JP2005227262A - Polarizer testing method - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a polarizer testing method capable of detecting defects in the nonuniformity in the thickness of an optical membrane which is the membrane material for a polarizer, when the membrane material is delivered, making flaw detection test cost low, simplifying the processing processes, and preventing the time required for tests from taking too long. <P>SOLUTION: Luminous rays from a selected light source 11 are made to pass through a luminous ray filter 13, a polarizing means 14, and a concave lens 15 to an optical membrane sample 16. Then the optical membrane sample 16 is moved to perform focus adjustment, and the optical membrane sample 16 is pivoted on a Z-axis to determine whether the brightness of its irradiation area changes. The presence or absence of flaws in the optical membrane sample 16 is thereby discriminated. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

本発明は偏光片のテスト方法に関し、特に、選定された光源からの光線を、光線ろ過片と偏光手段と凹レンズとを通過させるか、或いは、光線ろ過片とミラーと凹レンズとを通過させてから、光学膜サンプルに至らせ、且つ光学膜サンプルを移動させてフォーカスを調整した後に、光学膜サンプルをZ軸に沿って旋回させ、その照射区域の明るさが変化するかどうかを判断し、肯定の判断をされた場合は光学膜サンプルに疵があると判別し、否定の判断をされた場合は、光学膜サンプルは合格の膜材料であると判別するようにする、偏光片のテスト方法に関するものである。   The present invention relates to a method for testing a polarizing piece, and in particular, allows light from a selected light source to pass through a light filtering piece, a polarizing means, and a concave lens, or after passing through a light filtering piece, a mirror, and a concave lens. After reaching the optical film sample and adjusting the focus by moving the optical film sample, the optical film sample is swung along the Z-axis to determine whether or not the brightness of the irradiated area changes. If it is determined that the optical film sample is flawed, and if the determination is negative, the optical film sample is determined to be an acceptable film material, the polarizing piece test method Is.

偏光片を製造するに際し、新たな光学膜材料を導入する場合は、一般的に、まずテストを実行して、将来に亘り製品には疵がないように確保するようにしている。しかしながら、ある疵は肉眼だけで分別できるものではなく、例えば、その膜材料の厚さの不均一さがその一例である。偏光片の膜の厚さが不均一になる原因は、主に、膜材料の厚さが不均一であるためであるが、肉眼ではこのような疵を明らかに判別することができない。疵があった場合は、よく、偏光片の製造プロセスにおいて半製品に製作している途中で行なわれるテストにより発見されることが多く、このため、製造コストが増加してしまうようになる、という課題がある。   When a new optical film material is introduced when manufacturing a polarizing piece, generally, a test is first performed to ensure that there are no defects in the product in the future. However, some wrinkles cannot be distinguished only by the naked eye. For example, the thickness of the film material is not uniform. The reason why the thickness of the film of the polarizing piece is non-uniform is mainly because the thickness of the film material is non-uniform, but such wrinkles cannot be clearly discerned with the naked eye. If there is a flaw, it is often found by a test performed in the middle of manufacturing a semi-finished product in the manufacturing process of a polarizing piece, which increases the manufacturing cost. There are challenges.

つまり、偏光片は、その先行の製造プロセスにおいて半製品に製造された時に、偏光直交貫通検査を実施することによって、その厚さの不均一さを厳しく判別できるようになるが、このテストによって実施される方法、即ち、半製品に製造される際にその疵を検出するのでは、タイミングが遅すぎて、これが製品のコスト高を招くことになるのである。   In other words, when a polarizing piece is manufactured as a semi-finished product in the preceding manufacturing process, it is possible to strictly discriminate the thickness non-uniformity by performing a polarization orthogonal penetration inspection. In other words, if the wrinkle is detected in a semi-finished product, the timing is too late, which leads to high product costs.

