JP2005327369A - 光ディスクの記録線速度測定方法および光ディスク装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】機構部品を新たに設けることなく光ディスクの記録線速度を短時間に測定でき光ピックアップのアクセス時間を短縮する。
【解決手段】光ディスクの任意の半径位置において絶対アドレスkを読み取り、記録線速度Lを光ディスクの規格で定められた値からなる初期値として設定し、その記録線速度Lから求めたセクタ長lに基づいて前記読み取られた絶対アドレスkに対応する光ディスク箇所の半径Rkを計算により求め、求められた半径Rkから1回目の記録線速度Lを求める。1回目の記録線速度Lから求めたセクタ長lに基づいて前記半径Rkを計算により、求められた半径Rkから2回目の記録線速度Lを計算により求める。同様の処理を複数回行うことにより正確な記録線速度Lを得る。
【選択図】 図5
【解決手段】光ディスクの任意の半径位置において絶対アドレスkを読み取り、記録線速度Lを光ディスクの規格で定められた値からなる初期値として設定し、その記録線速度Lから求めたセクタ長lに基づいて前記読み取られた絶対アドレスkに対応する光ディスク箇所の半径Rkを計算により求め、求められた半径Rkから1回目の記録線速度Lを求める。1回目の記録線速度Lから求めたセクタ長lに基づいて前記半径Rkを計算により、求められた半径Rkから2回目の記録線速度Lを計算により求める。同様の処理を複数回行うことにより正確な記録線速度Lを得る。
【選択図】 図5
Description
本発明は、一定の記録線速度でデータが記録された光ディスクの記録線速度測定方法および光ディスク装置に関する。
CD−RやCD−ROMなどのように一定の記録線速度でデータが記録される光ディスクがある。
このような光ディスクを再生する光ディスク装置において光ディスクの所望のセクタに光ピックアップを比較的高速にアクセスさせる方法として、再生しようとする光ディスクの記録線速度を求め、その記録線速度に基づいて前記所望のセクタの半径方向の位置を算出し、その算出した半径方向の位置に基づいて光ピックアップをシーク(移動)させる方法がある。
ところで上述した光ディスクの記録線速度を求める方法として、光ディスクの所定の半径位置に光ピックアップを移動させ、その所定の半径位置における光ディスクの回転周期を測定し、測定した回転周期と所定の半径位置とに基づいて記録線速度を求めることが提案されている(例えば特許文献1参照)。
特開平10−74359号公報
このような光ディスクを再生する光ディスク装置において光ディスクの所望のセクタに光ピックアップを比較的高速にアクセスさせる方法として、再生しようとする光ディスクの記録線速度を求め、その記録線速度に基づいて前記所望のセクタの半径方向の位置を算出し、その算出した半径方向の位置に基づいて光ピックアップをシーク(移動)させる方法がある。
ところで上述した光ディスクの記録線速度を求める方法として、光ディスクの所定の半径位置に光ピックアップを移動させ、その所定の半径位置における光ディスクの回転周期を測定し、測定した回転周期と所定の半径位置とに基づいて記録線速度を求めることが提案されている(例えば特許文献1参照)。
このように光ピックアップを所定の半径位置に位置させる従来方法では、前もって光ピックアップを前記所定の半径位置に正確に位置決めしなくてはならないため、制御に際して時間を要し光ディスクの再生を開始するまでに時間がかかる不都合があった。
また、光ピックアップの位置決めを機械的に行う場合には、光ピックアップをトラッキング方向に移動可能に支持するベースの部分を位置決め用のストッパに付き当てるといった機構が必要となり部品点数の増大を招く不都合があった。
本発明は、このような事情に鑑みなされたもので、その目的は機構部品を新たに設けることなく光ディスクの記録線速度を短時間に測定でき光ピックアップのアクセス時間を短縮する上で有利な光ディスクの記録線速度測定方法および光ディスク装置を提供することにある。
また、光ピックアップの位置決めを機械的に行う場合には、光ピックアップをトラッキング方向に移動可能に支持するベースの部分を位置決め用のストッパに付き当てるといった機構が必要となり部品点数の増大を招く不都合があった。
本発明は、このような事情に鑑みなされたもので、その目的は機構部品を新たに設けることなく光ディスクの記録線速度を短時間に測定でき光ピックアップのアクセス時間を短縮する上で有利な光ディスクの記録線速度測定方法および光ディスク装置を提供することにある。
上記目的を達成するために本発明は、一定の記録線速度でデータが記録された光ディスクから前記記録されたデータを再生する際に前記記録線速度を測定する光ディスクの記録線速度測定方法であって、一定の回転速度で前記光ディスクを回転させつつ前記光ディスクの半径方向の所定位置における絶対アドレスを前記光ディスクから読み取る絶対アドレス読み取りステップと、前記絶対アドレス読み取りステップによって得られた絶対アドレスをkとし、前記光ディスクのセクタ長をlとし、前記光ディスクのトラックピッチをpとし、前記光ディスクの基準アドレス半径をR0としたときに下記の式(1)によって前記読み取られた絶対アドレスに対応する光ディスク箇所の半径Rkを算出する半径算出ステップと、
Rk={((k+1)・l・p)/π+R0 2}1/2 (1)
前記光ディスクの回転周期をTとしたときに下記の式(2)によって前記光ディスクの記録線速度Lを算出する記録線速度算出ステップとを含み、
L=(2π・Rk/T) (2)
前記絶対アドレス読み取りステップと、前記半径算出ステップと、前記記録線速度算出ステップとをこの順番で2回以上繰り返して実行し、1回目に実行する前記半径算出ステップでは前記セクタ長lとして前記光ディスクの規格で定められた値を用い、2回目以降に実行する前記半径算出ステップでは前記セクタ長として前回の記録線速度算出ステップで得られた記録線速度Lに対応したセクタ長を用いることを特徴とする。
また本発明は、一定の記録線速度でデータが記録された光ディスクを保持して一定の回転速度で回転駆動する駆動手段と、前記駆動手段によって回転駆動する光ディスクに対し再生用の光ビームを照射し、前記照射された光ビームの前記光記録媒体での反射光による反射光ビームを検出する光ピックアップとを有する光ディスク装置であって、一定の回転速度で前記光ディスクを回転させつつ前記光ディスクの半径方向の所定位置における絶対アドレスを前記光ディスクから読み取る絶対アドレス読み取り手段と、前記絶対アドレス読み取り手段によって得られた絶対アドレスをkとし、前記光ディスクのセクタ長をlとし、前記光ディスクのトラックピッチをpとし、前記光ディスクの基準アドレス半径をR0としたときに下記の式(1)によって前記読み取られた絶対アドレスに対応する光ディスク箇所の半径Rkを算出する半径算出手段と、
