JP2006023625A - Stage for microscope and microscope provided with the same - Google Patents

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JP2006023625A JP2004203110A JP2004203110A JP2006023625A JP 2006023625 A JP2006023625 A JP 2006023625A JP 2004203110 A JP2004203110 A JP 2004203110A JP 2004203110 A JP2004203110 A JP 2004203110A JP 2006023625 A JP2006023625 A JP 2006023625A
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a stage for a microscope which can facilite the relative movement of an upper plate, and to provide a microscope provided with the stage. <P>SOLUTION: The stage for the microscope comprises: a lower plate 15: the upper plate 17 capable of moving in a direction X and a direction Y with reference to the lower plate 15; an intermediate guide unit 16 disposed between the lower plate 15 and the upper plate 17 and regulating the movement of the upper plate in the direction X and the direction Y; an XY handle having a Y handle for moving the intermediate guide unit 16 in the direction Y and an X handle for moving the upper plate 17 in the direction X; and a transmission mechanism for moving the upper plate 17 in the direction X or the direction Y interlocked with the X handle and the Y handle. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、観察試料を載置する顕微鏡用ステージ及びこれを備える顕微鏡に関する。   The present invention relates to a microscope stage on which an observation sample is placed and a microscope including the same.

一般的に、上面に観察試料が載置される上板が下板と摺動可能に面接触し、下板に対して相対移動する顕微鏡用ステージでは、ボールガイドなどの転がりガイドで構成された顕微鏡用ステージと比較して、静止性が高く、上板を直接手で動かすことによって上板を下板に対して相対移動させるものが多い。しかし、低倍率観察である場合には直接手で動かす構造であっても問題ないが、高倍率観察を行う場合には微小距離を移動させることが困難である。
そこで、X方向とY方向との2方向に独立して一対の押しピンなどを設け、両手もしくは片手でこの押しピンを操作して上板の相対移動を行う顕微鏡用ステージが提案されている(例えば、特許文献1参照)。
特開2003−35872号公報(図1)
In general, a microscope stage in which an upper plate on which an observation sample is placed is slidably brought into surface contact with a lower plate and moves relative to the lower plate is configured with a rolling guide such as a ball guide. Compared with a microscope stage, it is more stationary and often moves the upper plate relative to the lower plate by directly moving the upper plate by hand. However, in the case of low-magnification observation, there is no problem even if the structure is directly moved by hand, but in the case of performing high-magnification observation, it is difficult to move a minute distance.
Therefore, a microscope stage has been proposed in which a pair of push pins and the like are provided independently in two directions, the X direction and the Y direction, and the upper plate is relatively moved by operating the push pins with both hands or one hand ( For example, see Patent Document 1).
JP 2003-35872 A (FIG. 1)

しかしながら、上記従来の顕微鏡用ステージにおいては、以下の問題がある。すなわち、上記従来の顕微鏡用ステージでは、一方の手をピント合わせに使用した場合、観察試料の移動は、もう一方の手で行うしかないため、X方向及びY方向とは異なる方向へ観察試料を移動させる場合であっても片手で操作するので、操作が煩雑であり、所望の観察位置に観察試料を移動させることが困難である。   However, the conventional microscope stage has the following problems. That is, in the above conventional microscope stage, when one hand is used for focusing, the observation sample must be moved with the other hand, so the observation sample is moved in a direction different from the X direction and the Y direction. Even if it is moved, since it is operated with one hand, the operation is complicated, and it is difficult to move the observation sample to a desired observation position.

本発明は上記の事情に鑑みてなされたものであり、上板が下板と摺動可能に面接触し、下板に対して相対移動する顕微鏡用ステージにおいて、上板の相対移動を容易に行うことができる顕微鏡用ステージ及びこれを備える顕微鏡を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above circumstances. In a microscope stage in which the upper plate is slidably in surface contact with the lower plate and moves relative to the lower plate, the relative movement of the upper plate can be easily performed. An object of the present invention is to provide a microscope stage that can be performed and a microscope including the same.

本発明は、前記課題を解決するために以下の構成を採用した。すなわち、本発明の顕微鏡用ステージは、下板と、該下板に対して異なる2方向に移動可能な上板と、前記下板と前記上板との間に配設されていて前記2方向への上板の移動を規制する中間ガイドユニットと、前記上板を前記一方向に移動させる第1操作部と前記上板を前記2方向の内の他方向に移動させる第2操作部とを有する操作ハンドルと、前記第1及び第2操作部に連動して前記上板を一方向または他方向へ移動させる伝達機構とを備えることを特徴とする。   The present invention employs the following configuration in order to solve the above problems. That is, the microscope stage of the present invention is disposed between the lower plate, the upper plate movable in two different directions with respect to the lower plate, and between the lower plate and the upper plate. An intermediate guide unit that restricts the movement of the upper plate to the first operation unit, a first operation unit that moves the upper plate in the one direction, and a second operation unit that moves the upper plate in the other direction of the two directions. And an operating handle, and a transmission mechanism for moving the upper plate in one direction or the other direction in conjunction with the first and second operating portions.

この発明にかかる顕微鏡用ステージでは、伝達機構が第1操作部と連動することによって中間ガイドユニットが上板と共に一方向に移動し、伝達機構が第2操作部と連動することによって上板が他方向に移動する。したがって、第1及び第2操作部によって上板を下板に対して移動させるので、観察試料の観察位置を調節することが容易となる。   In the microscope stage according to the present invention, the intermediate guide unit moves in one direction together with the upper plate when the transmission mechanism is interlocked with the first operation portion, and the upper plate is moved away when the transmission mechanism is interlocked with the second operation portion. Move in the direction. Therefore, since the upper plate is moved relative to the lower plate by the first and second operation units, it is easy to adjust the observation position of the observation sample.

