JP2005221421A - Implement used for measuring characteristic of connector, and method of measuring characteristic of connector - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、無線通信等に用いる高周波同軸コネクタといったコネクタの特性測定に使用される治具、及び、コネクタの特性測定方法に関する。 The present invention relates to a jig used for measuring the characteristics of a connector such as a high-frequency coaxial connector used for wireless communication and the like, and a method for measuring the characteristics of the connector.
無線通信等に用いられる高周波同軸コネクタの反射係数や通過損失等の高周波特性を測定するために、従来、図5に模式図を示すような特性測定装置50(例えば、高周波測定用のネットワークアナライザから成る)が使用されている。この特性測定装置50には第1のコネクタ30及び第2のコネクタ40が備えられており、特性測定装置50と第1のコネクタ30とは第1のケーブル39によって接続され、特性測定装置50と第2のコネクタ40とは第2のケーブル49によって接続されている。尚、第1のコネクタ30及び第2のコネクタ40の一部を切り欠いた模式図を、それぞれ、図3の(B)及び図3の(C)に示す。
In order to measure high-frequency characteristics such as a reflection coefficient and a passage loss of a high-frequency coaxial connector used for wireless communication or the like, conventionally, a characteristic measuring apparatus 50 (for example, from a network analyzer for high-frequency measurement) as schematically shown in FIG. Used). The
SMA型同軸コネクタ等の高周波同軸コネクタといった供試コネクタの特性測定においては、予め、プラグ型(オス型とも呼ばれる)同軸コネクタである第1のコネクタ30と、ジャック型(メス型あるいはレセプタクル型とも呼ばれる)同軸コネクタである第2のコネクタ40とを接続して、特性測定装置50の校正を行っておく。尚、第1のコネクタ30と図18に示す終端器60とを、第1のコネクタ30の螺合部36(図3の(B)参照)と終端器60の螺合部66とを螺合させることで接続して、校正を行う場合もある。
In the measurement of characteristics of a test connector such as a high-frequency coaxial connector such as an SMA type coaxial connector, a
供試コネクタの特性測定においては、予め、図16及び図17に示すようなストリップライン、又は、コープレーナ等を作製しておく。尚、図16の(A)は、2つの供試コネクタ10,70をストリップライン401の両端に半田付けにて接続した状態を模式的に示す平面図であり、図16の(B)は、図16の(A)の模式的な平面図における供試コネクタ10,70を切断したときの状態を示す模式図である。また、尚、図17の(A)及び(B)は、それぞれ、図16の(A)に示した2つの供試コネクタ10,70をストリップライン401の両端に半田付けにて接続した状態及びストリップライン保持台410の模式的な正面図及び模式的な断面図である。
In measuring the characteristics of the connector under test, a strip line or a coplanar as shown in FIGS. 16 and 17 is prepared in advance. 16A is a plan view schematically showing a state in which the two
ストリップライン401は、低誘電率、低誘電損失の材料(例えば、ガラス布基材等に比誘電率2.2のフッ素系樹脂等を含浸させたもの等)の両面に極薄の銅箔(数μm〜数十μm程度)を積層した銅張り積層板における銅箔を精密エッチング等の加工処理で任意の形状に加工して、50オームラインとして形成したものである。図16及び図17においては、銅箔が除去された銅張り積層板の部分を参照番号400で示し、この部分に斜線を付した。また、パターニングされた銅箔(ストリップライン401)にも斜線を付した。
The
アルミニウムといった金属材料あるいは導電性材料から作製されたストリップライン保持台410は、基部411、及び、基部411の両端部から上方に延びるコネクタ取付部412から構成されている。コネクタ取付部412には、供試コネクタ10,70の突出した誘電体層の部分14A,74Aを挿入するための貫通孔413、及び、供試コネクタ10,70を固定するためのネジ孔(図示せず)が設けられている。銅張り積層板400は、コネクタ取付部412の間であって基部411の頂面に固定されている。尚、供試コネクタ10,70の構成要素に付された参照番号の説明は、後述する実施例における供試コネクタ10,70の説明を参照されたい。
The
供試コネクタ10,70の特性測定に際しては、供試コネクタ10,70の突出した誘電体層の部分14A,74Aをコネクタ取付部412に設けられた貫通孔413に挿入し、供試コネクタ10,70をコネクタ取付部412にビス19,79によってビス止めする。そして、供試コネクタ10及び供試コネクタ70の中心導体11,71の他端12,72をストリップライン401に半田付けする。この状態を、図16の(A)、(B)及び図17の(A)及び(B)に示す。尚、供試コネクタ10の中心導体11の一端13は、例えば、メス形状を有し、供試コネクタ10の中心導体11の他端12は、例えば、オス形状を有している。また、供試コネクタ70の中心導体71の一端73は、例えば、オス形状を有し、供試コネクタ70の中心導体71の他端72も、例えば、オス形状を有している。そして、供試コネクタ10にプラグ型同軸コネクタである第1のコネクタ30を接続し、供試コネクタ70にジャック型同軸コネクタである第2のコネクタ40を接続し、基部411を接地した状態で、供試コネクタ10,70の特性測定(例えば、反射係数や通過損失等の高周波データの採取)を行う。
When measuring the characteristics of the
あるいは又、図19の(A)及び(B)に示すように、供試コネクタ10と供試コネクタ70Aとを治具500を介して接続し、供試コネクタ10,70Aの特性測定を行う方法もある。ここで、供試コネクタ10と供試コネクタ70Aとを治具500を介して接続した状態を示す模式的な平面図を図19の(A)に示し、模式的な断面図を図19の(B)に示す。治具500は、黄銅やステンレススチール等の材料に金メッキ等を施したものであり、供試コネクタ10,70Aの突出した誘電体層の部分14A,74Aを挿入するための貫通孔501、及び、供試コネクタ10,70Aを固定するためのネジ孔(図示せず)が設けられている。
Alternatively, as shown in FIGS. 19A and 19B, the
供試コネクタ10の中心導体11の一端13は、例えば、メス形状を有し、供試コネクタ10の中心導体11の他端12は、例えば、オス形状を有している。また、供試コネクタ70Aの中心導体71の一端73は、例えば、オス形状を有し、供試コネクタ70Aの中心導体71の他端72Aは、例えば、メス形状を有している。そして、供試コネクタ10,70Aの突出した誘電体層の部分14A,74Aを治具500に設けられた貫通孔501に挿入し、供試コネクタ10の中心導体11の他端12と供試コネクタ70Aの中心導体71の他端72Aとを接続する。あるいは又、供試コネクタ10の中心導体11の他端と供試コネクタ70Aの中心導体71の他端とを、中継用ピン等を用いて接続することもできる。そして、供試コネクタ10,70Aを治具500にビス19,79によってビス止めする。そして、供試コネクタ10にプラグ型同軸コネクタである第1のコネクタ30を接続し、供試コネクタ70Aにジャック型同軸コネクタである第2のコネクタ40を接続し、治具500を接地した状態で、供試コネクタ10,70Aの特性測定(例えば、反射係数や通過損失等の高周波データの採取)を行う。尚、供試コネクタ70Aの構成要素に付された参照番号の説明は、後述する実施例における供試コネクタ70Aの説明を参照されたい。
One
以上に説明したストリップライン401や治具500を用いる特性測定にあっては、供試コネクタ10,70,70Aのいずれか一方の特性測定のみを行うことは不可能である。また、測定結果には、半田付け部420やストリップライン401の影響が含まれる。従って、以上に説明した方法では、1つの供試コネクタ単独の特性測定を正確に行うことはできない。
In the characteristic measurement using the
従って、本発明の目的は、1つの供試コネクタの特性測定を正確に行うことを可能とするコネクタの特性測定に使用される治具、及び、コネクタの特性測定方法を提供することにある。 Accordingly, it is an object of the present invention to provide a jig used for connector characteristic measurement and a connector characteristic measurement method that enable accurate measurement of the characteristic of one test connector.
上記の目的を達成するための本発明のコネクタの特性測定に使用される治具は、
第1のコネクタ及び第2のコネクタを備えた特性測定装置を使用し、
(a)中心導体、
(b)中心導体を覆う誘電体層、及び、
(c)中心導体の一端側に位置する誘電体層の部分を覆う外側導体、
から成る供試コネクタの特性測定を、供試コネクタの中心導体の一端を第1のコネクタに接続し、供試コネクタの中心導体の他端を第2のコネクタに接続した状態で行う際に使用される、導電材料から成る治具であって、
(A)外側導体によって覆われていない中心導体の他端側に位置する誘電体層の部分が挿入される貫通孔、及び、
(B)第2のコネクタが接続される接続部、
を備えていることを特徴とする。
The jig used for measuring the characteristics of the connector of the present invention to achieve the above object is
Using a characteristic measuring device comprising a first connector and a second connector;
(A) center conductor,
(B) a dielectric layer covering the central conductor, and
(C) an outer conductor covering a portion of the dielectric layer located on one end side of the central conductor;
Used when measuring the characteristics of the connector under test with one end of the center conductor of the connector under test connected to the first connector and the other end of the center conductor of the connector under test connected to the second connector A jig made of a conductive material,
(A) a through hole into which a portion of the dielectric layer located on the other end side of the central conductor not covered by the outer conductor is inserted, and
(B) a connecting portion to which the second connector is connected;
It is characterized by having.
