JP2005534002A - ベーンリングスロート面積の光学測定 - Google Patents
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Abstract
Description
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- ガスタービンエンジン用のベーンリングにおけるスロート面積を光学的に測定する測定方法であって、前記ベーンリングは環状のベーン列を有し、隣接する先行するベーンと追従するベーンとの間に複数の個別のスロートを画定し、前記個別のスロートの各々が平面開口部であり、該平面開口部は、周囲が半径方向においては内側ベーンシュラウドと外側ベーンシュラウドとにより仕切られ、円周方向においては先行ベーンの後縁と、隣接する追従ベーンの凸面上に投射された共平面線と、により仕切られるものにおいて、
選択された個別のスロートの周囲が光学測定視野内に入るような取り付け具上の結像位置に、前記ベーンリングを置くステップと、
スロート画定位置に少なくとも一つの主放射源を位置決めするステップであって、前記主放射源により、影の領域が前記選択されたスロートの平面内に生じるように前記ベーンリング上に投影され、前記影の領域が反射領域により囲まれるようなステップと、
放射検出器を用いて前記視野内にある前記ベーンリングの部分の少なくとも一つの画像を捕捉するステップと、
前記選択された個別のスロート面積に比例する各画像の暗い部分の寸法データが得られるように、各画像を解析するステップと、を含んだ測定方法。 - 前記個別のスロートの各々から画像を漸次捕捉及び解析するステップと、
前記ベーンリングに対する合成スロート面積が得られるように、各画像の前記寸法データを処理するステップと、をさらに含んだ請求項1に記載の測定方法。 - 選択された複数の前記個別のスロートから選択された画像を漸次捕捉及び解析するステップと、
前記選択された画像の前記寸法データを前記ベーンリングに亘って演算することにより前記ベーンリングの近似的なスロート面積を推定するステップと、をさらに含んだ請求項1に記載の測定方法。 - 前記主放射源がコリメート(視準)されることを特徴とする請求項1に記載の測定方法。
- 前記主放射源が、可視光、赤外光、及び紫外光を含んだ群から選択されたスペクトルの光を投射することを特徴とする請求項1に記載の測定方法。
- 前記主放射源が高強度と低強度の部分を有する放射パターンを投射することを特徴とする請求項1に記載の測定方法。
- 前記寸法データを、既知のスロート面積を有するマスターベーンから得られた寸法データと比較することにより前記選択されたスロートのスロート面積を決定するように前記寸法データを校正するステップをさらに含んだ請求項1に記載の測定方法。
- 少なくとも一つのスケールファクターを前記寸法データに適用することにより前記選択されたスロートの平面内のスロート面積を決定するように前記寸法データを校正するステップをさらに含んだ請求項1に記載の測定方法。
- ピクセル計数により前記画像を解析するステップをさらに含んだ請求項1に記載の測定方法。
- 第1のスケールファクターを前記データの第1の寸法に適用し、第2のスケールファクターを前記データの第2の寸法に適用するステップをさらに含み、かつ、前記選択されたスロートの平面と前記放射検出器の観察方向とが直交しないことを特徴とする請求項8に記載の測定方法。
- 補助放射源を用いて前記先行ベーンの前記後縁を照明するステップをさらに含んだ請求項1に記載の測定方法。
- 前記追従ベーン上の望ましくない影を減少させるように補助放射源を用いて前記追従ベーンの前記後縁を照明するステップをさらに含んだ請求項1に記載の測定方法。
- 反射領域と影の領域との間のコントラストを最適化するように前記主放射源を調整するステップをさらに含んだ請求項1に記載の測定方法。
- 前記取り付け具が回転インデックステーブルを含むことを特徴とする請求項1に記載の測定方法。
- ガスタービンエンジン用のベーンリングにおけるスロート面積を光学的に測定する測定装置であって、前記ベーンリングは環状のベーン列を有し、隣接する先行するベーンと追従するベーンとの間に複数の個別のスロートを画定し、前記個別のスロートの各々が平面開口部であり、該平面開口部は、周囲が半径方向においては内側ベーンシュラウドと外側ベーンシュラウドとにより仕切られ、円周方向においては先行ベーンの後縁と、隣接する追従ベーンの凸面上に投射された共平面線と、により仕切られるものにおいて、
選択された個別のスロートの周囲が光学測定視野内に入るような結像位置内に前記ベーンリングを保持する取り付け手段と、
スロート画定位置に配設された主放射源であって、これにより、前記スロート画定位置においては、影の領域を、前記ベーンリング上の前記選択されたスロート平面に投影し、かつ、反射領域で囲むようにするものと、
前記視野内の前記ベーンリングの部分の画像を捕捉する放射検出手段と、
前記選択されたスロートの個別のスロート面積に比例する画像の暗い部分の寸法データが得られるように前記画像を解析する画像解析手段と、を備えた測定装置。 - 前記取り付け具が回転インデックステーブルを含み、かつ、
前記ベーンリングに対する合成スロート面積が得られるように各画像の前記寸法データを処理する寸法データ処理手段をさらに含んだ請求項15に記載の測定装置。
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