また、光学膜材料の上位メーカに、その疵を、膜材料搬入前の早期の時点で発見させることも困難であると思われる。これは、膜の厚さの不均一さを肉眼によっては識別できず、半製品に製造されてから疵が検出されるというタイミングのずれがあるためであり、材料を入荷したばかりの時点では、すぐにメーカに対して疵ありを指摘することができない、というのが現状である。
また、膜の厚さの不均一さについては、言葉だけでは明確に説明しきれなく、且つ説明による標準も定められていないので、互いの意思疎通が難しく、また、上位メーカ側にもその膜の厚さの不均一さに対して確認できる着目点がないのである。光学膜材料の上位メーカに対し膜の厚さ不均一の疵があることを指摘して了承してもらう、ということがあまりにもなされていないため、且つ肉眼だけでははっきりと識別できないため、その状況を改善しようとしても着手できる箇所がなかなか見出せない。
In addition, it seems difficult for a leading maker of optical film materials to find the trap at an early point in time before carrying the film material. This is because the non-uniform thickness of the film cannot be identified by the naked eye, and there is a timing shift in which wrinkles are detected after being manufactured into a semi-finished product. The current situation is that it is not possible to immediately point out that there is a defect to the manufacturer.
In addition, the non-uniformity of the film thickness cannot be clearly explained by words alone, and the standard for explanation is not established, so it is difficult to communicate with each other. There is no point of interest that can be confirmed for the non-uniformity of the thickness. The situation is because there is not too much to point out and approve that there is a flaw of non-uniform thickness of the film to the top manufacturers of optical film materials, and it is not possible to clearly identify it with the naked eye alone Even if you try to improve, it is difficult to find a place to start.

上述したように種々の原因によって膜の厚さの不均一さがなかなか検出されないのを解消するために、本発明が提案された。
前述のような膜の厚さの不均一さの瑕疵を、タイミングが遅くならないように、できるだけ光学膜材料の入荷した段階ですぐに検出でき、その検出状況をすぐにメーカに報告することができ、半製品が出来上がった場合にしか発見できなかったような従来の不具合を改善できると共に、膜の厚さの不均一さを言葉で明確に表現でき、且つ肉現によっても直ちに発見でき、他の高額な手段によらなくても検出できるのが好ましい。
As described above, the present invention has been proposed in order to eliminate the difficulty in detecting non-uniform film thickness due to various causes.
The above-mentioned film thickness non-uniformity can be detected as soon as possible when the optical film material is received so that the timing is not delayed, and the detection status can be reported to the manufacturer immediately. In addition to improving conventional defects that could only be found when a semi-finished product was completed, the film thickness non-uniformity can be clearly expressed in words, and can also be found immediately by manifestation. It is preferable that detection is possible without using expensive means.

現在、関連する産業界には、前記の説明による技術のテスト方法が存在していないが、他の産業界では、見本としての手段が存在しており、例えば、半導体産業の総合集積回路会社の出願した台湾第107261号の“光線透過可能な膜の表層の欠陥検出方法”においては、半導体ウェアの表面の欠陥を検出するための技術が提案されている。この方法は、まず、透過防止層にメッキを付着させることによって検出を実行するものであり、その透過層の成分として窒化珪素やSiNox(Silicon Oxynitride)や金属チタンや窒化チタンやTiW化合物や光抵抗類材料などを好適に採用できる。
他に、IBM社の出願した台湾第82885号の“薄膜厚さの検査方法”には、距離測定スキャナーによってカラー・フィルターにおける薄膜の厚さを検出する方法が開示されている。
台湾第107261号 台湾第82885号
At present, there is no test method for the technology according to the above description in the related industry, but there is a sample means in other industries, for example, for integrated circuit companies in the semiconductor industry. In the application “Taiwan No. 107261“ Method for detecting defects on surface layer of light transmissive film ”, a technique for detecting defects on the surface of semiconductor wear has been proposed. In this method, detection is performed by first depositing a plating on the permeation preventive layer, and silicon nitride, SiNox (Silicon Oxynitride), metal titanium, titanium nitride, TiW compound, photoresistance, and the like as components of the permeation layer. A similar material can be suitably employed.
In addition, “Method for Inspecting Thin Film Thickness” of Taiwan No. 82885 filed by IBM Corporation discloses a method for detecting the thickness of a thin film in a color filter by a distance measuring scanner.
Taiwan No. 107261 Taiwan No. 82885

本発明は、膜の厚さの不均一さが肉眼にて識別しにくい問題を解消し、肉眼による識別によって膜の厚さの不均一さを容易に明確に確認できる効果を有する、偏光片のテスト方法を提供することをその主要な目的とする。   The present invention eliminates the problem that non-uniformity of the thickness of the film is difficult to identify with the naked eye, and has the effect of easily and clearly confirming the non-uniformity of the thickness of the film with the naked eye. Its main purpose is to provide a test method.