上記の目的を達成するための本発明のコネクタの特性測定方法は、
第1のコネクタ及び第2のコネクタを備えた特性測定装置を使用し、
(a)中心導体、
(b)中心導体を覆う誘電体層、及び、
(c)中心導体の一端側に位置する誘電体層の部分を覆う外側導体、
から成る供試コネクタの特性測定を、
(A)外側導体によって覆われていない中心導体の他端側に位置する誘電体層の部分が挿入される貫通孔、及び、
(B)第2のコネクタが接続される接続部、
を備えている、導電材料から成る治具を使用して行うコネクタの特性測定方法であって、
供試コネクタの中心導体の一端を第1のコネクタに接続し、供試コネクタの外側導体によって覆われていない中心導体の他端側に位置する誘電体層の部分を治具の貫通孔に挿入し、且つ、供試コネクタの外側導体と治具とを接触させ、且つ、治具の接続部と第2のコネクタとを接続することで供試コネクタの中心導体の他端を第2のコネクタに接続した状態で、治具を接地して供試コネクタの特性測定を行うことを特徴とする。
In order to achieve the above object, the method for measuring the characteristics of the connector of the present invention comprises:
Using a characteristic measuring device comprising a first connector and a second connector;
(A) center conductor,
(B) a dielectric layer covering the central conductor, and
(C) an outer conductor covering a portion of the dielectric layer located on one end side of the central conductor;
Measure the characteristics of the connector under test
(A) a through hole into which a portion of the dielectric layer located on the other end side of the central conductor not covered by the outer conductor is inserted, and
(B) a connecting portion to which the second connector is connected;
A connector characteristic measurement method using a jig made of a conductive material, comprising:
Connect one end of the center conductor of the test connector to the first connector, and insert the part of the dielectric layer located on the other end of the center conductor that is not covered by the outer conductor of the test connector into the through hole of the jig The outer conductor of the test connector and the jig are brought into contact with each other, and the other end of the central conductor of the test connector is connected to the second connector by connecting the connecting portion of the jig and the second connector. In this state, the characteristic of the test connector is measured by grounding the jig.
本発明のコネクタの特性測定(特性評価)に使用される治具、あるいは又、本発明のコネクタの特性測定方法(特性評価方法)(以下、これらを総称して、単に、本発明と呼ぶ場合がある)において、治具に設けられた貫通孔の大きさ(径)は、供試コネクタの外側導体によって覆われていない中心導体の他端側に位置する誘電体層の部分が確実に挿入できる大きさ(径)、云い換えれば、供試コネクタと同軸インピーダンス整合をとり得る大きさ(径)とする必要がある。 Jig used for connector characteristic measurement (characteristic evaluation) of the present invention, or connector characteristic measurement method (characteristic evaluation method) of the present invention (hereinafter collectively referred to simply as the present invention) The size (diameter) of the through hole provided in the jig is surely inserted into the dielectric layer located at the other end of the center conductor not covered by the outer conductor of the connector under test. It is necessary to make the size (diameter) that can be obtained, in other words, the size (diameter) that can achieve coaxial impedance matching with the test connector.
本発明において、治具の軸線と直角方向における貫通孔の断面形状は円形であり、治具の軸線と直角方向における接続部の断面形状は貫通孔と同心の円形であり、接続部の内面には第2のコネクタと螺合する螺合部が設けられている構成とすることができる。尚、この構成を便宜上、第1の構成と呼ぶ。 In the present invention, the cross-sectional shape of the through hole in a direction perpendicular to the axis of the jig is a circle, and the cross-sectional shape of the connection portion in the direction perpendicular to the axis of the jig is a circle concentric with the through hole. Can be configured to be provided with a screwing portion to be screwed with the second connector. This configuration is referred to as a first configuration for convenience.
あるいは又、本発明において、治具の軸線と直角方向における貫通孔の断面形状は円形であり、治具の軸線と直角方向における接続部の断面形状は貫通孔と同心の円形であり、接続部の外面には第2のコネクタと螺合する螺合部が設けられている構成とすることができる。尚、この構成を便宜上、第2の構成と呼ぶ。 Alternatively, in the present invention, the cross-sectional shape of the through hole in a direction perpendicular to the axis of the jig is circular, and the cross-sectional shape of the connection portion in the direction perpendicular to the axis of the jig is a circle concentric with the through hole. It is possible to adopt a configuration in which a threaded portion that is threadedly engaged with the second connector is provided on the outer surface. This configuration is referred to as a second configuration for convenience.
あるいは又、本発明において、治具の軸線と直角方向における貫通孔の断面形状は円形であり、治具の軸線と直角方向における接続部の断面形状は貫通孔と同心の円形であり、接続部の外面には第2のコネクタと係合する凹部が設けられている構成とすることができる。尚、この構成を便宜上、第3の構成と呼ぶ。この第3の構成あるいは次に説明する第4の構成におけるこのような形式のコネクタは、プッシュオンタイプと呼ばれている。 Alternatively, in the present invention, the cross-sectional shape of the through hole in a direction perpendicular to the axis of the jig is circular, and the cross-sectional shape of the connection portion in the direction perpendicular to the axis of the jig is a circle concentric with the through hole. A concave portion that engages with the second connector may be provided on the outer surface of the first connector. This configuration is referred to as a third configuration for convenience. This type of connector in the third configuration or the fourth configuration described below is called a push-on type.
あるいは又、本発明において、治具の軸線と直角方向における貫通孔の断面形状は円形であり、治具の軸線と直角方向における接続部の断面形状は貫通孔と同心の円形であり、接続部の内面には第2のコネクタと係合する凸部が設けられている構成とすることができる。尚、この構成を便宜上、第4の構成と呼ぶ。 Alternatively, in the present invention, the cross-sectional shape of the through hole in a direction perpendicular to the axis of the jig is circular, and the cross-sectional shape of the connection portion in the direction perpendicular to the axis of the jig is a circle concentric with the through hole. A convex portion that engages with the second connector may be provided on the inner surface of the first connector. This configuration is referred to as a fourth configuration for convenience.
本発明において、治具を構成する導電材料として、黄銅(真鍮)、ステンレススチール、銅、亜鉛、鉄等の金属材料や合金材料を例示することができる。尚、治具の表面には0.1μm〜数μm程度の金メッキやニッケルメッキといった各種のメッキを施してもよい。 In the present invention, examples of the conductive material constituting the jig include brass (brass), stainless steel, copper, zinc, iron and other metal materials and alloy materials. The surface of the jig may be subjected to various types of plating such as gold plating or nickel plating of about 0.1 μm to several μm.
中心導体、誘電体層及び外側導体から構成された供試コネクタは、周知のコネクタとすることができる。例えば、外側導体は、黄銅(真鍮)やステンレススチール、亜鉛、銅、鉄といった導電性材料に各種の表面処理を施すことで得ることができる。誘電体層は、例えば、フッ素系樹脂、ポリプロピレン系樹脂、ポリエチレン系樹脂、ポリアセタール樹脂といった低誘電率を有する材料から構成することができる。また、中心導体は、ベリリウム銅やリン青銅といったバネ性を有する導電性材料(例えば、線材や板材)に金メッキ等を施したものから構成することができるし、あるいは又、黄銅やステンレススチールといったバネ性を有していない導電性材料(例えば、線材や板材)から構成することもできる。 The test connector composed of the center conductor, the dielectric layer, and the outer conductor can be a known connector. For example, the outer conductor can be obtained by performing various surface treatments on a conductive material such as brass (brass), stainless steel, zinc, copper, or iron. The dielectric layer can be made of a material having a low dielectric constant, such as a fluorine resin, a polypropylene resin, a polyethylene resin, or a polyacetal resin. The central conductor can be made of a springy conductive material such as beryllium copper or phosphor bronze (for example, a wire or plate) plated with gold, or a spring such as brass or stainless steel. It can also be comprised from the electroconductive material (for example, wire and board | plate material) which does not have property.
本発明における供試コネクタとして、SMA型同軸コネクタ、SMB型同軸コネクタ、N型同軸コネクタ、BNC型同軸コネクタ、TNC型同軸コネクタを例示することができる。尚、供試コネクタは、その仕様に応じて、プラグ型(オス型とも呼ばれる)同軸コネクタであってもよいし、ジャック型(メス型あるいはレセプタクル型とも呼ばれる)同軸コネクタあってもよい。また、供試コネクタを構成する中心導体の一端及び他端の構造(構成)も、その仕様に応じて、オス形状を有していてもよいし、メス形状を有していてもよい。 Examples of test connectors in the present invention include SMA type coaxial connectors, SMB type coaxial connectors, N type coaxial connectors, BNC type coaxial connectors, and TNC type coaxial connectors. The test connector may be a plug type (also called male type) coaxial connector or a jack type (also called female type or receptacle type) coaxial connector depending on the specifications. Further, the structure (configuration) of one end and the other end of the central conductor constituting the test connector may have a male shape or a female shape depending on the specifications.
