JP2005269023A - Ladder resistor type d/a conversion circuit - Google Patents
Ladder resistor type d/a conversion circuit Download PDFInfo
- Publication number
- JP2005269023A JP2005269023A JP2004076177A JP2004076177A JP2005269023A JP 2005269023 A JP2005269023 A JP 2005269023A JP 2004076177 A JP2004076177 A JP 2004076177A JP 2004076177 A JP2004076177 A JP 2004076177A JP 2005269023 A JP2005269023 A JP 2005269023A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ladder
- output
- circuit
- ladder resistor
- conversion
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
Abstract
Description
本発明は、複数の抵抗が組み合わされたラダー抵抗の分圧電圧をD/A変換信号として出力するラダー抵抗型D/A変換回路に関する。 The present invention relates to a ladder resistor type D / A conversion circuit that outputs a divided voltage of a ladder resistor in which a plurality of resistors are combined as a D / A conversion signal.
この種のラダー抵抗型D/A変換回路は高速動作が可能であり、分圧回路を構成するラダー抵抗のばらつきが変換精度に対して与える影響が少ないため幅広く利用されている。nビット(nは正の整数)のD/A変換処理を行うためには原理上2のn乗個の抵抗器が必要であるが、近年改良が進められており様々なラダー抵抗型D/A変換回路が提案されている。このラダー抵抗型D/A変換回路の一例として、特許文献1にDA変換装置が開示されている。図3は、この特許文献1に開示されている構成を概略的に示している。この回路構成では、制御回路1の制御に基づいて、第1のラダー抵抗2から異なる2電圧を取得し、この2電圧を第2のラダー抵抗3の基準電圧VrefL,VrefHとし、第2のラダー抵抗3の分圧電圧をD/A変換出力することで、高精度のD/A変換出力を得ることができると共に抵抗体の数を削減できるという回路である。
図3に示す回路構成では、第1のラダー抵抗2で取得する2電圧をそれぞれバッファ4および5によりバッファし第2のラダー抵抗3の基準電圧VrefL,VrefHを生成する必要があり、基準電圧VrefL,VrefHを作成するため少なくともバッファ4および5を2つ設ける必要があり、さらに後段の第2のラダー抵抗3の分圧電圧を出力するためにバッファ6をさらに設ける必要があり、最低でも3つのバッファを設ける必要が生じコスト高となる。特に半導体集積回路装置内に形成する場合には、半導体チップ内に形成する回路面積の増加につながるという問題を生じる。
In the circuit configuration shown in FIG. 3, it is necessary to generate the reference voltages VrefL and VrefH of the
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、その目的は、使用する抵抗器の数を抑制しつつ使用バッファの数を低減することでコストを抑制できると共に、高精度のD/A変換出力を得ることができるラダー抵抗型D/A変換回路を提供することにある。 The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to reduce the number of used buffers while suppressing the number of resistors to be used, and to suppress the cost, and to achieve a highly accurate D / A. An object of the present invention is to provide a ladder resistance type D / A conversion circuit capable of obtaining a conversion output.
請求項1記載の発明によれば、切替回路が、制御回路により出力される切替信号に基づいて第1および第2のラダー抵抗を直列的に接続し当該直列的に接続されたラダー抵抗に第1もしくは第2の所定電圧を与える第1状態に切替えると、制御回路は、第1および第2のラダー抵抗の直列的に接続された抵抗による第1または第2の所定電圧の分圧電圧をnビットのディジタル信号に基づいて2のn乗個のD/A変換信号として出力させる。 According to the first aspect of the present invention, the switching circuit connects the first and second ladder resistors in series based on the switching signal output from the control circuit, and the first and second ladder resistors are connected in series. When switching to the first state in which the first or second predetermined voltage is applied, the control circuit changes the divided voltage of the first or second predetermined voltage by the resistors connected in series of the first and second ladder resistors. Based on the n-bit digital signal, it is output as 2 n D / A converted signals.
このとき、ラダー抵抗に与えられる所定電圧の分圧電圧をkビットよりも大きなnビットのディジタル信号に基づいて2のn乗個のD/A変換信号として出力するようになっているため、分解能の高い高精度のD/A変換出力を必要に応じて得ることができるようになる。すなわち、第1および第2のラダー抵抗のみでkビットおよびnビットのD/A変換回路を構成することができるため、kビットおよびnビットのD/A変換回路をそれぞれ別途作成する構成に比較して使用抵抗器の数を減少させることができる。 At this time, the divided voltage of the predetermined voltage applied to the ladder resistor is output as 2 n D / A conversion signals based on an n-bit digital signal larger than k bits. A highly accurate D / A conversion output can be obtained as required. That is, since the k-bit and n-bit D / A conversion circuits can be configured only by the first and second ladder resistors, the comparison is made with a configuration in which k-bit and n-bit D / A conversion circuits are separately created. Thus, the number of resistors used can be reduced.