また、本発明は、材料を入荷した時点ですぐにその入荷された材料を検査でき、且つメーカにその検査状況を報告することができ、半製品にまで製造してからその後で偏光直交透過検査により膜の厚さの不均一を発見するということしかできなかった従来の課題を効果的に解消できる、偏光片のテスト方法を提供することを更なる目的とする。   In addition, the present invention can inspect the received material as soon as the material arrives, and can report the inspection status to the manufacturer. It is a further object of the present invention to provide a polarizing strip test method that can effectively eliminate the conventional problem that could only be found in the film thickness non-uniformity.

また更には、本発明は、テストのコストが安価で、高価な設備を導入する必要がなく、且つ既に製品または半製品に加工されてしまった偏光片を処理する必要がなく、サンプル自体を検査することによってすぐ結果が分かり、且つ操作が容易であまり時間がかからない、偏光片のテスト方法を提供することを目的とする。   Still further, the present invention has a low test cost, does not require expensive equipment, and does not need to process a polarizing piece that has already been processed into a product or semi-finished product, inspecting the sample itself. It is an object of the present invention to provide a method for testing a polarizing piece, in which a result can be immediately obtained and the operation is easy and does not take much time.

前記のそれぞれの目的を図るために、本発明は、選択された光源からの光線を光線ろ過片と偏光手段と凹レンズとを通過させるか、或いは光線ろ過片とミラーと凹レンズとを通過させてから、光学膜サンプルに至らせ、且つ光学膜サンプルを移動させてフォーカスを調整した後に、光学膜サンプルをZ軸に沿って旋回させ、その照射区域の明るさが変化するかどうかを判断し、肯定の判断をされた場合には、その光学膜サンプルに疵があると判別し、否定の判断をされた場合には、その光学膜サンプルは合格のサンプルであると判別するようにする、偏光片のテスト方法を提供する。   In order to achieve each of the above-mentioned purposes, the present invention allows the light from the selected light source to pass through the light filtering piece, the polarizing means and the concave lens, or after passing through the light filtering piece, the mirror and the concave lens. After reaching the optical film sample and adjusting the focus by moving the optical film sample, the optical film sample is swung along the Z-axis to determine whether or not the brightness of the irradiated area changes. If it is determined that the optical film sample is wrinkled, if the determination is negative, the optical film sample is determined to be a pass sample. Provide a test method.

本発明によれば、肉眼による識別によって膜の厚さの不均一さを明確にかつ容易に確認でき、膜材料を入荷した時点ですぐにその入荷された膜材料を検査できるとともに、テストに掛かるコストが安価で、高額な検査設備を導入する必要をなくすことができる。   According to the present invention, it is possible to clearly and easily confirm the non-uniformity of the thickness of the film by identification with the naked eye, and when the film material is received, the received film material can be inspected immediately and the test is performed. The cost is low and the need to introduce expensive inspection equipment can be eliminated.

当該分野における技術者に、本発明の目的とその特徴とその効果性をはっきりと認識してもらうよう、以下に添付図面を参照しながら、本発明の優れた実施形態を詳細且つ具体的に説明する。
本発明は、偏光された光線を透明光学膜に投射することによって、その膜の厚さの不均一さによる位相差を生じる原理を利用して、その出射する光線を白色のスクリーンに投射すると、明るさの差が生じることを利用することにより、その膜の厚さに不均一現象が有るか否かの判別をするものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Detailed and specific description of an excellent embodiment of the present invention will be given below with reference to the accompanying drawings so that those skilled in the art can clearly recognize the purpose, characteristics, and effectiveness of the present invention. To do.
The present invention utilizes the principle of producing a phase difference due to the non-uniform thickness of the film by projecting the polarized light beam onto the transparent optical film, and projecting the emitted light beam onto a white screen. By utilizing the difference in brightness, it is determined whether or not there is a non-uniform phenomenon in the thickness of the film.

図1と図3は、それぞれ本発明の実施例1におけるテスト方法の処理手順を示すフローチャートと、本発明の実施例1におけるテスト設備を示す説明図である。   FIG. 1 and FIG. 3 are respectively a flowchart showing a processing procedure of a test method in Embodiment 1 of the present invention and an explanatory diagram showing test equipment in Embodiment 1 of the present invention.

