JP2005146768A - Manufacturing method for chamber device, chamber equipment, liquid drop discharging equipment and electro-optical device - Google Patents

Manufacturing method for chamber device, chamber equipment, liquid drop discharging equipment and electro-optical device Download PDF

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a manufacturing method for a chamber device, a chamber equipment, a liquid drop discharging equipment and an electro-optical device by which both of the flow of the outside atmosphere into the inside and the flow of the inside atmosphere to the outside is restrained when a worker goes in and out. <P>SOLUTION: The chamber device 7 comprises a main chamber 80 housing a work processing device in which the work processing needs to be carried out in the atmosphere isolated from the surrounding atmosphere, a preliminary chamber 81 adjacent to the main chamber 80, a main chamber door 152 for opening and closing a main chamber doorway 151, and a preliminary chamber door 162 for opening and closing a doorway to the outside. In the chamber device 7, each of the main chamber 80 and the preliminary chamber 81 is provided with an air supplying device and an air exhausting device. The chamber device 7 further comprises an open/close detector for detecting the open/close state of each of the doors and locking devices 155, 164, so that at least one of the main chamber door 152 and the preliminary chamber door 162 may be controlled to be prohibited from opening. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

本発明は、装置を収容した内部の雰囲気を外部の雰囲気と隔絶するチャンバ装置、チャンバ設備、及び液滴吐出設備、並びに電気光学装置の製造方法に関する。   The present invention relates to a chamber device, a chamber facility, a droplet discharge facility, and a method for manufacturing an electro-optical device that isolate an internal atmosphere containing the device from an external atmosphere.

近年、機能液滴吐出ヘッドの吐出ノズルからワーク(基板など)に向けて機能液滴を吐出して描画するような液滴吐出装置(インクジェット装置)を用い、電気光学装置などを製造することが行われている。   In recent years, it has been possible to manufacture an electro-optical device or the like using a droplet discharge device (inkjet device) that discharges and draws a functional droplet from a discharge nozzle of a functional droplet discharge head toward a work (substrate or the like). Has been done.

このような液滴吐出装置は、高い精度でパターンを形成する必要があり、埃などの少ない清浄な雰囲気中で使用することが必要である。そのため、液滴吐出装置をチャンバで封止し、液滴吐出装置の周辺の雰囲気と外部の雰囲気とを隔絶することで、液滴吐出装置の周辺の雰囲気を清浄に保っていた。   Such a droplet discharge device needs to form a pattern with high accuracy and needs to be used in a clean atmosphere with little dust. Therefore, the droplet discharge device is sealed with a chamber, and the atmosphere around the droplet discharge device is isolated from the outside atmosphere, thereby keeping the atmosphere around the droplet discharge device clean.

また、頻繁に行われるワークなどの交換時に外部雰囲気が進入するのを抑制するために、ワークなどを一時的に収容する予備室を設け、予備室内の気体をチャンバ内の雰囲気と同じ気体で置き換えることが行われていた(特許文献1参照)。   In addition, in order to prevent the external atmosphere from entering when the work is frequently exchanged, a spare chamber for temporarily storing the workpiece is provided, and the gas in the spare chamber is replaced with the same gas as the atmosphere in the chamber. (See Patent Document 1).

再公表特許 国際公開番号 WO00/55891Republished Patent International Publication Number WO00 / 55891

しかしながら、電気光学装置などを製造する工程には、液滴吐出装置を使用する工程以外にも高い精度を必要とする工程がある。それらの各工程は連続して実施する場合があり、その場合には、高い精度を必要とする工程で使用される高い精度を必要とする各装置が、液滴吐出装置の近くに設置されている。また、近年の高細密化が進んだ電気光学装置においては、電気光学装置の画素を駆動するためのスイッチング素子などの半導体素子が電気光学装置に一体に形成されている。半導体素子を形成する半導体製造プロセスは、清浄な環境下で実施することが必要であり、半導体素子を形成した基板は清浄な環境下に保管する必要がある。さらに、近年の電気光学装置の基板は、装置の大型化や製造の効率化のために大型化する傾向があり、2メートル角を超えるものも多くなっている。このような大型の基板は輸送途中での破損の危険が大きいことに加えて、輸送作業そのものが困難である。従って、半導体素子を形成した基板を長距離にわたって輸送することは好ましくなく、半導体製造装置もまた液滴吐出装置の近くに設置されていることが好ましい。   However, a process for manufacturing an electro-optical device or the like includes a process that requires high accuracy in addition to a process that uses a droplet discharge device. Each of these processes may be carried out continuously. In that case, each apparatus that requires high accuracy used in a process that requires high accuracy is installed near the droplet discharge device. Yes. Further, in recent electro-optical devices that have been highly densified, semiconductor elements such as switching elements for driving pixels of the electro-optical device are integrally formed in the electro-optical device. A semiconductor manufacturing process for forming a semiconductor element needs to be performed in a clean environment, and the substrate on which the semiconductor element is formed needs to be stored in a clean environment. Furthermore, the substrates of recent electro-optical devices tend to increase in size to increase the size of the device and the efficiency of manufacturing, and the number of substrates exceeding 2 square meters is increasing. Such a large substrate has a high risk of breakage during transportation, and the transportation work itself is difficult. Therefore, it is not preferable to transport the substrate on which the semiconductor element is formed over a long distance, and it is preferable that the semiconductor manufacturing apparatus is also installed near the droplet discharge apparatus.

一方、液滴吐出装置が扱う機能液には様々な溶液があり、有機ガスが揮発する機能液もあり、液滴を吐出する際にはミストが発生する機能液もある。その機能液のミストや機能液から揮発した有機ガスなどが流出して周辺に設置された装置などに付着することで装置を損なう場合があり、高い精度を必要とする工程で使用する装置を損なうと伴に、製造される製品の歩留まりを低下させる場合があった。特に、微細化が進んでいる半導体素子は、分子レベルでの汚染であっても深刻な影響を受けやすく、極微量の汚染物質であっても製品の受ける影響は大きく、有機ガスなどが半導体素子などに付着することによって電気光学装置の回路が破損し電気光学装置の電気特性に影響を及ぼし、電気光学装置の製造歩留まりを低下させることがあった。しかし、プラスセンサなどの樹脂製品や金属配線等の形成に用いる機能液は揮発ガスの抑制が困難で、これらの機能液は揮発ガスの発生を抑制することで上記した課題に対応することは、困難である。   On the other hand, there are various functional liquids handled by the droplet discharge device, some functional liquids volatilize organic gas, and some functional liquids generate mist when discharging droplets. The mist of the functional liquid or organic gas volatilized from the functional liquid may flow out and adhere to equipment installed in the vicinity, which may damage the equipment, impairing equipment used in processes that require high accuracy. At the same time, the yield of manufactured products may be reduced. In particular, semiconductor elements that are being miniaturized are susceptible to serious effects even if they are contaminated at the molecular level, and even if trace amounts of contaminants are affected, the product is greatly affected. The adhesion of the electro-optical device may damage the circuit of the electro-optical device and affect the electrical characteristics of the electro-optical device, thereby reducing the manufacturing yield of the electro-optical device. However, functional liquids used for the formation of resin products such as plus sensors and metal wiring are difficult to suppress volatile gases, and these functional liquids address the above-mentioned problems by suppressing the generation of volatile gases. Have difficulty.

特に、液滴吐出装置の保守作業や機能液の補充や交換作業のときには、人間が関与するため、人間(作業者)が出入りできる程度に開口部を大きくとる必要があり、チャンバの内部雰囲気と外部雰囲気とが混じりあい、ミストや有機ガスなどの流出が防止できなかった。特許文献1の従来の予備室は、人間が通れるような大きな開口部に対応できるようなものではなく、チャンバ内の気体の流出を抑制するものでもなく、このような問題を解決するものではなかった。   In particular, since humans are involved in the maintenance work of the droplet discharge device and the replenishment and replacement of the functional fluid, it is necessary to make the opening large enough for humans (operators) to enter and exit, Outflow of mist, organic gas, etc. could not be prevented due to mixing with the external atmosphere. The conventional spare chamber of Patent Document 1 does not deal with a large opening through which a human can pass, does not suppress the outflow of gas in the chamber, and does not solve such a problem. It was.

そこで、本発明は、作業者の出入りに際して、外部雰囲気の内部への流入及び内部雰囲気の外部への流出の両方を抑制できるチャンバ装置、チャンバ設備、及び液滴吐出設備、並びに電気光学装置の製造方法を提供することを目的とする。   Therefore, the present invention provides a chamber device, a chamber facility, a droplet discharge facility, and an electro-optical device capable of suppressing both the inflow of the external atmosphere and the outflow of the internal atmosphere to the outside when the worker enters and exits. It aims to provide a method.

本発明のチャンバ装置は、ワーク処理を周囲の雰囲気と隔絶した雰囲気中で行うことを要するワーク処理装置を収容するチャンバ装置であって、ワーク処理装置を収容する主室と、主室に隣接する予備室と、主室と予備室とを隔てる隔壁に設けられた主室出入り口を開閉する扉であって、閉鎖時には、主室の内部の気体と予備室の内部の気体とを隔絶可能な主室扉と、予備室の壁に設けられた外部出入り口を開閉する扉であって、閉鎖時には、チャンバ装置の外部の気体と予備室の内部の気体とを隔絶可能な予備室扉とを備えたことを特徴とする。   The chamber apparatus of the present invention is a chamber apparatus that accommodates a workpiece processing apparatus that needs to perform workpiece processing in an atmosphere isolated from the surrounding atmosphere, and is adjacent to the main chamber that accommodates the workpiece processing apparatus and the main chamber. A door that opens and closes a main chamber entrance / exit provided in a partition that separates the spare chamber from the main chamber and the spare chamber, and is capable of isolating the gas in the main chamber from the gas in the spare chamber when closed. A door that opens and closes an external doorway provided on the wall of the spare room and a spare room door that can isolate the gas outside the chamber device from the gas inside the spare room when closed. It is characterized by that.

本発明の構成および方法によれば、主室は予備室を介して外部と連通されるため、主室内部の気体が外部にもれることを抑制できるとともに、外部の気体が主室内部に侵入することを抑制できる。さらに、主室と予備室とが連通される開口および予備室と外部とが連通される開口のそれぞれに開口を閉鎖できる扉を設けたため、より確実に主室内部の気体が外部にもれることを抑制できるとともに、外部の気体が主室内部に侵入することを抑制できる。   According to the configuration and method of the present invention, the main chamber communicates with the outside through the spare chamber, so that the gas in the main chamber can be prevented from leaking to the outside, and the external gas enters the main chamber. Can be suppressed. Furthermore, since the door that can close the opening is provided in each of the opening that communicates the main chamber and the spare chamber and the opening that communicates the spare chamber and the outside, the gas in the main chamber can be more reliably leaked to the outside. It is possible to suppress the external gas from entering the main chamber.

この場合、主室及び予備室のそれぞれが給気装置と排気装置とを備えるとともに、少なくとも予備室に備えられた排気装置は排気流量調整装置を有することが好ましい。   In this case, it is preferable that each of the main chamber and the spare chamber includes an air supply device and an exhaust device, and at least the exhaust device provided in the spare chamber includes an exhaust flow rate adjusting device.

この構成によれば、予備室と主室及び外部とを隔絶した状態で予備室内の気体を清浄な給気と入れ替えることができ、予備室に進入した主室または外部から予備室に進入した気体を排除することができる。従って、主室または外部の気体が予備室を介して外部または主室に混入する可能性を極めて小さくすることができる。   According to this configuration, the gas in the spare room can be replaced with clean air supply in a state in which the spare room is separated from the main room and the outside, and the gas that has entered the spare room from the main room or the outside that has entered the spare room. Can be eliminated. Therefore, the possibility that gas in the main room or outside enters the outside or main room through the spare room can be extremely reduced.

この場合、主室扉と予備室扉とのそれぞれの開閉状態を検知する開閉検出装置と、主室扉と予備室扉とのそれぞれを開放禁止状態または開放禁止解除状態にするロック装置と、開閉検出装置の検出結果に基づいてロック装置を作動させ、主室扉と予備室扉のうち少なくとも一方は開放禁止状態になっているように制御するロック制御装置とを設けたことが好ましい。   In this case, an open / close detection device that detects the open / close state of the main chamber door and the spare chamber door, a lock device that sets the main chamber door and the spare chamber door to the open prohibited state or the open prohibition released state, and the open / close state It is preferable to provide a lock control device that operates the lock device based on the detection result of the detection device and controls so that at least one of the main chamber door and the spare chamber door is in an open prohibited state.

この構成によれば、主室扉か予備室扉の少なくとも何れか一方は必ず閉鎖しているため、主室と外部とが連続した状態になる機会がなく、主室または外部の気体が予備室に進入しても、さらに外部または主室にまで侵入することはできない。従って、主室または外部の気体が予備室を通過して外部または主室に混入する可能性を極めて小さくすることができる。   According to this configuration, since at least one of the main chamber door and the spare chamber door is always closed, there is no opportunity for the main chamber and the outside to be in a continuous state, and the main chamber or the external gas is in the spare chamber. Even if it enters, it cannot enter the outside or the main room. Therefore, the possibility that gas in the main chamber or outside passes through the spare chamber and enters the outside or main chamber can be extremely reduced.

この場合、開閉検出装置の検出結果に基づいて、予備室扉が開放して閉まってからの時間を計測できる計時装置をさらに設け、ロック制御装置は、計時装置によって予備室に備えられた排気装置が少なくとも予備室内の容量に相当する気体を排気する所定時間が計測されると、ロック装置による主室扉の開放禁止状態を解除することが好ましい。   In this case, based on the detection result of the open / close detection device, there is further provided a timing device that can measure the time from when the preliminary chamber door is opened and closed, and the lock control device is an exhaust device provided in the preliminary chamber by the timing device. When at least a predetermined time for exhausting the gas corresponding to the capacity of the spare room is measured, it is preferable to cancel the state in which the main chamber door is prohibited to be opened by the lock device.

この構成によれば、予備室扉が開くことによって外部の気体が混入した可能性のある予備室の気体は、予備室が外部および主室と隔絶された状態で、給気装置から供給される空気に入替えられた後、主室扉が開かれる。従って、外部から予備室に進入した気体がさらに主室にまで侵入する可能性を極めて小さくすることができる。   According to this configuration, the gas in the spare chamber that may have been mixed with an external gas by opening the spare chamber door is supplied from the air supply device in a state where the spare chamber is isolated from the outside and the main chamber. After being replaced by air, the main room door is opened. Therefore, the possibility that the gas that has entered the preliminary chamber from the outside further enters the main chamber can be extremely reduced.

この場合、開閉検出装置の検出結果に基づいて、主室扉が開放して閉まってからの時間を計測できる計時装置をさらに設け、ロック制御装置は、計時装置によって予備室に備えられた排気装置が少なくとも予備室内の容量に相当する気体を排気する所定時間が計測されると、ロック装置による予備室扉の開放禁止状態を解除することが好ましい。   In this case, based on the detection result of the open / close detection device, there is further provided a timing device capable of measuring the time from when the main chamber door is opened and closed, and the lock control device is an exhaust device provided in the spare room by the timing device. When at least a predetermined time for exhausting the gas corresponding to the capacity of the spare room is measured, it is preferable to cancel the prohibition of opening the spare room door by the lock device.

この構成によれば、主室扉が開くことによって主室内の気体が混入した可能性のある予備室の気体は、予備室が外部および主室と隔絶された状態で、給気装置から供給される空気に入替えられた後、予備室扉が開かれる。従って、主室から予備室に進入した気体がさらに外部にまで流出する可能性を極めて小さくすることができる。   According to this configuration, the gas in the spare chamber that may have been mixed with the gas in the main chamber by opening the main chamber door is supplied from the air supply device in a state where the spare chamber is isolated from the outside and the main chamber. The spare room door is opened after the air is replaced. Therefore, the possibility that the gas that has entered the preliminary chamber from the main chamber flows out to the outside can be extremely reduced.

この場合、主室内及び予備室内が無人であるかの判断部を有し、判断部が、主室内及び予備室内が無人の時は、予備室に備えられた排気装置の排気を排気流量調整装置によって停止することが好ましい。   In this case, the main chamber and the spare chamber have a determination unit as to whether they are unmanned. When the main chamber and the spare chamber are unattended, the determination unit controls the exhaust flow rate adjusting device to exhaust the exhaust device provided in the preliminary chamber. It is preferable to stop by.

この構成によれば、排気を停止したことにより、給気が不要となり、給気装置の負荷を軽減して消費エネルギーを節減することができる。予備室内が無人のときは、予備室は主室や外部と隔絶された空間であり、空調の必要はないため、排気停止によってチャンバ装置が影響を受けることはない。従って、チャンバ装置の性能に影響することなく消費エネルギーを節減することができる。   According to this configuration, since the exhaust is stopped, the supply of air becomes unnecessary, and the load on the supply device can be reduced and the energy consumption can be reduced. When the spare room is unattended, the spare room is a space isolated from the main room and the outside and does not require air conditioning. Therefore, the chamber apparatus is not affected by the stoppage of exhaust. Therefore, energy consumption can be reduced without affecting the performance of the chamber apparatus.

この場合、予備室に備えられた排気装置の排気が停止した状態から、排気装置が排気を開始してからの時間を計測できる計時装置をさらに設け、計時装置によって予備室に備えられた排気装置が少なくとも予備室内の容量に相当する気体を排気する時間を計測し、その計時情報に基づいてロック装置による予備室扉の開放禁止状態を解除することが好ましい。   In this case, there is further provided a timing device capable of measuring the time since the exhaust device started exhausting from the state in which the exhaust device provided in the preliminary chamber is stopped, and the exhaust device provided in the preliminary chamber by the timing device. It is preferable that at least the time for exhausting the gas corresponding to the capacity of the spare room is measured, and the opening prohibition state of the spare room door by the lock device is canceled based on the time measurement information.

この構成によれば、予備室が外部および主室と隔絶された状態で、給気装置から供給される空気に入替えられた後、予備室扉が開かれる。従って、主室から予備室に進入していた気体が、開かれた予備室扉からさらに外部にまで流出する可能性を極めて小さくすることができる。   According to this configuration, after the spare room is isolated from the outside and the main room, the spare room door is opened after being replaced with the air supplied from the air supply device. Therefore, the possibility that the gas that has entered the spare room from the main room flows out from the opened spare room door to the outside can be extremely reduced.

この場合、主室を構成するとともに隔壁と対向しない壁にワークを供給及び排出するワーク給排口を設け、外部出入り口及び予備室扉は、隔壁と対向しない壁に設けられていることが好ましい。   In this case, it is preferable that a work supply / exhaust port for supplying and discharging a work is provided on a wall that constitutes the main chamber and does not face the partition wall, and the external doorway and the spare chamber door are provided on the wall that does not face the partition wall.

この構成によれば、ワーク給除材口へのワークの供給作業や除材作業に影響を与えることなく、また予備室を主室の両側に設けても、予備室扉を使用可能な状態のままチャンバ装置を隣接させて設置することができる。   According to this configuration, the spare room door can be used without affecting the work supply and removal work to the work supply / discharge material port, and even if the spare room is provided on both sides of the main room. The chamber apparatus can be installed adjacently.

この場合、外部出入り口及び予備室扉を複数設け、複数の予備室扉に対応するロック装置は互いに連動して制御されることが好ましい。   In this case, it is preferable that a plurality of external doorways and spare chamber doors are provided, and the locking devices corresponding to the plurality of spare chamber doors are controlled in conjunction with each other.

この構成によれば、チャンバ装置周辺のレイアウトに従って都合のよい出入り口を選択することができる。また、チャンバ装置への出入りの都合によって装置配置の自由度が制限されることを軽減することができる。   According to this configuration, a convenient doorway can be selected according to the layout around the chamber apparatus. Moreover, it is possible to reduce the restriction of the degree of freedom of device arrangement due to the convenience of entering and exiting the chamber device.

この場合、予備室は、前記主室を挟んだ両側の2箇所に設けられていることが好ましい。   In this case, it is preferable that the spare chamber is provided at two locations on both sides of the main chamber.

この構成によれば、チャンバ装置周辺のレイアウトに従って都合のよい出入り口を選択することができる。また、チャンバ装置への出入りの都合によって装置配置の自由度が制限されることを軽減することができる。また、主室内の装置に対応して、効率の良い方向から作業をしたり主室に入ったりすることができる。さらに、複数の作業者が同時に主室内の装置に対して作業することが容易になる。   According to this configuration, a convenient doorway can be selected according to the layout around the chamber apparatus. Moreover, it is possible to reduce the restriction of the degree of freedom of device arrangement due to the convenience of entering and exiting the chamber device. Also, corresponding to the equipment in the main room, it is possible to work from the efficient direction and enter the main room. Furthermore, it becomes easy for a plurality of workers to work on the apparatus in the main room at the same time.

この場合、予備室は、主室扉が開けられた状態で、主室に収容されたワーク処理装置に対して主室出入り口を介して作業を行うための作業用スペースであることが好ましい。   In this case, the spare room is preferably a work space for performing work on the work processing apparatus accommodated in the main room through the main room doorway with the main room door opened.

この構成によれば、予備室は、主室内の気体と外部の気体の混入を抑制する設備と、作業を実施するための領域を兼ねており、主室内の気体と外部の気体の混入を抑制する設備を別途設ける必要がなく、設備の省スペースを可能にしている。   According to this configuration, the spare chamber serves as both a facility for suppressing the mixing of the gas in the main chamber and the external gas and the area for performing the operation, and suppresses the mixing of the gas in the main chamber and the external gas. This eliminates the need for a separate facility and saves space for the facility.

この場合、予備室内の室圧を、主室の室圧より高くしたことが好ましい。   In this case, it is preferable that the chamber pressure in the preliminary chamber is higher than the chamber pressure in the main chamber.

この構成によれば、主室扉が開放されたとき、予備室の気体は、より室圧が低い主室のほうに流れるため、主室扉が開放されていても、主室から予備室への気体の流出の可能性を小さくすることができる。   According to this configuration, when the main chamber door is opened, the gas in the spare chamber flows toward the main chamber having a lower chamber pressure. Therefore, even if the main chamber door is opened, the main chamber is moved from the main chamber to the spare chamber. The possibility of gas outflow can be reduced.

この場合、予備室内の室圧を、チャンバ装置の周辺の室圧より低くしたことが好ましい。   In this case, it is preferable that the chamber pressure in the spare chamber is lower than the chamber pressure around the chamber device.

この構成によれば、予備室扉が開放されたとき、予備室の気体は、より室圧が高い外部の方に流れにくいため、予備室扉が開放されていても、予備室から外部への気体の流出の可能性を小さくすることができる。従って、主室から外部への気体の流出の可能性を小さくすることができる。   According to this configuration, when the spare chamber door is opened, the gas in the spare chamber is less likely to flow to the outside with higher chamber pressure. The possibility of gas outflow can be reduced. Therefore, the possibility of gas outflow from the main chamber to the outside can be reduced.

この場合、予備室内の室圧を、主室の室圧より低くしたことが好ましい。   In this case, it is preferable that the chamber pressure in the preliminary chamber is lower than the chamber pressure in the main chamber.

この構成によれば、主室扉が開放されたとき、予備室の気体は、より室圧が高い主室の方に流れにくいため、主室扉が開放されていても、予備室から主室への気体の流入の可能性を小さくすることができる。   According to this configuration, when the main chamber door is opened, the gas in the spare chamber is less likely to flow toward the main chamber having a higher chamber pressure. It is possible to reduce the possibility of inflow of gas.

この場合、予備室内の室圧を、チャンバ装置の周辺の室圧より高くしたことが好ましい。   In this case, it is preferable that the chamber pressure in the preliminary chamber is higher than the chamber pressure around the chamber device.

この構成によれば、予備室扉が開放されたとき、予備室の気体は、より室圧が低い外部のほうに流れるため、予備室扉が開放されていても、外部から予備室への気体の進入の可能性を小さくすることができる。従って、外部から主室への気体の進入の可能性を小さくすることができる。   According to this configuration, when the spare chamber door is opened, the gas in the spare chamber flows toward the outside having a lower chamber pressure. Therefore, even if the spare chamber door is opened, the gas from the outside to the spare chamber is opened. The possibility of entering is reduced. Therefore, the possibility of gas entering from the outside into the main chamber can be reduced.

この場合、ワーク処理装置が液滴吐出装置であって、主室内に設けられており、隔壁を介して予備室に隣接する副室と、副室内の気体を排気する排気装置とを設け、副室に液滴吐出装置の給液タンクを設置し、副室内の気体は排気装置から排気されることが好ましい。   In this case, the work processing device is a droplet discharge device, and is provided in the main chamber. The work processing device is provided with a sub chamber adjacent to the spare chamber through the partition wall and an exhaust device for exhausting the gas in the sub chamber. It is preferable that a liquid supply tank of a droplet discharge device is installed in the chamber, and the gas in the sub chamber is exhausted from the exhaust device.

この構成によれば、周辺が機能液のミストや蒸発した機能液溶媒などの濃度が高い可能性が高い供給タンクを主室内で隔離することにより、主室内の機能液ミストや蒸発した機能液溶媒などの濃度の低減ができる。さらに排気を副室からとることによって、機能液ミストや蒸発した機能液溶媒などの濃度が高い可能性の高い気体が主室内に拡散することを防止することができる。   According to this configuration, the functional liquid mist in the main chamber or the evaporated functional liquid solvent in the main chamber is isolated by isolating the supply tank in the main chamber that is highly likely to have a high concentration of functional liquid mist or evaporated functional liquid solvent. It is possible to reduce the concentration. Further, by taking the exhaust gas from the sub chamber, it is possible to prevent the gas having a high possibility of concentration such as the functional liquid mist and the evaporated functional liquid solvent from diffusing into the main chamber.

この場合、副室と予備室の間の隔壁に設けた作業開口と、作業開口を開閉する扉であって、閉鎖時には、副室の内部の気体と予備室の内部の気体とを隔絶可能な副室扉とを備えたことが好ましい。   In this case, a work opening provided in the partition between the sub chamber and the spare chamber and a door for opening and closing the work opening, and when closed, the gas inside the sub chamber and the gas inside the spare chamber can be isolated. A sub chamber door is preferably provided.

この構成によれば、周辺が機能液ミストや蒸発した機能液溶媒などの濃度が高い可能性が高い給液タンクの交換などを予備室から実施することができる。機能液ミストや蒸発した機能液溶媒などの濃度が高い可能性の高い気体が予備室に流出しても、予備室の気体を清浄な空気と入替えた後でないと外部とのあいだの予備室扉は開放されないため、予備室内に流出した機能液ミストや蒸発した機能液溶媒などの濃度が高い可能性の高い気体が、さらに外部に放出される可能性を極めて小さくすることができる。   According to this configuration, it is possible to perform replacement of the liquid supply tank or the like that is highly likely to have a high concentration of functional liquid mist, evaporated functional liquid solvent, or the like from the spare chamber. Even if a gas with high possibility of high concentration, such as functional liquid mist or evaporated functional liquid solvent, flows into the spare chamber, the spare chamber door must be connected to the outside only after the spare chamber gas is replaced with clean air. Since the gas is not opened, it is possible to extremely reduce the possibility that a gas having a high concentration such as the functional liquid mist that has flowed into the spare chamber or the evaporated functional liquid solvent is released to the outside.

本発明のチャンバ設備は、上記したチャンバ装置を予備室の部分で互いに連結し、連結された予備室は一体の空間としたことを特徴とする。   The chamber equipment of the present invention is characterized in that the above-described chamber devices are connected to each other at a portion of the preliminary chamber, and the connected preliminary chamber is an integral space.

この構成によれば、チャンバ装置内に設置することが好ましい複数の装置を効率よく設置することができる。   According to this configuration, it is possible to efficiently install a plurality of apparatuses that are preferably installed in the chamber apparatus.

本発明の液滴吐出設備は、上記したチャンバ装置またはチャンバ設備の主室に前記ワーク処理装置として液滴吐出装置を設置したことを特徴とする。   The droplet discharge facility according to the present invention is characterized in that a droplet discharge device is installed as the workpiece processing device in the chamber apparatus or the main chamber of the chamber facility.

この構成によれば、有機ガスを発生させ、その有機ガスが他の製造装置に付着した場合に、付着した製造装置を腐食する可能性が高く、製造される製品の歩留まりを低下させる可能性が高く、また、製品に付着することによって製品の特性に影響を及ぼし、製品の製造歩留まりを低下させる可能性が高い機能液を用いるとともに、雰囲気中に機能液のミストなどを飛散させやすい液滴吐出を行う液滴吐出装置を、内部の気体を外部に放出する可能性が極めて小さいチャンバ装置内に設置したため、周辺への機能液のミストなどの飛散の可能性を極めて小さくすることができ、周辺装置への重大な悪影響の可能性を極めて小さくするとともに、製品の特性に影響を及ぼし、製品の製造歩留まりを低下させる可能性を極めて小さくすことができる。   According to this configuration, when an organic gas is generated and the organic gas adheres to another manufacturing apparatus, there is a high possibility that the attached manufacturing apparatus will be corroded and the yield of manufactured products may be reduced. Droplet discharge is easy to disperse mist of functional liquid in the atmosphere while using functional liquid that is highly likely to affect product characteristics by adhering to the product and that is likely to reduce the manufacturing yield of the product. Since the droplet discharge device that performs the operation is installed in the chamber device that is very unlikely to release the internal gas to the outside, the possibility of scattering of functional liquid mist to the periphery can be extremely reduced, The possibility of serious adverse effects on the equipment can be minimized, and the possibility of affecting the product characteristics and reducing the production yield of the product can be minimized.

本発明による電気光学装置の製造方法は、チャンバ装置、チャンバ設備、または液滴吐出設備により、主室内の液滴吐出装置を用いて電気光学装置を製造することを特徴とする。   The electro-optical device manufacturing method according to the present invention is characterized in that an electro-optical device is manufactured by using a droplet discharge device in a main chamber by a chamber device, a chamber facility, or a droplet discharge facility.

この方法によれば、外部からの埃などの進入を抑制した雰囲気の中で液滴吐出装置によるパターン形成などが為されるため、電気光学装置のパターン形成などを高い品質と高い歩留まりで実施できる。さらに、液滴吐出装置から発生する機能液のミストや機能液から蒸発した溶媒の流出を抑制して、周辺に設置された電気光学装置の他の製造装置及び製造される電気光学装置に及ぼす悪影響を抑制することができ、電気光学装置の歩留まり低下を抑制することができ、高い品質と高い歩留まりの電気光学装置を製造することができる。   According to this method, pattern formation by the droplet discharge device is performed in an atmosphere in which entry of dust and the like from the outside is suppressed. Therefore, pattern formation of the electro-optical device can be performed with high quality and high yield. . Furthermore, the mist of the functional liquid generated from the droplet discharge device and the outflow of the solvent evaporated from the functional liquid are suppressed, and adverse effects on other manufacturing apparatuses of the electro-optical apparatus installed in the vicinity and the manufactured electro-optical apparatus Can be suppressed, a decrease in the yield of the electro-optical device can be suppressed, and an electro-optical device with high quality and high yield can be manufactured.

以下に、添付の図面を参照して、本発明の一実施形態に係るチャンバ装置及びチャンバ装置を適用した液滴吐出設備、及びこれにより製造される電気光学装置の構造および製造方法(製造プロセス)について説明する。   Hereinafter, with reference to the accompanying drawings, a chamber apparatus according to an embodiment of the present invention, a droplet discharge facility to which the chamber apparatus is applied, and a structure and a manufacturing method (manufacturing process) of an electro-optical device manufactured thereby Will be described.

(第1の実施形態)
図1および図2は、それぞれ、本発明の液滴吐出設備の実施形態を示す平面図および側面図である。なお、以下では、説明の便宜上、水平な一方向(図1および図2中の左右方向に相当する方向)を「Y軸方向」と言い、このY軸方向に垂直であって水平な方向(図1中の上下方向に相当する方向)を「X軸方向」と言う。
(First embodiment)
FIG. 1 and FIG. 2 are a plan view and a side view, respectively, showing an embodiment of a droplet discharge facility of the present invention. Hereinafter, for convenience of explanation, one horizontal direction (a direction corresponding to the left and right direction in FIGS. 1 and 2) is referred to as a “Y-axis direction”, which is perpendicular to the Y-axis direction and is in a horizontal direction ( The direction corresponding to the vertical direction in FIG. 1 is referred to as “X-axis direction”.

これらの図に示す液滴吐出設備(液滴吐出系)10は、液滴吐出ヘッド111を有する液滴吐出装置(インクジェット描画装置)1と、これを収容するチャンバ装置7とを備えている。液滴吐出装置1は、ワークとしての基板Wに対し、例えばインクや、目的とする材料を含む機能液等の液体(吐出液)をインクジェット方式(液滴吐出方式)により微小な液滴の状態で吐出して所定のパターンを形成(描画)する装置であり、例えば液晶表示装置におけるカラーフィルタや有機EL装置等を製造したり、基板上に金属配線を形成したりするのに用いることができる産業用の液滴吐出装置である。   A droplet discharge facility (droplet discharge system) 10 shown in these drawings includes a droplet discharge device (inkjet drawing device) 1 having a droplet discharge head 111 and a chamber device 7 that accommodates the droplet discharge device. The droplet discharge device 1 is a state of minute droplets on a substrate W as a workpiece by using, for example, a liquid (discharge liquid) such as ink or a functional liquid containing a target material by an inkjet method (droplet discharge method). This is a device that forms (draws) a predetermined pattern by discharging with, and can be used, for example, to manufacture a color filter or an organic EL device in a liquid crystal display device or to form a metal wiring on a substrate. This is an industrial droplet discharge device.

まず液滴吐出装置1に付いて説明し、チャンバ装置7については後述する。液滴吐出装置1は、装置本体2と、基板テーブル(ワーク載置部)3と、複数の液滴吐出ヘッド(インクジェットヘッド)111が設置されたヘッドユニット11と、液滴吐出ヘッド111のメンテナンスをするメンテナンス装置12と、基板Wにガスを吹き付けるブロー装置14と、基板テーブル3の移動距離を測定するレーザー測長器15と、制御装置16と、ドット抜け検出ユニット19とを備えている。   First, the droplet discharge device 1 will be described, and the chamber device 7 will be described later. The droplet discharge apparatus 1 includes an apparatus main body 2, a substrate table (work placement unit) 3, a head unit 11 in which a plurality of droplet discharge heads (inkjet heads) 111 are installed, and maintenance of the droplet discharge head 111. A maintenance device 12 that performs the above operation, a blow device 14 that blows gas onto the substrate W, a laser length measuring device 15 that measures the movement distance of the substrate table 3, a control device 16, and a dot dropout detection unit 19.

図2に示すように、装置本体2は、床上に設置された架台21と、架台21上に設置された石定盤22とを有している。石定盤22の上には、基板テーブル3が装置本体2に対しY軸方向に移動可能に設置されている。基板テーブル3は、リニアモータ101の駆動により、Y軸方向に前進・後退する。基板Wは、基板テーブル3上に載置される。   As shown in FIG. 2, the apparatus main body 2 includes a gantry 21 installed on the floor, and a stone surface plate 22 installed on the gantry 21. On the stone surface plate 22, the substrate table 3 is installed so as to be movable in the Y-axis direction with respect to the apparatus main body 2. The substrate table 3 moves forward and backward in the Y-axis direction by driving the linear motor 101. The substrate W is placed on the substrate table 3.

図1に示すように、基板テーブル3のX軸方向に沿った2つの辺の付近には、それぞれ、基板Wに対する液滴吐出(描画)前に液滴吐出ヘッド111から捨て吐出(フラッシング)された吐出液滴を受ける描画前フラッシングユニット(図示せず)が設置されている。描画前フラッシングユニットには、吸引チューブ(図示せず)が接続されており、捨て吐出された吐出液は、この吸引チューブを通り、排液装置により回収される。   As shown in FIG. 1, in the vicinity of two sides along the X-axis direction of the substrate table 3, the liquid is discharged (flushed) from the droplet discharge head 111 before the droplet discharge (drawing) on the substrate W, respectively. A pre-drawing flushing unit (not shown) for receiving the discharged droplets is installed. A suction tube (not shown) is connected to the pre-drawing flushing unit, and the discharged and discharged discharge liquid passes through this suction tube and is collected by the drainage device.

基板テーブル3のY軸方向の移動距離は、移動距離検出手段としてのレーザー測長器15により測定される。レーザー測長器15は、装置本体2に設置されたレーザー測長器センサヘッド51、プリズム52およびレーザー測長器本体53と、基板テーブル3に設置されたコーナーキューブ54とを有している。レーザー測長器センサヘッド51からX軸方向に沿って出射したレーザー光は、プリズム52で屈曲してY軸方向に進み、コーナーキューブ54に照射される。コーナーキューブ54での反射光は、プリズム52を経て、レーザー測長器センサヘッド51に戻る。液滴吐出装置1では、このようなレーザー測長器15によって検出された基板テーブル3の移動距離(現在位置)に基づいて、液滴吐出ヘッド111からの吐出タイミングが生成される。   The moving distance of the substrate table 3 in the Y-axis direction is measured by a laser length measuring device 15 as a moving distance detecting means. The laser length measuring device 15 has a laser length measuring device sensor head 51, a prism 52 and a laser length measuring device main body 53 installed in the apparatus main body 2, and a corner cube 54 installed on the substrate table 3. Laser light emitted from the laser measuring instrument sensor head 51 along the X-axis direction is bent by the prism 52 and proceeds in the Y-axis direction, and is irradiated onto the corner cube 54. The reflected light from the corner cube 54 returns to the laser length measuring sensor head 51 through the prism 52. In the droplet discharge device 1, the discharge timing from the droplet discharge head 111 is generated based on the movement distance (current position) of the substrate table 3 detected by the laser length measuring device 15.

また、装置本体2には、ヘッドユニット11を支持するメインキャリッジ102が、基板テーブル3の上方空間においてX軸方向に移動可能に設置されている。複数の液滴吐出ヘッド111を有するヘッドユニット11は、リニアモータとガイドとを備えたリニアモータアクチュエータ103の駆動により、メインキャリッジ102とともにX軸方向に前進・後退する。   In the apparatus main body 2, a main carriage 102 that supports the head unit 11 is installed so as to be movable in the X-axis direction in the space above the substrate table 3. The head unit 11 having a plurality of droplet discharge heads 111 moves forward and backward in the X-axis direction together with the main carriage 102 by driving a linear motor actuator 103 including a linear motor and a guide.

本実施形態の液滴吐出装置1では、液滴吐出ヘッド111のいわゆる主走査は、基板テーブル3をY軸方向に移動しつつ、レーザー測長器15を用いて生成した吐出タイミングに基づいて、液滴吐出ヘッド111の駆動(吐出液滴の選択的吐出)を行う。また、これに対応して、いわゆる副走査は、ヘッドユニット11(液滴吐出ヘッド111)のX軸方向への移動により行われる。   In the droplet discharge device 1 of the present embodiment, so-called main scanning of the droplet discharge head 111 is based on the discharge timing generated using the laser length measuring device 15 while moving the substrate table 3 in the Y-axis direction. The droplet discharge head 111 is driven (selective discharge of discharged droplets). Correspondingly, so-called sub-scanning is performed by movement of the head unit 11 (droplet ejection head 111) in the X-axis direction.

また、装置本体2には、基板W上に吐出された液滴を半乾燥させるブロー装置14が設置されている。ブロー装置14は、X軸方向に沿ってスリット状に開口するノズルを有しており、基板Wを基板テーブル3によりY軸方向に搬送しつつ、このノズルより基板Wへ向けてガスを吹き付ける。本実施形態の液滴吐出装置1では、Y軸方向に互いに離れた個所に位置する2個のブロー装置14が設けられている。   The apparatus main body 2 is provided with a blower 14 that semi-drys the droplets discharged onto the substrate W. The blow device 14 has a nozzle that opens in a slit shape along the X-axis direction, and blows gas toward the substrate W from the nozzle while transporting the substrate W in the Y-axis direction by the substrate table 3. In the droplet discharge device 1 of the present embodiment, two blow devices 14 are provided that are located at positions separated from each other in the Y-axis direction.

メンテナンス装置12は、架台21および石定盤22の側方に設置されている。このメンテナンス装置12は、ヘッドユニット11の待機時に液滴吐出ヘッド111をキャッピングするキャッピングユニット(キャッピング装置)121と、液滴吐出ヘッド111のノズル形成面をワイピングするクリーニングユニット(クリーニング装置)122と、液滴吐出ヘッド111の定期的なフラッシングを受ける定期フラッシングユニット123と、重量測定ユニット125とを有している。   The maintenance device 12 is installed on the side of the gantry 21 and the stone surface plate 22. The maintenance device 12 includes a capping unit (capping device) 121 for capping the droplet discharge head 111 during standby of the head unit 11, a cleaning unit (cleaning device) 122 for wiping the nozzle formation surface of the droplet discharge head 111, A regular flushing unit 123 that receives regular flushing of the droplet discharge head 111 and a weight measuring unit 125 are provided.

また、メンテナンス装置12は、Y軸方向に移動可能な移動台124を有しており、キャッピングユニット121、クリーニングユニット122、定期フラッシングユニット123および重量測定ユニット125は、移動台124上にY軸方向に並んで設置されている。ヘッドユニット11がメンテナンス装置12の上方に移動した状態で移動台124がY軸方向に移動することにより、キャッピングユニット121、クリーニングユニット122、定期フラッシングユニット123および重量測定ユニット125のいずれかが液滴吐出ヘッド111の下方に位置し得るようになっている。ヘッドユニット11は、待機時にはメンテナンス装置12の上方に移動し、キャッピング、クリーニング(ワイピング)および定期フラッシングを所定の順番で行う。   In addition, the maintenance device 12 includes a moving table 124 that can move in the Y-axis direction. The capping unit 121, the cleaning unit 122, the regular flushing unit 123, and the weight measuring unit 125 are arranged on the moving table 124 in the Y-axis direction. It is installed side by side. When the moving table 124 moves in the Y-axis direction with the head unit 11 moving above the maintenance device 12, any one of the capping unit 121, the cleaning unit 122, the regular flushing unit 123, and the weight measuring unit 125 drops. It can be positioned below the discharge head 111. The head unit 11 moves above the maintenance device 12 during standby, and performs capping, cleaning (wiping), and regular flushing in a predetermined order.

キャッピングユニット121は、複数の液滴吐出ヘッド111のそれぞれに対応するように配置された複数のキャップとこれらキャップを昇降させる昇降機構とを有している。ヘッドユニット11の待機時には、このキャップで液滴吐出ヘッド111のノズル形成面を覆うことにより、ノズル形成面が乾燥するのを防止することができる。また、キャッピングユニット121によるキャッピングは、ヘッドユニット11に吐出液を初期充填する際や、吐出液を異種のものに交換する場合にヘッドユニット11から吐出液を排出する際、洗浄液により流路を洗浄する際などにも行われる。   The capping unit 121 has a plurality of caps arranged so as to correspond to each of the plurality of droplet discharge heads 111 and a lifting mechanism that lifts and lowers these caps. When the head unit 11 is on standby, the nozzle forming surface can be prevented from drying by covering the nozzle forming surface of the droplet discharge head 111 with this cap. Further, the capping by the capping unit 121 is for cleaning the flow path with the cleaning liquid when the head unit 11 is initially filled with the discharging liquid or when the discharging liquid is discharged from the head unit 11 when the discharging liquid is replaced with a different type. It is also done when doing.

キャッピングユニット121には、各キャップに通じる吸引チューブ(図示せず)が接続されており、キャッピング中に液滴吐出ヘッド111から吐出された機能液は、この吸引チューブを通り、キャッピング排液装置(図示せず)により回収され、再利用に供される。ただし、流路の洗浄時に回収した洗浄液は再利用しない。   A suction tube (not shown) leading to each cap is connected to the capping unit 121, and the functional liquid discharged from the droplet discharge head 111 during capping passes through this suction tube, and passes through the capping drainage device ( (Not shown) and collected for reuse. However, the cleaning liquid collected when the flow path is cleaned is not reused.

クリーニングユニット122は、洗浄液(例えば、機能液を溶解可能な溶剤など)を含ませたワイピングシートをローラーにより走行させ、このワイピングシートにより液滴吐出ヘッド111のノズル形成面を拭き取り、清掃するよう作動するものである。   The cleaning unit 122 operates such that a wiping sheet containing a cleaning liquid (for example, a solvent capable of dissolving a functional liquid) is run by a roller, and the nozzle forming surface of the droplet discharge head 111 is wiped and cleaned by the wiping sheet. To do.

定期フラッシングユニット123は、ヘッドユニット11の待機時のフラッシングに使用されるものであり、液滴吐出ヘッド111が捨て吐出した吐出液滴を受けるものである。定期フラッシングユニット123には、吸引チューブ(図示せず)が接続されており、捨て吐出された機能液は、この吸引チューブを通り、排液装置(図示せず)により回収される。   The regular flushing unit 123 is used for flushing when the head unit 11 is on standby, and receives the ejected liquid droplets discarded and ejected by the liquid droplet ejection head 111. A suction tube (not shown) is connected to the regular flushing unit 123, and the discarded functional liquid passes through the suction tube and is collected by a drainage device (not shown).

重量測定ユニット125は、基板Wに対する液滴吐出動作の準備段階として、液滴吐出ヘッド111からの1回の液滴吐出量(重量)を測定するのに利用するものである。すなわち、基板Wに対する液滴吐出動作前、ヘッドユニット11は、重量測定ユニット125の上方に移動し、各液滴吐出ヘッド111の全吐出ノズルから1回または複数回液滴を重量測定ユニット125に対し吐出する。重量測定ユニット125は、吐出された液滴を受ける液受けと、電子天秤等の重量計とを備えており、吐出された液滴の重量を計測する。または、液受けを取り外して装置外部の重量計で計測してもよい。後述する制御装置は、その重量計測結果に基づいて、吐出ノズルにおける1回の吐出液滴の量(重量)を算出し、その算出値が予め定められた設計値に等しくなるように、液滴吐出ヘッド111を駆動するヘッドドライバの印加電圧を補正する。   The weight measurement unit 125 is used to measure a single droplet discharge amount (weight) from the droplet discharge head 111 as a preparation stage of a droplet discharge operation on the substrate W. That is, before the droplet discharge operation on the substrate W, the head unit 11 moves above the weight measurement unit 125 and drops droplets from the discharge nozzles of each droplet discharge head 111 one or more times to the weight measurement unit 125. Discharge against. The weight measuring unit 125 includes a liquid receiver that receives the discharged droplets and a weight scale such as an electronic balance, and measures the weight of the discharged droplets. Alternatively, the liquid receiver may be removed and measurement may be performed with a scale outside the apparatus. A control device to be described later calculates the amount (weight) of one discharge droplet in the discharge nozzle based on the weight measurement result, and the droplet is set so that the calculated value becomes equal to a predetermined design value. The applied voltage of the head driver that drives the ejection head 111 is corrected.

ドット抜け検出ユニット19は、石定盤22上における基板テーブル3の移動領域と重ならない場所であって、ヘッドユニット11の移動領域の下方に位置する場所に固定的に設置されている。ドット抜け検出ユニット19は、液滴吐出ヘッド111のノズルの目詰まりが原因となって生じるドット抜けを検出するものであり、例えばレーザー光を投光・受光する投光部および受光部を備えている。ドット抜け検出を行う際には、ヘッドユニット11がドット抜け検出ユニット19の上方空間をX軸方向に移動しつつ、各ノズルから液滴を捨て吐出し、ドット抜け検出ユニット19は、この捨て吐出された液滴に対し投光・受光を行って、目詰まりしているノズルの有無および個所を光学的に検出する。この際に液滴吐出ヘッド111から吐出された吐出液は、ドット抜け検出ユニット19が備える受け皿に溜まり、この受け皿の底部に接続された吸引チューブ(図示せず)を通って、排液装置(図示せず)により回収される。   The dot dropout detection unit 19 is fixedly installed at a place on the stone surface plate 22 that does not overlap the movement area of the substrate table 3 and is located below the movement area of the head unit 11. The missing dot detection unit 19 detects missing dots caused by clogging of the nozzles of the droplet discharge head 111 and includes, for example, a light projecting unit and a light receiving unit that project and receive laser light. Yes. When dot missing detection is performed, the head unit 11 discards and discharges droplets from each nozzle while moving in the X-axis direction in the space above the dot missing detection unit 19. The projected droplet is projected and received to optically detect the presence and location of a clogged nozzle. At this time, the discharge liquid discharged from the droplet discharge head 111 is collected in a tray provided in the dot dropout detection unit 19, and passes through a suction tube (not shown) connected to the bottom of the tray to be drained ( (Not shown).

制御装置(制御手段)(図示せず)は、液滴吐出装置1の各部の作動を制御するものであり、CPU(Central Processing Unit)と、液滴吐出装置1の制御動作を実行するためのプログラム等の各種プログラムおよび各種データを記憶(格納)する記憶部とを有している。図示の構成では、制御装置は、後述するチャンバ70の外部に設置されている。   A control device (control means) (not shown) controls the operation of each part of the droplet discharge device 1 and executes a control operation of the CPU (Central Processing Unit) and the droplet discharge device 1. And a storage unit that stores (stores) various programs such as programs and various data. In the illustrated configuration, the control device is installed outside a chamber 70 described later.

架台21は、アングル材等を方形に組んで構成された枠体211と、枠体211の下部に分散配置された複数の支持脚212とを有している。石定盤22は、無垢の石材で構成され、その上面は、高い平面度を有している。この石定盤22により、周囲の環境条件や振動等の影響を防ぎ、基板テーブル3およびヘッドユニット11が高精度に移動することができる。   The gantry 21 includes a frame 211 formed by assembling an angle member or the like in a square shape, and a plurality of support legs 212 distributed and arranged at the lower part of the frame 211. The stone surface plate 22 is made of a solid stone material, and the upper surface thereof has high flatness. The stone surface plate 22 prevents the influence of ambient environmental conditions, vibrations, and the like, and the substrate table 3 and the head unit 11 can be moved with high accuracy.

石定盤22の上には、Y軸方向移動機構としてのリニアモータ101およびエアスライダ108が設置されている。基板テーブル3は、エアスライダ108によりY軸方向に円滑に移動可能に支持され、リニアモータ101の駆動によりY軸方向に移動する。また、基板テーブル3の下部には、θ軸回転機構(図示省略)が設けられており、これにより、基板テーブル3は、基板テーブル3の中心を通る鉛直なθ軸を回転中心として所定範囲で回動可能になっている。また、基板テーブル3には、載置された基板Wを吸着して固定するための複数の吸引溝(吸引部)33が形成されている。   On the stone surface plate 22, a linear motor 101 and an air slider 108 are installed as a Y-axis direction moving mechanism. The substrate table 3 is supported by the air slider 108 so as to be able to move smoothly in the Y-axis direction, and moves in the Y-axis direction by driving the linear motor 101. In addition, a θ-axis rotation mechanism (not shown) is provided at the lower part of the substrate table 3, so that the substrate table 3 is within a predetermined range with a vertical θ-axis passing through the center of the substrate table 3 as a rotation center. It can be turned. The substrate table 3 is formed with a plurality of suction grooves (suction portions) 33 for sucking and fixing the placed substrate W.

装置本体2は、石定盤22の上に設置された4本の支柱23と、これらの支柱23により支持されたX軸方向に沿って延びる互いに平行な2本の桁(梁)24および25とをさらに有している。基板テーブル3は、桁24および25の下を通過可能になっている。   The apparatus main body 2 includes four support columns 23 installed on a stone surface plate 22 and two parallel beams (beams) 24 and 25 extending along the X-axis direction supported by these support columns 23. And further. The substrate table 3 can pass under the girders 24 and 25.

桁24および25には、メインキャリッジ102と、カメラキャリッジ106とがそれぞれ桁24および25の間に架け渡されるようにして設置されている。桁24には、メインキャリッジ102およびカメラキャリッジ106の共通のX軸方向移動機構として、リニアモータアクチュエータ103が設置されている。メインキャリッジ102と、カメラキャリッジ106とは、それぞれ、リニアモータアクチュエータ103と、桁25に設けられたリニアガイドとの案内により、X軸方向に円滑に移動可能に設置されている。メインキャリッジ102と、カメラキャリッジ106とは、リニアモータアクチュエータ103の駆動により、それぞれ独立してX軸方向に移動する。   On the girders 24 and 25, the main carriage 102 and the camera carriage 106 are installed so as to be bridged between the girders 24 and 25, respectively. A linear motor actuator 103 is installed in the beam 24 as an X-axis direction moving mechanism common to the main carriage 102 and the camera carriage 106. The main carriage 102 and the camera carriage 106 are installed so as to be able to move smoothly in the X-axis direction by guidance of the linear motor actuator 103 and a linear guide provided on the beam 25, respectively. The main carriage 102 and the camera carriage 106 move independently in the X-axis direction by driving the linear motor actuator 103.

メインキャリッジ102には、ヘッドユニット11が支持されている。ヘッドユニット11がメインキャリッジ102とともにX軸方向に移動することにより、液滴吐出ヘッド111の副走査が行われる。ヘッドユニット11には、吐出液を供給するための配管(図示せず)や、配線ケーブル(図示せず)等がそれぞれ接続されている。また、ヘッドユニット11は、メインキャリッジ102に対し着脱可能になっている。   A head unit 11 is supported on the main carriage 102. When the head unit 11 moves in the X-axis direction together with the main carriage 102, sub-scanning of the droplet discharge head 111 is performed. The head unit 11 is connected to a pipe (not shown) for supplying the discharge liquid, a wiring cable (not shown), and the like. The head unit 11 is detachable from the main carriage 102.

カメラキャリッジ106には、基板Wの所定の個所に設けられたアライメントマークを画像認識するための認識カメラが設置されている。認識カメラは、カメラキャリッジ106から下方に吊り下げられた状態で支持されている。なお、認識カメラは、他の用途に用いてもよい。   The camera carriage 106 is provided with a recognition camera for recognizing an image of alignment marks provided at predetermined positions on the substrate W. The recognition camera is supported in a state of being suspended downward from the camera carriage 106. Note that the recognition camera may be used for other purposes.

ヘッドユニット11は、図4(a)に示すように互いに同じ構造を有する複数の液滴吐出ヘッド111を保持している。ここで、図4(a)は、ヘッドユニット11を基板テーブル3側から観察した図である。ヘッドユニット11には6個の液滴吐出ヘッド111からなる列が、それぞれの液滴吐出ヘッド111の長手方向がX軸方向に対して角度をなすように2列配置されている。また、機能液を吐出するための液滴吐出ヘッド111は、図4(b)に示すように、それぞれが液滴吐出ヘッド111の長手方向に延びる2つのノズル列112,112を有している。1つのノズル列は、それぞれ180個のノズル114が一列に並んだ列のことであり、このノズル列112,112の方向に沿ったノズル114の間隔は、約140μmである。2つのノズル列112,112間のノズル114はそれぞれ半ピッチ(約70μm)ずれて配置されている。各液滴吐出ヘッド111はノズル114がX軸方向に一定ピッチで連続するように配置されており、液滴吐出ヘッド111のX軸方向に対して角度を調整すれば、ピッチを変えることができる。   The head unit 11 holds a plurality of droplet discharge heads 111 having the same structure as shown in FIG. Here, FIG. 4A is a diagram of the head unit 11 observed from the substrate table 3 side. In the head unit 11, two rows of six droplet discharge heads 111 are arranged so that the longitudinal direction of each droplet discharge head 111 forms an angle with respect to the X-axis direction. Further, the droplet discharge head 111 for discharging the functional liquid has two nozzle rows 112 and 112 each extending in the longitudinal direction of the droplet discharge head 111 as shown in FIG. . One nozzle row is a row in which 180 nozzles 114 are arranged in a row, and the interval between the nozzles 114 along the direction of the nozzle rows 112 and 112 is about 140 μm. The nozzles 114 between the two nozzle rows 112 and 112 are arranged so as to be shifted by a half pitch (about 70 μm). Each droplet discharge head 111 is arranged so that the nozzles 114 are continuous at a constant pitch in the X-axis direction, and the pitch can be changed by adjusting the angle with respect to the X-axis direction of the droplet discharge head 111. .

この配列パターンは一例であり、各種の基板Wに対し液滴吐出ヘッド111を専用部品とすれば、基板Wに合致したノズルの配設をすれば良い。あるいは、6個の液滴吐出ヘッド111の列を一つの液滴吐出ヘッドで構成しても良い。すなわち、液滴吐出ヘッド111の個数や列数、さらに配列パターンは任意に設定できる。いずれにしても、12個の液滴吐出ヘッド111の全吐出ノズル114によるドットが、X軸方向において連続していればよい。また、ヘッド切替バルブは、各液滴吐出ヘッド111毎に取り付けても、複数の液滴吐出ヘッド111に対して一個取り付ける構成であっても良い。   This arrangement pattern is an example. If the droplet discharge head 111 is a dedicated component for various substrates W, nozzles that match the substrate W may be disposed. Alternatively, a row of six droplet discharge heads 111 may be configured with one droplet discharge head. That is, the number of droplet discharge heads 111, the number of columns, and the arrangement pattern can be set arbitrarily. In any case, the dots formed by all the discharge nozzles 114 of the twelve droplet discharge heads 111 need only be continuous in the X-axis direction. Further, the head switching valve may be attached to each droplet discharge head 111 or may be attached to each of the plurality of droplet discharge heads 111.

図5(a)(b)に示すように、それぞれの液滴吐出ヘッド111は、振動板63と、ノズルプレート64とを、備えている。振動板63と、ノズルプレート64との間には、機能液タンク45から孔67を介して供給される材料液が常に充填される液たまり65が位置している。また、振動板63と、ノズルプレート64との間には、複数のヘッド隔壁61が位置している。そして、振動板63と、ノズルプレート64と、1対のヘッド隔壁61とによって囲まれた部分がキャビティ60である。キャビティ60はノズル114に対応して設けられているため、キャビティ60の数とノズル114の数とは同じである。キャビティ60には、1対のヘッド隔壁61間に位置する供給口66を介して、液たまり65から材料液が供給される。   As shown in FIGS. 5A and 5B, each droplet discharge head 111 includes a vibration plate 63 and a nozzle plate 64. Between the vibration plate 63 and the nozzle plate 64, a liquid pool 65 that is always filled with the material liquid supplied from the functional liquid tank 45 through the hole 67 is located. In addition, a plurality of head partition walls 61 are located between the diaphragm 63 and the nozzle plate 64. A portion surrounded by the diaphragm 63, the nozzle plate 64, and the pair of head partition walls 61 is a cavity 60. Since the cavities 60 are provided corresponding to the nozzles 114, the number of the cavities 60 and the number of the nozzles 114 are the same. A material liquid is supplied to the cavity 60 from a liquid pool 65 through a supply port 66 positioned between the pair of head partition walls 61.

振動板63上には、それぞれのキャビティ60に対応して、振動子62が位置する。振動子62は、ピエゾ素子62cと、ピエゾ素子62cを挟む1対の電極62a、62bとから成る。この1対の電極62a、62bに駆動電圧を与えることで、対応するノズル114から機能液が液滴となって吐出される。なお、ノズル114のそれぞれから吐出される液滴の体積は、0pl〜42pl(ピコリットル)の間で可変である。なお、材料液を吐出させるために、振動子62の代わりに電気熱変換素子を用いてもよく、これは電気熱変換素子による材料液の熱膨張を利用して、材料液を吐出する構成である。   On the diaphragm 63, the vibrator 62 is positioned corresponding to each cavity 60. The vibrator 62 includes a piezoelectric element 62c and a pair of electrodes 62a and 62b sandwiching the piezoelectric element 62c. By applying a driving voltage to the pair of electrodes 62a and 62b, the functional liquid is ejected as droplets from the corresponding nozzle 114. In addition, the volume of the droplet discharged from each of the nozzles 114 is variable between 0 pl to 42 pl (picoliter). In order to discharge the material liquid, an electrothermal conversion element may be used instead of the vibrator 62, and this is a configuration in which the material liquid is discharged using the thermal expansion of the material liquid by the electrothermal conversion element. is there.

このような液滴吐出装置1の近傍には、ラック(棚)を有するタンク収納部が設置されている。タンク収納部には、液滴吐出ヘッド111から吐出する機能液を貯留する機能液タンク45と、クリーニングユニット122に供給する洗浄液を貯留する洗浄液タンク46と、キャッピングユニット121から回収された排液を貯留する再利用タンク47と、描画前フラッシングユニット、定期フラッシングユニット123およびドット抜け検出ユニット19において液滴吐出ヘッド111より捨て吐出された排液を貯留する排液タンク48とがそれぞれ設置(収納)されている。それぞれのタンクはそれぞれ複数個備えられており、使用するタンクを切換えることによって、タンクの交換などは、液滴吐出装置1の運転を停止することなく実施することができる。   In the vicinity of such a droplet discharge device 1, a tank storage unit having a rack is provided. In the tank housing portion, the functional liquid tank 45 that stores the functional liquid discharged from the droplet discharge head 111, the cleaning liquid tank 46 that stores the cleaning liquid supplied to the cleaning unit 122, and the waste liquid collected from the capping unit 121 are stored. A reusable tank 47 to be stored and a drainage tank 48 to store the drained liquid discharged and discharged from the droplet discharge head 111 in the pre-drawing flushing unit, the regular flushing unit 123 and the dot dropout detection unit 19 are respectively installed (stored). Has been. A plurality of tanks are provided, and by changing the tank to be used, the tank can be replaced without stopping the operation of the droplet discharge device 1.

機能液タンク45に貯留された機能液は、給液系統を介して、ヘッドユニット11の各液滴吐出ヘッド111に供給される。機能液タンク45は、それぞれ、空になったときに機能液を補充したり、満杯になっているタンクに交換したりすることができるようになっている。機能液タンク45は、交換(着脱)と、吐出液の補充との少なくとも一方が行えるようになっていればよい。   The functional liquid stored in the functional liquid tank 45 is supplied to each droplet discharge head 111 of the head unit 11 through the liquid supply system. Each of the functional liquid tanks 45 can be replenished with a functional liquid when it becomes empty, or can be replaced with a full tank. The functional liquid tank 45 only needs to be able to perform at least one of replacement (detachment) and replenishment of the discharge liquid.

同様に、洗浄液タンク46も、それぞれ交換または洗浄液の補充を行うことができるようになっている。また、再利用タンク47、および排液タンク48は、それぞれ、満杯になったときに空のタンクへの交換または排液の抜き取りを行うことができるようになっている。   Similarly, the cleaning liquid tank 46 can be replaced or replenished with cleaning liquid, respectively. Further, the reuse tank 47 and the drainage tank 48 can be replaced with empty tanks or drained when the tanks are full.

ここで、制御装置の制御による液滴吐出装置1の全体の作動について簡単に説明する。液滴吐出装置1が備える基板位置決め装置(説明省略)の作動により基板テーブル3上に載置(給材)された基板Wが所定の位置に位置決め(プリアライメント)されると、基板テーブル3の各吸引溝33からのエアー吸引により、基板Wは、基板テーブル3に吸着・固定される。次いで、基板テーブル3およびカメラキャリッジ106がそれぞれ移動することにより、認識カメラが基板Wの所定の個所(1箇所または複数箇所)に設けられたアライメントマークの上方に移動し、このアライメントマークを認識する。この認識結果に基づいて、θ軸回転機構が作動して基板Wのθ軸回りの角度が補正されるとともに、基板WのX軸方向およびY軸方向の位置補正がデータ上で行われる(本アライメント)。   Here, the overall operation of the droplet discharge device 1 under the control of the control device will be briefly described. When the substrate W placed (supplied) on the substrate table 3 is positioned (prealigned) at a predetermined position by the operation of the substrate positioning device (not shown) provided in the droplet discharge device 1, the substrate table 3 The substrate W is sucked and fixed to the substrate table 3 by air suction from each suction groove 33. Next, when the substrate table 3 and the camera carriage 106 move, the recognition camera moves above an alignment mark provided at a predetermined location (one or a plurality of locations) of the substrate W, and recognizes this alignment mark. . Based on this recognition result, the θ-axis rotation mechanism operates to correct the angle of the substrate W around the θ-axis, and the position correction of the substrate W in the X-axis direction and the Y-axis direction is performed on the data (this book) alignment).

以上のような基板Wのアライメント作業が完了すると、ヘッドユニット11を停止した状態で、基板テーブル3の移動により基板Wを主走査方向(Y軸方向)に移動させつつ、各液滴吐出ヘッド111から基板Wへの選択的な液滴吐出動作を行う。このとき、液滴吐出動作は、基板テーブル3の前進(往動)中に行っても、後退(復動)中に行っても、前進および後退の両方(往復)で行ってもよい。また、基板テーブル3を複数回往復させて、液滴吐出動作を複数回繰り返し行ってもよい。以上の動作により、基板W上の、所定の幅(ヘッドユニット11により吐出可能な幅)で主走査方向に沿って伸びる領域に、機能液の液滴の吐出が終了する。   When the alignment operation of the substrate W as described above is completed, each droplet discharge head 111 is moved while moving the substrate W in the main scanning direction (Y-axis direction) by moving the substrate table 3 with the head unit 11 stopped. To selectively eject droplets onto the substrate W. At this time, the droplet discharge operation may be performed while the substrate table 3 is moving forward (forward), while it is moving backward (backward), or both forward and backward (reciprocating). Alternatively, the droplet ejection operation may be repeated a plurality of times by reciprocating the substrate table 3 a plurality of times. With the above operation, the discharge of the functional liquid droplets is completed on the substrate W in a region extending along the main scanning direction with a predetermined width (a width that can be discharged by the head unit 11).

その後、メインキャリッジ102を移動させることにより、ヘッドユニット11を前記所定の幅の分だけ副走査方向(X軸方向)に移動させる。この状態で、前述した動作と同様に、基板Wを主走査方向に移動させつつ、各液滴吐出ヘッド111から基板Wへの選択的な液滴吐出動作を行う。そして、この領域への液滴吐出動作が終了したら、ヘッドユニット11をさらに前記所定の幅の分だけ副走査方向(X軸方向)に移動させた状態として、基板Wを主走査方向に移動させつつ、同様の液滴吐出動作を行う。これを、数回繰り返すことで、基板Wの全領域に液滴吐出が行われる。このようにして、液滴吐出装置1は、基板W上に所定のパターンを形成(描画)する。   Thereafter, by moving the main carriage 102, the head unit 11 is moved in the sub-scanning direction (X-axis direction) by the predetermined width. In this state, similar to the above-described operation, a selective droplet discharge operation from each droplet discharge head 111 to the substrate W is performed while moving the substrate W in the main scanning direction. When the droplet discharge operation to this region is completed, the head unit 11 is further moved in the sub-scanning direction (X-axis direction) by the predetermined width, and the substrate W is moved in the main scanning direction. However, a similar droplet discharge operation is performed. By repeating this several times, droplet discharge is performed on the entire region of the substrate W. In this manner, the droplet discharge device 1 forms (draws) a predetermined pattern on the substrate W.

次に、液滴吐出設備10を構成するとともに、液滴吐出装置1を収容して、液滴吐出装置1の雰囲気を外部の雰囲気と遮断するチャンバ装置7について説明する。図1はチャンバ装置を含む液滴吐出設備の平面図であり、図2はチャンバ装置の断面図を含む液滴吐出設備の断面図であり、図3はチャンバ装置の予備室部分の断面図である。   Next, a description will be given of the chamber device 7 that constitutes the droplet discharge facility 10 and accommodates the droplet discharge device 1 and blocks the atmosphere of the droplet discharge device 1 from the external atmosphere. 1 is a plan view of a droplet discharge facility including a chamber apparatus, FIG. 2 is a sectional view of the droplet discharge facility including a sectional view of the chamber apparatus, and FIG. 3 is a sectional view of a preliminary chamber portion of the chamber apparatus. is there.

チャンバ装置7は、液滴吐出装置1を収容するチャンバ70と、チャンバ70に調整された空気を供給する空調機71と、チャンバ装置7を制御するチャンバコントロール装置75を収容する制御盤ボックス72とで構成されている。本実施形態のチャンバ装置7は、クリーンルーム内に設置されている。   The chamber device 7 includes a chamber 70 that houses the droplet discharge device 1, an air conditioner 71 that supplies conditioned air to the chamber 70, and a control panel box 72 that houses a chamber control device 75 that controls the chamber device 7. It consists of The chamber apparatus 7 of this embodiment is installed in a clean room.

チャンバ70は、チャンバ70を設置する床上に、後述する各外壁と、天パネル74とで形成し、内部の気体と外部の気体を隔絶できるように構成されており、略直方体形状をしている。チャンバ70の内部を隔壁76で区切って、液滴吐出装置1を収容する主室80と、主室80を間に挟むように配置された予備室81,81とを設けている。   The chamber 70 is formed on the floor on which the chamber 70 is installed by each outer wall, which will be described later, and the top panel 74, and is configured to isolate the internal gas from the external gas, and has a substantially rectangular parallelepiped shape. . The interior of the chamber 70 is divided by a partition wall 76 to provide a main chamber 80 that accommodates the droplet discharge device 1 and preliminary chambers 81 and 81 that are disposed so as to sandwich the main chamber 80 therebetween.

主室80は、隔壁76と、第1主室外壁77と、第2主室外壁78と、天パネル74とで形成されている。天パネル74の近くには、天パネル74と平行に主室天井84を設けて主室天井裏85を形成している。さらに、主室80の一部を副室壁79で区切って、副室82を形成している。   The main chamber 80 includes a partition wall 76, a first main chamber outer wall 77, a second main chamber outer wall 78, and a top panel 74. Near the top panel 74, a main room ceiling 84 is provided in parallel with the top panel 74 to form a main room ceiling 85. Further, a sub chamber 82 is formed by dividing a part of the main chamber 80 by a sub chamber wall 79.

主室80には制御装置を除く液滴吐出装置1が設置されており、副室82には液滴吐出装置1の機能液タンク45と、洗浄液タンク46と、再利用タンク47と、排液タンク48とが、設置されている。副室82が、上記した液滴吐出装置1の近傍に設置されているタンク収納部に相当する。   In the main chamber 80, the droplet discharge device 1 excluding the control device is installed, and in the sub chamber 82, the functional liquid tank 45, the cleaning liquid tank 46, the reuse tank 47, and the drainage of the droplet discharge device 1 are disposed. A tank 48 is installed. The sub chamber 82 corresponds to a tank storage unit installed in the vicinity of the droplet discharge device 1 described above.

図2,図3に示すように、主室天井裏85には、空調機71と連通している主室給気ダクト86と給気フィルタ87とが配置され、主室天井裏85に給気できるようになっている。主室天井84には全面に小径開口(図示省略)が設けてあり、主室天井裏85内に供給された空気が主室80全体に均等に降りるようになっている。第1主室外壁77には、主室排気ダクト88が設けてあり、工場の排気設備に連通している。主室排気ダクト88内には、排気流量を制御する主室排気ダンパ141と、排気流量を測定する主室排気流量センサ142とが設けられている。副室82に臨む第1主室外壁77には、副室排気ダクト(図示省略)が設けてあり、工場の排気設備に連通している。   As shown in FIGS. 2 and 3, a main room air supply duct 86 and an air supply filter 87 communicating with the air conditioner 71 are arranged on the main room ceiling back 85, and air is supplied to the main room ceiling back 85. It can be done. The main room ceiling 84 is provided with a small-diameter opening (not shown) on the entire surface so that the air supplied into the main room ceiling back 85 can uniformly fall over the entire main room 80. The first main room outer wall 77 is provided with a main room exhaust duct 88, which communicates with factory exhaust equipment. In the main chamber exhaust duct 88, a main chamber exhaust damper 141 that controls the exhaust flow rate and a main chamber exhaust flow rate sensor 142 that measures the exhaust flow rate are provided. A first main chamber outer wall 77 facing the sub chamber 82 is provided with a sub chamber exhaust duct (not shown), which communicates with the exhaust system of the factory.

空調機71から供給された空気は、給気フィルタ87を通過して主室天井裏85に入り、主室天井84の小径開口を通過して主室80及び副室82に供給される。主室80内の空気は、主室排気ダクト88を介して工場の排気設備に排気される。副室82内の空気は、副室排気ダクトを介して工場の排気設備に排気される。   The air supplied from the air conditioner 71 passes through the air supply filter 87 and enters the main room ceiling 85, passes through the small-diameter opening of the main room ceiling 84, and is supplied to the main room 80 and the sub chamber 82. The air in the main room 80 is exhausted to the factory exhaust facility via the main room exhaust duct 88. The air in the sub chamber 82 is exhausted to the factory exhaust facility via the sub chamber exhaust duct.

予備室81は、隔壁76と、第1主室外壁77に連なる第1予備室外壁91と、第2主室外壁78に連なる第2予備室外壁92と、隔壁76に対向する第3予備室外壁93と、天パネル74とで形成されている。天パネル74の近くには、天パネル74と平行に予備室天井94を設けて予備室天井裏95を形成している。   The spare chamber 81 includes a partition wall 76, a first spare chamber outer wall 91 that is continuous with the first main chamber outer wall 77, a second spare chamber outer wall 92 that is continuous with the second main chamber outer wall 78, and a third spare chamber that faces the partition wall 76. The outer wall 93 and the top panel 74 are formed. Near the top panel 74, a spare room ceiling 94 is provided in parallel with the top panel 74 to form a spare room ceiling 95.

図3に示すように、予備室天井裏95に臨む隔壁76には、主室給気ダクト86に連通している予備室給気ダクト96が設けてあり、予備室天井裏95内に設けた給気フィルタ97を介して、予備室天井裏95に給気できるようになっている。予備室81に臨む隔壁76には、予備室排気ダクト98が設けてあり、主室80と主室天井裏85を通って第1主室外壁77の開口からチャンバ70の外に出され、工場の排気設備に連通している。予備室排気ダクト98内には、排気流量を制御する予備室排気ダンパ143と、排気流量を測定する予備室排気流量センサ144とが、設けられている。予備主室天井94には全面に小径開口(図示省略)が設けてあり、予備室天井裏95内に供給された空気が予備室81全体に均等に降りるようになっている。   As shown in FIG. 3, a partition wall 76 facing the spare room ceiling 95 is provided with a spare room air supply duct 96 communicating with the main room air supply duct 86. The auxiliary room ceiling 95 can be supplied with air through an air supply filter 97. The partition wall 76 facing the spare room 81 is provided with a spare room exhaust duct 98, which passes through the main room 80 and the main room ceiling 85 and exits the chamber 70 from the opening of the first main room outer wall 77. It communicates with the exhaust system. In the preliminary chamber exhaust duct 98, a preliminary chamber exhaust damper 143 for controlling the exhaust flow rate and a preliminary chamber exhaust flow rate sensor 144 for measuring the exhaust flow rate are provided. The auxiliary main room ceiling 94 is provided with a small-diameter opening (not shown) on the entire surface so that the air supplied into the auxiliary room ceiling 95 is uniformly distributed over the entire auxiliary room 81.

空調機71から供給された空気は、給気フィルタ97を通過して予備室天井裏95に入り、予備室天井94の小径開口を通過して予備室81に供給される。予備室81内の気体は、予備室排気ダクト98を介して工場の排気設備に排気される。   The air supplied from the air conditioner 71 passes through the air supply filter 97, enters the spare room ceiling 95, passes through the small-diameter opening of the spare room ceiling 94, and is supplied to the spare room 81. The gas in the spare room 81 is exhausted to the factory exhaust facility via the spare room exhaust duct 98.

図1,図2に示すように、第2主室外壁78には、ワークWを主室80内の液滴吐出装置1に供給するとともに処理済みのワークWを排出するためのワーク給排口146が設けられている。ワーク給排口146の開口サイズは、ワークWが出入りできる最小サイズにすることが望ましい。第2主室外壁78の外側には、ワーク給排口146の開口を閉鎖可能な開閉シャッタ147と、開閉シャッタ147を駆動してワーク給排口146を開閉するエアシリンダ148とが設けられている。また、ワーク給排口146の上下にはエアカッタ149が設けられている。   As shown in FIGS. 1 and 2, a work supply / discharge port for supplying the work W to the droplet discharge device 1 in the main chamber 80 and discharging the processed work W is provided in the second main chamber outer wall 78. 146 is provided. The opening size of the workpiece supply / exhaust port 146 is desirably set to a minimum size that allows the workpiece W to enter and exit. An open / close shutter 147 that can close the opening of the work supply / exhaust port 146 and an air cylinder 148 that drives the open / close shutter 147 to open / close the work supply / exhaust port 146 are provided outside the second main chamber outer wall 78. Yes. Air cutters 149 are provided above and below the workpiece supply / exhaust port 146.

ワークWの供給や排出が行われないときには、開閉シャッタ147でワーク給排口146を閉鎖し、主室80内の気体がチャンバ70の外部に流出するのを防止している。エアカッタ149は気体流のカーテンを構成するものであるが、本実施形態では、気体流の噴出し方向を第2主室外壁78に平行な面より僅かに主室80の内側方向にして、主室80内の気体がチャンバ70の外部のクリーンルーム内に流出するのを抑制している。   When the workpiece W is not supplied or discharged, the workpiece supply / exhaust port 146 is closed by the opening / closing shutter 147 to prevent the gas in the main chamber 80 from flowing out of the chamber 70. The air cutter 149 constitutes a curtain of gas flow. In this embodiment, the air cutter 149 makes the gas flow ejection direction slightly inward of the main chamber 80 from the plane parallel to the second main chamber outer wall 78. The gas in the chamber 80 is prevented from flowing into the clean room outside the chamber 70.

図1、図3に示すように、主室80と予備室81を隔てる隔壁76には、予備室81から主室80へ出入りしたり、液滴吐出装置1の保守などの各種作業を行うための開口である主室出入り口151が形成されており、主室出入り口151を閉鎖可能な主室扉152が設けられている。主室扉152には、主室扉152の開閉状態を検出する開閉検出装置である主室扉開閉センサ153が設けられている。また、主室扉152には、主室扉152を開放禁止状態にできるロック装置である主室扉ロック装置155が設けられている。主室扉ロック装置155は、主室扉ロック機構156と主室扉ロック機構156を駆動させる第1アクチュエータ157とを備えており、後述するように第1アクチュエータ157によって主室扉ロック機構156を作動させて、主室扉152を開放禁止状態または開放許容状態にする。主室扉152の開閉は手作業で行われ、開閉操作を行う開閉レバー(図示省略)には、後述する、作業者が開放操作を行ったときに、主室扉152を開放しようとしていることを検知する主室扉スイッチ158(図1、2、3では図示省略)が設けられている。   As shown in FIGS. 1 and 3, the partition wall 76 that separates the main chamber 80 from the spare chamber 81 is used to perform various operations such as entering and leaving the main chamber 80 from the spare chamber 81 and maintenance of the droplet discharge device 1. A main chamber doorway 151 is formed, and a main chamber door 152 capable of closing the main chamber doorway 151 is provided. The main chamber door 152 is provided with a main chamber door open / close sensor 153 that is an open / close detection device that detects an open / closed state of the main chamber door 152. Further, the main room door 152 is provided with a main room door lock device 155 which is a lock device capable of opening the main room door 152 in a prohibited state. The main chamber door lock device 155 includes a main chamber door lock mechanism 156 and a first actuator 157 that drives the main chamber door lock mechanism 156, and the main actuator door lock mechanism 156 is moved by the first actuator 157 as will be described later. By operating, the main chamber door 152 is brought into an opening prohibition state or an opening permission state. The main chamber door 152 is manually opened and closed, and an opening / closing lever (not shown) for performing the opening / closing operation is intended to open the main chamber door 152 when an operator performs an opening operation, which will be described later. A main room door switch 158 (not shown in FIGS. 1, 2, and 3) is provided.

副室82と予備室81を隔てる隔壁76には、予備室81から副室82に設置された機能液タンク45、洗浄液タンク46、再利用タンク47または排液タンク48の交換などの各種作業を行うための開口である副室作業口171が形成されており、副室作業口171を閉鎖可能な副室扉172が設けられている。副室扉172には、副室扉172の開閉状態を検出する開閉検出装置である副室扉開閉センサ173が設けられている。また、副室扉172には、副室扉172を開放禁止状態にできるロック装置である副室扉ロック装置174が設けられている。副室扉ロック装置174は、副室扉ロック機構176と副室扉ロック機構176を駆動する第3アクチュエータ177を備えており、後述するように第3アクチュエータ177によって副室扉ロック機構176を作動させて、副室扉172を開放禁止状態または開放許容状態にする。副室扉172の開閉は手作業で行われ、開閉操作を行う開閉レバー(図示省略)には、後述する、作業者が開放操作を行ったときに、副室扉172を開放しようとしていることを検知する副室扉スイッチ178(図1、3では図示省略)が設けられている。   Various operations such as replacement of the functional liquid tank 45, the cleaning liquid tank 46, the reuse tank 47, or the drainage tank 48 installed in the auxiliary chamber 82 from the auxiliary chamber 81 are performed on the partition wall 76 that separates the auxiliary chamber 82 and the auxiliary chamber 81. A sub chamber working port 171 which is an opening for performing is formed, and a sub chamber door 172 capable of closing the sub chamber working port 171 is provided. The sub chamber door 172 is provided with a sub chamber door open / close sensor 173 that is an open / close detection device that detects the open / close state of the sub chamber door 172. Further, the sub chamber door 172 is provided with a sub chamber door lock device 174 that is a lock device that can prevent the sub chamber door 172 from being opened. The sub chamber door lock device 174 includes a sub chamber door lock mechanism 176 and a third actuator 177 that drives the sub chamber door lock mechanism 176, and the sub actuator door lock mechanism 176 is operated by the third actuator 177 as will be described later. Thus, the sub chamber door 172 is brought into the opening prohibited state or the opening permitted state. The opening and closing of the sub chamber door 172 is performed manually, and an opening / closing lever (not shown) for performing the opening / closing operation is intended to open the sub chamber door 172 when the operator performs an opening operation, which will be described later. A sub-chamber door switch 178 (not shown in FIGS. 1 and 3) is provided.

予備室81を形成する第1予備室外壁91と、第2予備室外壁92とには、チャンバ70の外部から予備室81へ出入りするための開口である予備室出入り口161がそれぞれ形成されており、予備室出入り口161を閉鎖可能な予備室扉162がそれぞれ設けられている。予備室扉162には、予備室扉162の開閉状態を検出する開閉検出装置である予備室扉開閉センサ163が設けられている。また、予備室扉162には、予備室扉162を開放禁止状態にできるロック装置である予備室扉ロック装置164が設けられている。予備室扉ロック装置164は、予備室扉ロック機構166と予備室扉ロック機構166を駆動する第2アクチュエータ167とを備えており、後述するように第2アクチュエータ167によって予備室扉ロック機構166を作動させて、予備室扉162を開放禁止状態または開放許容状態にする。予備室扉162の開閉は手作業で行われ、開閉操作を行う開閉レバー(図示省略)には、後述する、作業者が開放操作を行ったときに、予備室扉162を開放しようとしていることを検知する予備室扉スイッチ外168がチャンバ70の外部に、予備室扉スイッチ内169が予備室81の中に設けられている(図示省略)。予備室出入り口161が特許請求の範囲に記載した外部出入り口に相当する。   The first auxiliary chamber outer wall 91 and the second auxiliary chamber outer wall 92 forming the auxiliary chamber 81 are respectively provided with auxiliary chamber inlets / outlets 161 which are openings for entering / exiting the auxiliary chamber 81 from the outside of the chamber 70. A spare chamber door 162 capable of closing the spare chamber entrance / exit 161 is provided. The spare room door 162 is provided with a spare room door opening / closing sensor 163 which is an open / close detection device for detecting the open / closed state of the spare room door 162. Further, the spare room door 162 is provided with a spare room door lock device 164 which is a lock device capable of opening the spare room door 162 in a prohibited state. The spare chamber door lock device 164 includes a spare chamber door lock mechanism 166 and a second actuator 167 that drives the spare chamber door lock mechanism 166. As described later, the spare chamber door lock mechanism 166 is moved by the second actuator 167. By operating, the spare chamber door 162 is brought into the opening prohibition state or the opening permission state. The preliminary chamber door 162 is manually opened and closed, and an open / close lever (not shown) for performing the open / close operation is intended to open the preliminary chamber door 162 when an operator performs an open operation, which will be described later. A spare room door switch outside 168 is provided outside the chamber 70, and a spare room door switch inside 169 is provided in the spare room 81 (not shown). The preliminary chamber entrance / exit 161 corresponds to the external entrance / exit described in the claims.

次に、上記したような構成を有するチャンバ装置7を駆動するための電気的構成について説明する。図6は、チャンバ装置の電気的構成を示す電気構成ブロック図である。図6に示したチャンバコントロール装置75は、チャンバ制御マイクロコンピュータ181を内蔵したチャンバコントローラ182と、入力装置及び表示装置としてのタッチパネルディスプレイ184とを有する。上記チャンバ制御マイクロコンピュータ181は、図6に示すように、演算処理を行うCPU(Central Processing Unit)185と、各種情報を記憶するメモリすなわち情報記憶媒体であるRAM186aと、ROM186bとを有している。CPU185は、時間を計測するタイマ187を有している。   Next, an electrical configuration for driving the chamber apparatus 7 having the above configuration will be described. FIG. 6 is an electrical configuration block diagram showing an electrical configuration of the chamber apparatus. The chamber control device 75 shown in FIG. 6 includes a chamber controller 182 incorporating a chamber control microcomputer 181 and a touch panel display 184 as an input device and a display device. As shown in FIG. 6, the chamber control microcomputer 181 includes a CPU (Central Processing Unit) 185 that performs arithmetic processing, a memory that stores various information, that is, a RAM 186a that is an information storage medium, and a ROM 186b. . The CPU 185 has a timer 187 that measures time.

上記した、主室排気ダンパ141、予備室排気ダンパ143、副室排気ダンパ140、第1アクチュエータ157、第2アクチュエータ167、第3アクチュエータ177、エアシリンダ148の各機器は、それぞれ、主室排気ダンパドライバ141d、予備室排気ダンパドライバ143d、第1アクチュエータドライバ157d、第2アクチュエータドライバ167d、第3アクチュエータドライバ177d、エアシリンダドライバ148dを介してCPU185に接続されている。また、主室排気流量センサ142、予備室排気流量センサ144、副室排気流量センサ145、主室扉開閉センサ153、予備室扉開閉センサ163、副室扉開閉センサ173、主室扉スイッチ158、予備室扉外スイッチ168、予備室扉内スイッチ169、副室扉スイッチ178及びタッチパネルディスプレイ184の各機器も入出力インターフェース(図示省略)を介してCPU185に接続されている。   The main chamber exhaust damper 141, the spare chamber exhaust damper 143, the sub chamber exhaust damper 140, the first actuator 157, the second actuator 167, the third actuator 177, and the air cylinder 148 are respectively connected to the main chamber exhaust damper. The driver 141d, the spare chamber exhaust damper driver 143d, the first actuator driver 157d, the second actuator driver 167d, the third actuator driver 177d, and the air cylinder driver 148d are connected to the CPU 185. The main chamber exhaust flow sensor 142, the spare chamber exhaust flow sensor 144, the sub chamber exhaust flow sensor 145, the main chamber door opening / closing sensor 153, the spare chamber door opening / closing sensor 163, the sub chamber door opening / closing sensor 173, the main chamber door switch 158, The auxiliary room door switch 168, the auxiliary room door switch 169, the auxiliary room door switch 178, and the touch panel display 184 are also connected to the CPU 185 through an input / output interface (not shown).

メモリは、本実施例のRAM(Random Access Memory)、ROM(Read Only Memory
)等といった半導体メモリや、ハードディスク、CD−ROM読取り装置、ディスク型記憶媒体等といった外部記憶装置等を含む概念であり、機能的には、チャンバ装置7の動作の制御手順が記述されたプログラムソフトを記憶する記憶領域や、CPU185のためのワークエリアやテンポラリファイル等として機能する領域や、その他各種の記憶領域が設定される。CPU185は、ROM186b内に記憶されたプログラムソフトに従って、チャンバ70の給気や排気の制御や、各扉の開放禁止や開放許容などの制御を行うものである。
The memory is RAM (Random Access Memory), ROM (Read Only Memory) of this embodiment.
) Etc., and a concept including an external storage device such as a hard disk, a CD-ROM reader, a disk-type storage medium, etc., and functionally, program software describing a procedure for controlling the operation of the chamber device 7 Are set, a work area for the CPU 185, an area functioning as a temporary file, and other various storage areas. The CPU 185 controls the supply and exhaust of the chamber 70 and the prohibition of opening of each door and the opening permission according to the program software stored in the ROM 186b.

なお、本実施形態では、上記の各機能をCPU185を用いてソフト的に実現することにしたが、上記の各機能がCPUを用いない単独の電子回路によって実現できる場合には、そのような電子回路を用いることも可能である。   In the present embodiment, each of the above functions is realized by software using the CPU 185. However, when each of the above functions can be realized by a single electronic circuit that does not use the CPU, such electronic It is also possible to use a circuit.

以下、上記構成から成るチャンバ装置7における各扉152,162,172の開閉に関る動作を説明する。液滴吐出装置1が通常の運転をしており保守作業などを行わない場合には、チャンバ装置7の各扉152,162,172は閉じられている。主室80内は、給排気が行われており、CPU185によって主室排気ダンパ141が制御されることによって排気流量が制御されている。実際の排気流量は、主室排気ダクト88内に設けられた主室排気流量センサ142によって測定され、測定結果がCPU185にフィードバックされている。本実施形態では、液滴吐出設備10はクリーンルーム内に設置されており、チャンバ70内の気体がクリーンルーム内に流出することを抑制するために、主室80内の室圧がクリーンルームの室圧より低くなるように、排気流量が制御されている。   Hereinafter, operations related to opening and closing of the doors 152, 162, and 172 in the chamber apparatus 7 having the above-described configuration will be described. When the droplet discharge device 1 is operating normally and maintenance work is not performed, the doors 152, 162, and 172 of the chamber device 7 are closed. The main chamber 80 is supplied and exhausted, and the CPU 185 controls the main chamber exhaust damper 141 to control the exhaust flow rate. The actual exhaust flow rate is measured by a main chamber exhaust flow rate sensor 142 provided in the main chamber exhaust duct 88, and the measurement result is fed back to the CPU 185. In the present embodiment, the droplet discharge facility 10 is installed in a clean room, and in order to suppress the gas in the chamber 70 from flowing into the clean room, the room pressure in the main room 80 is higher than the room pressure in the clean room. The exhaust gas flow rate is controlled to be low.

チャンバ装置7の各扉が全て閉じられている状態が所定の時間継続すると、CPU185は予備室排気ダンパ143を閉じて、予備室81の排気を停止する。この場合、CPU185及び各扉開閉センサ153,153,173が、請求項に記載した無人の判断部に相当する。液滴吐出装置1が通常の運転をしており保守作業などを行わない場合には、チャンバ装置7の各扉152,162,172は閉じられており、各扉152,162,172のロック装置155,164,174は各扉152,162,172を開放禁止状態にしており、予備室81は排気が停止しており、給排気が停止した状態になっている。   When the state in which all the doors of the chamber device 7 are closed continues for a predetermined time, the CPU 185 closes the preliminary chamber exhaust damper 143 and stops exhausting the preliminary chamber 81. In this case, the CPU 185 and the door opening / closing sensors 153, 153, and 173 correspond to the unmanned determination unit described in the claims. When the droplet discharge device 1 operates normally and does not perform maintenance work or the like, the doors 152, 162, and 172 of the chamber device 7 are closed, and the lock devices for the doors 152, 162, and 172 are closed. Reference numerals 155, 164, and 174 indicate that the doors 152, 162, and 172 are prohibited from being opened, and the spare chamber 81 is in a state where exhaust is stopped and supply / exhaust is stopped.

最初に、上記した、チャンバ装置7の各扉152,162,172は閉じられており、各扉のロック装置は各扉を開放禁止状態にしており、主室80内は給排気が行われており、予備室81は給排気が停止した状態のチャンバ70に入るときの動作について説明する。図7は、チャンバ外部からチャンバ内部へ入るときの、チャンバ装置の動作を説明するフローチャートである。   First, the doors 152, 162, and 172 of the chamber device 7 are closed, the lock device of each door prohibits the opening of each door, and the main chamber 80 is supplied and exhausted. The operation when the spare chamber 81 enters the chamber 70 in a state where the supply / exhaust is stopped will be described. FIG. 7 is a flowchart for explaining the operation of the chamber apparatus when entering the chamber from the outside of the chamber.

作業者が予備室扉162を開ける開閉レバーを操作すると、予備室扉外スイッチ168がON状態となる(ステップS21でYES)。このとき、予備室扉ロック装置164は、開放禁止状態のままであり、予備室扉162を開けることはできない。主室扉開閉センサ153の検出結果によって、主室扉152の閉鎖が確認される(ステップS22)。主室扉152が開放されていた場合(ステップS22でNO)には、主室扉152が開放されているという警告を出す(ステップS23)。   When the operator operates an open / close lever that opens the spare room door 162, the spare room door outside switch 168 is turned on (YES in step S21). At this time, the auxiliary chamber door locking device 164 remains in the open prohibited state, and the auxiliary chamber door 162 cannot be opened. Based on the detection result of the main room door opening / closing sensor 153, the main room door 152 is confirmed to be closed (step S22). If the main room door 152 is open (NO in step S22), a warning is given that the main room door 152 is open (step S23).

主室扉152の閉鎖が確認された場合(ステップS22でYES)には、副室扉開閉センサ173の検出結果によって、副室扉172の閉鎖が確認される(ステップS24)。副室扉172が開放されていた場合(ステップS24でNO)には、副室扉172が開放されているという警告を出す(ステップS25)。   If it is confirmed that the main chamber door 152 is closed (YES in step S22), the sub chamber door 172 is confirmed to be closed based on the detection result of the sub chamber door opening / closing sensor 173 (step S24). If the sub chamber door 172 is opened (NO in step S24), a warning is issued that the sub chamber door 172 is opened (step S25).

副室扉172の閉鎖が確認された場合(ステップS24でYES)には、予備室排気ダンパ143を開放して、予備室81の排気を行う(ステップS26)。予備室排気ダンパ143を開放して、予備室81の排気を開始してから、タイマ187によって経過時間を計時し、予備室81内の気体を入替えることができる所定の時間にわたって排気を継続する(ステップS27)。予備室扉ロック装置164は、開放禁止状態が解除され、予備室扉162を開けることができるようになる(ステップS28)。なお、予備室排気ダクト98に設けられた予備室排気流量センサ144によって、予備室81からの排気流量が計測されており、所定の流量となるように、予備室排気ダンパ143の開口状態が制御される。   When it is confirmed that the sub chamber door 172 is closed (YES in step S24), the auxiliary chamber exhaust damper 143 is opened to exhaust the auxiliary chamber 81 (step S26). After the preliminary chamber exhaust damper 143 is opened and exhaust of the preliminary chamber 81 is started, the elapsed time is measured by the timer 187 and the exhaust is continued for a predetermined time in which the gas in the preliminary chamber 81 can be replaced. (Step S27). The spare room door locking device 164 is released from the open prohibition state and can open the spare room door 162 (step S28). Note that an exhaust flow rate from the spare chamber 81 is measured by a spare chamber exhaust flow sensor 144 provided in the spare chamber exhaust duct 98, and the opening state of the spare chamber exhaust damper 143 is controlled so as to be a predetermined flow rate. Is done.

次に、上記した図7の各ステップを経て開放可能になった予備室扉162を開けて、予備室81に入った状態で、主室扉152を開ける場合の動作について説明する。この場合、チャンバ装置7の各扉152,162,172は閉じられており、主室扉ロック装置155及び副室扉ロック装置174は、主室扉152及び副室扉172を開放禁止状態にしており、主室80及び予備室81は給排気が行われている。図8は、予備室に入った状態で、主室扉を開ける場合の、チャンバ装置の動作を説明するフローチャートである。   Next, an operation when the main chamber door 152 is opened while the auxiliary chamber door 162 that can be opened through the respective steps of FIG. In this case, the doors 152, 162, and 172 of the chamber device 7 are closed, and the main chamber door lock device 155 and the sub chamber door lock device 174 set the main chamber door 152 and the sub chamber door 172 to the open prohibited state. The main chamber 80 and the spare chamber 81 are supplied and exhausted. FIG. 8 is a flowchart for explaining the operation of the chamber apparatus when the main chamber door is opened in the state of entering the spare chamber.

作業者が主室扉152を開ける開閉レバーを操作すると、主室扉スイッチ158がON状態となる(ステップS31でYES)。このとき、主室扉ロック装置155は、開放禁止状態のままであり、主室扉152を開けることはできない。予備室扉開閉センサ163の検出結果によって、予備室扉162の閉鎖が確認される(ステップS32)。予備室扉162が開放されていた場合(ステップS32でNO)には、予備室扉162が開放されているという警告を出す(ステップS33)。本実施例では、予備室81内に設置されたブザーが鳴る。   When the operator operates the open / close lever that opens the main chamber door 152, the main chamber door switch 158 is turned on (YES in step S31). At this time, the main chamber door lock device 155 remains in the open prohibited state, and the main chamber door 152 cannot be opened. Based on the detection result of the spare chamber door opening / closing sensor 163, it is confirmed that the spare chamber door 162 is closed (step S32). If the spare room door 162 is opened (NO in step S32), a warning is given that the spare room door 162 is opened (step S33). In this embodiment, a buzzer installed in the spare room 81 sounds.

予備室扉162の閉鎖が確認された場合(ステップS32でYES)には、予備室扉ロック装置164を作動させて、予備室扉162をロックして開放禁止状態にする(ステップS34)。なお、1箇所の予備室81には2箇所の予備室扉162が設けてあるが、2箇所の予備室扉162の双方とも閉じている場合にのみ、予備室扉162が閉じているとして各制御を行う。また、2箇所の予備室扉ロック装置164は双方が同じ状態となるように制御される。   When it is confirmed that the spare room door 162 is closed (YES in step S32), the spare room door lock device 164 is operated to lock the spare room door 162 and to be in an open prohibited state (step S34). Note that although one spare chamber 81 is provided with two spare chamber doors 162, it is assumed that the spare chamber door 162 is closed only when both of the two spare chamber doors 162 are closed. Take control. Further, the two preliminary chamber door locking devices 164 are controlled so that both are in the same state.

タイマ187によって予備室扉162が閉鎖されてからの経過時間を計時し、予備室81内の気体を入替えることができる所定時間が経過しているか、即ち所定時間にわたって排気を継続したかを確認する(ステップS35)。所定時間が経過していない場合(ステップS35でNO)は、そのままの状態を所定時間が経過するまで維持する。所定時間が経過した場合(ステップS35でYES)は、主室扉ロック装置155は、開放禁止状態が解除され、主室扉152を開けることができるようになる(ステップS36)。作業者は、手作業で主室扉152を開けて、液滴吐出装置1の保守などの作業を行う。作業者がチャンバ70の内部に居る間は、主室扉152は開放したままで作業を行う。   The elapsed time after the preliminary chamber door 162 is closed by the timer 187 is counted, and it is confirmed whether or not a predetermined time has passed in which the gas in the preliminary chamber 81 can be replaced, that is, exhaustion is continued for a predetermined time. (Step S35). If the predetermined time has not elapsed (NO in step S35), the state is maintained as it is until the predetermined time elapses. When the predetermined time has elapsed (YES in step S35), the main chamber door lock device 155 is released from the open prohibition state and can open the main chamber door 152 (step S36). An operator manually opens the main chamber door 152 and performs operations such as maintenance of the droplet discharge device 1. While the worker is inside the chamber 70, the main room door 152 is opened and the work is performed.

また、上記した図7の各ステップを経て開放可能になった予備室扉162を開けて、予備室81に入った状態で、副室扉172を開ける場合の動作は、上記した図8の各ステップを経て主室扉152を開ける場合と同様である。   Further, when the auxiliary chamber door 162 that can be opened through the steps of FIG. 7 described above is opened and the auxiliary chamber door 172 is opened in the state of entering the auxiliary chamber 81, the operation shown in FIG. This is the same as when the main chamber door 152 is opened through the steps.

次に、上記した図8の各ステップを経て開放可能になった主室扉152を開けて、各種作業を行った後、予備室扉162を開けてチャンバ70から出る場合の動作について説明する。この場合、作業者がチャンバ70の内部に居り、主室扉152は開放されている。予備室扉162は閉じられており、予備室扉ロック装置164は、予備室扉162を開放禁止状態にしており、主室80及び予備室81は給排気が行われている。   Next, an operation when the main chamber door 152 that can be opened through the steps of FIG. 8 described above is opened and various operations are performed, and then the spare chamber door 162 is opened and the chamber 70 is exited will be described. In this case, the worker is inside the chamber 70 and the main room door 152 is opened. The spare room door 162 is closed, the spare room door lock device 164 prohibits the opening of the spare room door 162, and the main room 80 and the spare room 81 are supplied and exhausted.

主室80内の室圧の制御は、空調機71からの給気状態をほぼ一定に保ち、主室排気ダクト88内の主室排気ダンパ141の開口状態を調整することで行われている。さらに、主室排気流量センサ142によって排気流量を測定しており、測定結果によって流量を調整することができる。予備室81内の室圧は、空調機71からの給気状態はほぼ一定であり、予備室排気ダクト98内の予備室排気ダンパ143の開口状態を調整することで制御されている。さらに、予備室排気流量センサ144によって排気流量を測定しており、測定結果によって流量を調整することができる。   Control of the chamber pressure in the main chamber 80 is performed by keeping the air supply state from the air conditioner 71 substantially constant and adjusting the opening state of the main chamber exhaust damper 141 in the main chamber exhaust duct 88. Furthermore, the exhaust flow rate is measured by the main chamber exhaust flow rate sensor 142, and the flow rate can be adjusted according to the measurement result. The chamber pressure in the auxiliary chamber 81 is controlled by adjusting the opening state of the auxiliary chamber exhaust damper 143 in the auxiliary chamber exhaust duct 98 while the air supply state from the air conditioner 71 is substantially constant. Further, the exhaust flow rate sensor 144 measures the exhaust flow rate, and the flow rate can be adjusted according to the measurement result.

本実施形態における液滴吐出設備10はクリーンルームに設置されており、チャンバ70内の気体がクリーンルーム内に流出することが好ましくない。従って、予備室81内の室圧は、チャンバ装置7の室外に相当するクリーンルーム内の室圧より低くなるように、予備室排気ダンパ143の開口状態を調整している。また、主室80内の室圧は、予備室81内の室圧より低くなるように、主室排気ダンパ141の開口状態を調整している。   The droplet discharge facility 10 in this embodiment is installed in a clean room, and it is not preferable that the gas in the chamber 70 flows out into the clean room. Accordingly, the opening state of the auxiliary chamber exhaust damper 143 is adjusted so that the chamber pressure in the auxiliary chamber 81 is lower than the chamber pressure in the clean room corresponding to the outside of the chamber device 7. Further, the opening state of the main chamber exhaust damper 141 is adjusted so that the chamber pressure in the main chamber 80 is lower than the chamber pressure in the auxiliary chamber 81.

図9は、予備室扉162を開けてチャンバ70から出る場合の、チャンバ装置の動作を説明するフローチャートである。予備室扉162を開けるためには、まず開放されている主室扉152を閉鎖し、副室扉172を閉鎖して、予備室81と主室80または副室82とを隔絶した状態にする。作業者が、予備室81内で、予備室扉162を開ける開閉レバーを操作すると、予備室扉内スイッチ169がON状態となる(ステップS41でYES)。このとき、予備室扉ロック装置164は、開放禁止状態のままであり、予備室扉162を開けることはできない。   FIG. 9 is a flowchart for explaining the operation of the chamber apparatus when the auxiliary chamber door 162 is opened and the chamber 70 is exited. In order to open the spare chamber door 162, first, the opened main chamber door 152 is closed, the sub chamber door 172 is closed, and the spare chamber 81 and the main chamber 80 or the sub chamber 82 are isolated. . When the operator operates an open / close lever for opening the spare chamber door 162 in the spare chamber 81, the spare chamber door switch 169 is turned on (YES in step S41). At this time, the auxiliary chamber door locking device 164 remains in the open prohibited state, and the auxiliary chamber door 162 cannot be opened.

主室扉開閉センサ153の検出結果によって、主室扉152の閉鎖が確認される(ステップS42)。主室扉152が開放されていた場合(ステップS42でNO)には、主室扉152が開放されているという警告を出す(ステップS43)。本実施形態では、予備室81内に設置されたブザーが鳴る。主室扉152の閉鎖が確認された場合(ステップS42でYES)には、主室扉ロック装置155を作動させて、主室扉152をロックして開放禁止状態にする(ステップS44)。   Based on the detection result of the main room door opening / closing sensor 153, the main room door 152 is confirmed to be closed (step S42). If the main chamber door 152 is open (NO in step S42), a warning that the main chamber door 152 is open is issued (step S43). In this embodiment, a buzzer installed in the spare room 81 sounds. If it is confirmed that the main chamber door 152 is closed (YES in step S42), the main chamber door lock device 155 is operated to lock the main chamber door 152 and make it in an open prohibition state (step S44).

次に、副室扉開閉センサ173の検出結果によって、副室扉172の閉鎖が確認される(ステップS45)。副室扉172が開放されていた場合(ステップS45でNO)には、副室扉172が開放されているという警告を出す(ステップS46)。本実施形態では、予備室81内に設置されたブザーが鳴る。副室扉172の閉鎖が確認された場合(ステップS45でYES)には、副室扉ロック装置174を作動させて、副室扉172をロックして開放禁止状態にする(ステップS47)。   Next, the closing of the sub chamber door 172 is confirmed based on the detection result of the sub chamber door opening / closing sensor 173 (step S45). If the sub chamber door 172 is opened (NO in step S45), a warning is issued that the sub chamber door 172 is opened (step S46). In this embodiment, a buzzer installed in the spare room 81 sounds. When it is confirmed that the sub chamber door 172 is closed (YES in step S45), the sub chamber door lock device 174 is operated to lock the sub chamber door 172 and to make it in an open prohibition state (step S47).

次に、ステップS48で、タイマ187によって、主室扉152と副室扉172とのなかで、後から閉鎖された扉が閉鎖されてからの経過時間を計時し、予備室81内の気体を入替えることができる所定時間が経過しているか、即ち所定時間にわたって排気を継続したかを確認する。所定時間が経過していない場合(ステップS48でNO)は、そのままの状態を所定時間が経過するまで継続する。所定時間が経過した場合(ステップS48でYES)は、予備室扉ロック装置164は、開放禁止状態(ロック状態)が解除され、予備室扉162を開けることができるようになる(ステップS49)。   Next, in step S48, the timer 187 counts the elapsed time since the door that was closed later in the main chamber door 152 and the sub chamber door 172 is closed, and the gas in the spare chamber 81 is It is confirmed whether or not a predetermined time that can be replaced has elapsed, that is, whether or not exhaustion has been continued for a predetermined time. If the predetermined time has not elapsed (NO in step S48), the state is continued as it is until the predetermined time elapses. When the predetermined time has elapsed (YES in step S48), the spare room door locking device 164 is released from the open prohibition state (locked state) and can open the spare room door 162 (step S49).

次に、予備室扉開閉センサ163によって、一旦予備室扉162が開放されたことを確認し(ステップS50)、さらに予備室扉162が閉鎖されたことを確認する(ステップS51)。ステップS50またはステップS51でNOの場合は、ステップS49を実行後の状態のまま待機する。予備室扉162が一旦開放されており(ステップS50でYES)、さらに予備室扉162が閉鎖された(ステップS51でYES)場合、予備室扉ロック装置164を作動させて、予備室扉162をロックして開放禁止状態にする(ステップS52)。なお、1箇所の予備室81には2箇所の予備室扉162が設けてあるが、1箇所の予備室扉162において開放及びその後の閉鎖が確認されれば、2箇所の予備室扉162において、ステップS52が実行される。   Next, the spare room door opening / closing sensor 163 confirms that the spare room door 162 is once opened (step S50), and further confirms that the spare room door 162 is closed (step S51). If NO in step S50 or step S51, the process waits in the state after executing step S49. When the spare room door 162 is once opened (YES in step S50) and the spare room door 162 is further closed (YES in step S51), the spare room door locking device 164 is operated to open the spare room door 162. It is locked to be in an open prohibition state (step S52). In addition, although two preliminary chamber doors 162 are provided in one preliminary chamber 81, if opening and the subsequent closure are confirmed in one preliminary chamber door 162, two preliminary chamber doors 162 are provided. Step S52 is executed.

タイマ187によって予備室扉162が閉鎖されてからの経過時間を計時し、予備室81内の気体を入替えることができる所定時間が経過しているか、即ち所定時間にわたって排気を継続したかを確認する(ステップS53)。所定時間が経過していない場合(ステップS53でNO)は、そのままの状態を所定時間が経過するまで継続する。所定時間が経過した場合(ステップS53でYES)は、予備室排気ダンパ143を閉鎖して、予備室81の排気を停止する(ステップS54)。   The elapsed time after the preliminary chamber door 162 is closed by the timer 187 is counted, and it is confirmed whether or not a predetermined time has passed in which the gas in the preliminary chamber 81 can be replaced, that is, exhaustion is continued for a predetermined time. (Step S53). If the predetermined time has not elapsed (NO in step S53), the state is continued as it is until the predetermined time elapses. If the predetermined time has elapsed (YES in step S53), the auxiliary chamber exhaust damper 143 is closed and the exhaust of the auxiliary chamber 81 is stopped (step S54).

この第1の実施形態によれば、以下の効果が得られる。
(1)チャンバ70は、主室80と予備室81とを有し、主室80は予備室81を介して外部と連通されるとともに、主室扉152と予備室扉162とを設け、主室出入り口151と予備室出入り口161を閉鎖可能にしたため、主室80と外部とが直接連通されていることがなく、扉を閉鎖して連通を遮断することもでき、主室80内部の気体がチャンバ70の外部にもれることを抑制することができる。
According to the first embodiment, the following effects can be obtained.
(1) The chamber 70 has a main chamber 80 and a spare chamber 81. The main chamber 80 communicates with the outside through the spare chamber 81, and is provided with a main chamber door 152 and a spare chamber door 162. Since the chamber entrance / exit 151 and the auxiliary chamber entrance / exit 161 can be closed, the main chamber 80 and the outside are not in direct communication with each other, the door can be closed to block communication, and the gas in the main chamber 80 can be blocked. Leaking outside the chamber 70 can be suppressed.

(2)主室80と予備室81とにはそれぞれ給気ダクト86,96と排気ダクト88,98が設置されているため、主室80から予備室81に進入した気体を外部に流出する前に排気することができ、主室80内部の気体がチャンバ70の外部にもれることをより確実に抑制することができる。   (2) Since the air supply ducts 86 and 96 and the exhaust ducts 88 and 98 are installed in the main chamber 80 and the spare chamber 81, respectively, before the gas that has entered the spare chamber 81 from the main chamber 80 flows out to the outside. The gas inside the main chamber 80 can be more reliably suppressed from leaking outside the chamber 70.

(3)主室扉152と予備室扉162との開閉状態を検知する開閉センサと、開放禁止状態にロックできるロック装置とを設けて、一方が開放されているときには他方はロックされるように制御したため、主室80と外部とが連続した状態になる機会がなく、主室80の気体が予備室81に進入しても、さらに外部まで流出することはできない。従って、主室80内の気体が予備室81を通過して外部に流出する可能性を極めて小さくすることができる。   (3) An open / close sensor that detects the open / closed state of the main chamber door 152 and the auxiliary chamber door 162 and a lock device that can be locked in the open prohibited state are provided so that when one is open, the other is locked. Because of the control, there is no opportunity for the main chamber 80 and the outside to be in a continuous state, and even if the gas in the main chamber 80 enters the spare chamber 81, it cannot further flow out to the outside. Therefore, the possibility that the gas in the main chamber 80 flows out of the spare chamber 81 and flows outside can be extremely reduced.

(4)タイマ187によって、全扉が閉まった状態となってからの時間を計測して、所定時間を経過すると、チャンバ70内は無人と判断して、予備室排気ダンパ143を閉じるように制御したため、無人状態では必要でない予備室81の換気を停止して、空調機71の給気負荷を減らすことによって、運転に必要なエネルギーを節減することができる。   (4) The time after the doors are closed is measured by the timer 187, and when the predetermined time elapses, the chamber 70 is determined to be unattended, and the spare chamber exhaust damper 143 is closed. Therefore, the energy required for the operation can be reduced by stopping the ventilation of the spare room 81 which is not necessary in the unattended state and reducing the air supply load of the air conditioner 71.

(5)作業者がチャンバ70の外部から予備室81に入る場合、タイマ187によって、予備室81の換気実施時間を計時し、予備室81内の全容量が換気される時間が経過した後予備室扉162を開放可能にするようにした。従って、主室80から予備室81に進入した気体があっても、予備室扉162を開放する前に排除することができ、作業者がチャンバ70の外部から予備室81に入るのに伴って、主室80内部の気体がチャンバ70の外部にもれることをより確実に抑制することができる。   (5) When an operator enters the spare room 81 from the outside of the chamber 70, the timer 187 measures the ventilation execution time of the spare room 81, and the spare time is reached after the time during which the entire capacity in the spare room 81 is vented. The chamber door 162 can be opened. Therefore, any gas that has entered the spare chamber 81 from the main chamber 80 can be removed before the spare chamber door 162 is opened, and as the operator enters the spare chamber 81 from the outside of the chamber 70. Further, it is possible to more reliably suppress the gas inside the main chamber 80 from leaking outside the chamber 70.

(6)作業者が予備室81からチャンバ70の外部へ出る場合、タイマ187によって、主室扉152が閉まった後の予備室81の換気実施時間を計時し、予備室81内の全容量が換気される時間が経過した後予備室扉162を開放可能にするようにした。これによって、主室80から予備室81に進入した気体を、予備室扉162を開放する前に排除することができ、主室80内部の気体がチャンバ70の外部に漏れることをより確実に抑制することができる。   (6) When the worker leaves the spare room 81 from the spare room 81, the timer 187 measures the ventilation time of the spare room 81 after the main room door 152 is closed, and the total capacity in the spare room 81 is The spare room door 162 can be opened after the time for ventilation has elapsed. As a result, the gas that has entered the spare chamber 81 from the main chamber 80 can be eliminated before the spare chamber door 162 is opened, and the gas inside the main chamber 80 is more reliably prevented from leaking outside the chamber 70. can do.

(7)作業者が予備室81からチャンバ70の外部へ出る場合、タイマ187によって、副室扉172が閉まった後の予備室81の換気実施時間を計時し、予備室81内の全容量が換気される時間が経過した後予備室扉162を開放可能にするようにした。これによって、副室82から予備室81に進入した気体を、予備室扉162を開放する前に排除することができ、副室82内部の気体がチャンバ70の外部に漏れることをより確実に抑制することができる。   (7) When the worker goes out of the chamber 70 from the spare chamber 81, the timer 187 measures the ventilation execution time of the spare chamber 81 after the sub chamber door 172 is closed, and the total capacity in the spare chamber 81 is The spare room door 162 can be opened after the time for ventilation has elapsed. As a result, the gas that has entered the auxiliary chamber 81 from the sub chamber 82 can be eliminated before the auxiliary chamber door 162 is opened, and the gas inside the auxiliary chamber 82 is more reliably suppressed from leaking outside the chamber 70. can do.

(8)予備室81内では、予備室扉162を閉鎖し、主室扉152を開放したままで、液滴吐出装置1の保守作業などの作業を実施することができるため、別途作業スペースを設けることなく、外部と遮断された作業環境を実現することができ、主室80内部の気体がチャンバ70の外部にもれることを抑制するとともに、設備の省スペースを可能にしている。   (8) In the spare chamber 81, the spare chamber door 162 can be closed and the main chamber door 152 can be opened, and maintenance work such as the droplet discharge device 1 can be performed. Without being provided, it is possible to realize a work environment that is shut off from the outside, and it is possible to prevent the gas inside the main chamber 80 from leaking outside the chamber 70 and to save the space of the equipment.

(9)主室排気ダンパ141によって主室80からの排気量を制御することで、主室80の室圧を制御し、予備室排気ダンパ143によって予備室81からの排気量を制御することで、予備室81の室圧を制御し、予備室81の室圧を主室80の室圧より高くしたことによって、主室80内部の気体が予備室81に流出することを抑制することができ、主室80内部の気体がチャンバ70の外部に漏れることをより確実に抑制することができる。   (9) By controlling the exhaust amount from the main chamber 80 by the main chamber exhaust damper 141, the chamber pressure of the main chamber 80 is controlled, and by controlling the exhaust amount from the spare chamber 81 by the spare chamber exhaust damper 143. By controlling the chamber pressure of the spare chamber 81 and making the chamber pressure of the spare chamber 81 higher than the chamber pressure of the main chamber 80, it is possible to suppress the gas inside the main chamber 80 from flowing into the spare chamber 81. The gas inside the main chamber 80 can be more reliably suppressed from leaking outside the chamber 70.

(10)予備室排気ダンパ143によって予備室81からの排気量を制御することで、予備室81の室圧を制御し、予備室81の室圧をチャンバ70の外部であるクリーンルームの室圧より低くしたことによって、予備室81内部の気体がクリーンルームに流出することを抑制することができ、主室80内部の気体がチャンバ70の外部であるクリーンルームに漏れることをより確実に抑制することができる。   (10) By controlling the exhaust amount from the spare chamber 81 by the spare chamber exhaust damper 143, the chamber pressure of the spare chamber 81 is controlled, and the chamber pressure of the spare chamber 81 is controlled by the room pressure of the clean room outside the chamber 70. By making it low, it can suppress that the gas inside the preliminary | backup room 81 flows out into a clean room, and can suppress more reliably that the gas inside the main chamber 80 leaks into the clean room which is the exterior of the chamber 70. .

(11)液滴吐出装置1を収容する主室80を区切って副室82を設け、副室82に機能液の溶媒などの蒸発ガスを発生させる可能性が高い機能液タンク45と、洗浄液タンク46と、再利用タンク47と、排液タンク48とを収容したため、液滴吐出装置1の雰囲気が機能液の溶媒などの蒸発ガスで汚染されることを抑制することができる。   (11) A main chamber 80 that accommodates the droplet discharge device 1 is divided to provide a sub chamber 82, and a functional liquid tank 45 that is highly likely to generate evaporation gas such as a solvent of the functional liquid in the sub chamber 82, and a cleaning liquid tank 46, the reuse tank 47, and the drainage tank 48 are accommodated, so that the atmosphere of the droplet discharge device 1 can be prevented from being contaminated with evaporating gas such as a solvent of the functional liquid.

(12)予備室81と副室82を隔てる隔壁76に、副室82内の機能液タンク45などの交換などの作業ができる副室作業口171を設けたため、副室作業口171を介して予備室81から機能液タンク45などの交換などの作業が実施でき、機能液タンク45などの交換などの作業によって、機能液の溶媒などの蒸発ガスがチャンバ70の外部であるクリーンルームに漏れることを抑制することができる。   (12) Since the partition 76 separating the auxiliary chamber 81 and the sub chamber 82 is provided with the sub chamber working port 171 capable of replacing the functional liquid tank 45 in the sub chamber 82 and the like, the sub chamber working port 171 is provided. Work such as replacement of the functional liquid tank 45 can be performed from the spare chamber 81, and evaporating gas such as a solvent of the functional liquid leaks to a clean room outside the chamber 70 by work such as replacement of the functional liquid tank 45. Can be suppressed.

(13)副室扉172と予備室扉162との開閉状態を検知する開閉センサ163,173と、開放禁止状態にロックできるロック装置164,174とを設けて、一方が開放されているときには他方はロックされるように制御した。これによって、副室82と外部とが連続した状態になる機会がなくなり、副室82内の気体が予備室81に進入しても、さらにその外部まで流出することはできない。従って、副室82の気体が予備室81を通過して外部に流出する可能性を極めて小さくすることができる。   (13) Open / close sensors 163 and 173 that detect the open / closed state of the sub chamber door 172 and the auxiliary chamber door 162 and lock devices 164 and 174 that can be locked in the open prohibited state are provided, and when one is open, the other Was controlled to be locked. As a result, there is no opportunity for the sub chamber 82 and the outside to be in a continuous state, and even if the gas in the sub chamber 82 enters the spare chamber 81, it cannot further flow out to the outside. Therefore, the possibility that the gas in the sub chamber 82 flows out of the auxiliary chamber 81 to the outside can be extremely reduced.

(14)第2主室外壁78にワーク給排口146を設け、ワーク給排口146の上下にエアカッタ149を設け、エアカッタ149の気体流の噴出し方向を第2主室外壁78に平行な面より僅かに主室80の内側方向にしたことにより、ワークWの供給排出に伴う、主室80内部の気体のチャンバ70の外部への流出を抑制することができる。   (14) The workpiece supply / exhaust port 146 is provided in the second main chamber outer wall 78, the air cutters 149 are provided above and below the workpiece supply / exhaust port 146, and the gas flow direction of the air cutter 149 is parallel to the second main chamber outer wall 78. By making it slightly inward of the main chamber 80 from the surface, it is possible to suppress the outflow of gas inside the main chamber 80 to the outside of the chamber 70 accompanying the supply and discharge of the workpiece W.

(18)第2主室外壁78にワーク給排口146を設け、その開口サイズを、ワークWが出入りできる最小のサイズにするとともに、主室排気ダンパ141によって主室80からの排気量を制御することで、主室80の室圧を制御し、主室80の室圧を外部のクリーンルームの室圧より低くしたことによって、ワークWの供給排出に伴う、主室80内部の気体のチャンバ70の外部への流出を抑制することができる。   (18) The work supply / exhaust port 146 is provided in the second main chamber outer wall 78, and the opening size thereof is set to a minimum size that allows the work W to enter and exit, and the exhaust amount from the main chamber 80 is controlled by the main chamber exhaust damper 141. As a result, the chamber pressure in the main chamber 80 is controlled, and the chamber pressure in the main chamber 80 is made lower than the chamber pressure in the external clean room. Can be prevented from flowing out to the outside.

(第2の実施形態)
次に、本発明の一実施形態である液滴吐出設備に係る第2の実施形態について説明する。本実施形態の液滴吐出設備210は、第1の実施形態で説明した液滴吐出設備10を3台連ねて構成されたものであり、ワーク処理装置としての液滴吐出装置1は、第1の実施形態で説明した液滴吐出装置1と全く同一のものである。第1の実施形態とは異なる、チャンバ設備の構成についてのみ説明する。
(Second Embodiment)
Next, a second embodiment according to a droplet discharge facility that is an embodiment of the present invention will be described. The droplet discharge facility 210 of the present embodiment is configured by connecting three droplet discharge facilities 10 described in the first embodiment, and the droplet discharge device 1 as a work processing apparatus is the first one. This is exactly the same as the droplet discharge device 1 described in the embodiment. Only the configuration of the chamber equipment different from the first embodiment will be described.

図10は、液滴吐出設備及び周辺装置の配置を示す平面図である。図10に示す液滴吐出設備210は、3台の液滴吐出装置1と、これを収容する3台のチャンバ装置7で構成されたチャンバ設備207とを備えている。液滴吐出設備210の周辺には、ワーク給排装置221と、ワーク収容棚222と、ワーク乾燥装置223とが、各々3台づつ、3台の液滴吐出装置1のそれぞれに対応した適当な位置に配置されている。   FIG. 10 is a plan view showing the arrangement of the droplet discharge equipment and peripheral devices. A droplet discharge facility 210 shown in FIG. 10 includes three droplet discharge devices 1 and a chamber facility 207 configured by three chamber devices 7 that accommodate the droplet discharge devices 1. Around the droplet discharge facility 210, there are three workpiece supply / discharge devices 221, workpiece storage shelves 222, and workpiece drying devices 223, each corresponding to each of the three droplet discharge devices 1. Placed in position.

ワーク給排装置221は、処理前のワークWをワーク給排口146を介して、液滴吐出装置1に供給し、処理後のワークWを取出す装置である。ワーク収容棚222は、処理前および処理後のワークWを一時的に保管するものである。ワーク乾燥装置223は、液滴吐出装置1によって液滴吐出処理されたワークWを乾燥させる装置である。ワーク給排装置221は、ワーク乾燥装置223へのワークWの供給および取出し作業も行う。   The workpiece supply / discharge device 221 is a device that supplies the unprocessed workpiece W to the droplet discharge device 1 via the workpiece supply / discharge port 146 and takes out the processed workpiece W. The workpiece storage shelf 222 temporarily stores the workpieces W before and after processing. The workpiece drying device 223 is a device that dries the workpiece W that has been subjected to droplet ejection processing by the droplet ejection device 1. The workpiece supply / discharge device 221 also supplies and takes out the workpiece W from the workpiece drying device 223.

チャンバ設備207は、3台のチャンバ70で構成されたチャンバ270と、3台の空調機71と、3台の制御盤ボックス72とで構成されている。チャンバ270は、第1の実施形態で説明したチャンバ70を3台連ねた構成となっている。3台のチャンバ70を、チャンバ70の第3予備室外壁どうしが接合部になり、ワーク給排口146が同一方向になるように配置している。接合部は、第3予備室外壁を取り払い、主室80に挟まれた予備室281は、第1の実施形態で説明した予備室81を2台連ねた形状となっており、両側の主室80の予備室となっている。   The chamber equipment 207 includes a chamber 270 including three chambers 70, three air conditioners 71, and three control panel boxes 72. The chamber 270 is configured by connecting three chambers 70 described in the first embodiment. The three chambers 70 are arranged so that the outer walls of the third preliminary chambers of the chambers 70 become joints and the workpiece supply / exhaust ports 146 are in the same direction. The joint portion removes the outer wall of the third auxiliary chamber, and the auxiliary chamber 281 sandwiched between the main chambers 80 has a shape in which two auxiliary chambers 81 described in the first embodiment are connected, and the main chambers on both sides are connected. There are 80 spare rooms.

第2予備室外壁92に設けられた予備室扉162は、ワーク乾燥装置223を設置したことによって外側に開放できなくなっているものがあるが、本実施形態においては、扉を内側に開くようにすることで、開放可能にしている。さらに、一方の予備室出入り口161全体が塞がれても、第1予備室外壁91に設けたもう一方予備室扉162を使用して、予備室81や予備室281に出入りすることができる。   Although some of the spare chamber doors 162 provided on the outer wall 92 of the second spare chamber cannot be opened to the outside due to the installation of the work drying device 223, in this embodiment, the door is opened to the inside. By doing so, it can be opened. Furthermore, even if one of the spare chamber entrances / outlets 161 is entirely blocked, the other spare chamber door 162 provided on the first spare chamber outer wall 91 can be used to enter / exit the spare chamber 81 or the spare chamber 281.

3台の空調機71と3台の制御盤ボックス72とは、それぞれ3箇所の主室80に対して、第1の実施形態の液滴吐出設備10と同様に配置されている。チャンバ設備207は、1組の主室80と、空調機71と、制御盤ボックス72と、予備室81と、予備室281と毎に、各々独立して運転される。ただし、主室80に挟まれた予備室281に係る制御は、予備室281に隣接した副室82がある主室80に係る制御を行うチャンバコントロール装置75が行う。なお、1箇所の予備室281に臨む主室扉152は、2箇所あるが、2箇所の主室扉152の双方とも閉じている場合にのみ、主室扉152が閉じているとして各制御を行う。また、2箇所の主室扉ロック装置155は双方が同じ状態となるように制御される。独立して運転される各1組は、第1の実施形態で説明したチャンバ装置7と同様に動作する。   The three air conditioners 71 and the three control panel boxes 72 are arranged in the same manner as the droplet discharge facility 10 of the first embodiment with respect to the three main rooms 80, respectively. The chamber equipment 207 is operated independently for each set of the main room 80, the air conditioner 71, the control panel box 72, the spare room 81, and the spare room 281. However, the control related to the auxiliary chamber 281 sandwiched between the main chambers 80 is performed by the chamber control device 75 that performs the control related to the main chamber 80 having the sub chamber 82 adjacent to the auxiliary chamber 281. Although there are two main chamber doors 152 facing one spare chamber 281, each control is performed assuming that the main chamber door 152 is closed only when both of the two main chamber doors 152 are closed. Do. Further, the two main room door lock devices 155 are controlled so that both are in the same state. Each set operated independently operates in the same manner as the chamber apparatus 7 described in the first embodiment.

3台の液滴吐出装置1は、同一の工程を並行して行っても良い。また、同一のワークWの連続する3つの異なる工程を、3台の液滴吐出装置1がそれぞれ1工程ずつ行っても良い。   The three droplet discharge devices 1 may perform the same process in parallel. Further, the three droplet discharge devices 1 may perform each of three different processes of the same workpiece W one by one.

この第2の実施形態によれば、以下の効果が得られる。
(1)隔壁76と対向しない第2主室外壁78にワーク給排口146を形成し、隔壁76と対向しない第1予備室外壁91及び第2予備室外壁92に予備室扉162を設け、予備室扉162を設けてない壁面でチャンバ70を連結した。これによって、ワーク給排口146に影響を与えることなく、チャンバ装置7を連ねたチャンバ設備207を形成することができる。
According to the second embodiment, the following effects can be obtained.
(1) A work supply / exhaust port 146 is formed in the second main chamber outer wall 78 not facing the partition wall 76, and a spare chamber door 162 is provided in the first spare chamber outer wall 91 and the second spare chamber outer wall 92 not facing the partition wall 76, The chamber 70 was connected by a wall surface on which the preliminary chamber door 162 was not provided. Accordingly, the chamber equipment 207 in which the chamber devices 7 are connected can be formed without affecting the workpiece supply / exhaust port 146.

(2)各予備室81には、2箇所に予備室扉162が設けてあるため、周辺の装置の都合などにより、一方の予備室扉162が使用できなくてももう一方の予備室扉162で対応することができ、装置配置の自由度の制限を軽減することができる。   (2) Since each spare room 81 has two spare room doors 162, even if one spare room door 162 cannot be used due to the convenience of peripheral devices, the other spare room door 162 is used. And the restriction on the degree of freedom of device arrangement can be reduced.

(3)チャンバ装置7を連ねてチャンバ設備207を形成したため、チャンバ装置間のスペースを必要とせず、効率よく多数のチャンバ装置を設置することができる。   (3) Since the chamber equipment 207 is formed by connecting the chamber devices 7, a large number of chamber devices can be efficiently installed without requiring a space between the chamber devices.

(4)同様に、チャンバ装置内に設置することが望ましい複数の装置を、効率よく配置することができる。   (4) Similarly, it is possible to efficiently arrange a plurality of apparatuses that are desirably installed in the chamber apparatus.

(5)液滴吐出装置1を収容する主室80を、予備室281を挟んで連なるように配置したため、チャンバ装置7を連ねたチャンバ設備207においても第1の実施形態と同様の効果が得られる。   (5) Since the main chamber 80 that accommodates the droplet discharge device 1 is arranged so as to be continuous with the preliminary chamber 281 interposed therebetween, the same effect as that of the first embodiment can be obtained in the chamber equipment 207 that is connected to the chamber device 7. It is done.

(第3の実施形態)
次に、本発明の液滴吐出設備10または液滴吐出設備210を使って製造される電気光学装置(フラットパネルディスプレイ)として、カラーフィルタ、液晶表示装置、有機EL装置、プラズマディスプレイ(PDP装置)、電子放出装置(FED装置、SED装置)、更にこれら表示装置に形成されてなるアクティブマトリクス基板等を例に、これらの構造およびその製造方法について説明する。なお、アクティブマトリクス基板とは、薄膜トランジスタ、及び薄膜トランジスタに電気的に接続するソース線、データ線が形成された基板を言う。
(Third embodiment)
Next, as an electro-optical device (flat panel display) manufactured using the droplet discharge facility 10 or the droplet discharge facility 210 of the present invention, a color filter, a liquid crystal display device, an organic EL device, a plasma display (PDP device) The structure and the manufacturing method thereof will be described with reference to an electron emission device (FED device, SED device), an active matrix substrate formed in these display devices, and the like. Note that an active matrix substrate refers to a substrate on which a thin film transistor, a source line electrically connected to the thin film transistor, and a data line are formed.

先ず、液晶表示装置や有機EL装置等に組み込まれるカラーフィルタの製造方法について説明する。図11は、カラーフィルタの製造工程を示すフローチャート、図12は、製造工程順に示した本実施形態のカラーフィルタ600(フィルタ基体600A)の模式断面図である。まず、ブラックマトリクス形成工程(S71)では、図12(a)に示すように、基板(W)601上にブラックマトリクス602を形成する。ブラックマトリクス602は、金属クロム、金属クロムと酸化クロムの積層体、または樹脂ブラック等により形成される。金属薄膜からなるブラックマトリクス602を形成するには、スパッタ法や蒸着法等を用いることができる。また、樹脂薄膜からなるブラックマトリクス602を形成する場合には、グラビア印刷法、フォトレジスト法、熱転写法等を用いることができる。   First, a method for manufacturing a color filter incorporated in a liquid crystal display device, an organic EL device or the like will be described. FIG. 11 is a flowchart showing the manufacturing process of the color filter, and FIG. 12 is a schematic cross-sectional view of the color filter 600 (filter base body 600A) of this embodiment shown in the order of the manufacturing process. First, in the black matrix forming step (S71), a black matrix 602 is formed on a substrate (W) 601 as shown in FIG. The black matrix 602 is formed of metal chromium, a laminate of metal chromium and chromium oxide, or resin black. In order to form the black matrix 602 made of a metal thin film, a sputtering method, a vapor deposition method, or the like can be used. Further, when forming the black matrix 602 made of a resin thin film, a gravure printing method, a photoresist method, a thermal transfer method, or the like can be used.

続いて、バンク形成工程(S72)において、ブラックマトリクス602上に重畳する状態でバンク603を形成する。即ち、まず図12(b)に示すように、基板601及びブラックマトリクス602を覆うようにネガ型の透明な感光性樹脂からなるレジスト層604を形成する。そして、その上面をマトリクスパターン形状に形成されたマスクフィルム605で被覆した状態で露光処理を行う。さらに、図12(c)に示すように、レジスト層604の未露光部分をエッチング処理することによりレジスト層604をパターニングして、バンク603を形成する。なお、樹脂ブラックによりブラックマトリクスを形成する場合は、ブラックマトリクスとバンクとを兼用することが可能となる。このバンク603とその下のブラックマトリクス602は、各画素領域607aを区画する区画壁部607bとなり、後の着色層形成工程において液滴吐出ヘッド111により着色層(成膜部)608R、608G、608Bを形成する際に機能液滴の着弾領域を規定する。   Subsequently, in a bank formation step (S72), a bank 603 is formed in a state of being superimposed on the black matrix 602. That is, first, as shown in FIG. 12B, a resist layer 604 made of a negative transparent photosensitive resin is formed so as to cover the substrate 601 and the black matrix 602. Then, an exposure process is performed with the upper surface covered with a mask film 605 formed in a matrix pattern shape. Further, as shown in FIG. 12C, the resist layer 604 is patterned by etching an unexposed portion of the resist layer 604 to form a bank 603. When the black matrix is formed from resin black, it is possible to use both the black matrix and the bank. The bank 603 and the black matrix 602 below the bank 603 become partition wall portions 607b for partitioning the pixel regions 607a, and in the subsequent colored layer forming step, the colored layers (film forming portions) 608R, 608G, and 608B are formed by the droplet discharge head 111. The landing area of the functional droplet is defined when forming the.

以上のブラックマトリクス形成工程及びバンク形成工程を経ることにより、上記フィルタ基体600Aが得られる。なお、本実施形態においては、バンク603の材料として、塗膜表面が疎液(疎水)性となる樹脂材料を用いている。そして、基板(ガラス基板)601の表面が親液(親水)性であるので、後述する着色層形成工程においてバンク603(区画壁部607b)に囲まれた各画素領域607a内への液滴の着弾位置精度が向上する。   The filter substrate 600A is obtained through the above black matrix forming step and bank forming step. In the present embodiment, as the material of the bank 603, a resin material whose surface is lyophobic (hydrophobic) is used. Since the surface of the substrate (glass substrate) 601 is lyophilic (hydrophilic), the droplets into each pixel region 607a surrounded by the bank 603 (partition wall portion 607b) in the colored layer forming step described later. The landing position accuracy is improved.

次に、着色層形成工程(S73)では、図12(d)に示すように、液滴吐出ヘッド111によって機能液滴を吐出して区画壁部607bで囲まれた各画素領域607a内に着弾させる。この場合、液滴吐出ヘッド111を用いて、R・G・Bの3色の機能液(フィルタ材料)を導入して、機能液滴の吐出を行う。なお、R・G・Bの3色の配列パターンとしては、ストライブ配列、モザイク配列およびデルタ配列等がある。   Next, in the colored layer forming step (S73), as shown in FIG. 12D, functional droplets are ejected by the droplet ejection head 111 and land in each pixel region 607a surrounded by the partition wall portion 607b. Let In this case, functional liquid droplets are ejected by introducing functional liquids (filter materials) of three colors of R, G, and B using the liquid droplet ejection head 111. Note that the arrangement pattern of the three colors R, G, and B includes a stripe arrangement, a mosaic arrangement, a delta arrangement, and the like.

その後、乾燥処理(加熱等の処理)を経て機能液を定着させ、3色の着色層608R、608G、608Bを形成する。着色層608R、608G、608Bを形成したならば、保護膜形成工程(S74)に移り、図12(e)に示すように、基板601、区画壁部607b、および着色層608R、608G、608Bの上面を覆うように保護膜609を形成する。即ち、基板601の着色層608R、608G、608Bが形成されている面全体に保護膜用塗布液が吐出された後、乾燥処理を経て保護膜609が形成される。そして、保護膜609を形成した後、カラーフィルタ600は、次工程の透明電極となるITO(Indium Tin Oxide)などの膜付け工程に移行する。   Thereafter, the functional liquid is fixed through a drying process (a process such as heating) to form three colored layers 608R, 608G, and 608B. If the colored layers 608R, 608G, and 608B are formed, the process proceeds to the protective film forming step (S74), and as shown in FIG. A protective film 609 is formed so as to cover the upper surface. That is, after the protective film coating liquid is discharged over the entire surface of the substrate 601 where the colored layers 608R, 608G, and 608B are formed, the protective film 609 is formed through a drying process. Then, after forming the protective film 609, the color filter 600 proceeds to a film forming process such as ITO (Indium Tin Oxide) which becomes a transparent electrode in the next process.

図13は、上記のカラーフィルタ600を用いた液晶表示装置の一例としてのパッシブマトリックス型液晶装置(液晶装置)の概略構成を示す要部断面図である。この液晶装置620に、液晶駆動用IC、バックライト、支持体などの付帯要素を装着することによって、最終製品としての透過型液晶表示装置が得られる。なお、カラーフィルタ600は図12に示したものと同一であるので、対応する部位には同一の符号を付し、その説明は省
略する。
FIG. 13 is a cross-sectional view of a principal part showing a schematic configuration of a passive matrix liquid crystal device (liquid crystal device) as an example of a liquid crystal display device using the color filter 600 described above. By attaching auxiliary elements such as a liquid crystal driving IC, a backlight, and a support to the liquid crystal device 620, a transmissive liquid crystal display device as a final product can be obtained. Since the color filter 600 is the same as that shown in FIG. 12, the corresponding parts are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is omitted.

この液晶装置620は、カラーフィルタ600、ガラス基板等からなる対向基板621、及び、これらの間に挟持されたSTN(Super Twisted Nematic)液晶組成物からなる液晶層622により概略構成されており、カラーフィルタ600を図中上側(観測者側)に配置している。なお、図示していないが、対向基板621およびカラーフィルタ600の外面(液晶層622側とは反対側の面)には偏光板がそれぞれ配設され、また対向基板621側に位置する偏光板の外側には、バックライトが配設されている。   The liquid crystal device 620 is roughly constituted by a color filter 600, a counter substrate 621 made of a glass substrate, and a liquid crystal layer 622 made of an STN (Super Twisted Nematic) liquid crystal composition sandwiched between them. The filter 600 is arranged on the upper side (observer side) in the figure. Although not shown, polarizing plates are disposed on the outer surfaces of the counter substrate 621 and the color filter 600 (surfaces opposite to the liquid crystal layer 622 side), and the polarizing plates positioned on the counter substrate 621 side are also provided. A backlight is disposed outside.

カラーフィルタ600の保護膜609上(液晶層側)には、図29において左右方向に長尺な短冊状の第1電極623が所定の間隔で複数形成されており、この第1電極623のカラーフィルタ600側とは反対側の面を覆うように第1配向膜624が形成されている。一方、対向基板621におけるカラーフィルタ600と対向する面には、カラーフィルタ600の第1電極623と直交する方向に長尺な短冊状の第2電極626が所定の間隔で複数形成され、この第2電極626の液晶層622側の面を覆うように第2配向膜627が形成されている。これらの第1電極623および第2電極626は、ITOなどの透明導電材料により形成されている。   On the protective film 609 of the color filter 600 (on the liquid crystal layer side), a plurality of strip-shaped first electrodes 623 elongated in the left-right direction in FIG. 29 are formed at predetermined intervals. The color of the first electrode 623 A first alignment film 624 is formed so as to cover the surface opposite to the filter 600 side. On the other hand, a plurality of strip-shaped second electrodes 626 elongated in a direction orthogonal to the first electrode 623 of the color filter 600 are formed on the surface of the counter substrate 621 facing the color filter 600 at a predetermined interval. A second alignment film 627 is formed so as to cover the surface of the two electrodes 626 on the liquid crystal layer 622 side. The first electrode 623 and the second electrode 626 are made of a transparent conductive material such as ITO.

液晶層622内に設けられたスペーサ628は、液晶層622の厚さ(セルギャップ)を一定に保持するための部材である。また、シール材629は液晶層622内の液晶組成物が外部へ漏出するのを防止するための部材である。なお、第1電極623の一端部は引き回し配線623aとしてシール材629の外側まで延在している。そして、第1電極623と第2電極626とが交差する部分が画素であり、この画素となる部分に、カラーフィルタ600の着色層608R、608G、608Bが位置するように構成されている。   The spacer 628 provided in the liquid crystal layer 622 is a member for keeping the thickness (cell gap) of the liquid crystal layer 622 constant. The sealing material 629 is a member for preventing the liquid crystal composition in the liquid crystal layer 622 from leaking to the outside. Note that one end portion of the first electrode 623 extends to the outside of the sealing material 629 as a lead-out wiring 623a. A portion where the first electrode 623 and the second electrode 626 intersect with each other is a pixel, and the color layers 608R, 608G, and 608B of the color filter 600 are located in the portion that becomes the pixel.

通常の製造工程では、カラーフィルタ600に、第1電極623のパターニングおよび第1配向膜624の塗布を行ってカラーフィルタ600側の部分を作成すると共に、これとは別に対向基板621に、第2電極626のパターニングおよび第2配向膜627の塗布を行って対向基板621側の部分を作成する。その後、対向基板621側の部分にスペーサ628およびシール材629を作り込み、この状態でカラーフィルタ600側の部分を貼り合わせる。次いで、シール材629の注入口から液晶層622を構成する液晶を注入し、注入口を閉止する。その後、両偏光板およびバックライトを積層する。   In a normal manufacturing process, patterning of the first electrode 623 and application of the first alignment film 624 are performed on the color filter 600 to create a portion on the color filter 600 side. Patterning of the electrode 626 and application of the second alignment film 627 are performed to create a portion on the counter substrate 621 side. Thereafter, a spacer 628 and a sealing material 629 are formed in the portion on the counter substrate 621 side, and the portion on the color filter 600 side is bonded in this state. Next, liquid crystal constituting the liquid crystal layer 622 is injected from the inlet of the sealing material 629, and the inlet is closed. Thereafter, both polarizing plates and the backlight are laminated.

実施形態の液滴吐出装置1は、例えば上記のセルギャップを構成するスペーサ材料(機能液)を塗布すると共に、対向基板621側の部分にカラーフィルタ600側の部分を貼り合わせる前に、シール材629で囲んだ領域に液晶(機能液)を均一に塗布することが可能である。また、上記のシール材629の印刷を、液滴吐出ヘッド111で行うことも可能である。さらに、第1・第2両配向膜624,627の塗布を液滴吐出ヘッド111で行うことも可能である。   The droplet discharge device 1 according to the embodiment applies, for example, the spacer material (functional liquid) that constitutes the cell gap, and before the portion on the color filter 600 side is bonded to the portion on the counter substrate 621 side, the sealing material The liquid crystal (functional liquid) can be uniformly applied to the region surrounded by 629. In addition, the above-described sealing material 629 can be printed by the droplet discharge head 111. Further, the first and second alignment films 624 and 627 can be applied by the droplet discharge head 111.

図14は、本実施形態において製造したカラーフィルタ600を用いた液晶装置の第2の例の概略構成を示す要部断面図である。この液晶装置630が上記液晶装置620と大きく異なる点は、カラーフィルタ600を図中下側(観測者側とは反対側)に配置した点である。この液晶装置630は、カラーフィルタ600とガラス基板等からなる対向基板631との間にSTN液晶からなる液晶層632が挟持されて概略構成されている。なお、図示していないが、対向基板631およびカラーフィルタ600の外面には偏光板等がそれぞれ配設されている。   FIG. 14 is a cross-sectional view of an essential part showing a schematic configuration of a second example of the liquid crystal device using the color filter 600 manufactured in the present embodiment. The liquid crystal device 630 is significantly different from the liquid crystal device 620 in that the color filter 600 is arranged on the lower side (the side opposite to the observer side) in the figure. The liquid crystal device 630 is generally configured by sandwiching a liquid crystal layer 632 made of STN liquid crystal between a color filter 600 and a counter substrate 631 made of a glass substrate or the like. Although not shown, polarizing plates and the like are provided on the outer surfaces of the counter substrate 631 and the color filter 600, respectively.

カラーフィルタ600の保護膜609上(液晶層632側)には、図中奥行き方向に長尺な短冊状の第1電極633が所定の間隔で複数形成されており、この第1電極633の液晶層632側の面を覆うように第1配向膜634が形成されている。対向基板631のカラーフィルタ600と対向する面上には、カラーフィルタ600側の第1電極633と直交する方向に延在する複数の短冊状の第2電極636が所定の間隔で形成され、この第2電極636の液晶層632側の面を覆うように第2配向膜637が形成されている。   On the protective film 609 of the color filter 600 (on the liquid crystal layer 632 side), a plurality of strip-shaped first electrodes 633 elongated in the depth direction in the figure are formed at predetermined intervals, and the liquid crystal of the first electrodes 633 is formed. A first alignment film 634 is formed so as to cover the surface on the layer 632 side. A plurality of strip-shaped second electrodes 636 extending in a direction orthogonal to the first electrode 633 on the color filter 600 side are formed on the surface of the counter substrate 631 facing the color filter 600 at a predetermined interval. A second alignment film 637 is formed so as to cover the surface of the second electrode 636 on the liquid crystal layer 632 side.

液晶層632には、この液晶層632の厚さを一定に保持するためのスペーサ638と、液晶層632内の液晶組成物が外部へ漏出するのを防止するためのシール材639が設けられている。そして、上記した液晶装置620と同様に、第1電極633と第2電極636との交差する部分が画素であり、この画素となる部位に、カラーフィルタ600の着色層608R、608G、608Bが位置するように構成されている。   The liquid crystal layer 632 is provided with a spacer 638 for keeping the thickness of the liquid crystal layer 632 constant, and a sealing material 639 for preventing the liquid crystal composition in the liquid crystal layer 632 from leaking to the outside. Yes. Similarly to the liquid crystal device 620 described above, a portion where the first electrode 633 and the second electrode 636 intersect with each other is a pixel, and the colored layers 608R, 608G, and 608B of the color filter 600 are located in the portion that becomes the pixel. Is configured to do.

図15は、本発明を適用したカラーフィルタ600を用いて液晶装置を構成した第3の例を示したもので、透過型のTFT(Thin Film Transistor)型液晶装置の概略構成を示す分解斜視図である。この液晶装置650は、カラーフィルタ600を図中上側(観測者側)に配置したものである。   FIG. 15 shows a third example in which a liquid crystal device is configured using a color filter 600 to which the present invention is applied, and is an exploded perspective view showing a schematic configuration of a transmissive TFT (Thin Film Transistor) type liquid crystal device. It is. In the liquid crystal device 650, the color filter 600 is arranged on the upper side (observer side) in the drawing.

この液晶装置650は、カラーフィルタ600と、これに対向するように配置された対向基板651と、これらの間に挟持された図示しない液晶層と、カラーフィルタ600の上面側(観測者側)に配置された偏光板655と、対向基板651の下面側に配設された偏光板(図示せず)とにより概略構成されている。カラーフィルタ600の保護膜609の表面(対向基板651側の面)には液晶駆動用の電極656が形成されている。この電極656は、ITO等の透明導電材料からなり、後述の画素電極660が形成される領域全体を覆う全面電極となっている。また、この電極656の画素電極660とは反対側の面を覆った状態で配向膜657が設けられている。   The liquid crystal device 650 includes a color filter 600, a counter substrate 651 disposed so as to face the color filter 600, a liquid crystal layer (not shown) sandwiched therebetween, and an upper surface side (observer side) of the color filter 600. The polarizing plate 655 is generally configured by a polarizing plate 655 and a polarizing plate (not shown) disposed on the lower surface side of the counter substrate 651. A liquid crystal driving electrode 656 is formed on the surface of the protective film 609 of the color filter 600 (the surface on the counter substrate 651 side). The electrode 656 is made of a transparent conductive material such as ITO, and is a full surface electrode that covers the entire region where a pixel electrode 660 described later is formed. An alignment film 657 is provided so as to cover the surface of the electrode 656 opposite to the pixel electrode 660.

対向基板651のカラーフィルタ600と対向する面には絶縁層658が形成されており、この絶縁層658上には、走査線661及び信号線662が互いに直交する状態で形成されている。そして、これらの走査線661と信号線662とに囲まれた領域内には画素電極660が形成されている。なお、実際の液晶装置では、画素電極660上に配向膜が設けられるが、図示を省略している。   An insulating layer 658 is formed on the surface of the counter substrate 651 facing the color filter 600, and the scanning lines 661 and the signal lines 662 are formed on the insulating layer 658 so as to be orthogonal to each other. A pixel electrode 660 is formed in a region surrounded by the scanning lines 661 and the signal lines 662. Note that in an actual liquid crystal device, an alignment film is provided over the pixel electrode 660, but the illustration is omitted.

また、画素電極660の切欠部と走査線661と信号線662とに囲まれた部分には、ソース電極、ドレイン電極、半導体、およびゲート電極とを具備する薄膜トランジスタ663が組み込まれて構成されている。そして、走査線661と信号線662に対する信号の印加によって薄膜トランジスタ663をオン・オフして画素電極660への通電制御を行うことができるように構成されている。   In addition, a thin film transistor 663 including a source electrode, a drain electrode, a semiconductor, and a gate electrode is incorporated in a portion surrounded by the cutout portion of the pixel electrode 660 and the scanning line 661 and the signal line 662. . The thin film transistor 663 is turned on / off by application of a signal to the scanning line 661 and the signal line 662 so that energization control to the pixel electrode 660 can be performed.

なお、上記の各例の液晶装置620,630,650は、透過型の構成としたが、反射層あるいは半透過反射層を設けて、反射型の液晶装置あるいは半透過反射型の液晶装置とすることもできる。   The liquid crystal devices 620, 630, and 650 of the above examples have a transmissive configuration, but a reflective layer or a semi-transmissive reflective layer is provided to form a reflective liquid crystal device or a transflective liquid crystal device. You can also

次に、図16は、有機EL装置の表示領域(以下、単に表示装置700と称する)の要部断面図である。この表示装置700は、基板(W)701上に、回路素子部702、発光素子部703及び陰極704が積層された状態で概略構成されている。この表示装置700においては、発光素子部703から基板701側に発した光が、回路素子部702及び基板701を透過して観測者側に出射されるとともに、発光素子部703から基板701の反対側に発した光が陰極704により反射された後、回路素子部702及び基板701を透過して観測者側に出射されるようになっている。   Next, FIG. 16 is a cross-sectional view of a main part of a display region (hereinafter simply referred to as a display device 700) of the organic EL device. The display device 700 is schematically configured with a circuit element portion 702, a light emitting element portion 703, and a cathode 704 laminated on a substrate (W) 701. In this display device 700, light emitted from the light emitting element portion 703 to the substrate 701 side is transmitted through the circuit element portion 702 and the substrate 701 and emitted to the observer side, and the light emitting element portion 703 is opposite to the substrate 701. After the light emitted to the side is reflected by the cathode 704, the light passes through the circuit element portion 702 and the substrate 701 and is emitted to the observer side.

回路素子部702と基板701との間にはシリコン酸化膜からなる下地保護膜706が形成され、この下地保護膜706上(発光素子部703側)に多結晶シリコンからなる島状の半導体膜707が形成されている。この半導体膜707の左右の領域には、ソース領域707a及びドレイン領域707bが高濃度陽イオン打ち込みによりそれぞれ形成されている。そして陽イオンが打ち込まれない中央部がチャネル領域707cとなっている。   A base protective film 706 made of a silicon oxide film is formed between the circuit element portion 702 and the substrate 701, and an island-like semiconductor film 707 made of polycrystalline silicon is formed on the base protective film 706 (on the light emitting element portion 703 side). Is formed. In the left and right regions of the semiconductor film 707, a source region 707a and a drain region 707b are formed by high concentration cation implantation, respectively. A central portion where no cation is implanted is a channel region 707c.

また、回路素子部702には、下地保護膜706及び半導体膜707を覆う透明なゲート絶縁膜708が形成され、このゲート絶縁膜708上の半導体膜707のチャネル領域707cに対応する位置には、例えばAl、Mo、Ta、Ti、W等から構成されるゲート電極709が形成されている。このゲート電極709及びゲート絶縁膜708上には、透明な第1層間絶縁膜711aと第2層間絶縁膜711bが形成されている。また、第1、第2層間絶縁膜711a、711bを貫通して、半導体膜707のソース領域707a、ドレイン領域707bにそれぞれ連通するコンタクトホール712a,712bが形成されている。   In the circuit element portion 702, a transparent gate insulating film 708 covering the base protective film 706 and the semiconductor film 707 is formed, and a position corresponding to the channel region 707c of the semiconductor film 707 on the gate insulating film 708 is formed. For example, a gate electrode 709 made of Al, Mo, Ta, Ti, W or the like is formed. A transparent first interlayer insulating film 711 a and second interlayer insulating film 711 b are formed on the gate electrode 709 and the gate insulating film 708. Further, contact holes 712a and 712b are formed through the first and second interlayer insulating films 711a and 711b and communicating with the source region 707a and the drain region 707b of the semiconductor film 707, respectively.

そして、第2層間絶縁膜711b上には、ITO等からなる透明な画素電極713が所定の形状にパターニングされて形成され、この画素電極713は、コンタクトホール712aを通じてソース領域707aに接続されている。また、第1層間絶縁膜711a上には電源線714が配設されており、この電源線714は、コンタクトホール712bを通じてドレイン領域707bに接続されている。このように、回路素子部702には、各画素電極713に接続された駆動用の薄膜トランジスタ715がそれぞれ形成されている。   A transparent pixel electrode 713 made of ITO or the like is patterned and formed on the second interlayer insulating film 711b in a predetermined shape, and the pixel electrode 713 is connected to the source region 707a through the contact hole 712a. . A power line 714 is disposed on the first interlayer insulating film 711a, and the power line 714 is connected to the drain region 707b through the contact hole 712b. Thus, the driving thin film transistors 715 connected to the pixel electrodes 713 are formed in the circuit element portion 702, respectively.

上記発光素子部703は、複数の画素電極713上の各々に積層された機能層717と、各画素電極713及び機能層717の間に備えられて各機能層717を区画するバンク部718とにより概略構成されている。これら画素電極713、機能層717、及び、機能層717上に配設された陰極704によって発光素子が構成されている。なお、画素電極713は、平面視略矩形状にパターニングされて形成されており、各画素電極713の間にバンク部718が形成されている。   The light emitting element portion 703 includes a functional layer 717 stacked on each of the plurality of pixel electrodes 713, and a bank portion 718 provided between each pixel electrode 713 and the functional layer 717 to partition each functional layer 717. It is roughly structured. The pixel electrode 713, the functional layer 717, and the cathode 704 provided on the functional layer 717 constitute a light emitting element. Note that the pixel electrode 713 is formed by patterning in a substantially rectangular shape in plan view, and a bank portion 718 is formed between the pixel electrodes 713.

バンク部718は、例えばSiO、SiO2、TiO2等の無機材料により形成される無機物バンク層718a(第1バンク層)と、この無機物バンク層718a上に積層され、アクリル樹脂、ポリイミド樹脂等の耐熱性、耐溶媒性に優れたレジストにより形成される断面台形状の有機物バンク層718b(第2バンク層)とにより構成されている。このバンク部718の一部は、画素電極713の周縁部上に乗上げた状態で形成されている。そして、各バンク部718の間には、画素電極713に対して上方に向けて次第に拡開した開口部719が形成されている。 Bank unit 718, for example SiO, and SiO 2, the inorganic bank layer is formed of an inorganic material such as TiO 2, 718a (first bank layer), stacked on the inorganic bank layer 718a, an acrylic resin, such as polyimide resin It is composed of an organic bank layer 718b (second bank layer) having a trapezoidal cross section formed of a resist having excellent heat resistance and solvent resistance. A part of the bank portion 718 is formed on the peripheral edge of the pixel electrode 713. Between each bank portion 718, an opening 719 that gradually expands upward with respect to the pixel electrode 713 is formed.

上記機能層717は、開口部719内において画素電極713上に積層状態で形成された正孔注入/輸送層717aと、この正孔注入/輸送層717a上に形成された発光層717bとにより構成されている。なお、この発光層717bに隣接してその他の機能を有する他の機能層を更に形成しても良い。例えば、電子輸送層を形成する事も可能である。正孔注入/輸送層717aは、画素電極713側から正孔を輸送して発光層717bに注入する機能を有する。この正孔注入/輸送層717aは、正孔注入/輸送層形成材料含む第1組成物(機能液)を吐出することで形成される。正孔注入/輸送層形成材料としては、公知の材料を用いる。   The functional layer 717 includes a hole injection / transport layer 717a formed on the pixel electrode 713 in a stacked state in the opening 719 and a light emitting layer 717b formed on the hole injection / transport layer 717a. Has been. Note that another functional layer having other functions may be further formed adjacent to the light emitting layer 717b. For example, it is possible to form an electron transport layer. The hole injection / transport layer 717a has a function of transporting holes from the pixel electrode 713 side and injecting them into the light emitting layer 717b. The hole injection / transport layer 717a is formed by discharging a first composition (functional liquid) containing a hole injection / transport layer forming material. A known material is used as the hole injection / transport layer forming material.

発光層717bは、赤色(R)、緑色(G)、又は青色(B)の何れかに発光するもので、発光層形成材料(発光材料)を含む第2組成物(機能液)を吐出することで形成される。第2組成物の溶媒(非極性溶媒)としては、正孔注入/輸送層717aに対して不溶な公知の材料を用いることが好ましく、このような非極性溶媒を発光層717bの第2組成物に用いることにより、正孔注入/輸送層717aを再溶解させることなく発光層717bを形成することができる。そして、発光層717bでは、正孔注入/輸送層717aから注入された正孔と、陰極704から注入される電子が発光層で再結合して発光するように構成されている。   The light emitting layer 717b emits light in red (R), green (G), or blue (B), and discharges a second composition (functional liquid) containing a light emitting layer forming material (light emitting material). Is formed. As the solvent (nonpolar solvent) of the second composition, a known material insoluble in the hole injection / transport layer 717a is preferably used, and such a nonpolar solvent is used as the second composition of the light emitting layer 717b. By using the light emitting layer 717b, the light emitting layer 717b can be formed without re-dissolving the hole injection / transport layer 717a. The light emitting layer 717b is configured such that holes injected from the hole injection / transport layer 717a and electrons injected from the cathode 704 are recombined in the light emitting layer to emit light.

陰極704は、発光素子部703の全面を覆う状態で形成されており、画素電極713と対になって機能層717に電流を流す役割を果たす。なお、この陰極704の上部には図示しない封止部材が配置される。   The cathode 704 is formed so as to cover the entire surface of the light emitting element portion 703, and plays a role of flowing current to the functional layer 717 in a pair with the pixel electrode 713. Note that a sealing member (not shown) is disposed on the cathode 704.

次に、上記の表示装置700の製造工程を図17〜図25を参照して説明する。この表示装置700は、図17に示すように、バンク部形成工程(S81)、表面処理工程(S82)、正孔注入/輸送層形成工程(S83)、発光層形成工程(S84)、及び対向電極形成工程(S85)を経て製造される。なお、製造工程は例示するものに限られるものではなく必要に応じてその他の工程が除かれる場合、また追加される場合もある。   Next, a manufacturing process of the display device 700 will be described with reference to FIGS. As shown in FIG. 17, the display device 700 includes a bank part forming step (S81), a surface treatment step (S82), a hole injection / transport layer forming step (S83), a light emitting layer forming step (S84), It is manufactured through an electrode formation step (S85). In addition, a manufacturing process is not restricted to what is illustrated, and when other processes are removed as needed, it may be added.

まず、バンク部形成工程(S81)では、図18に示すように、第2層間絶縁膜711b上に無機物バンク層718aを形成する。この無機物バンク層718aは、形成位置に無機物膜を形成した後、この無機物膜をフォトリソグラフィ技術等によりパターニングすることにより形成される。このとき、無機物バンク層718aの一部は画素電極713の周縁部と重なるように形成される。   First, in the bank part forming step (S81), as shown in FIG. 18, an inorganic bank layer 718a is formed on the second interlayer insulating film 711b. The inorganic bank layer 718a is formed by forming an inorganic film at a formation position and then patterning the inorganic film using a photolithography technique or the like. At this time, a part of the inorganic bank layer 718 a is formed so as to overlap with the peripheral edge of the pixel electrode 713.

無機物バンク層718aを形成したならば、図19に示すように、無機物バンク層718a上に有機物バンク層718bを形成する。この有機物バンク層718bも無機物バンク層718aと同様にフォトリソグラフィ技術等によりパターニングして形成される。このようにしてバンク部718が形成される。また、これに伴い、各バンク部718間には、画素電極713に対して上方に開口した開口部719が形成される。この開口部719は、画素領域を規定する。   When the inorganic bank layer 718a is formed, an organic bank layer 718b is formed on the inorganic bank layer 718a as shown in FIG. This organic bank layer 718b is also formed by patterning using a photolithography technique or the like, similarly to the inorganic bank layer 718a. In this way, the bank portion 718 is formed. Accordingly, an opening 719 that opens upward with respect to the pixel electrode 713 is formed between the bank portions 718. The opening 719 defines a pixel region.

表面処理工程(S82)では、親液化処理及び撥液化処理が行われる。親液化処理を施す領域は、無機物バンク層718aの第1積層部718aa及び画素電極713の電極面713aであり、これらの領域は、例えば酸素を処理ガスとするプラズマ処理によって親液性に表面処理される。このプラズマ処理は、画素電極713であるITOの洗浄等も兼ねている。また、撥液化処理は、有機物バンク層718bの壁面718s及び有機物バンク層718bの上面718tに施され、例えば4フッ化メタンを処理ガスとするプラズマ処理によって表面がフッ化処理(撥液性に処理)される。この表面処理工程を行うことにより、液滴吐出ヘッド111を用いて機能層717を形成する際に、機能液滴を画素領域に、より確実に着弾させることができ、また、画素領域に着弾した機能液滴が開口部719から溢れ出るのを防止することが可能となる。   In the surface treatment step (S82), a lyophilic process and a lyophobic process are performed. The regions to be subjected to the lyophilic treatment are the first stacked portion 718aa of the inorganic bank layer 718a and the electrode surface 713a of the pixel electrode 713. These regions are made lyophilic by plasma treatment using, for example, oxygen as a treatment gas. Is done. This plasma treatment also serves to clean the ITO that is the pixel electrode 713. In addition, the lyophobic treatment is performed on the wall surface 718s of the organic bank layer 718b and the upper surface 718t of the organic bank layer 718b, and the surface is fluorinated (treated to be liquid repellent) by plasma treatment using, for example, tetrafluoromethane. ) By performing this surface treatment process, when forming the functional layer 717 using the droplet discharge head 111, the functional droplet can be landed more reliably on the pixel region, and has landed on the pixel region. It is possible to prevent the functional droplet from overflowing from the opening 719.

そして、以上の工程を経ることにより、表示装置基体700Aが得られる。この表示装置基体700Aは、図1及び図2に示した液滴吐出装置1の基板テーブル3に載置され、以下の正孔注入/輸送層形成工程(S83)及び発光層形成工程(S84)が行われる。   The display device base 700A is obtained through the above steps. The display device base 700A is placed on the substrate table 3 of the droplet discharge device 1 shown in FIGS. 1 and 2, and the following hole injection / transport layer forming step (S83) and light emitting layer forming step (S84). Is done.

図20に示すように、正孔注入/輸送層形成工程(S83)では、液滴吐出ヘッド111から正孔注入/輸送層形成材料を含む第1組成物を画素領域である各開口部719内に吐出する。その後、図37に示すように、乾燥処理及び熱処理を行い、第1組成物に含まれる極性溶媒を蒸発させ、画素電極(電極面713a)713上に正孔注入/輸送層717aを形成する。   As shown in FIG. 20, in the hole injection / transport layer forming step (S83), the first composition containing the hole injection / transport layer forming material is transferred from the droplet discharge head 111 into each opening 719 that is a pixel region. To discharge. Then, as shown in FIG. 37, a drying process and a heat treatment are performed to evaporate the polar solvent contained in the first composition, thereby forming a hole injection / transport layer 717a on the pixel electrode (electrode surface 713a) 713.

次に発光層形成工程(S84)について説明する。この発光層形成工程では、上述したように、正孔注入/輸送層717aの再溶解を防止するために、発光層形成の際に用いる第2組成物の溶媒として、正孔注入/輸送層717aに対して不溶な非極性溶媒を用いる。しかしその一方で、正孔注入/輸送層717aは、非極性溶媒に対する親和性が低いため、非極性溶媒を含む第2組成物を正孔注入/輸送層717a上に吐出しても、正孔注入/輸送層717aと発光層717bとを密着させることができなくなるか、あるいは発光層717bを均一に塗布できない虞がある。そこで、非極性溶媒ならびに発光層形成材料に対する正孔注入/輸送層717aの表面の親和性を高めるために、発光層形成の前に表面処理(表面改質処理)を行うことが好ましい。この表面処理は、発光層形成の際に用いる第2組成物の非極性溶媒と同一溶媒またはこれに類する溶媒である表面改質材を、正孔注入/輸送層717a上に塗布し、これを乾燥させることにより行う。このような処理を施すことで、正孔注入/輸送層717aの表面が非極性溶媒になじみやすくなり、この後の工程で、発光層形成材料を含む第2組成物を正孔注入/輸送層717aに均一に塗布することができる。   Next, the light emitting layer forming step (S84) will be described. In this light emitting layer forming step, as described above, in order to prevent re-dissolution of the hole injection / transport layer 717a, a hole injection / transport layer 717a is used as a solvent for the second composition used in forming the light emitting layer. A non-polar solvent insoluble in. However, since the hole injection / transport layer 717a has a low affinity for the nonpolar solvent, the hole injection / transport layer 717a has a low affinity even if the second composition containing the nonpolar solvent is discharged onto the hole injection / transport layer 717a. There is a possibility that the injection / transport layer 717a and the light emitting layer 717b cannot be adhered to each other or the light emitting layer 717b cannot be applied uniformly. Therefore, in order to increase the surface affinity of the hole injection / transport layer 717a with respect to the nonpolar solvent and the light emitting layer forming material, it is preferable to perform a surface treatment (surface modification treatment) before forming the light emitting layer. In this surface treatment, a surface modifying material which is the same solvent as the non-polar solvent of the second composition used in forming the light emitting layer or a similar solvent is applied on the hole injection / transport layer 717a, and this is applied. This is done by drying. By performing such a treatment, the surface of the hole injection / transport layer 717a is easily adapted to the nonpolar solvent, and in the subsequent process, the second composition containing the light emitting layer forming material is added to the hole injection / transport layer. It can be uniformly applied to 717a.

そして次に、図22に示すように、各色のうちの何れか(図22の例では青色(B))に対応する発光層形成材料を含有する第2組成物を機能液滴として画素領域(開口部719)内に所定量打ち込む。画素領域内に打ち込まれた第2組成物は、正孔注入/輸送層717a上に広がって開口部719内に満たされる。なお、万一、第2組成物が画素領域から外れてバンク部718の上面718t上に着弾した場合でも、この上面718tは、上述したように撥液処理が施されているので、第2組成物が開口部719内に転がり込み易くなっている。   Then, as shown in FIG. 22, the second composition containing the light emitting layer forming material corresponding to one of the colors (blue (B) in the example of FIG. 22) is used as a functional droplet as a pixel region ( A predetermined amount is driven into the opening 719). The second composition driven into the pixel region spreads on the hole injection / transport layer 717a and fills the opening 719. Even if the second composition deviates from the pixel region and lands on the upper surface 718t of the bank portion 718, the upper composition 718t is subjected to the liquid repellent treatment as described above, and thus the second composition An object is easy to roll into the opening 719.

その後、乾燥工程等を行う事により、吐出後の第2組成物を乾燥処理し、第2組成物に含まれる非極性溶媒を蒸発させ、図23に示すように、正孔注入/輸送層717a上に発光層717bが形成される。この図の場合、青色(B)に対応する発光層717bが形成されている。   Thereafter, the second composition after discharge is dried by performing a drying process and the like, the nonpolar solvent contained in the second composition is evaporated, and as shown in FIG. 23, the hole injection / transport layer 717a A light emitting layer 717b is formed thereon. In the case of this figure, a light emitting layer 717b corresponding to blue (B) is formed.

同様に、液滴吐出ヘッド111を用い、図24に示すように、上記した青色(B)に対応する発光層717bの場合と同様の工程を順次行い、他の色(赤色(R)及び緑色(G))に対応する発光層717bを形成する。なお、発光層717bの形成順序は、例示した順序に限られるものではなく、どのような順番で形成しても良い。例えば、発光層形成材料に応じて形成する順番を決める事も可能である。また、R・G・Bの3色の配列パターンとしては、ストライブ配列、モザイク配列およびデルタ配列等がある。   Similarly, using the droplet discharge head 111, as shown in FIG. 24, the same steps as in the case of the light emitting layer 717b corresponding to the blue (B) described above are sequentially performed, and other colors (red (R) and green) are performed. A light emitting layer 717b corresponding to (G)) is formed. Note that the order in which the light-emitting layers 717b are formed is not limited to the illustrated order, and may be formed in any order. For example, the order of formation can be determined according to the light emitting layer forming material. Further, the arrangement pattern of the three colors R, G, and B includes a stripe arrangement, a mosaic arrangement, a delta arrangement, and the like.

以上のようにして、画素電極713上に機能層717、即ち、正孔注入/輸送層717a及び発光層717bが形成される。そして、対向電極形成工程(S85)に移行する。   As described above, the functional layer 717, that is, the hole injection / transport layer 717 a and the light emitting layer 717 b are formed on the pixel electrode 713. And it transfers to a counter electrode formation process (S85).

対向電極形成工程(S85)では、図25に示すように、発光層717b及び有機物バンク層718bの全面に陰極704(対向電極)を、例えば蒸着法、スパッタ法、CVD法等によって形成する。この陰極704は、本実施形態においては、例えば、カルシウム層とアルミニウム層とが積層されて構成されている。この陰極704の上部には、電極としてのAl膜、Ag膜や、その酸化防止のためのSiO2、SiN等の保護層が適宜設けられる。 In the counter electrode forming step (S85), as shown in FIG. 25, a cathode 704 (counter electrode) is formed on the entire surface of the light emitting layer 717b and the organic bank layer 718b by, for example, vapor deposition, sputtering, CVD, or the like. In the present embodiment, the cathode 704 is configured, for example, by laminating a calcium layer and an aluminum layer. On top of the cathode 704, an Al film and an Ag film as electrodes, and a protective layer such as SiO 2 and SiN for preventing oxidation thereof are provided as appropriate.

このようにして陰極704を形成した後、この陰極704の上部を封止部材により封止する封止処理や配線処理等のその他処理等を施すことにより、表示装置700が得られる。   After forming the cathode 704 in this way, the display device 700 is obtained by performing other processing such as sealing processing and wiring processing for sealing the upper portion of the cathode 704 with a sealing member.

次に、図26は、プラズマ型表示装置(PDP装置:以下、単に表示装置800と称する)の要部分解斜視図である。なお、同図では表示装置800を、その一部を切り欠いた状態で示してある。この表示装置800は、互いに対向して配置された第1基板801、第2基板802、及びこれらの間に形成される放電表示部803を含んで概略構成される。放電表示部803は、複数の放電室805により構成されている。これらの複数の放電室805のうち、赤色放電室805R、緑色放電室805G、青色放電室805Bの3つの放電室805が組になって1つの画素を構成するように配置されている。   Next, FIG. 26 is an exploded perspective view of an essential part of a plasma display device (PDP device: hereinafter simply referred to as a display device 800). In the figure, the display device 800 is shown with a part thereof cut away. The display device 800 includes a first substrate 801, a second substrate 802, and a discharge display portion 803 formed between the first substrate 801 and the second substrate 802, which are disposed to face each other. The discharge display unit 803 includes a plurality of discharge chambers 805. Among the plurality of discharge chambers 805, the three discharge chambers 805 of the red discharge chamber 805R, the green discharge chamber 805G, and the blue discharge chamber 805B are arranged to form one pixel.

第1基板801の上面には所定の間隔で縞状にアドレス電極806が形成され、このアドレス電極806と第1基板801の上面とを覆うように誘電体層807が形成されている。誘電体層807上には、各アドレス電極806の間に位置し、且つ各アドレス電極806に沿うように隔壁808が立設されている。この隔壁808は、図示するようにアドレス電極806の幅方向両側に延在するものと、アドレス電極806と直交する方向に延設された図示しないものを含む。そして、この隔壁808によって仕切られた領域が放電室805となっている。   Address electrodes 806 are formed in stripes at predetermined intervals on the upper surface of the first substrate 801, and a dielectric layer 807 is formed so as to cover the address electrodes 806 and the upper surface of the first substrate 801. On the dielectric layer 807, partition walls 808 are provided so as to be positioned between the address electrodes 806 and along the address electrodes 806. The partition 808 includes one extending on both sides in the width direction of the address electrode 806 as shown, and one not shown extending in a direction orthogonal to the address electrode 806. A region partitioned by the partition 808 is a discharge chamber 805.

放電室805内には蛍光体809が配置されている。蛍光体809は、赤(R)、緑(G)、青(B)の何れかの色の蛍光を発光するもので、赤色放電室805Rの底部には赤色蛍光体809Rが、緑色放電室805Gの底部には緑色蛍光体809Gが、青色放電室805Bの底部には青色蛍光体809Bが各々配置されている。   A phosphor 809 is disposed in the discharge chamber 805. The phosphor 809 emits red (R), green (G), or blue (B) fluorescence, and the red phosphor 809R is located at the bottom of the red discharge chamber 805R, and the green discharge chamber 805G. A green phosphor 809G and a blue phosphor 809B are disposed at the bottom and the blue discharge chamber 805B, respectively.

第2基板802の図中下側の面には、上記アドレス電極806と直交する方向に複数の表示電極811が所定の間隔で縞状に形成されている。そして、これらを覆うように誘電体層812、及びMgOなどからなる保護膜813が形成されている。第1基板801と第2基板802とは、アドレス電極806と表示電極811が互いに直交する状態で対向させて貼り合わされている。なお、上記アドレス電極806と表示電極811は図示しない交流電源に接続されている。そして、各電極806,811に通電することにより、放電表示部803において蛍光体809が励起発光し、カラー表示が可能となる。   On the lower surface of the second substrate 802 in the figure, a plurality of display electrodes 811 are formed in stripes at predetermined intervals in a direction orthogonal to the address electrodes 806. A dielectric layer 812 and a protective film 813 made of MgO or the like are formed so as to cover them. The first substrate 801 and the second substrate 802 are bonded so that the address electrodes 806 and the display electrodes 811 face each other in a state of being orthogonal to each other. The address electrode 806 and the display electrode 811 are connected to an AC power source (not shown). When the electrodes 806 and 811 are energized, the phosphor 809 emits light in the discharge display portion 803, and color display is possible.

本実施形態においては、上記アドレス電極806、表示電極811、及び蛍光体809を、図1及び図2に示した液滴吐出装置1を用いて形成することができる。以下、第1基板801におけるアドレス電極806の形成工程を例示する。この場合、第1基板801を液滴吐出装置1の基板テーブル3に載置された状態で以下の工程が行われる。まず、液滴吐出ヘッド111により、導電膜配線形成用材料を含有する液体材料(機能液)を機能液滴としてアドレス電極形成領域に着弾させる。この液体材料は、導電膜配線形成用材料として、金属等の導電性微粒子を分散媒に分散したものである。この導電性微粒子としては、金、銀、銅、パラジウム、又はニッケル等を含有する金属微粒子や、導電性ポリマー等が用いられる。   In the present embodiment, the address electrode 806, the display electrode 811, and the phosphor 809 can be formed using the droplet discharge device 1 shown in FIGS. Hereinafter, a process of forming the address electrode 806 in the first substrate 801 will be exemplified. In this case, the following steps are performed with the first substrate 801 placed on the substrate table 3 of the droplet discharge device 1. First, a liquid material (functional liquid) containing a conductive film wiring forming material is landed on the address electrode formation region as a functional liquid droplet by the liquid droplet ejection head 111. This liquid material is obtained by dispersing conductive fine particles such as metal in a dispersion medium as a conductive film wiring forming material. As the conductive fine particles, metal fine particles containing gold, silver, copper, palladium, nickel, or the like, a conductive polymer, or the like is used.

補充対象となる全てのアドレス電極形成領域について液体材料の補充が終了したならば、吐出後の液体材料を乾燥処理し、液体材料に含まれる分散媒を蒸発させることによりアドレス電極806が形成される。   When the replenishment of the liquid material is completed for all the address electrode formation regions to be replenished, the address material 806 is formed by drying the discharged liquid material and evaporating the dispersion medium contained in the liquid material. .

ところで、上記においてはアドレス電極806の形成を例示したが、上記表示電極811及び蛍光体809についても上記各工程を経ることにより形成することができる。表示電極811の形成の場合、アドレス電極806の場合と同様に、導電膜配線形成用材料を含有する液体材料(機能液)を機能液滴として表示電極形成領域に着弾させる。また、蛍光体809の形成の場合には、各色(R,G,B)に対応する蛍光材料を含んだ液体材料(機能液)を液滴吐出ヘッド111から液滴として吐出し、対応する色の放電室805内に着弾させる。   By the way, although the formation of the address electrode 806 has been exemplified in the above, the display electrode 811 and the phosphor 809 can also be formed through the above steps. In the case of forming the display electrode 811, as in the case of the address electrode 806, a liquid material (functional liquid) containing a conductive film wiring forming material is landed on the display electrode formation region as a functional droplet. In the case of forming the phosphor 809, a liquid material (functional liquid) containing a fluorescent material corresponding to each color (R, G, B) is discharged as a droplet from the droplet discharge head 111, and the corresponding color In the discharge chamber 805.

次に、図27は、電子放出装置(FED装置あるいはSED装置ともいう:以下、単に表示装置900と称する)の要部断面図である。なお、同図では表示装置900を、その一部を断面として示してある。この表示装置900は、互いに対向して配置された第1基板901、第2基板902、及びこれらの間に形成される電界放出表示部903を含んで概略構成される。電界放出表示部903は、マトリクス状に配置した複数の電子放出部905により構成されている。   Next, FIG. 27 is a cross-sectional view of an essential part of an electron emission device (also referred to as an FED device or an SED device: hereinafter simply referred to as a display device 900). In the figure, a part of the display device 900 is shown as a cross section. The display device 900 is schematically configured to include a first substrate 901 and a second substrate 902 that are arranged to face each other, and a field emission display portion 903 formed therebetween. The field emission display unit 903 includes a plurality of electron emission units 905 arranged in a matrix.

第1基板901の上面には、カソード電極906を構成する第1素子電極906aおよび第2素子電極906bが相互に直交するように形成されている。また、第1素子電極906aおよび第2素子電極906bで仕切られた部分には、ギャップ908を形成した導電性膜907が形成されている。すなわち、第1素子電極906a、第2素子電極906bおよび導電性膜907により複数の電子放出部905が構成されている。導電性膜907は、例えば酸化パラジウム(PdO)等で構成され、またギャップ908は、導電性膜907を成膜した後、フォーミング等で形成される。   A first element electrode 906a and a second element electrode 906b constituting the cathode electrode 906 are formed on the upper surface of the first substrate 901 so as to be orthogonal to each other. In addition, a conductive film 907 having a gap 908 is formed in a portion partitioned by the first element electrode 906a and the second element electrode 906b. In other words, the first element electrode 906a, the second element electrode 906b, and the conductive film 907 constitute a plurality of electron emission portions 905. The conductive film 907 is made of, for example, palladium oxide (PdO), and the gap 908 is formed by forming after forming the conductive film 907.

第2基板902の下面には、カソード電極906に対峙するアノード電極909が形成されている。アノード電極909の下面には、格子状のバンク部911が形成され、このバンク部911で囲まれた下向きの各開口部912に、電子放出部905に対応するように蛍光体913が配置されている。蛍光体913は、赤(R)、緑(G)、青(B)の何れかの色の蛍光を発光するもので、各開口部912には、赤色蛍光体913R、緑色蛍光体913Gおよび青色蛍光体913Bが、上記した所定のパターンで配置されている。   An anode electrode 909 facing the cathode electrode 906 is formed on the lower surface of the second substrate 902. A lattice-shaped bank portion 911 is formed on the lower surface of the anode electrode 909, and a phosphor 913 is disposed in each downward opening 912 surrounded by the bank portion 911 so as to correspond to the electron emission portion 905. Yes. The phosphor 913 emits fluorescence of any color of red (R), green (G), and blue (B), and each opening 912 has a red phosphor 913R, a green phosphor 913G, and a blue color. The phosphors 913B are arranged in the predetermined pattern described above.

そして、このように構成した第1基板901と第2基板902とは、微小な間隙を存して貼り合わされている。この表示装置900では、導電性膜(ギャップ908)907を介して、陰極である第1素子電極906aまたは第2素子電極906bから飛び出す電子を、陽極であるアノード電極909に形成した蛍光体913に当てて励起発光し、カラー表示が可能となる。   The first substrate 901 and the second substrate 902 configured as described above are bonded together with a minute gap. In this display device 900, electrons that jump out of the first element electrode 906a or the second element electrode 906b, which are cathodes, via the conductive film (gap 908) 907 are transferred to the phosphor 913 formed on the anode electrode 909 that is an anode. When excited, it emits light and enables color display.

この場合も、他の実施形態と同様に、第1素子電極906a、第2素子電極906b、導電性膜907およびアノード電極909を、液滴吐出装置1を用いて形成することができると共に、各色の蛍光体913R,913G,913Bを、液滴吐出装置1を用いて形成することができる。   Also in this case, as in the other embodiments, the first element electrode 906a, the second element electrode 906b, the conductive film 907, and the anode electrode 909 can be formed using the droplet discharge device 1 and each color. The phosphors 913R, 913G, and 913B can be formed using the droplet discharge device 1.

第1素子電極906a、第2素子電極906bおよび導電性膜907は、図28(a)に示す平面形状を有しており、これらを成膜する場合には、図28(b)に示すように、予め第1素子電極906a、第2素子電極906bおよび導電性膜907を作り込む部分を残して、バンク部BBを形成(フォトリソグラフィ法)する。次に、バンク部BBにより構成された溝部分に、第1素子電極906aおよび第2素子電極906bを形成(液滴吐出装置1によるインクジェット法)し、その溶剤を乾燥させて成膜を行った後、導電性膜907を形成(液滴吐出装置1によるインクジェット法)する。そして、導電性膜907を成膜後、バンク部BBを取り除き(アッシング剥離処理)、上記のフォーミング処理に移行する。なお、上記の有機EL装置の場合と同様に、第1基板901および第2基板902に対する親液化処理や、バンク部911,BBに対する撥液化処理を行うことが、好ましい。   The first element electrode 906a, the second element electrode 906b, and the conductive film 907 have a planar shape shown in FIG. 28A. When these are formed, as shown in FIG. In addition, the bank portion BB is formed (photolithographic method), leaving portions where the first element electrode 906a, the second element electrode 906b, and the conductive film 907 are previously formed. Next, the first element electrode 906a and the second element electrode 906b were formed in the groove portion constituted by the bank portion BB (inkjet method using the droplet discharge device 1), and the solvent was dried to form a film. After that, a conductive film 907 is formed (an ink jet method using the droplet discharge device 1). Then, after forming the conductive film 907, the bank portion BB is removed (ashing peeling process), and the process proceeds to the above forming process. As in the case of the organic EL device described above, it is preferable to perform a lyophilic process on the first substrate 901 and the second substrate 902 and a lyophobic process on the bank portions 911 and BB.

また、他の電気光学装置としては、金属配線形成、レンズ形成、レジスト形成および光
拡散体形成等の装置が考えられる。上記した液滴吐出装置1を有する液滴吐出設備10を各種の電気光学装置(デバイス)の製造に用いることにより、各種の電気光学装置を効率的に製造することが可能である。
As other electro-optical devices, devices such as metal wiring formation, lens formation, resist formation, and light diffuser formation are conceivable. By using the droplet discharge facility 10 having the above-described droplet discharge device 1 for manufacturing various electro-optical devices (devices), it is possible to efficiently manufacture various electro-optical devices.

この第3の実施形態によれば、以下の効果が得られる。
(1)第1の実施形態や第2の実施形態と同様な効果が得られ、電気光学装置を形成する工程で発生する機能液のミストや機能液の溶媒の蒸発ガスが、液滴吐出設備の外部に漏れる可能性を非常に小さくすることができる。
According to the third embodiment, the following effects can be obtained.
(1) The same effects as those of the first and second embodiments can be obtained, and the functional liquid mist generated in the process of forming the electro-optical device and the evaporated gas of the functional liquid solvent are used as a droplet discharge facility. The possibility of leaking to the outside can be greatly reduced.

(2)機能液のミストや機能液の溶媒の蒸発ガスが、液滴吐出設備の外部に漏れる可能性を非常に小さくすることができるため、例えば半導体製造プロセスのような、機能液のミストや機能液の溶媒の蒸発ガスなどの影響を受け易い状態の製品を扱う工程も、電気光学装置に影響を与える可能性が極めて小さい環境を維持したまま、液滴吐出設備の近傍で実施することができる。   (2) Since it is possible to greatly reduce the possibility that the functional liquid mist and the evaporated gas of the functional liquid solvent leak to the outside of the droplet discharge facility, the functional liquid mist, Processes that handle products that are susceptible to the effects of evaporative gas in the solvent of the functional liquid can also be performed in the vicinity of the droplet discharge facility while maintaining an environment that is extremely unlikely to affect the electro-optical device. it can.

(3)各製造設備を近接して設けることができるため、半完成製品の輸送の必要が少なくなり、製造を効率よく行うことができる。また、外部からの影響を受け易い半完成製品の状態で輸送される機会が少なくなり、電気光学装置が悪影響を受ける可能性を小さくすることができる。   (3) Since the production facilities can be provided close to each other, the need for transporting the semi-finished product is reduced, and the production can be performed efficiently. In addition, the chance of being transported in the state of a semi-finished product that is easily affected by the outside is reduced, and the possibility that the electro-optical device is adversely affected can be reduced.

本発明の実施形態は、前記各実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々変更を加え得ることは勿論であり、以下のように実施することもできる。   The embodiments of the present invention are not limited to the above-described embodiments, and various modifications can be made without departing from the scope of the present invention, and can be implemented as follows.

(変形例1)前記実施形態においては、本発明の液滴吐出設備をクリーンルーム内に設置していたが、設置場所はクリーンルームのような清浄な雰囲気の場所でなくてもよい。清浄でない雰囲気内で液滴吐出設備10,210を使用する場合は、清浄でない雰囲気が液滴吐出装置1の周辺に侵入することを抑制することが好ましい。従って、予備室81内の室圧は、チャンバ装置7またはチャンバ設備207の室外の室圧(大気圧)より高くなるように、予備室排気ダンパ143の開口状態を調整する。また、主室80内の室圧は、予備室81内の室圧より高くなるように、主室排気ダンパ141及び予備室排気ダンパ143の開口状態を設定する。   (Modification 1) In the above embodiment, the droplet discharge facility of the present invention is installed in a clean room. However, the installation location may not be a clean atmosphere place such as a clean room. When using the droplet discharge facilities 10 and 210 in an unclean atmosphere, it is preferable to prevent the unclean atmosphere from entering the periphery of the droplet discharge device 1. Therefore, the opening state of the auxiliary chamber exhaust damper 143 is adjusted so that the chamber pressure in the auxiliary chamber 81 becomes higher than the outdoor chamber pressure (atmospheric pressure) of the chamber device 7 or the chamber equipment 207. Further, the opening state of the main chamber exhaust damper 141 and the spare chamber exhaust damper 143 is set so that the chamber pressure in the main chamber 80 becomes higher than the chamber pressure in the spare chamber 81.

また、第2主室外壁78に設けられたワーク給排口146の上下に設けられたエアカッタ149については、気体流の噴出し方向を第2主室外壁78に平行な面より僅かに主室80の外側方向にして、チャンバ70または270の周囲の気体が主室80内に進入するのを抑制する。さらに、前記実施形態においては、エアカッタ149は第2主室外壁78の内側に設けてあるが、第2主室外壁78の外側に設けてもよい。   In addition, with respect to the air cutters 149 provided above and below the workpiece supply / exhaust port 146 provided in the second main chamber outer wall 78, the main chamber is slightly set in a direction in which the gas flow is ejected from a plane parallel to the second main chamber outer wall 78. In the outward direction of 80, the gas around the chamber 70 or 270 is prevented from entering the main chamber 80. Furthermore, although the air cutter 149 is provided inside the second main chamber outer wall 78 in the embodiment, it may be provided outside the second main chamber outer wall 78.

(変形例2)前記実施形態においては、それぞれの扉152,162,172を開放禁止状態にすることができる主室扉ロック装置155などのロック装置を設けたが、ロック装置を設けることは必須ではない。ロック装置を廃止し、例えば主室扉152が開いた状態のときに予備室扉162を開けようとした場合に、主室扉152が開いていることを警告することのみで、対応ようにしてもよい。ロック機構が不要となり、装置を簡単化及び低コスト化できる。また、液滴吐出装置1の異常などの緊急時に際しては、警告を無視すれば、チャンバ装置7の動作に拘束されることなく、迅速にチャンバ70内に入ることができ、緊急事態に迅速に対処することができる。   (Modification 2) In the above-described embodiment, the lock device such as the main chamber door lock device 155 that can prevent the doors 152, 162, and 172 from being opened is provided, but it is essential to provide the lock device. is not. For example, when the lock device is abolished and, for example, when the main chamber door 152 is open, an attempt is made to open the spare chamber door 162, it is only necessary to warn that the main chamber door 152 is open. Also good. A lock mechanism is unnecessary, and the apparatus can be simplified and reduced in cost. Further, in the event of an emergency such as an abnormality in the droplet discharge device 1, if the warning is ignored, the chamber 70 can be quickly entered without being restricted by the operation of the chamber device 7, and the emergency situation can be quickly reached. Can be dealt with.

(変形例3)前記実施形態においては、主室80と副室82とに排気ダクト88,89を設け、主室80への吸気が主室の一角に形成した副室82にも給気されるように構成されているが、排気ダクトは副室82に設け、副室82には主室80への給気が直接流入しないようにしてもよい。この場合、副室82に設けた排気ダクトが、上記した実施形態における主室排気ダクト88に相当する。またこの場合には、主室80と副室82とを隔てる副室壁79には、小径の通気窓を設け、主室80内の液滴吐出装置1周囲の気体は通気窓を介して副室82内の気体と連通するようにする。   (Modification 3) In the above embodiment, exhaust ducts 88 and 89 are provided in the main chamber 80 and the sub chamber 82, and the intake air to the main chamber 80 is also supplied to the sub chamber 82 formed at one corner of the main chamber. However, the exhaust duct may be provided in the sub chamber 82 so that the air supplied to the main chamber 80 does not flow directly into the sub chamber 82. In this case, the exhaust duct provided in the sub chamber 82 corresponds to the main chamber exhaust duct 88 in the above-described embodiment. In this case, the sub chamber wall 79 that separates the main chamber 80 and the sub chamber 82 is provided with a small-diameter ventilation window, and the gas around the droplet discharge device 1 in the main chamber 80 passes through the ventilation window. The gas in the chamber 82 is communicated.

空調機71から供給された空気は、給気フィルタ87を通過して主室天井裏85に入り、主室天井84の小径開口を通過して主室80に供給される。副室82内の空気が副室82内の主室排気ダクト88を介して工場の排気設備に排気され、主室80内の空気は、副室壁79の通気窓を通過して副室82内に流入し、副室82内の主室排気ダクト88を介して工場の排気設備に排気される。   The air supplied from the air conditioner 71 passes through the air supply filter 87 and enters the main room ceiling 85, passes through the small-diameter opening of the main room ceiling 84, and is supplied to the main room 80. The air in the sub chamber 82 is exhausted to the factory exhaust facility via the main chamber exhaust duct 88 in the sub chamber 82, and the air in the main chamber 80 passes through the ventilation window of the sub chamber wall 79 and passes through the sub chamber 82. It flows into the interior and is exhausted to the exhaust facility of the factory through the main chamber exhaust duct 88 in the sub chamber 82.

主室80内の室圧は、空調機71からの給気状態はほぼ一定であり、副室82に設けた主室排気ダクト88内の主室排気ダンパ141の開口状態を調整することで制御されている。予備室81内の室圧は、空調機71からの給気状態はほぼ一定であり、予備室排気ダクト98内の予備室排気ダンパ143の開放状態を調整することで制御されている。本実変形例における液滴吐出設備では、主室80内の室圧と、予備室81内の室圧とが同等となるように、主室排気ダンパ141および予備室排気ダンパ143の開放状態を調整している。   The chamber pressure in the main chamber 80 is controlled by adjusting the opening state of the main chamber exhaust damper 141 in the main chamber exhaust duct 88 provided in the sub chamber 82 while the air supply state from the air conditioner 71 is substantially constant. Has been. The chamber pressure in the auxiliary chamber 81 is controlled by adjusting the open state of the auxiliary chamber exhaust damper 143 in the auxiliary chamber exhaust duct 98 while the supply state from the air conditioner 71 is substantially constant. In the droplet discharge facility according to this actual modification, the main chamber exhaust damper 141 and the spare chamber exhaust damper 143 are opened so that the chamber pressure in the main chamber 80 and the chamber pressure in the spare chamber 81 are equal. It is adjusted.

本変形例の構成によれば、主室80内の室圧と、予備室81内の室圧とが同等であり、主室扉152を開放した状態でも、主室80と、予備室81の一方から他方への気流が発生し難く、主室80内の気体が予備室81へ流出したり、予備室81の気体が主室80に侵入したりすることが起こり難い。従って、主室80内の気体がチャンバ70の外部に漏れることを抑制することができるとともに、主室80内にチャンバ70の外部の気体が侵入することを抑制することができる。   According to the configuration of this modified example, the chamber pressure in the main chamber 80 and the chamber pressure in the auxiliary chamber 81 are equal, and the main chamber 80 and the auxiliary chamber 81 are in the state in which the main chamber door 152 is opened. Airflow from one side to the other is unlikely to occur, and the gas in the main chamber 80 does not easily flow out to the spare chamber 81 or the gas in the spare chamber 81 does not easily enter the main chamber 80. Therefore, the gas in the main chamber 80 can be prevented from leaking outside the chamber 70, and the gas outside the chamber 70 can be prevented from entering the main chamber 80.

また、本変形例の構成によれば、主室80と副室82とは小径の通気窓で連通しており、小径の通気窓部分では対流が発生し難いため、主室80内の気体と副室82内の気体とが混じりあって、液滴吐出装置1の雰囲気が機能液の溶媒などの蒸発ガスで汚染されることを抑制することができる。さらに、主室80内の気体は副室82を経由して排出されるようにしたため、主室80内の気体は小径の通気窓を経由して副室82に流入し、副室82内の気体が主室80に流入する可能性が極めて小さくなり、液滴吐出装置1の雰囲気が機能液の溶媒などの蒸発ガスで汚染されることを抑制することができる。   In addition, according to the configuration of this modification, the main chamber 80 and the sub chamber 82 communicate with each other through a small-diameter ventilation window, and convection hardly occurs in the small-diameter ventilation window portion. It can be prevented that the gas in the sub chamber 82 is mixed and the atmosphere of the droplet discharge device 1 is contaminated with an evaporation gas such as a solvent of the functional liquid. Further, since the gas in the main chamber 80 is discharged through the sub chamber 82, the gas in the main chamber 80 flows into the sub chamber 82 via the small-diameter ventilation window, The possibility that the gas flows into the main chamber 80 becomes extremely small, and the atmosphere of the droplet discharge device 1 can be suppressed from being contaminated with an evaporation gas such as a solvent of the functional liquid.

さらに、本変形例の構成によれば、主室排気ダクト88を副室82に設けて主室80内の気体は副室82を経由して排出されるようにするとともに、主室排気ダンパ141によって主室80からの排気量を制御することで、主室80の室圧を制御し、予備室排気ダンパ143によって予備室81からの排気量を制御することで、予備室81の室圧を制御し、予備室81の室圧と主室80の室圧とを同等にした。これによって、予備室81の室圧は副室82の室圧より高くなり、副室82内の機能液の溶媒などの蒸発ガスなどが予備室81に流出することを抑制することができ、副室82内の気体がチャンバ70の外部に漏れることを抑制することができる。   Further, according to the configuration of the present modification, the main chamber exhaust duct 88 is provided in the sub chamber 82 so that the gas in the main chamber 80 is discharged via the sub chamber 82 and the main chamber exhaust damper 141. By controlling the exhaust amount from the main chamber 80, the chamber pressure of the main chamber 80 is controlled, and by controlling the exhaust amount from the spare chamber 81 by the spare chamber exhaust damper 143, the chamber pressure of the spare chamber 81 is reduced. The chamber pressure in the preliminary chamber 81 and the chamber pressure in the main chamber 80 were made equal. As a result, the chamber pressure in the auxiliary chamber 81 becomes higher than the chamber pressure in the sub chamber 82, and it is possible to suppress the evaporating gas such as the solvent of the functional liquid in the sub chamber 82 from flowing into the auxiliary chamber 81. The gas in the chamber 82 can be prevented from leaking outside the chamber 70.

(変形例4)前記実施形態においては、各扉152,162,172を開放する前に予備室81内の空気の入替えをおこなっているが、空気の入替えは必須ではない。例えば、予備室81の室圧を、主室80の室圧とチャンバ70の外部の室圧とのうち高い方より高くすることにより、主室80内の気体が予備室81に漏れることを抑制することができるとともに、チャンバ70の外部の気体が予備室81に侵入することを抑制することができる。従って、主室80内の気体がチャンバ70の外部に漏れることを抑制することができるとともに、主室80内にチャンバ70の外部の気体が侵入することを抑制することができる。   (Modification 4) In the above embodiment, the air in the spare chamber 81 is replaced before the doors 152, 162, and 172 are opened, but the replacement of air is not essential. For example, the gas in the main chamber 80 is prevented from leaking into the auxiliary chamber 81 by making the chamber pressure in the auxiliary chamber 81 higher than the higher one of the chamber pressure in the main chamber 80 and the chamber pressure outside the chamber 70. In addition, the gas outside the chamber 70 can be prevented from entering the preliminary chamber 81. Therefore, the gas in the main chamber 80 can be prevented from leaking outside the chamber 70, and the gas outside the chamber 70 can be prevented from entering the main chamber 80.

(変形例5)前記実施形態においては、作業者がチャンバ70に入るために予備室扉162を開放する前に予備室81内の空気の入替えをおこなっているが、チャンバ70に入るときの空気の入替えは必須ではない。例えば、清浄でない雰囲気内で液滴吐出設備10,210を使用する場合は、清浄でない雰囲気が液滴吐出装置1の周辺に侵入することを抑制することが好ましく、主室80内の気体がチャンバ70外部に漏れることは問題ではない。チャンバ70に入る前の予備室81内の空気の入替えを省くことにより、空気の入替えに要する時間が不要になり、時間を節減することができる。   (Modification 5) In the above embodiment, the air in the spare chamber 81 is replaced before the operator opens the spare chamber door 162 in order to enter the chamber 70. Replacement of is not mandatory. For example, when using the droplet discharge facilities 10 and 210 in an unclean atmosphere, it is preferable to suppress an unclean atmosphere from entering the periphery of the droplet discharge device 1, and the gas in the main chamber 80 is chambered. 70 Leaking outside is not a problem. By omitting the replacement of the air in the spare chamber 81 before entering the chamber 70, the time required for the replacement of air becomes unnecessary, and the time can be saved.

(変形例6)前記実施形態においては、作業者が予備室81に入ってから主室扉152または副室扉172を開放する前に予備室81内の空気の入替えをおこなっているが、この空気の入替えは必須ではない。例えば、クリーンルームのような清浄な雰囲気内で液滴吐出設備10,210を使用する場合は、液滴吐出装置1の周辺や副室82内の清浄でない気体がクリーンルームに漏れることを抑制することが好ましく、クリーンルーム内の気体が主室80や副室82に侵入することは問題ではない。主室扉152または副室扉172を開放する前の予備室81内の空気の入替えを省くことにより、空気の入替えに要する時間が不要になり、時間をすることが節減できる。   (Modification 6) In the above embodiment, the air in the spare chamber 81 is replaced before the main chamber door 152 or the sub chamber door 172 is opened after the operator enters the spare chamber 81. Air replacement is not essential. For example, when the droplet discharge facility 10 or 210 is used in a clean atmosphere such as a clean room, it is possible to suppress leakage of unclean gas around the droplet discharge device 1 or in the sub chamber 82 to the clean room. Preferably, it is not a problem that the gas in the clean room enters the main chamber 80 and the sub chamber 82. By omitting the replacement of the air in the spare chamber 81 before opening the main chamber door 152 or the sub chamber door 172, the time required for the replacement of the air becomes unnecessary, and time can be saved.

(変形例7)前記実施形態においては、作業者がチャンバ70から出るために予備室扉162を開放する前に予備室81内の空気の入替えをおこなっているが、チャンバ70から出るときの空気の入替えは必須ではない。例えば、清浄でない雰囲気内で液滴吐出設備10,210を使用する場合は、清浄でない雰囲気が液滴吐出装置1の周辺に侵入することを抑制することが好ましく、主室80内の気体がチャンバ70外部に漏れることは問題ではない。チャンバ70から出る前の予備室81内の空気の入替えを省くことにより、空気の入替えに要する時間が不要になり、時間を節減することができる。   (Modification 7) In the above embodiment, the air in the spare chamber 81 is replaced before the worker opens the spare chamber door 162 in order to exit the chamber 70. Replacement of is not mandatory. For example, when using the droplet discharge facilities 10 and 210 in an unclean atmosphere, it is preferable to suppress an unclean atmosphere from entering the periphery of the droplet discharge device 1, and the gas in the main chamber 80 is chambered. 70 Leaking outside is not a problem. By omitting the replacement of the air in the spare chamber 81 before leaving the chamber 70, the time required for the replacement of air becomes unnecessary, and the time can be saved.

(変形例8)前記実施形態においては、作業者がチャンバ70から出て、扉が閉鎖された後も所定時間の間予備室81の排気をおこなっているが、この空気の入替えは必須ではない。この場合、主室扉152および副室扉172は閉じられており、予備室81内に侵入した可能性がある外部の気体が、主室80に侵入することは防止できる。扉が閉鎖された後、直ちに排気を停止することにより、給気装置の負荷を減らして消費エネルギーを節減することができる。   (Modification 8) In the above-described embodiment, the spare chamber 81 is exhausted for a predetermined time even after the worker has left the chamber 70 and the door is closed, but this replacement of air is not essential. . In this case, the main chamber door 152 and the sub chamber door 172 are closed, and external gas that may have entered the spare chamber 81 can be prevented from entering the main chamber 80. By stopping the exhaust immediately after the door is closed, the load on the air supply device can be reduced and energy consumption can be reduced.

(変形例9)前記実施形態においては、排気設備に排気ダクト88,98を接続して空気の入替えを行っているが、給気に圧縮空気を使用してもよい。前記実施形態においては、空気流量の制御及び室圧の制御は、排気流量を制御して行っているが、この場合には、給気流量を制御して空気流量の制御及び室圧の制御を行う。   (Modification 9) In the above embodiment, the exhaust ducts 88 and 98 are connected to the exhaust equipment to exchange the air. However, compressed air may be used for supplying air. In the above embodiment, the control of the air flow rate and the control of the chamber pressure are performed by controlling the exhaust flow rate. In this case, the supply air flow rate is controlled to control the air flow rate and the control of the chamber pressure. Do.

(変形例10)前記実施形態においては、それぞれの扉152,172,172は手作業で開閉する構成となっているが、自動開閉機構及び自動開閉機構を操作する開閉スイッチを設けて、開閉スイッチの操作によって、自動で各扉を開閉する構成にしてもよい。この場合、各扉のロック装置は設けなくてもよい。開閉スイッチが扉を開けるように操作された場合、図7などに示した扉を開放するために必要な諸工程を実施した後迅速に扉が開放される。また、所定時間を超えて扉が開放された場合は自動的に扉を閉じるように設定することによって、閉め忘れによる扉の長時間開放を防止することができる。但し、主室扉152については、作業者を検知して、作業者が検知されなくなってから所定時間を超えて主室扉152が開放されている場合に閉じるようにする。   (Modification 10) In the above-described embodiment, each of the doors 152, 172, and 172 is configured to be manually opened / closed. However, the automatic opening / closing mechanism and the opening / closing switch for operating the automatic opening / closing mechanism are provided. Each door may be automatically opened and closed by the above operation. In this case, a locking device for each door may not be provided. When the open / close switch is operated so as to open the door, the door is quickly opened after performing the steps necessary to open the door shown in FIG. Moreover, when the door is opened after a predetermined time, it is possible to prevent the door from being opened for a long time due to forgetting to close it by automatically setting the door to be closed. However, the main chamber door 152 is detected when an operator is detected, and the main chamber door 152 is closed when the main chamber door 152 is opened for a predetermined time after the operator is no longer detected.

(変形例11)前記第2の実施形態においては、チャンバ設備207において、第2主室外壁78にワーク給排口146を設け、チャンバ設備207の外部からワークの供給及び排出をおこなったが、予備室281からワークの供給及び排出を行ってもよい。この場合、ワークの供給及び排出は、主室出入り口151を介して行ってもよいし、予備室281の両側の隔壁76に給排口146を設け、給排口146を介して行ってもよい。予備室281内に、ワーク給排装置221を設置してもよい。ワークの供給及び排出に伴ってチャンバ設備207の内部と外部が連通する機会がなくなるため、チャンバ設備207内の気体の外部への流出や、チャンバ設備207内への外部の気体の侵入を抑制することができる。   (Modification 11) In the second embodiment, in the chamber equipment 207, the work supply / exhaust port 146 is provided in the second main chamber outer wall 78, and the work is supplied and discharged from the outside of the chamber equipment 207. The workpiece may be supplied and discharged from the spare chamber 281. In this case, the supply and discharge of the workpiece may be performed through the main chamber entrance / exit 151 or may be performed through the supply / exhaust port 146 provided with the supply / exhaust port 146 in the partition wall 76 on both sides of the spare chamber 281. . A workpiece supply / discharge device 221 may be installed in the spare chamber 281. Since there is no opportunity for the inside and outside of the chamber equipment 207 to communicate with the supply and discharge of the workpiece, the outflow of the gas in the chamber equipment 207 to the outside and the invasion of the outside gas into the chamber equipment 207 are suppressed. be able to.

また、予備室281を挟んで隣接する主室80に設置したワーク処理装置で、連続する工程を実施し、最初の工程が終了したワークWを排出し、直ちに次の工程を行うワーク処理装置に供給するようにしてもよい。ワークWの移動工程が1回で済み、工程間の時間が節減できる。   In addition, the work processing apparatus installed in the main chamber 80 adjacent to the spare room 281 is used to perform a continuous process, discharge the work W after the first process, and immediately perform the next process. You may make it supply. The movement process of the workpiece W is only required once, and the time between the processes can be saved.

(変形例12)前記第2の実施形態においては、チャンバ設備207において、第2主室外壁78にワーク給排口146を設け、チャンバ設備207の外部からワークの供給及び排出をおこなったが、ワーク給排装置221とワーク収容棚222とワーク乾燥装置223とを収容する第2予備室を設けてもよい。また、第2予備室はワーク給排装置221とワーク収容棚222とワーク乾燥装置223とを各1台ずつ収容する構成でもよいし、各3台のワーク給排装置221とワーク収容棚222とワーク乾燥装置223とを収容する構成でもよい。ワークの供給及び排出に伴ってチャンバ設備207の内部と外部が連通する機会がなくなるため、チャンバ設備207内の気体の外部への流出や、チャンバ設備207内への外部の気体の侵入を抑制することができる。   (Modification 12) In the second embodiment, in the chamber equipment 207, the work supply / exhaust port 146 is provided in the second main chamber outer wall 78, and the work is supplied and discharged from the outside of the chamber equipment 207. You may provide the 2nd preliminary | backup chamber which accommodates the workpiece | work supply / discharge apparatus 221, the workpiece | work storage shelf 222, and the workpiece | work drying apparatus 223. Further, the second preliminary chamber may be configured to accommodate one workpiece supply / discharge device 221, one workpiece storage shelf 222, and one workpiece drying device 223, or each of the three workpiece supply / discharge devices 221 and the workpiece storage shelf 222. The structure which accommodates the workpiece | work drying apparatus 223 may be sufficient. Since there is no opportunity for the inside and outside of the chamber equipment 207 to communicate with the supply and discharge of the workpiece, the outflow of the gas in the chamber equipment 207 to the outside and the invasion of the outside gas into the chamber equipment 207 are suppressed. be able to.

(変形例13)前記実施形態においては、主室80及び予備室81の室圧の制御は、それぞれ主室排気流量センサ142及び予備室排気流量センサ144によって排気流量を測定し、その測定結果をCPU185にフィードバックして、排気ダンパを制御することで行っていたが、主室80及び予備室81の圧力センサを設けて、室圧を測定してもよい。   (Modification 13) In the above embodiment, the control of the chamber pressures of the main chamber 80 and the auxiliary chamber 81 is performed by measuring the exhaust gas flow rate by the main chamber exhaust gas flow rate sensor 142 and the auxiliary chamber exhaust gas flow rate sensor 144, respectively. Although feedback is performed to the CPU 185 and the exhaust damper is controlled, pressure sensors in the main chamber 80 and the spare chamber 81 may be provided to measure the chamber pressure.

(変形例14)本発明のチャンバ装置およびチャンバ設備は、さらに、それを構成する壁の一部または一面の壁全部を取り外し可能に構成することが好ましい。壁を取り外すことによって、主室80内にワーク処理装置を設置する作業が容易になる。   (Modification 14) It is preferable that the chamber apparatus and the chamber equipment of the present invention are configured so that a part of the walls constituting the chamber apparatus or the whole wall on one side can be removed. By removing the wall, the work of installing the work processing apparatus in the main room 80 is facilitated.

(変形例15)本発明のチャンバ装置およびチャンバ設備は、ワーク処理装置を設置し、次に、設置したワーク処理装置を囲むチャンバ装置またはチャンバ設備を組み立てるような組立方法を採ることが好ましい。主室80にワーク処理装置を搬入する作業が不要となり、移動が困難な大型のワーク処理装置を収容するチャンバ装置またはチャンバ設備の場合、有用である。   (Modification 15) It is preferable that the chamber apparatus and the chamber equipment of the present invention adopt an assembling method in which a work processing apparatus is installed and then a chamber apparatus or chamber equipment surrounding the installed work processing apparatus is assembled. This is useful in the case of a chamber apparatus or a chamber facility that accommodates a large work processing apparatus that is difficult to move because the work for bringing the work processing apparatus into the main room 80 is unnecessary.

(変形例16)前記実施形態においては、予備室扉162内の気体の入替え完了を確認するために、タイマ187によって各扉152,162,172が閉鎖されてからの経過時間を計時し、予備室81内の気体を入替えることができる所定時間が経過しているか、即ち所定時間にわたって排気を継続したかを確認しているが、排気した気体量を測定することによってもよい。即ち、予備室排気流量センサ144によって排気流量を測定して、予備室81,281の容量に相当する気体が排気されたことによって、気体の入替え完了を確認してもよい。   (Modification 16) In the above embodiment, in order to confirm the completion of the replacement of the gas in the spare chamber door 162, the timer 187 measures the elapsed time after the doors 152, 162, 172 are closed, It is confirmed whether or not a predetermined time in which the gas in the chamber 81 can be replaced has elapsed, that is, whether or not exhaustion has been continued for a predetermined time. However, the amount of the exhausted gas may be measured. That is, the exhaust flow rate sensor 144 may measure the exhaust flow rate and confirm that the gas replacement has been completed when the gas corresponding to the capacity of the spare chambers 81 and 281 has been exhausted.

(変形例17)前記実施形態においては、レーザー測長器15によって検出された基板テーブル3の移動距離(現在位置)に基づいて、液滴吐出ヘッド111からの吐出タイミングが生成されているが、リニアモータ101と平行にガラススケールを設け、ガラススケールの信号を元に吐出タイミングを生成してもよい。   (Modification 17) In the above embodiment, the discharge timing from the droplet discharge head 111 is generated based on the movement distance (current position) of the substrate table 3 detected by the laser length measuring device 15. A glass scale may be provided in parallel with the linear motor 101, and the discharge timing may be generated based on the glass scale signal.

(変形例18)前記実施形態においては、1箇所の予備室81に設けてある2箇所の予備室扉ロック装置164は双方が同じ状態となるように制御されているが、2箇所の予備室扉162の双方が開いていることを禁止するように制御してもよい。   (Modification 18) In the above embodiment, the two spare chamber door locking devices 164 provided in one spare chamber 81 are controlled so that both are in the same state. You may control to prohibit that both the doors 162 are open.

この場合、例えば外部から予備室扉152を開ける場合について説明する。予備室扉外スイッチ168がON状態となる(上記実施形態のステップS21でYES)。続いて、主室扉開閉センサ153の検出結果によって、主室扉152の閉鎖が確認され(上記実施形態のステップS22)、副室扉開閉センサ173の検出結果によって、副室扉172の閉鎖が確認される(ステップS24)。それに加えて、同じ予備室81,281に設けられ予備室扉外スイッチ168がONとなっていない予備室扉162の開閉状態も確認し、開放されていた場合には、反対側の予備室扉162が開放されているという警告を出す。   In this case, for example, a case where the spare chamber door 152 is opened from the outside will be described. The auxiliary room door switch 168 is turned on (YES in step S21 in the above embodiment). Subsequently, the detection result of the main chamber door opening / closing sensor 153 confirms that the main chamber door 152 is closed (step S22 in the above embodiment), and the detection result of the sub chamber door opening / closing sensor 173 indicates that the sub chamber door 172 is closed. Confirmed (step S24). In addition, the open / close state of the spare room door 162 provided in the same spare room 81, 281 where the spare room door outside switch 168 is not turned on is also checked, and if it is opened, the spare room door on the opposite side is opened. A warning is issued that 162 is open.

さらに、開放禁止状態が解除され、予備室扉162を開けることができるようになる(上記実施形態のステップS28)予備室扉ロック装置164は、予備室扉外スイッチ168がON状態となっている方のみである。予備室扉外スイッチ168がONとなっていない予備室扉162の予備室扉ロック装置164は、当該予備室扉162の閉鎖が確認された時点で開放禁止状態とされ、その開放禁止状態が維持される。   Further, the opening prohibition state is released, and the spare room door 162 can be opened (step S28 in the above embodiment). In the spare room door locking device 164, the spare room door outside switch 168 is in the ON state. Only. The spare room door lock device 164 of the spare room door 162 for which the spare room door outside switch 168 is not turned on is set to the opening prohibited state when the closing of the spare room door 162 is confirmed, and the opening prohibited state is maintained. Is done.

開放できる予備室扉162は2箇所のうち1箇所のみであるため、2箇所の予備室扉162が開放された場合に比べて、予備室81,281内の気体と外部の気体とが混じりあう可能性が低く、より確実に主室内部の気体が予備室81,281を介して外部にもれることを抑制できるとともに、外部の気体が予備室81,281内部に侵入することを抑制できる。   Since only one of the two spare chamber doors 162 can be opened, the gas in the spare chambers 81 and 281 and the external gas are mixed as compared with the case where the two spare chamber doors 162 are opened. The possibility is low, and the gas in the main chamber can be more reliably prevented from leaking outside through the spare chambers 81 and 281 and the outside gas can be prevented from entering the spare chambers 81 and 281.

(変形例19)上記した実施形態においては、液滴吐出装置1の稼動非稼動に関りなく、主室扉152の開放が可能であったが、液滴吐出装置1が稼動状態のときには、主室扉152の開放を禁止してもよい。この場合、液滴吐出装置1の稼動非稼動を検知する稼動センサを設けておく。   (Modification 19) In the above-described embodiment, the main chamber door 152 can be opened regardless of whether the droplet discharge device 1 is in operation or not. However, when the droplet discharge device 1 is in an operating state, The opening of the main room door 152 may be prohibited. In this case, an operation sensor for detecting operation / non-operation of the droplet discharge device 1 is provided.

この場合の、上記した図7の各ステップを経て開放可能になった予備室扉162を開けて、予備室81に入った状態で、主室扉152を開ける場合の動作について説明する。チャンバ装置7の各扉152,162,172は閉じられており、主室扉ロック装置155及び副室扉ロック装置174は、主室扉152及び副室扉172を開放禁止状態にしており、主室80及び予備室81は給排気が行われている。   In this case, the operation when the main chamber door 152 is opened while the spare chamber door 162 that can be opened through the steps of FIG. The doors 152, 162, 172 of the chamber device 7 are closed, and the main chamber door lock device 155 and the sub chamber door lock device 174 prohibit the main chamber door 152 and the sub chamber door 172 from being opened. The chamber 80 and the spare chamber 81 are supplied and exhausted.

作業者が主室扉152を開ける開閉レバーを操作すると、主室扉スイッチ158がON状態となる(上記実施形態のステップS31でYES)。このとき、主室扉ロック装置155は、開放禁止状態のままであり、主室扉152を開けることはできない。稼動センサによって、液滴吐出装置1の稼動非稼動が確認される。液滴吐出装置1が稼動状態の場合には、液滴吐出装置1が稼動中であるという警告を出す。非稼動状態であった場合には、図8に示した予備室扉開閉センサ163の検出結果によって、予備室扉162の閉鎖が確認されるステップ(ステップS32)に進み、以降図8に示したステップS33以降の各ステップを実行する。   When the operator operates the opening / closing lever that opens the main chamber door 152, the main chamber door switch 158 is turned on (YES in step S31 of the above embodiment). At this time, the main chamber door lock device 155 remains in the open prohibited state, and the main chamber door 152 cannot be opened. The operation sensor confirms the operation / non-operation of the droplet discharge device 1. When the droplet discharge device 1 is in operation, a warning is given that the droplet discharge device 1 is in operation. If it is in a non-operating state, the process proceeds to a step (step S32) in which the closure of the auxiliary chamber door 162 is confirmed based on the detection result of the auxiliary chamber door opening / closing sensor 163 shown in FIG. Each step after step S33 is executed.

液滴吐出装置1が稼動状態のときには、液滴を吐出したり、吐出した液滴が乾燥したりすることによって、主室80内の機能液からの有機ガスや機能液のミストの濃度が、非稼動状態のときに比べて高くなっている。従って、液滴吐出装置1が稼動状態のときには主室扉152の開放を禁止することによって、主室80内の有機ガスやミストが予備室扉162に流出することをさらに抑制することができ、主室80内の有機ガスやミストがチャンバ70,270の外部に流出することを抑制することができる。   When the droplet discharge device 1 is in an operating state, by discharging the droplets or drying the discharged droplets, the concentration of the organic gas from the functional liquid in the main chamber 80 or the mist concentration of the functional liquid is Higher than when not in operation. Accordingly, by prohibiting the opening of the main chamber door 152 when the droplet discharge device 1 is in operation, it is possible to further suppress the organic gas and mist in the main chamber 80 from flowing out to the spare chamber door 162. It is possible to suppress the organic gas or mist in the main chamber 80 from flowing out of the chambers 70 and 270.

また、液滴吐出装置1が稼動状態のときには、作業者が主室80内に入ることができないため、有機ガスや機能液のミストの濃度が高い空気を吸う可能性を少なくすることができ、安全衛生上好ましくない労働環境での作業の機会を減らすことができる。特に、液滴吐出装置1が、製品に発生した静電気を除去するための軟X線除電装置のように、稼動中は人体に害を与える可能性のある放出物を発生する装置を備えた場合には、作業者保護のために効果がある。このような作業者の保護のためには、保護具などの着用が通常行われるが、本変形例の構成によれば、保護具などを不要にすることができる。   Further, when the droplet discharge device 1 is in an operating state, an operator cannot enter the main chamber 80, so that the possibility of sucking air with a high concentration of mist of organic gas or functional liquid can be reduced. Opportunities for working in an unfavorable health and safety environment can be reduced. In particular, when the droplet discharge device 1 is equipped with a device that generates a discharge that may harm the human body during operation, such as a soft X-ray discharger for removing static electricity generated in a product. Is effective for worker protection. In order to protect such an operator, wearing of a protector or the like is usually performed, but according to the configuration of the present modification, the protector or the like can be made unnecessary.

さらに、液滴吐出装置1が稼動状態のときには、作業者が液滴吐出装置1に近づくことを防止できるため、作業者が稼動中の液滴吐出装置1の稼動部に触れるなどして、負傷したり、装置を破損することを防止することができる。また、作業者が加工中の製品に触れるなどして、負傷したり、製品を破損することを防止することができる。   Further, when the droplet discharge device 1 is in an operating state, it is possible to prevent an operator from approaching the droplet discharge device 1, so that the operator touches the operating portion of the droplet discharge device 1 that is in operation and is injured. And damage to the device can be prevented. Further, it is possible to prevent an operator from being injured or damaging the product by touching the product being processed.

このような装置や製品の破損や作業者の危険を防止するためには、危険防止装置を設けなければならないが、本変形例の構成によれば、危険防止装置を設けることが必須ではなくなり、危険防止装置を設けるためのコストアップや装置の大型化や設置スペースの増加を抑制することができる。   In order to prevent such damage to the device and product and the danger of the worker, it is necessary to provide a safety device, but according to the configuration of this modification, it is not essential to provide a safety device, It is possible to suppress an increase in cost for providing the danger prevention device, an increase in the size of the device, and an increase in installation space.

上記した実施の形態および変形例から把握される技術的思想を以下に記載する。
(技術的思想1) 本発明によるチャンバ装置であって、前記副室扉と前記予備室扉とのそれぞれの開閉状態を検知する開閉検出装置と、前記副室扉と前記予備室扉とのそれぞれを開放禁止状態または開放禁止解除状態にするロック装置と、前記開閉検出装置の検出結果に基づいて前記ロック装置を作動させ、前記副室扉と前記予備室扉のうち少なくとも一方は開放禁止状態になっているように制御するロック制御装置とを設けたことを特徴とするチャンバ装置。
The technical idea grasped from the above-described embodiments and modifications will be described below.
(Technical Thought 1) A chamber apparatus according to the present invention, which is an open / close detection device that detects the open / closed states of the sub chamber door and the spare chamber door, and each of the sub chamber door and the spare chamber door. A lock device that sets the open prohibition state or the open prohibition release state, and activates the lock device based on the detection result of the open / close detection device, and at least one of the sub chamber door and the spare chamber door is in the open prohibition state. And a lock control device that controls the chamber device.

これによれば、副室扉と予備室扉との一方が開放されているときには他方はロックされるため、副室と外部とが連続した状態になる機会がなく、副室または外部の気体が予備室に進入しても、直ちにさらに外部または副室まで流出することはない。従って、副室または外部の気体が予備室を通過して外部または副室に流出する可能性を極めて小さくすることができる。   According to this, when one of the sub chamber door and the spare chamber door is opened, the other is locked, so there is no opportunity for the sub chamber and the outside to be in a continuous state, and the sub chamber or the outside gas Even if it enters the spare room, it does not immediately flow out to the outside or the subchamber. Therefore, the possibility that the gas in the sub chamber or the outside flows out of the auxiliary chamber and flows out to the outside or the sub chamber can be extremely reduced.

(技術的思想2) 技術的思想1に記載したチャンバ装置であって、前記開閉検出装置の検出結果に基づいて、前記予備室扉が開放して閉まってからの時間を計測できる計時装置をさらに設け、前記ロック制御装置は、前記計時装置によって前記予備室に備えられた前記排気装置が少なくとも前記予備室内の容量に相当する気体を排気する所定時間が計測されると、前記ロック装置による前記副室扉の開放禁止状態を解除することを特徴とするチャンバ装置。   (Technical idea 2) The chamber apparatus described in the technical idea 1, further comprising a timing device capable of measuring a time from when the preliminary chamber door is opened and closed based on a detection result of the open / close detection device. The lock control device is configured such that when the predetermined time during which the exhaust device provided in the spare chamber exhausts a gas corresponding to at least the capacity of the spare chamber is measured by the timing device, the auxiliary device by the lock device is used. A chamber apparatus, wherein an opening prohibition state of a chamber door is canceled.

この構成によれば、予備室扉が開くことによって外部の気体が混入した可能性のある予備室の気体は、予備室が外部および副室と隔絶された状態で、給気装置から供給される空気に入替えられた後、副室扉が開かれる。従って、外部から予備室に進入した気体がさらに副室にまで侵入する可能性を極めて小さくすることができる。   According to this configuration, the gas in the spare chamber that may have been mixed with an external gas by opening the spare chamber door is supplied from the air supply device in a state where the spare chamber is isolated from the outside and the sub chamber. After being replaced by air, the subchamber door is opened. Therefore, the possibility that the gas that has entered the spare chamber from the outside further enters the sub chamber can be extremely reduced.

(技術的思想3) 技術的思想1に記載したチャンバ装置であって、前記閉鎖検出装置の検出結果に基づいて、前記副室扉が開放して閉まってからの時間を計測できる計時装置をさらに設け、前記ロック制御装置は、前記計時装置によって前記予備室に備えられた前記排気装置が少なくとも前記予備室内の容量に相当する気体を排気する所定時間が計測されると、前記ロック装置による前記予備室扉の開放禁止状態を解除することを特徴とするチャンバ装置。   (Technical Thought 3) The chamber device described in Technical Thought 1, further comprising a timing device that can measure the time from when the sub chamber door is opened and closed based on the detection result of the closing detection device. The lock control device is configured such that when the predetermined time during which the exhaust device provided in the spare chamber exhausts a gas corresponding to at least the capacity of the spare chamber is measured by the timing device, the spare device by the lock device A chamber apparatus, wherein an opening prohibition state of a chamber door is canceled.

この構成によれば、副室扉が開くことによって副室内の気体が混入した可能性のある予備室の気体は、予備室が外部および副室と隔絶された状態で、給気装置から供給される空気に入替えられた後、予備室扉が開かれる。従って、副室から予備室に進入した気体がさらに外部にまで流出する可能性を極めて小さくすることができる。   According to this configuration, the gas in the auxiliary chamber that may have been mixed with the gas in the auxiliary chamber by opening the auxiliary chamber door is supplied from the air supply device in a state where the auxiliary chamber is isolated from the outside and the auxiliary chamber. The spare room door is opened after the air is replaced. Therefore, the possibility that the gas that has entered the auxiliary chamber from the sub chamber further flows out to the outside can be extremely reduced.

(技術的思想4) 本発明によるチャンバ装置であって、前記主室扉と前記予備室扉とのそれぞれの開閉状態を検知する開閉検出装置と、前記開閉検出装置の検出結果に基づいて、前記主室扉と前記予備室扉との双方とも開放状態の場合は警告を出す開放警報装置とを設けたことを特徴とするチャンバ装置。   (Technical Thought 4) A chamber device according to the present invention, wherein the open / close detection device detects the open / closed state of the main chamber door and the spare chamber door, and based on the detection result of the open / close detection device, A chamber apparatus comprising an open alarm device that issues a warning when both the main chamber door and the spare chamber door are open.

この構成によれば、主室扉と予備室扉の両方が開放され、主室と外部とが連続した状態になったことを警告することによって、主室と外部とが連続した状態の解消を促し、主室または外部の気体が予備室を通過して外部または主室に混入する可能性を小さくすることができる。   According to this configuration, both the main room door and the spare room door are opened and a warning is given that the main room and the outside are in a continuous state, thereby eliminating the state in which the main room and the outside are in a continuous state. It is possible to reduce the possibility that gas in the main chamber or outside passes through the spare chamber and enters the outside or main chamber.

(技術的思想5) 本発明によるチャンバ装置であって、前記副室扉と前記予備室扉とのそれぞれの開閉状態を検知する開閉検出装置と、前記開閉検出装置の検出結果に基づいて、前記主室扉と前記予備室扉との双方とも開放状態の場合は警告を出す開放警報装置とを設けたことを特徴とするチャンバ装置。   (Technical Thought 5) A chamber device according to the present invention, wherein the open / close detection device detects the open / closed state of each of the sub chamber door and the auxiliary chamber door, and based on the detection result of the open / close detection device, A chamber apparatus comprising an open alarm device that issues a warning when both the main chamber door and the spare chamber door are open.

この構成によれば、副室扉と予備室扉の両方が開放され、副室と外部とが連続した状態になったことを警告することによって、副室と外部とが連続した状態の解消を促し、副室または外部の気体が予備室を通過して外部または副主室に混入する可能性を小さくすることができる。   According to this configuration, both the sub chamber door and the spare chamber door are opened, and a warning is given that the sub chamber and the outside are continuous. It is possible to reduce the possibility that gas in the sub chamber or outside passes through the spare chamber and enters the outside or sub main chamber.

(技術的思想6) 本発明によるチャンバ装置であって、前記主室扉と前記副室扉と前記予備室扉とのそれぞれの開閉状態を検知する閉鎖検出装置と、前記主室扉と前記副室扉と前記予備室扉とのそれぞれを開放禁止状態または開放禁止解除状態にするロック装置と、前記閉鎖検出装置の検出結果に基づいて前記ロック装置を作動させ、前記主室扉と前記予備室扉のうち少なくとも一方は開放禁止状態になっているように制御するとともに、前記副室扉と前記予備室扉のうち少なくとも一方は開放禁止状態になっているように制御するロック制御装置とを設け、前記ロック制御装置は、前記主室扉と前記副室扉との開閉状態の検出結果が前記主室扉と前記副室扉との一方または両方が開放状態のときは、前記主室扉と前記副室扉は両方とも開放状態であるとして扱い、予備室扉を開放禁止状態にすることを特徴とするチャンバ装置。   (Technical Thought 6) A chamber apparatus according to the present invention, comprising: a closing detection device that detects open / closed states of the main chamber door, the sub chamber door, and the spare chamber door; and the main chamber door and the sub chamber door A lock device for setting each of the chamber door and the spare chamber door to be in an open prohibition state or an open prohibition release state; and operating the lock device based on a detection result of the closure detection device; Provided is a lock control device that controls so that at least one of the doors is in an open-prohibited state, and controls so that at least one of the sub-chamber door and the auxiliary chamber door is in an open-prohibited state. The lock control device is configured to detect the open / closed state of the main chamber door and the sub chamber door when one or both of the main chamber door and the sub chamber door are open. Both sub-chamber doors are open Treated as a state, a chamber device, characterized in that the preliminary chamber door open disabled.

(技術的思想7) 本発明によるチャンバ装置であって、1箇所の前記予備室にそれぞれ2箇所の前記予備室扉を設け、それぞれの前記予備室扉開閉状態を検知する閉鎖検出装置と、それぞれの前記予備室扉を開放禁止状態または開放禁止解除状態にするロック装置と、前記閉鎖検出装置の検出結果に基づいて前記ロック装置を作動させ、2箇所の前記予備室扉のうち少なくとも一方は開放禁止状態になっているように制御するロック制御装置とを設けたことを特徴とするチャンバ装置。   (Technical Thought 7) A chamber apparatus according to the present invention, wherein two preliminary chamber doors are provided in one preliminary chamber, and each of the preliminary chamber door open / closed states is detected. A lock device that sets the spare chamber door to the open prohibition state or the open prohibition release state, and the lock device is operated based on a detection result of the close detection device, and at least one of the two prechamber doors is opened. A chamber apparatus comprising: a lock control device that performs control so as to be in a prohibited state.

この構成によれば、開放できる予備室扉は2箇所のうち1箇所のみであるため、2箇所の予備室扉が開放された場合に比べて、予備室内の気体と外部の気体とが混じりあう可能性が低く、より確実に主室内部の気体が予備室を介して外部にもれることを抑制できるとともに、外部の気体が予備室内部に侵入することを抑制できる。   According to this configuration, since only one of the two spare chamber doors can be opened, the gas in the spare chamber and the external gas are mixed as compared with the case where the two spare chamber doors are opened. The possibility is low, and it is possible to more reliably suppress the gas inside the main chamber from leaking outside through the spare chamber, and it is possible to inhibit the outside gas from entering the spare chamber.

(技術的思想8) 前記予備室に備えられた前記排気装置の排気量を計測できる排気流量計測装置をさらに設け、前記予備室扉が開放して閉まってからの排気量を計測し、その計量情報に基づいて、前記排気量が前記予備室内の容量に達したとき前記ロック装置による前記主室扉の開放禁止状態を解除することを特徴とする請求項3に記載のチャンバ装置。   (Technical Thought 8) An exhaust flow rate measuring device capable of measuring the exhaust amount of the exhaust device provided in the preliminary chamber is further provided, and the exhaust amount after the preliminary chamber door is opened and closed is measured, and the measurement is performed. 4. The chamber apparatus according to claim 3, wherein when the exhaust amount reaches a capacity in the spare room, an opening prohibition state of the main chamber door by the lock device is canceled based on the information.

この構成によれば、予備室扉が開くことによって外部の気体が混入した可能性のある予備室の気体は、予備室が外部および主室と隔絶された状態で、給気装置から供給される空気に入替えられた後、主室扉が開かれる。従って、外部から予備室に進入した気体がさらに主室にまで侵入する可能性を極めて小さくすることができる。   According to this configuration, the gas in the spare chamber that may have been mixed with an external gas by opening the spare chamber door is supplied from the air supply device in a state where the spare chamber is isolated from the outside and the main chamber. After being replaced by air, the main room door is opened. Therefore, the possibility that the gas that has entered the preliminary chamber from the outside further enters the main chamber can be extremely reduced.

(技術的思想9) 前記予備室に備えられた前記排気装置の排気量を計測できる排気流量計測装置をさらに設け、前記主室扉が開放して閉まってからの排気量を計測し、その計量情報に基づいて、前記排気量が前記予備室内の容量に達したとき前記ロック装置による前記予備室扉の開放禁止状態を解除することを特徴とする請求項3に記載のチャンバ装置。   (Technical Thought 9) An exhaust flow rate measuring device that can measure the exhaust amount of the exhaust device provided in the preliminary chamber is further provided, and the exhaust amount after the main chamber door is opened and closed is measured, and the measurement is performed. The chamber apparatus according to claim 3, wherein when the exhaust amount reaches a capacity in the spare room, an opening prohibition state of the spare room door by the lock device is canceled based on the information.

この構成によれば、主室扉が開くことによって主室内の気体が混入した可能性のある予備室の気体は、予備室が外部および主室と隔絶された状態で、給気装置から供給される空気に入替えられた後、予備室扉が開かれる。従って、主室から予備室に進入した気体がさらに外部にまで流出する可能性を極めて小さくすることができる。   According to this configuration, the gas in the spare chamber that may have been mixed with the gas in the main chamber by opening the main chamber door is supplied from the air supply device in a state where the spare chamber is isolated from the outside and the main chamber. The spare room door is opened after the air is replaced. Therefore, the possibility that the gas that has entered the preliminary chamber from the main chamber flows out to the outside can be extremely reduced.

(技術的思想10) 前記予備室に備えられた前記排気装置の排気量を計測できる排気流量計測装置をさらに設け、前記排気装置の排気が停止した状態から、前記排気装置が排気を開始してからの排気量を計測し、その計量情報に基づいて、前記排気量が前記予備室内の容量に達したとき前記ロック装置による前記予備室扉の開放禁止状態を解除することを特徴とするチャンバ装置。   (Technical Thought 10) An exhaust flow rate measuring device that can measure the exhaust amount of the exhaust device provided in the preliminary chamber is further provided, and the exhaust device starts exhausting from a state where exhaust of the exhaust device is stopped. A chamber apparatus for measuring the amount of exhaust from the chamber and releasing the prohibition of opening of the spare chamber door by the locking device when the amount of exhaust reaches the capacity of the spare chamber based on the measurement information .

この構成によれば、予備室が外部および主室と隔絶された状態で、給気装置から供給される空気に入替えられた後、予備室扉が開かれる。従って、主室から予備室に進入していた気体が、開かれた予備室扉からさらに外部にまで流出する可能性を極めて小さくすることができる。   According to this configuration, after the spare room is isolated from the outside and the main room, the spare room door is opened after being replaced with the air supplied from the air supply device. Therefore, the possibility that the gas that has entered the spare room from the main room flows out from the opened spare room door to the outside can be extremely reduced.

第1の実施形態における液滴吐出装置がチャンバ装置内に収容されて構成される液滴吐出設備の平面図。The top view of the droplet discharge equipment comprised by accommodating the droplet discharge apparatus in 1st Embodiment in the chamber apparatus. 液滴吐出設備の主室における側断面図。The sectional side view in the main room of a droplet discharge equipment. 液滴吐出設備の予備室における側断面図。The sectional side view in the preliminary | backup room of a droplet discharge equipment. (a)は、ヘッドユニットの平面図、(b)は、液滴吐出ヘッドの平面図。(A) is a top view of a head unit, (b) is a top view of a droplet discharge head. (a)は、吐出ヘッドの構造を示す斜視図、(b)は、ノズル部の詳細構造を示す吐出ヘッドの断面図。(A) is a perspective view showing the structure of the ejection head, (b) is a cross-sectional view of the ejection head showing the detailed structure of the nozzle part. チャンバ装置の電気的構成を示す電気構成ブロック図。The electric block diagram which shows the electric constitution of a chamber apparatus. 外部から予備室扉を開ける場合のチャンバ装置の動作を説明するフローチャート。The flowchart explaining operation | movement of the chamber apparatus in the case of opening a spare chamber door from the outside. 主室扉を開ける場合のチャンバ装置の動作を説明するフローチャート。The flowchart explaining operation | movement of the chamber apparatus in the case of opening a main chamber door. 予備室内から予備室扉を開ける場合のチャンバ装置の動作を説明するフローチャート。The flowchart explaining operation | movement of the chamber apparatus in the case of opening a spare room door from a spare room. 第2の実施形態における液滴吐出設備を示す平面図。The top view which shows the droplet discharge equipment in 2nd Embodiment. 第3の実施形態におけるカラーフィルタの製造工程を説明するフローチャート。10 is a flowchart for explaining a color filter manufacturing process according to the third embodiment. (a)〜(e)の順に製造工程を示したカラーフィルタの模式断面図。The schematic cross section of the color filter which showed the manufacturing process in order of (a)-(e). 本発明を適用したカラーフィルタを用いた液晶装置の概略構成を示す要部の断面図。1 is a cross-sectional view of a main part showing a schematic configuration of a liquid crystal device using a color filter to which the present invention is applied. 本発明を適用したカラーフィルタを用いた第2の例の液晶装置の概略構成を示す要部の断面図。Sectional drawing of the principal part which shows schematic structure of the liquid crystal device of the 2nd example using the color filter to which this invention is applied. 本発明を適用したカラーフィルタを用いた第3の例の液晶装置の概略構成を示す分解斜視図。The disassembled perspective view which shows schematic structure of the liquid crystal device of the 3rd example using the color filter to which this invention is applied. 本発明を適用した有機EL装置の表示領域の要部の断面図。Sectional drawing of the principal part of the display area of the organic electroluminescent apparatus to which this invention is applied. 有機EL装置の製造工程を説明するフローチャート。The flowchart explaining the manufacturing process of an organic electroluminescent apparatus. 無機物バンク層の形成を説明する断面図。Sectional drawing explaining formation of an inorganic bank layer. 有機物バンク層の形成を説明する断面図。Sectional drawing explaining formation of an organic substance bank layer. 正孔注入/輸送層を形成する過程を説明する断面図。Sectional drawing explaining the process in which a positive hole injection / transport layer is formed. 正孔注入/輸送層が形成された状態を説明する断面図。Sectional drawing explaining the state in which the positive hole injection / transport layer was formed. 青色の発光層を形成する過程を説明する断面図。Sectional drawing explaining the process in which a blue light emitting layer is formed. 青色の発光層が形成された状態を説明する断面図。Sectional drawing explaining the state in which the blue light emitting layer was formed. 各色の発光層が形成された状態を説明する断面図。Sectional drawing explaining the state in which the light emitting layer of each color was formed. 陰極の形成を説明する断面図。Sectional drawing explaining formation of a cathode. プラズマ型表示装置(PDP装置)の要部を示す分解斜視図。The disassembled perspective view which shows the principal part of a plasma type display apparatus (PDP apparatus). 電子放出装置(FED装置)の要部の断面図。Sectional drawing of the principal part of an electron emission apparatus (FED apparatus). (a)は電子放出装置の電子放出部廻りの平面図、(b)は電子放出装置の電子放出部廻りの形成方法を示す平面図。(A) is a top view around the electron emission part of an electron emission apparatus, (b) is a top view which shows the formation method around the electron emission part of an electron emission apparatus.

符号の説明Explanation of symbols

1…液滴吐出装置及びワーク処理装置としての液滴吐出装置、3…基板テーブル、7…チャンバ装置、10,210…液滴吐出設備、45…給液タンクとしての機能液タンク、46…給液タンクとしての洗浄液タンク、47…給液タンクとしての再利用液タンク、48…給液タンクとしての排液タンク、70,270…チャンバ、71…空調機、72…制御盤ボックス、75…ロック制御装置としてのチャンバコントロール装置、76…隔壁、80…主室、81,281…予備室、82…副室、86…給気装置としての主室給気ダクト、88…排気装置としての主室排気ダクト、96…給気装置としての予備室給気ダクト、98…排気装置としての予備室排気ダクト、141…排気流量調整装置としての主室排気ダンパ、143…排気流量調整装置としての予備室排気ダンパ、146…ワーク給排口、151…主室出入り口、152…主室扉、153…開閉検出装置としての主室扉開閉センサ、155…ロック装置としての主室扉ロック装置、161…外部出入り口としての予備室出入り口、162…予備室扉、163…開閉検出装置としての予備室扉開閉センサ、164…ロック装置としての予備室扉ロック装置、172…副室扉、173…開閉検出装置としての副室扉開閉センサ、174…ロック装置としての副室扉ロック装置、182…ロック制御装置としてのチャンバコントローラ、187…計時装置としてのタイマ、207…チャンバ設備、620、630,650…電気光学装置としての液晶表示装置である液晶装置、700…電気光学装置としてのEL(Electro Luminescence)装置である表示装置、800…電気光学装置としてのプラズマ型表示装置である表示装置、900…電気光学装置としての電子放出装置である表示装置、W…ワーク。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Droplet discharge apparatus as a droplet discharge device and a workpiece processing apparatus, 3 ... Substrate table, 7 ... Chamber apparatus, 10, 210 ... Droplet discharge equipment, 45 ... Functional liquid tank as liquid supply tank, 46 ... Supply Cleaning liquid tank as liquid tank, 47 ... Recycled liquid tank as liquid supply tank, 48 ... Drainage tank as liquid supply tank, 70, 270 ... Chamber, 71 ... Air conditioner, 72 ... Control panel box, 75 ... Lock Chamber control device as control device, 76 ... partition wall, 80 ... main chamber, 81, 281 ... spare chamber, 82 ... sub chamber, 86 ... main chamber air supply duct as air supply device, 88 ... main chamber as exhaust device Exhaust duct 96: Preliminary chamber supply duct as an air supply device, 98 ... Preliminary chamber exhaust duct as an exhaust device, 141 ... Main chamber exhaust damper as an exhaust flow rate adjusting device, 143 ... Exhaust flow rate control Preliminary chamber exhaust damper as device, 146 ... Work supply / exhaust port, 151 ... Main chamber doorway, 152 ... Main chamber door, 153 ... Main chamber door open / close sensor as open / close detection device, 155 ... Main chamber door lock as lock device 161: Preliminary room doorway as external doorway, 162 ... Preliminary room door, 163 ... Preliminary room door open / close sensor as open / close detection device, 164 ... Preliminary room door lock device as lock device, 172 ... Subchamber door, 173 ... Sub-chamber door open / close sensor as open / close detection device, 174 ... Sub-chamber door lock device as lock device, 182 ... Chamber controller as lock control device, 187 ... Timer as timer device, 207 ... Chamber equipment, 620, 630 , 650... Liquid crystal device which is a liquid crystal display device as an electro-optical device, 700. nce) Display device as device, 800... Display device as plasma type display device as electro-optical device, 900... Display device as electron emission device as electro-optical device, W.

Claims (20)

ワーク処理を周囲の雰囲気と隔絶した雰囲気中で行うことを要するワーク処理装置を収容するチャンバ装置であって、
前記ワーク処理装置を収容する主室と、
前記主室に隣接する予備室と、
前記主室と前記予備室とを隔てる隔壁に設けられた主室出入り口を開閉する扉であって、閉鎖時には、前記主室の内部の気体と前記予備室の内部の気体とを隔絶可能な主室扉と、
前記予備室の壁に設けられた外部出入り口を開閉する扉であって、閉鎖時には、前記チャンバ装置の外部の気体と前記予備室の内部の気体とを隔絶可能な予備室扉とを備えたことを特徴とするチャンバ装置。
A chamber apparatus that houses a work processing apparatus that requires work processing to be performed in an atmosphere isolated from the surrounding atmosphere,
A main room for accommodating the workpiece processing device;
A spare room adjacent to the main room;
A door that opens and closes a main chamber entrance / exit provided in a partition wall that separates the main chamber and the auxiliary chamber, and is capable of isolating the gas inside the main chamber and the gas inside the auxiliary chamber when closed. The room door,
A door that opens and closes an external doorway provided on the wall of the spare chamber, and includes a spare chamber door that can isolate a gas outside the chamber device and a gas inside the spare chamber when closed. A chamber apparatus characterized by the above.
前記主室及び前記予備室のそれぞれが給気装置と排気装置とを備えるとともに、
少なくとも前記予備室に備えられた前記排気装置は排気流量調整装置を有することを特徴とする請求項1に記載のチャンバ装置。
Each of the main room and the spare room includes an air supply device and an exhaust device,
The chamber apparatus according to claim 1, wherein at least the exhaust device provided in the preliminary chamber includes an exhaust flow rate adjusting device.
前記主室扉と前記予備室扉とのそれぞれの開閉状態を検知する開閉検出装置と、
前記主室扉と前記予備室扉とのそれぞれを開放禁止状態または開放禁止解除状態にするロック装置と、
前記開閉検出装置の検出結果に基づいて前記ロック装置を作動させ、前記主室扉と前記予備室扉のうち少なくとも一方は開放禁止状態になっているように制御するロック制御装置とを設けたことを特徴とする請求項1または2に記載のチャンバ装置。
An open / close detection device for detecting an open / closed state of each of the main chamber door and the auxiliary chamber door;
A lock device that sets each of the main room door and the spare room door to an open prohibited state or an open prohibited release state;
A lock control device is provided that operates the lock device based on a detection result of the open / close detection device and controls so that at least one of the main chamber door and the spare chamber door is in an open prohibited state. The chamber apparatus according to claim 1 or 2.
前記開閉検出装置の検出結果に基づいて、前記予備室扉が開放して閉まってからの時間を計測できる計時装置をさらに設け、
前記ロック制御装置は、前記計時装置によって前記予備室に備えられた前記排気装置が少なくとも前記予備室内の容量に相当する気体を排気する所定時間が計測されると、前記ロック装置による前記主室扉の開放禁止状態を解除することを特徴とする請求項3に記載のチャンバ装置。
Based on the detection result of the open / close detection device, further provided a time measuring device capable of measuring the time since the preliminary chamber door opened and closed,
The lock control device is configured such that when the predetermined time during which the exhaust device provided in the spare chamber exhausts a gas corresponding to at least the capacity of the spare chamber is measured by the timing device, the main chamber door by the lock device is measured. The chamber apparatus according to claim 3, wherein the open prohibition state of the is released.
前記開閉検出装置の検出結果に基づいて、前記主室扉が開放して閉まってからの時間を計測できる計時装置をさらに設け、
前記ロック制御装置は、前記計時装置によって前記予備室に備えられた前記排気装置が少なくとも前記予備室内の容量に相当する気体を排気する所定時間が計測されると、前記ロック装置による前記予備室扉の開放禁止状態を解除することを特徴とする請求項3に記載のチャンバ装置。
Based on the detection result of the open / close detection device, further provided a time measuring device capable of measuring the time since the main chamber door opened and closed,
When the predetermined time for the exhaust device provided in the spare chamber to exhaust the gas corresponding to the capacity of at least the spare chamber is measured by the timing device, the lock control device detects the spare chamber door by the lock device. The chamber apparatus according to claim 3, wherein the open prohibition state of the is released.
前記主室内及び前記予備室内が無人であるかの判断部を有し、前記判断部が、前記主室内及び前記予備室内が無人の時は、前記予備室に備えられた前記排気装置の排気を前記排気流量調整装置によって停止することを特徴とする請求項4または5に記載のチャンバ装置。   A determination unit for determining whether the main chamber and the spare room are unmanned, and when the main chamber and the spare chamber are unmanned, the determination unit is configured to exhaust the exhaust of the exhaust device provided in the spare chamber; 6. The chamber apparatus according to claim 4, wherein the chamber apparatus is stopped by the exhaust flow rate adjusting device. 前記予備室に備えられた前記排気装置の排気が停止した状態から、前記排気装置が排気を開始してからの時間を計測できる計時装置をさらに設け、当該計時装置によって前記予備室に備えられた前記排気装置が少なくとも前記予備室内の容量に相当する気体を排気する時間を計測し、その計時情報に基づいて前記ロック装置による前記予備室扉の開放禁止状態を解除することを特徴とする請求項2乃至6のいずれか1項に記載のチャンバ装置。   Further provided is a timing device capable of measuring the time since the exhaust device started exhausting from the state where exhaust of the exhaust device provided in the preliminary chamber is stopped, and provided in the preliminary chamber by the timing device. The exhaust device measures the time for exhausting the gas corresponding to the capacity of the spare room at least, and releases the prohibition of opening of the spare chamber door by the lock device based on the timing information. The chamber apparatus of any one of 2 thru | or 6. 前記主室を構成するとともに前記隔壁と対向しない壁に前記ワークを供給及び排出するワーク給排口を設け、
前記外部出入り口及び前記予備室扉は、前記隔壁と対向しない壁に設けられていることを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載のチャンバ装置。
A work supply / exhaust port for supplying and discharging the work on the wall that constitutes the main chamber and does not face the partition is provided,
The chamber apparatus according to any one of claims 1 to 7, wherein the external doorway and the auxiliary chamber door are provided on a wall that does not face the partition wall.
前記外部出入り口及び前記予備室扉を複数設け、複数の前記予備室扉に対応する前記ロック装置は互いに連動して制御されることを特徴とする請求項1乃至8のいずれか1項に記載のチャンバ装置。   9. The device according to claim 1, wherein a plurality of the external doorways and the spare chamber doors are provided, and the locking devices corresponding to the plurality of spare chamber doors are controlled in conjunction with each other. Chamber device. 前記予備室は、前記主室を挟んだ両側の2箇所に設けられていることを特徴とする請求項1乃至9のいずれか1項に記載のチャンバ装置。   The chamber apparatus according to claim 1, wherein the preliminary chamber is provided at two locations on both sides of the main chamber. 前記予備室は、前記主室扉が開けられた状態で、前記主室に収容された前記ワーク処理装置に対して前記主室出入り口を介して作業を行うための作業用スペースであることを特徴とする請求項1乃至10のいずれか1項に記載のチャンバ装置。   The spare room is a work space for performing work through the main chamber doorway with respect to the work processing apparatus accommodated in the main room in a state where the main room door is opened. The chamber apparatus according to any one of claims 1 to 10. 前記予備室内の室圧を、前記主室の室圧より高くしたことを特徴とする請求項1乃至10のいずれか1項に記載のチャンバ装置。   The chamber apparatus according to any one of claims 1 to 10, wherein a chamber pressure in the preliminary chamber is higher than a chamber pressure in the main chamber. 前記予備室内の室圧を、前記チャンバ装置の周辺の室圧より低くしたことを特徴とする請求項12に記載のチャンバ装置。   The chamber apparatus according to claim 12, wherein a chamber pressure in the preliminary chamber is lower than a chamber pressure around the chamber apparatus. 前記予備室内の室圧を、前記主室の室圧より低くしたことを特徴とする請求項1乃至10のいずれか1項に記載のチャンバ装置。   The chamber apparatus according to any one of claims 1 to 10, wherein a chamber pressure in the preliminary chamber is lower than a chamber pressure in the main chamber. 前記予備室内の室圧を、前記チャンバ装置の周辺の室圧より高くしたことを特徴とする請求項14に記載のチャンバ装置。   The chamber apparatus according to claim 14, wherein a chamber pressure in the preliminary chamber is higher than a chamber pressure around the chamber apparatus. 前記ワーク処理装置が液滴吐出装置であって、
前記主室内に設けられており、前記隔壁を介して前記予備室に隣接する副室と、
前記副室内の気体を排気する排気装置とを設け、
前記副室に前記液滴吐出装置の給液タンクを設置し、
前記副室内の気体は前記排気装置から排気されることを特徴とする請求項1乃至11および14,15のいずれか1項に記載のチャンバ装置。
The workpiece processing device is a droplet discharge device,
A sub chamber provided in the main chamber, adjacent to the preliminary chamber via the partition;
An exhaust device for exhausting the gas in the sub chamber;
A liquid supply tank of the droplet discharge device is installed in the sub chamber,
The chamber apparatus according to claim 1, wherein the gas in the sub chamber is exhausted from the exhaust apparatus.
前記副室と前記予備室の間の前記隔壁に設けた作業開口と、
前記作業開口を開閉する扉であって、閉鎖時には、前記副室の内部の気体と前記予備室の内部の気体とを隔絶可能な副室扉とを備えたことを特徴とする請求項16に記載のチャンバ装置
A work opening provided in the partition wall between the sub chamber and the auxiliary chamber;
17. The door for opening and closing the work opening, comprising: a sub chamber door capable of isolating the gas inside the sub chamber and the gas inside the spare chamber when closed. The chamber apparatus described
請求項1乃至17いずれか1項に記載のチャンバ装置を前記予備室の部分で互いに連結し、連結された前記予備室は一体の空間としたことを特徴とするチャンバ設備。   The chamber equipment according to claim 1, wherein the chamber devices are connected to each other at a portion of the spare chamber, and the connected spare chambers are formed as an integral space. 請求項1乃至15のいずれか1項に記載のチャンバ装置または請求項18に記載のチャンバ設備の主室に前記ワーク処理装置として液滴吐出装置を設置したことを特徴とする液滴吐出設備。   A liquid droplet ejection apparatus, comprising: a liquid droplet ejection apparatus as the work processing apparatus installed in a main chamber of the chamber apparatus according to any one of claims 1 to 15 or the chamber equipment according to claim 18. 請求項17または請求項18に記載のチャンバ装置またはチャンバ設備、または請求項19に記載の液滴吐出設備により、前記主室内の前記液滴吐出装置を用いて電気光学装置を製造することを特徴とする電気光学装置の製造方法。
An electro-optical device is manufactured by using the droplet discharge device in the main chamber by the chamber device or the chamber facility according to claim 17 or 18, or the droplet discharge facility according to claim 19. A method for manufacturing an electro-optical device.
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