しかも、第1状態においては第1または第2のバッファを介してD/A変換出力を得ることができると共に、第2状態においては第1のバッファを介してD/A変換出力を得ることができるため、第1および第2のバッファ以外のバッファをD/A変換回路用に構成する必要がなくなる。これにより、コストを抑制しながら第2状態において分解能の高い高精度のD/A変換出力を得ることができる。 In addition, a D / A conversion output can be obtained via the first or second buffer in the first state, and a D / A conversion output can be obtained via the first buffer in the second state. Therefore, it is not necessary to configure a buffer other than the first and second buffers for the D / A conversion circuit. Thereby, it is possible to obtain a highly accurate D / A conversion output with high resolution in the second state while suppressing the cost.
また、切替回路が、制御回路により出力される切替信号に基づいて第1および第2のラダー抵抗を切離して少なくとも第1の所定電圧を第1のラダー抵抗に与える第2状態に切替えると、制御回路は、第1のラダー抵抗に与えられる第1の所定電圧の分圧電圧をkビットのディジタル信号に基づいて2のk乗個のD/A変換信号として出力させるため、上述説明の作用効果に加えて、高精度のD/A変換出力を必要としない場合には必要に応じて切替えることによりkビットのD/A変換出力を得ることができるようになる。 Further, when the switching circuit switches to the second state in which the first and second ladder resistors are disconnected and at least the first predetermined voltage is applied to the first ladder resistor based on the switching signal output from the control circuit, the control is performed. The circuit outputs the divided voltage of the first predetermined voltage given to the first ladder resistor as 2 k power D / A conversion signals based on the k-bit digital signal. In addition, when high-precision D / A conversion output is not required, k-bit D / A conversion output can be obtained by switching as necessary.
請求項2記載の発明によれば、第2のラダー抵抗が、第2の所定電圧が与えられることにより2のm乗個(mは正の整数)のそれぞれ異なる分圧電圧を出力可能に構成されており、切替回路が、第2状態においては第1および第2のラダー抵抗を切離して第1の所定電圧を第1のラダー抵抗に基準電圧として与えると共に第2の所定電圧を第2のラダー抵抗に基準電圧として与えるように切替えるように構成されており、さらに制御回路は、切替回路により切替えられた第2状態においては、kビットのディジタル信号に基づいて第1の所定電圧の第1のラダー抵抗による分圧電圧を2のk乗個のD/A変換信号として第1のバッファを通じて出力させるように構成されると共に、mビットのディジタル信号に基づいて第2の所定電圧の第2のラダー抵抗による分圧電圧を2のm乗個のD/A変換信号として第2のバッファを通じて出力させるため、高分解能のD/A変換出力を必要としない場合には、第2状態においては複数系統のD/A変換出力を得ることができるようになる。 According to the second aspect of the present invention, the second ladder resistor is configured to be capable of outputting different m 2 (m is a positive integer) divided voltage when a second predetermined voltage is applied. In the second state, the switching circuit disconnects the first and second ladder resistors to provide the first predetermined voltage as the reference voltage to the first ladder resistor and supplies the second predetermined voltage to the second state. The control circuit is configured to be switched so as to be applied as a reference voltage to the ladder resistor, and in the second state switched by the switching circuit, the control circuit has a first predetermined first voltage based on a k-bit digital signal. The voltage divided by the ladder resistor is output through the first buffer as 2 k power D / A converted signals, and the second predetermined voltage of the second predetermined voltage is output based on the m-bit digital signal. Since the divided voltage by the ladder resistor is output through the second buffer as a 2 m power D / A conversion signal, when a high-resolution D / A conversion output is not required, a plurality of voltages are output in the second state. The D / A conversion output of the system can be obtained.
請求項3記載の発明によれば、第1および第2の所定電圧が同一電圧であるため、高精度にD/A変換信号を出力することができるようになる。
特に請求項4記載の発明のように、半導体集積回路装置内にD/A変換回路を形成する場合には、チップ形成面積を抑制することができるようになる。
According to the invention described in
Particularly when the D / A conversion circuit is formed in the semiconductor integrated circuit device as in the invention described in claim 4, the chip formation area can be suppressed.
以下、本発明の一実施形態について図1および図2を参照しながら説明する。尚、背景技術として説明した構成と同一部分には同一符号を付して説明を行う。
図1は、ラダー抵抗型D/A変換回路11(以下、D/A変換回路と称す)の概略的なブロック構成図を示している。本実施形態では、本発明を理解しやすく説明するため3ビットおよび4ビットのD/A変換回路を切替えて使用する実施形態について説明する。
Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 and 2. In addition, the same code | symbol is attached | subjected and demonstrated to the same part as the structure demonstrated as background art.
FIG. 1 is a schematic block diagram of a ladder resistance type D / A conversion circuit 11 (hereinafter referred to as a D / A conversion circuit). In the present embodiment, an embodiment in which 3-bit and 4-bit D / A conversion circuits are switched and used will be described in order to facilitate understanding of the present invention.
