JP2005265543A - Testing and recording device for die, and testing and recording method for die - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、金型の湾曲した成形面上のゴミや傷等の微小凹凸検査対象を検査し、検査結果を記録及び表示する金型用検査記録装置及び金型の検査記録方法に関する。 The present invention relates to a mold inspection recording apparatus and a mold inspection recording method for inspecting a minute unevenness inspection target such as dust and scratches on a curved molding surface of a mold, and recording and displaying an inspection result.
射出成形等において用いられる金型の成形面にゴミや傷等がある状態で成形作業を行うと、完成した成形品が不良品となるおそれがあるので、定期的に金型の成形面を検査する必要がある。そのため従来は、金型の成形面に光を照射して、検査者が目視でゴミや傷を確認し、検査結果を記録用紙に記録していた。しかし、このような手作業は作業効率が悪く、かつ、検査者が光源からの光を直接見ることになるので、検査者の目への負担が大きいという問題があった。このため、金型の成形面上のゴミや傷を自動的に検査する装置が種々考案されている(例えば、特許文献1及び特許文献2)。 If the molding surface of the mold used in injection molding etc. is dusty or scratched, there is a risk that the finished molded product may become defective. There is a need to. Therefore, conventionally, the molding surface of the mold is irradiated with light, the inspector visually confirms dust and scratches, and the inspection result is recorded on a recording sheet. However, such manual work has a problem that the work efficiency is low and the inspector directly sees the light from the light source, which places a heavy burden on the inspector's eyes. For this reason, various apparatuses for automatically inspecting dust and scratches on the molding surface of the mold have been devised (for example, Patent Document 1 and Patent Document 2).
特許文献1では、射出成形装置に金型の成形面上のゴミや傷等を検査するための検査装置を取付けている。この検査装置には金型の成形面に光を照射する固定光源と、成形面を撮影するカメラが設けられている。このカメラは、成形作業時には金型の成形面と対向しない位置に退避し、成形作業終了後には金型の成形面と対向する位置に移動して成形面を撮影する。そして、撮影された画像をカメラに接続した画像処理装置で処理して、ゴミや傷等の有無を判定する。 In Patent Document 1, an inspection device for inspecting dust or scratches on a molding surface of a mold is attached to an injection molding device. This inspection apparatus is provided with a fixed light source for irradiating light on the molding surface of the mold and a camera for photographing the molding surface. The camera retracts to a position that does not face the molding surface of the mold during the molding operation, and moves to a position that faces the molding surface of the mold after the molding operation to photograph the molding surface. Then, the photographed image is processed by an image processing apparatus connected to the camera to determine the presence or absence of dust or scratches.
特許文献2では、成形装置から取り外した金型を金型検査装置上に載せ、その成形面に固定光源から光を照射し、カメラで成形面を撮影して、撮影された画像を画像処理装置(演算処理装置)で処理し、その結果(傷等の有無)をモニタに表示する。
ゴミや傷等の微小凹凸は光を強く反射する性質があるので、成形面をカメラで撮影すると、微小凹凸が他の部分に比べてより明るく映る。そのため特許文献1及び特許文献2の装置は、微小凹凸をその他の部分と識別できる。 Since minute irregularities such as dust and scratches have a property of strongly reflecting light, when the molding surface is photographed with a camera, the minute irregularities appear brighter than other portions. Therefore, the apparatus of patent document 1 and patent document 2 can distinguish micro unevenness | corrugation from another part.
ところが、金型の成形面が凹状や凸状の場合は、成形面の一部(特定反射域)が微小凹凸と同程度またはそれ以上に強く反射するため、この特定反射域が微小凹凸と連続していたり重複していると、特許文献1及び特許文献2の装置では、微小凹凸を特定反射域と識別できなくなってしまう。 However, when the molding surface of the mold is concave or convex, a part of the molding surface (specific reflection area) reflects as strongly as or more than the minute irregularities, so this specific reflection area is continuous with the minute irregularities. If they are overlapped or overlapped, the devices of Patent Literature 1 and Patent Literature 2 cannot distinguish the minute irregularities from the specific reflection area.
本発明の目的は、金型の非平面状成形面上にあるゴミや傷等の微小凹凸検査対象を、非平面状成形面上の特定反射域と区別して確実に視認できる金型用検査記録装置及び金型の検査記録方法を提供することにある。 An object of the present invention is to provide an inspection record for a mold that can reliably inspect minute unevenness inspection objects such as dust and scratches on a non-planar molding surface of a mold from a specific reflection area on the non-planar molding surface. An object of the present invention is to provide an apparatus and a mold inspection recording method.
第1の態様によれば、本発明の金型用検査記録装置は、被検金型の非平面状成形面に光を照射する光源と、上記非平面状成形面を特定の一方向から撮像する撮像素子と、該撮像素子によって撮像された画像データ中の、輝度値が所定値より高い画素データが所定数以上連続した高輝度連続画素データ群の輝度値を、上記所定値より低値の修正値に変換して修正画像データを生成する画像処理手段と、該修正画像データに基づく画像を表示する表示手段と、を備えることを特徴としている。 According to the first aspect, the mold inspection recording apparatus of the present invention is a light source for irradiating light to the non-planar molding surface of the test mold, and images the non-planar molding surface from a specific direction. A luminance value of a high-luminance continuous pixel data group in which a predetermined number or more of pixel data having a luminance value higher than a predetermined value in image data captured by the imaging device is lower than the predetermined value. It is characterized by comprising image processing means for generating corrected image data by converting to a corrected value, and display means for displaying an image based on the corrected image data.
上記光源が、上記被検金型に対して相対移動可能で、複数の異なる相対照射位置から上記非平面状成形面に光を照射し、上記撮像素子が、上記光源が上記異なる相対照射位置にあるときそれぞれ、上記非平面状成形面を特定の一方向から撮像し、上記画像処理手段が、上記撮像素子によって撮像された全ての異方向画像データ中の上記高輝度連続画素データ群の輝度値を上記修正値に変換して生成した全ての修正異方向画像データどうしを画素レベルで比較し、これら複数の修正異方向画像データの対応する位置にある画素データの中から最も輝度の高い画素データを選択し、選択した最高輝度画素データ群を組み合わせて一つの組み合わせ画像データを生成し、上記表示手段が、該組み合わせ画像データに基づく画像を表示してもよい。このように光源の相対照射位置を変えながら複数の画像データを取得すれば、非平面状成形面上のゴミや傷等の微小凹凸検査対象を確実に表示手段に表示できるようになる。 The light source is movable relative to the test mold, irradiates light on the non-planar molding surface from a plurality of different relative irradiation positions, and the imaging element moves the light source to the different relative irradiation positions. In some cases, the non-planar molding surface is imaged from one specific direction, and the image processing means has a luminance value of the high-luminance continuous pixel data group in all the different-direction image data captured by the image sensor. The pixel data having the highest luminance among the pixel data at the corresponding positions of the plurality of corrected different-direction image data are compared with each other at the pixel level. And combining the selected highest luminance pixel data groups to generate one combination image data, and the display means may display an image based on the combination image data. By acquiring a plurality of pieces of image data while changing the relative irradiation position of the light source in this way, it becomes possible to reliably display a fine unevenness inspection target such as dust or scratches on the non-planar molding surface on the display means.