図1及び図3において、まず、光源11を選択して、その明るさを決定する(ステップ101)。ここで、最もはっきりと投射映像色彩をアピールできる光源11をテスト用に供するように選択して使用し、もし、使用中の光源11の投射映像色彩が最もはっきりとするものではない場合には、改めて他の光源11を試用して(ステップ102)、最もはっきりと投射映像色彩をアピールできる光源11を選定する。そして、投射映像色彩をアピールできる光源11が選定され使用されたら、次のステップ102へ進み、光学膜サンプル16を固着する(ステップ103)。   1 and 3, first, the light source 11 is selected and its brightness is determined (step 101). Here, the light source 11 that can most clearly appeal the projected image color is selected and used for the test, and if the projected image color of the light source 11 being used is not the most obvious, Another light source 11 is tried again (step 102), and the light source 11 that can most clearly appeal the projected video color is selected. When the light source 11 capable of appealing the projected image color is selected and used, the process proceeds to the next step 102 to fix the optical film sample 16 (step 103).

前記選択使用された光源11の投射光線をポリスチレン・プレート12に照射し通過させることによって、その光線の偏光程度を強化し(ステップ104)、光線を前記ポリスチレン・プレート12を通過させた後に、光線ろ過片13へ至らせ、その光線ろ過片13によって光源11の投射する光線をろ過することによりテストしようとする波長の光線をろ過生成する。ここで、テストしようとする波長の範囲については、赤色光と青色光と緑色光などの波長をカバーするものに設定する(ステップ105)。光線の波長をろ過選定後に、その光線が偏光手段14を通過することにより、その光線を偏光させる(ステップ106)。光線を偏光した後に、凹レンズ15を通過させてその光線を拡大すると、肉眼にて容易に識別可能になる(ステップ107)。   By irradiating and passing the projection light of the light source 11 selected and used to the polystyrene plate 12, the degree of polarization of the light is enhanced (step 104), and after passing the light through the polystyrene plate 12, the light beam By passing the light to the filter strip 13 and filtering the light beam projected from the light source 11 by the light beam filter strip 13, a light beam having a wavelength to be tested is generated by filtration. Here, the range of wavelengths to be tested is set to cover wavelengths such as red light, blue light, and green light (step 105). After filtering the wavelength of the light beam, the light beam is polarized by passing through the polarizing means 14 (step 106). When the light beam is polarized and then passed through the concave lens 15 to enlarge the light beam, it can be easily identified with the naked eye (step 107).

光学膜サンプル16を光源11に照射されたまま移動させることによって、そのフォーカスを調整し、その形成映像をもっとはっきりと肉眼にて識別できるように処理する(ステップ108)。フォーカスが決められ、且つ形成映像がはっきりとなった後で、光学膜サンプル16を縦軸(Z軸)方向に沿って逆時計廻り方向へ旋回させる(ステップ109)。それから、肉眼にて光線区域の明るさに変化があるか否かを判別する(ステップ110)。このステップ110では、肉眼にて直接に光学膜サンプル16自体を観察することによって、或いは、スクリーン17に投影された成形映像18の光線区域の明るさの変化を観察することによって、光線区域の明るさの変化を判別する。ここでは、主にTACの部分を検視するので、そのTACの厚さが不均一な場合には、その光学膜サンプル16またはその投影成形映像18に光模様が生じるとともに、その光模様は単一の方向にアレンジされて生成されるものではないようになる。もし、光線区域の明るさに明らかな変化がないと判定された場合は、次のステップ111へ進行し、前記光学膜サンプル16が合格品であると認められ、ステップ113へスキップして本テストが終了する。また、光線区域の明るさに変化がある判定された場合、ステップ112へスキップして、前記光学膜サンプル16は不合格品であると認められる。   By moving the optical film sample 16 while being irradiated on the light source 11, the focus is adjusted, and processing is performed so that the formed image can be identified more clearly with the naked eye (step 108). After the focus is determined and the formed image is clear, the optical film sample 16 is rotated in the counterclockwise direction along the vertical axis (Z-axis) direction (step 109). Then, it is determined whether or not there is a change in the brightness of the light beam area with the naked eye (step 110). In this step 110, the brightness of the light area is observed by directly observing the optical film sample 16 itself with the naked eye, or by observing a change in the brightness of the light area of the shaped image 18 projected on the screen 17. Determine the change in height. Here, since the TAC portion is mainly examined, if the thickness of the TAC is not uniform, a light pattern is generated in the optical film sample 16 or the projection molding image 18 and the light pattern is a single light pattern. It will not be generated by arranging in the direction of. If it is determined that there is no obvious change in the brightness of the light beam area, the process proceeds to the next step 111, where it is recognized that the optical film sample 16 is acceptable, and the process skips to step 113 and performs the test. Ends. If it is determined that there is a change in the brightness of the light beam area, the process skips to step 112 and the optical film sample 16 is recognized as a rejected product.