この図1において、D/A変換回路11は、第1のラダー抵抗2(抵抗2a〜2h)と、第2のラダー抵抗3(抵抗3a〜3h)と、第1のラダー抵抗2による分圧電圧を切替出力するように接続された複数のアナログスイッチ12(アナログスイッチ12a〜12h)と、第2のラダー抵抗3による分圧電圧を切替出力するように接続された複数のアナログスイッチ13(アナログスイッチ13a〜13h)と、アナログスイッチ12により切替出力された電圧をバッファする第1のバッファ14と、アナログスイッチ13により切替出力された電圧をバッファする第2のバッファ15と、切替回路として機能するアナログスイッチ16〜22と、これらのアナログスイッチ群12および13,16〜22を切替信号に基づいて切替制御する制御回路23とを備えている。尚、第1および第2のバッファ14および15は、バッファ4〜6の構成と同一構成である。
In FIG. 1, the D / A conversion circuit 11 includes a first ladder resistor 2 (
例えば3Vの第1の所定電圧V1が基準電圧として与えられるノードN1とグランドGNDとの間には、アナログスイッチ16と、第1のラダー抵抗2と、アナログスイッチ17とが直列接続されている。第1のラダー抵抗2は、例えば8個(複数個)の分圧用の抵抗2a〜2hが直列接続されることにより構成されている。これらの8個(複数個)の抵抗2a〜2hは同一抵抗値の抵抗により構成されている。
For example, an
また、例えば3Vの第2の所定電圧V2が基準電圧として与えられるノードN2とグランドGNDとの間には、アナログスイッチ20と、第2のラダー抵抗3と、アナログスイッチ19とが直列接続されている。この第2のラダー抵抗3も同様に、例えば8個(複数個)の分圧用の抵抗3a〜3hが直列接続されることにより構成されており、これらの8個の抵抗3a〜3hは、それぞれ同一抵抗値の抵抗により構成されている。
For example, an
アナログスイッチ16および第1のラダー抵抗2の共通接続点と、第2のラダー抵抗3およびアナログスイッチ19の共通接続点との間には、アナログスイッチ18が接続されている。
直列接続された各抵抗2a〜2h間の共通接続点と第1のバッファ14の入力端子(オペアンプの非反転入力端子)との間には、それぞれアナログスイッチ12a〜12gが接続されている。また、第1のラダー抵抗2およびアナログスイッチ17の共通接続点と第1のバッファ14の入力端子との間には、アナログスイッチ12hが接続されている。第1のバッファ14の出力端子は、出力端子OUT1に接続されていると共に、アナログスイッチ21を介して出力端子OUT2に接続されている。また、第2のバッファ15の出力端子と出力端子OUT2との間には、アナログスイッチ22が接続されている。
An
直列接続された各抵抗3a〜3h間の共通接続点と第2のバッファ15の入力端子(オペアンプの非反転入力端子)との間には、それぞれアナログスイッチ13a〜13gが接続されている。また、第2のラダー抵抗3hおよびアナログスイッチ19の共通接続点と第2のバッファ15の入力端子との間には、アナログスイッチ13hが接続されている。これら第1および第2のバッファ14および15は、それぞれ、1つのオペアンプにより構成されており、その入力端子がオペアンプの非反転入力端子として構成され出力端子とオペアンプの反転入力端子が接続されてなるボルテージフォロワにより形成されている。
オペアンプは、通常数十個程度のMOSトランジスタや各種抵抗素子やコンデンサ素子等のインピーダンス素子が組み合わされて構成されており、特に半導体集積回路装置内に形成した場合には、後述する制御回路23の内部構成よりも半導体チップ面積が大幅に必要とされる。本実施形態では、第1および第2のバッファ14および15を2つのオペアンプのみで構成しているため、半導体集積回路装置内に形成したとしても背景技術欄に説明した従来構成に比較して大幅に半導体チップ内の形成領域を削減できるという効果を奏する。
The operational amplifier is usually configured by combining several tens of MOS transistors, impedance elements such as various resistance elements and capacitor elements, and particularly when formed in a semiconductor integrated circuit device, the
アナログスイッチ12,13,16〜22はそれぞれ制御端子を備えており、制御端子に与えられる制御信号がHレベル「1」であるとき導通するようになっており、制御端子に与えられる制御信号がLレベル「0」であるとき非導通になる。このように説明した回路構成について、制御回路23は、切替信号として各アナログスイッチ12,13,16〜22の制御端子にHレベルもしくはLレベルを与えて切替えることにより、出力端子OUT1もしくはOUT2からD/A変換信号を出力するようになっている。
Each of the
以下、図2を参照しながら制御回路23の構成について説明する。
制御回路23は、HレベルまたはLレベルの選択信号を生成する選択信号発生回路24と、第1および第2の制御端子付デコーダ25および26と、この制御端子付デコーダ25および26の制御端子25aおよび26aにそれぞれ制御信号を与えるデコーダ有効無効制御回路27および28と、ディジタル信号を発生する信号発生回路29および30と、信号発生回路29および30から与えられるディジタル信号を選択切替出力するセレクタ31と、NOTゲート32〜34とにより構成されている。
Hereinafter, the configuration of the
The
このうち、選択信号発生回路24は、このラダー抵抗型D/A変換回路11を4ビットのD/A変換回路として機能させるとき(第1状態と称する)には選択信号として「1」(=「H」レベル)を出力し、ラダー抵抗型D/A変換回路11を3ビットのD/A変換回路2回路として機能させる(第2状態と称する)ときには選択信号として「0」(=「L」レベル)を生成出力するようになっている。
Among these, the selection
