JP2005269023A - Ladder resistor type d/a conversion circuit - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a ladder resistor type D/A conversion circuit whereby the cost can be reduced by decreasing the number of buffers in use while decreasing the number of resistors in use and a D/A conversion output with high accuracy can be obtained. <P>SOLUTION: A control circuit 23 applies switch control to analog switches 16, 18, 19, 21, 22 to form series connection of first and second ladder resistors 2, 3 thereby causing a state that a voltage V2 is applied between both end terminals of the ladder resistors 2, 3 in the series connection, and provides an output of a D/A conversion signal from an output terminal OUT 2 through a first buffer 14 or a second buffer 15 on the basis of a 4-bit digital signal. Further, the control circuit 23 applies switching control to the analog switches 16, 18, 19 so as to separate the first and second ladder resistors 2, 3 from each other and provides an output of 3-bit D/A conversion signals from output terminals OUT 1, OUT 2 through the first and second buffers 14, 15. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

本発明は、複数の抵抗が組み合わされたラダー抵抗の分圧電圧をD/A変換信号として出力するラダー抵抗型D/A変換回路に関する。   The present invention relates to a ladder resistor type D / A conversion circuit that outputs a divided voltage of a ladder resistor in which a plurality of resistors are combined as a D / A conversion signal.

この種のラダー抵抗型D/A変換回路は高速動作が可能であり、分圧回路を構成するラダー抵抗のばらつきが変換精度に対して与える影響が少ないため幅広く利用されている。nビット(nは正の整数)のD/A変換処理を行うためには原理上2のn乗個の抵抗器が必要であるが、近年改良が進められており様々なラダー抵抗型D/A変換回路が提案されている。このラダー抵抗型D/A変換回路の一例として、特許文献1にDA変換装置が開示されている。図3は、この特許文献1に開示されている構成を概略的に示している。この回路構成では、制御回路1の制御に基づいて、第1のラダー抵抗2から異なる2電圧を取得し、この2電圧を第2のラダー抵抗3の基準電圧VrefL,VrefHとし、第2のラダー抵抗3の分圧電圧をD/A変換出力することで、高精度のD/A変換出力を得ることができると共に抵抗体の数を削減できるという回路である。
特開平1−93932号公報
This type of ladder resistor type D / A converter circuit is capable of high-speed operation, and is widely used because variations in ladder resistors constituting the voltage divider circuit have little influence on the conversion accuracy. In order to perform an n-bit (n is a positive integer) D / A conversion process, in principle, n 2 resistors are required, but in recent years improvements have been made and various ladder resistance type D / A A conversion circuits have been proposed. As an example of this ladder resistance type D / A conversion circuit, Patent Document 1 discloses a DA converter. FIG. 3 schematically shows the configuration disclosed in Patent Document 1. In this circuit configuration, two different voltages are acquired from the first ladder resistor 2 based on the control of the control circuit 1, and these two voltages are used as the reference voltages VrefL and VrefH of the second ladder resistor 3, and the second ladder is used. By outputting the divided voltage of the resistor 3 by D / A conversion, a highly accurate D / A conversion output can be obtained and the number of resistors can be reduced.
JP-A-1-93932

図3に示す回路構成では、第1のラダー抵抗2で取得する2電圧をそれぞれバッファ4および5によりバッファし第2のラダー抵抗3の基準電圧VrefL,VrefHを生成する必要があり、基準電圧VrefL,VrefHを作成するため少なくともバッファ4および5を2つ設ける必要があり、さらに後段の第2のラダー抵抗3の分圧電圧を出力するためにバッファ6をさらに設ける必要があり、最低でも3つのバッファを設ける必要が生じコスト高となる。特に半導体集積回路装置内に形成する場合には、半導体チップ内に形成する回路面積の増加につながるという問題を生じる。   In the circuit configuration shown in FIG. 3, it is necessary to generate the reference voltages VrefL and VrefH of the second ladder resistor 3 by buffering the two voltages acquired by the first ladder resistor 2 with the buffers 4 and 5, respectively. , VrefH, at least two buffers 4 and 5 must be provided, and further, a buffer 6 must be provided to output the divided voltage of the second ladder resistor 3 at the subsequent stage. It is necessary to provide a buffer, resulting in high cost. In particular, when it is formed in a semiconductor integrated circuit device, there is a problem that the circuit area formed in the semiconductor chip is increased.

本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、その目的は、使用する抵抗器の数を抑制しつつ使用バッファの数を低減することでコストを抑制できると共に、高精度のD/A変換出力を得ることができるラダー抵抗型D/A変換回路を提供することにある。   The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to reduce the number of used buffers while suppressing the number of resistors to be used, and to suppress the cost, and to achieve a highly accurate D / A. An object of the present invention is to provide a ladder resistance type D / A conversion circuit capable of obtaining a conversion output.

請求項1記載の発明によれば、切替回路が、制御回路により出力される切替信号に基づいて第1および第2のラダー抵抗を直列的に接続し当該直列的に接続されたラダー抵抗に第1もしくは第2の所定電圧を与える第1状態に切替えると、制御回路は、第1および第2のラダー抵抗の直列的に接続された抵抗による第1または第2の所定電圧の分圧電圧をnビットのディジタル信号に基づいて2のn乗個のD/A変換信号として出力させる。   According to the first aspect of the present invention, the switching circuit connects the first and second ladder resistors in series based on the switching signal output from the control circuit, and the first and second ladder resistors are connected in series. When switching to the first state in which the first or second predetermined voltage is applied, the control circuit changes the divided voltage of the first or second predetermined voltage by the resistors connected in series of the first and second ladder resistors. Based on the n-bit digital signal, it is output as 2 n D / A converted signals.

このとき、ラダー抵抗に与えられる所定電圧の分圧電圧をkビットよりも大きなnビットのディジタル信号に基づいて2のn乗個のD/A変換信号として出力するようになっているため、分解能の高い高精度のD/A変換出力を必要に応じて得ることができるようになる。すなわち、第1および第2のラダー抵抗のみでkビットおよびnビットのD/A変換回路を構成することができるため、kビットおよびnビットのD/A変換回路をそれぞれ別途作成する構成に比較して使用抵抗器の数を減少させることができる。   At this time, the divided voltage of the predetermined voltage applied to the ladder resistor is output as 2 n D / A conversion signals based on an n-bit digital signal larger than k bits. A highly accurate D / A conversion output can be obtained as required. That is, since the k-bit and n-bit D / A conversion circuits can be configured only by the first and second ladder resistors, the comparison is made with a configuration in which k-bit and n-bit D / A conversion circuits are separately created. Thus, the number of resistors used can be reduced.

