JP2005195550A - 断熱材の特性評価方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 断熱材から作製した板状の測定試料11の表面の全面を、一定強度の熱流束に一定時間曝して均一に加熱したときの測定試料11の裏面温度を測定裏面温度として記録し、測定試料11の表面の全面を、一定強度の熱流束に一定時間曝して均一に加熱したときの測定試料11の裏面の理論裏面温度を、初期条件及び境界条件を考慮した非定常熱伝導方程式の解に基づいて算出して、測定裏面温度と理論裏面温度とを比較して断熱材の特性を求める。
【選択図】 図1
Description
定常法による熱伝導率の測定は絶対法と比較法に大別されるが、ここでは比較法の一例である平板比較法について説明する。平板比較法は、図11に示すように、熱伝導率を評価しようとする断熱材から作製した測定試料と熱伝導率が既知の標準試料とを重ね合わせ、両試料内に時間と共に変化しない、すなわち定常の温度勾配を実現させた後に(図11では、標準試料の上面を高温側、測定試料の下面を低温側になるように配置して温度勾配を形成している)、測定試料と標準試料の各上下面のそれぞれの温度T1 〜T3 を熱電対で測定し、(42)式及び(43)式により測定試料の熱伝導率を計算するものである。ここで、λは熱伝導率、lは試料の厚み、Tは温度を指し、添え字x 及びs はそれぞれ測定試料、標準試料を示す。なお、測定試料の上面と標準試料の下面は接触しているため同一温度としている。
しかし、この方法では、測定試料内と標準試料内にそれぞれ厚み方向に変化する温度勾配、すなわち一次元の温度勾配をつける必要があると共に、両試料において定常状態を実現させねばならない。このため、熱伝導率の測定に非常に長い時間を要すると同時に、測定に熟練も要するという問題点がある。この問題点は、特に高温領域において測定を行う際に顕著となる。
このため、平板比較法が適用できる現実的な温度の上限は、1000K程度となる。そこで、このような問題点を解決する測定方法として、非特許文献1に記載されているように、例えば、非定常細線法が提案されている。
熱線の温度上昇を測定する方法としては、図12に示すように、熱線に熱電対を固定して直接温度変化を測定する方法と、熱線の電気抵抗の変化から温度変化を求める方法がある。前者は局所的な温度を得るものであり、熱電対を伝わって逃げる熱をできるだけ少なくするために、熱電対の線径は熱線より細いものを選択する必要がある。一方、後者は熱線の平均的な温度を測定する方法であり、熱線には、例えば、白金のような電気抵抗の温度係数が大きい材料を使用する必要がある。
しかし、測定試料が固体材料のように温度上昇を大きく取らねばならない測定では、電気抵抗の温度係数が大きいと熱線の温度が変化するのに応じて発熱量が変化し、発熱の一様性が得られず測定誤差が発生する要因となる。
ステップ加熱法は、図13に示すように、高温材料から作製した測定試料の温度を測定温度で安定させた後、測定試料の表面を一定強さの熱流束に曝して測定試料の表面を一様に連続加熱し、そのときの測定試料の裏面の温度上昇を、例えば、熱電対で測定して、測定試料の裏面の温度変化より試料の熱拡散率を解析的に求める方法である。
図14に、測定試料の裏面の温度変化を無次元化して示した裏面温度上昇曲線の一例を示す。図14で、横軸は無次元化した時間を示すフーリエ数F0 である。ここで、フーリエ数F0 は、aを熱拡散率、lを測定試料の厚さ、tを時間としてat/l2 で表される。また、縦軸は無次元化した温度であり、qを熱流束、測定された測定試料の裏面温度をθ(0,t)として、θ(0,t)/(lq/λ)で表される。なお、図14に示すhは試料の表裏面から失われる熱量の大きさを規定する無次元のパラメータ(ビオ数)である。
