JP2006020249A - 高周波回路素子 - Google Patents
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Abstract
【課題】 部品の小型化による回路素子の集積化と小型軽量機器の製作を可能にすると共に、省電力及び電磁波ノイズの低減を可能にする高周波回路素子を提供する。
【解決手段】 高周波回路素子は、誘電体基板1の表面にストリップ導体3を形成し、裏面にグランド導体2を形成し、前記ストリップ導体3を直線状で等幅(w)に形成し、そのストリップ導体の一部を除去して回路を形成する。
【選択図】 図1
【解決手段】 高周波回路素子は、誘電体基板1の表面にストリップ導体3を形成し、裏面にグランド導体2を形成し、前記ストリップ導体3を直線状で等幅(w)に形成し、そのストリップ導体の一部を除去して回路を形成する。
【選択図】 図1
Description
本発明は、マイクロ波から準ミリ波の周波数の電波を使用して無線通信する機器に用いられる回路素子であって、誘電体基板の表面に、ストリップ導体を形成し、裏面にグランド導体を形成して構成する高周波回路素子に関する。
無線通信用の高周波回路素子は、各種のものが実用化されており、テレビ放送、携帯電話など広く使用されている。この高周波回路素子にはバンドストップフィルタ、バンドパスフィルタ、共振回路等がある。
例えば、共振回路として、特開平8−242107号公報があり、この公報に開示の発明は、図8に示すように、ストリップ導体のパターンが、所定幅の直線14aと4角状のループ14bで構成してあり、その4角状のループの長さは、L=12.3mm、w=1,15mmである。
例えば、共振回路として、特開平8−242107号公報があり、この公報に開示の発明は、図8に示すように、ストリップ導体のパターンが、所定幅の直線14aと4角状のループ14bで構成してあり、その4角状のループの長さは、L=12.3mm、w=1,15mmである。
前記構成の共振開路は、所定の幅の直線14aに対し、4角状のループ14bが並列で構成してあり、全体の幅が広いため小さな回路素子が望まれている。
そこで、本発明は、部品の小型化による小型軽量機器の製作を可能にすると共に、省電力及び電磁波ノイズの低減を可能にする、ストリップ導体の幅に収まる高周波回路素子を提供する。
そこで、本発明は、部品の小型化による小型軽量機器の製作を可能にすると共に、省電力及び電磁波ノイズの低減を可能にする、ストリップ導体の幅に収まる高周波回路素子を提供する。
請求項1の高周波回路素子は、誘電体基板の表面にストリップ導体を形成し、裏面にグランド導体を形成し、前記ストリップ導体を直線状で等幅(w)に形成し、そのストリップ導体の一部を除去して回路を形成する。
請求項2の高周波回路素子は、請求項1のストリップ導体に、渦巻状の絶縁溝を形成してバンドストップ回路として使用する。
請求項3の高周波回路素子は、請求項2の渦巻状の絶縁溝の長さ、又は、渦巻の数を変更することによって、バンドストップの周波数を変更することができる。
請求項2の高周波回路素子は、請求項1のストリップ導体に、渦巻状の絶縁溝を形成してバンドストップ回路として使用する。
請求項3の高周波回路素子は、請求項2の渦巻状の絶縁溝の長さ、又は、渦巻の数を変更することによって、バンドストップの周波数を変更することができる。
請求項4の高周波回路素子は、請求項1のストリップ導体に、
(a)誘電体基板の端部である入力部1aから出力部1b側にずれた位置で、上縁部から垂直下方向に下縁部に到らないまで切削して形成の絶縁溝30aと、この絶縁溝30aと点対称に絶縁溝30bを形成し、
(b)前記絶縁溝30aと絶縁溝30bの間で、上縁から中心側において絶縁溝31a、31bを形成し、