本発明において使用される特性測定装置として、高周波測定用のネットワークアナライザを挙げることができる。また、特性測定装置に備えられた第1のコネクタとして、供試コネクタに応じて、プラグ型同軸コネクタ、あるいは又、ジャック型同軸コネクタを挙げることができ、第2のコネクタとして、ジャック型同軸コネクタ、あるいは又、プラグ型同軸コネクタを挙げることができる。供試コネクタの特性測定として、例えば、反射係数や通過損失等の高周波データの採取を行う挙げることができる。 An example of the characteristic measuring device used in the present invention is a network analyzer for high frequency measurement. Further, as the first connector provided in the characteristic measuring device, a plug-type coaxial connector or a jack-type coaxial connector can be cited according to the test connector, and a jack-type coaxial connector can be used as the second connector. Alternatively, a plug type coaxial connector can be mentioned. As a characteristic measurement of the test connector, for example, high frequency data such as a reflection coefficient and a passage loss can be collected.
本発明において、供試コネクタの中心導体の一端を第1のコネクタに接続し、供試コネクタの中心導体の他端を第2のコネクタに接続する具体的な方法として、
(1)供試コネクタの中心導体の一端あるいは他端はメス形状を有し、第1のコネクタあるいは第2のコネクタを構成する中心導体はオス形状を有しており、これによって、供試コネクタの中心導体の一端あるいは他端と第1のコネクタあるいは第2のコネクタを構成する中心導体とを接続する方法
(2)供試コネクタの中心導体の一端あるいは他端はオス形状を有し、第1のコネクタあるいは第2のコネクタを構成する中心導体はメス形状を有しており、これによって、供試コネクタの中心導体の一端あるいは他端と第1のコネクタあるいは第2のコネクタを構成する中心導体とを接続する方法
(3)中継用ピンを用いて接続する方法
を例示することができる。
In the present invention, as a specific method of connecting one end of the center conductor of the test connector to the first connector and connecting the other end of the center conductor of the test connector to the second connector,
(1) One end or the other end of the center conductor of the test connector has a female shape, and the center conductor constituting the first connector or the second connector has a male shape. (1) One end or the other end of the center conductor of the test connector has a male shape, and a method for connecting one end or the other end of the center conductor to the center conductor constituting the first connector or the second connector. The central conductor constituting the first connector or the second connector has a female shape, whereby one end or the other end of the central conductor of the test connector and the center constituting the first connector or the second connector. A method of connecting to a conductor (3) A method of connecting using a relay pin can be exemplified.
本発明によれば、治具を供試コネクタに取り付けることによって、治具と供試コネクタとによって同軸コネクタ開口部構造を構成することができるが故に、同軸構造のまま供試コネクタの特性測定が可能となり、ストリップライン等、あるいは又、他の同軸コネクタを含まずに、供試コネクタ単体で反射係数や通過損失等の高周波特性を測定することができる。即ち、供試コネクタの特性を、他の部品や部材の影響を受けること無く、単独にて、正確に測定することができる。 According to the present invention, since the coaxial connector opening structure can be configured by the jig and the test connector by attaching the jig to the test connector, the characteristic measurement of the test connector can be performed while maintaining the coaxial structure. Therefore, it is possible to measure high frequency characteristics such as a reflection coefficient and a passage loss with a single test connector without including a stripline or other coaxial connectors. That is, the characteristics of the connector under test can be accurately measured alone without being affected by other parts and members.
以下、図面を参照して、実施例に基づき本発明を説明する。 Hereinafter, the present invention will be described based on examples with reference to the drawings.
実施例1は、本発明のコネクタの特性測定(特性評価)に使用される治具及びコネクタの特性測定方法(特性評価方法)に関し、より具体的には、治具は第1の構成を有する。実施例1における治具20、供試コネクタ10、特性測定装置に備えられた第1のコネクタ30及び第2のコネクタ40の模式的な断面図を図1に示す。また、供試コネクタ10の拡大模式断面図を図2の(A)に示し、供試コネクタ10を治具20に取り付ける直前のこれらの模式的な断面図を図2の(B)に示し、供試コネクタ10を治具20に取り付けた状態の模式的な断面図を図2の(C)に示す。更には、供試コネクタ10を治具20に取り付けたものと、第1のコネクタ30及び第2のコネクタ40とを接続する直前の状態を図3の(A)に示し、第1のコネクタ30及び第2のコネクタ40の一部を切り欠いた模式図を、それぞれ、図3の(B)及び(C)に示す。また、治具20の模式的な正面図を図4の(A)に示し、治具20の模式的な側面図及び断面図を図4の(B)に示す。更には、第1のコネクタ30及び第2のコネクタ40を備えた特性測定装置50の模式図を図5に示す。
Example 1 relates to a jig used for connector characteristic measurement (characteristic evaluation) and a connector characteristic measurement method (characteristic evaluation method) according to the present invention. More specifically, the jig has a first configuration. . FIG. 1 shows a schematic cross-sectional view of the
実施例1における供試コネクタ10は、SMA型同軸コネクタであり、しかも、ジャック型(メス型あるいはレセプタクル型)同軸コネクタである。そして、供試コネクタ10は、ベリリウム銅あるいはリン青銅といったバネ性を有する導電性材料(例えば、線材や板材)に金メッキ等が施されたものから成る中心導体11、中心導体11を覆うフッ素系樹脂等から成る誘電体層14、及び、中心導体11の一端側に位置する誘電体層の部分14Bを覆う黄銅あるいはステンレススチールといった導電性材料に各種の表面処理が施されて成る外側導体15から構成されている。中心導体11と外側導体15とは誘電体層14によって絶縁されている。外側導体15の外面には螺合部16が設けられている。尚、供試コネクタ10の中心導体11の一端13はメス形状を有し、供試コネクタ10の中心導体11の他端12はオス形状を有している。具体的には、供試コネクタ10の中心導体11の一端13には、第1のコネクタ30の中心導体31の突出部32を挿入可能とするために孔部が設けられている。一方、供試コネクタ10の中心導体11の他端12は、中心導体11の一端側に位置する誘電体層の部分14Bから突出している。
The
実施例1の治具20は、第1のコネクタ30及び第2のコネクタ40を備えた特性測定装置50(具体的には、高周波測定用のネットワークアナライザ)を使用し、供試コネクタ10の特性測定を、供試コネクタ10の中心導体11の一端13を第1のコネクタ30に接続し、供試コネクタ10の中心導体11の他端12を第2のコネクタ40に接続した状態で行う際に使用される治具である。そして、この治具20は、導電材料から成り、より具体的には、表面に0.1μm〜数μm程度の金メッキが施されたステンレススチールから作製されている。
The
そして、実施例1における治具20は、
(A)外側導体15によって覆われていない中心導体の他端側に位置する誘電体層の部分14Aが挿入される貫通孔21、及び、
(B)第2のコネクタ40が接続される接続部22、
を備えている。
And the
(A) a through
(B) the
It has.
