JP2005172639A - Sample thermostat device and automatic sampler using it - Google Patents
Sample thermostat device and automatic sampler using it Download PDFInfo
- Publication number
- JP2005172639A JP2005172639A JP2003413868A JP2003413868A JP2005172639A JP 2005172639 A JP2005172639 A JP 2005172639A JP 2003413868 A JP2003413868 A JP 2003413868A JP 2003413868 A JP2003413868 A JP 2003413868A JP 2005172639 A JP2005172639 A JP 2005172639A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cooling
- sample
- cooling plate
- plate
- heat insulating
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Abstract
Description
本発明は、試料を一定の温度に冷却した状態に保つための試料恒温装置とそれを用いたオートサンプラに関する。 The present invention relates to a sample thermostat for keeping a sample cooled to a constant temperature and an autosampler using the same.
液体クロマトグラフのオートサンプラは、液体クロマトグラフの分析カラムに接続されているインジェクションポート(注入部)に試料を注入するために、サンプリングニードルが水平面内方向及び垂直方向に移動して試料容器(試料バイアル)から試料を一定量吸入した後、インジェクションポートまで移動して試料を注入する。オートサンプラにおいて試料容器は、オートサンプラ装置内部に設けられたサンプルラックに複数収納される構成となっている。通常、サンプルラックは試料容器を冷却保存するために良熱伝導性金属の板を介してペルチェ素子により冷却されている。 In order to inject a sample into an injection port (injection unit) connected to an analysis column of a liquid chromatograph, a liquid chromatograph autosampler moves a sampling needle in a horizontal plane direction and a vertical direction to move a sample container (sample A certain amount of sample is inhaled from the vial) and then moved to the injection port to inject the sample. In the autosampler, a plurality of sample containers are stored in a sample rack provided inside the autosampler apparatus. Usually, the sample rack is cooled by a Peltier element through a plate of a highly heat conductive metal in order to keep the sample container cold.
図3は従来の試料恒温装置及びサンプルラックを示す断面図である。
試料容器3を収容したサンプルラックの下方には冷却部14が設けられている。冷却部14はペルチェ素子16の一方の面に冷却板を備え、他方の面に放熱フィン20を備えている。ペルチェ素子16は冷却板18を冷却し、ペルチェ素子16に冷却された冷却板18はサンプルラックの底面の冷却板24を冷却する。サンプルラックに収納されている複数の試料容器3はサンプルラックの底面と直接接触して冷却板24により冷却される。
FIG. 3 is a cross-sectional view showing a conventional sample thermostat and sample rack.
A
冷却部の冷却板18をサンプルラックと直接接触させて試料容器を冷却する方法では、試料容器を複数冷却するためにペルチェ素子16の面積よりも冷却板24の面積のほうが大きい。したがって、冷却板24の面内に温度ムラが生じ、試料容器間で温度ムラが生じてしまう。試料容器間で温度ムラが生じると分析の際に定量結果の再現性が悪くなるなどの不具合を引き起こす。
そこで本発明は、試料冷却時の温度ムラを是正することを目的とする。
In the method of cooling the sample container by bringing the
Therefore, an object of the present invention is to correct temperature unevenness during sample cooling.
本発明の試料恒温装置は、試料が入った複数の試料容器と表面側の面で直接接触して前記試料容器を冷却する冷却板と、前記冷却板の裏面と接触して前記冷却板を冷却する冷却部とを備え、前記冷却部は前記冷却板の裏面よりも小さい面積の冷却面をもつ電子冷却素子を備えているとともに、その電子冷却素子の冷却面が前記冷却板の裏面の中央部に位置するように配置されており、前記電子冷却素子の冷却面と前記冷却板の裏面との間で、前記電子冷却素子の冷却面の中央部の位置に前記電子冷却素子の冷却面よりも小さい面積をもつ断熱層が形成されていることを特徴とするものである。 The sample thermostat of the present invention cools the cooling plate by contacting a plurality of sample containers containing samples directly on the surface side surface to cool the sample container, and contacting the back surface of the cooling plate. And a cooling unit that includes an electronic cooling element having a cooling surface with a smaller area than the back surface of the cooling plate, and the cooling surface of the electronic cooling element is a central portion of the back surface of the cooling plate. It is arrange | positioned so that it may be located in the center part of the cooling surface of the said electronic cooling element between the cooling surface of the said electronic cooling element, and the back surface of the said cooling plate rather than the cooling surface of the said electronic cooling element A heat insulating layer having a small area is formed.