信号発生回路29および30は互いに接続されており、4ビットのD/A変換回路として機能するときには、信号発生回路29が下位側3ビットのディジタル信号を信号線D12〜D10から出力すると共に信号発生回路30が上位側1ビットのディジタル信号を信号線D20から出力するようになっている。このとき、信号発生回路30は信号線D22およびD21に対してLレベル「0」を出力するようになっている。
When the
また、このラダー抵抗型D/A変換回路11が3ビットのD/A変換回路2系統として機能するときには、信号発生回路29および30は、それぞれ3ビットのディジタル信号を信号線D12〜D10,D22〜D20から出力するようになっている。ここで、図2に示すように、信号発生回路30は、D/A変換回路11が4ビットのD/A変換回路として機能するときに上位側1ビットのディジタル信号を出力するが、この1ビットのディジタル信号(MSB)を出力する信号線D20に対して、3ビットのD/A変換回路として機能する際の最下位ビット(LSB)の信号線D20が対応するようになっている。
When the ladder resistor type D / A conversion circuit 11 functions as two 3-bit D / A conversion circuits, the
信号線D12〜D10は第1の制御端子付デコーダ25およびセレクタ31の一方の入力端子に接続されており、これらの第1の制御端子付デコーダ25およびセレクタ31に信号発生回路29が発生する3ビットのディジタル信号が与えられるようになっている。信号線D22〜D20はセレクタ31の他方の入力端子に接続されており、信号発生回路30が発生するディジタル信号がセレクタ31に与えられるようになっている。
The signal lines D12 to D10 are connected to one input terminal of the first decoder with
第1および第2の制御端子付デコーダ25および26は同一構成であるため、制御端子付デコーダ25の構成を説明し、これに代えて制御端子付デコーダ26の説明を省略する。図2に示すように、制御端子付デコーダ25の基本構成は複数のNOTゲート35a〜35f(前段)および複数のANDゲート37a〜37h(後段)が組み合わせて構成される3ビットのデコーダであり、このデコーダに対して制御端子25aが設けられているものである。尚、制御端子付デコーダ26は、複数のNOTゲート36a〜36f、複数のANDゲート38a〜38hを組み合わせて構成されている。
Since the first and second decoders with
制御端子25aは、後段を構成するANDゲート37a〜37hの入力端子に接続されており、制御端子25aにHレベル「1」が与えられると制御端子付デコーダ25の3ビットデコーダとしての機能が有効化される。また逆に制御端子25aにLレベル「0」が与えられると3ビットデコーダとしての機能が無効化されるようになり、制御端子付デコーダ25の出力が全てLレベル「0」となる。
The
分圧電圧を選択出力するためのアナログスイッチ12a〜12hの制御端子には、制御端子付デコーダ25の8つの出力がそれぞれ接続されており、同様に、アナログスイッチ13a〜13hの制御端子には、制御端子付デコーダ26の8つの出力がそれぞれ接続されている(何れも図示せず)。アナログスイッチ13a〜13hが択一的に切替えられることによりアナログ出力端子OUT1もしくはOUT2からD/A変換信号が出力されるようになる。
The eight outputs of the
セレクタ31は、図2に示すように、ANDゲート31a〜31fやORゲート31g〜31iが組み合わされた一般的な選択回路を構成するものであり、選択信号発生回路24の選択信号がNOTゲート33を介してセレクタ31の制御端子31jに与えられるようになっており、この選択信号に基づいて信号発生回路29および30の出力を選択出力し、第2の制御端子付デコーダ26の入力端子に与えるようになっている。
As shown in FIG. 2, the selector 31 constitutes a general selection circuit in which AND
具体的に説明すると、第1状態において、選択信号発生回路24がHレベル「1」を出力すると、セレクタ31の機能により信号発生回路30の信号線D12〜D10の出力が制御端子付デコーダ26の入力端子に与えられる。また逆に、第2状態において、選択信号発生回路24がLレベル「0」を出力すると、セレクタ31の機能により信号発生回路30の信号線D22〜D20の出力が制御端子付デコーダ26の入力端子に与えられるようになっている。
Specifically, in the first state, when the selection
また信号線D20は、デコーダ有効無効制御回路27および28に接続されている。デコーダ有効無効制御回路27は、信号線D20の信号が入力信号として与えられる前段のNOTゲート27aと、選択信号発生回路24の選択信号が入力信号として与えられるNOTゲート27bと、これらのNOTゲート27aおよび27bの出力が入力信号として与えられる後段のORゲート27cとにより構成されている。また、デコーダ有効無効制御回路28は、選択信号発生回路24の選択信号が入力信号として与えられるNOTゲート28aと、信号線D20の信号およびNOTゲート28aの出力信号が入力信号として与えられるORゲート28bとにより構成されている。
The signal line D20 is connected to the decoder valid /
すなわち、選択信号発生回路24の選択信号は、デコーダ有効無効制御回路27のNOTゲート27bおよびORゲート27cを介して制御端子付デコーダ25の制御端子25aに与えられるようになっており、選択信号発生回路24の選択信号は、デコーダ有効無効制御回路28のNOTゲート28aおよびORゲート28bを介して制御端子付デコーダ26の制御端子26aに与えられるようになっている。
That is, the selection signal of the selection