また、多孔質材料から作製した測定試料で測定を行う場合には、測定試料内での温度差を小さくすることができるため測定試料の孔内に存在しているガスの流動を抑えて、測定誤差を小さくすることができる。更に、測定試料の厚さを大きく取れるので、断熱材の測定に有利となる。
前記測定試料の表面の全面を、一定強度の熱流束に一定時間曝して均一に加熱したときの該測定試料の裏面の理論裏面温度を、初期条件及び境界条件を考慮した非定常熱伝導方程式の解に基づいて算出して、
前記測定裏面温度と前記理論裏面温度とを比較して前記断熱材の特性を求める。
なお、測定裏面温度の記録は、加熱開始前から加熱終了後一定時間が経過するまで記録する。ここで、加熱開始前の記録は加熱開始前の測定試料の裏面温度を特定するために行うもので、例えば、5〜60秒間記録すればよい。また、加熱終了後に行う裏面温度の記録は、入熱がなくなり、測定試料の特性(例えば、熱拡散率等)とビオ数だけに依存した温度応答現象を記録するもので、測定試料の特性解析の容易化かつ高精度化を図るために行われる。そして、測定試料の裏面温度の減衰領域における時定数に関する付加条件の下に解析を行う場合には、測定試料の裏面温度が最高温度を示してから十分な温度の減衰が現れるまで記録すればよい。
ここで、図1は本発明の一実施の形態に係る断熱材の特性評価方法を適用した断熱材の特性評価装置の説明図、図2は同断熱材の特性評価方法における矩形加熱による測定方法を示す説明図、図3は矩形加熱を行った際の測定試料の表面における熱流束強度の変化挙動を示す説明図、図4は矩形加熱を行った際の加熱モデルの説明図、図5は矩形加熱に使用する熱流束波形の説明図、図6は矩形加熱を行った際の測定試料の理論裏面温度の変化を示すグラフ、図7は測定試料の裏面温度の変化の解析から決定した熱拡散率の解析精度と加熱時間の関係を示すグラフ、図8は理論裏面温度から求めた理論外挿裏面温度とビオ数依存性の関係を示すグラフ、図9は理論裏面温度から求めた理論外挿裏面温度と矩形加熱時間の関係を示すグラフ、図10は理論裏面温度から求めた理論外挿裏面温度と矩形加熱時間の影響が0.5%となるときの無次元化した矩形加熱時間とビオ数依存性の関係を示すグラフである。
なお、矩形加熱とは、一定強度の熱流束で一定時間、測定試料の表面を加熱することをいう。
また、断熱材の特性評価装置10は、窓16を介して測定試料11の表面全面に熱流束を与えて表面全面を均一加熱する加熱源の一例であるハロゲンランプ17と、ハロゲンランプ17からの熱流束をオン、オフして測定試料11の表面が熱流束に曝される時間を設定するシャッター18と、測定試料11の裏面温度を熱電対19を介して測定する温度測定器20を有している。更に断熱材の特性評価装置10は、温度測定器20で得られた測定試料11の裏面温度から測定試料11の特性を演算して求める機能、及び加熱電源15及びシャッター18の駆動を制御する機能を備えた測定制御器21を有している。
このような構成とすることにより、図2に示すように、測定試料11を加熱容器14内の試料ホルダー12に載置して加熱電源15より加熱ヒータ13に通電し、測定試料11の温度を測定しようとする温度まで上げることができる。そして、ハロゲンランプ17に電源投入後、シャッター18を開けることにより、測定試料11の表面全面を一定強度の熱流束に一気に曝すことができ、測定試料11の表面の急加熱が開始される。また、シャッター18を閉じることにより熱流束を一気に遮って、測定試料11の表面の加熱を急停止することができる。このように、シャッター18を所定時間だけ開けて閉じることにより、測定試料11の表面の加熱を所定時間の幅内に限定することができる。すなわち、測定試料11への熱流束強度の変化状況を考えると、図3に示すように、熱流束強度はシャッター18を開けると(加熱開始時刻で)一定強度レベルまで一気に上昇して維持され、シャッター18を閉じると(加熱停止時刻で)0レベルまで一気に減少する挙動を示す。この挙動は、時間に対して熱流束強度が矩形状に変化(階段状に上昇し、階段状に減少する)するとも表現できるので、以下、このような測定試料11の表面の加熱方法を矩形加熱という。