上記輝度値の変換は、例えば、画像処理手段が、上記画像データまたは全ての上記異方向画像データ中の上記高輝度連続画素データ群を認識し、認識した該高輝度連続画素データ群の輝度値を上記修正値に変換して上記修正画像データまたは上記修正異方向画像データを生成することにより可能となる。 In the conversion of the brightness value, for example, the image processing means recognizes the high brightness continuous pixel data group in the image data or all the different-direction image data, and the brightness value of the recognized high brightness continuous pixel data group. Is converted into the correction value to generate the corrected image data or the corrected different-direction image data.
また、上記非平面上成形面が回転対称形状の場合には、上記画像処理手段が、一つの上記異方向画像データ中の上記高輝度連続画素データ群を認識し、認識した該高輝度連続画素データ群の位置と全ての異方向画像データ撮像時の上記相対照射位置とに基づいて、他の上記異方向画像データ中の上記高輝度連続画素データ群の位置を演算し、全ての上記高輝度連続画素データ群の輝度値を上記修正値に変換して上記修正異方向画像データを生成することによっても、上記輝度値の変換を行うことができる。 When the non-planar molding surface is rotationally symmetric, the image processing means recognizes the high-luminance continuous pixel data group in one different-direction image data and recognizes the recognized high-luminance continuous pixels. Based on the positions of the data groups and the relative irradiation positions at the time of capturing all the different-direction image data, the positions of the high-luminance continuous pixel data groups in the other different-direction image data are calculated, and all the high-luminances are calculated. The luminance value can also be converted by converting the luminance value of the continuous pixel data group into the correction value to generate the corrected different direction image data.
上記修正値を0に設定すれば、非平面状成形面の微小凹凸検査対象を特定反射域と明確に識別可能となる。 If the correction value is set to 0, it is possible to clearly distinguish the object for inspecting minute unevenness on the non-planar molding surface from the specific reflection area.
第2の態様によれば、本発明の金型用検査記録装置は、被検金型に対して相対移動可能で、複数の異なる相対照射位置から該金型の非平面状成形面に光を照射する光源と、該光源が上記異なる相対照射位置にあるときそれぞれ、上記非平面状成形面を特定の一方向から撮像する撮像素子と、上記非平面状成形面上の所定の反射率以上の特定反射域によって反射された光が上記撮像素子に向かうのを防止する遮光手段と、上記撮像素子によって撮像された全ての異方向画像データどうしを画素レベルで比較し、これら複数の異方向画像データの対応する位置にある画素データの中から最も輝度の高い画素データを選択し、選択した最高輝度画素データ群を組み合わせて一つの組み合わせ画像データを生成する画像処理手段と、該組み合わせ画像データに基づく画像を表示する表示手段と、を備えることを特徴とすることを特徴としている。 According to the second aspect, the mold inspection recording apparatus of the present invention is movable relative to the test mold, and emits light from a plurality of different relative irradiation positions to the non-planar molding surface of the mold. An illuminating light source, an image sensor that images the non-planar molding surface from a specific direction when the light source is at the different relative irradiation position, and a predetermined reflectance or more on the non-planar molding surface The light shielding means for preventing the light reflected by the specific reflection area from going to the image sensor and all the different direction image data captured by the image sensor are compared at the pixel level, and the plurality of different direction image data are compared. Image processing means for selecting pixel data having the highest luminance from pixel data at corresponding positions of the image data, and combining the selected highest luminance pixel data groups to generate one combination image data; and the combination image Is characterized in that characterized in that it comprises display means for displaying an image based on over data, the.
いずれの態様においても、上記画像データ、上記異方向画像データ、及び上記組み合わせ画像データを記録できる記録手段を備えるのが実際的である。 In any aspect, it is practical to include a recording unit capable of recording the image data, the different-direction image data, and the combination image data.
第1の態様によれば、本発明の金型の検査記録方法は、被検金型の非平面状成形面に光を照射する照射ステップ、上記非平面状成形面を特定の一方向から撮像する撮像ステップ、撮像された画像データ中の、輝度値が所定値より高い画素データが所定数以上連続した高輝度連続画素データ群の輝度値を、上記所定値より低値の修正値に変換して修正画像データを生成する輝度値変換ステップ、及び該修正画像データに基づく画像を表示する表示ステップ、を有することを特徴としている。 According to the first aspect, the mold inspection and recording method of the present invention includes an irradiation step of irradiating light to the non-planar molding surface of the test mold, and imaging the non-planar molding surface from a specific direction. In the imaging step, the luminance value of the high-luminance continuous pixel data group in which the pixel data whose luminance value is higher than the predetermined value in the imaged image data is continuous for a predetermined number or more is converted into a correction value lower than the predetermined value. A luminance value converting step for generating corrected image data, and a display step for displaying an image based on the corrected image data.
上記照射ステップを、光源が上記被検金型に対して相対移動して、複数の異なる相対照射位置から上記非平面状成形面に光を照射するステップとし、上記撮像ステップを、該光源が上記異なる相対照射位置にあるときそれぞれ、上記非平面状成形面を撮像するステップとし、上記輝度値変換ステップを、撮像された全ての異方向画像データ中の上記高輝度連続画素データ群の輝度値を上記修正値に変換して修正異方向画像データを生成するステップとし、さらに、全ての修正異方向画像データどうしを画素レベルで比較し、これら複数の修正異方向画像データの対応する位置にある画素データの中から最も輝度の高い画素データを選択し、選択した最高輝度画素データ群を組み合わせて一つの組み合わせ画像データを生成する組み合わせステップを有し、上記表示ステップを、該組み合わせ画像データに基づく画像を表示するステップとしてもよい。このように光源の相対照射位置を変えながら複数の画像データを取得すれば、非平面状成形面上のゴミや傷等の微小凹凸検査対象を確実に表示できるようになる。 The irradiation step is a step in which a light source is relatively moved with respect to the test mold, and light is irradiated onto the non-planar molding surface from a plurality of different relative irradiation positions, and the imaging step is performed by the light source When there is a different relative irradiation position, the non-planar molding surface is imaged, and the luminance value conversion step is performed by calculating the luminance value of the high-luminance continuous pixel data group in all captured different-direction image data. A step of generating corrected different-direction image data by converting to the correction value, and comparing all the corrected different-direction image data at a pixel level, and pixels at corresponding positions of the plurality of corrected different-direction image data The pixel data having the highest luminance is selected from the data, and the combined highest luminance pixel data group is combined to generate one combination image data. Have up, the display step may be a step of displaying an image based on the combination image data. If a plurality of pieces of image data are acquired while changing the relative irradiation position of the light source in this way, it is possible to reliably display a target for inspecting minute irregularities such as dust and scratches on the non-planar molding surface.
上記輝度値変換ステップを、例えば、上記画像データまたは全ての上記異方向画像データ中の上記高輝度連続画素データ群を認識し、認識した該高輝度連続画素データ群の輝度値を上記修正値に変換して上記修正画像データまたは上記修正異方向画像データを生成するステップとして実施可能である。 In the luminance value conversion step, for example, the high luminance continuous pixel data group in the image data or all the different-direction image data is recognized, and the recognized luminance value of the high luminance continuous pixel data group is set as the correction value. This can be implemented as a step of converting and generating the corrected image data or the corrected different direction image data.
