JP2006021455A - Polyimide metal laminate - Google Patents

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JP2006021455A JP2004202559A JP2004202559A JP2006021455A JP 2006021455 A JP2006021455 A JP 2006021455A JP 2004202559 A JP2004202559 A JP 2004202559A JP 2004202559 A JP2004202559 A JP 2004202559A JP 2006021455 A JP2006021455 A JP 2006021455A
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Kazuyuki Fukuda
和幸 福田
Toshihiko Takagi
斗志彦 高木
Yasuhiko Haga
康彦 芳賀
Eiji Otsubo
英二 大坪
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a polyimide metal laminate which has a polyimide resin layer excellent in modulus of elasticity at high temperatures, transparency, and dimensional stability, does not cause problems such as sinking, wiring dislocation, peeling, and plating permeation, and is used widely in a TAB tape processing line and suitable for a substrate for COF. <P>SOLUTION: The polyimide metal laminate having at least one resin layer is produced from a silica-dispersed polyimide composition obtained by reacting an alkoxy silane and/or its partial hydrolysis polycondensation product (A) with a compound (B) having an amino group and a functional group which can form a bond with silica in a polyimide solution and/or a polyamic acid solution and in the presence of water. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、高温での弾性率、寸法安定性、透明性および無機化合物基板との密着性に優れるシリカ分散ポリイミド樹脂層を有するポリイミド金属積層体に関する。詳しくは、該シリカ分散ポリイミド樹脂層を少なくとも一層以上有しており、インナーリードボンダを使用してAu−Au接合、あるいはAu−Sn接合により、チップと金属配線を接合する際に、チップのポリイミド樹脂層への沈み込みが少なく、テープオートメーティッドボンディング(TAB)テープ加工ラインで広く使用されている、Chip on Film(以下、COF)用基材として好適なポリイミド金属積層体に関する。   The present invention relates to a polyimide metal laminate having a silica-dispersed polyimide resin layer excellent in elastic modulus at high temperature, dimensional stability, transparency, and adhesion to an inorganic compound substrate. Specifically, it has at least one layer of the silica-dispersed polyimide resin layer, and when the chip and the metal wiring are bonded by Au—Au bonding or Au—Sn bonding using the inner lead bonder, the chip polyimide is used. The present invention relates to a polyimide metal laminate suitable as a substrate for Chip on Film (hereinafter referred to as COF), which is less sunk into a resin layer and is widely used in a tape automated bonding (TAB) tape processing line.

ポリイミド金属積層体は、金属箔上にポリイミド樹脂をキャスティング、あるいは、ポリイミドフィルムと金属箔をラミネートすることにより製造される。また、ポリイミドフィルム表面にスパッタリングや、メッキなどにより金属層を形成することでも製造される。これらポリイミド金属積層体は、フレキシブルプリント基板や、TAB用テープとして広く用いられているものである。   The polyimide metal laminate is manufactured by casting a polyimide resin on a metal foil or laminating a polyimide film and a metal foil. Moreover, it manufactures also by forming a metal layer by sputtering, plating, etc. on the polyimide film surface. These polyimide metal laminates are widely used as flexible printed boards and TAB tapes.

近年、ポリイミドフィルムから得られるフレキシブルプリント基板の配線パターンは、ファインパターン化が進んでいる。TABラインでの実装方式やチップと配線の接続信頼性の点から、チップ実装は、Au−Au接合、Au−Sn接合が広く用いられるようになっている。しかしながら、金属層とポリイミド層の接着力等を向上させるために、熱可塑性ポリイミド層を金属箔上に形成したポリイミド金属積層体においては、Au−Sn接合によるチップ実装を行った場合、該熱可塑性ポリイミドに配線およびチップのバンプが沈み込む、配線がずれる、配線がポリイミドから剥離する、メッキが染み込む、等の問題が起こる場合がある。配線の過度の沈み込みは、チップとポリイミド層の隙間が狭くなることから、アンダーフィルが入らない、エッジショートなどの問題が発生する。また、配線ずれは、隣接する配線に接触し、ショートを起こすなどの問題が発生する。これらの問題は、チップ実装時にポリイミド層が変形することに起因していると考えられており、ポリイミド樹脂層の高温(チップ実装温度)での弾性率を改善することで、それらの問題を回避する試みがなされている。   In recent years, the wiring pattern of a flexible printed board obtained from a polyimide film has been finely patterned. From the viewpoint of the mounting method on the TAB line and the connection reliability between the chip and the wiring, Au-Au bonding and Au-Sn bonding are widely used for chip mounting. However, in the polyimide metal laminate in which a thermoplastic polyimide layer is formed on a metal foil in order to improve the adhesion between the metal layer and the polyimide layer, when the chip mounting by Au-Sn bonding is performed, the thermoplasticity There are cases where the wiring and chip bumps sink into the polyimide, the wiring shifts, the wiring peels off from the polyimide, or the plating penetrates. Excessive sinking of the wiring causes problems such as an underfill and an edge short circuit because the gap between the chip and the polyimide layer becomes narrow. In addition, the wiring shift causes problems such as contact with adjacent wiring and causing a short circuit. These problems are thought to be caused by deformation of the polyimide layer during chip mounting, and these problems can be avoided by improving the elastic modulus of the polyimide resin layer at high temperatures (chip mounting temperature). Attempts have been made.

例えば、キャスティングやラミネート方式により金属箔上にポリイミドを積層する方法では、以下の二つの試みがなされている。まず、ポリイミド樹脂層に、シリカやアルミナなどの無機フィラーを添加し、ポリイミド樹脂層の弾性率を改善したポリイミド金属積層体を作製する方法である。しかしながら、この方法は、フィラーを添加したことによりポリイミド樹脂層の透明性が低下し、回路加工後、ポリイミド樹脂層の金属が積層されない面から金属配線を画像認識することができなくなり、インナーリードボンダでのチップ実装時の位置決めが難しくなるという問題がある。また、他の方法として高い弾性率を示す結晶性の高いポリイミドを用いて、ポリイミド金属積層体を作製する方法が挙げられる。しかしながら、この方法は、上記の問題は起きなくなるものの、結晶性の高いポリイミドであるため、乾燥性が悪く、ポリイミド金属積層体を製造した際に、ポリイミド樹脂中に発泡が生じるなど、生産効率に乏しいという欠点が存在する。   For example, in the method of laminating polyimide on a metal foil by casting or laminating methods, the following two attempts have been made. First, it is a method for producing a polyimide metal laminate in which an inorganic filler such as silica or alumina is added to a polyimide resin layer to improve the elastic modulus of the polyimide resin layer. However, this method reduces the transparency of the polyimide resin layer due to the addition of the filler, and after the circuit processing, the metal wiring of the polyimide resin layer cannot be recognized from the surface where the metal is not laminated, and the inner lead bonder There is a problem that positioning at the time of chip mounting becomes difficult. Moreover, the method of producing a polyimide metal laminated body using the highly crystalline polyimide which shows a high elasticity modulus as another method is mentioned. However, although this method does not cause the above-mentioned problem, since it is a highly crystalline polyimide, the drying property is poor, and when a polyimide metal laminate is produced, foaming occurs in the polyimide resin. There is a disadvantage of being scarce.

また、熱可塑性ポリイミドを用いない金属積層体の製造方法としてポリイミドフィルムに金属をスパッタする方法が知られている。スパッタ方式により作製したポリイミド金属積層体は、熱可塑性樹脂層がないため、チップ実装時に金属配線がポリイミド層に沈み込むという現象は起こらない。しかしながら、スパッタ方式の場合、金属層のピンホールにより歩留まりが悪化し易いという欠点がある。ピンホールがないポリイミド金属積層体を作製するには、キャスティングやラミネート方式により金属箔上にポリイミドを積層することが有効であるが、その場合には、上記した問題が発生する。   Further, a method of sputtering metal on a polyimide film is known as a method for producing a metal laminate that does not use thermoplastic polyimide. Since the polyimide metal laminate produced by the sputtering method does not have a thermoplastic resin layer, the phenomenon that metal wiring sinks into the polyimide layer does not occur during chip mounting. However, in the case of the sputtering method, there is a drawback that the yield is likely to deteriorate due to the pinhole of the metal layer. In order to produce a polyimide metal laminate having no pinholes, it is effective to laminate polyimide on a metal foil by casting or laminating methods, but in this case, the above-described problems occur.

一方、ポリイミド樹脂の弾性率、接着性、および寸法安定性を向上させる手法として、ゾル−ゲル法によりシリカとポリイミドとを複合化させる手法が知られている(非特許文献1等参照)。ポリイミドとシリカ粒子を微細に分散させるには、通常はポリイミドの前駆体であるポリアミド酸の溶液中でゾル−ゲル反応を行うか、あるいはアルコキシシランオリゴマーをグラフトしたポリアミド酸を脱水イミド化反応する方法が代表的な方法である。   On the other hand, as a technique for improving the elastic modulus, adhesiveness, and dimensional stability of a polyimide resin, a technique in which silica and polyimide are combined by a sol-gel method is known (see Non-Patent Document 1, etc.). To finely disperse the polyimide and silica particles, a sol-gel reaction is usually performed in a polyamic acid solution which is a polyimide precursor, or a polyamic acid grafted with an alkoxysilane oligomer is subjected to a dehydration imidization reaction. Is a typical method.

例えば前者の例として特開平8−73739号公報(特許文献1)には、アミノ基含有アルコキシシラン類及び、アルコキシシランをポリアミド酸溶液中で水の存在下に反応させ、続いてポリイミド化を行うことで、シリカ粒子を微細に分散したポリイミド組成物を製造する方法が開示されている。この方法は、複合体を製造する際にポリアミド酸を使用すること、およびアミノ基含有アルコキシシランを共存させることが重要であることを強調おり、該特許は、この方法により製造されたフィルムが透明性、引張弾性率が良好であることについて記載しているが、その記載にとどまるものであり、具体的用途についての記載はされていない。   For example, as an example of the former, JP-A-8-73739 (Patent Document 1) discloses that an amino group-containing alkoxysilane and an alkoxysilane are reacted in the presence of water in a polyamic acid solution, followed by polyimidization. Thus, a method for producing a polyimide composition in which silica particles are finely dispersed is disclosed. This method emphasizes the importance of using polyamic acid in the production of the composite and the coexistence of the amino group-containing alkoxysilane, and the patent states that the film produced by this method is transparent. However, it is limited to the description, and no specific use is described.

後者の例としては、特開2002−293933号公報(特許文献2)に、ポリアミド酸とエポキシ基含有アルコキシシラン部分縮合物とを反応させてなるアルコキシ基含有シラン変性ポリアミド酸を熱硬化してイミド化する方法が開示されている。この方法ではポリアミド酸の特定の位置にあらかじめシリカ微粒子の前駆体を導入する工程が必要になることや、ポリマーにオリゴマーを導入するためゲル化が起こりやすく、使用できるポリイミド種に制限が生じる場合がある。
工業材料,Vol.46,32(1998) 特開平8−73739号公報 特開2002−293933号公報
As an example of the latter, JP-A-2002-293933 (Patent Document 2) discloses an imide obtained by thermosetting an alkoxy group-containing silane-modified polyamide acid obtained by reacting a polyamic acid and an epoxy group-containing alkoxysilane partial condensate. Is disclosed. In this method, a step of introducing a precursor of silica fine particles in advance to a specific position of the polyamic acid is required, or since an oligomer is introduced into the polymer, gelation is likely to occur, and there are cases where the type of polyimide that can be used is limited. is there.
Industrial materials, Vol. 46, 32 (1998) JP-A-8-73739 JP 2002-293933 A

このように、従来知られているポリイミド金属積層体は、Au−Au接合、Au−Sn接合などの高温でチップを接合する方式において、沈み込みや、配線ずれ、剥離、メッキの染み込みが発生するなどの問題があるか、もしくは、ポリイミド層の透明性が悪い、積層体の生産効率が悪い、金属層にピンホールがある等の問題があり、近年、加速している微細配線化に十分に対応できていない。   As described above, the conventionally known polyimide metal laminates cause sinking, wiring displacement, peeling, and plating penetration in a method of bonding chips at a high temperature such as Au—Au bonding or Au—Sn bonding. There are problems such as poor transparency of the polyimide layer, poor production efficiency of the laminate, and pinholes in the metal layer. Not supported.

本発明の目的は、高温での弾性率、透明性、寸法安定性に優れたポリイミド樹脂層を持つポリイミド金属積層体を製造することである。これにより、沈み込みや、配線ずれ、剥離、メッキの染み込みなどの問題を発生しない、TABテープ加工ラインで広く使用されている、COF用基材として好適なポリイミド金属積層体を提供することができる。   An object of the present invention is to produce a polyimide metal laminate having a polyimide resin layer excellent in elastic modulus at high temperature, transparency, and dimensional stability. Thereby, the polyimide metal laminated body suitable as a base material for COF currently widely used in the TAB tape processing line which does not generate | occur | produce problems, such as sinking, wiring shift | offset | difference, peeling, and the penetration | infiltration of plating, can be provided. .

本発明者らは、鋭意検討を行った結果、ゾル−ゲル法を用いて作製したシリカ分散ポリイミド樹脂層を一層以上有するポリイミド金属積層体が上記問題点を解決できることを見出し、本発明を完成した。   As a result of intensive studies, the present inventors have found that a polyimide metal laminate having one or more silica-dispersed polyimide resin layers prepared by using a sol-gel method can solve the above problems, and completed the present invention. .

すなわち、本発明は、アルコキシシランおよび/またはその部分加水分解重縮合物(A)と、シリカと結合を形成できる官能基を持つアミノ基含有化合物(B)とを、ポリイミド溶液および/またはポリアミド酸溶液中で水の存在下反応させることにより得られるシリカ分散ポリイミド組成物から製造される樹脂層を少なくとも一層以上有するポリイミド金属積層体である。   That is, the present invention provides an alkoxysilane and / or a partially hydrolyzed polycondensate (A) thereof and an amino group-containing compound (B) having a functional group capable of forming a bond with silica, a polyimide solution and / or a polyamic acid. A polyimide metal laminate having at least one resin layer produced from a silica-dispersed polyimide composition obtained by reacting in the presence of water in a solution.