そして、測定試料11の裏面温度の変化を熱電対19を介して温度測定器20で測定し、得られた温度データを測定制御器21に送信することにより、測定制御器21では送信された温度データから測定試料11の熱特性を演算により求めることができる。
ここで、断熱材から作製した板状の測定試料11の熱拡散率をα、密度をρ、比熱をc、熱伝導率をk、測定試料11の厚さをLとする。
また、図4に示すように、加熱が行われる測定試料11の表面を座標原点として、測定試料11の厚さ方向にx軸を取る。更に、ハロゲンランプ17から照射される熱流束の強度をQf(t)、測定試料11の表裏面からの熱損失の程度を表すビオ数(無次元の数値)をそれぞれh0 、h1 とする。このように設定することにより、Qは測定試料11の表面の単位面積当たりの入熱量になり、測定試料11内の温度Tは、測定試料11の表面からの距離xと時間tの関数となる。
ここで、測定試料11の表裏面のビオ数h0 、h1 が等しい場合(hで示す)には、理論裏面温度は(7)式となる。
また、表裏面のビオ数h0 、h1 が等しい場合の時間空間における測定試料11の理論裏面温度は、(11)式で表される。
矩形加熱を行う場合、熱流束の強度において時間変化項を示すf(t)は(12)式に示すように規格化した加熱波形として表記できる。図5に規格化した波形を示す。
先ず、測定試料11の内の理論温度を記述する(6)式あるいは(7)式中の加熱波形f(p)のラプラス変換式を導くと、(13)式に示すようになる。
測定試料11の熱拡散率αは、矩形加熱を行った際の測定試料11内の理論温度を表記する(1)式の微分方程式を(2)式の初期条件、(3)式及び(4)式の各境界条件の下で解いて得られる時間空間あるいはラプラス空間における測定試料11の理論裏面温度と、測定試料11の裏面温度を実際に測定して得られる測定裏面温度との2乗偏差を最小にする条件から求める。
いま、ハロゲンランプ17から照射される熱流束Qf(t)で矩形加熱を行ったときに、測定試料11の理論裏面温度を表記している諸式中で、放射損失がない場合の理論裏面温度上昇値をTM とすると、TM は(19)式のように表される。このTM を用いて時間空間における測定試料11の理論裏面温度を表す(11)式又は(18)式、ラプラス空間における測定試料11の理論裏面温度を表す(7)式又は(15)式を、それぞれ(20)式及び(21)式と表す。
ここで、矩形加熱が終了した後、測定試料11の裏面温度を、時間空間における測定試料11の理論裏面温度を示す(18)式の第1項のみを用いて測定試料11の裏面温度が近似できるような時間領域まで測定し、測定裏面温度として記録する。そして、(24)式で与えられる付加条件式を付加して、この2乗偏差式の最小を与える熱拡散率α、及びビオ数h0 、h1 を求める。付加条件をつけることにより、より容易に2乗偏差の最小値に到達することが可能となる。
なお、(24)式で与えられる付加条件式は、測定裏面温度が、exp( −t/τ) に依存して減衰するとして、測定時定数τexを求め、この測定時定数τexと、(25)式及び(26)式を用いて与えられる理論時定数τth(測定試料11の理論裏面温度を示す式の第1項より導かれる)を等しいとすることにより求める。
理論データの作成は、測定試料11の材質を断熱材の一例であるアルミナ質断熱材(alc板)とし、厚みLを10mmとした。また、熱拡散率αは2.8×10-7m2 /s、ビオ数h0 、h1 をいずれも0.01、測定試料11の裏面の温度測定時のサンプリング周期を50ms、L2 /π2 /αから計算される特性時間t0 を36.19sとした。
