JP2005353967A - Semiconductor manufacturing apparatus - Google Patents
Semiconductor manufacturing apparatus Download PDFInfo
- Publication number
- JP2005353967A JP2005353967A JP2004175324A JP2004175324A JP2005353967A JP 2005353967 A JP2005353967 A JP 2005353967A JP 2004175324 A JP2004175324 A JP 2004175324A JP 2004175324 A JP2004175324 A JP 2004175324A JP 2005353967 A JP2005353967 A JP 2005353967A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- air
- heat
- exhaust
- exposure apparatus
- temperature
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Images
Abstract
Description
本発明は半導体製造装置に関し、特に温度環境を制御する温度調整装置を有する露光装置に関するものである。 The present invention relates to a semiconductor manufacturing apparatus, and more particularly to an exposure apparatus having a temperature adjusting device for controlling a temperature environment.
半導体製造等に用いられる露光装置は、温度変化による熱膨張の影響あるいは位置情報を検出する干渉計の誤差を防ぐために、露光装置本体をチャンバーで囲い該チャンバー内空間を空調し恒温に維持している。 In order to prevent the influence of thermal expansion due to temperature changes or the error of the interferometer that detects position information, an exposure apparatus used in semiconductor manufacturing or the like surrounds the exposure apparatus body with a chamber and air-conditions the interior of the chamber to maintain a constant temperature. Yes.
図3に従来例の空調システムの概略を示す。露光装置本体21が収容されるチャンバー22から循環エア23あるいはチャンバー22外部からクリーンルームエア24が冷却器25に供給され冷却される。冷却エア26はヒーター27により所定の温度に加熱され温調エア28となり、フィルター29を通過しチャンバー22の内部環境に吹き出される。
FIG. 3 shows an outline of a conventional air conditioning system. Circulating
また、温度センサー31が温調エア28の温度を検出しその信号が温調器32に入力される。温調器32は、温度センサー31の信号をもとにPIDフィードバック制御を行い、その出力をヒーター27に供給し、常に温調エア28が一定温度になるように制御を行う。このエア循環は、シロッコファン,ターボファン,あるいはラジアルファン等の送風機30により行われる。
Further, the
循環エア23の詳細を図4に示す。チャンバー内には電装機器等の発熱体11が多数存在する。発熱体11からの熱が露光装置本体21に影響しない様にカバ−12が発熱体11を囲む様に載置され、チャンバー内エア15がカバー12内部に導入され、発熱体11の熱排気を行う。チャンバー内エア15はダクト13を通り、集合管14にて集められ循環エア23となる。つまり、循環エア23はチャンバー内部の発熱体の熱排気を兼ねている。
しかしながら近年の転写パターンの微細化あるいは高スループット化に伴い、電装機器等の発熱は指数的に増大する傾向にある。 However, with the recent miniaturization of transfer patterns or higher throughput, the heat generated by electrical equipment tends to increase exponentially.
従来の熱処理では送風量を増やす必要があり、これは送風機、冷却器、フィルター、ヒーター等循環エア系の温調機器全ての大型化を招く。また、装置の大型化は振動伝播による露光装置本体の位置決め精度等の性能劣化を招く。 In the conventional heat treatment, it is necessary to increase the air flow rate, which leads to an increase in the size of all the circulating air temperature control devices such as a blower, a cooler, a filter, and a heater. Further, the increase in size of the apparatus causes performance deterioration such as positioning accuracy of the exposure apparatus main body due to vibration propagation.
本発明は上記従来技術の課題を鑑みてなされたものであり、発熱体の熱処理を循環系の温調機器の大型化を招くことなく露光装置本体への熱影響を除去し、位置決め精度向上並びに高スループット化を達成できる露光装置の提供を目的とする。 The present invention has been made in view of the above-mentioned problems of the prior art, and removes the heat effect on the exposure apparatus main body without increasing the size of the circulating temperature control device by heat treatment of the heating element, and improves positioning accuracy. An object of the present invention is to provide an exposure apparatus that can achieve high throughput.