図2と図4は、それぞれ本発明の実施例2におけるテスト方法の処理手順を示すフローチャートと、本発明の実施例2におけるテスト設備を示す説明図である。   FIGS. 2 and 4 are a flowchart showing a processing procedure of a test method according to the second embodiment of the present invention and an explanatory diagram showing a test facility according to the second embodiment of the present invention.

図2及び図4において、まず、光源21を選択して、その明るさを決定する(ステップ201)。ここで、最もはっきりと投射映像色彩をアピールできる光源21をテスト用に供するように選択し使用して、もし、使用中の光源21の投射映像色彩が最もはっきりとするものではない場合には、改めて他の光源21を試用してみるとともに(ステップ202)、最もはっきりと投射映像色彩をアピールできる光源21を選定する。そして、投射映像色彩をアピールできる光源21が選定されて使用されると、次のステップ203へ進行し、光学膜サンプル26を固着する。   2 and 4, first, the light source 21 is selected and its brightness is determined (step 201). Here, the light source 21 that can appeal the projected image color most clearly is selected and used for the test, and if the projected image color of the light source 21 in use is not the most obvious, While trying another light source 21 again (step 202), the light source 21 that can most clearly appeal the projected video color is selected. When the light source 21 capable of appealing the projected image color is selected and used, the process proceeds to the next step 203, and the optical film sample 26 is fixed.

前記選択使用される光源21の投射光線に光線ろ過片23を通過させ、当該光線ろ過片23によって光源21が投射する光線をろ過し、テストしようとする光線の波長を設定する(ステップ204)。ここで、テストしようとする波長の範囲については、赤色光と青色光と緑色光などの波長をカバーするものに設定する。また、光線の波長をろ過選定後に、その光線をミラー24によって反射し、その光線を凹レンズ25の方向へ屈折させ(ステップ205)、この屈折させた後の光線が凹レンズ25を通過することで拡大され(ステップ206)、肉眼にて容易に識別可能になる。そして、光学膜サンプル26を光源21に照射されたまま移動させることによって、そのフォーカスを調整し、その形成映像28をもっとはっきりと肉眼にて識別できるように処理する(ステップ207)。   The light filtering piece 23 is allowed to pass through the projection light beam of the light source 21 selected and used, the light beam projected by the light source 21 is filtered by the light filtering piece 23, and the wavelength of the light beam to be tested is set (step 204). Here, the range of wavelengths to be tested is set to cover wavelengths such as red light, blue light, and green light. Further, after filtering and selecting the wavelength of the light beam, the light beam is reflected by the mirror 24, and the light beam is refracted in the direction of the concave lens 25 (step 205), and the refracted light beam passes through the concave lens 25 to be enlarged. (Step 206), and can be easily identified with the naked eye. Then, the focus is adjusted by moving the optical film sample 26 while being irradiated on the light source 21, and processing is performed so that the formed image 28 can be identified more clearly with the naked eye (step 207).

フォーカスが決められ、且つ形成映像28がはっきりとなった後、光学膜サンプル26を縦軸(Z軸)方向に沿って逆時計廻り方向へ旋回させ(ステップ208)、それから、肉眼にて光線区域の明るさに変化があるか否かを判別する(ステップ209)。このステップ209では、肉眼にて直接に光学膜サンプル26自体を観察することによって、或いはスクリーン27に投影された成形映像28の光線区域の明るさの変化を観察することによって、光線区域の明るさの変化を判別する。ここでは、主にTACの部分を検視するので、そのTACの厚さが不均一の場合、その光学膜サンプル26またはその投影成形映像28に光模様が生じるとともに、その光模様は単一の方向にアレンジされて生成されるものではないようになる。もし、光線区域の明るさに明らかな変化がないと判定された場合は、次のステップ211へ進行し、前記光学膜サンプル26は合格品であると認められ、ステップ213へスキップして本テストが終了する。また、光線区域の明るさに変化があると判定された場合、ステップ212へスキップして、前記光学膜サンプル26は不合格品であると認められる。   After the focus is determined and the formed image 28 becomes clear, the optical film sample 26 is swung counterclockwise along the vertical axis (Z-axis) direction (step 208), and then the light beam area is observed with the naked eye. It is determined whether or not there is a change in brightness (step 209). In this step 209, the brightness of the light area is observed by directly observing the optical film sample 26 itself with the naked eye, or by observing the change in brightness of the light area of the shaped image 28 projected on the screen 27. Discriminating changes. Here, since the TAC portion is mainly examined, when the thickness of the TAC is not uniform, a light pattern is generated in the optical film sample 26 or the projection molding image 28, and the light pattern is in a single direction. It will not be generated after being arranged. If it is determined that there is no obvious change in the brightness of the light beam area, the process proceeds to the next step 211, where the optical film sample 26 is recognized as a pass product, and the process skips to step 213 to perform the test. Ends. If it is determined that there is a change in the brightness of the light beam area, the process skips to step 212 and the optical film sample 26 is recognized as a rejected product.