Rk={((k+1)・l・p)/π+R0 2}1/2 (1)
前記光ディスクの回転周期をTとしたときに下記の式(2)によって前記光ディスクの記録線速度Lを算出する記録線速度算出手段とを含み、
L=(2π・Rk/T) (2)
前記絶対アドレス読み取り手段による絶対アドレスの読み取りと、前記半径算出手段による半径の算出と、前記記録線速度算出手段による記録線速度の算出とがこの順番で2回以上繰り返して実行され、1回目に実行する前記半径の算出では前記セクタ長lとして前記光ディスクの規格で定められた値を用い、2回目以降に実行する前記半径の算出では前記セクタ長として前回の記録線速度の算出で得られた記録線速度Lに対応したセクタ長が用いられるように構成されていることを特徴とする。
Rk={((k+1)・l・p)/π+R0 2}1/2 (1)
前記光ディスクの回転周期をTとしたときに下記の式(2)によって前記光ディスクの記録線速度Lを算出する記録線速度算出ステップとを含み、
L=(2π・Rk/T) (2)
前記絶対アドレス読み取りステップと、前記半径算出ステップと、前記記録線速度算出ステップとをこの順番で2回以上繰り返して実行し、1回目に実行する前記半径算出ステップでは前記セクタ長lとして前記光ディスクの規格で定められた値を用い、2回目以降に実行する前記半径算出ステップでは前記セクタ長として前回の記録線速度算出ステップで得られた記録線速度Lに対応したセクタ長を用いることを特徴とする。
また本発明は、一定の記録線速度でデータが記録された光ディスクを保持して一定の回転速度で回転駆動する駆動手段と、前記駆動手段によって回転駆動する光ディスクに対し再生用の光ビームを照射し、前記照射された光ビームの前記光記録媒体での反射光による反射光ビームを検出する光ピックアップとを有する光ディスク装置であって、一定の回転速度で前記光ディスクを回転させつつ前記光ディスクの半径方向の所定位置における絶対アドレスを前記光ディスクから読み取る絶対アドレス読み取り手段と、前記絶対アドレス読み取り手段によって得られた絶対アドレスをkとし、前記光ディスクのセクタ長をlとし、前記光ディスクのトラックピッチをpとし、前記光ディスクの基準アドレス半径をR0としたときに下記の式(1)によって前記読み取られた絶対アドレスに対応する光ディスク箇所の半径Rkを算出する半径算出手段と、
Rk={((k+1)・l・p)/π+R0 2}1/2 (1)
前記光ディスクの回転周期をTとしたときに下記の式(2)によって前記光ディスクの記録線速度Lを算出する記録線速度算出手段とを含み、
L=(2π・Rk/T) (2)
前記絶対アドレス読み取り手段による絶対アドレスの読み取りと、前記半径算出手段による半径の算出と、前記記録線速度算出手段による記録線速度の算出とがこの順番で2回以上繰り返して実行され、1回目に実行する前記半径の算出では前記セクタ長lとして前記光ディスクの規格で定められた値を用い、2回目以降に実行する前記半径の算出では前記セクタ長として前回の記録線速度の算出で得られた記録線速度Lに対応したセクタ長が用いられるように構成されていることを特徴とする。
本発明によれば、光ディスクからの絶対アドレスの読み取り、読み取られた絶対アドレスに対応する光ディスク箇所の半径Rkの算出、記録線速度Lの算出をこれらの順番で2回以上繰り返して実行し、1回目の半径Rk算出ではセクタ長lとして光ディスクの規格で定められた値を用い、2回目以降に実行する半径Rk算出ではセクタ長として前回の記録線速度算出で得られた記録線速度Lに対応したセクタ長を用いるようにした。
したがって、光ディスク上における絶対アドレスを読み取り可能な半径位置であれば、その半径位置における光ディスクの記録線速度Lを求めることができ、従来と違って、前もって光ピックアップを前記所定の半径位置に正確に位置決めする必要がなく、記録線速度の測定に要する時間を大幅に短縮することができるので、光ピックアップのアクセス時間を短縮する上で有利となる。
また、従来と違って、光ピックアップの位置決めを機械的に行うための機構部品が不要となるので、部品点数を削減し構成の簡素化およびコストの削減を図る上で有利となる。
したがって、光ディスク上における絶対アドレスを読み取り可能な半径位置であれば、その半径位置における光ディスクの記録線速度Lを求めることができ、従来と違って、前もって光ピックアップを前記所定の半径位置に正確に位置決めする必要がなく、記録線速度の測定に要する時間を大幅に短縮することができるので、光ピックアップのアクセス時間を短縮する上で有利となる。
また、従来と違って、光ピックアップの位置決めを機械的に行うための機構部品が不要となるので、部品点数を削減し構成の簡素化およびコストの削減を図る上で有利となる。
機構部品を新たに設けることなく光ディスクの記録線速度を短時間に測定でき光ピックアップのアクセス時間を短縮するという目的を、光ディスクからの絶対アドレスの読み取り、光ディスクの半径Rkの算出、記録線速度Lの算出をこれらの順番で2回以上繰り返して実行し、1回目の光ディスクの半径Rk算出ではセクタ長lとして光ディスクの規格で定められた値を用い、2回目以降に実行する光ディスクの半径Rk算出ではセクタ長として前回の記録線速度算出で得られた記録線速度Lに対応したセクタ長を用いることによって実現した。
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。
図1は、本発明の実施例1における光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
図1において、光ディスク装置100は、CD−RやDVD−Rなどのように一定の記録線速度でデータが光ディスク102(光記録媒体)を回転駆動する駆動手段としてのスピンドルモータ104と、光ディスク102に光ビームを照射し、その反射光ビームを受光してトラッキングエラー信号、フォーカスエラー信号、同期信号、再生信号を検出する光ピックアップ106と、光ピックアップ106を光ディスク102の半径方向に移動させる駆動手段としての送りモータ108とを備えている。
また、光ディスク装置100は、RFアンプ110、信号復調用DSP112、サーボ信号処理DSP114、ドライバアンプ116、FG検出器118、メカ制御用マイクロコンピュータ120を備えている。