上記目的を達成するために本発明の露光装置は、発熱体の熱処理を熱排気系と循環系の2系統に分割し、熱排気系の熱をチャンバー環境外のクリーンルームエアを取り込んで工場排気に排出することにより、循環系で処理する熱量の低減化を図る。この時熱排気系は循環系と異なりエア上昇温度を厳しく管理する必要がないが、チャンバー内部の空調空間にそのまま実装すれば露光装置本体へ熱影響を与えてしまう。 In order to achieve the above object, the exposure apparatus of the present invention divides the heat treatment of the heating element into two systems, a heat exhaust system and a circulation system, and takes the heat of the heat exhaust system into the factory exhaust by taking clean room air outside the chamber environment. By exhausting, the amount of heat processed in the circulation system is reduced. At this time, unlike the circulation system, the heat exhaust system does not need to strictly control the air rising temperature, but if it is mounted in the conditioned space inside the chamber as it is, it will affect the exposure apparatus main body.
そこでダクトを2重構造とし内側を高温の熱排気系、外側を低温の循環系のダクトとすることにより、熱排気系からの露光装置本体への熱影響を除去することを特徴とする。 In view of this, the duct has a double structure, the inside is a high-temperature heat exhaust system, and the outside is a low-temperature circulation system duct, so that the heat influence on the exposure apparatus main body from the heat exhaust system is removed.
排気系を設けることにより空調系の処理熱量が低減し、装置のコンパクト化に寄与し、さらに振動伝播による露光装置の位置決め精度の悪化を防止する。 By providing an exhaust system, the amount of heat processed by the air conditioning system is reduced, contributing to downsizing of the apparatus, and further preventing deterioration in positioning accuracy of the exposure apparatus due to vibration propagation.
また、露光装置本体への排気系熱影響を防止することにより、熱膨張変化が低減し位置決め,焼き付け及び重ね合わせの各精度の向上が図れる。また、ステージ空間のエアの温度変化が低減することにより干渉計の計測誤差が減少し、計測再現性が向上する。 Further, by preventing the influence of the exhaust system heat on the exposure apparatus main body, the change in thermal expansion is reduced, and the accuracy of positioning, printing and overlaying can be improved. In addition, the measurement error of the interferometer is reduced by reducing the temperature change of the air in the stage space, and the measurement reproducibility is improved.
本発明の実施例を図1に示す。 An embodiment of the present invention is shown in FIG.
熱排気系に接続する発熱体11を囲むカバー12にチャンバー環境外のクリーンルームエア24を導入する供給ダクト1を設ける。またカバー12には熱排気ダクト2が接続され、該熱排気ダクトは排気ファン3の吸込み口に接続される。排気用ファンの排出口は工場排気ダクト4に接続される。以上が熱排気系のライン構成で空気の流れは、チャンバー環境外のクリーンルームエア24が供給ダクト1を通りカバー12内部に導かれ発熱体11の熱を奪い、熱排気ダクト1,排気ファン3を経由し工場排気ダクト4へ排出される。この時供給ダクト2,カバー12,熱排気ダクト2からなる熱排気ラインは排気ファン3の吸込み側に接続されているため陰圧となり、チャンバー内部5に熱排気ラインを実装してもチャンバー内部5を陽圧に管理すれば熱排気エア6のチャンバー内部5への洩れこみを防止でき、コンタミ混入および熱排気エア6による直接的な本体への熱影響は防止できる。
A supply duct 1 for introducing
ただし、熱排気エア6がチャンバー内部5へ進入しなくても熱排気エア6がもつ熱はチャンバー内部5へ移動できるため熱排気ダクト2の外側に循環エアダクト7を設け2重構造とすることにより、熱排気エア6による本体側への熱影響を極めて小さくすることができる。ここで外側の循環エアダクト7を通過する循環エア23は本体に熱影響を与えないように上昇温度が低くなるように管理されたエアとする。
However, even if the
図2に別の実施例を示す。本実施例では発熱体11を内部に含むカバー12の本体側の壁に循環系ダクト7で包み込む形状とし、カバー12からの熱影響を低減することが可能となる。
FIG. 2 shows another embodiment. In this embodiment, it is possible to reduce the thermal influence from the
1 供給ダクト
2 熱排気ダクト
3 排気ファン
4 工場排気ダクト
5 チャンバー内部
6 熱排気エア
7 循環エアダクト
11 発熱体
12 カバー
13 ダクト
14 集合管
15 チャンバー内エア
21 露光装置本体
22 チャンバー
23 循環エア
24 クリーンルームエア
25 冷却器