また、上記非平面上成形面が回転対称形状の場合には、上記輝度値変換ステップを、一つの上記異方向画像データ中の上記高輝度連続画素データ群を認識し、認識した該高輝度連続画素データ群の位置と全ての異方向画像データ撮像時の上記相対照射位置とに基づいて、他の上記異方向画像データ中の上記高輝度連続画素データ群の位置を演算し、全ての上記高輝度連続画素データ群の輝度値を上記修正値に変換して上記修正異方向画像データを生成するステップとして実施することも可能である。 Further, when the non-planar molding surface is rotationally symmetric, the luminance value conversion step recognizes the high-luminance continuous pixel data group in one different-direction image data and recognizes the recognized high-luminance continuous Based on the position of the pixel data group and the relative irradiation position at the time of capturing all the different-direction image data, the position of the high-luminance continuous pixel data group in the other different-direction image data is calculated, It is also possible to implement the step of converting the luminance value of the luminance continuous pixel data group into the correction value to generate the corrected different direction image data.
上記輝度値変換ステップにおける上記修正値を0に設定して実施すれば、非平面状成形面の微小凹凸検査対象を特定反射域と明確に識別可能となる。 If the correction value in the luminance value conversion step is set to 0, the minute unevenness inspection target of the non-planar shaped surface can be clearly identified from the specific reflection area.
第2の態様によれば、本発明の金型の検査記録方法は、光源を被検金型に対して相対移動させ、複数の異なる相対照射位置から該金型の非平面状成形面に光を照射する照射ステップ、該光源が上記異なる相対照射位置にあるときそれぞれ、上記非平面状成形面を特定の一方向から撮像する撮像ステップ、上記非平面状成形面上の所定の反射率以上の特定反射域によって反射された光が上記撮像素子に向かうのを防止する遮光ステップ、上記撮像素子によって撮像された全ての異方向画像データどうしを画素レベルで比較し、これら複数の異方向画像データの対応する位置にある画素データの中から最も輝度の高い画素データを選択し、選択した最高輝度画素データ群を組み合わせて一つの組み合わせ画像データを生成する画像処理ステップ、及び該組み合わせ画像データに基づく画像を表示する表示ステップ、を有することを特徴としている。 According to the second aspect, the mold inspection and recording method of the present invention is such that the light source is moved relative to the test mold, and light is emitted from a plurality of different relative irradiation positions onto the non-planar molding surface of the mold. An imaging step for imaging the non-planar molding surface from a specific direction when the light source is at the different relative irradiation positions, and a predetermined reflectance or more on the non-planar molding surface, respectively. A light blocking step for preventing light reflected by the specific reflection area from traveling toward the image sensor, comparing all the different direction image data captured by the image sensor at a pixel level, and An image processing step of selecting pixel data having the highest luminance from pixel data at corresponding positions and generating one combination image data by combining the selected highest luminance pixel data groups; Display step of displaying an image based on micro the combination image data, is characterized by having a.
いずれの態様においても、上記画像データ、上記異方向画像データ、及び上記組み合わせ画像データを記録する記録ステップを有するのが実際的である。 In any aspect, it is practical to have a recording step for recording the image data, the different-direction image data, and the combined image data.
本発明によると、金型の非平面状成形面上にあるゴミや傷等の微小凹凸検査対象を、非平面状成形面上の特定反射域と区別して確実に視認できるようになる。 According to the present invention, a minute unevenness inspection target such as dust and scratches on a non-planar molding surface of a mold can be reliably recognized separately from a specific reflection area on the non-planar molding surface.
以下、本発明の第1の実施形態について、図1から図7を参照しながら説明する。
本実施形態の金型検査記録装置100は、レンズ成形用の金型(被検金型)10の鏡面加工された平面視円形をなす凹状レンズ成形面(非平面状成形面)11を検査して記録し、凹状レンズ成形面11の様子を表示するものであり、撮像装置20、パソコン30、キーボード40、及びディスプレイ50を具備している。まずは、これら金型検査記録装置100の各構成要素20、30、40、50について説明する。
Hereinafter, a first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.
The mold
撮像装置20は以下のような構造となっている。
床面に載置される平面視略円形の基台21の上面中央部には、平面視円形の金型支持台22が固定されており、金型支持台22は、円周方向に並べて設けた3つの開閉自在な把持爪(図示略)を具備している。金型支持台22上に、その凹状レンズ成形面11上にゴミや傷等の微小凹凸検査対象S(図1及び図4参照。実際は複数存在するが一つのみ図示)が存在する金型10を載せた状態で各把持爪を閉じると、各把持爪が金型10周面に強力に圧接して、金型10を基台21に対して不動にする。基台21の上面には円周形状の環状凹部21aが形成されており、この環状凹部21aには環状回転部23が回転可能に嵌合している。基台21は、環状回転部23の駆動源としてのステッピングモータM1と、このステッピングモータM1の動力を環状回転部23に伝達する動力伝達機構DM1とを内蔵しており、ステッピングモータM1と動力伝達機構DM1によって回転機構が構成されている。ステッピングモータM1が回転すると、この動力が動力伝達機構DM1を介して環状回転部23に伝わり、環状回転部23は図1及び図3の矢印A方向に回転する。図1及び図3に示すように、基台21の上面の外周縁部には線状の目印Bが付されている。
The
A