しかも、第1状態においては第1または第2のバッファを介してD/A変換出力を得ることができると共に、第2状態においては第1のバッファを介してD/A変換出力を得ることができるため、第1および第2のバッファ以外のバッファをD/A変換回路用に構成する必要がなくなる。これにより、コストを抑制しながら第2状態において分解能の高い高精度のD/A変換出力を得ることができる。   In addition, a D / A conversion output can be obtained via the first or second buffer in the first state, and a D / A conversion output can be obtained via the first buffer in the second state. Therefore, it is not necessary to configure a buffer other than the first and second buffers for the D / A conversion circuit. Thereby, it is possible to obtain a highly accurate D / A conversion output with high resolution in the second state while suppressing the cost.

また、切替回路が、制御回路により出力される切替信号に基づいて第1および第2のラダー抵抗を切離して少なくとも第1の所定電圧を第1のラダー抵抗に与える第2状態に切替えると、制御回路は、第1のラダー抵抗に与えられる第1の所定電圧の分圧電圧をkビットのディジタル信号に基づいて2のk乗個のD/A変換信号として出力させるため、上述説明の作用効果に加えて、高精度のD/A変換出力を必要としない場合には必要に応じて切替えることによりkビットのD/A変換出力を得ることができるようになる。   Further, when the switching circuit switches to the second state in which the first and second ladder resistors are disconnected and at least the first predetermined voltage is applied to the first ladder resistor based on the switching signal output from the control circuit, the control is performed. The circuit outputs the divided voltage of the first predetermined voltage given to the first ladder resistor as 2 k power D / A conversion signals based on the k-bit digital signal. In addition, when high-precision D / A conversion output is not required, k-bit D / A conversion output can be obtained by switching as necessary.

請求項2記載の発明によれば、第2のラダー抵抗が、第2の所定電圧が与えられることにより2のm乗個(mは正の整数)のそれぞれ異なる分圧電圧を出力可能に構成されており、切替回路が、第2状態においては第1および第2のラダー抵抗を切離して第1の所定電圧を第1のラダー抵抗に基準電圧として与えると共に第2の所定電圧を第2のラダー抵抗に基準電圧として与えるように切替えるように構成されており、さらに制御回路は、切替回路により切替えられた第2状態においては、kビットのディジタル信号に基づいて第1の所定電圧の第1のラダー抵抗による分圧電圧を2のk乗個のD/A変換信号として第1のバッファを通じて出力させるように構成されると共に、mビットのディジタル信号に基づいて第2の所定電圧の第2のラダー抵抗による分圧電圧を2のm乗個のD/A変換信号として第2のバッファを通じて出力させるため、高分解能のD/A変換出力を必要としない場合には、第2状態においては複数系統のD/A変換出力を得ることができるようになる。   According to the second aspect of the present invention, the second ladder resistor is configured to be capable of outputting different m 2 (m is a positive integer) divided voltage when a second predetermined voltage is applied. In the second state, the switching circuit disconnects the first and second ladder resistors to provide the first predetermined voltage as the reference voltage to the first ladder resistor and supplies the second predetermined voltage to the second state. The control circuit is configured to be switched so as to be applied as a reference voltage to the ladder resistor, and in the second state switched by the switching circuit, the control circuit has a first predetermined first voltage based on a k-bit digital signal. The voltage divided by the ladder resistor is output through the first buffer as 2 k power D / A converted signals, and the second predetermined voltage of the second predetermined voltage is output based on the m-bit digital signal. Since the divided voltage by the ladder resistor is output through the second buffer as a 2 m power D / A conversion signal, when a high-resolution D / A conversion output is not required, a plurality of voltages are output in the second state. The D / A conversion output of the system can be obtained.

請求項3記載の発明によれば、第1および第2の所定電圧が同一電圧であるため、高精度にD/A変換信号を出力することができるようになる。
特に請求項4記載の発明のように、半導体集積回路装置内にD/A変換回路を形成する場合には、チップ形成面積を抑制することができるようになる。
According to the invention described in claim 3, since the first and second predetermined voltages are the same voltage, the D / A conversion signal can be output with high accuracy.
Particularly when the D / A conversion circuit is formed in the semiconductor integrated circuit device as in the invention described in claim 4, the chip formation area can be suppressed.

以下、本発明の一実施形態について図1および図2を参照しながら説明する。尚、背景技術として説明した構成と同一部分には同一符号を付して説明を行う。
図1は、ラダー抵抗型D/A変換回路11(以下、D/A変換回路と称す)の概略的なブロック構成図を示している。本実施形態では、本発明を理解しやすく説明するため3ビットおよび4ビットのD/A変換回路を切替えて使用する実施形態について説明する。
Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 and 2. In addition, the same code | symbol is attached | subjected and demonstrated to the same part as the structure demonstrated as background art.
FIG. 1 is a schematic block diagram of a ladder resistance type D / A conversion circuit 11 (hereinafter referred to as a D / A conversion circuit). In the present embodiment, an embodiment in which 3-bit and 4-bit D / A conversion circuits are switched and used will be described in order to facilitate understanding of the present invention.

この図1において、D/A変換回路11は、第1のラダー抵抗2(抵抗2a〜2h)と、第2のラダー抵抗3(抵抗3a〜3h)と、第1のラダー抵抗2による分圧電圧を切替出力するように接続された複数のアナログスイッチ12(アナログスイッチ12a〜12h)と、第2のラダー抵抗3による分圧電圧を切替出力するように接続された複数のアナログスイッチ13(アナログスイッチ13a〜13h)と、アナログスイッチ12により切替出力された電圧をバッファする第1のバッファ14と、アナログスイッチ13により切替出力された電圧をバッファする第2のバッファ15と、切替回路として機能するアナログスイッチ16〜22と、これらのアナログスイッチ群12および13,16〜22を切替信号に基づいて切替制御する制御回路23とを備えている。尚、第1および第2のバッファ14および15は、バッファ4〜6の構成と同一構成である。   In FIG. 1, the D / A conversion circuit 11 includes a first ladder resistor 2 (resistors 2 a to 2 h), a second ladder resistor 3 (resistors 3 a to 3 h), and a voltage divided by the first ladder resistor 2. A plurality of analog switches 12 (analog switches 12a to 12h) connected so as to switch and output a voltage, and a plurality of analog switches 13 (analogs) connected so as to switch and output a divided voltage by the second ladder resistor 3 Switches 13a to 13h), a first buffer 14 that buffers the voltage switched and output by the analog switch 12, a second buffer 15 that buffers the voltage switched and output by the analog switch 13, and functions as a switching circuit. The analog switches 16 to 22 and the analog switch groups 12 and 13 and 16 to 22 are switched and controlled based on a switching signal. And a control circuit 23. The first and second buffers 14 and 15 have the same configuration as that of the buffers 4 to 6.