本発明によれば、高温での弾性率、寸法安定性、透明性に優れたポリイミド樹脂層を有するポリイミド金属積層体を得ることができる。このポリイミド金属積層体は、チップ実装に、Au−Au接合、Au−Sn接合を用いたとしても、沈み込み、配線ずれ、剥離、メッキの染み込みなどの問題が生じない。よって、本発明のポリイミド金属積層体は、近年加速しているチップの高密度化に対応することが可能であり、TABテープ加工ラインで広く使用されているCOF用のポリイミド金属積層体として効果的に使用することができる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the polyimide metal laminated body which has a polyimide resin layer excellent in the elastic modulus at high temperature, dimensional stability, and transparency can be obtained. This polyimide metal laminate does not cause problems such as sinking, misalignment of wiring, peeling, and plating penetration even when Au—Au bonding or Au—Sn bonding is used for chip mounting. Therefore, the polyimide metal laminate of the present invention can cope with the recent increase in chip density and is effective as a polyimide metal laminate for COF widely used in TAB tape processing lines. Can be used for

以下、本発明を詳細に説明する。   Hereinafter, the present invention will be described in detail.

本発明のポリイミド金属積層体は、アルコキシシランおよび/またはその部分加水分解重縮合物(A)と、シリカと結合を形成できる官能基を持つアミノ基含有化合物(B)とを、ポリイミド溶液および/またはポリアミド酸溶液中で水の存在下反応させることにより得られるシリカ分散ポリイミド組成物から製造される樹脂層を少なくとも一層以上有することを特徴とするものである。   The polyimide metal laminate of the present invention comprises an alkoxysilane and / or a partially hydrolyzed polycondensate (A) thereof, an amino group-containing compound (B) having a functional group capable of forming a bond with silica, a polyimide solution and / or Or at least one or more resin layers manufactured from the silica dispersion polyimide composition obtained by making it react in presence of water in a polyamic-acid solution are characterized by the above-mentioned.

本発明に用いるシリカ分散ポリイミド樹脂は、アルコキシシランおよび/またはその部分加水分解重縮合物(A)と、シリカと結合を形成できる官能基を持つアミノ基含有化合物(B)とを、ポリイミド溶液および/またはポリアミド酸溶液中で水の存在下反応(ゾル−ゲル反応)させて製造することが重要である。この方法で製造することにより、最大粒径100nm以下のシリカが微細に分散したポリイミド組成物が得られ、透明性を損なわずに、高温での弾性率、寸法安定性、透明性および無機化合物基板との密着性に優れた樹脂層とすることができる。この効果は、ポリアミド酸および/またはポリイミドに単にシリカを混合しただけで製造したポリイミド樹脂や、アルコキシシランおよび/またはその部分加水分解重縮合物(A)成分だけをポリイミド溶液および/またはポリアミド酸溶液中で水の存在下反応させて得られるポリイミドとシリカの複合樹脂を用いただけでは、十分に得ることができず、本発明のポリイミド金属積層体には使用することができない。   The silica-dispersed polyimide resin used in the present invention comprises an alkoxysilane and / or a partially hydrolyzed polycondensate (A) thereof, an amino group-containing compound (B) having a functional group capable of forming a bond with silica, a polyimide solution and It is important to produce by reacting in a polyamic acid solution in the presence of water (sol-gel reaction). By producing by this method, a polyimide composition in which silica having a maximum particle diameter of 100 nm or less is finely dispersed can be obtained, and the elastic modulus, dimensional stability, transparency and inorganic compound substrate at high temperature without impairing transparency. It can be set as the resin layer excellent in adhesiveness. This effect is achieved by using polyimide resin and / or polyamic acid solution containing only polyimide resin produced by simply mixing silica with polyamic acid and / or polyimide, and alkoxysilane and / or its partially hydrolyzed polycondensate (A) component. If only a composite resin of polyimide and silica obtained by reacting in the presence of water is used, it cannot be sufficiently obtained and cannot be used for the polyimide metal laminate of the present invention.

シリカ分散ポリイミド組成物の製造に使用するアルコキシシラン及び/またはその部分加水分解重縮合化合物(A)としては、例としてテトラメトキシシラン(TMOS)、テトラエトキシシラン(TEOS)、テトラプロポキシシラン、テトライソプロポキシシラン、メチルトリメトキシシラン、メチルトリエトキシシラン、メチルトリプロポキシシラン、メチルトリブトキシシラン、エチルトリメトキシシラン、エチルトリエトキシシラン、n−プロピルトリメトキシシラン、n−プロピルトリエトキシシラン、イソプロピルトリメトキシシラン、イソプロピルトリエトキシシラン、ジメチルジメトキシシラン、ジメチルジエトキシシラン、ジフェニルジメトキシシラン、ジフェニルジエトキシシラン、トリフルオロメチルトリメトキシシラン、トリフルオロメチルトリメトキシシラン、ビニルトリメトキシシラン、ビニルトリエトキシシラン、フェニルトリメトキシシラン、フェニルトリエトキシシラン、2−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン、3−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、3−グリシドキシプロピルトリエトキシシラン、3−グリシドキシプロピルメチルジメトキシシラン、3−グリシドキシプロピルメチルジエトキシシラン、p−スチリルトリメトキシシラン、3−メタクリロキシプロピルメチルジメトキシシラン、3−メタクリロキシプロピルメチルジエトキシシラン、3−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン、3−メタクリロキシプロピルトリエトキシシラン、3−アクリロキシプロピルトリメトキシシラン、3−アクリロキシプロピルトリエトキシシラン、3−クロロプロピルトリエトキシシラン、3−メルカプトプロピルメチルジメトキシシラン、3−メルカプトプロピルトリメトキシシラン、3−イソシアネートプロピルトリエトキシシラン等のアルコキシシラン類が挙げられ、部分加水分解重縮合物はこれらの1種以上のアルコキシシラン類に酸またはアルカリ化合物を触媒として加水分解、重縮合することにより得られるものである。高温での弾性率や、寸法安定性への効果が大きいことから、テトラメトキシシラン、又はテトラエトキシシランを用いることが好ましい。   Examples of the alkoxysilane and / or its partially hydrolyzed polycondensation compound (A) used in the production of the silica-dispersed polyimide composition include tetramethoxysilane (TMOS), tetraethoxysilane (TEOS), tetrapropoxysilane, tetraiso Propoxysilane, methyltrimethoxysilane, methyltriethoxysilane, methyltripropoxysilane, methyltributoxysilane, ethyltrimethoxysilane, ethyltriethoxysilane, n-propyltrimethoxysilane, n-propyltriethoxysilane, isopropyltrimethoxy Silane, isopropyltriethoxysilane, dimethyldimethoxysilane, dimethyldiethoxysilane, diphenyldimethoxysilane, diphenyldiethoxysilane, trifluoromethyltrimethoxy Lan, trifluoromethyltrimethoxysilane, vinyltrimethoxysilane, vinyltriethoxysilane, phenyltrimethoxysilane, phenyltriethoxysilane, 2- (3,4-epoxycyclohexyl) ethyltrimethoxysilane, 3-glycidoxypropyl Trimethoxysilane, 3-glycidoxypropyltriethoxysilane, 3-glycidoxypropylmethyldimethoxysilane, 3-glycidoxypropylmethyldiethoxysilane, p-styryltrimethoxysilane, 3-methacryloxypropylmethyldimethoxysilane 3-methacryloxypropylmethyldiethoxysilane, 3-methacryloxypropyltrimethoxysilane, 3-methacryloxypropyltriethoxysilane, 3-acryloxypropyltrimethoxysilane Alkoxysilanes such as 3-acryloxypropyltriethoxysilane, 3-chloropropyltriethoxysilane, 3-mercaptopropylmethyldimethoxysilane, 3-mercaptopropyltrimethoxysilane, 3-isocyanatopropyltriethoxysilane, The partially hydrolyzed polycondensate is obtained by hydrolyzing and polycondensing these one or more alkoxysilanes using an acid or alkali compound as a catalyst. Tetramethoxysilane or tetraethoxysilane is preferably used because of its great effect on elastic modulus at high temperature and dimensional stability.

本発明で用いるシリカと結合を形成できる官能基を持つアミノ基含有化合物(B)について説明する。本発明においてシリカと結合を形成できる官能基とは、具体的にはシリカと共有結合、水素結合、イオン結合等の結合を形成できる官能基である。シリカと共有結合を形成できる官能基としては、例えばアルコキシシリル基、シラノール基等が挙げられ、水素結合を形成できる官能基としては、例えば水酸基、カルボキシル基、アミノ基等が挙げられる。また、イオン結合を形成できる官能基としては、例えばアンモニウム基等が挙げられる。シリカと結合を形成できる官能基を持つアミノ基含有化合物(B)とは、上記したシリカと共有結合、水素結合、イオン結合などを形成できる官能基と、アミノ基とを同一分子内に有する化合物である。   The amino group-containing compound (B) having a functional group capable of forming a bond with silica used in the present invention will be described. In the present invention, the functional group capable of forming a bond with silica is specifically a functional group capable of forming a bond such as a covalent bond, a hydrogen bond, or an ionic bond with silica. Examples of the functional group capable of forming a covalent bond with silica include an alkoxysilyl group and a silanol group. Examples of the functional group capable of forming a hydrogen bond include a hydroxyl group, a carboxyl group, and an amino group. Moreover, as a functional group which can form an ionic bond, an ammonium group etc. are mentioned, for example. The amino group-containing compound (B) having a functional group capable of forming a bond with silica is a compound having the functional group capable of forming a covalent bond, a hydrogen bond, an ionic bond, etc. with the above silica and an amino group in the same molecule. It is.

シリカと結合を形成できる官能基を持つアミノ基含有化合物(B)としては、例えば、3−アミノプロピルトリメトキシシラン、3−アミノプロピルトリエトキシシラン、3−アミノプロピルメチルジメトキシシラン、3−アミノプロピルメチルジエトキシシラン、N−2−(アミノエチル)−3−アミノプロピルメチルジメトキシシラン、N−2−(アミノエチル)−3−アミノプロピルトリメトキシシラン、2−アミノエチルアミノメチルトリメトキシシラン、3−アミノプロピルジメチルエトキシシラン、2−(2−アミノエチルチオエチル)トリエトキシシラン、p−アミノフェニルトリメトキシシラン、N−フェニル−3−アミノプロピルメチルジメトキシシラン、N−フェニル−3−アミノプロピルメチルジエトキシシラン、N−フェニル−3−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−フェニル−3−アミノプロピルトリエトキシシラン、2−アミノエタノール、3−アミノ−1−プロパノール、2−アミノ−1−アミノ−1−ブタノール、1−アミノ−2−ブタノール、2−アミノ−1−ブタノール,3−プロパンジオール、3−アミノ−1,2−プロパンジオール、4、2−(2−アミノエトキシ)エタノール、2−アミノ−2−メチル−1−プロパノール、4−アミノ−2−メチルブタノール、3−アミノプロピオン酸、2−アミノプロピオン酸、4−アミノ−n−ブチル酸、5−アミノ−n−バレリン酸、2−アミノイソバレリン酸、アスパラギン、アスパラギン酸、2−アミノ−2−メチル−1,3−プロパンジオール、2−(2−アミノエチルアミノ)エタノール、2−アミノエタンチオール、2−アミノエタンスルホン酸、N,N−ジメチル−1,3−プロパンジアミン、N−(3−アミノプロピル)シクロヘキシルアミン、4−ピコリルアミン、3−ピコリルアミン、2−ピコリルアミン、4−(2−アミノエチル)ピリジン、3−(2−アミノエチル)ピリジン、4−アミノメチルピペリジン、1−アミノ−4−メチルピペラジン、3−アミノ−5−メチルピラゾール、1−(3−アミノプロピル)イミダゾール、2-アミノエタン−1−スルホン酸、3−アミノプロパンスルホン酸、スルファニル酸、1,4−ジアミノブタン二塩酸塩、1,5−ジアミノペンタン二塩酸塩等を挙げることができるが、これらに限定されるものではない。好ましくは、これらの中から選ばれる1種以上のアミノ基含有化合物を使用する。尚、高温での弾性率、寸法安定性や密着性への効果が大きいことから、シリカと結合を形成できる官能基がアルコキシシリル基であるものがより好ましく、具体的に使用する化合物としては、3−アミノプロピルトリメトキシシラン、3−アミノプロピルトリエトキシシランを用いることがより好ましい。   Examples of the amino group-containing compound (B) having a functional group capable of forming a bond with silica include 3-aminopropyltrimethoxysilane, 3-aminopropyltriethoxysilane, 3-aminopropylmethyldimethoxysilane, and 3-aminopropyl. Methyldiethoxysilane, N-2- (aminoethyl) -3-aminopropylmethyldimethoxysilane, N-2- (aminoethyl) -3-aminopropyltrimethoxysilane, 2-aminoethylaminomethyltrimethoxysilane, 3 -Aminopropyldimethylethoxysilane, 2- (2-aminoethylthioethyl) triethoxysilane, p-aminophenyltrimethoxysilane, N-phenyl-3-aminopropylmethyldimethoxysilane, N-phenyl-3-aminopropylmethyl Diethoxysilane, N Phenyl-3-aminopropyltrimethoxysilane, N-phenyl-3-aminopropyltriethoxysilane, 2-aminoethanol, 3-amino-1-propanol, 2-amino-1-amino-1-butanol, 1-amino 2-butanol, 2-amino-1-butanol, 3-propanediol, 3-amino-1,2-propanediol, 4,2- (2-aminoethoxy) ethanol, 2-amino-2-methyl-1 -Propanol, 4-amino-2-methylbutanol, 3-aminopropionic acid, 2-aminopropionic acid, 4-amino-n-butyric acid, 5-amino-n-valeric acid, 2-aminoisovaleric acid, asparagine , Aspartic acid, 2-amino-2-methyl-1,3-propanediol, 2- (2-aminoethylamino) Tanol, 2-aminoethanethiol, 2-aminoethanesulfonic acid, N, N-dimethyl-1,3-propanediamine, N- (3-aminopropyl) cyclohexylamine, 4-picolylamine, 3-picolylamine, 2 -Picolylamine, 4- (2-aminoethyl) pyridine, 3- (2-aminoethyl) pyridine, 4-aminomethylpiperidine, 1-amino-4-methylpiperazine, 3-amino-5-methylpyrazole, 1- (3-aminopropyl) imidazole, 2-aminoethane-1-sulfonic acid, 3-aminopropanesulfonic acid, sulfanilic acid, 1,4-diaminobutane dihydrochloride, 1,5-diaminopentane dihydrochloride, etc. However, it is not limited to these. Preferably, one or more amino group-containing compounds selected from these are used. In addition, since the effect on elastic modulus at high temperature, dimensional stability and adhesion is large, the functional group capable of forming a bond with silica is more preferably an alkoxysilyl group, It is more preferable to use 3-aminopropyltrimethoxysilane or 3-aminopropyltriethoxysilane.

