JP2005128635A - 画像処理装置 - Google Patents

画像処理装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2005128635A
JP2005128635A JP2003360784A JP2003360784A JP2005128635A JP 2005128635 A JP2005128635 A JP 2005128635A JP 2003360784 A JP2003360784 A JP 2003360784A JP 2003360784 A JP2003360784 A JP 2003360784A JP 2005128635 A JP2005128635 A JP 2005128635A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
contour
image
closed curve
objects
closed curves
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2003360784A
Other languages
English (en)
Inventor
Kenichi Kanemasa
賢一 兼政
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Bakelite Co Ltd
Original Assignee
Sumitomo Bakelite Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Bakelite Co Ltd filed Critical Sumitomo Bakelite Co Ltd
Priority to JP2003360784A priority Critical patent/JP2005128635A/ja
Publication of JP2005128635A publication Critical patent/JP2005128635A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Image Processing (AREA)
  • Image Analysis (AREA)

Abstract

【課題】
画像中から、製品の欠陥などの対象物を抽出し、その種類を分類する。
【解決手段】
画像中から対象物の領域を検出する画像処理装置において、対象物の輪郭を構成する閉曲線を抽出する輪郭抽出処理部と、前記閉曲線の周辺の画素値から該閉曲線の方向を推定する輪郭方向推定処理部と、前記閉曲線の方向と前記閉曲線で囲まれた部分の包含関係とから対象物を分類する対象物分類処理部を備えたことを特徴とする画像処理装置。
対象物の輪郭閉曲線の方向は、画像の勾配方向をもとに決定してもよい。
【選択図】 図1

Description

本発明は、画像中から対象物を抽出し分類する画像処理装置に関するものである。
各種生産ラインにおける製品の表面欠陥や異物の検査などでは、画像処理による方法、レーザー光の表面散乱光の強度測定による方法、レーザー変位計を用いた形状計測による方法などが使用されているが、コストや処理能力などの面から画像処理による方法が広く用いられている。
製品の表面を撮影した画像中から欠陥や異物などの対象物を抽出する方法としては、画像データが閾値より大きいか小さいかで分類する二値化処理が一般的である。画像中における対象物のコントラストが十分に高い場合には、二値化処理は高速で精度も十分であるが、コントラストが低い不鮮明な画像においては、単純な二値化処理では対象物ではない部分を対象物として検出する誤検出や、対象物を検出しない見逃しが発生し、検査の精度が低下する。
二値化処理とは異なる方法としては、画像データを微分処理することにより対象物の輪郭を抽出する方法(例えば、特許文献1)がある。製品表面に不良とはならないムラや撮影時の照明のムラに比べて、対象物のコントラストが低い場合、二値化処理では対象物の検出は困難であるが、微分処理では、対象物のコントラストが低くても輪郭さえある程度はっきりしていれば検出することが可能である。
微分処理による方法では、微分強度値が所定の閾値より大きい画素を抽出し、それらのうち隣り合う画素を連結することにより、対象物の輪郭を示す閉曲線が得られる。従って、これらの輪郭閉曲線より、画像中における対象物の形状や位置、個数などを把握することが可能である。しかしながら、対象物として複数の種類のものが含まれている場合、形状や位置に特徴が無ければ、検出した対象物の種類を分類することができないという問題があった。
特開平8−189902号公報(第2−3頁)
本発明は従来の画像処理装置のこのような問題を解決するためになされたもので、その目的とするところは画像中から検出した対象物を精度良く分類することが可能な画像処理装置を提供することにある。
本発明は、画像中から対象物の領域を検出する画像処理装置において、対象物の輪郭を構成する閉曲線を抽出する輪郭抽出処理部と、該閉曲線の周辺の画素値から該閉曲線の方向を推定する輪郭方向推定処理部と、該閉曲線の包含関係と方向から対象物を分類する対象物分類処理部を備えたことを特徴とする画像処理装置である。
本発明によれば、画像中から検出した表面欠陥や異物などの対象物を精度良く分類することができるため、生産ラインにおける製品の外観検査方法として好適である。
本発明は、画像中より検出した対象物の種類を、それらの輪郭を構成する閉曲線の包含関係と方向に基づいて分類する画像処理装置である。
以下、本発明の画像処理装置について詳細に説明する。
図1は本発明の一実施例を示すブロック図である。対象物の画像を輪郭抽出処理部1に入力する。輪郭抽出処理部1では画像に微分処理を行い、輪郭を抽出し、抽出された輪郭同士を連結して輪郭閉曲線を構成する。輪郭方向推定処理部2は、輪郭閉曲線の方向を決める。対象物分類処理部3は、対象物の輪郭閉曲線の方向と囲まれた部分の包含関係から対象物を分類し、対象物分類データを出力する。
輪郭抽出処理部は、画像中から対象物の輪郭を構成する閉曲線を抽出する部分である。対象物の輪郭が明瞭で画像中のノイズが少ない場合には、閉曲線を抽出する方法として、例えば、画像を微分処理することにより得られた微分強度値が所定の閾値より大きい画素を抽出し、抽出された画素のうち隣り合うものを連結する方法を好適に用いることができる。画像の微分処理としては、ソベルフィルタやラプラシアンフィルタなどの方法があるが、特に限定はしない。抽出する閉曲線は画素幅が1であることが好ましいため、微分強度値が所定の閾値より大きい画素を抽出する際には、非極大抑制処理、すなわち、微分強度値が極値となっており、真に対象物の輪郭となっている画素のみ抽出する処理や、幅が1画素より大きい線を幅1画素の線に変換する細線化、骨格化処理などを入れるのが好ましい。
画像中の対象物の輪郭に不明瞭な部分があり、微分強度値が所定の閾値より大きい画素を連結する方法では輪郭を構成する線が切れてしまい、閉曲線を抽出できない場合には、輪郭の切れている部分を補完する方法を使うことにより、閉曲線の抽出が可能となる。切れている輪郭の端点周辺の画素値から輪郭の延長方向を推定し、その方向に端点を延長し、他方の端点や別の輪郭に到達したら、その間を補完するという処理により、輪郭を閉曲線とすることができる。
また、対象物の輪郭を構成する閉曲線を抽出するための別の方法として、遺伝的アルゴリズムによる輪郭抽出法やHough変換による輪郭抽出法がある。いずれの手法も、処理時間はかかるが、対象物の輪郭が一部不明瞭で、画像中にノイズが多い場合でも輪郭を構成する閉曲線を抽出することが可能であり、本発明の輪郭抽出処理部においても使用可能である。
輪郭方向推定処理部は、輪郭抽出処理部で抽出された閉曲線の方向を推定し、決定する。閉曲線の方向を決定する方法としては、例えば、画像の勾配方向をもとに対象物の輪郭閉曲線の方向を決定する方法が考えられる。図2は、その説明図である。画像に対し、例えばソベルフィルタなどの微分処理を行うことにより、画像中の明暗の勾配方向を各画素ごとに計算することができる。輪郭閉曲線上での明暗の勾配方向を常に右側に見るように閉曲線を描くと定義すれば、内側が周辺よりも明るい(画素値が大きい)対象物5の輪郭方向を時計回りと定義することができる。また逆に、内側が周辺よりも暗い(画素値が小さい)対象物6は、反時計回りと定義される。このように、対象物の輪郭閉曲線の方向を決めることは、輪郭閉曲線の内側が外側に比べて、明るいか暗いかを決めることと同義である。
この方法は、輪郭閉曲線付近の画像情報を用いるため、例えば対象物が重なり、輪郭閉曲線の内側にさらに輪郭閉曲線が存在し、その明るさが異なるような場合でも、誤り無く輪郭閉曲線の方向を決定することが可能であり、対象物を区別する情報を得ることができる。
対象物分類処理部は、対象物の輪郭閉曲線の方向と閉曲線で囲まれた部分の包含関係から、対象物を分類する。図3は対象物分類処理部の動作の一例を示す説明図である。図3(a)は、撮影対象の断面である。母材9の上にめっき層10が形成されている。めっき層10にはピンホール11があり、また、めっき層10上には、ほこり、金属酸化物等の黒色異物12や、樹脂あるいは表面が滑らかな金属等の白色異物13が存在する。図3(a)の断面構造を持つものを上方からの同軸落射照明で撮影すると、図3(b)のような画像となる。ピンホールの画像14は、ピンホール11の斜面部分では照明光が斜めに反射するため黒く映り、底面部からはカメラに反射光が入るため白く映る。黒色異物の画像15は異物12での光の散乱のため、全体が黒く映る。また、白色異物の画像16は表面からの反射により周囲よりも白く写る。この時、図3(b)の画像の輪郭方向は図3(c)のようになる。すなわち、ピンホール11は、方向が時計回りの輪郭閉曲線7が、方向が反時計回りの輪郭閉曲線8に囲まれるという構造となっており、黒色異物12は方向が反時計回りの輪郭閉曲線8のみ、白色異物13は方向が反時計回りの輪郭閉曲線7のみで輪郭が構成されている。対象物分類処理部は、このような輪郭閉曲線の方向と囲まれた部分の包含関係の違いから対象物の分類を行う。
輪郭閉曲線で囲まれた部分の包含関係は、輪郭閉曲線で囲まれる画像中の領域に別の輪郭閉曲線が含まれているかどうかを探索するという処理を、全ての輪郭閉曲線に対し行うことにより判定することができる。
輪郭抽出処理部、輪郭方向推定処理部および対象物分類処理部はそれぞれ専用のハードウェアもしくはコンピュータ上のソフトウェアにより実現することができる。
本発明の画像処理装置は、画像中の対象物を抽出し、その種類を分類することができるため、例えば、生産ラインにおける製品の外観検査方法として、製品欠点ごとにその量や面積、分布等の分析に応用する事ができ、工業上極めて有用である。
本発明の一実施例のブロック図である。 画像中の対象物と輪郭を構成する閉曲線の方向の説明図であり、(a)は対象物の画像を、(b)は輪郭線の方向を示す図である。 対象物分類処理部の動作の一例を示す説明図であり、(a)は対象物の断面を、(b)は対象物の画像を、(c)は輪郭線の方向を示す図である。
符号の説明
1 輪郭抽出処理部
2 輪郭方向推定処理部
3 対象物分類処理部
4 背景
5 周辺より明るい対象物
6 周辺より暗い対象物
7 方向が時計回りの輪郭閉曲線
8 方向が反時計回りの輪郭閉曲線
9 母材
10 めっき層
11 ピンホール
12 黒色異物
13 白色異物
14 ピンホールの画像
15 黒色異物の画像
16 白色異物の画像

Claims (2)

  1. 画像中から対象物の領域を検出する画像処理装置において、対象物の輪郭を構成する閉曲線を抽出する輪郭抽出処理部と、前記閉曲線の周辺の画素値から該閉曲線の方向を推定する輪郭方向推定処理部と、前記閉曲線の方向と前記閉曲線で囲まれた部分の包含関係とから対象物を分類する対象物分類処理部を備えたことを特徴とする画像処理装置。
  2. 前記閉曲線の方向を決定する方法が、画像の勾配方向をもとに対象物の輪郭閉曲線の方向を決定する請求項1記載の画像処理装置。
JP2003360784A 2003-10-21 2003-10-21 画像処理装置 Pending JP2005128635A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003360784A JP2005128635A (ja) 2003-10-21 2003-10-21 画像処理装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003360784A JP2005128635A (ja) 2003-10-21 2003-10-21 画像処理装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2005128635A true JP2005128635A (ja) 2005-05-19

Family

ID=34640992

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003360784A Pending JP2005128635A (ja) 2003-10-21 2003-10-21 画像処理装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2005128635A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008176517A (ja) * 2007-01-18 2008-07-31 Juki Corp 物体認識方法および装置
JP2012212460A (ja) * 2012-06-22 2012-11-01 Nintendo Co Ltd 画像処理プログラム、画像処理装置、画像処理システム、および画像処理方法
CN103674965A (zh) * 2013-12-06 2014-03-26 深圳市大族激光科技股份有限公司 一种晶圆外观缺陷的分类以及检测方法
JP5685665B1 (ja) * 2014-04-28 2015-03-18 ヴィスコ・テクノロジーズ株式会社 画像認識装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008176517A (ja) * 2007-01-18 2008-07-31 Juki Corp 物体認識方法および装置
JP2012212460A (ja) * 2012-06-22 2012-11-01 Nintendo Co Ltd 画像処理プログラム、画像処理装置、画像処理システム、および画像処理方法
CN103674965A (zh) * 2013-12-06 2014-03-26 深圳市大族激光科技股份有限公司 一种晶圆外观缺陷的分类以及检测方法
JP5685665B1 (ja) * 2014-04-28 2015-03-18 ヴィスコ・テクノロジーズ株式会社 画像認識装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8775101B2 (en) Detecting defects on a wafer
CN111179243A (zh) 一种基于计算机视觉的小尺寸芯片裂纹检测方法及系统
CN109685760B (zh) 一种基于matlab的slm粉床铺粉图像凸包凹陷缺陷检测方法
Miao et al. An image processing-based crack detection technique for pressed panel products
CN115100191A (zh) 基于工业检测的金属铸件缺陷识别方法
JP2008175588A (ja) 外観検査装置
JP2006284471A (ja) パターン検査方法及びパターン検査装置並びにパターン検査用プログラム
KR101929669B1 (ko) 엔트로피를 이용하여 이미지를 분석하는 방법 및 장치
KR101677070B1 (ko) 형태학적 영상 처리와 레이블링을 이용한 얼룩 결함 자동 검출 시스템 및 방법
JP7024669B2 (ja) 架線摩耗検査装置
JP2019200775A (ja) 表面欠陥検査装置及び表面欠陥検査方法
CN111833350A (zh) 机器视觉检测方法与系统
CN109584212B (zh) 一种基于matlab的slm粉床铺粉图像划痕缺陷识别方法
CN117036259A (zh) 一种基于深度学习的金属板材表面缺陷检测方法
JP6475027B2 (ja) 表面検査装置および表面検査方法、ならびにそのためのプログラムおよびそのプログラムの記録媒体
JP2005128635A (ja) 画像処理装置
WO2003010622A2 (en) Automatic separation of subject pixels using segmentation based on multiple planes of measurement data
Buck et al. Rapid inclusion and defect detection system for large steel volumes
Shreya et al. Design of machine vision system for high speed manufacturing environments
CN114354631A (zh) 一种基于视觉的阀门毛坯表面缺陷检测方法
JP2007081513A (ja) 固体撮像素子のシミ欠陥検査方法
JP5346304B2 (ja) 外観検査装置、外観検査システムおよび外観検査方法
Bonnot et al. Machine vision system for surface inspection on brushed industrial parts
Golkar et al. Vision based length measuring system for ceramic tile borders
JPH05142161A (ja) 外観検査方法およびその装置、磁気ヘツド検査方法およびその装置並びに磁気ヘツド製造設備

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060522

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20090501

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090512

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20090929