例えば3Vの第1の所定電圧V1が基準電圧として与えられるノードN1とグランドGNDとの間には、アナログスイッチ16と、第1のラダー抵抗2と、アナログスイッチ17とが直列接続されている。第1のラダー抵抗2は、例えば8個(複数個)の分圧用の抵抗2a〜2hが直列接続されることにより構成されている。これらの8個(複数個)の抵抗2a〜2hは同一抵抗値の抵抗により構成されている。   For example, an analog switch 16, a first ladder resistor 2, and an analog switch 17 are connected in series between a node N1 to which a first predetermined voltage V1 of 3 V is applied as a reference voltage and the ground GND. The first ladder resistor 2 is configured by, for example, eight (plural) voltage dividing resistors 2a to 2h connected in series. These eight (plural) resistors 2a to 2h are composed of resistors having the same resistance value.

また、例えば3Vの第2の所定電圧V2が基準電圧として与えられるノードN2とグランドGNDとの間には、アナログスイッチ20と、第2のラダー抵抗3と、アナログスイッチ19とが直列接続されている。この第2のラダー抵抗3も同様に、例えば8個(複数個)の分圧用の抵抗3a〜3hが直列接続されることにより構成されており、これらの8個の抵抗3a〜3hは、それぞれ同一抵抗値の抵抗により構成されている。   For example, an analog switch 20, a second ladder resistor 3, and an analog switch 19 are connected in series between a node N2 to which a second predetermined voltage V2 of 3 V is applied as a reference voltage and the ground GND. Yes. Similarly, the second ladder resistor 3 is configured by, for example, eight (plural) voltage dividing resistors 3a to 3h connected in series. These eight resistors 3a to 3h are respectively It is comprised by the resistance of the same resistance value.

アナログスイッチ16および第1のラダー抵抗2の共通接続点と、第2のラダー抵抗3およびアナログスイッチ19の共通接続点との間には、アナログスイッチ18が接続されている。
直列接続された各抵抗2a〜2h間の共通接続点と第1のバッファ14の入力端子(オペアンプの非反転入力端子)との間には、それぞれアナログスイッチ12a〜12gが接続されている。また、第1のラダー抵抗2およびアナログスイッチ17の共通接続点と第1のバッファ14の入力端子との間には、アナログスイッチ12hが接続されている。第1のバッファ14の出力端子は、出力端子OUT1に接続されていると共に、アナログスイッチ21を介して出力端子OUT2に接続されている。また、第2のバッファ15の出力端子と出力端子OUT2との間には、アナログスイッチ22が接続されている。
An analog switch 18 is connected between a common connection point of the analog switch 16 and the first ladder resistor 2 and a common connection point of the second ladder resistor 3 and the analog switch 19.
Analog switches 12a to 12g are connected between a common connection point between the resistors 2a to 2h connected in series and an input terminal of the first buffer 14 (non-inverting input terminal of the operational amplifier), respectively. An analog switch 12 h is connected between the common connection point of the first ladder resistor 2 and the analog switch 17 and the input terminal of the first buffer 14. The output terminal of the first buffer 14 is connected to the output terminal OUT1 and is connected to the output terminal OUT2 via the analog switch 21. An analog switch 22 is connected between the output terminal of the second buffer 15 and the output terminal OUT2.

直列接続された各抵抗3a〜3h間の共通接続点と第2のバッファ15の入力端子(オペアンプの非反転入力端子)との間には、それぞれアナログスイッチ13a〜13gが接続されている。また、第2のラダー抵抗3hおよびアナログスイッチ19の共通接続点と第2のバッファ15の入力端子との間には、アナログスイッチ13hが接続されている。これら第1および第2のバッファ14および15は、それぞれ、1つのオペアンプにより構成されており、その入力端子がオペアンプの非反転入力端子として構成され出力端子とオペアンプの反転入力端子が接続されてなるボルテージフォロワにより形成されている。   Analog switches 13a to 13g are connected between the common connection point between the resistors 3a to 3h connected in series and the input terminal of the second buffer 15 (non-inverting input terminal of the operational amplifier), respectively. An analog switch 13 h is connected between the common connection point of the second ladder resistor 3 h and the analog switch 19 and the input terminal of the second buffer 15. Each of the first and second buffers 14 and 15 is composed of one operational amplifier, and its input terminal is configured as a non-inverting input terminal of the operational amplifier, and the output terminal and the inverting input terminal of the operational amplifier are connected. It is formed by a voltage follower.

オペアンプは、通常数十個程度のMOSトランジスタや各種抵抗素子やコンデンサ素子等のインピーダンス素子が組み合わされて構成されており、特に半導体集積回路装置内に形成した場合には、後述する制御回路23の内部構成よりも半導体チップ面積が大幅に必要とされる。本実施形態では、第1および第2のバッファ14および15を2つのオペアンプのみで構成しているため、半導体集積回路装置内に形成したとしても背景技術欄に説明した従来構成に比較して大幅に半導体チップ内の形成領域を削減できるという効果を奏する。   The operational amplifier is usually configured by combining several tens of MOS transistors, impedance elements such as various resistance elements and capacitor elements, and particularly when formed in a semiconductor integrated circuit device, the operational circuit 23 described later. The semiconductor chip area is required much more than the internal configuration. In the present embodiment, since the first and second buffers 14 and 15 are composed of only two operational amplifiers, even if formed in the semiconductor integrated circuit device, the first and second buffers 14 and 15 are significantly larger than the conventional configuration described in the background art section. In addition, it is possible to reduce the formation area in the semiconductor chip.

アナログスイッチ12,13,16〜22はそれぞれ制御端子を備えており、制御端子に与えられる制御信号がHレベル「1」であるとき導通するようになっており、制御端子に与えられる制御信号がLレベル「0」であるとき非導通になる。このように説明した回路構成について、制御回路23は、切替信号として各アナログスイッチ12,13,16〜22の制御端子にHレベルもしくはLレベルを与えて切替えることにより、出力端子OUT1もしくはOUT2からD/A変換信号を出力するようになっている。   Each of the analog switches 12, 13, 16 to 22 has a control terminal, and conducts when the control signal applied to the control terminal is at the H level “1”, and the control signal applied to the control terminal is When L level is “0”, it becomes non-conductive. With respect to the circuit configuration described above, the control circuit 23 switches from the output terminal OUT1 or OUT2 to D by applying an H level or an L level to the control terminals of the analog switches 12, 13, 16 to 22 as switching signals. / A conversion signal is output.