26 冷却エア
27 ヒーター
28 温調エア
29 フィルター
30 送風機
31 温度センサー
32 温調器
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1
Claims (3)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004175324A JP2005353967A (en) | 2004-06-14 | 2004-06-14 | Semiconductor manufacturing apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004175324A JP2005353967A (en) | 2004-06-14 | 2004-06-14 | Semiconductor manufacturing apparatus |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005353967A true JP2005353967A (en) | 2005-12-22 |
Family
ID=35588153
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004175324A Withdrawn JP2005353967A (en) | 2004-06-14 | 2004-06-14 | Semiconductor manufacturing apparatus |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2005353967A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010219238A (en) * | 2009-03-16 | 2010-09-30 | Nuflare Technology Inc | Charged-particle beam lithography system |
JP2015231008A (en) * | 2014-06-06 | 2015-12-21 | トヨタ自動車株式会社 | Semiconductor manufacturing apparatus |
-
2004
- 2004-06-14 JP JP2004175324A patent/JP2005353967A/en not_active Withdrawn
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010219238A (en) * | 2009-03-16 | 2010-09-30 | Nuflare Technology Inc | Charged-particle beam lithography system |
JP2015231008A (en) * | 2014-06-06 | 2015-12-21 | トヨタ自動車株式会社 | Semiconductor manufacturing apparatus |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7262830B2 (en) | Exposure apparatus, and device manufacturing method | |
US6153877A (en) | Projection exposure apparatus | |
JP2007232331A (en) | Air-conditioning control method and air-conditioning control device | |
US6881685B2 (en) | Device and method for feeding treating air | |
JP2007123295A (en) | Aligner | |
JP2005142382A (en) | Exposure apparatus | |
EP0509844B1 (en) | Apparatus for cooling electronic equipment | |
JP2005353967A (en) | Semiconductor manufacturing apparatus | |
JP2009204176A (en) | Air conditioner for semiconductor manufacturing device | |
JP6267164B2 (en) | Laser device with temperature management function for maintenance work | |
JP2016053863A (en) | Temperature regulator | |
US7671964B2 (en) | Exposure apparatus, and device manufacturing method | |
JP2008279502A (en) | Reflow apparatus | |
JPH11135429A (en) | Temperature control method and aligner using the method | |
JP2008045770A (en) | Air conditioner | |
KR102353774B1 (en) | A cooling chamber | |
JP2001244178A (en) | Aligner and method of exposure, and method of manufacturing device | |
US20110049136A1 (en) | Method and apparatus for venting a cooking device | |
JP2005183596A (en) | Manufacturing method of heat treatment apparatus and semiconductor device | |
JP2007250802A (en) | Substrate processing apparatus | |
JP2008185232A (en) | Temperature-regulated air supplying device | |
JP2001196321A (en) | Gas-cooled vertical wafer processing device | |
JP2010128301A (en) | Exposure apparatus | |
KR100509564B1 (en) | Heater for airconditioning | |
JPH10149970A (en) | Treating device and production method of device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20070904 |