具体的に説明すると、第2状態において、選択信号発生回路24が選択信号としてLレベル「0」を出力すると、制御端子付デコーダ25および26の制御端子にはHレベル「1」が与えられるようになり、制御端子付デコーダ25および26のデコード機能が共に有効化されるようになる。
逆に、第1状態において、選択信号発生回路24が選択信号としてHレベル「1」を出力すると、ORゲート27cおよび28bにはLレベル「0」が与えられるようになり、制御端子付デコーダ25および26のデコード機能は、信号線D20に与えられるディジタル信号の値に応じて有効/無効が切替えられるようになっている。
More specifically, when the selection
Conversely, in the first state, when the selection
さらに詳細に説明すると、第1状態において、ディジタル信号AD3が信号線D20に与えられると、ディジタル信号AD3がHレベル「1」の場合、第1の制御端子付デコーダ25の機能が無効化され第2の制御端子付デコーダ26の機能が有効化される。逆にディジタル信号AD3がLレベル「0」の場合、第1の制御端子付デコーダ25の機能が有効化され第2の制御端子付デコーダ26の機能が無効化される。
More specifically, when the digital signal AD3 is applied to the signal line D20 in the first state, when the digital signal AD3 is at the H level “1”, the function of the
第2のデコーダ有効無効制御回路28の出力は,アナログスイッチ22の制御端子に接続されていると共に、NOTゲート32を介してアナログスイッチ21の制御端子に接続されている。また、選択信号発生回路24の選択信号は、アナログスイッチ18の制御端子に与えられるようになっていると共に、NOTゲート34を介してアナログスイッチ16,19の制御端子に与えられるようになっている。
The output of the second decoder valid / invalid control circuit 28 is connected to the control terminal of the
第2状態においては、選択信号発生回路24から選択信号としてLレベル「0」が出力されるため、アナログスイッチ16および19がオン状態、アナログスイッチ17,18,20がオフ状態になり、第1および第2のラダー抵抗2および3が切離されると共に、両ラダー抵抗2および3の両端にそれぞれ電圧V1やV2が与えられるようになる。
さらに、第2状態においては、デコーダ有効無効制御回路28の出力がHレベル「1」となるため、アナログスイッチ22がオン状態、アナログスイッチ21がオフ状態になり、第1および第2のバッファ14および15からそれぞれD/A変換信号が得られるようになる。
In the second state, since the selection
Further, in the second state, since the output of the decoder valid / invalid control circuit 28 is at the H level “1”, the
また、第1状態においては、選択信号発生回路24から選択信号としてHレベル「1」が出力されるため、アナログスイッチ16および19がオフ状態、アナログスイッチ17および20がオン状態になり、第1および第2のラダー抵抗2および3が直列接続され、その両端に電圧V2が与えられることになる。
さらに、第1状態においては、選択信号発生回路24から選択信号としてLレベル「0」が出力されるため、信号発生回路30が信号線D20に出力するディジタル信号AD3の値に応じてアナログスイッチ21および22が切替えられる。この場合、制御端子付デコーダ25の機能が有効化され制御端子付デコーダ26の機能が無効化される場合には、アナログスイッチ21がオン状態、アナログスイッチ22がオフ状態になり、第1のバッファ14を通じてD/A変換信号が出力端子OUT2に出力されるようになる。さらに制御端子付デコーダ25の機能が無効化され制御端子付デコーダ26の機能が有効化される場合には、アナログスイッチ21がオフ状態、アナログスイッチ22がオン状態になり、第2のバッファ15を通じてD/A変換信号が出力端子OUT2に出力されるようになる。このようにして制御回路23が構成されている。
In the first state, since the selection
Further, in the first state, since the selection
制御回路23は、このようにANDゲート37a〜37h,38a〜38h,31a〜31f、NOTゲート35a〜35f,36a〜36f,27a〜27b,28a,32,33,34、ORゲート27c,28b,31g〜31iが組み合わされて形成されているため、たとえ半導体集積回路装置内に形成したとしても制御回路23の形成面積は第1および第2のバッファ14および15に比較して大幅に小さい。したがって、半導体集積回路装置内に本実施形態で説明した回路を形成した場合、その素子形成領域の面積は第1および第2のバッファ14および15に依存するようになり、従来に比較して素子形成面積を大幅に削減できるという効果を奏する。
In this way, the
上記構成の作用について説明する。
(1)選択信号発生回路24の発生する選択信号が「1」(=「H」レベル)の場合(本発明の第1状態に相当)
選択信号発生回路24から選択信号が「1」で与えられると、セレクタ31は、ディジタル信号D12〜D10を制御端子付デコーダ26に与えるように切替える。このときラダー抵抗2および3を直列接続するようにアナログスイッチ16および19が切替えられ、D/A変換回路が合成される。さらに、デコーダ有効無効制御回路27および28は、制御端子付デコーダ25および26を制御する。このとき制御端子付デコーダ25の制御端子25aには、制御端子付デコーダ26の制御端子26aに与えられる信号の否定信号が与えられる。
The operation of the above configuration will be described.