(c)前記絶縁溝31a、31bの中心側で、前記絶縁溝30a、30bから、絶縁溝31a、31bに平行に絶縁溝32a、33、32bを形成すると共に前記絶縁溝32aと絶縁溝33を連結する垂直状の絶縁溝34aと前記絶縁溝32bと絶縁溝33を連結する垂直状の絶縁溝34bで構成の折り返しの絶縁溝を備えることによって、バンドパスフィルタに使用することができる。
(a)誘電体基板の端部である入力部1aから出力部1b側にずれた位置で、上縁部から垂直下方向に下縁部に到らないまで切削して形成の絶縁溝30aと、この絶縁溝30aと点対称に絶縁溝30bを形成し、
(b)前記絶縁溝30aと絶縁溝30bの間で、上縁から中心側において絶縁溝31a、31bを形成し、
(c)前記絶縁溝31a、31bの中心側で、前記絶縁溝30a、30bから、絶縁溝31a、31bに平行に絶縁溝32a、33、32bを形成すると共に前記絶縁溝32aと絶縁溝33を連結する垂直状の絶縁溝34aと前記絶縁溝32bと絶縁溝33を連結する垂直状の絶縁溝34bで構成の折り返しの絶縁溝を備えることによって、バンドパスフィルタに使用することができる。
請求項5の高周波回路素子は、請求項4の折り返しの絶縁溝の数を変更することによってバンドパスフィルタの周波数変更が可能である。
請求項6の高周波回路素子は、誘電体基板の表面にストリップ導体を形成し、裏面にグランド導体を形成し、前記ストリップ導体を直線状で等幅(w)に形成し、そのストリップ導体の一部を除去して回路を形成し、誘電体基板の入力部1aと出力部1bに差込み孔42a、42bを形成し、回路を形成の本体45の両端部に突部43a、43bを形成し、前記差込み孔42a、42bと突部43a、43bを非導通状態で配置して共振回路に使用する。
請求項6の高周波回路素子は、誘電体基板の表面にストリップ導体を形成し、裏面にグランド導体を形成し、前記ストリップ導体を直線状で等幅(w)に形成し、そのストリップ導体の一部を除去して回路を形成し、誘電体基板の入力部1aと出力部1bに差込み孔42a、42bを形成し、回路を形成の本体45の両端部に突部43a、43bを形成し、前記差込み孔42a、42bと突部43a、43bを非導通状態で配置して共振回路に使用する。
請求項7の高周波回路素子は、請求項6の本体に形成のストリップ導体を、所定の間隔で、交互に、縁部から垂直状に絶縁溝を形成して構成する。
請求項8の高周波回路素子は、請求項7の本体の長さと、それに対応して回路を構成する絶縁溝の数を増加させることによって共振周波数の変更を可能にする。
請求項8の高周波回路素子は、請求項7の本体の長さと、それに対応して回路を構成する絶縁溝の数を増加させることによって共振周波数の変更を可能にする。
本願の高周波回路素子は、所定幅のストリップ導体内に回路を作成することにより、小型化ができるために小型軽量機器の製作を可能にすると共に、省電力及び電磁波ノイズの低減を可能にする。
本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。
図1(A)は加工前のストリップ導体、(B)は回路を形成のストリップ導体を示す図であり、長さ(L)、幅(W)、厚み(t)の誘電体基板1の表面には、所定幅(w)で直線状のストリップ導体3が形成してあり、裏面の全面にはグランド導体2が形成してある。
このストリップ導体3の幅(w)は、誘電体基板1の材質、厚み、ストリップ導体3を形成する導体膜の材質と厚み、及び、目的の周波数によって一義的に決る。
図1(A)は加工前のストリップ導体、(B)は回路を形成のストリップ導体を示す図であり、長さ(L)、幅(W)、厚み(t)の誘電体基板1の表面には、所定幅(w)で直線状のストリップ導体3が形成してあり、裏面の全面にはグランド導体2が形成してある。