より具体的には、実施例1における治具20にあっては、治具20の軸線と直角方向における貫通孔21の断面形状は円形であり、治具20の軸線と直角方向における接続部22の断面形状は貫通孔21と同心の円形であり、接続部22の内面には第2のコネクタ40と螺合する螺合部23が設けられている。即ち、実施例1における治具20は、プラグ型(オス型)である。更には、治具20の外周部には孔部24が設けられ、治具20の供試コネクタ10と接する面にはビス孔25が設けられている。治具20の軸線に沿った貫通孔21の長さL(図2の(B)参照)は、外側導体15によって覆われていない中心導体の他端側に位置する誘電体層の部分14Aの長さと概ね等しい。
More specifically, in the
そして、供試コネクタ10の外側導体15によって覆われていない中心導体の他端側に位置する誘電体層の部分14Aを治具20の貫通孔21に挿入し、外側導体15の端部から延びるフランジ部15Aに設けられた孔部(図示せず)を介してビス19を治具20に設けられたビス孔25にビス止めする。このような供試コネクタ10と治具20との組立体を得ることで、同軸コネクタ開口部構造を得ることができる。尚、貫通孔21の径は、供試コネクタ10の誘電体層の部分14Aを挿入できる大きさ、即ち、供試コネクタ10と同軸インピーダンス整合をとり得る大きさである。また、治具20の外形は、供試コネクタ10をビス止めできる大きさであり、治具20の厚さ(治具の軸線方向の長さ)t(図2の(B)参照)は、同軸コネクタ開口部構造を形成することができる厚さ(治具の軸線方向の長さ)、あるいは、それ以上の厚さ(治具の軸線方向の長さ)である。尚、治具の厚さとは、治具の軸線方向の長さである。以下の説明においても同様の意味で「治具の厚さ」という用語を用いる。
Then, a
プラグ型同軸コネクタから成る第1のコネクタ30は、中心導体31、中心導体31を覆う誘電体層34、及び、誘電体層34を覆う外側導体35から成る。尚、中心導体31、誘電体層34及び外側導体35の構成材料は、供試コネクタ10におけるこれらの構成材料と同じとすることもできる。但し、中心導体31を構成する材料は、バネ性を有していない導電性材料(例えば、黄銅やステンレススチールから成る線材や板材)から構成することもできる。誘電体層34の端部から中心導体31が突出しており、この突出部32はオス形状を有する。図中、参照番号37はカップリングであり、参照番号36はカップリング37の内面に設けられた螺合部であり、参照番号37Aはカップリング37の回転及び第1のコネクタ30の取り付けのためのリングであり、参照番号37Bはシリコーン等の樹脂材料であり、パッキン等の役割を果たしている。特性測定装置50と第1のコネクタ30とは、第1のケーブル39によって接続されている。
The
ジャック型同軸コネクタから成る第2のコネクタ40も、中心導体41、中心導体41を覆う誘電体層44、及び、誘電体層44を覆う外側導体45から成る。尚、中心導体41、誘電体層44及び外側導体45の構成材料は、供試コネクタ10におけるこれらの構成材料と同じとすることもできる。中心導体41の一端43には、オス形状を有する中心導体11の他端12を挿入可能な孔部が設けられている。外側導体45の外面には螺合部46が設けられている。更には、第2のコネクタ40の先端部には、供試コネクタ10の一部分を格納するための空間(凹部)48が設けられている。特性測定装置50と第2のコネクタ40とは、第2のケーブル49によって接続されている。
The
実施例1にあっては、上述の組立体における治具20の接続部22に第2のコネクタ40の先端部を挿入し、治具20の螺合部23と第2のコネクタ40の螺合部46とを螺合させる。そして、黄銅製の差込ピン27を治具20の孔部24に挿入し、組立体の軸線を中心として差込ピン27を回転させることで、78.5N〜98.1N(8kgf〜10kgf)のトルクでの供試コネクタ10と第2のコネクタ40との締め付けを容易に行うことができる。次いで、第1のコネクタ30に供試コネクタ10を挿入し、第1のコネクタ30のカップリング37を回転させることで、供試コネクタ10の螺合部16と第1のコネクタ30の螺合部36とを螺合させる。
In the first embodiment, the tip end portion of the
こうして、供試コネクタ10の中心導体11の一端13を第1のコネクタ30に接続し、供試コネクタ10の外側導体15によって覆われていない中心導体11の他端側に位置する誘電体層の部分14Aを治具20の貫通孔21に挿入し、且つ、供試コネクタ10の外側導体15と治具20とを接触させ、且つ、治具20の接続部22と第2のコネクタ40とを接続することで供試コネクタ10の中心導体11の他端12を第2のコネクタ40に接続した状態を得ることができる。
Thus, one
より具体的には、供試コネクタ10に設けられた空間(凹部)18内に第1のコネクタ30を構成する外側導体35が格納された状態で、且つ、第1のコネクタ30を構成する中心導体31の突出部32と供試コネクタ10を構成する中心導体11の一端13とが接続(嵌合)した状態で、且つ、第1のコネクタ30を構成する外側導体35と供試コネクタ10を構成する外側導体15とが接触した状態で、第1のコネクタ30と供試コネクタ10とは接続される。一方、第2のコネクタ40に設けられた空間(凹部)48内に治具20に設けられた接続部22が格納された状態で、且つ、第2のコネクタ40を構成する中心導体41の一端43と供試コネクタ10を構成する中心導体11の他端12とが接続(嵌合)した状態で、且つ、第2のコネクタ40を構成する外側導体45と供試コネクタ10を構成する外側導体15とが治具20を介して電気的に接続された状態で、第2のコネクタ40と供試コネクタ10とは接続される。
More specifically, the
その後、治具20を接地して、特性測定装置50によって供試コネクタ10の特性測定を行う。具体的には、特性測定装置50によって供試コネクタ10の反射係数や通過損失等の高周波データの採取を行うことができる。尚、予め、第1のコネクタ30と第2のコネクタ40とを直接、接続して、特性測定装置50の校正を行っておく。
Thereafter, the
実施例1においては、治具20を用いることで、特性測定装置50の校正を行った状態から、供試コネクタ10以外の接続部品の特性を測定することなく、直接、供試コネクタ10単体の反射係数,通過損失等の高周波特性を正確に測定することが可能となる。
In the first embodiment, by using the
実施例2は、実施例1の変形である。実施例2における供試コネクタ70は、実施例1における供試コネクタ10と構造が相違する。実施例2における供試コネクタ70の模式的な断面図を図6の(A)に示し、実施例2における供試コネクタ70と治具20とを組み立てた状態を示す模式的な断面図を図6の(B)に示す。
The second embodiment is a modification of the first embodiment. The
実施例2における治具20は、実施例1にて説明したプラグ型(オス型)の治具20と同じとすることができる。また、実施例2における第1のコネクタ及び第2のコネクタとして、実施例1における第2のコネクタ40を使用すればよい。従って、これらの詳細な説明は省略する。尚、以下においては、第1のコネクタを、第1のコネクタ40と呼称して説明する。
The
実施例2における供試コネクタ70は、SMA型同軸コネクタであり、しかも、プラグ型同軸コネクタである。そして、供試コネクタ70は、黄銅やステンレススチールといった導電性材料(例えば、線材や板材)に金メッキ等が施されたものから成る中心導体71、中心導体71を覆う主にフッ素系樹脂等から成る誘電体層74、及び、中心導体71の一端側に位置する誘電体層の部分74Bを覆う黄銅あるいはステンレススチールといった導電性材料に各種の表面処理が施されて成る外側導体75から構成されている。中心導体71と外側導体75とは誘電体層74によって絶縁されている。誘電体層74の一端から中心導体71が突出しており、この突出部(中心導体71の一端73)はオス形状を有する。また、誘電体層74の他端からも中心導体71が突出しており、この突出部(中心導体71の他端72)もオス形状を有する。外側導体75の外面にはカップリング77が配されている。尚、参照番号76はカップリング77の内面に設けられた螺合部であり、参照番号77Aはカップリング77の回転及び供試コネクタ70の取り付けのためのリングであり、参照番号77Bはシリコーン等の樹脂材料であり、パッキン等の役割を果たしている。
The
実施例2の治具20も、第1のコネクタ40(構造は、実施例1における第2のコネクタ40と同じである)及び第2のコネクタ40を備えた特性測定装置50(具体的には、高周波測定用のネットワークアナライザ)を使用し、供試コネクタ70の特性測定を、供試コネクタ70の中心導体71の一端73を第1のコネクタ40に接続し、供試コネクタ70の中心導体71の他端72を第2のコネクタ40に接続した状態で行う際に使用される、導電材料から成る治具である。そして、実施例2における治具20は、実施例1にて説明した治具20と同じ構造、構成を有する。
The
実施例2にあっても、供試コネクタ70の外側導体75によって覆われていない中心導体の他端側に位置する誘電体層の部分74Aを治具20の貫通孔21に挿入し、外側導体75の端部から延びるフランジ部75Aに設けられた孔部(図示せず)を介してビスを治具20に設けられたビス孔25にビス止めする。このような組立体を得ることで、同軸コネクタ開口部構造を得ることができる。尚、貫通孔21の径は、供試コネクタ70の誘電体層の部分74Aを挿入できる大きさ、即ち、供試コネクタ70と同軸インピーダンス整合をとり得る大きさである。また、治具20の外形は、供試コネクタ70をビス止めできる大きさであり、治具20の厚さは、同軸コネクタ開口部構造を形成することができる厚さ、あるいはそれ以上の厚さである。
Even in Example 2, the
実施例2にあっては、供試コネクタ70と治具20との組立体における治具20の接続部22に第2のコネクタ40の先端部を挿入し、治具20の螺合部23と第2のコネクタ40の螺合部46とを螺合させる。そして、黄銅製の差込ピン27を治具20の孔部24に挿入し、組立体の軸線を中心として差込ピン27を回転させることで、78.5N〜98.1N(8kgf〜10kgf)のトルクでの供試コネクタ70と第2のコネクタ40との締め付けを容易に行うことができる。次いで、カップリング77を回転させることで、供試コネクタ70の螺合部76と第1のコネクタ40の螺合部(より具体的には、図3の(C)に示した第2のコネクタ40における螺合部46)を螺合させる。
In the second embodiment, the tip end portion of the
こうして、供試コネクタ70の中心導体71の一端73を第1のコネクタ40に接続し、供試コネクタ70の外側導体75によって覆われていない中心導体71の他端側に位置する誘電体層の部分74Aを治具20の貫通孔21に挿入し、且つ、供試コネクタ70の外側導体75と治具20とを接触させ、且つ、治具20の接続部22と第2のコネクタ40とを接続することで供試コネクタ70の中心導体71の他端72を第2のコネクタ40に接続した状態を得ることができる。
Thus, one
より具体的には、第1のコネクタ40に設けられた空間(凹部)48内に供試コネクタ70に設けられた接続部78が格納された状態で、且つ、第1のコネクタ40を構成する中心導体41の一端43と供試コネクタ70を構成する中心導体71の一端73とが接続(嵌合)した状態で、且つ、第1のコネクタ40を構成する外側導体45と供試コネクタ70を構成する外側導体75とが接触した状態で、第1のコネクタ40と供試コネクタ70とは接続される。一方、第2のコネクタ40に設けられた空間(凹部)48内に治具20に設けられた接続部22が格納された状態で、且つ、第2のコネクタ40を構成する中心導体41の一端43と供試コネクタ70を構成する中心導体71の他端72とが接続(嵌合)した状態で、且つ、第2のコネクタ40を構成する外側導体45と供試コネクタ70を構成する外側導体75とが治具20を介して電気的に接続された状態で、第2のコネクタ40と供試コネクタ70とは接続される。
More specifically, the