以下、図2を参照しながら制御回路23の構成について説明する。
制御回路23は、HレベルまたはLレベルの選択信号を生成する選択信号発生回路24と、第1および第2の制御端子付デコーダ25および26と、この制御端子付デコーダ25および26の制御端子25aおよび26aにそれぞれ制御信号を与えるデコーダ有効無効制御回路27および28と、ディジタル信号を発生する信号発生回路29および30と、信号発生回路29および30から与えられるディジタル信号を選択切替出力するセレクタ31と、NOTゲート32〜34とにより構成されている。
Hereinafter, the configuration of the control circuit 23 will be described with reference to FIG.
The control circuit 23 includes a selection signal generation circuit 24 that generates a selection signal of H level or L level, first and second decoders with control terminals 25 and 26, and control terminals 25a of the decoders with control terminals 25 and 26. Decoder valid / invalid control circuits 27 and 28 for supplying control signals to A and 26a, signal generating circuits 29 and 30 for generating digital signals, and a selector 31 for selectively switching and outputting the digital signals supplied from the signal generating circuits 29 and 30, respectively. , And NOT gates 32 to 34.

このうち、選択信号発生回路24は、このラダー抵抗型D/A変換回路11を4ビットのD/A変換回路として機能させるとき(第1状態と称する)には選択信号として「1」(=「H」レベル)を出力し、ラダー抵抗型D/A変換回路11を3ビットのD/A変換回路2回路として機能させる(第2状態と称する)ときには選択信号として「0」(=「L」レベル)を生成出力するようになっている。   Among these, the selection signal generation circuit 24 uses “1” (=) as the selection signal when the ladder resistor type D / A conversion circuit 11 functions as a 4-bit D / A conversion circuit (referred to as the first state). “H” level) is output, and when the ladder resistor type D / A conversion circuit 11 is caused to function as a 3-bit D / A conversion circuit 2 circuit (referred to as a second state), “0” (= “L” "Level) is generated and output.

信号発生回路29および30は互いに接続されており、4ビットのD/A変換回路として機能するときには、信号発生回路29が下位側3ビットのディジタル信号を信号線D12〜D10から出力すると共に信号発生回路30が上位側1ビットのディジタル信号を信号線D20から出力するようになっている。このとき、信号発生回路30は信号線D22およびD21に対してLレベル「0」を出力するようになっている。   When the signal generation circuits 29 and 30 are connected to each other and function as a 4-bit D / A conversion circuit, the signal generation circuit 29 outputs a lower-order 3-bit digital signal from the signal lines D12 to D10 and generates a signal. The circuit 30 outputs a high-order 1-bit digital signal from the signal line D20. At this time, the signal generation circuit 30 outputs an L level “0” to the signal lines D22 and D21.

また、このラダー抵抗型D/A変換回路11が3ビットのD/A変換回路2系統として機能するときには、信号発生回路29および30は、それぞれ3ビットのディジタル信号を信号線D12〜D10,D22〜D20から出力するようになっている。ここで、図2に示すように、信号発生回路30は、D/A変換回路11が4ビットのD/A変換回路として機能するときに上位側1ビットのディジタル信号を出力するが、この1ビットのディジタル信号(MSB)を出力する信号線D20に対して、3ビットのD/A変換回路として機能する際の最下位ビット(LSB)の信号線D20が対応するようになっている。   When the ladder resistor type D / A conversion circuit 11 functions as two 3-bit D / A conversion circuits, the signal generation circuits 29 and 30 respectively output 3-bit digital signals to the signal lines D12 to D10, D22. ~ D20 is output. Here, as shown in FIG. 2, the signal generation circuit 30 outputs a high-order 1-bit digital signal when the D / A conversion circuit 11 functions as a 4-bit D / A conversion circuit. The signal line D20 of the least significant bit (LSB) when functioning as a 3-bit D / A conversion circuit corresponds to the signal line D20 that outputs a bit digital signal (MSB).

信号線D12〜D10は第1の制御端子付デコーダ25およびセレクタ31の一方の入力端子に接続されており、これらの第1の制御端子付デコーダ25およびセレクタ31に信号発生回路29が発生する3ビットのディジタル信号が与えられるようになっている。信号線D22〜D20はセレクタ31の他方の入力端子に接続されており、信号発生回路30が発生するディジタル信号がセレクタ31に与えられるようになっている。   The signal lines D12 to D10 are connected to one input terminal of the first decoder with control terminal 25 and the selector 31, and the signal generating circuit 29 is generated in the first decoder with control terminal 25 and selector 31. A bit digital signal is provided. The signal lines D22 to D20 are connected to the other input terminal of the selector 31, and a digital signal generated by the signal generation circuit 30 is supplied to the selector 31.

第1および第2の制御端子付デコーダ25および26は同一構成であるため、制御端子付デコーダ25の構成を説明し、これに代えて制御端子付デコーダ26の説明を省略する。図2に示すように、制御端子付デコーダ25の基本構成は複数のNOTゲート35a〜35f(前段)および複数のANDゲート37a〜37h(後段)が組み合わせて構成される3ビットのデコーダであり、このデコーダに対して制御端子25aが設けられているものである。尚、制御端子付デコーダ26は、複数のNOTゲート36a〜36f、複数のANDゲート38a〜38hを組み合わせて構成されている。   Since the first and second decoders with control terminal 25 and 26 have the same configuration, the configuration of the decoder 25 with control terminal will be described, and the description of the decoder 26 with control terminal will be omitted instead. As shown in FIG. 2, the basic configuration of the control terminal decoder 25 is a 3-bit decoder configured by combining a plurality of NOT gates 35a to 35f (previous stage) and a plurality of AND gates 37a to 37h (rear stage). A control terminal 25a is provided for this decoder. The control terminal-equipped decoder 26 is configured by combining a plurality of NOT gates 36a to 36f and a plurality of AND gates 38a to 38h.

制御端子25aは、後段を構成するANDゲート37a〜37hの入力端子に接続されており、制御端子25aにHレベル「1」が与えられると制御端子付デコーダ25の3ビットデコーダとしての機能が有効化される。また逆に制御端子25aにLレベル「0」が与えられると3ビットデコーダとしての機能が無効化されるようになり、制御端子付デコーダ25の出力が全てLレベル「0」となる。   The control terminal 25a is connected to the input terminals of the AND gates 37a to 37h constituting the subsequent stage. When the control terminal 25a is given an H level “1”, the function of the decoder 25 with control terminal as a 3-bit decoder is effective. It becomes. Conversely, when the L level “0” is given to the control terminal 25a, the function as the 3-bit decoder is invalidated, and all the outputs of the decoder 25 with control terminal become the L level “0”.