RFアンプ110は、光ピックアップ106から供給される前記トラッキングエラー信号、フォーカスエラー信号、同期信号、再生信号を増幅する。
信号復調用DSP112は、RFアンプ110から供給される前記再生信号、同期信号を復調してメカ制御用マイクロコンピュータ120や後段の処理回路(不図示)に供給する。
図1は、本発明の実施例1における光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
図1において、光ディスク装置100は、CD−RやDVD−Rなどのように一定の記録線速度でデータが光ディスク102(光記録媒体)を回転駆動する駆動手段としてのスピンドルモータ104と、光ディスク102に光ビームを照射し、その反射光ビームを受光してトラッキングエラー信号、フォーカスエラー信号、同期信号、再生信号を検出する光ピックアップ106と、光ピックアップ106を光ディスク102の半径方向に移動させる駆動手段としての送りモータ108とを備えている。
また、光ディスク装置100は、RFアンプ110、信号復調用DSP112、サーボ信号処理DSP114、ドライバアンプ116、FG検出器118、メカ制御用マイクロコンピュータ120を備えている。
RFアンプ110は、光ピックアップ106から供給される前記トラッキングエラー信号、フォーカスエラー信号、同期信号、再生信号を増幅する。
信号復調用DSP112は、RFアンプ110から供給される前記再生信号、同期信号を復調してメカ制御用マイクロコンピュータ120や後段の処理回路(不図示)に供給する。
サーボ信号処理DSP114は、メカ制御用マイクロコンピュータ120からの制御によって動作するものであり、ドライバアンプ116を制御することでこのドライバアンプ116からスピンドルモータ104に供給される駆動信号を制御しスピンドルモータ104の回転制御を行う。
また、サーボ信号処理DSP114は、ドライバアンプ116を制御することでこのドライバアンプ116から送りモータ108に供給される駆動信号を制御し光ピックアップ106の光ディスク102の半径方向への送り制御(シーク制御)を行う。
また、サーボ信号処理DSP114は、RFアンプ110から供給される前記トラッキングエラー信号、フォーカスエラー信号に基づいてドライバアンプ116を制御することで、このドライバアンプ116から光ピックアップ106に供給されるトラッキングアクチュエータとフォーカスアクチュエータの駆動信号を制御しトラッキングサーボおよびフォーカスサーボの制御を行う。
また、サーボ信号処理DSP114は、ドライバアンプ116を制御することでこのドライバアンプ116から送りモータ108に供給される駆動信号を制御し光ピックアップ106の光ディスク102の半径方向への送り制御(シーク制御)を行う。
また、サーボ信号処理DSP114は、RFアンプ110から供給される前記トラッキングエラー信号、フォーカスエラー信号に基づいてドライバアンプ116を制御することで、このドライバアンプ116から光ピックアップ106に供給されるトラッキングアクチュエータとフォーカスアクチュエータの駆動信号を制御しトラッキングサーボおよびフォーカスサーボの制御を行う。
スピンドルモータ104には不図示の回転センサ(不図示)が内蔵され、この回転センサはスピンドルモータ104の回転周期に同期したアナログ信号からなる検出信号を生成しドライバアンプ116を介してFG検出器118に供給する。
FG検出器118は、前記検出信号を前記回転周期に同期したデジタル信号からなるFG信号に変換してメカ制御用マイクロコンピュータ120に供給する。
図2は、前記回転センサおよびFG検出器118が、光ディスク102が1回転すると6個のFG信号を出力する場合の例を示している。
図2に示すように、光ディスク102が1回転するために要する時間、すなわち回転周期をTとし、隣接する2つのFG信号の立ち上がりエッジの間隔をTFGとすれば、光ディスク102が1回転する間に6回の立ち上がりエッジの間隔TFGを検出でき、これら6個の立ち上がりエッジの間隔TFGを測定しそれぞれ6倍すれば、光ディスク102が1回転する毎に回転周期T=6・TFGのデータを6個ずつ得ることができる。
FG検出器118は、前記検出信号を前記回転周期に同期したデジタル信号からなるFG信号に変換してメカ制御用マイクロコンピュータ120に供給する。
図2は、前記回転センサおよびFG検出器118が、光ディスク102が1回転すると6個のFG信号を出力する場合の例を示している。
図2に示すように、光ディスク102が1回転するために要する時間、すなわち回転周期をTとし、隣接する2つのFG信号の立ち上がりエッジの間隔をTFGとすれば、光ディスク102が1回転する間に6回の立ち上がりエッジの間隔TFGを検出でき、これら6個の立ち上がりエッジの間隔TFGを測定しそれぞれ6倍すれば、光ディスク102が1回転する毎に回転周期T=6・TFGのデータを6個ずつ得ることができる。
メカ制御用マイクロコンピュータ120は、信号復調用DSP112およびサーボ信号処理DSP114の制御を司るものである。
また、メカ制御用マイクロコンピュータ120はスピンドルモータ104の回転制御も行う。具体的には、FG検出器118から入力される前記パルス信号をサーボ信号処理DSP114に供給し、サーボ信号処理DSP114は、前記供給されるパルス信号と、サーボ信号処理DSP114の内部で発生する基準クロック信号との周期が一致するようにドライバアンプ116を制御しスピンドルモータ104の回転が一定となるように制御する。
また、メカ制御用マイクロコンピュータ120は、本発明に係る光ディスク102の記録線速度測定を行う機能を有している。
また、メカ制御用マイクロコンピュータ120はスピンドルモータ104の回転制御も行う。具体的には、FG検出器118から入力される前記パルス信号をサーボ信号処理DSP114に供給し、サーボ信号処理DSP114は、前記供給されるパルス信号と、サーボ信号処理DSP114の内部で発生する基準クロック信号との周期が一致するようにドライバアンプ116を制御しスピンドルモータ104の回転が一定となるように制御する。
また、メカ制御用マイクロコンピュータ120は、本発明に係る光ディスク102の記録線速度測定を行う機能を有している。
次に、光ディスク102の記録線速度測定の原理について説明する。
なお、以下では説明の都合上光ディスク102が例えばCD−RやCD−ROMなどのCDファミリーに該当する光ディスクによって構成されている場合について説明する。