本発明で用いられるシリカと結合を形成できる官能基を持つアミノ基含有化合物(B)の使用量は、アルコキシシラン及び/またはその部分加水分解縮合化合物(A)100質量部に対して、シリカと結合を形成できる官能基を持つアミノ基含有化合物(B)の合計量は0.1〜30質量部が好ましく、より好ましくは、0.1〜20質量部、より更に好ましくは、0.1〜15質量部である。シリカと結合を形成できる官能基を持つアミノ基含有化合物(B)から選ばれる1種以上の化合物が、30質量部以下の方が、高温での弾性率や、寸法安定性への効果が高く、0.1質量部以上の方が透明性や接着性が向上する。   The amount of the amino group-containing compound (B) having a functional group capable of forming a bond with the silica used in the present invention is such that the silica and / or its partially hydrolyzed condensation compound (A) is 100 parts by mass with respect to silica. The total amount of the amino group-containing compound (B) having a functional group capable of forming a bond is preferably 0.1 to 30 parts by mass, more preferably 0.1 to 20 parts by mass, and still more preferably 0.1 to 30 parts by mass. 15 parts by mass. One or more compounds selected from amino group-containing compounds (B) having a functional group capable of forming a bond with silica have a higher effect on elastic modulus and dimensional stability at a high temperature when they are 30 parts by mass or less. When the content is 0.1 parts by mass or more, transparency and adhesiveness are improved.

本発明においてシリカ分散ポリイミド組成物を製造する際に使用されるポリイミド溶液および/またはポリアミド酸は、特に制限はなく、公知のジアミン類と酸二無水物から得られるポリイミドを使用することができる。ポリイミド溶液および/またはポリアミド酸溶液をイミド化及び脱溶媒してなるフィルムの線膨張率が1〜70×10−6/℃であるものが好ましく、5〜50×10−6/℃であるものがより好ましく、5〜30×10−6/℃であるものがさらに好ましい。 There is no restriction | limiting in particular in the polyimide solution and / or polyamic acid used when manufacturing a silica dispersion polyimide composition in this invention, The polyimide obtained from well-known diamines and acid dianhydride can be used. A film obtained by imidizing and removing a polyimide solution and / or a polyamic acid solution preferably has a linear expansion coefficient of 1 to 70 × 10 −6 / ° C., and 5 to 50 × 10 −6 / ° C. Is more preferable, and what is 5-30 * 10 < -6 > / degreeC is still more preferable.

本発明においてシリカ分散ポリイミド組成物を製造する際に使用されるポリイミド溶液および/またはポリアミド酸の原料として用いられるジアミン類としては、例えば、1,3−ビス(3−アミノフェノキシ)ベンゼン、4,4−ビス(3−アミノフェノキシ)ビフェニル、3,3’−ジアミベンゾフェノン、p−フェニレンジアミン、4,4’−ジアミノジフェニルエーテル、1,3−ビス(3−(3−アミノフェノキシ)フェノキシ)ベンゼン、1,3−ビス(3−(4−アミノフェノキシ)フェノキシ)ベンゼン、5,7−ジアミノ−1,1,4,6−テトラメチルインダイン、1,3−ビス(4−(3−アミノフェノキシ)フェノキシ)ベンゼン、1,3−ビス(3−(2−アミノフェノキシ)フェノキシ)ベンゼン、1,3−ビス(4−(2−アミノフェノキシ)フェノキシ)ベンゼン、1,3−ビス(2−(2−アミノフェノキシ)フェノキシ)ベンゼン、1,3−ビス(2−(3−アミノフェノキシ)フェノキシ)ベンゼン、1,3−ビス(2−(4−アミノフェノキシ)フェノキシ)ベンゼン、1,4−ビス(3−(3−アミノフェノキシ)フェノキシ)ベンゼン、1,4−ビス(3−(4−アミノフェノキシ)フェノキシ)ベンゼン、1,4−ビス(3−(2−アミノフェノキシ)フェノキシ)ベンゼン、1,4−ビス(4−(3−アミノフェノキシ)フェノキシ)ベンゼン、1,4−ビス(4−(2−アミノフェノキシ)フェノキシ)ベンゼン、1,4−ビス(2−(2−アミノフェノキシ)フェノキシ)ベンゼン、1,4−ビス(2−(3−アミノフェノキシ)フェノキシ)ベンゼン、1,4−ビス(2−(4−アミノフェノキシ)フェノキシ)ベンゼン、1,2−ビス(3−(3−アミノフェノキシ)フェノキシ)ベンゼン、1,2−ビス(3−(4−アミノフェノキシ)フェノキシ)ベンゼン、1,2−ビス(3−(2−アミノフェノキシ)フェノキシ)ベンゼン、1,2−ビス(4−(4−アミノフェノキシ)フェノキシ)ベンゼン、1,2−ビス(4−(3−アミノフェノキシ)フェノキシ)ベンゼン、1,2−ビス(4−(2−アミノフェノキシ)フェノキシ)ベンゼン、1,2−ビス(2−(2−アミノフェノキシ)フェノキシ)ベンゼン、1,2−ビス(2−(3−アミノフェノキシ)フェノキシ)ベンゼン、1,2−ビス(2−(4−アミノフェノキシ)フェノキシ)ベンゼン、1,3−ビス(3−(3−アミノフェノキシ)フェノキシ)−2−メチルベンゼン、1,3−ビス(3−(4−アミノフェノキシ)フェノキシ)−4−メチルベンゼン、1,3−ビス(4−(3−アミノフェノキシ)フェノキシ)−2−エチルベンゼン、1,3−ビス(3−(2−アミノフェノキシ)フェノキシ)−5−sec−ブチルベンゼン、1,3−ビス(4−(3−アミノフェノキシ)フェノキシ)−2,5−ジメチルベンゼン、1,3−ビス(4−(2−アミノ−6−メチルフェノキシ)フェノキシ)ベンゼン、1,3−ビス(2−(2−アミノ−6−エチルフェノキシ)フェノキシ)ベンゼン、1,3−ビス(2−(3−アミノフェノキシ)−4−メチルフェノキシ)ベンゼン、1,3−ビス(2−(4−アミノフェノキシ)−4−tert−ブチルフェノキシ)ベンゼン、1,4−ビス(3−(3−アミノフェノキシ)フェノキシ)−2,5−ジ−tert−ブチルベンゼン、1,4−ビス(3−(4−アミノフェノキシ)フェノキシ)−2,3−ジメチルベンゼン、1,4−ビス(3−(2−アミノ−3−プロピルフェノキシ)フェノキシ)ベンゼン、1,2−ビス(3−(3−アミノフェノキシ)フェノキシ)−4−メチルベンゼン、1,2−ビス(3−(4−アミノフェノキシ)フェノキシ)−3−n−ブチルベンゼン、1,2−ビス(3−(2−アミノ−3−プロピルフェノキシ)フェノキシ)ベンゼンなどが挙げられる。   Examples of the diamines used as a raw material for the polyimide solution and / or polyamic acid used in producing the silica-dispersed polyimide composition in the present invention include 1,3-bis (3-aminophenoxy) benzene, 4, 4-Bis (3-aminophenoxy) biphenyl, 3,3′-diamibenzophenone, p-phenylenediamine, 4,4′-diaminodiphenyl ether, 1,3-bis (3- (3-aminophenoxy) phenoxy) benzene 1,3-bis (3- (4-aminophenoxy) phenoxy) benzene, 5,7-diamino-1,1,4,6-tetramethylindyne, 1,3-bis (4- (3-amino) Phenoxy) phenoxy) benzene, 1,3-bis (3- (2-aminophenoxy) phenoxy) benzene, 1,3-bis (4 -(2-aminophenoxy) phenoxy) benzene, 1,3-bis (2- (2-aminophenoxy) phenoxy) benzene, 1,3-bis (2- (3-aminophenoxy) phenoxy) benzene, 1,3 -Bis (2- (4-aminophenoxy) phenoxy) benzene, 1,4-bis (3- (3-aminophenoxy) phenoxy) benzene, 1,4-bis (3- (4-aminophenoxy) phenoxy) benzene 1,4-bis (3- (2-aminophenoxy) phenoxy) benzene, 1,4-bis (4- (3-aminophenoxy) phenoxy) benzene, 1,4-bis (4- (2-aminophenoxy) ) Phenoxy) benzene, 1,4-bis (2- (2-aminophenoxy) phenoxy) benzene, 1,4-bis (2- (3-aminophenoxy) Enoxy) benzene, 1,4-bis (2- (4-aminophenoxy) phenoxy) benzene, 1,2-bis (3- (3-aminophenoxy) phenoxy) benzene, 1,2-bis (3- (4 -Aminophenoxy) phenoxy) benzene, 1,2-bis (3- (2-aminophenoxy) phenoxy) benzene, 1,2-bis (4- (4-aminophenoxy) phenoxy) benzene, 1,2-bis ( 4- (3-aminophenoxy) phenoxy) benzene, 1,2-bis (4- (2-aminophenoxy) phenoxy) benzene, 1,2-bis (2- (2-aminophenoxy) phenoxy) benzene, 1, 2-bis (2- (3-aminophenoxy) phenoxy) benzene, 1,2-bis (2- (4-aminophenoxy) phenoxy) benzene, 1, -Bis (3- (3-aminophenoxy) phenoxy) -2-methylbenzene, 1,3-bis (3- (4-aminophenoxy) phenoxy) -4-methylbenzene, 1,3-bis (4- ( 3-aminophenoxy) phenoxy) -2-ethylbenzene, 1,3-bis (3- (2-aminophenoxy) phenoxy) -5-sec-butylbenzene, 1,3-bis (4- (3-aminophenoxy) Phenoxy) -2,5-dimethylbenzene, 1,3-bis (4- (2-amino-6-methylphenoxy) phenoxy) benzene, 1,3-bis (2- (2-amino-6-ethylphenoxy) Phenoxy) benzene, 1,3-bis (2- (3-aminophenoxy) -4-methylphenoxy) benzene, 1,3-bis (2- (4-aminophenoxy) -4-t ert-butylphenoxy) benzene, 1,4-bis (3- (3-aminophenoxy) phenoxy) -2,5-di-tert-butylbenzene, 1,4-bis (3- (4-aminophenoxy) phenoxy ) -2,3-dimethylbenzene, 1,4-bis (3- (2-amino-3-propylphenoxy) phenoxy) benzene, 1,2-bis (3- (3-aminophenoxy) phenoxy) -4- Methylbenzene, 1,2-bis (3- (4-aminophenoxy) phenoxy) -3-n-butylbenzene, 1,2-bis (3- (2-amino-3-propylphenoxy) phenoxy) benzene and the like Can be mentioned.

これらは、1種のみで使用してもまたは2種類以上使用しても良いが、2種以上使用することで、ポリイミドフィルムを製造する際、乾燥性や、機械的特性を制御し易くなるため、2種以上使用することが好ましい。   These may be used alone or in combination of two or more. However, when two or more of these are used, it becomes easy to control the drying property and mechanical properties when producing a polyimide film. Two or more types are preferably used.

また、2種以上使用する場合には、少なくとも1種以上が、下記一般式(1)   Moreover, when using 2 or more types, at least 1 type or more is following General formula (1).

Figure 2006021455
Figure 2006021455

(式(1)中、X、Xはそれぞれ独立して、単結合、酸素原子、硫黄原子、カルボニル基、スルホニル基、ハロゲン原子で置換されていてもよい炭化水素基からなる群より選ばれるものであり、Yはそれぞれ独立して、水素原子、ハロゲン原子、ヒドロキシル基、アルコキシ基、ニトロ基、およびハロゲン原子で置換されていてもよい炭化水素基からなる群より選ばれるものであり、nは0〜8の整数を表す)で表される化合物を用いることが好ましい。さらに、2種以上使用する場合には、少なくとも1種以上が、1,3−ビス(3−アミノフェノキシ)ベンゼン、4,4−ビス(3−アミノフェノキシ)ビフェニル、3,3’−ジアミベンゾフェノン、p−フェニレンジアミン、4,4’−ジアミノジフェニルエーテルから選ばれることがより好ましい。 (In formula (1), X 1 and X 2 are each independently selected from the group consisting of a single bond, an oxygen atom, a sulfur atom, a carbonyl group, a sulfonyl group, and a hydrocarbon group optionally substituted with a halogen atom. Each Y is independently selected from the group consisting of a hydrogen atom, a halogen atom, a hydroxyl group, an alkoxy group, a nitro group, and a hydrocarbon group optionally substituted with a halogen atom, n represents an integer of 0 to 8). Further, when two or more kinds are used, at least one kind is 1,3-bis (3-aminophenoxy) benzene, 4,4-bis (3-aminophenoxy) biphenyl, 3,3′-diamidine. More preferably, it is selected from benzophenone, p-phenylenediamine, and 4,4′-diaminodiphenyl ether.