その後、治具20を接地して、特性測定装置50によって供試コネクタ70の特性測定を行う。具体的には、特性測定装置50によって供試コネクタ70の反射係数や通過損失等の高周波データの採取を行うことができる。尚、予め、第1のコネクタ40と終端器とを接続して特性測定装置50の校正を行い、第2のコネクタ40と終端器とを接続して特性測定装置50の校正を行う。あるいは又、第1のコネクタ40と第2のコネクタ40との間に中継用の同軸コネクタを介する等により校正を行っておく。
Thereafter, the
実施例2においても、治具20を用いることで、特性測定装置50の校正を行った状態から、供試コネクタ70以外の接続部品の特性を測定することなく、直接、供試コネクタ70単体の反射係数,通過損失等の高周波特性を正確に測定することが可能となる。
Also in the second embodiment, by using the
実施例3も、本発明のコネクタの特性測定(特性評価)に使用される治具及びコネクタの特性測定方法(特性評価方法)に関し、より具体的には、治具は第2の構成を有する。実施例3における治具120及び供試コネクタ10Aの組立前の模式的な断面図を図7の(A)に示し、組立後の模式的な断面図を図7の(B)に示す。
Example 3 also relates to a jig used for connector characteristic measurement (characteristic evaluation) and a connector characteristic measurement method (characteristic evaluation method) of the present invention, and more specifically, the jig has a second configuration. . A schematic cross-sectional view before assembly of the
実施例3における供試コネクタ10Aは、SMA型同軸コネクタであり、しかも、ジャック型(メス型あるいはレセプタクル型)同軸コネクタである。そして、供試コネクタ10Aは、中心導体11の他端12Aの構造が実施例1における供試コネクタ10の中心導体11の他端12の構造と異なる点を除き、実施例1における供試コネクタ10と同じ構造、構成を有しているので、詳細な説明は省略する。実施例3においては、第1のコネクタ及び第2のコネクタとして、実施例1における第1のコネクタ30を使用すればよい。従って、これらの詳細な説明は省略する。尚、以下においては、第2のコネクタを、第2のコネクタ30と呼称して説明する。
The
実施例3の供試コネクタ10Aにあっては、中心導体11の他端12Aには、第2のコネクタ30の中心導体31の突出部32を挿入可能とするために孔部が設けられている。即ち、供試コネクタ10Aの中心導体11の他端12Aはメス形状を有している。尚、供試コネクタ10Aの中心導体11の一端13もメス形状を有している。
In the
実施例3の治具120も、第1のコネクタ30及び第2のコネクタ30を備えた特性測定装置50(具体的には、高周波測定用のネットワークアナライザ)を使用し、供試コネクタ10Aの特性測定を、供試コネクタ10Aの中心導体11の一端13を第1のコネクタ30に接続し、供試コネクタ10Aの中心導体11の他端12Aを第2のコネクタ30に接続した状態で行う際に使用される、導電材料から成る治具である。実施例3の治具120も、より具体的には、表面に0.1μm〜数μm程度の金メッキが施されたステンレススチールから作製されている。
The
そして、実施例3における治具120も、
(A)外側導体15によって覆われていない中心導体の他端側に位置する誘電体層の部分14Aが挿入される貫通孔121、及び、
(B)第2のコネクタ30が接続される接続部122、
を備えている。
And the
(A) a through
(B) a
It has.
より具体的には、実施例3における治具120にあっては、治具120の軸線と直角方向における貫通孔121の断面形状は円形であり、治具120の軸線と直角方向における接続部122の断面形状は貫通孔121と同心の円形であり、接続部122の外面には第2のコネクタ30と螺合する螺合部123が設けられている。即ち、実施例3における治具120は、ジャック型(メス型)である。更に、治具120の供試コネクタ10Aと接する面にはビス孔(実施例1の治具20におけるビス孔25と同じもの)が設けられている。治具120の軸線に沿った貫通孔121の長さL(図7の(A)参照)は、外側導体15によって覆われていない中心導体の他端側に位置する誘電体層の部分14Aの長さと概ね等しい。
More specifically, in the
そして、供試コネクタ10Aの外側導体15によって覆われていない中心導体の他端側に位置する誘電体層の部分14Aを治具120の貫通孔121に挿入し、外側導体15の端部から延びるフランジ部15Aに設けられた孔部(図示せず)を介してビス(図示せず)を治具120に設けられたビス孔(図示せず)にビス止めする。このような供試コネクタ10Aと治具120との組立体を得ることで、同軸コネクタ開口部構造を得ることができる。尚、貫通孔121の径は、供試コネクタ10Aの誘電体層の部分14Aを挿入できる大きさ、即ち、供試コネクタ10Aと同軸インピーダンス整合をとり得る大きさである。また、治具120の外形は、供試コネクタ10Aをビス止めできる大きさであり、治具120の厚さt(図7の(A)参照)は、同軸コネクタ開口部構造を形成することができる厚さ、あるいはそれ以上の厚さである。
Then, a
実施例3にあっては、上述の組立体における治具120の接続部122に第2のコネクタ30の先端部を挿入し、カップリング37を回転させることで、治具120の螺合部123と第2のコネクタ30の螺合部36とを螺合させる。次いで、第1のコネクタ30におけるカップリング37を回転させることで、供試コネクタ10Aの螺合部16と第1のコネクタ30の螺合部36とを螺合させる。
In the third embodiment, the threaded
こうして、供試コネクタ10Aの中心導体11の一端13を第1のコネクタ30に接続し、供試コネクタ10Aの外側導体15によって覆われていない中心導体11の他端側に位置する誘電体層の部分14Aを治具120の貫通孔121に挿入し、且つ、供試コネクタ10Aの外側導体15と治具120とを接触させ、且つ、治具120の接続部122と第2のコネクタ30とを接続することで供試コネクタ10Aの中心導体11の他端12Aを第2のコネクタ30に接続した状態を得ることができる。
In this way, one
より具体的には、供試コネクタ10Aに設けられた空間(凹部)18内に第1のコネクタ30を構成する外側導体35が格納された状態で、且つ、第1のコネクタ30を構成する中心導体31の突出部32と供試コネクタ10Aを構成する中心導体11の一端13とが接続(嵌合)した状態で、且つ、第1のコネクタ30を構成する外側導体35と供試コネクタ10Aを構成する外側導体15とが接触した状態で、第1のコネクタ30と供試コネクタ10Aとは接続される。一方、治具120に設けられた接続部122内に第2のコネクタ30を構成する外側導体35が格納された状態で、且つ、第2のコネクタ30を構成する中心導体31の突出部32と供試コネクタ10Aを構成する中心導体11の他端12Aとが接続(嵌合)した状態で、且つ、第2のコネクタ30を構成する外側導体35と供試コネクタ10Aを構成する外側導体15とが治具120を介して電気的に接続された状態で、第2のコネクタ30と供試コネクタ10Aとは接続される。
More specifically, the
その後、治具120を接地して、特性測定装置50によって供試コネクタ10Aの特性測定を行う。具体的には、特性測定装置50によって供試コネクタ10Aの反射係数や通過損失等の高周波データの採取を行うことができる。尚、予め、第1のコネクタ30と終端器とを接続して特性測定装置50の校正を行い、第2のコネクタ30と終端器とを接続して特性測定装置50の校正を行う。あるいは又、第1のコネクタ30と第2のコネクタ30との間に中継用の同軸コネクタを介する等により校正を行っておく。
Thereafter, the
実施例3においても、治具120を用いることで、特性測定装置50の校正を行った状態から、供試コネクタ10A以外の接続部品の特性を測定することなく、直接、供試コネクタ10A単体の反射係数,通過損失等の高周波特性を正確に測定することが可能となる。
Also in the third embodiment, by using the
図7に示した実施例3の供試コネクタ10Aの変形例として供試コネクタ70Aを使用した例を、図8に示す。尚、治具120及び供試コネクタ70Aの組立前の模式的な断面図を図8の(A)に示し、組立後の模式的な断面図を図8の(B)に示す。
FIG. 8 shows an example in which the
この供試コネクタ70Aは、SMA型同軸コネクタであるが、プラグ型同軸コネクタである点、中心導体71の一端73の構造がオス形状である点が、図7に示した供試コネクタ10Aと相違している。尚、この供試コネクタ70Aは、実施例2において説明した供試コネクタ70と、中心導体71の他端72Aの構造がメス形状である点で相違しているが、その他の点では実施例2において説明した供試コネクタ70と同じ構造、構成を有する。それ故、供試コネクタ70Aの詳細な説明は省略する。尚、中心導体71の他端72Aの有するメス形状は、実施例1における供試コネクタ10の中心導体11の一端13の形状と同じである。この供試コネクタ70Aにあっては、図3の(C)に図示した第2のコネクタ40を第1のコネクタとして使用し、図3の(B)に図示した第1のコネクタ30を第2のコネクタとして使用すればよい。
This
実施例4も、本発明のコネクタの特性測定(特性評価)に使用される治具及びコネクタの特性測定方法(特性評価方法)に関し、より具体的には、治具は第3の構成を有する。実施例4における治具220及び供試コネクタ210の組立前の模式的な断面図を図9に示し、組立前の模式的な正面図を図10に示し、組立後の模式的な断面図を図11に示す。また、第1のコネクタ230の模式的な一部断面図を図12の(A)に示し、模式的な正面図を図12の(B)に示す。更には、第2のコネクタ240の模式的な一部断面図を図13の(A)に示し、模式的な正面図を図13の(B)に示す。
Example 4 also relates to a jig used for connector characteristic measurement (characteristic evaluation) of the present invention and a connector characteristic measurement method (characteristic evaluation method), and more specifically, the jig has a third configuration. . FIG. 9 shows a schematic sectional view before assembly of the
実施例4における供試コネクタ210は、SMB型同軸コネクタであり、しかも、プラグ型同軸コネクタである。そして、供試コネクタ210は、第1のコネクタ230との接続部分が異なる。即ち、実施例4における供試コネクタ210は、第1のコネクタ230との接続部分が、着脱をワンタッチで行うことができる所謂プッシュオンタイプである。具体的には、外側導体15に割り溝部217が設けられている。この点を除き、実施例4における供試コネクタ210は、実質的に実施例1における供試コネクタ10と同じ構造、構成を有しているので、詳細な説明は省略する。
The
実施例4の治具220も、第1のコネクタ230及び第2のコネクタ240を備えた特性測定装置50(具体的には、高周波測定用のネットワークアナライザ)を使用し、供試コネクタ210の特性測定を、供試コネクタ210の中心導体11の一端13を第1のコネクタ230に接続し、供試コネクタ210の中心導体11の他端12を第2のコネクタ240に接続した状態で行う際に使用される、導電材料から成る治具である。この治具220も、第2のコネクタ240との接続部分が、着脱をワンタッチで行うことができる所謂プッシュオンタイプである。
The
具体的には、実施例4における治具220も、
(A)供試コネクタ210の外側導体15によって覆われていない中心導体の他端側に位置する誘電体層の部分14Aが挿入される貫通孔221、及び、
(B)第2のコネクタ240が接続される接続部222、
を備えている。
Specifically, the
(A) a through
(B) a
It has.