また、本発明の顕微鏡用ステージは、前記操作ハンドルが、中間ガイドユニットに連結され、前記伝達機構が、前記下板に設けられた第1ラックと、前記上板に設けられた第2ラックと、前記第1操作部に設けられて前記第1ラックに噛合する第1ピニオンと、前記第2操作部に設けられて前記第2ラックに噛合する第2ピニオンとを有し、前記第1操作部の回転操作によって前記中間ガイドユニットと共に前記上板を前記一方向に移動させ、前記第2操作部が、前記上板に設けられた第2ラックに噛合する第2ピニオンを有し、前記第2操作部の回転操作によって前記上板を前記他方向に移動させるようにしたことが好ましい。
この発明にかかる顕微鏡用ステージでは、第1操作部を回転させることで第1ピニオンと噛合する第1ラックによって中間ガイドユニットが上板と共に一方向に案内され、第2操作部を回転させることで第2ピニオンと噛合する第2ラックによって上板が他方向に案内される。このとき、操作ハンドルが中間ガイドユニット共に一方向に移動する。
In the microscope stage of the present invention, the operation handle is connected to an intermediate guide unit, and the transmission mechanism is a first rack provided on the lower plate, and a second rack provided on the upper plate. A first pinion provided in the first operation portion and meshing with the first rack; and a second pinion provided in the second operation portion and meshing with the second rack; The upper plate is moved together with the intermediate guide unit in the one direction by rotating the portion, and the second operation portion has a second pinion that meshes with a second rack provided on the upper plate, It is preferable that the upper plate is moved in the other direction by a rotation operation of the two operation portions.
In the microscope stage according to the present invention, the intermediate guide unit is guided in one direction together with the upper plate by the first rack meshing with the first pinion by rotating the first operation unit, and the second operation unit is rotated by rotating the second operation unit. The upper plate is guided in the other direction by the second rack meshing with the second pinion. At this time, the operation handle moves in one direction together with the intermediate guide unit.

また、本発明の顕微鏡用ステージは、前記伝達機構が、前記下板に前記一方向に沿って延びるように穿孔された長穴を有し、該長穴内に、前記操作ハンドルが挿入され、該操作ハンドルが、前記第1ラック及び第2ラックに前記各ピニオンを噛合させた状態で前記長穴に沿って前記一方向に回転移動可能としたことが好ましい。
この発明にかかる顕微鏡用ステージでは、第1操作部を回転させると、第1ピニオンと噛合する第1ラックによって、操作ハンドルが長穴に沿って一方向に移動する。
Further, in the microscope stage of the present invention, the transmission mechanism has a long hole drilled so as to extend in the one direction in the lower plate, and the operation handle is inserted into the long hole, It is preferable that the operation handle is rotatable in the one direction along the elongated hole in a state where the pinions are engaged with the first rack and the second rack.
In the microscope stage according to the present invention, when the first operation portion is rotated, the operation handle is moved in one direction along the elongated hole by the first rack meshing with the first pinion.

また、本発明の顕微鏡用ステージは、前記操作ハンドルが、前記下板に連結され、前記伝達機構が、前記中間ガイドユニットに設けられた第1ラックと、前記上板に設けられた第2ラックと、前記第1操作部に設けられて前記第1ラックに噛合する第1ピニオンと、前記第2操作部に設けられて前記第2ラックに噛合する第2ピニオンとを有し、前記第1操作部の回転操作によって前記中間ガイドユニットと共に前記上板を前記一方向に移動させ、前記第2操作部の回転操作によって前記上板を前記他方向に移動させるようにしたことが好ましい。
この発明にかかる顕微鏡用ステージでは、上述と同様に、第1操作部を回転させることで第1ピニオンと噛合する第1ラックによって中間ガイドユニットが上板と共に一方向に案内され、第2操作部を回転させることで第2ピニオンと噛合する第2ラックによって上板が他方向に案内される。
In the microscope stage of the present invention, the operation handle is connected to the lower plate, the transmission mechanism is a first rack provided on the intermediate guide unit, and a second rack provided on the upper plate. And a first pinion provided in the first operation portion and meshing with the first rack, and a second pinion provided in the second operation portion and meshing with the second rack. It is preferable that the upper plate is moved together with the intermediate guide unit in the one direction by a rotation operation of an operation unit, and the upper plate is moved in the other direction by a rotation operation of the second operation unit.
In the microscope stage according to the present invention, as described above, the intermediate guide unit is guided in one direction together with the upper plate by the first rack meshing with the first pinion by rotating the first operation unit, and the second operation unit. Is rotated to guide the upper plate in the other direction by the second rack meshing with the second pinion.

また、本発明の顕微鏡用ステージは、前記伝達機構が、前記上板に形成されて前記第2ラックを前記一方向へ相対移動可能に装着する装着溝と、前記下板に前記他方向に沿って延びるように穿孔された長穴と、前記第2ラックに設けられた移動規制部材とを有し、前記第2ラックが、前記上板の前記一方向への移動に関わらず前記第2ピニオンと噛合した静止状態に保持され、前記長穴に、前記移動規制部材が挿入されて、前記上板及び前記中間ガイドユニットの前記他方向への移動を許容するようにすることが好ましい。
この発明にかかる顕微鏡用ステージでは、第1操作部を回転させると、第1ピニオンと噛合する第1ラックによって上板が中間ガイドユニットと共に一方向に移動するが、このとき、第2ラックが移動規制部材によって一方向への移動が規制されているので、第2ラックと第2ピニオンとの噛合状態が保持される。このように、上板を下板に対して移動させても下板に連結された操作ハンドルが移動することがないので、観察が容易になる。
In the microscope stage of the present invention, the transmission mechanism is formed on the upper plate so as to mount the second rack so as to be relatively movable in the one direction, and on the lower plate along the other direction. And the second pinion includes the second pinion regardless of the movement of the upper plate in the one direction. Preferably, the movement restricting member is inserted into the elongated hole so as to allow the upper plate and the intermediate guide unit to move in the other direction.
In the microscope stage according to the present invention, when the first operation unit is rotated, the upper plate moves in one direction together with the intermediate guide unit by the first rack meshing with the first pinion. At this time, the second rack moves. Since movement in one direction is restricted by the restriction member, the meshing state of the second rack and the second pinion is maintained. In this way, even if the upper plate is moved relative to the lower plate, the operation handle connected to the lower plate does not move, so that observation becomes easy.

また、本発明の顕微鏡では、前記上板が、観察試料を載置して対物レンズの光軸に対して直交する平面内で前記2方向に移動可能とされた上記記載の顕微鏡用ステージを搭載したことを特徴とする。
この発明にかかる顕微鏡では、上述の顕微鏡用ステージを備えているので、第1及び第2操作部によって上板を下板に対して移動させるので、観察試料の観察位置を調節することが容易となる。
In the microscope of the present invention, the upper plate is mounted with the microscope stage described above, in which the observation sample is placed and movable in the two directions within a plane perpendicular to the optical axis of the objective lens. It is characterized by that.
Since the microscope according to the present invention includes the above-described microscope stage, the upper plate is moved with respect to the lower plate by the first and second operation units, so that the observation position of the observation sample can be easily adjusted. Become.