本発明において、シリカ分散ポリイミド組成物を製造する際に使用されるポリイミド溶液および/またはポリアミド酸の原料として用いられる酸二無水物としては、特に制限はなく、公知のものが使用可能である。例として、ピロメリット酸二無水物、3,3’,4,4’−ビフェニルテトラカルボン酸二無水物、3,3’,4,4’−ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物、2,3,3’,4’−ビフェニルテトラカルボン酸二無水物、ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)エーテル二無水物、ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)スルフィド二無水物、ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)スルホン二無水物、ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)メタン二無水物、2,2−ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)プロパン二無水物、2,2−ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)−1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロプロパン二無水物、1,3−ビス(3,4−ジカルボキシフェノキシ)ベンゼン二無水物、1,4−ビス(3,4−ジカルボキシフェノキシ)ベンゼン二無水物、4,4’−ビス(3,4−ジカルボキシフェノキシ)ビフェニル二無水物、2,2−ビス[(3,4−ジカルボキシフェノキシ)フェニル]プロパン二無水物、2,3,6,7−ナフタレンテトラカルボン酸二無水物、1,4,5,8−ナフタレンテトラカルボン酸二無水物、ブタン−1,2,3,4−テトラカルボン酸二無水物、ペンタン−1,2,4,5−テトラカルボン酸二無水物、シクロブタンテトラカルボン酸二無水物、シクロペンタン−1,2,3,4−テトラカルボン酸二無水物、シクロヘキサン−1,2,4,5−テトラカルボン酸二無水物、シクロヘキサ−1−エン−2,3,5,6−テトラカルボン酸二無水物、3−エチルシクロヘキサ−1−エン−3−(1,2),5,6−テトラカルボン酸二無水物、1−メチル−3−エチルシクロヘキサン−3−(1,2),5,6−テトラカルボン酸二無水物、1−メチル−3−エチルシクロヘキサ−1−エン−3−(1,2),5,6−テトラカルボン酸二無水物、1−エチルシクロヘキサン−1−(1,2),3,4−テトラカルボン酸二無水物、1−プロピルシクロヘキサン−1−(2,3),3,4−テトラカルボン酸二無水物、1,3−ジプロピルシクロヘキサン−1−(2,3),3−(2,3)−テトラカルボン酸二無水物、ジシクロヘキシル−3,4,3’,4’−テトラカルボン酸二無水物、ビシクロ[2.2.1]ヘプタン−2,3,5,6−テトラカルボン酸二無水物、ビシクロ[2.2.2]オクタン−2,3,5,6−テトラカルボン酸二無水物、ビシクロ[2.2.2]オクト−7−エン−2,3,5,6−テトラカルボン酸二無水物等が挙げられる。その中でもピロメリット酸二無水物、3,3’,4,4’−ビフェニルテトラカルボン酸二無水物、3,3’,4,4’−ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物が好ましい。ジアミン類とテトラカルボン酸二無水物の反応モル比は、通常、0.75〜1.25の範囲である。   In the present invention, the acid dianhydride used as a raw material for the polyimide solution and / or the polyamic acid used in producing the silica-dispersed polyimide composition is not particularly limited, and known ones can be used. Examples include pyromellitic dianhydride, 3,3 ′, 4,4′-biphenyltetracarboxylic dianhydride, 3,3 ′, 4,4′-benzophenone tetracarboxylic dianhydride, 2,3, 3 ′, 4′-biphenyltetracarboxylic dianhydride, bis (3,4-dicarboxyphenyl) ether dianhydride, bis (3,4-dicarboxyphenyl) sulfide dianhydride, bis (3,4- Dicarboxyphenyl) sulfone dianhydride, bis (3,4-dicarboxyphenyl) methane dianhydride, 2,2-bis (3,4-dicarboxyphenyl) propane dianhydride, 2,2-bis (3 , 4-Dicarboxyphenyl) -1,1,1,3,3,3-hexafluoropropane dianhydride, 1,3-bis (3,4-dicarboxyphenoxy) benzene dianhydride, 1,4- Screw (3 4-dicarboxyphenoxy) benzene dianhydride, 4,4′-bis (3,4-dicarboxyphenoxy) biphenyl dianhydride, 2,2-bis [(3,4-dicarboxyphenoxy) phenyl] propane Anhydride, 2,3,6,7-naphthalenetetracarboxylic dianhydride, 1,4,5,8-naphthalenetetracarboxylic dianhydride, butane-1,2,3,4-tetracarboxylic dianhydride , Pentane-1,2,4,5-tetracarboxylic dianhydride, cyclobutanetetracarboxylic dianhydride, cyclopentane-1,2,3,4-tetracarboxylic dianhydride, cyclohexane-1,2 , 4,5-tetracarboxylic dianhydride, cyclohex-1-ene-2,3,5,6-tetracarboxylic dianhydride, 3-ethylcyclohex-1-ene-3- (1,2) 5,6-tetracarboxylic dianhydride, 1-methyl-3-ethylcyclohexane-3- (1,2), 5,6-tetracarboxylic dianhydride, 1-methyl-3-ethylcyclohexa-1 -Ene-3- (1,2), 5,6-tetracarboxylic dianhydride, 1-ethylcyclohexane-1- (1,2), 3,4-tetracarboxylic dianhydride, 1-propylcyclohexane -1- (2,3), 3,4-tetracarboxylic dianhydride, 1,3-dipropylcyclohexane-1- (2,3), 3- (2,3) -tetracarboxylic dianhydride , Dicyclohexyl-3,4,3 ′, 4′-tetracarboxylic dianhydride, bicyclo [2.2.1] heptane-2,3,5,6-tetracarboxylic dianhydride, bicyclo [2.2 .2] Octane-2,3,5,6-tetracarboxylic acid bismuth Things, bicyclo [2.2.2] oct-7-ene-2,3,5,6-tetracarboxylic dianhydride, and the like. Of these, pyromellitic dianhydride, 3,3 ', 4,4'-biphenyltetracarboxylic dianhydride, and 3,3', 4,4'-benzophenone tetracarboxylic dianhydride are preferable. The reaction molar ratio of diamines and tetracarboxylic dianhydrides is usually in the range of 0.75 to 1.25.

本発明においては、シリカ分散ポリイミド組成物を製造する際に使用されるポリイミド溶液および/またはポリアミド酸溶液に、その目的に応じて他のいかなる成分を含有しても構わない。例えば、一般式(3)   In the present invention, the polyimide solution and / or the polyamic acid solution used when producing the silica-dispersed polyimide composition may contain any other component depending on the purpose. For example, the general formula (3)

Figure 2006021455
Figure 2006021455

(式中、dは0以上の整数を示し、Rはそれぞれ独立に同一であっても異なっていてもよく、O、SO、S、CO、CH2、C(CH3)、C(CF3または直結を示す。また、Rは、同一または相異なり、水素原子、ハロゲン原子、炭化水素基を表し、それぞれベンゼン環の置換位置は相互に独立である。)で表されるビスマレイミド化合物を配合することもできる。この際、ビスマレイミド化合物は、ゾル−ゲル反応前の溶液、反応後の溶液のどちらに加えても良い。 (In the formula, d represents an integer of 0 or more, and R 7 may be independently the same or different, and O, SO 2 , S, CO, CH 2 , C (CH 3 ) 2 , C (CF 3 ) 2 or direct connection, and R 6 is the same or different and each represents a hydrogen atom, a halogen atom, or a hydrocarbon group, and the benzene ring substitution positions are independent of each other. A bismaleimide compound can also be blended. At this time, the bismaleimide compound may be added to either the solution before the sol-gel reaction or the solution after the reaction.

本発明において、シリカ分散ポリイミド組成物を製造する際、アルコキシシラン類の加水分解・重縮合反応には、反応を促進させる目的で下記に示すような加水分解・重合反応の触媒となりうるものを加えても良い。アルコキシシランの類の加水分解・重合反応の触媒として使用されるものは、「最新ゾル−ゲル法による機能性薄膜作製技術」(平島碩著、株式会社総合技術センター、P29)や「ゾル−ゲル法の科学」(作花済夫著、アグネ承風者、P154)等に記載されている一般的なゾル−ゲル反応で用いられる触媒である。例えば、酸触媒では塩酸、硝酸、硫酸、リン酸、酢酸、蓚酸、酒石酸、トルエンスルホン酸等の無機および有機酸類、アルカリ触媒では、水酸化アンモニウム、水酸化カリウム、水酸化ナトリウムなどのアルカリ金属水酸化物、テトラメチルアンモニウムヒドロキシド、テトラエチルアンモニウムヒドロキシド、テトラブチルアンモニウムヒドロキシドなどの4級アンモニウム水酸化物、アンモニア、トリエチルアミン、トリブチルアミン、モルホリン、ピリジン、ピペリジン、エチレンジアミン、ジエチレントリアミン、エタノールアミン、ジエタノールアミン、トリエタノールアミンなどのアミン類、3−アミノプロピルトリエトキシシラン、N(2−アミノエチル)−3−アミノプロピルトリメトキシシランなどのアミノシラン類などが挙げられる。   In the present invention, when producing a silica-dispersed polyimide composition, the hydrolysis / polycondensation reaction of alkoxysilanes is added with a catalyst capable of hydrolysis / polymerization reaction as shown below for the purpose of accelerating the reaction. May be. What is used as a catalyst for hydrolysis / polymerization reaction of alkoxysilanes is “the latest functional sol-gel fabrication technology by sol-gel method” (Satoru Hirashima, General Technical Center, P29) and “sol-gel”. It is a catalyst used in a general sol-gel reaction described in “Science of Law” (Sakuo Sakuhana, Agne Fate, P154). For example, for acid catalysts, hydrochloric acid, nitric acid, sulfuric acid, phosphoric acid, acetic acid, oxalic acid, tartaric acid, toluenesulfonic acid and other inorganic and organic acids, for alkali catalysts, alkali metal water such as ammonium hydroxide, potassium hydroxide and sodium hydroxide Oxides, quaternary ammonium hydroxides such as tetramethylammonium hydroxide, tetraethylammonium hydroxide, tetrabutylammonium hydroxide, ammonia, triethylamine, tributylamine, morpholine, pyridine, piperidine, ethylenediamine, diethylenetriamine, ethanolamine, diethanolamine, Amines such as triethanolamine, aminosilanes such as 3-aminopropyltriethoxysilane, N (2-aminoethyl) -3-aminopropyltrimethoxysilane, etc. And the like.

その他にも、有機スズ化合物、チタニウムテトライソプロポキシド、ジイソプロポキシチタニウムビスアセチルアセトナート、ジルコニウムテトラブトキシド、ジルコニウムテトラキスアセチルアセトナート、アルミニウムトリイソプロポキシド、アルミニウムトリスエチルアセトナート、トリメトキシボランなどの金属アルコキシド等を使用することができる。好ましい触媒の使用量は、アルコキシシラン類の総アルコキシ基に対し、0.5モル当量以下、さらに好ましくは0.1モル当量以下あるが、シリカと結合を形成できる官能基を持つアミノ基含有化合物(B)が触媒として作用する場合にはこの限りではない。   In addition, organotin compounds, titanium tetraisopropoxide, diisopropoxytitanium bisacetylacetonate, zirconium tetrabutoxide, zirconium tetrakisacetylacetonate, aluminum triisopropoxide, aluminum trisethylacetonate, trimethoxyborane, etc. A metal alkoxide etc. can be used. The preferred amount of catalyst used is 0.5 mole equivalent or less, more preferably 0.1 mole equivalent or less, based on the total alkoxy groups of alkoxysilanes, but an amino group-containing compound having a functional group capable of forming a bond with silica. This does not apply when (B) acts as a catalyst.

本発明において、シリカ分散ポリイミド組成物を製造する際、好ましい水の添加量は、アルコキシシラン及び/又はその部分加水分解重縮合物、及びシリカと結合を形成できる官能基を持つアミノ基含有化合物(B)に含まれる総アルコキシシラン基に対して、10モル当量以下であり、より好ましくは3モル当量以下である。なお、ポリイミド溶液および/またはポリアミド酸溶液中に含まれている水によっても、ゾル−ゲル反応は進行するため、水を添加しなくても良い場合もある。   In the present invention, when the silica-dispersed polyimide composition is produced, the preferred amount of water added is alkoxysilane and / or a partially hydrolyzed polycondensate thereof, and an amino group-containing compound having a functional group capable of forming a bond with silica ( It is 10 molar equivalents or less, more preferably 3 molar equivalents or less with respect to the total alkoxysilane groups contained in B). In addition, since the sol-gel reaction proceeds also with water contained in the polyimide solution and / or the polyamic acid solution, it may not be necessary to add water.

本発明において、アルコキシシラン及び/またはその部分加水分解重縮合化合物(A)と、シリカと結合を形成できる官能基を持つアミノ基含有化合物(B)とを、ポリイミド溶液および/またはポリアミド酸溶液中で水の存在下に反応する方法としては、(1)ポリイミド溶液および/またはポリアミド酸溶液に(A)、(B)を同時に添加して攪拌混合させた後に、水と必要に応じて触媒を添加して所定温度で反応させる方法、(2)ポリイミド溶液および/またはポリアミド酸溶液中に(B)を添加して攪拌混合した後に(A)、水と必要に応じて触媒を順次添加して所定温度で反応する方法、(3)ポリイミド溶液および/またはポリアミド酸溶液に(A)を添加した後に(B)、水と必要に応じて触媒を順次添加して所定温度で反応する方法、(4)ポリイミド溶液および/またはポリアミド酸溶液に(A)と水と必要に応じて触媒を添加して、所定温度で一定時間反応させた後に(B)を添加して反応を継続させる方法などが挙げられ、これらどの方法でおこなっても問題ない。   In the present invention, an alkoxysilane and / or its partially hydrolyzed polycondensation compound (A) and an amino group-containing compound (B) having a functional group capable of forming a bond with silica are mixed in a polyimide solution and / or a polyamic acid solution. (1) (A) and (B) are simultaneously added to a polyimide solution and / or a polyamic acid solution and mixed with stirring, and then water and a catalyst are added if necessary. A method of adding and reacting at a predetermined temperature, (2) adding (B) to a polyimide solution and / or a polyamic acid solution, stirring and mixing (A), and then sequentially adding water and a catalyst as necessary. (3) After adding (A) to the polyimide solution and / or the polyamic acid solution (B), water and a catalyst as necessary are sequentially added and reacted at the predetermined temperature. (4) Add (A), water and, if necessary, a catalyst to the polyimide solution and / or polyamic acid solution, react at a predetermined temperature for a certain period of time, and then add (B) to continue the reaction. Any of these methods can be used.

本発明において、好ましいアルコキシシラン類の加水分解・縮重合の反応濃度、温度、時間は、使用するポリイミドおよび/またはポリアミド酸の分子量や、それぞれの条件が相互に関わるため一概には言えない。すなわち、ポリイミドおよび/またはポリアミド酸の分子量が高い場合や、反応濃度の高い場合に、反応温度を高く設定したり、反応時間を長くとり過ぎたりすると、アルコキシシランの縮合に伴って反応生成物の分子量が上がり、高粘度化やゲル化する可能性がある。従って、通常の好ましい反応濃度は、概ね溶液中の固形分の重量%濃度で1〜50%が好ましく、5〜30%がより好ましい。また、好ましい反応温度は1〜100℃であり、より好ましくは20〜60℃であり、反応時間は1〜50時間程度が好ましい。   In the present invention, preferred reaction concentration, temperature, and time for hydrolysis / condensation polymerization of alkoxysilanes cannot be generally described because the molecular weight of polyimide and / or polyamic acid used and the respective conditions are related to each other. That is, when the molecular weight of polyimide and / or polyamic acid is high, or when the reaction concentration is high, if the reaction temperature is set high or the reaction time is excessively long, the reaction product will react with the condensation of alkoxysilane. The molecular weight increases, and there is a possibility of increasing viscosity or gelling. Accordingly, the usual preferable reaction concentration is preferably 1 to 50%, more preferably 5 to 30% in terms of the concentration by weight of the solid content in the solution. Moreover, preferable reaction temperature is 1-100 degreeC, More preferably, it is 20-60 degreeC, and reaction time has a preferable about 1-50 hours.

