performs the calibration scan based on the calibration scan condition set by the calibration scan condition setting means.
前記キャリブレーションスキャン条件設定部が設定したキャリブレーションスキャン条件が、前記本スキャン条件設定部により設定される本スキャン条件に対応していない場合、改めてキャリブレーションスキャン条件を設定するように警告を行う警告部
を有する
請求項1に記載の放射線撮影装置。
If the calibration scan condition set by the calibration scan condition setting unit does not correspond to the main scan condition set by the main scan condition setting unit, a warning is issued to set the calibration scan condition again The radiation imaging apparatus according to claim 1, further comprising: a unit.
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