試料容器と接触する冷却板の一例は試料容器を収納し冷却部と着脱可能に接触するサンプルラックの底板である。
電子冷却素子としては、例えばペルチェ素子を用いることができる。
断熱層としては、空気層であってもよく、発泡シリコンなどの断熱材が埋め込まれているものとしてもよい。
An example of the cooling plate that comes into contact with the sample container is a bottom plate of a sample rack that houses the sample container and is detachably in contact with the cooling unit.
As the electronic cooling element, for example, a Peltier element can be used.
The heat insulating layer may be an air layer or may be embedded with a heat insulating material such as foamed silicon.
本発明のオートサンプラは、複数の液体試料を試料恒温装置により一定温度に保持し、それらの試料を分析装置に供給するものであって、その試料恒温装置は上記の構成を備えていることを特徴とするものである。
その場合の分析装置の一例は液体クロマトグラフである。
The autosampler of the present invention holds a plurality of liquid samples at a constant temperature by a sample thermostat and supplies the samples to the analyzer, and the sample thermostat has the above-described configuration. It is a feature.
An example of the analyzer in that case is a liquid chromatograph.
電子冷却素子の冷却面と冷却板の裏面との間で、電子冷却素子の冷却面の中央部の位置に電子冷却素子の冷却面よりも小さい面積をもつ断熱層を形成したので、冷却板中央部の過冷却を防止することができ、冷却板中央部とその中央部から離れた面との温度差を是正することができる。 Between the cooling surface of the electronic cooling element and the back surface of the cooling plate, a heat insulation layer having an area smaller than the cooling surface of the electronic cooling element is formed at the center of the cooling surface of the electronic cooling element. It is possible to prevent the portion from being overcooled, and to correct the temperature difference between the central portion of the cooling plate and the surface away from the central portion.
オートサンプラにこの試料恒温装置を適用させることで、複数の試料容器を小さい温度差で冷却保存することが可能となる。 By applying this sample thermostat to the autosampler, a plurality of sample containers can be cooled and stored with a small temperature difference.
以下に本発明におけるオートサンプラの一実施例を説明する。
図1はオートサンプラの構成を示す斜視図である。
このオートサンプラは、保冷容器1内に試料を入れる試料容器を収容するためのサンプルラック2と、サンプルラック2に収容されている試料容器を冷却するために設けられた冷却部14と、試料容器から試料を吸入するサンプリングニードル4とを収容している。図1では保冷容器1の前面が開口して示されているが、使用時は開口は蓋で閉じられる。サンプルラック2は着脱可能に冷却部14上に載置されている。
An embodiment of the autosampler according to the present invention will be described below.
FIG. 1 is a perspective view showing a configuration of an autosampler.