このストリップ導体3の幅(w)は、誘電体基板1の材質、厚み、ストリップ導体3を形成する導体膜の材質と厚み、及び、目的の周波数によって一義的に決る。
そこで、誘電体基板1と導体膜の材質等を選定し、誘電体基板1の表裏のインピーダンスが使用する周波数で50Ωになるように、ストリップ導体3の幅(w)を設計する。
次に、前記誘電体基板1の表面に、前記ストリップ導体3の幅(w)で、長さLの導体膜を作成すると共に、誘電体基板1の裏面に導体膜を形成してグランド導体を作成する。
そして、前記ストリップ導体3の幅(w)内に、高周波回路を作成するが、ストリップ導体3の幅(w)の両端を除く中間部において、導体膜を除去する絶縁溝を作成して回路5を作成する。
或は、ストリップ導体3の幅(w)内に高周波回路を作成するに当って、金属蒸着法等によって作成する。
尚、高周波回路の作成方法の1つとして、従来、ストリップ導体3の幅(w)よりはみ出していた部分に対しては、ストリップ導体3の幅(w)内に収まる等価回路で構成する。
次に、前記誘電体基板1の表面に、前記ストリップ導体3の幅(w)で、長さLの導体膜を作成すると共に、誘電体基板1の裏面に導体膜を形成してグランド導体を作成する。
そして、前記ストリップ導体3の幅(w)内に、高周波回路を作成するが、ストリップ導体3の幅(w)の両端を除く中間部において、導体膜を除去する絶縁溝を作成して回路5を作成する。
或は、ストリップ導体3の幅(w)内に高周波回路を作成するに当って、金属蒸着法等によって作成する。
尚、高周波回路の作成方法の1つとして、従来、ストリップ導体3の幅(w)よりはみ出していた部分に対しては、ストリップ導体3の幅(w)内に収まる等価回路で構成する。
次に、図2(A)はバンドストップフィルタの斜視図、(B)は平面図であり、ストリップ導体3の幅(w)を誘電体基板の幅(W)と同じで構成する。
バンドストップフィルタは、長さ(L)が16mm、幅(W)が2.2mm、厚みが0.8mmのPTFE等の合成樹脂製で四角状の誘電体基板(比誘電率2.2)1の表面に、18μmの導体膜(銅膜等)を貼着して、直線状、同じ幅のストリップ導体3を形成し、後記で詳述するように、前記導体膜を絶縁状態となるように絶縁溝を形成して回路を作ると共に、裏面の全面に貼着の18μmの導体膜(銅膜等)でグランド導体を形成する。
尚、前記誘電体基板の材料には、セラミック、半導体、高分子樹脂等であり、前記導体膜には金、銀等の導電性を有する材料である。
バンドストップフィルタは、長さ(L)が16mm、幅(W)が2.2mm、厚みが0.8mmのPTFE等の合成樹脂製で四角状の誘電体基板(比誘電率2.2)1の表面に、18μmの導体膜(銅膜等)を貼着して、直線状、同じ幅のストリップ導体3を形成し、後記で詳述するように、前記導体膜を絶縁状態となるように絶縁溝を形成して回路を作ると共に、裏面の全面に貼着の18μmの導体膜(銅膜等)でグランド導体を形成する。
尚、前記誘電体基板の材料には、セラミック、半導体、高分子樹脂等であり、前記導体膜には金、銀等の導電性を有する材料である。
また、前記誘電体基板1の左端部は入力部1aであり、右端部が出力部1bである。
この誘電体基板1の表面には、導体膜を貼着しストリップ導体(幅w=W))3を製作し、その導体膜の一部を除去して回路を構成するものであり、バンドストップ回路として、入力部1aと出力部1bの間において、貼着してある18μmの銅膜に、直線で四角状の2回巻きの渦巻状に絶縁溝を形成する。
この誘電体基板1の表面には、導体膜を貼着しストリップ導体(幅w=W))3を製作し、その導体膜の一部を除去して回路を構成するものであり、バンドストップ回路として、入力部1aと出力部1bの間において、貼着してある18μmの銅膜に、直線で四角状の2回巻きの渦巻状に絶縁溝を形成する。