環状回転部23からは略円弧状のアーム部24が延出している。アーム部24の内側面は開口しており、一方の側面には、金型支持台22に固定された金型10の凹状レンズ成形面11を中心とする円弧状の案内溝24aが形成されている。このアーム部24内には、光源25がその内側端部がアーム部24の内側に突出する状態で支持されており、光源25に設けた係合ピン25aが案内溝24aに係合することにより、光源25は案内溝24aに沿って移動可能となっている。光源25が案内溝24aに沿って移動すると、金型10と出射端面25bを結ぶ直線と、環状回転部23を含む平面とがなす傾斜角θ(図1参照)が、20°から75°の範囲で変化するが、光源25の出射端面25bは常に金型10の凹状レンズ成形面11側を向く。基台21及びアーム部24には、環状回転部23の駆動源としてのステッピングモータM2と、光源25にステッピングモータM2の動力を伝達するための動力伝達機構DM2とが内蔵されており、ステッピングモータM2、動力伝達機構DM2、案内溝24a、及び係合ピン25aによって傾斜角可変機構AMが構成されている。
環状回転部23が回転すると、アーム部24がA方向に回転し、平面視におけるアーム部24(光源25)の金型支持台22に対する周方向位置である回転角αが変化する。図3に示すように、この回転角αは、アーム部24(光源25)が金型支持台22と目印Bとを結ぶ直線に対して時計方向になす角度のことである。
光源25はアーム部24から取り出し可能なので、光源25の故障時には新しい光源25をアーム部24に装着可能であり、また、強度(明るさ)が異なる他の光源をアーム部24に装着することも可能である。
A substantially arc-shaped
When the annular rotating
Since the
基台21の側部からはアーム部24より大寸のアーム部26が上方に向かって延出しており、アーム部26の先端には箱状のケース27が設けられている。このケース27の下面には、金型支持台22の直上に位置する撮影レンズ28が設けられており、ケース27内には、撮影レンズ28の直上に位置し、その撮像面に撮影レンズ28を透過した像が結像するCCD(撮像素子)29が設けられている。このCCD29は256階調(8ビット)のモノクロ式である。
From the side of the
パソコン30は、周知のようにCPU(中央演算処理装置)31とハードディスク等の記録装置(記録手段)32を備えており、撮像装置20の動作を制御するための制御プログラムがインストールされ、さらにキーボード40とディスプレイ(表示手段)50が接続されている。さらにパソコン30は、図1に示すケーブル33Aによって、撮像装置20のCCD29及びステッピングモータM1、M2と電気的に接続しており、ケーブル33Bによって光源25と電気的に接続している。パソコン30の記録装置32は、CCD29が撮像した画像データ(異方向画像データ)や、キーボード40によって入力された画像データに関連する各種情報等を記録する。CPU31は、光源25、ステッピングモータM1、M2、及びCCD29に所定の信号を送って、光源25と環状回転部23とCCD29の動作を制御する制御手段、及び記録装置32が記録した画像データを所定の方法により画像処理する画像処理手段として機能する。
ディスプレイ50は、CPU31の画像処理により完成した画像データに基づく画像や記録装置32が記録した各種情報を表示する。
As is well known, the
The
次に、金型検査記録装置100を用いた金型10の検査要領を、金型検査記録装置100の具体的な機能とともに説明する。
まず、金型支持台22に金型10を載せて上記把持爪で固定し、アーム部24を回転させて回転角αを0°に設定し、さらに、係合ピン25aを案内溝24aの最下端まで移動させて、光源25の傾斜角θを最低角である25°とする。
次いで検査者がキーボード40を操作して、パソコン30から光源25、ステッピングモータM1、M2及びCCD29に上記制御プログラムに基づく信号を送り、光源25、ステッピングモータM1、M2及びCCD29を動作させる。
Next, an inspection procedure for the
First, the
Next, the inspector operates the
光源25への点灯信号、ステッピングモータM1、M2への回転信号、及びCCD29への撮像信号は全て一定時間ごとに断続的に送信され、点灯信号と撮像信号は同時に送信される。より詳細には、ステッピングモータM1に回転信号が送られた瞬間、即ち回転角α=0°の相対照射位置において光源25とCCD29に点灯信号と撮像信号が送られ、1回目の撮像が行われる。ステッピングモータM1が回転すると、その駆動力により環状回転部23は図3の矢印Aの方向に5°ずつ回転し、光源25の回転角αが0°から5°ずつ増加する。そして、光源25の回転角αが0°から5°おきに変化するごとに、光源25は所定の相対照射位置(例えば、図3のPA(α=5°)、PB(α=45°)、PC(α=90°)参照)に達し、光源25が各相対照射位置に達するごとに、光源25とCCD29に点灯信号と撮像信号がそれぞれ送られ、光源25が凹状レンズ成形面11を照射し、CCD29が凹状レンズ成形面11の撮像を行なう。さらに、環状回転部23が一周するごとに、パソコン30からステッピングモータM2に回転信号が送られ、ステッピングモータM2の駆動力により、光源25の傾斜角θが5°ずつ大きくなり、光源25の円周状周回経路R(図3参照)が小径化する。そして、光源25がこの小径化した円周状周回経路(図示略)上に5°おきに設定された各相対照射位置(図示略)に達するごとに、光源25とCCD29に点灯信号と撮像信号が送られ、CCD29が凹状レンズ成形面11の撮像を行う。環状回転部23が11周すると、係合ピン25aが案内溝24の最上端に達して、光源25の傾斜角θが最大角である75°となり、環状回転部23が12周すると、パソコン30からステッピングモータM1への回転信号の送信が終了し、環状回転部23が停止する。
The lighting signal to the
CCD29によって撮像された画像データは全て記録装置32に記録され、さらに記録装置32には、各画像データの撮像時の光源25の回転角α及び傾斜角θに関する情報(相対照射位置情報)が、対応する画像データと関連付けながら記録される。さらに、検査者がキーボード40によって光源25の強度情報を入力することにより、この強度情報が記録装置32に記録される。
環状回転部23が12周の周回を終えて停止すると、記録装置32に記録された全ての画像データがCPU31に送られ、CPU31によって以下の画像処理が行われる。
All the image data picked up by the
When the annular
図5はCPU31による画像処理を説明するための概念図である。
図5に示す画像データ(異方向画像データ)Aは、光源25が図3及び図4に示す相対照射位置PA(α=5°)にあるときにCCD29によって撮像された画像データであり、同様に画像データ(異方向画像データ)B、Cはそれぞれ、光源25が相対照射位置PB(α=45°)、PC(α=90°)にあるときにCCD29によって撮像された画像データである。CCD29は数万から数百万の画素を備えているので、各画像データA、B、C・・・は、実際は数万から数百万の画素データによって構成されているが、図5では便宜上、各画像データA、B、C・・・の一部のみを取り出して示し、図5のX方向及びY方向に8個ずつ計64個の画素データA11、A12、B11、B12、C11、C12・・・のみを図示している(アルファベットの右隣の数字はY方向位置を示しており、その右側の数字はX方向位置を示している。その他の画素データを図示した図面においても同様である)。各画像データA、B、C・・・の対応する位置の画素データ群(X方向位置及びY方向位置が一致する位置の画素データ。例えば、A11とB11とC11)は全て、CCD29の同一の画素によって撮像されたものである。
FIG. 5 is a conceptual diagram for explaining image processing by the
Image data (different direction image data) A shown in FIG. 5 is image data picked up by the
CPU31は、各画像データA、B、C・・・中の輝度値が70以下の全画素データの輝度値を0に変換する。これら輝度値が70以下の画素データ群は、このデータに基づく画像をディスプレイ50に表示すると黒く映るものである。このよう処理を施すと、各画像データA、B、C・・・は斜線で示した画素データ(図5参照)以外の画素データの輝度値は全て0になる。斜線で示した画素データは、凹状レンズ成形面11上の特定反射域RAa、RAb、RAc・・・、または微小凹凸検査対象Sを撮像したものである。
The
図3に示すように、光源25が相対照射位置PAから凹状レンズ成形面11に光を照射すると、凹状レンズ成形面11の中心を挟んで相対照射位置PAと反対側には、その周囲より明るく反射する(所定値以上の反射率で反射する)特定反射域RAaが生じる。また、相対照射位置PB、PCからそれぞれ凹状レンズ成形面11に光を照射すると、凹状レンズ成形面11の中心を挟んで光源25と反対側には、その周囲より明るく反射する(所定値以上の明るさで反射する)特定反射域RAbと特定反射域RAcがそれぞれ生じる。これら特定反射域RAa、RAb、RAcは、各画像データA、B、Cにおいて、輝度値が70より大きな画素データが3000以上連続した高輝度連続画素データ群HDa、HDb、HDc(図5の斜線部参照。図5では便宜上連続する4つの画素データとして表示している)として表示される。