This autosampler includes a
サンプリングニードル4は水平面内方向(X、Y方向)と垂直方向(Z方向)に移動が可能であり、サンプルラック2に収容されている試料容器の位置に移動してニードルの先端から試料を吸入する。サンプリングニードル4が吸入した試料は液体クロマトグラフの分析流路に注入され、分離カラムに送られて成分ごとに分離されて分析される。
The sampling needle 4 can move in the horizontal plane direction (X, Y direction) and the vertical direction (Z direction), and moves to the position of the sample container accommodated in the
図2はサンプルラック2の周辺を示す断面図であり、(A)は側面図、(B)は冷却部14の冷却板の上面図である。
(A)に示されるように、サンプルラック2はその底面24が冷却部14上に載置されている。冷却部14は電子冷却素子としてペルチェ素子16を有し、ペルチェ素子16の一方の面に第1の冷却板18が密着して設けられ、冷却板18にはさらに第2の冷却板10が密着して設けられている。冷却板10の表面の中央部には断熱材22が埋め込まれている。ペルチェ素子16の他方の面には放熱フィン20が設けられている。サンプルラック2、第1の冷却板18、第2の冷却板10及び放熱フィン20は良熱伝導性金属、例えば、アルミニウム、銅、真鍮などで構成されている。断熱材22は例えば発泡シリコンである。
FIG. 2 is a cross-sectional view showing the periphery of the
As shown in (A), the
(B)に示されるように、この実施例においては複数の試料容器3を収容するサンプルラックの底面の冷却板24の長さL1は冷却部14の冷却板18、10の長さL2よりも長く、幅Wは冷却板24、冷却板10及び冷却板18で等しくなっている。また、断熱材22は、幅Wが冷却板10と等しく、長さ方向の幅Aはペルチェ素子16の長さよりも短く、ペルチェ素子16の中央部に位置するように設置されている。
As shown in FIG. 5B, in this embodiment, the length L1 of the
従来の冷却部は、ペルチェ素子に密着して設けられた冷却板18によりサンプルラックを冷却するものであったため、サンプルラック底面の中央部がペルチェ素子直近であるために過冷却となり、中央部とその外側とで温度差が生じていた。この実施例ではペルチェ素子16に冷却板18を介して設けられた冷却板10とサンプルラックの底面24との接触面の中央部に断熱層として断熱材22が埋め込まれているため、ペルチェ素子16直近部分の過冷却を防止するようになっており、サンプルラック底面24中央部とその外側との温度差を是正することができる。
In the conventional cooling unit, the sample rack is cooled by the
冷却板の面内温度分布を小さくするために、ペルチェ素子を複数個使用することも可能である。しかし、本発明によれば、1つのペルチェ素子で面内温度分布を改善できるため、コストを抑えることができる。
断熱材22を埋め込む位置としては、第2の冷却板10の表面以外に、第1の冷却板18と第2の冷却板10との間であってもよい。
断熱層としては断熱材を埋め込む以外に、空気層を形成してもよい。
In order to reduce the in-plane temperature distribution of the cooling plate, a plurality of Peltier elements can be used. However, according to the present invention, since the in-plane temperature distribution can be improved with one Peltier element, the cost can be suppressed.
The position where the
As the heat insulating layer, an air layer may be formed in addition to embedding a heat insulating material.
1 保冷容器
2 サンプルラック
3 試料容器
4 サンプリングニードル
10 第2の冷却板
12 分離カラム
14 冷却部
16 ペルチェ素子
18 第1の冷却板
20 放熱フィン
22 断熱材
24 冷却板
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1
Claims (6)
前記冷却板の裏面と接触して前記冷却板を冷却する冷却部とを備え、
前記冷却部は前記冷却板の裏面よりも小さい面積の冷却面をもつ電子冷却素子を備えているとともに、その電子冷却素子の冷却面が前記冷却板の裏面側の面の中央部に位置するように配置されており、
前記電子冷却素子の冷却面と前記冷却板の裏面との間で、前記電子冷却素子の冷却面の中央部の位置に前記電子冷却素子の冷却面よりも小さい面積をもつ断熱層が形成されている試料恒温装置。 A cooling plate that cools the sample container by directly contacting a plurality of sample containers containing the sample on the surface side;
A cooling unit that contacts the back surface of the cooling plate and cools the cooling plate;
The cooling unit includes an electronic cooling element having a cooling surface with a smaller area than the back surface of the cooling plate, and the cooling surface of the electronic cooling element is positioned at the center of the back surface side of the cooling plate. Are located in
Between the cooling surface of the electronic cooling element and the back surface of the cooling plate, a heat insulating layer having an area smaller than the cooling surface of the electronic cooling element is formed at the central portion of the cooling surface of the electronic cooling element. A sample thermostat.