本発明によるテスト方法は、光学膜の厚さの不均一さの欠陥を、該膜材料をメーカーから搬入した時点で直ちに検出できるほかに、光学膜の削り疵や削り痕や塗布不均一などの欠陥も検出できるというだけでなく、本発明のテスト方法による更に優れた点は、そのテストに掛かるコストが安価で、高額な設備を導入する必要がなく、且つ膜メッキなどといった余分な処理を実施する必要もなく、膜材料自体のサンプルを用いてテストすることができ、その処理プロセスも簡素で、所要時間があまり長く掛からない、という優れた産業上の利用性に有る。   In the test method according to the present invention, the defect of the non-uniformity of the thickness of the optical film can be detected immediately when the film material is brought in from the manufacturer. In addition to being able to detect defects, the superiority of the test method of the present invention is that the cost of the test is low, no expensive equipment is required, and extra processing such as film plating is performed. It is possible to test using a sample of the membrane material itself, the processing process is simple, and it has excellent industrial applicability that it does not take much time.

本発明について、前述のような優れた実施形態を開示したが、本発明はこれら実施の形態に限定されるものではなく、当業者であれば、本発明の要旨と範囲を逸脱しなければ、種々様々な変更や修正を実施できることは当然に理解するところであり、従って、本発明の保護範囲は添付の特許請求の範囲にあることは言うまでもない。   Although the above-described excellent embodiments have been disclosed for the present invention, the present invention is not limited to these embodiments, and those skilled in the art can depart from the spirit and scope of the present invention without departing from the spirit and scope of the present invention. It should be understood that various changes and modifications can be made, and therefore, the protection scope of the present invention is within the scope of the appended claims.

本発明の実施例1におけるテスト方法の処理手順を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the process sequence of the test method in Example 1 of this invention. 本発明の実施例2におけるテスト方法の処理手順を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the process sequence of the test method in Example 2 of this invention. 本発明の実施例1におけるテスト設備を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the test equipment in Example 1 of this invention. 本発明の実施例2におけるテスト設備を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the test equipment in Example 2 of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

11 光源
12 ポリスチレン・プレート
13 光線ろ過片
14 偏光手段
15 凹レンズ
16 サンプル
17 スクリーン
18 成形映像
21 光源
23 光線ろ過片
24 ミラー
25 凹レンズ
26 サンプル
27 スクリーン
28 成形映像
DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 Light source 12 Polystyrene plate 13 Light filtration piece 14 Polarization means 15 Concave lens 16 Sample 17 Screen 18 Molding image 21 Light source 23 Light filtration piece 24 Mirror 25 Concave lens 26 Sample 27 Screen 28 Molding image

Claims (8)