As shown in FIG. 3, when the
また、凹状レンズ成形面11上の微小凹凸検査対象Sは、その他の部分である滑らかな部分(特定反射域RAa、RAb、RAc・・・を除く)に比べて光を強く反射するので、これを撮像した画素データの輝度値は70より大きくなる。従って、輝度値のみでは、特定反射域RAa、RAb、RAc・・・を撮像した画素データと、微小凹凸検査対象Sを撮像した画素データとを識別できない。
そこでCPU31は、各画像データA、B、Cについて、輝度値が70以上の画素データが3000以上連続している領域を探し、このような領域があればこれを高輝度連続画素データ群HDa、HDb、HDcと認識し、認識した高輝度連続画素データ群HDa、HDb、HDcの輝度値を一律0(修正値)に変換して、各画像データA、B、Cの修正画像データ(修正異方向画像データ)A’、B’、C’・・・(図6参照)を生成する。各修正画像データA’、B’、C’・・・中の輝度値が0にされずに残った画素データが、微小凹凸検査対象Sを撮像した画素データである。
さらにCPU31は、各修正画像データA’、B’、C’・・・を、対応する位置の画素データごとに比較し、比較した画素データ群の中で最も輝度の高い画素データ(最高輝度画素データ群)A11、B12、B13、C14、C21、C22、C23、C31、A44・・・を選択する。さらに、選択した全ての画素データA11、B12、B13、C14、C21、C22、C23、C31、A44・・・をその位置を変えずに組み合わせて、各修正画像データA’、B’、C’・・・と同一解像度の一つの組み合わせ画像データCD1(図7参照)を生成する。さらに、微小凹凸検査対象Sは各画像データの位置44(図5の斜線部分)に現れるが、この位置44については、画像データAの画素データA44が最も輝度が高く、画像データB、Cの画素データB44、C44の輝度がこれより低いので、組み合わせ画像データCD1の44位置の画素データは、最も輝度が高いA44となる。
この組み合わせ画像データCD1は記録装置32に記録されるとともに、この組み合わせ画像データCD1に基づく画像がディスプレイ50に表示される。
In addition, since the minute unevenness inspection object S on the concave
Therefore, the
Further, the
The combined image data CD1 is recorded in the
組み合わせ画像データCD1に基づく画像をディスプレイ50に表示すると、微小凹凸検査対象Sのみが白く映り、その他の部分は黒く映るので、ディスプレイ50上で微小凹凸検査対象Sとその他の部分とを明瞭に区別できる。
しかも、組み合わせ画像データCD1中の微小凹凸検査対象Sを撮像した画素データは、微小凹凸検査対象Sが最も強く反射した状態で撮像したものなので、ディスプレイ50には微小凹凸検査対象Sが明瞭に表示される。
さらに、CPU31は、組み合わせ画像データCD1を構成する各画素データを、輝度値が0か否かで選別し、輝度値が0でない画素データを、微小凹凸検査対象Sを撮像した画素データであると認識する。そして、これらの画素データの撮像時の回転角α及び傾斜角θの情報(相対照射位置情報)を、これらの画素データに関連づけて記録装置32に記録させる。さらにCPU31は、この回転角α及び傾斜角θの情報(相対照射位置情報)を対応する微小凹凸検査対象Sに関連付けてディスプレイ50に表示する。また、ディスプレイ50には光源25の強度情報が表示される。
When an image based on the combination image data CD1 is displayed on the
In addition, since the pixel data obtained by imaging the minute unevenness inspection object S in the combination image data CD1 is captured in a state where the minute unevenness inspection object S is most strongly reflected, the minute unevenness inspection object S is clearly displayed on the
Further, the
このように本実施形態によれば、各画像データA、B、C・・・の高輝度連続画素データ群HDa、HDb、HDcの輝度値を0にすることにより、組み合わせ画像データCD1に基づく画像をディスプレイ50に表示した際に特定反射域を黒く映すので、検査者がディスプレイ50上で白く映る微小凹凸検査対象Sを特定反射域と混同することはない。
さらに、微小凹凸検査対象Sは光の照射角度によって強く反射したり弱く反射するが、組み合わせ画像データCD1中の全ての微小凹凸検査対象Sは、その輝度値が最も高い状態で撮像されたものなので(最も強く反射した状態で撮像されたものなので)、全ての微小凹凸検査対象Sをディスプレイ50に明瞭に表示でき、検査者は微小凹凸検査対象Sを確実に把握できる。
As described above, according to the present embodiment, by setting the luminance values of the high-luminance continuous pixel data groups HDa, HDb, and HDc of the image data A, B, C. Is displayed on the
Furthermore, although the minute unevenness inspection object S reflects strongly or weakly depending on the irradiation angle of light, all the minute unevenness inspection objects S in the combination image data CD1 are captured with the highest luminance value. (Because it was imaged in the most strongly reflected state), all the minute unevenness inspection objects S can be clearly displayed on the
また、ディスプレイ50には、使用した光源25の強度情報、各微小凹凸検査対象Sに関連付けされた回転角α及び傾斜角θの情報(相対照射位置情報)が表示されるので、検査者は、各微小凹凸検査対象Sがどのような条件下で撮像されたかを容易に把握できる。また、これらの情報は組み合わせ画像データCD1と関連付けて記録装置32に記録されるので、本検査後にこの情報と同じ条件下で凹状レンズ成形面11を照らせば、凹状レンズ成形面11上の微小凹凸検査対象Sをディスプレイ50に再度明瞭に表示できる。
Further, since the
さらに、例えば、金型10を様々な工程(例えば、洗浄前工程、洗浄後工程など)においてそれぞれ検査し、検査した工程に関する情報をキーボード40によって入力して記録装置32に記録するとともに、ディスプレイ50に表示したりプリントアウトすれば、金型10の凹状レンズ成形面11が時間の経過とともにどのように変化したかを容易に把握できる。
Further, for example, the
次に、本発明の第2の実施形態について、主に図8及び図9を参照しながら説明する。なお、第1の実施形態と同じ部材には同じ符号を付すに止めて、その詳細な説明は省略する。
本実施形態では、CCD29が撮像した各画像データA、B、C・・・の画像処理方法が第1の実施形態と異なる。以下、その検査要領とCPU31による画像処理方法について詳しく説明する。
本実施形態ではまず、回転角αと傾斜角θを共に0°にした状態で、金型10を金型支持台22に載せ、把持爪を開き(金型10を金型支持台22上で回転可能にする)、光源25から凹状レンズ成形面11に光を連続的に照射する。さらに、パソコン30からCCD29に撮像信号を連続送信して、CCD29によって凹状レンズ成形面11を連続撮像し、凹状レンズ成形面11をディスプレイ50に連続的に(常に)表示する。そして、検査者がディスプレイ50を目視しながら手動により金型10を金型支持台22上で一周させ、特定反射域と微小凹凸検査対象Sが重ならなくなった位置で金型10の回転を停止し、把持爪を閉じて金型10を金型支持台22に固定する。金型10を回転させるごとに、特定反射域と微小凹凸検査対象Sの相対位置が変化するので、検査者はディスプレイ50を目視することにより、特定反射域と微小凹凸検査対象Sが重ならなくなった状態を認識可能である。
Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference mainly to FIGS. The same members as those in the first embodiment are designated by the same reference numerals, and detailed description thereof is omitted.