また、表1のデータを用いてそれぞれ熱拡散率αを解析し、予め判明している熱拡散率の値2.8×10-7m2 /sとの比較から求まる解析精度を算出した、その結果を図7に示す。なお、図7では、加熱時間t1 は、特性時間t0 との比の形で表記している。図7に示すように、熱拡散率の解析精度は0.5%未満となり、本発明の熱測定評価方法の有効性が確認された。
先ず、測定試料11の裏面温度を測定して得られる測定裏面温度の減衰領域データを矩形加熱の開始時刻(以下、時刻原点という)まで外挿して求めた外挿裏面温度と、この減衰領域データに相当する理論裏面温度より導かれる時刻原点における理論外挿裏面温度より比熱を求める方法について説明する。
始めに、矩形加熱を行った場合、測定試料11の理論裏面温度を示す(18)式を用いて、減衰領域データより時刻原点まで外挿して求まる理論外挿裏面温度を導く。矩形加熱の終了後、測定試料11の特性時間t0 に対し十分大きい時刻においては、(18)式は第1項で近似でき(27)式となる。これより、理論外挿裏面温度は(28)式で与えられる。
また、第3項の矩形加熱時間の理論外挿裏面温度への影響を図9に示す。図9より、a0 t1 が(29)式の関係を満たす場合、理論外挿裏面温度の断熱時の温度上昇値に対する差は0.5%以下となることが判る。
従って、矩形加熱において、時刻原点への外挿値を用いて比熱計算を行う場合、時刻原点への外挿値として次のどちらかを採用できる。
(I)時刻原点への外挿温度として(28)式を用いる。
(II)ビオ数hが0.01程度以下で、a0 t1 が0.01程度以下の場合、時刻原点への外挿温度として(32)式を用いてもよい。
1)矩形加熱の終了後、測定試料11の裏面温度が十分減衰を示す時間領域まで測定し測定裏面温度として記録する。
2)得られた測定裏面温度より測定時定数τex、時刻原点まで外挿して求めた外挿裏面温度T0expを求める。
3)熱拡散率α、ビオ数hを,測定試料11の裏面温度を実際に測定して得られる測定裏面温度と測定試料11の理論裏面温度との2乗偏差を最小にする条件から求める。
4)(24)〜(26)式よりβ0 、hを求め、時刻原点への外挿裏面温度のビオ数依存項を(33)式により計算する。なお、hが0.01程度以下となる場合には、Kh-corr=1としてもよい。
比熱測定手順は次の通りとなる。
1)(22)式より(19)式で与えられる理論裏面温度上昇値TM を削除した2乗偏差を求め、これを最小にする条件から測定試料11の熱拡散率α、ビオ数hを求める。
2)(23)式を用いて、TM を求める。
3)このTM と(19)式で与えられる理論裏面温度上昇値TM が同値とすることから得られる(37)式を用いて比熱cを計算する。
先ず、予め比熱が判明しているガラス状黒鉛の単位面積、単位時間当たりにの入熱量qa を求める。
1)標準試料(例えば、サファイア)の表面にガラス状黒鉛をシリコングリースで貼り付ける。ガラス状黒鉛、シリコングリース、及び標準試料は比熱既知とする。
2)室温にて標準試料の裏面に熱電対を付け、ガラス状黒鉛の表面を時間ta の矩形加熱を行う。
3)標準試料の裏面温度の減衰領域のデータを用いて時刻原点に外挿し、時刻原点における外挿裏面温度Ta を測定する。
4)ガラス状黒鉛の単位面積、単位時間当たりの入熱量qa を求める。ここで、ビオ数hが0.01程度以下、a0 t1 が0.01程度以下となる場合は、近似式(32)式を用いた(38−1)式を用いてもよい。それ以外の場合は、(28)式を用いた(38−2)式より求める。なお、添え字i は各材料(サファイア、ガラス状黒鉛、シリコングリース)を示す。
5)室温において熱電対を付けた測定試料11にガラス状黒鉛を同様にとりつけ、ガラス状黒鉛側から時間tb の矩形加熱を行う。
6)測定試料11の裏面温度の減衰領域のデータを用いて時刻原点に外挿し、時刻原点における外挿裏面温度Tb を測定する。