本発明の顕微鏡用ステージ及びこれを備える顕微鏡によれば、中間ガイドユニットによって上板が下板に対して異なる2方向のみに移動可能とされており、第1及び第2操作部を回動させることで上板を下板に対して移動させることができるので、観察試料の観察位置を調節することが容易となる。   According to the microscope stage and the microscope including the same according to the present invention, the upper plate can be moved only in two different directions with respect to the lower plate by the intermediate guide unit, and the first and second operation units are rotated. As a result, the upper plate can be moved relative to the lower plate, so that the observation position of the observation sample can be easily adjusted.

以下、本発明にかかる顕微鏡用ステージ及びこれを備える顕微鏡の第1の実施形態について、図1から図4を参照しながら説明する。
本実施形態による顕微鏡1は、倒立顕微鏡であって、図1に示すように、顕微鏡本体2と、観察試料Sを載置するステージ3と、落射投光管4の後端に固定されて観察試料Sに照明光を照射するランプ(図示略)が内蔵されたランプソケット5と、対物レンズ6が取り付けられているレボルバ7と、前記ランプの照明強度を調節する調光ボリューム8と、一端が顕微鏡本体2に取り付けられて他端に接眼レンズ9が設けられている鏡筒10と、ステージ3の昇降を行う粗微動ハンドル11を備えている。
Hereinafter, a first embodiment of a microscope stage and a microscope including the same according to the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 4.
The microscope 1 according to the present embodiment is an inverted microscope, and as shown in FIG. 1, the microscope body 2, the stage 3 on which the observation sample S is placed, and the rear end of the incident light projection tube 4 are fixed and observed. A lamp socket 5 in which a lamp (not shown) for irradiating the sample S with illumination light, a revolver 7 to which the objective lens 6 is attached, a dimming volume 8 for adjusting the illumination intensity of the lamp, and one end thereof A lens barrel 10 attached to the microscope main body 2 and provided with an eyepiece 9 at the other end, and a coarse / fine movement handle 11 for moving the stage 3 up and down are provided.

ステージ3は、図2から図4に示すように、顕微鏡本体2に図示しないネジなどによって取り付け固定されている下板15と、下板15の上面に配置される中間ガイドユニット16と、中間ガイドユニット16の上面に配置される上板17と、上板17の下板15に対する相対位置を調節して観察試料Sを対物レンズ6の光軸と垂直な平面内で移動させるXYハンドル(操作ハンドル)18と、XYハンドル18の後述するXハンドル(第2操作部)42、Yハンドル(第1操作部)43に連動して上板17をX方向またはY方向へ移動させる伝達機構とを備えている。
なお、図2における+X方向を右側とし、+Y方向を奥側とする。また、下板15、中間ガイドユニット16及び上板17のそれぞれの中心を合わせた位置を基準位置とする。
As shown in FIGS. 2 to 4, the stage 3 includes a lower plate 15 attached and fixed to the microscope main body 2 with screws or the like (not shown), an intermediate guide unit 16 disposed on the upper surface of the lower plate 15, and an intermediate guide. An XY handle (operation handle) that moves the observation sample S in a plane perpendicular to the optical axis of the objective lens 6 by adjusting the relative position of the upper plate 17 disposed on the upper surface of the unit 16 with respect to the lower plate 15 of the upper plate 17. ) 18, and a transmission mechanism that moves the upper plate 17 in the X direction or the Y direction in conjunction with an X handle (second operation unit) 42 and a Y handle (first operation unit) 43 described later of the XY handle 18. ing.
In FIG. 2, the + X direction is the right side, and the + Y direction is the back side. Further, a position where the centers of the lower plate 15, the intermediate guide unit 16 and the upper plate 17 are aligned is set as a reference position.

下板15は、平面視ほぼ正方形の板状部材であって、その中央に照明光を透過させるための貫通孔21が形成され、図2において右手前側であって貫通孔21と離間した位置にXYハンドル18を貫通させる長穴であるハンドル貫通孔(長穴)22が形成されている。
上述した伝達機構は、下板15に設けられたYラック(第1ラック)25と、上板17に設けられたXラック(第2ラック)38と、XYハンドル18の後述するYハンドル(第1操作部)43に設けられてYラック(第1ラック)25に噛合するYピニオン(第1ピニオン)57と、XYハンドル18の後述するXハンドル(第2操作部)42に設けられてXラック38に噛合するXピニオン(第2ピニオン)52とを備えている。
また、下板15の観察試料Sと対向する一面である上面に、後述する一対のYキー33と摺動可能に嵌合する一対のY溝23が貫通孔21を介して対向するように形成されている。そして、ハンドル貫通孔22に沿って薄肉となるフランジ部24が形成されており、その上面にYラック(第1ラック)25が取り付け固定されている。
The lower plate 15 is a plate-like member having a substantially square shape in plan view, and a through-hole 21 for transmitting illumination light is formed at the center thereof. The lower plate 15 is on the right front side in FIG. A handle through hole (elongate hole) 22 that is a long hole through which the XY handle 18 passes is formed.
The transmission mechanism described above includes a Y rack (first rack) 25 provided on the lower plate 15, an X rack (second rack) 38 provided on the upper plate 17, and a Y handle (first) described later of the XY handle 18. 1 operation part) 43 and a Y pinion (first pinion) 57 that meshes with the Y rack (first rack) 25, and an X handle (second operation part) 42 (to be described later) of the XY handle 18 and X And an X pinion (second pinion) 52 that meshes with the rack 38.
Further, a pair of Y grooves 23 slidably fitted to a pair of Y keys 33 (described later) are formed on the upper surface, which is one surface facing the observation sample S, of the lower plate 15 so as to face each other through the through holes 21. Has been. A thin flange portion 24 is formed along the handle through hole 22, and a Y rack (first rack) 25 is attached and fixed to the upper surface thereof.

ハンドル貫通孔22及び一対のY溝23は、それぞれの長軸方向がY軸と平行となるように形成されている。ハンドル貫通孔22の長軸方向の長さは、XYハンドル18の軸部56の外径と、中間ガイドユニット16の下板15に対するY方向の摺動可能距離との和とほぼ等しくなるように形成されている。
Yラック25は、その歯列がY軸方向と平行となるように、ハンドル貫通孔22の長軸方向の縁部に沿って配置されている。
The handle through-hole 22 and the pair of Y grooves 23 are formed so that the major axis directions thereof are parallel to the Y axis. The length of the handle through hole 22 in the major axis direction is substantially equal to the sum of the outer diameter of the shaft portion 56 of the XY handle 18 and the slidable distance in the Y direction with respect to the lower plate 15 of the intermediate guide unit 16. Is formed.
The Y rack 25 is disposed along the edge of the handle through hole 22 in the long axis direction so that the tooth row thereof is parallel to the Y axis direction.