In the present embodiment, the image processing method of each image data A, B, C... Captured by the
In the present embodiment, first, with the rotation angle α and the inclination angle θ both set to 0 °, the
パソコン30からCCD29への連続的な撮像信号の送信を遮断し光源25を一旦消灯した後に、第1の実施形態と同様に、パソコン30から光源25、ステッピングモータM1、M2及びCCD29に上記制御プログラムに基づく信号を送り、光源25、ステッピングモータM1、M2及びCCD29を動作させる。各相対照射位置において撮像された全ての画像データA、B、C・・・は記録装置32に記録され、さらにCPU31によって以下の画像処理が行われる。
CPU31は、一枚目の画像データ(特定反射域と微小凹凸検査対象Sが重なっていない画像データ)の特定反射域を撮像した高輝度連続画素データ群の輝度値を一律0(修正値)に変換する。さらにCPU31は、一枚目の画像データが撮像されたときの光源25位置(回転角α及び傾斜角θがともに0°)と、他の画像データが撮像されたときの光源25位置に基づき、一枚目の画像データ中の高輝度連続画素データ群の範囲から他の画像データにおける高輝度連続画素データ群の範囲を演算し、かつ、他の画像データにおける高輝度連続画素データ群の輝度値を一律0に変換して、各画像データに対応する修正画像データ(図示略)を生成する。図8に示すように、例えば画像データAでは、画素データA14、A15、A24、A25(太線で囲った部分)が高輝度連続画素データ群HDaであるが、この部分の輝度値が0となる。さらに、画像データB、Cにはそれぞれ、画像データAとは異なる位置に高輝度連続画素データ群HDb、HDcが現れ(B11、B12、B21、B22、とC14、C15、C24、C25。ともに太線で囲った部分)るが、これらの高輝度連続画素データ群HDb、HDcの輝度値も0に変換される。
After the continuous image signal transmission from the
The
そしてCPU31は、全ての修正画像データを、第1の実施形態と同様の要領により組み合わせて一つの組み合わせ画像データCD2(図9参照)を生成する。そして、この組み合わせ画像データCD2を記録装置32に記録するとともに、この組み合わせ画像データCD2に基づく画像をディスプレイ50に表示する。
さらに、CPU31は、第1の実施形態と同様に、組み合わせ画像データCD2中の微小凹凸検査対象Sを撮像した画素データを認識し、これらの画素データの回転角α及び傾斜角θの情報(相対照射位置情報)を、これらの画素データに関連づけて記録装置32に記録させ、かつ、対応する微小凹凸検査対象Sに関連付けてディスプレイ50に表示する。また、ディスプレイ50には光源25の強度情報が表示される。
Then, the
Further, as in the first embodiment, the
このような本実施形態によれば、微小凹凸検査対象Sと特定反射域とを区別した上で画像処理を行うので、各画像データA、B、C・・・において微小凹凸検査対象Sが高輝度連続画素データ群と連続あるいは重複することがない。従って、全ての微小凹凸検査対象Sを確実にディスプレイ50に表示できる。
According to this embodiment, since the image processing is performed after distinguishing the minute unevenness inspection target S from the specific reflection area, the minute unevenness inspection target S is high in each of the image data A, B, C. There is no continuous or overlapping with the luminance continuous pixel data group. Therefore, all the minute unevenness inspection objects S can be reliably displayed on the
最後に、本発明の第3の実施形態について、主に図10から図13を参照しながら説明する。なお、第1の実施形態と同じ部材には同じ符号を付すに止めて、その詳細な説明は省略する。
本実施形態では、特定反射域RAa、RAb、RAc・・・によって反射した光がCCD29の撮像面に届くのを防止することにより、ディスプレイ50上で特定反射域RAa、RAb、RAc・・・と微小凹凸検査対象Sが連続あるいは重複するのを防止する。
Finally, a third embodiment of the present invention will be described with reference mainly to FIGS. The same members as those in the first embodiment are designated by the same reference numerals, and detailed description thereof is omitted.
In the present embodiment, the specific reflection areas RAa, RAb, RAc,... Are reflected on the
図10に示すように、本実施形態の金型検査記録装置200は、第1の実施形態のものと略同構成であるが、アーム部24の先端部に略環状の支持金具60の一端を枢着し、支持金具60の他端に方形の遮光板(遮光手段)61を枢着し、支持金具60と遮光板61を任意の向きに保持可能とした点が異なる。本実施形態では、支持金具60と遮光板61の向きを調整することにより、図11に示すように、CCD29側から見たときに、アーム部24(光源25)の回転角α及び傾斜角θに関わりなく、遮光板61が常に凹状レンズ成形面11の光源25とは反対側の約半分を覆い隠すようにする。前述のように特定反射域RAa、RAb、RAc・・・は、この遮光板61によって覆い隠された部分に現れるので、CCD29によって撮像された画像データには高輝度連続画素データ群は現れない。
これら画像データA、B、C・・・を図示すると図12のようになる。遮光板61が無ければ、画素データA41、A42、A51、A52(斜線部分)が高輝度連続画素データ群となるが、太線で囲んだ部分全体が遮光板61を写した画素データなので、実際には高輝度連続画素データ群は表れない。そして、遮光板61を撮像した画素データは輝度値が小さい(0に近い)ので、微小凹凸検査対象Sを撮像した画素データA44とは明瞭に区別できる。画像データB、Cも同様であり、遮光板61が無ければ特定反射域RAb、RAcが現れる画素データ群(B11、B12、B21、B22とC14、C15、C24、C25)は、太線で囲んだ部分(遮光板61を撮像した画素データ)によって覆われるので、高輝度連続画素データ群とはならない。
As shown in FIG. 10, the mold inspection recording apparatus 200 of the present embodiment has substantially the same configuration as that of the first embodiment, but one end of a substantially annular support fitting 60 is attached to the distal end portion of the
These image data A, B, C... Are shown in FIG. Without the
このような各画像データA、B、C・・・をCPU31が組み合わせて一つの組み合わせ画像データCD3(図13参照)を生成する。この組み合わせ画像データCD3には高輝度連続画素データ群が現れないので、微小凹凸検査対象Sを撮像した画素データが高輝度連続画素データ群と連続したり重複することはない。従って、この組み合わせ画像データCD3に基づく画像をディスプレイ50に表示すれば、検査者は微小凹凸検査対象Sを特定反射域と混同することなく確実に視認できる。
Each of the image data A, B, C,... Is combined by the
さらに、本実施形態でも全ての画像データA、B、C・・・は記録装置32に記録され、CPU31は第1の実施形態と同様に、組み合わせ画像データCD中の微小凹凸検査対象Sを撮像した画素データを認識し、これらの画素データの回転角α及び傾斜角θの情報(相対照射位置情報)を、これらの画素データに関連づけて記録装置32に記録させ、かつ、対応する微小凹凸検査対象Sに関連付けてディスプレイ50に表示する。また、ディスプレイ50には光源25の強度情報が表示される。
Further, also in this embodiment, all the image data A, B, C... Are recorded in the
さらに、上記各実施形態において、本金型検査記録装置100、200を、以下のような変形した態様で実施することが可能である。
例えば、CPU31に、金型10が使用可能か否かを判定する判定手段としての機能を持たせることが可能である。具体的には、CPU31が上述の微小凹凸検査対象Sを認識する機能により、微小凹凸検査対象Sを撮像した画素データであると認識したものが、各組み合わせ画像データCD1、CD2、CD3中に所定数以上連続している場合、凹状レンズ成形面11上に基準寸法より大きな微小凹凸検査対象Sがあると判定し、ディスプレイ50にその旨表示し、判定結果を記録装置32に記録する。この微小凹凸検査対象Sがゴミではなく傷の場合、この判定結果を見た検査者は、この金型10は使用不能であると容易に判断できる。一方、この基準寸法より大きな微小凹凸検査対象Sが無い場合は、その旨をディスプレイ50に表示するとともに、記録装置32に記録する。
Furthermore, in each said embodiment, it is possible to implement this metal mold | die test |
For example, the
また、CPU31が、記録装置32に記録された各画像データA、B、C・・・を、上記基準輝度に基づいて微小凹凸検査対象Sに関するデータを有するか否かで選別し、微小凹凸検査対象Sに関するデータの無い画像データA、B、C・・・を記録装置32から自動的に消去してもよい。このようにすれば、パソコン30にかかる負荷を軽減できる。
Further, the
さらに第1の実施形態で説明した、凹状レンズ成形面11上の特定反射域をディスプレイ50に表さないようにするための画像処理方法は、CCD29が画像データを一つのみ取得する場合にも適用可能である。即ち、CCD29が撮像した一つの画像データの高輝度連続画素データ群の輝度値を0(修正値)に変換して修正画像データを生成し、この修正画像データ及び関連する上記情報を記録装置32に記録し、この修正画像データに基づく画像を関連する上記情報に関連付けてディスプレイ50に表示することが可能である。
また、本金型検査記録装置100、200は、レンズ以外の物を成形するための金型の検査記録に適用可能であり、さらに、凸状や、凹状部と凸状部を有するもの等、凹状以外の非平面状成形面(第2の実施形態については回転対称形状の非平面状成形面)の検査記録に用いることも可能である。
Furthermore, the image processing method for preventing the specific reflection area on the concave
Further, the mold
さらに、CCD29をカラー式CCDに代えても、微小凹凸検査対象Sをディスプレイ50に明瞭に表示することが可能である。
また、キーボード40からパソコン30への入力値を変更して、パソコン30からステッピングモータM1、M2、CCD29、光源25への信号を変えることにより、例えば光源25の回転角α及び傾斜角θの間隔を5°以外の角度に変更して実施してもよい。
また、ステッピングモータM2と動力伝達機構DM2を省略して、手動により光源25の傾斜角θを変えるようにしてもよい。
さらに、案内溝24aの形状を変更して、傾斜角θの範囲を変更して実施してもよい。
また、高輝度連続画素データ群を定義するための数値(所定の輝度値、該当する画素データの連続数)を、必要に応じて変更して実施可能なことは勿論である。
Furthermore, even if the
Further, by changing the input value from the
Further, the stepping motor M2 and the power transmission mechanism DM2 may be omitted, and the inclination angle θ of the
Furthermore, the shape of the
In addition, it goes without saying that numerical values (predetermined luminance value, number of continuous pixel data) for defining a high-luminance continuous pixel data group can be changed as necessary.