本発明で使用されるシリカ分散ポリイミド組成物中のシリカ粒子の大きさは、最大粒径が100nm以下であることが好ましく、より好ましくは50nm以下、より更に好ましくは20nm以下である。粒子の大きさが100nmを超えるとシリカ分散ポリイミド組成物から得られるフィルムの透明性が不良になるため、本発明により提供されるポリイミド金属積層体を回路加工後、インナーリードボンダでのチップ実装する際の位置決めが難しくなる可能性がある。シリカ粒子の大きさ及び分散状態は、透過電子顕微鏡(TEM)、原子間力顕微鏡(AFM)観察やX線散乱により確認可能である。また、本発明において、シリカ分散ポリイミド組成物中のシリカは明確な粒子状とならない場合もあるが、100nm以上の大きさでシリカ相が分離することはないと思われる。尚、本発明において、シリカとは、単に二酸化ケイ素のみならず、シラノール基や、アルコキシシリル基を持つケイ素成分も含めることとする。   As for the size of the silica particles in the silica-dispersed polyimide composition used in the present invention, the maximum particle size is preferably 100 nm or less, more preferably 50 nm or less, still more preferably 20 nm or less. If the particle size exceeds 100 nm, the transparency of the film obtained from the silica-dispersed polyimide composition becomes poor. Therefore, after the polyimide metal laminate provided by the present invention is processed, the chip is mounted with an inner lead bonder. Positioning may be difficult. The size and dispersion state of the silica particles can be confirmed by observation with a transmission electron microscope (TEM), an atomic force microscope (AFM), or X-ray scattering. Further, in the present invention, the silica in the silica-dispersed polyimide composition may not be clearly particulate, but it is considered that the silica phase does not separate with a size of 100 nm or more. In the present invention, silica includes not only silicon dioxide but also a silicon component having a silanol group or an alkoxysilyl group.

本発明において、シリカ分散ポリイミド組成物中のシリカ(SiO2)の含有量は、ポリイミド100質量部に対して、好ましくは1〜50質量部、より好ましくは1〜30質量部である。50質量部以下の方が、膜強度を損なうことが少ない。また、1質量部以上含有することで、高温での弾性率、接着性の向上や、寸法安定性への効果が高くなる。ここでいうシリカの含有量とは、ゾル−ゲル反応で生成するシリカの縮合体の含有量であり、ポリイミド組成物の有機成分を空気中800℃で焼成後に残る灰分量を指す。 In the present invention, the content of silica (SiO 2 ) in the silica-dispersed polyimide composition is preferably 1 to 50 parts by mass, more preferably 1 to 30 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the polyimide. When the amount is 50 parts by mass or less, the film strength is less likely to be impaired. Moreover, by containing 1 mass part or more, the effect on the elasticity modulus and adhesiveness in high temperature, and dimensional stability becomes high. The content of silica here is the content of the silica condensate produced by the sol-gel reaction, and refers to the amount of ash remaining after baking the organic component of the polyimide composition at 800 ° C. in air.

本発明において、シリカ分散ポリイミド組成物は、好ましくは下記一般式(2)   In the present invention, the silica-dispersed polyimide composition is preferably the following general formula (2)

Figure 2006021455
Figure 2006021455

(式中、Wは4価の有機基、ZおよびR2はそれぞれ独立して2価の有機基、R1は水素原子、炭化水素基、又は芳香族基であり、Qはシリカと結合することのできる官能基である。mは、0.001以上0.5以下の有理数である)で示される構造を有することが好ましい。 Wherein W is a tetravalent organic group, Z and R2 are each independently a divalent organic group, R1 is a hydrogen atom, a hydrocarbon group or an aromatic group, and Q is bonded to silica. And m is a rational number of 0.001 or more and 0.5 or less.

本発明においては、ポリイミド溶液をシリカ分散ポリイミド組成物が製造される際の出発物質として用いた場合には、シリカ分散ポリイミド組成物が、上記一般式(2)記載のようなポリイミドにシリカが分散したものとなる。これは化合物(B)に含まれるアミノ基がイミド環と反応することによりポリイミド化合物にシリカと結合を形成できる官能基が導入されるためである。その結果シリカとポリイミド間に共有結合あるいは水素結合又はイオン結合などの結合形成が可能となる。イミド環とアミノ基の反応は、固体15N−NMR測定やFT−IR測定により確認できる。 In the present invention, when the polyimide solution is used as a starting material when the silica-dispersed polyimide composition is produced, the silica-dispersed polyimide composition is dispersed in the polyimide as described in the general formula (2). Will be. This is because a functional group capable of forming a bond with silica is introduced into the polyimide compound by the reaction of the amino group contained in the compound (B) with the imide ring. As a result, a bond such as a covalent bond, a hydrogen bond or an ionic bond can be formed between silica and polyimide. The reaction between the imide ring and the amino group can be confirmed by solid 15 N-NMR measurement or FT-IR measurement.

一般式(2)中においてWは、4価の有機基であれば、特に限定はなく、通常ポリイミド原料となるカルボン酸二無水物の残基の部分であり、公知のものである。また、Zは2価の有機基であり、通常ポリイミドの原料となるジアミン残基の部分であり、公知のものである。また更に、R1、R2は、それぞれ1価、2価の有機基であり、アミノ基含有アルコキシシランのアミノ基並びにシラノール基残基、及び/又はシリカと結合を形成することのできる官能基を持つアミノ基含有化合物のアミノ基ならびに、シリカと結合を形成することのできる官能基の残基である。尚、Qが、シラノール基の場合は、分散するシリカ粒子と反応しシロキサン結合となる場合も存在する。また、mは、0.001以上0.5以下の有理数であり、好ましくは0.005以上0.1以下の有理数である。   In general formula (2), W is not particularly limited as long as it is a tetravalent organic group, and is usually a residue of a carboxylic dianhydride residue which is a polyimide raw material, and is a known one. Z is a divalent organic group, which is a part of a diamine residue which is usually a raw material for polyimide, and is a known one. Furthermore, R1 and R2 are monovalent and divalent organic groups, respectively, and have a functional group capable of forming a bond with the amino group and silanol group residue of the amino group-containing alkoxysilane and / or silica. It is a residue of an amino group of an amino group-containing compound and a functional group capable of forming a bond with silica. In addition, when Q is a silanol group, it may react with the dispersed silica particles to form a siloxane bond. Further, m is a rational number of 0.001 or more and 0.5 or less, preferably a rational number of 0.005 or more and 0.1 or less.

本発明のポリイミド金属積層体は、ポリイミド層と金属層を有する積層体であり、該ポリイミド層の少なくとも一層以上が前述のシリカ分散ポリイミド組成物から得られる樹脂層であれば、それ以外は特に制限はない。   The polyimide metal laminate of the present invention is a laminate having a polyimide layer and a metal layer. If at least one of the polyimide layers is a resin layer obtained from the above silica-dispersed polyimide composition, the others are particularly limited. There is no.

本発明のポリイミド金属積層体の具体的製造方法について例を挙げると、アルコキシシランおよび/またはその部分加水分解重縮合物(A)と、シリカと結合を形成できる官能基を持つアミノ基含有化合物(B)とを、ポリイミド溶液および/またはポリアミド酸溶液中で水の存在下反応させ、得られた溶液を金属箔上、もしくは、ポリイミド層の上に塗布、乾燥・キュアしてシリカ分散ポリイミド層を形成することで作製される。この際、シリカ分散ポリイミド層上に、さらにその他のポリイミド層や金属層が積層されてもかまわない。   When an example is given about the specific manufacturing method of the polyimide metal laminated body of this invention, the amino group containing compound (A) which has a functional group which can form a bond with an alkoxysilane and / or its partial hydrolysis polycondensate (A), and a silica ( B) is reacted in the presence of water in a polyimide solution and / or a polyamic acid solution, and the resulting solution is applied onto a metal foil or a polyimide layer, dried and cured to form a silica-dispersed polyimide layer. It is produced by forming. At this time, another polyimide layer or metal layer may be further laminated on the silica-dispersed polyimide layer.

また、シリカ分散ポリイミド層を有するポリイミドフィルムに、金属箔および/またはポリイミド金属積層体を熱圧着することで作製しても良い。この場合にもシリカ分散ポリイミド層上にさらに、ポリイミドや金属層が積層されても構わない。   Moreover, you may produce by thermocompression bonding a metal foil and / or a polyimide metal laminated body to the polyimide film which has a silica dispersion | distribution polyimide layer. In this case, a polyimide or metal layer may be further laminated on the silica-dispersed polyimide layer.

本発明のポリイミド金属積層体において、ポリイミド樹脂層が多層となっている場合、シリカ分散ポリイミド層は、金属箔上に直接積層されても良いし、熱可塑性ポリイミドなどの接着層上に作製されても良く、また、樹脂層の中では何層目でも良く、さらに、何回用いても良い。好ましいシリカ分散ポリイミド樹脂層の位置は、金属箔上、もしくは、金属箔上に作製された熱可塑性ポリイミド層の上である。   In the polyimide metal laminate of the present invention, when the polyimide resin layer is a multilayer, the silica-dispersed polyimide layer may be directly laminated on the metal foil, or formed on an adhesive layer such as thermoplastic polyimide. In the resin layer, any number of layers may be used, and more than one may be used. A preferred position of the silica-dispersed polyimide resin layer is on the metal foil or on the thermoplastic polyimide layer produced on the metal foil.

また、本発明のポリイミド金属積層体は、ポリイミド樹脂層に金属箔層が1層のみ積層された片面板または、金属箔がポリイミド樹脂層の両面に積層された両面板のどちらも包含するものである。   In addition, the polyimide metal laminate of the present invention includes both a single-sided plate in which only one metal foil layer is laminated on a polyimide resin layer or a double-sided plate in which metal foil is laminated on both sides of a polyimide resin layer. is there.

本発明のポリイミド金属積層体を製造する際、ポリイミド溶液及び/またはポリアミド酸溶液を金属箔やポリイミドフィルム等に塗布する方法としては、ダイコーター、コンマコーター、ロールコーター、グラビアコーター、カーテンコーター、スプレーコーター等の公知の方法が採用できる。塗布する厚み、ワニスの粘度等に応じて適宜利用できる。塗布したワニスを乾燥・キュアする方法は、通常の加熱乾燥炉が利用できる。乾燥炉の雰囲気としては、空気、イナートガス(窒素、アルゴン)等が利用できる。乾燥の温度としては、溶媒の沸点により適宜選択するが、60〜600℃の温度範囲が好適に利用される。乾燥の時間は、厚み、濃度、溶媒の種類により適宜選択するが0.05〜500分程度で行なうのが望ましい。   When manufacturing the polyimide metal laminate of the present invention, a polyimide solution and / or a polyamic acid solution is applied to a metal foil, polyimide film, or the like as a die coater, comma coater, roll coater, gravure coater, curtain coater, sprayer. A known method such as a coater can be employed. It can be suitably used depending on the thickness to be applied, the viscosity of the varnish and the like. As a method for drying and curing the applied varnish, a normal heating and drying furnace can be used. As the atmosphere of the drying furnace, air, inert gas (nitrogen, argon) or the like can be used. The drying temperature is appropriately selected depending on the boiling point of the solvent, but a temperature range of 60 to 600 ° C. is preferably used. The drying time is appropriately selected depending on the thickness, concentration, and type of solvent, but is preferably about 0.05 to 500 minutes.

ポリイミドの加熱圧着方法としては、加熱プレス法及び/又は連続ラミネート法が挙げられる。加熱プレス法としては、例えば、プレス機の所定のサイズに切りだした金属箔とポリイミドとを重ね合わせを行ない、加熱プレスにより熱圧着することにより製造できる。   Examples of the thermocompression bonding method of polyimide include a heat press method and / or a continuous laminating method. As a heat press method, it can manufacture, for example, by superimposing the metal foil and polyimide which were cut out to the predetermined size of a press machine, and thermocompression-bonding with a heat press.

連続ラミネート法としては、特に制限は無いが、例えば、ロールとロール間に挟み込み、張り合わせを行なう方法がある。このロールは金属ロール、ゴムロール等が利用できる。材質に制限はないが、金属ロールとしては、鋼材やステンレス材料が使用される。表面にハードクロムメッキ、タングステンカーバイド等の表面硬度を高めた処理ロールを使用することが好ましい。ゴムロールとしては、金属ロールの表面に耐熱性のあるシリコンゴム、フッ素系のゴムを使用することが好ましい。   Although there is no restriction | limiting in particular as a continuous laminating method, For example, there exists the method of pinching and sticking between rolls. As this roll, a metal roll, a rubber roll, or the like can be used. Although there is no restriction | limiting in a material, Steel materials and stainless steel material are used as a metal roll. It is preferable to use a processing roll whose surface hardness is increased such as hard chrome plating or tungsten carbide on the surface. As the rubber roll, it is preferable to use heat-resistant silicon rubber or fluorine-based rubber on the surface of the metal roll.

また、ベルトラミネートと呼ばれる、上下2本の金属ロールを1組とし、それを1組以上直列に配置した上下ロール間に上下2つのシームレスのステンレスベルトを間に配置させ、そのベルトを金属ロールにより加圧し、更に、金属ロールやその他熱源により加熱させることで連続ラミネートしても良い。ラミネート温度としては、200〜400℃の温度範囲で有れば良く、好ましい加熱方式は、伝導加熱方式の他、遠赤外等の輻射加熱方式、誘導加熱方式等も利用できる。   In addition, two upper and lower metal rolls, called belt laminate, are combined into one set, and two or more seamless stainless steel belts are placed between the upper and lower rolls arranged in series. Pressurization and further laminating may be performed by heating with a metal roll or other heat source. The laminating temperature may be in a temperature range of 200 to 400 ° C. A preferable heating method may be a conduction heating method, a radiant heating method such as far infrared, an induction heating method, or the like.

ポリイミド樹脂層が多層となっている場合には、シリカ分散ポリイミド以外に、公知のジアミン化合物と酸二無水物から得られるポリイミドからなる層を用いても良い。これらのポリイミドは、例えば、1,3−ビス(3−アミノフェノキシ)ベンゼン、4,4−ビス(3−アミノフェノキシ)ビフェニル、3,3’−ジアミベンゾフェノン、p−フェニレンジアミン、4,4’−ジアミノジフェニルエーテルから選ばれた1種以上のジアミン、並びに、ピロメリット酸二無水物、3,3’,4,4’−ビフェニルテトラカルボン酸二無水物、3,3’,4,4’−ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物から選ばれた1種以上のテトラカルボン酸二無水物から合成された重縮合物であることが好ましいが、特に限定されない。また、前述のビスマレイミド化合物等を加えたポリイミド層であっても問題なく使用可能である。   When the polyimide resin layer is a multilayer, a layer made of polyimide obtained from a known diamine compound and acid dianhydride may be used in addition to the silica-dispersed polyimide. These polyimides are, for example, 1,3-bis (3-aminophenoxy) benzene, 4,4-bis (3-aminophenoxy) biphenyl, 3,3′-diammibenzophenone, p-phenylenediamine, 4,4 One or more diamines selected from '-diaminodiphenyl ether, and pyromellitic dianhydride, 3,3', 4,4'-biphenyltetracarboxylic dianhydride, 3,3 ', 4,4' -A polycondensate synthesized from one or more tetracarboxylic dianhydrides selected from benzophenone tetracarboxylic dianhydrides is preferred, but not particularly limited. Further, even a polyimide layer to which the aforementioned bismaleimide compound or the like is added can be used without any problem.