中間ガイドユニット16は、上述した下板15と同様に、平面視ほぼ正方形の板状部材であって、その中央に照明光を透過させるための貫通孔31が形成されている。また、中間ガイドユニット16の観察試料Sと対向する一面である上面には、一対のXキー32が、貫通孔31を介して対向するように形成されている。また、Xキー32と同様に、下面には、一対のYキー33が貫通孔31を介して対向するように形成されている。   Similar to the lower plate 15 described above, the intermediate guide unit 16 is a plate-like member having a substantially square shape in plan view, and a through hole 31 for transmitting illumination light is formed at the center thereof. A pair of X keys 32 are formed on the upper surface, which is one surface facing the observation sample S, of the intermediate guide unit 16 so as to face each other through the through hole 31. Similarly to the X key 32, a pair of Y keys 33 are formed on the lower surface so as to face each other through the through hole 31.

一対のXキー32は、X軸と平行となるように、上方に向かって形成された突状である。そして、上板17に形成されているX溝37にX軸方向に摺動可能となるよう嵌合されている。
一対のYキー33は、Xキー32と同様に、Y軸と平行となるように、下方に向かって形成された突状である。そして、下板15に形成されているY溝23に摺動可能に嵌合されている。
The pair of X keys 32 has a protruding shape formed upward so as to be parallel to the X axis. Then, it is fitted in an X groove 37 formed in the upper plate 17 so as to be slidable in the X-axis direction.
Like the X key 32, the pair of Y keys 33 has a protruding shape formed downward so as to be parallel to the Y axis. Then, it is slidably fitted in a Y groove 23 formed in the lower plate 15.

上板17は、上述した下板15及び中間ガイドユニット16と同様に、平面視ほぼ正方形の板状部材であって、その中央に照明光を透過させるための貫通孔35が形成されている。また、上板17の下面には、その周縁に下板15の上面と摺動可能に面接触するフランジ部36が突出して形成されており、貫通孔35を介して対向する位置にX溝37が形成されている。また、上板17の下面で基準位置において、平面視でハンドル貫通孔22と直交する位置に、Xラック(第2ラック)38が設けられている。   Similar to the lower plate 15 and the intermediate guide unit 16 described above, the upper plate 17 is a plate-like member having a substantially square shape in plan view, and a through-hole 35 for transmitting illumination light is formed at the center thereof. Further, a flange portion 36 slidably contacting the upper surface of the lower plate 15 is formed on the lower surface of the upper plate 17 so as to slidably come into contact with the upper surface of the lower plate 15. Is formed. An X rack (second rack) 38 is provided at a reference position on the lower surface of the upper plate 17 and at a position orthogonal to the handle through hole 22 in plan view.

一対のX溝37は、長軸方向がX軸と平行となるように形成されている。
Xラック(第2ラック)38は、上述したYラック(第1ラック)25と同様に、その歯列がX軸方向と平行となるように配置されている。
The pair of X grooves 37 are formed so that the major axis direction is parallel to the X axis.
Similar to the Y rack (first rack) 25 described above, the X rack (second rack) 38 is arranged such that its tooth row is parallel to the X-axis direction.

XYハンドル18は、中間ガイドユニット16の一角に連結されており、本体軸41と、Xハンドル(第2操作部)42と、Yハンドル(第1操作部)43とが同軸に構成されている。
本体軸41は、中心に貫通孔45を有する中空の軸であって、軸部46と、軸部46の上端に設けられたフランジ部47とによって構成されている。
フランジ部47は、その外径が下板15のハンドル貫通孔22の短手方向の幅よりも大きく形成されており、中間ガイドユニット16の一角に連結されている。
The XY handle 18 is connected to one corner of the intermediate guide unit 16, and the main body shaft 41, the X handle (second operation unit) 42, and the Y handle (first operation unit) 43 are configured coaxially. .
The main body shaft 41 is a hollow shaft having a through hole 45 at the center, and includes a shaft portion 46 and a flange portion 47 provided at the upper end of the shaft portion 46.
The flange portion 47 has an outer diameter larger than the width of the handle through hole 22 of the lower plate 15 in the short direction, and is connected to one corner of the intermediate guide unit 16.

Xハンドル(第2操作部)42は、本体軸41の貫通孔45に挿通された中実の軸で、その中心軸の軸回りで回動可能となっている。そして、Xハンドル42は、軸部51と、軸部51上端に設けられたXピニオン(第2ピニオン)52と、軸部51の下端に設けられた操作ノブ53とによって構成されている。
Xピニオン52は、その下面が本体軸41のフランジ部47の上面と当接しており、上板17の下面に設けられたXラック38と噛合するように構成されている。
操作ノブ53は、その外径が軸部51の外径よりも大きくなるように形成されており、ラジアル方向から螺合されたネジ54によって軸部51に取り付け固定されている。
The X handle (second operation unit) 42 is a solid shaft inserted through the through hole 45 of the main body shaft 41 and can be rotated around the central axis. The X handle 42 includes a shaft portion 51, an X pinion (second pinion) 52 provided at the upper end of the shaft portion 51, and an operation knob 53 provided at the lower end of the shaft portion 51.
The lower surface of the X pinion 52 is in contact with the upper surface of the flange portion 47 of the main body shaft 41, and is configured to mesh with the X rack 38 provided on the lower surface of the upper plate 17.
The operation knob 53 is formed so that the outer diameter thereof is larger than the outer diameter of the shaft portion 51, and is attached and fixed to the shaft portion 51 by a screw 54 screwed in the radial direction.

Yハンドル(第1操作部)43は、中心に内径が本体軸41の外径とほぼ同じである貫通孔55を有する中空の軸であって、その中心軸の軸回りで回動可能となっている。そして、Yハンドル(第1操作部)43は、軸部56と、軸部56の上端に設けられたYピニオン(第1ピニオン)57と、軸部56の下端に設けられた操作ノブ58とによって構成されている。
Yピニオン57は、上述したXピニオン52と同様に、その上面が本体軸41のフランジ部47の下面と当接しており、下板15の一面に形成されたYラック25と噛合するように構成されている。
操作ノブ58は、上述した操作ノブ53と同様に、その外径が軸部56の外径よりも大きくなるように形成されており、ラジアル方向から螺合された図示しないネジによって軸部56に取り付け固定されている。
The Y handle (first operation portion) 43 is a hollow shaft having a through hole 55 whose inner diameter is substantially the same as the outer diameter of the main body shaft 41 at the center, and can be rotated about the axis of the central shaft. ing. The Y handle (first operation portion) 43 includes a shaft portion 56, a Y pinion (first pinion) 57 provided at the upper end of the shaft portion 56, and an operation knob 58 provided at the lower end of the shaft portion 56. It is constituted by.
Similarly to the X pinion 52 described above, the Y pinion 57 is configured such that the upper surface thereof is in contact with the lower surface of the flange portion 47 of the main body shaft 41 and meshes with the Y rack 25 formed on one surface of the lower plate 15. Has been.
Similar to the operation knob 53 described above, the operation knob 58 is formed so that the outer diameter thereof is larger than the outer diameter of the shaft portion 56, and is attached to the shaft portion 56 by a screw (not shown) screwed in the radial direction. Mounting is fixed.