実施例4の治具220も、より具体的には、表面に0.1μm〜数μm程度の金メッキが施されたステンレススチールから作製されている。そして、接続部222の内面には誘電体層224が嵌合されている。治具220にあっては、治具220の軸線と直角方向における貫通孔221の断面形状は円形であり、治具220の軸線と直角方向における接続部222の断面形状は貫通孔221と同心の円形であり、接続部222の外面には、第2のコネクタ240と係合する凹部223が設けられている。即ち、実施例4における治具220は、ジャック型(メス型)である。更に、治具220の供試コネクタ210と接する面にはビス孔(実施例1の治具20におけるビス孔25と同じもの)が設けられている。治具220の軸線に沿った貫通孔221の長さL(図9参照)は、外側導体15によって覆われていない中心導体の他端側に位置する誘電体層の部分14Aの長さと概ね等しい。
More specifically, the
そして、供試コネクタ210の外側導体15によって覆われていない中心導体の他端側に位置する誘電体層の部分14Aを治具220の貫通孔221に挿入し、外側導体15の端部から延びるフランジ部15Aに設けられた孔部(図示せず)を介してビス(図示せず)を治具220に設けられたビス孔(図示せず)にビス止めする。このような供試コネクタ210と治具220との組立体を得ることで、同軸コネクタ開口部構造を得ることができる。尚、貫通孔221の径は、供試コネクタ210の誘電体層の部分14Aを挿入できる大きさ、即ち、供試コネクタ210と同軸インピーダンス整合をとり得る大きさである。また、治具220の外形は、供試コネクタ210をビス止めできる大きさであり、治具220の厚さt(図9参照)は、同軸コネクタ開口部構造を形成することができる厚さ、あるいはそれ以上の厚さである。
Then, the
実施例4にあっては、上述の組立体における治具220の接続部222に、図13に示す第2のコネクタ240の先端部を挿入すると、第2のコネクタ240の先端部における空間248内における割り溝部247に設けられた凸部(突起部)246が治具220に設けられた凹部223と係合することで、供試コネクタ210と第2のコネクタ240とが接続される。尚、実施例4における第2のコネクタ240は、螺合部46が無い代わりに、外側導体45に割り溝部247に設けられ、割り溝部247に凸部(突起部)246が設けられている点を除き、実施例1における第2のコネクタ40と同様の構造、構成を有しているので、詳細な説明は省略する。尚、参照番号249は、割り溝部247を補強するための一種のリングである。
In the fourth embodiment, when the distal end portion of the
一方、図12に示す第1のコネクタ230を供試コネクタ210の空間218内に挿入すると、割り溝部217に設けられた凸部(突起部)216が第1のコネクタ230の外側導体35に設けられた凹部236と係合することで、供試コネクタ210と第1のコネクタ230とが接続される。尚、参照番号219は、割り溝部217を補強するための一種のリングである。また、実施例4における第1のコネクタ230は、螺合部36、カップリング37等が無い代わりに、外側導体35に凹部236が設けられている点を除き、実施例1における第1のコネクタ30と同様の構造、構成を有しているので、詳細な説明は省略する。
On the other hand, when the
こうして、供試コネクタ210の中心導体11の一端13を第1のコネクタ230に接続し、供試コネクタ210の外側導体15によって覆われていない中心導体11の他端側に位置する誘電体層の部分14Aを治具220の貫通孔221に挿入し、且つ、供試コネクタ210の外側導体15と治具220とを接触させ、且つ、治具220の接続部222と第2のコネクタ240とを接続することで供試コネクタ210の中心導体11の他端12を第2のコネクタ240に接続した状態を得ることができる。
In this way, one
より具体的には、供試コネクタ210に設けられた空間(凹部)218内に第1のコネクタ230を構成する外側導体35が格納された状態で、且つ、第1のコネクタ230を構成する中心導体31の突出部32と供試コネクタ210を構成する中心導体11の一端13とが接続(嵌合)した状態で、且つ、第1のコネクタ230を構成する外側導体35と供試コネクタ210を構成する外側導体15とが接触した状態で、第1のコネクタ230と供試コネクタ210とは接続される。一方、治具220に設けられた接続部222内に第2のコネクタ240を構成する外側導体45が格納された状態で、且つ、第2のコネクタ240を構成する中心導体41の一端43と供試コネクタ210を構成する中心導体11の他端12とが接続(嵌合)した状態で、且つ、第2のコネクタ240を構成する外側導体45と供試コネクタ210を構成する外側導体15とが治具220を介して電気的に接続された状態で、第2のコネクタ240と供試コネクタ210とは接続される。
More specifically, the
その後、治具220を接地して、特性測定装置50によって供試コネクタ210の特性測定を行う。具体的には、特性測定装置50によって供試コネクタ210の反射係数や通過損失等の高周波データの採取を行うことができる。尚、予め、第1のコネクタ230と第2のコネクタ240を直接、接続して特性測定装置50の校正を行っておく。
Thereafter, the
実施例4においても、治具220を用いることで、特性測定装置50の校正を行った状態から、供試コネクタ210以外の接続部品の特性を測定することなく、直接、供試コネクタ210単体の反射係数,通過損失等の高周波特性を正確に測定することが可能となる。
Also in the fourth embodiment, by using the
実施例5も、本発明のコネクタの特性測定(特性評価)に使用される治具及びコネクタの特性測定方法(特性評価方法)に関し、より具体的には、治具は第4の構成を有する。実施例5における治具320及び供試コネクタ210の組立前の模式的な断面図を図14に示し、組立後の模式的な断面図を図15の(A)に示し、第2のコネクタ340の模式的な断面図を図15の(B)に示す。
Example 5 also relates to a jig used for connector characteristic measurement (characteristic evaluation) of the present invention and a connector characteristic measurement method (characteristic evaluation method), and more specifically, the jig has a fourth configuration. . FIG. 14 shows a schematic cross-sectional view before assembling the
実施例5における供試コネクタ210、第1のコネクタ230は、実施例4にて説明した供試コネクタ210、第1のコネクタ230と同じものであるので、詳細な説明は省略する。また、実施例5における第2のコネクタ340として、実施例4にて説明した第1のコネクタ230を構成する中心導体31の突出部32を、メス形状を有する一端(実施例4における第2のコネクタ240を構成する中心導体41の一端43と同じ形状)に置き換えたコネクタを使用すればよい。
Since the
実施例5の治具320も、第1のコネクタ230及び第2のコネクタ340を備えた特性測定装置50(具体的には、高周波測定用のネットワークアナライザ)を使用し、供試コネクタ210の特性測定を、供試コネクタ210の中心導体11の一端13を第1のコネクタ230に接続し、供試コネクタ210の中心導体11の他端12を第2のコネクタ340に接続した状態で行う際に使用される、導電材料から成る治具である。実施例5の治具320も、第2のコネクタ340との接続部分が、着脱をワンタッチで行うことができる所謂プッシュオンタイプである。
The
具体的には、実施例5における治具320も、
(A)供試コネクタ210の外側導体15によって覆われていない中心導体の他端側に位置する誘電体層の部分14Aが挿入される貫通孔321、及び、
(B)第2のコネクタ340が接続される接続部322、
を備えている。
Specifically, the
(A) a through
(B) a
It has.