具体的には、出力部1aから入力側の位置において、銅膜を幅d1(0.07mm)で、図2に示す下縁部から上縁部方向に、長さw1(1.8mm)まで切削して絶縁溝10aを作成する。次に、前記絶縁溝10aの端部と連続して、直角に、即ち、入力部1a側に向けて長さw2(10.2mm)、幅d2(0.3mm)で銅膜を切削して絶縁溝10bを作成する。次に、前記絶縁溝10bの端部と連続して、垂直方向に、即ち、下縁部に向けて長さw3(1.5)、幅d3(0.1mm)で銅膜を切削して絶縁溝10cを作成する。
次に、前記絶縁溝10cの端部と連続して、出力部1b側に向けて、長さw4(10mm)、幅d4(0.1mm)で銅膜を切削して絶縁溝10dを作成する。次に、前記絶縁溝10dの端部と連続して、上縁部に向けて、長さw5(0.9mm)、幅d5(0.1mm)で銅膜を切削して絶縁溝10eを作成する。次に、前記絶縁溝10eの端部と連続して、入力部1a側に向けて長さw6(9.6mm)、幅d6(0.1mm)で銅膜を切削して絶縁溝10fを作成する。次に、前記絶縁溝10fの端部と連続して、垂直方向に、即ち、下縁部に向けて長さw7(0.42mm)、幅d7(0.1mm)で銅膜を切削して切削して絶縁溝10gを作成する。次に、前記絶縁溝10gの端部と連続して、出力部1b側に向けて、長さw8(9mm)、幅d8(0.1mm)で銅膜を切削して切削して絶縁溝10hを作成する。
以上のように、絶縁溝を形成することによって、反時計方向回りの渦巻状のストリップ導体が作成されて、バンドストップフィルタを形成する。尚、渦巻は、絶縁溝(10a、10b、10c、10d)で形成されると共に、絶縁溝(10e、10f、10g、10h)で形成されている。
以上のように、絶縁溝を形成することによって、反時計方向回りの渦巻状のストリップ導体が作成されて、バンドストップフィルタを形成する。尚、渦巻は、絶縁溝(10a、10b、10c、10d)で形成されると共に、絶縁溝(10e、10f、10g、10h)で形成されている。
次に、前記構成のバンドストップフィルタ(回路素子)のSパラメータをネットワークアナライザを用いて、反射特性と透過特性を測定した結果を、図3に示す。
この図3から、このバンドストップフィルタは複数の周波数でバンドストップ機能(特定の周波数の信号を通さない)を有し、最初のストップ周波数の中心周波数は1.8GHであり、次の周波数は4.7GH等である。
尚、これらのバンドストップの中心周波数を変更するには、誘電体基板1の長さLを変更するに伴って、絶縁溝の長さも対応させて変更すればよく、簡便に対処できるし、渦巻の数を変更することによっても可能であり、これらの組合せでもって対処できる。
又、この回路素子は、ストリップ導体の幅W(2.2mm)で製作できるので、線幅2.2mmのストリップ伝送線に、直接、使用できるので、部品の小型化による小型軽量機器の製作を可能にすると共に、省電力及び電磁波ノイズの低減を可能にする。
この図3から、このバンドストップフィルタは複数の周波数でバンドストップ機能(特定の周波数の信号を通さない)を有し、最初のストップ周波数の中心周波数は1.8GHであり、次の周波数は4.7GH等である。
尚、これらのバンドストップの中心周波数を変更するには、誘電体基板1の長さLを変更するに伴って、絶縁溝の長さも対応させて変更すればよく、簡便に対処できるし、渦巻の数を変更することによっても可能であり、これらの組合せでもって対処できる。
又、この回路素子は、ストリップ導体の幅W(2.2mm)で製作できるので、線幅2.2mmのストリップ伝送線に、直接、使用できるので、部品の小型化による小型軽量機器の製作を可能にすると共に、省電力及び電磁波ノイズの低減を可能にする。