次に、上記の構成からなる顕微鏡用ステージ3を備える顕微鏡1の操作方法について説明する。まず、図示しない電源スイッチをON状態とすることで、ランプソケット5内部のランプを点灯させる。そして、調光ボリューム8を回転させて観察に必要な照明強度の確保を行い、接眼レンズ9を覗きながら粗微動ハンドル11を回して観察試料Sにピントを合わせる。その後、以下のようにXYハンドル18を回転させることで観察試料Sを動かして所望の観察位置に位置させる。   Next, an operation method of the microscope 1 including the microscope stage 3 having the above configuration will be described. First, a lamp inside the lamp socket 5 is turned on by turning on a power switch (not shown). Then, the dimming volume 8 is rotated to secure the illumination intensity necessary for observation, and the coarse / fine adjustment handle 11 is rotated while looking into the eyepiece 9 to focus on the observation sample S. Thereafter, the observation sample S is moved by rotating the XY handle 18 as follows to be positioned at a desired observation position.

ここで、操作ノブ58を上から見て右回り(左回り)に回転させると、Yピニオン57と下板15のYラック25とが噛合しているので、Yキー33がY溝23内部を摺動する。ここで、下板15が顕微鏡本体2に取り付け固定されているので、上板17及び中間ガイドユニット16が、XYハンドル18と共に、+Y(―Y)方向に移動する。
また、操作ノブ53を上から見て右回り(左回り)に回転させると、Xピニオン52と上板17のXラック38とが噛合しているので、上述と同様に、Xキー32がX溝37内部を摺動する。ここで、Yキー33とY溝23とが嵌合しているため、中間ガイドユニット16に対して、上板17のみが、+X(―X)方向に移動する。
このようにして、上板17が下板15に対して相対的に摺動し、観察試料Sの観察部位を所望の位置とする。
Here, when the operation knob 58 is rotated clockwise (counterclockwise) when viewed from above, the Y pinion 57 and the Y rack 25 of the lower plate 15 are engaged with each other, so that the Y key 33 moves inside the Y groove 23. Slide. Here, since the lower plate 15 is attached and fixed to the microscope main body 2, the upper plate 17 and the intermediate guide unit 16 move in the + Y (−Y) direction together with the XY handle 18.
Further, when the operation knob 53 is rotated clockwise (counterclockwise) when viewed from above, the X pinion 52 and the X rack 38 of the upper plate 17 are engaged with each other. Slide inside the groove 37. Here, since the Y key 33 and the Y groove 23 are fitted, only the upper plate 17 moves in the + X (−X) direction with respect to the intermediate guide unit 16.
In this way, the upper plate 17 slides relative to the lower plate 15, and the observation site of the observation sample S is set to a desired position.

以上のように構成された顕微鏡用ステージ3及びこれを備える顕微鏡1によれば、上板17を下板15に対して移動可能とする中間ガイドユニット16を備え、操作ノブ53、58を回動させることで上板17を下板15に対してX方向、Y方向の異なる2方向に移動させることができるので、観察試料Sの観察位置を調節することが容易となる。
ここで、上板17が、下板15と面接触しながら下板17に対して相対移動するので、上板17の上面に載置された観察試料Sの重量が大きい場合であっても、安定して上板17を下板15に対して摺動させることができる。また、下板15、上板17及び中間ガイドユニット16を薄くすることで顕微鏡用ステージ3の高さを低く抑えることができる。
According to the microscope stage 3 configured as described above and the microscope 1 including the same, the intermediate guide unit 16 that enables the upper plate 17 to move with respect to the lower plate 15 is provided, and the operation knobs 53 and 58 are rotated. By doing so, the upper plate 17 can be moved in two different directions with respect to the lower plate 15 in the X direction and the Y direction, so that the observation position of the observation sample S can be easily adjusted.
Here, since the upper plate 17 moves relative to the lower plate 17 while being in surface contact with the lower plate 15, even if the weight of the observation sample S placed on the upper surface of the upper plate 17 is large, The upper plate 17 can be slid relative to the lower plate 15 stably. Further, by reducing the thickness of the lower plate 15, the upper plate 17, and the intermediate guide unit 16, the height of the microscope stage 3 can be kept low.

次に、本発明の第2の実施形態について図5から図8を参照して説明する。なお、以下の説明において、上記実施形態で説明した構成要素には同一符号を付し、その説明を省略する。
第2の実施形態と第1の実施形態との異なる点は、第1の実施形態における顕微鏡用ステージ3では、中間ガイドユニット16の一角にXYハンドル18が連結されているが、本実施形態における顕微鏡用ステージ70では、下板71の一角にXYハンドル72が連結されていることである。
Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. In the following description, the same reference numerals are given to the components described in the above embodiment, and the description thereof is omitted.
The difference between the second embodiment and the first embodiment is that, in the microscope stage 3 in the first embodiment, an XY handle 18 is connected to one corner of the intermediate guide unit 16. In the microscope stage 70, an XY handle 72 is connected to one corner of the lower plate 71.