100 200 金型検査記録装置
10 金型(被検金型)
11 凹状レンズ成形面(非平面状成形面)
20 撮像装置
21 基台
22 金型支持台
23 環状回転部
24 アーム部
24a 案内溝
25 光源
25a 係合ピン
25b 出射端面
26 アーム部
27 ケース
28 撮影レンズ
29 CCD(撮像素子)
30 パソコン
31 CPU(画像処理手段)
32 記録装置(記録手段)
33A 33B ケーブル
40 キーボード
50 ディスプレイ(表示手段)
60 支持金具
61 遮光板(遮光手段)
A B C 画像データ(異方向画像データ)
CD1 CD2 CD3 組み合わせ画像データ
DM1 DM2 動力伝達機構
M1 M2 ステッピングモータ
PA PB PC 光源の相対照射位置
RAa RAb RAc 特定反射域
α 回転角
θ 傾斜角
100 200 Mold
11 Concave lens molding surface (non-planar molding surface)
DESCRIPTION OF
30
32 Recording device (recording means)
60 Support metal fitting 61 Light shielding plate (light shielding means)
A B C image data (different direction image data)
CD1 CD2 CD3 Combination image data DM1 DM2 Power transmission mechanism M1 M2 Stepping motor PA PB PC Relative irradiation position of light source RAa RAb RAc Specific reflection area α Rotation angle θ Inclination angle
Claims (14)
上記非平面状成形面を特定の一方向から撮像する撮像素子と、
該撮像素子によって撮像された画像データ中の、輝度値が所定値より高い画素データが所定数以上連続した高輝度連続画素データ群の輝度値を、上記所定値より低値の修正値に変換して修正画像データを生成する画像処理手段と、
該修正画像データに基づく画像を表示する表示手段と、を備えることを特徴とする金型用検査記録装置。 A light source for irradiating the non-planar molding surface of the test mold with light;
An imaging device for imaging the non-planar molding surface from a specific direction;
In the image data picked up by the image sensor, the luminance value of the high-luminance continuous pixel data group in which a predetermined number or more of pixel data having a luminance value higher than a predetermined value is converted into a correction value that is lower than the predetermined value. Image processing means for generating corrected image data,
A mold inspection recording apparatus comprising: a display unit configured to display an image based on the corrected image data.
上記光源が、上記被検金型に対して相対移動可能で、複数の異なる相対照射位置から上記非平面状成形面に光を照射し、
上記撮像素子が、上記光源が上記異なる相対照射位置にあるときそれぞれ、上記非平面状成形面を特定の一方向から撮像し、
上記画像処理手段は、上記撮像素子によって撮像された全ての異方向画像データ中の上記高輝度連続画素データ群の輝度値を上記修正値に変換して生成した全ての修正異方向画像データどうしを画素レベルで比較し、これら複数の修正異方向画像データの対応する位置にある画素データの中から最も輝度の高い画素データを選択し、選択した最高輝度画素データ群を組み合わせて一つの組み合わせ画像データを生成し、
上記表示手段が、該組み合わせ画像データに基づく画像を表示する金型用検査記録装置。 In the mold inspection recording apparatus according to claim 1,
The light source is movable relative to the test mold, and irradiates the non-planar molding surface with light from a plurality of different relative irradiation positions.
Each of the imaging elements, when the light source is at the different relative irradiation position, respectively, images the non-planar molding surface from a specific direction;
The image processing means converts all the corrected different-direction image data generated by converting the luminance value of the high-luminance continuous pixel data group in all the different-direction image data captured by the imaging element into the correction value. Compared at the pixel level, the pixel data having the highest luminance is selected from the pixel data at the corresponding positions of the plurality of modified different-direction image data, and the combination of the selected highest luminance pixel data groups is combined image data. Produces
A mold inspection recording apparatus in which the display means displays an image based on the combined image data.
上記画像処理手段が、上記画像データまたは全ての上記異方向画像データ中の上記高輝度連続画素データ群を認識し、認識した該高輝度連続画素データ群の輝度値を上記修正値に変換して上記修正画像データまたは上記修正異方向画像データを生成する金型用検査記録装置。 The mold inspection recording apparatus according to claim 1 or 2,
The image processing means recognizes the high luminance continuous pixel data group in the image data or all the different-direction image data, and converts the recognized luminance value of the high luminance continuous pixel data group into the correction value. A mold inspection recording apparatus for generating the corrected image data or the corrected different-direction image data.
上記非平面上成形面が回転対称形状であり、
上記画像処理手段が、一つの上記異方向画像データ中の上記高輝度連続画素データ群を認識し、認識した該高輝度連続画素データ群の位置と全ての異方向画像データ撮像時の上記相対照射位置とに基づいて、他の上記異方向画像データ中の上記高輝度連続画素データ群の位置を演算し、全ての上記高輝度連続画素データ群の輝度値を上記修正値に変換して上記修正異方向画像データを生成する金型用検査記録装置。 In the mold inspection recording apparatus according to claim 2,
The non-planar molding surface is rotationally symmetric,
The image processing means recognizes the high-luminance continuous pixel data group in one different-direction image data, and recognizes the position of the recognized high-luminance continuous pixel data group and the relative irradiation at the time of capturing all the different-direction image data. Based on the position, the position of the high-brightness continuous pixel data group in the other different-direction image data is calculated, and the brightness values of all the high-brightness continuous pixel data groups are converted into the correction values. A mold inspection recording apparatus for generating different-direction image data.
上記修正値を0に設定した金型用検査記録装置。 The mold inspection recording apparatus according to any one of claims 1 to 4,
A mold inspection recording apparatus in which the correction value is set to zero.