光ディスク102上に記録された絶対アドレスkに対応する半径Rkの位置における光ディスク102の記録線速度Lは、光ディスク102、すなわちスピンドルモータ104の回転周期をTとすると、式(10)によって示される。
L=(2πRk)/T (m/s) (10)
また、半径Rkは、絶対アドレスをk、セクタ長をl、トラックピッチをp、光ディスク102上の基準アドレス半径をR0とした場合、式(11)によって示される。
Rk={((k+1)・l・p/π)+R0}1/2 (m) (11)
ただし、セクタ長lは、光ディスク102に記録されているデータの最小単位であるフレーム(frm)に対応して光ディスク102の円周方向に延在する記録領域の単位であるセクタの前記円周方向の長さである。
記録線速度L(m/s)に対応する回転速度で光ディスク102が1秒間に回転されたときに再生されるフレーム数をFとしたとき、セクタ長l(m)は下記の式(12)によって算出される、
l=L/F (12)
CDの規格では記録線速度L(m/s)に対応する回転速度で光ディスク102が1秒間に回転されたときに再生されるフレーム数Fが75フレームであるため、式(12)からセクタ長l=L/75となる。
また、基準アドレス半径R0は、絶対アドレスk=0の位置を含んだ半径であり、規格で決定されている値である。CDの場合、R0=25.00mmとなっている。
なお、以下では説明の都合上光ディスク102が例えばCD−RやCD−ROMなどのCDファミリーに該当する光ディスクによって構成されている場合について説明する。
光ディスク102上に記録された絶対アドレスkに対応する半径Rkの位置における光ディスク102の記録線速度Lは、光ディスク102、すなわちスピンドルモータ104の回転周期をTとすると、式(10)によって示される。
L=(2πRk)/T (m/s) (10)
また、半径Rkは、絶対アドレスをk、セクタ長をl、トラックピッチをp、光ディスク102上の基準アドレス半径をR0とした場合、式(11)によって示される。
Rk={((k+1)・l・p/π)+R0}1/2 (m) (11)
ただし、セクタ長lは、光ディスク102に記録されているデータの最小単位であるフレーム(frm)に対応して光ディスク102の円周方向に延在する記録領域の単位であるセクタの前記円周方向の長さである。
記録線速度L(m/s)に対応する回転速度で光ディスク102が1秒間に回転されたときに再生されるフレーム数をFとしたとき、セクタ長l(m)は下記の式(12)によって算出される、
l=L/F (12)
CDの規格では記録線速度L(m/s)に対応する回転速度で光ディスク102が1秒間に回転されたときに再生されるフレーム数Fが75フレームであるため、式(12)からセクタ長l=L/75となる。
また、基準アドレス半径R0は、絶対アドレスk=0の位置を含んだ半径であり、規格で決定されている値である。CDの場合、R0=25.00mmとなっている。
ここで、式(11)は以下のように導かれる。
図3は基準アドレス半径R0と、絶対アドレスkの半径Rkとを示しており、基準アドレス半径R0と絶対アドレスkの半径Rkとの間の環状部分にハッチングを施している。
図3においてハッチング部分の面積Scは式(13)で示される。
Sc=πRk 2−πR0 2 (m2) (13)
図4は各セクタが一直線上に配置されたものと仮定して示した説明図である。
各セクタは、トラックピッチpの幅を有する帯状を呈している。絶対アドレスAdrをAdr=0、1、2、……、(k−2)、(k−1)、kとし、セクタ長をlとすれば、絶対アドレスAdrが0〜kの範囲のセクタの面積Ssは式(14)で示される。
Ss=(k+1)・l・p (m2) (14)
ここで、絶対アドレスAdr=0が半径R0の円周上に含まれ、絶対アドレスAdr=kが半径Rkの円周上に含まれる場合には、
Sc=Ss (15)
となるから、
πRk 2−πR0 2=(k+1)・l・p (16)
となり、式(15)を絶対アドレスkの半径Rkについて解くと、
Rk={((k+1)・l・p)/π+R0 2}1/2 (m) (11)
が得られる。
以上のことから、任意の半径Rkにおいてセクタ長lを得ることができれば、式(11)によって半径Rkの値を特定でき、この半径Rkを式(10)に代入することで記録線速度Lを求めることができることになる。
図3は基準アドレス半径R0と、絶対アドレスkの半径Rkとを示しており、基準アドレス半径R0と絶対アドレスkの半径Rkとの間の環状部分にハッチングを施している。
図3においてハッチング部分の面積Scは式(13)で示される。
Sc=πRk 2−πR0 2 (m2) (13)
図4は各セクタが一直線上に配置されたものと仮定して示した説明図である。
各セクタは、トラックピッチpの幅を有する帯状を呈している。絶対アドレスAdrをAdr=0、1、2、……、(k−2)、(k−1)、kとし、セクタ長をlとすれば、絶対アドレスAdrが0〜kの範囲のセクタの面積Ssは式(14)で示される。
Ss=(k+1)・l・p (m2) (14)
ここで、絶対アドレスAdr=0が半径R0の円周上に含まれ、絶対アドレスAdr=kが半径Rkの円周上に含まれる場合には、
Sc=Ss (15)
となるから、
πRk 2−πR0 2=(k+1)・l・p (16)
となり、式(15)を絶対アドレスkの半径Rkについて解くと、
Rk={((k+1)・l・p)/π+R0 2}1/2 (m) (11)
が得られる。
以上のことから、任意の半径Rkにおいてセクタ長lを得ることができれば、式(11)によって半径Rkの値を特定でき、この半径Rkを式(10)に代入することで記録線速度Lを求めることができることになる。
本実施例では、まず、光ディスク12の任意の半径位置において絶対アドレスkを読み取り、記録線速度Lを光ディスク102の規格で定められた値からなる初期値として設定し、その記録線速度Lから求めたセクタ長lを式(11)に代入することで、前記読み取られた絶対アドレスkに対応する光ディスク箇所の半径Rkを求め、求められた半径Rkを式(10)に代入することで1回目の記録線速度Lを求める。
次いで、1回目の記録線速度Lから求めたセクタ長lを式(11)に代入して前記読み取られた絶対アドレスに対応する光ディスク箇所の半径Rkを求め、求められた半径Rkを式(10)に代入することで2回目の記録線速度Lを求める。
次いで、2回目の記録線速度Lから求めたセクタ長lを式(11)に代入して前記読み取られた絶対アドレスに対応する光ディスク箇所の半径Rkを求め、求められた半径Rkを式(10)に代入することで3回目の記録線速度Lを求める。