分圧電圧を選択出力するためのアナログスイッチ12a〜12hの制御端子には、制御端子付デコーダ25の8つの出力がそれぞれ接続されており、同様に、アナログスイッチ13a〜13hの制御端子には、制御端子付デコーダ26の8つの出力がそれぞれ接続されている(何れも図示せず)。アナログスイッチ13a〜13hが択一的に切替えられることによりアナログ出力端子OUT1もしくはOUT2からD/A変換信号が出力されるようになる。   The eight outputs of the decoder 25 with control terminal are connected to the control terminals of the analog switches 12a to 12h for selectively outputting the divided voltage, respectively. Similarly, the control terminals of the analog switches 13a to 13h are The eight outputs of the decoder 26 with control terminal are connected to each other (none is shown). By selectively switching the analog switches 13a to 13h, a D / A conversion signal is output from the analog output terminal OUT1 or OUT2.

セレクタ31は、図2に示すように、ANDゲート31a〜31fやORゲート31g〜31iが組み合わされた一般的な選択回路を構成するものであり、選択信号発生回路24の選択信号がNOTゲート33を介してセレクタ31の制御端子31jに与えられるようになっており、この選択信号に基づいて信号発生回路29および30の出力を選択出力し、第2の制御端子付デコーダ26の入力端子に与えるようになっている。   As shown in FIG. 2, the selector 31 constitutes a general selection circuit in which AND gates 31a to 31f and OR gates 31g to 31i are combined. The selection signal of the selection signal generation circuit 24 is a NOT gate 33. Is supplied to the control terminal 31j of the selector 31, and based on this selection signal, the outputs of the signal generating circuits 29 and 30 are selected and output to the input terminal of the second decoder 26 with control terminal. It is like that.

具体的に説明すると、第1状態において、選択信号発生回路24がHレベル「1」を出力すると、セレクタ31の機能により信号発生回路30の信号線D12〜D10の出力が制御端子付デコーダ26の入力端子に与えられる。また逆に、第2状態において、選択信号発生回路24がLレベル「0」を出力すると、セレクタ31の機能により信号発生回路30の信号線D22〜D20の出力が制御端子付デコーダ26の入力端子に与えられるようになっている。   Specifically, in the first state, when the selection signal generation circuit 24 outputs H level “1”, the output of the signal lines D12 to D10 of the signal generation circuit 30 is output from the control terminal decoder 26 by the function of the selector 31. It is given to the input terminal. Conversely, in the second state, when the selection signal generation circuit 24 outputs L level “0”, the output of the signal lines D22 to D20 of the signal generation circuit 30 is input to the input terminal of the decoder 26 with control terminal by the function of the selector 31. Is to be given to.

また信号線D20は、デコーダ有効無効制御回路27および28に接続されている。デコーダ有効無効制御回路27は、信号線D20の信号が入力信号として与えられる前段のNOTゲート27aと、選択信号発生回路24の選択信号が入力信号として与えられるNOTゲート27bと、これらのNOTゲート27aおよび27bの出力が入力信号として与えられる後段のORゲート27cとにより構成されている。また、デコーダ有効無効制御回路28は、選択信号発生回路24の選択信号が入力信号として与えられるNOTゲート28aと、信号線D20の信号およびNOTゲート28aの出力信号が入力信号として与えられるORゲート28bとにより構成されている。   The signal line D20 is connected to the decoder valid / invalid control circuits 27 and 28. The decoder valid / invalid control circuit 27 includes a NOT gate 27a in the previous stage to which the signal of the signal line D20 is given as an input signal, a NOT gate 27b to which the selection signal of the selection signal generating circuit 24 is given as an input signal, and these NOT gates 27a. And an OR gate 27c at a subsequent stage to which the outputs of 27b are given as input signals. The decoder valid / invalid control circuit 28 includes a NOT gate 28a to which the selection signal of the selection signal generation circuit 24 is given as an input signal, and an OR gate 28b to which the signal of the signal line D20 and the output signal of the NOT gate 28a are given as input signals. It is comprised by.

すなわち、選択信号発生回路24の選択信号は、デコーダ有効無効制御回路27のNOTゲート27bおよびORゲート27cを介して制御端子付デコーダ25の制御端子25aに与えられるようになっており、選択信号発生回路24の選択信号は、デコーダ有効無効制御回路28のNOTゲート28aおよびORゲート28bを介して制御端子付デコーダ26の制御端子26aに与えられるようになっている。   That is, the selection signal of the selection signal generation circuit 24 is supplied to the control terminal 25a of the decoder 25 with control terminal via the NOT gate 27b and the OR gate 27c of the decoder valid / invalid control circuit 27, and the selection signal generation The selection signal of the circuit 24 is supplied to the control terminal 26a of the decoder 26 with control terminal via the NOT gate 28a and the OR gate 28b of the decoder valid / invalid control circuit 28.

具体的に説明すると、第2状態において、選択信号発生回路24が選択信号としてLレベル「0」を出力すると、制御端子付デコーダ25および26の制御端子にはHレベル「1」が与えられるようになり、制御端子付デコーダ25および26のデコード機能が共に有効化されるようになる。
逆に、第1状態において、選択信号発生回路24が選択信号としてHレベル「1」を出力すると、ORゲート27cおよび28bにはLレベル「0」が与えられるようになり、制御端子付デコーダ25および26のデコード機能は、信号線D20に与えられるディジタル信号の値に応じて有効/無効が切替えられるようになっている。
More specifically, when the selection signal generation circuit 24 outputs the L level “0” as the selection signal in the second state, the control terminals of the decoders with control terminals 25 and 26 are given the H level “1”. Thus, both the decoding functions of the decoders with control terminals 25 and 26 are enabled.
Conversely, in the first state, when the selection signal generating circuit 24 outputs the H level “1” as the selection signal, the OR gates 27 c and 28 b are given the L level “0”, and the control terminal decoder 25. The decode functions 26 and 26 are switched between valid / invalid according to the value of the digital signal applied to the signal line D20.

さらに詳細に説明すると、第1状態において、ディジタル信号AD3が信号線D20に与えられると、ディジタル信号AD3がHレベル「1」の場合、第1の制御端子付デコーダ25の機能が無効化され第2の制御端子付デコーダ26の機能が有効化される。逆にディジタル信号AD3がLレベル「0」の場合、第1の制御端子付デコーダ25の機能が有効化され第2の制御端子付デコーダ26の機能が無効化される。   More specifically, when the digital signal AD3 is applied to the signal line D20 in the first state, when the digital signal AD3 is at the H level “1”, the function of the first decoder 25 with control terminal is invalidated. The function of the decoder 26 with control terminal 2 is validated. Conversely, when the digital signal AD3 is at L level “0”, the function of the first decoder with control terminal 25 is validated and the function of the second decoder with control terminal 26 is invalidated.