前記試料恒温装置として請求項1から4のいずれかに記載の試料恒温装置を備えたことを特徴とするオートサンプラ。 In an autosampler that holds a plurality of liquid samples at a constant temperature by a sample thermostat and supplies these samples to an analyzer,
An autosampler comprising the sample thermostat according to any one of claims 1 to 4 as the sample thermostat.
The autosampler according to claim 5, wherein the analyzer is a liquid chromatograph.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003413868A JP2005172639A (en) | 2003-12-11 | 2003-12-11 | Sample thermostat device and automatic sampler using it |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003413868A JP2005172639A (en) | 2003-12-11 | 2003-12-11 | Sample thermostat device and automatic sampler using it |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005172639A true JP2005172639A (en) | 2005-06-30 |
Family
ID=34733877
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003413868A Pending JP2005172639A (en) | 2003-12-11 | 2003-12-11 | Sample thermostat device and automatic sampler using it |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2005172639A (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2011055694A1 (en) * | 2009-11-04 | 2011-05-12 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | Sample rack |
WO2019038924A1 (en) * | 2017-08-25 | 2019-02-28 | 株式会社島津製作所 | Autosampler |
CN113219190A (en) * | 2021-05-17 | 2021-08-06 | 青岛市三凯医学科技有限公司 | Full-automatic layered heating and cooling detection equipment and method |
-
2003
- 2003-12-11 JP JP2003413868A patent/JP2005172639A/en active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2011055694A1 (en) * | 2009-11-04 | 2011-05-12 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | Sample rack |
JP2011099705A (en) * | 2009-11-04 | 2011-05-19 | Hitachi High-Technologies Corp | Sample rack |
WO2019038924A1 (en) * | 2017-08-25 | 2019-02-28 | 株式会社島津製作所 | Autosampler |
JPWO2019038924A1 (en) * | 2017-08-25 | 2020-05-28 | 株式会社島津製作所 | Auto sampler |
CN113219190A (en) * | 2021-05-17 | 2021-08-06 | 青岛市三凯医学科技有限公司 | Full-automatic layered heating and cooling detection equipment and method |
CN113219190B (en) * | 2021-05-17 | 2022-05-24 | 青岛市三凯医学科技有限公司 | Full-automatic layered heating and cooling detection equipment and method |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6141975A (en) | Sample cooler | |
JP3422262B2 (en) | Sample cooling device | |
JP5737215B2 (en) | Sample cooling device and sampling device | |
JP5707253B2 (en) | Cold reagent storage and nucleic acid analyzer | |
JP5103461B2 (en) | Sample rack | |
US6717665B2 (en) | Polarimeter | |
US5863507A (en) | Benchtop cooler | |
JP2005172639A (en) | Sample thermostat device and automatic sampler using it | |
RU2019104348A (en) | Device and method for freezing samples | |
WO2017076013A1 (en) | Multi-channel sequencing reaction chamber and multi-channel sequencing reaction device | |
JPH10192719A (en) | Sample thermostat | |
US10111419B2 (en) | Multi-modal biopsy storage device and methods | |
JP6891981B2 (en) | A vial holder for cooling temperature control and a sample temperature control device using the vial holder for cooling temperature control. | |
JP2007017403A (en) | Sample thermostatic apparatus | |
JP3757637B2 (en) | Sample cooling device | |
JP2004212165A (en) | Sample cooling device | |
CN109425524B (en) | Constant temperature device and analysis device with same | |
US9040001B2 (en) | Microtiter plate temperature control | |
US10983080B2 (en) | Apparatus for quantitatively feeding a high viscosity fluid sample | |
CN111492237B (en) | Sample temperature adjusting device for analyzer | |
US20160209547A1 (en) | Inspection apparatus for thermo-hygrometer based on phase change and methods for controlling and inspecting the same | |
JP2005265807A (en) | Sample cooler unit | |
CN107430102B (en) | Automatic sampler | |
WO2023105627A1 (en) | Temperature control device | |
JPH11160322A (en) | Auto-injector for use at low temperature |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060410 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20080423 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080513 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20080916 |