すなわち、本実施形態における顕微鏡用ステージ70は、図5から図8に示すように、下板71と、中間ガイドユニット73と、上板74と、XYハンドル72と、XYハンドル72のXハンドル(第2操作部)42、Yハンドル(第1操作部)43に連動して上板74をX方向またはY方向へ移動させる伝達機構とを備えている。
下板71には、図5において右手前側であって貫通孔21と離間した位置にXYハンドル72を取り付け固定するXYハンドル取付孔81と、後述するXラック(第2ラック)91に設けられたY方向移動規制ピン94を挿通するピン挿通孔(長穴)82と、薄肉であるYラック摺動溝83と、XYハンドル72のフランジ部106が取り付け固定されるフランジ部84とが形成されている。
上述した伝達機構は、中間ガイドユニット73に設けられたYラック(第1ラック)25と、上板74に設けられたXラック(第2ラック)91と、XYハンドル72のYハンドル(第1操作部)103に設けられてYラック25に噛合するYピニオン(第1ピニオン)57と、XYハンドル72のXハンドル(第2操作部)102に設けられてXラック91に噛合するXピニオン(第2ピニオン)52とを備えている。
That is, as shown in FIGS. 5 to 8, the microscope stage 70 in the present embodiment includes a lower plate 71, an intermediate guide unit 73, an upper plate 74, an XY handle 72, and an X handle ( And a transmission mechanism that moves the upper plate 74 in the X direction or the Y direction in conjunction with the second operation unit 42 and the Y handle (first operation unit) 43.
The lower plate 71 is provided in an XY handle mounting hole 81 for mounting and fixing the XY handle 72 at a position on the right front side in FIG. 5 and separated from the through hole 21 and an X rack (second rack) 91 described later. A pin insertion hole (long hole) 82 for inserting the Y-direction movement restriction pin 94, a thin Y rack sliding groove 83, and a flange portion 84 to which the flange portion 106 of the XY handle 72 is attached and fixed are formed. Yes.
The transmission mechanism described above includes the Y rack (first rack) 25 provided in the intermediate guide unit 73, the X rack (second rack) 91 provided on the upper plate 74, and the Y handle (first rack) of the XY handle 72. A Y pinion (first pinion) 57 provided on the operation unit 103 and meshes with the Y rack 25, and an X pinion provided on the X handle (second operation unit) 102 of the XY handle 72 and meshes with the X rack 91 ( 2nd pinion) 52.

XYハンドル取付孔81は、その内径がYハンドル(第1操作部)103の外径とほぼ等しく、Yハンドル(第1操作部)103が中心軸の軸回りで回動可能となるように形成されている。
ピン挿通孔82は、長軸方向がX軸と平行となるように形成された長穴であって、その長軸方向の長さがY方向移動規制ピン(移動規制部材)94の外径と中間ガイドユニット73のX軸方向の移動可能距離との和とほぼ等しくなっている。
中間ガイドユニット73は、下面の一角にYラック(第1ラック)25が設けられている。このYラック(第1ラック)25は、Yラック摺動溝83に摺動可能に当接されている。
The XY handle mounting hole 81 has an inner diameter that is substantially the same as the outer diameter of the Y handle (first operation unit) 103, and the Y handle (first operation unit) 103 can be rotated about the central axis. Has been.
The pin insertion hole 82 is a long hole formed so that the long axis direction is parallel to the X axis, and the length in the long axis direction is equal to the outer diameter of the Y direction movement restriction pin (movement restriction member) 94. This is substantially equal to the sum of the intermediate guide unit 73 and the movable distance in the X-axis direction.
The intermediate guide unit 73 is provided with a Y rack (first rack) 25 at one corner of the lower surface. The Y rack (first rack) 25 is slidably contacted with the Y rack sliding groove 83.

上板74は、右手前側にXラック(第2ラック)91がY方向に摺動可能に収納されるXラック収納溝92が形成されており、Xラック収納溝(装着溝)92を覆うようにXラック収納蓋93が設けられている。
Xラック91は、下方に突出するY方向移動規制ピン94が設けられている。
Xラック収納溝92のY軸方向の長さは、Xラック91のY軸方向の長さと、XYハンドル72のXピニオン(第2ピニオン)52の外径と、中間ガイドユニット73の移動可能距離との和とほぼ等しくなるように形成されている。
Xラック収納蓋93には、長軸方向がY軸と平行であってXYハンドル72の軸部105が貫通する貫通孔95が形成されている。
The upper plate 74 has an X rack storage groove 92 in which an X rack (second rack) 91 is slidably stored in the Y direction on the right front side, and covers the X rack storage groove (mounting groove) 92. X rack storage lid 93 is provided.
The X rack 91 is provided with a Y-direction movement restriction pin 94 that protrudes downward.
The length of the X rack storage groove 92 in the Y axis direction is the length of the X rack 91 in the Y axis direction, the outer diameter of the X pinion (second pinion) 52 of the XY handle 72, and the movable distance of the intermediate guide unit 73. It is formed so as to be almost equal to the sum of.
The X rack storage lid 93 is formed with a through hole 95 in which the long axis direction is parallel to the Y axis and through which the shaft portion 105 of the XY handle 72 passes.

XYハンドル72は、本体軸101と、Xハンドル(第2操作部)102と、Yハンドル(第1操作部)103とを備えている。
本体軸101は、軸部105と、フランジ部106とによって構成されている。このフランジ部106の下面は、フランジ部84及びYピニオン(第1ピニオン)57と当接しており、フランジ部84に連結されている。
Xハンドル102は、軸部111と、Xピニオン52と、操作ノブ53とを備えている。
Xピニオン52は、Xラック収納溝92内で、Xラック91と噛合するように配置されている。
Yハンドル103は、軸部115と、Yピニオン57と、操作ノブ58とを備えている。
The XY handle 72 includes a main body shaft 101, an X handle (second operation unit) 102, and a Y handle (first operation unit) 103.
The main body shaft 101 includes a shaft portion 105 and a flange portion 106. The lower surface of the flange portion 106 is in contact with the flange portion 84 and the Y pinion (first pinion) 57 and is connected to the flange portion 84.
The X handle 102 includes a shaft portion 111, an X pinion 52, and an operation knob 53.
The X pinion 52 is disposed in the X rack storage groove 92 so as to mesh with the X rack 91.
The Y handle 103 includes a shaft portion 115, a Y pinion 57, and an operation knob 58.