第2のデコーダ有効無効制御回路28の出力は,アナログスイッチ22の制御端子に接続されていると共に、NOTゲート32を介してアナログスイッチ21の制御端子に接続されている。また、選択信号発生回路24の選択信号は、アナログスイッチ18の制御端子に与えられるようになっていると共に、NOTゲート34を介してアナログスイッチ16,19の制御端子に与えられるようになっている。   The output of the second decoder valid / invalid control circuit 28 is connected to the control terminal of the analog switch 22 and is connected to the control terminal of the analog switch 21 via the NOT gate 32. The selection signal of the selection signal generation circuit 24 is supplied to the control terminal of the analog switch 18 and is also supplied to the control terminals of the analog switches 16 and 19 via the NOT gate 34. .

第2状態においては、選択信号発生回路24から選択信号としてLレベル「0」が出力されるため、アナログスイッチ16および19がオン状態、アナログスイッチ17,18,20がオフ状態になり、第1および第2のラダー抵抗2および3が切離されると共に、両ラダー抵抗2および3の両端にそれぞれ電圧V1やV2が与えられるようになる。
さらに、第2状態においては、デコーダ有効無効制御回路28の出力がHレベル「1」となるため、アナログスイッチ22がオン状態、アナログスイッチ21がオフ状態になり、第1および第2のバッファ14および15からそれぞれD/A変換信号が得られるようになる。
In the second state, since the selection signal generation circuit 24 outputs L level “0” as the selection signal, the analog switches 16 and 19 are in the on state, the analog switches 17, 18, and 20 are in the off state, and the first state The second ladder resistors 2 and 3 are disconnected, and the voltages V1 and V2 are applied to both ends of both ladder resistors 2 and 3, respectively.
Further, in the second state, since the output of the decoder valid / invalid control circuit 28 is at the H level “1”, the analog switch 22 is turned on, the analog switch 21 is turned off, and the first and second buffers 14 are turned on. D / A conversion signals can be obtained from 15 and 15, respectively.

また、第1状態においては、選択信号発生回路24から選択信号としてHレベル「1」が出力されるため、アナログスイッチ16および19がオフ状態、アナログスイッチ17および20がオン状態になり、第1および第2のラダー抵抗2および3が直列接続され、その両端に電圧V2が与えられることになる。
さらに、第1状態においては、選択信号発生回路24から選択信号としてLレベル「0」が出力されるため、信号発生回路30が信号線D20に出力するディジタル信号AD3の値に応じてアナログスイッチ21および22が切替えられる。この場合、制御端子付デコーダ25の機能が有効化され制御端子付デコーダ26の機能が無効化される場合には、アナログスイッチ21がオン状態、アナログスイッチ22がオフ状態になり、第1のバッファ14を通じてD/A変換信号が出力端子OUT2に出力されるようになる。さらに制御端子付デコーダ25の機能が無効化され制御端子付デコーダ26の機能が有効化される場合には、アナログスイッチ21がオフ状態、アナログスイッチ22がオン状態になり、第2のバッファ15を通じてD/A変換信号が出力端子OUT2に出力されるようになる。このようにして制御回路23が構成されている。
In the first state, since the selection signal generation circuit 24 outputs the H level “1” as the selection signal, the analog switches 16 and 19 are turned off, and the analog switches 17 and 20 are turned on. The second ladder resistors 2 and 3 are connected in series, and a voltage V2 is applied to both ends thereof.
Further, in the first state, since the selection signal generation circuit 24 outputs L level “0” as the selection signal, the analog switch 21 corresponds to the value of the digital signal AD3 output from the signal generation circuit 30 to the signal line D20. And 22 are switched. In this case, when the function of the decoder with control terminal 25 is enabled and the function of the decoder with control terminal 26 is disabled, the analog switch 21 is turned on, the analog switch 22 is turned off, and the first buffer 14, the D / A conversion signal is output to the output terminal OUT2. Further, when the function of the decoder with control terminal 25 is invalidated and the function of the decoder with control terminal 26 is validated, the analog switch 21 is turned off and the analog switch 22 is turned on, through the second buffer 15. The D / A conversion signal is output to the output terminal OUT2. In this way, the control circuit 23 is configured.

制御回路23は、このようにANDゲート37a〜37h,38a〜38h,31a〜31f、NOTゲート35a〜35f,36a〜36f,27a〜27b,28a,32,33,34、ORゲート27c,28b,31g〜31iが組み合わされて形成されているため、たとえ半導体集積回路装置内に形成したとしても制御回路23の形成面積は第1および第2のバッファ14および15に比較して大幅に小さい。したがって、半導体集積回路装置内に本実施形態で説明した回路を形成した場合、その素子形成領域の面積は第1および第2のバッファ14および15に依存するようになり、従来に比較して素子形成面積を大幅に削減できるという効果を奏する。   In this way, the control circuit 23 includes AND gates 37a to 37h, 38a to 38h, 31a to 31f, NOT gates 35a to 35f, 36a to 36f, 27a to 27b, 28a, 32, 33, 34, OR gates 27c, 28b, Since 31g to 31i are formed in combination, the formation area of the control circuit 23 is significantly smaller than that of the first and second buffers 14 and 15 even if they are formed in the semiconductor integrated circuit device. Therefore, when the circuit described in the present embodiment is formed in the semiconductor integrated circuit device, the area of the element formation region depends on the first and second buffers 14 and 15, and the element is compared with the conventional one. There is an effect that the formation area can be greatly reduced.

上記構成の作用について説明する。
(1)選択信号発生回路24の発生する選択信号が「1」(=「H」レベル)の場合(本発明の第1状態に相当)
選択信号発生回路24から選択信号が「1」で与えられると、セレクタ31は、ディジタル信号D12〜D10を制御端子付デコーダ26に与えるように切替える。このときラダー抵抗2および3を直列接続するようにアナログスイッチ16および19が切替えられ、D/A変換回路が合成される。さらに、デコーダ有効無効制御回路27および28は、制御端子付デコーダ25および26を制御する。このとき制御端子付デコーダ25の制御端子25aには、制御端子付デコーダ26の制御端子26aに与えられる信号の否定信号が与えられる。
The operation of the above configuration will be described.
(1) When the selection signal generated by the selection signal generation circuit 24 is “1” (= “H” level) (corresponding to the first state of the present invention)
When the selection signal is given by “1” from the selection signal generation circuit 24, the selector 31 switches so as to supply the digital signals D12 to D10 to the decoder 26 with control terminal. At this time, the analog switches 16 and 19 are switched so that the ladder resistors 2 and 3 are connected in series, and the D / A conversion circuit is synthesized. Further, the decoder valid / invalid control circuits 27 and 28 control the decoders 25 and 26 with control terminals. At this time, a negative signal of the signal given to the control terminal 26a of the decoder 26 with control terminal is given to the control terminal 25a of the decoder 25 with control terminal.