(1) When the selection signal generated by the selection
When the selection signal is given by “1” from the selection
(1−1)最上位ビットMSBが「1」の場合
最上位ビットMSBが「1」の場合、ANDゲート37a〜37hにそれぞれLレベル「0」が与えられるため制御端子付デコーダ25の機能が無効化されると共に、ANDゲート38a〜38hにそれぞれHレベル「1」が与えられるため制御端子付デコーダ26の機能が有効化される。
(1-1) When the Most Significant Bit MSB is “1” When the most significant bit MSB is “1”, the L level “0” is given to the AND
このとき、アナログスイッチ22がオンすると共にアナログスイッチ21がオフするため、バッファ15からアナログスイッチ22を通じてアナログ出力端子OUT2からD/A変換信号が出力されるようになる。
(1−2)最上位ビットMSBがLレベル「0」の場合
最上位ビットMSBが「0」の場合、ANDゲート38a〜38hにそれぞれHレベル「1」が与えられるため制御端子付デコーダ26の機能が有効化されると共に、ANDゲート37a〜37hにそれぞれLレベル「0」が与えられるため制御端子付デコーダ25の機能が無効化される。
At this time, since the
(1-2) When the Most Significant Bit MSB is L Level “0” When the Most Significant Bit MSB is “0”, the H level “1” is given to the AND
このとき、アナログスイッチ22がオフすると共にアナログスイッチ21がオンするため、バッファ14からアナログスイッチ21を通じてアナログ出力端子OUT2からD/A変換信号が出力されるようになる。
(2)選択信号が「0」(=「L」レベル)の場合(本発明の第2状態に相当)
選択信号発生回路24から選択信号がLレベル「0」として出力されると、セレクタ31は、ディジタル信号D22〜D20を制御端子付デコーダ26に与えるように切替える。このとき、ディジタル信号D12〜D10は制御端子付デコーダ25に与えられる。
At this time, the
(2) When the selection signal is “0” (= “L” level) (corresponding to the second state of the present invention)
When the selection signal is output as L level “0” from the selection
同時に、デコーダ有効無効制御回路27および28を通じて制御端子付デコーダ25および26を構成する終段のANDゲート37a〜37h,38a〜38hに対して常に「1」(=「H」レベル)が与えられる。したがって、制御端子付デコーダ25は、常時、ディジタル信号D12〜D10が与えられることにより一般的な3ビットデコーダとして機能するようになる。同様に制御端子付デコーダ26も、常時、ディジタル信号D22〜D20が与えられることにより一般的な3ビットデコーダとして機能するようになる。
At the same time, “1” (= “H” level) is always applied to the final stage AND
このとき、アナログスイッチ22は、Hレベル(=「1」)が与えられることによりオンすると同時に、アナログスイッチ21はLレベル(=「0」)が与えられることによりオフするため、D/A変換信号が第1および第2のバッファ14および15を通じてアナログ出力端子OUT1およびOUT2に2系統出力されるようになる。
このような実施形態によれば、制御回路23は、第1状態においては、第1および第2のラダー抵抗2および3を直列接続するようにアナログスイッチ16,18,19を切替制御し、直列接続されたラダー抵抗2および3の両端に電圧V2が与えられるようにした状態で、4ビットのディジタル信号に基づいて4ビットのD/A変換信号を第1および第2のバッファ14および15を通じて出力しており、第2状態においては、第1および第2のラダー抵抗2および3を並列に分離して、それぞれのラダー抵抗2および3の両端に電圧V1およびV2を与えるようにした状態で、3ビットのディジタル信号に基づいて3ビットのD/A変換信号を第1および第2のバッファ14および15を通じて2系統出力しているため、必要に応じてD/A変換信号を高分解能もしくは2系統出力に得ることができる。しかも、ラダー抵抗2および3を構成する抵抗器2a〜2h,3a〜3hの数を、4ビットおよび3ビットのD/A変換回路を個々に作成する構成に比較して大幅に削減することができるようになる。
At this time, the
According to such an embodiment, in the first state, the
(他の実施形態)
本発明は、前記実施形態に限定されるものではなく、例えば、以下に示す変形もしくは拡張が可能である。
本発明は、例えば本願出願人により出願された特開平8−271284号公報などに記載される波形整形装置のD/Aコンバータに適用することも可能である。
上記実施形態においては、3ビットおよび4ビットのD/A変換回路を切替できる実施形態を示したが、8ビット,16ビット,32ビット等のD/A変換回路にも適用できることはいうまでもない。
(Other embodiments)
The present invention is not limited to the above-described embodiment. For example, the following modifications or expansions are possible.