次に、上記の構成からなる顕微鏡用ステージ70を備える顕微鏡の操作方法について説明する。まず、上述した第1の実施形態と同様に、観察試料Sに照明光を照射し、XYハンドル72を適宜回転させることで観察試料Sを動かして所望の観察位置に位置させる。
ここで、操作ノブ58を上から見て右回り(左回り)に回転させると、Yピニオン57とYラック25とが噛合しているので、Yラック25がYラック摺動溝83内部を摺動すると共にYキー33がY溝23内部を摺動する。これにより、上板74及び中間ガイドユニット73が、+Y(―Y)方向に移動する。このとき、Y方向移動規制ピン94が、下板71のピン挿通孔82に挿通されており、Xラック91がY方向に移動することが規制されているので、Xラック91に対してXラック収納溝92が上板74と一体に移動する。そのため、中間ガイドユニット73及び上板74がY方向に移動しても、Xラック91とXピニオン52とは、静止して噛合状態を維持する。
また、操作ノブ53を上から見て右回り(左回り)に回転させると、Xピニオン(第2ピニオン)52とXラック(第2ラック)91とが噛合しているので、Xキー32がX溝37内部を摺動する。これにより、上板74が、+X(―X)方向に移動する。
このようにして、上板74が下板71に対してX軸方向とY軸方向とに相対的に摺動し、観察試料Sの観察部位を所望の位置とする。
Next, a method for operating a microscope including the microscope stage 70 having the above-described configuration will be described. First, similarly to the above-described first embodiment, the observation sample S is irradiated with illumination light, and the XY handle 72 is appropriately rotated to move the observation sample S to a desired observation position.
Here, when the operation knob 58 is rotated clockwise (counterclockwise) when viewed from above, the Y pinion 57 and the Y rack 25 are engaged with each other, so that the Y rack 25 slides inside the Y rack sliding groove 83. The Y key 33 slides inside the Y groove 23 as it moves. As a result, the upper plate 74 and the intermediate guide unit 73 move in the + Y (−Y) direction. At this time, the Y-direction movement restricting pin 94 is inserted into the pin insertion hole 82 of the lower plate 71 and the X rack 91 is restricted from moving in the Y direction. The storage groove 92 moves integrally with the upper plate 74. Therefore, even if the intermediate guide unit 73 and the upper plate 74 move in the Y direction, the X rack 91 and the X pinion 52 are stationary and maintain the meshing state.
Further, when the operation knob 53 is rotated clockwise (counterclockwise) when viewed from above, the X pinion (second pinion) 52 and the X rack (second rack) 91 are engaged with each other. Slide inside the X groove 37. As a result, the upper plate 74 moves in the + X (−X) direction.
In this way, the upper plate 74 slides relative to the lower plate 71 in the X-axis direction and the Y-axis direction, and the observation site of the observation sample S is set to a desired position.

以上のように構成された顕微鏡用ステージ70によれば、上述した第1の実施形態と同様の作用、効果を有するが、XYハンドル72は、Xハンドル102及びYハンドル103を適宜回動して上板74を下板71に対して摺動させても、下板71に対して移動することがない。これにより、観察者は、常に同じ姿勢で観察試料Sの観察を行うことができる。したがって、最も操作しやすい位置にXYハンドル72を設けることも可能である。   The microscope stage 70 configured as described above has the same operations and effects as the first embodiment described above, but the XY handle 72 rotates the X handle 102 and the Y handle 103 appropriately. Even if the upper plate 74 is slid with respect to the lower plate 71, it does not move with respect to the lower plate 71. Thereby, the observer can always observe the observation sample S in the same posture. Therefore, it is possible to provide the XY handle 72 at a position where it can be most easily operated.

なお、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変更を加えることが可能である。
例えば、上記実施形態において、XキーとX溝とが摺動可能に嵌合することによって、上板が中間ガイドユニットに対して相対的にX軸方向に移動可能となり、YキーとY溝とが摺動可能に嵌合することによって、中間ガイドユニットが下板に対して相対的にY軸方向に移動可能となっているが、他の直進ガイド構造、例えばボールとコロとを用いた転がりの直進ガイド構造などであってもよい。
In addition, this invention is not limited to the said embodiment, A various change can be added in the range which does not deviate from the meaning of this invention.
For example, in the above embodiment, when the X key and the X groove are slidably fitted, the upper plate can move relative to the intermediate guide unit in the X-axis direction. The intermediate guide unit can be moved in the Y-axis direction relative to the lower plate by being slidably fitted, but rolling using other linear guide structures, for example, balls and rollers The straight guide structure may be used.

また、上記第2の実施形態において、Xラックが上板に形成されたXラック収納溝に沿って摺動可能となっているが、上述と同様に、他の直進ガイド構造であってもよく、また、ボールとコロとを用いた転がりの直進ガイド構造であってもよい。
また、Xラックに設けられたY方向移動規制ピンと、下板に形成されたピン挿通孔との摺動構造も、すべりの直進ガイド構造であっても、ボールとコロとを用いた転がりの直進ガイド構造であってもよい。
In the second embodiment, the X rack is slidable along the X rack storage groove formed in the upper plate. However, as described above, other linear guide structures may be used. Further, a rolling guide structure using a ball and a roller may be used.
Also, even if the sliding structure of the Y-direction movement restricting pin provided in the X rack and the pin insertion hole formed in the lower plate is also a sliding linear guide structure, the linear movement of the rolling using the ball and the roller A guide structure may be used.

また、上板の外れ及び浮きについて記載していないが、Xキーと下板との間に抜け止めを構成し、Yキーと上板との間で抜け止めを構成することによってこれらを抑制することができる。
そして、各キーと各溝との摺動における潤滑について記載していないが、一般的な潤滑剤を施すことによって、動きが滑らかに、軽くなることは容易に考えられる。
また、XYハンドル18の配置位置が、観察者から見て右手前であるが、左手前や、右奥、左奥であってもよく、他の場所であってもよい。
Moreover, although it does not describe about the detachment | floating and floating of an upper board, these are suppressed by comprising a retainer between X key and a lower board, and comprising a retainer between Y key and an upper board. be able to.
Although lubrication in sliding between each key and each groove is not described, it is easily thought that the movement becomes smooth and light by applying a general lubricant.
Moreover, although the arrangement position of the XY handle 18 is the right front as viewed from the observer, it may be the left front, the right back, the left back, or another place.

本発明の第1の実施形態における顕微鏡を示す正面図である。It is a front view which shows the microscope in the 1st Embodiment of this invention. 図1の顕微鏡用ステージを一部破断して示す平面図である。FIG. 2 is a plan view showing the microscope stage of FIG. 図2におけるA−A線縦断面図である。FIG. 3 is a longitudinal sectional view taken along line AA in FIG. 2. 図2の中間ガイドユニットを示すもので、(a)は平面図、(b)は正面図、(c)は裏面図である。FIG. 3 shows the intermediate guide unit of FIG. 2, (a) is a plan view, (b) is a front view, and (c) is a back view. 本発明の第2の実施形態における顕微鏡用ステージを一部破断して示す平面図である。It is a top view which partially fractures and shows the stage for microscopes in the 2nd Embodiment of this invention. 図5におけるB−B線縦断面図である。It is the BB line longitudinal cross-sectional view in FIG. 図5におけるC−C線縦断面図である。It is CC sectional view taken on the line in FIG. 図5の中間ガイドユニットを示すもので、(a)は平面図、(b)は正面図、(c)は裏面図である。FIG. 6 shows the intermediate guide unit of FIG. 5, (a) is a plan view, (b) is a front view, and (c) is a back view.