(1−1)最上位ビットMSBが「1」の場合
最上位ビットMSBが「1」の場合、ANDゲート37a〜37hにそれぞれLレベル「0」が与えられるため制御端子付デコーダ25の機能が無効化されると共に、ANDゲート38a〜38hにそれぞれHレベル「1」が与えられるため制御端子付デコーダ26の機能が有効化される。
(1-1) When the Most Significant Bit MSB is “1” When the most significant bit MSB is “1”, the L level “0” is given to the AND gates 37a to 37h, respectively. At the same time, the H level “1” is given to the AND gates 38a to 38h, so that the function of the decoder 26 with control terminal is validated.

このとき、アナログスイッチ22がオンすると共にアナログスイッチ21がオフするため、バッファ15からアナログスイッチ22を通じてアナログ出力端子OUT2からD/A変換信号が出力されるようになる。
(1−2)最上位ビットMSBがLレベル「0」の場合
最上位ビットMSBが「0」の場合、ANDゲート38a〜38hにそれぞれHレベル「1」が与えられるため制御端子付デコーダ26の機能が有効化されると共に、ANDゲート37a〜37hにそれぞれLレベル「0」が与えられるため制御端子付デコーダ25の機能が無効化される。
At this time, since the analog switch 22 is turned on and the analog switch 21 is turned off, the D / A conversion signal is outputted from the analog output terminal OUT2 through the analog switch 22 from the buffer 15.
(1-2) When the Most Significant Bit MSB is L Level “0” When the Most Significant Bit MSB is “0”, the H level “1” is given to the AND gates 38a to 38h, respectively. While the function is validated and the L level “0” is given to the AND gates 37a to 37h, the function of the decoder 25 with control terminal is invalidated.

このとき、アナログスイッチ22がオフすると共にアナログスイッチ21がオンするため、バッファ14からアナログスイッチ21を通じてアナログ出力端子OUT2からD/A変換信号が出力されるようになる。
(2)選択信号が「0」(=「L」レベル)の場合(本発明の第2状態に相当)
選択信号発生回路24から選択信号がLレベル「0」として出力されると、セレクタ31は、ディジタル信号D22〜D20を制御端子付デコーダ26に与えるように切替える。このとき、ディジタル信号D12〜D10は制御端子付デコーダ25に与えられる。
At this time, the analog switch 22 is turned off and the analog switch 21 is turned on, so that the D / A conversion signal is output from the buffer 14 through the analog switch 21 from the analog output terminal OUT2.
(2) When the selection signal is “0” (= “L” level) (corresponding to the second state of the present invention)
When the selection signal is output as L level “0” from the selection signal generation circuit 24, the selector 31 switches so as to supply the digital signals D 22 to D 20 to the decoder 26 with control terminal. At this time, the digital signals D12 to D10 are given to the decoder 25 with control terminal.

同時に、デコーダ有効無効制御回路27および28を通じて制御端子付デコーダ25および26を構成する終段のANDゲート37a〜37h,38a〜38hに対して常に「1」(=「H」レベル)が与えられる。したがって、制御端子付デコーダ25は、常時、ディジタル信号D12〜D10が与えられることにより一般的な3ビットデコーダとして機能するようになる。同様に制御端子付デコーダ26も、常時、ディジタル信号D22〜D20が与えられることにより一般的な3ビットデコーダとして機能するようになる。   At the same time, “1” (= “H” level) is always applied to the final stage AND gates 37a to 37h and 38a to 38h constituting the decoders 25 and 26 with control terminals through the decoder valid / invalid control circuits 27 and 28. . Therefore, the decoder 25 with control terminal always functions as a general 3-bit decoder by being supplied with the digital signals D12 to D10. Similarly, the control terminal-equipped decoder 26 always functions as a general 3-bit decoder by receiving the digital signals D22 to D20.

このとき、アナログスイッチ22は、Hレベル(=「1」)が与えられることによりオンすると同時に、アナログスイッチ21はLレベル(=「0」)が与えられることによりオフするため、D/A変換信号が第1および第2のバッファ14および15を通じてアナログ出力端子OUT1およびOUT2に2系統出力されるようになる。
このような実施形態によれば、制御回路23は、第1状態においては、第1および第2のラダー抵抗2および3を直列接続するようにアナログスイッチ16,18,19を切替制御し、直列接続されたラダー抵抗2および3の両端に電圧V2が与えられるようにした状態で、4ビットのディジタル信号に基づいて4ビットのD/A変換信号を第1および第2のバッファ14および15を通じて出力しており、第2状態においては、第1および第2のラダー抵抗2および3を並列に分離して、それぞれのラダー抵抗2および3の両端に電圧V1およびV2を与えるようにした状態で、3ビットのディジタル信号に基づいて3ビットのD/A変換信号を第1および第2のバッファ14および15を通じて2系統出力しているため、必要に応じてD/A変換信号を高分解能もしくは2系統出力に得ることができる。しかも、ラダー抵抗2および3を構成する抵抗器2a〜2h,3a〜3hの数を、4ビットおよび3ビットのD/A変換回路を個々に作成する構成に比較して大幅に削減することができるようになる。
At this time, the analog switch 22 is turned on when the H level (= “1”) is applied, and at the same time, the analog switch 21 is turned off when the L level (= “0”) is applied. Two signals are output to the analog output terminals OUT1 and OUT2 through the first and second buffers 14 and 15.
According to such an embodiment, in the first state, the control circuit 23 switches and controls the analog switches 16, 18, and 19 so that the first and second ladder resistors 2 and 3 are connected in series. With the voltage V2 applied across the connected ladder resistors 2 and 3, a 4-bit D / A conversion signal is passed through the first and second buffers 14 and 15 based on the 4-bit digital signal. In the second state, the first and second ladder resistors 2 and 3 are separated in parallel, and the voltages V1 and V2 are applied to both ends of the ladder resistors 2 and 3, respectively. Since a 3-bit D / A conversion signal is output through the first and second buffers 14 and 15 based on the 3-bit digital signal, the D / A conversion signal is output as needed. It is possible to obtain the A converted signal into a high resolution or 2-channel output. In addition, the number of resistors 2a to 2h and 3a to 3h constituting the ladder resistors 2 and 3 can be greatly reduced as compared with a configuration in which 4-bit and 3-bit D / A conversion circuits are individually created. become able to.

