JP2005352670A - シミュレーション装置及び検査装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 シミュレーション装置は、サブシステムブロックを構成するブロック群の内、サブシステムブロック外であって上層システム内のブロックからデータを受け取る構成にされた入力ポートブロックを、所定のメモリ領域に設定された値を取得する変数読出ブロックに変更する(S220,S225)。また、上記ブロック群の内、サブシステムブロック外であって上層システム内のブロックにデータを引き渡す構成にされた出力ポートブロックを、所定のメモリ領域に値を記録する変数書込ブロックに変更する(S240,245)。シミュレーション装置は、この修正後のサブシステムのモデルを用いて、サブシステムについてのシミュレーションを行う。
【選択図】 図4
Description
例えば、S540では、浮動小数点演算の丸め処理により1度の四則演算で生じる最大誤差を所定の桁で切り上げた値を、演算誤差E0として用いてもよい。具体的に、丸め処理が四捨五入の場合であって、単精度浮動小数点数についての丸め処理によって生じる最大誤差の小数点一桁目を切り上げる場合には、演算誤差E0として、有効数字7桁目に値2を設定すればよい。
Claims (6)
- 基本プログラムの組合せからなるシステムのモデルを用いて、前記システムのシミュレーションを行うシミュレーション装置であって、
前記システム内の所定のサブシステムをモデル化した基本プログラム群を、前記モデルから抽出する抽出手段と、
前記抽出手段が抽出した基本プログラム群の内、この基本プログラム群以外の前記モデル内の基本プログラムからデータを受け取る構成にされた基本プログラムを、第一のメモリ領域からデータを取得するプログラムに変更すると共に、前記抽出手段が抽出した基本プログラム群の内、この基本プログラム群以外の前記モデル内の基本プログラムにデータを引き渡す構成にされた基本プログラムを、第二のメモリ領域にデータを記録するプログラムに変更することにより、前記システムから独立したサブシステムのモデルを生成する独立モデル生成手段と、
前記独立モデル生成手段により生成された前記サブシステムのモデルを用いて、前記サブシステムのシミュレーションを行うサブシステムシミュレーション実行手段と、
を備えることを特徴とするシミュレーション装置。 - 前記独立モデル生成手段は、前記システムのモデルに設定された前記所定のサブシステムについての基本プログラム群の実行順序関係を、前記独立したサブシステムのモデル生成時に、前記独立したサブシステムのモデルを構成する基本プログラム群に対して設定することにより、前記システムのモデルにおける前記所定のサブシステムについての前記実行順序関係と、前記独立したサブシステムのモデルにおける基本プログラム群の実行順序関係と、を一致させることを特徴とする請求項1記載のシミュレーション装置。
- システムの構築時に作成された前記システム内のサブシステムとしての機能をコンピュータに実現させるためのプログラム、を検査するための検査装置であって、
検査対象のプログラムを取得する検査対象取得手段と、
前記検査対象のプログラムの引数に設定すべきデータを取得するデータ取得手段と、
前記データ取得手段が取得したデータを引数に設定して、前記検査対象のプログラムをコンピュータに実行させるプログラム実行手段と、
前記システムのモデルから、前記検査対象のプログラムに対応する前記システム内のサブシステムをモデル化した基本プログラム群を抽出する前記抽出手段を備える請求項1又は請求項2記載のシミュレーション装置と、
前記データ取得手段が取得したデータを、前記第一のメモリ領域にセットして、そのデータを用いた前記サブシステムのシミュレーションを、前記サブシステムシミュレーション実行手段に実行させる実行制御手段と、
前記サブシステムシミュレーション実行手段の動作により前記第二のメモリ領域に記録されたデータに基づいて、前記プログラム実行手段の動作によりコンピュータが実行した前記検査対象のプログラムの出力データを検査する検査手段と、
を備えることを特徴とする検査装置。 - 前記検査手段は、前記サブシステムシミュレーション実行手段の動作により前記第二のメモリ領域に記録されたデータに基づき、前記検査として、前記検査対象のプログラムの出力データが示す値が、適値であるか否かを判定することを特徴とする請求項3記載の検査装置。
- 前記検査手段は、
前記プログラム実行手段の動作によりコンピュータが実行した前記検査対象のプログラムの演算誤差を考慮にいれて、前記検査対象のプログラムの出力データが示す値と、前記サブシステムシミュレーション実行手段の動作により前記第二のメモリ領域に記録された前記データが示す値と、が一致しているか否かを判断する一致判断手段、
を備え、前記一致判断手段にて前記値が一致していると判断されると、前記検査対象のプログラムの出力データが示す値が、適値であると判定することを特徴とする請求項4記載の検査装置。 - 前記一致判断手段は、前記検査対象のプログラムの出力データが示す値を基準とした前記演算誤差の範囲内に、前記サブシステムシミュレーション実行手段の動作により前記第二のメモリ領域に記録された前記データが示す値が収まっていると、前記検査対象のプログラムの出力データが示す値と、前記サブシステムシミュレーション実行手段の動作により前記第二のメモリ領域に記録された前記データが示す値と、が一致していると判断することを特徴とする請求項5記載の検査装置。
Priority Applications (1)
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JP2004171463A JP2005352670A (ja) | 2004-06-09 | 2004-06-09 | シミュレーション装置及び検査装置 |
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ID=35587122
Family Applications (1)
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Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010020562A (ja) * | 2008-07-10 | 2010-01-28 | Ricoh Co Ltd | 画像処理装置、情報処理装置、ソフトウェア動作テスト方法、ソフトウェア動作テストプログラム、及びそのプログラムを記録した記録媒体 |
JP2013033487A (ja) * | 2006-11-27 | 2013-02-14 | Honeywell Internatl Inc | 要求ベーステスト生成 |
US8984488B2 (en) | 2011-01-14 | 2015-03-17 | Honeywell International Inc. | Type and range propagation through data-flow models |
JP2019168881A (ja) * | 2018-03-23 | 2019-10-03 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | ソフトウェア開発装置 |
JP2021117666A (ja) * | 2020-01-24 | 2021-08-10 | 株式会社デンソー | コード検査ツール、コード検査方法 |
-
2004
- 2004-06-09 JP JP2004171463A patent/JP2005352670A/ja active Pending
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