符号の説明Explanation of symbols

1 顕微鏡
3、70 顕微鏡用ステージ
6 対物レンズ
15、71 下板
16、73 中間ガイドユニット
17、74 上板
18、72 XYハンドル(操作ハンドル)
22 ハンドル貫通孔(長穴)
25 Yラック(第1ラック)
38、91 Xラック(第2ラック)
42、102 Xハンドル(第2操作部)
43、103 Yハンドル(第1操作部)
52 Xピニオン(第2ピニオン)
57 Yピニオン(第1ピニオン)
82 ピン挿通孔(長穴)
92 Xラック収納溝(装着溝)
94 Y方向移動規制ピン(移動規制部材)
S 観察試料
1 Microscope 3, 70 Microscope stage 6 Objective lens 15, 71 Lower plate 16, 73 Intermediate guide unit 17, 74 Upper plate 18, 72 XY handle (operation handle)
22 Handle through hole (long hole)
25 Y rack (first rack)
38, 91 X rack (second rack)
42, 102 X handle (second operation part)
43, 103 Y handle (first operation part)
52 X pinion (second pinion)
57 Y pinion (first pinion)
82 Pin insertion hole (long hole)
92 X rack storage groove (mounting groove)
94 Y-direction movement restriction pin (movement restriction member)
S Observation sample

Claims (6)

下板と、該下板に対して異なる2方向に移動可能な上板と、前記下板と前記上板との間に配設されていて前記2方向への上板の移動を規制する中間ガイドユニットと、前記上板を前記一方向に移動させる第1操作部と前記上板を前記2方向の内の他方向に移動させる第2操作部とを有する操作ハンドルと、前記第1及び第2操作部に連動して前記上板を一方向または他方向へ移動させる伝達機構とを備えることを特徴とする顕微鏡用ステージ。   A lower plate, an upper plate movable in two different directions relative to the lower plate, and an intermediate plate disposed between the lower plate and the upper plate to restrict movement of the upper plate in the two directions An operation handle having a guide unit, a first operation portion for moving the upper plate in the one direction, and a second operation portion for moving the upper plate in the other direction of the two directions; A microscope stage comprising: a transmission mechanism that moves the upper plate in one direction or the other direction in conjunction with two operation units. 前記操作ハンドルが、中間ガイドユニットに連結され、
前記伝達機構が、前記下板に設けられた第1ラックと、前記上板に設けられた第2ラックと、前記第1操作部に設けられて前記第1ラックに噛合する第1ピニオンと、前記第2操作部に設けられて前記第2ラックに噛合する第2ピニオンとを有し、
前記第1操作部の回転操作によって前記中間ガイドユニットと共に前記上板を前記一方向に移動させ、
前記第2操作部が、前記上板に設けられた第2ラックに噛合する第2ピニオンを有し、前記第2操作部の回転操作によって前記上板を前記他方向に移動させるようにしたことを特徴とする請求項1に記載の顕微鏡用ステージ。
The operation handle is coupled to the intermediate guide unit;
The transmission mechanism includes a first rack provided on the lower plate, a second rack provided on the upper plate, a first pinion provided on the first operation portion and meshing with the first rack, A second pinion provided on the second operating portion and meshing with the second rack;
The upper plate is moved in the one direction together with the intermediate guide unit by the rotation operation of the first operation unit,
The second operation portion has a second pinion that meshes with a second rack provided on the upper plate, and the upper plate is moved in the other direction by a rotation operation of the second operation portion. The microscope stage according to claim 1.
前記伝達機構が、前記下板に前記一方向に沿って延びるように穿孔された長穴を有し、
該長穴内に、前記操作ハンドルが挿入され、
該操作ハンドルが、前記第1ラック及び第2ラックに前記各ピニオンを噛合させた状態で前記長穴に沿って前記一方向に回転移動可能としたことを特徴とする請求項2に記載の顕微鏡用ステージ。
The transmission mechanism has a long hole perforated so as to extend along the one direction in the lower plate;
The operation handle is inserted into the slot,
3. The microscope according to claim 2, wherein the operation handle is rotatable in the one direction along the elongated hole in a state where the pinions are engaged with the first rack and the second rack. 4. Stage.
前記操作ハンドルが、前記下板に連結され、
前記伝達機構が、前記中間ガイドユニットに設けられた第1ラックと、前記上板に設けられた第2ラックと、前記第1操作部に設けられて前記第1ラックに噛合する第1ピニオンと、前記第2操作部に設けられて前記第2ラックに噛合する第2ピニオンとを有し、
前記第1操作部の回転操作によって前記中間ガイドユニットと共に前記上板を前記一方向に移動させ、
前記第2操作部の回転操作によって前記上板を前記他方向に移動させるようにしたことを特徴とする請求項1に記載の顕微鏡用ステージ。
The operation handle is coupled to the lower plate;
The transmission mechanism includes a first rack provided on the intermediate guide unit, a second rack provided on the upper plate, and a first pinion provided on the first operating portion and meshing with the first rack. A second pinion provided in the second operating portion and meshing with the second rack,
The upper plate is moved in the one direction together with the intermediate guide unit by the rotation operation of the first operation unit,
The microscope stage according to claim 1, wherein the upper plate is moved in the other direction by a rotation operation of the second operation unit.
前記伝達機構が、前記上板に形成されて前記第2ラックを前記一方向へ相対移動可能に装着する装着溝と、前記下板に前記他方向に沿って延びるように穿孔された長穴と、前記第2ラックに設けられた移動規制部材とを有し、
前記第2ラックが、前記上板の前記一方向への移動に関わらず前記第2ピニオンと噛合した静止状態に保持され、
前記長穴に、前記移動規制部材が挿入されて、前記上板及び前記中間ガイドユニットの前記他方向への移動を許容するようにしたことを特徴とする請求項4に記載の顕微鏡用ステージ。
A mounting groove formed on the upper plate for mounting the second rack so as to be relatively movable in the one direction; and a long hole drilled in the lower plate so as to extend in the other direction. And a movement restricting member provided in the second rack,
The second rack is held in a stationary state engaged with the second pinion regardless of the movement of the upper plate in the one direction,
The microscope stage according to claim 4, wherein the movement restricting member is inserted into the elongated hole to allow the upper plate and the intermediate guide unit to move in the other direction.
前記上板が、観察試料を載置して対物レンズの光軸に対して直交する平面内で前記2方向に移動可能とされた請求項1から5のいずれか1項に記載の顕微鏡用ステージを搭載したことを特徴とする顕微鏡。
The microscope stage according to any one of claims 1 to 5, wherein the upper plate is capable of moving in the two directions within a plane perpendicular to the optical axis of the objective lens by placing an observation sample. A microscope characterized by being equipped with.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2008091626A (en) * 2006-10-02 2008-04-17 Hamamatsu Photonics Kk Wafer supporting device and wafer observing device

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