3回目と同様の計算を4回目、5回目、……と繰り返すと、計算を繰り返す毎に記録線速度Lに含まれる誤差が次第に減少し、記録線速度Lが正確な値に収束される。
次いで、1回目の記録線速度Lから求めたセクタ長lを式(11)に代入して前記読み取られた絶対アドレスに対応する光ディスク箇所の半径Rkを求め、求められた半径Rkを式(10)に代入することで2回目の記録線速度Lを求める。
次いで、2回目の記録線速度Lから求めたセクタ長lを式(11)に代入して前記読み取られた絶対アドレスに対応する光ディスク箇所の半径Rkを求め、求められた半径Rkを式(10)に代入することで3回目の記録線速度Lを求める。
3回目と同様の計算を4回目、5回目、……と繰り返すと、計算を繰り返す毎に記録線速度Lに含まれる誤差が次第に減少し、記録線速度Lが正確な値に収束される。
次に上述した原理に基づいた記録線速度の測定方法について具体的に説明する。
図5は記録線速度の測定動作を示すフローチャートである。
予め、メカ制御用マイクロコンピュータ120の制御により、光ピックアップ106が任意の半径位置に位置した状態でスピンドルモータ104が回転駆動されトラッキングサーボおよびフォーカスサーボがかかった状態であるものとする。
まず、メカ制御用マイクロコンピュータ120は、信号復調用DSP112から供給される再生信号から絶対アドレスkを読み取れることを確認する(ステップS10)。
ここで、絶対アドレスが0(ゼロ)よりも小さい値、言い換えると光ディスク102の基準半径R0よりも内周側に位置する最内周の領域には目次データのみが記述されており、絶対アドレスは記述されていない。また、絶対アドレスが最大値よりも大きな値、言い換えると最外周の領域にも絶対アドレスは記述されていない。このように絶対アドレスの記述がない領域は、光ディスク102におけるデータの記録がなされている領域のごく僅かである。
したがって、ステップS10で絶対アドレスが読み取れない場合は、送りモータ108を制御することにより、光ピックアップ106を半径方向に移動させ絶対アドレスが記述されている領域までシークし絶対アドレスを読み取れるようにする(ステップS12)。
なお、ステップS12における光ピックアップ102の移動量は絶対アドレスの読み取りが可能となる程度で行われればよく、ピックアップ102の移動量を厳密に制御する必要はない。
図5は記録線速度の測定動作を示すフローチャートである。
予め、メカ制御用マイクロコンピュータ120の制御により、光ピックアップ106が任意の半径位置に位置した状態でスピンドルモータ104が回転駆動されトラッキングサーボおよびフォーカスサーボがかかった状態であるものとする。
まず、メカ制御用マイクロコンピュータ120は、信号復調用DSP112から供給される再生信号から絶対アドレスkを読み取れることを確認する(ステップS10)。
ここで、絶対アドレスが0(ゼロ)よりも小さい値、言い換えると光ディスク102の基準半径R0よりも内周側に位置する最内周の領域には目次データのみが記述されており、絶対アドレスは記述されていない。また、絶対アドレスが最大値よりも大きな値、言い換えると最外周の領域にも絶対アドレスは記述されていない。このように絶対アドレスの記述がない領域は、光ディスク102におけるデータの記録がなされている領域のごく僅かである。
したがって、ステップS10で絶対アドレスが読み取れない場合は、送りモータ108を制御することにより、光ピックアップ106を半径方向に移動させ絶対アドレスが記述されている領域までシークし絶対アドレスを読み取れるようにする(ステップS12)。
なお、ステップS12における光ピックアップ102の移動量は絶対アドレスの読み取りが可能となる程度で行われればよく、ピックアップ102の移動量を厳密に制御する必要はない。
次に、メカ制御用マイクロコンピュータ120は、FG検出器118から供給されるFG信号に基づいて回転周期Tを測定する(ステップS14)。本実施例ではFG信号の1つ目の立ち上がりエッジ(図2における光ディスク102の回転角0)から次の2つ目の立ち上がりエッジ(図2における光ディスク102の回転角π/3)までの時間(T/6)を測定しその測定値を6倍することで回転周期Tを得る。
そして、絶対アドレスkを読み取り一時的に格納する。
次に、式(11)によって読み取られた絶対アドレスkに対応する光ディスク箇所の半径Rkの値を求める(ステップS18)。ステップS18を1回目に実行する際には記録線速度Lとして規格内(1.2m/s以上1.4m/s以下の範囲内)の任意の値を設定して計算を行う。
次いで、ステップS18で求めた半径Rkを式(10)に代入することで記録線速度Lを求める(ステップS20)。
1回目の計算で求めた記録線速度Lはそれに含まれる誤差が大きいため、再度ステップS10〜S20を実行する(ステップS22)。
ステップS10〜S16の内容は上述と同様である。
ただし、ステップS14の回転周期Tの測定は、FG信号の2つ目の立ち上がりエッジ(図2における光ディスク102の回転角π/3)から次の3つ目の立ち上がりエッジ(図2における光ディスク102の回転角2π/3)までの時間(T/6)を測定しその測定値を6倍することでなされる。
そして、2回目に実行するステップS18では、1回目で得た記録線速度Lを用いて式(16)によって半径Rkの値を求める。
次いで、2回目に実行するステップS20では、2回目のステップS18で求めた半径Rkを式(10)に代入することで記録線速度Lを求める。
2回目の計算で求めた記録線速度Lに含まれる誤差は1回目の計算で求めた記録線速度Lに含まれる誤差よりも減少している。この誤差量を減らすためには、ステップS10〜S20を複数回実行する(ステップS22)。
なお、3回目以降のステップS14における回転周期Tの測定では、測定対象となるFG信号の立ち上がりエッジが順次1つずつずれることはもちろんである。
そして、絶対アドレスkを読み取り一時的に格納する。
次に、式(11)によって読み取られた絶対アドレスkに対応する光ディスク箇所の半径Rkの値を求める(ステップS18)。ステップS18を1回目に実行する際には記録線速度Lとして規格内(1.2m/s以上1.4m/s以下の範囲内)の任意の値を設定して計算を行う。
次いで、ステップS18で求めた半径Rkを式(10)に代入することで記録線速度Lを求める(ステップS20)。
1回目の計算で求めた記録線速度Lはそれに含まれる誤差が大きいため、再度ステップS10〜S20を実行する(ステップS22)。
ステップS10〜S16の内容は上述と同様である。