光源を選択するステップ1と、
前記の光源が最もはっきりとする投射映像色彩をアピールできるか否かを判別し、肯定判別された場合に次のステップへ進行し、否定判別された場合に前記ステップ1へ戻るように処理するステップ2と、
光学膜サンプルを固定するとともに、次のステップへ進行するように処理するステップ3と、
前記比較後の光源からの光線をテスト装置を介して前記光学膜サンプルに照射するとともに、次のステップへ進行するように処理するステップ4と、
前記光学膜サンプルを移動させることによってフォーカスを調整するとともに、次のステップへ進行するように処理するステップ5と、
前記光学膜サンプルをZ軸に沿って旋回させるとともに、次のステップへ進行するように処理するステップ6と、
照明された区域における明るさが変化しているか否かを判別し、否定の判別をされた場合に次のステップ8へ進行し、肯定の判別をされた場合はステップ9へスキップするように処理するステップ7と、
前記光学膜サンプルが合格品であると判断し、且つ前記ステップ10へスキップするように処理するステップ8と、
前記光学膜サンプルが不合格品であると判断し、且つ次のステップへ進行するように処理するステップ9と、
を少なくとも有することを特徴とする偏光片のテスト方法。
Step 1 of selecting a light source;
A step of determining whether or not the light source can appeal the clearest projected video color and proceeding to the next step when an affirmative determination is made, and processing to return to the step 1 when a negative determination is made 2,
Fixing the optical film sample and processing to proceed to the next step; and
Irradiating the optical film sample with a light beam from the light source after the comparison through a test device, and processing to proceed to the next step; and
Adjusting the focus by moving the optical film sample and processing to proceed to the next step; and
Turning the optical film sample along the Z axis and processing to proceed to the next step; and
It is determined whether or not the brightness in the illuminated area has changed. If a negative determination is made, the process proceeds to the next step 8. If an affirmative determination is made, the process skips to step 9. Step 7 to
Determining that the optical film sample is acceptable and processing to skip to step 10; and
Determining that the optical film sample is a rejected product and processing to proceed to the next step; and
A polarizing strip test method characterized by comprising:
前記ステップ4に記載のテスト装置は、反射式テスト装置或いは貫通式検出装置いずれか一つを使用することを特徴とする請求項1に記載の偏光片のテスト方法。   The method for testing a polarizing piece according to claim 1, wherein the test apparatus according to step 4 uses one of a reflective test apparatus and a penetrating detection apparatus. 前記テスト装置が貫通式検出装置を使用し、
前記光源からの光線が光線ろ過片を通過するステップ4Bと、
前記光源に偏光手段を通過させるステップ4Cと、
前記光源に凹レンズを通過させるステップ4Dと、
をさらに有することを特徴とする請求項2に記載の偏光片のテスト方法。
The test device uses a penetrating detection device,
Step 4B in which light rays from the light source pass through the light filtration piece;
Passing the polarizing means through the light source 4C;
Passing the concave lens through the light source 4D;
The polarizing strip test method according to claim 2, further comprising:
前記貫通式テスト装置を使用する場合、前記ステップ4Bの前に、更に、光源からの光線がポリエチレン製板体を通過するステップ4Aを追加することを特徴とする請求項3に記載の偏光片のテスト方法。   When using the said penetration type test device, before the said step 4B, the step 4A through which the light beam from a light source passes a polyethylene-made plate body is further added, The polarizing piece of Claim 3 characterized by the above-mentioned. Test method. 前記貫通式テスト装置を使用する場合、前記ステップ4Dの後に、更に、光線をスクリーンに照射させるステップ4Eを追加することを特徴とする請求項3に記載の偏光片のテスト方法。   4. The method for testing a polarizing piece according to claim 3, wherein, when the penetration type test apparatus is used, a step 4E for irradiating the screen with a light beam is further added after the step 4D. 前記テスト装置が反射式検出装置を使用する場合、
光源からの光線が光線ろ過片を通過するステップ4A’と、
光源からの光線がミラーによって反射されるステップ4B’と、
光源からの光線が凹レンズを通過するステップ4C’と、
をさらに有することを特徴とする請求項2に記載の偏光片のテスト方法。
If the test device uses a reflective detector,
Step 4A ′ in which the light beam from the light source passes through the light filter piece,
Step 4B ′ where the light rays from the light source are reflected by the mirror;
Step 4C ′ where the light from the light source passes through the concave lens;
The polarizing strip test method according to claim 2, further comprising:
前記反射式テスト装置を使用する場合、前記ステップ4C’の後に、更に、光線をスクリーンに照射するステップ4D’を追加することを特徴とする請求項6に記載の偏光片のテスト方法。   7. The method of testing a polarizing piece according to claim 6, wherein when the reflection type test apparatus is used, a step 4D 'of irradiating the screen with a light beam is further added after the step 4C'. 前記テスト方法でテストしようとする波長範囲は、赤色光と青色光と緑色光との波長範囲を同時にカバーすることができることを特徴とする請求項1に記載の偏光片のテスト方法。   2. The polarizing strip test method according to claim 1, wherein the wavelength range to be tested by the test method can simultaneously cover the wavelength ranges of red light, blue light, and green light.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN106442538A (en) * 2016-08-22 2017-02-22 中国电子科技集团公司第四十研究所 Optical element damage detecting device and method based on polarization imaging

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