JP2005331383A - 3次元座標位置評価方法及び評価装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】少なくとも3個の基準点21,22,23と、少なくとも1個の補助点31(32,33)を設備1Aの近傍に設定し、前記基準点21,22,23の3次元座標位置を測定するとともに、3次元座標位置を求めるべき前記設備1Aの評価点A(X,Y,Z)、基準点21,22,23および補助点31(32,33)の各2次元座標位置を画像データとして測定し、前記基準点21,22,23の3次元座標位置および前記各画像における評価点A、基準点21,22,23および補助点31(32,33)の各2次元座標位置に基いて前記評価点Aの3次元座標位置(X,Y,Z)を測定する。
【選択図】図1
Description
これらの設備は実際の据付け作業(施工)により、設計上の設備据付け計画値を基準に据付けが行われるが、実際には設備据え付け後には据え付け作業のあまさなどによって据付け誤差が発生する可能性がある。
図1は本発明の第1の実施の形態による3次元座標位置評価方法の全体の流れを示すフローチャートであり、図2はその設備施工精度評価装置のハードウエア構成を示すブロック図である。
また、図1のフローチャートのうち、画像データ取得と3次元座標基準点測量のステップの詳細を図3に示す。
これらの測定された基準点21,22,23の3次元座標位置データは最終的に図2に示す設備施工精度評価装置4の入力部4Aに入力される(S9)。
図5は設備の複数の評価点の3次元座標位置取得のための一般写真測量法の一例を説明する図である。
図5に示すように3次元座標位置取得の対象物となる設備1A,1B,1Cが配置されており、設備1Aの点Aを評価点として3次元座標を算出する場合について説明する。
これらの画像データも最終的には図2に示す設備施工精度評価装置4の入力部4Aへ入力され、演算処理部4Bを通って保存部4Cに保存される(S9)。
図6に示すとおり写真5,6上の点に二次元座標系(X1,Y1),(X2,Y2)を取る。そして、写真5、6の二次元座標系(X1,Y1),、(X2,Y2)を含む全体の三次元座標系を(X,Y,Z)とする。
y=(y1/(x1−x2))・a=(y2/(x1−x2))・a
z=(f/(x1−x2))・a
ここで、図5に示す評価点Aが、図3に示す基準点であると考えると、評価点Aの座標(x,y,z)が光波式測量装置3によって得られることになり、カメラC1とC2の離間距離aが逆算して求めることができる。
このようにして算出された設備1A上の複数の評価点の3次元座標は、図2に示す設備施工精度評価装置4入力部4A、演算処理部4Bを通って保存部4Cに保存される。さらにその3次元座標は表示部4Dと判定部4Eへと送られる。
Yc=(Yc1/(Xc1−Xc2))・a=(Yc2/(Xc1−Xc2))・a
Zc=(f/(Xc1−Xc2))・a
Xd=(Xd1/(Xd1−Xd2))・a
Yd=(Yd1/(Xd1−Xd2))・a=(Yd2/(Xd1−Xd2))・a
Zd=(f/(Xd1−Xd2))・a
Xc:Yc:Zc:Xd:Yd:Zd
=(Xc1/(Xc1−Xc2)):(Yc1/(Xc1−Xc2)):(f/(Xc1−Xc2)):(Xd1/(Xd1−Xd2)):(Yd1/(Xd1−Xd2)):(f/(Xd1−Xd2))
また、3次元座標基準点は光波式測量装置3などの測量儀による3次元座標測定が必要であり、その個数が増えると光波式測量装置などによる測定時間は基準点の個数に比例して増加するが、補助点は3次元座標を測定する必要がないため、基準点、補助点を使用することで測定時間を短くすることができ、測定の信頼性を向上することができる。
本発明の第2の実施の形態は、3次元CADデータに関する3次元座標及び配管勾配率算出方法に関するものである。
この演算処理部のデータを基に3次元CADデータ構築機能を用いて据付け後の状態を表示した配管7の3次元CADデータを作成し(S6)、保存する(S7)。
これに対して、据え付け設計段階での配管7の3次元座標値及び配管勾配値を同じく図8のA点−E点とする。
すなわち、レーザー光線8を設備1Aへ発射し、その反射光9を受信することにより、そのレーザー発射角度α1と反射レーザー受信角度α2、およびレーザー発射位置P1とレーザー受信位置P2の距離Lから三角法又はパルスレーダー法を用いて、設備1Aの3次元座標を算出することができる。
なお、前記実施の形態におけるカメラでの撮影は可視光によるものに限らず、赤外線、X線などを用いることができる。
Claims (5)
- 据え付けられた設備の複数の評価点の3次元座標位置を求める方法であって、少なくとも3個の基準点および少なくとも1個の補助点を少なくとも2箇所から前記評価点とともに見える位置に設定する設定工程と、前記基準点の3次元座標位置を測定する3次元座標位置測定工程と、前記複数の評価点、少なくとも3個の基準点および少なくとも1個の補助点がすべて一つの画像に写し込まれるように、焦点距離が既知の撮影装置によって、少なくとも2箇所で撮影する撮影工程と、前記少なくとも2箇所で撮影された各画像における前記評価点、基準点および補助点の各2次元座標位置を測定する2次元座標位置測定工程と、前記基準点の3次元座標位置および前記各画像における2次元座標位置に基いて、前記評価点の3次元座標位置を算出する3次元座標位置算出工程と、を有することを特徴とする3次元座標位置評価方法。
- 請求項1に記載の3次元座標位置評価方法において、前記評価点の設計上の3次元座標位置を入力する工程と、前記評価点の設計上の3次元座標位置と、前記3次元座標位置算出工程で得られた前記評価点の3次元座標位置とを比較して、前記設備の施工精度を評価する評価工程と、をさらに有することを特徴とする3次元座標位置評価方法。
- 請求項1または2に記載の3次元座標位置評価方法において、前記3次元座標位置算出工程で得られた前記複数の評価点のうちの2箇所の評価点の3次元座標位置の相互関係に基いてこれら2箇所の評価点の間の勾配を評価する勾配評価工程をさらに有すること、を特徴とする3次元座標位置評価方法。
- 請求項1ないし3のいずれかに記載の3次元座標位置評価方法において、前記3次元座標位置測定工程は、測量儀を用いるものであること、を特徴とする3次元座標位置評価方法。
- 据え付けられた設備の複数の評価点の3次元座標位置を求める装置であって、前記評価点の近傍に設定された少なくとも3個の基準点の3次元座標位置データを入力する手段と、焦点距離が既知の撮影装置によって、前記複数の評価点、前記少なくとも3個の基準点および少なくとも1個の補助点がすべて一つの画像に写し込まれるような画像を少なくとも2箇所の撮影位置で得られる撮影手段と、前記撮影手段によって得られた少なくとも2箇所の撮影位置で得られた各画像における前記評価点、基準点および補助点の各2次元座標位置データを求める2次元座標位置測定手段と、前記基準点の3次元座標位置データおよび前記各画像における2次元座標位置データに基いて、前記評価点の3次元座標位置を算出する3次元座標位置算出手段と、を有することを特徴とする3次元座標位置評価装置。
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2004
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