ただし、ステップS14の回転周期Tの測定は、FG信号の2つ目の立ち上がりエッジ(図2における光ディスク102の回転角π/3)から次の3つ目の立ち上がりエッジ(図2における光ディスク102の回転角2π/3)までの時間(T/6)を測定しその測定値を6倍することでなされる。
そして、2回目に実行するステップS18では、1回目で得た記録線速度Lを用いて式(16)によって半径Rkの値を求める。
次いで、2回目に実行するステップS20では、2回目のステップS18で求めた半径Rkを式(10)に代入することで記録線速度Lを求める。
2回目の計算で求めた記録線速度Lに含まれる誤差は1回目の計算で求めた記録線速度Lに含まれる誤差よりも減少している。この誤差量を減らすためには、ステップS10〜S20を複数回実行する(ステップS22)。
なお、3回目以降のステップS14における回転周期Tの測定では、測定対象となるFG信号の立ち上がりエッジが順次1つずつずれることはもちろんである。
なお、本実施例において、ステップS16が特許請求の範囲の絶対アドレス読み取りステップに相当し、ステップS18が特許請求の範囲の半径算出ステップに相当し、ステップS20が記録線速度算出ステップに相当し、ステップS14が特許請求の範囲の回転周期測定ステップに相当している。
また、本実施例において、光ピックアップ106、RFアンプ110、信号復調用DSP112、メカ制御用マイクロコンピュータ120が特許請求の範囲の絶対アドレス読み取り手段に相当し、メカ制御用マイクロコンピュータ120が特許請求の範囲の半径算出手段に相当し、メカ制御用マイクロコンピュータ120が記録線速度算出手段に相当し、スピンドルモータ104に内蔵された前記回転センサ(不図示)、ドライバアンプ116、FG検出器118、メカ制御用マイクロコンピュータ120が特許請求の範囲の回転周期測定手段に相当している。
また、本実施例において、光ピックアップ106、RFアンプ110、信号復調用DSP112、メカ制御用マイクロコンピュータ120が特許請求の範囲の絶対アドレス読み取り手段に相当し、メカ制御用マイクロコンピュータ120が特許請求の範囲の半径算出手段に相当し、メカ制御用マイクロコンピュータ120が記録線速度算出手段に相当し、スピンドルモータ104に内蔵された前記回転センサ(不図示)、ドライバアンプ116、FG検出器118、メカ制御用マイクロコンピュータ120が特許請求の範囲の回転周期測定手段に相当している。
次に、このようなステップS10〜S20を複数回繰り返すことによって記録線速度Lに含まれる誤差が減少し記録線速度Lの値が正確な値に収束していくことについて具体的な数値例を挙げて説明する。
(数値例1)
光ディスク102の記録線速度LをCD規格の最大値1.40m/sとし、セクタ長lの初期値をCD規格の最小値16.00mmとする。
本例では、セクタ長lの初期値16.00mmは記録線速度LがCD規格の最小値である1.20m/sである場合に相当しており、1回目の計算で得られる記録線速度Lの誤差が最も大きくなるような条件としている。
記録線速度Lが1.40m/sである場合、光ディスク102の半径位置58.0mmにおけるセクタアドレスは287960(63min59sec35frm)である。なお、セクタアドレスは絶対アドレスのことである。
この光ディスク102が記録線速度1.40m/sに対応する回転速度で正常に回転されている場合、1回転当たりに要する時間(回転周期)は260.2msとなる。
式(11)、式(10)にこれらの数値を代入し1回目の計算を行って記録線速度Lを求める。以下の各式においては計算回数1、2、3、……、6とを示す添え字を記録線速度Lに付して説明する。
(数値例1)
光ディスク102の記録線速度LをCD規格の最大値1.40m/sとし、セクタ長lの初期値をCD規格の最小値16.00mmとする。
本例では、セクタ長lの初期値16.00mmは記録線速度LがCD規格の最小値である1.20m/sである場合に相当しており、1回目の計算で得られる記録線速度Lの誤差が最も大きくなるような条件としている。
記録線速度Lが1.40m/sである場合、光ディスク102の半径位置58.0mmにおけるセクタアドレスは287960(63min59sec35frm)である。なお、セクタアドレスは絶対アドレスのことである。
この光ディスク102が記録線速度1.40m/sに対応する回転速度で正常に回転されている場合、1回転当たりに要する時間(回転周期)は260.2msとなる。
式(11)、式(10)にこれらの数値を代入し1回目の計算を行って記録線速度Lを求める。以下の各式においては計算回数1、2、3、……、6とを示す添え字を記録線速度Lに付して説明する。
次に同様に2回目の計算を行う。
記録線速度1.40m/sの光ディスク102の場合、半径58.0mmの位置では1/6回転当たり約4セクタが記録されている。したがって、2回目の計算では、絶対アドレスkの値は1回目で得られた絶対アドレスkの値に4セクタを加算した値287960+4=287964となる。また、2回目の計算では、セクタ長として1回目の計算で求められた記録線速度Lに対応して式(11)で求められた17.55mmを用いる。
記録線速度1.40m/sの光ディスク102の場合、半径58.0mmの位置では1/6回転当たり約4セクタが記録されている。したがって、2回目の計算では、絶対アドレスkの値は1回目で得られた絶対アドレスkの値に4セクタを加算した値287960+4=287964となる。また、2回目の計算では、セクタ長として1回目の計算で求められた記録線速度Lに対応して式(11)で求められた17.55mmを用いる。
上述のように6回の計算を繰り返すことにより、記録線速度Lとして1.400m/sを得ることができ、真値1.400m/sに対する誤差は0.00%となる。ただし本例では有効桁数を4桁としている。
(数値例2)
光ディスク102の記録線速度LをCD規格の最小値1.20m/sとし、セクタ長lの初期値をCD規格の最大値18.67mmとする。
本例では、セクタ長lの初期値18.67mmは記録線速度LがCD規格の最大値である1.40m/sである場合に相当しており、1回目の計算で得られる記録線速度Lの誤差が最も大きくなるような条件としている。
記録線速度Lが1.20m/sである場合、光ディスク102の半径位置58.0mmにおけるセクタアドレスは335954(74min39sec29frm)である。
この光ディスク102が記録線速度1.20m/sに対応する回転速度で正常に回転されている場合、1回転当たりに要する時間(回転周期)は303.5msとなる。
式(11)、式(10)にこれらの数値を代入し1回目の計算を行って記録線速度Lを求める。以下の各式においても計算回数1、2、3、……、6を示す添え字を記録線速度Lに付して説明する。