The present invention can also be applied to a D / A converter of a waveform shaping device described in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 8-271284 filed by the applicant of the present application.
In the above-described embodiment, the embodiment in which the D / A conversion circuit of 3 bits and 4 bits can be switched is shown. Absent.
図面中、11はラダー抵抗型D/A変換回路、14は第1のバッファ、15は第2のバッファ、12a〜12hはアナログスイッチ、13a〜13hはアナログスイッチ、16〜22はアナログスイッチ(切替回路)、25および26は制御端子付デコーダ、27および28はデコーダ有効無効制御回路、31はセレクタを示す。
In the drawing, 11 is a ladder resistance type D / A conversion circuit, 14 is a first buffer, 15 is a second buffer, 12a to 12h are analog switches, 13a to 13h are analog switches, and 16 to 22 are analog switches (switching). Circuit), 25 and 26 are decoders with control terminals, 27 and 28 are decoder valid / invalid control circuits, and 31 is a selector.
Claims (4)
第1および第2のバッファと、
第1の所定電圧が基準電圧として与えられることにより2のk乗個(kは正の整数)のそれぞれ異なる分圧電圧を出力可能に構成された第1のラダー抵抗と、
この第1のラダー抵抗とは別体に設けられ、第2の所定電圧が与えられることにより分圧電圧を出力可能に構成された第2のラダー抵抗と、
前記制御回路が出力する切替信号に基づいて、前記第1および第2のラダー抵抗を直列的に接続し当該ラダー抵抗群に対して前記第1もしくは第2の所定電圧を基準電圧として与える第1状態とするか、もしくは、前記第1および第2のラダー抵抗を切離して少なくとも前記第1の所定電圧を第1のラダー抵抗に基準電圧として与える第2状態とするかを切替える切替回路と、
前記制御回路は、前記切替回路により切替えられた前記第1状態において、nビット(nはkよりも大きい整数)のディジタル信号に基づいて前記直列的に接続された前記第1および第2のラダー抵抗による第1もしくは第2の所定電圧の分圧電圧を2のn乗個のD/A変換信号として前記第1もしくは第2のバッファを通じて出力させ、前記切替回路により切替えられた前記第2状態において、kビットのディジタル信号に基づいて前記第1の所定電圧の前記第1のラダー抵抗による分圧電圧を2のk乗個のD/A変換信号として前記第1のバッファを通じて出力させるように構成されていることを特徴とするラダー抵抗型D/A変換回路。 A control circuit;
First and second buffers;
A first ladder resistor configured to be capable of outputting 2 k power (k is a positive integer) different divided voltages by applying the first predetermined voltage as a reference voltage;
A second ladder resistor provided separately from the first ladder resistor and configured to output a divided voltage when a second predetermined voltage is applied;
A first and second ladder resistors are connected in series based on a switching signal output from the control circuit, and the first or second predetermined voltage is applied as a reference voltage to the ladder resistor group. A switching circuit that switches between the first state and the second state in which the first and second ladder resistors are separated and at least the first predetermined voltage is applied to the first ladder resistor as a reference voltage;
In the first state switched by the switching circuit, the control circuit includes the first and second ladders connected in series based on an n-bit (n is an integer larger than k) digital signal. The second state in which the divided voltage of the first or second predetermined voltage by the resistor is output through the first or second buffer as 2 n D / A conversion signals and switched by the switching circuit. , A divided voltage of the first predetermined voltage by the first ladder resistor based on a k-bit digital signal is output through the first buffer as 2 k power D / A conversion signals. A ladder resistance type D / A conversion circuit characterized by being configured.