また、その他のポリイミド層には、市販のポリイミドフィルムなどを使用しても良い。例えば、Upilex(登録商標)S、Upilex(登録商標)SGA、Upilex(登録商標)SN(宇部興産株式会社製、商品名)、Kapton(登録商標)H、Kapton(登録商標)V、Kapton(登録商標)EN(東レ・デュポン株式会社製、商品名)、Apical(登録商標)AH、Apical(登録商標)NPI、Apical(登録商標)HP(鐘淵化学工業株式会社製、商品名)等が挙げられる。これらのポリイミドフィルムは、表面をプラズマ処理、コロナ放電処理等を施したものでも問題なく使用可能である。   Moreover, you may use a commercially available polyimide film etc. for another polyimide layer. For example, Upilex (registered trademark) S, Upilex (registered trademark) SGA, Upilex (registered trademark) SN (trade name, manufactured by Ube Industries, Ltd.), Kapton (registered trademark) H, Kapton (registered trademark) V, Kapton (registered) Trademarks) EN (trade name, manufactured by Toray DuPont Co., Ltd.), Apical (registered trademark) AH, Apical (registered trademark) NPI, Apical (registered trademark) HP (trade name, manufactured by Kaneka Chemical Co., Ltd.), etc. It is done. These polyimide films can be used without any problems even if the surface is subjected to plasma treatment, corona discharge treatment or the like.

本発明のポリイミド金属積層体において、使用する金属としては、フレキシブル配線板として使用する場合に使用される金属であれば特に制限なく使用可能であり、好ましい例として銅、ニッケル、コバルト、クロム、亜鉛、アルミニウム及びステンレス鋼、並びにそれらの合金からなる群から選ばれた少なくとも一種の金属を挙げることができ、より好ましくは、銅及び銅合金、ステンレス鋼及びその合金、ニッケル及びニッケル合金(42合金も含む)、アルミニウム及びアルミニウム合金等である。さらに好ましくは銅及び銅合金である。   In the polyimide metal laminate of the present invention, the metal to be used can be used without particular limitation as long as it is a metal used when used as a flexible wiring board. Preferred examples include copper, nickel, cobalt, chromium and zinc. And at least one metal selected from the group consisting of aluminum and stainless steel, and alloys thereof, more preferably copper and copper alloys, stainless steel and alloys thereof, nickel and nickel alloys (42 alloys also) Including aluminum) and aluminum alloys. More preferred are copper and copper alloys.

本発明のポリイミド金属積層体において、金属箔の厚みは、テープ状に利用できる厚みであれば制限はないが、0.1〜150μmが好ましく、好ましくは2μm以上105μm以下であり、更に好ましくは3μm以上35μm以下の中から適宜選択でき、例えば、ファインパターンの配線加工を必要とする用途には薄い箔を、剛性が必要な配線や大電流用途には厚い箔を適宜使用できる。   In the polyimide metal laminate of the present invention, the thickness of the metal foil is not limited as long as it can be used in a tape shape, but is preferably 0.1 to 150 μm, preferably 2 to 105 μm, and more preferably 3 μm. For example, a thin foil can be appropriately used for applications that require fine pattern wiring processing, and a thick foil can be appropriately used for wiring that requires rigidity and high current applications.

本発明のポリイミド金属積層体において、カールや寸法安定性のバランスを考慮するとポリイミド層は1層以上あることが好ましく、より好ましくは2層、より更に好ましくは3層以上である。   In the polyimide metal laminate of the present invention, when considering the balance between curl and dimensional stability, the polyimide layer is preferably 1 layer or more, more preferably 2 layers, and still more preferably 3 layers or more.

ここで、本発明のポリイミド金属積層体のポリイミド層が3層以上形成する場合の好ましい態様を示すと、金属に接する1層目に用いるポリイミドは熱可塑性ポリイミドであることが好ましい。その厚さは0.1以上10μm以下であることが好ましく、更に好ましくは0.2以上5μm以下であり、またガラス転移温度は150℃以上350℃未満であることが好ましく、より好ましくは150℃以上300℃以下であり、また、100〜200℃の平均線膨張係数が20以上70ppm/℃以下であることが好ましい。   Here, when the preferable aspect in case the polyimide layer of the polyimide metal laminated body of this invention forms three or more layers is shown, it is preferable that the polyimide used for the 1st layer which touches a metal is a thermoplastic polyimide. The thickness is preferably 0.1 or more and 10 μm or less, more preferably 0.2 or more and 5 μm or less, and the glass transition temperature is preferably 150 ° C. or more and less than 350 ° C., more preferably 150 ° C. The average linear expansion coefficient at 100 to 200 ° C. is preferably 20 or more and 70 ppm / ° C. or less.

次に2層目に用いるポリイミドは非熱可塑性ポリイミドであることが好ましく、その厚さは1以上250μm以下が好ましく、更に好ましくは4以上50μm以下、より更に好ましくは5以上40μm以下である。またガラス転移温度は300℃以上、又はガラス転移温度が無いものが好ましく、更に100〜200℃の平均線膨張係数が5以上30ppm/℃以下であることが好ましく、より好ましくは5以上20ppm/℃以下であることが好ましい。   Next, the polyimide used in the second layer is preferably a non-thermoplastic polyimide, and the thickness is preferably 1 or more and 250 μm or less, more preferably 4 or more and 50 μm or less, and still more preferably 5 or more and 40 μm or less. The glass transition temperature is preferably 300 ° C. or higher, or preferably has no glass transition temperature, and the average linear expansion coefficient at 100 to 200 ° C. is preferably 5 to 30 ppm / ° C., more preferably 5 to 20 ppm / ° C. The following is preferable.

3層目のポリイミド層は、金属層が片側1層の場合は非熱可塑性ポリイミドであることが好ましく、その厚さは0以上10μm以下が好ましく、更に好ましくは0.5以上5μm以下であり、ガラス転移温度が300℃以上又はガラス転移温度が無いものが好ましい。また、100〜200℃の平均線膨張係数が10以上60ppm/℃以下であることが好ましく、より好ましくは20以上40ppm/℃以下である。   The third polyimide layer is preferably non-thermoplastic polyimide when the metal layer is one layer on one side, and preferably has a thickness of 0 to 10 μm, more preferably 0.5 to 5 μm, Those having a glass transition temperature of 300 ° C. or higher or no glass transition temperature are preferred. Moreover, it is preferable that the average linear expansion coefficient of 100-200 degreeC is 10 or more and 60 ppm / degrees C or less, More preferably, it is 20 or more and 40 ppm / degrees C or less.

また、金属層が両面にある場合は、3層目のポリイミドは熱可塑性ポリイミドであることが好ましく、その厚さは0.1以上10μm以下であることが好ましく、更に好ましくは0.5以上8μm以下である。そのガラス転移温度は150℃以上350℃未満であることが好ましく、より好ましくは150℃以上300℃以下であり、また、100〜200℃の平均線膨張係数が20以上70ppm/℃以下であることが望まれる。   When the metal layer is on both sides, the third layer of polyimide is preferably thermoplastic polyimide, and the thickness is preferably 0.1 to 10 μm, more preferably 0.5 to 8 μm. It is as follows. The glass transition temperature is preferably 150 ° C. or higher and lower than 350 ° C., more preferably 150 ° C. or higher and 300 ° C. or lower, and the average linear expansion coefficient at 100 to 200 ° C. is 20 or higher and 70 ppm / ° C. or lower. Is desired.

本発明に用いるシリカ分散ポリイミドは、高温での弾性率、寸法安定性(低線膨張率)、透明性および無機化合物基板との密着性に優れている。このため、ポリイミド金属積層体のポリイミド層にこの樹脂を用いた層を少なくとも一層以上有することで、高温、高圧でのチップ実装時にも、ポリイミド樹脂層の変形が少なく、配線ずれや、沈み込み、剥離、メッキの染み込みなどの問題が起こらなくなるという顕著な効果を有するものである。また、本発明に用いるシリカ分散ポリイミド樹脂において、用いられるポリイミドの結晶性が低い場合においても、高温での弾性率、寸法安定性をシリカとの複合化により改善できるため、シリカ分散ポリイミド樹脂においては、乾燥性も良く、生産性を低下しないという効果も有する。   The silica-dispersed polyimide used in the present invention is excellent in elastic modulus at high temperature, dimensional stability (low linear expansion coefficient), transparency, and adhesion to an inorganic compound substrate. For this reason, by having at least one layer using this resin in the polyimide layer of the polyimide metal laminate, there is little deformation of the polyimide resin layer even during chip mounting at high temperature and high pressure, wiring displacement and sinking, This has a remarkable effect that problems such as peeling and plating penetration do not occur. In addition, in the silica-dispersed polyimide resin used in the present invention, even when the crystallinity of the polyimide used is low, the elastic modulus at high temperature and the dimensional stability can be improved by compounding with silica. Also, the drying property is good and the productivity is not lowered.

本発明のポリイミド金属積層体をTABテープ加工ラインで広く使用されているCOF用として使用する場合、ポリイミド層中の少なくとも一層を形成するシリカ分散ポリイミド層をフィルムで用いる際、高温での弾性率が以下のようになっていると、本発明における効果を得やすく、好ましい。すなわち、Au−Sn接合や、Au−Au接合に用いられる実装温度に近い温度での貯蔵弾性率E’が0.3GPa以上30GPa以下であることが好ましく、より好ましくは0.5GPa以上15GPa以下、より更に好ましくは0.8GPa以上10GPa以下である。実装温度に近い温度とは、250℃以上500℃以下、好ましくは300℃以上450℃以下、より好ましくは350℃以上450℃以下である。   When the polyimide metal laminate of the present invention is used for COF widely used in a TAB tape processing line, when a silica-dispersed polyimide layer forming at least one layer in the polyimide layer is used as a film, the elastic modulus at high temperature is The following is preferable because the effects of the present invention can be easily obtained. That is, the storage elastic modulus E ′ at a temperature close to the mounting temperature used for Au—Sn bonding or Au—Au bonding is preferably 0.3 GPa to 30 GPa, more preferably 0.5 GPa to 15 GPa. More preferably, it is 0.8 GPa or more and 10 GPa or less. The temperature close to the mounting temperature is 250 to 500 ° C., preferably 300 to 450 ° C., more preferably 350 to 450 ° C.

本発明のポリイミド金属積層体は、シリカ分散ポリイミド層が透明であるため、回路加工後、ポリイミド層の金属が積層されない面から金属配線を画像認識でき、インナーリードボンダでのチップ実装時の位置決めが可能となる。   In the polyimide metal laminate of the present invention, since the silica-dispersed polyimide layer is transparent, the metal wiring of the polyimide layer can be image-recognized from the surface on which the metal of the polyimide layer is not laminated after circuit processing, and positioning during chip mounting with the inner lead bonder is possible. It becomes possible.

本発明のポリイミド金属積層体は、金属箔を使用するためピンホールがなく、高温での弾性率、寸法安定性、透明性および無機化合物基板との密着性に優れたシリカ分散ポリイミド層を有しているため、Au−Au接合、あるいはAu−Sn接合によるチップ実装でも、配線ずれや、沈み込み、剥離、メッキの染み込みなどの問題が起こらない。   Since the polyimide metal laminate of the present invention uses a metal foil, it has no pinhole, and has a silica-dispersed polyimide layer excellent in elastic modulus at high temperature, dimensional stability, transparency, and adhesion to an inorganic compound substrate. Therefore, problems such as wiring misalignment, sinking, peeling, and plating penetration do not occur even in chip mounting by Au—Au bonding or Au—Sn bonding.

以下、本発明を実施例によりさらに詳細に説明するが、本発明はこれにより何等制限されるものではない。なお、実地例中の略語は以下のものを意味する。また、実施例中の各評価は下記のように行った。
DMAc:ジメチルアセトアミド
NMP:N−メチル−2−ピロリドン
TMOS:テトラメトキシシラン
APTMOS:アミノプロピルトリメトキシシラン
APB:1,3−ビス(3−アミノフェノキシ)ベンゼン
m−BP:4,4’−(3−アミノフェノキシ)ビフェニル
ODA:4,4’−オキシジアニリン(4,4’−ジアミノジフェニルエーテル)
PPD:p−フェニレンジアミン
BTDA:3,3’,4,4’−ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物
BPDA:3,3’,4,4’−ビフェニルテトラカルボン酸二無水物
PMDA:無水ピロメリット酸
APB−BMI:1,3−ビス(3−マレイミドフェノキシ)ベンゼン
EXAMPLES Hereinafter, although an Example demonstrates this invention further in detail, this invention is not restrict | limited at all by this. In addition, the abbreviation in a practical example means the following. Moreover, each evaluation in an Example was performed as follows.
DMAc: dimethylacetamide NMP: N-methyl-2-pyrrolidone TMOS: tetramethoxysilane APTMOS: aminopropyltrimethoxysilane APB: 1,3-bis (3-aminophenoxy) benzene m-BP: 4,4 ′-(3 -Aminophenoxy) biphenyl ODA: 4,4'-oxydianiline (4,4'-diaminodiphenyl ether)
PPD: p-phenylenediamine BTDA: 3,3 ′, 4,4′-benzophenone tetracarboxylic dianhydride BPDA: 3,3 ′, 4,4′-biphenyltetracarboxylic dianhydride PMDA: pyromellitic anhydride APB-BMI: 1,3-bis (3-maleimidophenoxy) benzene

(ICチップ実装評価方法)
ポリイミド金属積層体を公知技術にて、ICチップ(日立超LSI社製TEGチップ Phase6-50、チップ厚さ550μm、50μmピッチAuメッキバンプ、バンプサイズ:30μm高さ、100μm長さ、25μm幅)に合わせるように回路加工を行い、シンプレイファーイースト社製、無電解すずメッキ処理液(型番:LT−34)にて70℃×3分間処理後、十分水洗し、100〜130℃の乾燥機で1〜2時間乾燥し、フレキシブルプリント配線板を得た。その後、フレキシブルプリント配線板の回路とICチップとの位置合わせを行い、温度350〜450℃、圧力100〜150MPa、時間1〜3secの条件でICチップとフレキシブルプリント基板を加熱圧着した。その後、平面観察によりポリイミド側からICチップが実装された配線部分を1250倍の光学顕微鏡にて配線のズレやメッキのすずがポリイミドと金属箔界面に染込みがないか確認し、更に、断面観察により配線の変形、ICチップの沈み込み、および配線の剥離の有無を1250倍の光学顕微鏡にて確認した。
(IC chip mounting evaluation method)
Using a known technique, the polyimide metal laminate is formed into an IC chip (TEG chip Phase 6-50 manufactured by Hitachi Ultra LSI Co., chip thickness: 550 μm, 50 μm pitch Au plated bump, bump size: 30 μm height, 100 μm length, 25 μm width). Circuit processing is performed so that they match, and after treatment with an electroless tin plating solution (model number: LT-34) manufactured by Shinplay Far East Co., Ltd. at 70 ° C. for 3 minutes, thoroughly washed with water and dried at 100 to 130 ° C. It dried for 1-2 hours and obtained the flexible printed wiring board. Thereafter, the circuit of the flexible printed wiring board and the IC chip were aligned, and the IC chip and the flexible printed circuit board were thermocompression bonded under conditions of a temperature of 350 to 450 ° C., a pressure of 100 to 150 MPa, and a time of 1 to 3 seconds. After that, the wiring part where the IC chip was mounted from the polyimide side was confirmed by planar observation with an optical microscope of 1250 times to check whether the wiring misalignment or tin plating did not penetrate the polyimide and metal foil interface, and further cross-sectional observation As a result, the deformation of the wiring, the sinking of the IC chip, and the presence or absence of peeling of the wiring were confirmed with an optical microscope of 1250 times.