次に、バンドパスフィルタに用いる回路素子について、平面を示す図4を参照して説明する。尚、このバンドパスフィルタは、前記バンドパスストップ(図2、図3)とは、ストリップ導体に形成の回路パターンが異なるだけであるので、同じ箇所の説明を略す。
誘電体基板1に、バンドパスフィルタ(ストリップ導体31)を作成する方法について説明すると、このストリップ導体31は点対称であり、絶縁溝によって作成される。尚、このストリップ導体31の形成により、入力部1aと出力部1bは、非導通状態である。
誘電体基板1に、バンドパスフィルタ(ストリップ導体31)を作成する方法について説明すると、このストリップ導体31は点対称であり、絶縁溝によって作成される。尚、このストリップ導体31の形成により、入力部1aと出力部1bは、非導通状態である。
絶縁溝30aは、誘電体基板1に貼着の銅膜を、左端部の入力部1aから出力部1b側にずれた位置で、先ず、上縁部から垂直下方向に下縁部に到らないまでの長さw1(1.8mm)、幅d1(0.3mm)で切削して形成する。
同様に、絶縁溝30bは、絶縁溝30aと点対称な位置で、絶縁溝30aから10.2mm離れた位置に形成する。
次に、絶縁溝31a、31bは、前記絶縁溝30aと絶縁溝30aの間で、縁部から0.26mm中心側において、長さw2(1.8mm)、幅d2(0.3mm)で、絶縁溝30aに平行に絶縁溝を形成する。
絶縁溝32a、32bは、前記絶縁溝30a、30bから、長さw3(9.4mm)、幅d3(0.3mm)で、前記絶縁溝31a、31bから中心側に0.4mmずれて、絶縁溝31a、31bと平行に形成すると共に、これらの端部から縁部に向けて垂直に、長さw4(0.46mm)、幅d4(0.3mm)で絶縁溝34a、34bを形成し、これらの端部を連結する形状に切削して、絶縁溝33を形成する。
同様に、絶縁溝30bは、絶縁溝30aと点対称な位置で、絶縁溝30aから10.2mm離れた位置に形成する。
次に、絶縁溝31a、31bは、前記絶縁溝30aと絶縁溝30aの間で、縁部から0.26mm中心側において、長さw2(1.8mm)、幅d2(0.3mm)で、絶縁溝30aに平行に絶縁溝を形成する。
絶縁溝32a、32bは、前記絶縁溝30a、30bから、長さw3(9.4mm)、幅d3(0.3mm)で、前記絶縁溝31a、31bから中心側に0.4mmずれて、絶縁溝31a、31bと平行に形成すると共に、これらの端部から縁部に向けて垂直に、長さw4(0.46mm)、幅d4(0.3mm)で絶縁溝34a、34bを形成し、これらの端部を連結する形状に切削して、絶縁溝33を形成する。
尚、前記形成の「折り返し絶縁溝」は、絶縁溝31a、31bの中心側で、前記絶縁溝30a、30bから、絶縁溝31a、31bに平行に形成の絶縁溝32a、33、32bと、前記絶縁溝32aと絶縁溝33を連結する垂直状の絶縁溝34aと前記絶縁溝32bと絶縁溝33を連結する垂直状の絶縁溝34dで構成される。
次に、前記構成のバンドパスフィルタ(回路素子)のSパラメータをネットワークアナライザを用いて、反射特性と透過特性を測定した結果を図5に示す。
この図5から、このバンドパスフィルタは5.8GHzの周波数の信号のみを通過させる。
尚、これらのバンドパス波数を変更するには、前記「折り返し絶縁溝」を形成する絶縁溝32a、絶縁溝32b、絶縁溝33の長さと、折り返し回数(図4は折り返し数が2)を変更することによって、容易に対処できる。
この図5から、このバンドパスフィルタは5.8GHzの周波数の信号のみを通過させる。
尚、これらのバンドパス波数を変更するには、前記「折り返し絶縁溝」を形成する絶縁溝32a、絶縁溝32b、絶縁溝33の長さと、折り返し回数(図4は折り返し数が2)を変更することによって、容易に対処できる。
次に、共振回路素子について、平面を示す図6を参照して説明する。尚、このバンドパスフィルタは、前記バンドパスストップ(図2、図3)とは、ストリップ導体のパターンと形状が異なるだけであるので、同じ箇所の説明を略す。