7)そして、不明なものは測定試料11の比熱のみであるので、ビオ数hが0.01程度以下、a0 t1 が0.01程度以下となる場合は(39−1)式を用いてもよい。それ以外の場合は、(39−2)式より測定試料11の室温比熱cを求める。ここで、同じガラス状黒鉛を矩形加熱するので、(38−1)式、(38−2)式、(39−1)式、及び(39−2)式の入熱量qa は同一になる。
8)室温において熱電対を付けた測定試料11に時間tc の矩形加熱を行う。
9)測定試料11の裏面温度の減衰領域のデータを用いて時刻原点に外挿し、時刻原点における外挿裏面温度Tc を測定する。
10)測定試料11の単位面積、単位時間当たりの入熱量qc を求める。ここで、ビオ数hが0.01程度以下、a0 t1 が0.01程度以下となる場合は、近似式(32)式を用いた(40−1)式を用いてもよい。それ以外の場合は、(28)式を用いた(40−2)式より求める。
従って、入熱量Qを(41)式(Qd で示す)で求め、(36)式又は(37)式に代入することにより比熱cを求めることができる。
例えば、測定試料の裏面温度を測定するのに熱電対を使用したが、赤外検出器、放射温度計を用いて測定試料の裏面温度を測定してもよい。また、測定試料の表面を加熱する時間をシャッターの開閉により調整したが、ハロゲンランプに供給する電源をオン、オフすることにより行ってもよい。
更に、測定試料の表面の加熱中にハロゲンランクの出力が変動する場合では、例えば、ハーフミラーを用いてハロゲンランプの光線の一部を照射強度測定器に導いてハロゲンランクの出力変動を測定し、その結果を測定制御器に入力して測定試料の熱特性を求める際の演算に反映させるようにしてもよい。
Claims (6)
- 断熱材から作製した板状の測定試料の表面の全面を、一定強度の熱流束に一定時間曝して均一に加熱したときの該測定試料の裏面温度を測定裏面温度として記録し、
前記測定試料の表面の全面を、一定強度の熱流束に一定時間曝して均一に加熱したときの該測定試料の裏面の理論裏面温度を、初期条件及び境界条件を考慮した非定常熱伝導方程式の解に基づいて算出して、
前記測定裏面温度と前記理論裏面温度とを比較して前記断熱材の特性を求めることを特徴とする断熱材の特性評価方法。 - 請求項1記載の断熱材の特性評価方法において、前記断熱材の特性が該断熱材の熱拡散率であり、該熱拡散率を前記測定裏面温度と前記理論裏面温度との偏差を最小とする条件から求めることを特徴とする断熱材の特性評価方法。
- 請求項2記載の断熱材の特性評価方法において、前記偏差が2乗偏差であることを特徴とする断熱材の特性評価方法。
- 請求項3記載の断熱材の特性評価方法において、前記2乗偏差を最小とする条件を、前記測定裏面温度の変化から求めた測定時定数と前記理論裏面温度の変化から求めた理論時定数とを同値とする付加条件のもとで求めることを特徴とする断熱材の特性評価方法。
- 請求項1記載の断熱材の特性評価方法において、前記断熱材の特性が該断熱材の比熱であり、該比熱を前記測定試料の裏面温度が十分減衰を示す時間領域での前記測定裏面温度の変化挙動から加熱開始時刻に外挿した外挿裏面温度と、前記理論裏面温度より導かれる前記加熱開始時刻における理論外挿裏面温度とを同値とする条件のもとで求めることを特徴とする断熱材の特性評価方法。
- 請求項1記載の断熱材の特性評価方法において、前記断熱材の特性が該断熱材の比熱であり、該比熱を、前記測定裏面温度と前記理論裏面温度との2乗偏差を最小とする条件より求めた前記測定試料の熱拡散率及びビオ数を用いて放射損失がない場合の前記測定試料の裏面温度上昇値を算出し、該裏面温度上昇値を前記測定試料の放射損失がない場合の理論裏面温度上昇値と同値とする条件のもとで求めることを特徴とする断熱材の特性評価方法。
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