実施例5の治具320も、より具体的には、表面に0.1μm〜数μm程度の金メッキが施されたステンレススチールから作製されている。治具320にあっては、治具320の軸線と直角方向における貫通孔321の断面形状は円形であり、治具320の軸線と直角方向における接続部322の断面形状は貫通孔321と同心の円形であり、接続部322の内面には、第2のコネクタ340と係合する凸部(突起部)326が設けられている。即ち、実施例5における治具220は、プラグ型(オス型)である。更に、治具320の供試コネクタ210と接する面にはビス孔(実施例1の治具20におけるビス孔25と同じもの)が設けられている。治具320の軸線に沿った貫通孔321の長さL(図14参照)は、外側導体15によって覆われていない中心導体の他端側に位置する誘電体層の部分14Aの長さと概ね等しい。尚、実施例5における治具320は、凹部223及び誘電体層224が無い代わりに、接続部322に割り溝部327に設けられ、割り溝部327に凸部(突起部)326が設けられている点を除き、実施例4における治具220と同様の構造、構成を有しているので、詳細な説明は省略する。図中、参照番号329は、割り溝部327を補強するための一種のリングである。
More specifically, the
そして、供試コネクタ210の外側導体15によって覆われていない中心導体の他端側に位置する誘電体層の部分14Aを治具320の貫通孔321に挿入し、外側導体15の端部から延びるフランジ部15Aに設けられた孔部(図示せず)を介してビス(図示せず)を治具320に設けられたビス孔(図示せず)にビス止めする。このような供試コネクタ210と治具320との組立体を得ることで、同軸コネクタ開口部構造を得ることができる。尚、貫通孔321の径は、供試コネクタ210の誘電体層の部分14Aを挿入できる大きさ、即ち、供試コネクタ210と同軸インピーダンス整合をとり得る大きさである。また、治具320の外形は、供試コネクタ210をビス止めできる大きさであり、治具320の厚さt(図14参照)は、同軸コネクタ開口部構造を形成することができる厚さ、あるいはそれ以上の厚さである。
Then, the
実施例5にあっては、上述の組立体における治具320の接続部322に第2のコネクタ340の先端部を挿入すると、治具320の割り溝部327に設けられた凸部(突起部)326が第2のコネクタ340の外側導体45に設けられた凹部346と係合することで、治具320と第2のコネクタ340とが接続される。また、実施例4と同様にして、供試コネクタ210と第1のコネクタ230とが接続される。
In the fifth embodiment, when the distal end portion of the
こうして、供試コネクタ210の中心導体11の一端13を第1のコネクタ230に接続し、供試コネクタ210の外側導体15によって覆われていない中心導体11の他端側に位置する誘電体層の部分14Aを治具320の貫通孔321に挿入し、且つ、供試コネクタ210の外側導体15と治具320とを接触させ、且つ、治具320の接続部322と第2のコネクタ340とを接続することで供試コネクタ210の中心導体11の他端12を第2のコネクタ340に接続した状態を得ることができる。
In this way, one
より具体的には、供試コネクタ210に設けられた空間(凹部)218内に第1のコネクタ230を構成する外側導体35が格納された状態で、且つ、第1のコネクタ230を構成する中心導体31の突出部32と供試コネクタ210を構成する中心導体11の一端13とが接続(嵌合)した状態で、且つ、第1のコネクタ230を構成する外側導体35と供試コネクタ210を構成する外側導体15とが接触した状態で、第1のコネクタ230と供試コネクタ210とは接続される。一方、治具320に設けられた接続部222内に第2のコネクタ340を構成する外側導体45が格納された状態で、且つ、第2のコネクタ340を構成する中心導体41の一端43と供試コネクタ210を構成する中心導体11の他端12とが接続(嵌合)した状態で、且つ、第2のコネクタ340を構成する外側導体45と供試コネクタ210を構成する外側導体15とが治具320を介して電気的に接続された状態で、第2のコネクタ340と供試コネクタ210とは接続される。
More specifically, the
その後、治具320を接地して、特性測定装置50によって供試コネクタ210の特性測定を行う。具体的には、特性測定装置50によって供試コネクタ210の反射係数や通過損失等の高周波データの採取を行うことができる。尚、予め、第1のコネクタ230と終端器とを接続して特性測定装置50の校正を行い、第2のコネクタ340と終端器とを接続して特性測定装置50の校正を行っておく。
Thereafter, the
実施例5においても、治具320を用いることで、特性測定装置50の校正を行った状態から、供試コネクタ210以外の接続部品の特性を測定することなく、直接、供試コネクタ210単体の反射係数,通過損失等の高周波特性を正確に測定することが可能となる。
Also in the fifth embodiment, by using the
以上、本発明を好ましい実施例に基づき説明したが、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。実施例にて説明した治具、供試コネクタ、第1のコネクタ、第2のコネクタの構造、構成は例示であり、適宜変更することができるし、これらを構成する材料、材質、表面処理等も例示であり、適宜変更することができる。 As mentioned above, although this invention was demonstrated based on the preferable Example, this invention is not limited to these Examples. The structures and configurations of the jig, the test connector, the first connector, and the second connector described in the examples are examples, and can be changed as appropriate, and materials, materials, surface treatments, and the like that configure these components Is also an example, and can be changed as appropriate.
供試コネクタの形式[プラグ型であるか、ジャック型であるか]、供試コネクタを構成する中心導体の一端及び他端の構成[オス形状を有するか、メス形状を有するか]も、実施例に示した例に限定されるものではない。供試コネクタの形式、供試コネクタを構成する中心導体の一端及び他端の構成、並びに、供試コネクタと接続すべき第1及び第2のコネクタの形式、第1及び第2のコネクタを構成する中心導体の一端及び他端の構成の組合せを、以下の、表1及び表2に示す。ここで、実施例1、実施例2、実施例3、実施例3の変形例、実施例4、実施例5は、それぞれ、表1及び表2中の「ケース−3」、「ケース−15」、「ケース−2」、「ケース−14」、「ケース−12」、「ケース−11」に該当する。 Implementation of test connector type [plug type or jack type], configuration of one end and the other end of the central conductor constituting the test connector [whether it has a male shape or a female shape] It is not limited to the example shown in the example. Type of test connector, configuration of one end and the other end of the central conductor constituting the test connector, type of first and second connectors to be connected to the test connector, and configuration of the first and second connectors Tables 1 and 2 below show combinations of the configurations of one end and the other end of the central conductor. Here, the modified example of Example 1, Example 2, Example 3, Example 3, Example 4, and Example 5 are “Case-3” and “Case-15” in Tables 1 and 2, respectively. ”,“ Case-2 ”,“ Case-14 ”,“ Case-12 ”, and“ Case-11 ”.
供試コネクタの治具への取付けは、ビス止めが一般的であるが、半田付け等の他の取付け方法を採用してもよい。また、実施例1〜実施例3における供試コネクタと第2のコネクタとの締め付けは、代替的に、トルクレンチとスパナを用いて行ってもよいし、持ち易さや滑り止め等を考慮して、治具の外周部にローレットを設けてもよいし、治具の外周部の形状を六角形状やHカット形状(対称に位置する円の2カ所を切り欠いた形状)とすることもできる。 Screw attachment is generally used for attaching the test connector to the jig, but other attachment methods such as soldering may be employed. In addition, tightening of the connector under test and the second connector in Examples 1 to 3 may be performed alternatively using a torque wrench and a spanner, and in consideration of easiness to hold and slip prevention. A knurl may be provided on the outer peripheral portion of the jig, and the shape of the outer peripheral portion of the jig may be a hexagonal shape or an H-cut shape (a shape obtained by cutting out two symmetrically located circles).