表面と裏面に銅膜を貼着の誘電体基板1に、共振回路(ストリップ導体41)を作成する方法について説明するが、先ず、入力部1aと出力部1bに、コ字状の差込み孔42a、42bを形成し、その残りを本体45とする。尚、本体45の両端部には、前記差込み孔42a、42bと僅かな隙間を形成して非導通状態で配置する突部43a、43bが形成してある。
表面と裏面に銅膜を貼着の誘電体基板1に、共振回路(ストリップ導体41)を作成する方法について説明するが、先ず、入力部1aと出力部1bに、コ字状の差込み孔42a、42bを形成し、その残りを本体45とする。尚、本体45の両端部には、前記差込み孔42a、42bと僅かな隙間を形成して非導通状態で配置する突部43a、43bが形成してある。
このように、この共振回路に入力部1aと出力部1bに差込み孔42a、42bを形成し、本体45に突部43a、43bを形成し、各々を非導通状態に配置することに特徴がある。
尚、前記コ字状の差込み孔42aの上片部47aは、入力部1aの端部からの長さL1(5.6mm)、下片部46aはL2(5mm)である。又、同様に、コ字状の差込み孔42bの上片部47bは出力部1bの端部からの長さL1(5.6mm)、下片部46bはL2(5mm)である。上片部47a、47bと下片部46a、46bの長さを異にして製作してあるが、同じ長さで製作してもよい。
尚、前記コ字状の差込み孔42aの上片部47aは、入力部1aの端部からの長さL1(5.6mm)、下片部46aはL2(5mm)である。又、同様に、コ字状の差込み孔42bの上片部47bは出力部1bの端部からの長さL1(5.6mm)、下片部46bはL2(5mm)である。上片部47a、47bと下片部46a、46bの長さを異にして製作してあるが、同じ長さで製作してもよい。
前記本体45は誘電体基板1と同様に、表面と裏面に導体膜(銅膜等)を貼着してあり、幅wは同じである。
そして、本体45には、先ず、左端部からの長さL3(3mm)の位置に、下向き垂直で、長さw1(1.6mm)、幅d1(0.1mm)の絶縁溝48aが形成してある。又、その絶縁溝48aから、出力部1b側に、長さ0.6mm離れて、下側縁部から1.6mmの絶縁溝48bが形成してある。
以下、絶縁溝48c、48d…は、0.6mm離隔した位置で、上縁部からと下縁部からの1.6mmの長さで、交互に形成してあり、本実施例では15本が形成してある。
そして、本体45には、先ず、左端部からの長さL3(3mm)の位置に、下向き垂直で、長さw1(1.6mm)、幅d1(0.1mm)の絶縁溝48aが形成してある。又、その絶縁溝48aから、出力部1b側に、長さ0.6mm離れて、下側縁部から1.6mmの絶縁溝48bが形成してある。
以下、絶縁溝48c、48d…は、0.6mm離隔した位置で、上縁部からと下縁部からの1.6mmの長さで、交互に形成してあり、本実施例では15本が形成してある。
次に、前記構成の共振回路素子のSパラメータをネットワークアナライザを用いて、反射特性と透過特性を測定した結果を図7に示す。
この図7から、この共振周波数は、複数の周波数で共振し、最初の共振周波数は5.0GHzで、次の共振周波数は9.7GHzである。
尚、これらの共振波数を変更するには、本体45の長さを変更すると共に、絶縁溝48c、48d…の数を増減することによって、容易に対処できる。
この図7から、この共振周波数は、複数の周波数で共振し、最初の共振周波数は5.0GHzで、次の共振周波数は9.7GHzである。
尚、これらの共振波数を変更するには、本体45の長さを変更すると共に、絶縁溝48c、48d…の数を増減することによって、容易に対処できる。