該光源が上記異なる相対照射位置にあるときそれぞれ、上記非平面状成形面を特定の一方向から撮像する撮像素子と、
上記非平面状成形面上の所定の反射率以上の特定反射域によって反射された光が上記撮像素子に向かうのを防止する遮光手段と、
上記撮像素子によって撮像された全ての異方向画像データどうしを画素レベルで比較し、これら複数の異方向画像データの対応する位置にある画素データの中から最も輝度の高い画素データを選択し、選択した最高輝度画素データ群を組み合わせて一つの組み合わせ画像データを生成する画像処理手段と、
該組み合わせ画像データに基づく画像を表示する表示手段と、を備えることを特徴とする金型用検査記録装置。 A light source that is movable relative to the test mold and irradiates the non-planar molding surface of the mold from a plurality of different relative irradiation positions;
When the light source is at the different relative irradiation position, an imaging device that images the non-planar molding surface from a specific direction;
A light shielding means for preventing light reflected by a specific reflection area having a predetermined reflectance or more on the non-planar molding surface from being directed to the image sensor;
Compare all the different direction image data imaged by the image sensor at the pixel level, and select and select the pixel data with the highest luminance from the pixel data at the corresponding position of the plurality of different direction image data Image processing means for generating one combination image data by combining the highest luminance pixel data groups,
And a display unit for displaying an image based on the combined image data.
上記画像データ、上記異方向画像データ、及び上記組み合わせ画像データの少なくとも一つを記録できる記録手段を備える金型用検査記録装置。 In the mold inspection recording apparatus according to any one of claims 1 to 6,
A mold inspection recording apparatus comprising recording means capable of recording at least one of the image data, the different-direction image data, and the combined image data.
上記非平面状成形面を特定の一方向から撮像する撮像ステップ、
撮像された画像データ中の、輝度値が所定値より高い画素データが所定数以上連続した高輝度連続画素データ群の輝度値を、上記所定値より低値の修正値に変換して修正画像データを生成する輝度値変換ステップ、及び
該修正画像データに基づく画像を表示する表示ステップ、
を有することを特徴とする金型の検査記録方法。 An irradiation step of irradiating light to the non-planar molding surface of the test mold;
An imaging step of imaging the non-planar molding surface from a specific direction;
Modified image data obtained by converting the luminance value of a high-luminance continuous pixel data group in which pixel data having a luminance value higher than a predetermined value in a captured image data continues for a predetermined number or more to a correction value lower than the predetermined value A luminance value converting step for generating the image, and a display step for displaying an image based on the corrected image data,
A mold inspection recording method characterized by comprising:
上記照射ステップが、光源が上記被検金型に対して相対移動して、複数の異なる相対照射位置から上記非平面状成形面に光を照射するステップであり、
上記撮像ステップが、該光源が上記異なる相対照射位置にあるときそれぞれ、上記非平面状成形面を撮像するステップであり、
上記輝度値変換ステップが、撮像された全ての異方向画像データ中の上記高輝度連続画素データ群の輝度値を上記修正値に変換して修正異方向画像データを生成するステップであり、
さらに、全ての修正異方向画像データどうしを画素レベルで比較し、これら複数の修正異方向画像データの対応する位置にある画素データの中から最も輝度の高い画素データを選択し、選択した最高輝度画素データ群を組み合わせて一つの組み合わせ画像データを生成する組み合わせステップを有し、
上記表示ステップが、該組み合わせ画像データに基づく画像を表示するステップである金型の検査記録方法。 The mold inspection recording method according to claim 8,
The irradiation step is a step of irradiating light on the non-planar molding surface from a plurality of different relative irradiation positions by moving the light source relative to the test mold,
The imaging step is a step of imaging the non-planar molding surface, respectively, when the light source is at the different relative irradiation positions;
The luminance value conversion step is a step of generating the corrected different direction image data by converting the luminance value of the high luminance continuous pixel data group in all the captured different direction image data into the correction value,
Further, all the corrected different-direction image data are compared at the pixel level, and the pixel data having the highest luminance is selected from the pixel data at the corresponding positions of the plurality of corrected different-direction image data, and the selected highest luminance is selected. A combination step of generating one combination image data by combining pixel data groups;
A mold inspection recording method, wherein the display step is a step of displaying an image based on the combined image data.
上記輝度値変換ステップが、上記画像データまたは全ての上記異方向画像データ中の上記高輝度連続画素データ群を認識し、認識した該高輝度連続画素データ群の輝度値を上記修正値に変換して上記修正画像データまたは上記修正異方向画像データを生成するステップである金型の検査記録方法。 The mold inspection recording method according to claim 8 or 9,
The luminance value converting step recognizes the high luminance continuous pixel data group in the image data or all the different-direction image data, and converts the recognized luminance value of the high luminance continuous pixel data group into the correction value. A mold inspection recording method, which is a step of generating the corrected image data or the corrected different direction image data.
上記非平面上成形面が回転対称形状であり、
上記輝度値変換ステップが、一つの上記異方向画像データ中の上記高輝度連続画素データ群を認識し、認識した該高輝度連続画素データ群の位置と全ての異方向画像データ撮像時の上記相対照射位置とに基づいて、他の上記異方向画像データ中の上記高輝度連続画素データ群の位置を演算し、全ての上記高輝度連続画素データ群の輝度値を上記修正値に変換して上記修正異方向画像データを生成するステップである金型の検査記録方法。 The mold inspection recording method according to claim 9,
The non-planar molding surface is rotationally symmetric,
The luminance value conversion step recognizes the high-luminance continuous pixel data group in one different-direction image data, recognizes the position of the recognized high-luminance continuous pixel data group and the relative at the time of capturing all the different-direction image data. Based on the irradiation position, the position of the high-luminance continuous pixel data group in the other different-direction image data is calculated, the luminance values of all the high-luminance continuous pixel data groups are converted into the correction values, and A mold inspection recording method, which is a step of generating corrected different-direction image data.
上記輝度値変換ステップにおける上記修正値を0に設定した金型の検査記録方法。 In the inspection recording method of the metal mold according to any one of claims 8 to 11,
A mold inspection recording method in which the correction value in the luminance value conversion step is set to zero.
該光源が上記異なる相対照射位置にあるときそれぞれ、上記非平面状成形面を特定の一方向から撮像する撮像ステップ、
上記非平面状成形面上の所定の反射率以上の特定反射域によって反射された光が上記撮像素子に向かうのを防止する遮光ステップ、
上記撮像素子によって撮像された全ての異方向画像データどうしを画素レベルで比較し、これら複数の異方向画像データの対応する位置にある画素データの中から最も輝度の高い画素データを選択し、選択した最高輝度画素データ群を組み合わせて一つの組み合わせ画像データを生成する画像処理ステップ、及び
該組み合わせ画像データに基づく画像を表示する表示ステップ、
を有することを特徴する金型の検査記録方法。 An irradiation step of moving the light source relative to the test mold and irradiating the non-planar molding surface of the mold with light from a plurality of different relative irradiation positions;
An imaging step of imaging the non-planar molding surface from a specific direction when the light source is at the different relative irradiation positions;
A light shielding step for preventing light reflected by the specific reflection area having a predetermined reflectance or higher on the non-planar molding surface from being directed to the image sensor;
Compare all the different direction image data imaged by the image sensor at the pixel level, and select and select the pixel data with the highest luminance from the pixel data at the corresponding position of the plurality of different direction image data An image processing step for generating one combination image data by combining the highest luminance pixel data groups, and a display step for displaying an image based on the combination image data;
A mold inspection recording method characterized by comprising:
上記画像データ、上記異方向画像データ、及び上記組み合わせ画像データの少なくとも一つを記録する記録ステップを有する金型の検査記録方法。 The mold inspection recording method according to any one of claims 8 to 13, further comprising:
A mold inspection recording method comprising a recording step of recording at least one of the image data, the different-direction image data, and the combined image data.
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