光ディスク102の記録線速度LをCD規格の最小値1.20m/sとし、セクタ長lの初期値をCD規格の最大値18.67mmとする。
本例では、セクタ長lの初期値18.67mmは記録線速度LがCD規格の最大値である1.40m/sである場合に相当しており、1回目の計算で得られる記録線速度Lの誤差が最も大きくなるような条件としている。
記録線速度Lが1.20m/sである場合、光ディスク102の半径位置58.0mmにおけるセクタアドレスは335954(74min39sec29frm)である。
この光ディスク102が記録線速度1.20m/sに対応する回転速度で正常に回転されている場合、1回転当たりに要する時間(回転周期)は303.5msとなる。
式(11)、式(10)にこれらの数値を代入し1回目の計算を行って記録線速度Lを求める。以下の各式においても計算回数1、2、3、……、6を示す添え字を記録線速度Lに付して説明する。
次に同様に2回目の計算を行う。
記録線速度1.20m/sの光ディスク102の場合、半径58.0mmの位置では1/6回転当たり約4セクタが記録されている。したがって、2回目の計算では、絶対アドレスkの値は1回目で得られた絶対アドレスkの値に4セクタを加算した値335954+4=335958となる。また、2回目の計算では、セクタ長として1回目の計算で求められた記録線速度Lに対応して式(11)で求められた17.07mmを用いる。
記録線速度1.20m/sの光ディスク102の場合、半径58.0mmの位置では1/6回転当たり約4セクタが記録されている。したがって、2回目の計算では、絶対アドレスkの値は1回目で得られた絶対アドレスkの値に4セクタを加算した値335954+4=335958となる。また、2回目の計算では、セクタ長として1回目の計算で求められた記録線速度Lに対応して式(11)で求められた17.07mmを用いる。
上述のように6回の計算を繰り返すことにより、記録線速度Lとして1.202m/sを得ることができ、真値1.200m/sに対する誤差は0.17%となる。ただし本例では有効桁数を4桁としている。
上述した数値例1、2に示すように、計算を繰り返す毎に記録線速度Lに含まれる誤差が減少し、例えば6回程度の計算を繰り返すことによりほぼ真値と一致した記録線速度Lを得ることができる。
上述した数値例1、2に示すように、計算を繰り返す毎に記録線速度Lに含まれる誤差が減少し、例えば6回程度の計算を繰り返すことによりほぼ真値と一致した記録線速度Lを得ることができる。
以上説明したように本実施例によれば、光ディスク102からの絶対アドレスの読み取り、読み取られた絶対アドレスに対応する光ディスク102箇所の半径Rkの算出、記録線速度Lの算出をこれらの順番で2回以上繰り返して実行し、1回目の半径Rk算出ではセクタ長lとして光ディスク102の規格で定められた値を用い、2回目以降に実行する半径Rk算出ではセクタ長として前回の記録線速度算出で得られた記録線速度Lに対応したセクタ長lを用いるようにした。
したがって、光ディスク102上における絶対アドレスkが読み取り可能な半径位置であれば、その半径位置における光ディスク102の記録線速度Lを求めることができ、従来と違って、前もって光ピックアップ104を前記所定の半径位置に正確に位置決めする必要がなく、記録線速度の測定に要する時間を大幅に短縮することができるので、光ピックアップのアクセス時間を短縮する上で有利となる。
また、従来と違って、光ピックアップ104の位置決めを機械的に行うための機構部品が不要となるので、部品点数を削減し構成の簡素化およびコストの削減を図る上で有利となる。
また、本実施例では、光ディスク102が1回転する間に回転周期Tを6回測定するとともに、回転周期Tを測定する毎に記録線速度Lの算出を行うようにした。言い換えると、回転周期の測定は、記録線速度算出が実行される毎に該記録線速度算出に先行して実行したので、回転周期の測定結果のばらつきを抑制することができ記録線速度の算出結果の精度を高める上で有利となる。
また、回転周期の測定を、1回目の記録線速度算出に先行して1回のみ実行し、それ以降では回転周期の測定を行わないようにしてもよく、この場合には回転周期の測定を省略した分だけ記録線速度を得るために要する計算時間を短縮する上で有利となる。
したがって、光ディスク102上における絶対アドレスkが読み取り可能な半径位置であれば、その半径位置における光ディスク102の記録線速度Lを求めることができ、従来と違って、前もって光ピックアップ104を前記所定の半径位置に正確に位置決めする必要がなく、記録線速度の測定に要する時間を大幅に短縮することができるので、光ピックアップのアクセス時間を短縮する上で有利となる。
また、従来と違って、光ピックアップ104の位置決めを機械的に行うための機構部品が不要となるので、部品点数を削減し構成の簡素化およびコストの削減を図る上で有利となる。
また、本実施例では、光ディスク102が1回転する間に回転周期Tを6回測定するとともに、回転周期Tを測定する毎に記録線速度Lの算出を行うようにした。言い換えると、回転周期の測定は、記録線速度算出が実行される毎に該記録線速度算出に先行して実行したので、回転周期の測定結果のばらつきを抑制することができ記録線速度の算出結果の精度を高める上で有利となる。
また、回転周期の測定を、1回目の記録線速度算出に先行して1回のみ実行し、それ以降では回転周期の測定を行わないようにしてもよく、この場合には回転周期の測定を省略した分だけ記録線速度を得るために要する計算時間を短縮する上で有利となる。
また、本実施例では、一定の記録線速度Lで記録がなされる光ディスク102としてCD−R、CD−ROM、CD−RWなどを含むCDファミリーに該当する光ディスクを例示して説明したが、光ディスク102は一定の記録線速度Lで記録がなされるものであればよく、例えばDVD±R、DVD+RW、DVD−ROM、DVD−RAMなどを含むDVDファミリーに該当する光ディスクに対しても本発明を適用できることはいうまでもない。
また、本実施例では光ディスク装置100が光ディスク102に記録されたデータの再生を行うものとして説明したが、光ディスク装置100が光ディスク102に記録されたデータの再生および光ディスク102に対するデータの記録の双方を行うものであっても本発明は適用可能である。
また、本実施例では光ディスク装置100が光ディスク102に記録されたデータの再生を行うものとして説明したが、光ディスク装置100が光ディスク102に記録されたデータの再生および光ディスク102に対するデータの記録の双方を行うものであっても本発明は適用可能である。