10,70,70A,210・・・供試コネクタ、11,71・・・中心導体、12,72,72A・・・供試コネクタの中心導体の他端、13,73・・・供試コネクタの中心導体の一端、14,74・・・誘電体層、14A,14B,74A,74B・・・誘電体層の部分、15,75・・・外側導体、15A,75A・・・フランジ部、16,76・・・螺合部、18,78,218・・・空間、19,79・・・ビス、20,120,220・・・治具、21,121,221・・・貫通孔、22,122,222・・・接続部、23,123・・・螺合部、223・・・凹部、224・・・誘電体層、24・・・孔部、25・・・ビス孔、27・・・差込ピン、30,230・・・第1のコネクタ、31・・・中心導体、32・・・突出部、34・・・誘電体層、35・・・外側導体、36・・・螺合部、37・・・カップリング、37A,・・・リング、37B・・・樹脂材料、39・・・第1のケーブル、40,240・・・第2のコネクタ、41・・・中心導体、43・・・中心導体の一端、44・・・誘電体層、45・・・外側導体、46・・・螺合部、48,248・・・空間(凹部)、49・・・第2のケーブル、50・・・特性測定装置、77・・・カップリング、77A,・・・リング、77B・・・樹脂材料、236・・・凹部、216,246・・・凸部(突起部)、217,247・・・割り溝部、219,249・・・リング
10, 70, 70A, 210 ... test connector, 11, 71 ... center conductor, 12, 72, 72A ... the other end of the center conductor of the test connector, 13, 73 ... test connector One end of the central conductor, 14, 74 ... dielectric layer, 14A, 14B, 74A, 74B ... dielectric layer portion, 15, 75 ... outer conductor, 15A, 75A ... flange portion, 16, 76 ... screwing part, 18, 78, 218 ... space, 19, 79 ... screw, 20, 120, 220 ... jig, 21, 121, 221 ... through hole, 22, 122, 222... Connection part, 23, 123... Threaded part, 223... Concave part, 224... Dielectric layer, 24. ... Inserting pins, 30, 230 ... First connector, 31 ... Center conductor, 32 ... Projection, 34 ... dielectric layer, 35 ... outer conductor, 36 ... screwing part, 37 ... coupling, 37A, ... ring, 37B ... resin material, 39 ...
Claims (10)
(a)中心導体、
(b)中心導体を覆う誘電体層、及び、
(c)中心導体の一端側に位置する誘電体層の部分を覆う外側導体、
から成る供試コネクタの特性測定を、供試コネクタの中心導体の一端を第1のコネクタに接続し、供試コネクタの中心導体の他端を第2のコネクタに接続した状態で行う際に使用される、導電材料から成る治具であって、
(A)外側導体によって覆われていない中心導体の他端側に位置する誘電体層の部分が挿入される貫通孔、及び、
(B)第2のコネクタが接続される接続部、
を備えていることを特徴とするコネクタの特性測定に使用される治具。 Using a characteristic measuring device comprising a first connector and a second connector;
(A) center conductor,
(B) a dielectric layer covering the central conductor, and
(C) an outer conductor covering a portion of the dielectric layer located on one end side of the central conductor;
Used when measuring the characteristics of the connector under test with one end of the center conductor of the connector under test connected to the first connector and the other end of the center conductor of the connector under test connected to the second connector A jig made of a conductive material,
(A) a through hole into which a portion of the dielectric layer located on the other end side of the central conductor not covered by the outer conductor is inserted, and
(B) a connecting portion to which the second connector is connected;
A jig used for measuring the characteristics of a connector.
治具の軸線と直角方向における接続部の断面形状は、貫通孔と同心の円形であり、
接続部の内面には、第2のコネクタと螺合する螺合部が設けられていることを特徴とする請求項1に記載のコネクタの特性測定に使用される治具。 The cross-sectional shape of the through hole in the direction perpendicular to the axis of the jig is circular,
The cross-sectional shape of the connecting portion in the direction perpendicular to the axis of the jig is a circle concentric with the through hole,
2. The jig used for measuring connector characteristics according to claim 1, wherein an inner surface of the connecting portion is provided with a screwing portion to be screwed with the second connector.
治具の軸線と直角方向における接続部の断面形状は、貫通孔と同心の円形であり、
接続部の外面には、第2のコネクタと螺合する螺合部が設けられていることを特徴とする請求項1に記載のコネクタの特性測定に使用される治具。 The cross-sectional shape of the through hole in the direction perpendicular to the axis of the jig is circular,
The cross-sectional shape of the connecting portion in the direction perpendicular to the axis of the jig is a circle concentric with the through hole,
The jig used for the connector characteristic measurement according to claim 1, wherein a screwing portion to be screwed with the second connector is provided on an outer surface of the connection portion.
治具の軸線と直角方向における接続部の断面形状は、貫通孔と同心の円形であり、
接続部の外面には、第2のコネクタと係合する凹部が設けられていることを特徴とする請求項1に記載のコネクタの特性測定に使用される治具。 The cross-sectional shape of the through hole in the direction perpendicular to the axis of the jig is circular,
The cross-sectional shape of the connecting portion in the direction perpendicular to the axis of the jig is a circle concentric with the through hole,
The jig used for connector characteristic measurement according to claim 1, wherein a concave portion that engages with the second connector is provided on an outer surface of the connection portion.
治具の軸線と直角方向における接続部の断面形状は、貫通孔と同心の円形であり、
接続部の内面には、第2のコネクタと係合する凸部が設けられていることを特徴とする請求項1に記載のコネクタの特性測定に使用される治具。 The cross-sectional shape of the through hole in the direction perpendicular to the axis of the jig is circular,
The cross-sectional shape of the connecting portion in the direction perpendicular to the axis of the jig is a circle concentric with the through hole,
The jig used for measuring the characteristics of the connector according to claim 1, wherein a convex portion that engages with the second connector is provided on an inner surface of the connection portion.
(a)中心導体、
(b)中心導体を覆う誘電体層、及び、
(c)中心導体の一端側に位置する誘電体層の部分を覆う外側導体、
から成る供試コネクタの特性測定を、
(A)外側導体によって覆われていない中心導体の他端側に位置する誘電体層の部分が挿入される貫通孔、及び、
(B)第2のコネクタが接続される接続部、
を備えている、導電材料から成る治具を使用して行うコネクタの特性測定方法であって、
供試コネクタの中心導体の一端を第1のコネクタに接続し、供試コネクタの外側導体によって覆われていない中心導体の他端側に位置する誘電体層の部分を治具の貫通孔に挿入し、且つ、供試コネクタの外側導体と治具とを接触させ、且つ、治具の接続部と第2のコネクタとを接続することで供試コネクタの中心導体の他端を第2のコネクタに接続した状態で、治具を接地して供試コネクタの特性測定を行うことを特徴とするコネクタの特性測定方法。 Using a characteristic measuring device comprising a first connector and a second connector;
(A) center conductor,
(B) a dielectric layer covering the central conductor, and
(C) an outer conductor covering a portion of the dielectric layer located on one end side of the central conductor;
Measure the characteristics of the connector under test
(A) a through hole into which a portion of the dielectric layer located on the other end side of the central conductor not covered by the outer conductor is inserted, and
(B) a connecting portion to which the second connector is connected;
A connector characteristic measurement method using a jig made of a conductive material, comprising:
Connect one end of the center conductor of the test connector to the first connector, and insert the part of the dielectric layer located on the other end of the center conductor that is not covered by the outer conductor of the test connector into the through hole of the jig The outer conductor of the test connector and the jig are brought into contact with each other, and the other end of the central conductor of the test connector is connected to the second connector by connecting the connecting portion of the jig and the second connector. A connector characteristic measurement method comprising: measuring a characteristic of a test connector by grounding a jig while connected to the connector.
治具の軸線と直角方向における接続部の断面形状は、貫通孔と同心の円形であり、
接続部の内面には、第2のコネクタと螺合する螺合部が設けられていることを特徴とする請求項6に記載のコネクタの特性測定方法。 The cross-sectional shape of the through hole in the direction perpendicular to the axis of the jig is circular,
The cross-sectional shape of the connecting portion in the direction perpendicular to the axis of the jig is a circle concentric with the through hole,
The connector characteristic measuring method according to claim 6, wherein a screwing portion to be screwed with the second connector is provided on an inner surface of the connection portion.
治具の軸線と直角方向における接続部の断面形状は、貫通孔と同心の円形であり、
接続部の外面には、第2のコネクタと螺合する螺合部が設けられていることを特徴とする請求項6に記載のコネクタの特性測定方法。 The cross-sectional shape of the through hole in the direction perpendicular to the axis of the jig is circular,
The cross-sectional shape of the connecting portion in the direction perpendicular to the axis of the jig is a circle concentric with the through hole,
The connector characteristic measuring method according to claim 6, wherein a screwing portion to be screwed with the second connector is provided on an outer surface of the connection portion.
治具の軸線と直角方向における接続部の断面形状は、貫通孔と同心の円形であり、
接続部の外面には、第2のコネクタと係合する凹部が設けられていることを特徴とする請求項6に記載のコネクタの特性測定方法。 The cross-sectional shape of the through hole in the direction perpendicular to the axis of the jig is circular,
The cross-sectional shape of the connecting portion in the direction perpendicular to the axis of the jig is a circle concentric with the through hole,
The connector characteristic measuring method according to claim 6, wherein a concave portion that engages with the second connector is provided on an outer surface of the connecting portion.
治具の軸線と直角方向における接続部の断面形状は、貫通孔と同心の円形であり、
接続部の内面には、第2のコネクタと係合する凸部が設けられていることを特徴とする請求項6に記載のコネクタの特性測定方法。
The cross-sectional shape of the through hole in the direction perpendicular to the axis of the jig is circular,
The cross-sectional shape of the connecting portion in the direction perpendicular to the axis of the jig is a circle concentric with the through hole,
7. The connector characteristic measuring method according to claim 6, wherein a convex portion that engages with the second connector is provided on an inner surface of the connection portion.
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