(他の実施形態)
本発明は、前記実施形態に限定されるものではなく、例えば、以下に示す変形もしくは拡張が可能である。
本発明は、例えば本願出願人により出願された特開平8−271284号公報などに記載される波形整形装置のD/Aコンバータに適用することも可能である。
上記実施形態においては、3ビットおよび4ビットのD/A変換回路を切替できる実施形態を示したが、8ビット,16ビット,32ビット等のD/A変換回路にも適用できることはいうまでもない。
(Other embodiments)
The present invention is not limited to the above-described embodiment. For example, the following modifications or expansions are possible.
The present invention can also be applied to a D / A converter of a waveform shaping device described in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 8-271284 filed by the applicant of the present application.
In the above-described embodiment, the embodiment in which the D / A conversion circuit of 3 bits and 4 bits can be switched is shown. Absent.

本発明の一実施形態を示す概略的な電気的構成図1 is a schematic electrical configuration diagram showing an embodiment of the present invention. 制御回路の回路構成を示す図The figure which shows the circuit composition of the control circuit 従来例を概略的に示す図1相当図FIG. 1 equivalent view schematically showing a conventional example

符号の説明Explanation of symbols

図面中、11はラダー抵抗型D/A変換回路、14は第1のバッファ、15は第2のバッファ、12a〜12hはアナログスイッチ、13a〜13hはアナログスイッチ、16〜22はアナログスイッチ(切替回路)、25および26は制御端子付デコーダ、27および28はデコーダ有効無効制御回路、31はセレクタを示す。

In the drawing, 11 is a ladder resistance type D / A conversion circuit, 14 is a first buffer, 15 is a second buffer, 12a to 12h are analog switches, 13a to 13h are analog switches, and 16 to 22 are analog switches (switching). Circuit), 25 and 26 are decoders with control terminals, 27 and 28 are decoder valid / invalid control circuits, and 31 is a selector.

Claims (4)

制御回路と、
第1および第2のバッファと、
第1の所定電圧が基準電圧として与えられることにより2のk乗個(kは正の整数)のそれぞれ異なる分圧電圧を出力可能に構成された第1のラダー抵抗と、
この第1のラダー抵抗とは別体に設けられ、第2の所定電圧が与えられることにより分圧電圧を出力可能に構成された第2のラダー抵抗と、
前記制御回路が出力する切替信号に基づいて、前記第1および第2のラダー抵抗を直列的に接続し当該ラダー抵抗群に対して前記第1もしくは第2の所定電圧を基準電圧として与える第1状態とするか、もしくは、前記第1および第2のラダー抵抗を切離して少なくとも前記第1の所定電圧を第1のラダー抵抗に基準電圧として与える第2状態とするかを切替える切替回路と、
前記制御回路は、前記切替回路により切替えられた前記第1状態において、nビット(nはkよりも大きい整数)のディジタル信号に基づいて前記直列的に接続された前記第1および第2のラダー抵抗による第1もしくは第2の所定電圧の分圧電圧を2のn乗個のD/A変換信号として前記第1もしくは第2のバッファを通じて出力させ、前記切替回路により切替えられた前記第2状態において、kビットのディジタル信号に基づいて前記第1の所定電圧の前記第1のラダー抵抗による分圧電圧を2のk乗個のD/A変換信号として前記第1のバッファを通じて出力させるように構成されていることを特徴とするラダー抵抗型D/A変換回路。
A control circuit;
First and second buffers;
A first ladder resistor configured to be capable of outputting 2 k power (k is a positive integer) different divided voltages by applying the first predetermined voltage as a reference voltage;
A second ladder resistor provided separately from the first ladder resistor and configured to output a divided voltage when a second predetermined voltage is applied;
A first and second ladder resistors are connected in series based on a switching signal output from the control circuit, and the first or second predetermined voltage is applied as a reference voltage to the ladder resistor group. A switching circuit that switches between the first state and the second state in which the first and second ladder resistors are separated and at least the first predetermined voltage is applied to the first ladder resistor as a reference voltage;
In the first state switched by the switching circuit, the control circuit includes the first and second ladders connected in series based on an n-bit (n is an integer larger than k) digital signal. The second state in which the divided voltage of the first or second predetermined voltage by the resistor is output through the first or second buffer as 2 n D / A conversion signals and switched by the switching circuit. , A divided voltage of the first predetermined voltage by the first ladder resistor based on a k-bit digital signal is output through the first buffer as 2 k power D / A conversion signals. A ladder resistance type D / A conversion circuit characterized by being configured.
前記第2のラダー抵抗は、第2の所定電圧が与えられることにより2のm乗個(mは正の整数)のそれぞれ異なる分圧電圧を出力可能に構成され、
前記切替回路は、前記第2状態においては第1および第2のラダー抵抗を切離して第1の所定電圧を第1のラダー抵抗に基準電圧として与えると共に第2の所定電圧を第2のラダー抵抗に基準電圧として与えるように切替えるように構成され、
前記制御回路は、前記切替回路により切替えられた第2状態においては、kビットのディジタル信号に基づいて前記第1の所定電圧の前記第1のラダー抵抗による分圧電圧を2のk乗個のD/A変換信号として前記第1のバッファを通じて出力させるように構成されると共に、mビットのディジタル信号に基づいて前記第2の所定電圧の前記第2のラダー抵抗による分圧電圧を2のm乗個のD/A変換信号として前記第2のバッファを通じて出力させるように構成されていることを特徴とする請求項1記載のラダー抵抗型D/A変換回路。
The second ladder resistor is configured to be capable of outputting different m 2 (m is a positive integer) divided voltage when a second predetermined voltage is applied,
In the second state, the switching circuit disconnects the first and second ladder resistors to provide the first predetermined voltage as a reference voltage to the first ladder resistor and supplies the second predetermined voltage to the second ladder resistor. Is configured to be switched so as to be given as a reference voltage to
In the second state switched by the switching circuit, the control circuit converts the divided voltage of the first predetermined voltage by the first ladder resistor based on a k-bit digital signal to 2k powers. A D / A conversion signal is output through the first buffer, and a divided voltage of the second predetermined voltage by the second ladder resistor is set to 2 m based on an m-bit digital signal. 2. The ladder resistor type D / A conversion circuit according to claim 1, wherein the ladder resistance type D / A conversion circuit is configured to output the signal as a squared D / A conversion signal through the second buffer.
前記第1および第2の所定電圧は同一の電圧であることを特徴とする請求項1または2記載のラダー抵抗型D/A変換回路。   3. The ladder resistor type D / A converter circuit according to claim 1, wherein the first and second predetermined voltages are the same voltage. 半導体集積回路装置内に構成されていることを特徴とする請求項1ないし3の何れかに記載のラダー抵抗型D/A変換回路。

4. The ladder resistor type D / A converter circuit according to claim 1, wherein the ladder resistor type D / A converter circuit is configured in a semiconductor integrated circuit device.

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