以上のように、本発明の回路素子は、誘電体基板の表面に形成のストリップ導体と裏面の全体に貼着の導体膜(グランド導体)の間のインピーダンスを50Ωにし、バンドストップ、バンドパス、共振回路に対応するパターンで、表面の導通膜を切削してストリップ導体を形成することによって、同じ幅の直線状(長方形状)の幅狭な素子を製作できると共に、ストリップ導体のパターンを変更することによって種々の周波数に対処できる。又、ストリップ導体の絶縁溝による回路パターンを変更することによって、上述以外の回路素子、例えば、カプラ、パワーデバイス、マイクロ波能動回路及びこれらの複合回路を製作できる。
尚、誘電体基板の材料等は、前記記載に限定されないし、銅膜に替えて他の導通膜を使用してもよいし、ストリップ導体のパターンも前記実施例の他に僅かな絶縁溝の幅を変更する等、前記実施例に限定されないことはいうまでもない。
尚、誘電体基板の材料等は、前記記載に限定されないし、銅膜に替えて他の導通膜を使用してもよいし、ストリップ導体のパターンも前記実施例の他に僅かな絶縁溝の幅を変更する等、前記実施例に限定されないことはいうまでもない。
1 誘電体基板
1a 入力部
1b 出力部
2 グランド導体
3 ストリップ導体
10a〜10h 絶縁溝
31 ストリップ導体
30a〜32a、30b〜32b、33 絶縁溝
42a、42b 差込み孔
43a、43b 突部
45 本体
1a 入力部
1b 出力部
2 グランド導体
3 ストリップ導体
10a〜10h 絶縁溝
31 ストリップ導体
30a〜32a、30b〜32b、33 絶縁溝
42a、42b 差込み孔
43a、43b 突部
45 本体
Claims (8)
- 誘電体基板の表面に表導体膜を形成し、裏面に裏導体膜を形成してなる高周波回路素子であって、
前記表導体膜を直線状で等幅に形成し、その表導体膜の一部を除去して回路を形成することを特徴とする高周波回路素子。 - 請求項1の表導体膜に、渦巻状の絶縁溝を形成してバンドストップ回路として使用する請求項1の高周波回路素子。
- 請求項2の渦巻状の絶縁溝の長さ、又は、渦巻の数を変更することによってバンドストップ周波数を変更する請求項2の高周波回路素子。
- 請求項1の表導体膜に、
(a)誘電体基板の端部である入力部1aから出力部1b側にずれた位置で、上縁部から垂直下方向に下縁部に到らないまで切削して形成の絶縁溝30aと、この絶縁溝30aと点対称に絶縁溝30bを形成し、
(b)前記絶縁溝30aと絶縁溝30bの間で、上縁から中心側において絶縁溝31a、31bを形成し、
(c)前記絶縁溝31a、31bの中心側で、前記絶縁溝30a、30bから、絶縁溝31a、31bに平行に絶縁溝32a、33、32bを形成すると共に前記絶縁溝32aと絶縁溝33を連結する垂直状の絶縁溝34aと前記絶縁溝32bと絶縁溝33を連結する垂直状の絶縁溝34bで構成の折り返しの絶縁溝を備えるバンドパスフィルタに使用する高周波回路素子。 - 請求項4の折り返しの絶縁溝の数を変更することによってバンドパスフィルタの周波数変更が可能である請求項4の高周波回路素子。
- 請求項1の表導体膜に回路を形成し、誘電体基板の入力部1aと出力部1bに差込み孔42a、42bを形成し、回路を形成の本体45の両端部に突部43a、43bを形成し、
前記差込み孔42a、42bと突部43a、43bを非導通状態で配置して共振回路に使用することに特徴とする高周波回路素子。 - 本体に形成のストリップ導体は、所定の間隔で、交互に、縁部から垂直状に絶縁溝を形成して構成することを特徴とする請求項6の高周波回路素子。
- 本体の長さと、それに対応して回路を構成する絶縁溝の数を増加させることによって共振周波数の変更を可能とする請求項6又は請求項7の高周波回路素子。
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