(シリカ含有量測定:熱重量測定)
ポリイミド/シリカフィルムの熱重量測定を、熱重量測定装置(TGA−50、島津製作所(株)製)によって、30〜800℃の範囲で行い、800℃での焼成後に残った灰分量から、シリカ含有量を算出した。
(Silica content measurement: thermogravimetry)
The thermogravimetry of the polyimide / silica film is performed in the range of 30 to 800 ° C. with a thermogravimetry device (TGA-50, manufactured by Shimadzu Corporation), and the silica content is determined from the amount of ash remaining after baking at 800 ° C. The content was calculated.

(粘弾性測定:450℃での貯蔵弾性率の測定)
弾性率の評価はレオメトリックス社製RSA−IIを使用して、引張変形モードにおける温度分散測定を実施した。測定には、温度範囲30〜500℃、昇温速度3℃/min、Auto−Strain制御下、歪み0.02%、周波数1Hzの条件を用いた。また、試料の寸法は、長さ20mm、幅5mmのものを用い、450℃での貯蔵弾性率E’を求めた。
(Viscoelasticity measurement: measurement of storage modulus at 450 ° C)
The elastic modulus was evaluated by measuring temperature dispersion in the tensile deformation mode using RSA-II manufactured by Rheometrics. The measurement was performed under the conditions of a temperature range of 30 to 500 ° C., a temperature increase rate of 3 ° C./min, an Auto-Strain control, a strain of 0.02%, and a frequency of 1 Hz. Further, the sample dimensions were 20 mm in length and 5 mm in width, and the storage elastic modulus E ′ at 450 ° C. was obtained.

(線膨張率測定)
熱機械分析計(TMA−50、島津製作所製)を用いて、フィルムの両端に一定の荷重をかけ、温度を変化させた際の伸び(縮み)を測定する引っ張り法により、線膨張率を求めた。この際、100〜200℃の範囲、および380〜430℃の範囲で測定を行い、それぞれの平均の線膨張率をα1、α2とした。
(Measurement of linear expansion coefficient)
Using a thermomechanical analyzer (TMA-50, manufactured by Shimadzu Corporation), the linear expansion coefficient is obtained by a tensile method in which a constant load is applied to both ends of the film and the elongation (shrinkage) when the temperature is changed is measured. It was. Under the present circumstances, it measured in the range of 100-200 degreeC, and the range of 380-430 degreeC, and each average linear expansion coefficient was set to (alpha) 1 and (alpha) 2.

合成例1
撹拌機および窒素導入管を備えた容器に、溶媒としてDMAc1532.4gを加え、これにAPB130.0gを加え、溶解するまで室温にて撹拌を行った。その後、BTDA322.22gを加え、50〜60℃において約4時間撹拌を行い、ポリアミック酸溶液を得た。得られたポリアミック酸溶液はポリアミック酸の含有率が15重量%であり、25℃でのE型粘度は500mPa・sであった。
Synthesis example 1
To a vessel equipped with a stirrer and a nitrogen introducing tube, DMAc 1532.4 g was added as a solvent, 130.0 g of APB was added thereto, and the mixture was stirred at room temperature until dissolved. Thereafter, 322.22 g of BTDA was added, and the mixture was stirred at 50 to 60 ° C. for about 4 hours to obtain a polyamic acid solution. The obtained polyamic acid solution had a polyamic acid content of 15% by weight and an E-type viscosity at 25 ° C. of 500 mPa · s.

合成例2
撹拌機および窒素導入管を備えた容器に、溶媒としてDMAc261.0gを加え、これにODA20.44g、m−BP16.12gを加え20〜30℃で撹拌して溶解させた。その後、PMDA30.84gを加え、11.0gのDMAcでフラスコ内部に付着した原料を洗い落とし、50〜60℃に加熱し約1時間撹拌を行った後、さらに、PMDA0.44gを加え60℃に温度を保ちながら約4時間撹拌を行い、(A)ワニスを得た。次に、別の撹拌機および窒素導入管を備えた容器に、溶媒としてNMP263.0gを加え、PPD19.62gを加え20〜30℃で撹拌して溶解させた。その後、BPDA37.0g、PMDA11.06gを加え、10.0gのNMPにてフラスコ内部に付着した原料を洗い落とし、50〜60℃に加熱し約4時間撹拌を行い、(B)ワニスを得た。最後に、別の撹拌機および窒素導入管を備えた容器に、(B)ワニスと(A)ワニスを93:7の重量比で混合し50〜60℃に加熱し約4時間撹拌を行い、ポリアミック酸溶液とした。得られたポリアミック酸溶液はポリアミック酸の含有率が20重量%であり、25℃でのE型粘度は30000mPa・sであった。尚、このポリアミド酸から得られるポリイミドフィルムの線膨張係数は、10ppm/℃であった。
Synthesis example 2
DMAc261.0g was added as a solvent to the container provided with the stirrer and the nitrogen introducing tube, ODA 20.44g and m-BP16.12g were added to this, and it stirred at 20-30 degreeC, and was dissolved. Thereafter, 30.84 g of PMDA was added and the material adhering to the inside of the flask was washed off with 11.0 g of DMAc, heated to 50 to 60 ° C. and stirred for about 1 hour, and then 0.44 g of PMDA was added and the temperature was raised to 60 ° C. The mixture was stirred for about 4 hours while keeping (A) varnish. Next, 263.0 g of NMP was added as a solvent to a container equipped with another stirrer and a nitrogen introduction tube, 19.62 g of PPD was added, and the mixture was stirred and dissolved at 20 to 30 ° C. Thereafter, 37.0 g of BPDA and 11.06 g of PMDA were added, and the raw material adhering to the inside of the flask was washed off with 10.0 g of NMP, heated to 50 to 60 ° C. and stirred for about 4 hours to obtain (B) varnish. Finally, in a container equipped with another stirrer and a nitrogen introduction tube, (B) varnish and (A) varnish are mixed at a weight ratio of 93: 7, heated to 50-60 ° C. and stirred for about 4 hours, A polyamic acid solution was obtained. The obtained polyamic acid solution had a polyamic acid content of 20% by weight and an E-type viscosity at 25 ° C. of 30000 mPa · s. The linear expansion coefficient of the polyimide film obtained from this polyamic acid was 10 ppm / ° C.

合成例3
合成例2で得られたポリアミック酸をNMPで15重量%に希釈後、18gを100mlの反応容器に装入し、TMOS(1.245g)、水(0.631g)を加え、60℃で1時間反応させた。次いで、アミノ基含有アルコキシシランAPTMOS(0.138g)を加え、60℃で5時間反応させ、シリカ分散ポリアミド酸組成物のワニスを得た。なお、TMOS、APTMOS、水は、NMPで50重量%に希釈して加えた。
Synthesis example 3
After diluting the polyamic acid obtained in Synthesis Example 2 to 15% by weight with NMP, 18 g was charged into a 100 ml reaction vessel, and TMOS (1.245 g) and water (0.631 g) were added, and 1 at 60 ° C. Reacted for hours. Subsequently, amino group-containing alkoxysilane APTMOS (0.138 g) was added and reacted at 60 ° C. for 5 hours to obtain a varnish of a silica-dispersed polyamic acid composition. TMOS, APTMOS, and water were diluted with NMP to 50% by weight and added.

合成例4
撹拌機および窒素導入管を備えた容器に、溶媒としてDMAc1777.46gを加え、これにODA80.0g、APB50.06gを加え、溶解するまで室温にて撹拌を行った。その後、PMDA123.87gを加え、50〜60℃において約4時間撹拌を行い、さらに、APB−BMI28.21g添加し約12時間攪拌を行い、ポリアミック酸溶液を得た。得られたポリアミック酸溶液はポリアミック酸の含有率が12.5重量%であり、25℃でのE型粘度は1000mPa・sであった。
Synthesis example 4
To a container equipped with a stirrer and a nitrogen introduction tube, DMAc 1777.46 g was added as a solvent, ODA 80.0 g and APB 50.06 g were added thereto, and the mixture was stirred at room temperature until dissolved. Thereafter, 123.87 g of PMDA was added and stirred for about 4 hours at 50 to 60 ° C., and further 28.21 g of APB-BMI was added and stirred for about 12 hours to obtain a polyamic acid solution. The resulting polyamic acid solution had a polyamic acid content of 12.5% by weight, and an E-type viscosity at 25 ° C. of 1000 mPa · s.

合成例5
撹拌機および窒素導入管を備えた容器に、溶媒としてDMAc1777.46gを加え、これにODA80.0g、APB50.06gを加え、溶解するまで室温にて撹拌を行った。その後、PMDA123.87gを加え、50〜60℃において約16時間撹拌を行い、ポリアミック酸溶液を得た。得られたポリアミック酸溶液はポリアミック酸の含有率が12.5重量%であり、25℃でのE型粘度は1000mPa・sであった。
Synthesis example 5
To a container equipped with a stirrer and a nitrogen introduction tube, DMAc 1777.46 g was added as a solvent, ODA 80.0 g and APB 50.06 g were added thereto, and the mixture was stirred at room temperature until dissolved. Thereafter, 123.87 g of PMDA was added, and the mixture was stirred at 50 to 60 ° C. for about 16 hours to obtain a polyamic acid solution. The resulting polyamic acid solution had a polyamic acid content of 12.5% by weight, and an E-type viscosity at 25 ° C. of 1000 mPa · s.

実施例1
合成例2で製造されたポリアミド酸/NMP溶液(ポリアミド酸15重量%)18gを100mlの反応容器に装入し、TMOS(1.245g)、水(0.631g)を加え、60℃で1時間反応させた。次いで、アミノ基含有アルコキシシランであるAPTMOS(0.138g)を加え、60℃で5時間反応させ、シリカ分散ポリアミド酸組成物の溶液を得た。なお、TMOS、APTMOS、水は、NMPで50重量%に希釈して加えた。
Example 1
18 g of the polyamic acid / NMP solution (polyamic acid 15 wt%) produced in Synthesis Example 2 was charged into a 100 ml reaction vessel, and TMOS (1.245 g) and water (0.631 g) were added. Reacted for hours. Next, APTMOS (0.138 g) which is an amino group-containing alkoxysilane was added and reacted at 60 ° C. for 5 hours to obtain a solution of a silica-dispersed polyamic acid composition. TMOS, APTMOS, and water were diluted with NMP to 50% by weight and added.

得られたポリアミド酸溶液を銅箔上に乾燥膜厚がおよそ15μmとなるようにベーカーアプリケーターを用いて塗布し、イナートオーブンを用いて、窒素雰囲気下で50℃から180℃まで、昇温速度3℃/分で乾燥させた。次いで、IRリフロー炉を用いて280℃から380℃まで熱処理を行い、ポリイミド金属積層体を得た。得られた積層体の銅箔を塩化第二鉄溶液(40ボーメ)をスプレー式ノズルから噴出させる方式で、金属箔が完全になくなるまで数分程度処理し、水洗後、60℃で真空乾燥し、ポリイミドフィルムを得た。得られたフィルムの各物性を表1、2に示す。   The obtained polyamic acid solution was applied onto a copper foil using a baker applicator so that the dry film thickness was about 15 μm, and the temperature was increased from 50 ° C. to 180 ° C. under a nitrogen atmosphere using an inert oven. Dry at ° C / min. Next, heat treatment was performed from 280 ° C. to 380 ° C. using an IR reflow furnace to obtain a polyimide metal laminate. The copper foil of the resulting laminate is treated by spraying a ferric chloride solution (40 Baume) from a spray-type nozzle for several minutes until the metal foil is completely removed, washed with water, and then vacuum dried at 60 ° C. A polyimide film was obtained. The physical properties of the obtained film are shown in Tables 1 and 2.

実施例2〜4
表1に示す条件で実施例1と同様に反応を行った。また、表1に示す条件で反応させた溶液から、実施例1と同様な方法でポリイミド金属積層体を得た。得られたポリイミド金属積層体から、実施例1と同様な方法でフィルムを作製した。フィルムの諸物性については表1,2に示す。
Examples 2-4
The reaction was performed in the same manner as in Example 1 under the conditions shown in Table 1. Further, a polyimide metal laminate was obtained from the solution reacted under the conditions shown in Table 1 in the same manner as in Example 1. A film was produced from the obtained polyimide metal laminate by the same method as in Example 1. The physical properties of the film are shown in Tables 1 and 2.

比較例1,2
表1に示す条件に変更した以外は、実施例1と同様な方法でポリイミド金属積層体を得た。得られたポリイミド金属積層体から、実施例1と同様な方法でフィルムを作製した。フィルムの諸物性については表1,2に示す。
Comparative Examples 1 and 2
A polyimide metal laminate was obtained in the same manner as in Example 1 except that the conditions were changed to those shown in Table 1. A film was produced from the obtained polyimide metal laminate by the same method as in Example 1. The physical properties of the film are shown in Tables 1 and 2.

比較例3
コロイダルシリカ/DMAc溶液(シリカ20重量%)2.690gを合成例1のポリアミド酸/NMP溶液(ポリアミド酸15重量%)18gに加え、60℃で、5時間攪拌し、ポリアミド酸組成物の溶液を得た。得られたポリアミド酸溶液から実施例1と同様な方法でポリイミド金属積層体を得た。得られたポリイミド金属積層体から、実施例1と同様な方法でフィルムを作製した。フィルムの諸物性については表1,2に示す。
Comparative Example 3
2.690 g of colloidal silica / DMAc solution (silica 20% by weight) is added to 18 g of the polyamic acid / NMP solution (polyamic acid 15% by weight) of Synthesis Example 1 and stirred at 60 ° C. for 5 hours to obtain a solution of the polyamic acid composition. Got. A polyimide metal laminate was obtained from the obtained polyamic acid solution in the same manner as in Example 1. A film was produced from the obtained polyimide metal laminate by the same method as in Example 1. The physical properties of the film are shown in Tables 1 and 2.

(粒子サイズの測定)
実施例1、2、比較例2、3で得られたシリカ分散ポリイミドフィルムのTEM観察を行い、シリカの分散状態を観察した。なお、TEM観察は以下の条件で行った。作製したポリイミドフィルムをエポキシ樹脂で包埋後、ガラスナイフでトリミングを行い、その後ダイヤモンドナイフで超薄切片を作製した。作製した超薄切片にカーボン補強を施し、透過電子顕微鏡(TEM)(H−7000、日立製作所製)を用いて、加速電圧75kVにて観察した。
(Measurement of particle size)
The silica-dispersed polyimide films obtained in Examples 1 and 2 and Comparative Examples 2 and 3 were observed with a TEM to observe the dispersed state of silica. The TEM observation was performed under the following conditions. The prepared polyimide film was embedded with an epoxy resin, trimmed with a glass knife, and then an ultrathin section was prepared with a diamond knife. The prepared ultrathin slice was carbon-reinforced and observed using a transmission electron microscope (TEM) (H-7000, manufactured by Hitachi, Ltd.) at an acceleration voltage of 75 kV.

TEM観察の結果、実施例1、2のフィルムでは、明確なシリカ粒子は観察されず、5〜25nmの大きさのシリカ相が観察され、シリカが均一に分散していることがわかった。一方、比較例2においては、粒径が1μm以上の粒子が多数観察された。また、比較例3では、1次粒子径は10〜20nmのシリカ粒子であったが、それらは凝集しており、分散状態が不良であった。   As a result of TEM observation, in the films of Examples 1 and 2, clear silica particles were not observed, and a silica phase having a size of 5 to 25 nm was observed, and it was found that silica was uniformly dispersed. On the other hand, in Comparative Example 2, many particles having a particle size of 1 μm or more were observed. In Comparative Example 3, the primary particle diameter was 10 to 20 nm silica particles, but they were agglomerated and the dispersion state was poor.

(光線透過率の測定)
紫外可視分光光度計(UV2200、島津製作所(株)製)を用いて、表2に示した厚さのフィルムの透過率を測定し、波長500〜800nmの平均値を光線透過率とした。膜厚がもっとも厚いにも関わらず、実施例1の光線透過率がもっとも高かった。
(Measurement of light transmittance)
Using a UV-visible spectrophotometer (UV2200, manufactured by Shimadzu Corporation), the transmittance of the film having the thickness shown in Table 2 was measured, and the average value of the wavelength of 500 to 800 nm was defined as the light transmittance. Despite the thickest film thickness, the light transmittance of Example 1 was the highest.

Figure 2006021455
Figure 2006021455

Figure 2006021455
Figure 2006021455

実施例5
合成例5で製造されたポリアミド酸/DMAc溶液をポリアミド酸20重量%に濃縮後、50gを100mlの反応容器に装入し、TMOS(3.60g)、アミノ基含有アルコキシシランであるAPTMOS(0.40g)を加え攪拌後、水(1.83g)を加え、60℃で5時間反応させ、シリカ分散ポリアミド酸組成物の溶液を得た。なお、TMOS、APTMOS、水は、NMPで50重量%に希釈して加えた。
Example 5
After concentrating the polyamic acid / DMAc solution prepared in Synthesis Example 5 to 20% by weight of polyamic acid, 50 g was charged into a 100 ml reaction vessel, and TMOS (3.60 g), APTMOS (0 group amino-containing alkoxysilane) (0 .40 g) was added and stirred, and then water (1.83 g) was added and reacted at 60 ° C. for 5 hours to obtain a silica-dispersed polyamic acid composition solution. TMOS, APTMOS, and water were diluted with NMP to 50% by weight and added.

得られたポリアミド酸溶液から、実施例1と同様な方法でポリイミド金属積層体を得た。得られたポリイミド金属積層体から、実施例1と同様な方法でフィルムを作製した。フィルムの諸物性について表3に示す。   From the obtained polyamic acid solution, a polyimide metal laminate was obtained in the same manner as in Example 1. A film was produced from the obtained polyimide metal laminate by the same method as in Example 1. Table 3 shows various physical properties of the film.

比較例4
合成例4のポリアミド酸溶液を、実施例1と同様な方法で、銅箔上にキャストし、ポリイミド金属積層体を得た。得られたポリイミド金属積層体から、実施例1と同様な方法でフィルムを作製した。フィルムの諸物性について表3に示す。
Comparative Example 4
The polyamic acid solution of Synthesis Example 4 was cast on a copper foil in the same manner as in Example 1 to obtain a polyimide metal laminate. A film was produced from the obtained polyimide metal laminate by the same method as in Example 1. Table 3 shows various physical properties of the film.

Figure 2006021455
Figure 2006021455

実施例6
市販の銅箔(古河サーキットフォイル(株)製、商品名:F0−WS、厚さ9μm)の金属箔に、合成例4で調製したワニスをロールコーターにて乾燥後の厚さが0.5μm程度になるように塗布し、80〜100℃1分乾燥後、引き続き合成例3で調製したワニスをコンマコーターにより乾燥後の厚さが約9μmになるように塗布し、115〜130℃2分乾燥後、引き続き合成例1のワニスをロールコーターにて乾燥後の厚さが4μmになるように塗布し、80〜100℃で1分、その後150℃〜230℃でエアーフロート方式の乾燥炉にて乾燥を行い、さらに280℃〜380℃で窒素雰囲気下の炉にて熱処理を行うことで積層体を得た。
Example 6
The thickness after drying the varnish prepared in Synthesis Example 4 with a roll coater to a metal foil of a commercially available copper foil (Furukawa Circuit Foil Co., Ltd., trade name: F0-WS, thickness 9 μm) is 0.5 μm. After coating at 80 to 100 ° C. for 1 minute, the varnish prepared in Synthesis Example 3 was subsequently applied with a comma coater so that the thickness after drying was about 9 μm, and 115 to 130 ° C. for 2 minutes. After drying, the varnish of Synthesis Example 1 was subsequently applied with a roll coater so that the thickness after drying was 4 μm, and then dried at 80 to 100 ° C. for 1 minute and then at 150 to 230 ° C. in an air float type drying furnace. The laminate was obtained by drying and further heat-treating at 280 ° C. to 380 ° C. in a furnace in a nitrogen atmosphere.

その後、該積層体のポリイミド面に、市販のポリイミドフィルム(東レ・デュポン(株)製、商品名:カプトン100EN、厚さ25μm)を積層し、260℃×2.5MPaで15分加熱圧着し、その後、窒素雰囲気下350℃で加熱処理を行い、ポリイミド金属積層体を得た。   Thereafter, a commercially available polyimide film (manufactured by Toray DuPont Co., Ltd., trade name: Kapton 100EN, thickness 25 μm) is laminated on the polyimide surface of the laminate, and thermocompression bonded at 260 ° C. × 2.5 MPa for 15 minutes, Thereafter, heat treatment was performed at 350 ° C. in a nitrogen atmosphere to obtain a polyimide metal laminate.

その後、ICチップ実装評価の結果、配線のズレやすずの染込みは無く、また、断面観察からも配線の変形やICチップの沈み込みは1μm以下であり、配線の剥離も殆ど観察されなかった。   Thereafter, as a result of evaluation of IC chip mounting, there was no misalignment or tinning of the wiring, and the deformation of the wiring or the sinking of the IC chip was 1 μm or less from the cross-sectional observation, and almost no peeling of the wiring was observed.

比較例5
実施例6の合成例3のワニスを合成例2のワニスに変えた以外は実施例6と同様の方法でポリイミド金属積層体を得た。
Comparative Example 5
A polyimide metal laminate was obtained in the same manner as in Example 6 except that the varnish of Synthesis Example 3 of Example 6 was changed to the varnish of Synthesis Example 2.

その後、ICチップ実装評価の結果、配線のズレは無いが、配線とポリイミド界面に配線幅全てにすずの染込みが観察された。また断面観察から、ICチップの沈み込みは1μm以下であったが、4μm程度の配線の変形が観察され、配線の剥離も観察された。   Thereafter, as a result of IC chip mounting evaluation, there was no misalignment of the wiring, but tin penetration was observed in the entire wiring width at the wiring and polyimide interface. Further, from the cross-sectional observation, the sink of the IC chip was 1 μm or less, but the deformation of the wiring of about 4 μm was observed, and the peeling of the wiring was also observed.

本発明は、高温での弾性率、寸法安定性、透明性に優れたポリイミド層を有するポリイミド金属積層体を得ることができる。よって、Au−Au接合、あるいはAu−Sn接合によるチップ実装でも、配線ずれや、沈み込み、剥離、メッキの染み込みなどの問題が起こらない。よって、本発明のポリイミド金属積層体は、近年加速しているチップの高密度化に対応することが可能であり、テープオートメーティッドボンディング(TAB)テープ加工ラインで広く使用されているCOF用のポリイミド金属積層体として効果的に使用することができる。   INDUSTRIAL APPLICATION This invention can obtain the polyimide metal laminated body which has a polyimide layer excellent in the elasticity modulus in high temperature, dimensional stability, and transparency. Therefore, problems such as wiring misalignment, sinking, peeling and plating penetration do not occur even in chip mounting by Au—Au bonding or Au—Sn bonding. Therefore, the polyimide metal laminate of the present invention can cope with the recent increase in the density of chips, and is widely used in tape automated bonding (TAB) tape processing lines. It can be effectively used as a metal laminate.

Claims (6)

アルコキシシランおよび/またはその部分加水分解重縮合物(A)と、シリカと結合を形成できる官能基を持つアミノ基含有化合物(B)とを、ポリイミド溶液および/またはポリアミド酸溶液中で水の存在下反応させることにより得られるシリカ分散ポリイミド組成物から製造される樹脂層を少なくとも一層以上有することを特徴とするポリイミド金属積層体。 Alkoxysilane and / or its partially hydrolyzed polycondensate (A) and amino group-containing compound (B) having a functional group capable of forming a bond with silica are present in water in a polyimide solution and / or a polyamic acid solution. A polyimide metal laminate comprising at least one resin layer produced from a silica-dispersed polyimide composition obtained by a bottom reaction. ポリイミド溶液および/またはポリアミド酸溶液が、二種以上のジアミン化合物と一種以上のテトラカルボン酸二無水物から合成されたポリイミド共重合体および/またはポリアミド酸共重合体を含む溶液である請求項1記載のポリイミド金属積層体。 The polyimide solution and / or the polyamic acid solution is a solution containing a polyimide copolymer and / or a polyamic acid copolymer synthesized from two or more diamine compounds and one or more tetracarboxylic dianhydrides. The polyimide metal laminate according to the description. ジアミン化合物の少なくとも一つとして、下記一般式(1)
Figure 2006021455
(式(1)中、X、Xはそれぞれ独立して、単結合、酸素原子、硫黄原子、カルボニル基、スルホニル基、ハロゲン原子で置換されていてもよい炭化水素基からなる群より選ばれるものであり、Yはそれぞれ独立して、水素原子、ハロゲン原子、ヒドロキシル基、アルコキシ基、ニトロ基、およびハロゲン原子で置換されていてもよい炭化水素基からなる群より選ばれるものであり、nは0〜8の整数を表す)で表される化合物を用いて製造したポリイミドまたはポリアミド酸を用いてなる請求項1記載のポリイミド金属積層体。
As at least one of the diamine compounds, the following general formula (1)
Figure 2006021455
(In formula (1), X 1 and X 2 are each independently selected from the group consisting of a single bond, an oxygen atom, a sulfur atom, a carbonyl group, a sulfonyl group, and a hydrocarbon group optionally substituted with a halogen atom. And each Y is independently selected from the group consisting of a hydrogen atom, a halogen atom, a hydroxyl group, an alkoxy group, a nitro group, and a hydrocarbon group optionally substituted with a halogen atom, 2. The polyimide metal laminate according to claim 1, wherein a polyimide or a polyamic acid produced using a compound represented by n is an integer of 0 to 8).
ポリイミド溶液および/またはポリアミド酸溶液をイミド化及び脱溶媒してなるフィルムの線膨張率が1〜70×10−6/℃である請求項1記載のポリイミド金属積層体。 The polyimide metal laminate according to claim 1, wherein the film obtained by imidizing and removing the polyimide solution and / or the polyamic acid solution has a linear expansion coefficient of 1 to 70 x 10-6 / ° C. シリカと結合を形成できる官能基が、アルコキシシリル基である請求項1記載のポリイミド金属積層体。 The polyimide metal laminate according to claim 1, wherein the functional group capable of forming a bond with silica is an alkoxysilyl group. シリカ分散ポリイミド組成物が、下記一般式(2)
Figure 2006021455
(式中、Wは4価の有機基、ZおよびRはそれぞれ独立して2価の有機基、Rは水素原子、炭化水素基、又は芳香族基であり、Qはシリカと結合することのできる官能基である。mは、0.001以上0.5以下の有理数である)で表される構造を有するものである請求項1記載のポリイミド金属積層体。
The silica-dispersed polyimide composition has the following general formula (2)
Figure 2006021455
Wherein W is a tetravalent organic group, Z and R 2 are each independently a divalent organic group, R 1 is a hydrogen atom, a hydrocarbon group, or an aromatic group, and Q is bonded to silica. The polyimide metal laminate according to claim 1, wherein m is a functional group, and m is a rational number from 0.001 to 0.5.
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