100……光ディスク装置、102……光ディスク、104……光ピックアップ、k……絶対アドレス、l……セクタ長、p……トラックピッチ、R0……基準アドレス半径、Rk……半径、T……光ディスクの回転周期。
Claims (14)
- 一定の記録線速度でデータが記録された光ディスクから前記記録されたデータを再生する際に前記記録線速度を測定する光ディスクの記録線速度測定方法であって、
一定の回転速度で前記光ディスクを回転させつつ前記光ディスクの半径方向の所定位置における絶対アドレスを前記光ディスクから読み取る絶対アドレス読み取りステップと、
前記絶対アドレス読み取りステップによって得られた絶対アドレスをkとし、前記光ディスクのセクタ長をlとし、前記光ディスクのトラックピッチをpとし、前記光ディスクの基準アドレス半径をR0としたときに下記の式(1)によって前記読み取られた絶対アドレスkに対応する光ディスク箇所の半径Rkを算出する半径算出ステップと、
Rk={((k+1)・l・p)/π+R0 2}1/2 (1)
前記光ディスクの回転周期をTとしたときに下記の式(2)によって前記光ディスクの記録線速度Lを算出する記録線速度算出ステップとを含み、
L=(2π・Rk/T) (2)
前記絶対アドレス読み取りステップと、前記半径算出ステップと、前記記録線速度算出ステップとをこの順番で2回以上繰り返して実行し、1回目に実行する前記半径算出ステップでは前記セクタ長lとして前記光ディスクの規格で定められた値を用い、2回目以降に実行する前記半径算出ステップでは前記セクタ長として前回の記録線速度算出ステップで得られた記録線速度Lに対応したセクタ長を用いる、
ことを特徴とする光ディスクの記録線速度測定方法。 - 前記セクタ長は、前記光ディスクに記録されているデータの最小単位であるフレームに対応して前記光ディスクの円周方向に延在する記録領域の単位であるセクタの前記円周方向の長さであることを特徴とする請求項1記載の光ディスクの記録線速度測定方法。
- 前記光ディスクが前記記録線速度L(m/s)に対応する回転速度で1秒間に回転されたときに再生されるフレーム数をFとしたとき、前記セクタ長l(m)は下記の式(3)によって算出される、
l=L/F (3)
ことを特徴とする請求項1記載の光ディスクの記録線速度測定方法。 - 前記光ディスクの回転周期Tを測定する回転周期測定ステップをさらに含むことを特徴とする請求項1記載の光ディスクの記録線速度測定方法。
- 前記回転周期測定ステップは、前記記録線速度算出ステップが実行される毎に該記録線速度算出ステップに先行して実行されることを特徴とする請求項4記載の光ディスクの記録線速度測定方法。
- 前記回転周期測定ステップは、前記1回目の前記記録線速度算出ステップに先行して1回のみ実行されることを特徴とする請求項4記載の光ディスクの記録線速度測定方法。
- 前記絶対アドレス読み取りステップにおける前記絶対アドレスの前記光ディスクからの読み取りは前記光ディスクに記録されたデータを読み取り可能に構成された光ピックアップにより行うことを特徴とする請求項1記載の光ディスクの記録線速度測定方法。
- 一定の記録線速度でデータが記録された光ディスクを保持して一定の回転速度で回転駆動する駆動手段と、
前記駆動手段によって回転駆動する光ディスクに対し再生用の光ビームを照射し、前記照射された光ビームの前記光記録媒体での反射光による反射光ビームを検出する光ピックアップとを有する光ディスク装置であって、
一定の回転速度で前記光ディスクを回転させつつ前記光ディスクの半径方向の所定位置における絶対アドレスを前記光ディスクから読み取る絶対アドレス読み取り手段と、
前記絶対アドレス読み取り手段によって得られた絶対アドレスをkとし、前記光ディスクのセクタ長をlとし、前記光ディスクのトラックピッチをpとし、前記光ディスクの基準アドレス半径をR0としたときに下記の式(1)によって前記読み取られた絶対アドレスkに対応する光ディスク箇所の半径Rkを算出する半径算出手段と、
Rk={((k+1)・l・p)/π+R0 2}1/2 (1)
前記光ディスクの回転周期をTとしたときに下記の式(2)によって前記光ディスクの記録線速度Lを算出する記録線速度算出手段とを含み、
L=(2π・Rk/T) (2)
前記絶対アドレス読み取り手段による絶対アドレスの読み取りと、前記半径算出手段による半径の算出と、前記記録線速度算出手段による記録線速度の算出とがこの順番で2回以上繰り返して実行され、1回目に実行する前記半径の算出では前記セクタ長lとして前記光ディスクの規格で定められた値を用い、2回目以降に実行する前記半径の算出では前記セクタ長として前回の記録線速度の算出で得られた記録線速度Lに対応したセクタ長が用いられるように構成されている、
ことを特徴とする光ディスク装置。 - 前記セクタ長は、前記光ディスクに記録されているデータの最小単位であるフレームに対応して前記光ディスクの円周方向に延在する記録領域の単位であるセクタの前記円周方向の長さであることを特徴とする請求項8記載の光ディスク装置。
- 前記光ディスクが前記記録線速度L(m/s)に対応する回転速度で1秒間に回転されたときに再生されるフレーム数をFとしたとき、前記セクタ長l(m)は下記の式(3)によって算出される、
l=L/F (3)
ことを特徴とする請求項8記載の光ディスク装置。 - 前記光ディスクの回転周期Tを測定する回転周期測定手段をさらに含むことを特徴とする請求項8記載の光ディスク装置。
- 前記回転周期測定手段による回転周期の測定は、前記記録線速度算出手段による記録線速度の算出が実行される毎に該記録線速度の算出に先行して実行されることを特徴とする請求項11記載の光ディスク装置。
- 前記回転周期測定手段による回転周期の測定は、前記1回目の前記記録線速度算出手段による記録線速度の算出に先行して1回のみ実行されることを特徴とする請求項11記載の光ディスクの記録線速度測定方法。
- 前記絶対アドレス読み取り手段による前記絶対アドレスの前記光ディスクからの読み取りは前記光ピックアップにより行われることを特徴とする請求項8記載の光ディスクス装置。
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JP2004144423A JP2005327369A (ja) | 2004-05-14 | 2004-05-14 | 光ディスクの記録線速度測定方法および光ディスク装置 |
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