前記切替回路は、前記第2状態においては第1および第2のラダー抵抗を切離して第1の所定電圧を第1のラダー抵抗に基準電圧として与えると共に第2の所定電圧を第2のラダー抵抗に基準電圧として与えるように切替えるように構成され、
前記制御回路は、前記切替回路により切替えられた第2状態においては、kビットのディジタル信号に基づいて前記第1の所定電圧の前記第1のラダー抵抗による分圧電圧を2のk乗個のD/A変換信号として前記第1のバッファを通じて出力させるように構成されると共に、mビットのディジタル信号に基づいて前記第2の所定電圧の前記第2のラダー抵抗による分圧電圧を2のm乗個のD/A変換信号として前記第2のバッファを通じて出力させるように構成されていることを特徴とする請求項1記載のラダー抵抗型D/A変換回路。 The second ladder resistor is configured to be capable of outputting different m 2 (m is a positive integer) divided voltage when a second predetermined voltage is applied,
In the second state, the switching circuit disconnects the first and second ladder resistors to provide the first predetermined voltage as a reference voltage to the first ladder resistor and supplies the second predetermined voltage to the second ladder resistor. Is configured to be switched so as to be given as a reference voltage to
In the second state switched by the switching circuit, the control circuit converts the divided voltage of the first predetermined voltage by the first ladder resistor based on a k-bit digital signal to 2k powers. A D / A conversion signal is output through the first buffer, and a divided voltage of the second predetermined voltage by the second ladder resistor is set to 2 m based on an m-bit digital signal. 2. The ladder resistor type D / A conversion circuit according to claim 1, wherein the ladder resistance type D / A conversion circuit is configured to output the signal as a squared D / A conversion signal through the second buffer.
4. The ladder resistor type D / A converter circuit according to claim 1, wherein the ladder resistor type D / A converter circuit is configured in a semiconductor integrated circuit device.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004076177A JP4158731B2 (en) | 2004-03-17 | 2004-03-17 | Ladder resistance type D / A conversion circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004076177A JP4158731B2 (en) | 2004-03-17 | 2004-03-17 | Ladder resistance type D / A conversion circuit |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005269023A true JP2005269023A (en) | 2005-09-29 |
JP4158731B2 JP4158731B2 (en) | 2008-10-01 |
Family
ID=35093125
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004076177A Expired - Fee Related JP4158731B2 (en) | 2004-03-17 | 2004-03-17 | Ladder resistance type D / A conversion circuit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4158731B2 (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012195825A (en) * | 2011-03-17 | 2012-10-11 | Ricoh Co Ltd | Resistance string d/a converter |
JP2015111841A (en) * | 2010-08-27 | 2015-06-18 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | Semiconductor device |
JP2018152754A (en) * | 2017-03-14 | 2018-09-27 | セイコーエプソン株式会社 | D-a inversion circuit, circuit arrangement, oscillator, electronic apparatus and mobile body |
-
2004
- 2004-03-17 JP JP2004076177A patent/JP4158731B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015111841A (en) * | 2010-08-27 | 2015-06-18 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | Semiconductor device |
JP2012195825A (en) * | 2011-03-17 | 2012-10-11 | Ricoh Co Ltd | Resistance string d/a converter |
JP2018152754A (en) * | 2017-03-14 | 2018-09-27 | セイコーエプソン株式会社 | D-a inversion circuit, circuit arrangement, oscillator, electronic apparatus and mobile body |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4158731B2 (en) | 2008-10-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8963757B2 (en) | D/A converter including higher-order resistor string | |
JP4287893B2 (en) | High-speed differential resistance voltage digital-to-analog converter | |
US7688236B2 (en) | Integrated circuit comprising a plurality of digital-to-analog converters, sigma-delta modulator circuit, and method of calibrating a plurality of multibit digital-to-analog converters | |
JP5835005B2 (en) | D / A converter | |
US8493251B2 (en) | Self-calibrated DAC with reduced glitch mapping | |
US11133818B2 (en) | Interpolation digital-to-analog converter (DAC) | |
JP2011160395A (en) | Analog-to-digital converter | |
JP2007324834A (en) | Pipeline type a/d converter | |
US9641186B2 (en) | Apparatus for digital-to-analog conversion with improved performance and associated methods | |
JP2007006448A (en) | Digital/analog converter | |
US9800259B1 (en) | Digital to analog converter for performing digital to analog conversion with current source arrays | |
US7893857B2 (en) | Analog to digital converter using successive approximation | |
US10084465B2 (en) | Analog-to-digital converters with a plurality of comparators | |
JP4158731B2 (en) | Ladder resistance type D / A conversion circuit | |
JP2007036877A (en) | A/d converter | |
JP2004336772A (en) | Resampling of element unit for digital-to-analog converter | |
JP6643560B2 (en) | Digital / analog converter | |
JP4080488B2 (en) | A / D converter | |
JP5020157B2 (en) | Analog / digital conversion circuit | |
KR101096088B1 (en) | Digital-Analog Converter using resistor-string | |
JP2003060504A (en) | A/d conversion apparatus and error correction device for a/d converter | |
KR101710746B1 (en) | Folded cascade operational amplifier | |
WO2022030130A1 (en) | Electronic circuit | |
JP2006262001A (en) | Ad converter | |
JP2008294761A (en) | Semiconductor integrated circuit |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060515 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20080402 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080415 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080602 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20080624 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20080707 |
|
R150 | Certificate of patent (=grant) or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110725 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120725 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120725 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130725 Year of fee payment: 5 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |