JP2005215030A - Measuring method for driving circuit - Google Patents

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Shan-Hung Tsai
善宏 蔡
Ming-Hsien Sun
銘賢 孫
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a measuring method for a driving circuit, which determines whether all circuit elements in a scan line driving circuit and a data line driving circuit are good. <P>SOLUTION: The driving circuit including the scan line driving circuit and the data line driving circuit drives a display. The display includes a plurality of scan lines and a plurality of data lines and in the measuring method in which a starting edge of each scan line is connected to the scan line driving circuit and a starting edge of each data line is connected to the data line driving circuit, firstly, the scan line and the data line are connected to a first test pad and a second test pad respectively and secondly, a first test signal and a second test signal are transmitted to an input edge of the scan line driving circuit and an input edge of the data line driving circuit respectively and thereafter, measuring is performed at the first test pad and the second test pad respectively and it is determined whether all circuit elements in the scan line driving circuit and the data line driving circuit are good. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

この発明は、駆動回路の測量方法に関し、特に、駆動回路における全エレメントが良好であるかどうかを測量することができる駆動回路の測量方法に関する。   The present invention relates to a surveying method for a drive circuit, and more particularly to a surveying method for a drive circuit capable of surveying whether all elements in the drive circuit are good.

人類が最も早く目にした動態影像は、ドキュメンタリー映画であったその後、陰極線管（Cathode Ray Tube, ＣＲＴ）の発明が商業化テレビの拡大に成功し、どの家庭にもなくてはならない家電用品となったまた、科学技術が発展するにつれて、ＣＲＴの応用はコンピューター産業におけるデスクトップモニターにまで広がり、数十年もの間にわたりＣＲＴを主流させたところが、ＣＲＴが作り出す各類型のディスプレーは全て輻射線の問題に直面し、さらに内部電子銃の構成のためにディスプレーの体積が大きく、置く場所を必要とするため、薄型および軽量化の点において不利であった。   The dynamic image that humankind first saw was a documentary film. After that, the invention of the Cathode Ray Tube (CRT) succeeded in expanding commercial television, and household appliances that are indispensable to every household. In addition, as science and technology have developed, CRT applications have spread to desktop monitors in the computer industry, and CRTs have become mainstream for decades, but all types of displays produced by CRTs are a problem of radiation. In addition, the volume of the display is large due to the configuration of the internal electron gun, and a place to put it is required, which is disadvantageous in terms of thinness and weight reduction.

上記課題を解決するため、いわゆる平面型ディスプレー（Flat Panel Display）が研究者により開発されたこの領域は、液晶ディスプレー（Liquid Crystal Display、ＬＣＤ）、電界放射ディスプレー（Field Emission Display、ＦＥＤ）、有機発光ダイオード（Organic Light Emitting Diode、ＯＬＥＤ）、およびプラズマディスプレー（Plasma Display Panel、ＰＤＰ）を含むそのうち、液晶ディスプレーは、薄型化、軽量化、および小中大型化等の特性を備えているだけでなく、現代および新世代の携帯式無線通信およびインターネット技術に符合しており、最も注目されている。   In order to solve the above problems, so-called flat panel displays have been developed by researchers. This area includes liquid crystal displays (LCDs), field emission displays (FEDs), and organic light emission. Among them, which include diodes (Organic Light Emitting Diodes, OLEDs) and plasma displays (Plasma Display Panels, PDPs), liquid crystal displays not only have characteristics such as thinner, lighter, smaller, medium, and large sizes. It is in line with modern and new generation portable wireless communication and internet technology and has received the most attention.

薄膜トランジスター（Thin Film Transistor、ＴＦＴ）ＬＣＤは、材料によって非結晶ケイ素ＬＣＤおよび多結晶ケイ素ＬＣＤの大きく二種類に区分することができる近年来、さらに低温多結晶ケイ素（ＬＴＰＳ）ＬＣＤの開発に成功している現在のＬＴＰＳ−ＬＣＤでは、駆動回路が画素の外部に設置されているため、駆動回路における全てのエレメントが良好であるかどうかをどのようにして測量するかが、重要な課題となった。   Thin film transistor (TFT) LCDs can be roughly divided into two types, amorphous silicon LCDs and polycrystalline silicon LCDs, depending on the materials. In recent years, we have succeeded in developing low-temperature polycrystalline silicon (LTPS) LCDs. In the current LTPS-LCD, the driving circuit is installed outside the pixel, so how to measure whether all elements in the driving circuit are good has become an important issue. .

続いて図1において、周知の駆動回路の測量方法を使用した画素配列および駆動回路を示す図1からわかるように、駆動回路は、走査ライン駆動回路１０２およびデータライン駆動回路１０４を含み、画素配列１０６は、複数の走査ライン１０８、複数のデータライン１１０、およびプリチャージ回路１１２を含むそのうち、走査ライン駆動回路１０２は、シフトレジスター（１１４、１１６）、ゲート１１８およびバッファ回路（図示せず）を含み、データライン駆動回路１０４は、シフトレジスター（１２０、１２２、１２４）、位相配置回路（Phase Arrangement Circuit、ＰＡＣ）１２６、ゲート１２８、およびレベルスイッチ１３０を含む。   Subsequently, in FIG. 1, as can be seen from FIG. 1, which shows a pixel arrangement and driving circuit using a well-known driving circuit surveying method, the driving circuit includes a scanning line driving circuit 102 and a data line driving circuit 104. 106 includes a plurality of scan lines 108, a plurality of data lines 110, and a precharge circuit 112. Of these, the scan line driving circuit 102 includes a shift register (114, 116), a gate 118, and a buffer circuit (not shown). The data line driving circuit 104 includes a shift register (120, 122, 124), a phase arrangement circuit (PAC) 126, a gate 128, and a level switch 130.

続いて、図1により周知の駆動回路の測量方法について説明する走査ライン駆動回路１０２は、パルス信号を走査ライン駆動回路１０２の入力端（シフトレジスター１１４の入力端）へ伝送し、それから走査ライン駆動回路１０２の出力端（シフトレジスター１１６の出力端）において測量するシフトレジスター１１６の出力端において出力信号まで測量する場合は、走査ライン駆動回路１０２が良好であることを示し、シフトレジスター１１６の出力端において出力信号まで測量しない場合は、走査ライン駆動回路１０２が損傷していることを示す同様にして、データライン駆動回路１０４は、パルス信号をデータライン駆動回路１０４の入力端（シフトレジスター１２０の入力端）へ伝送し、それからデータライン駆動回路１０４の出力端（シフトレジスター１２４の出力端）において測量するシフトレジスター１２４の出力端において出力信号まで測量する場合は、データライン駆動回路１０４が良好であることを示し、シフトレジスター１２４の出力端において出力信号まで測量しない場合は、データライン駆動回路１０４が損傷していることを示す上述の説明からわかるように、周知の駆動回路の測量方法は少なくとも以下の欠点を有する：
（１）走査ライン駆動回路１０２およびデータライン駆動回路１０４のテスト結果が良好であるとき、走査ライン駆動回路１０２およびデータライン駆動回路１０４におけるシフトレジスター（１１４−１１６、１２０−１２４）が良好であることを示すが、走査ライン駆動回路１０２およびデータライン駆動回路１０４におけるその他の回路エレメントが全て良好であることを保証することはできない。
（２）走査ライン駆動回路１０２およびデータライン駆動回路１０４のテスト結果が良好でないとき、走査ライン駆動回路１０２およびデータライン駆動回路１０４におけるどの回路エレメントが損傷しているかを知ることはできない。
（３）周知の駆動回路の測量方法は、駆動回路の全ての回路エレメントを測量できないため、画素におけるテストときに、未知の線欠陥や点欠陥が多数存在する。 Subsequently, the scanning line driving circuit 102, which explains a well-known driving circuit surveying method with reference to FIG. 1, transmits a pulse signal to the input terminal of the scanning line driving circuit 102 (the input terminal of the shift register 114), and then scan line driving. When measuring up to the output signal at the output end of the shift register 116 that measures at the output end of the circuit 102 (the output end of the shift register 116), it indicates that the scanning line driving circuit 102 is good, and the output end of the shift register 116 In the case where the output signal is not surveyed, the data line driving circuit 104 outputs the pulse signal to the input terminal of the data line driving circuit 104 (the input of the shift register 120) in the same manner, indicating that the scanning line driving circuit 102 is damaged. End) and then the output end of the data line driving circuit 104 When surveying up to the output signal at the output end of the shift register 124 that surveys at the (output end of the shift register 124), it indicates that the data line driving circuit 104 is good, and surveys up to the output signal at the output end of the shift register 124. If not, as can be seen from the above description indicating that the data line drive circuit 104 is damaged, the known drive circuit surveying method has at least the following disadvantages:
(1) When the test results of the scanning line driving circuit 102 and the data line driving circuit 104 are good, the shift registers (114-116, 120-124) in the scanning line driving circuit 102 and the data line driving circuit 104 are good. However, it cannot be guaranteed that all other circuit elements in the scan line driving circuit 102 and the data line driving circuit 104 are good.
(2) When the test results of the scanning line driving circuit 102 and the data line driving circuit 104 are not good, it is impossible to know which circuit element in the scanning line driving circuit 102 and the data line driving circuit 104 is damaged.
(3) Since the well-known driving circuit surveying method cannot survey all circuit elements of the driving circuit, there are many unknown line defects and point defects when testing in pixels.

この発明が提供する駆動回路の測量方法は、それぞれの走査ラインおよびそれぞれのデータラインがそれぞれ第一テストパッドおよび第二テストパッドに接続され、続いて、第一テスト信号および第二テスト信号をそれぞれ走査ライン駆動回路の入力端およびデータライン駆動回路の入力端へ伝送するその後、それぞれ第一テストパッドおよび第二テストパッドにおいて測量を行うことにより、走査ライン駆動回路およびデータライン駆動回路における全ての回路エレメントが良好であるかどうかを知ることができる。   According to the driving circuit surveying method provided by the present invention, each scanning line and each data line are connected to the first test pad and the second test pad, respectively, and then the first test signal and the second test signal are respectively sent. All the circuits in the scanning line driving circuit and the data line driving circuit are transmitted to the input terminal of the scanning line driving circuit and the input terminal of the data line driving circuit and then surveyed in the first test pad and the second test pad, respectively. You can know if the element is good.

この発明は、上記およびその他の目的を達成するための駆動回路の測量方法を提供するこの駆動回路は、走査ライン駆動回路およびデータライン駆動回路を備え、ディスプレーを駆動させるこのディスプレーは、複数の走査ラインおよび複数のデータラインを備えるそのうち、それぞれの走査ラインの開始端は走査ライン駆動回路に接続し、それぞれのデータラインの開始端はデータライン駆動回路に接続するこの測量方法において、まず、それぞれの走査ラインおよびそれぞれのデータラインは第一テストパッドおよび第二テストパッドにそれぞれ接続される続いて、第一テスト信号および第二テスト信号をそれぞれ走査ライン駆動回路の入力端およびデータライン駆動回路の入力端に伝送し、そのうち第一テスト信号は走査ライン駆動回路およびそれぞれの走査ラインを通過して、第一テストパッドへ伝送され、第二テスト信号はデータライン駆動回路およびそれぞれのデータラインを通過して、第二テストパッドへ伝送されるその後、第一テストパッドおよび第二テストパッドにおいてそれぞれ測量を行う。   The present invention provides a drive circuit surveying method to achieve the above and other objects. The drive circuit comprises a scan line drive circuit and a data line drive circuit, the display driving the display comprising a plurality of scans. In this surveying method, the first end of each scanning line is connected to the scanning line driving circuit, and the starting end of each data line is connected to the data line driving circuit. The scan line and the respective data line are connected to the first test pad and the second test pad, respectively, and then the first test signal and the second test signal are input to the input terminal of the scan line driving circuit and the input of the data line driving circuit, respectively. Of which the first test signal is the scan line drive circuit. And the second test signal is transmitted to the first test pad through the respective scan lines, and the second test signal is transmitted to the second test pad through the data line driving circuit and the respective data lines. Surveying is performed on the pad and the second test pad, respectively.

この発明にかかる実施例において、それぞれの走査ラインが回路に直接に接続されていないときにはダイオードを介して回路に接続されるこのダイオードは、それぞれの走査ラインと第一テストパッドとの間に設置されるさらに、このダイオードの正極はそれぞれの走査ラインに接続され、このダイオードの負極は第一テストパッドに接続される。   In an embodiment according to the present invention, when each scan line is not directly connected to the circuit, this diode connected to the circuit via a diode is placed between each scan line and the first test pad. Further, the positive electrode of the diode is connected to each scanning line, and the negative electrode of the diode is connected to the first test pad.

この発明にかかる好適な実施例において、それぞれの走査ラインが回路に直接に接続されているとき、この回路の一端は第一テストパッドに接続される。   In the preferred embodiment of the present invention, one end of the circuit is connected to the first test pad when each scan line is directly connected to the circuit.

この発明にかかる実施例において、それぞれのデータラインが回路に直接に接続されていないときにはダイオードを介して回路に接続されるこのダイオードはそれぞれのデータラインと第二テストパッドとの間に設置されるさらに、このダイオードの正極はそれぞれのデータラインに接続され、このダイオードの負極は第二テストパッドに接続される。   In an embodiment according to the present invention, when each data line is not directly connected to the circuit, this diode connected to the circuit via a diode is placed between each data line and the second test pad. Furthermore, the positive electrode of this diode is connected to the respective data line, and the negative electrode of this diode is connected to the second test pad.

この発明にかかる好適な実施例において、それぞれのデータラインが回路に直接に接続されているとき、この回路の一端は第二テストパッドに接続される。   In the preferred embodiment of the invention, when each data line is directly connected to the circuit, one end of the circuit is connected to the second test pad.

この発明にかかる好適な実施例において、第一テストパッドおよび第二テストパッドにおける電流を測量するときは電流計を使用して測量し、第一テストパッドおよび第二テストパッドにおける電圧を測量するときは電圧計を使用して測量する。   In a preferred embodiment of the present invention, when measuring the current at the first test pad and the second test pad, the current is measured using an ammeter, and when measuring the voltage at the first test pad and the second test pad. Survey using a voltmeter.

この発明にかかる好適な実施例において、第一テスト信号および第二テスト信号は、パルス信号、電圧信号或いは電流信号である。   In a preferred embodiment according to the present invention, the first test signal and the second test signal are pulse signals, voltage signals, or current signals.

この発明にかかる好適な実施例において、ディスプレーは液晶ディスプレーである。   In the preferred embodiment of the invention, the display is a liquid crystal display.

以上のように、この発明は駆動回路の測量方法について提供するこの発明において、それぞれの走査ラインおよびそれぞれのデータラインは第一テストパッドおよび第二テストパッドにそれぞれ接続される続いて、第一テスト信号および第二テスト信号を前記走査ライン駆動回路の入力端および前記データライン駆動回路の入力端にそれぞれ伝送するその後、第一テストパッドおよび第二テストパッドにおいてそれぞれ測量を行い、走査ライン駆動回路およびデータライン駆動回路における全ての回路エレメントが良好であるかどうかを知ることができる。   As described above, the present invention provides a surveying method for a driving circuit. In the present invention, each scan line and each data line are connected to the first test pad and the second test pad, respectively, and then the first test. A signal and a second test signal are respectively transmitted to an input terminal of the scan line driving circuit and an input terminal of the data line driving circuit, and then surveying is performed at the first test pad and the second test pad, respectively, It can be known whether all circuit elements in the data line driving circuit are good or not.

この発明の上記およびその他の目的、特徴および長所を明確に理解してもらうため、以下により好適な実施例ならびに図面を示し、詳細を説明する。   In order to provide a clear understanding of the above and other objects, features and advantages of the present invention, a more preferred embodiment and drawings are shown and described in detail below.

図２において、この発明にかかる好適な実施例により駆動回路の測量方法を使用した画素配列および駆動回路を図示する図２からわかるように、駆動回路は走査ライン駆動回路２０２およびデータライン駆動回路２０４を含んでディスプレー（例えば液晶ディスプレー）を駆動するさらにディスプレーにおいて画素配列２０６を備え、画素配列２０６は複数の走査ライン２０８、複数のデータライン２１０、およびプリチャージ回路２１２を含むそのうち、走査ライン駆動回路２０２はシフトレジスター（２１４、２１６）、ゲート２１８およびバッファ回路（図示せず）を含むデータライン駆動回路２０４はシフトレジスター（２２０、２２２、２２４）、位相配置回路２２６、ゲート２２８、レベルスイッチ２３０を含むこの他、それぞれの走査ライン２０８の開始端は走査ライン駆動回路２０２に接続され、それぞれのデータライン２１０の開始端はデータライン駆動回路２０４に接続される。   In FIG. 2, as can be seen from FIG. 2, which illustrates a pixel array and a driving circuit using a driving circuit surveying method according to a preferred embodiment of the present invention, the driving circuit includes a scanning line driving circuit 202 and a data line driving circuit 204. The display further includes a pixel array 206 for driving a display (for example, a liquid crystal display), and the pixel array 206 includes a plurality of scan lines 208, a plurality of data lines 210, and a precharge circuit 212, of which a scan line driving circuit The data line driving circuit 204 includes a shift register (214, 216), a gate 218 and a buffer circuit (not shown). The data line driving circuit 204 includes a shift register (220, 222, 224), a phase placement circuit 226, a gate 228, and a level switch 230. Including this, other The starting end of the scan lines 208 are connected to the scanning line drive circuit 202, the start end of each data line 210 is connected to the data line driving circuit 204.

続いて、図２によりこの発明の駆動回路の測量方法を説明するこの測量方法において、まずそれぞれの走査ラインおよびそれぞれのデータラインは第一テストパッドおよび第二テストパッドにそれぞれ接続される走査ラインにおいて、それぞれの走査ラインが回路に直接に接続されていないときにはダイオードを介して回路に接続されるすなわちこのダイオードはそれぞれの走査ラインと第一テストパッドとの間に設置され、このダイオードの正極はそれぞれの走査ラインに接続され、このダイオードの負極は第一テストパッドに接続されるさらに、それぞれの走査ラインが直接に回路に接続されているとき、この回路の一端は第一テストパッドに接続されるデータラインにおいて、それぞれのデータラインが回路に直接に接続されていないときにはダイオードを介して回路に接続されるすなわち、このダイオードはそれぞれのデータラインと第二テストパッドとの間に設置され、このダイオードの正極はそれぞれのデータラインに接続され、このダイオードの負極は第二テストパッドに接続されるそれぞれのデータラインが回路に直接に接続されているとき、この回路の一端は第二テストパッドに接続される図２において、それぞれの走査ライン２０８は回路に直接に接続されていないため、それぞれの走査ライン２０８はダイオード２３２を介して、テストパッド２３４に接続されるさらに、それぞれの走査ライン２０８は既にプリチャージ回路２１２に接続されているため、プリチャージ回路２１２のドレインはレベルスイッチ２３０を介して、テストパッド２３６に接続されるこの他、当該分野の技術に習熟する技術者にとって周知のことであるが、第２図は走査ライン、データライン、およびテストパッドの連接方式のほんの１例であり、本発明に限定して使用するものではない。   Next, in this surveying method for explaining the surveying method of the drive circuit of the present invention with reference to FIG. 2, first, each scanning line and each data line are in a scanning line connected to the first test pad and the second test pad, respectively. When each scan line is not directly connected to the circuit, it is connected to the circuit via a diode, that is, this diode is placed between each scan line and the first test pad, and the positive electrode of this diode is respectively The negative electrode of this diode is connected to the first test pad. Further, when each scan line is directly connected to the circuit, one end of this circuit is connected to the first test pad. For data lines, each data line is not directly connected to the circuit Is connected to the circuit via a diode, i.e. the diode is placed between the respective data line and the second test pad, the positive electrode of the diode being connected to the respective data line and the negative electrode of the diode. When each data line connected to the second test pad is directly connected to the circuit, one end of this circuit is connected to the second test pad in FIG. 2, and each scan line 208 is directly connected to the circuit. Since each scan line 208 is connected to the test pad 234 via the diode 232 and each scan line 208 is already connected to the precharge circuit 212, the precharge circuit 212 is connected to the precharge circuit 212. Is connected to the test pad 236 via the level switch 230. As is well known to those skilled in the art, FIG. 2 is just one example of a scanning line, data line, and test pad connection system, and is limited to the present invention. Not for use.

続いて、テスト信号２３８およびテスト信号２４０を走査ライン駆動回路２０２の入力端（すなわちシフトレジスター２１４の入力端）およびデータライン駆動回路２０４の入力端（すなわちシフトレジスター２２０の入力端）にそれぞれ伝送するそのうち、テスト信号２３８は走査ライン駆動回路２０２およびそれぞれの走査ライン２０８を介して、テストパッド２３４へ伝送されるテスト信号２４０はデータライン駆動回路２０４およびそれぞれのデータライン２１０を介して、テストパッド２３６へ伝送されるこの他、テスト信号２３８およびテスト信号２４０は、パルス信号、電圧信号あるいは電流信号である。   Subsequently, the test signal 238 and the test signal 240 are transmitted to the input terminal of the scanning line driving circuit 202 (that is, the input terminal of the shift register 214) and the input terminal of the data line driving circuit 204 (that is, the input terminal of the shift register 220), respectively. The test signal 238 is transmitted to the test pad 234 via the scan line driving circuit 202 and the respective scan lines 208, and the test signal 240 is transmitted to the test pad 236 via the data line drive circuit 204 and the respective data lines 210. In addition, the test signal 238 and the test signal 240 are pulse signals, voltage signals, or current signals.

その後、テストパッド２３４およびテストパッド２３６においてそれぞれ測量を行い、テストパッド２３４およびテストパッド２３６において測量した出力信号により走査ライン駆動回路２０２における全てのエレメントおよびデータライン駆動回路２０４における全てのエレメントが良好であるかどうかを知ることができるこの他、テストパッド２３４およびテストパッド２３６における電流を測量するときは、電流計を使用して測量するテストパッド２３４およびテストパッド２３６における電圧を測量するときは、電圧計を使用して測量する。   Thereafter, surveying is performed on the test pad 234 and the test pad 236, respectively, and all elements in the scanning line driving circuit 202 and all elements in the data line driving circuit 204 are good according to the output signals measured in the test pad 234 and the test pad 236. In addition to being able to know whether there is any, when measuring the current at the test pad 234 and the test pad 236, when measuring the voltage at the test pad 234 and the test pad 236 using an ammeter, Survey using a meter.

以上をまとめると、この発明の長所を以下の通り略述することができる。
（１）走査ライン駆動回路およびデータライン駆動回路における全ての回路エレメントが良好であるかどうかを測量することができる。
（２）走査ライン駆動回路およびデータライン駆動回路の測量結果が良好でないとき、走査ライン駆動回路およびデータライン駆動回路におけるどの回路エレメントが損傷しているかを知ることができるため、さらに多くの分析情報および修復情報を提供することができる。
（３）本発明は駆動回路における全ての回路エレメントが良好であるかどうかを測量することができるため、画素におけるテストときに、線欠陥あるいは点欠陥を知ることができる。 In summary, the advantages of the present invention can be outlined as follows.
(1) It is possible to measure whether all circuit elements in the scanning line driving circuit and the data line driving circuit are good.
(2) When the survey results of the scanning line driving circuit and the data line driving circuit are not good, it is possible to know which circuit elements in the scanning line driving circuit and the data line driving circuit are damaged, so that more analysis information can be obtained. And repair information can be provided.
(3) Since the present invention can measure whether all the circuit elements in the drive circuit are good, it is possible to know a line defect or a point defect at the time of a test in a pixel.

以上のごとく、この発明を好適な実施例により開示したが、もとより、この発明を限定するためのものではなく、当業者であれば容易に理解できるように、この発明の技術思想の範囲内において、適当な変更ならびに修正が当然なされうるものであるから、その特許権保護の範囲は、特許請求の範囲および、それと均等な領域を基準として定めなければならない。   As described above, the present invention has been disclosed in the preferred embodiments. However, the present invention is not intended to limit the present invention and is within the scope of the technical idea of the present invention so that those skilled in the art can easily understand. Since appropriate changes and modifications can be naturally made, the scope of protection of the patent right must be determined on the basis of the scope of claims and an area equivalent thereto.

以上のように、この発明にかかる駆動回路の測量方法では、それぞれの走査ラインおよびそれぞれのデータラインがそれぞれ第一テストパッドおよび第二テストパッドに接続され、続いて、第一テスト信号および第二テスト信号をそれぞれ前記走査ライン駆動回路の入力部分および前記データライン駆動回路の入力部分に伝送するその後、第一テストパッドおよび第二テストパッドにおいてそれぞれ測量を行い、走査ライン駆動回路およびデータライン駆動回路における全ての回路エレメントが良好であるかどうかを知ることができる。   As described above, in the surveying method of the drive circuit according to the present invention, each scanning line and each data line are connected to the first test pad and the second test pad, respectively, A test signal is transmitted to the input part of the scanning line driving circuit and the input part of the data line driving circuit, respectively, and then surveyed at the first test pad and the second test pad, respectively, and the scanning line driving circuit and the data line driving circuit It is possible to know whether all the circuit elements in are good.

周知の駆動回路の測量方法を使用した画素配列および駆動回路を示す図面である。1 is a diagram illustrating a pixel array and a driving circuit using a well-known driving circuit surveying method. この発明にかかる好適な実施例に基づき、駆動回路の測量方法を使用した画素配列および駆動回路を示す図面である。6 is a diagram illustrating a pixel array and a driving circuit using a driving circuit surveying method according to a preferred embodiment of the present invention.

符号の説明Explanation of symbols

１０２、２０２ 走査ライン駆動回路。
１０４、２０４ データライン駆動回路
１０６、２０６ 画素配列
１０８、２０８ 走査ライン
１１０、２１０ データライン
１１２、２１２ プリチャージ回路
１１４、１１６、１２０、１２２、１２４、２１４、２１６、２２０、２２２、２２４ シフトレジスター
１１８、１２８、２１８、２２８ ゲート
１２６、２２６ 位相配置回路
１３０、２３０ レベルスイッチ
２３２ ダイオード
２３４、２３６ テストパッド
２３８、２４０ テスト信号


102, 202 Scan line driving circuit.
104, 204 Data line driving circuit 106, 206 Pixel array 108, 208 Scan line 110, 210 Data line 112, 212 Precharge circuit 114, 116, 120, 122, 124, 214, 216, 220, 222, 224 Shift register 118 128, 218, 228 Gate 126, 226 Phase arrangement circuit 130, 230 Level switch 232 Diode 234, 236 Test pad 238, 240 Test signal


Claims (6)

ディスプレイを駆動するための走査ライン駆動回路およびデータライン駆動回路を含む駆動回路において、前記ディスプレーは、複数の走査ラインおよび複数のデータラインを含み、それぞれの前記走査ラインの開始端は前記走査ライン駆動回路に接続し、それぞれの前記データラインの開始端は前記データライン駆動回路に接続し、それぞれの前記走査ラインおよびそれぞれの前記データラインは、第一テストパッドおよび第二テストパッドにそれぞれ接続され、第一テスト信号および第二テスト信号を前記走査ライン駆動回路の入力端および前記データライン駆動回路の入力端へそれぞれ伝送して、そのうち前記第一テスト信号は前記走査ライン駆動回路およびそれぞれの前記走査ラインを介して、前記第一テストパッドへ伝送され、前記第二テスト信号は前記データライン駆動回路およびそれぞれの前記データラインを介して、前記第二テストパッドへ伝送され、前記第一テストパッドおよび前記第二テストパッドにおいてそれぞれ測量を行うことを特徴とする駆動回路の測量方法。 In a driving circuit including a scanning line driving circuit and a data line driving circuit for driving a display, the display includes a plurality of scanning lines and a plurality of data lines, and a start end of each scanning line is the scanning line driving A first end of each data line is connected to the data line driving circuit, each scan line and each data line are connected to a first test pad and a second test pad, respectively. A first test signal and a second test signal are transmitted to an input end of the scan line driving circuit and an input end of the data line driving circuit, respectively, and the first test signal is transmitted to the scan line driving circuit and each of the scans. Transmitted to the first test pad via the line The second test signal is transmitted to the second test pad via the data line driving circuit and the data line, and surveying is performed on the first test pad and the second test pad, respectively. Survey method of the drive circuit. それぞれの前記走査ラインが回路に直接に接続されていないときにはダイオードを介して前記回路に接続され、このダイオードは、それぞれの前記走査ラインと前記第一テストパッドとの間に設置される請求項1に記載の駆動回路の測量方法。 2. Each of the scan lines is connected to the circuit via a diode when not directly connected to the circuit, and the diode is placed between the scan line and the first test pad. Method for surveying the drive circuit described in 1. それぞれの前記走査ラインが回路に直接に接続されているとき、前記回路の一端は前記第一テストパッドに接続される請求項1に記載の駆動回路の測量方法。 2. The driving circuit surveying method according to claim 1, wherein one end of the circuit is connected to the first test pad when each of the scanning lines is directly connected to the circuit. それぞれの前記データラインが回路に直接に接続されていないときにはダイオードを介して前記回路に接続され、このダイオードは、それぞれの前記データラインと前記第二テストパッドとの間に設置される請求項1に記載の駆動回路の測量方法。 2. The data line is connected to the circuit via a diode when the data line is not directly connected to the circuit, and the diode is disposed between the data line and the second test pad. Method for surveying the drive circuit described in 1. それぞれの前記データラインが回路に直接に接続されているとき、前記回路の一端は前記第二テストパッドに接続される請求項1に記載の駆動回路の測量方法。 2. The driving circuit surveying method according to claim 1, wherein one end of the circuit is connected to the second test pad when each of the data lines is directly connected to the circuit. 前記第一テスト信号および前記第二テスト信号は、パルス信号、電圧信号あるいは電流信号である請求項1に記載の駆動回路の測量方法。

2. The driving circuit surveying method according to claim 1, wherein the first test signal and the second test signal are a pulse signal, a voltage signal, or a current signal.

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